JPWO2015178142A1 - 表面特性測定装置 - Google Patents
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Abstract
Description
1.1 光沢測色計
第1実施形態は、光沢測色計に関する。
図2の模式図は、測定機構の下面を示す。図3の模式図は、測定機構の横断面を示す。図4の模式図は、測定機構の縦断面を示す。図5の模式図は、光軸等を示す斜視図である。
光沢測定用の照明機構1030は、図3に示されるように、ハロゲンランプ1070、開口板1071、ミラー1072、光沢測定用の測定径変更機構1073、レンズ1074、鏡筒1075等を備える。光沢測定用の照明機構1030は、被照明面1050の被照明領域を照明光1040で照明する。ハロゲンランプ1070は、照明光1040を放射する。開口板1071は、照明光1040の光線束を制限する。ミラー1072は、照明光1040を反射する。光沢測定用の測定径変更機構1073は、光沢測定の測定径を変更する。レンズ1074は、照明光1040をコリメート化する。鏡筒1075は、ハロゲンランプ1070、開口板1071、ミラー1072、光沢測定用の測定径変更機構1073、レンズ1074等を保持する。
図6の模式図は、光沢測定用の測定径変更機構等の断面図である。図7及び図8の模式図は、光沢測定用の測定径変更機構等の正面図である。
光沢測定用の受光機構1031は、図3に示されるように、レンズ1190、ミラー1191、光量測定機構1192、鏡筒1193等を備える。レンズ1190は、反射光1041の光線束を収束させる。ミラー1191は、反射光1041を反射する。光量測定機構1192は、反射光1041の光量に応じた信号を出力する。
測色用の照明機構1032は、図3及び図4に示されるように、光放射機構1230、反射機構1231等を備える。光放射機構1230は、光1044、光1045等を放射する。反射機構1231は、光1044を環状照明光1042にする。測色用の照明機構1032が他の種類の照明機構に置き換えられてもよい。
光放射機構1230は、図3及び図4に示されるように、直管型キセノンランプ1240、積分球1241、バッフル1242等を備える。直管型キセノンランプ1240は、光を放射する。積分球1241は、光を均一にする。バッフル1242は、光が均一にされないまま出射することを抑制する。
図9の模式図は、平面反射面の配置を示す斜視図である。
測色用の受光機構1033は、図3に示されるように、ミラー1370、測色用の測定径変更機構1371、分光測定機構1372、鏡筒1373等を備える。測色用の受光機構1033は、被照明面1050の被受光領域が環状照明光1042を反射することにより生成される反射光1043を受光する。ミラー1370は、反射光1043を反射する。測色用の測定径変更機構1371は、測色の測定径を変更する。分光測定機構1372は、反射光1043の各波長成分の光量に応じた信号を出力する。鏡筒1373は、ミラー1370、測色用の測定径変更機構1371等を保持する。鏡筒1373は、鏡筒1075及び鏡筒1193と一体化され、鏡筒集合体を構成する。
図10の模式図は、測色用の測定径変更機構等の断面を示す。
補正用の受光機構1034は、図3に示されるように、ミラー1440、光ファイバー1441、分光測定機構1442等を備える。分光測定機構1442は、分光測定機構1372と共通化される。
図11のブロック図は、光沢測色計を示す。
光沢測定及び測色が連続して行われる場合は、組み込みコンピューター1480は、測色機構1021に測色を行わせ、測色機構1021から測定の結果を取得し、測定の結果から測色情報を導出する。組み込みコンピューター1480は、測定の結果から測色情報を導出している間に、光沢測定機構1020に光沢測定を行わせる。
第2実施形態は、第1実施形態の光沢測定用の測定径変更機構を置き換える光沢測定用の測定径変更機構に関する。他の実施形態に採用されている技術が第2実施形態において援用されてもよい。
第3実施形態は、第1実施形態の光沢測定用の測定径変更機構を置き換える光沢測定用の測定径変更機構に関する。他の実施形態に採用されている技術が第3実施形態において援用されてもよい。
4.1 第1実施形態と第4実施形態との相違
第4実施形態は、第1実施形態の連動機構を置き換える連動機構に関する。第1実施形態の連動機構によれば、測色の測定径が標準径と小径との間で手動で変更され、光沢測定の測定径が測色の測定径の変更に連動して標準径と小径との間で自動で変更される。これに対して、第4実施形態の連動機構によれば、光沢測定の測定径が標準径と小径との間で手動で変更され、測色の測定径が光沢測定の測定径に連動して標準径と小径との間で自動で変更される。以下では、この相違をもたらす構成を説明する。他の実施形態に採用されている技術が第4実施形態において援用されてもよい。
図16の模式図は、第4実施形態の連動機構が組み込まれた場合の測定機構の横断面を示す。図17の模式図は、光沢測定用の測定径変更機構等の正面図である。
測色用の測定径変更機構4040は、図16に示されるように、レンズ4050、平行移動機構4051等を備える。レンズ4050は、第1実施形態のレンズ1390と同じものであり、反射光1043の光線束を収束させる。平行移動機構4051は、レンズ4050を平行移動させる。
図18のブロック図は、連動機構を示す。
5.1 第1実施形態と第5実施形態との相違
第5実施形態は、第1実施形態の光沢測定用の連動機構を置き換える連動機構に関する。第1実施形態の連動機構によれば、測色の測定径が標準径と小径との間で手動で変更され、光沢測定の測定径が測色の測定径の変更に連動して標準径と小径との間で自動で変更される。これに対して、第5実施形態の連動機構によれば、測定径を変更する操作に応答して光沢測定の測定径及び測色の測定径が標準径と小径との間で変更される。以下では、この相違をもたらす構成を説明する。他の実施形態に採用されている技術が第5実施形態において援用されてもよい。
6.1 第5実施形態と第6実施形態との相違
第6実施形態は、第5実施形態の連動機構を置き換える独立変更機構に関する。第5実施形態の連動機構によれば、測定径を変更する操作に応答して光沢測定の測定径及び測色の測定径が標準径と小径との間で変更される。これに対して、第6実施形態の独立変更機構によれば、光沢測定の測定径が標準径と小径との間で変更され、光沢測定の測定径から独立して測色の測定径が標準径と小径との間で変更される。以下では、この相違をもたらす構成を説明する。他の実施形態に採用されている技術が第6実施形態において援用されてもよい。
1020 光沢測定機構
1021 測色機構
1030 光沢測定用の照明機構
1031 光沢測定用の受光機構
1032 測色用の照明機構
1033 測色用の受光機構
1073,2000,3000,4000,5000 光沢測定用の測定径変更機構
1371,4040,5010 測色用の測定径変更機構
Claims (11)
- 第1の照明光で被照明面を照明し、前記被照明面が前記第1の照明光を正反射することにより生成される第1の反射光を受光し、前記第1の反射光に対する測定の結果を出力し、光沢測定の被測定領域の大きさを変更可能である光沢測定機構と、
第2の照明光で前記被照明面を照明し、前記被照明面が前記第2の照明光を反射することにより生成される第2の反射光を受光し、前記第2の反射光に対する測定の結果を出力し、反射特性測定の被測定領域の大きさを変更可能であり、前記光沢測定機構と一体化される反射特性測定機構と、
を備える表面特性測定装置。 - 前記光沢測定機構は、
前記第1の照明光で前記被照明面の被照明領域を照明し、被照明領域の大きさを変更することにより前記光沢測定の被測定領域の大きさを変更する第1の照明機構と、
前記第1の反射光を受光し、前記第1の反射光に対する測定の結果を出力する第1の受光機構と、
を備える請求項1の表面特性測定装置。 - 前記第1の照明機構は、
前記第1の照明光を放射する光源と、
前記第1の照明光を通過させる開口が形成され、前記開口の大きさを変更することにより前記被照明領域の大きさを変更する第1の大きさ変更機構と、
を備える請求項2の表面特性測定装置。 - 前記第1の照明機構は、
前記第1の照明光を放射する光源と、
前記第1の照明光を通過させる開口が形成され、前記第1の照明機構の光軸に沿って前記開口を平行移動させることにより前記被照明領域の大きさを変更する第1の大きさ変更機構と、
を備える請求項2の表面特性測定装置。 - 前記反射特性測定機構は、
前記第2の照明光で前記被照明面を照明する第2の照明機構と、
前記被照明面の被受光領域が前記第2の照明光を反射することにより生成される前記第2の反射光を受光し、前記第2の反射光に対する測定の結果を出力し、被受光領域の大きさを変更することにより前記反射特性測定の被測定領域の大きさを変更する第2の受光機構と、
を備える請求項1から4までのいずれかの表面特性測定装置。 - 前記第2の受光機構は、
レンズ及び平行移動機構を備え、前記第2の反射光が前記レンズを通過し、前記レンズが前記第2の反射光の光線束を収束させ、前記平行移動機構が前記レンズを前記第2の受光機構の光軸に沿って平行移動させることにより前記被受光領域の大きさを変更する第2の大きさ変更機構と、
前記第2の反射光が前記レンズを通過した後に前記第2の反射光を受光する測定機構と、
を備える請求項5の表面特性測定装置。 - 前記光沢測定の被測定領域の大きさを決める構成物の位置に対する検出の結果を出力する検出機構と、
前記反射特性測定の被測定領域の大きさが前記光沢測定の被測定領域の大きさと連動して変更されるように前記検出の結果に従って前記反射特性測定機構に前記反射特性測定の被測定領域の大きさを変更させる制御機構と、
をさらに備える請求項1から6までのいずれかの表面特性測定装置。 - 前記反射特性測定の被測定領域の大きさを決める構成物の位置に対する検出の結果を出力する検出機構と、
前記光沢測定の被測定領域の大きさが前記反射特性測定の被測定領域の大きさと連動して変更されるように前記検出の結果に従って前記光沢測定機構に前記光沢測定の被測定領域の大きさを変更させる制御機構と、
をさらに備える請求項1から6までのいずれかの表面特性測定装置。 - 被測定領域の大きさを変更する操作に対する検出の結果を出力する検出機構と、
前記検出の結果に従って前記光沢測定機構に前記光沢測定の被測定領域の大きさを変更させ前記反射特性測定機構に前記反射特性測定の被測定領域の変更させる制御機構と、
を備える請求項1から6までのいずれかの表面特性測定装置。 - 前記反射特性測定機構が測色機構であり、
前記反射特性測定が測色である
請求項1から9までのいずれかの表面特性測定装置。 - 前記第2の照明光により照明される反射特性測定の被照明領域が前記第1の照明光により照明される光沢測定の被照明領域と重なる
請求項1から10までのいずれかの表面特性測定装置。
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