JP6794274B2 - X線検査装置 - Google Patents
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Description
(1)検査対象物を載置するテーブルと、前記テーブル上の検査対象物に対して上下方向にX線を照射するX線発生器と、検査対象物を透過したX線を受光するX線検出器を備えたX線検査装置において、
前記テーブルを前記X線発生器に対して接離させる昇降機構と、
前記昇降機構によるテーブルの移動範囲を制限する移動制御部と、
前記X線検査装置の一部に設けられ、高さ方向に一定の幅を持った帯状の光線を発光する発光器と、
前記帯状の光線の幅方向に沿って高さ方向に配列された複数個の受光素子を備えた受光器と、
前記受光器が備える複数個の受光素子中の遮光を検出した受光素子に基づいて、前記帯状の光線を遮る検査対象物の高さを検出する高さ検出部と、
前記高さ検出部からの信号に基づいて、前記テーブルの上昇位置を規制する移動制御部と、
を備える。
(2)前記移動制御部が、前記テーブルにおける検査対象物の載置面と、前記帯状の光線の最も低い位置が一致した状態、もしくは、前記テーブルにおける検査対象物の搭載上限値と、前記帯状の光線の最も高い値が一致した状態で、前記昇降機構を停止させ、前記高さ検出部がこの状態において検査対象物の高さを測定する。
(3)前記制御部が、前記テーブルにおける検査対象物の載置面と、前記帯状の光線の最も低い位置が一致した状態で前記昇降機構を停止させ、前記高さ検出部がこの状態において検査対象物の高さを測定した場合において、検査対象物の高さが前記帯状の光線の幅よりも高い場合には、前記テーブルを帯状の光線の幅以下の距離下降させた状態で前記昇降機構を停止させ、
前記高さ検出部はテーブルが下降した位置において検査対象物の高さを再度測定し、前記テーブルの下降量と下降時に測定した検査対象物の高さとに基づいて、テーブルの載置面から検査対象物の上端までの高さを測定する。
(4)前記制御部が、前記テーブルにおける検査対象物の搭載上限値と、前記帯状の光線の最も高い位置が一致した状態で前記昇降機構を停止させ、前記高さ検出部がこの状態において検査対象物の高さを測定した場合において、検査対象物の高さが前記帯状の光線の幅よりも低い場合には、前記テーブルを帯状の光線の幅以下の距離移動させた状態で前記昇降機構を停止させ、
前記高さ検出部は、テーブルが移動した位置において検査対象物の高さを再度測定し、前記テーブルの移動量と移動時に測定した検査対象物の高さとに基づいて、テーブルの載置面から検査対象物の上端までの高さを測定する。
[1−1.実施形態の構成]
以下、第1実施形態を、図面に従って具体的に説明する。
(1)テーブル10におけるワークWの載置面と、帯状の光線の最も低い位置が一致した状態で昇降機構を停止させる。
本実施形態において、ワークWの検査を行う場合には、予めテーブル10の載置面からワークWの最上端までの高さを測定する。すなわち、移動制御部15によって昇降台6の昇降機構を駆動して、載置面と帯状の光線の最も低い位置が一致するL1までテーブル10を上昇させる。この状態でXY駆動機構8を駆動してテーブル10を水平方向(X方向またはY方向)に移動させると、ワークWが帯状の光線を横切るので、受光器12によってワークWが斜光した光線の高さを検出する。
本実施形態によれば、テーブル10にワークWを載置した状態で、帯状の光線を横切るようにワークWを移動させることで、載置面からワークWの上端までの高さを簡単かつ正確に測定することができ、その測定値に基づいてワークWをX線発生器5に対して衝突の恐れがなく極力接近させることが可能となる。
本発明は、前記の実施形態に限定されるものではなく、実施段階ではその要旨を逸脱しない範囲で構成要素を変形して具体化できる。また、上記実施形態に開示されている複数の構成要素の適宜な組み合わせにより、種々の発明を形成できる。例えば、実施形態に示される全構成要素から幾つかの構成要素を削除してもよい。さらに、異なる実施形態にわたる構成要素を適宜組み合わせてもよい。具体的には、次のような他の実施形態も包含する。
2…縦フレーム
3…上部フレーム
4…X線検出器
5…X線発生器
6…昇降台
7…回転ステージ
8…XY駆動機構
9…保持枠
10…テーブル
11…発光器
12…受光器
13…受光素子
14…高さ検出部
15…移動制御部
Claims (2)
- 検査対象物を載置するテーブルと、前記テーブル上の検査対象物に対して上下方向にX
線を照射するX線発生器と、検査対象物を透過したX線を受光するX線検出器を備えたX
線検査装置において、
前記テーブルを前記X線発生器に対して接離させる昇降機構と、
前記昇降機構によるテーブルの移動範囲を制限する移動制御部と、
前記X線検査装置の一部に設けられ、高さ方向に一定の幅を持った帯状の光線を発光する発光器と、
前記帯状の光線の幅方向に沿って高さ方向に配列された複数個の受光素子を備えた受光器と、
前記受光器が備える複数個の受光素子中の遮光を検出した受光素子に基づいて、前記帯状の光線を遮る検査対象物の高さを検出する高さ検出部と、
前記高さ検出部からの信号に基づいて、前記テーブルの上昇位置を規制する移動制御部と、
を備え、
前記移動制御部が、
前記テーブルにおける検査対象物の載置面と、前記帯状の光線の最も低い位置が一致した状態、もしくは、前記テーブルにおける検査対象物の搭載上限値と、前記帯状の光線の最も高い値が一致した状態で、前記昇降機構を停止させ、前記高さ検出部がこの状態において検査対象物の高さを測定し、
前記テーブルにおける検査対象物の載置面と、前記帯状の光線の最も低い位置が一致した状態で前記昇降機構を停止させ、前記高さ検出部がこの状態において検査対象物の高さを測定した場合において、検査対象物の高さが前記帯状の光線の幅よりも高い場合には、前記テーブルを帯状の光線の幅以下の距離下降させた状態で前記昇降機構を停止させ、
前記高さ検出部はテーブルが下降した位置において検査対象物の高さを再度測定し、前記テーブルの下降量と下降時に測定した検査対象物の高さとに基づいて、テーブルの載置面から検査対象物の上端までの高さを測定し、
前記テーブルにおける検査対象物の搭載上限値と、前記帯状の光線の最も高い位置が一致した状態で前記昇降機構を停止させ、前記高さ検出部がこの状態において検査対象物の高さを測定した場合において、検査対象物の高さが前記帯状の光線の幅よりも低い場合には、前記テーブルを帯状の光線の幅以下の距離移動させた状態で前記昇降機構を停止させ、
前記高さ検出部は、テーブルが移動した位置において検査対象物の高さを再度測定し、前記テーブルの移動量と移動時に測定した検査対象物の高さとに基づいて、テーブルの載置面から検査対象物の上端までの高さを測定することを特徴とするX線検査装置。 - 前記テーブルを、前記検査対象物が前記帯状の光線を横切るように移動させるXY駆動機構または回転ステージを備えることを特徴とする請求項1に記載のX線検査装置。
Priority Applications (1)
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JP2017006208A JP6794274B2 (ja) | 2017-01-17 | 2017-01-17 | X線検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2017006208A JP6794274B2 (ja) | 2017-01-17 | 2017-01-17 | X線検査装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
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JP2018115932A JP2018115932A (ja) | 2018-07-26 |
JP6794274B2 true JP6794274B2 (ja) | 2020-12-02 |
Family
ID=62984029
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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JP2017006208A Active JP6794274B2 (ja) | 2017-01-17 | 2017-01-17 | X線検査装置 |
Country Status (1)
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-
2017
- 2017-01-17 JP JP2017006208A patent/JP6794274B2/ja active Active
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