JP6761204B2 - 光偏向装置、光走査装置、画像投影装置、故障検知方法、光書込装置、画像形成装置、物体認識装置、移動体、非移動体及び光干渉断層計 - Google Patents

光偏向装置、光走査装置、画像投影装置、故障検知方法、光書込装置、画像形成装置、物体認識装置、移動体、非移動体及び光干渉断層計 Download PDF

Info

Publication number
JP6761204B2
JP6761204B2 JP2016126279A JP2016126279A JP6761204B2 JP 6761204 B2 JP6761204 B2 JP 6761204B2 JP 2016126279 A JP2016126279 A JP 2016126279A JP 2016126279 A JP2016126279 A JP 2016126279A JP 6761204 B2 JP6761204 B2 JP 6761204B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
optical
frequency
failure
piezoelectric
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2016126279A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2018004667A (ja
Inventor
和彦 塚本
和彦 塚本
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Ricoh Co Ltd
Original Assignee
Ricoh Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Ricoh Co Ltd filed Critical Ricoh Co Ltd
Priority to JP2016126279A priority Critical patent/JP6761204B2/ja
Publication of JP2018004667A publication Critical patent/JP2018004667A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6761204B2 publication Critical patent/JP6761204B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Landscapes

  • Fittings On The Vehicle Exterior For Carrying Loads, And Devices For Holding Or Mounting Articles (AREA)
  • Instrument Panels (AREA)
  • Optical Radar Systems And Details Thereof (AREA)
  • Mechanical Optical Scanning Systems (AREA)
  • Mechanical Light Control Or Optical Switches (AREA)

Description

本発明は、光偏向装置、光走査装置、画像投影装置故障検知方法、光書込装置、画像形成装置、物体認識装置、移動体、非移動体及び光干渉断層計に関する。
近年、装置の故障や不具合を検知する技術の開発が盛んに行われている。
例えば、特許文献1には、装置内の配線の不具合を検知する技術が開示されている。
しかしながら、特許文献1に開示されている技術では、装置の機械的構造部の故障を検知することができなかった。
本発明は、反射面を有するミラー部と、該ミラー部に接続されたトーションバーと、該トーションバーに接続された弾性部とを含む構造体と、前記弾性部に設けられ、上部電極、下部電極及び圧電部を有する圧電体と、前記構造体の故障を検知する故障検知装置と、少なくとも前記圧電体に所定の電圧を印加し、前記ミラー部を可動させる駆動信号出力部と、を備え、前記故障検知装置は、前記圧電体に周期的に変化する電圧を印加する、該電圧の周波数を可変な印加手段と、前記電圧の周波数変化に対する前記圧電体に流れる電流の変化を検出する検出手段と、を含む光偏向装置である。
本発明によれば、装置の機械的構造部(構造体)の故障を検知することができる。
光走査システムの一例の概略図である。 光走査システムの一例のハードウェア構成図である。 制御装置の一例の機能ブロック図である。 光走査システムに係る処理の一例のフローチャートである。 ヘッドアップディスプレイ装置を搭載した自動車の一例の概略図である。 ヘッドアップディスプレイ装置の一例の概略図である。 光書込装置を搭載した画像形成装置の一例の概略図である。 光書込装置の一例の概略図である。 レーザレーダ装置を搭載した自動車の一例の概略図である。 レーザレーダ装置の一例の概略図である。 パッケージングされた可動装置の一例の概略図である。 可動装置の一例を+Z方向から見たときの平面図である。 図12のP−P’断面図である。 図12のQ−Q’断面図である。 図12のR−R’断面図である。 故障検知装置の一例のハードウェア構成図である。 故障検知処理を説明するためのフローチャートである。 圧電駆動と電流検出の配線レイアウトを示す図である。 図19(a)〜図19(c)は、それぞれミラー部を含む構造体の故障モード1〜3を説明するための図である。 圧電体の電気的特性(電流値/印加信号周波数)を示す図である。 構造体の故障検知の実施例を説明するための図である。 可動装置の変形例(その1)を説明するための図である。 可動装置の変形例(その2)を説明するための図である。
以下、本発明の実施形態について詳細に説明する。
[光走査システム]
まず、本実施形態の制御装置を適用した光走査システムについて、図1〜図4に基づいて詳細に説明する。
図1には、光走査システムの一例の概略図が示されている。
図1に示すように、光走査システム10は、制御装置11の制御に従って光源装置12から照射された光を可動装置13の有する反射面14により偏向して被走査面15を光走査するシステムである。
光走査システム10は、制御装置11,光源装置12、反射面14を有する可動装置13により構成される。
制御装置11は、例えばCPU(Central Processing Unit)およびFPGA(Field-Programmable Gate Array)等を備えた電子回路ユニットである。可動装置13は、例えば反射面14を有し、反射面14を可動可能なMEMS(Micro Electromechanical Systems)デバイスである。光源装置12は、例えばレーザを照射するレーザ装置である。なお、被走査面15は、例えばスクリーンである。
制御装置11は、取得した光走査情報に基づいて光源装置12および可動装置13の制御命令を生成し、制御命令に基づいて光源装置12および可動装置13に駆動信号を出力する。
光源装置12は、入力された駆動信号に基づいて光源の照射を行う。可動装置13は、入力された駆動信号に基づいて反射面14を1軸方向または2軸方向の少なくともいずれかに可動させる。
これにより、例えば、光走査情報の一例である画像情報に基づいた制御装置11の制御によって、可動装置13の反射面14を所定の範囲で2軸方向に往復可動させ、反射面14に入射する光源装置12からの照射光をある1軸周りに偏向して光走査することにより、被走査面15に任意の画像を投影することができる。
なお、可動装置の詳細および本実施形態の制御装置による制御の詳細については後述する。
次に、光走査システム10一例のハードウェア構成について図2を用いて説明する。
図2は、光走査システム10の一例のハードウェア構成図である。
図2に示すように、光走査システム10は、制御装置11、光源装置12および可動装置13を備え、それぞれが電気的に接続されている。
このうち、制御装置11は、CPU20、RAM21(Random Access Memory)、ROM22(Read Only Memory)、FPGA23、外部I/F24、光源装置ドライバ25、可動装置ドライバ26を備えている。
CPU20は、ROM22等の記憶装置からプログラムやデータをRAM21上に読み出し、処理を実行して、制御装置11の全体の制御や機能を実現する演算装置である。
RAM21は、プログラムやデータを一時保持する揮発性の記憶装置である。
ROM22は、電源を切ってもプログラムやデータを保持することができる不揮発性の記憶装置であり、CPU20が光走査システム10の各機能を制御するために実行する処理用プログラムやデータを記憶している。
FPGA23は、CPU20の処理に従って、光源装置ドライバ25および可動装置ドライバ26に適した制御信号を出力する回路である。
外部I/F24は、例えば外部装置やネットワーク等とのインタフェースである。外部装置には、例えば、PC(Personal Computer)等の上位装置、USBメモリ、SDカード、CD、DVD、HDD、SSD等の記憶装置が含まれる。また、ネットワークは、例えば自動車のCAN(Controller Area Network)やLAN(Local Area Network)、インターネット等である。外部I/F24は、外部装置との接続または通信を可能にする構成であればよく、外部装置ごとに外部I/F24が用意されてもよい。
光源装置トライバは、入力された制御信号に従って光源装置12に駆動電圧等の駆動信号を出力する電気回路である。
可動装置ドライバ26は、入力された制御信号に従って可動装置13に駆動電圧等の駆動信号を出力する電気回路である。
制御装置11において、CPU20は、外部I/F24を介して外部装置やネットワークから光走査情報を取得する。なお、CPU20が光走査情報を取得することができる構成であればよく、制御装置11内のROM22やFPGA23に光走査情報を格納する構成としてもよいし、制御装置11内に新たにSSD等の記憶装置を設けて、その記憶装置に光走査情報を格納する構成としてもよい。
ここで、光走査情報とは、被走査面15にどのように光走査させるかを示した情報であり、例えば、光走査により画像を表示する場合は、光走査情報は画像データである。また、例えば、光走査により光書込みを行う場合は、光走査情報は書込み順や書込み箇所を示した書込みデータである。他にも、例えば、光走査により物体認識を行う場合は、光走査情報は物体認識用の光を照射するタイミングと照射範囲を示す照射データである。
本実施形態に係る制御装置11は、CPU20の命令および図2に示したハードウェア構成によって、次に説明する機能構成を実現することができる。
次に、光走査システム10の制御装置11の機能構成について図3を用いて説明する。図3は、光走査システムの制御装置の一例の機能ブロック図である。
図3に示すように、制御装置11は、機能として制御部30と駆動信号出力部31とを有する。
制御部30は、例えばCPU20、FPGA23等により実現され、外部装置から光走査情報を取得し、光走査情報を制御信号に変換して駆動信号出力部31に出力する。例えば、制御部30は、外部装置等から画像データを光走査情報として取得し、所定の処理により画像データから制御信号を生成して駆動信号出力部31に出力する。
駆動信号出力部31は、光源装置12ドライバ25、可動装置13ドライバ26等により実現され、入力された制御信号に基づいて光源装置12または可動装置13に駆動信号を出力する。
駆動信号は、光源装置12または可動装置13の駆動を制御するための信号である。例えば、光源装置12においては、光源の照射タイミングおよび照射強度を制御する駆動電圧である。また、例えば、可動装置13においては、可動装置13の有する反射面14を可動させるタイミングおよび可動範囲を制御する駆動電圧である。
次に、光走査システム10が被走査面15を光走査する処理について図4を用いて説明する。図4は、光走査システムに係る処理の一例のフローチャートである。
ステップS11において、制御部30は、外部装置等から光走査情報を取得する。
ステップS12において、制御部30は、取得した光走査情報から制御信号を生成し、制御信号を駆動信号出力部31に出力する。
ステップS13において、駆動信号出力部31は、入力された制御信号に基づいて駆動信号を光源装置12および可動装置13に出力する。
ステップ14において、光源装置12は、入力された駆動信号に基づいて光照射を行う。また、可動装置13は、入力された駆動信号に基づいて反射面14の可動を行う。光源装置12および可動装置13の駆動により、任意の方向に光が偏向され、光走査される。
なお、上記光走査システム10では、1つの制御装置11が光源装置12および可動装置13を制御する装置および機能を有しているが、光源装置用の制御装置および可動装置用の制御装置と、別体に設けてもよい。
また、上記光走査システム10では、一つの制御装置11に光源装置12および可動装置13の制御部30の機能および駆動信号出力部31の機能を設けているが、これらの機能は別体として存在していてもよく、例えば制御部30を有した制御装置11とは別に駆動信号出力部31を有した駆動信号出力装置を設ける構成としてもよい。なお、上記光走査システム10のうち、反射面14を有した可動装置13と制御装置11により、光偏向を行う光偏向システムを構成してもよい。
[画像投影装置]
次に、本実施形態の制御装置を適用した画像投影装置について、図5および図6を用いて詳細に説明する。
図5は、画像投影装置の一例であるヘッドアップディスプレイ装置500を搭載した自動車400の実施形態に係る概略図である。また、図6はヘッドアップディスプレイ装置500の一例の概略図である。
画像投影装置は、光走査により画像を投影する装置であり、例えばヘッドアップディスプレイ装置である。
図5に示すように、ヘッドアップディスプレイ装置500は、例えば、自動車400のウインドシールド(フロントガラス401等)の付近に設置される。ヘッドアップディスプレイ装置500から発せられる投射光Lがフロントガラス401で反射され、ユーザーである観察者(運転者402)に向かう。これにより、運転者402は、ヘッドアップディスプレイ装置500によって投影された画像等を虚像として視認することができる。なお、ウインドシールドの内壁面にコンバイナを設置し、コンバイナによって反射する投射光によってユーザーに虚像を視認させる構成にしてもよい。
図6に示すように、ヘッドアップディスプレイ装置500は、赤色、緑色、青色のレーザ光源501R,501G,501Bからレーザ光が出射される。出射されたレーザ光は、各レーザ光源に対して設けられるコリメータレンズ502,503,504と、2つのダイクロイックミラー505,506と、光量調整部507と、から構成される入射光学系を経た後、反射面14を有する可動装置13にて偏向される。そして、偏向されたレーザ光は、自由曲面ミラー509と、中間スクリーン510と、投射ミラー511とから構成される投射光学系を経て、スクリーンに投影される。なお、上記ヘッドアップディスプレイ装置500では、レーザ光源501R,501G,501B、コリメータレンズ502,503,504、ダイクロイックミラー505,506は、光源ユニット530として光学ハウジングによってユニット化されている。
上記ヘッドアップディスプレイ装置500は、中間スクリーン510に表示される中間像を自動車400のフロントガラス401に投射することで、その中間像を運転者402に虚像として視認させる。
レーザ光源501R,501G,501Bから発せられる各色レーザ光は、それぞれ、コリメータレンズ502,503,504で略平行光とされ、2つのダイクロイックミラー505,506により合成される。合成されたレーザ光は、光量調整部507で光量が調整された後、反射面14を有する可動装置13によって二次元走査される。可動装置13で二次元走査された投射光Lは、自由曲面ミラー509で反射されて歪みを補正された後、中間スクリーン510に集光され、中間像を表示する。中間スクリーン510は、マイクロレンズが二次元配置されたマイクロレンズアレイで構成されており、中間スクリーン510に入射してくる投射光Lをマイクロレンズ単位で拡大する。
可動装置13は、反射面14を2軸方向に往復可動させ、反射面14に入射する投射光Lを二次元走査する。この可動装置13の駆動制御は、レーザ光源501R,501G,501Bの発光タイミングに同期して行われる。
以上、画像投影装置の一例としてのヘッドアップディスプレイ装置500の説明をしたが、画像投影装置は、反射面14を有した可動装置13により光走査を行うことで画像を投影する装置であればよい。例えば、机等に置かれ、表示スクリーン上に画像を投影するプロジェクタや、観測者の頭部等に装着される装着部材に搭載され、装着部材が有する反射透過スクリーンに投影、または眼球をスクリーンとして画像を投影するヘッドマウントディスプレイ装置等にも、同様に適用することができる。
また、画像投影装置は、車両や装着部材だけでなく、例えば、航空機、船舶、移動式ロボット等の移動体、あるいは、その場から移動せずにマニピュレータ等の駆動対象を操作する作業ロボットなどの非移動体に搭載されてもよい。
[光書込装置]
次に、本実施形態の制御装置11を適用した光走査装置としての光書込装置について図7および図8を用いて詳細に説明する。
図7は、光書込装置600を組み込んだ画像形成装置の一例である。また、図8は、光書込装置の一例の概略図である。
図7に示すように、上記光書込装置600は、レーザ光によるプリンタ機能を有するレーザプリンタ650等に代表される画像形成装置の構成部材として使用される。画像形成装置において光書込装置600は、1本または複数本のレーザビームで被走査面15である感光体ドラムを光走査することにより、感光体ドラムに光書込を行う。
図8に示すように、光書込装置600において、レーザ素子などの光源装置12からのレーザ光は、コリメータレンズなどの結像光学系601を経た後、反射面14を有する可動装置13により1軸方向または2軸方向に偏向される。そして、可動装置13で偏向されたレーザ光は、その後、第一レンズ602aと第二レンズ602b、反射ミラー部602cからなる走査光学系602を経て、被走査面15(例えば感光体ドラムや感光紙)に照射し、光書込みを行う。走査光学系602は、被走査面15にスポット状に光ビームを結像する。また、光源装置12および反射面14を有する可動装置13は、制御装置11の制御に基づき駆動する。
このように上記光書込装置600は、レーザ光によるプリンタ機能を有する画像形成装置の構成部材として使用することができる。また、走査光学系を異ならせて1軸方向だけでなく2軸方向に光走査可能にすることで、レーザ光をサーマルメディアに偏向して光走査し、加熱することで印字するレーザラベル装置等の画像形成装置の構成部材として使用することができる。
上記光書込装置に適用される反射面14を有した可動装置13は、ポリゴンミラー等を用いた回転多面鏡に比べ駆動のための消費電力が小さいため、光書込装置の省電力化に有利である。また、可動装置13の振動時における風切り音は回転多面鏡に比べ小さいため、光書込装置の静粛性の改善に有利である。光書込装置は回転多面鏡に比べ設置スペースが圧倒的に少なくて済み、また可動装置13の発熱量もわずかであるため、小型化が容易であり、よって画像形成装置の小型化に有利である。
[物体認識装置]
次に、上記本実施形態の制御装置を適用した物体認識装置について、図9および図10を用いて詳細に説明する。
図9は、物体認識装置の一例であるレーザレーダ装置を搭載した自動車の概略図である。また、図10はレーザレーダ装置の一例の概略図である。
物体認識装置は、対象方向の物体を認識する装置であり、例えばレーザレーダ装置である。
図9に示すように、レーザレーダ装置700は、例えば自動車701に搭載され、対象方向を光走査して、対象方向に存在する被対象物702からの反射光を受光することで、被対象物702を認識する。
図10に示すように、光源装置12から出射されたレーザ光は、発散光を略平行光とする光学系であるコリメートレンズ703と、平面ミラー704とから構成される入射光学系を経て、反射面14を有する可動装置13で1軸もしくは2軸方向に走査される。そして、投光光学系である投光レンズ705等を経て装置前方の被対象物702に照射される。光源装置12および可動装置13は、制御装置11により駆動を制御される。被対象物702で反射された反射光は、光検出器709により光検出される。すなわち、反射光は入射光検出受光光学系である集光レンズ706等を経て撮像素子707により受光され、撮像素子707は検出信号を信号処理装置708に出力する。信号処理回路708は、入力された検出信号に2値化やノイズ処理等の所定の処理を行い、結果を測距回路710に出力する。
測距回路710は、光源装置12がレーザ光を発光したタイミングと、光検出器709でレーザ光を受光したタイミングとの時間差、または受光した撮像素子707の画素ごとの位相差によって、被対象物702の有無を認識し、さらに被対象物702との距離情報を算出する。
反射面14を有する可動装置13は多面鏡に比べて破損しづらく、小型であるため、耐久性の高い小型のレーダ装置を提供することができる。このようなレーダレーダ装置は、例えば車両、航空機、船舶、ロボット等に取り付けられ、所定範囲を光走査して障害物の有無や障害物までの距離を認識することができる。
上記物体認識装置では、一例としてのレーザレーダ装置700の説明をしたが、物体認識装置は、反射面14を有した可動装置13を制御装置11で制御することにより光走査を行い、光検出器により反射光を受光することで被対象物702を認識する装置であればよく、上述した実施形態に限定されるものではない。
例えば、手や顔を光走査して得た距離情報から形状等の物体情報を算出し、記録と参照することで対象物を認識する生体認証や、対象範囲への光走査により侵入物を認識するセキュリティセンサ、光走査により得た距離情報から形状等の物体情報を算出して認識し、3次元データとして出力する3次元スキャナの構成部材などにも同様に適用することができる。
[パッケージング]
次に、本実施形態の制御装置により制御される可動装置のパッケージングについて図11を用いて説明する。
図11は、パッケージングされた可動装置の一例の概略図である。
図11に示すように、可動装置13は、パッケージ部材802の内側に配置される取付部材802に取り付けられ、パッケージ部材の一部を透過部材803で覆われて、密閉されることでパッケージングされる。さらに、パッケージ内は窒素等の不活性ガスが密封されている。これにより、可動装置13の酸化による劣化が抑制され、さらに温度等の環境の変化に対する耐久性が向上する。
以上に説明した光偏向システム、光走査システム、画像投射装置、光書込装置、物体認識装置に使用される可動装置の詳細および本実施形態の詳細について、図12〜図21を用いて説明する。
[可動装置の詳細]
まず、可動装置について図12〜図15を用いて詳細に説明する。
図12は、2軸方向に光偏向可能な片持ちタイプの可動装置の平面図である。図13は、図12のP−P’断面図である。図14は図12のQ−Q’断面図である。図15は、図12のR−R´断面図である。
図12に示すように、可動装置13は、入射した光を反射するミラー部101と、ミラー部に接続され、ミラー部をY軸に平行な第1軸周りに駆動する第1駆動部110a、110bと、ミラー部および第1駆動部を支持する第1支持部120と、第1支持部に接続され、ミラー部および第1支持部をX軸に平行な第2軸周りに駆動する第2駆動部130a、130bと、第2駆動部を支持する第2支持部150と、第1駆動部および第2駆動部および制御装置に電気的に接続される電極接続部160と、を有する。
可動装置13は、例えば、1枚のSOI(Silicon On Insulator)基板をエッチング処理等により成形し、成形した基板上に反射面14や第1圧電駆動部112a、112b、第2圧電駆動部131a〜131f、132a〜132f、電極接続部160等を形成することで、各構成部が一体的に形成されている。なお、上記の各構成部の形成は、SOI基板の成形後に行ってもよいし、SOI基板の成形中に行ってもよい。
SOI基板は、単結晶シリコン(Si)からなる第1のシリコン層の上に酸化シリコン層172が設けられ、その酸化シリコン層172の上にさらに単結晶シリコンからなる第2のシリコン層が設けられている基板である。以降、第1のシリコン層をシリコン支持層171、第2のシリコン層をシリコン活性層173とする。
シリコン活性層173は、X軸方向またはY軸方向に対してZ軸方向への厚みが小さいため、シリコン活性層173のみで構成された部材は、弾性を有する弾性部としての機能を備える。
なお、SOI基板は、必ず平面状である必要はなく、曲率等を有していてもよい。また、エッチング処理等により一体的に成形でき、部分的に弾性を持たせることができる基板であれば可動装置13の形成に用いられる部材はSOI基板に限られない。
ミラー部101は、例えば、円形状のミラー部基体102と、ミラー部基体の+Z側の面上に形成された反射面14とから構成される。ミラー部基体102は、例えば、シリコン活性層173から構成される。反射面14は、例えば、アルミニウム、金、銀等を含む金属薄膜で構成される。
第1駆動部110a、110bは、ミラー部基体102に一端が接続し、第1軸方向にそれぞれ延びてミラー部101を可動可能に支持する2つのトーションバー111a、112bと、一端がトーションバーに接続され、他端が第1支持部120の内周部に接続される第1圧電駆動部112a、112bと、から構成される。
図13に示されるように、トーションバー111a、111bはシリコン活性層173から構成される。また、第1圧電駆動部112a、112bは、カンチレバーとして機能する弾性部であるシリコン活性層173の+Z側の面上に下部電極210、圧電部220、上部電極230の順に形成されて構成される。上部電極230および下部電極210は、例えば金(Au)、白金(Pt)、IrO(二酸化イリジウム)、SRO(SrRuO:ストロンチウムルテニウムオキサイド)等から構成される。圧電部220は、例えば、圧電材料であるPZT(チタン酸ジルコン酸鉛)からなる。
図12に戻り、第1支持部120は、例えば、シリコン支持層171、酸化シリコン層172、シリコン活性層173から構成され、ミラー部101を囲うように形成された矩形形状の支持体である。
第2駆動部130a、130bは、例えば、折り返すように連結された複数の第2圧電駆動部131a〜131f、132a〜132fから構成されており、第2駆動部130a、130bの一端は第1支持部120の外周部に接続され、他端は第2支持部150の内周部に接続されている。このとき、第2駆動部130aと第1支持部120の接続箇所および第2駆動部130bと第1支持部120の接続箇所、さらに第2駆動部130aと第2支持部150の接続箇所および第2駆動部130bと第2支持部150の接続箇所は、反射面14の中心に対して点対称となっている。
図14に示されるように、第2圧電駆動部130a、130bは、カンチレバーとして機能する弾性部であるシリコン活性層173の+Z側の面上に下部電極210、圧電部220、上部電極230の順に形成されて構成される。上部電極230および下部電極210は、例えば金(Au)または白金(Pt)等から構成される。圧電部220は、例えば、圧電材料であるPZT(チタン酸ジルコン酸鉛)からなる。
第2圧電駆動部131a〜131f、132a〜132fを折り返し状に接続する連結部141ab〜141ef、142ab〜142efは、図15に示されるように、例えばシリコン活性層173で形成される。なお、シリコン支持層、酸化シリコン層により構成されていてもよい。
図12に戻り、第2支持部150は、例えば、シリコン支持層171、酸化シリコン層172、シリコン活性層173から構成され、ミラー部101、第1駆動部110a、110b、第1支持部120および第2駆動部130a、130bを囲うように形成された矩形の支持体である。
電極接続部160は、例えば、第2支持部150の+Z側の面上に形成され、第1圧電駆動部112a、112b、第2圧電駆動部131a〜131f、132a〜132fの各上部電極230および各下部電極210,および制御装置11にアルミニウム(Al)等の電極配線を介して電気的に接続されている。なお、上部電極230または下部電極210は、それぞれが電極接続部と直接接続されていてもよいし、電極同士を接続する等により間接的に接続されていてもよい。
なお、本実施形態では、圧電部220が弾性部であるシリコン活性層173の一面(+Z側の面)のみに形成された場合を一例として説明したが、弾性部の他の面(例えば−Z側の面)に設けても良いし、弾性部の一面および他面の双方に設けても良い。
また、ミラー部を第1軸周りまたは第2軸周りに駆動可能であれば、各構成部の形状は実施形態の形状に限定されない。例えば、トーションバー111a、111bや第1圧電駆動部112a、112bが曲率を有した形状を有していてもよい。
さらに、第1駆動部110a、110bの上部電極230の+Z側の面上、第1支持部の+Z側の面上、第2駆動部130a、130bの上部電極230の+Z側の面上、第2支持部の+Z側の面上の少なくともいずれかに酸化シリコン膜からなる絶縁層が形成されていてもよい。このとき、絶縁層の上に電極配線を設け、また、上部電極230または下部電極210と電極配線とが接続される接続スポットのみ、開口部として部分的に絶縁層を除去または絶縁層を形成しないことにより、第1駆動部110a、110b、第2駆動部130a、130bおよび電極配線の設計自由度をあげ、さらに電極同士の接触による短絡を抑制することができる。また、酸化シリコン膜は、反射防止材としていの機能も備える。
[制御装置の制御の詳細]
次に、可動装置の第1駆動部および第2駆動部を駆動させる制御装置の制御の詳細について説明する。
第1駆動部110a、110b、第2駆動部130a、130bが有する圧電部220は、分極方向に正または負の電圧が印加されると印加電圧の電位に比例した変形(例えば、伸縮)が生じ、いわゆる逆圧電効果を発揮する。第1駆動部110a,110b,第2駆動部130a、130bは、上記の逆圧電効果を利用してミラー部101を可動させる。
このとき、ミラー部101の反射面14がXY平面に対して+Z方向または−Z方向へ傾いたときのXY平面と反射面14により成す角度を、振れ角とよぶ。このとき、+Z方向を正の振れ角、−Z方向を負の振れ角とする。
まず、第1駆動部を駆動させる制御装置の制御について説明する。
第1駆動部110a、110bでは、第1圧電駆動部112a、112bが有する圧電部220に、上部電極230および下部電極210を介して駆動電圧が並列に印加されると、それぞれの圧電部220が変形する。この圧電部220の変形による作用により、第1圧電駆動部112a、112bが屈曲変形する。その結果、2つのトーションバー111a、111bのねじれを介してミラー部101に第1軸周りの駆動力が作用し、ミラー部101が第1軸周りに可動する。第1駆動部110a、110bに印加される駆動電圧は、制御装置11によって制御される。
そこで、制御装置11によって、第1駆動部110a、110bが有する第1圧電駆動部112a、112bに所定の正弦波形の駆動電圧を並行して印加することで、ミラー部101を、第1軸周りに所定の正弦波形の駆動電圧の周期で可動させることができる。
特に、例えば、正弦波形電圧の周波数がトーションバー111a、111bの共振周波数と同程度である約20kHzに設定された場合、トーションバー111a、111bのねじれによる機械的共振が生じるのを利用して、ミラー部101を約20kHzで共振振動させることができる。
ここで、本実施形態の光偏向器としての可動装置13には、図16に示されるように、ミラー部101と第1駆動部110a、110b(但し圧電部220を除く)とを含んで構成される機械的構造部である構造体900(以下では適宜「デバイス」や「MEMSデバイス」とも呼ぶ)の故障を検知する故障検知装置1000が接続されている。
そこで、可動装置13と故障検知装置1000を含んで、本発明の光偏向装置の一例である光偏向装置2000が構成される。
故障検知装置1000は、第1圧電駆動部112aに電圧信号を印加する信号発生器1100と、第1圧電駆動部112aの圧電部220(以下では「第1圧電部」とも呼ぶ)に流れる電流の電流値を検出する電流検出回路1200と、故障有無判定部1300と、を有する。
ここでは、第1圧電駆動部112aに対して故障検知装置1000が接続されているが、第1圧電駆動部112bにも故障検知装置1000と同様の故障検知装置を接続しても良い。
故障検知装置1000は、可動装置13が稼動していないとき(例えばヘッドアップディスプレイ装置の場合には車両がアイドリングモードになり、HUD表示がOFFになったとき、要は制御装置11からの駆動信号が可動装置13に入力されないとき)に故障検知動作を行う。
図17には、故障検知装置1000によって実施される故障検知処理のフローチャートが示されている。以下、このフローチャートを参照して説明する。
信号発生器1100は、第1圧電部へ印加する電圧信号(以下では「印加信号」や「故障検知用信号」とも呼ぶ)として例えば正弦波を、デバイス固有に設定された所定の周波数範囲内で周波数を変化させながら印加する(ステップS21)。この周波数範囲には、第1圧電駆動部112aのカンチレバーの共振周波数が含まれる。
電流検出回路1200は、印加信号の周波数毎に第1圧電部に流れる電流を実効値(またはピーク値)で定量的に検出し(ステップS22)、印加信号の周波数(以下では「印加信号周波数」とも呼ぶ)と第1圧電部を流れる電流の電流値の対応関係、すなわち周波数変化に対する電流変化を故障有無判定部1300に出力する。
故障有無判定部1300は、電流検出回路1200の出力と、予めデバイスの故障が無いことが確認された状態で測定され記憶媒体(例えばメモリやハードディスク)に保存されたデバイス固有の周波数変化に対する電流変化とを比較し(ステップS23)、両者が一致する場合に「故障無し」と判定し(ステップS24)、一致しない場合に「故障有り」と判定する(ステップS25)。
より詳細には、故障検知装置1000は、第1圧電駆動部112aのカンチレバーの共振周波数を含む所定の周波数範囲で周波数を変化させながら(周波数掃引して)電圧を第1圧電部に印加して電流検出を行い、電流値が上記周波数範囲で極小値をとらなかった場合、デバイスが故障していると判定する。ここで、上記周波数範囲は、共振周波数±(該共振周波数の1%〜数%)とすることができ、デバイスの設計によって、例えば共振周波数±(該共振周波数の2%)や共振周波数±(該共振周波数の1%)とすることができる。
なお、故障有無判定部1300を設けずに、電流検出回路1200に故障有無判定部の機能を持たせても良い。
次に、故障検知装置1000における故障検知の仕組みについて説明する。
上述したように、光偏向器としての可動装置13は、図12のような2軸走査のための駆動系を持ち、Si層(構造材)とPZT層(圧電体)と金属層(電極)を含んで構成される。
ミラー部101は主走査方向に対応する第1軸周りの回転を与えるトーションバー111a、111bによって保持され、トーションバーがミラー部101の共振周波数で駆動するときに最大の回転角を得る。
トーションバーはカンチレバー上に配置された主走査駆動用の第1圧電部の変位によってトルクを得て捻転動作を行う。
ここで、圧電体は、該圧電体が配置された部材を含む構造の共振振動によって変位が決定されるので、圧電体の変位に伴う圧電体の電気的特性は、該圧電体が配置された部材を含む構造の機械的特性(特に共振特性)によって決まる。
すなわち、圧電体が配置された部材の剛性などの機械的特性が、該圧電体の電気的特性に影響することから、この電気的特性を随時計測することにより、該部材の機械的特性が本来の正常な(故障の無い)特性であるか否かを判定できる。
そこで、本実施形態の構造体900のように、圧電体が配置されているカンチレバーにミラー部やトーションバーが連続した構造体では、いずれかに機械的故障が発生した場合にもカンチレバーの機械的特性が変化して、圧電体に流れる電流の特性が変化する。
そこで、取得した圧電体の電流特性と、構造体の機械的特性が正常な(故障の無い)場合の電流特性を比較すれば、構造体の故障の有無がわかる。
図18には、圧電駆動と電流検出の配線レイアウトが示されている。
図18において、2つの電極接続部160にそれぞれ一端が接続された2本の配線は、それぞれ両側の、複数の第2圧電駆動部を含む蛇行部に沿って這い回され、中央部にある第1圧電駆動部112aに他端が接続される。
図18において一方の配線(実線)は、一端がグランド接続用の電極接続部160に接続され、他端が第1圧電駆動部112aの上部電極230に接続されている。
図18において他方の配線(破線)は、信号発生器1100からの故障検知用信号及び可動装置ドライバ26からの駆動信号の一方が例えばスイッチ装置を介して選択的に入力される電極接続部160に一端が接続され、他端が下部電極210に接続されている。ここでは、故障検知用信号と駆動信号を同一の配線を用いて選択的に伝送することにしているが、故障検知用信号及び駆動信号をそれぞれ伝送するための2本の配線を用意しても良い。
ここでは、第1圧電駆動部112aの圧電部220(第1圧電部)に流れる電流を検出するために、グランド接続用の電極接続部160にセンス抵抗を直列に接続し、該センス抵抗にかかる電圧を測定する。
センス抵抗は第1圧電部と比べて十分に低抵抗とする(例えば第1圧電部の抵抗が100kΩのとき、センス抵抗は1kΩ程度とする)。
図18において、第1圧電駆動部112bへの配線は、第1圧電駆動部112aと共通の配線であっても良いし、異なる配線であっても良い。
配線を共通とした場合、電流検出は共通のグランド配線で行なうので第1圧電駆動部の112a、112bの圧電部220のどちらが故障したかは判別できないが、それぞれが独立した配線の場合、どちらの圧電部が故障したかを判別できる。
また、独立した配線の場合は、第1圧電駆動部112a、112bの圧電部220に流れる電流の差分によって圧電部220の故障をモニタすることができる。
ところで、MEMSデバイスである構造体900はSiを構造材としており、破壊応力以上の外部応力が生じた場合や、製造時の加工損で十分な強度がない場合には使用の途中で折れ等の故障を生じる可能性がある。
図19を用いて、構造体900の機械的特性が正常な状態から変化した異常な状態である故障モード1〜3について説明する。故障モード1〜3は、故障検知装置1000によって検知されることが想定される構造体900の故障の具体例である。
図19(a)には、故障モード1としてカンチレバーの折れが示されている。図19(b)には、故障モード2としてトーションバーの折れが示されている。図19(c)には、故障モード3としてミラー部の割れが示されている。
このような故障が生じた場合、カンチレバーに関わる剛性や支持量が変化するため、カンチレバーが固有にもつ共振周波数が変化する。または、故障の予兆となる構造材の力学的な特性変化が、該共振周波数に影響する。
図20には、圧電体の電気的特性(電流値[a.u.]/印加信号周波数[Hz])がグラフにて示されている。
図20のグラフは、故障がないことが確認されているMEMSスキャナを用いて、主走査駆動用の圧電体に正弦波を周波数掃引して印加したときに該圧電体に流れる電流値を検出してプロットしたものである。
ここでは、17.6kHzを中心に前後352Hzほど周波数を掃引して電流値を検出している。
17.56kHz付近で電流値が小さくなっており、この周波数はカンチレバーの共振周波数(設計値)である。
カンチレバー上の圧電体の変位により、圧電体の電気的特性は変化する。
電気的特性の変化の原因は圧電体の上下電極間距離が長くなること、圧電体の歪み量が最大になることなどである。
カンチレバーの共振周波数は、カンチレバーとその接続部の機械的構成に固有であり、カンチレバーと該カンチレバーに接続されているトーションバー、トーションバーに支持されているミラー部によって決定される。
これらの構成部材が破損や機械的に劣化した場合、カンチレバーの共振周波数は変化する。
圧電体の変位はカンチレバーの共振によるものなので、カンチレバーの共振特性が変われば図20にプロットされたような圧電体の電気的特性は失われる。
電流検出回路1200が、周波数を掃引する周波数範囲は、MEMSデバイスである構造体900の使用環境によって異なる。
構造体900が故障していなくても通常使用における環境(温度変動や経時劣化等)の影響でカンチレバーの共振周波数は設計値から変動するため、該変動が想定される周波数範囲、特にカンチレバーの共振周波数の設計値を含む周波数領域を掃引する必要がある。
周波数範囲を設定する基準となるのは、温度変動や経時劣化による構造体(主にシリコン)のヤング率変化や付着物などによる重量変化で変動する共振周波数である。
例えば車載環境における−40℃〜150℃という温度環境でシリコンの温度特性を考えたとき、共振周波数の変動は100〜150Hz程度である。
封止パッケージ内でデバイスを使用した場合、付着物などによる重量変化はほぼなしと想定される。
このため、圧電体が成膜されている部位(カンチレバー)の共振特性を計測することによって、構造体900の故障を検知することができる。
以上の説明から分かるように、圧電体の電気特性の周波数依存性を検知することで、構造材が製造時に有する共振特性(設計時の共振特性)を維持しているか否か、すなわち機械的な故障の有無を確認できる。
次に、本実施形態の実施例について図21を用いて説明する。なお、図21のグラフは、図20のグラフを縮小したものである。
構造体900の故障検知は、第1圧電駆動部に駆動信号とは異なる電圧信号である故障検知用信号を印加する必要があり、可動装置13の稼働と同時には実施できないため、可動装置13の非稼動時に行われる。
例えば可動装置13がHUD(ヘッドアップディスプレイ)に用いられる場合において車両から電源供給を受ける場合は、車両がアイドリング時などHUDの投影がOFFになるタイミングに故障検知装置1000による故障検知を行うことができる。
例えば、運転者がエンジンをかけるタイミングで故障検知すれば、スタートアップとして数秒の時間をとってもユーザにストレスがかからないし、構造体900に故障がないことを確認してからレーザ光源を点灯することで運転者の安全性を確保することができる。
また、可動装置13が独自に電源を持っている場合は、駐車中や夜間の定時に検知を行うなど定期的に故障の有無を判定できる。この判定は、故障有無判定部としての判定回路によって行うことができる。
故障があった場合は、別の表示パネルでアラートを出して運転者に知らせること、リモートの保守サービス拠点に通信して故障を知らせるなどの対応を行なうことが考えられる。
電流検出のための印加信号(故障検知用信号)は、例えば正弦波の3V(実効電圧又はピーク電圧)、周波数を掃引する際の周波数分解能は例えば1Hzである。
デバイス固有の共振周波数(カンチレバーの共振周波数)の設計値が17.56kHzのとき、例えば17.46〜17.66kHzの周波数範囲(設計値±100Hz)で印加信号を掃引する。
印加電圧、周波数分解能、周波数掃引範囲はデバイス固有の特徴によるので、適切な数値を任意に設定する。
電流検出回路はRMSコンバータを用いるか、波形を読み取りピーク値を検出できるようにする。
電流値は主に圧電体の静電容量に依存するので、電流検出回路を設計する際に参考にできる。
電気特性の変動特性を学習して市場データを蓄積することにより、故障前に故障を予知する取り組みを構築することも可能である。
以上説明したように、MEMSスキャナとしての可動装置13は、反射面14を有するミラー部101と、該ミラー部101に接続されたトーションバーと、該トーションバーに自由端が接続されたカンチレバーと、該カンチレバーに設けられた圧電体と、カンチレバーの固定端を支持する第1支持部120と、を備え、反射面14に入射された光を偏向する光偏向器である。
可動装置13では、カンチレバー上の圧電体が変位することでカンチレバーが振動し、この振動がトーションバーを介してミラー部に伝達されることで、ミラー部が往復回転(振動)する。
カンチレバーの振動の周波数がミラー部の共振周波数に一致したとき、ミラー部の回転角が最大になり、エネルギー効率的にもっとも優位にミラー部の回転角が得られる。そこで、実使用ではミラー部の共振周波数が圧電体に印加される駆動信号の周波数として用いられることが多い。
一方、カンチレバーはミラー部とは異なる帯域に共振周波数を持ち、圧電体への印加信号の周波数が該カンチレバーの共振周波数に一致したとき、圧電体の変位は最大になる。
ところで、圧電体は誘電体であり、変位をして形状が変われば結晶構造や内部ひずみ量の変化から電気的特性が変化する。
また、誘電体である圧電体が上下を2枚の極板(金属電極)ではさまれた構造は平行板コンデンサであり、静電容量∝(極板面積/極板間距離)であることが知られており、変位が大きくなれば極板間距離が長くなり静電容量が小さくなるため平行板コンデンサから放出される電流値が小さくなる。すなわち、圧電体の変位が最大のとき、該圧電体に流れる電流値が極小(最小)となる。
すなわち、デバイスに何ら故障が生じていなければ、カンチレバーの振動の周波数が該カンチレバーの共振周波数に一致したとき、すなわち圧電体への印加信号の周波数がカンチレバーの共振周波数に一致したときに圧電体に流れる電流値が極小(最小)となる。
カンチレバーやトーションバーが折れて形状が変わったり、クラックが入るなどして剛性が変化するなどしてデバイスに故障が生じた場合、カンチレバーの共振周波数が変化するため、デバイス固有の共振周波数での上記特徴的な挙動が起こらない。
そこで、カンチレバーの共振周波数±(数十〜数百Hz)の周波数範囲で周波数を変えながら電圧を印加し、周波数毎の電流検知を行い、電流値が上記周波数範囲で極小値をとらなかった場合、デバイスが故障していることがわかる。
以上説明した本実施形態の光偏向装置2000は、反射面14を有するミラー部101と、該ミラー部101に接続されたトーションバーと、該トーションバーに接続されたカンチレバーとを含む構造体900と、該カンチレバーに設けられた圧電部220(圧電体)と、構造体900の故障を検知する故障検知装置1000と、を備え、該故障検知装置1000は、圧電部220に周期的に変化する電圧を印加する、該電圧(印加信号)の周波数を可変な信号発生器1100(印加手段)と、印加電圧の周波数変化に対する圧電部220に流れる電流の変化を検出する電流検出回路1200(検出手段)と、を含む。なお、「周期的に変化する電圧」としては、例えば正弦波、矩形波、鋸波、台形波、三角波等の電圧を用いることができる。
この場合、電流検出回路1200の出力に基づいて構造体900の故障の有無を判定できる。
すなわち、装置の機械的構造部(構造体900)の故障を検知することができる。
また、故障検知装置1000は、圧電部220に流れる電流の変化に基づいて構造体900の故障の有無を判定する故障有無判定部1300(判定手段)を更に含むことが好ましい。
また、信号発生器1100は、印加信号の周波数をカンチレバーの共振周波数を含む所定の周波数範囲で変化させることが好ましい。
この場合、光偏向装置2000の使用環境の変化によって変動するカンチレバーの共振周波数の変動領域をカバーすることができる。
さらに、信号発生器1100は、印加信号の周波数を変化させるとき上記周波数範囲を周波数掃引することが好ましい。
この場合、周波数掃引に対する連続的な電流値変動により、機械特性の変化を確実に検知できる。
なお、信号発生器1100は、上記周波数範囲を周波数掃引せずに、例えば上記周波数範囲において所定の周波数間隔で周波数を変化させながら電圧を印加しても良い。この場合、少なくともカンチレバーの共振周波数の設計値の電圧を印加することが好ましい。
また、故障有無判定部1300は、圧電部220に流れる電流の変化がカンチレバーの上記周波数範囲で極小値をとらないときに構造体900に故障有りと判定することが好ましい。
また、ミラー部101とトーションバーとカンチレバーは、一体成形されていることが好ましい。
この場合、ミラー部101とトーションバーとカンチレバーのいずれに故障が生じた場合でも、カンチレバーの機械的特性(特に共振特性)にダイレクトに変化が生じるため、その変化を捉えることで、故障を簡単に検知できる。
また、構造体900は、カンチレバーを支持する支持部120を更に含んでいても良い。支持部120に故障が生じた場合にも、カンチレバーの機械的特性(特に共振特性)が変化するため、支持部120を故障検知対象に加えることも可能である。
また、構造体900をトーションバーの軸に直交する軸周りに駆動する、第2駆動部130a、130bを含む駆動系を更に備えることが好ましい。
また、本実施形態の故障検知方法は、反射面を有するミラー部101と、該ミラー部101に接続されたトーションバーと、該トーションバーに接続され圧電部220(圧電体)が設けられたカンチレバーとを含む構造体900の故障を検知する故障検知方法であって、圧電部220に周期的に変化する電圧(印加電圧)を、周波数を変化させながら印加する工程と、印加電圧の周波数変化に対する圧電部220に流れる電流の変化を検出する工程と、を含む。
この場合、検出する工程での検出結果に基づいて構造体900の故障の有無を判定できる。
すなわち、装置の機械的構造部(構造体900)の故障を検知することができる。
また、本実施形態の故障検知方法は、圧電部220に流れる電流の変化に基づいて構造体900の故障の有無を判定する工程を更に含むことが好ましい。
また、本実施形態の光走査装置(例えば光書込装置600)は、光により対象物を走査する光走査装置であって、光源装置12と、該光源装置12からの光を偏向する可動装置13と、を備えている。
また、本実施形態の画像形成装置としてのレーザプリンタ650は、感光体ドラム(像担持体)と、該感光体ドラムの表面である被走査面15を光により走査する光書込装置600と、を備えている。
なお、上記光書込装置600は、感光体ドラムを複数備えるカラープリンタやカラー複写機等の画像形成装置にも適用可能である。このようなカラー対応の画像形成装置には、例えば複数の感光体ドラムに対応して複数の可動装置13を設けても良い。
また、本実施形態の画像投影装置としてのヘッドアップディスプレイ装置500は、光源装置12及び可動装置13を含む光走査装置からの光が照射され画像が形成される中間スクリーン510と、該中間スクリーン510を介した画像を形成する光を投射する投射ミラー511(光学系)と、を備えている。
また、本実施形態の物体認識装置(レーザレーダ装置)は、光源装置12及び可動装置13を有する光走査装置を含む投光系と、該投光系から投光され被対象物702(物体)で反射もしくは散乱された光を受光する受光系と、を備えている。
また、本実施形態の画像投影装置及び物体認識装置の少なくとも一方と、該少なくとも一方が搭載される移動体と、を備える移動体装置を実現することもできる。
以上、本発明の実施形態について説明したが、上述した実施形態は本発明の一適用例を示したものである。本発明は、上述した実施形態そのままに限定されるものではなく、実施段階ではその要旨を逸脱しない範囲で様々な変形や変更を加えて具体化することができる。
例えば、光源装置12及び可動装置13を含む光走査装置からの光を熱可逆記録媒体(例えばリライタブルラベル)に照射することにより該熱可逆記録媒体を光走査して画像の記録及び消去の少なくとも一方を行っても良い。
このような画像の記録や消去を行う装置は、熱可逆記録媒体を対象物とする画像書換装置や画像記録装置や画像消去装置として用いることができる。
この場合、熱可逆記録媒体に対して安定して精度良く画像の記録や消去を行うことができる。
また、光源装置12及び可動装置13を含む光走査装置からの光を眼底に照射することにより該眼底を光走査し、該眼底で反射もしくは散乱された光を解析手段で解析しても良い。
このように眼底に光(例えば弱い赤外線)を照射し戻ってきた光を解析することで、網膜の断層を描き出すことができる。このような装置は「光干渉断層計」と呼ばれ、加齢黄斑変性症や黄斑浮腫、黄斑円孔の診断や、緑内障における視神経繊維の状態を調べる際に用いられる。
また、上記実施形態では、光偏向器としての可動装置13は図12に示されるように、トーションバー111a、111bから+X方向に向かって第1圧電駆動部112a、112bが延びる片持ちタイプの可動装置を用いているが、電圧印加された圧電部を可動させる構成であれば、これに限られない。例えば図22に示すように、トーションバー211a、211bから+X方向に向かって延びる駆動部241a、241bおよび−X方向に向かって延びる駆動部241c、241dを有する両持ちタイプの可動装置を用いてもよい。また、図23に示すように、ミラー部101、第1駆動部110a、110b、支持部120によって1軸方向のみに反射面14を可動させる構成の可動装置を用いても良い。
また、ミラー部101は、ミラー部基体102の−Z側の面にミラー部補強用のリブが形成されていてもよい。リブは、例えば、シリコン支持層171および酸化シリコン層172から構成され、可動によって生じる反射面14の歪みを抑制することができる。
以下に、発明者が上記実施形態を発案するに至った思考プロセスを説明する。
例えば、車載ヘッドアップディスプレイ(以下HUD)は交通情報や目的地までの経路などの画像をフロントガラス方向に表示しドライバの運転を支援する装置である。作像において、レーザースキャナ方式は色再現性が他方式より優れ、次世代のHUD採用が期待されている。この方式では、反射ミラーを持つ二次元MEMSスキャナがRGB三色のLD光を走査し画像を作像する。
前述のMEMSスキャナが故障し動作を停止した場合、MEMSスキャナは入射したレーザ光を静止したミラーで反射して出光してしまう可能性がある。レーザ光は照射面積が小さい上、100mW程度の強度を持つのでユーザーに直接到達すると人体へ悪影響を及ぼす危険性がある。
そこで、MEMSスキャナが停止した際の安全手段として、故障を検知した場合にレーザ光を遮光する装置が作動するなどの構成が考えられ既に知られている。
二軸のスキャナでは長軸方向の走査機構と短軸方向の走査機構が異なる場合があり、それぞれ故障のモードが異なることがある。故障をモニタする手段は電流検知(配線のオープンショート)があるが、配線と関係ない部位の故障である構造材の折れ(例えばミラー部を支持するトーションバー等の折れ)は検知できないという問題があった。
また、特許文献1(特開2011−095104号公報)には、加速度センサに用いられる静電容量式センサについて通常使用する駆動信号ではない故障検知用の診断信号を印加して構成が開示されている。
しかし、特許文献1では、構造材の折れなどの機械的な故障を検知することはできなかった。
そこで、発明者は、配線の電流検知(オープンショート)で判定できないMEMSスキャナの故障モードである構造材の折れ等の破損を検出することを目的として、上記実施形態を発案した。
12…光源装置、13…可動装置(光偏向装置の一部)、101…ミラー部、111a、111b…トーションバー、120…第1支持部(支持部)、130a、130b…第2駆動部(駆動系)、220…圧電部(圧電体)、500…ヘッドアップディスプレイ装置(画像投射装置)、600…光書込装置、650…レーザプリンタ(画像形成装置)、700…レーザレーダ装置(物体認識装置)、900…構造体、1000…故障検知装置、1100…信号発生器(印加手段)、1200…電流検出回路(検出手段)、1300…故障有無判定部(判定手段)、2000…光偏向装置。
特開2011−095104号公報

Claims (16)

  1. 反射面を有するミラー部と、該ミラー部に接続されたトーションバーと、該トーションバーに接続された弾性部とを含む構造体と、
    前記弾性部に設けられ、上部電極、下部電極及び圧電部を有する圧電体と、
    前記構造体の故障を検知する故障検知装置と、
    少なくとも前記圧電体に所定の電圧を印加し、前記ミラー部を可動させる駆動信号出力部と、を備え、
    前記故障検知装置は、
    前記圧電体に周期的に変化する電圧を印加する、該電圧の周波数を可変な印加手段と、
    前記電圧の周波数変化に対する前記圧電体に流れる電流の変化を検出する検出手段と、を含む光偏向装置。
  2. 前記故障検知装置は、前記電流の変化に基づいて前記構造体の故障の有無を判定する判定手段を更に含むことを特徴とする請求項1に記載の光偏向装置。
  3. 前記印加手段は、前記電圧の周波数を前記弾性部の共振周波数を含む所定の周波数範囲で変化させることを特徴とする請求項2に記載の光偏向装置。
  4. 前記印加手段は、前記電圧の周波数を変化させるとき前記周波数範囲を周波数掃引することを特徴とする請求項3に記載の光偏向装置。
  5. 前記判定手段は、前記電流の変化が前記周波数範囲で極小値をとらないときに前記構造体に故障有りと判定することを特徴とする請求項3又は4に記載の光偏向装置。
  6. 前記ミラー部と前記トーションバーと前記弾性部は、一体成形されていることを特徴とする請求項1〜5のいずれか一項に記載の光偏向装置。
  7. 前記構造体は、前記弾性部を支持する支持部を更に含むことを特徴とする請求項1〜6のいずれか一項に記載の光偏向装置。
  8. 光により被走査面を走査する光走査装置であって、
    光源装置と、
    前記光源装置からの光を偏向する請求項1〜7のいずれか一項に記載の光偏向装置と、を備える光走査装置。
  9. 請求項8に記載の光走査装置と、
    前記光走査装置からの光が照射され画像が形成されるスクリーンと、
    前記スクリーンを介した画像を形成する光を投射する光学系と、を備える画像投影装置。
  10. 反射面を有するミラー部と、該ミラー部に接続されたトーションバーと、該トーションバーに接続され圧電体が設けられた弾性部とを含む構造体の故障を検知する故障検知方法であって、
    前記圧電体に周期的に変化する電圧を、周波数を変化させながら印加する工程と、
    前記電圧の周波数変化に対する前記圧電体に流れる電流の変化を検出する工程と、を含む故障検知方法。
  11. 光源装置と、
    前記光源装置からの光を偏向する請求項1〜7のいずれか一項に記載の光偏向装置と、を備える光書込装置
  12. 請求項11に記載の光書込装置を備える画像形成装置。
  13. 請求項8に記載の光走査装置と、
    前記光走査装置から照射され、物体で反射された光を検出する光検出器と、
    前記光検出器の検出結果に基づいて前記物体に関する情報を取得する情報取得手段と、を備える物体認識装置。
  14. 請求項9に記載の画像投影装置及び請求項13に記載の物体認識装置の少なくとも一方を備える移動体。
  15. 請求項9に記載の画像投影装置及び請求項13に記載の物体認識装置の少なくとも一方を備える非移動体。
  16. 請求項8に記載の光走査装置と、
    前記光走査装置から照射され、物体で反射もしくは散乱された光を解析し、前記物体の断層を描き出す解析手段と、を備える光干渉断層計。
JP2016126279A 2016-06-27 2016-06-27 光偏向装置、光走査装置、画像投影装置、故障検知方法、光書込装置、画像形成装置、物体認識装置、移動体、非移動体及び光干渉断層計 Active JP6761204B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2016126279A JP6761204B2 (ja) 2016-06-27 2016-06-27 光偏向装置、光走査装置、画像投影装置、故障検知方法、光書込装置、画像形成装置、物体認識装置、移動体、非移動体及び光干渉断層計

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2016126279A JP6761204B2 (ja) 2016-06-27 2016-06-27 光偏向装置、光走査装置、画像投影装置、故障検知方法、光書込装置、画像形成装置、物体認識装置、移動体、非移動体及び光干渉断層計

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2018004667A JP2018004667A (ja) 2018-01-11
JP6761204B2 true JP6761204B2 (ja) 2020-09-23

Family

ID=60948981

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2016126279A Active JP6761204B2 (ja) 2016-06-27 2016-06-27 光偏向装置、光走査装置、画像投影装置、故障検知方法、光書込装置、画像形成装置、物体認識装置、移動体、非移動体及び光干渉断層計

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP6761204B2 (ja)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP3531243B1 (en) * 2018-02-23 2021-12-29 Rohde & Schwarz GmbH & Co. KG Measurement instrument identification system as well as method for finding a particular measurement instrument
JP7247778B2 (ja) * 2019-06-20 2023-03-29 株式会社リコー 光偏向装置、レーザレーダ装置、及び画像形成装置

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004240249A (ja) * 2003-02-07 2004-08-26 Japan Aviation Electronics Industry Ltd 光スイッチ及び光スイッチの検査方法
JP6201528B2 (ja) * 2012-11-15 2017-09-27 株式会社リコー 光偏向装置、画像形成装置、ヘッドアップディスプレイ及び車両
WO2014094850A1 (en) * 2012-12-20 2014-06-26 Lemoptix Sa A mems device
US10103613B2 (en) * 2013-01-11 2018-10-16 Intel Corporation Mirror driving device
JP6175305B2 (ja) * 2013-08-01 2017-08-02 インテル・コーポレーション ミラー駆動装置
JP6332736B2 (ja) * 2014-02-25 2018-05-30 株式会社リコー 傾斜動作装置並びにこれを用いた光走査装置及び画像表示装置
JP6398599B2 (ja) * 2014-10-21 2018-10-03 株式会社リコー 光偏向装置、光走査装置、画像投影装置、及びヘッドアップディスプレイ

Also Published As

Publication number Publication date
JP2018004667A (ja) 2018-01-11

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US10429638B2 (en) Control unit, optical deflection system, image projection apparatus, and control method
US11750779B2 (en) Light deflector, optical scanning system, image projection device, image forming apparatus, and lidar device
JP6988062B2 (ja) 光偏向器、光走査装置、画像投影装置、画像形成装置、および移動体
JP7167500B2 (ja) 可動装置、画像投影装置、ヘッドアップディスプレイ、レーザヘッドランプ、ヘッドマウントディスプレイ、物体認識装置、及び車両
JP6926625B2 (ja) 圧電アクチュエータ、光偏向器及び画像投影装置
JP6915292B2 (ja) 制御装置、光偏向システム、画像投影装置、車両、移動体、非移動体、光書込装置、物体認識装置及び制御方法
US11644664B2 (en) Light deflector, optical scanning system, image projection device, image forming apparatus, and lidar device
JP2019159257A (ja) 光走査装置、画像投写装置及び移動体
JP6888354B2 (ja) 光走査システム、画像投影装置、物体認識装置
JP6761204B2 (ja) 光偏向装置、光走査装置、画像投影装置、故障検知方法、光書込装置、画像形成装置、物体認識装置、移動体、非移動体及び光干渉断層計
JP2022144257A (ja) 光偏向器、画像投影装置、ヘッドアップディスプレイ、レーザヘッドランプ、ヘッドマウントディスプレイ、距離測定装置、及び移動体
US20220299757A1 (en) Movable device, image projection apparatus, laser headlamp, head-mounted display, distance measurement device, and mobile object
JP2018155798A (ja) 光偏向器検査方法、光偏向器、および、画像投影装置
JP6834227B2 (ja) 光偏向器、画像表示装置、画像投影装置、光書き込み装置、物体認識装置、車両
JP2016206541A (ja) 光偏向装置、2次元画像表示装置、光走査装置及び画像形成装置
JP7172557B2 (ja) 光偏向装置、画像投影装置、レーザヘッドランプ及び移動体
JP7338403B2 (ja) 光偏向器、画像投影装置、ヘッドアップディスプレイ、レーザヘッドランプ、ヘッドマウントディスプレイ、物体認識装置、及び車両
JP6915315B2 (ja) 光偏向システムおよび故障判定方法
EP3264155B1 (en) Piezoelectric actuator, light deflector, and image projection device
JP2018005201A (ja) アクチュエータ装置、アクチュエータシステム
EP3805839B1 (en) Light deflector, deflecting device, distance-measuring apparatus, image projection device, and vehicle
JP7468173B2 (ja) 光偏向器、光走査システム、画像投影装置、画像形成装置、レーザレーダ
US20220155582A1 (en) Operating device, light deflector, light deflecting device, distance measurement apparatus, image projection apparatus, and mobile object
JP7263918B2 (ja) 光偏向装置、画像投影装置、車両、及び調整方法
JP7247553B2 (ja) 可動装置、画像投影装置、ヘッドアップディスプレイ、レーザヘッドランプ、ヘッドマウントディスプレイ、物体認識装置、及び車両

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20190508

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20200226

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20200302

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20200416

RD04 Notification of resignation of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424

Effective date: 20200701

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20200805

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20200818

R151 Written notification of patent or utility model registration

Ref document number: 6761204

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151