JP6794215B2 - 基板検査装置 - Google Patents

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Description

本発明は、プローブを基板にプロービングさせるプロービング機構と、プロービングの際の移動量を特定する際に用いる画像を撮像する撮像部とを備えた基板検査装置に関するものである。
この種の基板検査装置として、下記特許文献1において出願人が開示した回路基板検査装置が知られている。この回路基板検査装置を含むこの種の基板検査装置では、基板を載置部の載置面に取り付ける際の位置ずれ量(以下、「基板の位置ずれ量」ともいう)を相殺して規定位置にプローブを正確にプロービングさせるために、検査に先立って基板の位置ずれ量を特定する。具体的には、載置面に取り付けた状態において、基板に予め設けられている位置ずれ検出用の標識(マーク)の上方に撮像部を移動させて標識を撮像させ、その撮像画像に基づいて基板の位置ずれ量を特定する。
また、基板上のプロービング位置にプローブを正しくプロービングさせるには、待機位置(初期位置)から載置面に沿ってプロービング機構にプローブを移動させる移動量を正確に特定する必要があるが、この移動量は、例えば、上記のようにして特定した基板の位置ずれ量と、撮像部とプローブとの間のオフセット量とに基づいて特定される。この場合、出願人は、撮像部とプローブとのオフセット量を正確に特定するために、基板に取り付けた打痕シートに形成した打痕を撮像した画像に基づいてこのオフセット量を特定している。
一方、プロービング機構が載置面に対してプローブを接離させる方向(接離方向)と、撮像部の光軸の方向とがずれているときには、上記したオフセット量が基板の厚みによって相違してオフセット量を正確に特定することが困難となる。このため、接離方向と光軸の方向とを一致(または、ほぼ一致)させる作業を、オフセット量の特定に先立って行う。具体的には、標識が付された板状の標識部材をプロービング機構に取り付け、その標識部材を撮像部に撮像させて撮像画像を表示部に表示させる。次いで、プロービング機構に対して接離方向に沿って標識部材を往復移動させて、作業者が撮像画像内における標識の移動状態を確認する。この場合、作業者が、標識部材の移動に伴って撮像画像内における標識の位置が移動していると判定したときには、接離方向と光軸の方向とがずれていることとなるため、撮像部の取り付け角度を調整する。以下、標識部材の移動に伴って撮像画像内における標識の位置が移動しなくなるまでこの作業を繰り返す。
特開平6−331653号公報(第3頁、第1−3図)
ところが、従来の基板検査装置には、改善すべき以下の課題がある。すなわち、従来の基板検査装置では、オフセット量を正確に特定するために、撮像画像内における標識の移動状態を確認することによって接離方向と光軸の方向とのずれの有無を特定している。この場合、この種の基板検査装置では、一般的に、単焦点の撮像部が用いられ、かつ撮像部が接離方向には移動しない構成となっている。このため、標識部材を往復移動させたときの撮像部のピントずれによって撮像画像内における標識の画像が不明瞭となり、標識の移動状態の確認が困難となって接離方向と光軸の方向とのずれの有無の判定が困難となることがある。また、撮像画像内において標識が移動しているか否かの判定が作業者の感覚に依存しているため、作業者の熟練度などに起因して接離方向と光軸の方向とのずれの有無の判定結果に個人差が生じることがある。
本発明は、かかる課題に鑑みてなされたものであり、プロービング機構によるプローブの移動方向と、プローブの移動量を特定する際に用いる画像を撮像する撮像部の光軸の方向とのずれの有無を正確に把握し得る基板検査装置を提供することを主目的とする。
上記目的を達成すべく請求項1記載の基板検査装置は、検査対象の基板が載置される載置面に対して接離する第1方向にプローブを移動させてプロービングを行うプロービング機構と、前記プロービング機構の近傍に配置されると共に光軸の方向を調整可能に構成されて前記基板の画像を撮像する撮像部とを備えた基板検査装置であって、前記第1方向と前記光軸の方向とのずれ量を特定可能な特定用画像を表示部に表示させる表示データを生成する生成処理を行う処理部と、標識が付されると共に前記プロービング機構に取り付け可能に構成されて当該プロービング機構によって前記第1方向に移動させられる標識部材とを備え、前記処理部は、前記生成処理において、前記標識部材が前記プロービング機構によって前記第1方向に往復移動させられている最中に前記撮像部によって撮像された当該標識部材の複数の画像内における前記標識の前記載置面に沿った第2方向の位置をそれぞれ特定し、特定した前記標識の各位置に基づき、前記標識部材の前記往復移動に伴って当該標識の位置が前記第2方向に変位した変位量を特定すると共に、特定した前記変位量および当該変位量の許容範囲を示す前記特定用画像のデータを前記表示データとして生成する。
また、請求項2記載の基板検査装置は、請求項1記載の基板検査装置において、前記処理部は、前記生成処理において、前記標識における重心の位置を前記標識の位置としてそれぞれ特定する。
また、請求項3記載の基板検査装置は、請求項1または2記載の基板検査装置において、前記標識は、円形に形成されている。
また、請求項4記載の基板検査装置は、請求項1から3のいずれかに記載の基板検査装置において、前記標識部材は、前記標識の色が白色および黒色のうちのいずれか一方の色に着色され、前記標識の周囲の色が白色および黒色のうちの他方の色に着色されている。
また、請求項5記載の基板検査装置は、請求項1から4のいずれかに記載の基板検査装置において、前記処理部は、前記変位量が前記許容範囲内であるか否かを判別し、当該判別の結果を報知する。
請求項1記載の基板検査装置では、処理部が、第1方向に標識部材が移動させられている状態で撮像部によって撮像された標識を含む標識部材の画像内における標識の第2方向の位置を特定し、標識部材の移動に伴う標識の位置の第2方向の変位量および変位量の許容範囲を示す特定用画像のデータを表示データとして生成する。したがって、この基板検査装置によれば、標識の画像を見て標識が移動しているか否かを作業者が判断する従来の構成とは異なり、標識の画像が不明瞭なときに標識の移動状態の確認が困難となる事態や、作業者の熟練度などによって第1方向と光軸の方向とのずれの有無の判定結果に個人差が生じる事態が回避されて、表示データに基づく特定用画像から第1方向と光軸の方向とのずれの有無を正確に把握することができる。
また、請求項2記載の基板検査装置によれば、処理部が、標識における重心の位置を標識の位置として特定することにより、例えば、パターンマッチング手法で標識の位置を特定して位置の変位量を特定する構成と比較して、位置の変位量を正確にかつ短い処理時間で特定することができる。
また、請求項3記載の基板検査装置によれば、標識を円形に形成したことにより、重心サーチ手法を用いて標識の位置としての標識の重心の位置を特定する際に、標識が複雑な形状の場合と比較して、重心の位置をより正確に特定することができる。
また、請求項4記載の基板検査装置によれば、標識部材における標識の色を白色および黒色のうちのいずれか一方の色に着色し、標識部材における標識の周囲の色を白色および黒色のうちの他方の色に着色したことにより、標識を明瞭に撮像することができるため、標識の輪郭を正確に特定することができる。したがって、この基板検査装置によれば、重心サーチ手法を用いて標識の位置としての標識の重心の位置を特定する際に、重心の位置をさらに正確に特定することができる。
また、請求項5記載の基板検査装置によれば、処理部が、標識の位置の第2方向の変位量が許容範囲内であるか否かを判別し、判別の結果を報知することにより、標識の位置の第2方向の変位量が許容範囲内であるか否かを、作業者が表示データに基づく特定用画像から判断して第1方向と光軸の方向とのずれの有無を判定する構成とは異なり、見間違いによる誤判定を確実に防止することができる。
基板検査装置1の構成を示す構成図である。 標識板15の斜視図である。 プロービング機構12に取り付けられた標識板15および撮像部14の位置関係を説明する説明図である。 生成処理50のフローチャートである。 表示部18に表示された特定用画像Gdの第1の表示画面図である。 表示部18に表示された特定用画像Gdの第2の表示画面図である。 表示部18に表示された特定用画像Gdの第3の表示画面図である。 表示部18に表示された特定用画像Gdの第4の表示画面図である。 表示部18に表示された特定用画像Gdの第5の表示画面図である。
以下、基板検査装置の実施の形態について、添付図面を参照して説明する。
最初に、基板検査装置の一例としての図1に示す基板検査装置1の構成について説明する。基板検査装置1は、同図に示すように、載置台11、プロービング機構12、移動機構13、撮像部14、標識板15(図2,3参照)、検査部16、記憶部17、表示部18および処理部19を備えて、基板100を検査可能に構成されている。
載置台11は、図1に示すように、載置面11aに載置された基板100を図外のクランプで固定して保持可能に構成されている。
プロービング機構12は、処理部19の制御に従い、載置台11の載置面11aに対して接離する方向(第1方向に相当し、例えば、図3に示すように、載置面11aに垂直な方向:以下、「第1方向W1」ともいう)にプローブ21(図1参照)を移動させて、基板100に設けられているプロービングポイントにプローブ21を接触させるプロービングを行う。また、プロービング機構12は、処理部19の制御に従い、プローブ21に代えてプロービング機構12に取り付けられた標識板15(図2,3参照)を第1方向W1に移動させる。
移動機構13は、処理部19の制御に従い、載置台11の載置面11aに沿った方向(第2方向に相当し、図3に示すX方向、およびX方向に直交するY方向:以下、X方向およびY方向を合わせて「XY方向」ともいう)にプロービング機構12および撮像部14を移動させる。この場合、移動機構13は、プロービング機構12および撮像部14をXY方向に一度に(同時に)移動させる。
撮像部14は、例えば単焦点のカメラで構成され、プロービング機構12の近傍に配置されて、プロービング機構12と共に移動機構13によってXY方向に沿って移動させられる。また、撮像部14は、処理部19の制御に従い、載置面11aの上方から載置面11a側(載置面11aに載置されている基板100や、載置面11aの上に位置している標識板15の表面15a(図2,3参照))を撮像する。また、撮像部14は、取り付け姿勢を変更することによって光軸Oa(図3参照)の方向(以下、「光軸方向W2」ともいう)を調整可能に構成されている。
標識板15は、標識部材に相当し、上記した第1方向W1と光軸方向W2とにずれが生じているか否かを判定する際に用いられる。具体的には、標識板15は、一例として、図2に示すように、長方形の板状に形成されると共に、プロービング機構12に取り付け可能に構成されて、プロービング機構12によって上記した第1方向W1に移動させられる。また、標識板15の表面15aには、標識板15をプロービング機構12に取り付けた状態において撮像部14の撮像範囲内に位置する部位に円形の標識M1が付され(描かれ)ている。また、この標識板15では、標識M1が黒色(白色および黒色のうちのいずれか一方の色)に着色され、表面15aにおける標識M1の周囲(標識M1を除く部分)の色が白色(白色および黒色のうちの他方の色)で着色されている。
検査部16は、処理部19の制御に従い、基板100にプロービングさせられたプローブ21を介して入力する電気信号に基づき、基板100の検査を実行する。
記憶部17は、プロービング機構12に保持された状態のプローブ21と撮像部14とのオフセット量(離間距離)の規定値を示すオフセットデータDoを記憶する。また、記憶部17は、載置台11に載置された基板100の位置ずれ量を特定する際に用いる基板100に設けられている標識Mの重心の位置を示すデータと、基板100を検査する際にプローブ21をプロービングさせるプロービングポイントの位置を示すデータとを含んで構成された基板データDbを記憶する。また、記憶部17は、処理部19によって実行される後述する生成処理の際に用いる第1方向W1と光軸方向W2とのずれ量の許容範囲St(図5参照)を示す許容範囲データDsを記憶する。
表示部18は、処理部19によって生成される後述する表示データDdに基づく特定用画像Gd(図5,6参照)を表示する。
処理部19は、基板検査装置1を構成する各部を制御する。また、処理部19は、図4に示す生成処理50を実行して、第1方向W1と光軸方向W2とのずれ量を特定可能な画像としての図5,6に示す特定用画像Gdを表示部18に表示させるための表示データDdを生成する。この場合、処理部19は、第1方向W1と光軸方向W2とのずれ量が許容範囲St内であるか否かを判別してその判別結果を特定用画像Gd内に含める。また、処理部19は、プローブ21をプロービングポイントにプロービングさせる際のプローブ21の移動量を特定する。
次に、基板検査装置1を用いて基板100についての検査を行う検査方法について、添付図面を参照して説明する。
ここで、図3に示すように、第1方向W1が載置台11の載置面11aに対して垂直で、光軸方向W2が載置面11aに対して傾斜している場合、つまり第1方向W1と光軸方向W2とがずれている場合を想定する。この場合には、プロービング機構12にプローブ21を取り付けたときのプローブ21と撮像部14とのオフセット量(XY方向の離間距離)が第1方向W1のプローブ21の位置(プローブ21の高さ)によって相違することとなり、後述するオフセット量の特定を正確に行うことが困難となる。このため、検査に先立ち、第1方向W1と光軸方向W2とにずれが生じているか否かを判定し、ずれが生じているときには、第1方向W1と光軸方向W2とを一致(または、ほぼ一致)させる作業を行う。具体的には、図3に示すように、プローブ21に代えて標識板15をプロービング機構12に取り付ける。次いで、図外の操作部を操作して生成処理の実行を指示し、これに応じて、処理部19が図4に示す生成処理50を実行する。
この生成処理50では、処理部19は、撮像部14を制御して、標識板15の表面15a(表面15aにおける標識M1を含む領域)の撮像を開始させる(ステップ51)。この場合、撮像部14は、予め決められた時間T1(例えば、1/30秒)間隔で標識板15の表面15aを撮像して画像データDgを処理部19に出力する。
続いて、処理部19は、プロービング機構12を制御して、標識板15を第1方向W1に沿って往復移動(上下動)させる(ステップ52)。次いで、処理部19は、撮像部14から出力された画像データDgに基づいて、標識板15の画像内における標識M1のXY方向(載置面11aに沿った第2方向)についての時間T1毎の位置を特定する(ステップ53)。
この場合、処理部19は、標識板15の画像内における標識M1の位置として、標識M1の重心Cgの位置を特定する。具体的には、処理部19は、標識M1の輪郭を特定し、特定した輪郭の重心Cgを重心サーチ手法を用いて特定する。この場合、この標識板15では、標識M1が黒色に着色され、標識M1の周囲が白色に着色されているため、標識M1が明瞭に撮像される。したがって、この基板検査装置1では、標識M1の輪郭を正確に特定することが可能となっている。また、この標識板15では、標識M1が円形のため、標識M1が複雑な形状をなしている場合と比較して、重心サーチ手法を用いた重心Cgの位置を正確にかつ短い処理時間で特定することが可能となっている。
続いて、処理部19は、許容範囲データDsを記憶部17から読み出し、次いで、許容範囲データDsに基づいて第1方向W1と光軸方向W2とのずれ量の許容範囲Stを特定する(ステップ54)。
続いて、処理部19は、ステップ53において特定した時間T1毎の重心Cgの位置(標識M1の位置)に基づいて、予め決められた時間T2(プロービング機構12によって移動させられている標識板15が移動開始位置に復帰するまでに要する時間(1周期))内における重心Cgの位置のX方向の最大の変位量(以下、「変位量Mx」ともいう)、および時間T2内における重心Cgの位置のY方向の最大の変位量(以下、「変位量My」ともいう)を特定する(ステップ55)。この場合、処理部19は、図5に示すように、時間T2の開始時点における重心Cgの位置を原点として、X方向における原点から正の向きに最も離間した重心Cgの位置と原点から負の向きに最も離間した重心Cgの位置との間の距離を変位量Mxとして特定し、Y方向における原点から正の向きに最も離間した重心Cgの位置と原点から負の向きに最も離間した重心Cgの位置との間の距離を変位量Myとして特定する。次いで、処理部19は、変位量Mxおよび変位量Myがそれぞれ許容範囲St内であるか否かを判別する(ステップ56)。なお、変位量Mxが、第1方向W1と光軸方向W2とのX方向のずれ量に相当し、変位量Myが、第1方向W1と光軸方向W2とのY方向のずれ量に相当する。
続いて、処理部19は、ステップ53において特定した時間T1毎の(標識板15の移動に伴う)重心Cgの位置のX方向の変位量を示す画像G1x、時間T1毎の重心Cgの位置のY方向の変位量を示す画像G1y、ステップ54において特定した許容範囲Stを示す画像G2、およびステップ56において判別した判別結果を示す画像G3を含む特定用画像Gd(図5参照)のデータを表示データDdとして生成して表示部18に出力する(ステップ57)。この場合、処理部19は、同図に示すように、変位量Mx(X方向の最大の変位量)の中央値と許容範囲Stの中央値とが一致し、変位量My(Y方向の最大の変位量)の中央値と許容範囲Stの中央値とが一致するように、特定用画像Gd内における画像G1x、画像G1yおよび画像G2の配置位置を規定する。これにより、同図に示すように、表示部18に表示データDdに基づく特定用画像Gdが表示される。
次いで、処理部19は、プロービング機構12による標識板15の移動を停止させると共に、撮像部14による撮像を終了させて(ステップ58)、この生成処理50を終了する。
続いて、作業者が、特定用画像Gdに基づき、第1方向W1と光軸方向W2とにずれが生じているか否か、およびずれが生じているときにそのずれ量が許容範囲St内か否かを判断する。この場合、図5に示すように、第1方向W1と光軸方向W2とにずれが生じていて、そのずれ量(変位量Mx,My)が許容範囲Stを超えていることが特定用画像Gdから明確に視認される。この際には、撮像部14の取り付け姿勢を変更して光軸方向W2を調整し、次いで、操作部を操作して処理部19に生成処理50を再実行させることにより、光軸方向W2の調整後における特定用画像Gdを表示部18に表示させる。
続いて、上記したように、第1方向W1と光軸方向W2とのずれの有無、およびずれ量が許容範囲St内か否かの判断を特定用画像Gdに基づいて行い、ずれ量が許容範囲Stを超えていると判断したときには、撮像部14の取り付け姿勢を再度変更して光軸方向W2を調整する。以下、図6に示すように、ずれ量(変位量Mx,My)が許容範囲St内となるまで上記した操作を繰り返して実行する。以上により、第1方向W1と光軸方向W2とを一致(または、ほぼ一致)させる作業が終了する。
次いで、プロービング機構12から標識板15を取り外し、プローブ21をプロービング機構12に取り付ける。続いて、プローブ21と撮像部14とのオフセット量の特定を行う。具体的には、図1に示すように、表面に図外の打痕シート(感圧シート)を取り付けた基板100を載置台11の載置面11aに載置して図外のクランプで基板100を固定する。
次いで、操作部を操作して、処理部19に対してプローブ21と撮像部14との間の実際のオフセット量を特定する特定処理の実行を指示する。この特定処理では、処理部19は、プロービング機構12および移動機構13を制御して、予め決められたプロービングポイントにプローブ21をプロービングさせる。この際に、プローブ21のプロービングによって打痕シートに打痕が形成される。
続いて、処理部19は、記憶部17からオフセットデータDoを読み出して、プローブ21と撮像部14とのオフセット量の規定値をオフセットデータDoに基づいて特定する。次いで、処理部19は、プロービングポイントの上方に撮像部14を位置させるのに必要なXY方向の移動量を、プロービングポイントの位置とオフセット量の規定値とに基づいて特定する。続いて、処理部19は、移動機構13を制御して、プロービング位置の上方に撮像部14を移動させる。次いで、処理部19は、撮像部14を制御して基板100の上面を撮像させる。
続いて、処理部19は、撮像部14によって撮像された撮像画像に基づいて撮像部14の中心の位置と打痕の中心の位置との位置ずれ量を特定し、プローブ21と撮像部14との間のオフセット量の規定値を、特定した位置ずれ量に基づいて補正して実際のオフセット量を特定する。以上により、特定処理が終了する。
次いで、打痕シートを取り付けた基板100に代えて、検査対象の基板100を載置台11の載置面11aに載置して固定し、続いて、操作部を操作して、処理部19に対して検査処理の実行を指示する。この検査処理では、処理部19は、記憶部17から基板データDbを読み出して、基板データDbに基づいて標識Mの位置を特定する。次いで、処理部19は、移動機構13を制御して、標識Mの上方の位置に撮像部14を移動させ、続いて、撮像部14を制御して、基板100の表面における標識Mを含む領域を撮像させる。次いで、処理部19は、撮像部14によって撮像された撮像画像に基づいて標識Mの重心の位置と撮像部14の中心の位置との位置ずれ量(基板100の位置ずれ量に相当する)を特定して記憶部17に記憶させる。
続いて、処理部19は、基板データDbに基づいてプロービングポイントの位置を特定し、そのプロービングポイントの位置にプローブ21をプロービングさせるのに必要な移動量を、基板100の位置ずれ量、およびプローブ21と撮像部14との間の実際のオフセット量に基づいて特定する。次いで、処理部19は、プロービング機構12および移動機構13を制御して、特定した移動量だけプローブ21を移動させてプロービングポイントにプローブ21をプロービングさせる。
続いて、処理部19は、検査部16に対して検査の実行を指示する。これに応じて、検査部16が、プローブ21を介して入出力した電気信号に基づき、基板100についての検査を実行する。次いで、処理部19は、検査部16による検査の結果を表示部18に表示させる。以上により、基板100の検査が終了する。
このように、この基板検査装置1では、処理部19が、第1方向W1に標識板15が移動させられている状態で撮像部14によって撮像された標識M1を含む標識板15の画像内における標識M1のXY方向の位置を特定し、標識板15の移動に伴う標識M1の位置のXY方向の変位量および変位量の許容範囲Stを示す特定用画像Gdのデータを表示データDdとして生成する。したがって、この基板検査装置1によれば、標識M1の画像を見て標識M1が移動しているか否かを作業者が判断する従来の構成とは異なり、標識M1の画像が不明瞭なときに標識M1の移動状態の確認が困難となる事態や、作業者の熟練度などによって第1方向W1と光軸方向W2とのずれの有無の判定結果に個人差が生じる事態が回避されて、表示データDdに基づく特定用画像Gdから第1方向W1と光軸方向W2とのずれの有無を正確に把握することができる。
また、この基板検査装置1によれば、処理部19が、標識M1における重心Cgの位置を標識M1の位置として特定することにより、例えば、パターンマッチング手法で標識M1の位置を特定して位置の変位量を特定する構成と比較して、位置の変位量を正確にかつ短い処理時間で特定することができる。
また、この基板検査装置1によれば、標識M1を円形に形成したことにより、重心サーチ手法を用いて標識M1の位置としての標識M1の重心Cgの位置を特定する際に、標識M1が複雑な形状の場合と比較して、重心Cgの位置をより正確に特定することができる。
また、この基板検査装置1によれば、標識板15における標識M1の色を黒色(白色および黒色のうちのいずれか一方の色)に着色し、標識板15における標識M1の周囲の色を白色(白色および黒色のうちの他方の色)に着色したことにより、標識M1を明瞭に撮像することができるため、標識M1の輪郭を正確に特定することができる。したがって、この基板検査装置1によれば、重心サーチ手法を用いて標識M1の位置としての標識M1の重心Cgの位置を特定する際に、重心Cgの位置をさらに正確に特定することができる。
また、この基板検査装置1によれば、処理部19が、標識M1の位置のXY方向の変位量が許容範囲St内であるか否かを判別し、判別の結果を表示部18に表示させることにより、標識M1の位置のXY方向の変位量が許容範囲St内であるか否かを、作業者が表示データDdに基づく特定用画像Gdから判断して第1方向W1と光軸方向W2とのずれの有無を判定する構成とは異なり、見間違いによる誤判定を確実に防止することができる。
なお、基板検査装置は、上記の構成に限定されない。例えば、特定用画像Gdの表示態様は、上記した表示態様(図5,6に示す表示態様)に限定されない。例えば、図7に示すように、標識M1の位置のX方向の変位量を示す画像G1xと、標識M1の位置のY方向の変位量を示す画像G1yとを重ねて表示する構成を採用することもできる。
また、図8に示すように、標識M1の位置のX方向の変位量、Y方向の変位量、および許容範囲Stをそれぞれ文字の画像で表示する構成を採用することもできる。
また、処理部19が、重心Cgの位置のXY方向の変位量が許容範囲Stであるか否かを判別し、判別結果を示す画像G3を特定用画像Gdに含める例について上記したが、判別結果を画像G3とは異なる形態で報知する構成を採用することもできる。一例として、判別結果を音で報知したり、発光体を設けて、この発光体を発光させて判別結果を光で報知したりする構成を採用することができる。また、音および光を組み合わせて報知する構成を採用することもできる。また、処理部19が判定を行わない(つまり、判定結果を報知しない)構成を採用することもできる。
また、標識M1の位置の変位量をX方向およびY方向に分けて表示する例について上記したが、標識M1の位置の変位量をX方向およびY方向に分けて表示させることなく、図9に示すように、標識M1の重心Cgの位置の移動軌跡を示す画像G4をXY方向の変位量を示す画像として表示する構成を採用することもできる。
また、標識M1を円形に形成した例について上記したが、円形以外の形状、例えば、三角形および四角形などの多角形や、十字形などの形状に形成した標識M1を採用することもできる。
また、標識板15における標識M1を黒色に着色し、標識板15における標識M1の周囲を白色に着色した例について上記したが、標識M1を白色に着色し、標識M1の周囲を黒色に着色する構成を採用することもできる。また、白色および黒色以外の色で標識M1および標識M1の周囲を着色する(ただし、標識M1と標識M1の周囲とは異なる色とする)構成を採用することもできる。
また、標識部材として長方形の板状に形成した標識板15を用いる例について上記したが、円形、および長方形以外の多角形の板状や、柱状等の各種の形状の標識部材を用いることができる。
また、重心サーチ手法を用いて特定した重心Cgの位置を標識M1の位置とする例について上記したが、パターンマッチング手法で標識M1を特定する採用することもできる。
また、第1方向W1が載置台11の載置面11aに対して垂直で、光軸方向W2が載置面11aに対して傾斜している場合(図3参照)に適用した例について上記したが、第1方向W1が載置面11aに対して傾斜し、光軸方向W2が載置面11aに対して垂直な場合や、第1方向W1および光軸方向W2の双方が載置面11aに対して傾斜している場合に適用することもでき、これらの場合においても、表示データDdに基づく特定用画像Gdから第1方向W1と光軸方向W2とのずれの有無を正確に把握することができる。
1 基板検査装置
11 載置台
11a 載置面
12 プロービング機構
14 撮像部
15 標識板
18 表示部
19 処理部
21 プローブ
50 生成処理
100 基板
Cg 重心
Dd 表示データ
Mx,My 変位量
G1x,G1y,G2〜G4 画像
Gd 特定用画像
M1 標識
Oa 光軸
St 許容範囲
X,Y 第2方向
W1 第1方向
W2 光軸方向

Claims (5)

  1. 検査対象の基板が載置される載置面に対して接離する第1方向にプローブを移動させてプロービングを行うプロービング機構と、前記プロービング機構の近傍に配置されると共に光軸の方向を調整可能に構成されて前記基板の画像を撮像する撮像部とを備えた基板検査装置であって、
    前記第1方向と前記光軸の方向とのずれ量を特定可能な特定用画像を表示部に表示させる表示データを生成する生成処理を行う処理部と、標識が付されると共に前記プロービング機構に取り付け可能に構成されて当該プロービング機構によって前記第1方向に移動させられる標識部材とを備え、
    前記処理部は、前記生成処理において、前記標識部材が前記プロービング機構によって前記第1方向に往復移動させられている最中に前記撮像部によって撮像された当該標識部材の複数の画像内における前記標識の前記載置面に沿った第2方向の位置をそれぞれ特定し、特定した前記標識の各位置に基づき、前記標識部材の前記往復移動に伴って当該標識の位置が前記第2方向に変位した変位量を特定すると共に、特定した前記変位量および当該変位量の許容範囲を示す前記特定用画像のデータを前記表示データとして生成する基板検査装置。
  2. 前記処理部は、前記生成処理において、前記標識における重心の位置を前記標識の位置としてそれぞれ特定する請求項1記載の基板検査装置。
  3. 前記標識は、円形に形成されている請求項1または2記載の基板検査装置。
  4. 前記標識部材は、前記標識の色が白色および黒色のうちのいずれか一方の色に着色され、前記標識の周囲の色が白色および黒色のうちの他方の色に着色されている請求項1から3のいずれかに記載の基板検査装置。
  5. 前記処理部は、前記変位量が前記許容範囲内であるか否かを判別し、当該判別の結果を報知する請求項1から4のいずれかに記載の基板検査装置。
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