JP6849125B2 - 光計測装置 - Google Patents
光計測装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP6849125B2 JP6849125B2 JP2020063288A JP2020063288A JP6849125B2 JP 6849125 B2 JP6849125 B2 JP 6849125B2 JP 2020063288 A JP2020063288 A JP 2020063288A JP 2020063288 A JP2020063288 A JP 2020063288A JP 6849125 B2 JP6849125 B2 JP 6849125B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- unit
- measuring device
- optical measuring
- light receiving
- information
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 title claims description 48
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 45
- 230000008859 change Effects 0.000 claims description 11
- 230000008520 organization Effects 0.000 claims description 3
- 230000001174 ascending effect Effects 0.000 claims 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 15
- 230000004044 response Effects 0.000 description 14
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 11
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 11
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 11
- 230000008569 process Effects 0.000 description 10
- 238000010791 quenching Methods 0.000 description 8
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 6
- 230000006870 function Effects 0.000 description 6
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 5
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 4
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 4
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 3
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 3
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 2
- 230000002441 reversible effect Effects 0.000 description 2
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 2
- 230000001133 acceleration Effects 0.000 description 1
- 230000015556 catabolic process Effects 0.000 description 1
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 description 1
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 1
- 238000013139 quantization Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01S—RADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
- G01S7/00—Details of systems according to groups G01S13/00, G01S15/00, G01S17/00
- G01S7/48—Details of systems according to groups G01S13/00, G01S15/00, G01S17/00 of systems according to group G01S17/00
- G01S7/483—Details of pulse systems
- G01S7/486—Receivers
- G01S7/4861—Circuits for detection, sampling, integration or read-out
- G01S7/4863—Detector arrays, e.g. charge-transfer gates
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01S—RADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
- G01S7/00—Details of systems according to groups G01S13/00, G01S15/00, G01S17/00
- G01S7/48—Details of systems according to groups G01S13/00, G01S15/00, G01S17/00 of systems according to group G01S17/00
- G01S7/483—Details of pulse systems
- G01S7/486—Receivers
- G01S7/4865—Time delay measurement, e.g. time-of-flight measurement, time of arrival measurement or determining the exact position of a peak
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01S—RADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
- G01S17/00—Systems using the reflection or reradiation of electromagnetic waves other than radio waves, e.g. lidar systems
- G01S17/02—Systems using the reflection of electromagnetic waves other than radio waves
- G01S17/06—Systems determining position data of a target
- G01S17/08—Systems determining position data of a target for measuring distance only
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01S—RADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
- G01S17/00—Systems using the reflection or reradiation of electromagnetic waves other than radio waves, e.g. lidar systems
- G01S17/02—Systems using the reflection of electromagnetic waves other than radio waves
- G01S17/06—Systems determining position data of a target
- G01S17/08—Systems determining position data of a target for measuring distance only
- G01S17/10—Systems determining position data of a target for measuring distance only using transmission of interrupted, pulse-modulated waves
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01S—RADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
- G01S7/00—Details of systems according to groups G01S13/00, G01S15/00, G01S17/00
- G01S7/48—Details of systems according to groups G01S13/00, G01S15/00, G01S17/00 of systems according to group G01S17/00
- G01S7/483—Details of pulse systems
- G01S7/486—Receivers
- G01S7/487—Extracting wanted echo signals, e.g. pulse detection
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01S—RADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
- G01S7/00—Details of systems according to groups G01S13/00, G01S15/00, G01S17/00
- G01S7/48—Details of systems according to groups G01S13/00, G01S15/00, G01S17/00 of systems according to group G01S17/00
- G01S7/483—Details of pulse systems
- G01S7/486—Receivers
- G01S7/487—Extracting wanted echo signals, e.g. pulse detection
- G01S7/4873—Extracting wanted echo signals, e.g. pulse detection by deriving and controlling a threshold value
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L31/00—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L31/08—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof in which radiation controls flow of current through the device, e.g. photoresistors
- H01L31/10—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof in which radiation controls flow of current through the device, e.g. photoresistors characterised by potential barriers, e.g. phototransistors
- H01L31/101—Devices sensitive to infrared, visible or ultraviolet radiation
- H01L31/102—Devices sensitive to infrared, visible or ultraviolet radiation characterised by only one potential barrier
- H01L31/107—Devices sensitive to infrared, visible or ultraviolet radiation characterised by only one potential barrier the potential barrier working in avalanche mode, e.g. avalanche photodiodes
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
- Radar, Positioning & Navigation (AREA)
- Remote Sensing (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Optical Radar Systems And Details Thereof (AREA)
Description
即ち、従来技術では、検出性能を向上させるために、SPADアレイに含まれるSPADの数を増加させた場合、光検知器での応答数が増加し、これに伴い、TOFを計測する後段の計時回路の処理負荷が増大する。その処理負荷が、計時回路の処理能力を超えると、却って、検出性能を低下させてしまう。
照射部は、パルス状のレーザ光を繰り返し照射すると共に、照射タイミングを通知する。
このような構成によれば、光検知器の感度を低下させることなく、個々の計測部に処理させるパルス信号の数を抑制することができる。
[1.第1実施形態]
[1−1.構成]
本実施形態のレーザレーダ1は、車両に搭載され、車両の周辺に存在する各種物体を検出し、その物体に関する情報を生成する。レーザレーダ1は、図1に示すように、照射部2と、受光アレイ部3と、複数の計測部4と、信号処理部5と、ヒストグラム記憶部6とを備える。なお、レーザレーダ1が、光計測装置に相当する。
情報生成部51は、X回の計測サイクル毎、即ちヒストグラムが生成される毎に動作し、ヒストグラム生成部52によって生成されたヒストグラムに基づき、光を反射した物体に関する情報を生成する。具体的には、ヒストグラムの極大値を輝度として抽出すると共に、抽出された極大値毎に、その極大値が得られるアドレスに対応した時間を特定する。更に、これら抽出された輝度と時間ビン(即ち、TOF)との組み合わせに基づいて、ヒストグラム上に極大値を発生させる原因となった各物体までの距離や、その物体の信頼度等を含む物体情報を生成する。生成された物体情報は、図示しない車載LANを介して、該物体情報を利用する各種車載装置に提供される。
ここで、ヒストグラム生成部52の全体的な動作を、図5のステートマシン図に沿って説明する。ヒストグラム生成部52は、IDLE状態と、SET状態と、READ状態と、SUM状態と、WRITE状態とを有し、これらの状態を適宜遷移して、各状態に応じた動作を実行する。但し、状況に応じて、SUM状態とSET状態、およびWRITE状態とREAD状態は、並存することができる。また、図中、empは、複数の一時記憶部44(以下、リードレジスタ群)のいずれにもデータが存在しないことを意味し、dinは、リードレジスタ群にデータが存在することを意味する。
SUM+SET状態では、メモリ制御部522によるSUM状態の動作と、比較部521によるSET状態の動作とが並列に実行される。その後、ヒストグラム生成部52は、WRITE+READ状態に遷移する。
以上詳述した第1実施形態によれば、以下の効果を奏する。
(1a)レーザレーダ1では、1画素を構成する多数の光検知器31を、複数の受光グループG1〜Gxに分割し、受光グループG1〜Gx毎に設けられた複数の計測部4に分散してパルス信号Pの処理を実行させ、その処理結果を統合してヒストグラムを生成している。従って、レーザレーダ1によれば、光検知器31の感度を低下させることなく、即ち、検出性能を低下させることなく、個々の計測部4の処理負荷を削減することができる。即ち、1つの画素に1つの計測部を備える従来装置では、計測部は、図2中の全てのグラフを足し合わせたグラフに示される全てのパルス信号について処理を実行する必要がある。これに対して、1つの画素に複数の計測部4を有するレーザレーダ1では、計測部4は、それぞれ、図2中のグラフのいずれか一つに示されたパルス信号についてだけ処理を実行すればよく、処理負荷が削減される。
[2−1.第1実施形態との相違点]
第2実施形態は、基本的な構成は第1実施形態と同様であるため、相違点について以下に説明する。なお、第1実施形態と同じ符号は、同一の構成を示すものであって、先行する説明を参照する。
以上詳述した第2実施形態によれば、前述した第1実施形態の効果(1a)(1b)を奏し、さらに、以下の効果を奏する。
[3−1.第1実施形態との相違点]
第3実施形態は、基本的な構成は第1実施形態と同様であるため、相違点について以下に説明する。なお、第1実施形態と同じ符号は、同一の構成を示すものであって、先行する説明を参照する。
以上詳述した第3実施形態によれば、前述した第1実施形態の効果(1a)(1b)を奏し、さらに、以下の効果を奏する。
[4.第4実施形態]
[4−1.第1実施形態との相違点]
第4実施形態は、基本的な構成は第1実施形態と同様であるため、相違点について以下に説明する。なお、第1実施形態と同じ符号は、同一の構成を示すものであって、先行する説明を参照する。
受光アレイ部3cは、複数の受光グループG1〜Gxを有する。各受光グループGiは、それぞれMi個の光検知器31cを有する。M1+M2+…+Mx個の光検知器31cのそれぞれがSPADを有し、これらのSPADが2次元の行列を形成するように配列され、受光面を形成する点は、第1実施形態と同様である。
計時部42cは、クロックCKに従って動作する同期式カウンタを有する。計時部42cは、照射部2から通知される照射タイミングによって、カウントを開始し、少なくとも光信号が最大検知距離を往復するのに要する時間の間、カウント動作を継続する。そして、計時部42cは、同期式カウンタのカウント値を時間情報Tpとして出力する。つまり、時間情報Tpは、クロックCKに同期して変化し、照射タイミングからの経過時間を表す。
以上詳述した第4実施形態によれば、前述した第1実施形態の効果(1a)(1b)を奏し、さらに、以下の効果を奏する。
以上、本開示の実施形態について説明したが、本開示は上述の実施形態に限定されることなく、種々変形して実施することができる。
(5i)上記実施形態では、一時記憶部44として使用するRAMは、アドレスが時間情報Tpに対応づけられているが、本開示は、これに限定されるものではない。例えば、一時記憶部44として使用するRAMは、時間情報Tpと光量情報Cpとを対応づけて、いずれもデータとして格納してもよい。これによれば、一時記憶部44として使用するRAMは、全ての時間ビンについてアドレスを用意する必要がないため、特に、受光グループからのパルス信号頻度が低い場合には、RAMの容量を削減することができる。また、この場合、ヒストグラム生成部52は、アドレスを比較する代わりに、時間情報Tpそのものを比較するように構成すればよい。
Claims (20)
- パルス状のレーザ光を繰り返し照射すると共に、照射タイミングを通知するように構成された照射部(2)と、
フォトンの入射によってパルス信号を出力する複数の光検知器(31、31c)が受光グループを形成し、複数の前記受光グループが1画素を形成するように構成され、前記画素を1つ以上備える受光アレイ部(3、3c)と、
前記複数の受光グループのそれぞれに設けられ、前記受光グループから出力される前記パルス信号に従い、前記照射部から通知される前記照射タイミングからの経過時間を表す時間情報、および前記時間情報から特定される1つ以上のタイミングのそれぞれで取得される光量情報を生成するように構成された計測部(4、4c)と、
前記1画素に対応する複数の計測部にて計測された前記時間情報または前記光量情報の少なくとも一方に従って、光の飛翔時間を求めるように構成された信号処理部(5)と、
を備え、
前記光量情報として、前記受光グループに属する複数の光検知器のうち前記パルス信号を出力している光検知器の数を用いる
光計測装置。 - 請求項1に記載の光計測装置であって、
前記信号処理部を複数備え、
前記複数の計測部のそれぞれを、前記複数の信号処理部のいずれかに接続するように構成された後置接続部(9)と、
前記後置接続部による接続を変更することで、前記複数の信号処理部が処理を担当する画素中の領域を変更するように構成された後置制御部(10)と、
を更に備える光計測装置。 - 請求項2に記載の光計測装置であって、
前記後置制御部は、当該光計測装置が使用されている状況を示す状況情報を取得し、取得した前記状況情報に従って前記後置接続部での接続を変更するように構成された、
光計測装置。 - 請求項3に記載の光計測装置であって、
前記後置制御部は、前記状況情報から計測対象までの距離を推定し、前記計測対象までの推定距離をもとに、前記複数の信号処理部のそれぞれに対する前記計測部の接続数を変更するように構成された、
光計測装置。 - 請求項1から請求項4のいずれか1項に記載の光計測装置であって、
前記1画素に含まれる前記複数の光検知器のそれぞれを、前記複数の計測部のいずれかに接続するように構成された前置接続部(7)と、
前記前置接続部による接続を変更することで、前記受光グループの編成を変更するように構成された前置制御部(8)と、を更に備える光計測装置。 - パルス状のレーザ光を繰り返し照射すると共に、照射タイミングを通知するように構成された照射部(2)と、
フォトンの入射によってパルス信号を出力する複数の光検知器(31、31c)が受光グループを形成し、複数の前記受光グループが1画素を形成するように構成され、前記画素を1つ以上備える受光アレイ部(3、3c)と、
前記複数の受光グループ毎のそれぞれに設けられ、前記受光グループから出力された前記パルス信号に従い、前記照射部から通知される前記照射タイミングからの経過時間を表す時間情報、および前記時間情報から特定される1つ以上のタイミングのそれぞれで取得される光量情報を生成するように構成された計測部(4、4c)と、
前記複数の計測部にて計測された前記時間情報または前記光量情報の少なくとも一方に従って、光の飛翔時間を求めるように構成された複数の信号処理部(5)と、
前記複数の画素に対応する前記複数の計測部のそれぞれを前記複数の信号処理部のいずれかに接続するように構成された後置接続部(9)と、前記後置接続部による接続を変更することで、前記信号処理部のそれぞれに対応する前記光検知器の数、又は前記信号処理部のそれぞれに対応する画素の大きさ又は画素の形状の少なくとも1つを変更するように構成された後置制御部(10)と、
を備え、
前記光量情報として、前記受光グループに属する複数の光検知器のうち前記パルス信号を出力している光検知器の数を用いる
光計測装置。 - 請求項6に記載の光計測装置であって、
前記後置制御部は、前記信号処理部のそれぞれに対応する各画素を形成する前記光検知器の数、または各画素の大きさまたは各画素の形状が同一となるように、前記後置接続部による接続を変更するように構成された、
光計測装置。 - 請求項6に記載の光計測装置であって、
前記後置制御部は、前記信号処理部のそれぞれに対応する各画素を形成する前記光検知器の数、または各画素の大きさまたは各画素の形状の少なくとも一つが、画素によって異なるように、前記後置接続部による接続を変更するように構成された、
光計測装置。 - 請求項6から請求項8のいずれか1項に記載の光計測装置であって、
前記後置制御部は、当該光計測装置が使用されている状況を示す状況情報を取得し、取得した前記状況情報に従って前記後置接続部での接続を変更するように構成された、
光計測装置。 - 請求項9に記載の光計測装置であって、
前記後置制御部は、前記状況情報から計測対象までの距離を推定し、前記計測対象までの推定距離をもとに、前記複数の信号処理部のそれぞれに対する前記計測部の接続数を変更するように構成された、
光計測装置。 - 請求項6から請求項10のいずれか1項に記載の光計測装置であって、
前記受光アレイ部に含まれる前記複数の光検知器のそれぞれを、前記複数の計測部のいずれかに接続するように構成された前置接続部(7)と、
前記前置接続部による接続を変更することで、前記受光グループの編成を変更するように構成された前置制御部(8)と、を更に備える光計測装置。 - 請求項5または請求項11に記載の光計測装置であって、
前記前置制御部は、当該光計測装置が使用されている状況を示す状況情報を取得し、取得した前記状況情報に従って前記前置接続部での接続を変更するように構成された、
光計測装置。 - 請求項12に記載の光計測装置であって、
前記前置制御部は、前記状況情報から計測対象での明るさの傾向を推定し、前記明るさの傾向をもとに前記受光グループを形成する光検知器の数、又は前記受光グループによって形成される画素の大きさ又は画素の形状の少なくとも1つを変更するように構成された、
光計測装置。 - 請求項1から請求項13のいずれか1項に記載の光計測装置であって、
前記信号処理部は、前記複数の計測部にて計測された前記時間情報および前記光量情報に従って、前記時間情報が表す時間毎に前記光量情報が示す値を積算することでヒストグラムを生成するように構成されたヒストグラム生成部(52)、
を備える光計測装置。 - 請求項14に記載の光計測装置であって、
前記複数の計測部は、それぞれ、生成された前記光量情報および前記時間情報を記憶するように構成された一時記憶部(44、44c)を備え、
前記ヒストグラム生成部は、前記複数の計測部にそれぞれ設けられた前記一時記憶部に記憶された情報に従って、前記ヒストグラムを生成するように構成された、
光計測装置。 - 請求項15に記載の光計測装置であって、
前記ヒストグラム生成部は、前記複数の計測部のそれぞれに設けられた前記一時記憶部に記憶されている前記時間情報を比較し、前記時間情報の値が小さいものから順に、該時間情報および該時間情報に対応づけられた前記光量情報を読み出すように構成された比較部(521)と、
前記比較部にて読み出された前記時間情報および前記光量情報に従って、前記ヒストグラムが格納されたメモリの内容を更新するように構成されたメモリ制御部(522)と、
を備える光計測装置。 - 請求項16に記載の光計測装置であって、
前記比較部は、異なる前記一時記憶部から前記時間情報が同一である複数の前記光量情報が読み出された場合、該複数の光量情報を加算した結果を前記メモリ制御部に供給するように構成された、
光計測装置。 - 請求項15から請求項17のいずれか1項に記載の光計測装置であって、
前記一時記憶部は、前記時間情報に対応づけられたアドレスに、前記光量情報を格納するように構成された、
光計測装置。 - 請求項1から請求項18のいずれか1項に記載の光計測装置であって、
前記計測部(4c)は、
前記照射タイミングからの経過時間をクロックに従ってカウントしたカウント値を前記時間情報として出力するように構成された計時部(42c)と、
前記時間情報が変化する毎に、前記光量情報を生成するように構成されたカウント部(43c)と、
を備える光計測装置。 - 請求項1から請求項18のいずれか1項に記載の光計測装置であって、
前記計測部(4)は、
前記受光グループから同時に出力されている前記パルス信号の数がトリガ閾値以上である場合に、前記受光グループに入射された光信号の受光タイミングを表すトリガ信号を出力するように構成されたトリガ部(41)と、
前記照射タイミングから前記受光タイミングまでの時間を前記時間情報として出力するように構成された計時部(42)と、
前記トリガ信号が出力される毎に、前記光量情報を生成するように構成されたカウント部(43)と、
を備える光計測装置。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2017077484 | 2017-04-10 | ||
JP2017077484 | 2017-04-10 |
Related Parent Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2018049416A Division JP6690660B2 (ja) | 2017-04-10 | 2018-03-16 | 光計測装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2020101569A JP2020101569A (ja) | 2020-07-02 |
JP6849125B2 true JP6849125B2 (ja) | 2021-03-24 |
Family
ID=64276072
Family Applications (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2018049416A Active JP6690660B2 (ja) | 2017-04-10 | 2018-03-16 | 光計測装置 |
JP2020063288A Active JP6849125B2 (ja) | 2017-04-10 | 2020-03-31 | 光計測装置 |
Family Applications Before (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2018049416A Active JP6690660B2 (ja) | 2017-04-10 | 2018-03-16 | 光計測装置 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US11585907B2 (ja) |
JP (2) | JP6690660B2 (ja) |
CN (1) | CN110520756B (ja) |
Families Citing this family (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP6690660B2 (ja) | 2017-04-10 | 2020-04-28 | 株式会社デンソー | 光計測装置 |
KR101938984B1 (ko) * | 2017-08-09 | 2019-04-10 | 연세대학교 산학협력단 | Spad 거리측정 센서 기반의 2단계 트래킹을 이용한 거리 측정 장치 및 방법 |
JP7013925B2 (ja) | 2018-02-23 | 2022-02-01 | 株式会社デンソー | 光学的測距装置およびその方法 |
EP3754367A1 (en) * | 2019-06-18 | 2020-12-23 | STMicroelectronics (Research & Development) Limited | Circuit and method for combining spad outputs |
JP7302442B2 (ja) * | 2019-11-11 | 2023-07-04 | 株式会社デンソー | 距離測定装置 |
JP7265828B2 (ja) * | 2021-03-10 | 2023-04-27 | キヤノン株式会社 | 光電変換装置及び撮像システム |
CN115902835B (zh) * | 2021-09-30 | 2024-02-27 | 深圳市速腾聚创科技有限公司 | 一种雷达数据收发装置、测距方法及激光雷达 |
WO2023085040A1 (ja) * | 2021-11-15 | 2023-05-19 | ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 | 測距装置、測距システム及び測距方法 |
Family Cites Families (19)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7176970B2 (en) * | 2003-06-30 | 2007-02-13 | Motorola, Inc. | Light sensing pixel sensor and method |
US8294809B2 (en) * | 2005-05-10 | 2012-10-23 | Advanced Scientific Concepts, Inc. | Dimensioning system |
JP4529834B2 (ja) * | 2005-07-29 | 2010-08-25 | ソニー株式会社 | 固体撮像装置、固体撮像装置の駆動方法および撮像装置 |
EP1901093B1 (de) * | 2006-09-15 | 2018-11-14 | Triple-IN Holding AG | Aufnahme von Entfernungsbildern |
DE102011005740A1 (de) * | 2011-03-17 | 2012-09-20 | Robert Bosch Gmbh | Messvorrichtung zur Messung einer Entfernung zwischen der Messvorrichtung und einem Zielobjekt mit Hilfe optischer Messstrahlung |
JP2012202776A (ja) * | 2011-03-24 | 2012-10-22 | Toyota Central R&D Labs Inc | 距離測定装置 |
FR2984522B1 (fr) * | 2011-12-20 | 2014-02-14 | St Microelectronics Grenoble 2 | Dispositif de detection de la proximite d'un objet, comprenant des photodiodes spad |
EP2708913A1 (de) * | 2012-09-18 | 2014-03-19 | Sick Ag | Optoelektronischer Sensor und Verfahren zur Objekterfassung |
JP6236758B2 (ja) * | 2012-10-09 | 2017-11-29 | 株式会社豊田中央研究所 | 光学的測距装置 |
JP6225411B2 (ja) | 2012-10-16 | 2017-11-08 | 株式会社豊田中央研究所 | 光学的測距装置 |
JP6314418B2 (ja) * | 2013-10-18 | 2018-04-25 | 株式会社デンソー | レーダ装置 |
WO2015075926A1 (ja) * | 2013-11-20 | 2015-05-28 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | 測距撮像システム |
US9658336B2 (en) * | 2014-08-20 | 2017-05-23 | Omnivision Technologies, Inc. | Programmable current source for a time of flight 3D image sensor |
JP2016142528A (ja) * | 2015-01-29 | 2016-08-08 | オムロンオートモーティブエレクトロニクス株式会社 | レーザレーダ装置 |
JP2016144170A (ja) * | 2015-02-05 | 2016-08-08 | セイコーエプソン株式会社 | 画像処理装置、表示装置、及び、画像処理装置の制御方法 |
JP6333189B2 (ja) * | 2015-02-09 | 2018-05-30 | 三菱電機株式会社 | レーザ受信装置 |
JP6477083B2 (ja) * | 2015-03-19 | 2019-03-06 | 株式会社豊田中央研究所 | 光学的測距装置 |
WO2018176290A1 (en) * | 2017-03-29 | 2018-10-04 | SZ DJI Technology Co., Ltd. | Light detection and ranging (lidar) signal processing circuitry |
JP6690660B2 (ja) * | 2017-04-10 | 2020-04-28 | 株式会社デンソー | 光計測装置 |
-
2018
- 2018-03-16 JP JP2018049416A patent/JP6690660B2/ja active Active
- 2018-04-06 CN CN201880024047.8A patent/CN110520756B/zh active Active
-
2019
- 2019-10-09 US US16/597,109 patent/US11585907B2/en active Active
-
2020
- 2020-03-31 JP JP2020063288A patent/JP6849125B2/ja active Active
- 2020-04-08 US US16/843,191 patent/US11585908B2/en active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2018179974A (ja) | 2018-11-15 |
CN110520756A (zh) | 2019-11-29 |
US20200233069A1 (en) | 2020-07-23 |
JP6690660B2 (ja) | 2020-04-28 |
JP2020101569A (ja) | 2020-07-02 |
US20200041621A1 (en) | 2020-02-06 |
US11585907B2 (en) | 2023-02-21 |
CN110520756B (zh) | 2023-04-07 |
US11585908B2 (en) | 2023-02-21 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP6849125B2 (ja) | 光計測装置 | |
WO2018190276A1 (ja) | 光計測装置 | |
US11668826B2 (en) | Photodetector | |
JP6443132B2 (ja) | 演算装置 | |
US11644573B2 (en) | Higher pixel density histogram time of flight sensor with higher pixel density | |
JP6609980B2 (ja) | 光飛行時間測定装置及び光学的測距装置 | |
JP6881074B2 (ja) | 光検出器 | |
JP6709335B2 (ja) | 光センサ、電子機器、演算装置、及び光センサと検知対象物との距離を測定する方法 | |
JP2020003446A (ja) | 光測距装置 | |
JP6481405B2 (ja) | 演算装置 | |
WO2020145035A1 (ja) | 距離測定装置及び距離測定方法 | |
US11626446B2 (en) | Pixel circuit and method of operating the same in an always-on mode | |
WO2018181013A1 (ja) | 光検出器 | |
CN112083435B (zh) | Lidar系统、用于lidar系统的方法以及用于lidar系统的接收器 | |
CN107272010B (zh) | 距离传感器及其距离测量方法、3d图像传感器 | |
WO2019050024A1 (ja) | 距離測定方法および距離測定装置 | |
WO2018235944A1 (ja) | 光測距装置 | |
US20220317250A1 (en) | Lidar sensor and method for removing noise of the same | |
WO2021095601A1 (ja) | 距離測定装置 | |
KR20210153563A (ko) | 깊이 검출을 위한 히스토그램 비닝 시스템 및 방법 | |
US20240125933A1 (en) | Ranging device | |
EP4390459A1 (en) | Optoelectronic device with time-of-flight sensor using dynamic time windows | |
US20240219531A1 (en) | Detector module and ranging device | |
US20240230859A9 (en) | Ranging device and driving method of ranging device | |
US20240134017A1 (en) | Ranging device and driving method of ranging device |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20200408 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20210108 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20210202 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20210215 |
|
R151 | Written notification of patent or utility model registration |
Ref document number: 6849125 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |