JP6880585B2 - Composite films for electronic devices, printed wiring boards and their manufacturing methods that use signals in the high frequency band - Google Patents

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本発明は、高周波帯域の信号を使用する電子機器用複合フィルム、プリント配線板及びその製造方法に関する。 The present invention relates to a composite film for electronic devices, a printed wiring board, and a method for manufacturing the same, which uses a signal in a high frequency band.

近年、電子機器の小型化、軽量化、多機能化等が一段と進み、これに伴って、LSI(Large Scale Integration)、チップ部品等の高集積化が進み、その形態も多ピン化及び小型化へと急速に変化している。このため、電子部品の実装密度を向上するために、多層プリント配線板の微細配線化の開発が進められている。これらの要求に合致する多層プリント配線板としては、ガラスクロスを含まない絶縁樹脂フィルムを、プリプレグの代わりに絶縁層(以下、「ビルドアップ層」ともいう)として用いるビルドアップ構造の多層プリント配線板が、軽量化、小型化及び微細化に適したプリント配線板として主流になりつつある。 In recent years, electronic devices have become smaller, lighter, more multifunctional, etc., and along with this, LSIs (Large Scale Integration), chip parts, etc. have become more integrated, and their forms have also become multi-pin and miniaturized. Is changing rapidly. Therefore, in order to improve the mounting density of electronic components, the development of fine wiring of multilayer printed wiring boards is underway. As a multilayer printed wiring board that meets these requirements, a multilayer printed wiring board with a build-up structure that uses an insulating resin film that does not contain glass cloth as an insulating layer (hereinafter, also referred to as "build-up layer") instead of a prepreg. However, it is becoming mainstream as a printed wiring board suitable for weight reduction, miniaturization, and miniaturization.

ビルドアップ層は、加工寸法安定性の向上及び半導体実装後の反り量の低減のために、低熱膨張化が求められている。ビルドアップ層を低熱膨張化する方法の一つとして、無機充填材を高充填する方法が挙げられる。例えば、ビルドアップ層の40質量%以上をシリカフィラーとすることによって、ビルドアップ層の低熱膨張化が図られている(特許文献1〜3参照)。 The build-up layer is required to have low thermal expansion in order to improve the processing dimensional stability and reduce the amount of warpage after mounting the semiconductor. One of the methods for low thermal expansion of the build-up layer is a method of highly filling an inorganic filler. For example, by using 40% by mass or more of the build-up layer as a silica filler, the build-up layer can be reduced in thermal expansion (see Patent Documents 1 to 3).

特開2007−87982号公報JP-A-2007-87982 特開2009−280758号公報Japanese Unexamined Patent Publication No. 2009-280758 特開2014−136779号公報Japanese Unexamined Patent Publication No. 2014-136779

コンピュータ、情報通信機器等は近年ますます高性能化及び高機能化し、大量のデータを高速で処理するために、扱う信号が高周波化する傾向にある。特に携帯電話及び衛星放送に使用される電波の周波数領域はGHz帯の高周波領域のものが使用されており、高周波化による伝送損失を抑制するため、高周波領域で使用する有機材料としては、比誘電率及び誘電正接が低い材料が望まれている。
また、ビルドアップ層には、回路等の凹凸に対する埋め込み性(以下、単に「埋め込み性」と称することがある。)、表面平滑性及びめっき銅との高接着性が要求される。しかしながら、特許文献1〜3に記載されたような、無機充填材を高充填した材料では、表面平坦性とめっき銅との高接着性を得ることは難しい。
Computers, information and telecommunications equipment, etc. have become more sophisticated and sophisticated in recent years, and in order to process a large amount of data at high speed, the signals to be handled tend to have higher frequencies. In particular, the frequency range of radio waves used for mobile phones and satellite broadcasting is in the high frequency range of the GHz band, and in order to suppress transmission loss due to high frequency, relative dielectric is used as an organic material used in the high frequency range. A material having a low rate and dielectric loss tangent is desired.
Further, the build-up layer is required to have embedding property in unevenness of a circuit or the like (hereinafter, may be simply referred to as "embedding property"), surface smoothness, and high adhesiveness to plated copper. However, it is difficult to obtain surface flatness and high adhesiveness to plated copper with a material highly filled with an inorganic filler as described in Patent Documents 1 to 3.

そこで、本発明は、このような状況に鑑みなされたものであり、誘電正接が低く、回路等の凹凸に対する埋め込み性に優れ、表面平滑性に優れ、且つめっき銅との高接着性を有する、高周波帯域の信号を使用する電子機器用複合フィルムを提供すること、及び、該電子機器用複合フィルムの硬化物を含有するプリント配線板、並びにプリント配線板の製造方法を提供することを課題とする。 Therefore, the present invention has been made in view of such a situation, and has a low dielectric loss tangent, excellent embedding property in irregularities of circuits and the like, excellent surface smoothness, and high adhesiveness to plated copper. It is an object of the present invention to provide a composite film for electronic devices using a signal in a high frequency band, and to provide a printed wiring board containing a cured product of the composite film for electronic devices, and a method for manufacturing the printed wiring board. ..

本発明者らは、前記課題を解決するために鋭意研究を重ねた結果、所定温度において特定範囲の最低溶融粘度を有するA層、及び所定温度において特定値以上の最低溶融粘度を有するB層を有する複合フィルムであれば、上記課題を解決し得ることを見出し、本発明を完成するに至った。 As a result of intensive research to solve the above problems, the present inventors have obtained a layer A having a minimum melt viscosity in a specific range at a predetermined temperature and a layer B having a minimum melt viscosity of a specific value or more at a predetermined temperature. It has been found that the composite film having can solve the above-mentioned problems, and the present invention has been completed.

すなわち、本発明は、下記[1]〜[9]に関する。
[1]80〜150℃における最低溶融粘度が100〜4,000Pa・sであるA層、及び
80〜150℃における最低溶融粘度が50,000Pa・s以上であるB層
を有する、高周波帯域の信号を使用する電子機器用複合フィルム。
[2]前記B層の厚みが1〜5μmである、上記[1]に記載の高周波帯域の信号を使用する電子機器用複合フィルム。
[3]前記A層とB層の厚みの合計が15〜50μmである、上記[1]又は[2]に記載の高周波帯域の信号を使用する電子機器用複合フィルム。
[4]前記A層が、マレイミド化合物由来の構造単位とジアミン化合物由来の構造単位とを有するポリイミド化合物と、無機充填材とを含有する、上記[1]〜[3]のいずれかに記載の高周波帯域の信号を使用する電子機器用複合フィルム。
[5]前記B層が、多官能エポキシ樹脂とフェノール性水酸基含有ポリブタジエン変性ポリアミド樹脂とを含有する、上記[1]〜[4]のいずれかに記載の高周波帯域の信号を使用する電子機器用複合フィルム。
[6]硬化物の5GHzにおける誘電正接が0.005以下である、上記[1]〜[5]のいずれかに記載の高周波帯域の信号を使用する電子機器用複合フィルム。
[7]上記[1]〜[6]のいずれかに記載の電子機器用複合フィルムの硬化物を含有するプリント配線板。
[8]上記[1]〜[6]のいずれかに記載の電子機器用複合フィルムを、基材の片面又は両面にラミネートする工程(1)を有する、プリント配線板の製造方法。
[9]上記[1]〜[6]のいずれかに記載の電子機器用複合フィルムを用いて、表面に回路又は部品による段差を有する基板に前記電子機器用複合フィルムのA層側を貼付し、前記段差を充填する工程、
前記電子機器用複合フィルムのA層及びB層を硬化する工程、
前記電子機器用複合フィルムのB層側の面上にセミアディティブ法で回路を形成する工程、
を有する、プリント配線板の製造方法。
That is, the present invention relates to the following [1] to [9].
[1] A high-frequency band having a layer A having a minimum melt viscosity at 80 to 150 ° C. of 100 to 4,000 Pa · s and a layer B having a minimum melt viscosity at 80 to 150 ° C. of 50,000 Pa · s or more. Composite film for electronic devices that uses signals.
[2] A composite film for an electronic device using a signal in the high frequency band according to the above [1], wherein the thickness of the B layer is 1 to 5 μm.
[3] A composite film for an electronic device using a signal in the high frequency band according to the above [1] or [2], wherein the total thickness of the A layer and the B layer is 15 to 50 μm.
[4] The above-mentioned [1] to [3], wherein the layer A contains a polyimide compound having a structural unit derived from a maleimide compound and a structural unit derived from a diamine compound, and an inorganic filler. Composite film for electronic devices that uses signals in the high frequency band.
[5] For electronic devices using the high-frequency band signal according to any one of [1] to [4] above, wherein the B layer contains a polyfunctional epoxy resin and a phenolic hydroxyl group-containing polybutadiene-modified polyamide resin. Composite film.
[6] A composite film for electronic devices using a signal in the high frequency band according to any one of [1] to [5] above, wherein the cured product has a dielectric loss tangent of 0.005 or less at 5 GHz.
[7] A printed wiring board containing a cured product of the composite film for electronic devices according to any one of the above [1] to [6].
[8] A method for manufacturing a printed wiring board, comprising the step (1) of laminating the composite film for electronic devices according to any one of the above [1] to [6] on one side or both sides of a base material.
[9] Using the composite film for electronic devices according to any one of [1] to [6] above, the A layer side of the composite film for electronic devices is attached to a substrate having a step due to a circuit or a component on the surface. , The process of filling the step,
A step of curing the A layer and the B layer of the composite film for electronic devices,
A step of forming a circuit on the surface of the composite film for electronic devices on the B layer side by a semi-additive method.
A method for manufacturing a printed wiring board.

本発明によれば、誘電正接が低く、回路等の凹凸に対する埋め込み性に優れ、表面平滑性に優れ、且つめっき銅との高接着性を有する、高周波帯域の信号を使用する電子機器用複合フィルム、及び該電子機器用複合フィルムの硬化物を含有するプリント配線板、並びに該プリント配線板の製造方法を提供することができる。 According to the present invention, a composite film for electronic devices using a signal in a high frequency band, which has a low dielectric loss tangent, excellent embedding property in irregularities such as circuits, excellent surface smoothness, and high adhesion to plated copper. , And a printed wiring board containing a cured product of the composite film for electronic devices, and a method for manufacturing the printed wiring board.

本発明の複合フィルムの一態様を模式的に示した図である。It is a figure which showed typically one aspect of the composite film of this invention.

以下、本発明の実施形態について詳細に説明する。なお、本明細書においてはX以上でありY以下である数値範囲(X、Yは実数)を「X〜Y」と表すことがある。例えば、「0.1〜2」という記載は0.1以上であり2以下である数値範囲を示し、当該数値範囲には0.1、0.34、1.03、2等が含まれる。 Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail. In this specification, a numerical range (X and Y are real numbers) that are greater than or equal to X and less than or equal to Y may be expressed as "X to Y". For example, the description "0.1 to 2" indicates a numerical range of 0.1 or more and 2 or less, and the numerical range includes 0.1, 0.34, 1.03, 2, and the like.

本明細書において「複合フィルム」は、含有する樹脂組成物が未硬化である複合フィルム、及び含有する樹脂組成物を半硬化させた(いわゆるBステージ状とした)複合フィルムの両方を含む。
また、本明細書において、複合フィルムの「複合」とは、フィルムが複数の樹脂層から形成されていることを意味し、その態様が含まれていれば、さらに支持体及び保護フィルム等からなる他の層を有していてもよい。
In the present specification, the "composite film" includes both a composite film in which the contained resin composition is uncured and a composite film in which the contained resin composition is semi-cured (so-called B-stage shape).
Further, in the present specification, the "composite" of the composite film means that the film is formed of a plurality of resin layers, and if the embodiment is included, the composite film is further composed of a support, a protective film, and the like. It may have other layers.

また、本明細書において「層間絶縁層」とは、2層の導体層の間に位置し、当該導体層を絶縁するための層である。本明細書の「層間絶縁層」は、例えば、複合フィルムの硬化物が挙げられる。なお、本明細書において「層」とは、一部が欠けているもの、ビア又はパターンが形成されているものも含む。 Further, in the present specification, the "interlayer insulating layer" is a layer located between two conductor layers and for insulating the conductor layer. Examples of the "interlayer insulating layer" in the present specification include a cured product of a composite film. In addition, in this specification, a "layer" includes a layer which is partially missing, and a layer in which a via or a pattern is formed.

[高周波帯域の信号を使用する電子機器用複合フィルム]
本発明は、
80〜150℃における最低溶融粘度が100〜4,000Pa・sであるA層、及び
80〜150℃における最低溶融粘度が50,000Pa・s以上であるB層
を有する、高周波帯域の信号を使用する電子機器用複合フィルム(以下、単に「複合フィルム」と称することがある。)である。
[Composite film for electronic devices that uses signals in the high frequency band]
The present invention
Uses high frequency band signals with layer A having a minimum melt viscosity of 100-4,000 Pa · s at 80-150 ° C and layer B having a minimum melt viscosity of 50,000 Pa · s or more at 80-150 ° C. This is a composite film for electronic devices (hereinafter, may be simply referred to as "composite film").

本発明の複合フィルムは、前記A層と前記B層を有し、B層においてA層と反対側の面に支持体が設けられていてもよい。この場合、A層/B層/支持体という構成になる。支持体としては、例えば、ポリエチレン、ポリプロピレン、ポリ塩化ビニル等のポリオレフィンのフィルム;ポリエチレンテレフタレート(以下、「PET」ともいう)、ポリエチレンナフタレート等のポリエステルのフィルム;ポリカーボネートフィルム、ポリイミドフィルム等の各種プラスチックフィルムなどが挙げられる。また、銅箔、アルミニウム箔等の金属箔、離型紙などを使用してもよい。支持体及び後述する保護フィルムには、マット処理、コロナ処理等の表面処理が施してあってもよい。また、支持体には、シリコーン樹脂系離型剤、アルキッド樹脂系離型剤、フッ素樹脂系離型剤等による離型処理が施してあってもよい。
支持体の厚さは特に限定されないが、10〜150μmが好ましく、25〜50μmがより好ましい。
The composite film of the present invention may have the A layer and the B layer, and a support may be provided on the surface of the B layer opposite to the A layer. In this case, the configuration is A layer / B layer / support. Examples of the support include a polyolefin film such as polyethylene, polypropylene, and polyvinyl chloride; a polyester film such as polyethylene terephthalate (hereinafter, also referred to as “PET”) and polyethylene naphthalate; various plastics such as a polycarbonate film and a polyimide film. Examples include film. Further, a metal foil such as a copper foil or an aluminum foil, a paper pattern, or the like may be used. The support and the protective film described later may be subjected to surface treatment such as matte treatment and corona treatment. Further, the support may be subjected to a mold release treatment with a silicone resin-based mold release agent, an alkyd resin-based mold release agent, a fluororesin-based mold release agent, or the like.
The thickness of the support is not particularly limited, but is preferably 10 to 150 μm, more preferably 25 to 50 μm.

本発明の複合フィルムは、保護フィルムが設けられていてもよい。例えば、A層においてB層とは反対側の面に保護フィルムを設ける態様が挙げられる。この場合、例えば、保護フィルム/A層/B層、保護フィルム/A層/B層/支持体、等の構成になる。
保護フィルムとしては、例えば、ポリテトラフルオロエチレンフィルム、ポリエチレンテレフタレートフィルム、ポリエチレンフィルム、ポリプロピレンフィルム、ポリメチルペンテンフィルム、ポリイミドフィルム等のプラスチックフィルムなどが挙げられる。また、保護フィルムには、必要に応じて、プライマー塗布、UV処理、コロナ放電処理、研磨処理、エッチング処理、離型処理等の表面処理が施されていてもよい。
なお、前記支持体を保護フィルムとして使用してもよい。
The composite film of the present invention may be provided with a protective film. For example, an embodiment in which a protective film is provided on the surface of the A layer opposite to the B layer can be mentioned. In this case, for example, the configuration is a protective film / A layer / B layer, a protective film / A layer / B layer / support, and the like.
Examples of the protective film include plastic films such as polytetrafluoroethylene film, polyethylene terephthalate film, polyethylene film, polypropylene film, polymethylpentene film, and polyimide film. Further, the protective film may be subjected to surface treatment such as primer coating, UV treatment, corona discharge treatment, polishing treatment, etching treatment, and mold release treatment, if necessary.
The support may be used as a protective film.

本発明の複合フィルムは、例えば、前記支持体の上にB層を形成し、該B層の上にA層を形成し、必要に応じてA層の上に保護層を形成する方法により製造することができる。B層の形成には、後述するB層用ワニスを支持体に塗工した後、加熱乾燥させ、さらにその上に後述するA層用ワニスを塗工した後、加熱乾燥させることにより形成することができる。ワニスを塗工する方法としては、例えば、コンマコーター、バーコーター、キスコーター、ロールコーター、グラビアコーター、ダイコーター等の塗工装置を用いることができる。これらの塗工装置は、膜厚によって、適宜選択することが好ましい。
塗工後の乾燥条件は、特に限定されず、溶剤の種類に応じて適宜決定すればよい。例えば、乾燥温度は、A層を形成する場合には、50〜130℃が好ましく、70〜110℃がより好ましい。乾燥時間は、A層を形成する場合には、例えば、1〜10分間とすることができる。例えば、乾燥温度は、B層を形成する場合には、50〜150℃が好ましく、100〜145℃がより好ましい。乾燥時間は、B層を形成する場合には、例えば、1〜10分間とすることができる。
上記乾燥においては、乾燥後のA層又はB層中の揮発成分(主に有機溶媒)の含有量が、10質量%以下となるように乾燥させることが好ましく、6質量%以下となるように乾燥させることがより好ましい。
The composite film of the present invention is produced, for example, by a method of forming a B layer on the support, forming an A layer on the B layer, and forming a protective layer on the A layer as needed. can do. To form the B layer, a varnish for layer B, which will be described later, is applied to the support and then heat-dried, and then a varnish for layer A, which will be described later, is applied and then heat-dried. Can be done. As a method of applying the varnish, for example, a coating device such as a comma coater, a bar coater, a kiss coater, a roll coater, a gravure coater, or a die coater can be used. It is preferable that these coating devices are appropriately selected depending on the film thickness.
The drying conditions after coating are not particularly limited, and may be appropriately determined according to the type of solvent. For example, the drying temperature is preferably 50 to 130 ° C., more preferably 70 to 110 ° C. when forming the A layer. When forming the A layer, the drying time can be, for example, 1 to 10 minutes. For example, the drying temperature is preferably 50 to 150 ° C., more preferably 100 to 145 ° C. when forming the B layer. When forming the B layer, the drying time can be, for example, 1 to 10 minutes.
In the above drying, the content of the volatile component (mainly an organic solvent) in the layer A or B after drying is preferably 10% by mass or less, and preferably 6% by mass or less. It is more preferable to dry.

また、本発明の複合フィルムは、A層のフィルム及びB層のフィルムをそれぞれ作製し、軟化温度以上で熱圧着及びラミネーター等により貼り合わせることによっても製造できる。 Further, the composite film of the present invention can also be produced by preparing a film of layer A and a film of layer B, respectively, and laminating them by thermocompression bonding and a laminator or the like at a softening temperature or higher.

本発明の複合フィルムにおいて、回路の凹凸高さaを埋め込むために、A層の厚みは、a〜2aであることが好ましく、1.1a〜1.5aであることがより好ましい。A層の厚みが、a以上であれば、回路の凹凸を埋め込んだ際に、十分な埋め込み性を確保でき、埋め込み後の複合フィルムの表層をフラットに保ち易い傾向にある。一方、2a以下であれば、基板の薄型化が容易となり、且つ低反り化する傾向にあり、好ましい。 In the composite film of the present invention, the thickness of the layer A is preferably a to 2a, more preferably 1.1a to 1.5a, in order to embed the uneven height a of the circuit. When the thickness of the A layer is a or more, sufficient embedding property can be ensured when the unevenness of the circuit is embedded, and the surface layer of the composite film after embedding tends to be easily kept flat. On the other hand, if it is 2a or less, the thickness of the substrate tends to be easy and the warpage tends to be low, which is preferable.

一方、B層は、セミアディティブ法に適応できる層である。表面平坦性を確保し、めっき銅との高接着性を確保するため、B層の厚みは1〜5μmであることが好ましく、1〜3μmであることがより好ましく、1.5〜3μmであることがさらに好ましい。B層の厚みが1μm以上であれば、回路の凹凸への埋め込みの際にB層が破断してA層が表面に露出するのを避け易く、且つ、デスミアプロセスでB層が溶出して消失してしまうおそれが少ない。一方、5μm以下であれば、表面平坦性の低下を抑制し易いとともに、基板を薄型化できるために好ましい。 On the other hand, the B layer is a layer that can be applied to the semi-additive method. In order to ensure surface flatness and high adhesiveness to plated copper, the thickness of the B layer is preferably 1 to 5 μm, more preferably 1 to 3 μm, and 1.5 to 3 μm. Is even more preferable. If the thickness of the B layer is 1 μm or more, it is easy to prevent the B layer from breaking and exposing the A layer to the surface when embedding in the unevenness of the circuit, and the B layer elutes and disappears in the desmear process. There is little risk of doing it. On the other hand, if the thickness is 5 μm or less, it is easy to suppress a decrease in surface flatness and the substrate can be made thinner, which is preferable.

A層は、80〜150℃における最低溶融粘度が100〜4,000Pa・sである。この範囲であれば、A層を80〜150℃で流動させることができ、埋め込み性の観点から好ましい。A層の80〜150℃における最低溶融粘度は、500〜2,000Pa・sであることがより好ましく、700〜2,000Pa・sであることがさらに好ましい。ここで、最低溶融粘度とは、硬化開始前に樹脂組成物が溶融したときの粘度である。
80〜150℃における最低溶融粘度が100Pa・s以上であることにより、フィルムの流動性が大きくなり過ぎず、埋め込み後の複合フィルムの表面平坦性を保ち易くなり、基板の厚みにバラツキが発生するのを抑制できる。また、4,000Pa・s以下であることにより、流動性が良好となり、配線の凹凸を埋め込み易くなる。
Layer A has a minimum melt viscosity of 100 to 4,000 Pa · s at 80 to 150 ° C. Within this range, the layer A can be flowed at 80 to 150 ° C., which is preferable from the viewpoint of embedding property. The minimum melt viscosity of the A layer at 80 to 150 ° C. is more preferably 500 to 2,000 Pa · s, and even more preferably 700 to 2,000 Pa · s. Here, the minimum melt viscosity is the viscosity when the resin composition is melted before the start of curing.
When the minimum melt viscosity at 80 to 150 ° C. is 100 Pa · s or more, the fluidity of the film does not become too large, it becomes easy to maintain the surface flatness of the composite film after embedding, and the thickness of the substrate varies. Can be suppressed. Further, when it is 4,000 Pa · s or less, the fluidity becomes good and it becomes easy to embed the unevenness of the wiring.

一方、B層は、80〜150℃における最低溶融粘度が50,000Pa・s以上である。B層は、複合フィルムを回路へ埋め込む時にB層が一定の厚みを保つとともに、埋め込み後の複合フィルムの表面平坦性を保ち易い。同様の観点から、B層の80〜150℃における最低溶融粘度は、50,000〜100,000Pa・sであることが好ましく、50,000〜75,000Pa・sであることがより好ましく、60,000〜75,000Pa・sであることがさらに好ましく、63,000〜70,000Pa・sであることが特に好ましい。 On the other hand, the B layer has a minimum melt viscosity of 50,000 Pa · s or more at 80 to 150 ° C. As for the B layer, the B layer maintains a constant thickness when the composite film is embedded in the circuit, and the surface flatness of the composite film after embedding is easily maintained. From the same viewpoint, the minimum melt viscosity of the B layer at 80 to 150 ° C. is preferably 50,000 to 100,000 Pa · s, more preferably 50,000 to 75,000 Pa · s, 60. It is more preferably 000 to 75,000 Pa · s, and particularly preferably 63,000 to 70,000 Pa · s.

本発明の複合フィルムは、熱又は活性エネルギー線によって硬化させることができる。活性エネルギー線としては、例えば、紫外線、可視光線、赤外線、X線等の電磁波;α線、γ線、電子線等の粒子線が挙げられる。これらの中でも、紫外線が好ましい。 The composite film of the present invention can be cured by heat or active energy rays. Examples of the active energy ray include electromagnetic waves such as ultraviolet rays, visible rays, infrared rays, and X-rays; and particle beams such as α-rays, γ-rays, and electron beams. Among these, ultraviolet rays are preferable.

本発明の複合フィルムの一例を、模式断面図として図1に示す。本発明に係る複合フィルムは、A層1及びB層2、並びに必要に応じて支持体3及び/又は保護フィルム4を備えている。
なお、A層1とB層2との間には、明確な界面が存在せず、例えば、A層1の構成成分の一部と、B層2の構成成分の一部とが、相溶及び/又は混合した状態であってもよい。
An example of the composite film of the present invention is shown in FIG. 1 as a schematic cross-sectional view. The composite film according to the present invention includes a layer A and a layer B 2, and if necessary, a support 3 and / or a protective film 4.
There is no clear interface between the A layer 1 and the B layer 2. For example, a part of the constituent components of the A layer 1 and a part of the constituent components of the B layer 2 are compatible with each other. And / or may be in a mixed state.

本発明の複合フィルムは、上記条件を満たしている限り、各層の成分は特に制限されないが、実施態様の一例として、以下にA層及びB層の成分について説明する。 In the composite film of the present invention, the components of each layer are not particularly limited as long as the above conditions are satisfied, but the components of the A layer and the B layer will be described below as an example of the embodiment.

[A層の成分]
A層の成分としては、樹脂組成物が挙げられる。樹脂組成物としては、例えば、マレイミド化合物由来の構造単位とジアミン化合物由来の構造単位とを有するポリイミド化合物(a1)と無機充填材(a2)とを含有する樹脂組成物が好ましく、特に、該無機充填材(a2)の含有量が樹脂組成物の固形分に対して55体積%以上であるとより好ましい。以下、各成分について詳述する。
[Components of layer A]
Examples of the component of the A layer include a resin composition. As the resin composition, for example, a resin composition containing a polyimide compound (a1) having a structural unit derived from a maleimide compound and a structural unit derived from a diamine compound and an inorganic filler (a2) is preferable, and the inorganic composition is particularly preferable. It is more preferable that the content of the filler (a2) is 55% by volume or more with respect to the solid content of the resin composition. Hereinafter, each component will be described in detail.

<ポリイミド化合物(a1)>
ポリイミド化合物(a1)は、マレイミド化合物由来の構造単位とジアミン化合物由来の構造単位とを有するものである。マレイミド化合物としては、脂肪族マレイミド化合物を含むことが好ましい。
脂肪族マレイミド化合物は、イミド基間の炭素数が6〜40個であることが好ましく、また、N−置換マレイミド基の数が少なくとも2個であることが好ましい。脂肪族マレイミド化合物由来の構造単位を有するポリイミド化合物(a1)を用いることで、誘電正接が低く、フィルムにした際の取り扱い性に優れる傾向にある。
脂肪族マレイミド化合物としては、例えば、1,6−ビスマレイミド−(2,2,4−トリメチル)ヘキサン、ピロリロン酸バインダ型長鎖アルキルビスマレイミド等が挙げられる。これらは1種を単独で用いてもよいし、2種以上を併用してもよい。脂肪族マレイミドは、熱膨張率が低く、高ガラス転移温度を有するという観点から、1,6−ビスマレイミド−(2,2,4−トリメチル)ヘキサンがより好ましい。
<Polyimide compound (a1)>
The polyimide compound (a1) has a structural unit derived from a maleimide compound and a structural unit derived from a diamine compound. The maleimide compound preferably contains an aliphatic maleimide compound.
The aliphatic maleimide compound preferably has 6 to 40 carbon atoms between the imide groups, and preferably has at least 2 N-substituted maleimide groups. By using the polyimide compound (a1) having a structural unit derived from the aliphatic maleimide compound, the dielectric loss tangent is low and the film tends to be easy to handle.
Examples of the aliphatic maleimide compound include 1,6-bismaleimide- (2,2,4-trimethyl) hexane, a binder-type long-chain alkylbismaleimide of pyrrolylonic acid, and the like. These may be used alone or in combination of two or more. As the aliphatic maleimide, 1,6-bismaleimide- (2,2,4-trimethyl) hexane is more preferable from the viewpoint of having a low coefficient of thermal expansion and a high glass transition temperature.

また、マレイミド化合物は脂肪族マレイミド化合物以外のマレイミド化合物を含んでもよく、そのマレイミド化合物はN−置換マレイミド基を2個以上有するマレイミド化合物であれば、特に限定されない。例えば、ビス(4−マレイミドフェニル)メタン、ポリフェニルメタンマレイミド、ビス(4−マレイミドフェニル)エーテル、ビス(4−マレイミドフェニル)スルホン、3,3’−ジメチル−5,5’−ジエチル−4,4’−ジフェニルメタンビスマレイミド、4−メチル−1,3−フェニレンビスマレイミド、m−フェニレンビスマレイミド、2,2−ビス[4−(4−マレイミドフェノキシ)フェニル]プロパン等が挙げられる。これらは1種を単独で用いてもよいし、2種以上を併用してもよい。これらの中でも、導体との接着性及び機械特性の観点から、2,2−ビス[4−(4−マレイミドフェノキシ)フェニル]プロパンが好ましい。 Further, the maleimide compound may contain a maleimide compound other than the aliphatic maleimide compound, and the maleimide compound is not particularly limited as long as it is a maleimide compound having two or more N-substituted maleimide groups. For example, bis (4-maleimidephenyl) methane, polyphenylmethanemaleimide, bis (4-maleimidephenyl) ether, bis (4-maleimidephenyl) sulfone, 3,3'-dimethyl-5,5'-diethyl-4, Examples thereof include 4'-diphenylmethanebismaleimide, 4-methyl-1,3-phenylenebismaleimide, m-phenylenebismaleimide, and 2,2-bis [4- (4-maleimidephenoxy) phenyl] propane. These may be used alone or in combination of two or more. Among these, 2,2-bis [4- (4-maleimidephenoxy) phenyl] propane is preferable from the viewpoint of adhesiveness to the conductor and mechanical properties.

ポリイミド化合物(a1)中における、脂肪族マレイミド化合物由来の構造単位の含有量は、仕込み量換算で、5質量%以上が好ましく、10質量%以上がさらに好ましい。上限は特に限定されず、100質量%であってもよいが、好ましくは80質量%以下、より好ましくは60質量%以下、さらに好ましくは40質量%以下、特に好ましくは30質量%以下である。脂肪族マレイミド化合物由来の構造単位の含有量が上記範囲内であると、樹脂組成物において、より良好な高周波特性、フィルム取り扱い性が得られる傾向にある。
また、マレイミド化合物由来の構造単位の合計含有量に対する脂肪族マレイミド化合物由来の構造単位の含有量は、仕込み量換算で、5〜50質量%が好ましく、10〜40質量%がより好ましい。
The content of the structural unit derived from the aliphatic maleimide compound in the polyimide compound (a1) is preferably 5% by mass or more, more preferably 10% by mass or more in terms of the amount charged. The upper limit is not particularly limited and may be 100% by mass, but is preferably 80% by mass or less, more preferably 60% by mass or less, still more preferably 40% by mass or less, and particularly preferably 30% by mass or less. When the content of the structural unit derived from the aliphatic maleimide compound is within the above range, better high frequency characteristics and film handleability tend to be obtained in the resin composition.
The content of the structural unit derived from the aliphatic maleimide compound is preferably 5 to 50% by mass, more preferably 10 to 40% by mass in terms of the amount charged, with respect to the total content of the structural unit derived from the maleimide compound.

マレイミド化合物由来の構造単位としては、例えば、下記一般式(1−1)で表される基、下記一般式(1−2)で表される基等が挙げられる。 Examples of the structural unit derived from the maleimide compound include a group represented by the following general formula (1-1), a group represented by the following general formula (1-2), and the like.

Figure 0006880585
Figure 0006880585

一般式(1−1)及び(1−2)中、Aはマレイミド化合物の残基を示し、*は結合部を示す。
なお、残基とは、原料成分から結合に供された官能基(マレイミド化合物においてはマレイミド基)を除いた部分の構造をいう。
In the general formulas (1-1) and (1-2), A 1 indicates a residue of a maleimide compound, and * indicates a binding portion.
The residue refers to the structure of a portion of the raw material component excluding the functional group (maleimide group in the case of a maleimide compound) provided for bonding.

が示す残基としては、下記一般式(2)、(3)、(4)又は(5)で表される2価の基であることが好ましい。 The residue represented by A 1 is preferably a divalent group represented by the following general formulas (2), (3), (4) or (5).

Figure 0006880585

(式中、Rは各々独立に、水素原子、炭素数1〜5の脂肪族炭化水素基、又はハロゲン原子を示す。)
Figure 0006880585

(In the formula, R 1 independently represents a hydrogen atom, an aliphatic hydrocarbon group having 1 to 5 carbon atoms, or a halogen atom.)

Figure 0006880585

(式中、R及びRは各々独立に、水素原子、炭素数1〜5の脂肪族炭化水素基又はハロゲン原子を示し、Aは炭素数1〜5のアルキレン基若しくはアルキリデン基、エーテル基、スルフィド基、スルフォニル基、カルボオキシ基、ケトン基、単結合又は下記一般式(3−1)で表される基である。)
Figure 0006880585

(In the formula, R 2 and R 3 independently represent a hydrogen atom, an aliphatic hydrocarbon group having 1 to 5 carbon atoms or a halogen atom, and A 2 is an alkylene group or an alkylidene group having 1 to 5 carbon atoms and an ether. A group, a sulfide group, a sulfonyl group, a carbooxy group, a ketone group, a single bond or a group represented by the following general formula (3-1).)

Figure 0006880585

(式中、R及びRは各々独立に、水素原子、炭素数1〜5の脂肪族炭化水素基又はハロゲン原子を示し、Aは炭素数1〜5のアルキレン基、イソプロピリデン基、エーテル基、スルフィド基、スルフォニル基、カルボオキシ基、ケトン基又は単結合である。)
Figure 0006880585

(In the formula, R 4 and R 5 each independently represent a hydrogen atom, an aliphatic hydrocarbon group having 1 to 5 carbon atoms or a halogen atom, and A 3 is an alkylene group having 1 to 5 carbon atoms and an isopropylidene group. It is an ether group, a sulfide group, a sulfonyl group, a carbooxy group, a ketone group or a single bond.)

Figure 0006880585

(式中、iは1〜10の整数である。)
Figure 0006880585

(In the formula, i is an integer from 1 to 10.)

Figure 0006880585

(式中、R及びRは各々独立に、水素原子又は炭素数1〜5の脂肪族炭化水素基を示し、jは1〜8の整数である。)
Figure 0006880585

(In the formula, R 6 and R 7 each independently represent a hydrogen atom or an aliphatic hydrocarbon group having 1 to 5 carbon atoms, and j is an integer of 1 to 8.)

一般式(2)中のR、一般式(3)中のR及びR、一般式(3−1)中のR及びR、一般式(5)中のR及びRが示す炭素数1〜5の脂肪族炭化水素基としては、例えば、メチル基、エチル基、n−プロピル基、イソプロピル基、n−ブチル基、イソブチル基、t−ブチル基、n−ペンチル基等が挙げられる。該脂肪族炭化水素基としては、炭素数1〜3の脂肪族炭化水素基であってもよく、メチル基であってもよい。
一般式(3)中のA及び一般式(3−1)中のAが示す炭素数1〜5のアルキレン基としては、メチレン基、エチレン基、プロピレン基、ブチレン基、ペンチレン基等が挙げられる。
一般式(3)中のAが示す炭素数1〜5のアルキリデン基としては、エチリデン基、プロピリデン基、イソプロピリデン基、ブチリデン基、イソブチリデン基、ペンチリデン基等が挙げられる。
R 1 in the general formula ( 2 ), R 2 and R 3 in the general formula (3), R 4 and R 5 in the general formula (3-1) , R 6 and R 7 in the general formula (5). Examples of the aliphatic hydrocarbon group having 1 to 5 carbon atoms shown in the above include a methyl group, an ethyl group, an n-propyl group, an isopropyl group, an n-butyl group, an isobutyl group, a t-butyl group, an n-pentyl group and the like. Can be mentioned. The aliphatic hydrocarbon group may be an aliphatic hydrocarbon group having 1 to 3 carbon atoms or a methyl group.
The general formula (3) A 2 and general formula (3-1) alkylene group of 1 to 5 carbon atoms represented by A 3 in in, methylene group, ethylene group, propylene group, butylene group, pentylene group and the like Can be mentioned.
Examples of the alkylidene group having 1 to 5 carbon atoms represented by A 2 in the general formula (3) include an ethylidene group, a propylidene group, an isopropylidene group, a butylidene group, an isobutylidene group, and a pentylidene group.

また、前記ジアミン化合物は、アミノ基を2個有する化合物であれば、特に制限されるものではない。
ジアミン化合物としては、例えば、4,4’−ジアミノジフェニルメタン、4,4’−ジアミノ−3,3’−ジメチルジフェニルメタン、4,4’−ジアミノ−3,3’−ジエチルジフェニルメタン、4,4’−ジアミノジフェニルエーテル、4,4’−ジアミノジフェニルスルホン、3,3’−ジアミノジフェニルスルホン、4,4’−ジアミノジフェニルケトン、4,4’−ジアミノビフェニル、3,3’−ジメチル−4,4’−ジアミノビフェニル、2,2’−ジメチル−4,4’−ジアミノビフェニル、3,3’−ジヒドロキシベンジジン、2,2−ビス(3−アミノ−4−ヒドロキシフェニル)プロパン、3,3’−ジメチル−5,5’−ジエチル−4,4’−ジフェニルメタンジアミン、2,2−ビス(4−アミノフェニル)プロパン、2,2−ビス[4−(4−アミノフェノキシ)フェニル]プロパン、1,3−ビス(3−アミノフェノキシ)ベンゼン、1,3−ビス(4−アミノフェノキシ)ベンゼン、1,4−ビス(4−アミノフェノキシ)ベンゼン、4,4’−ビス(4−アミノフェノキシ)ビフェニル、1,3−ビス{1−[4−(4−アミノフェノキシ)フェニル]−1−メチルエチル}ベンゼン、1,4−ビス{1−[4−(4−アミノフェノキシ)フェニル]−1−メチルエチル}ベンゼン、4,4’−[1,3−フェニレンビス(1−メチルエチリデン)]ビスアニリン、4,4’−[1,4−フェニレンビス(1−メチルエチリデン)]ビスアニリン、3,3’−[1,3−フェニレンビス(1−メチルエチリデン)]ビスアニリン、ビス[4−(4−アミノフェノキシ)フェニル]スルホン、ビス[4−(3−アミノフェノキシ)フェニル]スルホン、9,9−ビス(4−アミノフェニル)フルオレン等が挙げられる。これらは1種を単独で用いてもよいし、2種以上を併用してもよい。
これらの中でも、有機溶媒への溶解性、合成時の反応性及び耐熱性の観点から、4,4’−ジアミノジフェニルメタン、4,4’−ジアミノ−3,3’−ジメチルジフェニルメタン、4,4’−ジアミノ−3,3’−ジエチルジフェニルメタン、2,2−ビス(4−(4−アミノフェノキシ)フェニル)プロパン、4,4’−[1,3−フェニレンビス(1−メチルエチリデン)]ビスアニリン及び4,4’−[1,4−フェニレンビス(1−メチルエチリデン)]ビスアニリンが好ましい。また、ジアミン化合物は、誘電特性及び低吸水性という観点からは、3,3’−ジメチル−5,5’−ジエチル−4,4’−ジアミノジフェニルメタンが好ましい。また、導体との高接着性及び機械特性の観点からは、2,2−ビス[4−(4−アミノフェノキシ)フェニル]プロパンが好ましい。さらに、有機溶媒への溶解性、合成時の反応性、耐熱性、導体との高接着性の観点、並びに優れた高周波特性と低吸湿性を発現できるという観点から、4,4’−[1,3−フェニレンビス(1−メチルエチリデン)]ビスアニリン、4,4’−[1,4−フェニレンビス(1−メチルエチリデン)]ビスアニリンが好ましく、4,4’−[1,3−フェニレンビス(1−メチルエチリデン)]ビスアニリンがより好ましい。
The diamine compound is not particularly limited as long as it is a compound having two amino groups.
Examples of the diamine compound include 4,4'-diaminodiphenylmethane, 4,4'-diamino-3,3'-dimethyldiphenylmethane, 4,4'-diamino-3,3'-diethyldiphenylmethane, 4,4'-. Diaminodiphenyl ether, 4,4'-diaminodiphenylsulfone, 3,3′-diaminodiphenylsulfone, 4,4′-diaminodiphenylketone, 4,4′-diaminobiphenyl, 3,3′-dimethyl-4,4′- Diaminobiphenyl, 2,2'-dimethyl-4,4'-diaminobiphenyl, 3,3'-dihydroxybenzidine, 2,2-bis (3-amino-4-hydroxyphenyl) propane, 3,3'-dimethyl- 5,5'-diethyl-4,4'-diphenylmethanediamine, 2,2-bis (4-aminophenyl) propane, 2,2-bis [4- (4-aminophenoxy) phenyl] propane, 1,3- Bis (3-aminophenoxy) benzene, 1,3-bis (4-aminophenoxy) benzene, 1,4-bis (4-aminophenoxy) benzene, 4,4'-bis (4-aminophenoxy) biphenyl, 1 , 3-bis {1- [4- (4-aminophenoxy) phenyl] -1-methylethyl} benzene, 1,4-bis {1- [4- (4-aminophenoxy) phenyl] -1-methylethyl } Benzene, 4,4'-[1,3-Phenylenebis (1-methylethylidene)] bisaniline, 4,4'-[1,4-Phenylenebis (1-methylethylidene)] bisaniline, 3,3'- [1,3-phenylenebis (1-methylethylidene)] bisaniline, bis [4- (4-aminophenoxy) phenyl] sulfone, bis [4- (3-aminophenoxy) phenyl] sulfone, 9,9-bis ( 4-Aminophenyl) Fluolene and the like can be mentioned. These may be used alone or in combination of two or more.
Among these, 4,4'-diaminodiphenylmethane, 4,4'-diamino-3,3'-dimethyldiphenylmethane, 4,4', from the viewpoint of solubility in organic solvents, reactivity during synthesis and heat resistance. -Diamino-3,3'-diethyldiphenylmethane, 2,2-bis (4- (4-aminophenoxy) phenyl) propane, 4,4'-[1,3-phenylenebis (1-methylethylidene)] bisaniline and 4,4'-[1,4-phenylenebis (1-methylethylidene)] bisaniline is preferred. The diamine compound is preferably 3,3'-dimethyl-5,5'-diethyl-4,4'-diaminodiphenylmethane from the viewpoint of dielectric properties and low water absorption. Further, from the viewpoint of high adhesiveness to the conductor and mechanical properties, 2,2-bis [4- (4-aminophenoxy) phenyl] propane is preferable. Furthermore, from the viewpoints of solubility in organic solvents, reactivity during synthesis, heat resistance, high adhesion to conductors, and excellent high frequency characteristics and low hygroscopicity, 4,4'-[1 , 3-Phenylenebis (1-methylethylidene)] bisaniline, 4,4'-[1,4-phenylenebis (1-methylethylidene)] bisaniline is preferred, and 4,4'-[1,3-phenylenebis (1,3-phenylenebis) 1-Methylethylidene)] Bisaniline is more preferred.

ポリイミド化合物(a1)中における、ジアミン化合物由来の構造単位の含有量は、仕込み量換算で、2〜30質量%が好ましく、5〜20質量%がより好ましく、5〜15質量%がさらに好ましい。ジアミン化合物は由来の構造単位の含有量を上記範囲内とすることにより、より良好な高周波特性、耐熱性、難燃性、及びガラス転移温度が得られる傾向にある。 The content of the structural unit derived from the diamine compound in the polyimide compound (a1) is preferably 2 to 30% by mass, more preferably 5 to 20% by mass, still more preferably 5 to 15% by mass in terms of the amount charged. By setting the content of the structural unit of the diamine compound within the above range, better high frequency characteristics, heat resistance, flame retardancy, and glass transition temperature tend to be obtained.

ジアミン化合物由来の構造単位としては、例えば、下記一般式(6−1)で表される基、下記一般式(6−2)で表される基等が挙げられる。 Examples of the structural unit derived from the diamine compound include a group represented by the following general formula (6-1), a group represented by the following general formula (6-2), and the like.

Figure 0006880585
Figure 0006880585

一般式(6−1)及び(6−2)中、Aはジアミン化合物の残基を示し、*は結合部を示す。 In the general formula (6-1) and (6-2), A 4 represents a residue of a diamine compound, * represents a bonding unit.

が示す残基としては、下記一般式(7)で表される2価の基であることが好ましい。 The residue A 4 is shown, is preferably a divalent group represented by the following general formula (7).

Figure 0006880585

(式中、R及びRは各々独立に、水素原子、炭素数1〜5の脂肪族炭化水素基、炭素数1〜5のアルコキシ基、水酸基又はハロゲン原子を示し、Aは炭素数1〜5のアルキレン基若しくはアルキリデン基、エーテル基、スルフィド基、スルフォニル基、カルボオキシ基、ケトン基、フルオレニレン基、単結合、下記一般式(7−1)又は下記一般式(7−2)で表される基である。)
Figure 0006880585

(In the formula, R 8 and R 9 independently represent a hydrogen atom, an aliphatic hydrocarbon group having 1 to 5 carbon atoms, an alkoxy group having 1 to 5 carbon atoms, a hydroxyl group or a halogen atom, and A 5 has a carbon number of carbon atoms. 1 to 5 alkylene group or alkylidene group, ether group, sulfide group, sulfonyl group, carbooxy group, ketone group, fluorenylene group, single bond, represented by the following general formula (7-1) or the following general formula (7-2) It is the group to be done.)

Figure 0006880585

(式中、R10及びR11は各々独立に、水素原子、炭素数1〜5の脂肪族炭化水素基又はハロゲン原子を示し、Aは炭素数1〜5のアルキレン基、イソプロピリデン基、m−又はp−フェニレンジイソプロピリデン基、エーテル基、スルフィド基、スルフォニル基、カルボオキシ基、ケトン基又は単結合である。)
Figure 0006880585

(In the formula, R 10 and R 11 each independently represent a hydrogen atom, an aliphatic hydrocarbon group having 1 to 5 carbon atoms or a halogen atom, and A 6 is an alkylene group having 1 to 5 carbon atoms and an isopropylidene group. m- or p-phenylenediisopropylidene group, ether group, sulfide group, sulfonyl group, carbooxy group, ketone group or single bond)

Figure 0006880585

(式中、R12は各々独立に、水素原子、炭素数1〜5の脂肪族炭化水素基又はハロゲン原子を示し、A及びAは炭素数1〜5のアルキレン基、イソプロピリデン基、エーテル基、スルフィド基、スルフォニル基、カルボオキシ基、ケトン基又は単結合である。)
Figure 0006880585

(In the formula, R 12 independently represents a hydrogen atom, an aliphatic hydrocarbon group having 1 to 5 carbon atoms or a halogen atom, and A 7 and A 8 are an alkylene group having 1 to 5 carbon atoms and an isopropylidene group. It is an ether group, a sulfide group, a sulfonyl group, a carbooxy group, a ketone group or a single bond.)

一般式(7)中のR及びR、一般式(7−1)中のR10及びR11、一般式(7−2)中のR12が示す炭素数1〜5の脂肪族炭化水素基は、前記一般式(2)中のRが示す炭素数1〜5の脂肪族炭化水素基と同様に説明される。
一般式(7)中のA、一般式(7−1)中のA、一般式(7−2)中のA及びAが示す炭素数1〜5のアルキレン基としては、前記一般式(3)中のAが示す炭素数1〜5のアルキレン基と同様に説明される。
一般式(7)中のAが示す炭素数1〜5のアルキリデン基としては、前記一般式(3)中のAが示す炭素数1〜5のアルキリデン基と同様に説明される。
Aliphatic hydrocarbons having 1 to 5 carbon atoms represented by R 8 and R 9 in the general formula (7), R 10 and R 11 in the general formula (7-1), and R 12 in the general formula (7-2). The hydrogen group is described in the same manner as the aliphatic hydrocarbon group having 1 to 5 carbon atoms represented by R 1 in the general formula (2).
The alkylene groups having 1 to 5 carbon atoms represented by A 5 in the general formula (7), A 6 in the general formula (7-1), and A 7 and A 8 in the general formula (7-2) are described above. It will be described in the same manner as the alkylene group having 1 to 5 carbon atoms represented by A 2 in the general formula (3).
The alkylidene group having 1 to 5 carbon atoms represented by A 5 in formula (7), is described as with an alkylidene group having 1 to 5 carbon atoms A 2 represents in the general formula (3).

ポリイミド化合物(a1)は、有機溶媒への溶解性、高周波特性、導体との高接着性及びフィルムの成形性等の点から、下記一般式(8)で表されるポリアミノビスマレイミド化合物を含有することが好ましい。 The polyimide compound (a1) contains a polyaminobismaleimide compound represented by the following general formula (8) from the viewpoints of solubility in an organic solvent, high frequency characteristics, high adhesiveness to a conductor, moldability of a film, and the like. Is preferable.

Figure 0006880585

(式中、Aは前記一般式(1−1)のAと同様に説明され、A10は前記一般式(6−1)のAと同様に説明される。)
Figure 0006880585

(In the formula, A 9 is described in the same manner as A 1 in the general formula (1-1) , and A 10 is described in the same manner as A 4 in the general formula (6-1).)

(ポリイミド化合物(a1)の製造方法)
ポリイミド化合物(a1)は、例えば、マレイミド化合物とジアミン化合物とを有機溶媒中で反応させることで製造することができる。
ポリイミド化合物(a1)を製造する際に使用される有機溶媒は特に制限はなく、公知の溶媒を使用できる。有機溶媒としては、特に限定されないが、例えば、メタノール、エタノール、ブタノール、ブチルセロソルブ、エチレングリコールモノメチルエーテル、プロピレングリコールモノメチルエーテル等のアルコール;アセトン、メチルエチルケトン、メチルイソブチルケトン、シクロヘキサノン等のケトン;トルエン、キシレン、メシチレン等の芳香族炭化水素;メトキシエチルアセテート、エトキシエチルアセテート、ブトキシエチルアセテート、酢酸エチル等のエステル;N,N−ジメチルホルムアミド、N,N−ジメチルアセトアミド、N−メチル−2−ピロリドン等のアミド系溶媒などが挙げられる。これらは1種を単独で用いてもよいし、2種以上を併用してもよい。これらの中でも、メチルエチルケトン、シクロヘキサノン、プロピレングリコールモノメチルエーテル、N,N−ジメチルホルムアミド、N,N−ジメチルアセトアミドが溶解性の観点から好ましい。
(Method for producing polyimide compound (a1))
The polyimide compound (a1) can be produced, for example, by reacting a maleimide compound and a diamine compound in an organic solvent.
The organic solvent used for producing the polyimide compound (a1) is not particularly limited, and a known solvent can be used. The organic solvent is not particularly limited, but for example, alcohols such as methanol, ethanol, butanol, butyl cellosolve, ethylene glycol monomethyl ether and propylene glycol monomethyl ether; ketones such as acetone, methyl ethyl ketone, methyl isobutyl ketone and cyclohexanone; toluene, xylene, etc. Aromatic hydrocarbons such as mesitylene; esters such as methoxyethyl acetate, ethoxyethyl acetate, butoxyethyl acetate, ethyl acetate; amides such as N, N-dimethylformamide, N, N-dimethylacetamide, N-methyl-2-pyrrolidone. Examples include system solvents. These may be used alone or in combination of two or more. Among these, methyl ethyl ketone, cyclohexanone, propylene glycol monomethyl ether, N, N-dimethylformamide, and N, N-dimethylacetamide are preferable from the viewpoint of solubility.

ポリイミド化合物(a1)を製造する際のマレイミド化合物とジアミン化合物の使用量は、ジアミン化合物の−NH基当量(Ta2)と、マレイミド化合物のマレイミド基当量(Ta1)との当量比(Ta2/Ta1)が0.05〜10.0が好ましく、0.05〜1.0がより好ましく、0.1〜0.8がさらに好ましい。上記範囲内でマレイミド化合物とジアミン化合物を反応させることにより、より良好な高周波特性、耐熱性、難燃性、及びガラス転移温度が得られる傾向にある。 The amount of the maleimide compound and the diamine compound used in producing the polyimide compound (a1 ) is the equivalent ratio (Ta2 / Ta1) of the -NH 2 group equivalent (Ta2) of the diamine compound and the maleimide group equivalent (Ta1) of the maleimide compound. ) Is preferably 0.05 to 10.0, more preferably 0.05 to 1.0, and even more preferably 0.1 to 0.8. By reacting the maleimide compound with the diamine compound within the above range, better high frequency characteristics, heat resistance, flame retardancy, and glass transition temperature tend to be obtained.

マレイミド化合物とジアミン化合物とを反応させてポリイミド化合物(a1)を製造する際には、反応触媒を必要に応じて使用することもできる。反応触媒としては、制限されないが、例えば、p−トルエンスルホン酸等の酸性触媒;トリエチルアミン、ピリジン、トリブチルアミン等のアミン類;メチルイミダゾール、フェニルイミダゾール等のイミダゾール類;トリフェニルホスフィン等のリン系触媒などが挙げられる。これらは1種を単独で用いてもよいし、2種以上を併用してもよい。また、反応触媒の配合量は特に限定されないが、例えば、マレイミド化合物及びジアミン化合物の合計量100質量部に対して、0.01〜5.0質量部の範囲で使用することができる。 When the polyimide compound (a1) is produced by reacting the maleimide compound with the diamine compound, a reaction catalyst can be used as needed. The reaction catalyst is not limited, for example, an acidic catalyst such as p-toluenesulfonic acid; amines such as triethylamine, pyridine and tributylamine; imidazoles such as methylimidazole and phenylimidazole; and a phosphorus catalyst such as triphenylphosphine. And so on. These may be used alone or in combination of two or more. The amount of the reaction catalyst to be blended is not particularly limited, but for example, it can be used in the range of 0.01 to 5.0 parts by mass with respect to 100 parts by mass of the total amount of the maleimide compound and the diamine compound.

マレイミド化合物、ジアミン化合物、有機溶媒及び必要により反応触媒等を合成釜に所定量仕込み、マイケル付加反応させることによりポリイミド化合物(a1)が得られる。この工程での反応条件は、特に限定されないが、反応速度等の作業性及びゲル化抑制等の観点から、例えば、反応温度は50〜160℃、反応時間は1〜10時間とすることが好ましい。
また、この工程では前述の有機溶媒を追加又は濃縮して、反応原料の固形分濃度、溶液粘度を調整してもよい。反応原料の固形分濃度としては、特に制限されないが、例えば、10〜90質量%が好ましく、20〜80質量%がより好ましい。反応原料の固形分濃度が10質量%以上であると、反応速度が遅くなりすぎず、製造コストの面で有利である。また、反応原料の固形分濃度が90質量%以下であると、良好な溶解性が得られ、攪拌効率が良く、ゲル化することも少ない。
なお、ポリイミド化合物(a1)の製造後に、目的に合わせて有機溶媒の一部又は全部を除去して濃縮してもよく、有機溶媒を追加して希釈してもよい。追加で使用される有機溶媒としては、ポリイミド化合物(a1)の製造方法の説明にて例示した有機溶媒が適用できる。
A polyimide compound (a1) is obtained by charging a predetermined amount of a maleimide compound, a diamine compound, an organic solvent and, if necessary, a reaction catalyst and the like into a synthesis pot and causing a Michael addition reaction. The reaction conditions in this step are not particularly limited, but from the viewpoint of workability such as reaction rate and suppression of gelation, for example, the reaction temperature is preferably 50 to 160 ° C. and the reaction time is preferably 1 to 10 hours. ..
Further, in this step, the above-mentioned organic solvent may be added or concentrated to adjust the solid content concentration and solution viscosity of the reaction raw material. The solid content concentration of the reaction raw material is not particularly limited, but is preferably 10 to 90% by mass, more preferably 20 to 80% by mass, for example. When the solid content concentration of the reaction raw material is 10% by mass or more, the reaction rate does not become too slow, which is advantageous in terms of production cost. Further, when the solid content concentration of the reaction raw material is 90% by mass or less, good solubility is obtained, stirring efficiency is good, and gelation is less likely to occur.
After the production of the polyimide compound (a1), a part or all of the organic solvent may be removed and concentrated according to the purpose, or the organic solvent may be added and diluted. As the organic solvent additionally used, the organic solvent exemplified in the description of the method for producing the polyimide compound (a1) can be applied.

ポリイミド化合物(a1)の重量平均分子量(Mw)は、特に限定されないが、例えば、800〜10,000が好ましく、800〜8,000がより好ましく、800〜5,000がさらに好ましく、1,000〜5,000が特に好ましく、1,500〜4,000が最も好ましい。ポリイミド化合物(a1)の重量平均分子量は、実施例に記載の方法により求めることができる。 The weight average molecular weight (Mw) of the polyimide compound (a1) is not particularly limited, but is, for example, preferably 800 to 10,000, more preferably 800 to 8,000, still more preferably 800 to 5,000, and 1,000. ~ 5,000 is particularly preferable, and 1,500 to 4,000 is most preferable. The weight average molecular weight of the polyimide compound (a1) can be determined by the method described in Examples.

(ポリイミド化合物(a1)の含有量)
樹脂組成物中におけるポリイミド化合物(a1)の含有量は、特に限定されないが、樹脂組成物中に含まれる全樹脂成分に対して40〜95質量%が好ましく、60〜95質量%がより好ましく、65〜85質量%がさらに好ましい。ポリイミド化合物(a1)の含有量を前記範囲内とすることにより、絶縁信頼性に優れ、低熱膨張率、高ガラス転移温度、良好な誘電正接が得られる傾向にある。
(Content of polyimide compound (a1))
The content of the polyimide compound (a1) in the resin composition is not particularly limited, but is preferably 40 to 95% by mass, more preferably 60 to 95% by mass, based on the total resin components contained in the resin composition. 65 to 85% by mass is more preferable. By setting the content of the polyimide compound (a1) within the above range, insulation reliability is excellent, a low coefficient of thermal expansion, a high glass transition temperature, and a good dielectric loss tangent tend to be obtained.

<無機充填材(a2)>
無機充填材(a2)としては、特に限定されないが、例えば、シリカ、アルミナ、硫酸バリウム、タルク、クレー、雲母粉、水酸化アルミニウム、水酸化マグネシウム、炭酸カルシウム、炭酸マグネシウム、酸化マグネシウム、窒化ホウ素、ホウ酸アルミニウム、チタン酸バリウム、チタン酸ストロンチウム、チタン酸カルシウム、チタン酸マグネシウム、チタン酸ビスマス、酸化チタン、ジルコン酸バリウム、ジルコン酸カルシウム等が挙げられる。これらは1種を単独で用いてもよいし、2種以上を併用してもよい。これらの中でも、より低熱膨張化させる観点から、シリカが好ましい。
<Inorganic filler (a2)>
The inorganic filler (a2) is not particularly limited, but for example, silica, alumina, barium sulfate, talc, clay, mica powder, aluminum hydroxide, magnesium hydroxide, calcium carbonate, magnesium carbonate, magnesium oxide, boron nitride, etc. Examples thereof include aluminum borate, barium titanate, strontium titanate, calcium titanate, magnesium titanate, bismuth titanate, titanium oxide, barium zirconate, calcium zirconate and the like. These may be used alone or in combination of two or more. Among these, silica is preferable from the viewpoint of lower thermal expansion.

無機充填材(a2)の形状に特に制限はなく、例えば、球状、破砕状、針状又は板状のいずれであってもよいが、樹脂組成物中における分散性向上、有機溶媒に樹脂組成物を溶解又は分散させた樹脂ワニス中における分散性向上、樹脂ワニスの粘度低減による流動性向上、樹脂組成物から形成される絶縁層の表面粗度の増大抑制等の観点から、球状であることが好ましい。 The shape of the inorganic filler (a2) is not particularly limited and may be, for example, spherical, crushed, needle-shaped or plate-shaped, but the dispersibility in the resin composition is improved, and the resin composition is used as an organic solvent. It should be spherical from the viewpoints of improving dispersibility in the resin varnish in which the resin varnish is dissolved or dispersed, improving the fluidity by reducing the viscosity of the resin varnish, and suppressing the increase in the surface roughness of the insulating layer formed from the resin composition. preferable.

無機充填材(a2)の体積平均粒径は、特に限定されないが、例えば、0.05〜5μmが好ましく、0.1〜3μmがより好ましく、0.2〜1μmがさらに好ましい。成分(a2)の体積平均粒径が5μm以下であれば、層間絶縁層上に回路パターンを形成する際にファインパターンの形成をより安定的に行える傾向にある。また、無機充填材(a2)の体積平均粒径が0.1μm以上であれば、耐熱性がより良好となる傾向にある。
なお、体積平均粒径とは、粒子の全体積を100%として、粒子径による累積度数分布曲線を求めたときの体積50%に相当する点の粒径のことであり、レーザー回折散乱法を用いた粒度分布測定装置等で測定することができる。
The volume average particle diameter of the inorganic filler (a2) is not particularly limited, but is preferably, for example, 0.05 to 5 μm, more preferably 0.1 to 3 μm, and even more preferably 0.2 to 1 μm. When the volume average particle diameter of the component (a2) is 5 μm or less, the fine pattern tends to be formed more stably when the circuit pattern is formed on the interlayer insulating layer. Further, when the volume average particle diameter of the inorganic filler (a2) is 0.1 μm or more, the heat resistance tends to be better.
The volume average particle size is the particle size of a point corresponding to 50% of the volume when the cumulative frequency distribution curve based on the particle size is obtained with the total volume of the particles as 100%. It can be measured with the particle size distribution measuring device or the like used.

また、無機充填材(a2)の分散性及び無機充填材(a2)と樹脂組成物中の有機成分との接着性を向上させる目的で、必要に応じ、カップリング剤を併用してもよい。カップリング剤としては特に限定されず、例えば、各種のシランカップリング剤、チタネートカップリング剤等を用いることができる。これらは1種を単独で用いてもよいし、2種以上を併用してもよい。これらの中でも、シランカップリング剤が好ましい。シランカップリング剤としては、アミノシラン系カップリング剤、エポキシシラン系カップリング剤、フェニルシラン系カップリング剤、アルキルシラン系カップリング剤、アルケニルシラン系カップリング剤、メルカプトシラン系カップリング剤等が挙げられる。これらの中でも、無機充填材(a2)の分散性向上の観点、及び無機充填材(a2)と有機成分との接着性向上の観点から、アミノシラン系カップリング剤が好ましい。
また、カップリング剤を使用する場合、その使用量は特に限定されないが、無機充填材(a2)100質量部に対して0.1〜5質量部が好ましく、0.5〜3質量部がより好ましい。この範囲であれば、無機充填材(a2)の使用による特長をより効果的に発揮できる。
カップリング剤を用いる場合、その添加方式は、樹脂組成物中に無機充填材(a2)を配合した後、カップリング剤を添加する、いわゆるインテグラルブレンド処理方式であってもよいし、より効果的に無機充填材(a2)の特長を発現させる観点から、配合前の無機充填材に対して予めカップリング剤を乾式又は湿式で表面処理する方式でもよい。
Further, for the purpose of improving the dispersibility of the inorganic filler (a2) and the adhesiveness between the inorganic filler (a2) and the organic component in the resin composition, a coupling agent may be used in combination, if necessary. The coupling agent is not particularly limited, and for example, various silane coupling agents, titanate coupling agents, and the like can be used. These may be used alone or in combination of two or more. Among these, a silane coupling agent is preferable. Examples of the silane coupling agent include aminosilane-based coupling agents, epoxysilane-based coupling agents, phenylsilane-based coupling agents, alkylsilane-based coupling agents, alkenylsilane-based coupling agents, and mercaptosilane-based coupling agents. Be done. Among these, an aminosilane-based coupling agent is preferable from the viewpoint of improving the dispersibility of the inorganic filler (a2) and improving the adhesiveness between the inorganic filler (a2) and the organic component.
When a coupling agent is used, the amount used is not particularly limited, but is preferably 0.1 to 5 parts by mass, more preferably 0.5 to 3 parts by mass with respect to 100 parts by mass of the inorganic filler (a2). preferable. Within this range, the features of using the inorganic filler (a2) can be exhibited more effectively.
When a coupling agent is used, the addition method may be a so-called integral blend treatment method in which the inorganic filler (a2) is added to the resin composition and then the coupling agent is added, which is more effective. From the viewpoint of demonstrating the characteristics of the inorganic filler (a2), a method may be used in which the coupling agent is surface-treated in advance with respect to the inorganic filler before compounding by a dry method or a wet method.

無機充填材(a2)は、樹脂組成物への分散性を高める観点から、予め有機溶媒中に分散させたスラリーの状態で用いることが好ましい。無機充填材(a2)のスラリーに使用される有機溶媒に特に制限はないが、例えば、上述したポリイミド化合物(a1)の製造工程で例示した有機溶媒が適用できる。これらは1種を単独で用いてもよいし、2種以上を併用してもよい。また、これらの有機溶媒の中でも、分散性をより一層高める観点から、メチルエチルケトン、メチルイソブチルケトン、シクロヘキサノンが好ましい。
無機充填材(a2)のスラリーの固形分濃度に特に制限はないが、例えば、無機充填材(a2)の沈降性及び分散性の観点から、50〜80質量%が好ましく、60〜80質量%がより好ましい。
無機充填材(a2)の含有量は、求める特性及び機能によって適宜選択できるが、樹脂組成物の固形分に対して、55体積%以上が好ましく、55〜85体積%がより好ましく、55〜80体積%がさらに好ましく、55〜75体積%が特に好ましい。無機充填材の含有量をこのような範囲にすることで、低い熱膨張率を有することができる。
なお、本明細書において、樹脂組成物に含まれる固形分とは、樹脂組成物を構成する成分から揮発性の成分を除外した残分を意味する。
The inorganic filler (a2) is preferably used in the state of a slurry previously dispersed in an organic solvent from the viewpoint of enhancing dispersibility in the resin composition. The organic solvent used in the slurry of the inorganic filler (a2) is not particularly limited, and for example, the organic solvent exemplified in the above-mentioned production step of the polyimide compound (a1) can be applied. These may be used alone or in combination of two or more. Among these organic solvents, methyl ethyl ketone, methyl isobutyl ketone, and cyclohexanone are preferable from the viewpoint of further enhancing dispersibility.
The solid content concentration of the slurry of the inorganic filler (a2) is not particularly limited, but for example, from the viewpoint of sedimentation and dispersibility of the inorganic filler (a2), 50 to 80% by mass is preferable, and 60 to 80% by mass is preferable. Is more preferable.
The content of the inorganic filler (a2) can be appropriately selected depending on the desired properties and functions, but is preferably 55% by volume or more, more preferably 55 to 85% by volume, and 55 to 80% by volume, based on the solid content of the resin composition. By volume% is more preferred, and 55-75% by volume is particularly preferred. By setting the content of the inorganic filler in such a range, it is possible to have a low coefficient of thermal expansion.
In the present specification, the solid content contained in the resin composition means a residue obtained by excluding volatile components from the components constituting the resin composition.

<エラストマ(a3)>
A層用の樹脂組成物は、エラストマ(a3)を含有していてもよい。エラストマ(a3)としては、特に限定されないが、例えば、ポリブタジエン系エラストマ、スチレン系エラストマ、オレフィン系エラストマ、ウレタン系エラストマ、ポリエステル系エラストマ、ポリアミド系エラストマ、アクリル系エラストマ、シリコーン系エラストマ、これらのエラストマの誘導体等が挙げられる。これらは、1種を単独で用いてもよいし、2種以上を併用してもよい。
<Elastomer (a3)>
The resin composition for the A layer may contain an elastomer (a3). The elastomer (a3) is not particularly limited, and for example, a polybutadiene-based elastomer, a styrene-based elastomer, an olefin-based elastomer, a urethane-based elastomer, a polyester-based elastomer, a polyamide-based elastomer, an acrylic-based elastomer, a silicone-based elastomer, and these elastomers. Derivatives and the like can be mentioned. These may be used alone or in combination of two or more.

エラストマ(a3)としては、分子末端又は分子鎖中に反応性官能基を有するものを用いることができる。反応性官能基としては、例えば、無水マレイン酸基、エポキシ基、水酸基、カルボキシ基、アミノ基、アミド基、イソシアナト基、アクリル基、メタクリル基及びビニル基からなる群より選択される1種以上であることが好ましく、金属箔との密着性の点から、無水マレイン酸基、エポキシ基、水酸基、カルボキシ基、アミノ基及びアミド基からなる群より選択される1種以上であることがより好ましく、誘電特性の点から、無水マレイン酸基がさらに好ましい。これらの反応性官能基を有することにより、樹脂への相溶性が向上し、層間絶縁層を形成した際の無機充填材(a2)と樹脂成分との分離が抑制される傾向にある。同様の観点から、エラストマ(a3)は無水マレイン酸によって変性されたエラストマであることが好ましい。 As the elastomer (a3), one having a reactive functional group at the molecular terminal or in the molecular chain can be used. The reactive functional group is, for example, one or more selected from the group consisting of a maleic anhydride group, an epoxy group, a hydroxyl group, a carboxy group, an amino group, an amide group, an isocyanato group, an acrylic group, a methacryl group and a vinyl group. It is more preferable that there is at least one selected from the group consisting of a maleic anhydride group, an epoxy group, a hydroxyl group, a carboxy group, an amino group and an amide group from the viewpoint of adhesion to a metal foil. From the viewpoint of dielectric properties, a maleic anhydride group is more preferable. By having these reactive functional groups, the compatibility with the resin is improved, and the separation between the inorganic filler (a2) and the resin component when the interlayer insulating layer is formed tends to be suppressed. From the same viewpoint, the elastomer (a3) is preferably an elastomer modified with maleic anhydride.

ポリブタジエン系エラストマは、1,2−ビニル基を含む、1,4−トランス体と1,4−シス体との構造体からなるものが好適に挙げられる。
ポリブタジエン系エラストマとしては、樹脂への相溶性が向上し、層間絶縁層を形成した際の無機充填材(a2)と樹脂成分との分離が抑制される観点から、反応性官能基を有するものが好ましく、特に酸無水物で変性されているポリブタジエン系エラストマが好ましい。酸無水物としては、特に限定されないが、例えば、無水フタル酸、無水マレイン酸、無水トリメリット酸、無水ピロメリット酸、ヘキサヒドロ無水フタル酸、テトラヒドロ無水フタル酸、無水メチルナジック酸、無水ナジック酸、無水グルタル酸、無水ジメチルグルタル酸、無水ジエチルグルタル酸、無水コハク酸、メチルヘキサヒドロ無水フタル酸、メチルテトラヒドロ無水フタル酸等が挙げられる。これらの中でも、無水マレイン酸が好ましい。
エラストマ(a3)が酸無水物で変性されている場合、エラストマ(a3)1分子中に含まれる酸無水物由来の基(以下、「酸無水物基」ともいう)の数は、1〜10が好ましく、1〜6がより好ましく、2〜5がさらに好ましい。酸無水物基の数が1分子中に1以上であると、層間絶縁層を形成した際の無機充填材(a2)と樹脂成分との分離がより抑制される傾向にある。また、酸無水物基の数が1分子中に10以下であると、樹脂組成物の誘電正接がより低くなる傾向にある。エラストマ(a3)が無水マレイン酸で変性されている場合、上記と同様の観点から、エラストマ(a3)1分子中に含まれる無水マレイン酸由来の基(以下、「無水マレイン酸基」ともいう)の数は、1〜10が好ましく、1〜6がより好ましく、2〜5がさらに好ましい。
ポリブタジエン系エラストマは、市販品として入手可能であり、その具体例としては、例えば、「POLYVEST(登録商標)MA75」、「POLYVEST(登録商標)EP MA120」(以上、エボニック社製、商品名)、「Ricon(登録商標)130MA8」、「Ricon(登録商標)131MA5」、「Ricon(登録商標)184MA6」(以上、クレイバレー社製、商品名)等が挙げられる。
The polybutadiene-based elastomer preferably includes a structure consisting of a 1,4-trans form and a 1,4-cis form containing a 1,2-vinyl group.
As the polybutadiene-based elastomer, those having a reactive functional group are used from the viewpoint of improving the compatibility with the resin and suppressing the separation between the inorganic filler (a2) and the resin component when the interlayer insulating layer is formed. Preferably, a polybutadiene-based elastomer modified with an acid anhydride is particularly preferable. The acid anhydride is not particularly limited, and for example, phthalic anhydride, maleic anhydride, trimellitic anhydride, pyromellitic anhydride, hexahydrophthalic anhydride, tetrahydrophthalic anhydride, methylnadic anhydride, nadicic anhydride, Phthalic anhydride, dimethylglutaric anhydride, diethylglutaric anhydride, succinic anhydride, phthalic anhydride, methyltetrahydrophthalic anhydride and the like can be mentioned. Of these, maleic anhydride is preferred.
When the elastoma (a3) is modified with an acid anhydride, the number of acid anhydride-derived groups (hereinafter, also referred to as "acid anhydride groups") contained in one molecule of the elastoma (a3) is 1 to 10. Is preferable, 1 to 6 are more preferable, and 2 to 5 are even more preferable. When the number of acid anhydride groups is 1 or more in one molecule, the separation between the inorganic filler (a2) and the resin component when the interlayer insulating layer is formed tends to be further suppressed. Further, when the number of acid anhydride groups is 10 or less in one molecule, the dielectric loss tangent of the resin composition tends to be lower. When the elastomer (a3) is modified with maleic anhydride, a group derived from maleic anhydride contained in one molecule of the elastomer (a3) (hereinafter, also referred to as "maleic anhydride group") from the same viewpoint as above. The number of is preferably 1 to 10, more preferably 1 to 6, and even more preferably 2 to 5.
Polybutadiene-based elastomers are available as commercial products, and specific examples thereof include, for example, "POLYVEST (registered trademark) MA75", "POLYVEST (registered trademark) EP MA120" (all manufactured by Ebonic, trade name), and the like. Examples thereof include "Ricon (registered trademark) 130MA8", "Ricon (registered trademark) 131MA5", and "Ricon (registered trademark) 184MA6" (all manufactured by Clay Valley Co., Ltd., trade name).

スチレン系エラストマとしては、例えば、スチレン−ブタジエン−スチレンブロックコポリマー、スチレン−イソプレン−スチレンブロックコポリマー、スチレン−エチレン−ブチレン−スチレンブロックコポリマー、スチレン−エチレン−プロピレン−スチレンブロックコポリマー等が好適に挙げられる。スチレン系エラストマを構成する成分としては、スチレンの他に、α−メチルスチレン、3−メチルスチレン、4−プロピルスチレン、4−シクロヘキシルスチレン等のスチレン誘導体が挙げられる。スチレン系エラストマは、市販品として入手可能であり、その具体例としては、「タフプレン(登録商標)」、「アサプレン(登録商標)T」、「タフテック(登録商標)H」、「タフテック(登録商標)MP10」、「タフテック(登録商標)M1911」、「タフテック(登録商標)M1913」(以上、旭化成ケミカルズ株式会社製)、「エポフレンド(登録商標)AT501」、「エポフレンド(登録商標)CT310」(以上、株式会社ダイセル製)等が挙げられる。 Preferable examples of the styrene-based elastoma include styrene-butadiene-styrene block copolymer, styrene-isoprene-styrene block copolymer, styrene-ethylene-butylene-styrene block copolymer, and styrene-ethylene-propylene-styrene block copolymer. Examples of the components constituting the styrene-based elastomer include styrene derivatives such as α-methylstyrene, 3-methylstyrene, 4-propylstyrene, and 4-cyclohexylstyrene, in addition to styrene. Styrene-based elastoma is available as a commercial product, and specific examples thereof include "Toughprene (registered trademark)", "Asaprene (registered trademark) T", "Toughtech (registered trademark) H", and "Toughtech (registered trademark)". ) MP10 ”,“ Tough Tech (registered trademark) M1911 ”,“ Tough Tech (registered trademark) M1913 ”(above, manufactured by Asahi Kasei Chemicals Co., Ltd.),“ Epofriend (registered trademark) AT501 ”,“ Epofriend (registered trademark) CT310 ” (The above is manufactured by Daicel Co., Ltd.) and the like.

オレフィン系エラストマとしては、例えば、エチレン、プロピレン、1−ブテン、1−ヘキセン、4−メチル−ペンテン等の炭素数2〜20のα−オレフィンの共重合体が挙げられ、例えば、エチレン−プロピレン共重合体(EPR)、エチレン−プロピレン−ジエン共重合体(EPDM)等が好適に挙げられる。また、前記α−オレフィンと、ジシクロペンタジエン、1,4−ヘキサジエン、シクロオクタジエン、メチレンノルボルネン、エチリデンノルボルネン、ブタジエン、イソプレン等の炭素数2〜20の非共役ジエンとの共重合体が挙げられる。さらには、ブタジエン−アクニロニトリル共重合体にメタクリル酸を共重合したカルボキシ変性NBR等が挙げられる。オレフィン系エラストマは、市販品として入手可能であり、その具体例としては、「PB3600」、「PB4700」(以上、株式会社ダイセル製)、「G−1000」、「G−2000」、「G−3000」、「JP−100」、「JP−200」、「BN−1015」、「TP−1001」、「TEA−1000」、「EA−3000」、「TE−2000」、「EMA−3000」(以上、日本曹達株式会社製)、「デナレックス(登録商標)R45」(ナガセケムテックス株式会社製)等が挙げられる。 Examples of the olefin-based elastoma include copolymers of α-olefins having 2 to 20 carbon atoms such as ethylene, propylene, 1-butene, 1-hexene and 4-methyl-pentene, and examples thereof include ethylene-propylene. Preferable examples thereof include a polymer (EPR) and an ethylene-propylene-diene copolymer (EPDM). Examples thereof include a copolymer of the α-olefin with a non-conjugated diene having 2 to 20 carbon atoms such as dicyclopentadiene, 1,4-hexadiene, cyclooctadiene, methylenenorbornene, etylidenenorbornene, butadiene, and isoprene. .. Further, carboxy-modified NBR obtained by copolymerizing methacrylic acid with a butadiene-acnillonitrile copolymer can be mentioned. Olefin-based elastomers are available as commercial products, and specific examples thereof include "PB3600", "PB4700" (all manufactured by Daicel Corporation), "G-1000", "G-2000", and "G-". 3000 ”,“ JP-100 ”,“ JP-100 ”,“ BN-1015 ”,“ TP-1001 ”,“ TEA-1000 ”,“ EA-3000 ”,“ TE-2000 ”,“ EMA-3000 ” (The above is manufactured by Nippon Soda Co., Ltd.), "Denalex (registered trademark) R45" (manufactured by Nagase ChemteX Corporation), and the like.

ウレタン系エラストマは、例えば、短鎖ジオールとジイソシアネートとからなるハードセグメントと、高分子(長鎖)ジオールとジイソシアネートとからなるソフトセグメントとを含有するものが好適に挙げられる。
高分子(長鎖)ジオールとしては、ポリプロピレングリコール、ポリテトラメチレンオキサイド、ポリ(1,4−ブチレンアジペート)、ポリ(エチレン−1,4−ブチレンアジペート)、ポリカプロラクトン、ポリ(1,6−ヘキシレンカーボネート)、ポリ(1,6−へキシレン・ネオペンチレンアジペート)等が挙げられる。高分子(長鎖)ジオールの数平均分子量は、500〜10,000が好ましい。
短鎖ジオールとしては、エチレングリコール、プロピレングリコール、1,4−ブタンジオール、ビスフェノールA等が挙げられる。短鎖ジオールの数平均分子量は、48〜500が好ましい。
ウレタン系エラストマは、市販品として入手可能であり、その具体例としては、「PANDEX(登録商標)T−2185」、「PANDEX(登録商標)T−2983N」(以上、DIC株式会社製)等が挙げられる。
The urethane-based elastomer preferably contains, for example, a hard segment composed of a short-chain diol and a diisocyanate, and a soft segment composed of a polymer (long-chain) diol and a diisocyanate.
Examples of the polymer (long chain) diol include polypropylene glycol, polytetramethylene oxide, poly (1,4-butylene adipate), poly (ethylene-1,4-butylene adipate), polycaprolactone, and poly (1,6-he). Xylene carbonate), poly (1,6-hexylene / neopentylene adipate) and the like. The number average molecular weight of the polymer (long chain) diol is preferably 500 to 10,000.
Examples of the short chain diol include ethylene glycol, propylene glycol, 1,4-butanediol, and bisphenol A. The number average molecular weight of the short chain diol is preferably 48 to 500.
Urethane-based elastomers are available as commercial products, and specific examples thereof include "PANDEX (registered trademark) T-2185" and "PANDEX (registered trademark) T-2983N" (all manufactured by DIC Corporation). Can be mentioned.

ポリエステル系エラストマとしては、例えば、ジカルボン酸又はその誘導体とジオール化合物又はその誘導体とを重縮合して得られるものが挙げられる。
ジカルボン酸の具体例としては、テレフタル酸、イソフタル酸、ナフタレンジカルボン酸等の芳香族ジカルボン酸及びこれらの芳香核の水素原子がメチル基、エチル基、フェニル基等で置換された芳香族ジカルボン酸;アジピン酸、セバシン酸、ドデカンジカルボン酸等の炭素数2〜20の脂肪族ジカルボン酸;シクロヘキサンジカルボン酸等の脂環式ジカルボン酸などが挙げられる。これらの化合物は1種を単独で用いてもよいし、2種以上を併用してもよい。
ジオール化合物の具体例としては、エチレングリコール、1,3−プロパンジオール、1,4−ブタンジオール、1,6−ヘキサンジオール、1,10−デカンジオール等の脂肪族ジオール;1,4−シクロヘキサンジオール等の脂環式ジオール;ビスフェノールA、ビス(4−ヒドロキシフェニル)メタン、ビス(4−ヒドロキシ−3−メチルフェニル)プロパン、レゾルシン等の芳香族ジオールなどが挙げられる。これらの化合物は1種を単独で用いてもよいし、2種以上を併用してもよい。
Examples of the polyester-based elastomer include those obtained by polycondensing a dicarboxylic acid or a derivative thereof and a diol compound or a derivative thereof.
Specific examples of the dicarboxylic acid include aromatic dicarboxylic acids such as terephthalic acid, isophthalic acid, and naphthalenedicarboxylic acid, and aromatic dicarboxylic acids in which the hydrogen atom of these aromatic nuclei is substituted with a methyl group, an ethyl group, a phenyl group, or the like; Examples thereof include aliphatic dicarboxylic acids having 2 to 20 carbon atoms such as adipic acid, sebacic acid and dodecanedicarboxylic acid; and alicyclic dicarboxylic acids such as cyclohexanedicarboxylic acid. One of these compounds may be used alone, or two or more of these compounds may be used in combination.
Specific examples of the diol compound include aliphatic diols such as ethylene glycol, 1,3-propanediol, 1,4-butanediol, 1,6-hexanediol, and 1,10-decanediol; 1,4-cyclohexanediol. Aliphatic diols such as bisphenol A, bis (4-hydroxyphenyl) methane, bis (4-hydroxy-3-methylphenyl) propane, aromatic diols such as resorcin and the like. One of these compounds may be used alone, or two or more of these compounds may be used in combination.

また、ポリエステル系エラストマとして、芳香族ポリエステル(例えば、ポリブチレンテレフタレート)部分をハードセグメント成分に、脂肪族ポリエステル(例えば、ポリテトラメチレングリコール)部分をソフトセグメント成分にしたマルチブロック共重合体が好適に挙げられる。マルチブロック共重合体は、ハードセグメントとソフトセグメントの種類、比率、分子量の違いにより様々なグレードのものがある。その具体例としては、「ハイトレル(登録商標)」(デュポン・東レ株式会社製)、「ペルプレン(登録商標)」(東洋紡績株式会社製)、「エスペル(登録商標)」(日立化成株式会社製)等が挙げられる。 Further, as the polyester-based elastomer, a multi-block copolymer having an aromatic polyester (for example, polybutylene terephthalate) portion as a hard segment component and an aliphatic polyester (for example, polytetramethylene glycol) portion as a soft segment component is preferable. Can be mentioned. There are various grades of multi-block copolymers depending on the types, ratios, and molecular weights of hard segments and soft segments. Specific examples thereof include "Hitrel (registered trademark)" (Dupont Toray Industries, Inc.), "Perprene (registered trademark)" (Toyo Spinning Co., Ltd.), and "Esper (registered trademark)" (Hitachi Kasei Co., Ltd.). ) Etc. can be mentioned.

ポリアミド系エラストマとしては、例えば、ポリアミドをハードセグメント成分、ポリブタジエン、ブタジエン−アクリロニトリル共重合体、スチレン−ブタジエン共重合体、ポリイソプレン、エチレンプロピレン共重合体、ポリエーテル、ポリエステル、ポリブタジエン、ポリカーボネート、ポリアクリレート、ポリメタクリレート、ポリウレタン、シリコーンゴム等をソフトセグメント成分としたブロック共重合体が挙げられる。
ポリアミド系エラストマは、市販品として入手可能であり、その具体例としては、「UBEポリアミドエラストマ」(宇部興産株式会社製)、「ダイアミド(登録商標)」(ダイセル・エボニック株式会社製)、「PEBAX(登録商標)」(東レ株式会社製)、「グリロン(登録商標)ELY」(エムスケミー・ジャパン株式会社製)、「ノバミッド(登録商標)」(三菱化学株式会社製)、「グリラックス(登録商標)」(DIC株式会社製)、「BPAM−01」、「BPAM−155」(以上、日本化薬株式会社製)等が挙げられる。
As the polyamide-based elastoma, for example, polyamide is a hard segment component, polybutadiene, butadiene-acrylonitrile copolymer, styrene-butadiene copolymer, polyisoprene, ethylene propylene copolymer, polyether, polyester, polybutadiene, polycarbonate, polyacrylate. , Polymethacrylate, polyurethane, silicone rubber and the like as soft segment components.
Polyamide-based elastoma is available as a commercial product, and specific examples thereof include "UBE Polyamide Elastoma" (manufactured by Ube Industries, Ltd.), "Diamid (registered trademark)" (manufactured by Dicelle Evonik Corporation), and "PEBAX". (Registered Trademark) ”(Toray Industries, Inc.),“ Grillon (Registered Trademark) ELY ”(M.Schemy Japan Co., Ltd.),“ Novamid (Registered Trademark) ”(Mitsubishi Chemical Co., Ltd.) ) ”(Manufactured by DIC Corporation),“ BPAM-01 ”,“ BPAM-155 ”(all manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.) and the like.

アクリル系エラストマとしては、例えば、アクリル酸エステルを主成分とする原料モノマーの重合体が挙げられる。アクリル酸エステルとしては、エチルアクリレート、ブチルアクリレート、メトキシエチルアクリレート、エトキシエチルアクリレート等が好適に挙げられる。また、架橋点モノマーとして、グリシジルメタクリレート、アリルグリシジルエーテル等を共重合させたものであってもよく、さらに、アクリロニトリル、エチレン等を共重合させたものであってもよい。具体的には、アクリロニトリル−ブチルアクリレート共重合体、アクリロニトリル−ブチルアクリレート−エチルアクリレート共重合体、アクリロニトリル−ブチルアクリレート−グリシジルメタクリレート共重合体等が挙げられる。 Examples of the acrylic elastomer include a polymer of a raw material monomer containing an acrylic ester as a main component. Preferable examples of the acrylic acid ester include ethyl acrylate, butyl acrylate, methoxyethyl acrylate, and ethoxyethyl acrylate. Further, as the cross-linking point monomer, glycidyl methacrylate, allyl glycidyl ether and the like may be copolymerized, and further, acrylonitrile, ethylene and the like may be copolymerized. Specific examples thereof include an acrylonitrile-butyl acrylate copolymer, an acrylonitrile-butyl acrylate-ethyl acrylate copolymer, and an acrylonitrile-butyl acrylate-glycidyl methacrylate copolymer.

シリコーン系エラストマは、オルガノポリシロキサンを主成分とするエラストマであり、例えば、ポリジメチルシロキサン系、ポリメチルフェニルシロキサン系、ポリジフェニルシロキサン系等に分類される。シリコーン系エラストマは、市販品として入手可能であり、その具体例としては、「X−22−163B」、「X−22−163C」、「X−22−1821」、「X−22−162C」(以上、信越化学工業株式会社製)、コアシェル型シリコーンゴム「SYシリーズ」(旭化成ワッカーシリコーン株式会社製)、「SEシリーズ」、「CYシリーズ」、「SHシリーズ」(以上、東レ・ダウコーニング株式会社製)等が挙げられる。 Silicone-based elastomers are elastomers containing organopolysiloxane as a main component, and are classified into, for example, polydimethylsiloxane-based, polymethylphenylsiloxane-based, polydiphenylsiloxane-based, and the like. Silicone-based elastomers are available as commercial products, and specific examples thereof include "X-22-163B", "X-22-163C", "X-22-1821", and "X-22-162C". (Above, manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.), Core-shell type silicone rubber "SY series" (manufactured by Asahi Kasei Wacker Silicone Co., Ltd.), "SE series", "CY series", "SH series" (above, Toray Dow Corning Co., Ltd.) (Made by company), etc.

これらのエラストマの中でも、耐熱性、絶縁信頼性の点から、スチレン系エラストマ、ポリブタジエン系エラストマ、オレフィン系エラストマ、ポリアミド系エラストマ、シリコーン系エラストマが好ましく、誘電特性の点から、ポリブタジエン系エラストマ、スチレン系エラストマがより好ましく、ポリブタジエン系エラストマがさらに好ましい。 Among these elastomers, styrene-based elastomers, polybutadiene-based elastomers, olefin-based elastomers, polyamide-based elastomers, and silicone-based elastomers are preferable from the viewpoint of heat resistance and insulation reliability, and polybutadiene-based elastomers and styrene-based elastomers are preferable from the viewpoint of dielectric properties. Elastomers are more preferred, and polybutadiene-based elastomers are even more preferred.

エラストマ(a3)の重量平均分子量は、500〜50,000が好ましく、1,000〜30,000がより好ましい。エラストマ(a3)の重量平均分子量が500以上であると、樹脂組成物の硬化性及び硬化物の誘電特性がより良好となる傾向にある。また、エラストマ(a3)の重量平均分子量が50,000以下であると、層間絶縁層を形成した際の無機充填材(a2)と樹脂成分との分離が抑制される傾向にある。なお、エラストマ(a3)の重量平均分子量は、実施例に記載のポリイミド化合物(a1)の重量平均分子量の測定方法を適用できる。 The weight average molecular weight of the elastomer (a3) is preferably 500 to 50,000, more preferably 1,000 to 30,000. When the weight average molecular weight of the elastomer (a3) is 500 or more, the curability of the resin composition and the dielectric properties of the cured product tend to be better. Further, when the weight average molecular weight of the elastomer (a3) is 50,000 or less, the separation of the inorganic filler (a2) and the resin component when the interlayer insulating layer is formed tends to be suppressed. As the weight average molecular weight of the elastomer (a3), the method for measuring the weight average molecular weight of the polyimide compound (a1) described in Examples can be applied.

樹脂組成物がエラストマ(a3)を含有する場合、その含有量は、樹脂組成物に含まれる全樹脂成分に対して1〜70質量%が好ましく、5〜50質量%がより好ましく、10〜30質量%がさらに好ましい。エラストマ(a3)の含有量を前記範囲内とすることにより、誘電正接が低く、フィルムにした際の取り扱い性に優れ、且つ層間絶縁層を形成した際の無機充填材(a2)と樹脂成分との分離が抑制される傾向にある。 When the resin composition contains an elastomer (a3), the content thereof is preferably 1 to 70% by mass, more preferably 5 to 50% by mass, and 10 to 30% by mass, based on the total resin components contained in the resin composition. Mass% is more preferred. By setting the content of the elastomer (a3) within the above range, the dielectric loss tangent is low, the handleability when formed into a film is excellent, and the inorganic filler (a2) and the resin component when the interlayer insulating layer is formed Separation tends to be suppressed.

<その他の成分>
A層用の樹脂組成物には、必要に応じて、難燃剤、硬化促進剤等を含有してもよい。
樹脂組成物に難燃剤を含有させることで、より良好な難燃性を付与することができる。難燃剤としては特に限定されないが、例えば、塩素系難燃剤、臭素系難燃剤、リン系難燃剤、金属水和物系難燃剤等が挙げられる。環境への適合性からは、リン系難燃剤、金属水和物系難燃剤が好ましい。
また、樹脂組成物に適切な硬化促進剤を含有させることで、樹脂組成物の硬化性を向上させ、誘電特性、耐熱性、高弾性率性、ガラス転移温度等をより向上させることができる。硬化促進剤としては、特に限定されないが、例えば、各種イミダゾール化合物及びその誘導体;各種第3級アミン化合物;各種第4級アンモニウム化合物;トリフェニルホスフィン等の各種リン系化合物などが挙げられる。
樹脂組成物には、その他にも酸化防止剤、流動調整剤等の添加剤を含有させてもよい。
<Other ingredients>
The resin composition for the A layer may contain a flame retardant, a curing accelerator, or the like, if necessary.
By including a flame retardant in the resin composition, better flame retardancy can be imparted. The flame retardant is not particularly limited, and examples thereof include a chlorine-based flame retardant, a bromine-based flame retardant, a phosphorus-based flame retardant, and a metal hydrate-based flame retardant. Phosphorus-based flame retardants and metal hydrate-based flame retardants are preferable from the viewpoint of compatibility with the environment.
Further, by incorporating an appropriate curing accelerator into the resin composition, the curability of the resin composition can be improved, and the dielectric properties, heat resistance, high elastic modulus, glass transition temperature and the like can be further improved. The curing accelerator is not particularly limited, and examples thereof include various imidazole compounds and derivatives thereof; various tertiary amine compounds; various quaternary ammonium compounds; and various phosphorus compounds such as triphenylphosphine.
The resin composition may also contain additives such as an antioxidant and a flow conditioner.

(樹脂ワニス)
A層の製造に際し、A層用の前記樹脂組成物にさらに有機溶媒を含有させて樹脂ワニス(以下、A層用ワニスとも称する。)の状態にしておくことが好ましい。
A層用ワニスを製造するのに用いられる有機溶媒としては、例えば、アセトン、メチルエチルケトン、メチルイソブチルケトン、シクロヘキサノン等のケトン;酢酸エチル、酢酸ブチル、セロソルブアセテート、カルビトールアセテート等の酢酸エステル;セロソルブ、ブチルカルビトール、プロピレングリコールモノメチルエーテル等の(ジ)エチレングリコールモノアルキルエーテル又はプロピレングリコールモノアルキルエーテル;トルエン、キシレン等の芳香族炭化水素;ジメチルホルムアミド、ジメチルアセトアミド、N−メチル−2−ピロリドン等のアミド系溶媒などを挙げることができる。これらは1種を単独で用いてもよいし、2種以上を併用してもよい。
有機溶媒の含有量は、A層用ワニスの全体100質量部に対して、10〜60質量部が好ましく、10〜35質量部がより好ましい。
このようにして製造したA層用ワニスを用いることによって、前述のとおり、本発明の複合フィルムを製造することができる。
(Resin varnish)
In the production of the A layer, it is preferable that the resin composition for the A layer further contains an organic solvent to prepare a resin varnish (hereinafter, also referred to as a varnish for the A layer).
Examples of the organic solvent used for producing the varnish for layer A include ketones such as acetone, methyl ethyl ketone, methyl isobutyl ketone and cyclohexanone; and acetate esters such as ethyl acetate, butyl acetate, cellosolve acetate and carbitol acetate; cellosolve, (Di) ethylene glycol monoalkyl ether or propylene glycol monoalkyl ether such as butyl carbitol and propylene glycol monomethyl ether; aromatic hydrocarbons such as toluene and xylene; dimethylformamide, dimethylacetamide, N-methyl-2-pyrrolidone and the like. Examples thereof include amide-based solvents. These may be used alone or in combination of two or more.
The content of the organic solvent is preferably 10 to 60 parts by mass, more preferably 10 to 35 parts by mass with respect to 100 parts by mass of the entire varnish for layer A.
By using the varnish for layer A produced in this manner, the composite film of the present invention can be produced as described above.

[B層の成分]
B層の成分としては、樹脂組成物が挙げられる。樹脂組成物としては、導体層との接着性を向上させるものであれば、特に限定されないが、例えば、表面粗さが小さくてもめっき銅との接着性に優れるという観点から、多官能エポキシ樹脂(b1)とフェノール性水酸基含有ポリブタジエン変性ポリアミド樹脂(b2)を含有する樹脂組成物が好ましく、さらに活性エステル硬化剤(b3)を含有する樹脂組成物がより好ましい。以下、各成分について詳述する。
[Component of layer B]
Examples of the component of the B layer include a resin composition. The resin composition is not particularly limited as long as it improves the adhesiveness with the conductor layer, but for example, a polyfunctional epoxy resin from the viewpoint of excellent adhesiveness with plated copper even if the surface roughness is small. A resin composition containing (b1) and a phenolic hydroxyl group-containing polybutadiene-modified polyamide resin (b2) is preferable, and a resin composition containing an active ester curing agent (b3) is more preferable. Hereinafter, each component will be described in detail.

<多官能エポキシ樹脂(b1)>
多官能エポキシ樹脂(b1)は、エポキシ基を2個以上有する樹脂であれば、特に限定されないが、例えば、ビスフェノールA型エポキシ樹脂、ビスフェノールF型エポキシ樹脂、ビスフェノールS型エポキシ樹脂、クレゾールノボラック型エポキシ樹脂、フェノールノボラック型エポキシ樹脂、ビフェニル型エポキシ樹脂、ナフトール型エポキシ樹脂、アントラセン型エポキシ樹脂、ジシクロペンタジエン型エポキシ樹脂、ナフタレン型エポキシ樹脂、アラルキルノボラック型エポキシ樹脂、フルオレン型エポキシ樹脂、キサンテン型エポキシ樹脂等が挙げられる。めっき銅との接着性の観点から、ビフェニル構造を有することが好ましく、ビフェニル構造を有する多官能エポキシ樹脂又はビフェニル構造を有するアラルキルノボラック型エポキシ樹脂がより好ましい。
多官能エポキシ樹脂(b1)は、1種を単独で用いてもよいし、2種以上を併用してもよい。
<Multifunctional epoxy resin (b1)>
The polyfunctional epoxy resin (b1) is not particularly limited as long as it is a resin having two or more epoxy groups, and for example, a bisphenol A type epoxy resin, a bisphenol F type epoxy resin, a bisphenol S type epoxy resin, and a cresol novolac type epoxy. Resin, phenol novolac type epoxy resin, biphenyl type epoxy resin, naphthol type epoxy resin, anthracene type epoxy resin, dicyclopentadiene type epoxy resin, naphthalene type epoxy resin, aralkylnovolac type epoxy resin, fluorene type epoxy resin, xantene type epoxy resin And so on. From the viewpoint of adhesiveness to plated copper, it is preferable to have a biphenyl structure, and a polyfunctional epoxy resin having a biphenyl structure or an aralkyl novolac type epoxy resin having a biphenyl structure is more preferable.
As the polyfunctional epoxy resin (b1), one type may be used alone, or two or more types may be used in combination.

多官能エポキシ樹脂(b1)としては、市販品を用いてもよい。市販されている多官能エポキシ樹脂(b1)としては、ビフェニル構造を有するアラルキルノボラック型エポキシ樹脂である、日本化薬株式会社製「NC−3000−H」、「NC−3000−L」、「NC−3100」、「NC−3000」等が挙げられる。 As the polyfunctional epoxy resin (b1), a commercially available product may be used. Commercially available polyfunctional epoxy resins (b1) include "NC-3000-H", "NC-3000-L", and "NC" manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd., which are aralkyl novolac type epoxy resins having a biphenyl structure. -3100 ”,“ NC-3000 ”and the like.

多官能エポキシ樹脂(b1)のエポキシ当量としては、特に限定されないが、接着性の観点から、150〜450g/molが好ましく、200〜400g/molがより好ましく、250〜350g/molがさらに好ましい。 The epoxy equivalent of the polyfunctional epoxy resin (b1) is not particularly limited, but is preferably 150 to 450 g / mol, more preferably 200 to 400 g / mol, and even more preferably 250 to 350 g / mol from the viewpoint of adhesiveness.

B層用の樹脂組成物中の多官能エポキシ樹脂(b1)の含有量は、特に限定されないが、樹脂組成物に含まれる全樹脂成分に対して、10〜90質量%が好ましく、20〜80質量%がより好ましく、30〜70質量%がさらに好ましい。多官能エポキシ樹脂(b1)の含有量が、10質量%以上であれば、めっき銅とのより良好な接着強度が得られる傾向にあり、90質量%以下であれば、より低い誘電正接が得られる傾向にある。 The content of the polyfunctional epoxy resin (b1) in the resin composition for the B layer is not particularly limited, but is preferably 10 to 90% by mass, preferably 20 to 80% by mass, based on the total resin components contained in the resin composition. The mass% is more preferable, and 30 to 70% by mass is further preferable. When the content of the polyfunctional epoxy resin (b1) is 10% by mass or more, better adhesive strength with plated copper tends to be obtained, and when it is 90% by mass or less, lower dielectric loss tangent is obtained. Tends to be.

<フェノール性水酸基含有ポリブタジエン変性ポリアミド樹脂(b2)>
成分(b2)は、フェノール性水酸基を有するポリブタジエン変性されたポリアミド樹脂であれば、特に制限はないが、ジアミン由来の構造単位と、フェノール性水酸基を含有するジカルボン酸由来の構造単位と、フェノール性水酸基を含有しないジカルボン酸由来の構造単位と、両末端にカルボキシ基を有するポリブタジエン由来の構造単位とを有するものが好ましい。具体的には、下記一般式(i)で表される構造単位、下記一般式(ii)で表される構造単位及び下記一般式(iii)で表される構造単位を有するものが好ましく挙げられる。
<Phenolic hydroxyl group-containing polybutadiene-modified polyamide resin (b2)>
The component (b2) is not particularly limited as long as it is a polybutadiene-modified polyamide resin having a phenolic hydroxyl group, but is a diamine-derived structural unit, a dicarboxylic acid-derived structural unit containing a phenolic hydroxyl group, and a phenolic property. Those having a structural unit derived from a dicarboxylic acid that does not contain a hydroxyl group and a structural unit derived from polybutadiene having a carboxy group at both ends are preferable. Specifically, those having a structural unit represented by the following general formula (i), a structural unit represented by the following general formula (ii), and a structural unit represented by the following general formula (iii) are preferably mentioned. ..

Figure 0006880585
Figure 0006880585

一般式(i)〜(iii)中、a、b、c、x、y及びzは、それぞれ平均重合度を示す整数であって、a=2〜10、b=0〜3、c=3〜30、x=1に対しy+z=2〜300((y+z)/x)を示し、さらにy=1に対しz≧20(z/y)である。
一般式(i)〜(iii)中、R’はそれぞれ独立に、芳香族ジアミン又は脂肪族ジアミンに由来する2価の基を示し、一般式(iii)中、R’’は芳香族ジカルボン酸、脂肪族ジカルボン酸又は両末端にカルボキシ基を有するオリゴマーに由来する2価の基を示す。
一般式(i)〜(iii)中に含まれる複数のR’同士は同一であっても異なっていてもよい。また、zが2以上の整数のとき、複数のR’’同士は同一であっても異なっていてもよい。
なお、一般式(i)〜(iii)中、R’は、具体的には、後述する芳香族ジアミン又は脂肪族ジアミンに由来する2価の基であり、R’’は、後述する芳香族ジカルボン酸、脂肪族ジカルボン酸又は両末端にカルボキシ基を有するオリゴマーに由来する2価の基であることが好ましい。
In the general formulas (i) to (iii), a, b, c, x, y and z are integers indicating the average degree of polymerization, respectively, and a = 2 to 10, b = 0 to 3, c = 3. ~ 30, y + z = 2 to 300 ((y + z) / x) for x = 1, and z ≧ 20 (z / y) for y = 1.
In the general formulas (i) to (iii), R'independently represents a divalent group derived from an aromatic diamine or an aliphatic diamine, and in the general formula (iii), R'' is an aromatic dicarboxylic acid. , An aliphatic dicarboxylic acid or a divalent group derived from an oligomer having a carboxy group at both ends.
The plurality of R'included in the general formulas (i) to (iii) may be the same or different. Further, when z is an integer of 2 or more, a plurality of R''s may be the same or different.
In the general formulas (i) to (iii), R'is specifically a divalent group derived from an aromatic diamine or an aliphatic diamine described later, and R'' is an aromatic group described later. It is preferably a divalent group derived from a dicarboxylic acid, an aliphatic dicarboxylic acid or an oligomer having a carboxy group at both ends.

成分(b2)にジアミン由来の構造単位を形成するために使用するジアミンとしては、例えば、芳香族ジアミン、脂肪族ジアミン等が挙げられる。
前記芳香族ジアミンとしては、例えば、ジアミノベンゼン、ジアミノトルエン、ジアミノフェノール、ジアミノジメチルベンゼン、ジアミノメシチレン、ジアミノニトロベンゼン、ジアミノジアゾベンゼン、ジアミノナフタレン、ジアミノビフェニル、ジアミノジメトキシビフェニル、ジアミノジフェニルエーテル、ジアミノジメチルジフェニルエーテル、メチレンジアミン、メチレンビス(ジメチルアニリン)、メチレンビス(メトキシアニリン)、メチレンビス(ジメトキシアニリン)、メチレンビス(エチルアニリン)、メチレンビス(ジエチルアニリン)、メチレンビス(エトキシアニリン)、メチレンビス(ジエトキシアニリン)、イソプロピリデンジアニリン、ジアミノベンゾフェノン、ジアミノジメチルベンゾフェノン、ジアミノアントラキノン、ジアミノジフェニルチオエーテル、ジアミノジメチルジフェニルチオエーテル、ジアミノジフェニルスルホン、ジアミノジフェニルスルホキシド、ジアミノフルオレン等が挙げられる。
Examples of the diamine used for forming the structural unit derived from diamine in the component (b2) include aromatic diamines and aliphatic diamines.
Examples of the aromatic diamine include diaminobenzene, diaminotoluene, diaminophenol, diaminodimethylbenzene, diaminomethicylene, diaminonitrobenzene, diaminodiazobenzene, diaminonaphthalene, diaminobiphenyl, diaminodimethoxybiphenyl, diaminodiphenyl ether, diaminodimethyldiphenyl ether, and methylene. Diamine, methylenebis (dimethylaniline), methylenebis (methoxyaniline), methylenebis (dimethoxyaniline), methylenebis (ethylaniline), methylenebis (diethylaniline), methylenebis (ethoxyaniline), methylenebis (diethoxyaniline), isopropyridene dianiline, Examples thereof include diaminobenzophenone, diaminodimethylbenzophenone, diaminoanthraquinone, diaminodiphenylthioether, diaminodimethyldiphenylthioether, diaminodiphenylsulfone, diaminodiphenylsulfoxide and diaminofluorene.

前記脂肪族ジアミンとしては、例えば、エチレンジアミン、プロパンジアミン、ヒドロキシプロパンジアミン、ブタンジアミン、へプタンジアミン、ヘキサンジアミン、シクロペンタンジアミン、シクロヘキサンジアミン、アザペンタンジアミン、トリアザウンデカジアミン等が挙げられる。 Examples of the aliphatic diamine include ethylenediamine, propanediamine, hydroxypropanediamine, butanediamine, heptanediamine, hexanediamine, cyclopentanediamine, cyclohexanediamine, azapentanediamine, triazaundecadiamine and the like.

成分(b2)が有する「フェノール性水酸基を含有するジカルボン酸由来の構造単位」を形成するために使用するフェノール性水酸基を含有するジカルボン酸としては、例えば、ヒドロキシイソフタル酸、ヒドロキシフタル酸、ヒドロキシテレフタル酸、ジヒドロキシイソフタル酸、ジヒドロキシテレフタル酸等が挙げられる。
成分(b2)が有する「フェノール性水酸基を含有しないジカルボン酸由来の構造単位」を形成するために使用するフェノール性水酸基を含有しないジカルボン酸としては、例えば、芳香族ジカルボン酸、脂肪族ジカルボン酸、両末端にカルボキシ基を有するオリゴマー等が挙げられる。
芳香族ジカルボン酸としては、例えば、フタル酸、イソフタル酸、テレフタル酸、ビフェニルジカルボン酸、メチレン二安息香酸、チオ二安息香酸、カルボニル二安息香酸、スルホニル安息香酸、ナフタレンジカルボン酸等が挙げられる。
脂肪族ジカルボン酸としては、例えば、シュウ酸、マロン酸、メチルマロン酸、コハク酸、グルタル酸、アジピン酸、マレイン酸、フマル酸、りんご酸、酒石酸、(メタ)アクリロイルオキシコハク酸、ジ(メタ)アクリロイルオキシコハク酸、(メタ)アクリロイルオキシりんご酸、(メタ)アクリルアミドコハク酸、(メタ)アクリルアミドりんご酸等が挙げられる。
Examples of the phenolic hydroxyl group-containing dicarboxylic acid used to form the “structural unit derived from the phenolic hydroxyl group-containing dicarboxylic acid” of the component (b2) include hydroxyisophthalic acid, hydroxyphthalic acid, and hydroxyterephthalic acid. Acids, dihydroxyisophthalic acid, dihydroxyterephthalic acid and the like can be mentioned.
Examples of the phenolic hydroxyl acid-free dicarboxylic acid used to form the "structural unit derived from a phenolic hydroxyl acid-free dicarboxylic acid" contained in the component (b2) include aromatic dicarboxylic acid and aliphatic dicarboxylic acid. Examples thereof include oligomers having a carboxy group at both ends.
Examples of the aromatic dicarboxylic acid include phthalic acid, isophthalic acid, terephthalic acid, biphenyldicarboxylic acid, methylenedibenzoic acid, thiodibenzoic acid, carbonyldibenzoic acid, sulfonylbenzoic acid, naphthalenedicarboxylic acid and the like.
Examples of the aliphatic dicarboxylic acid include oxalic acid, malonic acid, methylmalonic acid, succinic acid, glutaric acid, adipic acid, maleic acid, fumaric acid, malic acid, tartaric acid, (meth) acryloyloxysuccinic acid, and di (meth). ) Acryloyloxysuccinic acid, (meth) acryloyloxymalic acid, (meth) acrylamide succinic acid, (meth) acrylamide malic acid and the like can be mentioned.

成分(b2)の重量平均分子量は、特に制限はないが、例えば、60,000〜250,000であることが好ましく、80,000〜200,000であることがより好ましい。成分(b2)の重量平均分子量は、前記ポリイミド化合物(a1)の重量平均分子量と同様の方法により求めることができる。 The weight average molecular weight of the component (b2) is not particularly limited, but is preferably, for example, 60,000 to 250,000, and more preferably 80,000 to 200,000. The weight average molecular weight of the component (b2) can be determined by the same method as the weight average molecular weight of the polyimide compound (a1).

成分(b2)の活性水酸基当量は、特に制限はないが、1,500〜7,000g/molが好ましく、2,000〜6,000g/molがより好ましく、3,000〜5,000g/molがさらに好ましい。 The active hydroxyl group equivalent of the component (b2) is not particularly limited, but is preferably 1,500 to 7,000 g / mol, more preferably 2,000 to 6,000 g / mol, and 3,000 to 5,000 g / mol. Is even more preferable.

成分(b2)は、例えば、ジアミンと、フェノール性水酸基を含有するジカルボン酸と、フェノール性水酸基を含有しないジカルボン酸と、両末端にカルボキシ基を有するポリブタジエンとを、ジメチルアセトアミド等の有機溶媒中で、触媒として亜リン酸エステルとピリジン誘導体の存在下で反応性させて、カルボキシ基とアミノ基とを重縮合させることにより合成される。製造に使用できる各化合物は、上記したものを例示できる。 The component (b2) contains, for example, a diamine, a dicarboxylic acid containing a phenolic hydroxyl group, a dicarboxylic acid not containing a phenolic hydroxyl group, and polybutadiene having a carboxy group at both ends in an organic solvent such as dimethylacetamide. , It is synthesized by reacting a carboxylic acid ester as a catalyst in the presence of a pyridine derivative and polycondensing a carboxy group and an amino group. Examples of each compound that can be used in the production include those described above.

成分(b2)の製造に使用する両末端にカルボキシ基を有するポリブタジエンとしては、例えば、数平均分子量が200〜10,000であることが好ましく、数平均分子量が500〜5,000のオリゴマーであることがより好ましい。 The polybutadiene having a carboxy group at both ends used for producing the component (b2) is preferably an oligomer having a number average molecular weight of 200 to 10,000, and a number average molecular weight of 500 to 5,000, for example. Is more preferable.

成分(b2)としては、市販品を使用することができ、市販品の成分(b2)としては、例えば、日本化薬株式会社製の「BPAM−155」等が挙げられる。 As the component (b2), a commercially available product can be used, and examples of the component (b2) of the commercially available product include "BPAM-155" manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.

B層用の樹脂組成物中の成分(b2)の含有量は、特に限定されないが、樹脂組成物に含まれる全樹脂成分に対して1〜20質量%が好ましく、2〜15質量%がより好ましく、3〜10質量%がさらに好ましい。成分(b2)の含有量が、1質量%以上であると、樹脂組成物の強靭性を高くすることができ、緻密な粗化形状が得られ、めっき銅との接着性を高めることができる。また、20質量%以下であれば、耐熱性の低下がなく、粗化工程時の薬液に対する耐性の低下も防ぐことができる。また、めっき銅との十分な接着性を確保できる。 The content of the component (b2) in the resin composition for the B layer is not particularly limited, but is preferably 1 to 20% by mass, more preferably 2 to 15% by mass, based on the total resin components contained in the resin composition. It is preferable, and 3 to 10% by mass is more preferable. When the content of the component (b2) is 1% by mass or more, the toughness of the resin composition can be increased, a fine roughened shape can be obtained, and the adhesiveness with the plated copper can be enhanced. .. Further, when it is 20% by mass or less, the heat resistance does not decrease, and the decrease in resistance to the chemical solution during the roughening step can be prevented. In addition, sufficient adhesiveness with plated copper can be ensured.

<活性エステル硬化剤(b3)>
活性エステル硬化剤(b3)は、エステル基を1分子中に1個以上有し、エポキシ樹脂の硬化作用を有するものをいう。
活性エステル硬化剤(b3)としては、特に限定されないが、例えば、脂肪族又は芳香族カルボン酸と脂肪族又は芳香族ヒドロキシ化合物とから得られるエステル化合物等が挙げられる。
これらの中でも、脂肪族カルボン酸、脂肪族ヒドロキシ化合物等から得られるエステル化合物は、脂肪族鎖を含むことにより有機溶媒への可溶性及びエポキシ樹脂との相溶性を高くできる傾向にある。
また、芳香族カルボン酸、芳香族ヒドロキシ化合物等から得られるエステル化合物は、芳香族環を有することで耐熱性を高められる傾向にある。
<Active ester curing agent (b3)>
The active ester curing agent (b3) has one or more ester groups in one molecule and has a curing action of an epoxy resin.
The active ester curing agent (b3) is not particularly limited, and examples thereof include an ester compound obtained from an aliphatic or aromatic carboxylic acid and an aliphatic or aromatic hydroxy compound.
Among these, ester compounds obtained from aliphatic carboxylic acids, aliphatic hydroxy compounds and the like tend to be soluble in organic solvents and highly compatible with epoxy resins by containing aliphatic chains.
Further, an ester compound obtained from an aromatic carboxylic acid, an aromatic hydroxy compound or the like tends to have an aromatic ring to enhance heat resistance.

活性エステル硬化剤(b3)としては、例えば、フェノールエステル化合物、チオフェノールエステル化合物、N−ヒドロキシアミンエステル化合物、複素環ヒドロキシ化合物のエステル化化合物等が挙げられる。
より具体的には、例えば、芳香族カルボン酸とフェノール性水酸基との縮合反応にて得られる芳香族エステルが挙げられ、ベンゼン、ナフタレン、ビフェニル、ジフェニルプロパン、ジフェニルメタン、ジフェニルエーテル、ジフェニルスルホン酸等の芳香環の水素原子の2〜4個をカルボキシ基で置換したものから選ばれる芳香族カルボン酸成分と、前記した芳香環の水素原子の1個を水酸基で置換した1価フェノールと芳香環の水素原子の2〜4個を水酸基で置換した多価フェノールとの混合物を原材料として、芳香族カルボン酸とフェノール性水酸基との縮合反応にて得られる芳香族エステル等が好ましい。すなわち、上記芳香族カルボン酸成分由来の構造単位と上記1価フェノール由来の構造単位と上記多価フェノール由来の構造単位とを有する芳香族エステルが好ましい。
Examples of the active ester curing agent (b3) include phenol ester compounds, thiophenol ester compounds, N-hydroxyamine ester compounds, and esterified compounds of heterocyclic hydroxy compounds.
More specifically, for example, an aromatic ester obtained by a condensation reaction of an aromatic carboxylic acid and a phenolic hydroxyl group can be mentioned, and aromatics such as benzene, naphthalene, biphenyl, diphenylpropane, diphenylmethane, diphenyl ether, and diphenyl sulfonic acid can be mentioned. An aromatic carboxylic acid component selected from those in which 2 to 4 hydrogen atoms in the ring are substituted with a carboxy group, a monovalent phenol in which one of the hydrogen atoms in the aromatic ring is substituted with a hydroxyl group, and a hydrogen atom in the aromatic ring. Aromatic esters obtained by a condensation reaction between an aromatic carboxylic acid and a phenolic hydroxyl group are preferable, using a mixture of 2 to 4 of the above with a polyvalent phenol substituted with a hydroxyl group as a raw material. That is, an aromatic ester having a structural unit derived from the aromatic carboxylic acid component, a structural unit derived from the monovalent phenol, and a structural unit derived from the polyhydric phenol is preferable.

活性エステル硬化剤(b3)としては、市販品を用いてもよい。活性エステル硬化剤(b3)の市販品としては、例えば、ジシクロペンタジエン型ジフェノール構造を含む活性エステル化合物として、「EXB9451」、「EXB9460」、「EXB9460S」、「HPC−8000−65T」(DIC株式会社製)、ナフタレン構造を含む活性エステル化合物として「EXB9416−70BK」(DIC株式会社製)、フェノールノボラックのアセチル化物を含む活性エステル化合物として「DC808」(三菱化学株式会社製)、フェノールノボラックのベンゾイル化物を含む活性エステル化合物として「YLH1026」(三菱化学株式会社製)等が挙げられる。
活性エステル硬化剤(b3)は、1種を単独で使用してもよいし、2種以上を併用してもよい。
As the active ester curing agent (b3), a commercially available product may be used. Commercially available products of the active ester curing agent (b3) include, for example, "EXB9451", "EXB9460", "EXB9460S", and "HPC-8000-65T" (DIC) as active ester compounds containing a dicyclopentadiene type diphenol structure. (Manufactured by Co., Ltd.), "EXB9416-70BK" (manufactured by DIC Co., Ltd.) as an active ester compound containing a naphthalene structure, "DC808" (manufactured by Mitsubishi Chemical Co., Ltd.) as an active ester compound containing an acetylated product of phenol novolac, Examples of the active ester compound containing a benzoyl compound include "YLH1026" (manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation).
As the active ester curing agent (b3), one type may be used alone, or two or more types may be used in combination.

活性エステル硬化剤(b3)のエステル当量は、特に限定されないが、150〜400g/molが好ましく、170〜300g/molがより好ましく、200〜250g/molがさらに好ましい。 The ester equivalent of the active ester curing agent (b3) is not particularly limited, but is preferably 150 to 400 g / mol, more preferably 170 to 300 g / mol, and even more preferably 200 to 250 g / mol.

樹脂組成物中の多官能エポキシ樹脂(b1)のエポキシ基に対する、活性エステル硬化剤(b3)のエステル基の当量比(エステル基/エポキシ基)は、0.05〜1.5が好ましく、0.1〜1.3がより好ましく、0.2〜1.0がさらに好ましい。当量比(エステル基/エポキシ基)が前記範囲内であると、めっき銅との接着強度をより高め、且つより低い誘電正接と平滑な表面を得られるため、微細配線を形成する観点から好適である。 The equivalent ratio (ester group / epoxy group) of the ester group of the active ester curing agent (b3) to the epoxy group of the polyfunctional epoxy resin (b1) in the resin composition is preferably 0.05 to 1.5, and is 0. .1 to 1.3 is more preferable, and 0.2 to 1.0 is even more preferable. When the equivalent ratio (ester group / epoxy group) is within the above range, the adhesive strength with the plated copper is further increased, and a lower dielectric loss tangent and a smooth surface can be obtained, which is preferable from the viewpoint of forming fine wiring. is there.

<リン系硬化促進剤(b4)>
B層用の樹脂組成物は、さらにリン系硬化促進剤(b4)を含有することが好ましい。
リン系硬化促進剤(b4)としては、リン原子を含有し、多官能エポキシ樹脂(b1)と活性エステル硬化剤(b3)との反応を促進させる硬化促進剤であれば特に制限なく使用することができる。
樹脂組成物は、リン系硬化促進剤(b4)を含有することによって、硬化反応をより一層十分に進めることができる。この理由は、リン系硬化促進剤(b4)を用いることによって、活性エステル硬化剤(b3)中のカルボニル基の電子求引性を高めることができ、これにより活性エステル硬化剤(b3)と多官能エポキシ樹脂(b1)との反応が促進されるためと推察される。
このように樹脂組成物は、リン系硬化促進剤(b4)を含有することにより、他の硬化促進剤を用いた場合より、多官能エポキシ樹脂(b1)と活性エステル硬化剤(b3)との硬化反応がより一層十分に進行するため、第一の樹脂層と組み合わせた際に、低い誘電正接が得られると考えられる。
<Phosphorus-based curing accelerator (b4)>
The resin composition for the B layer preferably further contains a phosphorus-based curing accelerator (b4).
The phosphorus-based curing accelerator (b4) is not particularly limited as long as it contains a phosphorus atom and promotes the reaction between the polyfunctional epoxy resin (b1) and the active ester curing agent (b3). Can be done.
By containing the phosphorus-based curing accelerator (b4) in the resin composition, the curing reaction can be further sufficiently promoted. The reason for this is that by using a phosphorus-based curing accelerator (b4), the electron-attracting property of the carbonyl group in the active ester curing agent (b3) can be enhanced, which is more than that of the active ester curing agent (b3). It is presumed that this is because the reaction with the functional epoxy resin (b1) is promoted.
As described above, by containing the phosphorus-based curing accelerator (b4), the resin composition contains the polyfunctional epoxy resin (b1) and the active ester curing agent (b3) as compared with the case where other curing accelerators are used. Since the curing reaction proceeds even more sufficiently, it is considered that a low dielectric loss tangent can be obtained when combined with the first resin layer.

リン系硬化促進剤(b4)としては、例えば、トリフェニルホスフィン、ジフェニル(アルキルフェニル)ホスフィン、トリス(アルキルフェニル)ホスフィン、トリス(アルコキシフェニル)ホスフィン、トリス(アルキルアルコキシフェニル)ホスフィン、トリス(ジアルキルフェニル)ホスフィン、トリス(トリアルキルフェニル)ホスフィン、トリス(テトラアルキルフェニル)ホスフィン、トリス(ジアルコキシフェニル)ホスフィン、トリス(トリアルコキシフェニル)ホスフィン、トリス(テトラアルコキシフェニル)ホスフィン、トリアルキルホスフィン、ジアルキルアリールホスフィン、アルキルジアリールホスフィン等の有機ホスフィン類;有機ホスフィン類と有機ボロン類との錯体;第三級ホスフィンとキノン類との付加物などが挙げられる。硬化反応がより十分に進み、高いめっき銅との接着性を発揮できる観点から、第三級ホスフィンとキノン類との付加物が好ましい。
第三級ホスフィンとしては、特に限定されないが、例えば、トリ−n−ブチルホスフィン、ジブチルフェニルホスフィン、ブチルジフェニルホスフィン、エチルジフェニルホスフィン、トリフェニルホスフィン、トリス(4−メチルフェニル)ホスフィン、トリス(4−メトキシフェニル)ホスフィン等が挙げられる。また、キノン類としては、例えば、o−ベンゾキノン、p−ベンゾキノン、ジフェノキノン、1,4−ナフトキノン、アントラキノン等が挙げられる。めっき銅との接着性、耐熱性及び平滑な表面が得られる点から、トリ−n−ブチルホスフィンとp−ベンゾキノンとの付加物がより好ましい。
Examples of the phosphorus-based curing accelerator (b4) include triphenylphosphine, diphenyl (alkylphenyl) phosphine, tris (alkylphenyl) phosphine, tris (alkoxyphenyl) phosphine, tris (alkylalkoxyphenyl) phosphine, and tris (dialkylphenyl). ) Hosphine, tris (trialkylphenyl) phosphine, tris (tetraalkylphenyl) phosphine, tris (dialkoxyphenyl) phosphine, tris (trialkoxyphenyl) phosphine, tris (tetraalkoxyphenyl) phosphine, trialkylphosphine, dialkylarylphosphine , Organic phosphine such as alkyldiarylphosphine; complex of organic phosphine and organic borons; adducts of tertiary phosphine and quinones. An adduct of tertiary phosphine and quinones is preferable from the viewpoint that the curing reaction proceeds more sufficiently and high adhesiveness to plated copper can be exhibited.
The tertiary phosphine is not particularly limited, and is, for example, tri-n-butylphosphine, dibutylphenylphosphine, butyldiphenylphosphine, ethyldiphenylphosphine, triphenylphosphine, tris (4-methylphenyl) phosphine, tris (4-methylphenyl) phosphine. Methoxyphenyl) phosphine and the like can be mentioned. Examples of quinones include o-benzoquinone, p-benzoquinone, diphenoquinone, 1,4-naphthoquinone, anthraquinone and the like. An adduct of tri-n-butylphosphine and p-benzoquinone is more preferable from the viewpoint of adhesiveness to plated copper, heat resistance and a smooth surface.

第三級ホスフィンとキノン類との付加物の製造方法としては、例えば、原料となる第三級ホスフィンとキノン類が共に溶解する溶媒中で両者を撹拌混合し、付加反応させた後、単離する方法等が挙げられる。この場合の製造条件としては、例えば、第三級ホスフィンとキノン類とを、20〜80℃の範囲で、メチルイソブチルケトン、メチルエチルケトン、アセトン等のケトン類などの溶媒中で、1〜12時間撹拌し、付加反応させることが好ましい。 As a method for producing an adduct of a tertiary phosphine and a quinone, for example, both are stirred and mixed in a solvent in which the raw material tertiary phosphine and a quinone are dissolved, and the adduct is reacted and then isolated. The method of doing this can be mentioned. In this case, for example, tertiary phosphine and quinones are stirred in a solvent such as methyl isobutyl ketone, methyl ethyl ketone, and ketones such as acetone in a range of 20 to 80 ° C. for 1 to 12 hours. It is preferable to carry out an addition reaction.

リン系硬化促進剤(b4)は、1種を単独で用いてもよいし、2種以上を併用してもよい。また、リン系硬化促進剤(b4)以外の硬化促進剤を1種以上併用してもよい。 As the phosphorus-based curing accelerator (b4), one type may be used alone, or two or more types may be used in combination. In addition, one or more curing accelerators other than the phosphorus-based curing accelerator (b4) may be used in combination.

B層用の樹脂組成物中のリン系硬化促進剤(b4)の含有量は、特に限定されないが、樹脂組成物に含まれる全樹脂成分に対して0.1〜20質量%が好ましく、0.2〜15質量%がより好ましく、0.4〜10質量%がさらに好ましい。リン系硬化促進剤(b4)の含有量が、0.1質量%以上であれば、硬化反応を十分進めることができ、20質量%以下であれば、硬化物の均質性を保つことができる。 The content of the phosphorus-based curing accelerator (b4) in the resin composition for the B layer is not particularly limited, but is preferably 0.1 to 20% by mass with respect to the total resin components contained in the resin composition, and is 0. .2 to 15% by mass is more preferable, and 0.4 to 10% by mass is further preferable. When the content of the phosphorus-based curing accelerator (b4) is 0.1% by mass or more, the curing reaction can be sufficiently advanced, and when it is 20% by mass or less, the homogeneity of the cured product can be maintained. ..

<充填材(b5)>
B層用の樹脂組成物は、充填材(b5)を含有していてもよい。充填材(H)としては、無機充填材、有機充填材等が挙げられる。これらの中でも無機充填材が好ましい。
充填材(b5)を含有することで、B層をレーザー加工する際に樹脂の飛散をより低減できる。
<Filler (b5)>
The resin composition for the B layer may contain a filler (b5). Examples of the filler (H) include an inorganic filler and an organic filler. Among these, an inorganic filler is preferable.
By containing the filler (b5), the scattering of the resin can be further reduced when the B layer is laser-processed.

無機充填材としては、特に限定されないが、例えば、無機充填材(A)として例示したものと同様のものを使用できる。
無機充填材の粒子径は、B層上に微細配線を形成する観点から、小さいことが好ましい。同様の観点から、無機充填材の比表面積は、20m/g以上が好ましく、50m/g以上がより好ましい。比表面積の上限に特に制限はないが、入手容易性の観点からは、500m/g以下が好ましく、200m/g以下がより好ましい。
比表面積は、不活性気体の低温低湿物理吸着によるBET法で求めることができる。具体的には、粉体粒子表面に、窒素等の吸着占有面積が既知の分子を液体窒素温度で吸着させ、その吸着量から粉体粒子の比表面積を求めることができる。
比表面積が20m/g以上の無機充填材としては、市販品を用いてもよい。市販品としては、例えば、ヒュームドシリカである「AEROSIL(登録商標)R972」(日本アエロジル株式会社製、商品名、比表面積110±20m/g)、「AEROSIL(登録商標)R202」(日本アエロジル株式会社製、商品名、比表面積100±20m/g)、コロイダルシリカである「PL−1」(扶桑化学工業株式会社製、商品名、比表面積181m/g)、「PL−7」(扶桑化学工業株式会社製、商品名、比表面積36m/g)等が挙げられる。また、耐湿性を向上させる観点からは、シランカップリング剤等の表面処理剤で表面処理された無機充填材であることが好ましい。
The inorganic filler is not particularly limited, but for example, the same one as that exemplified as the inorganic filler (A) can be used.
The particle size of the inorganic filler is preferably small from the viewpoint of forming fine wiring on the B layer. From the same viewpoint, the specific surface area of the inorganic filler is preferably 20 m 2 / g or more, and more preferably 50 m 2 / g or more. There is no particular limitation on the upper limit of the specific surface area, from the viewpoint of easy availability, preferably 500 meters 2 / g or less, 200 meters 2 / g or less is more preferable.
The specific surface area can be determined by the BET method by low-temperature, low-humidity physical adsorption of an inert gas. Specifically, a molecule having a known adsorption area such as nitrogen is adsorbed on the surface of the powder particles at the temperature of liquid nitrogen, and the specific surface area of the powder particles can be obtained from the adsorption amount.
As the inorganic filler having a specific surface area of 20 m 2 / g or more, a commercially available product may be used. Commercially available products include, for example, fumed silica "AEROSIL (registered trademark) R972" (manufactured by Nippon Aerosil Co., Ltd., trade name, specific surface area 110 ± 20 m 2 / g), "AEROSIL (registered trademark) R202" (Japan). Aerosil Co., Ltd., trade name, specific surface area 100 ± 20 m 2 / g), colloidal silica "PL-1" (Fuso Chemical Industry Co., Ltd., trade name, specific surface area 181 m 2 / g), "PL-7" (Manufactured by Fuso Chemical Industry Co., Ltd., trade name, specific surface area 36 m 2 / g) and the like. Further, from the viewpoint of improving the moisture resistance, it is preferable that the inorganic filler is surface-treated with a surface treatment agent such as a silane coupling agent.

B層用の樹脂組成物中の無機充填材の含有量は、樹脂組成物の固形分に対して、1〜30質量%が好ましく、2〜25質量%がより好ましく、3〜20質量%がさらに好ましく、5〜20質量%が特に好ましい。無機充填材の含有量が、1質量%以上であると、より良好なレーザー加工性が得られる傾向にあり、30質量%以下であると、B層と導体層との接着性がより向上する傾向にある。 The content of the inorganic filler in the resin composition for the B layer is preferably 1 to 30% by mass, more preferably 2 to 25% by mass, and 3 to 20% by mass with respect to the solid content of the resin composition. More preferably, 5 to 20% by mass is particularly preferable. When the content of the inorganic filler is 1% by mass or more, better laser workability tends to be obtained, and when it is 30% by mass or less, the adhesiveness between the B layer and the conductor layer is further improved. There is a tendency.

有機充填材としては、特に限定されないが、例えば、アクリロニトリルとブタジエンとを共重合した架橋NBR粒子、アクリロニトリルとブタジエンとアクリル酸等のカルボン酸との共重合体等のアクリロニトリルブタジエンの共重合物;ポリブタジエン、NBR、シリコーンゴム等をコアとし、アクリル酸誘導体をシェルとした、いわゆるコア−シェルゴム粒子などが挙げられる。有機充填材を含有することで、樹脂層の伸び性がより向上する傾向にある。 The organic filler is not particularly limited, and is, for example, a crosslinked NBR particle obtained by copolymerizing acrylonitrile and butadiene, a copolymer of acrylonitrile butadiene such as a copolymer of acrylonitrile and butadiene and a carboxylic acid such as acrylic acid; and polybutadiene; , NBR, silicone rubber and the like as a core, and an acrylic acid derivative as a shell, so-called core-shell rubber particles and the like can be mentioned. By containing the organic filler, the extensibility of the resin layer tends to be further improved.

<その他の成分>
B層用の樹脂組成物は、上記各成分の他に、本発明の効果を阻害しない範囲で、必要に応じて他の熱硬化性樹脂、熱可塑性樹脂、並びに難燃剤、酸化防止剤、流動調整剤、硬化促進剤等の添加剤などを含有することができる。
<Other ingredients>
In addition to the above-mentioned components, the resin composition for the B layer includes other thermosetting resins, thermoplastic resins, flame retardants, antioxidants, and flows as necessary, as long as the effects of the present invention are not impaired. Additives such as a modifier and a curing accelerator can be contained.

本発明の複合フィルムは、硬化物の5GHzの誘電正接が0.005以下であることが好ましく、0.0040以下であることがより好ましい。下限値に特に制限はないが、0.002以上であってもよく、0.0030以上であってもよい。なお、該誘電正接は、実施例に記載の方法により求めることができる。 In the composite film of the present invention, the dielectric loss tangent of the cured product at 5 GHz is preferably 0.005 or less, and more preferably 0.0040 or less. The lower limit is not particularly limited, but may be 0.002 or more, or 0.0030 or more. The dielectric loss tangent can be obtained by the method described in the examples.

[プリント配線板及びその製造方法]
本発明のプリント配線板は、本発明の複合フィルムの硬化物を含有する。換言すると、本発明のプリント配線板は、層間絶縁層を有し、当該層間絶縁層のうち少なくとも一層が前記樹脂組成物を含む。
以下では、本発明の複合フィルムを回路基板にラミネートし、多層プリント配線板を製造する方法について説明する。
[Printed wiring board and its manufacturing method]
The printed wiring board of the present invention contains a cured product of the composite film of the present invention. In other words, the printed wiring board of the present invention has an interlayer insulating layer, and at least one of the interlayer insulating layers contains the resin composition.
Hereinafter, a method for manufacturing a multilayer printed wiring board by laminating the composite film of the present invention on a circuit board will be described.

本発明の多層プリント配線板の製造方法は、次の工程(1)を有する。より詳細には、本発明の多層プリント配線板の製造方法は、次の工程(1)〜(5)の工程を含み、工程(1)、工程(2)又は工程(3)の後で、支持体を剥離又は除去してもよい。
工程(1):本発明の複合フィルムを、回路基板の片面又は両面にラミネートする工程
工程(2):複合フィルムを硬化し、層間絶縁層を形成する工程
工程(3):層間絶縁層を形成した回路基板に穴あけする工程
工程(4):層間絶縁層の表面を粗化処理する工程
工程(5):粗化された層間絶縁層の表面にめっきする工程
The method for manufacturing a multilayer printed wiring board of the present invention has the following step (1). More specifically, the method for manufacturing a multilayer printed wiring board of the present invention includes the following steps (1) to (5), and after the step (1), the step (2) or the step (3), The support may be peeled off or removed.
Step (1): Laminating the composite film of the present invention on one or both sides of the circuit board Step (2): Curing the composite film to form an interlayer insulating layer Step (3): Forming an interlayer insulating layer Step (4): Roughening the surface of the interlayer insulating layer Step (5): Plate the surface of the roughened interlayer insulating layer

<工程(1)>
工程(1)は、本発明の複合フィルムを、回路基板の片面又は両面にラミネートする工程である。複合フィルムをラミネートする装置としては、例えば、真空ラミネーターが挙げられる。真空ラミネーターとしては市販品を用いることができ、市販品の真空ラミネーターとしては、例えば、ニチゴー・モートン株式会社製のバキュームアップリケーター、株式会社名機製作所製の真空加圧式ラミネーター、日立インダストリーズ株式会社製のロール式ドライコーター、日立エーアイシー株式会社製の真空ラミネーター等が挙げられる。
<Process (1)>
The step (1) is a step of laminating the composite film of the present invention on one side or both sides of the circuit board. Examples of the device for laminating the composite film include a vacuum laminator. A commercially available product can be used as the vacuum laminator. Examples of the commercially available vacuum laminator include a vacuum applicator manufactured by Nichigo Morton Co., Ltd., a vacuum pressurized laminator manufactured by Meiki Seisakusho Co., Ltd., and a vacuum pressurizing laminator manufactured by Hitachi Industries, Ltd. Roll type dry coater, vacuum laminator manufactured by Hitachi AIC Co., Ltd., etc. can be mentioned.

ラミネートにおいて、複合フィルムが保護フィルムを有している場合には、保護フィルムを除去した後、複合フィルムを加圧及び/又は加熱しながら回路基板に圧着する。
複合フィルムを用いる場合、A層が、回路基板の回路が形成されている面に対向するように配置する。
ラミネートの条件は、複合フィルム、及び回路基板を必要に応じてプレヒートし、圧着温度(ラミネート温度)を60〜140℃、圧着圧力を0.1〜1.1MPa(9.8×10 〜107.9×10 N/m)、空気圧20mmHg(26.7hPa)以下の減圧下でラミネートしてもよい。また、ラミネートの方法は、バッチ式であっても、ロールでの連続式であってもよい。
基板は通常、回路又は部品による段差を有するが、本発明の複合フィルムを基板にラミネートした後、該段差を複合フィルムのA層によって十分に充填できる。充填の程度が十分となるようにする観点から、ラミネート温度は、特に70〜130℃が好ましい。
In the lamination, when the composite film has a protective film, after removing the protective film, the composite film is pressure-bonded to the circuit board while being pressurized and / or heated.
When a composite film is used, the layer A is arranged so as to face the surface of the circuit board on which the circuit is formed.
As for the laminating conditions, the composite film and the circuit board are preheated as necessary, the crimping temperature (lamination temperature) is 60 to 140 ° C., and the crimping pressure is 0.1 to 1.1 MPa (9.8 × 10 4 to 107). It may be laminated under a reduced pressure of .9 × 10 4 N / m 2 ) and an air pressure of 20 mmHg (26.7 hPa) or less. Further, the laminating method may be a batch method or a continuous method using a roll.
The substrate usually has a step due to a circuit or a component, but after laminating the composite film of the present invention on the substrate, the step can be sufficiently filled by the A layer of the composite film. From the viewpoint of ensuring a sufficient degree of filling, the lamination temperature is particularly preferably 70 to 130 ° C.

<工程(2)>
工程(2)は、複合フィルムを硬化し、層間絶縁層を形成する工程である。硬化は、熱硬化であってもよいし、活性エネルギー線による硬化であってもよい。熱硬化の条件は特に限定されないが、例えば、170〜220℃で20〜80分の範囲で選択することができる。活性エネルギー線としては、前述の通りである。
なお、硬化させた後に、支持体を剥離してもよい。
<Process (2)>
The step (2) is a step of curing the composite film to form an interlayer insulating layer. The curing may be thermosetting or curing by active energy rays. The conditions for thermosetting are not particularly limited, but can be selected, for example, at 170 to 220 ° C. for 20 to 80 minutes. The active energy rays are as described above.
After curing, the support may be peeled off.

<工程(3)>
工程(3)は、層間絶縁層を形成した回路基板に穴あけする工程である。本工程では、層間絶縁層及び回路基板にドリル、レーザー、プラズマ、又はこれらの組み合わせ等の方法により、穴あけを行い、ビアホール、スルーホール等を形成する。レーザーとしては、炭酸ガスレーザー、YAGレーザー、UVレーザー、エキシマレーザー等が一般的に用いられる。
<Process (3)>
The step (3) is a step of drilling a hole in the circuit board on which the interlayer insulating layer is formed. In this step, holes are drilled in the interlayer insulating layer and the circuit board by a method such as drilling, laser, plasma, or a combination thereof to form via holes, through holes, and the like. As the laser, a carbon dioxide gas laser, a YAG laser, a UV laser, an excimer laser and the like are generally used.

<工程(4)>
工程(4)は、層間絶縁層の表面を粗化処理する工程である。本工程では、工程(2)で形成した層間絶縁層の表面を酸化剤により粗化処理を行うと同時に、ビアホール、スルーホール等が形成されている場合には、これらを形成する際に発生する「スミア」の除去を行うこともできる。
酸化剤としては、特に限定されないが、例えば、過マンガン酸塩(過マンガン酸カリウム、過マンガン酸ナトリウム)、重クロム酸塩、オゾン、過酸化水素、硫酸、硝酸等が挙げられる。これらの中でも、ビルドアップ工法による多層プリント配線板の製造における層間絶縁層の粗化に汎用されている酸化剤であるアルカリ性過マンガン酸溶液(例えば、過マンガン酸カリウム、過マンガン酸ナトリウム溶液)を用いて粗化、及びスミアの除去を行ってもよい。
<Process (4)>
The step (4) is a step of roughening the surface of the interlayer insulating layer. In this step, the surface of the interlayer insulating layer formed in step (2) is roughened with an oxidizing agent, and at the same time, if via holes, through holes, etc. are formed, they are generated when they are formed. It is also possible to remove "smear".
The oxidizing agent is not particularly limited, and examples thereof include permanganate (potassium permanganate, sodium permanganate), dichromate, ozone, hydrogen peroxide, sulfuric acid, nitric acid and the like. Among these, alkaline permanganate solution (for example, potassium permanganate, sodium permanganate solution), which is an oxidizing agent commonly used for roughening the interlayer insulating layer in the production of a multilayer printed wiring board by the build-up method, is used. It may be used to roughen and remove smear.

<工程(5)>
工程(5)は、粗化された層間絶縁層の表面にめっきする工程である。複合フィルムのB層は、セミアディティブ法に適応できる層である。そのため、本工程では、層間絶縁層の表面に無電解めっきにて給電層を形成し、次いで導体層とは逆パターンのめっきレジストを形成し、電解めっきにより導体層(回路)を形成する、セミアディティブ法を用いることができる。
なお、導体層形成後、例えば、150〜200℃で20〜120分間アニール処理を施すことにより、層間絶縁層と導体層との接着強度を向上及び安定化させることができる。
<Process (5)>
The step (5) is a step of plating the surface of the roughened interlayer insulating layer. The B layer of the composite film is a layer that can be applied to the semi-additive method. Therefore, in this step, a feeding layer is formed on the surface of the interlayer insulating layer by electroless plating, then a plating resist having a pattern opposite to that of the conductor layer is formed, and a conductor layer (circuit) is formed by electrolytic plating. The additive method can be used.
After forming the conductor layer, for example, by performing an annealing treatment at 150 to 200 ° C. for 20 to 120 minutes, the adhesive strength between the interlayer insulating layer and the conductor layer can be improved and stabilized.

更に、このようにして作製された導体層の表面を粗化する工程を有していてもよい。導体層の表面の粗化は、導体層に接する樹脂との接着性を高める効果を有する。導体層を粗化する処理剤としては、特に限定されないが、例えば、有機酸系マイクロエッチング剤である、メックエッチボンドCZ−8100、メックエッチボンドCZ−8101、メックエッチボンドCZ−5480(以上、メック株式会社製、商品名)等が挙げられる。 Further, it may have a step of roughening the surface of the conductor layer thus produced. Roughening the surface of the conductor layer has the effect of enhancing the adhesiveness with the resin in contact with the conductor layer. The treatment agent for roughening the conductor layer is not particularly limited, but for example, MEC Etch Bond CZ-8100, MEC Etch Bond CZ-8101, and MEC Etch Bond CZ-5480 (above, MEC Co., Ltd., trade name) and the like.

以上の製造方法の中でも、本発明の特徴より、以下のプリント配線板の製造方法が好ましい態様の一例として挙げられる。
前記複合フィルムを用いて、表面に回路又は部品による段差を有する基板に前記複合フィルムのA層側を貼付し、前記段差を充填する工程、
前記複合フィルムのA層及びB層を硬化する工程、
前記複合フィルムのB層側の面上にセミアディティブ法で回路を形成する工程、
を有する、プリント配線板の製造方法。
Among the above manufacturing methods, the following method for manufacturing a printed wiring board is mentioned as an example of a preferred embodiment from the features of the present invention.
A step of using the composite film to attach the A layer side of the composite film to a substrate having a step due to a circuit or a component on the surface and filling the step.
A step of curing the A layer and the B layer of the composite film,
A step of forming a circuit on the surface of the composite film on the B layer side by a semi-additive method,
A method for manufacturing a printed wiring board.

本発明の複合フィルム及びプリント配線板は、1GHz以上の高周波信号を扱う電子機器に特に好適に用いることができ、特に5GHz以上の高周波信号、10GHz以上の高周波信号又は30GHz以上の高周波信号を扱う電子機器に好適に用いることができる。つまり、本発明の複合フィルムは、高周波帯域の信号を使用する電子機器用複合フィルムとして有用である。 The composite film and printed wiring board of the present invention can be particularly suitably used for electronic devices that handle high-frequency signals of 1 GHz or higher, and in particular, electrons that handle high-frequency signals of 5 GHz or higher, high-frequency signals of 10 GHz or higher, or high-frequency signals of 30 GHz or higher. It can be suitably used for equipment. That is, the composite film of the present invention is useful as a composite film for electronic devices that uses signals in a high frequency band.

なお、本発明は、上記実施形態に限定されない。上記実施形態は例示であり、本発明の請求の範囲に記載された技術的思想と実質的に同一な構成を有し、同様な作用効果を奏するものは、いかなるものであっても本発明の技術的範囲に包含される。 The present invention is not limited to the above embodiment. The above-described embodiment is an example, and any object having substantially the same configuration as the technical idea described in the claims of the present invention and exhibiting the same effect and effect is of the present invention. Included in the technical scope.

以下、本発明を実施例により具体的に説明するが、本発明はこれらの実施例に限定されない。 Hereinafter, the present invention will be specifically described with reference to Examples, but the present invention is not limited to these Examples.

製造例1(ポリイミド化合物(a1)の製造)
温度計、還流冷却管、撹拌装置を備えた加熱及び冷却可能な容積1Lのガラス製フラスコ容器に、1,6−ビスマレイミド−(2,2,4−トリメチル)ヘキサン(大和化成工業株式会社製、商品名:BMI−TMH)100質量部、2,2−ビス[4−(4−マレイミドフェノキシ)フェニル]プロパン(大和化成工業株式会社製、商品名:BMI−4000)418質量部、4,4’−[1,3−フェニレンビス(1−メチルエチリデン)]ビスアニリン(三井化学ファイン株式会社製、商品名:ビスアニリンM)72質量部及びプロピレングリコールモノメチルエーテル909質量部を投入し、還流させながら、液温120℃で、撹拌しながら3時間反応させた。
その後、後述する測定方法により、反応物の重量平均分子量が3,000であることを確認し、冷却及び200メッシュ濾過してポリイミド化合物(a1)(固形分濃度:65質量%)を製造した。
Production Example 1 (Production of Polyimide Compound (a1))
1,6-Bismaleimide- (2,2,4-trimethyl) hexane (manufactured by Daiwa Kasei Kogyo Co., Ltd.) in a glass flask container with a mass of 1 L that can be heated and cooled equipped with a thermometer, a reflux condenser, and a stirrer. , Product name: BMI-TMH) 100 parts by mass, 2,2-bis [4- (4-maleimide phenoxy) phenyl] propane (manufactured by Daiwa Kasei Kogyo Co., Ltd., product name: BMI-4000) 418 parts by mass, 4, 4'-[1,3-Phenylenebis (1-methylethylidene)] Bisaniline (manufactured by Mitsui Kagaku Fine Co., Ltd., trade name: Bisaniline M) 72 parts by mass and 909 parts by mass of propylene glycol monomethyl ether are added and refluxed. , The reaction was carried out at a liquid temperature of 120 ° C. for 3 hours with stirring.
Then, it was confirmed that the weight average molecular weight of the reaction product was 3,000 by the measurement method described later, and the polyimide compound (a1) (solid content concentration: 65% by mass) was produced by cooling and filtering by 200 mesh.

<重量平均分子量の測定方法>
得られたポリイミド化合物(a1)の重量平均分子量は、ゲルパーミエーションクロマトグラフィー(GPC)により、標準ポリスチレンを用いた検量線から換算した。検量線は、標準ポリスチレン:TSKstandard POLYSTYRENE(Type;A−2500、A−5000、F−1、F−2、F−4、F−10、F−20、F−40)[東ソー株式会社製、商品名])を用いて3次式で近似した。GPCの条件を以下に示す。
装置:ポンプ:L−6200型[株式会社日立ハイテクノロジーズ製]
検出器:L−3300型RI[株式会社日立ハイテクノロジーズ製]
カラムオーブン:L−655A−52[株式会社日立ハイテクノロジーズ製]
カラム:ガードカラム;TSK Guardcolumn HHR−L + カラム;TSK gel−G4000HHR+TSK gel−G2000HHR(すべて東ソー株式会社製、商品名)
カラムサイズ:6.0×40mm(ガードカラム)、7.8×300mm(カラム)
溶離液:テトラヒドロフラン
試料濃度:30mg/5mL
注入量:20μL
流量:1.00mL/分
測定温度:40℃
<Measurement method of weight average molecular weight>
The weight average molecular weight of the obtained polyimide compound (a1) was converted from a calibration curve using standard polystyrene by gel permeation chromatography (GPC). The calibration curve is standard polystyrene: TSK standard POLYSTYRENE (Type; A-2500, A-5000, F-1, F-2, F-4, F-10, F-20, F-40) [manufactured by Tosoh Corporation, Product name]) was used for approximation by a cubic equation. The conditions for GPC are shown below.
Equipment: Pump: L-6200 type [manufactured by Hitachi High-Technologies Corporation]
Detector: L-3300 type RI [manufactured by Hitachi High-Technologies Corporation]
Column oven: L-655A-52 [manufactured by Hitachi High-Technologies Corporation]
Column: Guard column; TSK Guardcolum HHR-L + Column; TSK gel-G4000HHR + TSK gel-G2000HHR (all manufactured by Tosoh Corporation, product name)
Column size: 6.0 x 40 mm (guard column), 7.8 x 300 mm (column)
Eluent: tetrahydrofuran Sample concentration: 30 mg / 5 mL
Injection volume: 20 μL
Flow rate: 1.00 mL / min Measurement temperature: 40 ° C

<A層用ワニスの製造方法>
製造例2(ワニスA1の製造)
無機充填材(a2)として、アミノシランカップリング剤処理を施したシリカ(株式会社アドマテックス製、商品名:SC−2050−KNK、固形分濃度70質量%のメチルイソブチルケトン分散液)65体積%(有機溶剤を含まない全体積に対して。)と、エラストマ(a3)として、ポリブタジエン系エラストマ(エボニック社製、商品名:POLYVEST 75MA)20質量%(全樹脂成分、つまり無機充填材及び有機溶剤を含まない全成分に対して。)となる配合比率で混合した。
そこに製造例1で得たポリイミド化合物(a1)を、ポリイミド化合物(a1)の含有量が、樹脂組成物に含まれる全樹脂成分に対して80質量%となる比率で混合し、高速回転ミキサーにより室温で溶解させた。
ポリイミド化合物(a1)が溶解したことを目視で確認した後、難燃剤として1,3−フェニレンビス(ジ2,6−キシレニルホスフェート)(大八化学工業株式会社製、商品名:PX−200)を1.0質量%、酸化防止剤として4,4’−ブチリデンビス−(6−t−ブチル−3−メチルフェノール)(三菱化学株式会社製、商品名:ヨシノックス(登録商標)BB)(以下、「ヨシノックスBB」ともいう)を0.1質量%、流動調整剤として「BYK310」(ビックケミー・ジャパン株式会社製、商品名、固形分濃度25質量%のキシレン溶液)0.1質量%(固形分)を混合した(但し、いずれの含有量も、樹脂組成物に含まれる固形分に対する値である。)。その後、硬化促進剤として、有機過酸化物(日油株式会社製、商品名:パーブチルP)を、ポリイミド化合物(a1)の仕込み量から換算される原料(マレイミド化合物)とポリブタジエン系エラストマ(a3)に対して1.0phr、イソシアネートマスクイミダゾール(第一工業製薬株式会社製、商品名:G8009L)を、ポリイミド化合物(a1)の仕込み量から換算される原料のマレイミド化合物に対して0.5phr混合した。次いで、ナノマイザー処理によって分散し、ワニスA1を得た。
<Manufacturing method of varnish for layer A>
Production Example 2 (Production of varnish A1)
As the inorganic filler (a2), silica (manufactured by Admatex Co., Ltd., trade name: SC-2050-KNK, methyl isobutyl ketone dispersion having a solid content concentration of 70% by mass) treated with an aminosilane coupling agent 65% by volume ( 20% by mass (total resin component, that is, inorganic filler and organic solvent) and polybutadiene-based elastoma (manufactured by Ebonic, trade name: POLYVEST 75MA) as the elastoma (a3) with respect to the total volume containing no organic solvent. For all the components not contained, the mixture was mixed in a blending ratio of.).
The polyimide compound (a1) obtained in Production Example 1 is mixed therewith at a ratio in which the content of the polyimide compound (a1) is 80% by mass with respect to the total resin components contained in the resin composition, and a high-speed rotation mixer is used. Was dissolved at room temperature.
After visually confirming that the polyimide compound (a1) was dissolved, 1,3-phenylenebis (di2,6-xyleneyl phosphate) (manufactured by Daihachi Chemical Industry Co., Ltd., trade name: PX-) was used as a flame retardant. 200) in 1.0% by mass, as an antioxidant 4,4'-butylidenebis- (6-t-butyl-3-methylphenol) (manufactured by Mitsubishi Chemical Industry Co., Ltd., trade name: Yoshinox (registered trademark) BB) ( Hereinafter, "Yoshinox BB" is also referred to as 0.1% by mass, and "BYK310" (manufactured by BIC Chemie Japan Co., Ltd., trade name, xylene solution having a solid content concentration of 25% by mass) 0.1% by mass (hereinafter, also referred to as "Yoshinox BB") (Solid content) was mixed (however, each content is a value with respect to the solid content contained in the resin composition). After that, as a curing accelerator, an organic peroxide (manufactured by Nichiyu Co., Ltd., trade name: Perbutyl P) is used as a raw material (maleimide compound) converted from the amount of the polyimide compound (a1) charged and a polybutadiene-based elastoma (a3). 1.0 phr, isocyanate mask imidazole (manufactured by Daiichi Kogyo Seiyaku Co., Ltd., trade name: G8009L) was mixed with 0.5 phr with the maleimide compound as a raw material converted from the amount of the polyimide compound (a1) charged. .. Then, it was dispersed by nanomizer treatment to obtain varnish A1.

製造例3(ワニスA2の製造)
製造例2において、無機充填材(a2)の使用量を60体積%に変更した以外は同様に操作を行い、ワニスA2を得た。
Production Example 3 (Production of varnish A2)
In Production Example 2, the same operation was carried out except that the amount of the inorganic filler (a2) used was changed to 60% by volume to obtain varnish A2.

製造例4(ワニスA3の製造)
製造例2において、無機充填材(a2)の使用量を57体積%に変更した以外は同様に操作を行い、ワニスA3を得た。
Production Example 4 (Production of varnish A3)
In Production Example 2, the same operation was carried out except that the amount of the inorganic filler (a2) used was changed to 57% by volume to obtain a varnish A3.

製造例5(ワニスA4の製造:比較用)
製造例2において、無機充填材(a2)の使用量を70体積%に変更した以外は同様に操作を行い、ワニスA4を得た。
Production Example 5 (Production of varnish A4: for comparison)
In Production Example 2, the same operation was carried out except that the amount of the inorganic filler (a2) used was changed to 70% by volume to obtain a varnish A4.

<B層用ワニスの製造方法>
製造例6(ワニスB1の製造)
樹脂組成物に含まれる固形分100質量%に対して6.4質量%のフェノール性水酸基含有ポリブタジエン変性ポリアミド樹脂(日本化薬株式会社製、商品名:BPAM−155)を、その固形分濃度が1.6質量%となるように、ジメチルアセトアミドとシクロヘキサノンの混合溶媒[ジメチルアセトアミド/シクロヘキサノン(質量比)=7/3]に溶解させた。溶解後、アラルキルノボラック型エポキシ樹脂(日本化薬株式会社製、商品名:NC−3000H、エポキシ当量289g/mol)を樹脂組成物に含まれる固形分100質量%に対して57.2質量%、無機充填材(日本アエロジル株式会社製、商品名:アエロジル(登録商標)R972、比表面積110±20m/g)を樹脂組成物に含まれる固形分に対して8.8質量%、酸化防止剤(株式会社エーピーアイコーポレーション製、商品名:ヨシノックス(登録商標)BB)を樹脂組成物に含まれる固形分に対して0.4質量%、フェノキシ樹脂(三菱化学株式会社製、商品名:YX7200、メチルエチルケトン希釈品(35質量%))を樹脂組成物に含まれる固形分に対して、固形分換算で9.1質量%、活性エステル硬化剤(DIC株式会社製、商品名:HPC−8000−65T(トルエン希釈品(65質量%))を樹脂組成物に含まれる固形分に対して、固形分換算で14.6質量%、流動調整剤(ビックケミー・ジャパン社製、商品名:BYK−310(ワニスA1の製造時に用いたものと同じ))を樹脂組成物に含まれる固形分に対して、固形分換算で0.1質量%、リン系硬化促進剤(トリ−n−ブチルホスフィンとp−ベンゾキノンとの付加物)を樹脂組成物に含まれる固形分に対して3.4質量%配合して溶解させ、固形分濃度が18質量%になるようにメチルエチルケトンでワニスを希釈した。その後、ナノマイザー処理によって分散し、ワニスB1を得た。
<Manufacturing method of varnish for layer B>
Production Example 6 (Production of varnish B1)
A phenolic hydroxyl group-containing polybutadiene-modified polyamide resin (manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd., trade name: BPAM-155) having a solid content concentration of 6.4% by mass with respect to 100% by mass of the solid content contained in the resin composition. It was dissolved in a mixed solvent of dimethylacetamide and cyclohexanone [dimethylacetamide / cyclohexanone (mass ratio) = 7/3] so as to be 1.6% by mass. After dissolution, Aralquilnovolak type epoxy resin (manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd., trade name: NC-3000H, epoxy equivalent 289 g / mol) was added to 57.2% by mass based on 100% by mass of the solid content contained in the resin composition. Inorganic filler (manufactured by Nippon Aerosil Co., Ltd., trade name: Aerosil (registered trademark) R972, specific surface area 110 ± 20 m 2 / g) is 8.8% by mass based on the solid content contained in the resin composition, and is an antioxidant. (Manufactured by API Corporation, trade name: Yoshinox (registered trademark) BB) is 0.4% by mass based on the solid content contained in the resin composition, phenoxy resin (manufactured by Mitsubishi Chemical Co., Ltd., trade name: YX7200, Methyl ethyl ketone diluted product (35% by mass)) is 9.1% by mass in terms of solid content with respect to the solid content contained in the resin composition, and the active ester curing agent (manufactured by DIC Co., Ltd., trade name: HPC-8000-65T) (Toluene diluted product (65% by mass)) is 14.6% by mass in terms of solid content with respect to the solid content contained in the resin composition, and a flow conditioner (manufactured by Big Chemie Japan, trade name: BYK-310) (Same as that used in the production of varnish A1)) was 0.1% by mass in terms of solid content with respect to the solid content contained in the resin composition, and a phosphorus-based curing accelerator (tri-n-butylphosphine and p-) was added. (Addition with benzoquinone) was blended in an amount of 3.4% by mass based on the solid content contained in the resin composition and dissolved, and the varnish was diluted with methyl ethyl ketone so that the solid content concentration became 18% by mass. Dispersion by treatment gave varnish B1.

製造例7(ワニスB2の製造)
製造例6において、アラルキルノボラック型エポキシ樹脂の代わりに、フェノキシ樹脂[三菱化学株式会社製、商品名:YX7200、メチルエチルケトン希釈品(固形分濃度:35質量%)]を、樹脂組成物に含まれる固形分に対して、固形分換算で15質量%にした以外は同様に操作を行い、ワニスB2を得た。
Production Example 7 (Production of varnish B2)
In Production Example 6, instead of the aralkyl novolac type epoxy resin, a phenoxy resin [manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation, trade name: YX7200, diluted methyl ethyl ketone (solid content concentration: 35% by mass)] is used as a solid contained in the resin composition. The same operation was carried out except that the solid content was reduced to 15% by mass with respect to the amount of the varnish B2.

(1.溶融粘度の測定方法)
前記製造例で得たA層用のワニスA1〜A4を用いて、離型処理された支持体(PETフィルム、東レフィルム加工株式会社製、商品名:セラピールSY(RX)、厚さ38μm)に、乾燥後の厚さが25μmとなるようにコンマコーターを用いて塗工し、90℃で2分間乾燥することにより、支持体上にフィルムA1〜A4を形成した。
また、同様に、前記製造例で得たB層用のワニスB1〜B2を用いて、離型処理された支持体(PETフィルム、東レフィルム加工株式会社製、商品名:セラピールSY(RX)、厚さ38μm)に、乾燥後の厚さが2.5μmとなるようにコンマコーターを用いて塗工し、140℃で3分間乾燥して、支持体上にフィルムB1〜B2を形成した。
これらのフィルムA1〜A4及びB1〜B2について、下記方法に従って溶融粘度を測定した。80〜150℃における最低溶融粘度を表1に示す。
(1. Method for measuring melt viscosity)
Using the varnishes A1 to A4 for the A layer obtained in the above production example, the support was released from the mold (PET film, manufactured by Toray Film Processing Co., Ltd., trade name: Therapy SY (RX), thickness 38 μm). The films A1 to A4 were formed on the support by coating with a comma coater so that the thickness after drying was 25 μm and drying at 90 ° C. for 2 minutes.
Similarly, a support (PET film, manufactured by Toray Film Processing Co., Ltd., trade name: Therapy SY (RX)) which has been mold-released using the varnishes B1 to B2 for the B layer obtained in the above production example. The film (thickness 38 μm) was coated with a comma coater so that the thickness after drying was 2.5 μm, and dried at 140 ° C. for 3 minutes to form films B1 to B2 on the support.
The melt viscosities of these films A1 to A4 and B1 to B2 were measured according to the following method. Table 1 shows the minimum melt viscosities at 80 to 150 ° C.

上記各フィルムA1について、硬化が進まない温度で任意の枚数を貼り合わせることにより、厚み100μmの1つのシートとし、該シートを10mm×10mmに切断したものを試験片A1とした。フィルムA2〜A4及びフィルムB1〜B2についても同様にして試験片A2〜A4及びB1〜B2を作製した。なお、前記試験片の作製において、下記のずり粘度測定中に貼り合わせ面において剥離が生じない程度に各フィルムを貼り合わせた。
溶融粘度は、回転型レオメーター(TAインスツルメント社製、ARES)を用い、平行円板(直径8mm)に前記フィルムをフィルム厚より2〜5μm小さなギャップ幅で挟み、周波数1Hz、歪み1%で、昇温速度5℃/分で30℃から300℃まで測定した際の複素粘度の値とし、80〜150℃における最低溶融粘度に着目した。
An arbitrary number of sheets of each of the above films A1 were bonded together at a temperature at which curing did not proceed to form a single sheet having a thickness of 100 μm, and the sheet cut into 10 mm × 10 mm was used as a test piece A1. For films A2 to A4 and films B1 to B2, test pieces A2 to A4 and B1 to B2 were prepared in the same manner. In the preparation of the test piece, each film was bonded to the extent that peeling did not occur on the bonded surface during the following shear viscosity measurement.
For the melt viscosity, a rotary rheometer (ARES manufactured by TA Instruments) was used, and the film was sandwiched between parallel disks (diameter 8 mm) with a gap width 2 to 5 μm smaller than the film thickness, and the frequency was 1 Hz and the strain was 1%. Then, the value of the complex viscosity when measured from 30 ° C. to 300 ° C. at a heating rate of 5 ° C./min was used, and the minimum melt viscosity at 80 to 150 ° C. was focused on.

Figure 0006880585
Figure 0006880585

<複合フィルムの製造>
実施例1
B層用の前記ワニスB1を、離型処理された支持体(PETフィルム、東レフィルム加工株式会社製、商品名:セラピールSY(RX)、厚さ38μm)に、乾燥後のB層の厚さが2.5μmとなるようにコンマコーターを用いて塗工し、140℃で3分間乾燥して、支持体上にB層を形成した。
次いで、該B層の樹脂層の上に、A層用の前記ワニスA1を、乾燥後のA層の厚さが27.5μmとなるようにコンマコーターを用いて塗工し、90℃で2分間乾燥して複合フィルムを得た。
さらに、該A層の表面に、保護フィルムとして厚さ15μmのポリプロピレンフィルムを貼り合わせながらロール状に巻き取り、支持体及び保護フィルムを有する複合フィルム1を得た。
<Manufacturing of composite film>
Example 1
The varnish B1 for the B layer is applied to a release-treated support (PET film, manufactured by Toray Film Processing Co., Ltd., trade name: Therapy SY (RX), thickness 38 μm), and the thickness of the B layer after drying. The film was coated with a comma coater so as to have a thickness of 2.5 μm, and dried at 140 ° C. for 3 minutes to form a B layer on the support.
Next, the varnish A1 for the A layer is applied onto the resin layer of the B layer using a comma coater so that the thickness of the A layer after drying is 27.5 μm, and the temperature is 90 ° C. Drying for minutes gave a composite film.
Further, a polypropylene film having a thickness of 15 μm was bonded to the surface of the A layer and wound into a roll to obtain a composite film 1 having a support and a protective film.

実施例2〜5、比較例1〜3
実施例1において、表2に記載のワニスを用い、表2に記載の厚みのフィルムとしたこと以外は同様に操作を行い、複合フィルム2〜8を得た。該複合フィルムを用いて、誘電正接、表面平坦性、表面粗さ、めっき銅との接着性、及び埋め込み性について、以下の方法に従って評価した。結果を表2に示す。
Examples 2-5, Comparative Examples 1-3
In Example 1, the varnishes shown in Table 2 were used, and the same operations were carried out except that the films having the thicknesses shown in Table 2 were obtained to obtain composite films 2 to 8. Using the composite film, dielectric loss tangent, surface flatness, surface roughness, adhesiveness to plated copper, and embedding property were evaluated according to the following methods. The results are shown in Table 2.

<樹脂板の作製>
誘電正接の測定に用いた樹脂板は、以下の手順により作製した。
(I)各例で得られた支持体及び保護フィルムを有する複合フィルムから保護フィルムを剥離した後、120℃で3分間乾燥した。
次に、乾燥後の支持体を有する複合フィルムを、真空加圧式ラミネーター(株式会社名機製作所製、商品名:MVLP−500/600−II)を用いて、銅箔(電界銅箔、厚さ35μm)の光沢面上に、複合フィルムの樹脂層と銅箔とが当接するようにラミネートして、銅箔、複合フィルム、支持体がこの順に積層された積層体(P)を得た。前記ラミネートは、30秒間減圧して圧力を0.5MPaとした後、120℃、30秒間、圧着圧力0.5MPaでプレスする方法により行った。その後、積層体(P)から支持体を剥離した。
(II)次に、支持体としてのPETフィルム及び保護フィルムとしてのポリプロピレンフィルムを有する別の複合フィルムを準備し、保護フィルムを剥離した後、110℃で3分間の乾燥を行った。
(III)次に、上記(I)で得られた支持体を剥離した積層体(P)と、上記(II)で得られた乾燥後の支持体を有する複合フィルムとを、樹脂層同士が当接するように、前記(I)と同様の条件でラミネートして、銅箔、複合フィルム2層からなる層、支持体がこの順に積層された積層体(Q)を得た。その後、積層体(Q)から支持体を剥離した。
(IV)次に、上記(III)で得られた支持体を剥離した積層体(Q)と、上記(II)と同様の方法により得られた乾燥後の支持体を有する複合フィルムとを、樹脂層同士が当接するように、前記(I)と同様の条件でラミネートして、銅箔、複合フィルム3層からなる層、支持体がこの順に積層された積層体(R)を得た。
(V)前記(I)〜(III)と同様の方法により、積層体(Q)を作製した。
(VI)上記(V)で得られた積層体(Q)と、上記(I)〜(IV)で得られた積層体(R)の支持体をそれぞれ剥離し、積層体(Q)と積層体(R)の樹脂層同士を貼り合わせ、圧着圧力3.0MPaで190℃、60分間、真空プレスを用いてプレス成型を行った。得られた両面銅箔付き樹脂板を、190℃で2時間硬化させた後、過硫酸アンモニウムで銅箔をエッチングすることで、樹脂板を得、誘電正接の測定に利用した。
<Manufacturing of resin plate>
The resin plate used for the measurement of the dielectric loss tangent was prepared by the following procedure.
(I) The protective film was peeled off from the composite film having the support and the protective film obtained in each example, and then dried at 120 ° C. for 3 minutes.
Next, a composite film having a support after drying is subjected to a copper foil (electric field copper foil, thickness) using a vacuum pressurizing laminator (manufactured by Meiki Seisakusho Co., Ltd., trade name: MVLP-500 / 600-II). The resin layer of the composite film and the copper foil were laminated on the glossy surface of 35 μm) so as to be in contact with each other to obtain a laminated body (P) in which the copper foil, the composite film, and the support were laminated in this order. The laminating was carried out by a method in which the pressure was reduced to 0.5 MPa for 30 seconds and then pressed at 120 ° C. for 30 seconds at a crimping pressure of 0.5 MPa. Then, the support was peeled off from the laminated body (P).
(II) Next, another composite film having a PET film as a support and a polypropylene film as a protective film was prepared, the protective film was peeled off, and then the film was dried at 110 ° C. for 3 minutes.
(III) Next, the resin layers of the laminated body (P) obtained by peeling off the support obtained in the above (I) and the composite film having the dried support obtained in the above (II) are formed by the resin layers. By laminating under the same conditions as in (I) above so as to abut, a laminated body (Q) in which a copper foil, a layer composed of two layers of composite films, and a support were laminated in this order was obtained. Then, the support was peeled off from the laminated body (Q).
(IV) Next, the laminated body (Q) obtained by peeling off the support obtained in (III) above and the composite film having the support after drying obtained by the same method as in (II) above are obtained. The resin layers were laminated under the same conditions as in (I) so that the resin layers were in contact with each other to obtain a laminated body (R) in which a copper foil, a layer composed of three composite film layers, and a support were laminated in this order.
(V) A laminated body (Q) was prepared by the same method as in (I) to (III) above.
(VI) The support of the laminated body (Q) obtained in the above (V) and the support of the laminated body (R) obtained in the above (I) to (IV) are peeled off from each other and laminated with the laminated body (Q). The resin layers of the body (R) were bonded to each other, and press molding was performed at 190 ° C. for 60 minutes at a crimping pressure of 3.0 MPa using a vacuum press. The obtained resin plate with a double-sided copper foil was cured at 190 ° C. for 2 hours, and then the copper foil was etched with ammonium persulfate to obtain a resin plate, which was used for measuring the dielectric loss tangent.

[2.誘電正接の測定方法]
上記で作製された樹脂板を幅2mm、長さ70mmの試験片に切り出し、ネットワークアナライザー(アジレント・テクノロジー株式会社製、商品名:E8364B)と5GHz対応空洞共振器(株式会社関東電子応用開発製)を用いて、誘電正接を測定した。測定温度は25℃とした。誘電正接が低いほど、誘電特性に優れることを示す。
[2. Dissipation factor measurement method]
The resin plate produced above is cut into test pieces with a width of 2 mm and a length of 70 mm, and a network analyzer (manufactured by Agilent Technologies, Inc., trade name: E8364B) and a 5 GHz compatible cavity resonator (manufactured by Kanto Electronics Applied Development Co., Ltd.) Was used to measure the dielectric loss tangent. The measurement temperature was 25 ° C. The lower the dielectric loss tangent, the better the dielectric properties.

<表面粗さ測定用基板の作製方法>
表面粗さ測定用基板を以下の手順により作製した。
各例で得られた支持体及び保護フィルムを有する複合フィルムを、240mm×240mmのサイズに切断した後、保護フィルムを剥離した。
得られた支持体を有する複合フィルムを、CZ処理が施されたプリント配線板(日立化成株式会社製、商品名:E−700GR)上に、A層とプリント配線板とが当接するようにラミネートした。ラミネートは、120℃、30秒間、圧着圧力0.5MPaでプレスする方法により行った。
その後、室温に冷却し、複合フィルムを配したプリント配線板を得た。次に、複合フィルムを配したプリント配線板を、支持体を付けたまま、第一段階目の硬化として130℃で20分間防爆乾燥機中で硬化を行い、その後、第二段階目の硬化として190℃で40分間防爆乾燥機中で硬化を行った。その後、支持体を剥離して、層間絶縁層が形成されたプリント配線板を得た。
<Method of manufacturing substrate for surface roughness measurement>
A substrate for measuring surface roughness was prepared by the following procedure.
The composite film having the support and the protective film obtained in each example was cut into a size of 240 mm × 240 mm, and then the protective film was peeled off.
The composite film having the obtained support is laminated on a CZ-treated printed wiring board (manufactured by Hitachi Kasei Co., Ltd., trade name: E-700GR) so that the A layer and the printed wiring board are in contact with each other. did. Lamination was carried out by a method of pressing at 120 ° C. for 30 seconds at a crimping pressure of 0.5 MPa.
Then, it cooled to room temperature, and the printed wiring board which arranged the composite film was obtained. Next, the printed wiring board on which the composite film is arranged is cured in an explosion-proof dryer at 130 ° C. for 20 minutes as the first-stage curing with the support attached, and then as the second-stage curing. Curing was performed in an explosion-proof dryer at 190 ° C. for 40 minutes. Then, the support was peeled off to obtain a printed wiring board on which an interlayer insulating layer was formed.

(粗化処理方法)
上記表面粗さ測定用基板の製造方法により得られたプリント配線板を、60℃に加温した膨潤液(アトテックジャパン株式会社製、商品名:スウェリングデップセキュリガント(登録商標)P)に10分間浸漬処理した。次に、80℃に加温した粗化液(アトテックジャパン株式会社製、商品名:コンセートレートコンパクトCP)に15分間浸漬処理した。引き続き、40℃に加温した中和液(アトテックジャパン株式会社製、商品名:リダクションソリューションセキュリガント(登録商標)P500)に5分間浸漬処理して中和した。このようにして、層間絶縁層の表面を粗化処理したものを、表面粗さ測定用基板として用いた。
(Roughening treatment method)
The printed wiring board obtained by the above method for manufacturing a substrate for surface roughness measurement is mixed with a swelling liquid (manufactured by Atotech Japan Co., Ltd., trade name: Swelling Dep Securigant (registered trademark) P) heated to 60 ° C. Immersion treatment for minutes. Next, it was immersed in a roughened solution heated to 80 ° C. (manufactured by Atotech Japan Co., Ltd., trade name: Consate Rate Compact CP) for 15 minutes. Subsequently, it was neutralized by being immersed in a neutralizing solution heated to 40 ° C. (manufactured by Atotech Japan Co., Ltd., trade name: Reduction Solution Security Gant (registered trademark) P500) for 5 minutes. The surface of the interlayer insulating layer roughened in this way was used as a substrate for surface roughness measurement.

[3.表面粗さの測定方法:表面平坦性]
上記で得られた表面粗さ測定用基板の表面粗さを、比接触式表面粗さ計(ブルカーエイエックスエス株式会社製、商品名:wykoNT9100)を用い、内部レンズ1倍、外部レンズ50倍を用いて測定し、算術平均粗さ(Ra)を得、表面平坦性の指標とした。
表面平坦性の観点から、算術平均粗さ(Ra)は小さい方が好ましく、特に200nm未満であると微細配線形成に好適である。また、95nm以上であると、充分なピール強度を発揮できる。この観点から、表面平坦性について、表面粗さが95nm未満の場合にはb、95nm以上200nm未満の場合にはa、200nm以上の場合にはcと評価した。
[3. Surface Roughness Measurement Method: Surface Flatness]
Using a specific contact type surface roughness meter (manufactured by Bruker AXS Co., Ltd., trade name: wykoNT9100), the surface roughness of the surface roughness measurement substrate obtained above was measured with an internal lens of 1x and an external lens of 50x. The arithmetic average roughness (Ra) was obtained and used as an index of surface flatness.
From the viewpoint of surface flatness, it is preferable that the arithmetic mean roughness (Ra) is small, and particularly when it is less than 200 nm, it is suitable for forming fine wiring. Further, when it is 95 nm or more, sufficient peel strength can be exhibited. From this viewpoint, the surface flatness was evaluated as b when the surface roughness was less than 95 nm, a when the surface roughness was 95 nm or more and less than 200 nm, and c when the surface roughness was 200 nm or more.

[4.めっき銅との接着性の評価方法]
(1)めっき銅との接着強度(めっきピール強度)測定用基板の作製方法
まず、表面粗さ測定用基板と同様の方法で作製した複合フィルム付きプリント配線板を、40mm×60mmに切り出し、試験片とした。
該試験片を、表面粗さ測定用基板と同様の条件で粗化処理した後、60℃のアルカリクリーナー(アトテックジャパン株式会社製、商品名:クリーナーセキュリガント(登録商標)902)で5分間処理し、脱脂洗浄した。洗浄後、23℃のプリディップ液(アトテックジャパン株式会社製、商品名:プリディップネオガント(登録商標)B)で2分間処理した。その後、40℃のアクチベーター液(アトテックジャパン株式会社製、商品名:アクチベーターネオガント(登録商標)834)で5分間処理を施し、パラジウム触媒を付着させた。次に、30℃の還元液(アトテックジャパン株式会社製、商品名:リデューサーネオガント(登録商標)WA)で5分間処理した。
上記の処理を行った試験片を、化学銅液(アトテックジャパン株式会社製、商品名:ベーシックプリントガント(登録商標)MSK−DK)に入れ、層間絶縁層上のめっき厚さが1μmになるまで、無電解めっきを行った。無電解めっき後に、めっき皮膜中に残存している応力を緩和し、残留している水素ガスを除去するために、120℃で15分間ベーク処理を施した。
次に、無電解めっき処理された試験片に対して、さらに層間絶縁層上のめっき厚さが35μmになるまで電解めっきを行い、導体層として銅層を形成した。電解めっき後、190℃で120分間アニール処理をして、接着強度測定部作製前の測定基板を得た。
得られた測定基板の銅層に10mm幅のレジストを形成し、過硫酸アンモニウムで銅層をエッチングすることにより、接着強度測定部として10mm幅の銅層を有する、めっき銅との接着強度測定用基板を得た。
[4. Evaluation method of adhesiveness with plated copper]
(1) Method for manufacturing a substrate for measuring adhesive strength (plating peel strength) with plated copper First, a printed wiring board with a composite film manufactured by the same method as the substrate for measuring surface roughness was cut out to a size of 40 mm × 60 mm and tested. It was a piece.
The test piece is roughened under the same conditions as the surface roughness measuring substrate, and then treated with an alkaline cleaner at 60 ° C. (manufactured by Atotech Japan Co., Ltd., trade name: Cleaner Security Gant (registered trademark) 902) for 5 minutes. And degreased and washed. After washing, it was treated with a predip solution at 23 ° C. (manufactured by Atotech Japan Co., Ltd., trade name: Predip Neogant (registered trademark) B) for 2 minutes. Then, it was treated with an activator solution at 40 ° C. (manufactured by Atotech Japan Co., Ltd., trade name: Activator Neogant (registered trademark) 834) for 5 minutes to attach a palladium catalyst. Next, it was treated with a reducing solution at 30 ° C. (manufactured by Atotech Japan Co., Ltd., trade name: Reducer Neogant (registered trademark) WA) for 5 minutes.
The test piece subjected to the above treatment is placed in a chemical copper solution (manufactured by Atotech Japan Co., Ltd., trade name: Basic Print Gantt (registered trademark) MSK-DK) until the plating thickness on the interlayer insulating layer reaches 1 μm. , Electroless plating was performed. After electroless plating, bake treatment was performed at 120 ° C. for 15 minutes in order to relieve the stress remaining in the plating film and remove the remaining hydrogen gas.
Next, the test piece subjected to the electroless plating treatment was further electroplated until the plating thickness on the interlayer insulating layer became 35 μm to form a copper layer as a conductor layer. After electrolytic plating, annealing treatment was performed at 190 ° C. for 120 minutes to obtain a measurement substrate before manufacturing the adhesive strength measuring section.
By forming a resist having a width of 10 mm on the copper layer of the obtained measurement substrate and etching the copper layer with ammonium persulfate, a substrate for measuring the adhesive strength with plated copper having a copper layer having a width of 10 mm as an adhesive strength measuring part. Got

(2)めっき銅との接着強度の測定条件
接着強度測定用基板に形成した接着強度測定部の銅層の一端を、銅層と層間絶縁層との界面で剥がしてつかみ具でつかみ、小型卓上試験機(株式会社島津製作所製、商品名:EZT Test)を用いて、垂直方向に引っ張り速度50mm/分、室温中で引き剥がしたときの荷重を測定し、得られた接着強度(kN/m)を、めっき銅との接着性の指標とした。値が大きいほど、めっき銅との高接着性を有することを示す。
(2) Measurement conditions of adhesive strength with plated copper One end of the copper layer of the adhesive strength measuring part formed on the substrate for measuring adhesive strength is peeled off at the interface between the copper layer and the interlayer insulating layer and grasped with a gripper, and a small desktop is used. Using a testing machine (manufactured by Shimadzu Corporation, trade name: EZT Test), the tensile speed was 50 mm / min in the vertical direction, and the load when peeled off at room temperature was measured, and the obtained adhesive strength (kN / m) was measured. ) Was used as an index of adhesiveness with plated copper. The larger the value, the higher the adhesiveness with the plated copper.

[埋め込み性の評価方法]
各例で得られた複合フィルムを、240mm×240mmのサイズに切断した後、保護フィルムを剥離した。
得られた複合フィルム(支持体付き)を、厚み18μmで、5mm幅の銅配線と100μm幅の銅配線が両方形成されているプリント配線板(日立化成株式会社製、商品名:E−700GR)上に、第一の樹脂層とプリント配線板とが当接するようにラミネートした。ラミネートは、第一ステージとして100℃、15秒間真空し、その後0.5MPaで45秒間加圧し、さらに、第二ステージとして120℃、60秒間、圧着圧力0.5MPaでプレスする方法により行った。その後、室温に冷却し、複合フィルムを配したプリント配線板を得た。
次に、複合フィルムを配したプリント配線板を、支持体を付けたまま第一段階目の硬化として130℃で20分間、防爆乾燥機中で硬化を行い、その後、第二段階目の硬化として190℃で40分間、防爆乾燥機中で硬化を行い、層間絶縁層が形成されたプリント配線板を得た。その後、支持体を剥離してプリント配線板を得た。
このプリント配線板の銅配線の部分を目視により観察し、5mm幅の銅配線と100μm幅の銅配線の埋め込み性及び平坦性が共に良好なものを「A」、埋め込み性及び平坦性が共に悪いものを「C」と評価した。
[Evaluation method of embedding]
The composite film obtained in each example was cut into a size of 240 mm × 240 mm, and then the protective film was peeled off.
A printed wiring board (manufactured by Hitachi Kasei Co., Ltd., trade name: E-700GR) in which the obtained composite film (with a support) is 18 μm thick and both 5 mm wide copper wiring and 100 μm wide copper wiring are formed. On top of this, the first resin layer and the printed wiring board were laminated so as to be in contact with each other. Lamination was carried out by a method of vacuuming at 100 ° C. for 15 seconds as the first stage, then pressurizing at 0.5 MPa for 45 seconds, and further pressing at 120 ° C. for 60 seconds at a crimping pressure of 0.5 MPa as the second stage. Then, it cooled to room temperature, and the printed wiring board which arranged the composite film was obtained.
Next, the printed wiring board on which the composite film is arranged is cured in an explosion-proof dryer at 130 ° C. for 20 minutes as the first-stage curing with the support attached, and then as the second-stage curing. Curing was carried out in an explosion-proof dryer at 190 ° C. for 40 minutes to obtain a printed wiring board on which an interlayer insulating layer was formed. Then, the support was peeled off to obtain a printed wiring board.
By visually observing the copper wiring part of this printed wiring board, the one having good embedding property and flatness of the copper wiring having a width of 5 mm and the copper wiring having a width of 100 μm is “A”, and the embedding property and flatness are both poor. The thing was evaluated as "C".

Figure 0006880585
Figure 0006880585

表2より、実施例2及び3のプリント配線板は、誘電正接が小さく、回路等の凹凸に対する埋め込み性に優れ、さらに表面粗さが小さい(つまり表面平坦性に優れる)ながらも、めっき銅との接着性に優れる層間絶縁層を有しており、微細配線の形成に好適であることが分かる。 From Table 2, the printed wiring boards of Examples 2 and 3 have a small dielectric loss tangent, are excellent in embedding in irregularities of circuits and the like, and have a small surface roughness (that is, excellent surface flatness), but are made of plated copper. It can be seen that it has an interlayer insulating layer having excellent adhesiveness and is suitable for forming fine wiring.

本発明の複合フィルムは、誘電正接が低く、回路等の凹凸に対する埋め込み性に優れ、表面平滑性に優れ、且つめっき銅との高接着性を有する。したがって、本発明の複合フィルム及びプリント配線板は、コンピュータ、携帯電話、デジタルカメラ、テレビ等の電気製品、自動二輪車、自動車、電車、船舶、航空機等の乗り物に有用である。 The composite film of the present invention has a low dielectric loss tangent, excellent embedding property in irregularities such as circuits, excellent surface smoothness, and high adhesiveness to plated copper. Therefore, the composite film and printed wiring board of the present invention are useful for electric appliances such as computers, mobile phones, digital cameras and televisions, and vehicles such as motorcycles, automobiles, trains, ships and aircraft.

1 A層
2 B層
3 支持体
4 保護フィルム
1 A layer 2 B layer 3 Support 4 Protective film

Claims (9)

80〜150℃における最低溶融粘度が100〜4,000Pa・sであるA層、及び
80〜150℃における最低溶融粘度が50,000Pa・s以上であるB層
を有する、高周波帯域の信号を使用する電子機器用複合フィルムであって、
前記A層が、脂肪族マレイミド化合物由来の構造単位とジアミン化合物由来の構造単位とを有するポリイミド化合物と、無機充填材とを含有し、且つ、前記脂肪族マレイミド化合物のイミド基間の炭素数が6〜40個である、高周波帯域の信号を使用する電子機器用複合フィルム
Uses high frequency band signals with layer A having a minimum melt viscosity of 100-4,000 Pa · s at 80-150 ° C and layer B having a minimum melt viscosity of 50,000 Pa · s or more at 80-150 ° C. a composite film for electronic devices to be,
The layer A contains a polyimide compound having a structural unit derived from an aliphatic maleimide compound and a structural unit derived from a diamine compound, and an inorganic filler, and the number of carbon atoms between the imide groups of the aliphatic maleimide compound is high. A composite film for electronic devices that uses 6 to 40 signals in the high frequency band .
前記B層の厚みが1〜5μmである、請求項1に記載の高周波帯域の信号を使用する電子機器用複合フィルム。 The composite film for an electronic device using a signal in the high frequency band according to claim 1, wherein the thickness of the B layer is 1 to 5 μm. 前記A層とB層の厚みの合計が15〜50μmである、請求項1又は2に記載の高周波帯域の信号を使用する電子機器用複合フィルム。 The composite film for an electronic device using a signal in the high frequency band according to claim 1 or 2, wherein the total thickness of the A layer and the B layer is 15 to 50 μm. 前記ポリイミド化合物において、脂肪族マレイミド化合物由来の構造単位の含有量が5〜50質量%である、請求項1〜3のいずれか1項に記載の高周波帯域の信号を使用する電子機器用複合フィルム。 The composite film for electronic devices using the signal in the high frequency band according to any one of claims 1 to 3, wherein the content of the structural unit derived from the aliphatic maleimide compound is 5 to 50% by mass in the polyimide compound. .. 前記B層が、多官能エポキシ樹脂とフェノール性水酸基含有ポリブタジエン変性ポリアミド樹脂とを含有する、請求項1〜4のいずれか1項に記載の高周波帯域の信号を使用する電子機器用複合フィルム。 The composite film for electronic devices using the signal in the high frequency band according to any one of claims 1 to 4, wherein the B layer contains a polyfunctional epoxy resin and a phenolic hydroxyl group-containing polybutadiene-modified polyamide resin. 硬化物の5GHzにおける誘電正接が0.005以下である、請求項1〜5のいずれか1項に記載の高周波帯域の信号を使用する電子機器用複合フィルム。 The composite film for an electronic device using a signal in the high frequency band according to any one of claims 1 to 5, wherein the cured product has a dielectric loss tangent of 0.005 or less at 5 GHz. 請求項1〜6のいずれか1項に記載の電子機器用複合フィルムの硬化物を含有するプリント配線板。 A printed wiring board containing a cured product of the composite film for electronic devices according to any one of claims 1 to 6. 請求項1〜6のいずれか1項に記載の電子機器用複合フィルムを、基材の片面又は両面にラミネートする工程(1)を有する、プリント配線板の製造方法。 A method for manufacturing a printed wiring board, comprising the step (1) of laminating the composite film for electronic devices according to any one of claims 1 to 6 on one side or both sides of a base material. 請求項1〜6のいずれか1項に記載の電子機器用複合フィルムを用いて、表面に回路又は部品による段差を有する基板に前記電子機器用複合フィルムのA層側を貼付し、前記段差を充填する工程、
前記電子機器用複合フィルムのA層及びB層を硬化する工程、
前記電子機器用複合フィルムのB層側の面上にセミアディティブ法で回路を形成する工程、
を有する、プリント配線板の製造方法。
Using the composite film for electronic devices according to any one of claims 1 to 6, the A layer side of the composite film for electronic devices is attached to a substrate having a step due to a circuit or a component on the surface, and the step is formed. Filling process,
A step of curing the A layer and the B layer of the composite film for electronic devices,
A step of forming a circuit on the surface of the composite film for electronic devices on the B layer side by a semi-additive method.
A method for manufacturing a printed wiring board.
JP2016142869A 2016-07-20 2016-07-20 Composite films for electronic devices, printed wiring boards and their manufacturing methods that use signals in the high frequency band Active JP6880585B2 (en)

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