JP6871519B2 - 半導体集積回路 - Google Patents

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Description

本開示は、供給する電源電圧を切り替える機能を持つ電源スイッチ回路を備えた半導体集積回路に関する。
一般的に、インターフェースを高速化するために、信号の周波数を高くする場合、消費電力の増大を抑えるために、信号の電圧レベルを小さくする。例えば、SD(secure digital)メモリカードのインターフェース規格では、従来は3.3V信号のインターフェースであったのに対して、新しい高速な規格では1.8V信号のインターフェースとなっている。また、SDメモリカードのような広く普及したインターフェース規格では、新旧両方の規格に対応した機器が求められるため、インターフェース回路としては、接続するSDメモリカードが対応している規格によって、信号の電圧レベルを切り替える必要が出てくる。そのため、インターフェース回路に供給する電源電圧を3.3Vと1.8Vで切り替える電源スイッチ回路が必要となる。
ある従来技術では、複数の電源電圧のうちのいずれかがオフ状態の場合でも寄生ダイオード電流などの不要電流を発生させない電源スイッチ回路を実現している(特許文献1参照)。
国際公開第2014/038115号
上記従来技術では、電源スイッチ回路を構成するMOS(metal-oxide-semiconductor)トランジスタの端子間に最大3.3Vの電圧が印加されるため、高耐圧MOSトランジスタ、すなわち各々の4端子のうちのいずれの2端子をとっても、当該2端子間の電位差が3.3Vまで許容される3.3V耐圧MOSトランジスタを使用しており、プロセスコスト上昇などによりコスト増大を招いていた。また、耐圧対応のため、外部1.8V/3.3Vの複数電源を使用するが、片側電源供給時の貫通電流防止制御回路が必要であった。
本開示は、低耐圧MOSトランジスタのみを用いて不要電流を発生させない電源スイッチ回路を実現するとともに、特別な貫通電流防止制御回路を不要とする。
本開示の第1の半導体集積回路は、接地電位が印加される接地端子と、オフ状態では接地電位と等しい接地電圧レベルの電圧を、オン状態では接地電位よりも高い第1の電源電圧レベルの電圧をそれぞれ示す第1の電源電圧が印加される第1の電源端子と、オフ状態では接地電圧レベルの電圧を、オン状態では接地電圧レベルよりも高くかつ第1の電源電圧レベルよりも低い第2の電源電圧レベルの電圧をそれぞれ示す第2の電源電圧が印加される第2の電源端子と、第1の電源端子に印加されている第1の電源電圧、又は、第2の電源端子に印加されている第2の電源電圧が出力される第3の電源端子と、第1の電源端子と第3の電源端子とを接続するPMOS(PチャネルMOS)トランジスタと、第2の電源端子と第3の電源端子とを接続するNMOS(NチャネルMOS)トランジスタと、PMOSトランジスタのゲートに接続する第1のスイッチ制御回路と、NMOSトランジスタのゲートに接続する第2のスイッチ制御回路とを備え、第1のスイッチ制御回路は、第1の電源電圧がオフ状態でありかつ第2の電源電圧がオン状態であるときには接地電圧レベルから第2の電源電圧レベルまでの信号を、第1及び第2の電源電圧がともにオン状態であるときには第2の電源電圧レベルから第1の電源電圧レベルまでの信号をそれぞれ出力することで、PMOSトランジスタをオン状態又はオフ状態に制御し、第2のスイッチ制御回路は、第1の電源電圧がオフ状態でありかつ第2の電源電圧がオン状態であるときには接地電圧レベルから第2の電源電圧レベルまでの信号を、第1及び第2の電源電圧がともにオン状態であるときには第2の電源電圧レベルから第1の電源電圧レベルまでの信号をそれぞれ出力することで、NMOSトランジスタをオン状態又はオフ状態に制御することを特徴とする。
本開示の第2の半導体集積回路は、接地電位が印加される接地端子と、オフ状態では接地電位と等しい接地電圧レベルの電圧を、オン状態では接地電位よりも高い第1の電源電圧レベルの電圧をそれぞれ示す第1の電源電圧が印加される第1の電源端子と、オフ状態では接地電圧レベルの電圧を、オン状態では接地電圧レベルよりも高くかつ第1の電源電圧レベルよりも低い第2の電源電圧レベルの電圧をそれぞれ示す第2の電源電圧が印加される第2の電源端子と、第1の電源端子に印加されている第1の電源電圧、又は、第2の電源端子に印加されている第2の電源電圧が出力される第3の電源端子と、第1の電源端子と第3の電源端子とを接続する第1のPMOSトランジスタと、第2の電源端子と第3の電源端子とを接続する第2のPMOSトランジスタと、第1のPMOSトランジスタのゲートに接続する第1のスイッチ制御回路と、第2のPMOSトランジスタのゲートに接続する第2のスイッチ制御回路とを備え、第1のスイッチ制御回路は、第1の電源電圧がオフ状態でありかつ第2の電源電圧がオン状態であるときには接地電圧レベルから第2の電源電圧レベルまでの信号を、第1及び第2の電源電圧がともにオン状態であるときには第2の電源電圧レベルから第1の電源電圧レベルまでの信号をそれぞれ出力することで、第1のPMOSトランジスタをオン状態又はオフ状態に制御し、第2のスイッチ制御回路は、第1の電源電圧がオフ状態でありかつ第2の電源電圧がオン状態であるときには接地電圧レベルから第2の電源電圧レベルまでの信号を、第1及び第2の電源電圧がともにオン状態であるときには接地電圧レベルから第1の電源電圧レベルまでの信号をそれぞれ出力することで、第2のPMOSトランジスタをオン状態又はオフ状態に制御することを特徴とする。
本開示によれば、電源スイッチ回路を備えた半導体集積回路において、低耐圧MOSトランジスタのみを用いて不要電流を発生させない電源スイッチ回路を実現するとともに、特別な貫通電流防止制御回路を不要とすることができる。
第1の実施形態に係る半導体集積回路を示す回路図である。 図1中の第1の電源電圧と第2の電源電圧とのうちの高い方の電圧を選択する電圧セレクタを示す回路図である。 図1中の第1の電源電圧と第2の電源電圧とのうちの低い方の電圧を選択する電圧セレクタを示す回路図である。 図1中の各スイッチ制御回路における前段レベルシフタを示す回路図である。 図1中の各スイッチ制御回路における後段レベルシフタを示す回路図である。 図1の半導体集積回路の動作を示すタイムチャートである。 図5の変形例を示す回路図である。 図4の変形例を示す回路図である。 第2の実施形態に係る半導体集積回路を示す回路図である。 図9の半導体集積回路の動作を示すタイムチャートである。
以下、本開示の2つの実施形態を、図面を参照しながら説明する。
各実施形態では、オフ状態(=0V)/オン状態(=3.3V)の第1の電源電圧VDD1と、オフ状態(=0V)/オン状態(=1.8V)の第2の電源電圧VDD2との2つの電源電圧を切り替える電源スイッチ回路を備えた半導体集積回路を用いて説明する。半導体集積回路の内部電源電圧VDDは、オフ状態(=0V)/オン状態(=0.9V)であるものとする。
《第1の実施形態》
図1は、第1の実施形態に係る半導体集積回路を示す回路図である。図1の半導体集積回路は、電源スイッチ回路1と、第1のスイッチ制御回路2と、第2のスイッチ制御回路3とを備えている。図1において、VOHは第1の電源電圧VDD1と第2の電源電圧VDD2とのうちの高い方の電圧(選択高電圧)であり、VOLは第1の電源電圧VDD1と第2の電源電圧VDD2とのうちの低い方の電圧(選択低電圧)である。
電源スイッチ回路1は、外部から第1の電源電圧VDD1が印加される第1の電源供給端子11と、外部から第2の電源電圧VDD2が印加される第2の電源供給端子12と、PMOSトランジスタP1及びNMOSトランジスタN1からなるスイッチ回路と、第1の電源電圧VDD1又は第2の電源電圧VDD2を電源電圧出力VOUTとして外部へ出力する電源出力端子13とを有する。PMOSトランジスタP1は、ソースが第1の電源供給端子11に、ドレインが電源出力端子13に、ゲートが第1のスイッチ制御回路2の出力信号である第1のスイッチ制御信号SW1に、バックゲートが選択高電圧VOHにそれぞれ接続されている。NMOSトランジスタN1は、ソースが第2の電源供給端子12に、ドレインが電源出力端子13に、ゲートが第2のスイッチ制御回路3の出力信号である第2のスイッチ制御信号SW2に、バックゲートが選択低電圧VOLにそれぞれ接続されている。ここで、PMOSトランジスタP1及びNMOSトランジスタN1は、いずれも1.8V耐圧MOSトランジスタ、すなわち各々の4端子のうちのいずれの2端子をとっても、当該2端子間の電位差が1.8V以下であるバイアス条件(1.8V耐圧条件)が要求されるトランジスタである。
第1のスイッチ制御回路2は、0V/1.8Vの外部からの出力イネーブル信号OEと、0V/0.9Vの入力信号INとを受けて、第1のスイッチ制御信号SW1を供給する第1のレベルシフタL1を有する。第1のレベルシフタL1は、第2の電源電圧VDD2と接地電位VSSとを電源とする前段レベルシフタLV11と、選択高電圧VOHと選択低電圧VOLとを電源とする後段レベルシフタLV21とで構成される。つまり、第1のレベルシフタL1は、VSS(=0V)レベルからVDD(=0.9V)レベルまでの振幅を有する入力信号INを前段レベルシフタLV11でVSS(=0V)レベルからVDD2(=1.8V)レベルまでの振幅を有する信号に変換し、更に前段レベルシフタLV11の出力信号を後段レベルシフタLV21で選択低電圧VOLから選択高電圧VOHまでの振幅を有する第1のスイッチ制御信号SW1に変換する。
第2のスイッチ制御回路3は、0V/1.8Vの外部からの出力イネーブル信号OEと、0V/0.9Vの入力信号INとを受けて、第2のスイッチ制御信号SW2を供給する第2のレベルシフタL2を有する。第2のレベルシフタL2は、第2の電源電圧VDD2と接地電位VSSとを電源とする前段レベルシフタLV12と、選択高電圧VOHと選択低電圧VOLとを電源とする後段レベルシフタLV22とで構成される。つまり、第2のレベルシフタL2は、VSS(=0V)レベルからVDD(=0.9V)レベルまでの振幅を有する入力信号INを前段レベルシフタLV12でVSS(=0V)レベルからVDD2(=1.8V)レベルまでの振幅を有する信号に変換し、更に前段レベルシフタLV12の出力信号を後段レベルシフタLV22で選択低電圧VOLから選択高電圧VOHまでの振幅を有する第2のスイッチ制御信号SW2に変換する。
図2は、選択高電圧VOHを供給する第1の電圧セレクタ4を示す回路図である。第1の電圧セレクタ4は、第1のPMOSトランジスタP21と、第2のPMOSトランジスタP22とを有する。第1のPMOSトランジスタP21は、ソースが第2の電源電圧VDD2に、ドレインが選択高電圧VOHに、ゲートが第1の電源電圧VDD1に、バックゲートが選択高電圧VOHにそれぞれ接続されている。第2のPMOSトランジスタP22は、ソースが第1の電源電圧VDD1に、ドレインが選択高電圧VOHに、ゲートが第2の電源電圧VDD2に、バックゲートが選択高電圧VOHにそれぞれ接続されている。ここに、第1及び第2のPMOSトランジスタP21,P22は、いずれも1.8V耐圧MOSトランジスタである。
図2に示した第1の電圧セレクタ4によれば、VDD1=0V、VDD2=1.8Vならば、第1のPMOSトランジスタP21がオン状態に、第2のPMOSトランジスタP22がオフ状態になるので、VOH=VDD2=1.8Vとなる。また、VDD1=3.3V、VDD2=1.8Vならば、第1のPMOSトランジスタP21がオフ状態に、第2のPMOSトランジスタP22がオン状態になるので、VOH=VDD1=3.3Vとなる。つまり、第1の電圧セレクタ4は、第1の電源電圧VDD1と第2の電源電圧VDD2とのうちの高い方の電圧を、選択高電圧VOHとして選択する。
図3は、選択低電圧VOLを供給する第2の電圧セレクタ5を示す回路図である。第2の電圧セレクタ5は、第1のNMOSトランジスタN31と、第2のNMOSトランジスタN32とを有する。第1のNMOSトランジスタN31は、ソースが第2の電源電圧VDD2に、ドレインが選択低電圧VOLに、ゲートが第1の電源電圧VDD1に、バックゲートが選択低電圧VOLにそれぞれ接続されている。第2のNMOSトランジスタN32は、ソースが第1の電源電圧VDD1に、ドレインが選択低電圧VOLに、ゲートが第2の電源電圧VDD2に、バックゲートが選択低電圧VOLにそれぞれ接続されている。ここに、第1及び第2のNMOSトランジスタN31,N32は、いずれも1.8V耐圧MOSトランジスタである。
図3に示した第2の電圧セレクタ5によれば、VDD1=0V、VDD2=1.8Vならば、第1のNMOSトランジスタN31がオフ状態に、第2のNMOSトランジスタN32がオン状態になるので、VOL=VDD1=0Vとなる。また、VDD1=3.3V、VDD2=1.8Vならば、第1のNMOSトランジスタN31がオン状態に、第2のNMOSトランジスタN32がオフ状態になるので、VOL=VDD2=1.8Vとなる。つまり、第2の電圧セレクタ5は、第1の電源電圧VDD1と第2の電源電圧VDD2とのうちの低い方の電圧を、選択低電圧VOLとして選択する。
以上のように、第1及び第2の電圧セレクタ4,5によれば、VDD1=0V、VDD2=1.8Vならば、VOH=1.8V、VOL=0Vとなる。また、VDD1=3.3V、VDD2=1.8Vならば、VOH=3.3V、VOL=1.8Vとなる。
図4は、図1中の各スイッチ制御回路2,3における前段レベルシフタLV11,LV12を示す回路図である。図4の構成は、前述の入力信号INと、前述の出力イネーブル信号OEと、第2の電源電圧VDD2とを受けて、後段レベルシフタLV21,LV22への出力信号OUT1を生成するレベルシフタであって、第1、第2、第3及び第4のPMOSトランジスタP41,P42,P43,P44と、第1、第2及び第3のNMOSトランジスタN41,N42,N43と、第1及び第2のインバータINV41,INV42とを有し、1.8V耐圧MOSトランジスタのみで構成される。第1のインバータINV41は入力信号INの論理レベルを反転し、第2のインバータINV42は出力イネーブル信号OEの論理レベルを反転する。第1のPMOSトランジスタP41は、ソースが第2の電源電圧VDD2に、ドレインが第2のPMOSトランジスタP42のソースに、ゲートが第2のインバータINV42の出力信号及び第3のPMOSトランジスタP43のゲートにそれぞれ接続されている。第2のPMOSトランジスタP42は、ドレインが第4のPMOSトランジスタP44のゲート及び第1のNMOSトランジスタN41のドレインに、ゲートが出力信号OUT1、第4のPMOSトランジスタP44のドレイン、第2のNMOSトランジスタN42のドレイン及び第3のNMOSトランジスタN43のドレインにそれぞれ接続されている。第3のPMOSトランジスタP43は、ソースが第2の電源電圧VDD2に、ドレインが第4のPMOSトランジスタP44のソースにそれぞれ接続されている。第1のNMOSトランジスタN41は、ソースが接地電位に、ゲートが入力信号INにそれぞれ接続されている。第2のNMOSトランジスタN42は、ソースが接地電位に、ゲートが第1のインバータINV41の出力信号にそれぞれ接続されている。第3のNMOSトランジスタN43は、ソースが接地電位に、ゲートが第2のインバータINV42の出力信号にそれぞれ接続されている。
図4の構成によれば、出力イネーブル信号OEがLレベルであれば、第2のインバータINV42の出力信号がHレベルになり、第1及び第3のPMOSトランジスタP41,P43がともにオフ状態に、第3のNMOSトランジスタN43がオン状態になるので、入力信号INの論理レベルにかかわらず、出力信号OUT1がL(=0V)レベルに固定される。
次に、図4にて出力イネーブル信号OEがHレベルであり、かつ入力信号INがH(=0.9V)レベルである場合の動作を説明する。出力イネーブル信号OEがHレベルであるから、第2のインバータINV42の出力信号がLレベルになり、第1及び第3のPMOSトランジスタP41,P43がともにオン状態に、第3のNMOSトランジスタN43がオフ状態になる。一方、入力信号INがHレベルであるから、第1のNMOSトランジスタN41及び第4のPMOSトランジスタP44がともにオン状態に、第2のNMOSトランジスタN42及び第2のPMOSトランジスタP42がともにオフ状態になる。その結果、出力信号OUT1がH(=1.8V)レベルになる。
最後に、図4にて出力イネーブル信号OEがHレベルであり、かつ入力信号INがL(=0V)レベルである場合の動作を説明する。出力イネーブル信号OEがHレベルであるから、第2のインバータINV42の出力信号がLレベルになり、第1及び第3のPMOSトランジスタP41,P43がともにオン状態に、第3のNMOSトランジスタN43がオフ状態になる。一方、入力信号INがLレベルであるから、第1のNMOSトランジスタN41及び第4のPMOSトランジスタP44がともにオフ状態に、第2のNMOSトランジスタN42及び第2のPMOSトランジスタP42がともにオン状態になる。その結果、出力信号OUT1がL(=0V)レベルになる。
以上のように、図4の構成によれば、出力イネーブル信号OEによる制御を受けつつ、0.9V振幅の入力信号INを受けて、入力信号INと同じ論理レベルを有する1.8V振幅の出力信号OUT1を得ることができる。
図5は、図1中の各スイッチ制御回路2,3における後段レベルシフタLV21,LV22を示す回路図である。図5の構成は、前段レベルシフタLV11,LV12の出力信号OUT1を入力信号IN1として受け、かつ第2の電源電圧VDD2と、選択高電圧VOHと、選択低電圧VOLとを受けて、前述の第1及び第2のスイッチ制御信号SW1,SW2として出力信号OUTを生成するレベルシフタであって、第1、第2、第3、第4、第5、第6、第7及び第8のPMOSトランジスタP51,P52,P53,P54,P55,P56,P57,P58と、第1、第2、第3、第4、第5、第6、第7及び第8のNMOSトランジスタN51,N52,N53,N54,N55,N56,N57,N58と、インバータINV51とを有し、1.8V耐圧MOSトランジスタのみで構成される。インバータINV51は入力信号IN1の論理レベルを反転する。第1のPMOSトランジスタP51は、ソースが選択高電圧VOH、自身のバックゲート、第2のPMOSトランジスタP52のバックゲート及び第5のPMOSトランジスタP55のバックゲートに、ドレインが第2のPMOSトランジスタP52のソース及び第5のPMOSトランジスタP55のドレインに、ゲートが出力信号OUT、第6のPMOSトランジスタP56のソース、第8のPMOSトランジスタP58のソース及びバックゲート、並びに第7のNMOSトランジスタN57のドレインにそれぞれ接続されている。第2のPMOSトランジスタP52は、ドレインが第7のPMOSトランジスタP57のゲート及び第1のNMOSトランジスタN51のドレインに、ゲートが選択低電圧VOLにそれぞれ接続されている。第3のPMOSトランジスタP53は、ソースが選択高電圧VOH、自身のバックゲート、第4のPMOSトランジスタP54のバックゲート及び第6のPMOSトランジスタP56のバックゲートに、ドレインが第4のPMOSトランジスタP54のソース及び第6のPMOSトランジスタP56のドレインに、ゲートが第5のPMOSトランジスタP55のソース、第7のPMOSトランジスタP57のソース及びバックゲート、並びに第5のNMOSトランジスタN55のドレインにそれぞれ接続されている。第4のPMOSトランジスタP54は、ドレインが第8のPMOSトランジスタP58のゲート及び第3のNMOSトランジスタN53のドレインに、ゲートが選択低電圧VOLにそれぞれ接続されている。第5のPMOSトランジスタP55及び第6のPMOSトランジスタP56の各々のゲートは、選択低電圧VOLに接続されている。第7のPMOSトランジスタP57及び第8のPMOSトランジスタP58の各々のドレインも、選択低電圧VOLに接続されている。第1のNMOSトランジスタN51は、ソースが第2のNMOSトランジスタN52のドレインに、ゲートが第2の電源電圧VDD2にそれぞれ接続されている。第2のNMOSトランジスタN52は、ソースが接地電位に、ゲートが入力信号IN1及び第6のNMOSトランジスタN56のゲートにそれぞれ接続されている。第3のNMOSトランジスタN53は、ソースが第4のNMOSトランジスタN54のドレインに、ゲートが第2の電源電圧VDD2にそれぞれ接続されている。第4のNMOSトランジスタN54は、ソースが接地電位に、ゲートがインバータINV51の出力信号及び第8のNMOSトランジスタN58のゲートにそれぞれ接続されている。第5のNMOSトランジスタN55は、ソースが第6のNMOSトランジスタN56のドレインに、ゲートが第2の電源電圧VDD2にそれぞれ接続されている。第6のNMOSトランジスタN56のソースは、選択低電圧VOLに接続されている。第7のNMOSトランジスタN57は、ソースが第8のNMOSトランジスタN58のドレインに、ゲートが第2の電源電圧VDD2にそれぞれ接続されている。第8のNMOSトランジスタN58のソースは、選択低電圧VOLに接続されている。
図5にて、VOH=1.8V、VOL=0Vである場合には、入力信号IN1がH(=1.8V)レベルであれば、第3のPMOSトランジスタP53、第4のPMOSトランジスタP54、第6のPMOSトランジスタP56、第7のPMOSトランジスタP57、第1のNMOSトランジスタN51、第2のNMOSトランジスタN52、第5のNMOSトランジスタN55及び第6のNMOSトランジスタN56がそれぞれオン状態に、第1のPMOSトランジスタP51、第2のPMOSトランジスタP52、第5のPMOSトランジスタP55、第8のPMOSトランジスタP58、第3のNMOSトランジスタN53、第4のNMOSトランジスタN54、第7のNMOSトランジスタN57及び第8のNMOSトランジスタN58がそれぞれオフ状態となる。その結果、出力信号OUTがH(=1.8V)レベルになる。
また、図5にて、VOH=1.8V、VOL=0Vである場合には、入力信号IN1がL(=0V)レベルであれば、第1のPMOSトランジスタP51、第2のPMOSトランジスタP52、第5のPMOSトランジスタP55、第8のPMOSトランジスタP58、第3のNMOSトランジスタN53、第4のNMOSトランジスタN54、第7のNMOSトランジスタN57及び第8のNMOSトランジスタN58がそれぞれオン状態に、第3のPMOSトランジスタP53、第4のPMOSトランジスタP54、第6のPMOSトランジスタP56、第7のPMOSトランジスタP57、第1のNMOSトランジスタN51、第2のNMOSトランジスタN52、第5のNMOSトランジスタN55及び第6のNMOSトランジスタN56がそれぞれオフ状態となる。その結果、出力信号OUTがL(=0V)レベルになる。
また、図5にて、VOH=3.3V、VOL=1.8Vである場合には、入力信号IN1がH(=1.8V)レベルであれば、第3のPMOSトランジスタP53、第4のPMOSトランジスタP54、第6のPMOSトランジスタP56、第7のPMOSトランジスタP57、第1のNMOSトランジスタN51、第2のNMOSトランジスタN52、第5のNMOSトランジスタN55及び第6のNMOSトランジスタN56がそれぞれオン状態に、第1のPMOSトランジスタP51、第2のPMOSトランジスタP52、第5のPMOSトランジスタP55、第8のPMOSトランジスタP58、第3のNMOSトランジスタN53、第4のNMOSトランジスタN54、第7のNMOSトランジスタN57及び第8のNMOSトランジスタN58がそれぞれオフ状態となる。その結果、出力信号OUTがH(=3.3V)レベルになる。
最後に、図5にて、VOH=3.3V、VOL=1.8Vである場合には、入力信号IN1がL(=0V)レベルであれば、第1のPMOSトランジスタP51、第2のPMOSトランジスタP52、第5のPMOSトランジスタP55、第8のPMOSトランジスタP58、第3のNMOSトランジスタN53、第4のNMOSトランジスタN54、第7のNMOSトランジスタN57及び第8のNMOSトランジスタN58がそれぞれオン状態に、第3のPMOSトランジスタP53、第4のPMOSトランジスタP54、第6のPMOSトランジスタP56、第7のPMOSトランジスタP57、第1のNMOSトランジスタN51、第2のNMOSトランジスタN52、第5のNMOSトランジスタN55及び第6のNMOSトランジスタN56がそれぞれオフ状態となる。その結果、出力信号OUTがL(=1.8V)レベルになる。
図6は、図1の半導体集積回路の動作を示すタイムチャートである。時刻t1より前の初期状態では、内部電源電圧VDD、第2の電源電圧VDD2、第1の電源電圧VDD1、出力イネーブル信号OE、入力信号IN、第1のスイッチ制御信号SW1、第2のスイッチ制御信号SW2、電源電圧出力VOUTのいずれもが0Vである。
時刻t1にて、内部電源電圧VDDが立ち上がる。これにより、第1及び第2のスイッチ制御回路2,3に入力信号INを供給する準備が整う。
時刻t2にて、第2の電源電圧VDD2が立ち上がる。その結果、VOH=1.8V、VOL=0Vとなる。OE=L(=0V)のため、第1及び第2のスイッチ制御信号SW1,SW2は、ともに0Vを維持する。この時点でPMOSトランジスタP1がオン状態、NMOSトランジスタN1がオフ状態のため、VOUT=0Vのままである。PMOSトランジスタP1のソース、ドレイン、ゲート及びバックゲートの各電圧は、0V、0V、0V、1.8Vである。また、NMOSトランジスタN1のソース、ドレイン、ゲート及びバックゲートの各電圧は、1.8V、0V、0V、0Vである。したがって、PMOSトランジスタP1及びNMOSトランジスタN1のいずれでも、1.8V耐圧条件が満たされている。しかも、このような片側電源供給時にNMOSトランジスタN1が確実にオフ状態を維持するので、特別な貫通電流防止制御回路を設けなくとも、第2の電源供給端子12から第1の電源供給端子11へ向けて貫通電流が流れることはない。
時刻t3にて、第1の電源電圧VDD1が立ち上がる。その結果、VOH=3.3V,VOL=1.8Vとなる。OE=L(=0V)のままであるが、後段レベルシフタLV21,LV22にて選択高電圧VOH及び選択低電圧VOLが変化するため、第1及び第2のスイッチ制御信号SW1,SW2は、ともに1.8Vとなる。この時点でPMOSトランジスタP1がオン状態、NMOSトランジスタN1がオフ状態のため、VOUT=3.3Vとなる。PMOSトランジスタP1のソース、ドレイン、ゲート及びバックゲートの各電圧は、3.3V、3.3V、1.8V、3.3Vである。また、NMOSトランジスタN1のソース、ドレイン、ゲート及びバックゲートの各電圧は、1.8V、3.3V、1.8V、1.8Vである。したがって、PMOSトランジスタP1及びNMOSトランジスタN1のいずれでも、1.8V耐圧条件が満たされている。
時刻t4にて、出力イネーブル信号OEが立ち上がる。IN=0Vのままであるため、他の信号は変化しない。
時刻t5にて、入力信号INが立ち上がる。その結果、第1及び第2のスイッチ制御信号SW1,SW2は、ともに3.3Vとなる。この時点でPMOSトランジスタP1がオフ状態、NMOSトランジスタN1がオン状態へと変化するため、VOUT=1.8Vとなる。PMOSトランジスタP1のソース、ドレイン、ゲート及びバックゲートの各電圧は、3.3V、1.8V、3.3V、3.3Vである。また、NMOSトランジスタN1のソース、ドレイン、ゲート及びバックゲートの各電圧は、1.8V、1.8V、3.3V、1.8Vである。したがって、PMOSトランジスタP1及びNMOSトランジスタN1のいずれでも、1.8V耐圧条件が満たされている。
時刻t6にて入力信号INが立ち下がり、時刻t7にて出力イネーブル信号OEが立ち下がり、時刻t8にて第1の電源電圧VDD1が立ち下がり、時刻t9にて第2の電源電圧VDD2が立ち下がり、時刻t10にて内部電源電圧VDDが立ち下がることで、初期状態に戻る。
図7は、図5の変形例を示す回路図である。図5の構成は、前段レベルシフタLV11,LV12の出力信号OUT1を入力信号IN1として受け、かつ選択高電圧VOHと、選択低電圧VOLとを受けて、前述の第1及び第2のスイッチ制御信号SW1,SW2として出力信号OUTを生成するレベルシフタであって、第1、第2、第3、第4、第5及び第6のPMOSトランジスタP71,P72,P73,P74,P75,P76と、第1、第2、第3及び第4のNMOSトランジスタN71,N72,N73,N74と、インバータINV71とを有する。このうち、第5のPMOSトランジスタP75、第6のPMOSトランジスタP76及びインバータINV71は1.8V耐圧MOSトランジスタで構成されるが、第1〜第4のPMOSトランジスタP71〜P74及び第1〜第4のNMOSトランジスタN71〜N74はいずれもLD(laterally diffused)MOSトランジスタで構成される。ここで、LDMOSトランジスタとは、ソース・ドレイン間、ゲート・ドレイン間及びバックゲート・ドレイン間には3.3Vの電圧を印加できるが、その他の端子間電圧は1.8V耐圧条件を満たすべきMOSトランジスタを意味する。
インバータINV71は入力信号IN1の論理レベルを反転する。第1のPMOSトランジスタP71は、ソースが選択高電圧VOH、自身のバックゲート及び第3のPMOSトランジスタP73のバックゲートに、ドレインが第3のPMOSトランジスタP73のドレイン、第5のPMOSトランジスタP75のゲート及び第1のNMOSトランジスタN71のドレインに、ゲートが出力信号OUT、第4のPMOSトランジスタP74のソース、第6のPMOSトランジスタP76のソース及びバックゲート、並びに第4のNMOSトランジスタN74のドレインにそれぞれ接続されている。第2のPMOSトランジスタP72は、ソースが選択高電圧VOH、自身のバックゲート、第4のPMOSトランジスタP74のバックゲートに、ドレインが第4のPMOSトランジスタP74のドレイン、第6のPMOSトランジスタP76のゲート及び第2のNMOSトランジスタN72のドレインに、ゲートが第2のPMOSトランジスタP72のソース、第5のPMOSトランジスタP75のソース及びバックゲート、並びに第3のNMOSトランジスタN73のドレインにそれぞれ接続されている。第3のPMOSトランジスタP73及び第4のPMOSトランジスタP74の各々のゲートは、選択低電圧VOLに接続されている。第5のPMOSトランジスタP75及び第6のPMOSトランジスタP76の各々のドレインも、選択低電圧VOLに接続されている。第1のNMOSトランジスタN71は、ソースが接地電位に、ゲートが入力信号IN1及び第3のNMOSトランジスタN73のゲートにそれぞれ接続されている。第2のNMOSトランジスタN72は、ソースが接地電位に、ゲートがインバータINV71の出力信号及び第4のNMOSトランジスタN74のゲートにそれぞれ接続されている。第3のNMOSトランジスタN73及び第4のNMOSトランジスタN74の各々のソースは、選択低電圧VOLに接続されている。
図7にて、VOH=1.8V、VOL=0Vである場合には、入力信号IN1がH(=1.8V)レベルであれば、第2のPMOSトランジスタP72、第4のPMOSトランジスタP74、第5のPMOSトランジスタP75、第1のNMOSトランジスタN71及び第3のNMOSトランジスタN73がそれぞれオン状態に、第1のPMOSトランジスタP71、第3のPMOSトランジスタP73、第6のPMOSトランジスタP76、第2のNMOSトランジスタN72及び第4のNMOSトランジスタN74がそれぞれオフ状態となる。その結果、出力信号OUTがH(=1.8V)レベルになる。
また、図7にて、VOH=1.8V、VOL=0Vである場合には、入力信号IN1がL(=0V)レベルであれば、第1のPMOSトランジスタP71、第3のPMOSトランジスタP73、第6のPMOSトランジスタP76、第2のNMOSトランジスタN72及び第4のNMOSトランジスタN74がそれぞれオン状態に、第2のPMOSトランジスタP72、第4のPMOSトランジスタP74、第5のPMOSトランジスタP75、第1のNMOSトランジスタN71及び第3のNMOSトランジスタN73がそれぞれオフ状態となる。その結果、出力信号OUTがL(=0V)レベルになる。
また、図7にて、VOH=3.3V、VOL=1.8Vである場合には、入力信号IN1がH(=1.8V)レベルであれば、出力信号OUTがH(=3.3V)レベルになる。この際、第2のPMOSトランジスタP72、第4のPMOSトランジスタP74、第5のPMOSトランジスタP75、第1のNMOSトランジスタN71及び第3のNMOSトランジスタN73がそれぞれオン状態に、第1のPMOSトランジスタP71、第3のPMOSトランジスタP73、第6のPMOSトランジスタP76、第2のNMOSトランジスタN72及び第4のNMOSトランジスタN74がそれぞれオフ状態となる。このうち、第1のPMOSトランジスタP71のゲート・ドレイン間、第3のPMOSトランジスタP73のバックゲート・ドレイン間、第2のNMOSトランジスタN72のゲート・ドレイン間、及び、第4のNMOSトランジスタN74のゲート・ドレイン間の電圧が3.3Vになるが、これらにLDMOSトランジスタを採用しているので、耐圧の問題は生じない。
最後に、図7にて、VOH=3.3V、VOL=1.8Vである場合には、入力信号IN1がL(=0V)レベルであれば出力信号OUTがL(=1.8V)レベルになる。この際、第1のPMOSトランジスタP71、第3のPMOSトランジスタP73、第6のPMOSトランジスタP76、第2のNMOSトランジスタN72及び第4のNMOSトランジスタN74がそれぞれオン状態に、第2のPMOSトランジスタP72、第4のPMOSトランジスタP74、第5のPMOSトランジスタP75、第1のNMOSトランジスタN71及び第3のNMOSトランジスタN73がそれぞれオフ状態となる。このうち、第2のPMOSトランジスタP72のゲート・ドレイン間、第4のPMOSトランジスタP74のバックゲート・ドレイン間、第1のNMOSトランジスタN71のゲート・ドレイン間、及び、第3のNMOSトランジスタN73のゲート・ドレイン間の電圧が3.3Vになるが、これらにLDMOSトランジスタを採用しているので、耐圧の問題は生じない。
図7の構成によれば、第1〜第4のPMOSトランジスタP71〜P74及び第1〜第4のNMOSトランジスタN71〜N74にいずれも3.3V耐圧MOSトランジスタを採用する場合に比べて、これらにLDMOSトランジスタを採用することによって回路規模の小さいレベルシフタを実現できる。
なお、図7中の第1のPMOSトランジスタP71、第2のPMOSトランジスタP72及び第1〜第4のNMOSトランジスタN71〜N74の各々を、2個の1.8V耐圧MOSトランジスタのカスコード接続に置き換え、かつ第3及び第4のPMOSトランジスタP73,74をそれぞれ1個の1.8V耐圧MOSトランジスタに置き換えたものが、図5の構成に概略相当する。
図8は、図4の変形例を示す回路図である。図8の構成は、第1、第2、第3及び第4のPMOSトランジスタP81,P82,P83,P84と、第1、第2及び第3のNMOSトランジスタN81,N82,N83と、第1及び第2のインバータINV81,INV82とを有する図4と同様の構成の出力段に、第3のインバータINV83を付加したものであって、1.8V耐圧MOSトランジスタのみで構成される。第3のインバータINV83は、第2の電源電圧VDD2及び接地電位に接続され、その出力は、後段レベルシフタLV21,LV22への出力信号XOUTである。
図8の構成によれば、出力イネーブル信号OEがL(=0V)レベルであれば、入力信号INの論理レベルにかかわらず、出力信号XOUTがH(=1.8V)レベルに固定される。また、出力イネーブル信号OEがH(=1.8V)レベルである場合には、入力信号INがH(=0.9V)レベルならば出力信号XOUTがL(=0V)レベルに、入力信号INがL(=0V)レベルならば出力信号XOUTがH(=1.8V)レベルになる。
以上のように、図8の構成によれば、出力イネーブル信号OEによる制御を受けつつ、0.9V振幅の入力信号INを受けて、入力信号INと逆の論理レベルを有する1.8V振幅の出力信号XOUTを得ることができる。
図1中の第1のスイッチ制御回路2における前段レベルシフタLV11と、第2のスイッチ制御回路3における前段レベルシフタLV12との双方を図4の構成から図8の構成に変更すれば、出力イネーブル信号OEがLレベルである場合の電源電圧出力VOUTを第1の電源電圧VDD1(=3.3V)から第2の電源電圧VDD2(=1.8V)に変更することができる。
また、図1中の第2のスイッチ制御回路3における前段レベルシフタLV12を図4の構成のままとし、かつ第1のスイッチ制御回路2における前段レベルシフタLV11を図4の構成から図8の構成に変更すれば、出力イネーブル信号OEがLレベルである場合に、PMOSトランジスタP1及びNMOSトランジスタN1の双方がオフ状態となるため、電源電圧出力VOUTをハイインピーダンス出力とすることができる。
以上のように、第1の実施形態によれば、低耐圧MOSトランジスタのみを用いて、すなわち1.8V耐圧MOSトランジスタ又はLDMOSトランジスタのみを用いて、不要電流を発生させない電源スイッチ回路を実現するとともに、特別な貫通電流防止制御回路を不要とすることができる。
《第2の実施形態》
図9は、第2の実施形態に係る半導体集積回路を示す回路図である。図9の半導体集積回路は、電源スイッチ回路1aと、第1のスイッチ制御回路2と、第2のスイッチ制御回路3aとを備えている。
図9の電源スイッチ回路1aは、図1の電源スイッチ回路1におけるNMOSトランジスタN1をPMOSトランジスタP2に置き換えることにより、ESD(electrostatic discharge)リスクを低減したものである。以下の説明では、第1の電源供給端子11と電源出力端子13との間に介在したPMOSトランジスタP1を「第1のPMOSトランジスタ」といい、第2の電源供給端子12と電源出力端子13との間に介在したPMOSトランジスタP2を「第2のPMOSトランジスタ」という。第1及び第2のPMOSトランジスタP1,P2の各々のバックゲートは、選択高電圧VOHに接続されている。
図9における第1のスイッチ制御回路2は、図1の場合と同様の構成を持つ第1のレベルシフタL1を有する。第1のレベルシフタL1は、第1のPMOSトランジスタP1のゲートへ第1のスイッチ制御信号SW1を供給するものである。
図9における第2のスイッチ制御回路3aは、図1の場合と同様の構成を持つ第2のレベルシフタL2に加えて、第3のレベルシフタL3と、第3及び第4のPMOSトランジスタP91,P92と、第1及び第2のNMOSトランジスタN91,N92とを有する。第3のレベルシフタL3は、0V/1.8Vの出力イネーブル信号OEと、0V/0.9Vの入力信号INとを受けて、0V/1.8Vの信号を生成するように、前述の前段レベルシフタLV11,LV12と同様の構成を持つレベルシフタLV13で構成される。第3のPMOSトランジスタP91は、ソースが選択高電圧VOHに、ドレインが第4のPMOSトランジスタP92のソースに、ゲートが第2のレベルシフタL2の出力信号にそれぞれ接続されている。第4のPMOSトランジスタP92は、ドレインが第2のスイッチ制御信号SW2及び第2のNMOSトランジスタN92のドレインに、ゲートが第2の電源電圧VDD2にそれぞれ接続されている。第1のNMOSトランジスタN91は、ソースが接地電位VSSに、ドレインが第2のNMOSトランジスタN92のソースに、ゲートが第3のレベルシフタL3の出力信号にそれぞれ接続されている。第2のNMOSトランジスタN92のゲートは、第2の電源電圧VDD2に接続されている。第3及び第4のPMOSトランジスタP91,P92と、第1及び第2のNMOSトランジスタN91,N92とは、第2のレベルシフタL2の出力信号の論理レベルを反転するためのインバータを構成する。つまり、図9における第2のレベルシフタL2は、当該インバータを介して、第2のPMOSトランジスタP2のゲートへ第2のスイッチ制御信号SW2を供給する。
図10は、図9の半導体集積回路の動作を示すタイムチャートである。図6の波形と比べて、図10では第2のスイッチ制御信号SW2の波形のみが異なっている。
図10の時刻t2から時刻t3まで、また時刻t8から時刻t9までは、VDD1=0V、VDD2=1.8Vであるから、VOH=1.8V、VOL=0Vとなる。この場合、第1のスイッチ制御信号SW1はL(=0V)レベルであり、第2のスイッチ制御信号SW2はH(=1.8V)レベルであって、VOUT=0Vとなる。この際、第1のPMOSトランジスタP1のソース、ドレイン、ゲート及びバックゲートの各電圧は、0V、0V、0V、1.8Vである。また、第2のPMOSトランジスタP2のソース、ドレイン、ゲート及びバックゲートの各電圧は、1.8V、0V、1.8V、1.8Vである。したがって、第1及び第2のPMOSトランジスタP1,P2のいずれでも、1.8V耐圧条件が満たされている。しかも、このような片側電源供給時に第2のPMOSトランジスタP2が確実にオフ状態を維持するので、特別な貫通電流防止制御回路を設けなくとも、第2の電源供給端子12から第1の電源供給端子11へ向けて貫通電流が流れることはない。
また、図10の時刻t3から時刻t8までは、VDD1=3.3V、VDD2=1.8Vであるから、VOH=3.3V,VOL=1.8Vとなる。この場合、第1のスイッチ制御信号SW1がL(=1.8V)レベルであれば第2のスイッチ制御信号SW2はH(=3.3V)レベルであり、VOUT=3.3Vとなる。このとき、第2のPMOSトランジスタP2のソース、ドレイン、ゲート及びバックゲートの各電圧は、1.8V、3.3V、3.3V、3.3Vであって、1.8V耐圧条件が満たされている。一方、第1のスイッチ制御信号SW1がH(=3.3V)レベルであれば第2のスイッチ制御信号SW2はL(=0V)レベルであり、VOUT=1.8Vとなる。このとき、第2のPMOSトランジスタP2はオン状態であり、当該第2のPMOSトランジスタP2のソース、ドレイン、ゲート及びバックゲートの各電圧は、1.8V、1.8V、0V、3.3Vであって、この場合にも1.8V耐圧条件が満たされている。
なお、図9中の第3のPMOSトランジスタP91及び第1のNMOSトランジスタN91の各々にLDMOSトランジスタを採用すれば、第4のPMOSトランジスタP92及び第2のNMOSトランジスタN92の配設を省略することができる。VDD1=3.3V、VDD2=1.8Vであり、したがってVOH=3.3V、VOL=1.8Vである場合には、第1のNMOSトランジスタN91がオフ状態であってSW2=3.3Vとなるとき、当該第1のNMOSトランジスタN91のゲート・ドレイン間の電圧が3.3Vになるが、LDMOSトランジスタのため耐圧の問題は生じない。また、VOH=3.3V、VOL=1.8Vである場合には、第3のPMOSトランジスタP91がオフ状態であってSW2=0Vとなるとき、当該第3のPMOSトランジスタP91のソース・ドレイン間及びゲート・ドレイン間の電圧が3.3Vになるが、LDMOSトランジスタのため耐圧の問題は生じない。
以上のように、第2の実施形態によっても、低耐圧MOSトランジスタのみを用いて、すなわち1.8V耐圧MOSトランジスタ又はLDMOSトランジスタのみを用いて、不要電流を発生させない電源スイッチ回路を実現するとともに、特別な貫通電流防止制御回路を不要とすることができる。
以上説明してきたように、本開示に係る半導体集積回路は、低耐圧MOSトランジスタのみを用いて不要電流を発生させない電源スイッチ回路を実現するとともに、特別な貫通電流防止制御回路を不要とすることができる効果を有し、供給する電源電圧を切り替える機能を持つ電源スイッチ回路を備えた半導体集積回路等として有用である。
1,1a 電源スイッチ回路
2,3,3a スイッチ制御回路
4,5 電圧セレクタ
11,12 電源供給端子
13 電源出力端子
IN 入力信号
L1,L2,L3,LV13 レベルシフタ
LV11,LV12 前段レベルシフタ
LV21,LV22 後段レベルシフタ
N1,N91,N92 NMOSトランジスタ
OE 出力イネーブル信号
P1,P2,P91,P92 PMOSトランジスタ
SW1,SW2 スイッチ制御信号
VDD 内部電源電圧(0V/0.9V)
VDD1 第1の電源電圧(0V/3.3V)
VDD2 第2の電源電圧(0V/1.8V)
VOH 選択高電圧
VOL 選択低電圧
VOUT 電源電圧出力
VSS 接地電位(0V)

Claims (6)

  1. 接地電位が印加される接地端子と、
    オフ状態では前記接地電位と等しい接地電圧レベルの電圧を、オン状態では前記接地電位よりも高い第1の電源電圧レベルの電圧をそれぞれ示す第1の電源電圧が印加される第1の電源端子と、
    オフ状態では前記接地電圧レベルの電圧を、オン状態では前記接地電圧レベルよりも高くかつ前記第1の電源電圧レベルよりも低い第2の電源電圧レベルの電圧をそれぞれ示す第2の電源電圧が印加される第2の電源端子と、
    前記第1の電源端子に印加されている前記第1の電源電圧、又は、前記第2の電源端子に印加されている前記第2の電源電圧が出力される第3の電源端子と、
    前記第1の電源端子と前記第3の電源端子とを接続するPMOSトランジスタと、
    前記第2の電源端子と前記第3の電源端子とを接続するNMOSトランジスタと、
    前記PMOSトランジスタのゲートに接続する第1のスイッチ制御回路と、
    前記NMOSトランジスタのゲートに接続する第2のスイッチ制御回路とを備え、
    前記第1のスイッチ制御回路は、前記第1の電源電圧がオフ状態でありかつ前記第2の電源電圧がオン状態であるときには前記接地電圧レベルから前記第2の電源電圧レベルまでの信号を、前記第1及び第2の電源電圧がともにオン状態であるときには前記第2の電源電圧レベルから前記第1の電源電圧レベルまでの信号をそれぞれ出力することで、前記PMOSトランジスタをオン状態又はオフ状態に制御し、
    前記第2のスイッチ制御回路は、前記第1の電源電圧がオフ状態でありかつ前記第2の電源電圧がオン状態であるときには前記接地電圧レベルから前記第2の電源電圧レベルまでの信号を、前記第1及び第2の電源電圧がともにオン状態であるときには前記第2の電源電圧レベルから前記第1の電源電圧レベルまでの信号をそれぞれ出力することで、前記NMOSトランジスタをオン状態又はオフ状態に制御することを特徴とする半導体集積回路。
  2. 請求項1記載の半導体集積回路において、
    前記第1の電源電圧及び前記第2の電源電圧を電源とし、そのうちの電圧レベルの高い方の電圧を選択高電圧レベルの電圧として出力する第1の電圧セレクタと、
    前記第1の電源電圧及び前記第2の電源電圧を電源とし、そのうちの電圧レベルの低い方の電圧を選択低電圧レベルの電圧として出力する第2の電圧セレクタとを更に備え、
    前記PMOSトランジスタのバックゲートには前記選択高電圧レベルの電圧が、前記NMOSトランジスタのバックゲートには前記選択低電圧レベルの電圧がそれぞれ印加されていることを特徴とする半導体集積回路。
  3. 請求項2記載の半導体集積回路において、
    前記第1及び第2のスイッチ制御回路の各々は、
    前記接地電圧レベルから内部電源電圧レベルまでの入力信号を、前記接地電圧レベルから前記第2の電源電圧レベルまでの信号に変換して出力する前段レベルシフタと、
    前記前段レベルシフタの出力信号を、前記選択低電圧レベルから前記選択高電圧レベルまでの信号に変換する後段レベルシフタとを有することを特徴とする半導体集積回路。
  4. 接地電位が印加される接地端子と、
    オフ状態では前記接地電位と等しい接地電圧レベルの電圧を、オン状態では前記接地電位よりも高い第1の電源電圧レベルの電圧をそれぞれ示す第1の電源電圧が印加される第1の電源端子と、
    オフ状態では前記接地電圧レベルの電圧を、オン状態では前記接地電圧レベルよりも高くかつ前記第1の電源電圧レベルよりも低い第2の電源電圧レベルの電圧をそれぞれ示す第2の電源電圧が印加される第2の電源端子と、
    前記第1の電源端子に印加されている前記第1の電源電圧、又は、前記第2の電源端子に印加されている前記第2の電源電圧が出力される第3の電源端子と、
    前記第1の電源端子と前記第3の電源端子とを接続する第1のPMOSトランジスタと、
    前記第2の電源端子と前記第3の電源端子とを接続する第2のPMOSトランジスタと、
    前記第1のPMOSトランジスタのゲートに接続する第1のスイッチ制御回路と、
    前記第2のPMOSトランジスタのゲートに接続する第2のスイッチ制御回路とを備え、
    前記第1のスイッチ制御回路は、前記第1の電源電圧がオフ状態でありかつ前記第2の電源電圧がオン状態であるときには前記接地電圧レベルから前記第2の電源電圧レベルまでの信号を、前記第1及び第2の電源電圧がともにオン状態であるときには前記第2の電源電圧レベルから前記第1の電源電圧レベルまでの信号をそれぞれ出力することで、前記第1のPMOSトランジスタをオン状態又はオフ状態に制御し、
    前記第2のスイッチ制御回路は、前記第1の電源電圧がオフ状態でありかつ前記第2の電源電圧がオン状態であるときには前記接地電圧レベルから前記第2の電源電圧レベルまでの信号を、前記第1及び第2の電源電圧がともにオン状態であるときには前記接地電圧レベルから前記第1の電源電圧レベルまでの信号をそれぞれ出力することで、前記第2のPMOSトランジスタをオン状態又はオフ状態に制御することを特徴とする半導体集積回路。
  5. 請求項4記載の半導体集積回路において、
    前記第1の電源電圧及び前記第2の電源電圧を電源とし、そのうちの電圧レベルの高い方の電圧を選択高電圧レベルの電圧として出力する第1の電圧セレクタと、
    前記第1の電源電圧及び前記第2の電源電圧を電源とし、そのうちの電圧レベルの低い方の電圧を選択低電圧レベルの電圧として出力する第2の電圧セレクタとを更に備え、
    前記第1及び第2のPMOSトランジスタのバックゲートには、いずれも前記選択高電圧レベルの電圧が印加されていることを特徴とする半導体集積回路。
  6. 請求項5記載の半導体集積回路において、
    前記第1のスイッチ制御回路は第1のレベルシフタを、前記第2のスイッチ制御回路は第2のレベルシフタ、第3のレベルシフタ及びインバータをそれぞれ備え、
    前記第1及び第2のレベルシフタの各々は、
    前記接地電圧レベルから内部電源電圧レベルまでの入力信号を、前記接地電圧レベルから前記第2の電源電圧レベルまでの信号に変換して出力する前段レベルシフタと、
    前記前段レベルシフタの出力信号を、前記選択低電圧レベルから前記選択高電圧レベルまでの信号に変換する後段レベルシフタとを有し、
    前記第3のレベルシフタは、前記接地電圧レベルから前記内部電源電圧レベルまでの入力信号を、前記接地電圧レベルから前記第2の電源電圧レベルまでの信号に変換して出力する機能を有し、
    前記インバータは、前記選択高電圧レベルの電圧と前記接地電位との間に互いに直列に接続された第3のPMOSトランジスタと第1のNMOSトランジスタとを有し、
    前記第2のレベルシフタの出力信号が前記第3のPMOSトランジスタのゲートに、前記第3のレベルシフタの出力信号が前記第1のNMOSトランジスタのゲートにそれぞれ接続されたことを特徴とする半導体集積回路。
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CN110855285B (zh) * 2019-11-27 2023-09-15 西安紫光国芯半导体有限公司 高频电平转换器
CN111641407B (zh) * 2020-07-08 2023-06-09 湖南国科微电子股份有限公司 一种分段式电平转换电路、集成芯片及电平转换装置
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3701942B2 (ja) 2003-01-21 2005-10-05 沖電気工業株式会社 レベル変換回路
JP4720704B2 (ja) * 2006-09-27 2011-07-13 セイコーエプソン株式会社 電源切換回路
US7855574B2 (en) * 2006-10-10 2010-12-21 Altera Corporation Programmable multiple supply regions with switched pass gate level converters
JP5710175B2 (ja) * 2010-08-04 2015-04-30 ラピスセミコンダクタ株式会社 電源切替回路
WO2012144373A1 (ja) * 2011-04-21 2012-10-26 ルネサスエレクトロニクス株式会社 スイッチ回路、選択回路、及び電圧測定装置
WO2014038115A1 (ja) * 2012-09-06 2014-03-13 パナソニック株式会社 半導体集積回路
JP2014052890A (ja) * 2012-09-07 2014-03-20 Toshiba Corp 電源回路

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