JP6881074B2 - 光検出器 - Google Patents
光検出器 Download PDFInfo
- Publication number
- JP6881074B2 JP6881074B2 JP2017122285A JP2017122285A JP6881074B2 JP 6881074 B2 JP6881074 B2 JP 6881074B2 JP 2017122285 A JP2017122285 A JP 2017122285A JP 2017122285 A JP2017122285 A JP 2017122285A JP 6881074 B2 JP6881074 B2 JP 6881074B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- photodetector
- timing
- light
- edge
- unit
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 230000004044 response Effects 0.000 claims description 42
- 238000012937 correction Methods 0.000 claims description 35
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 24
- 230000008859 change Effects 0.000 claims description 13
- 238000003708 edge detection Methods 0.000 description 39
- 230000006870 function Effects 0.000 description 21
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 15
- 238000010791 quenching Methods 0.000 description 12
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 description 11
- 238000000034 method Methods 0.000 description 10
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 8
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 3
- 230000008569 process Effects 0.000 description 3
- 230000001934 delay Effects 0.000 description 2
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 2
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 1
- 230000015556 catabolic process Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/42—Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K5/00—Manipulating of pulses not covered by one of the other main groups of this subclass
- H03K5/153—Arrangements in which a pulse is delivered at the instant when a predetermined characteristic of an input signal is present or at a fixed time interval after this instant
- H03K5/1534—Transition or edge detectors
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/42—Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors
- G01J1/44—Electric circuits
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01S—RADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
- G01S7/00—Details of systems according to groups G01S13/00, G01S15/00, G01S17/00
- G01S7/48—Details of systems according to groups G01S13/00, G01S15/00, G01S17/00 of systems according to group G01S17/00
- G01S7/483—Details of pulse systems
- G01S7/486—Receivers
- G01S7/4861—Circuits for detection, sampling, integration or read-out
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/42—Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors
- G01J1/44—Electric circuits
- G01J2001/4413—Type
- G01J2001/442—Single-photon detection or photon counting
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/42—Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors
- G01J1/44—Electric circuits
- G01J2001/4446—Type of detector
- G01J2001/446—Photodiode
- G01J2001/4466—Avalanche
Description
複数のSPADは、フォトンの入射に応答するように構成される。複数の信号出力部は、複数のSPAD毎に、SPADが応答するとパルス信号を出力するように構成される。
[1.第1実施形態]
[1−1.構成]
図1に示す光検出器1Aは、アバランシェフォトダイオード(以下、APD)、特にSPADを用いて光を検出する装置である。光検出器1Aは、例えば、レーザレーダ等の信号光を発する装置における受光装置として利用され、信号光を射出したタイミングに対する反射光を受けたタイミングを認識する機能を有する。
複数の受光部2は、図2に示すように、縦・横方向に格子状に配置されることにより、光検出用の一つの画素を構成する受光部アレイ10を構成している。それぞれの受光部2は、フォトンが入射されると、その応答としてパルス信号を出力するように構成される。それぞれの受光部2は、図2に示すように、SPAD4と、クエンチ抵抗6と、パルス出力部8とを備える。
加算器40は、それぞれのエッジ検出回路20Aから出力されたパルスを加算して出力する周知の加算器である。加算器40からの出力は、演算部50に入力される。つまり、エッジ検出回路20A、加算器40は、予め設定された周期で入力されるクロックを受ける毎に、最新のクロックと直前のクロックとの間の期間に、SPAD4がパルス信号を検出しない状態からパルス信号を検出した状態に変化したことを表すエッジについて、該エッジの個数を認識するように構成される。
演算部50は、CPU51がプログラムを実行することで実現される機能の構成として、図1に示すように、ピーク検出部56と、タイミング補正部57と、を備える。演算部50を構成するこれらの要素を実現する手法はソフトウェアに限るものではなく、その一部または全部の要素について、一つあるいは複数のハードウェアを用いて実現してもよい。例えば、上記機能がハードウェアである電子回路によって実現される場合、その電子回路は多数の論理回路を含むデジタル回路、またはアナログ回路、あるいはこれらの組合せによって実現してもよい。
以上詳述した第1実施形態によれば、以下の効果を奏する。
(1a)上記の光検出器1Aは、複数のSPAD4と、複数のクエンチ抵抗6と、複数のパルス出力部8と、エッジ検出回路20A、加算器40と、を備える。
このような光検出器1Aによれば、クロック同期回路というハードウェアでエッジを認識する機能を実現するので、ソフトウェアを用いる構成と比較して簡素な構成でエッジを認識することができる。
(1e)上記の光検出器1Aにおいて演算部50は、エッジの個数がピークとなるタイミングEを認識し、エッジの個数がピークとなるタイミングEに対して、受光量がピークとなるタイミングPとの時間差ΔT1として予め設定された時間分だけ補正したタイミングを、光を検出したタイミングとして認識するように構成される。
[2−1.第1実施形態との相違点]
第2実施形態は、基本的な構成は第1実施形態と同様であるため、相違点について以下に説明する。なお、第1実施形態と同じ符号は、同一の構成を示すものであって、先行する説明を参照する。
第2実施形態の光検出器1Bは、第1実施形態の光検出器1Aが備えたエッジ検出回路20Aに換えて、図7示すエッジ検出回路20Bを備える。
[2−3.効果]
以上詳述した第2実施形態によれば、前述した第1実施形態の効果(1a)を奏し、さらに、以下の効果を奏する。
[3−1.第1実施形態との相違点]
前述した第1実施形態では、エッジ検出回路20Aおよびエッジの個数を加算する1つの加算器40を備えた。これに対し、第2実施形態では、エッジ検出回路20Cおよび加算器60を備えた点で、第1実施形態と相違する。
エッジ検出回路20Cは、第1実施形態のエッジ検出回路20Aと概ね同様の構成であるが、図8に示すように、受光部側のクロック同期部22の出力が加算器60に入力されるよう構成される点が異なる。この構成では、加算器60には、受光部2からパルス信号が出力されているか否かの信号が入力される。演算部50は、加算器60の出力を認識することで、クロックを受ける毎に、応答数を認識することができる。
演算部50は、加算器40の出力であるエッジの個数に加えて、加算器60の出力である応答数も加味して処理を行う。具体的には、演算部50は、エッジの個数に応じて光を受けたタイミングを認識する処理を行い、応答数に応じて光の強さを認識する処理を行う。
[3−4.効果]
以上詳述した第3実施形態によれば、前述した第1実施形態の効果(1a)を奏し、さらに、以下の効果を奏する。
(3b)上記の光検出器1Cにおいて、エッジ検出回路20Cは、パルス信号を認識する機能を有するクロック同期回路として構成される。
このような光検出器1Cによれば、1つのクロック同期回路で複数の機能を備えるので、別個のクロック同期回路とする構成と比較して、回路を小型化することができる。
このような光検出器1Cによれば、応答数に応じて任意のタイミングにおける光の強さを認識することができる。
[4−1.第3実施形態との相違点]
前述した第3実施形態では、加算器40,60を並列に配置し、それぞれの出力を用いて処理を行う。これに対し、第4実施形態では、1つの加算器40だけを用いてエッジ値およびレベル値を認識する点で相違する。
第4実施形態の光検出器1Dは、図9に示すように、複数のレベル検出回路70をさらに備える。また、複数のエッジ検出回路20Aに換えて、1つのエッジ検出回路20Dを備える。
ここで、SPAD4が4個である光検出器モデルの作動例を図10に示す。光検出器1Dでは、レベル値が変化したタイミングをエッジとして認識し、その際のレベル値が出力される。
上記のように、エッジ値が最大となるタイミングEとレベル値が最大となるタイミングLとはΔT2分だけ差があるため、エッジ値に対応するレベル値としては、エッジ値を認識したときよりも遅いタイミングでのレベル値を採用してもよい。
以上詳述した第4実施形態によれば、前述した第1実施形態の効果(1a)を奏し、さらに、以下の効果を奏する。
[5−1.第4実施形態との相違点]
前述した第4実施形態では、ソフトウェアでの処理として、応答数のピークがエッジの数のピークよりも遅れる分だけ遅い時期に認識した応答数を、エッジの個数に対応する光の強さとして認識する構成を実現したが、この構成はハードウェアで実現してもよい。第5実施形態の光検出器1Eでは、図12に示すように、第3実施形態の構成に対して、加算器40の出力を遅延させて出力する遅延回路80を備え、遅延回路80を介した出力を利用する点で相違する。なお、第5実施形態のエッジ検出回路20Eは、第3実施形態のエッジ検出回路20Cと同等のものである。
遅延回路80は、エッジの個数の加算結果を入力し、応答数のピークがエッジの数のピークよりも遅れる分だけ、エッジの個数を出力するタイミングを遅延させて出力する。すると、演算部50では、エッジの個数の入力と、応答数の入力とが、適切に対応した状態となる。つまり、応答数がエッジに対して遅れる特性を有する分だけ補正した状態で演算部50に入力させることができる。
[6.第6実施形態]
[6−1.第1実施形態との相違点]
前述した第1実施形態では、光検出器1Aの受光環境に拘わらず、エッジの個数がピークとなるタイミングEに対して、受光量がピークとなるタイミングPとの時間差ΔT1として予め設定された時間分だけ補正したタイミングを、光を検出したタイミングとして認識するように構成した。一方、第6実施形態では、光検出器1Fの受光環境に応じて、時間差ΔT1に対応する補正時間を演算するように構成される。
タイミング補正部57は、受光環境のうちの光の強さに応じて補正時間を求める。光の強さとは、入射光量の大小を示す値であり、本実施形態ではエッジ値のピークの高さ、エッジ値の最大値Emaxを採用する。なお、光の強さを検出するには、例えば、レベル値のピークの高さや、レベル値またはエッジ値の変化率(例えば図4のレベル値やエッジ値のグラフにおける特定の点における接線の傾き)の大きさを採用してもよい。
以上詳述した第6実施形態によれば、前述した第1実施形態の効果(1a)を奏し、さらに、以下の効果を奏する。
このような光検出器1Fによれば、光検出器1Fの受光環境に応じて補正時間を演算するので、受光環境が変化したときに、その変化に対応させることができる。よって、より精度よく検出タイミングを推定することができる。
以上、本開示の実施形態について説明したが、本開示は上述の実施形態に限定されることなく、種々変形して実施することができる。
上記実施形態において、クエンチ抵抗6、パルス出力部8は、本開示でいう信号出力部に相当し、エッジ検出回路20A,20B,20C,20D,20E、加算器40は、本開示でいうエッジ認識部に相当する。また、上記実施形態において、エッジ検出回路20A,20B,20C,20D,20E、レベル検出回路70は、本開示でいうクロック同期回路に相当し、エッジ検出回路20C、レベル検出回路70、加算器40は、本開示でいう応答数認識部に相当する。
Claims (10)
- 光を検出する光検出器(1)であって、
フォトンの入射に応答するように構成された複数のSPAD(4)と、
前記複数のSPAD毎に、前記SPADが応答するとパルス信号を出力するように構成された複数の信号出力部(6、8)と、
予め設定された周期で入力されるクロックを受ける毎に、最新のクロックと直前のクロックとの間の期間に、前記信号出力部が前記パルス信号を検出しない状態から前記パルス信号を検出した状態に変化したことを表すエッジについて、該エッジの個数を認識するように構成されたエッジ認識部(20A,20B,20C,20D,20E、40)と、
を備えた光検出器。 - 請求項1に記載の光検出器であって、
前記エッジ認識部は、前記エッジを認識する機能を有するクロック同期回路(20A,20B,20C,20D,20E)
をさらに備えた光検出器。 - 請求項1または請求項2に記載の光検出器であって、
予め設定された周期で入力されるクロックを受ける毎に、前記パルス信号に基づいて、応答しているSPADの個数を表す応答数を認識するように構成された応答数認識部(20C、70、加算器40)、
をさらに備えた光検出器。 - 請求項3に記載の光検出器であって、
前記応答数認識部は、パルス信号を認識する機能を有するクロック同期回路(20C、70)、
をさらに備えた光検出器。 - 請求項3または請求項4に記載の光検出器であって、
前記エッジを認識したタイミングおよび該タイミング毎の前記エッジの個数に応じて当該光検出器が光を検出したタイミングを表す検出タイミングを認識するように構成されたタイミング認識部(56、57)、
をさらに備えた光検出器。 - 請求項5に記載の光検出器であって、
前記エッジの個数の時系列に沿った変化状態に基づいて前記変化状態が予め設定された条件を満たす仮のタイミングを認識し、前記仮のタイミングと、受光量がピークとなる真のタイミングと、の時間差を表す補正時間を取得し、前記仮のタイミングに対して前記補正時間分だけ補正したタイミングを前記検出タイミングとするように構成されたタイミング補正部(57)、
をさらに備えた光検出器。 - 請求項6に記載の光検出器であって、
当該光検出器の受光環境に応じて前記補正時間を演算するように構成された補正演算部(57)、
をさらに備えた光検出器。 - 請求項7に記載の光検出器であって、
前記補正演算部は、前記受光環境として、当該光検出器に入射される光の強さに応じて前記補正時間を演算する
ように構成された光検出器。 - 請求項5〜請求項8の何れか1項に記載の光検出器であって、
前記応答数に応じて光の強さを認識するように構成された強度認識部(56、57)、
をさらに備えた光検出器。 - 請求項9に記載の光検出器であって、
前記強度認識部は、前記エッジ認識部がエッジを認識したタイミングよりも遅い時期に前記応答数認識部が認識した応答数を、前記エッジの個数に対応する光の強さとして認識する
ように構成された光検出器。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2017122285A JP6881074B2 (ja) | 2017-06-22 | 2017-06-22 | 光検出器 |
US16/013,047 US10612973B2 (en) | 2017-06-22 | 2018-06-20 | Light detection device |
CN201810643155.5A CN109115334B (zh) | 2017-06-22 | 2018-06-21 | 光检测装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2017122285A JP6881074B2 (ja) | 2017-06-22 | 2017-06-22 | 光検出器 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2019009221A JP2019009221A (ja) | 2019-01-17 |
JP6881074B2 true JP6881074B2 (ja) | 2021-06-02 |
Family
ID=64692477
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2017122285A Active JP6881074B2 (ja) | 2017-06-22 | 2017-06-22 | 光検出器 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US10612973B2 (ja) |
JP (1) | JP6881074B2 (ja) |
CN (1) | CN109115334B (ja) |
Families Citing this family (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP6760319B2 (ja) * | 2018-03-15 | 2020-09-23 | オムロン株式会社 | 光検出装置、光検出方法および光学式測距センサ |
CN109765544B (zh) * | 2019-01-24 | 2022-08-26 | 南京邮电大学 | 单光子3d激光雷达探测器的光子同步检测电路及方法 |
EP3754367A1 (en) * | 2019-06-18 | 2020-12-23 | STMicroelectronics (Research & Development) Limited | Circuit and method for combining spad outputs |
WO2020261278A1 (en) * | 2019-06-25 | 2020-12-30 | 5D Sensing Ltd. | Digital readout enabling 2d and 3d analysis for silicon photo multiplier |
CN110308435B (zh) * | 2019-08-05 | 2024-02-20 | 中国兵器工业集团第二一四研究所苏州研发中心 | 一种像素级的时间和强度数字转换电路 |
CN111308487B (zh) * | 2020-02-21 | 2022-03-15 | 南京大学 | 一种适用于远距离测距的spad阵列 |
JP2022070170A (ja) | 2020-10-26 | 2022-05-12 | ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 | 光検出装置および光検出システム |
US11619914B2 (en) * | 2021-06-03 | 2023-04-04 | Allegro Microsystems, Llc | Arrayed time to digital converter |
Family Cites Families (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007036513A (ja) * | 2005-07-26 | 2007-02-08 | Nec Corp | 光子受信器および光子受信方法 |
US8723132B2 (en) * | 2008-03-19 | 2014-05-13 | Koninklijke Philips N.V. | Single photon radiation detector |
KR101467509B1 (ko) | 2008-07-25 | 2014-12-01 | 삼성전자주식회사 | 이미지 센서 및 이미지 센서 동작 방법 |
BRPI1008279A2 (pt) | 2009-05-28 | 2019-09-24 | Koninklijke Philips Electrnics N. V. | circuito de tempo detector de radiação, scanner de imagem medica nuclear, metodo para atribuir um registro de hora a um evento detecção, metodo da imagem e metodo para associar um indice de tempo a um evento detectado |
JP5644294B2 (ja) * | 2010-09-10 | 2014-12-24 | 株式会社豊田中央研究所 | 光検出器 |
DE102011052334B4 (de) * | 2011-08-01 | 2013-04-11 | Leica Microsystems Cms Gmbh | Einrichtung und Verfahren zum Zählen von Photonen |
MX2014001272A (es) | 2011-08-03 | 2014-05-19 | Koninkl Philips Nv | Modos de lectura sensibles a posicion para arreglos fotomultiplicadores de silicio digitales. |
JP6017916B2 (ja) | 2012-10-16 | 2016-11-02 | 株式会社豊田中央研究所 | 光検出器 |
JP6225411B2 (ja) * | 2012-10-16 | 2017-11-08 | 株式会社豊田中央研究所 | 光学的測距装置 |
US9541448B2 (en) * | 2015-02-06 | 2017-01-10 | General Electric Company | Silicon photomultipliers with digitized micro-cells having a first one-shot pulse and a second one-shot pulse provided by an electronic circuit |
JP6556561B2 (ja) | 2015-08-28 | 2019-08-07 | シャープ株式会社 | 光センサ |
JP2017053833A (ja) | 2015-09-10 | 2017-03-16 | ソニー株式会社 | 補正装置、補正方法および測距装置 |
US10132921B2 (en) * | 2016-11-02 | 2018-11-20 | Stmicroelectronics (Research & Development) Ltd | Light communications receiver and decoder with time to digital converters |
JP6659617B2 (ja) | 2017-04-12 | 2020-03-04 | 株式会社デンソー | 光検出器 |
-
2017
- 2017-06-22 JP JP2017122285A patent/JP6881074B2/ja active Active
-
2018
- 2018-06-20 US US16/013,047 patent/US10612973B2/en active Active
- 2018-06-21 CN CN201810643155.5A patent/CN109115334B/zh active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2019009221A (ja) | 2019-01-17 |
US20180372538A1 (en) | 2018-12-27 |
CN109115334A (zh) | 2019-01-01 |
CN109115334B (zh) | 2021-10-01 |
US10612973B2 (en) | 2020-04-07 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP6881074B2 (ja) | 光検出器 | |
US10304877B2 (en) | Circuit and method for controlling and selectively enabling photodiode cells | |
US11769775B2 (en) | Distance-measuring imaging device, distance measuring method of distance-measuring imaging device, and solid-state imaging device | |
US10545239B2 (en) | Distance-measuring imaging device and solid-state imaging device | |
JP6867212B2 (ja) | 光検出器及び測距装置 | |
CN110520756B (zh) | 光学测量装置 | |
US11287518B2 (en) | Optical sensor and electronic device | |
US20160291138A1 (en) | Wrap around ranging method and circuit | |
WO2021095657A1 (ja) | 距離測定装置 | |
CN107272010B (zh) | 距离传感器及其距离测量方法、3d图像传感器 | |
WO2018190276A1 (ja) | 光計測装置 | |
WO2018235944A1 (ja) | 光測距装置 | |
JP6728369B2 (ja) | 光センサおよび電子機器 | |
US20170139040A1 (en) | Ranging device read-out circuit | |
US11536811B2 (en) | Distance measuring device and method | |
US10340957B2 (en) | Methods and devices for monitoring optical signals | |
US11662442B2 (en) | Distance measurement apparatus with detection timing correction | |
JP7388141B2 (ja) | 距離測定装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20200519 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20210224 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20210406 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20210419 |
|
R151 | Written notification of patent or utility model registration |
Ref document number: 6881074 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151 |