JP6747895B2

JP6747895B2 - 光ファイバ評価治具及び光ファイバ評価方法

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Publication number: JP6747895B2
Application number: JP2016136769A
Authority: JP
Inventors: 千尋鬼頭; 央高橋; 邦弘戸毛; 真鍋　哲也; 哲也真鍋
Original assignee: Nippon Telegraph and Telephone Corp
Current assignee: Nippon Telegraph and Telephone Corp
Priority date: 2016-07-11
Filing date: 2016-07-11
Publication date: 2020-08-26
Anticipated expiration: 2036-07-11
Also published as: JP2018009799A

Description

本開示は、複数の光線路の特性を一括して評価する評価治具とその評価方法に関する。

光ファイバの生産現場では、一般に出荷前に全数検査の工程があり、全数検査では、ＯｐｔｉｃａｌＴｉｍｅＤｏｍａｉｎＲｅｆｌｅｃｔｏｍｅｔｅｒ（ＯＴＤＲ）等の光線路特性解析装置を用いて損失試験が行われている。また、近年、空間多重型光ファイバ技術の研究が盛んになされており、一心に複数のコアを有するマルチコア光ファイバの市場展開が期待されている。

ＨｉｒｏｓｈｉＴａｋａｈａｓｈｉ，ＦｕｍｉｈｉｋｏＩｔｏ，ＣｈｉｈｉｒｏＫｉｔｏ，ａｎｄＫｕｎｉｈｉｒｏＴｏｇｅ，"Ｉｎｄｉｖｉｄｕａｌｌｏｓｓｄｉｓｔｒｉｂｕｔｉｏｎｍｅａｓｕｒｅｍｅｎｔｉｎ３２−ｂｒａｎｃｈｅｄＰＯＮｕｓｉｎｇｐｕｌｓｅｄｐｕｍｐ−ｐｒｏｂｅＢｒｉｌｌｏｕｉｎａｎａｌｙｓｉｓ"，Ｏｐｔ．Ｅｘｐｒｅｓｓ２１，６７３９−６７４８（２０１３）鬼頭千尋、高橋央、戸毛邦弘、真鍋哲也、伊藤文彦、"断線故障モニタリングに対する遠端反射ブリルアン解析法の適用性"、信学技報、ＯＦＴ２０１４−４０（２０１４）ＨｉｒｏｓｈｉＴＡＫＡＨＡＳＨＩ，ＣｈｉｈｉｒｏＫＩＴＯ，ＫｕｎｉｈｉｒｏＴＯＧＥａｎｄＴｅｔｓｕｙａＭＡＮＡＢＥ，"ＣｅｎｔｒａｌｉｚｅｄＭｅａｓｕｒｅｍｅｎｔｏｆＡｃｔｕａｌＳｐｌｉｃｅＬｏｓｓｆｏｒＩｎｓｔａｌｌｅｄＯｐｔｉｃａｌＦｉｂｅｒＣａｂｌｅＮｅｔｗｏｒｋｓＵｓｉｎｇＥｎｄ−ｒｅｆｌｅｃｔｉｏｎ−ａｓｓｉｓｔｅｄＢｒｉｌｌｏｕｉｎＡｎａｌｙｓｉｓ"，Ｐｒｏｃｅｅｄｉｎｇｓｏｆｔｈｅ６３ｒｄＩＷＣＳＣｏｎｆｅｒｅｎｃｅ，８７−９１（２０１４）

光ファイバ心線の生産現場では、一心ずつＯＴＤＲに接続して全数検査するため、損失評価に時間がかかり、光ファイバ心線の生産コストを増加させる一因となっている。よって、一心あたりの検査時間の短縮、または検査作業員による検査稼働の軽減が求められる。また、マルチコア光ファイバが一般市場に流通した場合には、現在の単心光ファイバの検査工程に倣い、各コアの損失試験を実施した上で出荷することが考えられ、コア数が増加する分だけ検査コストが増大することが予想されるため、やはり全コア検査の検査稼働を軽減する必要がある。

本発明は、上記事情によりなされたもので、光線路特性解析装置に複数の光ファイバ又はマルチコア光ファイバを接続し、一括して検査可能な光ファイバ評価治具及びその評価方法を提供することを目的とする。

上記目的を達成するために、本発明は、光スプリッタを用いて光線路特性解析装置に複数の光ファイバ又はマルチコア光ファイバを接続し、これらの光ファイバからの戻り光が重畳しないように光スプリッタから各光ファイバまでの光路長を調整することとした。

具体的には、本発明に係る第１の光ファイバ評価治具は、
一端に被試験光ファイバのコアがそれぞれ接続されるＮ本（Ｎは２以上の整数）の分波側ピグテールと、
光線路特性解析装置が接続される１つの合波側ポートとＮ本の前記分波側ピグテールの他端がそれぞれ接続されるＮ個の分岐側ポートを有し、前記合波側ポートからの光を分岐して前記分岐側ポートの前記分波側ピグテールへ結合し、前記分波側ピグテールから前記分岐側ポートに結合された光を合波して前記合波側ポートへ出力する１×Ｎ光スプリッタと、
を備え、
Ｎ本の前記分波側ピグテールの任意の２つの往復光路長の差は、前記光線路特性解析装置が受光する前記被試験光ファイバからの戻り光のパルス幅の空間的な広がりより大きいことを特徴とする。

第１の光ファイバ評価治具を用いる第１の光ファイバ評価方法は、第１の光ファイバ評価治具の前記１×Ｎ光スプリッタの前記合波側ポートに光線路特性解析装置を接続し、
Ｎ本の前記分波側ピグテールの前記一端をそれぞれ被試験光ファイバのコアに接続し、
前記光線路特性解析装置から前記１×Ｎ光スプリッタの前記合波側ポートに光パルスを入射する
ことを特徴とする。

なお、評価対象がマルチコア光ファイバである場合、Ｎ本の前記分波側ピグテールは、前記一端にマルチコア光ファイバ用接続デバイスを有することを特徴とする。

第１の光ファイバ評価治具及び第１の光ファイバ評価方法は、長さが近接する光ファイバあるいはマルチコア光ファイバを評価する場合に使用する。各ピグテールの長さの差を上記のように設定することで光線路特性解析装置から各光ファイバ又は各コアへ入射した試験光の戻り光は光スプリッタで合波されても重畳しない。このため、光線路特性解析装置は、それぞれの光ファイバ又はそれぞれのコアからの戻り光を別個に受信することができ、一括評価が可能となる。

従って、本発明は、光線路特性解析装置に複数の光ファイバ又はマルチコア光ファイバを接続し、一括して検査可能な光ファイバ評価治具及びその評価方法を提供することができる。

ここで、Ｎ本の前記分波側ピグテールは、それぞれ識別されており、１番目からＮ番目へ向けて線長が順に長く又は短くなることが好ましい。このようにしておくことで、いずれの光ファイバからの戻り光あるいはマルチコア光ファイバのいずれのコアからの戻り光かを容易に識別できる。

本発明に係る第２の光ファイバ評価治具は、
一端に被試験光ファイバのコアがそれぞれ接続されるＮ本の分波側ピグテールと、
Ｎ本の前記分波側ピグテールのそれぞれに配置され、線長を任意に可変する線長差可変機構と、
光線路特性解析装置が接続される１つの合波側ポートとＮ本の前記分波側ピグテールの他端がそれぞれ接続されるＮ個の分岐側ポートを有し、前記合波側ポートからの光を分岐して前記分岐側ポートの前記分波側ピグテールへ結合し、前記分波側ピグテールから前記分岐側ポートに結合された光を合波して前記合波側ポートへ出力する１×Ｎ光スプリッタと、
を備える。

第２の光ファイバ評価治具を用いる第２の光ファイバ評価方法は、
第２の光ファイバ評価治具の前記１×Ｎ光スプリッタの前記合波側ポートに光線路特性解析装置を接続し、
Ｎ本の前記分波側ピグテールの前記一端をそれぞれ被試験光ファイバのコアに接続し、
前記線長差可変機構で、前記分波側ピグテールと該分波側ピグテールに接続する前記被試験光ファイバのコアからなる往復光路長の任意の２つの差を、前記光線路特性解析装置が受光する前記被試験光ファイバからの戻り光のパルス幅の空間的な広がりより大きく設定し、
前記光線路特性解析装置から前記１×Ｎ光スプリッタの前記合波側ポートに光パルスを入射する
ことを特徴とする。

第２の光ファイバ評価治具及び第２の光ファイバ評価方法は、長さが異なる光ファイバを評価する場合にも使用できる。各ピグテールには光路長を変更できる線長差可変機構が配置されており、当該線長差可変機構を用いて“ピグテール＋被試験光ファイバ”の往復の光路長差を上記のように設定することで光線路特性解析装置から各光ファイバ又は各コアへ入射した試験光の戻り光は光スプリッタで合波されても重畳しない。このため、光線路特性解析装置は、それぞれの光ファイバ又はそれぞれのコアからの戻り光を別個に受信することができ、一括評価が可能となる。

第１の光ファイバ評価方法も第２の光ファイバ評価方法も、前記被試験光ファイバの前記分波側ピグテールが接続された端と反対側の端に光を反射する反射端を設置することが好ましい。遠端反射ブリルアン解析時のダイナミックレンジを拡大することができる。

本発明は、光線路特性解析装置に複数の光ファイバ又はマルチコア光ファイバを接続し、一括して検査可能な光ファイバ評価治具及びその評価方法を提供することができる。

本発明に係る光ファイバ評価治具とそれを用いた光ファイバ評価方法を説明する図である。本発明に係る光ファイバ評価治具とそれを用いた光ファイバ評価方法を説明する図である。本発明に係る光ファイバ評価治具で光ファイバ評価方法を行う場合の要求条件を説明する図である。本発明に係る光ファイバ評価治具で光ファイバ評価方法を行う場合の要求条件を説明する図である。本発明に係る光ファイバ評価治具とそれを用いた光ファイバ評価方法を説明する図である。本発明に係る光ファイバ評価治具とそれを用いた光ファイバ評価方法を説明する図である。

添付の図面を参照して本発明の実施形態を説明する。以下に説明する実施形態は本発明の実施例であり、本発明は、以下の実施形態に制限されるものではない。なお、本明細書及び図面において符号が同じ構成要素は、相互に同一のものを示すものとする。

（実施形態１）
図１は、本実施形態の光ファイバ評価治具３０１（第１の光ファイバ評価治具）とそれを用いた光ファイバ評価方法を説明する図である。光ファイバ評価治具３０１は、
一端に被試験光ファイバ２００のコアがそれぞれ接続されるＮ本（Ｎは２以上の整数）の分波側ピグテール１２と、
光線路特性解析装置１００が接続される１つの合波側ポートとＮ本の分波側ピグテール１２の他端がそれぞれ接続されるＮ個の分岐側ポートを有し、前記合波側ポートからの光を分岐して前記分岐側ポートの分波側ピグテール１２へ結合し、分波側ピグテール１２から前記分岐側ポートに結合された光を合波して前記合波側ポートへ出力する１×Ｎ光スプリッタ１１と、
を備える。
光ファイバ評価治具３０１は、Ｎ本の分波側ピグテール１２の任意の２つの往復光路長の差が、光線路特性解析装置１００が受光する被試験光ファイバ２００からの戻り光のパルス幅の空間的な広がりより大きいことを特徴とする。

そして、光ファイバ評価治具３０１を用いた光ファイバの多心一括評価系は、光線路特性解析装置１００を１×Ｎ光スプリッタ１１の合波側ポートに接続し、分波側ピグテール１２の他端に接続端子１３を用いて被試験光ファイバ２００を接続する。分波側ピグテール１２は、予め線長差が設けてある。

具体的に説明する。被試験光ファイバ２００のそれぞれの長さが異なる場合、ｉ番目（ｉはＮ以下の自然数）の分波側ピグテール１２＃ｉに接続される被試験光ファイバ２００＃ｉの長さと分波側ピグテール１２＃ｉの長さの合計長とｊ番目（ｊはＮ以下の自然数かつｉ≠ｊ）分波側ピグテール１２＃ｊに接続される被試験光ファイバ２００＃ｊの長さと分波側ピグテール１２＃ｊの長さの合計長とが異なるようにそれぞれの分波側ピグテール１２の線長が設定される。なお、ピグテールとは光ファイバである。

また、被試験光ファイバ２００のそれぞれの長さが等しい場合、分波側ピグテール１２＃ｉの長さと分波側ピグテール１２＃ｊの長さとが異なるようにそれぞれの分波側ピグテール１２の線長が設定される。なお、Ｎ本の分波側ピグテール１２は、それぞれ識別されており、１番目からＮ番目へ向けて線長が順に長く又は短くなることが好ましい。具体的には、分波側ピグテール１２＃ｉの長さが分波側ピグテール１２＃ｉ＋１の長さよりも短く（または長く）なるように、順序良く分波側ピグテール長を設定する。このように設定すれば、光線路特性解析装置１００の評価結果と各被試験光ファイバ２００との対応付けが容易になる。本発明はテープ心線の一括評価にも応用できるため、テープ心線の心線番号と分波側ピグテールの心線番号の一致が容易であることが望ましい。

次に、分波側ピグテール１２の線長差をどのように決めるかを説明する。被試験光ファイバ２００のそれぞれの長さが異なる場合も被試験光ファイバ２００のそれぞれの長さが等しい場合も同じである。

本実施形態の光ファイバの多心一括評価系の要求条件は次の通りである。
〔要求条件〕
光線路特性解析装置で受信信号とするプローブ光のパルス幅の空間的な広がりＷ_ｐに対して、光スプリッタで分岐される任意の２つの往復光路長の差ΔＬの方が大きくなること。

要求条件を満たすように、本多心一括評価系に接続された複数の被試験光ファイバ２００の線長差を加味して、分波側ピグテール１２の長さを調整することで、例えば非特許文献１に開示される技術により、複数心線の光線路特性一括評価が可能となる。図３及び図４にて、上記の要求条件をさらに説明する。簡単のため、図３に示すように、Ｎ＝２且つ被試験光ファイバ２００の長さが等しい場合で説明する。

分波側ピグテール１２の長さの違いにより、２心線間の往復光路長差はΔＬとなる。また、光線路特性解析装置１００から発せられるプローブ光パルスの空間的な広がりはＷ_ｐである。この時、ΔＬとＷ_ｐの間に、上記要求条件（ΔＬ＞Ｗ_ｐ）が成り立つ場合、２つの被試験光ファイバ２００から戻る受光プローブパルスの空間的な位置関係は、図４のようになる。つまり、図４のように受光プローブパルスが重畳しなければ、プローブ光の戻り時間の差（位置の差）から受光プローブ信号と心線情報の対応付けが可能となる。たとえば非特許文献１に開示される技術を光線路特性解析装置１００として用いた場合、各被試験光ファイバ２００から戻ったプローブパルスのブリルアン利得解析により、被試験光ファイバ２００の損失情報が得られる。

続いて、光ファイバ評価治具３０１を用いた光ファイバ評価方法（第１の光ファイバ評価方法）を説明する。
当該光ファイバ評価方法は、光ファイバ評価治具３０１の１×Ｎ光スプリッタ１１の合波側ポートに光線路特性解析装置１００を接続し、Ｎ本の分波側ピグテール１２の一端をＮ本以下のそれぞれの被試験光ファイバ２００それぞれのコアに接続し、光線路特性解析装置１００から１×Ｎ光スプリッタ１１の合波側ポートに光パルスを入射することを特徴とする。

光線路特性解析装置１００は、例えば非特許文献１に開示される分岐構成の被試験光ファイバの損失試験法に特化した技術を用いることができる。非特許文献１の技術では、本発明の多心一括評価系に接続した非測定光ファイバの光損失分布、ブリルアン周波数シフト分布、接続損失、遠端の反射減衰量を一括評価可能である。

非特許文献１に開示される技術は、試験光にパルス光を用い、パルス光の往復時間の違いにより分岐下部の各心線からの受光パルス光を識別する。このため、本実施形態の光ファイバ多心一括評価系を用いて非特許文献１の技術にて光線路の特性の解析を行う場合には、上述の通り、分波側ピグテール１２の長さを違える又は分波側ピグテール１２と被試験光ファイバ２００との合計長に対して、パルス幅以上の往復光路長差を設ける必要がある。

また、光線路特性解析装置１００は、例えば非特許文献２に開示されるブリルアン解析を用いた断線故障モニタリングの技術を用いることができる。非特許文献２に開示される技術は被試験光ファイバ遠端で生じた反射試験光を利用することを前提とするため、本実施形態でも被試験光ファイバの遠端に光反射端１４を接続してもよい。

ここで、光反射端１４を接続する効果について、光線路特性解析装置１００に非特許文献２の技術を用いる場合を例に説明する。非特許文献２の技術では、反射率Ｒ［ｄＢ］を考慮すると、損失測定における片道のダイナミックレンジ（ＳＷＤＲ）は、（１）式で与えられる。

ここで、Ｐ_{ｐｒｏｂｅ}［ｄＢｍ］とＰ_ｐｕｍｐ［ｄＢｍ］はそれぞれ、ＦＵＴ（被試験光ファイバ）に入射するプローブ光とポンプ光のピークパワーを示す。また、βはブリルアン利得係数である。Ｐ_ｄは受光器の最少受光感度を示す。また、右辺の最終項はｎ回の平均化による効果を示す。

（１）式より、反射率の変化量［ｄＢ］に対し、片道のダイナミックレンジはその３分の１だけ劣化することがわかる。すなわち、たとえば、反射率１００％の全反射端を被試験光ファイバ遠端に接続した場合と、被試験光ファイバ遠端が鉛直にカットされ空気との界面でフレネル反射する場合（反射減衰量−１４ｄＢ）とを比較すると、全反射端を利用した方が、片道ダイナミックレンジが１４／３≒４．７ｄＢ向上することを意味している。

次に、本発明の効果を定量的に明らかにするため、非特許文献１の技術で本発明を実施した場合と、ＯＴＤＲで複数心線を順次測定する場合を比較する。前提として、両試験装置に出力光パワーの制約はなく、両試験法における非測定光ファイバ入射パワーの制約は等しく誘導ブリルアン散乱閾値によって決まるものとする。すなわち、本発明に用いる光スプリッタの分岐損失は考慮する必要がない。非特許文献３によると、非特許文献１の技術における分布測定点数Ｘが１００点、かつブリルアン相互作用発生時のプローブ光パワーが０ｄＢｍ以上の時、非特許文献１の技術はＯＴＤＲに比べて信号対雑音比（ＳＮＲ）が４０ｄＢ程度大きくなる。さらに、非特許文献１の技術では本発明を用いることにより、Ｎ心を一括測定可能である。Ｎ心一括測定可能であることを、ＳＮＲ向上効果に換算すると、１０ｌｏｇ_１０（√Ｎ）［ｄＢ］である。すなわち、ＯＴＤＲで一心ずつ測定するよりも、本発明と非特許文献１の技術を組み合わせることで合計４０＋１０ｌｏｇ_１０（√Ｎ）［ｄＢ］のＳＮＲ改善効果が見込める。

以上より、光ファイバ評価治具３０１は、分波側ピグテールに長さの違いを設け、接続する被試験光ファイバを含めた往復光路長に差を生じさせ、非特許文献１に開示される技術（すなわち、往復光路長差の違いを利用して分岐心線の情報を識別する光測定技術）による光ファイバ一括多心評価を実現する。

（実施形態２）
図２は、本実施形態の光ファイバ評価治具３０２（第２の光ファイバ評価治具）とそれを用いた光ファイバ評価方法を説明する図である。光ファイバ評価治具３０２は、
一端に被試験光ファイバ２００のコアがそれぞれ接続されるＮ本の分波側ピグテール１２と、
Ｎ本の分波側ピグテール１２のそれぞれに配置され、線長を任意に可変する線長差可変機構１８と、
光線路特性解析装置１００が接続される１つの合波側ポートとＮ本の分波側ピグテール１２の他端がそれぞれ接続されるＮ個の分岐側ポートを有し、前記合波側ポートからの光を分岐して前記分岐側ポートの分波側ピグテール１２へ結合し、分波側ピグテール１２から前記分岐側ポートに結合された光を合波して前記合波側ポートへ出力する１×Ｎ光スプリッタ１１と、
を備える。
線長差可変機構１８は、例えば、空間光学系を用いた可変光遅延装置や固定光遅延装置、または遅延光ファイバを挿入する装置である。

光ファイバ評価治具３０２と図１の光ファイバ評価治具３０１との違いは、分波側ピグテール１２の長さと線長差可変機構１８である。図１の光ファイバ評価治具３０１の分波側ピグテール１２の長さは固定的であるが、光ファイバ評価治具３０２の分波側ピグテール１２の長さは線長差可変機構１８で自在に変更できる。このため、図１の光ファイバ評価治具３０１では、被試験光ファイバ２００の長さによっては上記要求条件を満たすことができないこともあったが、光ファイバ評価治具３０２であれば、そのような被試験光ファイバ２００でも線長差可変機構１８で光路長を調整すれば上記要求条件を満たすことが可能となる。

光ファイバ評価治具３０２を用いて、光ファイバ一括多心評価を行う場合、線長差可変機構１８を調整する工程が必要となる。すなわち、本実施形態の光ファイバ評価方法（第２の光ファイバ評価方法）は、
光ファイバ評価治具３０２の１×Ｎ光スプリッタ１１の前記合波側ポートに光線路特性解析装置１００を接続し、
Ｎ本の分波側ピグテール１２の前記一端をＮ本以下のそれぞれの被試験光ファイバ２００それぞれのコアに接続し、
線長差可変機構１８で、分波側ピグテール１２とこれに接続する被試験光ファイバ２００からなる往復光路長の任意の２つの差を、光線路特性解析装置１００が受光する被試験光ファイバ２００からの戻り光のパルス幅の空間的な広がりより大きく設定し、
光線路特性解析装置１００から１×Ｎ光スプリッタ１１の前記合波側ポートに光パルスを入射することを特徴とする。

実施形態１で説明したように、本実施形態の光ファイバ評価治具３０２を用いても非特許文献１や非特許文献２に開示される技術による光ファイバ一括多心評価を実現することができる。

（実施形態３）
図５は、本実施形態の光ファイバ評価治具３０３（第１の光ファイバ評価治具）とそれを用いた光ファイバ評価方法を説明する図である。光ファイバ評価治具３０３は、Ｎ本の分波側ピグテール１２の前記一端にマルチコア光ファイバ用接続デバイス１５を有する点が図１で説明した光ファイバ評価治具３０１との違いである。光ファイバ評価治具３０３は、被試験光ファイバがマルチコア光ファイバ２０１であるときに使用される。

光線路特性解析装置１００は、実施形態１と同様に、例えば非特許文献１に開示される分岐構成の被試験光ファイバの損失試験法に特化した技術を用いることができる。光線路特性解析装置１００は、マルチコア光ファイバ用接続デバイス１５に接続したマルチコア光ファイバ２０１の光損失分布、ブリルアン周波数シフト分布、接続損失、及び遠端の反射減衰量の一括評価が可能である。

マルチコア光ファイバ２０１のコアは長さが等しいと考えられる。このため、非特許文献１に開示される技術でマルチコア光ファイバの多コア一括評価を実現するためには、分波側ピグテール１２の長さの違いだけでマルチコア光ファイバ２０１を含めた往復光路長に差を生じさせ、前記要求条件を満たす必要がある。

このとき、Ｎ本の分波側ピグテール１２は、それぞれ識別されており、１番目からＮ番目へ向けて線長が順に長く又は短くなることが好ましい。実施形態１で説明したように、光線路特性解析装置１００の評価結果とマルチコア光ファイバ２０１のコアとの対応付けが容易になる。

続いて、光ファイバ評価治具３０３を用いた光ファイバ評価方法（第１の光ファイバ評価方法）を説明する。
当該光ファイバ評価方法は、光ファイバ評価治具３０３の１×Ｎ光スプリッタ１１の合波側ポートに光線路特性解析装置１００を接続し、Ｎ本の分波側ピグテール１２の一端をコア数がＮ以下のマルチコア光ファイバ２０１のそれぞれのコアに接続し、光線路特性解析装置１００から１×Ｎ光スプリッタ１１の合波側ポートに光パルスを入射することを特徴とする。

実施形態１で説明したように、本実施形態の光ファイバ評価治具３０３を用いて非特許文献１や非特許文献２に開示される技術によるマルチコア光ファイバの多コア一括多心評価を実現することができる。

（実施形態４）
図６は、本実施形態の光ファイバ評価治具３０４（第２の光ファイバ評価治具）とそれを用いた光ファイバ評価方法を説明する図である。光ファイバ評価治具３０４は、Ｎ本の分波側ピグテール１２の前記一端にマルチコア光ファイバ用接続デバイス１５を有する点が図２で説明した光ファイバ評価治具３０２との違いである。光ファイバ評価治具３０４は、被試験光ファイバがマルチコア光ファイバ２０１であるときに使用される。

図５の光ファイバ評価治具３０３では、マルチコア光ファイバ２０１の長さによっては上記要求条件を満たすことができないこともあったが、光ファイバ評価治具３０４であれば、そのようなマルチコア光ファイバ２０１でも線長差可変機構１８で光路長を調整すれば上記要求条件を満たすことが可能となる。

光ファイバ評価治具３０４を用いて、マルチコア光ファイバの多コア一括多心評価を行う場合、線長差可変機構１８を調整する工程が必要となる。すなわち、本実施形態の光ファイバ評価方法（第２の光ファイバ評価方法）は、
光ファイバ評価治具３０４の１×Ｎ光スプリッタ１１の前記合波側ポートに光線路特性解析装置１００を接続し、
Ｎ本の分波側ピグテール１２の前記一端をコア数がＮ以下のマルチコア光ファイバ２０１のそれぞれのコアに接続し、
線長差可変機構１８で、分波側ピグテール１２とこれに接続するマルチコア光ファイバ２０１のコアからなる往復光路長の任意の２つの差を、光線路特性解析装置１００が受光するマルチコア光ファイバ２０１からの戻り光のパルス幅の空間的な広がりより大きく設定し、
光線路特性解析装置１００から１×Ｎ光スプリッタ１１の前記合波側ポートに光パルスを入射することを特徴とする。

実施形態１で説明したように、本実施形態の光ファイバ評価治具３０４を用いても非特許文献１や非特許文献２に開示される技術によるマルチコア光ファイバの多コア一括多心評価を実現することができる。

（本発明の効果）
以上のように、本発明は、光スプリッタの分波側に接続したピグテールに長さの差を設け、線長差を設けた光ファイバ評価治具に被試験光ファイバを接続し、光線路特性解析装置を光ファイバ評価治具の合波側ピグテールに接続し、光スプリッタの分岐数に一致する被試験光ファイバの光特性を一括して測定することができる。

したがって、本発明によれば、複数の被試験光ファイバを光スプリッタの分波側に接続し、光スプリッタの一心側から一括測定することにより、複数の被試験光ファイバの光特性を一括して測定することが可能であるため、光ファイバの検査稼働と検査時間を削減可能な光ファイバの多心一括評価系を提供することができる。

１１：光スプリッタ
１２：分波側ピグテール
１３：接続端子
１４：光反射端
１５：マルチコア光ファイバ用接続デバイス
１８：線長差可変機構
１００：光線路特性解析装置
２００：被試験光ファイバ
２０１：マルチコア光ファイバ
３０１〜３０４：光ファイバ評価治具

Claims

光線路特性解析装置とＮ本（Ｎは２以上の整数）の被試験光ファイバとを接続する光ファイバ評価治具であって、
一端に前記被試験光ファイバのコアがそれぞれ接続されるＮ本の分波側ピグテールと、
前記光線路特性解析装置が接続される１つの合波側ポートとＮ本の前記分波側ピグテールの他端がそれぞれ接続されるＮ個の分岐側ポートを有し、前記合波側ポートに入力された前記光線路特性解析装置からの試験光パルスを分岐してそれぞれの前記分岐側ポートから前記分波側ピグテールを介してＮ本の前記被試験光ファイバへ結合し、前記分波側ピグテールを介してそれぞれの前記分岐側ポートに結合されたＮ本の前記被試験光ファイバからの戻り光を合波して前記合波側ポートから前記光線路特性解析装置へ出力する１×Ｎ光スプリッタと、
を備え、
Ｎ本の前記分波側ピグテールの任意の２つの往復光路長の差は、前記光線路特性解析装置が前記一端から前記被試験光ファイバに入射した前記試験光パルスにより前記被試験光ファイバで発生する後方散乱光を前記被試験光ファイバからの前記戻り光として受光するときの、該戻り光のパルス幅の空間的な広がりより大きいことを特徴とする光ファイバ評価治具。
Ｎ本の前記分波側ピグテールは、前記一端にマルチコア光ファイバ用接続デバイスを有することを特徴とする請求項１に記載の光ファイバ評価治具。
Ｎ本の前記分波側ピグテールは、それぞれ識別されており、１番目からＮ番目へ向けて線長が順に長く又は短くなることを特徴とする請求項１又は２に記載の光ファイバ評価治具。
光ファイバを評価する光ファイバ評価方法であって、
請求項１から３のいずれかに記載の光ファイバ評価治具の前記１×Ｎ光スプリッタの前記合波側ポートに光線路特性解析装置を接続し、
Ｎ本の前記分波側ピグテールの前記一端をそれぞれ被試験光ファイバのコアに接続し、
前記光線路特性解析装置から前記１×Ｎ光スプリッタの前記合波側ポートに前記試験光パルスを入射する
ことを特徴とする光ファイバ評価方法。
前記被試験光ファイバの前記分波側ピグテールが接続された端と反対側の端に光を反射する反射端を設置することを特徴とする請求項４に記載の光ファイバ評価方法。