JP2018014388A - Thermosetting resin composition, resin film for interlayer insulation, printed wiring board and method for manufacturing the same - Google Patents

Thermosetting resin composition, resin film for interlayer insulation, printed wiring board and method for manufacturing the same Download PDF

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哲郎 岩倉
彩 笠原
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彩 笠原
入野 哲朗
Tetsuro Irino
哲朗 入野
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a composite film for an electronic device using high-frequency band signals, which is low in dielectric dissipation factor, superior in surface smoothness, and high in the adhesion with plated copper; a printed wiring board including a cured product of the composite film for an electronic device; and a method for manufacturing the printed wiring board.SOLUTION: A composite film for an electronic device using high-frequency band signals, a printed wiring board including a cured product of the composite film for an electronic device, and a method for manufacturing the printed wiring board are disclosed. The composite film comprises an A layer and a B layer, in which the thickness of the B layer is 1-5 μm.SELECTED DRAWING: Figure 1

Description

本発明は、熱硬化性樹脂組成物、層間絶縁用樹脂フィルム、プリント配線板及びその製造方法に関する。   The present invention relates to a thermosetting resin composition, a resin film for interlayer insulation, a printed wiring board, and a method for producing the same.

近年、電子機器の小型化、軽量化、多機能化等が一段と進み、これに伴って、LSI(Large Scale Integration)、チップ部品等の高集積化が進み、その形態も多ピン化及び小型化へと急速に変化している。このため、電子部品の実装密度を向上するために、多層プリント配線板の微細配線化の開発が進められている。これらの要求に合致する多層プリント配線板としては、ガラスクロスを含まない絶縁樹脂フィルムを、プリプレグの代わりに絶縁層(以下、「ビルドアップ層」ともいう)として用いるビルドアップ構造の多層プリント配線板が、軽量化、小型化及び微細化に適したプリント配線板として主流になりつつある。   In recent years, electronic devices have been further reduced in size, weight, and functionality, and along with this, LSI (Large Scale Integration), chip parts, etc. have been highly integrated, and their forms are also multi-pin and miniaturized. It is changing rapidly. For this reason, in order to improve the mounting density of electronic components, development of micro wiring of a multilayer printed wiring board has been advanced. As a multilayer printed wiring board meeting these requirements, a multilayer printed wiring board having a build-up structure in which an insulating resin film not containing glass cloth is used as an insulating layer (hereinafter also referred to as “build-up layer”) instead of a prepreg. However, it is becoming mainstream as a printed wiring board suitable for weight reduction, miniaturization and miniaturization.

ビルドアップ層は、加工寸法安定性の向上及び半導体実装後の反り量の低減のために、低熱膨張化が求められている。ビルドアップ層を低熱膨張化する方法の一つとして、無機充填材を高充填する方法が挙げられる。例えば、ビルドアップ層の40質量%以上をシリカフィラーとすることによって、ビルドアップ層の低熱膨張化が図られている(特許文献1〜3)。   The build-up layer is required to have a low thermal expansion in order to improve the processing dimension stability and reduce the amount of warpage after semiconductor mounting. One method for reducing the thermal expansion of the build-up layer is a method of highly filling an inorganic filler. For example, low thermal expansion of the buildup layer is achieved by using 40% by mass or more of the buildup layer as a silica filler (Patent Documents 1 to 3).

一方で、コンピュータ、情報通信機器は近年ますます高性能化及び高機能化し、大量のデータを高速で処理するために、扱う信号が高周波化する傾向にある。特に携帯電話及び衛星放送に使用される電波の周波数領域はGHz帯の高周波領域のものが使用されており、高周波化による伝送損失を抑制するため、高周波領域で使用する有機材料としては、比誘電率及び誘電正接が低い材料が望まれている。
これに対し様々な取り組みがなされてきた。例えば、特許文献4には、シアネート樹脂を含有する樹脂組成物が開示されている。
On the other hand, in recent years, computers and information communication devices have become more and more sophisticated and highly functional, and in order to process a large amount of data at high speed, signals to be handled tend to become higher in frequency. In particular, the frequency range of radio waves used in mobile phones and satellite broadcasts is in the high frequency range of the GHz band. In order to suppress transmission loss due to higher frequencies, organic materials used in the high frequency range include dielectrics. Materials with low rates and dielectric loss tangents are desired.
Various efforts have been made for this. For example, Patent Document 4 discloses a resin composition containing a cyanate resin.

特開2007−87982号公報JP 2007-87982 A 特開2009−280758号公報JP 2009-280758 A 特開2005−39247号公報JP 2005-39247 A 特開2014−136779号公報Japanese Patent Application Laid-Open No. 2014-136791

ビルドアップ構造の多層プリント配線板を適用するべく、従来よりも更に優れた高周波特性を有するフィルムの要求が高まってきている。また、ビルドアップ構造の多層プリント配線板として、めっき銅との項接着性を有することが要求されている。   In order to apply a multilayer printed wiring board having a build-up structure, there is an increasing demand for a film having a higher frequency characteristic than that of the prior art. In addition, as a multilayer printed wiring board having a build-up structure, it is required to have term adhesiveness with plated copper.

本発明は、このような状況に鑑みなされたものであり、誘電正接が低く、表面平滑性に優れ、且つめっき銅との高接着性を有する、高周波帯域の信号を使用する電子機器用複合フィルムを提供すること、及び、該電子機器用複合フィルムの硬化物を含有するプリント配線板、並びにプリント配線板の製造方法を提供することを課題とする。   The present invention has been made in view of such a situation, and has a low dielectric loss tangent, excellent surface smoothness, and high adhesiveness with plated copper, and a composite film for electronic equipment using a signal in a high frequency band. It is an object to provide a printed wiring board containing a cured product of the composite film for electronic devices, and a method for manufacturing the printed wiring board.

本発明者らは、上記の課題を解決すべく検討を進めた結果、特定の複合フィルムが上記課題を解決できることを見出した。すなわち、本発明は、次の[1]〜[6]を提供する。
[1]A層とB層とを備え、B層の厚みが1〜5μmである高周波帯域の信号を使用する電子機器用複合フィルム。
[2]A層の厚みが10〜40μmである[1]に記載の高周波帯域の信号を使用する電子機器用複合フィルム。
[3]A層とB層とを備え、B層のデスミア後の重量減少が1g/m2以下である高周波帯域の信号を使用する電子機器用複合フィルム。
[4] A層の80〜150℃での最低溶融粘度が100〜5,000Pa・sであり、B層の80〜150℃での最低溶融粘度が50,000Pa・s以上である[1]〜[3]のいずれかに記載の高周波帯域の信号を使用する電子機器用複合フィルム。
[5]A層がマレイミド化合物由来の構造単位とジアミン化合物由来の構造単位とを有するポリイミド化合物と無機充填材とを含有する[1]〜[4]のいずれかに記載の高周波帯域の信号を使用する電子機器用複合フィルム。
[6]B層が多官能エポキシ樹脂とフェノール性水酸基含有ポリアミド樹脂とを含有する[1]〜[5]のいずれかに記載の高周波帯域の信号を使用する電子機器用複合フィルム。
[7]5GHzの誘電正接が0.005以下である[1]〜[6]のいずれかに記載の高周波帯域の信号を使用する電子機器用複合フィルム。
[8]A層とB層とを備える高周波帯域の信号を使用する電子機器用複合フィルムの硬化物と、A層に埋め込まれてなる回路とを有するプリント配線板であって、A層の厚みをa(μm)、B層の厚みをb(μm)、回路の高さをc(μm)としたときに、c≦a≦3cかつ1≦b≦10であるプリント配線板。
[9][1]〜[7]のいずれか1項に記載の高周波帯域の信号を使用する電子機器用複合フィルムを、回路基板の片面又は両面にラミネートする工程を備える、プリント配線板の製造方法。
As a result of studying to solve the above problems, the present inventors have found that a specific composite film can solve the above problems. That is, the present invention provides the following [1] to [6].
[1] A composite film for an electronic device comprising a layer A and a layer B and using a signal in a high frequency band in which the thickness of the layer B is 1 to 5 μm.
[2] A composite film for electronic equipment using a signal in a high frequency band according to [1], wherein the thickness of the A layer is 10 to 40 μm.
[3] A composite film for electronic equipment, which includes a layer A and a layer B, and uses a signal in a high frequency band in which the weight loss after desmearing of the layer B is 1 g / m 2 or less.
[4] The minimum melt viscosity at 80 to 150 ° C. of the A layer is 100 to 5,000 Pa · s, and the minimum melt viscosity at 80 to 150 ° C. of the B layer is 50,000 Pa · s or more. The composite film for electronic devices which uses the signal of the high frequency band in any one of-[3].
[5] The high frequency band signal according to any one of [1] to [4], wherein the A layer contains a polyimide compound having a structural unit derived from a maleimide compound and a structural unit derived from a diamine compound and an inorganic filler. Composite film for electronic equipment to be used.
[6] The composite film for electronic devices using the signal in the high frequency band according to any one of [1] to [5], wherein the B layer contains a polyfunctional epoxy resin and a phenolic hydroxyl group-containing polyamide resin.
[7] A composite film for electronic equipment using a signal in a high frequency band according to any one of [1] to [6], wherein a dielectric loss tangent at 5 GHz is 0.005 or less.
[8] A printed wiring board having a cured product of a composite film for electronic equipment using a signal in a high-frequency band, including an A layer and a B layer, and a circuit embedded in the A layer, the thickness of the A layer Is a (μm), the thickness of the B layer is b (μm), and the height of the circuit is c (μm), a printed wiring board in which c ≦ a ≦ 3c and 1 ≦ b ≦ 10.
[9] Manufacture of a printed wiring board comprising a step of laminating a composite film for electronic equipment using a signal in a high frequency band according to any one of [1] to [7] on one side or both sides of a circuit board Method.

本発明によれば、誘電正接が低く、表面平滑性に優れ、且つめっき銅との高接着性を有する、高周波帯域の信号を使用する電子機器用複合フィルムを提供すること、及び、該電子機器用複合フィルムの硬化物を含有するプリント配線板、並びにプリント配線板の製造方法を提供することが可能となる。   According to the present invention, there is provided a composite film for electronic equipment using a signal in a high frequency band, having a low dielectric loss tangent, excellent surface smoothness, and high adhesion to plated copper, and the electronic equipment It is possible to provide a printed wiring board containing a cured product of a composite film for use, and a method for producing a printed wiring board.

本実施形態の複合フィルムを表す模式断面図である。It is a schematic cross section showing the composite film of this embodiment.

以下、本発明の実施形態について詳細に説明する。なお、本明細書においてはX以上でありY以下である数値範囲(X、Yは実数)を「X〜Y」と表すことがある。例えば、「0.1〜2」という記載は0.1以上であり2以下である数値範囲を示し、当該数値範囲には0.1、0.34、1.03、2等が含まれる。   Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail. In this specification, a numerical range that is greater than or equal to X and less than or equal to Y (X and Y are real numbers) may be expressed as “X to Y”. For example, the description “0.1-2” indicates a numerical range that is 0.1 or more and 2 or less, and the numerical range includes 0.1, 0.34, 1.03, 2, and the like.

本明細書において「複合フィルム」は、含有する樹脂組成物が未硬化である複合フィルム、及び含有する樹脂組成物を半硬化させた(いわゆるBステージ状とした)複合フィルムの両方を含む。
また、本明細書において、複合フィルムの「複合」とは、フィルムが複数の樹脂層から形成されていることを意味し、その態様が含まれていれば、さらに支持体及び保護フィルム等からなる他の層を有していてもよい。
In the present specification, the “composite film” includes both a composite film in which the resin composition contained is uncured and a composite film obtained by semi-curing the resin composition contained in a so-called B-stage form.
In this specification, “composite” of a composite film means that the film is formed of a plurality of resin layers, and if the mode is included, the composite film further includes a support and a protective film. You may have another layer.

また、本明細書において「層間絶縁層」とは、2層の導体層の間に位置し、当該導体層を絶縁するための層である。本明細書の「層間絶縁層」は、例えば、複合フィルムの硬化物が挙げられる。なお、本明細書において「層」とは、一部が欠けているもの、ビア又はパターンが形成されているものも含む。   Further, in this specification, the “interlayer insulating layer” is a layer that is located between two conductor layers and insulates the conductor layer. Examples of the “interlayer insulating layer” in the present specification include a cured product of a composite film. Note that in this specification, the “layer” includes a part in which a part is missing and a part in which a via or a pattern is formed.

[高周波帯域の信号を使用する電子機器用複合フィルム]
本発明に係る電子機器用複合フィルムは、少なくともA層とB層とを備える。
[Composite film for electronic equipment using high-frequency band signals]
The composite film for electronic devices according to the present invention includes at least an A layer and a B layer.

本発明の複合フィルムは、前記A層と前記B層を有し、B層においてA層と反対側の面に支持体が設けられていてもよい。この場合、A層/B層/支持体という構成になる。支持体としては、例えば、ポリエチレン、ポリプロピレン、ポリ塩化ビニル等のポリオレフィンのフィルム;ポリエチレンテレフタレート(以下、「PET」ともいう)、ポリエチレンナフタレート等のポリエステルのフィルム;ポリカーボネートフィルム、ポリイミドフィルム等の各種プラスチックフィルムなどが挙げられる。また、銅箔、アルミニウム箔等の金属箔、離型紙などを使用してもよい。支持体及び後述する保護フィルムには、マット処理、コロナ処理等の表面処理が施してあってもよい。また、支持体には、シリコーン樹脂系離型剤、アルキッド樹脂系離型剤、フッ素樹脂系離型剤等による離型処理が施してあってもよい。
支持体の厚さは特に限定されないが、10〜150μmが好ましく、25〜50μmがより好ましい。
The composite film of the present invention has the A layer and the B layer, and a support may be provided on the surface of the B layer opposite to the A layer. In this case, the configuration is A layer / B layer / support. Examples of the support include polyolefin films such as polyethylene, polypropylene and polyvinyl chloride; polyester films such as polyethylene terephthalate (hereinafter also referred to as “PET”) and polyethylene naphthalate; various plastics such as polycarbonate films and polyimide films. A film etc. are mentioned. Moreover, you may use metal foil, release paper, etc., such as copper foil and aluminum foil. The support and the protective film described later may be subjected to surface treatment such as mat treatment or corona treatment. The support may be subjected to a release treatment with a silicone resin release agent, an alkyd resin release agent, a fluororesin release agent, or the like.
Although the thickness of a support body is not specifically limited, 10-150 micrometers is preferable and 25-50 micrometers is more preferable.

本発明の複合フィルムは、保護フィルムが設けられていてもよい。例えば、A層においてB層とは反対側の面に保護フィルムを設ける態様が挙げられる。この場合、例えば、保護フィルム/A層/B層、保護フィルム/A層/B層/支持体、等の構成になる。
保護フィルムとしては、例えば、ポリテトラフルオロエチレンフィルム、ポリエチレンテレフタレートフィルム、ポリエチレンフィルム、ポリプロピレンフィルム、ポリメチルペンテンフィルム、ポリイミドフィルム等のプラスチックフィルムなどが挙げられる。また、保護フィルムには、必要に応じて、プライマー塗布、UV処理、コロナ放電処理、研磨処理、エッチング処理、離型処理等の表面処理が施されていてもよい。
なお、前記支持体を保護フィルムとして使用してもよい。
The composite film of the present invention may be provided with a protective film. For example, the aspect which provides a protective film in the surface on the opposite side to B layer in A layer is mentioned. In this case, for example, the protective film / A layer / B layer, protective film / A layer / B layer / support, and the like are configured.
Examples of the protective film include a plastic film such as a polytetrafluoroethylene film, a polyethylene terephthalate film, a polyethylene film, a polypropylene film, a polymethylpentene film, and a polyimide film. In addition, the protective film may be subjected to surface treatment such as primer coating, UV treatment, corona discharge treatment, polishing treatment, etching treatment, mold release treatment, and the like as necessary.
The support may be used as a protective film.

本発明の複合フィルムは、例えば、前記支持体の上にB層を形成し、該B層の上にA層を形成し、必要に応じてA層の上に保護層を形成する方法により製造することができる。B層の形成には、後述するB層用ワニスを支持体に塗工した後、加熱乾燥させ、さらにその上に後述するA層用ワニスを塗工した後、加熱乾燥させることにより形成することができる。ワニスを塗工する方法としては、例えば、コンマコーター、バーコーター、キスコーター、ロールコーター、グラビアコーター、ダイコーター等の塗工装置を用いることができる。これらの塗工装置は、膜厚によって、適宜選択することが好ましい。
塗工後の乾燥条件は、特に限定されず、溶剤の種類に応じて適宜決定すればよい。例えば、乾燥温度は、A層を形成する場合には、50〜130℃が好ましく、70〜110℃がより好ましい。乾燥時間は、A層を形成する場合には、例えば、1〜10分間とすることができる。例えば、乾燥温度は、B層を形成する場合には、50〜150℃が好ましく、100〜145℃がより好ましい。乾燥時間は、B層を形成する場合には、例えば、1〜10分間とすることができる。
上記乾燥においては、乾燥後のA層又はB層中の揮発成分(主に有機溶媒)の含有量が、10質量%以下となるように乾燥させることが好ましく、6質量%以下となるように乾燥させることがより好ましい。
The composite film of the present invention is produced, for example, by a method in which a B layer is formed on the support, an A layer is formed on the B layer, and a protective layer is formed on the A layer as necessary. can do. For the formation of the B layer, a B layer varnish, which will be described later, is applied to the support, and then dried by heating. Further, the A layer varnish, which will be described later, is applied thereon, and then heated and dried. Can do. As a method for coating the varnish, for example, a coating apparatus such as a comma coater, a bar coater, a kiss coater, a roll coater, a gravure coater, or a die coater can be used. These coating apparatuses are preferably selected as appropriate depending on the film thickness.
The drying conditions after coating are not particularly limited, and may be appropriately determined according to the type of solvent. For example, when forming the A layer, the drying temperature is preferably 50 to 130 ° C, more preferably 70 to 110 ° C. When the A layer is formed, the drying time can be, for example, 1 to 10 minutes. For example, when the B layer is formed, the drying temperature is preferably 50 to 150 ° C, more preferably 100 to 145 ° C. When the B layer is formed, the drying time can be, for example, 1 to 10 minutes.
In the said drying, it is preferable to dry so that content of the volatile component (mainly organic solvent) in the A layer or B layer after drying may be 10 mass% or less, and it may become 6 mass% or less. More preferably, it is dried.

また、本発明の複合フィルムは、A層のフィルム及びB層のフィルムをそれぞれ作製し、軟化温度以上で熱圧着及びラミネーター等により貼り合わせることによっても製造できる。   In addition, the composite film of the present invention can also be produced by preparing an A-layer film and a B-layer film and bonding them together using a thermocompression bonding or laminator at a softening temperature or higher.

本発明の複合フィルムにおいて、回路の凹凸高さを埋め込むために、A層の厚みは、10〜40μmであることが好ましい。A層の厚みは15〜35μmであるとより好ましく、20〜35μmであると更に好ましい。   In the composite film of the present invention, the thickness of the A layer is preferably 10 to 40 μm in order to embed the uneven height of the circuit. The thickness of the A layer is more preferably 15 to 35 μm, and further preferably 20 to 35 μm.

一方、B層は、セミアディティブ法に適応できる層である。表面平坦性を確保し、めっき銅との高接着性を確保するため、B層の厚みは1〜5μmであることが好ましく、1〜3μmであることがより好ましく、1.5〜3μmであることがさらに好ましい。B層の厚みが1μm以上であれば、回路の凹凸への埋め込みの際にB層が破断してA層が表面に露出するのを避け易く、且つ、デスミアプロセスでB層が溶出して消失してしまうおそれが少ない。一方、5μm以下であれば、表面平坦性の低下を抑制し易いとともに、基板を薄型化できるために好ましい。   On the other hand, the B layer is a layer that can be applied to the semi-additive method. In order to ensure surface flatness and ensure high adhesiveness with plated copper, the thickness of the B layer is preferably 1 to 5 μm, more preferably 1 to 3 μm, and more preferably 1.5 to 3 μm. More preferably. If the thickness of the B layer is 1 μm or more, it is easy to avoid the B layer from breaking and being exposed on the surface when embedding in the unevenness of the circuit, and the B layer is eluted and disappears by the desmear process. There is little possibility of doing. On the other hand, if it is 5 micrometers or less, while being easy to suppress the fall of surface flatness and being able to make a board | substrate thin, it is preferable.

A層の厚みをa(μm)、B層の厚みをb(μm)、回路の高さをc(μm)としたときに、c≦a≦2cかつ1≦b≦5の関係を満たすような複合フィルムとすることが好ましい。この関係を満たすようなフィルムであれば、充分な埋め込み性と微細回路形成性を両立できる。   When the thickness of the A layer is a (μm), the thickness of the B layer is b (μm), and the height of the circuit is c (μm), the relationship of c ≦ a ≦ 2c and 1 ≦ b ≦ 5 is satisfied. It is preferable to use a composite film. A film satisfying this relationship can achieve both sufficient embedding and fine circuit formability.

B層のデスミア後の重量減少は、1g/m2以下であることが好ましい。デスミア後の重量減少は、例えば、実施例に記載の方法で粗化を行い、当該粗化での前後の重量を比較することで測定できる。デスミア後の重量減少は、0.8g/m2以下であると寄り好ましく、0.7g/m2以下であると更に好ましい。   The weight loss after desmearing of the B layer is preferably 1 g / m 2 or less. The weight reduction after desmearing can be measured by, for example, roughening by the method described in the Examples and comparing the weight before and after the roughening. The weight loss after desmearing is preferably 0.8 g / m 2 or less, and more preferably 0.7 g / m 2 or less.

A層は、80〜150℃における最低溶融粘度が100〜4,000Pa・sであると好ましい。この範囲であれば、A層を80〜150℃で流動させることができ、埋め込み性の観点から好ましい。A層の80〜150℃における最低溶融粘度は、500〜2,000Pa・sであることがより好ましく、700〜2,000Pa・sであることがさらに好ましい。ここで、最低溶融粘度とは、硬化開始前に樹脂組成物が溶融したときの粘度である。
80〜150℃における最低溶融粘度が100Pa・s以上であることにより、フィルムの流動性が大きくなり過ぎず、埋め込み後の複合フィルムの表面平坦性を保ち易くなり、基板の厚みにバラツキが発生するのを抑制できる。また、4,000Pa・s以下であることにより、流動性が良好となり、配線の凹凸を埋め込み易くなる。
The A layer preferably has a minimum melt viscosity at 80 to 150 ° C. of 100 to 4,000 Pa · s. If it is this range, A layer can be made to flow at 80-150 degreeC, and it is preferable from a viewpoint of an embedding property. The minimum melt viscosity at 80 to 150 ° C. of the A layer is more preferably 500 to 2,000 Pa · s, and further preferably 700 to 2,000 Pa · s. Here, the minimum melt viscosity is the viscosity when the resin composition is melted before the start of curing.
When the minimum melt viscosity at 80 to 150 ° C. is 100 Pa · s or more, the fluidity of the film does not increase excessively, it becomes easy to maintain the surface flatness of the composite film after embedding, and the thickness of the substrate varies. Can be suppressed. Moreover, when it is 4,000 Pa · s or less, the fluidity is improved and the unevenness of the wiring is easily embedded.

一方、B層は、80〜150℃における最低溶融粘度が50,000Pa・s以上であると好ましい。B層は、複合フィルムを回路へ埋め込む時にB層が一定の厚みを保つとともに、埋め込み後の複合フィルムの表面平坦性を保ち易い。同様の観点から、B層の80〜150℃における最低溶融粘度は、50,000〜100,000Pa・sであることが好ましく、50,000〜75,000Pa・sであることがより好ましく、60,000〜75,000Pa・sであることがさらに好ましく、63,000〜70,000Pa・sであることが特に好ましい。   On the other hand, the B layer preferably has a minimum melt viscosity at 80 to 150 ° C. of 50,000 Pa · s or more. The B layer maintains a constant thickness when the composite film is embedded in a circuit, and it is easy to maintain the surface flatness of the composite film after embedding. From the same viewpoint, the minimum melt viscosity of the B layer at 80 to 150 ° C. is preferably 50,000 to 100,000 Pa · s, more preferably 50,000 to 75,000 Pa · s, 60 It is more preferable that it is 5,000-75,000 Pa.s, and it is especially preferable that it is 63,000-70,000 Pa.s.

本発明の複合フィルムは、熱又は活性エネルギー線によって硬化させることができる。活性エネルギー線としては、例えば、紫外線、可視光線、赤外線、X線等の電磁波;α線、γ線、電子線等の粒子線が挙げられる。これらの中でも、紫外線が好ましい。   The composite film of the present invention can be cured by heat or active energy rays. Examples of the active energy rays include electromagnetic waves such as ultraviolet rays, visible rays, infrared rays, and X-rays; and particle rays such as α rays, γ rays, and electron beams. Among these, ultraviolet rays are preferable.

本発明の複合フィルムの一例を、模式断面図として図1に示す。本発明に係る複合フィルムは、第一の樹脂層1及び第二の樹脂層2、並びに必要に応じて支持体3及び/又は保護フィルム4を備えている。
なお、第一の樹脂層1と第二の樹脂層2との間には、明確な界面が存在せず、例えば、第一の樹脂層1の構成成分の一部と、第二の樹脂層2の構成成分の一部とが、相溶及び/又は混合した状態であってもよい。
An example of the composite film of the present invention is shown in FIG. 1 as a schematic cross-sectional view. The composite film according to the present invention includes a first resin layer 1 and a second resin layer 2, and a support 3 and / or a protective film 4 as necessary.
Note that there is no clear interface between the first resin layer 1 and the second resin layer 2, for example, part of the constituent components of the first resin layer 1 and the second resin layer A part of the two constituent components may be in a compatible and / or mixed state.

本発明の複合フィルムは、上記条件を満たしている限り、各層の成分は特に制限されないが、実施態様の一例として、以下にA層及びB層の成分について説明する。   In the composite film of the present invention, the components of each layer are not particularly limited as long as the above conditions are satisfied, but the components of the A layer and the B layer will be described below as an example of the embodiment.

[A層の成分]
A層の成分としては、樹脂組成物が挙げられる。樹脂組成物としては、例えば、マレイミド化合物由来の構造単位とジアミン化合物由来の構造単位とを有するポリイミド化合物(a1)と無機充填材(a2)とを含有する樹脂組成物が好ましく、特に、該無機充填材(a2)の含有量が樹脂組成物の固形分に対して55体積%以上であるとより好ましい。以下、各成分について詳述する。
[Components of layer A]
A resin composition is mentioned as a component of A layer. As the resin composition, for example, a resin composition containing a polyimide compound (a1) having a structural unit derived from a maleimide compound and a structural unit derived from a diamine compound and an inorganic filler (a2) is preferable. More preferably, the content of the filler (a2) is 55% by volume or more based on the solid content of the resin composition. Hereinafter, each component will be described in detail.

<ポリイミド化合物(a1)>
ポリイミド化合物(a1)は、マレイミド化合物由来の構造単位とジアミン化合物由来の構造単位とを有するものである。マレイミド化合物としては、脂肪族マレイミド化合物を含むことが好ましい。
脂肪族マレイミド化合物は、イミド基間の炭素数が6〜40個であることが好ましく、また、N−置換マレイミド基の数が少なくとも2個であることが好ましい。脂肪族マレイミド化合物由来の構造単位を有するポリイミド化合物(a1)を用いることで、誘電正接が低く、フィルムにした際の取り扱い性に優れる傾向にある。
脂肪族マレイミド化合物としては、例えば、1,6−ビスマレイミド−(2,2,4−トリメチル)ヘキサン、ピロリロン酸バインダ型長鎖アルキルビスマレイミド等が挙げられる。これらは1種を単独で用いてもよいし、2種以上を併用してもよい。脂肪族マレイミドは、熱膨張率が低く、高ガラス転移温度を有するという観点から、1,6−ビスマレイミド−(2,2,4−トリメチル)ヘキサンがより好ましい。
<Polyimide compound (a1)>
The polyimide compound (a1) has a structural unit derived from a maleimide compound and a structural unit derived from a diamine compound. The maleimide compound preferably includes an aliphatic maleimide compound.
The aliphatic maleimide compound preferably has 6 to 40 carbon atoms between imide groups, and preferably has at least two N-substituted maleimide groups. By using the polyimide compound (a1) having a structural unit derived from an aliphatic maleimide compound, the dielectric loss tangent is low, and the handling property when formed into a film tends to be excellent.
Examples of the aliphatic maleimide compound include 1,6-bismaleimide- (2,2,4-trimethyl) hexane, pyrroluronic acid binder type long-chain alkyl bismaleimide, and the like. These may be used individually by 1 type and may use 2 or more types together. The aliphatic maleimide is more preferably 1,6-bismaleimide- (2,2,4-trimethyl) hexane from the viewpoint that the coefficient of thermal expansion is low and the glass transition temperature is high.

また、マレイミド化合物は脂肪族マレイミド化合物以外のマレイミド化合物を含んでもよく、そのマレイミド化合物はN−置換マレイミド基を2個以上有するマレイミド化合物であれば、特に限定されない。例えば、ビス(4−マレイミドフェニル)メタン、ポリフェニルメタンマレイミド、ビス(4−マレイミドフェニル)エーテル、ビス(4−マレイミドフェニル)スルホン、3,3’−ジメチル−5,5’−ジエチル−4,4’−ジフェニルメタンビスマレイミド、4−メチル−1,3−フェニレンビスマレイミド、m−フェニレンビスマレイミド、2,2−ビス[4−(4−マレイミドフェノキシ)フェニル]プロパン等が挙げられる。これらは1種を単独で用いてもよいし、2種以上を併用してもよい。これらの中でも、導体との接着性及び機械特性の観点から、2,2−ビス[4−(4−マレイミドフェノキシ)フェニル]プロパンが好ましい。   Further, the maleimide compound may include a maleimide compound other than the aliphatic maleimide compound, and the maleimide compound is not particularly limited as long as it is a maleimide compound having two or more N-substituted maleimide groups. For example, bis (4-maleimidophenyl) methane, polyphenylmethanemaleimide, bis (4-maleimidophenyl) ether, bis (4-maleimidophenyl) sulfone, 3,3′-dimethyl-5,5′-diethyl-4, Examples include 4′-diphenylmethane bismaleimide, 4-methyl-1,3-phenylene bismaleimide, m-phenylene bismaleimide, 2,2-bis [4- (4-maleimidophenoxy) phenyl] propane, and the like. These may be used individually by 1 type and may use 2 or more types together. Among these, 2,2-bis [4- (4-maleimidophenoxy) phenyl] propane is preferable from the viewpoints of adhesion to a conductor and mechanical properties.

ポリイミド化合物(a1)中における、脂肪族マレイミド化合物由来の構造単位の含有量は、仕込み量換算で、5質量%以上が好ましく、10質量%以上がさらに好ましい。上限は特に限定されず、100質量%であってもよいが、好ましくは80質量%以下、より好ましくは60質量%以下、さらに好ましくは40質量%以下、特に好ましくは30質量%以下である。脂肪族マレイミド化合物由来の構造単位の含有量が上記範囲内であると、樹脂組成物において、より良好な高周波特性、フィルム取り扱い性が得られる傾向にある。
また、マレイミド化合物由来の構造単位の合計含有量に対する脂肪族マレイミド化合物由来の構造単位の含有量は、仕込み量換算で、5〜50質量%が好ましく、10〜40質量%がより好ましい。
The content of the structural unit derived from the aliphatic maleimide compound in the polyimide compound (a1) is preferably 5% by mass or more, and more preferably 10% by mass or more in terms of charge. The upper limit is not particularly limited and may be 100% by mass, but is preferably 80% by mass or less, more preferably 60% by mass or less, still more preferably 40% by mass or less, and particularly preferably 30% by mass or less. When the content of the structural unit derived from the aliphatic maleimide compound is within the above range, the resin composition tends to obtain better high-frequency characteristics and film handling properties.
Moreover, 5-50 mass% is preferable in conversion of preparation amount, and, as for content of the structural unit derived from an aliphatic maleimide compound with respect to the total content of the structural unit derived from a maleimide compound, 10-40 mass% is more preferable.

マレイミド化合物由来の構造単位としては、例えば、下記一般式(1−1)で表される基、下記一般式(1−2)で表される基等が挙げられる。   Examples of the structural unit derived from the maleimide compound include a group represented by the following general formula (1-1), a group represented by the following general formula (1-2), and the like.

Figure 2018014388
Figure 2018014388

一般式(1−1)及び(1−2)中、Aはマレイミド化合物の残基を示し、*は結合部を示す。
なお、残基とは、原料成分から結合に供された官能基(マレイミド化合物においてはマレイミド基)を除いた部分の構造をいう。
In general formulas (1-1) and (1-2), A 1 represents a residue of a maleimide compound, and * represents a bonding part.
In addition, a residue means the structure of the part remove | excluding the functional group (in the maleimide compound, maleimide group) used for the coupling | bonding from the raw material component.

が示す残基としては、下記一般式(2)、(3)、(4)又は(5)で表される2価の基であることが好ましい。 The residue represented by A 1 is preferably a divalent group represented by the following general formula (2), (3), (4) or (5).

Figure 2018014388
(式中、Rは各々独立に、水素原子、炭素数1〜5の脂肪族炭化水素基、又はハロゲン原子を示す。)
Figure 2018014388
(In the formula, each R 1 independently represents a hydrogen atom, an aliphatic hydrocarbon group having 1 to 5 carbon atoms, or a halogen atom.)

Figure 2018014388
(式中、R及びRは各々独立に、水素原子、炭素数1〜5の脂肪族炭化水素基又はハロゲン原子を示し、Aは炭素数1〜5のアルキレン基若しくはアルキリデン基、エーテル基、スルフィド基、スルフォニル基、カルボオキシ基、ケトン基、単結合又は下記一般式(3−1)で表される基である。)
Figure 2018014388
(In the formula, R 2 and R 3 each independently represents a hydrogen atom, an aliphatic hydrocarbon group having 1 to 5 carbon atoms or a halogen atom, and A 2 represents an alkylene group or alkylidene group having 1 to 5 carbon atoms, ether) A group, a sulfide group, a sulfonyl group, a carbooxy group, a ketone group, a single bond, or a group represented by the following general formula (3-1).)

Figure 2018014388
(式中、R及びRは各々独立に、水素原子、炭素数1〜5の脂肪族炭化水素基又はハロゲン原子を示し、Aは炭素数1〜5のアルキレン基、イソプロピリデン基、エーテル基、スルフィド基、スルフォニル基、カルボオキシ基、ケトン基又は単結合である。)
Figure 2018014388
(Wherein R 4 and R 5 each independently represents a hydrogen atom, an aliphatic hydrocarbon group having 1 to 5 carbon atoms or a halogen atom, A 3 represents an alkylene group having 1 to 5 carbon atoms, an isopropylidene group, Ether group, sulfide group, sulfonyl group, carbooxy group, ketone group or single bond.)

Figure 2018014388
(式中、iは1〜10の整数である。)
Figure 2018014388
(In the formula, i is an integer of 1 to 10.)

Figure 2018014388
(式中、R及びRは各々独立に、水素原子又は炭素数1〜5の脂肪族炭化水素基を示し、jは1〜8の整数である。)
Figure 2018014388
(In the formula, R 6 and R 7 each independently represents a hydrogen atom or an aliphatic hydrocarbon group having 1 to 5 carbon atoms, and j is an integer of 1 to 8).

一般式(2)中のR、一般式(3)中のR及びR、一般式(3−1)中のR及びR、一般式(5)中のR及びRが示す炭素数1〜5の脂肪族炭化水素基としては、例えば、メチル基、エチル基、n−プロピル基、イソプロピル基、n−ブチル基、イソブチル基、t−ブチル基、n−ペンチル基等が挙げられる。該脂肪族炭化水素基としては、炭素数1〜3の脂肪族炭化水素基であってもよく、メチル基であってもよい。
一般式(3)中のA及び一般式(3−1)中のAが示す炭素数1〜5のアルキレン基としては、メチレン基、エチレン基、プロピレン基、ブチレン基、ペンチレン基等が挙げられる。
一般式(3)中のAが示す炭素数1〜5のアルキリデン基としては、エチリデン基、プロピリデン基、イソプロピリデン基、ブチリデン基、イソブチリデン基、ペンチリデン基等が挙げられる。
R 1 in general formula ( 2 ), R 2 and R 3 in general formula ( 3 ), R 4 and R 5 in general formula (3-1), R 6 and R 7 in general formula (5) As the aliphatic hydrocarbon group having 1 to 5 carbon atoms represented by, for example, methyl group, ethyl group, n-propyl group, isopropyl group, n-butyl group, isobutyl group, t-butyl group, n-pentyl group, etc. Is mentioned. The aliphatic hydrocarbon group may be an aliphatic hydrocarbon group having 1 to 3 carbon atoms or a methyl group.
The general formula (3) A 2 and general formula (3-1) alkylene group of 1 to 5 carbon atoms represented by A 3 in in, methylene group, ethylene group, propylene group, butylene group, pentylene group and the like Can be mentioned.
Examples of the alkylidene group having 1 to 5 carbon atoms represented by A 2 in the general formula (3) include an ethylidene group, a propylidene group, an isopropylidene group, a butylidene group, an isobutylidene group, and a pentylidene group.

また、前記ジアミン化合物は、アミノ基を2個有する化合物であれば、特に制限されるものではない。
ジアミン化合物としては、例えば、4,4’−ジアミノジフェニルメタン、4,4’−ジアミノ−3,3’−ジメチルジフェニルメタン、4,4’−ジアミノ−3,3’−ジエチルジフェニルメタン、4,4’−ジアミノジフェニルエーテル、4,4’−ジアミノジフェニルスルホン、3,3’−ジアミノジフェニルスルホン、4,4’−ジアミノジフェニルケトン、4,4’−ジアミノビフェニル、3,3’−ジメチル−4,4’−ジアミノビフェニル、2,2’−ジメチル−4,4’−ジアミノビフェニル、3,3’−ジヒドロキシベンジジン、2,2−ビス(3−アミノ−4−ヒドロキシフェニル)プロパン、3,3’−ジメチル−5,5’−ジエチル−4,4’−ジフェニルメタンジアミン、2,2−ビス(4−アミノフェニル)プロパン、2,2−ビス[4−(4−アミノフェノキシ)フェニル]プロパン、1,3−ビス(3−アミノフェノキシ)ベンゼン、1,3−ビス(4−アミノフェノキシ)ベンゼン、1,4−ビス(4−アミノフェノキシ)ベンゼン、4,4’−ビス(4−アミノフェノキシ)ビフェニル、1,3−ビス{1−[4−(4−アミノフェノキシ)フェニル]−1−メチルエチル}ベンゼン、1,4−ビス{1−[4−(4−アミノフェノキシ)フェニル]−1−メチルエチル}ベンゼン、4,4’−[1,3−フェニレンビス(1−メチルエチリデン)]ビスアニリン、4,4’−[1,4−フェニレンビス(1−メチルエチリデン)]ビスアニリン、3,3’−[1,3−フェニレンビス(1−メチルエチリデン)]ビスアニリン、ビス[4−(4−アミノフェノキシ)フェニル]スルホン、ビス[4−(3−アミノフェノキシ)フェニル]スルホン、9,9−ビス(4−アミノフェニル)フルオレン等が挙げられる。これらは1種を単独で用いてもよいし、2種以上を併用してもよい。
これらの中でも、有機溶媒への溶解性、合成時の反応性及び耐熱性の観点から、4,4’−ジアミノジフェニルメタン、4,4’−ジアミノ−3,3’−ジメチルジフェニルメタン、4,4’−ジアミノ−3,3’−ジエチルジフェニルメタン、2,2−ビス(4−(4−アミノフェノキシ)フェニル)プロパン、4,4’−[1,3−フェニレンビス(1−メチルエチリデン)]ビスアニリン及び4,4’−[1,4−フェニレンビス(1−メチルエチリデン)]ビスアニリンが好ましい。また、ジアミン化合物は、誘電特性及び低吸水性という観点からは、3,3’−ジメチル−5,5’−ジエチル−4,4’−ジアミノジフェニルメタンが好ましい。また、導体との高接着性及び機械特性の観点からは、2,2−ビス[4−(4−アミノフェノキシ)フェニル]プロパンが好ましい。さらに、有機溶媒への溶解性、合成時の反応性、耐熱性、導体との高接着性の観点、並びに優れた高周波特性と低吸湿性を発現できるという観点から、4,4’−[1,3−フェニレンビス(1−メチルエチリデン)]ビスアニリン、4,4’−[1,4−フェニレンビス(1−メチルエチリデン)]ビスアニリンが好ましく、4,4’−[1,3−フェニレンビス(1−メチルエチリデン)]ビスアニリンがより好ましい。
The diamine compound is not particularly limited as long as it is a compound having two amino groups.
Examples of the diamine compound include 4,4′-diaminodiphenylmethane, 4,4′-diamino-3,3′-dimethyldiphenylmethane, 4,4′-diamino-3,3′-diethyldiphenylmethane, 4,4′- Diaminodiphenyl ether, 4,4'-diaminodiphenyl sulfone, 3,3'-diaminodiphenyl sulfone, 4,4'-diaminodiphenyl ketone, 4,4'-diaminobiphenyl, 3,3'-dimethyl-4,4'- Diaminobiphenyl, 2,2′-dimethyl-4,4′-diaminobiphenyl, 3,3′-dihydroxybenzidine, 2,2-bis (3-amino-4-hydroxyphenyl) propane, 3,3′-dimethyl- 5,5′-diethyl-4,4′-diphenylmethanediamine, 2,2-bis (4-aminophenyl) propane, 2,2-bis [4 (4-aminophenoxy) phenyl] propane, 1,3-bis (3-aminophenoxy) benzene, 1,3-bis (4-aminophenoxy) benzene, 1,4-bis (4-aminophenoxy) benzene, 4 , 4′-bis (4-aminophenoxy) biphenyl, 1,3-bis {1- [4- (4-aminophenoxy) phenyl] -1-methylethyl} benzene, 1,4-bis {1- [4 -(4-aminophenoxy) phenyl] -1-methylethyl} benzene, 4,4 '-[1,3-phenylenebis (1-methylethylidene)] bisaniline, 4,4'-[1,4-phenylenebis (1-Methylethylidene)] bisaniline, 3,3 ′-[1,3-phenylenebis (1-methylethylidene)] bisaniline, bis [4- (4-aminophenoxy) pheny ] Sulfone, bis [4- (3-aminophenoxy) phenyl] sulfone, 9,9-bis (4-aminophenyl) fluorene, and the like. These may be used individually by 1 type and may use 2 or more types together.
Among these, 4,4′-diaminodiphenylmethane, 4,4′-diamino-3,3′-dimethyldiphenylmethane, 4,4 ′ from the viewpoints of solubility in organic solvents, reactivity during synthesis, and heat resistance -Diamino-3,3'-diethyldiphenylmethane, 2,2-bis (4- (4-aminophenoxy) phenyl) propane, 4,4 '-[1,3-phenylenebis (1-methylethylidene)] bisaniline and 4,4 ′-[1,4-phenylenebis (1-methylethylidene)] bisaniline is preferred. The diamine compound is preferably 3,3′-dimethyl-5,5′-diethyl-4,4′-diaminodiphenylmethane from the viewpoints of dielectric properties and low water absorption. In addition, 2,2-bis [4- (4-aminophenoxy) phenyl] propane is preferable from the viewpoint of high adhesiveness with a conductor and mechanical properties. Furthermore, from the viewpoints of solubility in organic solvents, reactivity during synthesis, heat resistance, high adhesion to conductors, and excellent high frequency characteristics and low hygroscopicity, 4,4 ′-[1 , 3-phenylenebis (1-methylethylidene)] bisaniline and 4,4 ′-[1,4-phenylenebis (1-methylethylidene)] bisaniline are preferred, and 4,4 ′-[1,3-phenylenebis ( 1-methylethylidene)] bisaniline is more preferred.

ポリイミド化合物(a1)中における、ジアミン化合物由来の構造単位の含有量は、仕込み量換算で、2〜30質量%が好ましく、5〜20質量%がより好ましく、5〜15質量%がさらに好ましい。ジアミン化合物は由来の構造単位の含有量を上記範囲内とすることにより、より良好な高周波特性、耐熱性、難燃性、及びガラス転移温度が得られる傾向にある。   In the polyimide compound (a1), the content of the structural unit derived from the diamine compound is preferably 2 to 30% by mass, more preferably 5 to 20% by mass, and further preferably 5 to 15% by mass in terms of the amount charged. When the content of the structural unit derived from the diamine compound is within the above range, better high-frequency characteristics, heat resistance, flame retardancy, and glass transition temperature tend to be obtained.

ジアミン化合物由来の構造単位としては、例えば、下記一般式(6−1)で表される基、下記一般式(6−2)で表される基等が挙げられる。   Examples of the structural unit derived from the diamine compound include a group represented by the following general formula (6-1), a group represented by the following general formula (6-2), and the like.

Figure 2018014388
Figure 2018014388

一般式(6−1)及び(6−2)中、Aはジアミン化合物の残基を示し、*は結合部を示す。 In the general formulas (6-1) and (6-2), A 4 represents a residue of the diamine compound, and * represents a bonding part.

が示す残基としては、下記一般式(7)で表される2価の基であることが好ましい。 The residue A 4 is shown, is preferably a divalent group represented by the following general formula (7).

Figure 2018014388
(式中、R及びRは各々独立に、水素原子、炭素数1〜5の脂肪族炭化水素基、炭素数1〜5のアルコキシ基、水酸基又はハロゲン原子を示し、Aは炭素数1〜5のアルキレン基若しくはアルキリデン基、エーテル基、スルフィド基、スルフォニル基、カルボオキシ基、ケトン基、フルオレニレン基、単結合、下記一般式(7−1)又は下記一般式(7−2)で表される基である。)
Figure 2018014388
(Wherein R 8 and R 9 each independently represent a hydrogen atom, an aliphatic hydrocarbon group having 1 to 5 carbon atoms, an alkoxy group having 1 to 5 carbon atoms, a hydroxyl group or a halogen atom, and A 5 represents the number of carbon atoms. 1-5 alkylene groups or alkylidene groups, ether groups, sulfide groups, sulfonyl groups, carbooxy groups, ketone groups, fluorenylene groups, single bonds, represented by the following general formula (7-1) or the following general formula (7-2) Group.)

Figure 2018014388
(式中、R10及びR11は各々独立に、水素原子、炭素数1〜5の脂肪族炭化水素基又はハロゲン原子を示し、Aは炭素数1〜5のアルキレン基、イソプロピリデン基、m−又はp−フェニレンジイソプロピリデン基、エーテル基、スルフィド基、スルフォニル基、カルボオキシ基、ケトン基又は単結合である。)
Figure 2018014388
(Wherein R 10 and R 11 each independently represents a hydrogen atom, an aliphatic hydrocarbon group having 1 to 5 carbon atoms or a halogen atom, A 6 represents an alkylene group having 1 to 5 carbon atoms, an isopropylidene group, m- or p-phenylenediisopropylidene group, ether group, sulfide group, sulfonyl group, carbooxy group, ketone group or single bond)

Figure 2018014388
(式中、R12は各々独立に、水素原子、炭素数1〜5の脂肪族炭化水素基又はハロゲン原子を示し、A及びAは炭素数1〜5のアルキレン基、イソプロピリデン基、エーテル基、スルフィド基、スルフォニル基、カルボオキシ基、ケトン基又は単結合である。)
Figure 2018014388
(In the formula, each R 12 independently represents a hydrogen atom, an aliphatic hydrocarbon group having 1 to 5 carbon atoms or a halogen atom, and A 7 and A 8 are an alkylene group having 1 to 5 carbon atoms, an isopropylidene group, Ether group, sulfide group, sulfonyl group, carbooxy group, ketone group or single bond.)

一般式(7)中のR及びR、一般式(7−1)中のR10及びR11、一般式(7−2)中のR12が示す炭素数1〜5の脂肪族炭化水素基は、前記一般式(2)中のRが示す炭素数1〜5の脂肪族炭化水素基と同様に説明される。
一般式(7)中のA、一般式(7−1)中のA、一般式(7−2)中のA及びAが示す炭素数1〜5のアルキレン基としては、前記一般式(3)中のAが示す炭素数1〜5のアルキレン基と同様に説明される。
一般式(7)中のAが示す炭素数1〜5のアルキリデン基としては、前記一般式(3)中のAが示す炭素数1〜5のアルキリデン基と同様に説明される。
R 8 and R 9 in the general formula (7), R 10 and R 11 in the general formula (7-1), the formula (7-2) aliphatic C1-5 indicated R 12 in carbonization hydrogen groups is described similarly to the aliphatic hydrocarbon group having 1 to 5 carbon atoms represented by R 1 in the general formula (2).
As the alkylene group having 1 to 5 carbon atoms represented by A 5 in general formula (7), A 6 in general formula (7-1), A 7 in general formula (7-2) and A 8 , This is explained in the same manner as the alkylene group having 1 to 5 carbon atoms represented by A 2 in the general formula (3).
The alkylidene group having 1 to 5 carbon atoms represented by A 5 in formula (7), is described as with an alkylidene group having 1 to 5 carbon atoms A 2 represents in the general formula (3).

ポリイミド化合物(a1)は、有機溶媒への溶解性、高周波特性、導体との高接着性及びフィルムの成形性等の点から、下記一般式(8)で表されるポリアミノビスマレイミド化合物を含有することが好ましい。   The polyimide compound (a1) contains a polyamino bismaleimide compound represented by the following general formula (8) from the viewpoints of solubility in an organic solvent, high frequency characteristics, high adhesion to a conductor, film formability, and the like. It is preferable.

Figure 2018014388
(式中、Aは前記一般式(1−1)のAと同様に説明され、A10は前記一般式(6−1)のAと同様に説明される。)
Figure 2018014388
(In the formula, A 9 is explained in the same manner as A 1 in the general formula (1-1), and A 10 is explained in the same manner as A 4 in the general formula (6-1).)

(ポリイミド化合物(a1)の製造方法)
ポリイミド化合物(a1)は、例えば、マレイミド化合物とジアミン化合物とを有機溶媒中で反応させることで製造することができる。
ポリイミド化合物(a1)を製造する際に使用される有機溶媒は特に制限はなく、公知の溶媒を使用できる。有機溶媒としては、特に限定されないが、例えば、メタノール、エタノール、ブタノール、ブチルセロソルブ、エチレングリコールモノメチルエーテル、プロピレングリコールモノメチルエーテル等のアルコール;アセトン、メチルエチルケトン、メチルイソブチルケトン、シクロヘキサノン等のケトン;トルエン、キシレン、メシチレン等の芳香族炭化水素;メトキシエチルアセテート、エトキシエチルアセテート、ブトキシエチルアセテート、酢酸エチル等のエステル;N,N−ジメチルホルムアミド、N,N−ジメチルアセトアミド、N−メチル−2−ピロリドン等のアミド系溶媒などが挙げられる。これらは1種を単独で用いてもよいし、2種以上を併用してもよい。これらの中でも、メチルエチルケトン、シクロヘキサノン、プロピレングリコールモノメチルエーテル、N,N−ジメチルホルムアミド、N,N−ジメチルアセトアミドが溶解性の観点から好ましい。
(Method for producing polyimide compound (a1))
The polyimide compound (a1) can be produced, for example, by reacting a maleimide compound and a diamine compound in an organic solvent.
There is no restriction | limiting in particular in the organic solvent used when manufacturing a polyimide compound (a1), A well-known solvent can be used. Examples of the organic solvent include, but are not limited to, alcohols such as methanol, ethanol, butanol, butyl cellosolve, ethylene glycol monomethyl ether, and propylene glycol monomethyl ether; ketones such as acetone, methyl ethyl ketone, methyl isobutyl ketone, and cyclohexanone; toluene, xylene, Aromatic hydrocarbons such as mesitylene; esters such as methoxyethyl acetate, ethoxyethyl acetate, butoxyethyl acetate and ethyl acetate; amides such as N, N-dimethylformamide, N, N-dimethylacetamide and N-methyl-2-pyrrolidone System solvents and the like. These may be used individually by 1 type and may use 2 or more types together. Among these, methyl ethyl ketone, cyclohexanone, propylene glycol monomethyl ether, N, N-dimethylformamide, and N, N-dimethylacetamide are preferable from the viewpoint of solubility.

ポリイミド化合物(a1)を製造する際のマレイミド化合物とジアミン化合物の使用量は、ジアミン化合物の−NH基当量(Ta2)と、マレイミド化合物のマレイミド基当量(Ta1)との当量比(Ta2/Ta1)が0.05〜10.0が好ましく、0.05〜1.0がより好ましく、0.1〜0.8がさらに好ましい。上記範囲内でマレイミド化合物とジアミン化合物を反応させることにより、より良好な高周波特性、耐熱性、難燃性、及びガラス転移温度が得られる傾向にある。 The amount of the maleimide compound and diamine compound used in the production of the polyimide compound (a1) is equivalent to the equivalent ratio of the —NH 2 group equivalent (Ta2) of the diamine compound to the maleimide group equivalent (Ta1) of the maleimide compound (Ta2 / Ta1). ) Is preferably 0.05 to 10.0, more preferably 0.05 to 1.0, and still more preferably 0.1 to 0.8. By reacting the maleimide compound and the diamine compound within the above range, better high-frequency characteristics, heat resistance, flame retardancy, and glass transition temperature tend to be obtained.

マレイミド化合物とジアミン化合物とを反応させてポリイミド化合物(a1)を製造する際には、反応触媒を必要に応じて使用することもできる。反応触媒としては、制限されないが、例えば、p−トルエンスルホン酸等の酸性触媒;トリエチルアミン、ピリジン、トリブチルアミン等のアミン類;メチルイミダゾール、フェニルイミダゾール等のイミダゾール類;トリフェニルホスフィン等のリン系触媒などが挙げられる。これらは1種を単独で用いてもよいし、2種以上を併用してもよい。また、反応触媒の配合量は特に限定されないが、例えば、マレイミド化合物及びジアミン化合物の合計量100質量部に対して、0.01〜5.0質量部の範囲で使用することができる。   When manufacturing a polyimide compound (a1) by making a maleimide compound and a diamine compound react, a reaction catalyst can also be used as needed. Although it does not restrict | limit as a reaction catalyst, For example, Acid catalysts, such as p-toluenesulfonic acid; Amines, such as a triethylamine, a pyridine, and a tributylamine; Imidazoles, such as methylimidazole and phenylimidazole; Etc. These may be used individually by 1 type and may use 2 or more types together. Moreover, although the compounding quantity of a reaction catalyst is not specifically limited, For example, it can be used in 0.01-5.0 mass parts with respect to 100 mass parts of total amounts of a maleimide compound and a diamine compound.

マレイミド化合物、ジアミン化合物、有機溶媒及び必要により反応触媒等を合成釜に所定量仕込み、マイケル付加反応させることによりポリイミド化合物(a1)が得られる。この工程での反応条件は、特に限定されないが、反応速度等の作業性及びゲル化抑制等の観点から、例えば、反応温度は50〜160℃、反応時間は1〜10時間とすることが好ましい。
また、この工程では前述の有機溶媒を追加又は濃縮して、反応原料の固形分濃度、溶液粘度を調整してもよい。反応原料の固形分濃度としては、特に制限されないが、例えば、10〜90質量%が好ましく、20〜80質量%がより好ましい。反応原料の固形分濃度が10質量%以上であると、反応速度が遅くなりすぎず、製造コストの面で有利である。また、反応原料の固形分濃度が90質量%以下であると、良好な溶解性が得られ、攪拌効率が良く、ゲル化することも少ない。
なお、ポリイミド化合物(a1)の製造後に、目的に合わせて有機溶媒の一部又は全部を除去して濃縮してもよく、有機溶媒を追加して希釈してもよい。追加で使用される有機溶媒としては、ポリイミド化合物(a1)の製造方法の説明にて例示した有機溶媒が適用できる。
A polyimide compound (a1) is obtained by charging a maleimide compound, a diamine compound, an organic solvent and, if necessary, a predetermined amount of a reaction catalyst or the like into a synthesis kettle and causing a Michael addition reaction. The reaction conditions in this step are not particularly limited, but from the viewpoint of workability such as reaction rate and suppression of gelation, for example, the reaction temperature is preferably 50 to 160 ° C., and the reaction time is preferably 1 to 10 hours. .
In this step, the above-mentioned organic solvent may be added or concentrated to adjust the solid content concentration of the reaction raw material and the solution viscosity. Although it does not restrict | limit especially as solid content concentration of a reaction raw material, For example, 10-90 mass% is preferable, and 20-80 mass% is more preferable. When the solid content concentration of the reaction raw material is 10% by mass or more, the reaction rate does not become too slow, which is advantageous in terms of production cost. Further, when the solid content concentration of the reaction raw material is 90% by mass or less, good solubility is obtained, the stirring efficiency is good, and gelation is rare.
In addition, after manufacture of a polyimide compound (a1), it may concentrate by removing a part or all of an organic solvent according to the objective, and may add and dilute an organic solvent. As the organic solvent used additionally, the organic solvent exemplified in the description of the method for producing the polyimide compound (a1) can be applied.

ポリイミド化合物(a1)の重量平均分子量(Mw)は、特に限定されないが、例えば、800〜10,000が好ましく、800〜8,000がより好ましく、800〜5,000がさらに好ましく、1,000〜5,000が特に好ましく、1,500〜4,000が最も好ましい。ポリイミド化合物(a1)の重量平均分子量は、実施例に記載の方法により求めることができる。   Although the weight average molecular weight (Mw) of a polyimide compound (a1) is not specifically limited, For example, 800-10,000 are preferable, 800-8,000 are more preferable, 800-5,000 are further more preferable, 1,000 ˜5,000 is particularly preferred, and 1,500 to 4,000 is most preferred. The weight average molecular weight of a polyimide compound (a1) can be calculated | required by the method as described in an Example.

(ポリイミド化合物(a1)の含有量)
樹脂組成物中におけるポリイミド化合物(a1)の含有量は、特に限定されないが、樹脂組成物中に含まれる全樹脂成分に対して40〜95質量%が好ましく、60〜95質量%がより好ましく、65〜85質量%がさらに好ましい。ポリイミド化合物(a1)の含有量を前記範囲内とすることにより、絶縁信頼性に優れ、低熱膨張率、高ガラス転移温度、良好な誘電正接が得られる傾向にある。
(Content of polyimide compound (a1))
Although content of the polyimide compound (a1) in a resin composition is not specifically limited, 40-95 mass% is preferable with respect to all the resin components contained in a resin composition, 60-95 mass% is more preferable, 65-85 mass% is further more preferable. By setting the content of the polyimide compound (a1) within the above range, insulation reliability is excellent, and a low thermal expansion coefficient, a high glass transition temperature, and a good dielectric loss tangent tend to be obtained.

<無機充填材(a2)>
無機充填材(a2)としては、特に限定されないが、例えば、シリカ、アルミナ、硫酸バリウム、タルク、クレー、雲母粉、水酸化アルミニウム、水酸化マグネシウム、炭酸カルシウム、炭酸マグネシウム、酸化マグネシウム、窒化ホウ素、ホウ酸アルミニウム、チタン酸バリウム、チタン酸ストロンチウム、チタン酸カルシウム、チタン酸マグネシウム、チタン酸ビスマス、酸化チタン、ジルコン酸バリウム、ジルコン酸カルシウム等が挙げられる。これらは1種を単独で用いてもよいし、2種以上を併用してもよい。これらの中でも、より低熱膨張化させる観点から、シリカが好ましい。
<Inorganic filler (a2)>
The inorganic filler (a2) is not particularly limited. For example, silica, alumina, barium sulfate, talc, clay, mica powder, aluminum hydroxide, magnesium hydroxide, calcium carbonate, magnesium carbonate, magnesium oxide, boron nitride, Examples thereof include aluminum borate, barium titanate, strontium titanate, calcium titanate, magnesium titanate, bismuth titanate, titanium oxide, barium zirconate, and calcium zirconate. These may be used individually by 1 type and may use 2 or more types together. Among these, silica is preferable from the viewpoint of lowering thermal expansion.

無機充填材(a2)の形状に特に制限はなく、例えば、球状、破砕状、針状又は板状のいずれであってもよいが、樹脂組成物中における分散性向上、有機溶媒に樹脂組成物を溶解又は分散させた樹脂ワニス中における分散性向上、樹脂ワニスの粘度低減による流動性向上、樹脂組成物から形成される絶縁層の表面粗度の増大抑制等の観点から、球状であることが好ましい。   There is no restriction | limiting in particular in the shape of an inorganic filler (a2), For example, any of spherical shape, crushed shape, needle shape, or plate shape may be sufficient, but the dispersibility improvement in a resin composition, a resin composition in an organic solvent From the viewpoint of improving the dispersibility in the resin varnish in which the resin is dissolved or dispersed, improving the fluidity by reducing the viscosity of the resin varnish, and suppressing the increase in the surface roughness of the insulating layer formed from the resin composition, it may be spherical. preferable.

無機充填材(a2)の体積平均粒径は、特に限定されないが、例えば、0.05〜5μmが好ましく、0.1〜3μmがより好ましく、0.2〜1μmがさらに好ましい。成分(a2)の体積平均粒径が5μm以下であれば、層間絶縁層上に回路パターンを形成する際にファインパターンの形成をより安定的に行える傾向にある。また、無機充填材(a2)の体積平均粒径が0.1μm以上であれば、耐熱性がより良好となる傾向にある。
なお、体積平均粒径とは、粒子の全体積を100%として、粒子径による累積度数分布曲線を求めたときの体積50%に相当する点の粒径のことであり、レーザー回折散乱法を用いた粒度分布測定装置等で測定することができる。
Although the volume average particle diameter of an inorganic filler (a2) is not specifically limited, For example, 0.05-5 micrometers is preferable, 0.1-3 micrometers is more preferable, 0.2-1 micrometer is further more preferable. If the volume average particle diameter of the component (a2) is 5 μm or less, the fine pattern tends to be formed more stably when the circuit pattern is formed on the interlayer insulating layer. Moreover, if the volume average particle diameter of the inorganic filler (a2) is 0.1 μm or more, the heat resistance tends to be better.
The volume average particle diameter is a particle diameter at a point corresponding to a volume of 50% when the cumulative frequency distribution curve by the particle diameter is obtained with the total volume of the particles being 100%, and the laser diffraction scattering method is used. It can be measured with the used particle size distribution measuring device or the like.

また、無機充填材(a2)の分散性及び無機充填材(a2)と樹脂組成物中の有機成分との接着性を向上させる目的で、必要に応じ、カップリング剤を併用してもよい。カップリング剤としては特に限定されず、例えば、各種のシランカップリング剤、チタネートカップリング剤等を用いることができる。これらは1種を単独で用いてもよいし、2種以上を併用してもよい。これらの中でも、シランカップリング剤が好ましい。シランカップリング剤としては、アミノシラン系カップリング剤、エポキシシラン系カップリング剤、フェニルシラン系カップリング剤、アルキルシラン系カップリング剤、アルケニルシラン系カップリング剤、メルカプトシラン系カップリング剤等が挙げられる。これらの中でも、無機充填材(a2)の分散性向上の観点、及び無機充填材(a2)と有機成分との接着性向上の観点から、アミノシラン系カップリング剤が好ましい。
また、カップリング剤を使用する場合、その使用量は特に限定されないが、無機充填材(a2)100質量部に対して0.1〜5質量部が好ましく、0.5〜3質量部がより好ましい。この範囲であれば、無機充填材(a2)の使用による特長をより効果的に発揮できる。
カップリング剤を用いる場合、その添加方式は、樹脂組成物中に無機充填材(a2)を配合した後、カップリング剤を添加する、いわゆるインテグラルブレンド処理方式であってもよいし、より効果的に無機充填材(a2)の特長を発現させる観点から、配合前の無機充填材に対して予めカップリング剤を乾式又は湿式で表面処理する方式でもよい。
Moreover, you may use a coupling agent together as needed for the purpose of improving the dispersibility of an inorganic filler (a2) and the adhesiveness of the inorganic filler (a2) and the organic component in a resin composition. It does not specifically limit as a coupling agent, For example, various silane coupling agents, a titanate coupling agent, etc. can be used. These may be used individually by 1 type and may use 2 or more types together. Among these, a silane coupling agent is preferable. Examples of the silane coupling agent include amino silane coupling agents, epoxy silane coupling agents, phenyl silane coupling agents, alkyl silane coupling agents, alkenyl silane coupling agents, mercapto silane coupling agents, and the like. It is done. Among these, an aminosilane coupling agent is preferable from the viewpoint of improving the dispersibility of the inorganic filler (a2) and improving the adhesion between the inorganic filler (a2) and the organic component.
Moreover, when using a coupling agent, although the usage-amount is not specifically limited, 0.1-5 mass parts is preferable with respect to 100 mass parts of inorganic fillers (a2), and 0.5-3 mass parts is more. preferable. If it is this range, the characteristic by use of an inorganic filler (a2) can be exhibited more effectively.
In the case of using a coupling agent, the addition method may be a so-called integral blend treatment method in which a coupling agent is added after blending the inorganic filler (a2) in the resin composition, or more effective. In particular, from the viewpoint of manifesting the characteristics of the inorganic filler (a2), a system in which a coupling agent is surface-treated in advance by dry or wet with respect to the inorganic filler before blending may be used.

無機充填材(a2)は、樹脂組成物への分散性を高める観点から、予め有機溶媒中に分散させたスラリーの状態で用いることが好ましい。無機充填材(a2)のスラリーに使用される有機溶媒に特に制限はないが、例えば、上述したポリイミド化合物(a1)の製造工程で例示した有機溶媒が適用できる。これらは1種を単独で用いてもよいし、2種以上を併用してもよい。また、これらの有機溶媒の中でも、分散性をより一層高める観点から、メチルエチルケトン、メチルイソブチルケトン、シクロヘキサノンが好ましい。
無機充填材(a2)のスラリーの固形分濃度に特に制限はないが、例えば、無機充填材(a2)の沈降性及び分散性の観点から、50〜80質量%が好ましく、60〜80質量%がより好ましい。
無機充填材(a2)の含有量は、求める特性及び機能によって適宜選択できるが、樹脂組成物の固形分に対して、55体積%以上が好ましく、55〜85体積%がより好ましく、55〜80体積%がさらに好ましく、55〜75体積%が特に好ましい。無機充填材の含有量をこのような範囲にすることで、低い熱膨張率を有することができる。
なお、本明細書において、樹脂組成物に含まれる固形分とは、樹脂組成物を構成する成分から揮発性の成分を除外した残分を意味する。
The inorganic filler (a2) is preferably used in the form of a slurry previously dispersed in an organic solvent from the viewpoint of enhancing the dispersibility in the resin composition. Although there is no restriction | limiting in particular in the organic solvent used for the slurry of an inorganic filler (a2), For example, the organic solvent illustrated by the manufacturing process of the polyimide compound (a1) mentioned above is applicable. These may be used individually by 1 type and may use 2 or more types together. Among these organic solvents, methyl ethyl ketone, methyl isobutyl ketone, and cyclohexanone are preferable from the viewpoint of further improving dispersibility.
Although there is no restriction | limiting in particular in the solid content density | concentration of the slurry of an inorganic filler (a2), For example, 50-80 mass% is preferable from a viewpoint of the sedimentation property and dispersibility of an inorganic filler (a2), and 60-80 mass%. Is more preferable.
Although content of an inorganic filler (a2) can be suitably selected with the characteristic and function to obtain | require, 55 volume% or more is preferable with respect to solid content of a resin composition, 55-85 volume% is more preferable, and 55-80 Volume% is more preferable, and 55 to 75 volume% is particularly preferable. By setting the content of the inorganic filler in such a range, it can have a low coefficient of thermal expansion.
In addition, in this specification, solid content contained in a resin composition means the residue which remove | excluded the volatile component from the component which comprises a resin composition.

<エラストマ(a3)>
A層用の樹脂組成物は、エラストマ(a3)を含有していてもよい。エラストマ(a3)としては、特に限定されないが、例えば、ポリブタジエン系エラストマ、スチレン系エラストマ、オレフィン系エラストマ、ウレタン系エラストマ、ポリエステル系エラストマ、ポリアミド系エラストマ、アクリル系エラストマ、シリコーン系エラストマ、これらのエラストマの誘導体等が挙げられる。これらは、1種を単独で用いてもよいし、2種以上を併用してもよい。
<Elastomer (a3)>
The resin composition for the A layer may contain an elastomer (a3). The elastomer (a3) is not particularly limited. For example, polybutadiene-based elastomer, styrene-based elastomer, olefin-based elastomer, urethane-based elastomer, polyester-based elastomer, polyamide-based elastomer, acrylic-based elastomer, silicone-based elastomer, Derivatives and the like. These may be used individually by 1 type and may use 2 or more types together.

エラストマ(a3)としては、分子末端又は分子鎖中に反応性官能基を有するものを用いることができる。反応性官能基としては、例えば、無水マレイン酸基、エポキシ基、水酸基、カルボキシ基、アミノ基、アミド基、イソシアナト基、アクリル基、メタクリル基及びビニル基からなる群より選択される1種以上であることが好ましく、金属箔との密着性の点から、無水マレイン酸基、エポキシ基、水酸基、カルボキシ基、アミノ基及びアミド基からなる群より選択される1種以上であることがより好ましく、誘電特性の点から、無水マレイン酸基がさらに好ましい。これらの反応性官能基を有することにより、樹脂への相溶性が向上し、層間絶縁層を形成した際の無機充填材(a2)と樹脂成分との分離が抑制される傾向にある。同様の観点から、エラストマ(a3)は無水マレイン酸によって変性されたエラストマであることが好ましい。   As the elastomer (a3), those having a reactive functional group at the molecular end or molecular chain can be used. Examples of the reactive functional group include one or more selected from the group consisting of a maleic anhydride group, an epoxy group, a hydroxyl group, a carboxy group, an amino group, an amide group, an isocyanato group, an acrylic group, a methacryl group, and a vinyl group. Preferably, from the viewpoint of adhesion with the metal foil, it is more preferable that it is one or more selected from the group consisting of a maleic anhydride group, an epoxy group, a hydroxyl group, a carboxy group, an amino group, and an amide group. From the viewpoint of dielectric properties, a maleic anhydride group is more preferable. By having these reactive functional groups, compatibility with the resin is improved, and separation between the inorganic filler (a2) and the resin component when the interlayer insulating layer is formed tends to be suppressed. From the same viewpoint, the elastomer (a3) is preferably an elastomer modified with maleic anhydride.

ポリブタジエン系エラストマは、1,2−ビニル基を含む、1,4−トランス体と1,4−シス体との構造体からなるものが好適に挙げられる。
ポリブタジエン系エラストマとしては、樹脂への相溶性が向上し、層間絶縁層を形成した際の無機充填材(a2)と樹脂成分との分離が抑制される観点から、反応性官能基を有するものが好ましく、特に酸無水物で変性されているポリブタジエン系エラストマが好ましい。酸無水物としては、特に限定されないが、例えば、無水フタル酸、無水マレイン酸、無水トリメリット酸、無水ピロメリット酸、ヘキサヒドロ無水フタル酸、テトラヒドロ無水フタル酸、無水メチルナジック酸、無水ナジック酸、無水グルタル酸、無水ジメチルグルタル酸、無水ジエチルグルタル酸、無水コハク酸、メチルヘキサヒドロ無水フタル酸、メチルテトラヒドロ無水フタル酸等が挙げられる。これらの中でも、無水マレイン酸が好ましい。
エラストマ(a3)が酸無水物で変性されている場合、エラストマ(a3)1分子中に含まれる酸無水物由来の基(以下、「酸無水物基」ともいう)の数は、1〜10が好ましく、1〜6がより好ましく、2〜5がさらに好ましい。酸無水物基の数が1分子中に1以上であると、層間絶縁層を形成した際の無機充填材(a2)と樹脂成分との分離がより抑制される傾向にある。また、酸無水物基の数が1分子中に10以下であると、樹脂組成物の誘電正接がより低くなる傾向にある。エラストマ(a3)が無水マレイン酸で変性されている場合、上記と同様の観点から、エラストマ(a3)1分子中に含まれる無水マレイン酸由来の基(以下、「無水マレイン酸基」ともいう)の数は、1〜10が好ましく、1〜6がより好ましく、2〜5がさらに好ましい。
ポリブタジエン系エラストマは、市販品として入手可能であり、その具体例としては、例えば、「POLYVEST(登録商標)MA75」、「POLYVEST(登録商標)EP MA120」(以上、エボニック社製、商品名)、「Ricon(登録商標)130MA8」、「Ricon(登録商標)131MA5」、「Ricon(登録商標)184MA6」(以上、クレイバレー社製、商品名)等が挙げられる。
A preferable example of the polybutadiene-based elastomer is a structure comprising a 1,4-trans isomer and a 1,4-cis isomer containing a 1,2-vinyl group.
Polybutadiene elastomers have reactive functional groups from the viewpoint of improving compatibility with resins and suppressing separation of the inorganic filler (a2) and resin components when an interlayer insulating layer is formed. A polybutadiene-based elastomer modified with an acid anhydride is particularly preferable. The acid anhydride is not particularly limited. For example, phthalic anhydride, maleic anhydride, trimellitic anhydride, pyromellitic anhydride, hexahydrophthalic anhydride, tetrahydrophthalic anhydride, methyl nadic anhydride, nadic anhydride, Examples include glutaric anhydride, dimethyl glutaric anhydride, diethyl glutaric anhydride, succinic anhydride, methyl hexahydrophthalic anhydride, methyl tetrahydrophthalic anhydride, and the like. Among these, maleic anhydride is preferable.
When the elastomer (a3) is modified with an acid anhydride, the number of acid anhydride-derived groups (hereinafter also referred to as “acid anhydride groups”) contained in one molecule of the elastomer (a3) is 1 to 10 Are preferable, 1-6 are more preferable, and 2-5 are more preferable. When the number of acid anhydride groups is 1 or more per molecule, separation of the inorganic filler (a2) and the resin component when the interlayer insulating layer is formed tends to be further suppressed. When the number of acid anhydride groups is 10 or less per molecule, the dielectric loss tangent of the resin composition tends to be lower. When the elastomer (a3) is modified with maleic anhydride, from the same viewpoint as described above, a group derived from maleic anhydride contained in one molecule of the elastomer (a3) (hereinafter also referred to as “maleic anhydride group”) 1-10 are preferable, 1-6 are more preferable, and 2-5 are more preferable.
The polybutadiene elastomer is available as a commercial product. Specific examples thereof include, for example, “POLYVEST (registered trademark) MA75”, “POLYVEST (registered trademark) EP MA120” (manufactured by Evonik, trade name), “Ricon (registered trademark) 130MA8”, “Ricon (registered trademark) 131MA5”, “Ricon (registered trademark) 184MA6” (trade name, manufactured by Clay Valley Co., Ltd.) and the like.

スチレン系エラストマとしては、例えば、スチレン−ブタジエン−スチレンブロックコポリマー、スチレン−イソプレン−スチレンブロックコポリマー、スチレン−エチレン−ブチレン−スチレンブロックコポリマー、スチレン−エチレン−プロピレン−スチレンブロックコポリマー等が好適に挙げられる。スチレン系エラストマを構成する成分としては、スチレンの他に、α−メチルスチレン、3−メチルスチレン、4−プロピルスチレン、4−シクロヘキシルスチレン等のスチレン誘導体が挙げられる。スチレン系エラストマは、市販品として入手可能であり、その具体例としては、「タフプレン(登録商標)」、「アサプレン(登録商標)T」、「タフテック(登録商標)H」、「タフテック(登録商標)MP10」、「タフテック(登録商標)M1911」、「タフテック(登録商標)M1913」(以上、旭化成ケミカルズ株式会社製)、「エポフレンド(登録商標)AT501」、「エポフレンド(登録商標)CT310」(以上、株式会社ダイセル製)等が挙げられる。   Preferable examples of the styrenic elastomer include styrene-butadiene-styrene block copolymers, styrene-isoprene-styrene block copolymers, styrene-ethylene-butylene-styrene block copolymers, and styrene-ethylene-propylene-styrene block copolymers. Examples of components constituting the styrene elastomer include styrene derivatives such as α-methyl styrene, 3-methyl styrene, 4-propyl styrene, 4-cyclohexyl styrene, in addition to styrene. Styrenic elastomers are available as commercial products. Specific examples thereof include “Tufprene (registered trademark)”, “Asaprene (registered trademark) T”, “Tuftec (registered trademark) H”, and “Tuftec (registered trademark)”. ) MP10 "," Tuftec (registered trademark) M1911 "," Tuftec (registered trademark) M1913 "(manufactured by Asahi Kasei Chemicals Corporation)," Epofriend (registered trademark) AT501 "," Epofriend (registered trademark) CT310 " (Above, manufactured by Daicel Corporation).

オレフィン系エラストマとしては、例えば、エチレン、プロピレン、1−ブテン、1−ヘキセン、4−メチル−ペンテン等の炭素数2〜20のα−オレフィンの共重合体が挙げられ、例えば、エチレン−プロピレン共重合体(EPR)、エチレン−プロピレン−ジエン共重合体(EPDM)等が好適に挙げられる。また、前記α−オレフィンと、ジシクロペンタジエン、1,4−ヘキサジエン、シクロオクタジエン、メチレンノルボルネン、エチリデンノルボルネン、ブタジエン、イソプレン等の炭素数2〜20の非共役ジエンとの共重合体が挙げられる。さらには、ブタジエン−アクニロニトリル共重合体にメタクリル酸を共重合したカルボキシ変性NBR等が挙げられる。オレフィン系エラストマは、市販品として入手可能であり、その具体例としては、「PB3600」、「PB4700」(以上、株式会社ダイセル製)、「G−1000」、「G−2000」、「G−3000」、「JP−100」、「JP−200」、「BN−1015」、「TP−1001」、「TEA−1000」、「EA−3000」、「TE−2000」、「EMA−3000」(以上、日本曹達株式会社製)、「デナレックス(登録商標)R45」(ナガセケムテックス株式会社製)等が挙げられる。   Examples of the olefin-based elastomer include copolymers of α-olefins having 2 to 20 carbon atoms such as ethylene, propylene, 1-butene, 1-hexene, 4-methyl-pentene, and the like. Preferred examples include a polymer (EPR) and an ethylene-propylene-diene copolymer (EPDM). Further, a copolymer of the α-olefin and a non-conjugated diene having 2 to 20 carbon atoms such as dicyclopentadiene, 1,4-hexadiene, cyclooctadiene, methylene norbornene, ethylidene norbornene, butadiene, or isoprene is exemplified. . Furthermore, a carboxy-modified NBR obtained by copolymerizing methacrylic acid with a butadiene-acrylonitrile copolymer is exemplified. Olefin-based elastomers are available as commercial products. Specific examples thereof include “PB3600”, “PB4700” (manufactured by Daicel Corporation), “G-1000”, “G-2000”, “G- 3000 "," JP-100 "," JP-200 "," BN-1015 "," TP-1001 "," TEA-1000 "," EA-3000 "," TE-2000 "," EMA-3000 " (Nippon Soda Co., Ltd.), “Denalex (registered trademark) R45” (manufactured by Nagase ChemteX Corporation), and the like.

ウレタン系エラストマは、例えば、短鎖ジオールとジイソシアネートとからなるハードセグメントと、高分子(長鎖)ジオールとジイソシアネートとからなるソフトセグメントとを含有するものが好適に挙げられる。
高分子(長鎖)ジオールとしては、ポリプロピレングリコール、ポリテトラメチレンオキサイド、ポリ(1,4−ブチレンアジペート)、ポリ(エチレン−1,4−ブチレンアジペート)、ポリカプロラクトン、ポリ(1,6−ヘキシレンカーボネート)、ポリ(1,6−へキシレン・ネオペンチレンアジペート)等が挙げられる。高分子(長鎖)ジオールの数平均分子量は、500〜10,000が好ましい。
短鎖ジオールとしては、エチレングリコール、プロピレングリコール、1,4−ブタンジオール、ビスフェノールA等が挙げられる。短鎖ジオールの数平均分子量は、48〜500が好ましい。
ウレタン系エラストマは、市販品として入手可能であり、その具体例としては、「PANDEX(登録商標)T−2185」、「PANDEX(登録商標)T−2983N」(以上、DIC株式会社製)等が挙げられる。
Preferred examples of the urethane elastomer include those containing a hard segment composed of a short-chain diol and a diisocyanate and a soft segment composed of a polymer (long-chain) diol and a diisocyanate.
Examples of the polymer (long chain) diol include polypropylene glycol, polytetramethylene oxide, poly (1,4-butylene adipate), poly (ethylene-1,4-butylene adipate), polycaprolactone, and poly (1,6-hexene). Xylene carbonate), poly (1,6-hexylene, neopentylene adipate), and the like. The number average molecular weight of the polymer (long chain) diol is preferably 500 to 10,000.
Examples of the short chain diol include ethylene glycol, propylene glycol, 1,4-butanediol, and bisphenol A. The number average molecular weight of the short chain diol is preferably 48 to 500.
Urethane elastomers are available as commercial products. Specific examples thereof include “PANDEX (registered trademark) T-2185”, “PANDEX (registered trademark) T-2983N” (manufactured by DIC Corporation), and the like. Can be mentioned.

ポリエステル系エラストマとしては、例えば、ジカルボン酸又はその誘導体とジオール化合物又はその誘導体とを重縮合して得られるものが挙げられる。
ジカルボン酸の具体例としては、テレフタル酸、イソフタル酸、ナフタレンジカルボン酸等の芳香族ジカルボン酸及びこれらの芳香核の水素原子がメチル基、エチル基、フェニル基等で置換された芳香族ジカルボン酸;アジピン酸、セバシン酸、ドデカンジカルボン酸等の炭素数2〜20の脂肪族ジカルボン酸;シクロヘキサンジカルボン酸等の脂環式ジカルボン酸などが挙げられる。これらの化合物は1種を単独で用いてもよいし、2種以上を併用してもよい。
ジオール化合物の具体例としては、エチレングリコール、1,3−プロパンジオール、1,4−ブタンジオール、1,6−ヘキサンジオール、1,10−デカンジオール等の脂肪族ジオール;1,4−シクロヘキサンジオール等の脂環式ジオール;ビスフェノールA、ビス(4−ヒドロキシフェニル)メタン、ビス(4−ヒドロキシ−3−メチルフェニル)プロパン、レゾルシン等の芳香族ジオールなどが挙げられる。これらの化合物は1種を単独で用いてもよいし、2種以上を併用してもよい。
Examples of the polyester elastomer include those obtained by polycondensation of a dicarboxylic acid or a derivative thereof and a diol compound or a derivative thereof.
Specific examples of the dicarboxylic acid include aromatic dicarboxylic acids such as terephthalic acid, isophthalic acid, and naphthalenedicarboxylic acid, and aromatic dicarboxylic acids in which hydrogen atoms of these aromatic nuclei are substituted with a methyl group, an ethyl group, a phenyl group, or the like; Examples thereof include aliphatic dicarboxylic acids having 2 to 20 carbon atoms such as adipic acid, sebacic acid, and dodecanedicarboxylic acid; and alicyclic dicarboxylic acids such as cyclohexanedicarboxylic acid. These compounds may be used individually by 1 type, and may use 2 or more types together.
Specific examples of the diol compound include aliphatic diols such as ethylene glycol, 1,3-propanediol, 1,4-butanediol, 1,6-hexanediol, and 1,10-decanediol; 1,4-cyclohexanediol. And alicyclic diols such as bisphenol A, bis (4-hydroxyphenyl) methane, bis (4-hydroxy-3-methylphenyl) propane, and resorcin. These compounds may be used individually by 1 type, and may use 2 or more types together.

また、ポリエステル系エラストマとして、芳香族ポリエステル(例えば、ポリブチレンテレフタレート)部分をハードセグメント成分に、脂肪族ポリエステル(例えば、ポリテトラメチレングリコール)部分をソフトセグメント成分にしたマルチブロック共重合体が好適に挙げられる。マルチブロック共重合体は、ハードセグメントとソフトセグメントの種類、比率、分子量の違いにより様々なグレードのものがある。その具体例としては、「ハイトレル(登録商標)」(東レ・デュポン株式会社製)、「ペルプレン(登録商標)」(東洋紡株式会社製)、「エスペル(登録商標)」(日立化成株式会社製)等が挙げられる。   As the polyester elastomer, a multi-block copolymer having an aromatic polyester (for example, polybutylene terephthalate) portion as a hard segment component and an aliphatic polyester (for example, polytetramethylene glycol) portion as a soft segment component is preferable. Can be mentioned. Multiblock copolymers are available in various grades depending on the type, ratio, and molecular weight of the hard segment and soft segment. Specific examples include “Hytrel” (registered trademark) (manufactured by Toray DuPont Co., Ltd.), “Perprene (registered trademark)” (manufactured by Toyobo Co., Ltd.), and “Espel (registered trademark)” (manufactured by Hitachi Chemical Co., Ltd.). Etc.

ポリアミド系エラストマとしては、例えば、ポリアミドをハードセグメント成分、ポリブタジエン、ブタジエン−アクリロニトリル共重合体、スチレン−ブタジエン共重合体、ポリイソプレン、エチレンプロピレン共重合体、ポリエーテル、ポリエステル、ポリブタジエン、ポリカーボネート、ポリアクリレート、ポリメタクリレート、ポリウレタン、シリコーンゴム等をソフトセグメント成分としたブロック共重合体が挙げられる。
ポリアミド系エラストマは、市販品として入手可能であり、その具体例としては、「UBEポリアミドエラストマ」(宇部興産株式会社製)、「ダイアミド(登録商標)」(ダイセル・エボニック株式会社製)、「PEBAX(登録商標)」(東レ株式会社製)、「グリロン(登録商標)ELY」(エムスケミー・ジャパン株式会社製)、「ノバミッド(登録商標)」(三菱化学株式会社製)、「グリラックス(登録商標)」(DIC株式会社製)、「BPAM−01」、「BPAM−155」(以上、日本化薬株式会社製)等が挙げられる。
Examples of the polyamide-based elastomer include polyamide as a hard segment component, polybutadiene, butadiene-acrylonitrile copolymer, styrene-butadiene copolymer, polyisoprene, ethylene propylene copolymer, polyether, polyester, polybutadiene, polycarbonate, polyacrylate. And block copolymers containing polymethacrylate, polyurethane, silicone rubber and the like as soft segment components.
Polyamide elastomers are available as commercial products. Specific examples thereof include “UBE polyamide elastomer” (manufactured by Ube Industries, Ltd.), “Daiamide (registered trademark)” (manufactured by Daicel Evonik Co., Ltd.), “PEBAX”. (Registered trademark) "(manufactured by Toray Industries, Inc.)," Grillon (registered trademark) ELY "(manufactured by Ms. Chemie Japan)," Novamid (registered trademark) "(manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation), ”” (Manufactured by DIC Corporation), “BPAM-01”, “BPAM-155” (manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.) and the like.

アクリル系エラストマとしては、例えば、アクリル酸エステルを主成分とする原料モノマーの重合体が挙げられる。アクリル酸エステルとしては、エチルアクリレート、ブチルアクリレート、メトキシエチルアクリレート、エトキシエチルアクリレート等が好適に挙げられる。また、架橋点モノマーとして、グリシジルメタクリレート、アリルグリシジルエーテル等を共重合させたものであってもよく、さらに、アクリロニトリル、エチレン等を共重合させたものであってもよい。具体的には、アクリロニトリル−ブチルアクリレート共重合体、アクリロニトリル−ブチルアクリレート−エチルアクリレート共重合体、アクリロニトリル−ブチルアクリレート−グリシジルメタクリレート共重合体等が挙げられる。   Examples of the acrylic elastomer include a polymer of a raw material monomer mainly composed of an acrylate ester. Preferable examples of the acrylic ester include ethyl acrylate, butyl acrylate, methoxyethyl acrylate, ethoxyethyl acrylate and the like. In addition, as a crosslinking point monomer, glycidyl methacrylate, allyl glycidyl ether or the like may be copolymerized, or acrylonitrile, ethylene or the like may be copolymerized. Specific examples include acrylonitrile-butyl acrylate copolymer, acrylonitrile-butyl acrylate-ethyl acrylate copolymer, acrylonitrile-butyl acrylate-glycidyl methacrylate copolymer, and the like.

シリコーン系エラストマは、オルガノポリシロキサンを主成分とするエラストマであり、例えば、ポリジメチルシロキサン系、ポリメチルフェニルシロキサン系、ポリジフェニルシロキサン系等に分類される。シリコーン系エラストマは、市販品として入手可能であり、その具体例としては、「X−22−163B」、「X−22−163C」、「X−22−1821」、「X−22−162C」(以上、信越化学工業株式会社製)、コアシェル型シリコーンゴム「SYシリーズ」(旭化成ワッカーシリコーン株式会社製)、「SEシリーズ」、「CYシリーズ」、「SHシリーズ」(以上、東レ・ダウコーニング株式会社製)等が挙げられる。   Silicone elastomers are elastomers mainly composed of organopolysiloxane, and are classified into, for example, polydimethylsiloxane, polymethylphenylsiloxane, and polydiphenylsiloxane. Silicone elastomers are available as commercial products. Specific examples thereof include “X-22-163B”, “X-22-163C”, “X-22-1821”, “X-22-162C”. (Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.), Core Shell Silicone Rubber “SY Series” (Asahi Kasei Wacker Silicone Co., Ltd.), “SE Series”, “CY Series”, “SH Series” (Toray Dow Corning Co., Ltd.) Company-made).

これらのエラストマの中でも、耐熱性、絶縁信頼性の点から、スチレン系エラストマ、ポリブタジエン系エラストマ、オレフィン系エラストマ、ポリアミド系エラストマ、シリコーン系エラストマが好ましく、誘電特性の点から、ポリブタジエン系エラストマ、スチレン系エラストマがより好ましく、ポリブタジエン系エラストマがさらに好ましい。   Among these elastomers, styrene elastomers, polybutadiene elastomers, olefin elastomers, polyamide elastomers, and silicone elastomers are preferred from the viewpoint of heat resistance and insulation reliability, and polybutadiene elastomers and styrene series are preferred from the viewpoint of dielectric characteristics. Elastomers are more preferred, and polybutadiene elastomers are even more preferred.

エラストマ(a3)の重量平均分子量は、500〜50,000が好ましく、1,000〜30,000がより好ましい。エラストマ(a3)の重量平均分子量が500以上であると、樹脂組成物の硬化性及び硬化物の誘電特性がより良好となる傾向にある。また、エラストマ(a3)の重量平均分子量が50,000以下であると、層間絶縁層を形成した際の無機充填材(a2)と樹脂成分との分離が抑制される傾向にある。なお、エラストマ(a3)の重量平均分子量は、実施例に記載のポリイミド化合物(a1)の重量平均分子量の測定方法を適用できる。   The weight average molecular weight of the elastomer (a3) is preferably 500 to 50,000, more preferably 1,000 to 30,000. When the weight average molecular weight of the elastomer (a3) is 500 or more, the curability of the resin composition and the dielectric properties of the cured product tend to be better. Further, when the weight average molecular weight of the elastomer (a3) is 50,000 or less, the separation between the inorganic filler (a2) and the resin component when the interlayer insulating layer is formed tends to be suppressed. In addition, the measuring method of the weight average molecular weight of a polyimide compound (a1) as described in an Example can be applied to the weight average molecular weight of an elastomer (a3).

樹脂組成物がエラストマ(a3)を含有する場合、その含有量は、樹脂組成物に含まれる全樹脂成分に対して1〜70質量%が好ましく、5〜50質量%がより好ましく、10〜30質量%がさらに好ましい。エラストマ(a3)の含有量を前記範囲内とすることにより、誘電正接が低く、フィルムにした際の取り扱い性に優れ、且つ層間絶縁層を形成した際の無機充填材(a2)と樹脂成分との分離が抑制される傾向にある。   When the resin composition contains an elastomer (a3), the content is preferably 1 to 70% by mass, more preferably 5 to 50% by mass, and more preferably 10 to 30% with respect to the total resin components contained in the resin composition. More preferred is mass%. By setting the content of the elastomer (a3) within the above range, the dielectric loss tangent is low, the handleability when formed into a film is excellent, and the inorganic filler (a2) and the resin component when the interlayer insulating layer is formed It tends to be suppressed from separating.

<その他の成分>
A層用の樹脂組成物には、必要に応じて、難燃剤、硬化促進剤等を含有してもよい。
樹脂組成物に難燃剤を含有させることで、より良好な難燃性を付与することができる。難燃剤としては特に限定されないが、例えば、塩素系難燃剤、臭素系難燃剤、リン系難燃剤、金属水和物系難燃剤等が挙げられる。環境への適合性からは、リン系難燃剤、金属水和物系難燃剤が好ましい。
また、樹脂組成物に適切な硬化促進剤を含有させることで、樹脂組成物の硬化性を向上させ、誘電特性、耐熱性、高弾性率性、ガラス転移温度等をより向上させることができる。硬化促進剤としては、特に限定されないが、例えば、各種イミダゾール化合物及びその誘導体;各種第3級アミン化合物;各種第4級アンモニウム化合物;トリフェニルホスフィン等の各種リン系化合物などが挙げられる。
樹脂組成物には、その他にも酸化防止剤、流動調整剤等の添加剤を含有させてもよい。
<Other ingredients>
The resin composition for the A layer may contain a flame retardant, a curing accelerator and the like as necessary.
By including a flame retardant in the resin composition, better flame retardancy can be imparted. Although it does not specifically limit as a flame retardant, For example, a chlorine flame retardant, a bromine flame retardant, a phosphorus flame retardant, a metal hydrate flame retardant, etc. are mentioned. From the viewpoint of compatibility with the environment, phosphorus flame retardants and metal hydrate flame retardants are preferred.
Moreover, by including an appropriate curing accelerator in the resin composition, the curability of the resin composition can be improved, and the dielectric properties, heat resistance, high elastic modulus, glass transition temperature, and the like can be further improved. The curing accelerator is not particularly limited, and examples thereof include various imidazole compounds and derivatives thereof; various tertiary amine compounds; various quaternary ammonium compounds; various phosphorus compounds such as triphenylphosphine.
In addition, the resin composition may contain additives such as an antioxidant and a flow modifier.

(樹脂ワニス)
A層の製造に際し、A層用の前記樹脂組成物にさらに有機溶媒を含有させて樹脂ワニス(以下、A層用ワニスとも称する。)の状態にしておくことが好ましい。
A層用ワニスを製造するのに用いられる有機溶媒としては、例えば、アセトン、メチルエチルケトン、メチルイソブチルケトン、シクロヘキサノン等のケトン;酢酸エチル、酢酸ブチル、セロソルブアセテート、カルビトールアセテート等の酢酸エステル;セロソルブ、ブチルカルビトール、プロピレングリコールモノメチルエーテル等の(ジ)エチレングリコールモノアルキルエーテル又はプロピレングリコールモノアルキルエーテル;トルエン、キシレン等の芳香族炭化水素;ジメチルホルムアミド、ジメチルアセトアミド、N−メチル−2−ピロリドン等のアミド系溶媒などを挙げることができる。これらは1種を単独で用いてもよいし、2種以上を併用してもよい。
有機溶媒の含有量は、A層用ワニスの全体100質量部に対して、10〜60質量部が好ましく、10〜35質量部がより好ましい。
このようにして製造したA層用ワニスを用いることによって、前述のとおり、本発明の複合フィルムを製造することができる。
(Resin varnish)
In the production of the A layer, it is preferable that the resin composition for the A layer is further added with an organic solvent to form a resin varnish (hereinafter also referred to as A layer varnish).
Examples of the organic solvent used for producing the varnish for layer A include ketones such as acetone, methyl ethyl ketone, methyl isobutyl ketone, and cyclohexanone; acetates such as ethyl acetate, butyl acetate, cellosolve acetate, and carbitol acetate; cellosolve, (Di) ethylene glycol monoalkyl ether or propylene glycol monoalkyl ether such as butyl carbitol and propylene glycol monomethyl ether; aromatic hydrocarbon such as toluene and xylene; dimethylformamide, dimethylacetamide, N-methyl-2-pyrrolidone and the like Examples thereof include amide solvents. These may be used individually by 1 type and may use 2 or more types together.
10-60 mass parts is preferable with respect to 100 mass parts of the whole varnish for A layers, and, as for content of an organic solvent, 10-35 mass parts is more preferable.
By using the A layer varnish thus produced, the composite film of the present invention can be produced as described above.

[B層の成分]
B層の成分としては、樹脂組成物が挙げられる。樹脂組成物としては、導体層との接着性を向上させるものであれば、特に限定されないが、例えば、表面粗さが小さくてもめっき銅との接着性に優れるという観点から、多官能エポキシ樹脂(b1)とフェノール性水酸基含有ポリブタジエン変性ポリアミド樹脂(b2)を含有する樹脂組成物が好ましく、さらに活性エステル硬化剤(b3)を含有する樹脂組成物がより好ましい。以下、各成分について詳述する。
[Components of layer B]
A resin composition is mentioned as a component of B layer. The resin composition is not particularly limited as long as it improves the adhesion to the conductor layer. For example, from the viewpoint of excellent adhesion to plated copper even if the surface roughness is small, a polyfunctional epoxy resin A resin composition containing (b1) and a phenolic hydroxyl group-containing polybutadiene-modified polyamide resin (b2) is preferred, and a resin composition containing an active ester curing agent (b3) is more preferred. Hereinafter, each component will be described in detail.

<多官能エポキシ樹脂(b1)>
多官能エポキシ樹脂(b1)は、エポキシ基を2個以上有する樹脂であれば、特に限定されないが、例えば、ビスフェノールA型エポキシ樹脂、ビスフェノールF型エポキシ樹脂、ビスフェノールS型エポキシ樹脂、クレゾールノボラック型エポキシ樹脂、フェノールノボラック型エポキシ樹脂、ビフェニル型エポキシ樹脂、ナフトール型エポキシ樹脂、アントラセン型エポキシ樹脂、ジシクロペンタジエン型エポキシ樹脂、ナフタレン型エポキシ樹脂、アラルキルノボラック型エポキシ樹脂、フルオレン型エポキシ樹脂、キサンテン型エポキシ樹脂等が挙げられる。めっき銅との接着性の観点から、ビフェニル構造を有することが好ましく、ビフェニル構造を有する多官能エポキシ樹脂又はビフェニル構造を有するアラルキルノボラック型エポキシ樹脂がより好ましい。
多官能エポキシ樹脂(b1)は、1種を単独で用いてもよいし、2種以上を併用してもよい。
<Polyfunctional epoxy resin (b1)>
The polyfunctional epoxy resin (b1) is not particularly limited as long as it is a resin having two or more epoxy groups. For example, bisphenol A type epoxy resin, bisphenol F type epoxy resin, bisphenol S type epoxy resin, cresol novolac type epoxy Resin, phenol novolac type epoxy resin, biphenyl type epoxy resin, naphthol type epoxy resin, anthracene type epoxy resin, dicyclopentadiene type epoxy resin, naphthalene type epoxy resin, aralkyl novolac type epoxy resin, fluorene type epoxy resin, xanthene type epoxy resin Etc. From the viewpoint of adhesiveness with plated copper, it is preferable to have a biphenyl structure, and a polyfunctional epoxy resin having a biphenyl structure or an aralkyl novolac type epoxy resin having a biphenyl structure is more preferable.
A polyfunctional epoxy resin (b1) may be used individually by 1 type, and may use 2 or more types together.

多官能エポキシ樹脂(b1)としては、市販品を用いてもよい。市販されている多官能エポキシ樹脂(b1)としては、ビフェニル構造を有するアラルキルノボラック型エポキシ樹脂である、日本化薬株式会社製「NC−3000−H」、「NC−3000−L」、「NC−3100」、「NC−3000」等が挙げられる。   A commercially available product may be used as the polyfunctional epoxy resin (b1). As the commercially available polyfunctional epoxy resin (b1), “NC-3000-H”, “NC-3000-L”, “NC” manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd., which is an aralkyl novolac type epoxy resin having a biphenyl structure. -3100 "," NC-3000 "and the like.

多官能エポキシ樹脂(b1)のエポキシ当量としては、特に限定されないが、接着性の観点から、150〜450g/molが好ましく、200〜400g/molがより好ましく、250〜350g/molがさらに好ましい。   Although it does not specifically limit as an epoxy equivalent of a polyfunctional epoxy resin (b1), From an adhesive viewpoint, 150-450 g / mol is preferable, 200-400 g / mol is more preferable, 250-350 g / mol is further more preferable.

B層用の樹脂組成物中の多官能エポキシ樹脂(b1)の含有量は、特に限定されないが、樹脂組成物に含まれる全樹脂成分に対して、10〜90質量%が好ましく、20〜80質量%がより好ましく、30〜70質量%がさらに好ましい。多官能エポキシ樹脂(b1)の含有量が、10質量%以上であれば、めっき銅とのより良好な接着強度が得られる傾向にあり、90質量%以下であれば、より低い誘電正接が得られる傾向にある。   Although content of the polyfunctional epoxy resin (b1) in the resin composition for B layers is not specifically limited, 10-90 mass% is preferable with respect to all the resin components contained in a resin composition, and 20-80 More preferably, it is more preferably 30 to 70% by mass. If the content of the polyfunctional epoxy resin (b1) is 10% by mass or more, better adhesive strength with the plated copper tends to be obtained, and if it is 90% by mass or less, a lower dielectric loss tangent is obtained. It tends to be.

<フェノール性水酸基含有ポリブタジエン変性ポリアミド樹脂(b2)>
成分(b2)は、フェノール性水酸基を有するポリブタジエン変性されたポリアミド樹脂であれば、特に制限はないが、ジアミン由来の構造単位と、フェノール性水酸基を含有するジカルボン酸由来の構造単位と、フェノール性水酸基を含有しないジカルボン酸由来の構造単位と、両末端にカルボキシ基を有するポリブタジエン由来の構造単位とを有するものが好ましい。具体的には、下記一般式(i)で表される構造単位、下記一般式(ii)で表される構造単位及び下記一般式(iii)で表される構造単位を有するものが好ましく挙げられる。
<Phenolic hydroxyl group-containing polybutadiene-modified polyamide resin (b2)>
The component (b2) is not particularly limited as long as it is a polybutadiene-modified polyamide resin having a phenolic hydroxyl group, but a structural unit derived from a diamine, a structural unit derived from a dicarboxylic acid containing a phenolic hydroxyl group, and phenolic What has the structural unit derived from the dicarboxylic acid which does not contain a hydroxyl group, and the structural unit derived from the polybutadiene which has a carboxy group in the both terminal is preferable. Specifically, preferred are those having a structural unit represented by the following general formula (i), a structural unit represented by the following general formula (ii), and a structural unit represented by the following general formula (iii). .

Figure 2018014388
Figure 2018014388

一般式(i)〜(iii)中、a、b、c、x、y及びzは、それぞれ平均重合度を示す整数であって、a=2〜10、b=0〜3、c=3〜30、x=1に対しy+z=2〜300((y+z)/x)を示し、さらにy=1に対しz≧20(z/y)である。
一般式(i)〜(iii)中、R’はそれぞれ独立に、芳香族ジアミン又は脂肪族ジアミンに由来する2価の基を示し、一般式(iii)中、R’’は芳香族ジカルボン酸、脂肪族ジカルボン酸又は両末端にカルボキシ基を有するオリゴマーに由来する2価の基を示す。
一般式(i)〜(iii)中に含まれる複数のR’同士は同一であっても異なっていてもよい。また、zが2以上の整数のとき、複数のR’’同士は同一であっても異なっていてもよい。
なお、一般式(i)〜(iii)中、R’は、具体的には、後述する芳香族ジアミン又は脂肪族ジアミンに由来する2価の基であり、R’’は、後述する芳香族ジカルボン酸、脂肪族ジカルボン酸又は両末端にカルボキシ基を有するオリゴマーに由来する2価の基であることが好ましい。
In the general formulas (i) to (iii), a, b, c, x, y and z are integers indicating the average degree of polymerization, respectively, and a = 2 to 10, b = 0 to 3, c = 3 Y + z = 2 to 300 ((y + z) / x) for ˜30, x = 1, and z ≧ 20 (z / y) for y = 1.
In general formulas (i) to (iii), each R ′ independently represents a divalent group derived from an aromatic diamine or an aliphatic diamine, and in general formula (iii), R ″ represents an aromatic dicarboxylic acid. , A divalent group derived from an aliphatic dicarboxylic acid or an oligomer having a carboxy group at both ends.
A plurality of R ′ contained in the general formulas (i) to (iii) may be the same or different. When z is an integer of 2 or more, the plurality of R ″ may be the same or different.
In general formulas (i) to (iii), R ′ is specifically a divalent group derived from an aromatic diamine or aliphatic diamine described later, and R ″ is an aromatic described later. It is preferably a divalent group derived from dicarboxylic acid, aliphatic dicarboxylic acid or an oligomer having a carboxy group at both ends.

成分(b2)にジアミン由来の構造単位を形成するために使用するジアミンとしては、例えば、芳香族ジアミン、脂肪族ジアミン等が挙げられる。
前記芳香族ジアミンとしては、例えば、ジアミノベンゼン、ジアミノトルエン、ジアミノフェノール、ジアミノジメチルベンゼン、ジアミノメシチレン、ジアミノニトロベンゼン、ジアミノジアゾベンゼン、ジアミノナフタレン、ジアミノビフェニル、ジアミノジメトキシビフェニル、ジアミノジフェニルエーテル、ジアミノジメチルジフェニルエーテル、メチレンジアミン、メチレンビス(ジメチルアニリン)、メチレンビス(メトキシアニリン)、メチレンビス(ジメトキシアニリン)、メチレンビス(エチルアニリン)、メチレンビス(ジエチルアニリン)、メチレンビス(エトキシアニリン)、メチレンビス(ジエトキシアニリン)、イソプロピリデンジアニリン、ジアミノベンゾフェノン、ジアミノジメチルベンゾフェノン、ジアミノアントラキノン、ジアミノジフェニルチオエーテル、ジアミノジメチルジフェニルチオエーテル、ジアミノジフェニルスルホン、ジアミノジフェニルスルホキシド、ジアミノフルオレン等が挙げられる。
Examples of the diamine used for forming a structural unit derived from diamine in the component (b2) include aromatic diamine and aliphatic diamine.
Examples of the aromatic diamine include diaminobenzene, diaminotoluene, diaminophenol, diaminodimethylbenzene, diaminomesitylene, diaminonitrobenzene, diaminodiazobenzene, diaminonaphthalene, diaminobiphenyl, diaminodimethoxybiphenyl, diaminodiphenyl ether, diaminodimethyldiphenyl ether, methylene Diamine, methylenebis (dimethylaniline), methylenebis (methoxyaniline), methylenebis (dimethoxyaniline), methylenebis (ethylaniline), methylenebis (diethylaniline), methylenebis (ethoxyaniline), methylenebis (diethoxyaniline), isopropylidenedianiline, Diaminobenzophenone, diaminodimethylbenzophenone, dia Bruno anthraquinone, diamino diphenyl thioether, diaminodiphenyl dimethyl diphenyl thioether, diaminodiphenyl sulfone, diaminodiphenyl sulfoxide, diaminofluorene and the like.

前記脂肪族ジアミンとしては、例えば、エチレンジアミン、プロパンジアミン、ヒドロキシプロパンジアミン、ブタンジアミン、へプタンジアミン、ヘキサンジアミン、シクロペンタンジアミン、シクロヘキサンジアミン、アザペンタンジアミン、トリアザウンデカジアミン等が挙げられる。   Examples of the aliphatic diamine include ethylenediamine, propanediamine, hydroxypropanediamine, butanediamine, heptanediamine, hexanediamine, cyclopentanediamine, cyclohexanediamine, azapentanediamine, and triazaundecadiamine.

成分(b2)が有する「フェノール性水酸基を含有するジカルボン酸由来の構造単位」を形成するために使用するフェノール性水酸基を含有するジカルボン酸としては、例えば、ヒドロキシイソフタル酸、ヒドロキシフタル酸、ヒドロキシテレフタル酸、ジヒドロキシイソフタル酸、ジヒドロキシテレフタル酸等が挙げられる。
成分(b2)が有する「フェノール性水酸基を含有しないジカルボン酸由来の構造単位」を形成するために使用するフェノール性水酸基を含有しないジカルボン酸としては、例えば、芳香族ジカルボン酸、脂肪族ジカルボン酸、両末端にカルボキシ基を有するオリゴマー等が挙げられる。
芳香族ジカルボン酸としては、例えば、フタル酸、イソフタル酸、テレフタル酸、ビフェニルジカルボン酸、メチレン二安息香酸、チオ二安息香酸、カルボニル二安息香酸、スルホニル安息香酸、ナフタレンジカルボン酸等が挙げられる。
脂肪族ジカルボン酸としては、例えば、シュウ酸、マロン酸、メチルマロン酸、コハク酸、グルタル酸、アジピン酸、マレイン酸、フマル酸、りんご酸、酒石酸、(メタ)アクリロイルオキシコハク酸、ジ(メタ)アクリロイルオキシコハク酸、(メタ)アクリロイルオキシりんご酸、(メタ)アクリルアミドコハク酸、(メタ)アクリルアミドりんご酸等が挙げられる。
Examples of the dicarboxylic acid containing a phenolic hydroxyl group used for forming the “structural unit derived from a dicarboxylic acid containing a phenolic hydroxyl group” included in the component (b2) include hydroxyisophthalic acid, hydroxyphthalic acid, hydroxyterephthalate. Examples include acids, dihydroxyisophthalic acid, and dihydroxyterephthalic acid.
Examples of the dicarboxylic acid not containing a phenolic hydroxyl group used to form the “structural unit derived from a dicarboxylic acid not containing a phenolic hydroxyl group” included in the component (b2) include aromatic dicarboxylic acids, aliphatic dicarboxylic acids, Examples include oligomers having a carboxy group at both ends.
Examples of the aromatic dicarboxylic acid include phthalic acid, isophthalic acid, terephthalic acid, biphenyl dicarboxylic acid, methylene dibenzoic acid, thiodibenzoic acid, carbonyl dibenzoic acid, sulfonylbenzoic acid, and naphthalenedicarboxylic acid.
Examples of the aliphatic dicarboxylic acid include oxalic acid, malonic acid, methylmalonic acid, succinic acid, glutaric acid, adipic acid, maleic acid, fumaric acid, malic acid, tartaric acid, (meth) acryloyloxysuccinic acid, di (meta) ) Acryloyloxysuccinic acid, (meth) acryloyloxymalic acid, (meth) acrylamide succinic acid, (meth) acrylamide malic acid and the like.

成分(b2)の重量平均分子量は、特に制限はないが、例えば、60,000〜250,000であることが好ましく、80,000〜200,000であることがより好ましい。成分(b2)の重量平均分子量は、前記ポリイミド化合物(a1)の重量平均分子量と同様の方法により求めることができる。   Although there is no restriction | limiting in particular in the weight average molecular weight of a component (b2), For example, it is preferable that it is 60,000-250,000, and it is more preferable that it is 80,000-200,000. The weight average molecular weight of a component (b2) can be calculated | required by the method similar to the weight average molecular weight of the said polyimide compound (a1).

成分(b2)の活性水酸基当量は、特に制限はないが、1,500〜7,000g/molが好ましく、2,000〜6,000g/molがより好ましく、3,000〜5,000g/molがさらに好ましい。   The active hydroxyl group equivalent of component (b2) is not particularly limited, but is preferably 1,500 to 7,000 g / mol, more preferably 2,000 to 6,000 g / mol, and 3,000 to 5,000 g / mol. Is more preferable.

成分(b2)は、例えば、ジアミンと、フェノール性水酸基を含有するジカルボン酸と、フェノール性水酸基を含有しないジカルボン酸と、両末端にカルボキシ基を有するポリブタジエンとを、ジメチルアセトアミド等の有機溶媒中で、触媒として亜リン酸エステルとピリジン誘導体の存在下で反応性させて、カルボキシ基とアミノ基とを重縮合させることにより合成される。製造に使用できる各化合物は、上記したものを例示できる。   Component (b2) includes, for example, diamine, dicarboxylic acid containing a phenolic hydroxyl group, dicarboxylic acid not containing a phenolic hydroxyl group, and polybutadiene having a carboxy group at both ends in an organic solvent such as dimethylacetamide. And synthesized by polycondensation of a carboxy group and an amino group by reacting in the presence of a phosphite ester and a pyridine derivative as a catalyst. Examples of the compounds that can be used for the production include those described above.

成分(b2)の製造に使用する両末端にカルボキシ基を有するポリブタジエンとしては、例えば、数平均分子量が200〜10,000であることが好ましく、数平均分子量が500〜5,000のオリゴマーであることがより好ましい。   The polybutadiene having carboxy groups at both ends used for the production of the component (b2) is, for example, preferably an oligomer having a number average molecular weight of 200 to 10,000 and a number average molecular weight of 500 to 5,000. It is more preferable.

成分(b2)としては、市販品を使用することができ、市販品の成分(b2)としては、例えば、日本化薬株式会社製の「BPAM−155」等が挙げられる。   A commercially available product can be used as the component (b2), and examples of the commercially available component (b2) include “BPAM-155” manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.

B層用の樹脂組成物中の成分(b2)の含有量は、特に限定されないが、樹脂組成物に含まれる全樹脂成分に対して1〜20質量%が好ましく、2〜15質量%がより好ましく、3〜10質量%がさらに好ましい。成分(b2)の含有量が、1質量%以上であると、樹脂組成物の強靭性を高くすることができ、緻密な粗化形状が得られ、めっき銅との接着性を高めることができる。また、20質量%以下であれば、耐熱性の低下がなく、粗化工程時の薬液に対する耐性の低下も防ぐことができる。また、めっき銅との十分な接着性を確保できる。   Although content of the component (b2) in the resin composition for B layers is not specifically limited, 1-20 mass% is preferable with respect to all the resin components contained in a resin composition, and 2-15 mass% is more. Preferably, 3-10 mass% is more preferable. When the content of the component (b2) is 1% by mass or more, the toughness of the resin composition can be increased, a dense roughened shape can be obtained, and the adhesion to the plated copper can be enhanced. . Moreover, if it is 20 mass% or less, there will be no heat resistance fall and the fall with respect to the chemical | medical solution at the time of a roughening process can also be prevented. Moreover, sufficient adhesiveness with plated copper can be ensured.

<活性エステル硬化剤(b3)>
活性エステル硬化剤(b3)は、エステル基を1分子中に1個以上有し、エポキシ樹脂の硬化作用を有するものをいう。
活性エステル硬化剤(b3)としては、特に限定されないが、例えば、脂肪族又は芳香族カルボン酸と脂肪族又は芳香族ヒドロキシ化合物とから得られるエステル化合物等が挙げられる。
これらの中でも、脂肪族カルボン酸、脂肪族ヒドロキシ化合物等から得られるエステル化合物は、脂肪族鎖を含むことにより有機溶媒への可溶性及びエポキシ樹脂との相溶性を高くできる傾向にある。
また、芳香族カルボン酸、芳香族ヒドロキシ化合物等から得られるエステル化合物は、芳香族環を有することで耐熱性を高められる傾向にある。
<Active ester curing agent (b3)>
The active ester curing agent (b3) has one or more ester groups in one molecule and has an epoxy resin curing action.
Although it does not specifically limit as an active ester hardening | curing agent (b3), For example, the ester compound etc. which are obtained from an aliphatic or aromatic carboxylic acid and an aliphatic or aromatic hydroxy compound are mentioned.
Among these, ester compounds obtained from aliphatic carboxylic acids, aliphatic hydroxy compounds, and the like tend to have high solubility in organic solvents and compatibility with epoxy resins by including aliphatic chains.
Moreover, the ester compound obtained from aromatic carboxylic acid, an aromatic hydroxy compound, etc. exists in the tendency for heat resistance to be improved by having an aromatic ring.

活性エステル硬化剤(b3)としては、例えば、フェノールエステル化合物、チオフェノールエステル化合物、N−ヒドロキシアミンエステル化合物、複素環ヒドロキシ化合物のエステル化化合物等が挙げられる。
より具体的には、例えば、芳香族カルボン酸とフェノール性水酸基との縮合反応にて得られる芳香族エステルが挙げられ、ベンゼン、ナフタレン、ビフェニル、ジフェニルプロパン、ジフェニルメタン、ジフェニルエーテル、ジフェニルスルホン酸等の芳香環の水素原子の2〜4個をカルボキシ基で置換したものから選ばれる芳香族カルボン酸成分と、前記した芳香環の水素原子の1個を水酸基で置換した1価フェノールと芳香環の水素原子の2〜4個を水酸基で置換した多価フェノールとの混合物を原材料として、芳香族カルボン酸とフェノール性水酸基との縮合反応にて得られる芳香族エステル等が好ましい。すなわち、上記芳香族カルボン酸成分由来の構造単位と上記1価フェノール由来の構造単位と上記多価フェノール由来の構造単位とを有する芳香族エステルが好ましい。
Examples of the active ester curing agent (b3) include phenol ester compounds, thiophenol ester compounds, N-hydroxyamine ester compounds, esterified compounds of heterocyclic hydroxy compounds, and the like.
More specifically, for example, aromatic esters obtained by a condensation reaction of an aromatic carboxylic acid and a phenolic hydroxyl group can be mentioned, and aromatics such as benzene, naphthalene, biphenyl, diphenylpropane, diphenylmethane, diphenyl ether, diphenylsulfonic acid and the like can be mentioned. An aromatic carboxylic acid component selected from those in which 2 to 4 of the hydrogen atoms in the ring are substituted with carboxy groups; a monovalent phenol in which one of the hydrogen atoms in the aromatic ring is substituted with a hydroxyl group; and a hydrogen atom in the aromatic ring Aromatic esters obtained by a condensation reaction of an aromatic carboxylic acid and a phenolic hydroxyl group using a mixture of 2 to 4 of the above with a polyhydric phenol substituted with a hydroxyl group is preferred. That is, an aromatic ester having a structural unit derived from the aromatic carboxylic acid component, a structural unit derived from the monohydric phenol, and a structural unit derived from the polyhydric phenol is preferable.

活性エステル硬化剤(b3)としては、市販品を用いてもよい。活性エステル硬化剤(b3)の市販品としては、例えば、ジシクロペンタジエン型ジフェノール構造を含む活性エステル化合物として、「EXB9451」、「EXB9460」、「EXB9460S」、「HPC−8000−65T」(DIC株式会社製)、ナフタレン構造を含む活性エステル化合物として「EXB9416−70BK」(DIC株式会社製)、フェノールノボラックのアセチル化物を含む活性エステル化合物として「DC808」(三菱化学株式会社製)、フェノールノボラックのベンゾイル化物を含む活性エステル化合物として「YLH1026」(三菱化学株式会社製)等が挙げられる。
活性エステル硬化剤(b3)は、1種を単独で使用してもよいし、2種以上を併用してもよい。
A commercially available product may be used as the active ester curing agent (b3). Commercially available products of the active ester curing agent (b3) include, for example, “EXB9451”, “EXB9460”, “EXB9460S”, “HPC-8000-65T” (DIC) as active ester compounds containing a dicyclopentadiene type diphenol structure. Co., Ltd.), “EXB9416-70BK” (manufactured by DIC Corporation) as an active ester compound containing a naphthalene structure, “DC808” (manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation) as an active ester compound containing an acetylated product of phenol novolac, Examples of the active ester compound containing a benzoylated product include “YLH1026” (manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation).
An active ester hardening agent (b3) may be used individually by 1 type, and may use 2 or more types together.

活性エステル硬化剤(b3)のエステル当量は、特に限定されないが、150〜400g/molが好ましく、170〜300g/molがより好ましく、200〜250g/molがさらに好ましい。   The ester equivalent of the active ester curing agent (b3) is not particularly limited, but is preferably 150 to 400 g / mol, more preferably 170 to 300 g / mol, and further preferably 200 to 250 g / mol.

樹脂組成物中の多官能エポキシ樹脂(b1)のエポキシ基に対する、活性エステル硬化剤(b3)のエステル基の当量比(エステル基/エポキシ基)は、0.05〜1.5が好ましく、0.1〜1.3がより好ましく、0.2〜1.0がさらに好ましい。当量比(エステル基/エポキシ基)が前記範囲内であると、めっき銅との接着強度をより高め、且つより低い誘電正接と平滑な表面を得られるため、微細配線を形成する観点から好適である。   The equivalent ratio (ester group / epoxy group) of the ester group of the active ester curing agent (b3) to the epoxy group of the polyfunctional epoxy resin (b1) in the resin composition is preferably 0.05 to 1.5, 0 0.1 to 1.3 is more preferable, and 0.2 to 1.0 is more preferable. If the equivalent ratio (ester group / epoxy group) is within the above range, the adhesive strength with the plated copper can be further increased, and a lower dielectric loss tangent and a smooth surface can be obtained. is there.

<リン系硬化促進剤(b4)>
B層用の樹脂組成物は、さらにリン系硬化促進剤(b4)を含有することが好ましい。
リン系硬化促進剤(b4)としては、リン原子を含有し、多官能エポキシ樹脂(b1)と活性エステル硬化剤(b3)との反応を促進させる硬化促進剤であれば特に制限なく使用することができる。
樹脂組成物は、リン系硬化促進剤(b4)を含有することによって、硬化反応をより一層十分に進めることができる。この理由は、リン系硬化促進剤(b4)を用いることによって、活性エステル硬化剤(b3)中のカルボニル基の電子求引性を高めることができ、これにより活性エステル硬化剤(b3)と多官能エポキシ樹脂(b1)との反応が促進されるためと推察される。
このように樹脂組成物は、リン系硬化促進剤(b4)を含有することにより、他の硬化促進剤を用いた場合より、多官能エポキシ樹脂(b1)と活性エステル硬化剤(b3)との硬化反応がより一層十分に進行するため、第一の樹脂層と組み合わせた際に、低い誘電正接が得られると考えられる。
<Phosphorus curing accelerator (b4)>
It is preferable that the resin composition for the B layer further contains a phosphorus-based curing accelerator (b4).
As a phosphorus hardening accelerator (b4), if it is a hardening accelerator which contains a phosphorus atom and accelerates | stimulates reaction with a polyfunctional epoxy resin (b1) and an active ester hardening agent (b3), it will be used without a restriction | limiting. Can do.
By containing the phosphorus-based curing accelerator (b4), the resin composition can further promote the curing reaction. The reason for this is that by using the phosphorus-based curing accelerator (b4), the electron withdrawing property of the carbonyl group in the active ester curing agent (b3) can be enhanced. It is assumed that the reaction with the functional epoxy resin (b1) is promoted.
As described above, the resin composition contains the phosphorus-based curing accelerator (b4), so that the polyfunctional epoxy resin (b1) and the active ester curing agent (b3) are used more than when other curing accelerators are used. Since the curing reaction proceeds more sufficiently, it is considered that a low dielectric loss tangent can be obtained when combined with the first resin layer.

リン系硬化促進剤(b4)としては、例えば、トリフェニルホスフィン、ジフェニル(アルキルフェニル)ホスフィン、トリス(アルキルフェニル)ホスフィン、トリス(アルコキシフェニル)ホスフィン、トリス(アルキルアルコキシフェニル)ホスフィン、トリス(ジアルキルフェニル)ホスフィン、トリス(トリアルキルフェニル)ホスフィン、トリス(テトラアルキルフェニル)ホスフィン、トリス(ジアルコキシフェニル)ホスフィン、トリス(トリアルコキシフェニル)ホスフィン、トリス(テトラアルコキシフェニル)ホスフィン、トリアルキルホスフィン、ジアルキルアリールホスフィン、アルキルジアリールホスフィン等の有機ホスフィン類;有機ホスフィン類と有機ボロン類との錯体;第三級ホスフィンとキノン類との付加物などが挙げられる。硬化反応がより十分に進み、高いめっき銅との接着性を発揮できる観点から、第三級ホスフィンとキノン類との付加物が好ましい。
第三級ホスフィンとしては、特に限定されないが、例えば、トリ−n−ブチルホスフィン、ジブチルフェニルホスフィン、ブチルジフェニルホスフィン、エチルジフェニルホスフィン、トリフェニルホスフィン、トリス(4−メチルフェニル)ホスフィン、トリス(4−メトキシフェニル)ホスフィン等が挙げられる。また、キノン類としては、例えば、o−ベンゾキノン、p−ベンゾキノン、ジフェノキノン、1,4−ナフトキノン、アントラキノン等が挙げられる。めっき銅との接着性、耐熱性及び平滑な表面が得られる点から、トリ−n−ブチルホスフィンとp−ベンゾキノンとの付加物がより好ましい。
Examples of the phosphorus curing accelerator (b4) include triphenylphosphine, diphenyl (alkylphenyl) phosphine, tris (alkylphenyl) phosphine, tris (alkoxyphenyl) phosphine, tris (alkylalkoxyphenyl) phosphine, and tris (dialkylphenyl). ) Phosphine, tris (trialkylphenyl) phosphine, tris (tetraalkylphenyl) phosphine, tris (dialkoxyphenyl) phosphine, tris (trialkoxyphenyl) phosphine, tris (tetraalkoxyphenyl) phosphine, trialkylphosphine, dialkylarylphosphine Organic phosphines such as alkyl diaryl phosphines; complexes of organic phosphines with organic borons; tertiary phosphines and quinones Such as the addition thereof. From the viewpoint that the curing reaction proceeds more sufficiently and can exhibit high adhesiveness with plated copper, an adduct of a tertiary phosphine and a quinone is preferable.
The tertiary phosphine is not particularly limited. For example, tri-n-butylphosphine, dibutylphenylphosphine, butyldiphenylphosphine, ethyldiphenylphosphine, triphenylphosphine, tris (4-methylphenyl) phosphine, tris (4- And methoxyphenyl) phosphine. Examples of quinones include o-benzoquinone, p-benzoquinone, diphenoquinone, 1,4-naphthoquinone, and anthraquinone. An adduct of tri-n-butylphosphine and p-benzoquinone is more preferred from the viewpoints of adhesion to plated copper, heat resistance, and a smooth surface.

第三級ホスフィンとキノン類との付加物の製造方法としては、例えば、原料となる第三級ホスフィンとキノン類が共に溶解する溶媒中で両者を撹拌混合し、付加反応させた後、単離する方法等が挙げられる。この場合の製造条件としては、例えば、第三級ホスフィンとキノン類とを、20〜80℃の範囲で、メチルイソブチルケトン、メチルエチルケトン、アセトン等のケトン類などの溶媒中で、1〜12時間撹拌し、付加反応させることが好ましい。   As a method for producing an adduct of a tertiary phosphine and a quinone, for example, the mixture is stirred and mixed in a solvent in which the tertiary phosphine and the quinone as raw materials are dissolved together, followed by addition reaction, and then isolated. And the like. As production conditions in this case, for example, tertiary phosphine and quinones are stirred in a solvent such as ketones such as methyl isobutyl ketone, methyl ethyl ketone and acetone in the range of 20 to 80 ° C. for 1 to 12 hours. It is preferable to carry out addition reaction.

リン系硬化促進剤(b4)は、1種を単独で用いてもよいし、2種以上を併用してもよい。また、リン系硬化促進剤(b4)以外の硬化促進剤を1種以上併用してもよい。   A phosphorus hardening accelerator (b4) may be used individually by 1 type, and may use 2 or more types together. Moreover, you may use together 1 or more types of hardening accelerators other than a phosphorus hardening accelerator (b4).

B層用の樹脂組成物中のリン系硬化促進剤(b4)の含有量は、特に限定されないが、樹脂組成物に含まれる全樹脂成分に対して0.1〜20質量%が好ましく、0.2〜15質量%がより好ましく、0.4〜10質量%がさらに好ましい。リン系硬化促進剤(b4)の含有量が、0.1質量%以上であれば、硬化反応を十分進めることができ、20質量%以下であれば、硬化物の均質性を保つことができる。   Although content of the phosphorus hardening accelerator (b4) in the resin composition for B layers is not specifically limited, 0.1-20 mass% is preferable with respect to all the resin components contained in a resin composition, 0 2 to 15% by mass is more preferable, and 0.4 to 10% by mass is even more preferable. If the content of the phosphorus curing accelerator (b4) is 0.1% by mass or more, the curing reaction can be sufficiently advanced, and if it is 20% by mass or less, the homogeneity of the cured product can be maintained. .

<充填材(b5)>
B層用の樹脂組成物は、充填材(b5)を含有していてもよい。充填材(H)としては、無機充填材、有機充填材等が挙げられる。これらの中でも無機充填材が好ましい。
充填材(b5)を含有することで、B層をレーザー加工する際に樹脂の飛散をより低減できる。
<Filler (b5)>
The resin composition for the B layer may contain a filler (b5). Examples of the filler (H) include inorganic fillers and organic fillers. Among these, inorganic fillers are preferable.
By containing the filler (b5), the scattering of the resin can be further reduced when the B layer is laser processed.

無機充填材としては、特に限定されないが、例えば、無機充填材(A)として例示したものと同様のものを使用できる。
無機充填材の粒子径は、B層上に微細配線を形成する観点から、小さいことが好ましい。同様の観点から、無機充填材の比表面積は、20m/g以上が好ましく、50m/g以上がより好ましい。比表面積の上限に特に制限はないが、入手容易性の観点からは、500m/g以下が好ましく、200m/g以下がより好ましい。
比表面積は、不活性気体の低温低湿物理吸着によるBET法で求めることができる。具体的には、粉体粒子表面に、窒素等の吸着占有面積が既知の分子を液体窒素温度で吸着させ、その吸着量から粉体粒子の比表面積を求めることができる。
比表面積が20m/g以上の無機充填材としては、市販品を用いてもよい。市販品としては、例えば、ヒュームドシリカである「AEROSIL(登録商標)R972」(日本アエロジル株式会社製、商品名、比表面積110±20m/g)、「AEROSIL(登録商標)R202」(日本アエロジル株式会社製、商品名、比表面積100±20m/g)、コロイダルシリカである「PL−1」(扶桑化学工業株式会社製、商品名、比表面積181m/g)、「PL−7」(扶桑化学工業株式会社製、商品名、比表面積36m/g)等が挙げられる。また、耐湿性を向上させる観点からは、シランカップリング剤等の表面処理剤で表面処理された無機充填材であることが好ましい。
Although it does not specifically limit as an inorganic filler, For example, the thing similar to what was illustrated as an inorganic filler (A) can be used.
The particle diameter of the inorganic filler is preferably small from the viewpoint of forming fine wiring on the B layer. From the same viewpoint, the specific surface area of the inorganic filler is preferably 20 m 2 / g or more, and more preferably 50 m 2 / g or more. Although there is no restriction | limiting in particular in the upper limit of a specific surface area, 500 m < 2 > / g or less is preferable from a viewpoint of availability, and 200 m < 2 > / g or less is more preferable.
The specific surface area can be determined by a BET method by low-temperature low-humidity physical adsorption of an inert gas. Specifically, molecules having a known adsorption occupation area such as nitrogen are adsorbed on the surface of the powder particles at the liquid nitrogen temperature, and the specific surface area of the powder particles can be determined from the amount of adsorption.
As the inorganic filler having a specific surface area of 20 m 2 / g or more, a commercially available product may be used. Examples of commercially available products include fumed silica “AEROSIL (registered trademark) R972” (manufactured by Nippon Aerosil Co., Ltd., trade name, specific surface area 110 ± 20 m 2 / g), “AEROSIL (registered trademark) R202” (Japan) Aerosil Co., Ltd., trade name, specific surface area 100 ± 20 m 2 / g), colloidal silica “PL-1” (manufactured by Fuso Chemical Industry Co., Ltd., trade name, specific surface area 181 m 2 / g), “PL-7 "(Manufactured by Fuso Chemical Industry Co., Ltd., trade name, specific surface area 36 m 2 / g). Further, from the viewpoint of improving moisture resistance, an inorganic filler surface-treated with a surface treatment agent such as a silane coupling agent is preferable.

B層用の樹脂組成物中の無機充填材の含有量は、樹脂組成物の固形分に対して、1〜30質量%が好ましく、2〜25質量%がより好ましく、3〜20質量%がさらに好ましく、5〜20質量%が特に好ましい。無機充填材の含有量が、1質量%以上であると、より良好なレーザー加工性が得られる傾向にあり、30質量%以下であると、B層と導体層との接着性がより向上する傾向にある。   The content of the inorganic filler in the resin composition for the B layer is preferably 1 to 30% by mass, more preferably 2 to 25% by mass, and 3 to 20% by mass with respect to the solid content of the resin composition. More preferably, 5-20 mass% is especially preferable. When the content of the inorganic filler is 1% by mass or more, better laser processability tends to be obtained, and when it is 30% by mass or less, the adhesion between the B layer and the conductor layer is further improved. There is a tendency.

有機充填材としては、特に限定されないが、例えば、アクリロニトリルとブタジエンとを共重合した架橋NBR粒子、アクリロニトリルとブタジエンとアクリル酸等のカルボン酸との共重合体等のアクリロニトリルブタジエンの共重合物;ポリブタジエン、NBR、シリコーンゴム等をコアとし、アクリル酸誘導体をシェルとした、いわゆるコア−シェルゴム粒子などが挙げられる。有機充填材を含有することで、樹脂層の伸び性がより向上する傾向にある。   The organic filler is not particularly limited. For example, a crosslinked NBR particle obtained by copolymerizing acrylonitrile and butadiene, a copolymer of acrylonitrile butadiene such as a copolymer of acrylonitrile, butadiene and carboxylic acid such as acrylic acid; polybutadiene; And so-called core-shell rubber particles having NBR, silicone rubber or the like as a core and acrylic acid derivative as a shell. By containing the organic filler, the extensibility of the resin layer tends to be further improved.

<その他の成分>
B層用の樹脂組成物は、上記各成分の他に、本発明の効果を阻害しない範囲で、必要に応じて他の熱硬化性樹脂、熱可塑性樹脂、並びに難燃剤、酸化防止剤、流動調整剤、硬化促進剤等の添加剤などを含有することができる。
<Other ingredients>
In addition to the above components, the resin composition for the B layer is not limited to the effects of the present invention, and other thermosetting resins, thermoplastic resins, and flame retardants, antioxidants, and fluids as necessary. Additives such as a regulator and a curing accelerator can be contained.

本発明の複合フィルムは、硬化物の5GHzの誘電正接が0.005以下であることが好ましく、0.0040以下であることがより好ましい。下限値に特に制限はないが、0.002以上であってもよく、0.0030以上であってもよい。なお、該誘電正接は、実施例に記載の方法により求めることができる。   In the composite film of the present invention, the 5 GHz dielectric loss tangent of the cured product is preferably 0.005 or less, and more preferably 0.0040 or less. Although there is no restriction | limiting in particular in a lower limit, 0.002 or more may be sufficient and 0.0030 or more may be sufficient. The dielectric loss tangent can be obtained by the method described in the examples.

[プリント配線板及びその製造方法]
本発明のプリント配線板は、本発明の複合フィルムの硬化物を含有する。換言すると、本発明のプリント配線板は、層間絶縁層を有し、当該層間絶縁層のうち少なくとも一層が前記樹脂組成物を含む。
[Printed wiring board and manufacturing method thereof]
The printed wiring board of the present invention contains a cured product of the composite film of the present invention. In other words, the printed wiring board of the present invention has an interlayer insulating layer, and at least one of the interlayer insulating layers contains the resin composition.

埋め込み性の観点及び薄型化の観点から、本発明のプリント配線板では、A層の厚みをa(μm)、B層の厚みをb(μm)、回路の高さをc(μm)としたときに、
c≦a≦3cの関係を満たすことが好ましい。c≦a≦2cの関係を満たすことがより好ましく、c≦a≦1.5cの関係を満たすことが更に好ましい。
From the viewpoint of embedding and thinning, in the printed wiring board of the present invention, the thickness of the A layer is a (μm), the thickness of the B layer is b (μm), and the height of the circuit is c (μm). sometimes,
It is preferable to satisfy the relationship of c ≦ a ≦ 3c. It is more preferable to satisfy the relationship c ≦ a ≦ 2c, and it is even more preferable to satisfy the relationship c ≦ a ≦ 1.5c.

ピール強度をより発揮する観点及び薄型化の観点から、本発明のプリント配線板では、1≦b≦10であることが好ましい。1≦b≦7であることがより好ましく、1≦b≦5であることが更に好ましい。   In the printed wiring board of this invention, it is preferable that it is 1 <= b <= 10 from a viewpoint of exhibiting peel strength more, and a viewpoint of thickness reduction. 1 ≦ b ≦ 7 is more preferable, and 1 ≦ b ≦ 5 is still more preferable.

以下では、本発明の複合フィルムを回路基板にラミネートし、多層プリント配線板を製造する方法について説明する。   Hereinafter, a method for producing a multilayer printed wiring board by laminating the composite film of the present invention on a circuit board will be described.

本発明の多層プリント配線板の製造方法は、次の工程(1)を有する。より詳細には、本発明の多層プリント配線板の製造方法は、次の工程(1)〜(5)の工程を含み、工程(1)、工程(2)又は工程(3)の後で、支持体を剥離又は除去してもよい。
工程(1):本発明の複合フィルムを、回路基板の片面又は両面にラミネートする工程
工程(2):複合フィルムを熱硬化し、層間絶縁層を形成する工程
工程(3):層間絶縁層を形成した回路基板に穴あけする工程
工程(4):層間絶縁層の表面を粗化処理する工程
工程(5):粗化された層間絶縁層の表面にめっきする工程
The manufacturing method of the multilayer printed wiring board of this invention has the following process (1). More specifically, the method for producing a multilayer printed wiring board of the present invention includes the following steps (1) to (5), and after step (1), step (2) or step (3): The support may be peeled off or removed.
Step (1): Step of laminating the composite film of the present invention on one or both sides of the circuit board Step (2): Step of thermosetting the composite film to form an interlayer insulating layer Step (3): Interlayer insulating layer Step of drilling the formed circuit board Step (4): Step of roughening the surface of the interlayer insulating layer Step (5): Step of plating on the surface of the roughened interlayer insulating layer

<工程(1)>
工程(1)は、本発明の複合フィルムを、回路基板の片面又は両面にラミネートする工程である。複合フィルムをラミネートする装置としては、例えば、真空ラミネーターが挙げられる。真空ラミネーターとしては市販品を用いることができ、市販品の真空ラミネーターとしては、例えば、ニチゴー・モートン株式会社製のバキュームアップリケーター、株式会社名機製作所製の真空加圧式ラミネーター、日立インダストリーズ株式会社製のロール式ドライコーター、日立エーアイシー株式会社製の真空ラミネーター等が挙げられる。
<Step (1)>
Step (1) is a step of laminating the composite film of the present invention on one or both sides of the circuit board. Examples of the apparatus for laminating the composite film include a vacuum laminator. Commercially available products can be used as the vacuum laminator. Examples of the commercially available vacuum laminator include a vacuum applicator manufactured by Nichigo-Morton Co., Ltd., a vacuum pressure laminator manufactured by Meiki Seisakusho Co., Ltd., and manufactured by Hitachi Industries, Ltd. And a roll laminator manufactured by Hitachi AIC Co., Ltd.

ラミネートにおいて、複合フィルムが保護フィルムを有している場合には、保護フィルムを除去した後、複合フィルムを加圧及び/又は加熱しながら回路基板に圧着する。
複合フィルムを用いる場合、A層が、回路基板の回路が形成されている面に対向するように配置する。
ラミネートの条件は、複合フィルム、及び回路基板を必要に応じてプレヒートし、圧着温度(ラミネート温度)を60〜140℃、圧着圧力を0.1〜1.1MPa(9.8×104〜107.9×104N/m)、空気圧20mmHg(26.7hPa)以下の減圧下でラミネートしてもよい。また、ラミネートの方法は、バッチ式であっても、ロールでの連続式であってもよい。
基板は通常、回路又は部品による段差を有するが、本発明の複合フィルムを基板にラミネートした後、該段差を複合フィルムのA層によって十分に充填できる。充填の程度が十分となるようにする観点から、ラミネート温度は、特に70〜130℃が好ましい。
In the lamination, when the composite film has a protective film, after removing the protective film, the composite film is pressure-bonded to the circuit board while being pressurized and / or heated.
When using a composite film, it arrange | positions so that A layer may oppose the surface in which the circuit of the circuit board is formed.
The lamination conditions are as follows: the composite film and the circuit board are preheated as necessary, the pressure bonding temperature (laminating temperature) is 60 to 140 ° C., and the pressure bonding pressure is 0.1 to 1.1 MPa (9.8 × 10 4 to 10 7. 9 × 10 4 N / m 2 ) and air pressure of 20 mmHg (26.7 hPa) or less may be laminated. The laminating method may be a batch method or a continuous method using a roll.
The substrate usually has a step due to a circuit or a component, but after the composite film of the present invention is laminated on the substrate, the step can be sufficiently filled with the A layer of the composite film. From the viewpoint of ensuring a sufficient degree of filling, the laminating temperature is particularly preferably 70 to 130 ° C.

<工程(2)>
工程(2)は、複合フィルムを熱硬化し、層間絶縁層を形成する工程である。加熱硬化の条件は特に限定されないが、例えば、170〜220℃で20〜80分の範囲で選択することができる。熱硬化させた後に、支持体を剥離してもよい。
<Step (2)>
Step (2) is a step of thermosetting the composite film to form an interlayer insulating layer. The conditions for heat curing are not particularly limited, but can be selected, for example, at 170 to 220 ° C. for 20 to 80 minutes. You may peel a support body, after making it thermoset.

<工程(3)>
工程(3)は、層間絶縁層を形成した回路基板に穴あけする工程である。本工程では、層間絶縁層及び回路基板にドリル、レーザー、プラズマ、又はこれらの組み合わせ等の方法により、穴あけを行い、ビアホール、スルーホール等を形成する。レーザーとしては、炭酸ガスレーザー、YAGレーザー、UVレーザー、エキシマレーザー等が一般的に用いられる。
<Step (3)>
Step (3) is a step of drilling a circuit board on which an interlayer insulating layer is formed. In this step, holes are drilled in the interlayer insulating layer and the circuit board by a method such as drilling, laser, plasma, or a combination thereof to form via holes, through holes, and the like. As the laser, a carbon dioxide laser, a YAG laser, a UV laser, an excimer laser or the like is generally used.

<工程(4)>
工程(4)は、層間絶縁層の表面を粗化処理する工程である。本工程では、工程(2)で形成した層間絶縁層の表面を酸化剤により粗化処理を行うと同時に、ビアホール、スルーホール等が形成されている場合には、これらを形成する際に発生する「スミア」の除去を行うこともできる。
酸化剤としては、特に限定されないが、例えば、過マンガン酸塩(過マンガン酸カリウム、過マンガン酸ナトリウム)、重クロム酸塩、オゾン、過酸化水素、硫酸、硝酸等が挙げられる。これらの中でも、ビルドアップ工法による多層プリント配線板の製造における層間絶縁層の粗化に汎用されている酸化剤であるアルカリ性過マンガン酸溶液(例えば、過マンガン酸カリウム、過マンガン酸ナトリウム溶液)を用いて粗化、及びスミアの除去を行ってもよい。
<Process (4)>
Step (4) is a step of roughening the surface of the interlayer insulating layer. In this step, the surface of the interlayer insulating layer formed in step (2) is roughened with an oxidizing agent, and at the same time, if via holes, through holes, etc. are formed, they are generated when these are formed. “Smear” removal can also be performed.
Although it does not specifically limit as an oxidizing agent, For example, permanganate (potassium permanganate, sodium permanganate), dichromate, ozone, hydrogen peroxide, sulfuric acid, nitric acid, etc. are mentioned. Among these, alkaline permanganate solutions (for example, potassium permanganate and sodium permanganate solutions), which are oxidizers commonly used for roughening interlayer insulation layers in the production of multilayer printed wiring boards by the build-up method, are used. It may be used for roughening and smear removal.

<工程(5)>
工程(5)は、粗化された層間絶縁層の表面にめっきする工程である。複合フィルムのB層は、セミアディティブ法に適応できる層である。そのため、本工程では、層間絶縁層の表面に無電解めっきにて給電層を形成し、次いで導体層とは逆パターンのめっきレジストを形成し、電解めっきにより導体層(回路)を形成する、セミアディティブ法を用いることができる。
なお、導体層形成後、例えば、150〜200℃で20〜120分間アニール処理を施すことにより、層間絶縁層と導体層との接着強度を向上及び安定化させることができる。
<Step (5)>
Step (5) is a step of plating the surface of the roughened interlayer insulating layer. The B layer of the composite film is a layer that can be applied to the semi-additive method. Therefore, in this step, a power feeding layer is formed on the surface of the interlayer insulating layer by electroless plating, then a plating resist having a pattern opposite to that of the conductor layer is formed, and a conductor layer (circuit) is formed by electrolytic plating. An additive method can be used.
In addition, after forming a conductor layer, the adhesive strength of an interlayer insulation layer and a conductor layer can be improved and stabilized by performing an annealing process at 150 to 200 ° C. for 20 to 120 minutes, for example.

更に、このようにして作製された導体層の表面を粗化する工程を有していてもよい。導体層の表面の粗化は、導体層に接する樹脂との接着性を高める効果を有する。導体層を粗化する処理剤としては、特に限定されないが、例えば、有機酸系マイクロエッチング剤である、メックエッチボンドCZ−8100、メックエッチボンドCZ−8101、メックエッチボンドCZ−5480(以上、メック株式会社製、商品名)等が挙げられる。   Furthermore, you may have the process of roughening the surface of the conductor layer produced in this way. The roughening of the surface of the conductor layer has the effect of improving the adhesion with the resin in contact with the conductor layer. The treatment agent for roughening the conductor layer is not particularly limited. For example, MEC etch bond CZ-8100, MEC etch bond CZ-8101, and MEC etch bond CZ-5480 (which are organic acid microetching agents) MEC Co., Ltd. product name).

以上の製造方法の中でも、本発明の特徴より、以下のプリント配線板の製造方法が好ましい態様の一例として挙げられる。
前記複合フィルムを用いて、表面に回路又は部品による段差を有する基板に前記複合フィルムのA層側を貼付し、前記段差を充填する工程、
前記複合フィルムのA層及びB層を硬化する工程、
前記複合フィルムのB層側の面上にセミアディティブ法で回路を形成する工程、
を有する、プリント配線板の製造方法。
Among the above manufacturing methods, the following method for manufacturing a printed wiring board is given as an example of a preferred embodiment because of the features of the present invention.
Using the composite film, attaching the A layer side of the composite film to a substrate having a step due to a circuit or a part on the surface, and filling the step.
Curing the A and B layers of the composite film;
Forming a circuit by a semi-additive method on the surface of the composite film on the B layer side;
A method for producing a printed wiring board, comprising:

本発明の複合フィルム及びプリント配線板は、1GHz以上の高周波信号を扱う電子機器に特に好適に用いることができ、特に5GHz以上の高周波信号、10GHz以上の高周波信号又は30GHz以上の高周波信号を扱う電子機器に好適に用いることができる。つまり、本発明の複合フィルムは、高周波帯域の信号を使用する電子機器用複合フィルムとして有用である。   The composite film and printed wiring board of the present invention can be particularly suitably used for electronic devices that handle high-frequency signals of 1 GHz or higher. Particularly, electronic devices that handle high-frequency signals of 5 GHz or higher, high-frequency signals of 10 GHz or higher, or high-frequency signals of 30 GHz or higher. It can use suitably for an apparatus. That is, the composite film of the present invention is useful as a composite film for electronic equipment that uses signals in a high frequency band.

なお、本発明は、上記実施形態に限定されない。上記実施形態は例示であり、本発明の請求の範囲に記載された技術的思想と実質的に同一な構成を有し、同様な作用効果を奏するものは、いかなるものであっても本発明の技術的範囲に包含される。   In addition, this invention is not limited to the said embodiment. The above-described embodiment is an exemplification, and any configuration that has substantially the same configuration as the technical idea described in the claims of the present invention and has the same function and effect can be used. Included in the technical scope.

以下、本発明を実施例により具体的に説明するが、本発明はこれらの実施例に限定されない。   EXAMPLES Hereinafter, although an Example demonstrates this invention concretely, this invention is not limited to these Examples.

製造例1
<ポリイミド化合物(a1)の製造>
温度計、還流冷却管、撹拌装置を備えた加熱及び冷却可能な容積1Lのガラス製フラスコ容器に、1,6−ビスマレイミド−(2,2,4−トリメチル)ヘキサン(大和化成工業株式会社製、商品名:BMI−TMH)100質量部、2,2−ビス[4−(4−マレイミドフェノキシ)フェニル]プロパン(大和化成工業株式会社製、商品名:BMI−4000)418質量部、4,4’−[1,3−フェニレンビス(1−メチルエチリデン)]ビスアニリン(三井化学ファイン株式会社製、商品名:ビスアニリンM)72質量部及びプロピレングリコールモノメチルエーテル909質量部を投入し、還流させながら、液温120℃で、撹拌しながら3時間反応させた。
その後、後述する測定方法により、反応物の重量平均分子量が3,000であることを確認し、冷却及び200メッシュ濾過してポリイミド化合物(a1)(固形分濃度:65質量%)を製造した。
Production Example 1
<Production of polyimide compound (a1)>
1,6-bismaleimide- (2,2,4-trimethyl) hexane (manufactured by Daiwa Kasei Kogyo Co., Ltd.) was added to a 1 L glass flask container equipped with a thermometer, a reflux condenser, and a stirrer. , Trade name: BMI-TMH) 100 parts by mass, 2,2-bis [4- (4-maleimidophenoxy) phenyl] propane (manufactured by Daiwa Kasei Kogyo Co., Ltd., trade name: BMI-4000), 418 parts by mass, 4 '-[1,3-phenylenebis (1-methylethylidene)] bisaniline (trade name: Bisaniline M manufactured by Mitsui Chemicals Fine Co., Ltd.) and 909 parts by mass of propylene glycol monomethyl ether were charged and refluxed. The mixture was reacted at a liquid temperature of 120 ° C. for 3 hours with stirring.
Then, it confirmed that the weight average molecular weight of the reaction material was 3,000 with the measuring method mentioned later, cooled and filtered 200 mesh, and manufactured the polyimide compound (a1) (solid content concentration: 65 mass%).

<重量平均分子量の測定方法>
得られたポリイミド化合物(a1)の重量平均分子量は、GPCにより、標準ポリスチレンを用いた検量線から換算した。検量線は、標準ポリスチレン:TSKstandard POLYSTYRENE(Type;A−2500、A−5000、F−1、F−2、F−4、F−10、F−20、F−40)[東ソー株式会社製、商品名])を用いて3次式で近似した。GPCの条件は、以下に示す。
装置:(ポンプ:L−6200型[株式会社日立ハイテクノロジーズ製])
(検出器:L−3300型RI[株式会社日立ハイテクノロジーズ製])
(カラムオーブン:L−655A−52[株式会社日立ハイテクノロジーズ製])
カラム:ガードカラム;TSK Guardcolumn HHR−L + カラム;TSK gel−G4000HHR+TSK gel−G2000HHR(すべて東ソー株式会社製、商品名)
カラムサイズ:6.0×40mm(ガードカラム)、7.8×300mm(カラム)
溶離液:テトラヒドロフラン
試料濃度:30mg/5mL
注入量:20μL
流量:1.00mL/分
測定温度:40℃
<Measurement method of weight average molecular weight>
The weight average molecular weight of the obtained polyimide compound (a1) was converted from a calibration curve using standard polystyrene by GPC. The calibration curve is standard polystyrene: TSK standard POLYSTYRENE (Type; A-2500, A-5000, F-1, F-2, F-4, F-10, F-20, F-40) [manufactured by Tosoh Corporation, Product name]) and approximated by a cubic equation. The GPC conditions are shown below.
Apparatus: (Pump: L-6200 type [manufactured by Hitachi High-Technologies Corporation])
(Detector: L-3300 type RI [manufactured by Hitachi High-Technologies Corporation])
(Column oven: L-655A-52 [manufactured by Hitachi High-Technologies Corporation])
Column: guard column; TSK Guardcolumn HHR-L + column; TSK gel-G4000HHR + TSK gel-G2000HHR (all trade names, manufactured by Tosoh Corporation)
Column size: 6.0 × 40 mm (guard column), 7.8 × 300 mm (column)
Eluent: Tetrahydrofuran Sample concentration: 30 mg / 5 mL
Injection volume: 20 μL
Flow rate: 1.00 mL / min Measurement temperature: 40 ° C

<A層の樹脂層用ワニス(ワニスA)の製造方法>
無機充填材(a2)としてアミノシランカップリング剤処理を施したシリカ(株式会社アドマテックス製、商品名:SC−2050−KNK、固形分濃度70質量%のメチルイソブチルケトン分散液)と、エラストマ(B)としてポリブタジエン系エラストマ(エボニック社製、商品名:POLYVEST 75MA)とを、無機充填材(a2)の含有量が、樹脂組成物に含まれる固形分100質量%に対して、76.9質量%、エラストマ(B)の含有量が、樹脂組成物に含まれる固形分100質量%に対して、4.3質量%となる配合比率で、混合した。
そこに製造例1で製造したポリイミド化合物(a1)を、ポリイミド化合物(a1)の含有量が、樹脂組成物に含まれる固形分100質量%に対して、17質量%となる比率で混合し、高速回転ミキサーにより室温で溶解させた。
ポリイミド化合物(a1)が溶解したことを目視で確認した後、難燃剤として1,3−フェニレンビス(ジ2,6−キシレニルホスフェート)(大八化学工業株式会社製、商品名:PX−200)を1.0質量%、酸化防止剤として4,4’−ブチリデンビス−(6−t−ブチル−3−メチルフェノール)(三菱化学株式会社製、商品名:ヨシノックスBB)(以下ヨシノックスBBと略す)を0.1質量%、流動調整剤として「BYK310」(ビックケミー・ジャパン株式会社製、商品名、固形分濃度25質量%のキシレン溶液)0.1質量%(固形分)を混合した。その後、硬化促進剤として、有機過酸化物(日油株式会社製、商品名:パーブチルP)を、ポリイミド化合物(a1)の仕込み量から換算される原料(ビスマレイミド)とポリブタジエン系エラストマ(B)に対して1.0phr、イソシアネートマスクイミダゾール(第一工業製薬株式会社製、商品名:G8009L)を、ポリイミド化合物(a1)の仕込み量から換算される原料の脂肪族マレイミドに対して0.5phr混合した。次いで、ナノマイザー処理によって分散し、層間絶縁用樹脂フィルムを作製するためのワニスAを得た。
<Method for producing varnish for resin layer A (varnish A)>
Silica treated with an aminosilane coupling agent as an inorganic filler (a2) (manufactured by Admatechs Co., Ltd., trade name: SC-2050-KNK, methyl isobutyl ketone dispersion with a solid content of 70% by mass) and elastomer (B ) As a polybutadiene elastomer (trade name: POLYVEST 75MA, manufactured by Evonik Co., Ltd.), and the content of the inorganic filler (a2) is 76.9% by mass with respect to 100% by mass of the solid content contained in the resin composition. The elastomer (B) was mixed at a blending ratio of 4.3% by mass with respect to 100% by mass of the solid content contained in the resin composition.
The polyimide compound (a1) produced in Production Example 1 was mixed at a ratio that the content of the polyimide compound (a1) was 17% by mass with respect to 100% by mass of the solid content contained in the resin composition, It was dissolved at room temperature with a high-speed rotary mixer.
After visually confirming that the polyimide compound (a1) was dissolved, 1,3-phenylenebis (di-2,6-xylenyl phosphate) (made by Daihachi Chemical Industry Co., Ltd., trade name: PX-) as a flame retardant 200) 1.0% by mass, 4,4′-butylidenebis- (6-tert-butyl-3-methylphenol) as an antioxidant (manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation, trade name: Yoshinox BB) (hereinafter referred to as Yoshinox BB) (Abbreviated) was 0.1% by mass, and “BYK310” (trade name, xylene solution having a solid content concentration of 25% by mass) 0.1% by mass (solid content) was mixed as a flow regulator. Thereafter, as a curing accelerator, an organic peroxide (manufactured by NOF Corporation, trade name: perbutyl P), a raw material (bismaleimide) converted from the charged amount of the polyimide compound (a1) and a polybutadiene-based elastomer (B) 1.0 phr, isocyanate mask imidazole (manufactured by Daiichi Kogyo Seiyaku Co., Ltd., trade name: G8009L) is mixed with 0.5 phr with respect to the raw material aliphatic maleimide converted from the charged amount of the polyimide compound (a1). did. Subsequently, it disperse | distributed by the nanomizer process and the varnish A for producing the resin film for interlayer insulation was obtained.

各成分及びその配合量を表1に示す配合に変更した以外はワニスAと同様にして、層間絶縁用樹脂フィルムを作製するためのワニスB〜Dを得た。   Varnishes B to D for producing resin films for interlayer insulation were obtained in the same manner as varnish A except that the components and the blending amounts thereof were changed to the blends shown in Table 1.

<B層の樹脂層用ワニスの製造方法>
樹脂組成物に含まれる固形分100質量%に対して、6.4質量%のフェノール性水酸基含有ポリブタジエン変性ポリアミド樹脂(日本化薬株式会社製、商品名:BPAM−155)を、質量%が1.6%となるように、ジメチルアセトアミド、シクロヘキサノンの混合溶媒(ジメチルアセトアミド:シクロヘキサノンの質量比率が7:3の混合溶媒)に溶解させた。溶解後、アラルキルノボラック型エポキシ樹脂(日本化薬株式会社製、商品名:NC−3000H、エポキシ当量289g/mol)を樹脂組成物に含まれる固形分100質量%に対して、57.2質量%、無機充填材(日本アエロジル株式会社製、商品名:アエロジルR972、比表面積110±20m2/g)を樹脂組成物に含まれる固形分100質量%に対して8.8質量%、酸化防止剤(株式会社エーピーアイコーポレーション製、商品名:ヨシノックスBB)を樹脂組成物に含まれる固形分100質量%に対して、0.4質量%、フェノキシ樹脂(三菱化学株式会社製、商品名:YX7200、メチルエチルケトン希釈品(35質量%))を樹脂組成物に含まれる固形分100質量%に対して、固形分換算で9.1質量%、活性エステル硬化剤(DIC株式会社製、商品名:HPC−8000−65T(トルエン希釈品(65質量%))を樹脂組成物に含まれる固形分100質量%に対して、固形分換算で14.6質量%、流動調整剤(ビックケミージャパン社製、商品名:BYK−310(ワニスA製造時に用いたものと同じ))を樹脂組成物に含まれる固形分100質量%に対して、固形分換算で0.1質量%、リン系硬化促進剤(トリノルマルブチルホスフィンとp−ベンゾキノンとの付加物)を樹脂組成物に含まれる固形分100質量%に対して、3.4質量%配合し溶解させ、固形分濃度が18質量%になるようメチルエチルケトンでワニスを希釈した。その後、ナノマイザー処理によって分散し、B層の樹脂層用ワニスを得た。
<Method for producing varnish for resin layer of layer B>
6.4% by mass of a phenolic hydroxyl group-containing polybutadiene-modified polyamide resin (manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd., trade name: BPAM-155) with respect to 100% by mass of the solid content contained in the resin composition is 1% by mass. It was dissolved in a mixed solvent of dimethylacetamide and cyclohexanone (a mixed solvent having a mass ratio of dimethylacetamide: cyclohexanone of 7: 3) so as to be 6%. After dissolution, 57.2% by mass of aralkyl novolac type epoxy resin (manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd., trade name: NC-3000H, epoxy equivalent 289 g / mol) with respect to 100% by mass of the solid content contained in the resin composition. , 8.8% by mass of an inorganic filler (manufactured by Nippon Aerosil Co., Ltd., trade name: Aerosil R972, specific surface area 110 ± 20 m 2 / g) with respect to 100% by mass of the solid content contained in the resin composition, 0.4 mass% phenoxy resin (trade name: YX7200, manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation), based on 100 mass% solid content in the resin composition, manufactured by API Corporation, trade name: Yoshinox BB) The diluted product (35% by mass)) is 9.1% by mass in terms of solid content, 100% by mass based on 100% by mass of the solid content contained in the resin composition. Tell curing agent (manufactured by DIC Corporation, trade name: HPC-8000-65T (toluene diluted product (65% by mass)) with respect to 100% by mass of solid content contained in the resin composition is 14.6 in terms of solid content. % By mass, flow control agent (by Big Chemie Japan, trade name: BYK-310 (same as that used at the time of varnish A production)), 100% by mass of solid content contained in the resin composition 0.1 mass%, phosphorus-based curing accelerator (adduct of tri-normal butyl phosphine and p-benzoquinone) is mixed and dissolved in 3.4 mass% with respect to 100 mass% of the solid content contained in the resin composition. The varnish was diluted with methyl ethyl ketone so that the solid content concentration was 18% by mass, and then dispersed by nanomizer treatment to obtain a resin layer varnish for layer B.

<層間絶縁用樹脂フィルムの製造>
実施例1
上記で得たB層の樹脂層用ワニスを、離型処理された支持体(PETフィルム、東レフィルム加工株式会社製、商品名:セラピールSY(RX)(厚さ38μm))に、乾燥後のB層の厚さが2.5μmとなるようにコンマコーターを用いて塗布し、140℃で3分間乾燥して、支持体上にB層の樹脂層を形成した。次いで、該B層の樹脂層の上に、A層の樹脂層用ワニスAを、乾燥後のA層の樹脂層の厚さが27.5μmとなるようにコンマコーターを用いて塗布し、90℃で2分間乾燥した。次いで、A層の樹脂層の表面に、保護フィルムとして厚さ15μmのポリプロピレンフィルムを貼り合わせながらロール状に巻き取り、支持体及び保護フィルムを有する層間絶縁用樹脂フィルム1を得た。
<Manufacture of resin film for interlayer insulation>
Example 1
The varnish for the resin layer of the B layer obtained above is dried on a support (PET film, manufactured by Toray Film Processing Co., Ltd., trade name: Therapy SY (RX) (thickness 38 μm)). The B layer was applied using a comma coater so that the thickness was 2.5 μm, and dried at 140 ° C. for 3 minutes to form a B layer resin layer on the support. Next, the resin varnish A for layer A is applied onto the resin layer B using a comma coater so that the thickness of the resin layer A after drying is 27.5 μm. Dry at 2 ° C. for 2 minutes. Next, a 15 μm-thick polypropylene film as a protective film was wound on the surface of the A-layer resin layer in a roll shape to obtain an interlayer insulating resin film 1 having a support and a protective film.

実施例2〜5、比較例1〜3
A層の樹脂層用ワニスA2を用い、実施例1と同様にして、層間絶縁用樹脂フィルム2〜4を得た。
Examples 2-5, Comparative Examples 1-3
Resin films 2 to 4 for interlayer insulation were obtained in the same manner as Example 1 using the varnish A2 for the resin layer A.

[樹脂板の作製]
誘電正接の測定に用いた樹脂板は、以下の手順により作製した。
(I)実施例1〜3、及び比較例1で得られた支持体及び保護フィルムを有する層間絶縁用樹脂フィルムから保護フィルムを剥離した後、120℃で3分間乾燥した。
次に、乾燥後の支持体を有する層間絶縁用樹脂フィルムを、真空加圧式ラミネーター(株式会社名機製作所製、商品名:MVLP−500/600−II)を用いて、銅箔(電界銅箔、厚さ35μm)の光沢面上に、層間絶縁用樹脂フィルムと銅箔とが当接するようにラミネートして、銅箔、層間絶縁用樹脂フィルム、支持体がこの順に積層された積層体(P)を得た。前記ラミネートは、30秒間減圧して圧力を0.5MPaとした後、120℃、30秒間、圧着圧力0.5MPaでプレスする方法により行った。その後、積層体(P)から支持体を剥離した。
(II)次に、支持体としてのPETフィルム及び保護フィルムとしてのポリプロピレンフィルムを有する層間絶縁用樹脂フィルムを準備し、保護フィルムを剥離した後、110℃で3分間の乾燥を行った。
(III)次に、上記(I)で得られた支持体を剥離した積層体(P)と、上記(II)で得られた乾燥後の支持体を有する層間絶縁用樹脂フィルムとを、層間絶縁用樹脂フィルム同士が当接するように、前記(I)と同様の条件でラミネートして、銅箔、層間絶縁用樹脂フィルム2層からなる層、支持体がこの順に積層された積層体(Q)を得た。その後、積層体(Q)から支持体を剥離した。
(IV)次に、上記(III)で得られた支持体を剥離した積層体(Q)と、上記(II)と同様の方法により得られた乾燥後の支持体を有する層間絶縁用樹脂フィルムとを、層間絶縁用樹脂フィルム同士が当接するように、前記(I)と同様の条件でラミネートして、銅箔、層間絶縁用樹脂フィルム3層からなる層、支持体がこの順に積層された積層体(R)を得た。
(V)前記(I)〜(III)と同様の方法により、積層体(Q)を作製した。
(VI)上記(V)で得られた積層体(Q)と、上記(I)〜(IV)で得られた積層体(R)の支持体をそれぞれ剥離し、積層体(Q)と積層体(R)の層間絶縁用樹脂フィルム同士を貼り合わせ、圧着圧力3.0MPaで190℃、60分間、真空プレスを用いてプレス成型を行った。得られた両面銅箔付き樹脂板を、190℃で2時間硬化させた後、過硫酸アンモニウムで銅箔をエッチングすることで、樹脂板を得た。
[Production of resin plate]
The resin plate used for the measurement of dielectric loss tangent was produced by the following procedure.
(I) After peeling a protective film from the resin film for interlayer insulation which has the support body and protective film which were obtained in Examples 1-3 and the comparative example 1, it dried at 120 degreeC for 3 minute (s).
Next, the resin film for interlayer insulation which has the support body after drying is made into copper foil (electrolytic copper foil) using a vacuum pressurization type laminator (made by Meiki Seisakusho Co., Ltd., trade name: MVLP-500 / 600-II). , 35 μm thick) on the glossy surface so that the interlayer insulating resin film and the copper foil are in contact with each other, and the laminated body in which the copper foil, the interlayer insulating resin film, and the support are laminated in this order (P ) The laminating was performed by a method in which the pressure was reduced to 0.5 MPa by reducing the pressure for 30 seconds and then pressing at 120 ° C. for 30 seconds at a pressure of 0.5 MPa. Then, the support body was peeled from the laminated body (P).
(II) Next, an interlayer insulating resin film having a PET film as a support and a polypropylene film as a protective film was prepared, and the protective film was peeled off, followed by drying at 110 ° C. for 3 minutes.
(III) Next, the laminate (P) from which the support obtained in (I) above was peeled off and the interlayer insulating resin film having the dried support obtained in (II) above were Laminate (Q) laminated with copper foil, two layers of interlayer insulating resin films, and a support laminated in this order so that the insulating resin films are in contact with each other under the same conditions as in (I) above. ) Thereafter, the support was peeled from the laminate (Q).
(IV) Next, an interlayer insulating resin film having a laminate (Q) from which the support obtained in (III) has been peeled and a dried support obtained by the same method as in (II) above Are laminated under the same conditions as in the above (I) so that the interlayer insulating resin films are in contact with each other, and a layer of copper foil, three interlayer insulating resin films, and a support are laminated in this order. A laminate (R) was obtained.
(V) A laminate (Q) was produced by the same method as in the above (I) to (III).
(VI) The laminate (Q) obtained in the above (V) and the support of the laminate (R) obtained in the above (I) to (IV) are peeled off, and the laminate (Q) and the laminate are laminated. The resin films for interlayer insulation of the body (R) were bonded together, and press molding was performed using a vacuum press at 190 ° C. for 60 minutes at a pressure of 3.0 MPa. After the obtained resin plate with double-sided copper foil was cured at 190 ° C. for 2 hours, the copper foil was etched with ammonium persulfate to obtain a resin plate.

[誘電正接の測定方法]
上記で作製された樹脂板を幅2mm、長さ70mmの試験片に切り出し、ネットワークアナライザー(アジレント・テクノロジー株式会社製、商品名:E8364B)と5GHz対応空洞共振器(株式会社関東電子応用開発製)を用いて、誘電正接を測定した。測定温度は25℃とした。評価結果を表1に示す。誘電正接が低いほど、誘電特性に優れることを示す。
[Measurement method of dielectric loss tangent]
The resin plate produced above is cut into a test piece having a width of 2 mm and a length of 70 mm, and a network analyzer (manufactured by Agilent Technologies, trade name: E8364B) and a cavity resonator for 5 GHz (manufactured by Kanto Electronics Application Development Co., Ltd.) Was used to measure the dielectric loss tangent. The measurement temperature was 25 ° C. The evaluation results are shown in Table 1. A lower dielectric loss tangent indicates better dielectric properties.

[溶融粘度の評価方法]
A層及びB層を単独で作製したフィルムを用いた。作製フィルムを貼り合わせによって厚みを130μm以上260μm未満に調整した単層シートを10mm×10mmに切断したものを用いた。フィルム単体の厚みが130μm未満である場合は、複数枚数貼り合わせて130μm以上となるようにした。硬化が進まない温度で貼り合わせて、ずり粘度測定中に貼り合わせ面において剥離が生じないようにする。ずり粘度は、回転型レオメーター(TAインスツルメント製、ARES)を用い、平行円板(直径8mm)にフィルムをフィルム厚より2〜5μm小さなギャップ幅で挟み、周波数1Hz、歪み1%で30℃から300℃まで(昇温速度5℃/分)測定した際の複素粘度の値である。
[Method for evaluating melt viscosity]
The film which produced A layer and B layer independently was used. A single layer sheet whose thickness was adjusted to 130 μm or more and less than 260 μm by laminating the prepared film was cut into 10 mm × 10 mm. When the thickness of the single film was less than 130 μm, a plurality of sheets were laminated so as to be 130 μm or more. Bonding is performed at a temperature at which curing does not proceed so that peeling does not occur on the bonding surface during shear viscosity measurement. The shear viscosity is 30 at a frequency of 1 Hz and a strain of 1%, using a rotary rheometer (TA Instruments, ARES), sandwiching the film between parallel disks (diameter 8 mm) with a gap width 2 to 5 μm smaller than the film thickness. It is the value of the complex viscosity when measured from ℃ to 300 ℃ (temperature increase rate: 5 ℃ / min).

[表面粗さ評価の基板作製方法]
表面粗さ評価用の基板を以下の手順により基板を作製した。
実施例1〜3及び比較例1で得られた支持体及び保護フィルムを有する層間絶縁用樹脂フィルムを、240mm×240mmのサイズに切断した後、保護フィルムを剥離した。
得られた支持体を有する層間絶縁用樹脂フィルムを、CZ処理が施されたプリント配線板(日立化成株式会社製、商品名:E−700GR)上に、A層の樹脂層とプリント配線板とが当接するようにラミネートした。ラミネートは、120℃、30秒間減圧して圧力を0.5MPaとし、その後、120℃、30秒間、圧着圧力0.5MPaでプレスする方法により行った。
その後、室温に冷却し、層間絶縁用樹脂フィルムを配したプリント配線板を得た。次に、層間絶縁用樹脂フィルムを配したプリント配線板を支持体を付けたまま第一段階目の硬化として130℃で20分間60分間防爆乾燥機中で硬化を行い、その後第一段階目の硬化として190℃で40分間防爆乾燥機中で硬化を行い、層間絶縁層が形成されたプリント配線板を得た。その後支持体を剥離しプリント配線板を得た。
[Substrate preparation method for surface roughness evaluation]
A substrate for surface roughness evaluation was prepared by the following procedure.
After the resin film for interlayer insulation which has the support body and protective film which were obtained in Examples 1-3 and the comparative example 1 was cut | disconnected to the size of 240 mm x 240 mm, the protective film was peeled.
The resin film for interlayer insulation having the obtained support is placed on a printed wiring board (trade name: E-700GR, manufactured by Hitachi Chemical Co., Ltd.) subjected to CZ treatment, Were laminated so that they contact each other. Lamination was performed by reducing the pressure at 120 ° C. for 30 seconds to a pressure of 0.5 MPa, and then pressing at 120 ° C. for 30 seconds at a pressure of 0.5 MPa.
Then, it cooled to room temperature and obtained the printed wiring board which distribute | arranged the resin film for interlayer insulation. Next, the printed wiring board on which the interlayer insulating resin film is disposed is cured in an explosion-proof dryer at 130 ° C. for 20 minutes for 60 minutes as the first stage curing with the support attached, and then the first stage Curing was performed in an explosion-proof dryer at 190 ° C. for 40 minutes to obtain a printed wiring board on which an interlayer insulating layer was formed. Thereafter, the support was peeled off to obtain a printed wiring board.

[粗化処理方法]
上記で得られた試験片を、60℃に加温した膨潤液(ローム・アンド・ハース電子材料株式会社製、商品名:CIRCUPOSIT MLB CONDITIONER211)に10分間浸漬処理した。次に、80℃に加温した粗化液(ローム・アンド・ハース電子材料株式会社製、商品名:CIRCUPOSIT MLB PROMOTER213)に10分間浸漬処理した。引き続き、45℃に加温した中和液(ローム・アンド・ハース電子材料株式会社製、商品名:CIRCUPOSIT MLB NEUTRALIZER MLB216)に5分間浸漬処理して中和した。このようにして、前記試験片の層間絶縁層の表面を粗化処理したものを、表面粗さ測定用基板として用いた。
[Roughening method]
The test piece obtained above was immersed in a swelling liquid heated to 60 ° C. (Rohm and Haas Electronic Materials, trade name: CIRCUPOSIT MLB CONDITIONER 211) for 10 minutes. Next, it was immersed in a roughening liquid (Rohm and Haas Electronic Materials Co., Ltd., trade name: CIRCUPOSIT MLB PROMOTER 213) heated to 80 ° C. for 10 minutes. Subsequently, the mixture was neutralized by immersion for 5 minutes in a neutralizing solution heated to 45 ° C. (Rohm and Haas Electronic Materials Co., Ltd., trade name: CIRCUPOSIT MLB NEUTRALIZER MLB216). Thus, what roughened the surface of the interlayer insulation layer of the said test piece was used as a substrate for surface roughness measurement.

[表面粗さ測定方法]
上記で得られた表面粗さ測定用基板の表面粗さを、比接触式表面粗さ計(ブルカーエイエックスエス株式会社製、商品名:wykoNT9100)を用い、内部レンズ1倍、外部レンズ50倍を用いて測定し、算術平均粗さ(Ra)を得た。評価結果を表1に示す。Raは本発明の主旨から、小さいほうが好ましく、200nm未満であると微細配線形成に好適である。
[Surface roughness measurement method]
The surface roughness of the substrate for measuring surface roughness obtained above was measured using a specific contact type surface roughness meter (Bruker AXS Co., Ltd., trade name: wykoNT9100), 1x internal lens, 50x external lens. Was used to obtain arithmetic average roughness (Ra). The evaluation results are shown in Table 1. From the gist of the present invention, Ra is preferably small, and if it is less than 200 nm, it is suitable for forming fine wiring.

[めっき銅との接着強度(めっきピール強度)作製方法]
めっき銅との接着強度評価とリフロー耐熱性評価を実施するにあたり、以下の手順により評価基板を作製した。
まず、前記と同様の方法で作製した層間絶縁用樹脂フィルム付きプリント配線板を、40mm×60mmに切り出し、試験片とした。
該試験片を、上記の表面粗さ測定用の基板同様、粗化処理した後、60℃のアルカリクリーナー(アトテックジャパン株式会社製、商品名:クリーナーセキュリガント902)で5分間処理し、脱脂洗浄した。洗浄後、23℃のプリディップ液(アトテックジャパン株式会社製、商品名:プリディップネオガントB)で2分間処理した。その後、40℃のアクチベーター液(アトテックジャパン株式会社製、商品名:アクチベーターネオガント834)で5分間処理を施し、パラジウム触媒を付着させた。次に、30℃の還元液(アトテックジャパン株式会社製、商品名:リデューサーネオガントWA)で5分間処理した。
上記の処理を行った試験片を、化学銅液(アトテックジャパン株式会社製、商品名:ベーシックプリントガントMSK−DK)に入れ、層間絶縁層上のめっき厚さが1μになるまで、無電解めっきを行った。無電解めっき後に、めっき皮膜中に残存している応力を緩和し、残留している水素ガスを除去するために、120℃で15分間ベーク処理を施した。
次に、無電解めっき処理された試験片に対して、さらに層間絶縁層上のめっき厚さが35μmになるまで、電解めっきを行い、導体層として銅層を形成した。電解めっき後、190℃で120分間加熱、硬化させて接着強度測定部作製前の測定基板を得た。
銅層に10mm幅のレジストを形成し、過硫酸アンモニウムで銅層をエッチングすることにより、接着強度測定部として10mm幅の銅層を有する、めっき銅との接着強度測定用基板を得た。
[Adhesion strength with plated copper (plating peel strength) production method]
In carrying out the adhesive strength evaluation with the plated copper and the reflow heat resistance evaluation, an evaluation substrate was prepared according to the following procedure.
First, the printed wiring board with the resin film for interlayer insulation produced by the method similar to the above was cut out to 40 mm x 60 mm, and it was set as the test piece.
After roughening the test piece in the same manner as the substrate for measuring the surface roughness, the test piece was treated with an alkali cleaner (manufactured by Atotech Japan Co., Ltd., trade name: Cleaner Securigant 902) for 5 minutes, and degreased and washed. did. After washing, it was treated with a 23 ° C. pre-dip solution (manufactured by Atotech Japan Co., Ltd., trade name: Pre-dip Neo Gant B) for 2 minutes. Then, it processed for 5 minutes with the 40 degreeC activator liquid (Atotech Japan Co., Ltd. make, brand name: Activator Neogant 834), and the palladium catalyst was made to adhere. Next, it processed for 5 minutes with a 30 degreeC reducing liquid (Atotech Japan Co., Ltd. make, brand name: Reducer Neogant WA).
The test piece subjected to the above treatment is put into a chemical copper solution (manufactured by Atotech Japan Co., Ltd., trade name: Basic Print Gantt MSK-DK), and electroless plating is performed until the plating thickness on the interlayer insulating layer becomes 1 μm. Went. After the electroless plating, a baking treatment was performed at 120 ° C. for 15 minutes in order to relieve the stress remaining in the plating film and remove the remaining hydrogen gas.
Next, electrolytic plating was performed on the test piece subjected to the electroless plating treatment until the plating thickness on the interlayer insulating layer became 35 μm, and a copper layer was formed as a conductor layer. After the electrolytic plating, the substrate was heated and cured at 190 ° C. for 120 minutes to obtain a measurement substrate before production of the adhesive strength measurement part.
A 10 mm wide resist was formed on the copper layer, and the copper layer was etched with ammonium persulfate to obtain a substrate for measuring adhesive strength with plated copper having a 10 mm wide copper layer as an adhesive strength measuring part.

[めっき銅との接着強度の測定方法]
上記により得られた接着強度測定用基板を用いて、層間絶縁層と銅層との接着強度の測定を以下の方法により行った。
接着強度測定部の銅層の一端を、銅層と層間絶縁層との界面で剥がしてつかみ具でつかみ、小型卓上試験機(株式会社島津製作所製、商品名:EZT Test)を用いて、垂直方向に引っ張り速度50mm/分、室温中で引き剥がしたときの荷重を測定した。
[Measurement method of adhesive strength with plated copper]
Using the adhesive strength measuring substrate obtained as described above, the adhesive strength between the interlayer insulating layer and the copper layer was measured by the following method.
One end of the copper layer of the adhesive strength measuring section is peeled off at the interface between the copper layer and the interlayer insulating layer and is gripped with a gripper, and vertically using a small tabletop testing machine (manufactured by Shimadzu Corporation, trade name: EZT Test). The load when it was peeled off at room temperature at a pulling speed of 50 mm / min in the direction was measured.

[凹凸埋め込み性の評価方法]
各例で得られた複合フィルムを、240mm×240mmのサイズに切断した後、保護フィルムを剥離した。
得られた複合フィルム(支持体付き)を、厚み18μm、5mm幅の銅配線と100μm幅の銅配線が両方 形成されているプリント配線板(日立化成株式会社製、商品名:E−700GR)上に、第一の樹脂層とプリント配線板とが当接するようにラミネートした。ラミネートは、第一ステージとして100℃、15秒間真空し、その後0.5MPaで45秒間加圧し、さらに、第二ステージとして120℃、60秒間、圧着圧力0.5MPaでプレスする方法により行った。その後、室温に冷却し、複合フィルムを配したプリント配線板を得た。
次に、複合フィルムを配したプリント配線板を、支持体を付けたまま第一段階目の硬化として130℃で20分間、防爆乾燥機中で硬化を行い、その後、第二段階目の硬化として190℃で40分間、防爆乾燥機中で硬化を行い、層間絶縁層が形成されたプリント配線板を得た。その後、支持体を剥離してプリント配線板を得た。
このプリント配線板の銅配線の部分を目視により観察し、5mm幅の銅配線と100μm幅の銅配線の埋め込み性が共に良好なものを「○」、埋め込み性が共に悪いものを「×」と評価した。
[Evaluation method of unevenness embedding]
The composite film obtained in each example was cut into a size of 240 mm × 240 mm, and then the protective film was peeled off.
On the printed wiring board (trade name: E-700GR, manufactured by Hitachi Chemical Co., Ltd.) on which the obtained composite film (with support) is formed with both a copper wiring with a thickness of 18 μm and a width of 5 mm and a copper wiring with a width of 100 μm. In addition, the first resin layer and the printed wiring board were laminated so as to contact each other. Lamination was performed by vacuuming at 100 ° C. for 15 seconds as the first stage, then pressing at 0.5 MPa for 45 seconds, and pressing at a pressure pressure of 0.5 MPa at 120 ° C. for 60 seconds as the second stage. Then, it cooled to room temperature and obtained the printed wiring board which distribute | arranged the composite film.
Next, the printed wiring board on which the composite film is arranged is cured in an explosion-proof dryer at 130 ° C. for 20 minutes as the first stage curing with the support attached, and then as the second stage curing. Curing was performed in an explosion-proof dryer at 190 ° C. for 40 minutes to obtain a printed wiring board on which an interlayer insulating layer was formed. Thereafter, the support was peeled off to obtain a printed wiring board.
The copper wiring portion of this printed wiring board is visually observed, and “○” indicates that the embedding property of both the 5 mm width copper wiring and the 100 μm width copper wiring is good, and “×” indicates that the embedding property is both bad. evaluated.

Figure 2018014388
Figure 2018014388
Figure 2018014388
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表2より、本実施形態の熱硬化性樹脂組成物を用いた実施例2及び3のプリント配線板は、誘電正接が小さく、平滑な表面(低表面粗さ(Ra))を有しながらも、めっき銅との接着強度に優れる層間絶縁層を有しており、微細配線の形成に好適であることが分かる。 From Table 2, the printed wiring boards of Examples 2 and 3 using the thermosetting resin composition of the present embodiment have a small dielectric loss tangent and a smooth surface (low surface roughness (Ra)). It has an interlayer insulating layer excellent in adhesive strength with plated copper, and is found to be suitable for forming fine wiring.

本発明の層間絶縁用層間絶縁用樹脂フィルムは、誘電正接が小さく、めっきピール強度に優れる。したがって、本発明の熱硬化性樹脂組成物、層間絶縁用樹脂フィルム、及びプリント配線板は、コンピュータ、携帯電話、デジタルカメラ、テレビ等の電気製品、自動二輪車、自動車、電車、船舶、航空機等の乗り物に有用である。   The interlayer insulation resin film for interlayer insulation of the present invention has a small dielectric loss tangent and excellent plating peel strength. Therefore, the thermosetting resin composition of the present invention, the resin film for interlayer insulation, and the printed wiring board are used in computers, mobile phones, digital cameras, televisions and other electrical products, motorcycles, automobiles, trains, ships, aircrafts, etc. Useful for vehicles.

1 第一の樹脂層
2 第二の樹脂層
3 支持体
4 保護フィルム
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 1st resin layer 2 2nd resin layer 3 Support body 4 Protective film

Claims (9)

A層とB層とを備え、B層の厚みが1〜5μmである高周波帯域の信号を使用する電子機器用複合フィルム。   A composite film for an electronic device, comprising an A layer and a B layer, and using a signal in a high frequency band in which the thickness of the B layer is 1 to 5 μm. A層の厚みが10〜40μmである請求項1に記載の高周波帯域の信号を使用する電子機器用複合フィルム。   The composite film for electronic equipment using a signal in a high frequency band according to claim 1, wherein the thickness of the A layer is 10 to 40 µm. A層とB層とを備え、B層のデスミア後の重量減少が1g/m以下である高周波帯域の信号を使用する電子機器用複合フィルム。 A composite film for electronic equipment, comprising an A layer and a B layer, and using a signal in a high frequency band in which the weight loss after desmearing of the B layer is 1 g / m 2 or less. A層の80〜150℃での最低溶融粘度が100〜5,000Pa・sであり、B層の80〜150℃での最低溶融粘度が50,000Pa・s以上である請求項1〜3のいずれか一項に記載の高周波帯域の信号を使用する電子機器用複合フィルム。   The minimum melt viscosity at 80 to 150 ° C of the A layer is 100 to 5,000 Pa · s, and the minimum melt viscosity at 80 to 150 ° C of the B layer is 50,000 Pa · s or more. The composite film for electronic devices which uses the signal of the high frequency band as described in any one. A層がマレイミド化合物由来の構造単位とジアミン化合物由来の構造単位とを有するポリイミド化合物と無機充填材とを含有する請求項1〜4のいずれか一項に記載の高周波帯域の信号を使用する電子機器用複合フィルム。   The electron which uses the signal of the high frequency band as described in any one of Claims 1-4 in which A layer contains the polyimide compound which has a structural unit derived from a maleimide compound, and a structural unit derived from a diamine compound, and an inorganic filler. Composite film for equipment. B層が多官能エポキシ樹脂とフェノール性水酸基含有ポリアミド樹脂とを含有する請求項1〜5のいずれか一項に記載の高周波帯域の信号を使用する電子機器用複合フィルム。   The composite film for electronic devices using the signal of the high frequency band as described in any one of Claims 1-5 in which B layer contains a polyfunctional epoxy resin and a phenolic hydroxyl group containing polyamide resin. 5GHzの誘電正接が0.005以下である請求項1〜6のいずれか一項に記載の高周波帯域の信号を使用する電子機器用複合フィルム。   The composite film for an electronic device using a signal in a high frequency band according to any one of claims 1 to 6, wherein a dielectric loss tangent at 5 GHz is 0.005 or less. A層とB層とを備える高周波帯域の信号を使用する電子機器用複合フィルムの硬化物と、A層に埋め込まれてなる回路とを有するプリント配線板であって、A層の厚みをa(μm)、B層の厚みをb(μm)、回路の高さをc(μm)としたときに、c≦a≦3cかつ1≦b≦10であるプリント配線板。   A printed wiring board having a cured product of a composite film for an electronic device using a signal in a high frequency band comprising an A layer and a B layer, and a circuit embedded in the A layer, the thickness of the A layer being a ( μm), a printed wiring board in which c ≦ a ≦ 3c and 1 ≦ b ≦ 10 when the thickness of the B layer is b (μm) and the height of the circuit is c (μm). 請求項1〜7のいずれか1項に記載の高周波帯域の信号を使用する電子機器用複合フィルムを、回路基板の片面又は両面にラミネートする工程を備える、プリント配線板の製造方法。   The manufacturing method of a printed wiring board provided with the process of laminating | stacking the composite film for electronic devices which uses the signal of the high frequency band of any one of Claims 1-7 on the single side | surface or both surfaces of a circuit board.
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