JP6879592B2 - 半導体モジュール - Google Patents

半導体モジュール Download PDF

Info

Publication number
JP6879592B2
JP6879592B2 JP2019521924A JP2019521924A JP6879592B2 JP 6879592 B2 JP6879592 B2 JP 6879592B2 JP 2019521924 A JP2019521924 A JP 2019521924A JP 2019521924 A JP2019521924 A JP 2019521924A JP 6879592 B2 JP6879592 B2 JP 6879592B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
unit
processing unit
interposer
memory
arranged side
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2019521924A
Other languages
English (en)
Other versions
JPWO2018220849A1 (ja
Inventor
梶谷 一彦
一彦 梶谷
隆郎 安達
隆郎 安達
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Ultramemory Inc
Original Assignee
Ultramemory Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Ultramemory Inc filed Critical Ultramemory Inc
Publication of JPWO2018220849A1 publication Critical patent/JPWO2018220849A1/ja
Priority to JP2021072722A priority Critical patent/JP7149647B2/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6879592B2 publication Critical patent/JP6879592B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F1/00Details not covered by groups G06F3/00 - G06F13/00 and G06F21/00
    • G06F1/02Digital function generators
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C5/00Details of stores covered by group G11C11/00
    • G11C5/06Arrangements for interconnecting storage elements electrically, e.g. by wiring
    • G11C5/063Voltage and signal distribution in integrated semi-conductor memory access lines, e.g. word-line, bit-line, cross-over resistance, propagation delay
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C5/00Details of stores covered by group G11C11/00
    • G11C5/02Disposition of storage elements, e.g. in the form of a matrix array
    • G11C5/04Supports for storage elements, e.g. memory modules; Mounting or fixing of storage elements on such supports
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L25/00Assemblies consisting of a plurality of semiconductor or other solid state devices
    • H01L25/03Assemblies consisting of a plurality of semiconductor or other solid state devices all the devices being of a type provided for in a single subclass of subclasses H10B, H10F, H10H, H10K or H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes
    • H01L25/04Assemblies consisting of a plurality of semiconductor or other solid state devices all the devices being of a type provided for in a single subclass of subclasses H10B, H10F, H10H, H10K or H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers
    • H01L25/065Assemblies consisting of a plurality of semiconductor or other solid state devices all the devices being of a type provided for in a single subclass of subclasses H10B, H10F, H10H, H10K or H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers the devices being of a type provided for in group H10D89/00
    • H01L25/0652Assemblies consisting of a plurality of semiconductor or other solid state devices all the devices being of a type provided for in a single subclass of subclasses H10B, H10F, H10H, H10K or H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers the devices being of a type provided for in group H10D89/00 the devices being arranged next and on each other, i.e. mixed assemblies
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/02Bonding areas; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/07Structure, shape, material or disposition of the bonding areas after the connecting process
    • H01L2224/08Structure, shape, material or disposition of the bonding areas after the connecting process of an individual bonding area
    • H01L2224/081Disposition
    • H01L2224/0812Disposition the bonding area connecting directly to another bonding area, i.e. connectorless bonding, e.g. bumpless bonding
    • H01L2224/08151Disposition the bonding area connecting directly to another bonding area, i.e. connectorless bonding, e.g. bumpless bonding the bonding area connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/08221Disposition the bonding area connecting directly to another bonding area, i.e. connectorless bonding, e.g. bumpless bonding the bonding area connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/08225Disposition the bonding area connecting directly to another bonding area, i.e. connectorless bonding, e.g. bumpless bonding the bonding area connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/10Bump connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/15Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process
    • H01L2224/16Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process of an individual bump connector
    • H01L2224/161Disposition
    • H01L2224/16151Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/16221Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/16225Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
    • H01L2224/16227Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation the bump connector connecting to a bond pad of the item
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/26Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/31Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process
    • H01L2224/32Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process of an individual layer connector
    • H01L2224/321Disposition
    • H01L2224/32151Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/32221Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/32225Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
    • H01L2224/32227Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation the layer connector connecting to a bond pad of the item
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/80Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
    • H01L2224/80001Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected by connecting a bonding area directly to another bonding area, i.e. connectorless bonding, e.g. bumpless bonding
    • H01L2224/808Bonding techniques
    • H01L2224/80894Direct bonding, i.e. joining surfaces by means of intermolecular attracting interactions at their interfaces, e.g. covalent bonds, van der Waals forces
    • H01L2224/80895Direct bonding, i.e. joining surfaces by means of intermolecular attracting interactions at their interfaces, e.g. covalent bonds, van der Waals forces between electrically conductive surfaces, e.g. copper-copper direct bonding, surface activated bonding
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/80Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
    • H01L2224/80001Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected by connecting a bonding area directly to another bonding area, i.e. connectorless bonding, e.g. bumpless bonding
    • H01L2224/808Bonding techniques
    • H01L2224/80894Direct bonding, i.e. joining surfaces by means of intermolecular attracting interactions at their interfaces, e.g. covalent bonds, van der Waals forces
    • H01L2224/80896Direct bonding, i.e. joining surfaces by means of intermolecular attracting interactions at their interfaces, e.g. covalent bonds, van der Waals forces between electrically insulating surfaces, e.g. oxide or nitride layers
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/80Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
    • H01L2224/80001Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected by connecting a bonding area directly to another bonding area, i.e. connectorless bonding, e.g. bumpless bonding
    • H01L2224/80905Combinations of bonding methods provided for in at least two different groups from H01L2224/808 - H01L2224/80904
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/80Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
    • H01L2224/83Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a layer connector
    • H01L2224/831Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a layer connector the layer connector being supplied to the parts to be connected in the bonding apparatus
    • H01L2224/83101Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a layer connector the layer connector being supplied to the parts to be connected in the bonding apparatus as prepeg comprising a layer connector, e.g. provided in an insulating plate member
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/80Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
    • H01L2224/83Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a layer connector
    • H01L2224/838Bonding techniques
    • H01L2224/8385Bonding techniques using a polymer adhesive, e.g. an adhesive based on silicone, epoxy, polyimide, polyester
    • H01L2224/83851Bonding techniques using a polymer adhesive, e.g. an adhesive based on silicone, epoxy, polyimide, polyester being an anisotropic conductive adhesive
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/02Bonding areas ; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/07Structure, shape, material or disposition of the bonding areas after the connecting process
    • H01L24/08Structure, shape, material or disposition of the bonding areas after the connecting process of an individual bonding area
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/10Bump connectors ; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/15Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process
    • H01L24/16Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process of an individual bump connector
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/26Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/31Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process
    • H01L24/32Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process of an individual layer connector
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/80Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/80Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
    • H01L24/83Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a layer connector
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/15Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/151Die mounting substrate
    • H01L2924/153Connection portion
    • H01L2924/1531Connection portion the connection portion being formed only on the surface of the substrate opposite to the die mounting surface
    • H01L2924/15311Connection portion the connection portion being formed only on the surface of the substrate opposite to the die mounting surface being a ball array, e.g. BGA

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Semiconductor Memories (AREA)
  • Memory System (AREA)

Description

本発明は、半導体モジュールに関する。
従来より、記憶装置としてDRAM(Dynamic Random Access Memory)等の揮発性メモリが知られている。DRAMには、演算装置(以下、MPUという)の高性能化やデータ量の増大に耐えうる大容量化が求められている。そこで、メモリ(メモリセルアレイ、メモリチップ)の微細化及びセルの平面的な増設による大容量化が図られてきた。一方で、微細化によるノイズへの惰弱性や、ダイ面積の増加等により、この種の大容量化は限界に達してきている。
そこで、昨今では、平面的なメモリを複数積層して3次元化(3D化)して大容量化を実現する技術が提案されている(例えば、特許文献1〜4参照)。
特表2016−502287号公報 特表2015−507372号公報 特表2015−502664号公報 特表2011−512598号公報
ところで、MPUの高性能化やデータ量の増大により、MPU及びDRAM間の通信速度の向上も大容量化とともに求められている。メモリバンド幅(メモリ帯域幅)を向上することにより、MPU及びDRAM間の通信速度を向上することができるが、通信速度の向上により、データ転送電力(消費電力)も増大する。例えば、DRAMのセンスアンプとプロセッサのプロセシングエレメントとの間で1ビットのデータを転送するのに要するエネルギを1pJとすると、128TB/sのメモリバンド幅において、データ転送電力は1024Wに達する。
そこで、メモリバンド幅を広げることができるとともに、消費電力を低減することで、データ転送効率を向上することができれば非常に有用である。
本発明は、メモリバンド幅を広げることができるとともに、消費電力を低減することで、データ転送効率を向上することが可能な半導体モジュールを提供することを目的とする。
本発明は、インタポーザと、前記インタポーザの板面に沿う第1方向に並設される複数の処理部本体を有し、前記インタポーザに載置されるとともに、前記インタポーザと電気的に接続される処理部と、を備え、前記処理部本体は、少なくとも1つのコアを含む1つの演算部と積層型RAMモジュールで構成され前記演算部の第1方向に並設される1つのメモリ部とを有するサブセット部を複数備え、複数の前記サブセット部は、第1方向に対して交差する第2方向に並設されることを特徴とする半導体モジュールに関する。
また、前記処理部は、前記処理部本体の第2方向に並設され、複数の前記処理部本体の間のデータ通信を中継するルータ部を更に備えることが好ましい。
また、前記インタポーザは、複数の前記ルータ部を接続する通信線を備えることが好ましい。
また、前記演算部は、並設される前記メモリ部に隣接する一端部に第1インタフェース部を備え、前記メモリ部は、並設される前記演算部に隣接する一端部に第2インタフェース部を備えることが好ましい。
本発明によれば、メモリバンド幅を広げることができるとともに、消費電力を低減することで、データ転送効率を向上することが可能な半導体モジュールを提供することができる。
本発明の一実施形態に係る半導体モジュールを示す概略平面図である。 図1のA−A線断面図である。 一実施形態の半導体モジュールの第1処理部を示す概略平面図である。 一実施形態の半導体モジュールの第1処理部及び第2処理部とルータ部を示す概略平面図である。 一実施形態の半導体モジュールにおける信号線の長さを示す概略図である。
以下、本発明の一実施形態に係る半導体モジュールについて図面を参照して説明する。
本実施形態に係る半導体モジュール1は、例えば、演算装置(以下、MPUという)と、積層型DRAMとをインタポーザ上に配置したSIP(system in a package)である。半導体モジュール1は、他のインタポーザ又はパッケージ基板上に配置され、マイクロバンプを用いて電気的に接続される。半導体モジュール1は、他のインタポーザ又はパッケージ基板から電源を得るとともに、他のインタポーザ又はパッケージ基板との間でデータ送受信が可能な装置である。
この半導体モジュール1は、図1及び図2に示すように、インタポーザ10と、処理部20と、を備える。
インタポーザ10は、板状に形成され、一方の面がバンプM1を用いて他のインタポーザ又はパッケージ基板に電気的に接続される。インタポーザ10は、後述する複数のルータ部30との間を接続する通信線12を他方の面に備える。通信線12は、インタポーザ10の板面に沿う第1方向F1に沿って配置される。また、インタポーザ10は、後述する演算部23と後述するメモリ部24とを接続する配線部26を備える。配線部26の詳細については後述する。
処理部20は、インタポーザ10に載置されるとともに、インタポーザ10に電気的に接続される。処理部20は、図1〜図3に示すように、複数の処理部本体21と、ルータ部30と、を備える。
処理部本体21は、正面視矩形に形成される。処理部本体21は、後述する演算部23が複数並設された演算部群Cと、後述するメモリ部24が複数並設されたメモリ部群Dと、を備える。
演算部群Cは、正面視矩形に形成され、後述する演算部23がインタポーザ10の板面に沿い、第1方向にF1に交差する第2方向F2に複数並設されて構成される。即ち、演算部群Cは、第2方向F2に長い正面視長方形に形成される。
メモリ部群Dは、正面視矩形に形成され、後述するメモリ部24が第2方向F2に複数並設されて構成される。即ち、メモリ部群Dは、第2方向F2に長い正面視長方形に形成される。メモリ部群Dは、第1方向F1で演算部群Cに並設される。ここで、メモリ部群Dを構成するメモリ部24は、図3及び図4に示すように、演算部群Cを構成する演算部23と第1方向F1において、1対1に対応して配置される。1対1で対応する演算部23及びメモリ部24の組は、1つのサブセット部22を構成する。
以上の処理部本体21は、本実施形態において、16個(複数)設けられる。16個の処理部本体21は、図1に示すように、第1方向F1に沿って配置される8個の処理部本体21を1列として、第2方向F2に2行配置される。また、処理部本体21は、第1方向に並設される2つを1組として配置される。1組の処理部本体21は、第1方向F1に沿って、メモリ部群D、演算部群C、演算部群C、及びメモリ部群Dの順で配置される。
サブセット部22は、図3及び図4に示すように、正面視矩形に形成される。本実施形態において、サブセット部22は、1つの処理部本体21において、第2方向F2に64個(複数)配置される。サブセット部22は、1つの演算部と、1つのメモリ部と、を備える。
演算部23は、正面視矩形に形成され、インタポーザ10上に配置される。演算部23は、インタポーザ10と、ACF(異方性導電膜)、Hybrid Bonding、又はマイクロバンプ等を用いて接続される。演算部23は、少なくとも1つのコア25を含む。
本実施形態において、演算部23は、図4に示すように、4つのコア25を含み、それぞれのコア25が第1方向F1に沿って並設される。演算部23は、隣接するサブセット部22の演算部23と通信可能に構成される。また、演算部23は、他のサブセット部22の演算部23と第2方向F2に隣接して配置される。本実施形態において、演算部23は、4つのコア25のそれぞれが他のコア25と通信可能に構成される。また、演算部23は、図5に示すように、後述するメモリ部24であって、並設されるメモリ部24に隣接する一端部に第1インタフェース部27が配置される。第1インタフェース部27は、後述するメモリ部24とデータ通信可能に構成される。演算部23は、図5に示すように、例えば、第1方向F1の長さL1が1mmで形成される。
メモリ部24は、積層型RAMモジュールで構成され、正面視矩形に形成される。本実施形態において、メモリ部24は、積層型DRAMモジュールで構成される。メモリ部24は、インタポーザ10上に配置される。メモリ部24は、インタポーザ10と、ACF(異方性導電膜)、Hybrid Bonding、又はマイクロバンプ等を用いて接続される。メモリ部24は、演算部23の第1方向F1(図3の紙面に沿って左右側の一方)に並設される。また、メモリ部24は、他のサブセット部22のメモリ部24と第2方向F2に隣接して配置される。メモリ部24は、図5に示すように、並設される演算部23に隣接する一端部に第2インタフェース部28が配置される。第2インタフェース部28は、演算部23とデータ通信可能に構成される。メモリ部24は、図5に示すように、例えば、第1方向F1の長さL4が1mm、全体の厚さL3が0.1mmで8層に形成される。メモリ部24の容量は、各層64Mbであり、全体として64MBで構成される。1個のサブセット部22は、配線部26と、第1インタフェース部27と、第2インタフェース部28と、から構成される1チャネル分のインタフェースを有する。
以上のサブセット部22によれば、処理部本体21の全体は、256個のコア25(256PE(Processing Element)/コア)で構成され、64チャネル構成(64MB/チャネル)となる。また、それぞれのチャネルは、256b幅、4Gbpsの通信速度で構成されることにより、128GB/sのメモリバンド幅となり、64チャネル全体として8TB/sのメモリバンド幅で構成される。また、処理部本体21は、メモリ部24の容量が4GBで構成される。モジュール全体は16個の処理部本体21で構成されるので、4096個のコア25、1024チャネル、128TB/sのメモリバンド幅、メモリ部24の容量は64GBで構成される。
また、複数のサブセット部22において、演算部23及びメモリ部24のそれぞれが、図3に示すように、第1方向F1において、同じ順番で配置される。即ち、複数のサブセット部22の演算部23は、第2方向F2に沿って配置されるとともに、複数のサブセット部22のメモリ部24が第2方向F2に沿って配置される。また、1組の処理部本体21は、図3に示すように、演算部23が第1方向F1で隣接するように配置される。これにより、1組の処理部本体21は、図3に示すように、第1方向F1において、メモリ部群D、演算部群C、演算部群C、及びメモリ部群Dの順で配置される。
ルータ部30は、複数の処理部本体21の間のデータ通信を中継する。ルータ部30は、インタポーザ10の通信線12により、他のルータ部30と接続される。ルータ部30は、処理部本体21の第2方向F2に並設される。具体的には、ルータ部30は、処理部本体21の演算部23の第2方向F2に並設される。本実施形態において、ルータ部30は、図4に示すように、1組の処理部本体21ごとに1つ設けられ、第2方向F2に並ぶ1組の処理部本体21の間に配置される。ルータ部30は、処理部本体21のデータ通信を可能にすることにより、演算部23を1つの演算処理装置として構成する。
次に、配線部26について説明する。
配線部26は、インタポーザ10上に構成される配線であり、インタポーザ10上において層状に配置される。配線部26は、第1方向F1において、サブセット部22の1つの演算部23の一端部と、1つのメモリ部24の一端部とを電気的に接続する。また、配線部26は、第2方向F2において、並設されるサブセット部22のそれぞれの位置に合わせて複数配置される。本実施形態において、配線部26は、2つの2μmピッチの銅パッド(図示せず)と、1μmピッチの銅又はアルミ配線(図示せず)とにより構成される。銅パッドは、1つのサブセット部22において、1つの演算部23の一端部と、1つのメモリ部24の一端部とのそれぞれに接続され、銅又はアルミ配線の両端部のそれぞれが2つの銅パッドに接続される。銅又はアルミ配線は、第1方向F1において、例えば0.2mmの長さL2で形成される。
以上の半導体モジュール1は、以下のように動作する。
図5に示すように、1つのサブセット部22において、演算部23及びメモリ部24は、配線部26により、メモリバンド幅128GB/sで接続される。1つのサブセット部22において、配線部26の第1方向F1一端から最も遠い位置に配置されたコア25までの距離L1は、1mmとなる。また、配線部26の第1方向F1に沿う長さL2は、0.2mmとなる。また、メモリ部24の厚さ方向の最大長さL3は、0.1mmとなる。そして、第2インタフェース部28から第1方向F1に沿って最も遠い位置のメモリブロックまでの距離L4は、1mmとなる。従って、1つのサブセット部22において、最大配線長は、2.3mmとなる。
図1に示す半導体モジュール1において、ピークにおけるメモリバンド幅を128TB/s、最大配線長が2.3mmの配線を介してDRAMのセンスアンプとプロセッサのプロセシングエレメントとの間で1ビットのデータを転送するのに要するエネルギを0.1pJ/bとすると、1組の処理部本体21のピーク時のデータ転送電力は、6.55Wとなる。即ち、半導体モジュール1のピーク時のデータ転送電力は、105Wとなる。
以上のような一実施形態に係る半導体モジュール1によれば、以下の効果を奏する。
(1)半導体モジュール1を、インタポーザ10と、インタポーザ10の板面に沿う第1方向F1に並設される複数の処理部本体21を有し、インタポーザ10に載置されるとともに、インタポーザ10と電気的に接続される処理部20と、を含んで構成した。また、処理部本体21を、少なくとも1つのコア25を含む1つの演算部23と積層型RAMモジュールで構成され、演算部23の第1方向F1に並設される1つのメモリ部24とを有するサブセット部22を複数含んで構成した。そして、複数のサブセット部22を、第1方向F1に対して交差する第2方向F2に並設した。これにより、演算部23のコア25とメモリ部24とを近接配置できるので、両者の接続距離を短くすることができる。これによりメモリバンド幅を広げることができ、データ通信に要する電力を削減できるので、データ転送効率を向上することができる。
(2)処理部20を、処理部本体21の第2方向F2に並設され、複数の処理部本体21の間のデータ通信を中継するルータ部30を更に含んで構成した。これにより、処理部本体21同士の間でデータ通信が可能になるので、複数のサブセット部22を用いた演算効率を向上することができる。
(3)インタポーザ10を、複数のルータ部30を接続する通信線12を含んで構成した。インタポーザ10に通信線12を構成したので、別途配線を設けることなくルータ部30同士を接続することができる、両者を容易に接続できる。
(4)演算部23を、並設されるメモリ部24に隣接する一端部に第1インタフェース部27を含んで構成し、メモリ部24を、並設される演算部23に隣接する一端部に第2インタフェース部28を含んで構成した。第1インタフェース部27及び第2インタフェース部28を近接配置したので、演算部23及びメモリ部24を接続する信号線の長さをより短くすることができる。
以上、本発明の半導体モジュールの好ましい一実施形態につき説明したが、本発明は、上述の実施形態に制限されるものではなく、適宜変更が可能である。
例えば、上記実施形態において、メモリ部24の積層方向電源接続端子と、メモリ部24の積層方向信号接続端子との組み合わせを、以下の表1のように形成することができる。
Figure 0006879592
また、上記実施形態において、処理部20の構成を、第1方向F1に8行、第2方向F2に2列で計16個の処理部本体21により構成したが、第1方向F1及び第2方向F2の数はこれに制限されない。処理部本体21が第1方向F1に複数配置され、第2方向F2に1つ配置される場合、ルータ部30は、1組の処理部本体21ごとに、演算部23列に隣接して配置される。また、処理部本体21が第2方向F2において3つ以上配置される場合、ルータ部30は、第2方向F2において、処理部本体21のそれぞれの間において、2つの演算部群Cに隣接して配置しても良い。また、処理部本体21が第1方向F1において、1組ではなく単体で配置される場合、ルータ部30は、単体の処理部本体21の演算部群Cに隣接して配置される。また処理部本体21内の演算部23とルータ部30はNoC(Network on Chip)で接続されても良い。ルータ部30の配置場所は適宜変更されても良いし、複数個配置しても良い。
また、上記実施形態において、演算部23、メモリ部24、及び配線部26のスケールやチャネル数、通信速度、コア25数、積層数等は一例であり、これに制限されない。
また、上記実施形態において、第2方向F2は、第1方向F1に対して直交する方向としたが、これに制限されない。即ち、第2方向F2は、インタポーザ10の板面に沿って、第1方向F1に対して略直交する方向でもよく、第1方向F1に対して傾斜する方向であっても良い。
また、上記実施形態において、サブセット部22を構成する1つの演算部23と、1つのメモリ部24とを接触させて配置させたが、これに制限されない。1つの演算部23と、1つのメモリ部24とは、所定の間隔をあけて配置されて良い。また、第1方向F1において、サブセット部22は、接触させて配置されてもよく、所定の間隔をあけて配置されても良い。
また、演算装置はMPUに限定されず、広く論理チップ全般に適用されても良く、メモリはDRAMに限定されず、広く不揮発性RAM(例えばMRAM、ReRAM、FeRAM等)を含むRAM(Random Access Memory)全般に適用されても良い。
1 半導体モジュール
10 インタポーザ
20 処理部
21 処理部本体
22 サブセット部
23 演算部
24 メモリ部
25 コア
27 第1インタフェース部
28 第2インタフェース部
F1 第1方向
F2 第2方向

Claims (2)

  1. インタポーザと、
    前記インタポーザの板面に沿う第1方向に並設される複数の処理部本体と、前記処理部本体の第2方向に並設され、複数の前記処理部本体の間のデータ通信を中継するルータ部とを有する処理部であって、前記インタポーザに載置されるとともに、前記インタポーザと電気的に接続される処理部と、
    を備え、
    前記処理部本体は、少なくとも1つのコアを含む1つの演算部と積層型RAMモジュールで構成され前記演算部の第1方向に並設される1つのメモリ部とを有するサブセット部を複数備え、
    前記インタポーザは、複数の前記ルータ部を接続する通信線を備え、
    複数の前記サブセット部は、第1方向に対して交差する第2方向に並設されることを特徴とする半導体モジュール。
  2. 前記演算部は、並設される前記メモリ部に隣接する一端部に第1インタフェース部を備え、
    前記メモリ部は、並設される前記演算部に隣接する一端部に第2インタフェース部を備える請求項1に記載の半導体モジュール。
JP2019521924A 2017-06-02 2017-06-02 半導体モジュール Active JP6879592B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2021072722A JP7149647B2 (ja) 2017-06-02 2021-04-22 半導体モジュール

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PCT/JP2017/020690 WO2018220849A1 (ja) 2017-06-02 2017-06-02 半導体モジュール

Related Child Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2021072722A Division JP7149647B2 (ja) 2017-06-02 2021-04-22 半導体モジュール

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPWO2018220849A1 JPWO2018220849A1 (ja) 2020-04-16
JP6879592B2 true JP6879592B2 (ja) 2021-06-02

Family

ID=64455688

Family Applications (2)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2019521924A Active JP6879592B2 (ja) 2017-06-02 2017-06-02 半導体モジュール
JP2021072722A Active JP7149647B2 (ja) 2017-06-02 2021-04-22 半導体モジュール

Family Applications After (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2021072722A Active JP7149647B2 (ja) 2017-06-02 2021-04-22 半導体モジュール

Country Status (4)

Country Link
US (1) US20210018952A1 (ja)
JP (2) JP6879592B2 (ja)
CN (2) CN110730988B (ja)
WO (1) WO2018220849A1 (ja)

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US11520388B2 (en) * 2017-12-27 2022-12-06 Intel Corporation Systems and methods for integrating power and thermal management in an integrated circuit
US20240318014A1 (en) 2021-07-09 2024-09-26 Tokyo Electron Limited Pattern forming method and plasma processing method
WO2024057707A1 (ja) * 2022-09-12 2024-03-21 先端システム技術研究組合 半導体モジュール及びその製造方法

Family Cites Families (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2561261B2 (ja) * 1987-02-18 1996-12-04 株式会社日立製作所 バッファ記憶アクセス方法
NO308149B1 (no) * 1998-06-02 2000-07-31 Thin Film Electronics Asa Skalerbar, integrert databehandlingsinnretning
JP2006127460A (ja) * 2004-06-09 2006-05-18 Renesas Technology Corp 半導体装置、半導体信号処理装置、およびクロスバースイッチ
JP2006053662A (ja) * 2004-08-10 2006-02-23 Matsushita Electric Ind Co Ltd 多重プロセッサ
JP4989899B2 (ja) * 2006-01-27 2012-08-01 ルネサスエレクトロニクス株式会社 半導体演算処理装置
JP4989900B2 (ja) * 2006-01-31 2012-08-01 ルネサスエレクトロニクス株式会社 並列演算処理装置
JP5003097B2 (ja) * 2006-10-25 2012-08-15 ソニー株式会社 半導体チップ
US9229887B2 (en) * 2008-02-19 2016-01-05 Micron Technology, Inc. Memory device with network on chip methods, apparatus, and systems
JP2010039625A (ja) * 2008-08-01 2010-02-18 Renesas Technology Corp 並列演算装置
US8493089B2 (en) * 2011-04-06 2013-07-23 International Business Machines Corporation Programmable logic circuit using three-dimensional stacking techniques
US8704384B2 (en) * 2012-02-17 2014-04-22 Xilinx, Inc. Stacked die assembly
EP2812919B1 (en) * 2012-02-08 2021-07-07 Xilinx, Inc. Stacked die assembly with multiple interposers
US8704364B2 (en) * 2012-02-08 2014-04-22 Xilinx, Inc. Reducing stress in multi-die integrated circuit structures
US8984368B2 (en) * 2012-10-11 2015-03-17 Advanced Micro Devices, Inc. High reliability memory controller
US9024657B2 (en) * 2012-10-11 2015-05-05 Easic Corporation Architectural floorplan for a structured ASIC manufactured on a 28 NM CMOS process lithographic node or smaller

Also Published As

Publication number Publication date
US20210018952A1 (en) 2021-01-21
JP7149647B2 (ja) 2022-10-07
JP2021114353A (ja) 2021-08-05
WO2018220849A1 (ja) 2018-12-06
CN110730988A (zh) 2020-01-24
JPWO2018220849A1 (ja) 2020-04-16
CN110730988B (zh) 2023-07-11
CN116884452A (zh) 2023-10-13

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US11693801B2 (en) Stacked semiconductor device assembly in computer system
JP7149647B2 (ja) 半導体モジュール
US11410970B2 (en) Semiconductor module
CN102089826B (zh) 邻近光存储器模块
US8624375B2 (en) Semiconductor package for selecting semiconductor chip from a chip stack
CN102449762A (zh) 存储器装置
WO2013052320A4 (en) Stub minimization using duplicate sets of signal terminals in assemblies without wirebonds to package substrate
CN112117267A (zh) 具有中介层的层叠半导体封装件
WO2021095083A1 (ja) 半導体モジュール、dimmモジュール、及びそれらの製造方法
CN103579209B (zh) 用于dram在gpu之上的可替换3d堆叠方案
JP7033332B2 (ja) 半導体モジュール
US9640462B2 (en) Semiconductor device having wiring pad and wiring formed on the same wiring layer
JP7222564B2 (ja) 半導体モジュール及びその製造方法
US20220271006A1 (en) Semiconductor module, method for manufacturing same, and semiconductor module mounting body
JP6993023B2 (ja) 半導体モジュール
WO2023084737A1 (ja) モジュール及びその製造方法
KR101977760B1 (ko) 멀티 칩 반도체 장치
WO2023119450A1 (ja) 半導体モジュール及び積層モジュール
US12142544B2 (en) Semiconductor package
CN115692386A (zh) 芯片堆叠封装结构及闪存
CN102439718A (zh) 数据存储装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20191202

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20201222

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20210209

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20210323

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20210422

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6879592

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250