JP6748504B2 - Ｍｔｆ測定用チャート - Google Patents

Description

本発明は、撮像系の解像度の空間周波数特性を表すＭＴＦを測定するＭＴＦ測定装置で利用されるＭＴＦ測定用チャートに関する。

高解像度テレビジョンの最大の特徴は、高い空間解像度であり、カメラの解像度特性が重要となる。現行のハイビジョンカメラの解像度測定として、図１５に示すように、複数の空間周波数を有する矩形波が空間的に配置されたインメガサイクルチャートを用いる手法が知られている。

このインメガサイクルチャートを用いる手法では、波形モニタから矩形波の変調度の空間周波数特性を表すＣＴＦ（Contrast Transfer Function）を読み取る。インメガサイクルチャートを用いる手法は、波形モニタから目視で読み取れる手軽さはあるが、サンプリングの位相やカメラノイズの影響で波形の振幅が変動する。また、インメガサイクルチャートを用いる手法は、レンズ中央と周辺でカメラの解像度特性が異なるため、８００ＴＶＬ／ｐｈに相当するチャート中央における矩形波応答だけ測定することが多い。さらに、インメガサイクルチャートを用いる手法は、所望の空間周波数を得るために撮像画角を正確にチャートサイズにフレーミングする必要があるが、４Ｋ／８Ｋカメラでは広角レンズを使うことが多いので、サイズの大きいインメガチャートが必要になり、非現実的である。

そこで、インメガサイクルチャートに代わり、Slanted-edge法が提案されている（特許文献１，２、非特許文献１，２）。このSlanted-edge法は、チャートサイズが比較的小さくてフレーミングが不要な手法であり、僅かに傾いたエッジ画像を撮像して、そのエッジの広がりから、正弦波の変調度の空間周波数特性を表すＭＴＦ（Modulation Transfer Function）を算出している。

まず、Slanted-edge法では、チャートを撮像したチャート画像からエッジを含む長方形の関心領域（ＲＯＩ：Region Of Interest、図１６）を選択する。次に、Slanted-edge法では、図１７（ａ）に示すように、ＩＳＯ１２２３３に準拠したアルゴリズム（非特許文献２）、又は、より精度の高いアルゴリズム（特許文献１、非特許文献１）を用いて、関心領域からエッジを検出する。次に、Slanted-edge法では、図１７（ｂ）に示すように、関心領域の各画素を、エッジ傾きθ_ｅに沿って、サブピクセルで等間隔に区分した水平軸に投影する。そして、Slanted-edge法では、図１８に示すように、それぞれの区分けに投影された複数の画素の画素値の平均値を求め、オーバーサンプリング（ＩＳＯ１２２３３の場合、４倍オーバーサンプリング）されたエッジ広がり関数を求める。さらに、Slanted-edge法では、エッジ広がり関数を微分することで線広がり関数を算出し、線広がり関数を離散フーリエ変換して絶対値を求めることで、ＤＣ成分からサンプリング周波数を超える帯域のＭＴＦを求める。ＭＴＦ測定結果の一例を図１９に示す。

カメラの画素構造や画像処理により解像度特性の異方性が考えられる場合、多方向のＭＴＦ測定が必要になる。そこで、図２０に示すようにスターバーストチャートを用いて、多方向のＭＴＦを測定する（特許文献２）。このスターバーストチャートは、チャート中心から、コントラストの異なる色の領域が放射状に形成されたチャートである。例えば、図２０のスターバーストチャートは、エッジ（直線境界）が偶数個であり、コントラストの異なる領域が等分割角になっている。各関心領域は、図２１（ａ）に示すように、所定の角度だけ回転して、垂直方向からわずかに傾いたエッジを有する。そして、図２１（ｂ）に示すように、関心領域の各画素を水平軸に投影し、オーバーサンプリングされたエッジ広がり関数を得て、ＩＳＯ１２２３３の手法と同様にＭＴＦを求める。等分割角が３０°のスターバーストチャートを用いたときのＭＴＦ測定結果（レーダチャート）の一例を図２２に示す。

特開２０１５−９４７０１号公報 特開２０１０−２３７１７７号公報（特許第５１９３１１３号公報）

K. Masaoka et al., "Modified slanted-edge method and multidirectional modulation transfer function estimation", Optics Express, 22(5), 2014 ISO 12233:2000, "Photography−Electronic Still-picture Cameras−Resolution Measurements"

しかし、従来のスターバーストチャート（以下、従来技術）は、図２０に示すように、エッジがチャート中心で点対称になるので、同一方向でＭＴＦを重複測定することになる。例えば、従来技術では、９０°のエッジをチャート中心の先まで延長すると、２７０°のエッジに重なるので、これら２本のエッジで同一方向のＭＴＦを測定することになる。その結果、従来技術は、測定方向数が半分しか得られないという問題がある。

言い換えるなら、従来技術は、所望の測定方向数に対してエッジ数が２倍になるので、放射状の領域も２倍必要になる。その結果、従来技術は、ＲＯＩの横幅が狭くなり、レンズの性能が低いためにエッジがぼやける場合、良好なＭＴＦを測定できない。図２０のスターバーストチャートは、２４本のエッジを有するにも関わらず、１２方向しかＭＴＦを測定できず、ＲＯＩの横幅も狭くなる。

そこで、本発明は、ＲＯＩの横幅が広く、ＭＴＦの測定方向が多いＭＴＦ測定用チャートを提供することを課題とする。

前記した課題に鑑みて、本発明に係るＭＴＦ測定用チャートは、撮像系の解像度の空間周波数特性を表すＭＴＦを測定するＭＴＦ測定装置で利用されるＭＴＦ測定用チャートであって、チャート面の所定位置を中心とし、当該中心から伸びる境界同士で前記チャート面を区分した放射領域を有し、全ての前記放射領域が等分割角であり、前記境界で隣接する放射領域ごとにコントラストの異なる色を配色すると共に、予め設定した測定除外角度の境界で隣接する放射領域をコントラストが同じ色で配色し、前記測定除外角度の境界を含めて、前記境界の数が３以上の奇数である構成とした。

かかる構成によれば、ＭＴＦ測定用チャートは、測定除外角度の境界で隣接する放射領域を除き、他の放射領域の境界でコントラスト差によりエッジを形成する。また、ＭＴＦ測定用チャートは、ＭＴＦを測定できない角度（測定除外角度）の境界で隣接する放射領域を同色としたので、その境界でコントラスト差を生じることがなく、測定除外角度でエッジを形成することがない。さらに、ＭＴＦ測定用チャートは、全てのエッジがチャート中心で点対称にならない。これにより、ＭＴＦ測定用チャートは、同一方向でＭＴＦを重複測定することがないので、ＭＴＦの測定方向を多くすると共に、ＲＯＩの横幅を広くすることができる。

本発明によれば、以下のような優れた効果を奏する。
本発明に係るＭＴＦ測定用チャートは、全てのエッジがチャート中心で点対称にならないので、同一方向でＭＴＦを重複測定することがなく、ＭＴＦの測定方向を多くすることができる。さらに、本発明に係るＭＴＦ測定用チャートは、放射領域を狭くする必要がないので、ＲＯＩの横幅を広くし、良好なＭＴＦを測定することができる。

本発明の第１実施形態に係るＭＴＦ測定用チャートのパターン図である。 図１のＭＴＦ測定用チャートの傾斜角を説明する説明図である。 図１のＭＴＦ測定用チャートにおいて、測定除外角度を説明する説明図である。 図１のＭＴＦ測定用チャートの測定方向を説明する説明図である。 本発明の第２実施形態に係るＭＴＦ測定装置の構成を示すブロック図である。 第２実施形態において、チャート画像でＲＯＩを特定する手法を説明する説明図である。 図５のＭＴＦ測定装置の動作を示すフローチャートである。 本発明の変形例１に係るＭＴＦ測定用チャートのパターン図である。 本発明の変形例２において、（ａ）はＭＴＦ測定用チャートのパターン図であり、（ｂ）は測定除外角度を説明する説明図である。 本発明の変形例３において、（ａ）はＭＴＦ測定用チャートのパターン図であり、（ｂ）は測定除外角度を説明する説明図である。 本発明の変形例４において、（ａ）はＭＴＦ測定用チャートのパターン図であり、（ｂ）は測定除外角度を説明する説明図である。 本発明の変形例５において、（ａ）はＭＴＦ測定用チャートのパターン図であり、（ｂ）は測定除外角度を説明する説明図である。 本発明の変形例６において、（ａ）はＭＴＦ測定用チャートのパターン図であり、（ｂ）は測定除外角度を説明する説明図である。 本発明の変形例７において、（ａ）はＭＴＦ測定用チャートのパターン図であり、（ｂ）は測定除外角度を説明する説明図である。 従来のインメガサイクルチャートを説明する説明図である。 従来のSlanted-edge法におけるＲＯＩを説明する説明図である。 従来のSlanted-edge法において、（ａ）はエッジの検出を説明する説明図であり、（ｂ）はエッジプロファイルの生成を説明する説明図である。 従来のSlanted-edge法におけるＭＴＦの測定を説明する説明図である。 従来のSlanted-edge法においるＭＴＦの測定結果を示すグラフである。 従来の多方向のＭＴＦ測定用チャートのパターン図である。 従来の多方向のＭＴＦ測定用チャートを用いた場合において、（ａ）はＲＯＩの回転を説明する説明図であり、（ｂ）はエッジプロファイルの生成を説明する説明図である。 従来の多方向のＭＴＦ測定用チャートを用いた場合において、ＭＴＦの測定結果を表すレーダチャートである。

本発明の各実施形態について、適宜図面を参照しながら詳細に説明する。なお、各実施形態において、同一の部材には同一の符号を付し、説明を省略した。
まず、第１実施形態として、ＭＴＦ測定用チャートについて説明する。次に、第２実施形態として、このＭＴＦ測定用チャートを用いたＭＴＦ測定装置について説明する。

（第１実施形態）
［ＭＴＦ測定用チャート］
図１を参照し、本発明の第１実施形態に係るＭＴＦ測定用チャートＣＨについて説明する。
ＭＴＦ測定用チャートＣＨは、ＭＴＦを測定するＭＴＦ測定装置１で利用される（図５参照）。つまり、撮像系２がＭＴＦ測定用チャートＣＨを撮像し、その撮像画像（チャート画像）を用いて、ＭＴＦ測定装置１がＭＴＦを測定する。

＜ＭＴＦ測定用チャートのパターン＞
最初に、ＭＴＦ測定用チャートＣＨのパターンについて説明する。
図１に示すように、ＭＴＦ測定用チャートＣＨは、チャート面の所定位置を中心位置Ｏとし、この中心位置Ｏから伸びる境界同士でチャート面を区分したＮ個の放射領域Ｂを有する。また、ＭＴＦ測定用チャートＣＨは、全ての放射領域Ｂが等分割角θとなる。そして、ＭＴＦ測定用チャートＣＨは、境界で隣接する放射領域Ｂにコントラストの異なる色を配色すると共に、後記する測定除外角度の境界で隣接する放射領域Ｂをコントラストが同じ色で配色している。さらに、ＭＴＦ測定用チャートＣＨは、測定除外角度の境界を含めて、境界の数が３以上の奇数である。

本実施形態では、ＭＴＦ測定用チャートＣＨは、正方形状のチャート面に、１５個の放射領域Ｂ_１〜Ｂ_１５を有する（Ｎ＝１５）。従って、全ての放射領域Ｂの等分割角θは、３６０／Ｎ＝２４°となる。この等分割角θとは、隣接する境界同士のなす角のことである。例えば、等分割角θは、放射領域Ｂ_１，Ｂ_２の境界と、放射領域Ｂ_２，Ｂ_３の境界とのなす角である。図１では、放射領域Ｂ_３の等分割角θのみを図示したが、他の放射領域Ｂも同一の等分割角θとなる。

放射領域Ｂは、チャート面の矩形内側の端に達しない大きさとしたので、中心位置Ｏを頂点とした二等辺三角形状になる。また、放射領域Ｂは、その領域内を白色又は黒色の何れかで配色する。また、放射領域Ｂ_１３，Ｂ_１４を同色（白色）で配色したので、外観上、放射領域Ｂ_１３，Ｂ_１４が１個の放射領域Ｂに見えるが、放射領域Ｂ_１３，Ｂ_１４は別の領域である。なお、隣接する放射領域Ｂ_１３，Ｂ_１４を同色で配色する理由は後記する。

ＭＴＦ測定用チャートＣＨは、同色の放射領域Ｂが隣接しないように、各放射領域Ｂを白色又は黒色で配色する。具体的には、放射領域Ｂ_１，Ｂ_３，Ｂ_５，Ｂ_７，Ｂ_９，Ｂ_１１，Ｂ_１３，Ｂ_１４を白色とする。また、放射領域Ｂ_２，Ｂ_４，Ｂ_６，Ｂ_８，Ｂ_１０，Ｂ_１２，Ｂ_１５を黒色とする。従って、ＭＴＦ測定用チャートＣＨは、放射領域Ｂ_１〜Ｂ_１２で白色及び黒色が交互に表れ、白色の放射領域Ｂ_１３，Ｂ_１４を挟み、黒色の放射領域Ｂ_１５が表れる。

ＭＴＦ測定用チャートＣＨは、測定除外角度の境界（白色の放射領域Ｂ_１３，Ｂ_１４の境界）を含め、放射領域Ｂと同数の境界を有する。つまり、ＭＴＦ測定用チャートＣＨは、放射領域Ｂ_１５，Ｂ_１の境界、放射領域Ｂ_１，Ｂ_２の境界、…、放射領域Ｂ_１３，Ｂ_１４の境界、放射領域Ｂ_１４，Ｂ_１５の境界というように、１５本の境界を有する。各境界は、直線状であり、中心位置Ｏから放射状に伸びている。

ＭＴＦ測定用チャートＣＨは、白色の放射領域Ｂ_１３，Ｂ_１４の境界でコントラスト差が生じないので、放射領域Ｂ_１３，Ｂ_１４の境界にエッジが形成されない。一方、ＭＴＦ測定用チャートＣＨは、放射領域Ｂ_１３，Ｂ_１４以外の境界では、コントラスト差が生じるので、エッジが形成される。その結果、ＭＴＦ測定用チャートＣＨは、境界より１本少ない、１４本のエッジを有する。

Slanted-edge法では、多様な位相を測定できるように、傾斜角φが予め設定されている。そして、Slanted-edge法では、ＭＴＦを測定する際、ＭＴＦ測定用チャートＣＨを傾斜角φだけ傾斜させる。ここで、ＭＴＦ測定用チャートＣＨの境界を水平方向又は垂直方向に設け、このＭＴＦ測定用チャートＣＨを傾斜角φだけ回転させて壁面に添付することや、撮像系２を傾斜角φだけ回転させて配置することが考えられる。しかし、ＭＴＦを測定する際、ＭＴＦ測定用チャートＣＨ又は撮像系２を正確に回転させるのは困難、かつ、手間を要する。そこで、本実施形態では、ＭＴＦ測定用チャートＣＨのパターン自体を傾斜させている。

この傾斜角φは、以下の式（１）で求められ、ＭＴＦ測定上、数度（例えば、２°以上５°以下）であればよい。式（１）より、放射領域Ｂが９個以上２１個以下の奇数であれば、傾斜角φが２°以上５°以下になる。
φ＝９０／２Ｎ …式（１）

放射領域Ｂが９個のときに傾斜角φが５°となり、放射領域Ｂが１５個のときに傾斜角φが３°となる。一方、放射領域Ｂが１１個以上２１個以下であって、１５個を除いた奇数個の場合、傾斜角φが整数にならない。さらに、放射領域Ｂの数を多くする程、ＭＴＦの測定方向を多くできる一方、ＲＯＩの横幅が狭くなる。本実施形態では、これらの理由により、放射領域Ｂを１５個とする。

図２に示すように、ＭＴＦ測定用チャートＣＨは、傾斜前に垂直方向又は水平方向の境界（例えば、放射領域Ｂ_１５，Ｂ_１）を基準として、時計回りに、傾斜角φだけ傾斜させる。その結果、ＭＴＦ測定用チャートＣＨは、水平方向に対して、放射領域Ｂ_１１，Ｂ_１２の境界も傾斜角φだけ傾斜する。つまり、ＭＴＦ測定用チャートＣＨは、式（１）で求めた傾斜角φだけパターン自体が傾斜しているので、垂直方向及び水平方向に傾斜角φだけ傾斜したエッジが形成され、垂直方向及び水平方向のＭＴＦが測定可能となる。
なお、傾斜角φとは、垂直方向と、基準になる境界とのなす角のことである。

なお、図２では、説明を容易にするため、放射領域Ｂ_１，Ｂ_１２のみを図示し、チャート面の枠及び放射領域Ｂの配色を省略した。また、図２では、水平方向及び垂直方向の軸線を一点鎖線で図示したが、ＭＴＦ測定用チャートＣＨに軸線を描く必要はない。

＜隣接する放射領域を同色に配色する理由＞
以下、隣接する放射領域Ｂ_１３，Ｂ_１４を同色に配色する理由について説明する。
図３に示すように、ＭＴＦ測定用チャートＣＨは、各境界が、各放射領域Ｂの等分割角θに傾斜角φを加えた方向になる。具体的には、ＭＴＦ測定用チャートＣＨは、垂直方向を基準に時計回りで、３°、２７°，５１°，７５°，…，３１５°，３３９°の方向に１５本の境界が伸びている。

Slanted-edge法では、エッジの方向が、４５°、１３５°、２２５°及び３１５°の測定除外角度に一致する場合、そのエッジからＭＴＦを測定できない。しかし、ＭＴＦ測定用チャートＣＨは、等分割角θに傾斜角φを加えた方向に各境界を設けると、必ず、４５°、１３５°、２２５°又は３１５°の方向に１本のエッジが形成されてしまう。

そこで、ＭＴＦ測定用チャートＣＨは、この測定除外角度の境界で隣接する放射領域Ｂをコントラストが同じ色で配色した。図３の例では、ＭＴＦ測定用チャートＣＨは、３１５°の境界で隣接する放射領域Ｂ_１３，Ｂ_１４を白色で配色した。これにより、ＭＴＦ測定用チャートＣＨは、これら放射領域Ｂ_１３，Ｂ_１４の境界でコントラスト差を生じないので、測定除外角度でエッジを形成しない。

なお、図３では、説明を容易にするため、放射領域Ｂの配色を省略し、放射領域Ｂ_１３，Ｂ_１４の境界にエッジＤが形成されないことを示すため一点鎖線で図示した。また、ＭＴＦ測定用チャートＣＨにエッジＤを描く必要はない。

以上より、ＭＴＦ測定用チャートＣＨのパターンを構成することができる。その結果、図４に示すように、ＭＴＦ測定用チャートＣＨは、全てのエッジが中心位置Ｏで点対称にならない。例えば、放射領域Ｂ_１５，Ｂ_１の境界が形成するエッジを中心位置Ｏから延長すると、その延長線Ｅ_１は、放射領域Ｂ_８の中央を通る。また、放射領域Ｂ_１，Ｂ_２の境界が形成するエッジを中心位置Ｏから延長すると、その延長線Ｅ_２は、放射領域Ｂ_９の中央を通る。さらに、放射領域Ｂ_８，Ｂ_９の境界が形成するエッジを中心位置Ｏから延長すると、その延長線Ｅ_３は、放射領域Ｂ_１の中央を通る。

このように、ＭＴＦ測定用チャートＣＨは、各エッジを中心位置Ｏから先に延長しても、他のエッジに重なることがない。さらに、ＭＴＦ測定用チャートＣＨは、各エッジで測定したＭＴＦを、中心位置Ｏの１８０°反対側の測定結果として扱うことで、ＭＴＦの測定方向をより多くできる。

なお、図４では、エッジの延長線を破線（延長線Ｅ_１〜Ｅ_３は太破線）で図示し、放射領域Ｂの配色及び一部符号を省略した。また、ＭＴＦ測定用チャートＣＨにエッジの延長線を描く必要はない。

＜ＭＴＦ測定用チャートの製造方法＞
次に、ＭＴＦ測定用チャートＣＨの製造方法の一例について説明する。
ＭＴＦ測定用チャートＣＨは、正方形状のチャート部材に図１のパターンを配色することで、製造可能である。このチャート部材は、特に制限されないが、例えば、紙、フィルム、ガラス又は金属である。

チャート部材が紙又はフィルムの場合、図１のパターンをチャート部材に印刷し、ＭＴＦ測定用チャートＣＨを製造できる。
また、チャート部材がガラス又は金属の場合、図１のパターンをチャート部材に塗装すればよい。このように、チャート部材をガラス又は金属とすることで、ＭＴＦ測定時にＭＴＦ測定用チャートＣＨが撓みにくくなる。

［作用・効果］
以上のように、本発明の第１実施形態に係るＭＴＦ測定用チャートＣＨは、全てのエッジが中心位置Ｏで点対称にならないので、ＭＴＦの測定方向を多くすることができる。
さらに、ＭＴＦ測定用チャートＣＨは、垂直方向に対して、パターン自体が傾斜しているので、ＭＴＦ測定用チャートＣＨ及び撮像系２を回転させて配置する必要がなく、ＭＴＦを簡易に測定することができる。
さらに、ＭＴＦ測定用チャートＣＨは、従来技術のように所望の測定方向数に対して放射領域Ｂを２倍設ける必要がないので、ＲＯＩの横幅を広くすることができる。

（第２実施形態）
［ＭＴＦ測定装置の構成］
以下、図５を参照して、本発明の第２実施形態に係るＭＴＦ測定装置１の構成について説明する。このＭＴＦ測定装置１は、ＭＴＦ測定用チャートＣＨを用いて、ＭＴＦを測定するものである。すなわち、ＭＴＦ測定装置１は、ＭＴＦ測定用チャートＣＨを撮像した画像でＭＴＦを測定する際、各等分割角で区分されたコントラストの異なる放射領域に跨ったＲＯＩにおいて、その等分割角の方向に応じた空間周波数特性を測定する。よって、空間周波数特性を測定したい方向に応じて、適宜、どのＭＴＦ測定用チャートＣＨを用いるかを決めればよい。第２実施形態では、図１のＭＴＦ測定用チャートＣＨを用いることとする。

図５に示すように、ＭＴＦ測定装置１は、チャート画像記憶手段１０と、画像位置特定手段１１と、画像抽出手段１２と、演算手段１３と、グラフ生成手段１４とを備える。ここでは、ＭＴＦ測定装置１は、被測定対象の撮像系（レンズ、カメラ等）２と、ＭＴＦ測定装置１を操作するユーザインタフェースを提供する表示装置３とを接続しているものとする。

チャート画像記憶手段１０は、被測定対象の撮像系（レンズ、カメラ等）２で、図１のＭＴＦ測定用チャートＣＨを撮像した画像（チャート画像）を記憶するものであって、ハードディスク等の一般的な記憶装置である。

画像位置特定手段１１は、ＭＴＦ測定用チャートＣＨを撮像したチャート画像から、ＭＴＦ測定を行うＲＯＩの画像の位置を特定するものである。ここでは、画像位置特定手段１１は、チャート中心取得手段１１１と、基準ＲＯＩ領域情報取得手段１１２と、相対位置判定手段１１３と、角度別ＲＯＩ領域特定手段１１４と、を備える。

チャート中心取得手段１１１は、チャート画像記憶手段１０に記憶されているチャート画像において、放射線状の境界の中心位置Ｏ（図６）を取得するものである。このチャート中心取得手段１１１は、表示装置３にチャート画像を表示し、例えば、タッチペン３１等のポインティングデバイス（入力手段）によって、操作者がチャート画像の中心を指定することで、チャート画像の中心位置Ｏを取得する。なお、このチャート中心取得手段１１１は、チャート画像において、エッジ検出により等分割角θで区分された放射領域Ｂの境界である複数の直線を抽出し、この直線の交点によって中心位置Ｏを求めることとしてもよい。

ここで、チャート中心取得手段１１１は、中心位置Ｏを設定された場合、当該中心位置Ｏがチャート画像の中心座標（０，０）となるように、座標系を設定し、チャート画像の各画素の座標をシフトすることとする。なお、チャート画像の中心座標が既知の場合には、他のチャート画像を入力するときの座標を、その中心が中心座標（０，０）になるように入力することで、次のチャート画像の中心位置Ｏの取得を省略することもできる。
このチャート中心取得手段１１１は、取得した中心位置Ｏを相対位置判定手段１１３及び角度別ＲＯＩ領域特定手段１１４に出力する。

基準ＲＯＩ領域情報取得手段１１２は、チャート画像において、水平方向又は垂直方向のコントラストが異なる放射領域Ｂに跨った矩形領域を指定されることで、測定基準となる基準ＲＯＩの領域を示す領域情報を取得するものである。この基準ＲＯＩ領域情報取得手段１１２は、表示装置３に表示されたチャート画像で、例えば、タッチペン３１等のポインティングデバイスによって、操作者が矩形領域を指定することで、基準ＲＯＩの位置及び大きさを領域情報として取得する。

例えば、図６に示すように、チャート画像ＩＭＧ_ＣＨにおいて、放射領域Ｂ_１５，Ｂ_１が隣接している垂直境界付近で、かつ、中心位置Ｏよりも上側の領域Ｒ_１を基準ＲＯＩとして指定する。この他、放射領域Ｂ_１１，Ｂ_１２が隣接している水平境界付近で、かつ、中心位置Ｏよりも左側の領域Ｒ_１２を基準ＲＯＩとして指定してもよい。
この基準ＲＯＩ領域情報取得手段１１２は、基準ＲＯＩの領域情報（座標値）を、相対位置判定手段１１３に出力する。

相対位置判定手段１１３は、基準ＲＯＩ領域情報取得手段１１２で取得した基準ＲＯＩの領域情報と、チャート中心取得手段１１１で取得した中心位置Ｏとに基づいて、基準ＲＯＩの中心位置に対する相対位置を判定するものである。すなわち、相対位置判定手段１１３は、基準ＲＯＩが、中心位置Ｏに対して、どの方向（上下左右）に存在する画像であるのかを判定する。この相対位置判定手段１１３は、判定結果を角度別ＲＯＩ領域特定手段１１４に出力する。

角度別ＲＯＩ領域特定手段１１４は、チャート画像の中心位置Ｏを中心として、チャート画像を区分する放射領域Ｂの中心角である予め定めた等分割角θごとに、基準ＲＯＩを回転した角度別ＲＯＩを特定するものである。
この角度別ＲＯＩ領域特定手段１１４は、相対位置判定手段１１３で判定した相対位置に基づいて、角度別ＲＯＩの位置と回転方向（及びその角度）を特定する。

例えば、図６に示すように、チャート画像ＩＭＧ_ＣＨで基準ＲＯＩ（Ｒ_１）が選択された場合を考える。この場合、角度別ＲＯＩ領域特定手段１１４は、基準ＲＯＩ（Ｒ_１）を、中心位置Ｏを基準として、時計回りに、各放射領域Ｂの等分割角２４°，４８°，７２°，…，３３６°だけ回転した位置で角度別ＲＯＩ（Ｒ_２，Ｒ_３，…，Ｒ_１４）を特定する。このとき、角度別ＲＯＩ領域特定手段１１４は、測定除外角度で角度別ＲＯＩを特定しない。この角度別ＲＯＩは、基準ＲＯＩを回転したものであるため、方向の違いはあるが、基準ＲＯＩと同じ大きさである。

このように、角度別ＲＯＩ領域特定手段１１４は、基準ＲＯＩの領域をチャート画像の放射領域Ｂの等分割角θで回転させて角度別ＲＯＩの領域を特定するため、各角度別ＲＯＩは、その領域内にコントラストが異なるエッジが含まれていることになる。
なお、角度別ＲＯＩ領域特定手段１１４は、特定した角度別ＲＯＩ（基準ＲＯＩを含む）の領域情報（座標値）を画像抽出手段１２に出力する。

画像抽出手段１２は、画像位置特定手段１１で特定された各角度別のＲＯＩの画像を、チャート画像から抽出するものである。ここでは、画像抽出手段１２は、ＲＯＩ抽出手段１２１と、ＲＯＩ回転手段１２２と、を備える。

ＲＯＩ抽出手段１２１は、画像位置特定手段１１で特定された各角度別ＲＯＩ（基準ＲＯＩを含む）の画像を、チャート画像記憶手段１０から抽出して読み出すものである。ＲＯＩ抽出手段１２１は、抽出した画像（角度別ＲＯＩ）を図示を省略したメモリに記憶し、ＲＯＩ回転手段１２２に通知する。

ＲＯＩ回転手段１２２は、ＲＯＩ抽出手段１２１で抽出した角度別ＲＯＩを、中心位置を基準に、基準ＲＯＩからの回転角に応じて座標変換を行うことで、当該基準ＲＯＩの位置に相当する位置に回転させた回転角度別ＲＯＩを生成するものである。
このＲＯＩ回転手段１２２は、各角度別ＲＯＩの画素値の座標値（なお、この座標系は任意でよい）を、極座標系に変換し、回転角に応じて回転させた後、デカルト座標系（ｘｙ座標値）に変換することで、各角度別ＲＯＩの回転後の座標と対応する画素値を求めることができる。

以上説明したように、画像抽出手段１２は、チャート画像から、基準ＲＯＩとともに、等分割角ごとの角度別ＲＯＩを基準ＲＯＩと同一の向き、略同一形状となる回転角度別ＲＯＩとして抽出することができる。この各方向のＲＯＩ（角度別ＲＯＩ、回転角度別ＲＯＩ）は、画素構造（の傾き）は異なるが、略同じエッジ画像となる。また、各ＲＯＩのエッジは、撮像系２のひずみがなく、中心位置Ｏが正しく選択されていれば、同じ傾き角度となる。

演算手段１３は、ＲＯＩ（基準ＲＯＩ、回転角度別ＲＯＩ）から、ＭＴＦを演算するものである。ここでは、演算手段１３は、エッジプロファイル生成手段１３１と、トリミング手段１３２と、ＭＴＦ算出手段１３３と、を備える。

エッジプロファイル生成手段１３１は、各ＲＯＩのエッジ傾きを検出し、当該エッジの向きに応じたエッジプロファイルを生成するものである。例えば、エッジプロファイル生成手段１３１は、チャート画像における水平方向及び垂直方向の軸を２軸とする座標系（ｘｙ座標系）において、ＲＯＩ（基準ＲＯＩ、回転角度別ＲＯＩ）のｘｙ座標値とその画素値とからエッジ傾きを求める。このエッジ傾きは、正規累積密度関数等によるフィッティングにより求めることができる。また、このフィッティングは、エッジ傾きを求めるためだけに行うだけで、画像に完全にフィッティングさせる必要はない。

そして、エッジプロファイル生成手段１３１は、基準ＲＯＩが垂直方向にエッジを含んだ画像である場合（すなわち、図６のＲ_１を基準ＲＯＩとした場合）、ＲＯＩ（基準ＲＯＩ、回転角度別ＲＯＩ）ごとに、エッジ傾きに沿って画素値を水平方向の軸（ｘ軸）に投影し、平均化することでエッジプロファイルを生成する。なお、平均化する軸のビンのサイズは、画素よりも小さいサイズを用いることとする。例えば、１画素の１／４の幅をビンのサイズとする。そして、エッジプロファイル生成手段１３１は、生成した回転角ごとのＲＯＩのエッジプロファイルをトリミング手段１３２に出力する。

ここで、基準ＲＯＩ（Ｒ_１）の場合、エッジプロファイル生成手段１３１は、基準ＲＯＩ内でエッジｅを検出し、そのエッジ傾きθｅに沿って、基準ＲＯＩの各画素値をｘ軸に投影し、ｘ座標のビンごとに画素値を平均化する（図１７参照）。

一方、基準ＲＯＩ以外（つまり、角度別ＲＯＩ）の場合、ＲＯＩ回転手段１２２が、角度別ＲＯＩを基準ＲＯＩ相当の位置に回転させることで、回転角度別ＲＯＩを予め生成している。従って、エッジプロファイル生成手段１３１は、回転角度別ＲＯＩ内でエッジｅを検出し、そのエッジ傾きθｅに沿って、回転角度別ＲＯＩの各画素値をｘ軸に投影し、ｘ座標のビンごとに入った画素値の平均を得る（図２１参照）。
これによって、エッジプロファイル生成手段１３１は、水平方向、垂直方向以外にも、任意の等分割角に対応した方向のエッジに対して、エッジプロファイルを生成することができる。

トリミング手段１３２は、エッジプロファイル生成手段１３１で生成した各ＲＯＩのエッジプロファイルの長さが同じになるように、最短のエッジプロファイルを基準として、各エッジプロファイルをトリミングするものである。例えば、最短のエッジプロファイルの長さ以下で８の倍数の最大値をｍとすると、それより長いエッジプロファイルについては、ｍ画素分を超過する両端のエッジプロファイルを削除し、同一の長さのエッジプロファイルを生成する。これによって、全てのＲＯＩについて、ＭＴＦを算出するためのエッジプロファイル長が同一となり、後記するＭＴＦ算出手段１３３において撮像系２のナイキスト周波数を含み、同一の空間周波数ステップ幅でＭＴＦが算出されることになる。

ＭＴＦ算出手段１３３は、回転角度別ＲＯＩ及び基準ＲＯＩごとに、ＭＴＦを算出するものである。このＭＴＦ算出手段１３３は、一般的なSlanted-edge法を用いて、エッジプロファイルから、ＭＴＦを算出する。すなわち、ＭＴＦ算出手段１３３は、ＲＯＩごとに、エッジプロファイルを順次微分することで線広がり関数（ＬＳＦ）を求めた後、離散フーリエ変換を行うことでＭＴＦを求める。

これによって、ＭＴＦ算出手段１３３は、図６のＲＯＩ（Ｒ_１〜Ｒ_１４）において、Ｒ_１については水平周波数成分、Ｒ_１２については垂直周波数成分、それ以外のＲＯＩについては、それぞれの方向に対応したＭＴＦを得ることができる。なお、ＭＴＦ算出手段１３３は、算出したＭＴＦをグラフ生成手段１４に出力する。

以上説明したように、演算手段１３は、画像抽出手段１２によってチャート画像より抽出された測定対象画像から、予め定めたチャート画像の放射領域Ｂにおける境界の方向に応じて、任意の方向のＭＴＦを算出することができる。

グラフ生成手段１４は、ＭＴＦ算出手段１３３で算出したＭＴＦをグラフ化するものである。このグラフ生成手段１４は、例えば、横軸に周波数、縦軸にＭＴＦをとった座標上にＭＴＦ算出手段１３３で算出したＭＴＦをプロットする。

また、グラフ生成手段１４は、チャート画像の放射領域Ｂと同じ等分割角θごと（例えば、２４°，４８°，…，３６０°）の放射状の軸上に、ＭＴＦ算出手段１３３で算出したＭＴＦの値をプロットし、軸上にプロットした点を連結することでレーダチャートを生成してもよい。
このグラフ生成手段１４で生成されたグラフは、例えば、表示装置３に出力され、操作者が撮像系２のＭＴＦの解析結果を視認することができる。

このように、ＭＴＦ測定装置１は、ＭＴＦ測定用チャートＣＨを撮像したチャート画像から、チャート画像の等分割角に応じた方向のＭＴＦを測定することができる。また、ＭＴＦ測定装置１は、角度別ＲＯＩを基準ＲＯＩ相当の画像に回転して処理するため、正確に斜め方向のＭＴＦを測定することができる。

［ＭＴＦ測定装置の動作］
次に、図７を参照して、ＭＴＦ測定装置１の動作について説明する（適宜図５参照）。
まず、ＭＴＦ測定装置１は、撮像系２によって、ＭＴＦ測定用チャートＣＨを撮像し、撮像したチャート画像をチャート画像記憶手段１０に記憶する（ステップＳ１）。
そして、ＭＴＦ測定装置１は、画像位置特定手段１１のチャート中心取得手段１１１によって、表示装置３上にチャート画像を表示し、操作者によって中心位置を指定されることで、チャート画像の中心位置を取得する（ステップＳ２）。

さらに、ＭＴＦ測定装置１は、画像位置特定手段１１の基準ＲＯＩ領域情報取得手段１１２によって、表示装置３上に表示されたチャート画像において、操作者によって領域を指定されることで、基準ＲＯＩの領域情報（位置及び大きさ）を取得する（ステップＳ３）。なお、このステップＳ２，Ｓ３の動作は、その順序を入れ替えて行ってもよい。

そして、ＭＴＦ測定装置１は、相対位置判定手段１１３によって、ステップＳ２で取得したチャート画像の中心位置と、ステップＳ３で取得した基準ＲＯＩの領域情報とに基づいて、基準ＲＯＩの位置がチャート画像の中心位置に対して上、下、左又は右の何れの位置（相対位置）を指定されたのか判定する（ステップＳ４）。

そして、ＭＴＦ測定装置１は、角度別ＲＯＩ領域特定手段１１４によって、ステップＳ４で判定した相対位置に基づいて、ステップＳ２で取得した中心位置を中心として、チャート画像を区分する放射領域Ｂの中心角である予め定めた等分割角θごとに、基準ＲＯＩを回転した角度別ＲＯＩを特定する。このとき、角度別ＲＯＩ領域特定手段１１４は、測定除外角度で角度別ＲＯＩを特定しない（ステップＳ５）。

その後、ＭＴＦ測定装置１は、画像抽出手段１２のＲＯＩ抽出手段１２１によって、ステップＳ５で特定された角度別ＲＯＩ（基準ＲＯＩを含む）の画像を、チャート画像記憶手段１０に記憶されているチャート画像から抽出して読み出す（ステップＳ６）。

また、ＭＴＦ測定装置１は、画像抽出手段１２のＲＯＩ回転手段１２２によって、ステップＳ６で読み出した角度別ＲＯＩを、中心位置を基準に、基準ＲＯＩからの回転角に応じて、当該基準ＲＯＩの位置に相当する位置に回転させた回転角度別ＲＯＩを生成する（ステップＳ７）。

そして、ＭＴＦ測定装置１は、演算手段１３のエッジプロファイル生成手段１３１によって、各ＲＯＩのエッジ傾きに応じて、水平又は垂直の軸にＲＯＩの画素値を投影することで、エッジプロファイルを生成する（ステップＳ８）。

さらに、ＭＴＦ測定装置１は、演算手段１３のトリミング手段１３２によって、各ＲＯＩのエッジプロファイルの長さが同じになるように、最短のエッジプロファイルを基準として、各エッジプロファイルをトリミングする（ステップＳ９）。

その後、ＭＴＦ測定装置１は、演算手段１３のＭＴＦ算出手段１３３によって、ステップＳ９でトリミングされた各ＲＯＩのエッジプロファイルについて、線広がり関数（ＬＳＦ）を求めた後、離散フーリエ変換を行うことでＭＴＦを算出する（ステップＳ１０）。
そして、ＭＴＦ測定装置１は、グラフ生成手段１４によって、ステップＳ１０で算出したＭＴＦをプロットしたグラフを生成し、表示装置３に出力する（ステップＳ１１）。

以上の動作により、ＭＴＦ測定装置１は、ＭＴＦ測定用チャートＣＨを撮像したチャート画像から、等分割角の方向のＭＴＦを一度に測定することができる。

以上、本発明の各実施形態を詳述してきたが、本発明は前記した実施形態に限られるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲の設計変更等も含まれる。
例えば、ＭＴＦ測定用チャートＣＨは、白色及び黒色を逆に配色してもよい。

前記した実施形態では、図２に示すように、ＭＴＦ測定用チャートＣＨを時計回りに傾斜させることとして説明したが、本発明は、これに限定されない。つまり、ＭＴＦ測定用チャートＣＨは、傾斜角φを負値にして、反時計回りに傾斜角φだけ傾斜させてもよい。

前記した実施形態では、図１に示すように、放射領域Ｂがチャート面の端に達しないこととして説明したが、本発明は、これに限定されない。図８に示すように、ＭＴＦ測定用チャートＣＨ_２は、放射領域Ｂがチャート面の端に達してもよい（変形例１）。

前記した実施形態では、図１に示すように、放射領域Ｂが１５個であることとして説明したが、本発明は、これに限定されない。つまり、ＭＴＦ測定用チャートＣＨは、放射領域Ｂが３個以上の奇数であればよく、放射領域Ｂの数を多くする程、異なる方向にエッジが形成されるため、ＭＴＦの測定方向を多くすることができる。一方、ＭＴＦ測定用チャートＣＨは、放射領域Ｂの数を多くする程、各放射領域Ｂが狭くなるため、ＲＯＩを中心位置Ｏから離す必要がある。以下、異なる数の放射領域Ｂを有する変形例２〜７について、具体的に説明する。

（変形例２）
図９(ａ)に示すように、ＭＴＦ測定用チャートＣＨ_３は、９個の放射領域Ｂ（Ｂ_１〜Ｂ_９）を有するので、等分割角θが４０°になり、傾斜角φが５°になる。また、ＭＴＦ測定用チャートＣＨ_３は、測定除外角度（例えば、４５°）の境界で隣接する放射領域Ｂ_１，Ｂ_２を白色に配色する。つまり、放射領域Ｂ_１，Ｂ_２の境界には、エッジＤが形成されない。従って、ＭＴＦ測定用チャートＣＨ_３は、白色の放射領域Ｂ_１，Ｂ_２を有し、放射領域Ｂ_３〜Ｂ_９で黒色及び白色が交互に表れる。さらに、図９(ｂ)に示すように、ＭＴＦ測定用チャートＣＨ_３は、傾斜前に垂直方向の境界（放射領域Ｂ_９，Ｂ_１）を基準として、傾斜角φだけ傾斜させる。

なお、図９（ｂ）では、垂直方向及び水平方向に対して、傾斜角φだけ傾斜した境界を太線で図示した。また、ＭＴＦ測定用チャートＣＨ_３は、図８と同様、放射領域Ｂがチャート面の端に達してもよい。これらの点、後記する変形例３〜７も同様である。

（変形例３）
図１０(ａ)に示すように、ＭＴＦ測定用チャートＣＨ_４は、１１個の放射領域Ｂ（Ｂ_１〜Ｂ_１１）を有するので、等分割角θが約３２．７３°になり、傾斜角φが約４．０９°になる（有効数字は小数点２桁）。また、ＭＴＦ測定用チャートＣＨ_４は、測定除外角度（例えば、１３５°）の境界で隣接する放射領域Ｂ_４，Ｂ_５を黒色に配色する。つまり、放射領域Ｂ_４，Ｂ_５の境界には、エッジＤが形成されない。従って、ＭＴＦ測定用チャートＣＨ_４は、放射領域Ｂ_１〜Ｂ_３で白色及び黒色が交互に表れ、黒色の放射領域Ｂ_４，Ｂ_５を挟み、放射領域Ｂ_６〜Ｂ_１１で白色及び黒色が交互に表れる。さらに、図１０(ｂ)に示すように、ＭＴＦ測定用チャートＣＨ_４は、傾斜前に垂直方向の境界（放射領域Ｂ_１１，Ｂ_１）を基準として、傾斜角φだけ傾斜させる。

（変形例４）
図１１(ａ)に示すように、ＭＴＦ測定用チャートＣＨ_５は、１３個の放射領域Ｂ（Ｂ_１〜Ｂ_１３）を有するので、等分割角θが約２６．６９°になり、傾斜角φが約３．４６°になる（有効数字は小数点２桁）。また、ＭＴＦ測定用チャートＣＨ_５は、測定除外角度（例えば、２２５°）の境界で隣接する放射領域Ｂ_８，Ｂ_９を黒色に配色する。つまり、放射領域Ｂ_８，Ｂ_９の境界には、エッジＤが形成されない。従って、ＭＴＦ測定用チャートＣＨ_５は、放射領域Ｂ_１〜Ｂ_７で白色及び黒色が交互に表れ、黒色の放射領域Ｂ_８，Ｂ_９を挟み、放射領域Ｂ_１０〜Ｂ_１３で白色及び黒色が交互に表れる。さらに、図１１(ｂ)に示すように、ＭＴＦ測定用チャートＣＨ_５は、傾斜前に垂直方向の境界（放射領域Ｂ_１３，Ｂ_１）を基準として、傾斜角φだけ傾斜させる。

（変形例５）
図１２(ａ)に示すように、ＭＴＦ測定用チャートＣＨ_６は、１７個の放射領域Ｂ（Ｂ_１〜Ｂ_１７）を有するので、等分割角θが約２１．１８°になり、傾斜角φが約２．６５°になる（有効数字は小数点２桁）。また、ＭＴＦ測定用チャートＣＨ_６は、測定除外角度（例えば、４５°）の境界で隣接する放射領域Ｂ_２，Ｂ_３を黒色に配色する。つまり、放射領域Ｂ_２，Ｂ_３の境界には、エッジＤが形成されない。従って、ＭＴＦ測定用チャートＣＨ_６は、白色の放射領域Ｂ_１が表れ、黒色の放射領域Ｂ_２，Ｂ_３を挟み、放射領域Ｂ_４〜Ｂ_１７で白色及び黒色が交互に表れる。さらに、図１２(ｂ)に示すように、ＭＴＦ測定用チャートＣＨ_６は、傾斜前に垂直方向の境界（放射領域Ｂ_１７，Ｂ_１）を基準として、傾斜角φだけ傾斜させる。

（変形例６）
図１３(ａ)に示すように、ＭＴＦ測定用チャートＣＨ_７は、１９個の放射領域Ｂ（Ｂ_１〜Ｂ_１９）を有するので、等分割角θが約１８．９５°になり、傾斜角φが約２．３７°になる（有効数字は小数点２桁）。また、ＭＴＦ測定用チャートＣＨ_７は、測定除外角度（例えば、１３５°）の境界で隣接する放射領域Ｂ_７，Ｂ_８を白色に配色する。つまり、放射領域Ｂ_７，Ｂ_８の境界には、エッジＤが形成されない。従って、ＭＴＦ測定用チャートＣＨ_７は、放射領域Ｂ_１〜Ｂ_６で白色及び黒色が交互に表れ、白色の放射領域Ｂ_７，Ｂ_８を挟み、放射領域Ｂ_９〜Ｂ_１９で黒色及び白色が交互に表れる。さらに、図１３(ｂ)に示すように、ＭＴＦ測定用チャートＣＨ_７は、傾斜前に垂直方向の境界（放射領域Ｂ_１９，Ｂ_１）を基準として、傾斜角φだけ傾斜させる。

（変形例７）
図１４(ａ)に示すように、ＭＴＦ測定用チャートＣＨ_８は、２１個の放射領域Ｂ（Ｂ_１〜Ｂ_２１）を有するので、等分割角θが約１７．１４°になり、傾斜角φが約２．１４°になる（有効数字は小数点２桁）。また、ＭＴＦ測定用チャートＣＨ_８は、測定除外角度（例えば、２２５°）の境界で隣接する放射領域Ｂ_１３，Ｂ_１４を白色に配色する。つまり、放射領域Ｂ_１３，Ｂ_１４の境界には、エッジＤが形成されない。従って、ＭＴＦ測定用チャートＣＨ_８は、放射領域Ｂ_１〜Ｂ_１２で白色及び黒色が交互に表れ、白色の放射領域Ｂ_１３，Ｂ_１４を挟み、放射領域Ｂ_１５〜Ｂ_２１で黒色及び白色が交互に表れる。さらに、図１４(ｂ)に示すように、ＭＴＦ測定用チャートＣＨ_８は、傾斜前に垂直方向の境界（放射領域Ｂ_２１，Ｂ_１）を基準として、傾斜角φだけ傾斜させる。

ＣＨ，ＣＨ_２〜ＣＨ_８ ＭＴＦ測定用チャート
Ｂ，Ｂ_１〜Ｂ_２１ 放射領域
１ ＭＴＦ測定装置
１０ チャート画像記憶手段
１１ 画像位置特定手段
１２ 画像抽出手段
１３ 演算手段
１４ グラフ生成手段
１１１ チャート中心取得手段
１１２ 基準ＲＯＩ領域情報取得手段
１１３ 相対位置判定手段
１１４ 角度別ＲＯＩ領域特定手段
１２１ ＲＯＩ抽出手段
１２２ ＲＯＩ回転手段
１３１ エッジプロファイル生成手段
１３２ トリミング手段
１３３ ＭＴＦ算出手段

Claims (6)

1. 撮像系の解像度の空間周波数特性を表すＭＴＦを測定するＭＴＦ測定装置で利用されるＭＴＦ測定用チャートであって、
   チャート面の所定位置を中心とし、当該中心から伸びる境界同士で前記チャート面を区分した放射領域を有し、全ての前記放射領域が等分割角であり、
   前記境界で隣接する放射領域ごとにコントラストの異なる色を配色すると共に、予め設定した測定除外角度の境界で隣接する放射領域をコントラストが同じ色で配色し、
   前記測定除外角度の境界を含めて、前記境界の数が３以上の奇数であることを特徴とするＭＴＦ測定用チャート。
2. 前記測定除外角度は、４５°、１３５°、２２５°及び３１５°であることを特徴とする請求項１に記載のＭＴＦ測定用チャート。
3. 水平方向及び垂直方向に対して、前記境界が所定の傾斜角だけ傾斜していることを特徴とする請求項１又は請求項２に記載のＭＴＦ測定用チャート。
4. 前記傾斜角は、２度以上５度以下であることを特徴とする請求項３に記載のＭＴＦ測定用チャート。
5. 前記放射領域は、１５個であることを特徴とする請求項４に記載のＭＴＦ測定用チャート。
6. 前記放射領域に、白色又は黒色を配色したことを特徴とする請求項１から請求項５の何れか一項に記載のＭＴＦ測定用チャート。