JP6731251B2 - Photoelectric sensor - Google Patents
Photoelectric sensor Download PDFInfo
- Publication number
- JP6731251B2 JP6731251B2 JP2015254549A JP2015254549A JP6731251B2 JP 6731251 B2 JP6731251 B2 JP 6731251B2 JP 2015254549 A JP2015254549 A JP 2015254549A JP 2015254549 A JP2015254549 A JP 2015254549A JP 6731251 B2 JP6731251 B2 JP 6731251B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- function
- erroneous detection
- photoelectric sensor
- detection
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Description
本発明は、光電センサに関するものである。 The present invention relates to a photoelectric sensor.
従来、例えば特許文献１に示されるように、光電センサは、被検出物が通過する検出領域に向けて断続的に光を投光する投光部と、検出領域からの光を受光しその受光量に応じた受光信号を出力する受光部とを備える。そして、投光部の投光タイミングと同期するタイミングで受光信号をサンプリングした受光量レベルに基づいて、検出領域における被検出物の有無が検出されるようになっている。 2. Description of the Related Art Conventionally, as disclosed in, for example, Patent Document 1, a photoelectric sensor includes a light projecting unit that intermittently projects light toward a detection region through which an object to be detected and a light receiving unit receives light from the detection region. And a light receiving section that outputs a light receiving signal according to the amount. Then, the presence or absence of the object to be detected in the detection region is detected based on the received light amount level obtained by sampling the received light signal at the timing synchronized with the light projecting timing of the light projecting unit.
上記のような光電センサでは、投光部から投光された光以外の外乱光による誤検出の発生が問題となる。すなわち、外乱光が受光部に入光するタイミングと受光信号のサンプリングのタイミングとが一致してしまうと、被検出物が検出領域に侵入しているにも関わらず、被検出物が検出領域内に無いと判定されるおそれがあり、検出性能の低下を招く結果となる。 The photoelectric sensor as described above has a problem that erroneous detection occurs due to ambient light other than the light projected from the light projecting unit. That is, if the timing at which the ambient light enters the light receiving unit and the timing at which the received light signal is sampled coincide with each other, the detected object is detected within the detection area even though the detected object has entered the detection area. There is a possibility that it will be determined that there is not, and the detection performance will be degraded.
本発明は、上記課題を解決するためになされたものであって、その目的は、検出性能の向上に寄与できる光電センサを提供することにある。 The present invention has been made to solve the above problems, and an object thereof is to provide a photoelectric sensor that can contribute to improvement in detection performance.
上記課題を解決する光電センサは、被検出物が通過する検出領域に向けて断続的に光を投光する投光部と、前記検出領域からの光を受光しその受光量に応じた受光信号を出力する受光部と、前記投光部の投光タイミングと同期するタイミングで前記受光信号をサンプリングした受光量レベルに基づいて、前記検出領域における前記被検出物の有無を検出する検出部とを備えた光電センサであって、複数の光電センサが近接配置された場合における他機からの投光によって生じる誤検出を抑制するための第１の誤検出抑制機能と、光電センサの周囲環境からの光によって生じる誤検出を抑制すべく前記投光タイミングの設定がなされる第２の誤検出抑制機能とを備えている。 The photoelectric sensor for solving the above-mentioned problems is a light projecting unit that intermittently projects light toward a detection region through which an object to be detected passes, and a light reception signal corresponding to the amount of light received from the detection region. And a detection unit for detecting the presence or absence of the detected object in the detection region based on the received light amount level obtained by sampling the received light signal at a timing synchronized with the light projecting timing of the light projecting unit. A photoelectric sensor equipped with the first erroneous detection suppressing function for suppressing erroneous detection caused by light projection from another device when a plurality of photoelectric sensors are arranged in proximity, It has a second erroneous detection suppressing function in which the light projection timing is set to suppress erroneous detection caused by light.
この構成によれば、複数の光電センサを近接配置した場合に他機からの投光によって生じる誤検出と、光電センサの周囲環境からの光によって生じる誤検出の両方に対処することが可能となり、光電センサの検出性能の向上に寄与できる。 According to this configuration, it is possible to deal with both erroneous detection caused by light emission from another device when a plurality of photoelectric sensors are arranged close to each other and erroneous detection caused by light from the ambient environment of the photoelectric sensor, It can contribute to the improvement of the detection performance of the photoelectric sensor.
上記光電センサにおいて、前記第２の誤検出抑制機能の実行によって前記投光タイミングが不定周期に設定されることが好ましい。
この構成によれば、第２の誤検出抑制機能の実行によって投光タイミング（つまり、検出部による受光信号のサンプリングのタイミング）が不定周期に設定される。周囲環境の光のうち、例えばＬＥＤ照明の光等は発光周期が一定に近しいものであるため、受光信号のサンプリングのタイミングが不定周期に設定されることで、周囲環境の光（例えばＬＥＤ照明の光）が受光部に入光するタイミングと、受光信号のサンプリングのタイミングとが一致する回数（確率）を少なく抑えることができる。これにより、光電センサの周囲環境からの光によって生じる誤検出を抑制することができる。
In the photoelectric sensor, it is preferable that the light projection timing is set to an indefinite cycle by executing the second erroneous detection suppressing function.
According to this configuration, the light emission timing (that is, the timing of sampling the light reception signal by the detection unit) is set to an indefinite cycle by executing the second erroneous detection suppression function. Of the light of the surrounding environment, for example, the light of the LED lighting has a light emission cycle that is close to a constant, and therefore the sampling timing of the received light signal is set to an indefinite cycle, so that the light of the surrounding environment (for example, the light of the LED lighting is It is possible to reduce the number of times (probability) at which the timing at which (light) enters the light receiving unit and the timing at which the received light signal is sampled match. This can prevent erroneous detection caused by light from the surrounding environment of the photoelectric sensor.
上記光電センサにおいて、前記第１及び第２の誤検出抑制機能が無効化された通常状態では、投光間隔の設定値が互いに異なる複数の通常動作モードが選択可能であり、前記投光部は、選択された前記通常動作モードの前記投光間隔の設定値に基づく一定間隔で繰り返し光を投光するように作動することが好ましい。 In the photoelectric sensor, in the normal state in which the first and second erroneous detection suppression functions are disabled, a plurality of normal operation modes having different projection interval setting values can be selected, and the projection unit is It is preferable to operate so as to repeatedly project light at a constant interval based on the set value of the projection interval in the selected normal operation mode.
この構成によれば、通常状態において選択可能な各通常動作モードでは、投光間隔の設定値がそれぞれ異なるため、使用状況に応じた通常動作モードを選択することで、好適な被検出物の検出動作を実行することができる。 According to this configuration, since the set values of the light projecting intervals are different in the respective normal operation modes that can be selected in the normal state, it is possible to detect the suitable detected object by selecting the normal operation mode according to the usage situation. The action can be performed.
上記光電センサにおいて、前記第２の誤検出抑制機能が実行された状態では、前記通常状態において選択された前記通常動作モードの前記投光間隔の設定値に基づいて算出された複数の間隔設定値の組み合わせで前記投光タイミングの不定周期が構成されることが好ましい。 In the photoelectric sensor, in the state in which the second erroneous detection suppression function is executed, a plurality of interval setting values calculated based on the setting value of the projection interval in the normal operation mode selected in the normal state. It is preferable that the indefinite period of the light projection timing is configured by a combination of
この構成によれば、第２の誤検出抑制機能は各通常動作モードに連動するため、第２の誤検出抑制機能の実行時においても、使用状況に応じた通常動作モードの選択によって、好適な被検出物の検出動作を実行することができる。 According to this configuration, the second erroneous detection suppressing function is interlocked with each normal operation mode. Therefore, even when the second erroneous detection suppressing function is executed, it is preferable to select the normal operation mode according to the usage situation. The detection operation of the detected object can be executed.
上記光電センサにおいて、前記第１の誤検出抑制機能が実行された状態では、投光間隔の設定値が互いに異なる複数の誤検出抑制動作モードが選択可能であり、前記投光部は、選択された前記誤検出抑制動作モードの前記投光間隔の設定値に基づく一定間隔で繰り返し光を投光するように作動することが好ましい。 In the photoelectric sensor, in the state in which the first erroneous detection suppressing function is executed, a plurality of erroneous detection suppressing operation modes having different light emitting interval setting values can be selected, and the light emitting unit is selected. Further, it is preferable to operate so as to repeatedly project light at a constant interval based on the set value of the projection interval in the false detection suppression operation mode.
この構成によれば、複数の光電センサを近接配置する場合、該各光電センサで設定する誤検出抑制動作モードを互いに異なるように選択することで、近接する他機からの投光によって生じる誤検出を抑制することが可能となる。 According to this configuration, when a plurality of photoelectric sensors are arranged close to each other, the false detection suppressing operation modes set by the photoelectric sensors are selected so as to be different from each other, so that the false detection caused by the light emission from another nearby device is detected. Can be suppressed.
上記光電センサにおいて、前記各誤検出抑制動作モードにおける前記投光間隔の設定値は、互いに倍数の関係とならないように設定されていることが好ましい。
この構成によれば、近接配置された複数の光電センサで設定する誤検出抑制動作モードを互いに異なるように選択することで、近接する他機からの投光によって生じる誤検出をより好適に抑制することができる。
In the photoelectric sensor, it is preferable that the set values of the light projecting intervals in each of the erroneous detection suppressing operation modes are set so as not to be in a multiple relationship with each other.
According to this configuration, the false detection suppressing operation modes set by the plurality of photoelectric sensors arranged close to each other are selected so as to be different from each other, so that the false detection caused by the light projection from another nearby device is more preferably suppressed. be able to.
本発明の光電センサによれば、検出性能の向上に寄与できる。 The photoelectric sensor of the present invention can contribute to improvement in detection performance.
以下、光電センサの一実施形態について説明する。
図１に示すように、本実施形態の光電センサ１０は、投光素子１１及び受光素子１２を対向配置させる透過型の光電センサであって、投光素子１１及び受光素子１２間の光路（検出領域）におけるワークＷの有無を検出するものである。
Hereinafter, an embodiment of the photoelectric sensor will be described.
As shown in FIG. 1, the photoelectric sensor 10 according to the present embodiment is a transmissive photoelectric sensor in which a light projecting element 11 and a light receiving element 12 are arranged to face each other, and an optical path (detection) between the light projecting element 11 and the light receiving element 12 is detected. The presence or absence of the work W in the area) is detected.
光電センサ１０は、投光素子１１を有する投光回路１３と、受光素子１２を有する受光回路１４と、ＣＰＵ１５と、光電センサ１０が備える複数の機能や各種設定値等を表示する表示部１６とを備えている。ＣＰＵ１５は、メモリ１７及びタイマ１８を備えている。また、表示部１６は、図示しない光電センサ１０の筐体に設けられている。 The photoelectric sensor 10 includes a light projecting circuit 13 having a light projecting element 11, a light receiving circuit 14 having a light receiving element 12, a CPU 15, and a display unit 16 for displaying a plurality of functions of the photoelectric sensor 10 and various set values. Equipped with. The CPU 15 includes a memory 17 and a timer 18. Further, the display unit 16 is provided in the housing of the photoelectric sensor 10 not shown.
投光回路１３は、ＣＰＵ１５から出力された投光パルス信号Ｓｇに基づき、投光素子１１を所定の投光周期Ｔでパルス点灯させる（図２参照）。受光素子１２は、受光した光を光電変換して受光回路１４に出力し、受光回路１４は受光素子１２からの信号を増幅してＣＰＵ１５に出力する。すなわち、受光回路１４は、受光素子１２の受光量に応じたレベルの受光信号Ｓｒ（アナログ信号）をＣＰＵ１５に出力する。 The light projecting circuit 13 pulse-lights the light projecting element 11 at a predetermined light projecting cycle T based on the light projecting pulse signal Sg output from the CPU 15 (see FIG. 2). The light receiving element 12 photoelectrically converts the received light and outputs it to the light receiving circuit 14, and the light receiving circuit 14 amplifies the signal from the light receiving element 12 and outputs it to the CPU 15. That is, the light receiving circuit 14 outputs to the CPU 15 the light receiving signal Sr (analog signal) having a level according to the amount of light received by the light receiving element 12.
ＣＰＵ１５は、投光素子１１のパルス点灯の投光周期Ｔと同じ周期で受光信号Ｓｒをサンプリングし、そのサンプリングした値と閾値とを比較する。そして、ＣＰＵ１５は、その比較結果に基づいて内部検出フラグＦｄをハイレベル又はローレベルとする。具体的には、受光信号Ｓｒのレベルが閾値以上のときに内部検出フラグＦｄをハイレベルにし、受光信号Ｓｒのレベルが閾値未満のときに内部検出フラグＦｄとローレベルにする（図２参照）。 The CPU 15 samples the light reception signal Sr in the same cycle as the light projection cycle T of the pulsed lighting of the light projecting element 11, and compares the sampled value with a threshold value. Then, the CPU 15 sets the internal detection flag Fd to the high level or the low level based on the comparison result. Specifically, the internal detection flag Fd is set to the high level when the level of the received light signal Sr is equal to or higher than the threshold, and is set to the low level when the level of the received light signal Sr is less than the threshold (see FIG. 2). ..
このように、ＣＰＵ１５は、投光周期Ｔと同じ周期で内部検出フラグＦｄをハイレベル又はローレベルにする。そして、ＣＰＵ１５は、ハイレベルの内部検出フラグＦｄが所定回数（以下、デジタル積分回数と言う）連続したとき、ワークＷが前記検出領域内にあると判定し、ハイレベルの検出信号Ｓｄを出力回路２１に出力する。また、ローレベルの内部検出フラグＦｄが所定のデジタル積分回数だけ連続したとき、ワークＷが検出領域外にあると判定し、ローレベルの検出信号Ｓｄを出力回路２１に出力する。また、ＣＰＵ１５は、上記のワークＷの有無判定に基づいて、前記筐体に設けられたＬＥＤ等からなる（報知部としての）動作表示灯２２を点灯又は消灯させる。 In this way, the CPU 15 sets the internal detection flag Fd to the high level or the low level in the same cycle as the light projecting cycle T. Then, when the high-level internal detection flag Fd continues for a predetermined number of times (hereinafter referred to as the number of digital integrations), the CPU 15 determines that the work W is in the detection area, and outputs the high-level detection signal Sd to the output circuit. 21 is output. When the low-level internal detection flag Fd continues for a predetermined number of times of digital integration, it is determined that the work W is outside the detection area, and the low-level detection signal Sd is output to the output circuit 21. Further, the CPU 15 turns on or off the operation indicator lamp 22 (as a notification unit), which includes an LED or the like provided in the housing, based on the above-described presence/absence determination of the work W.
また、本実施形態の光電センサ１０は、前記筐体に設けられた選択スイッチ２３及び決定スイッチ２４と、選択スイッチ２３及び決定スイッチ２４の操作に基づいてＣＰＵ１５に信号を出力するスイッチ入力回路２５とを備えている。 Further, the photoelectric sensor 10 of the present embodiment includes a selection switch 23 and a decision switch 24 provided in the housing, and a switch input circuit 25 that outputs a signal to the CPU 15 based on the operation of the selection switch 23 and the decision switch 24. Equipped with.
次に、光電センサ１０が備える各機能（モード）について説明する。光電センサ１０は、ワークＷの検出動作（前記検出信号Ｓｄの出力）を実行する検出実行モードと、各種設定を行うための設定モードを備え、選択スイッチ２３及び決定スイッチ２４の操作によって検出実行モード又は設定モードが選択されると、当該機能に係る処理が許容されるようになっている。 Next, each function (mode) of the photoelectric sensor 10 will be described. The photoelectric sensor 10 has a detection execution mode for executing the detection operation of the work W (output of the detection signal Sd) and a setting mode for performing various settings, and the detection execution mode is operated by operating the selection switch 23 and the decision switch 24. Alternatively, when the setting mode is selected, the processing related to the function is allowed.
設定モードは、応答時間設定機能、他機干渉抑制機能、及び環境干渉抑制機能を備えている。そして、設定モードにおいて、選択スイッチ２３及び決定スイッチ２４の操作により応答時間設定機能、他機干渉抑制機能及び環境干渉抑制機能のいずれかが選択されると、当該機能に係る処理が許容されるようになっている。 The setting mode includes a response time setting function, another device interference suppression function, and an environment interference suppression function. Then, in the setting mode, when any one of the response time setting function, the other device interference suppression function and the environmental interference suppression function is selected by operating the selection switch 23 and the decision switch 24, the processing related to the function is allowed. It has become.
［応答時間設定機能］
応答時間設定機能は、応答時間（ワークＷが検出領域に侵入してから前記ハイレベルの検出信号Ｓｄの出力までに要する時間）が異なる複数の動作モード（通常動作モード）の中から１つを設定するための機能である。
[Response time setting function]
The response time setting function sets one of a plurality of operation modes (normal operation modes) having different response times (the time required for the work W to enter the detection area and before the high-level detection signal Sd is output). This is a function for setting.
図３に示すように、本実施形態の応答時間設定機能では、予め用意された「ファスト」、「スタンダード」、「ロング」、「ウルトラロング」、「ハイパーロング」の５種の動作モードの中から１つを設定可能となっている。これら５種の動作モードではそれぞれ、前記投光周期Ｔ（及び受光信号Ｓｒのサンプリング周期）の設定値ａ１〜ａ５（μｓ）、及び前記デジタル積分回数の設定値ｂ１〜ｂ５が予め設定されており、該各設定値ａ１〜ａ５，ｂ１〜ｂ５はＣＰＵ１５のメモリ１７に記憶されている。そして、選択スイッチ２３及び決定スイッチ２４の操作による上記動作モードの選択に基づいて、ＣＰＵ１５は、前記検出実行モード時における投光周期Ｔ及びデジタル積分回数を、選択された動作モードに対応した設定値に設定する。 As shown in FIG. 3, in the response time setting function of the present embodiment, among the five operation modes prepared in advance, “fast”, “standard”, “long”, “ultralong”, and “hyperlong”. It is possible to set one from. In each of these five operation modes, the set values a1 to a5 (μs) of the light projecting cycle T (and the sampling cycle of the light receiving signal Sr) and the set values b1 to b5 of the digital integration number are preset. The set values a1 to a5 and b1 to b5 are stored in the memory 17 of the CPU 15. Then, based on the selection of the operation mode by operating the selection switch 23 and the decision switch 24, the CPU 15 sets the light projection period T and the number of digital integrations in the detection execution mode to the set values corresponding to the selected operation mode. Set to.
本実施形態では、ファストモード〜ハイパーロングモードの投光周期Ｔの設定値ａ１〜ａ５は、ａ１＜ａ２＜ａ３＝ａ４＜ａ５となるように設定されている。また、ファストモード〜ハイパーロングモードのデジタル積分回数の設定値ｂ１〜ｂ５は、ｂ１＜ｂ２＜ｂ３＜ｂ４＜ｂ５となるように設定されている。そして、応答時間は、「投光周期Ｔの設定値」×「デジタル積分回数の設定値」に基づく値となり、図３の表における上段の動作モードほど応答時間が短い設定となっている。 In the present embodiment, the set values a1 to a5 of the light projecting period T in the fast mode to the hyper long mode are set so that a1<a2<a3=a4<a5. The set values b1 to b5 of the number of digital integrations in the fast mode to the hyper long mode are set to be b1<b2<b3<b4<b5. Then, the response time is a value based on “the set value of the light projection period T”דthe set value of the number of times of digital integration”, and the upper operation mode in the table in FIG. 3 has a shorter response time.
このような設定によって、ファストモードではより短い応答時間での検出信号Ｓｄの出力が可能となり、ハイパーロングモードでは、デジタル積分回数が多いことからより高精度な（誤検出の少ない）検出が可能となる。なお、スタンダードモード〜ハイパーロングモードの投光周期Ｔの設定値ａ２〜ａ５は、ファストモードの投光周期Ｔの設定値ａ１の倍数に設定されている。なお、ファストモードにおける投光周期Ｔの設定値ａ１は３０μｓ以下に設定されることが好ましく、また、ハイパーロングモードにおける投光周期Ｔの設定値ａ５は２００μｓ以上に設定されることが好ましい。これにより、応答時間設定機能において、投光周期Ｔの設定値を少なくとも１７０μｓの範囲から選択可能となる。 With such a setting, the detection signal Sd can be output with a shorter response time in the fast mode, and in the hyper long mode, more accurate detection (less erroneous detection) is possible because the number of digital integrations is large. Become. The set values a2 to a5 of the light projecting cycle T in the standard mode to the hyper long mode are set to multiples of the set value a1 of the light projecting cycle T in the fast mode. The set value a1 of the projection period T in the fast mode is preferably set to 30 μs or less, and the set value a5 of the projection period T in the hyperlong mode is preferably set to 200 μs or more. As a result, in the response time setting function, the set value of the light projecting period T can be selected from the range of at least 170 μs.
［他機干渉抑制機能］
他機干渉抑制機能は、複数の光電センサ１０（より詳しくは投光素子１１を有するユニット）を近接配置した使用態様に適した動作設定を行うための機能である。
[Other device interference suppression function]
The other-device interference suppression function is a function for performing an operation setting suitable for a usage mode in which a plurality of photoelectric sensors 10 (more specifically, a unit including the light projecting element 11) are arranged in proximity.
図４に示すように、他機干渉抑制機能では、予め用意された「Ｆ−１」、「Ｆ−２」、「Ｆ−３」、「Ｆ−４」の４種の動作モード（誤検出抑制動作モード）の中から１つを設定可能となっている。これら４種の動作モードではそれぞれ、投光周期Ｔ（及び受光信号Ｓｒのサンプリング周期）の設定値ｃ１〜ｃ４（μｓ）、及び前記デジタル積分回数の設定値ｄ１〜ｄ４が予め設定されており、該各設定値ｃ１〜ｃ４，ｄ１〜ｄ４はＣＰＵ１５のメモリ１７に記憶されている。そして、選択スイッチ２３及び決定スイッチ２４の操作による上記動作モードの選択に基づいて、ＣＰＵ１５は、前記検出実行モード時における投光周期Ｔ及びデジタル積分回数を、選択された動作モードに対応した設定値に設定する。 As shown in FIG. 4, in the other-device interference suppression function, four types of operation modes (erroneous detection) of “F-1”, “F-2”, “F-3”, and “F-4” prepared in advance are used. One of the suppression operation modes) can be set. In each of these four operation modes, the set values c1 to c4 (μs) of the light projecting cycle T (and the sampling cycle of the received light signal Sr) and the set values d1 to d4 of the number of digital integrations are preset. The respective set values c1 to c4 and d1 to d4 are stored in the memory 17 of the CPU 15. Then, based on the selection of the operation mode by operating the selection switch 23 and the decision switch 24, the CPU 15 sets the light projection period T and the number of digital integrations in the detection execution mode to the set values corresponding to the selected operation mode. Set to.
本実施形態では、「Ｆ−１」〜「Ｆ−４」の各動作モードの投光周期Ｔの設定値ｃ１〜ｃ４は、ｃ１＜ｃ２＜ｃ３＜ｃ４となるように設定されている。「Ｆ−１」〜「Ｆ−４」の各動作モードのデジタル積分回数の設定値ｄ１〜ｄ４は、全て等しく設定されている。このような設定により、図４の表における上段の動作モードほど応答時間が短くなっている。 In the present embodiment, the set values c1 to c4 of the light projecting period T in the respective operation modes of “F-1” to “F-4” are set so that c1<c2<c3<c4. The set values d1 to d4 of the number of digital integrations in the respective operation modes of "F-1" to "F-4" are set to be equal. With such settings, the response time becomes shorter in the upper operation mode in the table of FIG.
なお、各動作モードの投光周期Ｔの設定値ｃ１〜ｃ４は、前記応答時間設定機能におけるファストモードの投光周期Ｔの設定値ａ１の倍数でない値に設定されている。また、他機干渉抑制機能において最短の応答時間となる「Ｆ−１」の動作モードの投光周期Ｔの設定値ｃ１は、応答時間設定機能において最短の応答時間となるファストモードの投光周期Ｔの設定値ａ１よりも大きく設定されている。また、「Ｆ−４」の動作モードの応答時間は、前記応答時間設定機能におけるロングモードの応答時間とほぼ等しく設定されている。そして、「Ｆ−１」の動作モードの応答時間（投光周期Ｔの設定値ｃ１）は、「Ｆ−４」の動作モードの応答時間（投光周期Ｔの設定値ｃ４）のおよそ半分の値に設定されている。 The set values c1 to c4 of the light projecting period T in each operation mode are set to values that are not multiples of the set value a1 of the light projecting period T in the fast mode in the response time setting function. Further, the set value c1 of the projection period T of the operation mode of "F-1" which is the shortest response time in the other device interference suppression function is the projection mode of the fast mode which is the shortest response time in the response time setting function. It is set to be larger than the set value a1 of T. The response time of the operation mode "F-4" is set to be substantially equal to the response time of the long mode in the response time setting function. Then, the response time of the operation mode of "F-1" (the set value c1 of the light projection cycle T) is about half the response time of the operation mode of "F-4" (the set value c4 of the light projection cycle T). It is set to a value.
また、「Ｆ−１」の動作モードにおける投光周期Ｔの設定値ｃ１は１００μｓ以上に設定されることが好ましく、また、「Ｆ−４」の動作モードにおける投光周期Ｔの設定値ｃ４は２１０μｓ以下に設定されることが好ましい。これにより、他機干渉抑制機能において設定可能な投光周期Ｔの範囲を１１０μｓ以下にすることができる。 Further, the set value c1 of the light projecting cycle T in the “F-1” operation mode is preferably set to 100 μs or more, and the set value c4 of the light projecting cycle T in the “F-4” operation mode is It is preferably set to 210 μs or less. As a result, the range of the light projection period T that can be set in the other device interference suppression function can be set to 110 μs or less.
［環境干渉抑制機能］
環境干渉抑制機能は、周囲環境の影響（例えば、作業場のＬＥＤ照明の光等の干渉）を抑制するのに適した動作設定を行うための機能である。この環境干渉抑制機能では、上記の応答時間設定機能及び他機干渉抑制機能とは異なり、投光素子１１の投光タイミング（つまり、ＣＰＵ１５から出力されるハイレベルの投光パルス信号Ｓｇの出力周期）及び受光信号Ｓｒのサンプリング周期が一定周期ではなく不定周期に設定される。
[Environmental interference suppression function]
The environmental interference suppression function is a function for performing an operation setting suitable for suppressing the influence of the surrounding environment (for example, the interference of the light of the LED lighting in the work place). In this environmental interference suppression function, unlike the above-mentioned response time setting function and other-device interference suppression function, the projection timing of the projection element 11 (that is, the output cycle of the high-level projection pulse signal Sg output from the CPU 15). ) And the sampling period of the light reception signal Sr are set to an indefinite period instead of a constant period.
図７に示すように、本実施形態の環境干渉抑制機能では、不定周期で出力されるハイレベルの投光パルス信号Ｓｇの出力周期（間隔設定値）は、基準値Ｔｂ（μｓ）及び補正値ｍ，ｎ（μｓ）に基づいて設定されている。具体的には、ハイレベルの投光パルス信号Ｓｇの出力周期（間隔設定値）は、（Ｔｂ−ｍ）、（Ｔｂ＋ｍ）、（Ｔｂ＋ｎ）、（Ｔｂ−ｎ）、Ｔｂを繰り返すように設定されている。 As shown in FIG. 7, in the environment interference suppression function of the present embodiment, the output cycle (interval setting value) of the high-level light-emission pulse signal Sg output in an indefinite cycle has a reference value Tb (μs) and a correction value. It is set based on m, n (μs). Specifically, the output cycle (interval setting value) of the high-level light projection pulse signal Sg is set to repeat (Tb-m), (Tb+m), (Tb+n), (Tb-n), and Tb. ing.
また、本実施形態の環境干渉抑制機能では、図５に示すように、前記応答時間設定機能と同様の複数の動作モードつまり、「ファスト」、「スタンダード」、「ロング」、「ウルトラロング」、「ハイパーロング」の５種の動作モードを備えている。そして、環境干渉抑制機能の各動作モードの基準値Ｔｂには、応答時間設定機能における各動作モードの投光周期Ｔの設定値ａ１〜ａ５が設定される（例えば、環境干渉抑制機能のファストモードでは、基準値Ｔｂに設定値ａ１が設定される）。 Further, in the environment interference suppressing function of the present embodiment, as shown in FIG. 5, a plurality of operation modes similar to the response time setting function, that is, “fast”, “standard”, “long”, “ultra long”, It has five types of "hyperlong" operation modes. Then, set values a1 to a5 of the projection period T of each operation mode in the response time setting function are set to the reference value Tb of each operation mode of the environmental interference suppression function (for example, the fast mode of the environment interference suppression function). Then, the set value a1 is set to the reference value Tb).
また、環境干渉抑制機能における各動作モードのデジタル積分回数は、応答時間設定機能における各動作モードのデジタル積分回数の設定値ｂ１〜ｂ５に係数ｋを掛けた値にそれぞれ設定される。このように、環境干渉抑制機能の各動作モードにおいても、図５の表における上段の動作モードほど応答時間が短い設定となっている。 The number of digital integrations in each operation mode in the environment interference suppression function is set to a value obtained by multiplying the set values b1 to b5 of the number of digital integrations in each operation mode in the response time setting function by a coefficient k. As described above, also in each operation mode of the environmental interference suppression function, the response time is set to be shorter in the upper operation mode in the table of FIG.
次に、光電センサ１０の各機能の表示部１６での表示、及び各機能の選択操作について説明する。
表示部１６には、上記の各機能を示す表示がなされる。表示部１６に表示される各機能は、関連するもの同士がまとめられて階層的に分類されている。本実施形態では、前記検出実行モード及び設定モードが同層に分類され、選択スイッチ２３の操作に応じて検出実行モード及び設定モードを含む当該層の各機能が表示部１６に切替表示されるようになっている。
Next, display of each function of the photoelectric sensor 10 on the display unit 16 and selection operation of each function will be described.
The display section 16 displays the above-mentioned functions. The functions displayed on the display unit 16 are hierarchically classified by grouping related functions. In the present embodiment, the detection execution mode and the setting mode are classified into the same layer, and each function of the layer including the detection execution mode and the setting mode is switched and displayed on the display unit 16 according to the operation of the selection switch 23. It has become.
表示部１６に検出実行モードの表示がなされている状態で決定スイッチ２４が操作されると、ＣＰＵ１５は、ワークＷの検出動作（前記検出信号Ｓｄの出力）を実行する。
また、表示部１６に設定モードの表示がなされている状態で決定スイッチ２４が操作されると、表示部１６に表示される機能が一段下位の層である中層に切り替えられる。この中層には、第１設定モード〜第３設定モードが分類され、該第１設定モード〜第３設定モードに対応して、表示部１６には例えばＰｒｏ１〜Ｐｒｏ３と表示される。そして、選択スイッチ２３の操作に応じて第１設定モード〜第３設定モード（Ｐｒｏ１〜Ｐｒｏ３）が表示部１６に切替表示され、第１設定モード〜第３設定モードのいずれかが表示された状態で決定スイッチ２４が操作されると、当該設定モードに係る処理が許容されるようになっている。
When the determination switch 24 is operated while the display unit 16 is displaying the detection execution mode, the CPU 15 executes the work W detection operation (output of the detection signal Sd).
When the determination switch 24 is operated while the setting mode is being displayed on the display unit 16, the function displayed on the display unit 16 is switched to the middle layer, which is the next lower layer. In the middle layer, the first setting mode to the third setting mode are classified, and corresponding to the first setting mode to the third setting mode, for example, Pro1 to Pro3 are displayed on the display unit 16. Then, the first setting mode to the third setting mode (Pro1 to Pro3) are switched and displayed on the display unit 16 according to the operation of the selection switch 23, and any one of the first setting mode to the third setting mode is displayed. When the decision switch 24 is operated in step 3, the processing related to the setting mode is allowed.
表示部１６に第１設定モードの表示がなされている状態で決定スイッチ２４が操作されると、表示部１６に表示される機能が該第１設定モードにおける一段下位の層に切り替えられる。この第１設定モードの下位層には、上記の応答時間設定機能を含む複数の機能が分類されており、選択スイッチ２３の操作に応じて該応答時間設定機能を含む各機能が表示部１６に切替表示されるようになっている。 When the determination switch 24 is operated while the display unit 16 is displaying the first setting mode, the function displayed on the display unit 16 is switched to the layer one level lower in the first setting mode. In the lower layer of the first setting mode, a plurality of functions including the response time setting function described above are classified, and each function including the response time setting function is displayed on the display unit 16 according to the operation of the selection switch 23. It is designed to be switched.
表示部１６に応答時間設定機能の表示がなされている状態で決定スイッチ２４が操作されると、表示部１６に表示される機能が応答時間設定機能における一段下位の層に切り替えられる。この応答時間設定機能の下位層には、上記の各動作モード（ファストモード〜ハイパーロングモード）が分類されており、選択スイッチ２３の操作に応じてファストモード〜ハイパーロングモードが表示部１６に切替表示されるようになっている。そして、ファストモード〜ハイパーロングモードのいずれかの表示がなされている状態で決定スイッチ２４が操作されると、ＣＰＵ１５は、当該モードに対応してメモリ１７に記憶された設定値ａ１〜ａ５，ｂ１〜ｂ５を、前記検出実行モードにおける投光周期Ｔ（及び受光信号Ｓｒのサンプリング周期）、及びデジタル積分回数に設定する。 When the determination switch 24 is operated while the display of the response time setting function is being displayed on the display unit 16, the function displayed on the display unit 16 is switched to a layer one level lower in the response time setting function. In the lower layer of the response time setting function, each of the above operation modes (fast mode to hyperlong mode) is classified, and the fast mode to hyperlong mode is switched to the display unit 16 according to the operation of the selection switch 23. It is supposed to be displayed. Then, when the determination switch 24 is operated in a state where any one of the fast mode to the hyper long mode is displayed, the CPU 15 causes the CPU 15 to set values a1 to a5 and b1 stored in the memory 17 corresponding to the mode. To b5 are set to the light projecting cycle T (and the sampling cycle of the light receiving signal Sr) and the number of digital integrations in the detection execution mode.
表示部１６に第３設定モードの表示がなされている状態で決定スイッチ２４が操作されると、表示部１６に表示される機能が該第３設定モードにおける一段下位の層に切り替えられる。この第３設定モードの下位層には、干渉抑制設定機能を含む複数の機能が分類されており、選択スイッチ２３の操作に応じて該干渉抑制設定機能を含む各機能が表示部１６に切替表示されるようになっている。 When the determination switch 24 is operated while the display unit 16 is displaying the third setting mode, the function displayed on the display unit 16 is switched to the layer one level lower in the third setting mode. In the lower layer of the third setting mode, a plurality of functions including the interference suppression setting function are classified, and each function including the interference suppression setting function is switch-displayed on the display unit 16 according to the operation of the selection switch 23. It is supposed to be done.
表示部１６に干渉抑制設定機能の表示がなされている状態で決定スイッチ２４が操作されると、表示部１６に表示される機能が干渉抑制設定機能における一段下位の層に切り替えられる。この干渉抑制設定機能の下位層には、上記の他機干渉抑制機能及び環境干渉抑制機能と、干渉抑制オフ設定とが分類されており、選択スイッチ２３の操作に応じて当該各機能が表示部１６に切替表示されるようになっている。 When the determination switch 24 is operated in the state where the interference suppression setting function is displayed on the display unit 16, the function displayed on the display unit 16 is switched to a layer one step lower in the interference suppression setting function. The lower layer of the interference suppression setting function is classified into the other-device interference suppression function and the environment interference suppression function, and the interference suppression off setting, and each function is displayed on the display unit according to the operation of the selection switch 23. The display is switched to 16.
表示部１６に他機干渉抑制機能の表示がなされている状態で決定スイッチ２４が操作されると、表示部１６に表示される機能が他機干渉抑制機能における一段下位の層に切り替えられる。この他機干渉抑制機能の下位層には、上記の「Ｆ−１」、「Ｆ−２」、「Ｆ−３」、「Ｆ−４」の４種の動作モードが分類されており、選択スイッチ２３の操作に応じて、「Ｆ−１」、「Ｆ−２」、「Ｆ−３」、「Ｆ−４」の各動作モードが表示部１６に切替表示されるようになっている。そして、当該各動作モードのいずれかの表示がなされている状態で決定スイッチ２４が操作されると、ＣＰＵ１５は、当該動作モードに対応してメモリ１７に記憶された設定値ｃ１〜ｃ４，ｄ１〜ｄ４を、前記検出実行モードにおける投光周期Ｔ（及び受光信号Ｓｒのサンプリング周期）、及びデジタル積分回数に設定する。 When the determination switch 24 is operated in a state where the other unit interference suppression function is displayed on the display unit 16, the function displayed on the display unit 16 is switched to the next lower layer in the other unit interference suppression function. In the lower layer of the other-device interference suppression function, the above-mentioned four operation modes of "F-1", "F-2", "F-3", and "F-4" are classified and selected. In response to the operation of the switch 23, the operation modes of "F-1", "F-2", "F-3", and "F-4" are switched and displayed on the display unit 16. Then, when the determination switch 24 is operated while any one of the operation modes is displayed, the CPU 15 causes the set values c1 to c4 and d1 to be stored in the memory 17 corresponding to the operation mode. d4 is set to the light projection period T (and the sampling period of the light reception signal Sr) and the number of digital integrations in the detection execution mode.
表示部１６に環境干渉抑制機能の表示がなされている状態で決定スイッチ２４が操作されると、ＣＰＵ１５は、上記した環境干渉抑制機能を実行する。つまり、ＣＰＵ１５は、ハイレベルの投光パルス信号Ｓｇを基準値Ｔｂ及び補正値ｍ，ｎに基づく不定周期に設定する。なお、本実施形態の環境干渉抑制機能では、ＣＰＵ１５は、環境干渉抑制機能の表示がなされている状態で決定スイッチ２４が操作された時点における、前記応答時間設定機能での選択モード（応答時間設定機能で設定されている動作モード）を参照する。そして、ＣＰＵ１５は、投光パルス信号Ｓｇの出力周期を、応答時間設定機能での選択モードにおける投光周期Ｔの設定値（設定値ａ１〜ａ５のいずれか）を基準値Ｔｂとする不定周期に設定する。また、ＣＰＵ１５は、デジタル積分回数の設定値を、応答時間設定機能での選択モードにおけるデジタル積分回数の設定値（設定値ｂ１〜ｂ５のいずれか）に係数ｋを掛けた値に設定する。 When the determination switch 24 is operated while the environmental interference suppression function is displayed on the display unit 16, the CPU 15 executes the environmental interference suppression function described above. That is, the CPU 15 sets the high-level light emitting pulse signal Sg to an indefinite cycle based on the reference value Tb and the correction values m and n. In the environment interference suppression function of the present embodiment, the CPU 15 selects a mode (response time setting mode) in the response time setting function at the time when the decision switch 24 is operated while the environment interference suppression function is displayed. Refer to the operation mode set in the function). Then, the CPU 15 sets the output cycle of the light projection pulse signal Sg to an indefinite cycle in which the set value (one of the set values a1 to a5) of the light projection cycle T in the selection mode in the response time setting function is the reference value Tb. Set. Further, the CPU 15 sets the set value of the digital integration number to a value obtained by multiplying the set value of the digital integration number (one of the set values b1 to b5) in the selection mode in the response time setting function by the coefficient k.
そして、表示部１６に干渉抑制オフ設定の表示がなされている状態で決定スイッチ２４が操作されると、上記の他機干渉抑制機能及び環境干渉抑制機能が無効とされる。すなわち、ＣＰＵ１５は、応答時間設定機能での選択モードに対応してメモリ１７に記憶された設定値ａ１〜ａ５，ｂ１〜ｂ５を、前記検出実行モードにおける投光周期Ｔ（及び受光信号Ｓｒのサンプリング周期）、及びデジタル積分回数に設定する。 Then, when the determination switch 24 is operated in a state where the interference suppression OFF setting is displayed on the display unit 16, the other-device interference suppression function and the environmental interference suppression function are invalidated. That is, the CPU 15 sets the set values a1 to a5 and b1 to b5 stored in the memory 17 corresponding to the selection mode in the response time setting function to the light projection period T (and the sampling of the light reception signal Sr in the detection execution mode). Cycle) and the number of digital integrations.
次に、本実施形態の作用について説明する。
上記の他機干渉抑制機能及び環境干渉抑制機能が無効とされた（干渉抑制オフ設定が選択された）ワークＷの検出動作、すなわち、応答時間設定機能の動作モードは、上記のようにファストモード〜ハイパーロングモードの５種類が用意されている。応答時間設定機能の各動作モードでは、投光周期Ｔの設定幅（ひいては応答時間の設定幅）がより広いため、ワークＷの搬送速度等の使用状況に応じた最適な動作モードを選択することで、好適なワークＷの検出動作を実行することができる。このため、外乱光の影響を考慮しなくてもよい光電センサ１０の使用環境下においては、応答時間設定機能の動作モードでワークＷの検出動作が実行されることが望ましい。
Next, the operation of this embodiment will be described.
The detection operation of the work W in which the other machine interference suppression function and the environment interference suppression function are disabled (the interference suppression off setting is selected), that is, the operation mode of the response time setting function is the fast mode as described above. ~ Five types of hyper long mode are prepared. In each operation mode of the response time setting function, the setting range of the light projecting period T (and thus the setting range of the response time) is wider, so it is necessary to select the optimum operation mode according to the usage situation such as the transport speed of the work W. Thus, a suitable work W detection operation can be executed. For this reason, under the usage environment of the photoelectric sensor 10 in which the influence of ambient light does not have to be taken into consideration, it is desirable that the detection operation of the work W is executed in the operation mode of the response time setting function.
図２に示すように、ほぼ一定の周期で発光される外乱光Ｌａを受光素子１２が受光するおそれのある使用環境下では、ワークＷの誤検出が生じる場合がある。すなわち、図２の２点鎖線で示すように、外乱光Ｌａの周期がハイレベルの投光パルス信号Ｓｇの出力周期（投光周期Ｔ）、及び受光信号Ｓｒのサンプリング周期（内部検出フラグＦｄの出力周期）と一致してしまうと、ワークＷが検出領域に侵入して投光素子１１の光を遮っているにも関わらず、受光素子１２での外乱光Ｌａの受光によって内部検出フラグＦｄがハイレベルとなり、検出信号Ｓｄがローレベル、つまり、ワークＷが検出領域内に無いと判定されてしまう。 As shown in FIG. 2, erroneous detection of the work W may occur in a use environment in which the light receiving element 12 may receive the ambient light La emitted at a substantially constant period. That is, as indicated by the chain double-dashed line in FIG. 2, the output cycle (projection cycle T) of the projection pulse signal Sg in which the cycle of the disturbance light La is at the high level, and the sampling cycle of the received light signal Sr (internal detection flag Fd When the work W enters the detection area and blocks the light of the light projecting element 11, the internal detection flag Fd is received by the light receiving element 12 receiving the ambient light La. It becomes high level, and the detection signal Sd is low level, that is, it is determined that the work W is not in the detection area.
ここで、複数の光電センサ１０（より詳しくは投光素子１１を有するユニット）を近接配置した使用状況下においては、近接する他機の投光素子１１からの光が外乱光Ｌａとなるおそれがある。この場合、近接配置された複数の光電センサ１０のそれぞれの動作モードを、他機干渉抑制機能の動作モード「Ｆ−１」〜「Ｆ−４」の中で、互いに異なる動作モードに設定することで対応可能となる。すなわち、このように各光電センサ１０の動作モードを設定することで、図６に示すように、投光パルス信号Ｓｇの出力周期（及び受光信号Ｓｒのサンプリング周期）と、外乱光Ｌａ（他機の投光素子１１からの光）の周期とを異ならせることができる。それにより、外乱光Ｌａ（他機の投光素子１１からの光）によるワークＷの誤検出の発生を抑制することができる。なお、本実施形態の他機干渉抑制機能の各動作モードでは、投光周期Ｔの設定幅が狭い（本実施形態では１１０μｓ以下）ため、近接配置された複数の光電センサ１０における投光周期Ｔの違い（ひいては応答時間の違い）を小さく抑えることができ、より好適である。 Here, under a use condition in which a plurality of photoelectric sensors 10 (more specifically, a unit having a light projecting element 11) are arranged in close proximity, there is a risk that light from the projecting elements 11 of other nearby machines may become ambient light La. is there. In this case, the operation modes of the plurality of photoelectric sensors 10 arranged close to each other should be set to different operation modes among the operation modes “F-1” to “F-4” of the other-device interference suppression function. Will be available. That is, by setting the operation mode of each photoelectric sensor 10 in this way, as shown in FIG. 6, the output cycle of the light projection pulse signal Sg (and the sampling cycle of the light reception signal Sr) and the ambient light La (other device). (Light from the light projecting element 11) can be made different. Accordingly, it is possible to suppress the occurrence of erroneous detection of the work W due to the ambient light La (light from the light projecting element 11 of another machine). In each operation mode of the other device interference suppression function of the present embodiment, the setting range of the light projection period T is narrow (110 μs or less in the present embodiment), and therefore the light projection period T in the plurality of photoelectric sensors 10 arranged in proximity to each other. Is more preferable because the difference (and thus the difference in response time) can be suppressed to a small value.
次に、ほぼ一定の周期で発光される外乱光Ｌａが作業場のＬＥＤ照明の光等、周囲環境の光である場合を考える。この場合には、上記の環境干渉抑制機能での動作設定を行うことで対応可能となる。 Next, consider a case where the ambient light La emitted in a substantially constant cycle is the light of the surrounding environment such as the light of the LED illumination of the workplace. In this case, it is possible to deal with this by setting the operation in the environment interference suppressing function.
図７に示すように、環境干渉抑制機能では、ハイレベルの投光パルス信号Ｓｇの出力周期、及び受光信号Ｓｒのサンプリング周期（内部検出フラグＦｄの出力周期）が不定周期に設定される。このため、受光素子１２への外乱光Ｌａの入光のタイミングと、受光信号Ｓｒのサンプリングのタイミングとが一致する回数（確率）を極めて少なく抑えることができる。これにより、周囲環境に基づく外乱光ＬａによるワークＷの誤検出の発生を抑制することができる。 As shown in FIG. 7, in the environment interference suppression function, the output cycle of the high-level light projection pulse signal Sg and the sampling cycle of the light reception signal Sr (the output cycle of the internal detection flag Fd) are set to indefinite cycles. For this reason, the number of times (probability) at which the timing at which the ambient light La enters the light receiving element 12 and the timing at which the received light signal Sr is sampled can be suppressed to an extremely small number. As a result, the occurrence of erroneous detection of the work W due to the ambient light La based on the surrounding environment can be suppressed.
次に、本実施形態の特徴的な効果を記載する。
（１）光電センサ１０は、複数の光電センサ１０が近接配置された場合における他機からの投光によって生じる誤検出を抑制するための他機干渉抑制機能（第１の誤検出抑制機能）と、光電センサ１０の周囲環境からの光によって生じる誤検出を抑制すべく投光タイミングの設定がなされる環境干渉抑制機能（第２の誤検出抑制機能）とを備える。この構成によれば、複数の光電センサ１０を近接配置した場合に他機からの投光によって生じる誤検出と、光電センサ１０の周囲環境からの光によって生じる誤検出の両方に対処することが可能となり、光電センサ１０の検出性能の向上に寄与できる。
Next, the characteristic effects of this embodiment will be described.
(1) The photoelectric sensor 10 has an other-device interference suppression function (first erroneous detection suppression function) for suppressing erroneous detection caused by light projection from another device when a plurality of photoelectric sensors 10 are arranged close to each other. And an environment interference suppression function (second erroneous detection suppression function) in which the projection timing is set to suppress erroneous detection caused by light from the ambient environment of the photoelectric sensor 10. According to this configuration, it is possible to deal with both erroneous detection caused by light emission from another device and erroneous detection caused by light from the surrounding environment of the photoelectric sensor 10 when a plurality of photoelectric sensors 10 are arranged close to each other. Therefore, the detection performance of the photoelectric sensor 10 can be improved.
（２）環境干渉抑制機能の実行によって投光タイミング（つまり、ＣＰＵ１５による受光信号Ｓｒのサンプリングのタイミング）が不定周期に設定される。周囲環境の光のうち、例えばＬＥＤ照明の光等は発光周期が一定に近しいものであるため、受光信号Ｓｒのサンプリングのタイミングが不定周期に設定されることで、周囲環境の光（例えばＬＥＤ照明の光）が受光素子１２に入光するタイミングと、受光信号Ｓｒのサンプリングのタイミングとが一致する回数（確率）を少なく抑えることができる。これにより、光電センサ１０の周囲環境からの光によって生じる誤検出を抑制することができる。 (2) The projection timing (that is, the sampling timing of the light reception signal Sr by the CPU 15) is set to an indefinite cycle by executing the environmental interference suppression function. Of the light of the surrounding environment, for example, the light of the LED lighting or the like has a light emission cycle that is close to a constant, and therefore the timing of sampling the light reception signal Sr is set to an indefinite cycle, so that the light of the surrounding environment (for example, the LED lighting It is possible to reduce the number of times (probability) at which the timing at which the light) enters the light receiving element 12 coincides with the timing at which the light receiving signal Sr is sampled. This can prevent erroneous detection caused by light from the surrounding environment of the photoelectric sensor 10.
（３）他機干渉抑制機能及び環境干渉抑制機能が無効化された通常状態では、投光周期Ｔ（投光間隔）の設定値（設定値ａ１〜ａ５）が互いに異なる複数の通常動作モードが選択可能であり、投光素子１１は、選択された通常動作モードの投光周期Ｔの設定値ａ１〜ａ５に基づく一定間隔で繰り返し光を投光するように作動する。この構成によれば、通常状態において選択可能な各通常動作モードでは、投光周期Ｔの設定値ａ１〜ａ５がそれぞれ異なるため、使用状況に応じた通常動作モードを選択することで、好適なワークＷの検出動作を実行することができる。 (3) In the normal state in which the other device interference suppression function and the environment interference suppression function are disabled, there are a plurality of normal operation modes in which the set values (set values a1 to a5) of the projection period T (projection interval) are different from each other. It is selectable, and the light projecting element 11 operates so as to repeatedly project light at regular intervals based on the set values a1 to a5 of the projecting cycle T of the selected normal operation mode. According to this configuration, since the set values a1 to a5 of the light projecting period T are different in each of the normal operation modes that can be selected in the normal state, it is possible to select the normal operation mode according to the usage situation, and thus the suitable work is performed. The detection operation of W can be executed.
（４）環境干渉抑制機能が実行された状態では、通常状態において選択された通常動作モードの投光周期Ｔの設定値ａ１〜ａ５に基づいて算出された複数の間隔設定値の組み合わせで投光タイミングの不定周期が構成される。これにより、環境干渉抑制機能は各通常動作モードに連動するため、環境干渉抑制機能の実行時においても、使用状況に応じた通常動作モードの選択によって、好適なワークＷの検出動作を実行することができる。 (4) In a state where the environmental interference suppression function is executed, light is projected with a combination of a plurality of interval set values calculated based on the set values a1 to a5 of the light projecting cycle T in the normal operation mode selected in the normal state. An indefinite cycle of timing is constructed. As a result, the environmental interference suppression function is linked to each normal operation mode. Therefore, even when the environmental interference suppression function is executed, a suitable work W detection operation can be performed by selecting the normal operation mode according to the usage status. You can
（５）他機干渉抑制機能が実行された状態では、投光周期Ｔ（投光間隔）の設定値（設定値ｃ１〜ｃ４）が互いに異なる複数の誤検出抑制動作モードが選択可能であり、投光素子１１は、選択された誤検出抑制動作モードの投光周期Ｔの設定値に基づく一定間隔で繰り返し光を投光するように作動する。 (5) In the state in which the interference suppression function for other devices is executed, a plurality of erroneous detection suppression operation modes having different set values (set values c1 to c4) of the projection period T (projection interval) can be selected, The light projecting element 11 operates to repeatedly project light at regular intervals based on the set value of the light projecting cycle T of the selected erroneous detection suppressing operation mode.
この構成によれば、複数の光電センサ１０を近接配置する場合、該各光電センサ１０で設定する誤検出抑制動作モードを互いに異なるように選択することで、近接する他機からの投光によって生じる誤検出を抑制することができる。さらに、各誤検出抑制動作モードにおける投光周期Ｔの設定値ｃ１〜ｃ４は、互いに倍数の関係とならないように設定されるため、近接配置された複数の光電センサ１０で設定する誤検出抑制動作モードを互いに異なるように選択することで、近接する他機からの投光によって生じる誤検出をより好適に抑制することができる。 According to this configuration, when a plurality of photoelectric sensors 10 are arranged close to each other, by selecting different erroneous detection suppression operation modes set by the photoelectric sensors 10 so as to be different from each other, light is emitted from another device in proximity. False detection can be suppressed. Further, since the set values c1 to c4 of the light projection period T in each erroneous detection suppressing operation mode are set so as not to be in a multiple relationship with each other, the erroneous detection suppressing operation set by the plurality of photoelectric sensors 10 arranged in proximity to each other. By selecting the modes so as to be different from each other, it is possible to more appropriately suppress the erroneous detection caused by the light projection from another nearby device.
なお、上記実施形態は、以下のように変更してもよい。
・応答時間設定機能の各動作モードにおける設定値ａ１〜ａ５，ｂ１〜ｂ５は上記実施形態に限定されるものではない。また、応答時間設定機能で選択可能な動作モードの数は、上記実施形態の５つに限定されるものではなく、少なくとも２つ以上の動作モードを選択可能であればよい。
The above embodiment may be modified as follows.
The set values a1 to a5 and b1 to b5 in each operation mode of the response time setting function are not limited to those in the above embodiment. Further, the number of operation modes selectable by the response time setting function is not limited to the five in the above-described embodiment, and it is sufficient that at least two or more operation modes can be selected.
・他機干渉抑制機能の各動作モードにおける設定値ｃ１〜ｃ４，ｄ１〜ｄ４は上記実施形態に限定されるものではない。また、他機干渉抑制機能で選択可能な動作モードの数は、上記実施形態の４つに限定されるものではなく、少なくとも２つ以上の動作モードを選択可能であればよい。 The set values c1 to c4 and d1 to d4 in each operation mode of the other device interference suppression function are not limited to those in the above embodiment. Further, the number of operation modes selectable by the other-device interference suppression function is not limited to four in the above embodiment, and it is sufficient that at least two or more operation modes can be selected.
・上記実施形態の他機干渉抑制機能を他の態様に変更してもよい。例えば、隣接する光電センサ１０間の通信を可能とし、その通信情報に基づいて投光素子１１の投光タイミング及び受光信号Ｓｒのサンプリングのタイミングが、隣接する光電センサ１０間で異なるように、ワークＷの検出動作を実行する機能としてもよい。これによっても、他機の投光素子１１からの光によるワークＷの誤検出の発生を抑制することができる。また、このような隣接する光電センサ１０間の通信によって他機の投光素子１１からの光によるワークＷの誤検出の発生を抑制する機能と、上記実施形態の他機干渉抑制機能の両方を備えた構成としてもよい。 -The other device interference suppression function of the above-mentioned embodiment may be changed to another mode. For example, it is possible to communicate between the adjacent photoelectric sensors 10, and the work is made such that the light projecting timing of the light projecting element 11 and the sampling timing of the light receiving signal Sr are different between the adjacent photoelectric sensors 10 based on the communication information. It may be a function of executing the detection operation of W. This also makes it possible to suppress the occurrence of erroneous detection of the work W due to the light from the light projecting element 11 of the other machine. Further, both of the function of suppressing the occurrence of erroneous detection of the work W due to the light from the light projecting element 11 of the other device and the function of suppressing the interference of the other device by the communication between the adjacent photoelectric sensors 10 are performed. The configuration may be provided.
・上記実施形態の環境干渉抑制機能を他の態様に変更してもよい。例えば、上記実施形態では、ハイレベルの投光パルス信号Ｓｇの出力周期が、（Ｔｂ−ｍ）、（Ｔｂ＋ｍ）、（Ｔｂ＋ｎ）、（Ｔｂ−ｎ）、Ｔｂを繰り返すように設定されたが、これに特に限定されるものではない。例えば、上記実施形態よりも多数の補正値（例えば、４つの補正値ｍ，ｎ，ｌ，ｐ）を用意し、ハイレベルの投光パルス信号Ｓｇの出力周期が、（Ｔｂ＋ｍ）、（Ｔｂ＋ｎ）、（Ｔｂ＋ｌ）、（Ｔｂ＋ｐ）、Ｔｂを繰り返すように設定してもよい。なお、各補正値ｍ，ｎ，ｌ，ｐ（μｓ）は、素数に設定されることが好ましく、これによれば、受光素子１２への外乱光Ｌａの入光のタイミングと、受光信号Ｓｒのサンプリングのタイミングとが一致する確率をより少なく抑えることができる。 The environment interference suppression function of the above embodiment may be changed to another mode. For example, in the above embodiment, the output cycle of the high-level light projection pulse signal Sg is set to repeat (Tb-m), (Tb+m), (Tb+n), (Tb-n), and Tb. It is not particularly limited to this. For example, a larger number of correction values (for example, four correction values m, n, l, p) are prepared, and the output cycle of the high-level light emitting pulse signal Sg is (Tb+m), (Tb+n). , (Tb+1), (Tb+p), and Tb may be set to be repeated. Note that each of the correction values m, n, l, p (μs) is preferably set to a prime number, and according to this, the timing at which the ambient light La enters the light receiving element 12 and the light reception signal Sr. The probability that the sampling timing matches can be further suppressed.
また、例えば、上記実施形態では、環境干渉抑制機能の各動作モードにおける基準値Ｔｂ及びデジタル積分回数が、応答時間設定機能の各動作モードの設定値ａ１〜ａ５，ｂ１〜ｂ５に基づいて設定されたが、これに特に限定されるものではなく、環境干渉抑制機能の各動作モードにおける基準値Ｔｂ及びデジタル積分回数は適宜変更可能である。 Further, for example, in the above embodiment, the reference value Tb and the number of digital integrations in each operation mode of the environmental interference suppression function are set based on the set values a1 to a5 and b1 to b5 of each operation mode of the response time setting function. However, the present invention is not limited to this, and the reference value Tb and the number of digital integrations in each operation mode of the environmental interference suppression function can be changed as appropriate.
また、環境干渉抑制機能で選択可能な動作モードの数は、上記実施形態の５つに限定されるものではなく、１つ〜４つ、又は６つ以上としてもよい。
・光電センサ１０の選択操作の態様は、上記実施形態に限定されるものではなく、構成に応じて適宜変更してもよい。
Further, the number of operation modes selectable by the environmental interference suppression function is not limited to five in the above-described embodiment, and may be one to four, or six or more.
The mode of selecting operation of the photoelectric sensor 10 is not limited to the above-described embodiment, and may be appropriately changed according to the configuration.
・上記実施形態では、透過型の光電センサ１０について説明したが、被検出物からの反射光を利用して該被検出物の有無を検出する反射型の光電センサや、投光素子及び受光素子を備えた投受光ユニットを反射ミラーと対向配置する反射ミラー型の光電センサに上記実施形態及び上記各変更例を適用してもよい。 In the above embodiment, the transmissive photoelectric sensor 10 has been described, but a reflective photoelectric sensor that detects the presence or absence of the detected object by using the reflected light from the detected object, a light projecting element, and a light receiving element. The above-described embodiment and each modification may be applied to a reflection mirror type photoelectric sensor in which the light emitting/receiving unit including the above is disposed so as to face the reflection mirror.
・上記した実施形態並びに各変形例は適宜組み合わせてもよい。
次に、上記実施形態及び別例から把握できる技術的思想を以下に追記する。
（イ）請求項１〜４のいずれか１項に記載の光電センサにおいて、
前記第１の誤検出抑制機能が実行された状態では、近接する光電センサ間での通信情報に基づいて、前記投光タイミングが前記光電センサ間で異なるように設定されることを特徴とする光電センサ。
-The above-mentioned embodiment and each modification may be combined appropriately.
Next, technical ideas that can be understood from the above-described embodiment and other examples will be added below.
(A) In the photoelectric sensor according to any one of claims 1 to 4,
In a state in which the first false detection suppressing function is executed, the light projection timing is set to be different between the photoelectric sensors based on communication information between adjacent photoelectric sensors. Sensor.
これにより、近接する他機からの投光によって生じる誤検出を抑制することができる。 As a result, it is possible to suppress erroneous detection caused by light projection from other nearby devices.
１０…光電センサ、１１…投光素子（投光部）、１２…受光素子（受光部）、１５…ＣＰＵ（検出部）、Ｗ…ワーク（被検出物）。 10... Photoelectric sensor, 11... Light projecting element (light projecting section), 12... Light receiving element (light receiving section), 15... CPU (detecting section), W... Work (object to be detected).
Claims (3)
前記検出領域からの光を受光しその受光量に応じた受光信号を出力する受光部と、
前記投光部の投光タイミングと同期するタイミングで前記受光信号をサンプリングし、受光量レベルと閾値とを比較して、同じ比較結果がデジタル積分回数連続したときに、前記検出領域における前記被検出物の有無を検出する検出部とを備えた光電センサであって、
複数の光電センサが近接配置された場合における他機からの投光によって生じる誤検出を抑制するための第１の誤検出抑制機能と、
光電センサの周囲環境からの光によって生じる誤検出を抑制すべく前記投光タイミングが不定周期に設定される第２の誤検出抑制機能とを備え、
前記第１及び第２の誤検出抑制機能が無効化された通常状態では、投光間隔の設定値が互いに異なる複数の通常動作モードが選択可能であり、前記投光部は、選択された前記通常動作モードの前記投光間隔の設定値に基づく一定間隔で繰り返し光を投光するように作動し、
前記第２の誤検出抑制機能が実行された状態では、前記通常状態において選択された前記通常動作モードの前記投光間隔の設定値を、基準値Ｔｂ及び２つの補正値ｍ，ｎに基づいて（Ｔｂ−ｍ）、（Ｔｂ＋ｍ）、（Ｔｂ＋ｎ）、（Ｔｂ−ｎ）、Ｔｂを繰り返す、又は、基準値Ｔｂ及び４つの補正値ｍ，ｎ，ｌ，ｐに基づいて（Ｔｂ＋ｍ）、（Ｔｂ＋ｎ）、（Ｔｂ＋ｌ）、（Ｔｂ＋ｐ）、Ｔｂを繰り返すように前記投光タイミングの不定周期が設定されるとともに、前記デジタル積分回数が前記通常動作モード時のデジタル積分回数の整数倍に設定されることを特徴とする光電センサ。 A light projecting unit that intermittently projects light toward a detection region through which the object to be detected passes,
A light receiving unit that receives light from the detection region and outputs a light receiving signal according to the amount of received light,
The received light signal is sampled at a timing that is synchronized with the light projecting timing of the light projecting unit , the received light amount level is compared with a threshold value, and when the same comparison result continues digital integration times, the detected area in the detection area is detected. A photoelectric sensor having a detection unit for detecting the presence or absence of an object,
A first erroneous detection suppressing function for suppressing erroneous detection caused by light emission from another device when a plurality of photoelectric sensors are arranged close to each other;
A second erroneous detection suppressing function in which the light projection timing is set to an indefinite cycle in order to suppress erroneous detection caused by light from the ambient environment of the photoelectric sensor,
In the normal state in which the first and second erroneous detection suppression functions are disabled, it is possible to select a plurality of normal operation modes in which the set values of the light projecting interval are different from each other, and the light projecting unit selects the selected one. Operates to repeatedly emit light at regular intervals based on the set value of the light emitting interval in the normal operation mode,
In the state in which the second erroneous detection suppression function is executed, the set value of the projection interval in the normal operation mode selected in the normal state is set based on the reference value Tb and the two correction values m and n. (Tb-m), (Tb+m), (Tb+n), (Tb-n), Tb are repeated, or (Tb+m), (Tb+n) based on the reference value Tb and four correction values m, n, l, p. ), (Tb+1), (Tb+p), and Tb are repeated, and the indefinite period of the light projection timing is set, and the number of digital integrations is set to an integral multiple of the number of digital integrations in the normal operation mode. Photoelectric sensor characterized by.
前記受光信号のサンプリング周期と他機からの光の周期を異ならせ、前記第１の誤検出抑制機能が実行された状態では、投光間隔の設定値が互いに異なる複数の誤検出抑制動作モードが選択可能であり、前記投光部は、選択された前記誤検出抑制動作モードの前記投光間隔の設定値に基づく一定間隔で繰り返し光を投光するように作動することを特徴とする光電センサ。 The photoelectric sensor according to claim 1,
In a state in which the sampling cycle of the received light signal and the cycle of light from another device are made different and the first erroneous detection suppression function is executed, there are a plurality of erroneous detection suppression operation modes in which the set values of the light emission intervals are different from each other. The photoelectric sensor is selectable, and the light projecting unit operates so as to repeatedly project light at a constant interval based on a set value of the light projecting interval of the selected erroneous detection suppression operation mode. ..
前記各誤検出抑制動作モードにおける前記投光間隔の設定値は、互いに倍数の関係とならないように設定されていることを特徴とする光電センサ。 The photoelectric sensor according to claim 2,
The set value of the light projection interval in each of the erroneous detection suppression operation modes is set so as not to be in a multiple relationship with each other.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2015254549A JP6731251B2 (en) | 2015-12-25 | 2015-12-25 | Photoelectric sensor |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2015254549A JP6731251B2 (en) | 2015-12-25 | 2015-12-25 | Photoelectric sensor |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2017118435A JP2017118435A (en) | 2017-06-29 |
| JP6731251B2 true JP6731251B2 (en) | 2020-07-29 |
Family
ID=59234691
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2015254549A Active JP6731251B2 (en) | 2015-12-25 | 2015-12-25 | Photoelectric sensor |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP6731251B2 (en) |
Family Cites Families (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP3341025B2 (en) * | 1992-05-01 | 2002-11-05 | オムロン株式会社 | Photoelectric switch |
| JP2551732B2 (en) * | 1992-12-30 | 1996-11-06 | アレン−ブラッドレイ カンパニー， アイエヌシー． | Optoelectronic control unit and optimum gain automatic setting method thereof |
| JP3454360B2 (en) * | 2001-05-02 | 2003-10-06 | オムロン株式会社 | Photoelectric sensor |
| JP2005114551A (en) * | 2003-10-08 | 2005-04-28 | Omron Corp | Multi-optical-axis photoelectric sensor |
| JP5865669B2 (en) * | 2011-10-21 | 2016-02-17 | アズビル株式会社 | Photoelectric switch |
-
2015
- 2015-12-25 JP JP2015254549A patent/JP6731251B2/en active Active
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2017118435A (en) | 2017-06-29 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP5865669B2 (en) | Photoelectric switch | |
| JP2016114959A (en) | Photoelectric smoke detector | |
| JP2009124666A (en) | Photoelectric sensor | |
| JP6852481B2 (en) | Photoelectric sensor | |
| JP6731251B2 (en) | Photoelectric sensor | |
| JP5960893B2 (en) | Optical sensor | |
| JP2008277163A (en) | Multiple optical-axis photoelectric sensor | |
| US20190205099A1 (en) | Quantum random number generator and method for producing a random number by means of a quantum random number generator | |
| JP6750641B2 (en) | Judgment device, multi-optical axis photoelectric sensor, control method of judgment device, information processing program, and recording medium | |
| JP2005167703A (en) | Detection method in photoelectric switch | |
| JP5893518B2 (en) | Optical sensor | |
| WO2019102801A1 (en) | Multi-optical axis photoelectric sensor | |
| JP2008300198A (en) | Fluorescent lamp abnormality detecting device | |
| JP2004214899A (en) | Multi optical axis photoelectric sensor | |
| JP6986477B2 (en) | Photoelectric sensor and multi-optical axis photoelectric sensor | |
| JP4278567B2 (en) | Multi-axis photoelectric sensor | |
| JP2002204151A (en) | Many optic axes photoelectric sensor | |
| JP2014131165A (en) | Photoelectric sensor | |
| JP4335715B2 (en) | Automatic subject transfer device | |
| JP4394591B2 (en) | Multi-axis photoelectric sensor | |
| JP4352237B2 (en) | Sensor | |
| US11483505B2 (en) | Image synchronization device and image information generation apparatus including the same | |
| JP2003289244A (en) | Multiple optical axis photoelectric sensor | |
| JP2003296849A (en) | Tunnel disaster prevention system and flame detector | |
| JP2016173243A (en) | Photoelectric encoder |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20181105 |
|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20190813 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20190924 |
|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20191125 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20200428 |
|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20200615 |
|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20200701 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20200706 |
|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6731251 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |