JP6762514B2 - 光分析方法、プログラム、光分析システム及び導光路内蔵チップ - Google Patents
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Claims (7)
- ディスプレイを有する測定機器と、前記測定機器のディスプレイ面上に設置される導光路内蔵チップとを備える光分析システムにおける表示方法であって、
前記導光路内蔵チップは、
前記測定機器との間での位置合わせが必要とされて前記導光路内蔵チップの外部から光が前記導光路内蔵チップ内に入るための光導入部であって前記ディスプレイ面に接触する面に設けられる第1光導入部と、
前記測定機器との間での位置合わせが必要とされて前記第1光導入部から入った光が前記導光路内蔵チップの外部へ出るための光導出部と、
前記第1光導入部から測定対象を経由して前記光導出部へ達する第1導光路と、
前記第1導光路を外部から目視ができない状態で包囲して前記第1導光路内の迷光を吸収する吸光部と、
前記第1光導入部とは異なる光導入部であって前記導光路内蔵チップの外部から光が入る第2光導入部と、
前記第2光導入部から前記第1導光路の一部へ達してさらに前記光導出部に達する第2導光路を備え、
前記測定機器は、
前記導光路内蔵チップとの間での位置合わせが必要とされて前記ディスプレイ面から前記第1光導入部に向かって光を発光する発光部であって前記測定対象に光を照射する第1発光部と、
前記第2光導入部に向かって光を発光する発光部であって前記光導出部の近傍の導光路内壁又は前記第2導光路において前記第1導光路に達した位置の内部構造の欠陥の有無を映し出す照明光を発光する第2発光部と、
前記光導出部からの光を受光するカメラと、
前記カメラが受光した画像を表示する画像表示部と、
前記画像表示部を制御する制御部とを備え、
前記制御部は、前記第2発光部も制御するものであり、
前記制御部が、前記第2発光部を制御して、前記第2光導入部に光が入り、前記光導出部に光が届くように発光させる検査光発光ステップと、
前記第1発光部及び前記第2発光部が点灯している状態において、前記制御部が、前記画像表示部を制御して、前記第1導光路を通って前記カメラが受光した前記第1発光部からの光の有無を表す画像、及び、前記第2導光路を通って前記カメラが受光した前記光導出部の近傍の導光路内壁又は前記第2導光路において前記第1導光路に達した位置の内部構造の欠陥の有無を表す画像を表示させる検査光表示ステップを含む、表示方法。 - 前記導光路内蔵チップと前記測定機器との相対的な位置関係を調整する位置調整ステップと、
前記位置調整ステップによって、相対的な位置関係を調整した後、前記第1発光部及び前記第2発光部が点灯している状態において、前記制御部が、前記画像表示部を制御して、前記第1導光路を通って前記カメラが受光した前記第1発光部からの光の有無を表す画像、及び、前記第2導光路を通って前記カメラが受光した前記光導出部の近傍の導光路内壁又は前記第2導光路において前記第1導光路に達した位置の内部構造の欠陥の有無を表す画像を表示させる調整後表示ステップをさらに含む、請求項1記載の表示方法。 - 前記光導出部が前記ディスプレイ面に接触する面に設けられる、請求項1又は2記載の表示方法。
- 前記第2光導入部は、前記測定機器との間での位置合わせが必要とされて前記ディスプレイ面に接触する面に設けられ、
前記第2発光部は、前記導光路内蔵チップとの間での位置合わせが必要とされて前記ディスプレイ面から前記第2光導入部に向かって光を発光する、請求項1から3のいずれかに記載の表示方法。 - 前記測定機器が備えるコンピュータを、請求項1から4のいずれかに記載の前記制御部として機能させるためのプログラム。
- ディスプレイを有する測定機器と、前記測定機器のディスプレイ面上に設置される導光路内蔵チップとを備える光分析システムであって、
前記導光路内蔵チップは、
前記測定機器との間での位置合わせが必要とされて前記導光路内蔵チップの外部から光が前記導光路内蔵チップ内に入るための光導入部であって前記ディスプレイ面に接触する面に設けられる第1光導入部と、
前記測定機器との間での位置合わせが必要とされて前記第1光導入部から入った光が前記導光路内蔵チップの外部へ出るための光導出部と、
前記第1光導入部から測定対象を経由して前記光導出部へ達する第1導光路と、
前記第1導光路を外部から目視ができない状態で包囲して前記第1導光路内の迷光を吸収する吸光部と、
前記第1光導入部とは異なる光導入部であって前記導光路内蔵チップの外部から光が入る第2光導入部と、
前記第2光導入部から前記第1導光路の一部へ達してさらに前記光導出部に達する第2導光路を備え、
前記測定機器は、
前記導光路内蔵チップとの間での位置合わせが必要とされて前記ディスプレイ面から前記第1光導入部に向かって光を発光する発光部であって前記測定対象に光を照射する第1発光部と、
前記第2光導入部に向かって光を発光する発光部であって前記光導出部の近傍の導光路内壁又は前記第2導光路において前記第1導光路に達した位置の内部構造の欠陥の有無を映し出す照明光を発光する第2発光部と、
前記光導出部からの光を受光するカメラと、
前記カメラが受光した画像を表示する画像表示部と、
前記画像表示部を制御する制御部とを備え、
前記制御部は、前記第2発光部も制御するものであり、
前記制御部は、前記第2発光部を制御して前記第2光導入部に光を入れ、前記光導出部に光が届くように発光させることができ、
前記制御部は、前記第1発光部及び前記第2発光部が点灯している状態において、前記画像表示部を制御して、前記第1導光路を通って前記カメラが受光した前記第1発光部からの光の有無を表す画像、及び、前記第2導光路を通って前記カメラが受光した前記光導出部の近傍の導光路内壁又は前記第2導光路において前記第1導光路に達した位置の内部構造の欠陥の有無を表す画像を表示させることができる、光分析システム。 - 請求項6記載の光分析システムに用いられる導光路内蔵チップ。
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JP2015206960A JP6762514B2 (ja) | 2015-10-21 | 2015-10-21 | 光分析方法、プログラム、光分析システム及び導光路内蔵チップ |
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JP2015206960A JP6762514B2 (ja) | 2015-10-21 | 2015-10-21 | 光分析方法、プログラム、光分析システム及び導光路内蔵チップ |
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JP2017078653A JP2017078653A (ja) | 2017-04-27 |
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Family Applications (1)
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JP2015206960A Active JP6762514B2 (ja) | 2015-10-21 | 2015-10-21 | 光分析方法、プログラム、光分析システム及び導光路内蔵チップ |
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