JP6838835B2 - 微粒子検知システム - Google Patents
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Description
Ss=G・M+Sf …(1)
なお、Sfはオフセット電流値、Gはゲインである。オフセット電流値Sfは、体積微粒子量M=0の場合に観測されるセンサ電流値である。センサ部において、微粒子に付着しなかった非付着イオンを完全には捕集できず、センサ部外に流出する非付着イオンが存在するからである。またゲインGは、体積微粒子量Mと(オフセット電流値Sfを差し引いたまたは無視した)センサ電流値Ssとの比(センサ部の感度)である。
従って、センサ電流値取得部で取得したセンサ電流値Ssから、下記式(2)によって、体積微粒子量Mを算出することができる。
M=(Ss−Sf)/G …(2)
例えば、外部ガス流の流速Vgが大きい場合には、センサ部内を通過する被測定ガス流の流速も速くなり、センサ部に取り込まれる単位時間あたりの被測定ガスが多くなる。
このため、外部ガス及び被測定ガスに含まれた微粒子の量(濃度)が変化せず一定であっても、外部ガス流の流速Vgが大きくなると、単位時間当たりにセンサ部内を通過する微粒子の数量が多くなる。すると、微粒子に付着してセンサ部外に流出するイオンの量も増加し、センサ電流値取得部で取得されるセンサ電流値が大きくなる。つまり、外部ガス流の流速Vgが大きくなると、これに影響されて、入力(外部ガス(被測定ガス)の微粒子量M(例えば体積微粒子量M(mg/m3)))が同じでも、これに対する出力(センサ電流値Ss(pA))の比G(ゲイン)が増加する。即ち、ゲインGが、流速Vgの関数G(Vg)となっていると考えられる。
このように、外部ガス及び被測定ガスの微粒子量Mが一定であっても、外部ガス流の流速Vgが変化すると、これに応じて、センサ電流値取得部で取得されるセンサ電流値Ssも変化すると考えられる。
加えてこのシステムでは、オフセット及びゲインにおける流速Vgの影響を低減して、微粒子の量Mを取得するので、外部ガス流の流速Vgの大小によらず、適切な微粒子の量(例えば体積微粒子量)Mを取得することができる。
また、イオンを発生させる部位と、微粒子にイオンを付着させ帯電させる部位とは、重複していても良いし、イオン発生部位の下流に微粒子を帯電させる部位が位置するように構成しても良い。
また、発生したイオンのうち微粒子に付着しなかった非付着イオンの少なくとも一部を捕集する手法としては、特定電位に保たれた補助電極を設けて非付着イオンに斥力を与えて、非付着イオンの捕集を補助する手法や、微粒子に付着していない非付着イオンが捕集されやすくするべく、帯電微粒子が排出口から排出されるまでの経路を長く曲がりくねった経路とする手法が挙げられる。
またこの微粒子検知システムで出力する微粒子の量Mとしては、単位体積当たりに含まれている微粒子の重量を示す体積微粒子量M(mg/m3)が挙げられるが、そのほか、単位体積当たりに含まれている微粒子の数を示す体積微粒指数M(number of particles/m3)や、単位時間当たりに通過する微粒子の重量を示す累積微粒子量M(mg/s)、単位時間当たりに通過する微粒子の数を示す累積微粒子数M(number of particles/s)等を、微粒子の量Mとして出力するものも含まれる。
また、「ゲイン」とは、被測定ガスに含まれた微粒子の量Mとセンサ電流値Ssからオフセット電流値Sfを差し引いたものとの比G((Ss−Sf)/M)をいう。
また、「ゲインG(Vg)」は、ゲインGが外部ガス流の流速Vgの関数であることを示す。
Ss=G(Vg)・M+Sf(Vg) …(3)
M=(Ss−Sf(Vg))/G(Vg) …(4)
G(Vg)=Gr・G(Vg)/G(Vgr) …(A)
Grは、基準の流速Vgrにおける基準ゲインである
微粒子検知システムとするとよい。
このため、外部ガス(被測定ガス)の微粒子の量Mが同じで、かつ、外部ガス流の流速Vgが同じであっても、発生したイオンが微粒子と衝突する機会が増え、微粒子に付着するイオンの量が増える(微粒子の帯電率が上がる)ため、センサ電流値Ssが大きくなる。つまり、入力(外部ガス(被測定ガス)の体積微粒子量)に対する出力(センサ電流値)の比(ゲイン)が増加する。
加えて、イオンの持つ運動エネルギー(速度)が大きくなるため、非付着イオンがイオン作用部に衝突して捕集される確率も高くなるため、イオン作用部で捕集されることなくセンサ部外に流出する非付着イオンの量は減少し、センサ電流値のオフセット電流分(オフセット成分)は逆に小さくなる。つまり、外部ガスのガス温Tgが高くなると、センサ電流値Ssに含まれるオフセット成分(オフセット電流値Sf)は減少する。
加えて、この微粒子検知システムでは、オフセット電流値Sf及びゲインGにおける流速Vg及びガス温Tgの影響を低減して、微粒子の量Mを取得するので、外部ガス流の流速Vgの大小及び外部ガスのガス温Tgの高低によらず、適切な微粒子の量(例えば体積微粒子量)Mを取得することができる。
また、「ゲイン」とは、被測定ガスに含まれた微粒子の量Mとセンサ電流値Ssからオフセット電流値Sfを差し引いたものとの比G((Ss−Sf)/M)をいう。
また、「ゲインG(Vg,Tg)」は、ゲインGが外部ガス流の流速Vg及び外部ガスのガス温Tgの関数であることを示す。
Ss=G(Vg,Tg)・M+Sf(Vg,Tg) …(5)
M=(Ss−Sf(Vg,Tg))/G(Vg,Tg) …(6)
Sf(Vg,Tg)=Sfv(Vg)・Sft(Tg)/Sft(Tgr)…(B)
G(Vg,Tg)=Gr・Gv(Vg)/Gv(Vgr)
・Gt(Tg)/Gt(Tgr) …(C)
Sfv(Vg)は、基準のガス温Tgrで、かつ、外部ガスに含まれた微粒子の量Mをゼロとした条件下で、外部ガス流の流速Vgとオフセット電流値Sfとのオフセット流速依存関係を示す関数であり、
Sft(Tg)は、基準の流速Vgrで、かつ、外部ガスに含まれた微粒子の量Mをゼロとした条件下で、外部ガスのガス温Tgとオフセット電流値Sfとのオフセットガス温依存関係を示す関数であり、
Grは、基準の流速Vgr、かつ基準のガス温Tgrにおける基準ゲインであり、
Gv(Vg)は、基準のガス温Tgr下で、かつ、外部ガスに含まれた微粒子の量Mを一定とした条件下で、外部ガス流の流速VgとゲインGとの間のゲイン流速依存関係を示す関数であり、
Gt(Tg)は、基準の流速Vgrで、かつ、外部ガスに含まれた微粒子の量Mを一定とした条件下で、外部ガスのガス温TgとゲインGとの間のゲインガス温依存関係を示す関数である微粒子検知システムとすると良い。
本件技術の実施形態を、図面を参照しつつ説明する。図1に、エンジンENGの排気管EPに図1を適用した車両AMの構成を示す。また、図2に、排気管EPにセンサ部100を装着した微粒子検知システム10の構成を示す。さらに図3に、排気管EPに装着したセンサ部100の部分破断断面図を示す。図4に、センサ部100に用いるセラミック素子120の斜視図を示す。図5に、センサ部100における微粒子Sの取り入れ、帯電、排出の様子を模式的に示す。図6に、微粒子検知システム10のうち、センサ駆動部300の構成及びセンサ部100及びケーブル200との接続関係を示す。さらに図7に、センサ駆動部300のセンサ制御部500において行う、取得したセンサ電流値Ssから微粒子の量Mを取得する手順を示す。
このうちセンサ制御部500は、図示しないCPU,ROM,RAMを含むマイクロコンピュータを有し、駆動回路部400を制御すると共に、駆動回路部400から得たセンサ電流値Ssに基づいて算出した、排気ガスEGに含まれた微粒子の量M(例えば体積微粒子量M)を車両制御部ECUに向けて出力する(図2参照)。
そこで、本実施形態においては、漏洩電流Iescを無視し、帰還電流Irが入力電流Iinに等しい(Ir=Iin)として、放電電流測定回路730で取得した帰還電流Ir(=Iin)を示す帰還電流値Srが目標の入力電流値(例えば、5μA)となるように、センサ制御部500において、放電電圧制御回路711の制御を通じて入力電流Iinの大きさを制御している。
Iin=Idc+Itrp+Iesc =Ir+Iesc …(a)
ここで、Iinは放電電極体131sへの入力電流であり、Idcは放電電極体131sからプロテクタ160(内側プロテクタ161)に流れる放電電流である。また、Itrpはプロテクタ160(内側プロテクタ161)に付着、捕集された浮遊イオンCPFの持っていた電荷に対応して、プロテクタ160(内側プロテクタ161)に流れる捕集電流である。Iescはプロテクタ160に捕捉されず、微粒子Sに付着して帯電微粒子SCとして外部に流出した排出イオンCPHの流出電荷量QHに相当する漏洩電流である。Irは帰還電流線223及び電流検出抵抗230を介して二次側グランドSGDに向けて流れる帰還電流であり、Ir=Idc+Itrpである。
Ss=G・M+Sf …(1)
なお、Sfはオフセット電流値、Gはゲインである。オフセット電流値Sfは、体積微粒子量M=0の場合にも観測されるセンサ電流値である。センサ部100において、微粒子Sに付着しなかった浮遊イオンCPFを完全には捕集できず、センサ部100外に流出する浮遊イオンCPFが存在するからである。またゲインGは、(オフセットSfを無視した場合の)体積微粒子量Mとセンサ電流値Ssの比(センサ部の感度)である。
従って、得られたセンサ電流値Ssから、下記式(2)によって、体積微粒子量Mを算出することができる。
M=(Ss−Sf)/G …(2)
すると、排気ガスEG及び被測定ガスEIに含まれる体積微粒子量Mが変化せず一定であっても、単位時間当たりにセンサ部100内を通過する微粒子Sの量が多くなる。このため、微粒子Sに付着してセンサ部100外に流出する排出イオンCPHの量も増加し、センサ電流測定回路740で取得されるセンサ電流Isのセンサ電流値Ssも大きくなる(図9参照)。つまり、排気ガスEG(被測定ガスEI)の体積微粒子量Mが変化しなくとも、上述のシステム10では、排気ガス流EGFの流速Vgが大きくなると、これに影響されて、センサ電流値Ssが増加して、あたかも排気ガスEGにおける体積微粒子量Mが増えたように見える不都合が生じる。
Ss=G(Vg)・M+Sf(Vg) …(3)
M=(Ss−Sf(Vg))/G(Vg) …(4)
Ss=G(Vg,Tg)・M+Sf(Vg,Tg) …(5)
M=(Ss−Sf(Vg,Tg))/G(Vg,Tg) …(6)
Sf(Vg,Tg)=Sfv(Vg)・sft(Tg) …(7)
なお現実的には、流速オフセット電流値Sfv(Vg)の式は、図8に実線で示すグラフの基礎となった流速Vgとオフセット電流値Sfとの各測定結果から得た回帰線の関数で示される。基準ガス温Tgr(Tgr=160℃)下での、この流速オフセット電流値Sfv(Vg)の関数は、例えば、下記式(8)を例示できる。
Sfv(Vg)=0.034Vg2−0.163Vg …(8)
sft(Tg)=Sft(Tg)/Sft(Tgr) …(9)
従って、式(7)のオフセット電流値Sf(Vg,Tg)は、下記式(10)のように表せる。
Sf(Vg,Tg)=Sfv(Vg)・Sft(Tg)/Sft(Tgr)…(10)
なお、現実的には、ガス温オフセット電流値Sft(Tg)は、図10のグラフの基礎となったガス温Tgとオフセット電流値の各測定結果から得た回帰線の関数で示される。基準流速Vgr下での、このガス温オフセット電流値Sft(Tg)の関数は、例えば、下記式(11)を例示できる。
Sft(Tg)=−0.25Tg+100 …(11)
G(Vg,Tg)=Gr・gv(Vg)・gt(Tg) …(12)
また、流速ゲイン係数gv(Vg)は、図9において実線で示す、基準ガス温Tgr(本実施形態ではTgr=160℃)下での、ゲインの流速依存性を示すグラフで与えられる流速ゲインGv(Vg)と、基準流速Vgrにおける流速ゲインGv(Vgr)とを用いて、下記式(13)で示すことができる。流速ゲインGv(Vgr)は定数である。
gv(Vg)=Gv(Vg)/Gv(Vgr) …(13)
なお参考のため、図9には、破線及び一点鎖線で示すように、ガス温Tgを、Tg=100℃,200℃,300℃とした場合についても記載してある。
なお、現実的には、流速ゲインGv(Vg)の式は、図9に実線で示すグラフの基礎となった流速VgとゲインGとの各測定結果から得た回帰線の関数で示される。基準ガス温Tgr下での、この流速ゲインGv(Vg)の関数は、例えば、下記式(14)を例示できる。
Gv(Vg)=6.8854Vg0.8841 …(14)
gt(Tg)=Gt(Tg)/Gt(Tgr) …(15)
従って、式(12)のゲインG(Vg,Tg)は、下記式(16)のように表せる。
G(Vg,Tg)=Gr・Gv(Vg)/Gv(Vgr)
・Gt(Tg)/Gt(Tgr) …(16)
なお、現実的には、ガス温ゲインGt(Tg)は、図11のグラフの基礎となったガス温Tgとゲインの各測定結果から得た回帰線の関数で示される。基準流速Vgr下での、ガス温ゲインGt(Tg)の関数は、例えば、下記式(17)を例示できる。
Gt(Tg)=0.024Tg+0.5163 …(17)
M=(Ss−Sf(Vg,Tg))/G(Vg,Tg)
=〔Ss−Sfv(Vg)・Sft(Tg)/Sft(Tgr)〕・1/Gr
・Gv(Vgr)/Gv(Vg)・Gt(Tgr)/Gt(Tg) …(18)
即ち、この微粒子検知システム10では、オフセット電流値Sf及びゲインGにおける流速Vg及びガス温Tgの影響を低減して、微粒子の量Mを取得するので、外部ガス流の流速Vgの大小及び外部ガスのガス温Tgの高低によらず、適切な微粒子の量M(体積微粒子量M)を取得することができる。
上記実施形態のシステム10では、オフセット電流値Sf及びゲインGにおける流速Vg及びガス温Tgの影響を低減するようにしたが、ガス温Tgの影響を考慮せず、オフセット電流値Sf及びゲインGにおける流速Vgの影響を考慮するようにしても良い。
次いで、流速取得部510で、排気管EPを流れる排気ガスEGの流速Vgを、車両制御部ECUから通信により取得する(ステップS2)。
具体的には、前記式(4)と同じ下記式(19)に従って、体積微粒子量Mを算出する。
M=(Ss−Sfv(Vg))/Gv(Vg) …(19)=(4)
Sfv(Vg)=0.034Vg2−0.163Vg …(8)
G(Vg)=Gr・gv(Vg) …(20)
gv(Vg)=Gv(Vg)/Gv(Vgr) …(13)
Gv(Vg)=6.8854Vg0.8841 …(14)
G(Vg)=Gr・Gv(Vg)/Gv(Vgr) …(21)
以上から、式(21)を式(19)に適用した下記式(22)により、流速Vgの影響を除いた、排気ガスEGの体積微粒子量Mを得ることができる。
M=(Ss−Sf(Vg))/G(Vg)
=〔Ss−Sfv(Vg)〕・1/Gr・Gv(Vgr)/Gv(Vg) …(22)
さらに本変形形態においては、式(22)について、式(8),(14)及び具体的な流速Vgの値を代入して、排気ガスEGの体積微粒子量Mを得る。
実施形態及び変形形態においては、微粒子量取得部550,1550において、センサ電流値Ssのほか、流速Vg及びガス温Tgあるいは流速Vgを用いて、体積微粒子量Mを取得した例を示した。
しかし、センサ電流値Ssを流速Vg及びガス温Tgであるいは流速Vgで補正して、一旦補正済センサ電流値を算出し、この補正済センサ電流値を用いて体積微粒子量Mを取得しても良い。
また、微粒子量取得部において、センサ電流値Ssを用いて補正前体積微粒子量を取得した後、流速Vg及びガス温Tgであるいは流速Vgで、補正前体積微粒子量を補正して体積微粒子量Mを取得するようにしても良い。
しかし、微粒子検知システム10(センサ駆動部300)が出力する微粒子の量M(体積微粒子量M)を、パソコンに入力して、微粒子検知システム10を、車両AMの走行中における排気ガスEG中の微粒子Sの量Mの検知を行う測定装置として利用することもできる。
100 センサ部
100e (センサ部の)先端部(イオン作用部)
131s 放電電極体
131ss (放電電極体の)先端部
141 補助電極パッド
160 プロテクタ(イオン作用部)
160i 導入口
160e 排出口
161 内側プロテクタ
161c 連通口
161e 排出口
165 外側プロテクタ
165i 導入口
300 センサ駆動部
400 駆動回路部
500,1500 センサ制御部
510 流速取得部
520 ガス温取得部
530 センサ電流値取得部
550,1550 微粒子量取得部
730 放電電流測定回路
740 センサ電流測定回路(センサ電流値取得部)
ECU 車両制御部
EP 排気管
EG 排気ガス(外部ガス)
EGF 排気ガス流(外部ガス流)
EI 被測定ガス
EIF 被測定ガス流
S 微粒子
SC (イオンが付着した)帯電微粒子
CP イオン
CPF 浮遊イオン(非付着イオン)
CPH 排出イオン
Ir 帰還電流
Iesc 漏洩電流
Is センサ電流
Ss センサ電流値
Vg (排気ガス流の)流速
Vgr 基準の流速
Tg (排気ガス流の)ガス温
Tgr 基準ガス温
M (排気ガス、被測定ガスの)体積微粒子量(微粒子量)
G,G(Vg),G(Vg,Tg),Gv(Vg),Gt(Tg) ゲイン
Gr 基準ゲイン
Sf,Sf(Vg),Sfv(Vg),Sft(Tg) オフセット電流値
Claims (6)
- センサ部と、
上記センサ部を駆動するセンサ駆動部と、を備え、
上記センサ部の外部を流れる外部ガスの外部ガス流によって、上記外部ガスの一部である被測定ガスが上記センサ部の内部を通過する被測定ガス流を上記センサ部内に生じさせて、上記被測定ガスに含まれた微粒子の量Mを検知する
微粒子検知システムであって、
上記センサ部は、
放電により上記被測定ガスを起源とするイオンを発生させ、上記被測定ガスに含まれる上記微粒子に上記イオンを付着させ帯電させた帯電微粒子を上記被測定ガスと共に上記センサ部外に排出する一方、上記イオンのうち上記微粒子に付着しなかった非付着イオンの少なくとも一部を捕集して上記非付着イオンの上記センサ部外への排出を抑制するイオン作用部を有し、
上記センサ駆動部は、
上記帯電微粒子のセンサ部外への排出によって流出した流出電荷量に対応するセンサ電流値Ssを取得するセンサ電流値取得部と、
外部から上記外部ガス流の流速Vgを取得する流速取得部と、
上記センサ電流値Ss及び上記外部ガス流の上記流速Vgを用いて、上記流速Vgの影響が低減された、上記微粒子の量Mを取得する微粒子量取得部と、を有し、
前記微粒子量取得部は、
前記センサ電流値Ssを用いて、前記微粒子の量Mを取得するにあたり、
前記流速Vgに応じて変化するオフセット電流値Sf(Vg)及びゲインG(Vg)を用いて、上記微粒子の量Mを取得する
微粒子検知システム。 - 請求項1に記載の微粒子検知システムであって、
前記微粒子量取得部は、
前記センサ電流値Ssから前記外部ガス流の前記流速Vgに応じて流れるオフセット電流値Sf(Vg)を差し引いた値を、ゲインG(Vg)で除して、前記微粒子の量Mを得る
微粒子検知システム。 - 請求項2に記載の微粒子検知システムであって、
前記ゲインG(Vg)を下記式(A)で与え、
G(Vg)=Gr・G(Vg)/G(Vgr) …(A)
Grは、基準の流速Vgrにおける基準ゲインである
微粒子検知システム。 - センサ部と、
上記センサ部を駆動するセンサ駆動部と、を備え、
上記センサ部の外部を流れる外部ガスの外部ガス流によって、上記外部ガスの一部である被測定ガスが上記センサ部の内部を通過する被測定ガス流を上記センサ部内に生じさせて、上記被測定ガスに含まれた微粒子の量Mを検知する
微粒子検知システムであって、
上記センサ部は、
放電により上記被測定ガスを起源とするイオンを発生させ、上記被測定ガスに含まれる上記微粒子に上記イオンを付着させ帯電させた帯電微粒子を上記被測定ガスと共に上記センサ部外に排出する一方、上記イオンのうち上記微粒子に付着しなかった非付着イオンの少なくとも一部を捕集して上記非付着イオンの上記センサ部外への排出を抑制するイオン作用部を有し、
上記センサ駆動部は、
上記帯電微粒子のセンサ部外への排出によって流出した流出電荷量に対応するセンサ電流値Ssを取得するセンサ電流値取得部と、
外部から上記外部ガス流の流速Vgを取得する流速取得部と、
上記センサ電流値Ss及び上記外部ガス流の上記流速Vgを用いて、上記流速Vgの影響が低減された、上記微粒子の量Mを取得する微粒子量取得部と、を有し、
前記センサ駆動部は、
外部から前記外部ガスのガス温Tgを取得するガス温取得部を有し、
前記微粒子量取得部は、
前記センサ電流値Ss、前記外部ガス流の上記流速Vgに加えて、上記外部ガスの上記ガス温Tgを用いて、上記流速Vg及び上記ガス温Tgの影響が低減された、前記被測定ガスに含まれる前記微粒子の量Mを取得し、
前記微粒子量取得部は、
前記センサ電流値Ssを用いて、前記微粒子の量Mを取得するにあたり、
前記流速Vgおよび上記ガス温Tgに応じて変化するオフセット電流値Sf(Vg,Tg)及びゲインG(Vg,Tg)を用いて、上記微粒子の量Mを取得する
微粒子検知システム。 - 請求項4に記載の微粒子検知システムであって、
前記微粒子量取得部は、
前記センサ電流値Ssから前記外部ガス流の前記流速Vg及び前記ガス温Tgに応じて流れるオフセット電流値Sf(Vg,Tg)を差し引いた値を、ゲインG(Vg,Tg)で除して、前記微粒子の量Mを得る
微粒子検知システム。 - 請求項5に記載の微粒子検知システムであって、
前記オフセット電流値Sf(Vg,Tg)を下記式(B)で与え、
前記ゲインG(Vg,Tg)を下記式(C)で与え、
Sf(Vg,Tg)=Sfv(Vg)・Sft(Tg)/Sft(Tgr)…(B)
G(Vg,Tg)=Gr・Gv(Vg)/Gv(Vgr)
・Gt(Tg)/Gt(Tgr) …(C)
Sfv(Vg)は、基準のガス温Tgrで、かつ、外部ガスに含まれた微粒子の量Mをゼロとした条件下で、外部ガス流の流速Vgとオフセット電流値Sfとのオフセット流速依存関係を示す関数であり、
Sft(Tg)は、基準の流速Vgrで、かつ、外部ガスに含まれた微粒子の量Mをゼロとした条件下で、外部ガスのガス温Tgとオフセット電流値Sfとのオフセットガス温依存関係を示す関数であり、
Grは、基準の流速Vgr、かつ基準のガス温Tgrにおける基準ゲインであり、
Gv(Vg)は、基準のガス温Tgr下で、かつ、外部ガスに含まれた微粒子の量Mを一定とした条件下で、外部ガス流の流速VgとゲインGとの間のゲイン流速依存関係を示す関数であり、
Gt(Tg)は、基準の流速Vgrで、かつ、外部ガスに含まれた微粒子の量Mを一定とした条件下で、外部ガスのガス温TgとゲインGとの間のゲインガス温依存関係を示す関数である
微粒子検知システム。
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