JP2003289244A - Multiple optical axis photoelectric sensor - Google Patents

Multiple optical axis photoelectric sensor

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JP2003289244A
JP2003289244A JP2002091398A JP2002091398A JP2003289244A JP 2003289244 A JP2003289244 A JP 2003289244A JP 2002091398 A JP2002091398 A JP 2002091398A JP 2002091398 A JP2002091398 A JP 2002091398A JP 2003289244 A JP2003289244 A JP 2003289244A
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light projecting
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代祐 早川
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a multiple optical axis photoelectric sensor which can avoid the influence of coherent light without fail, even if it is in an environment where it receives coherent light from other devices. <P>SOLUTION: When scan action incapable of detecting coherent light in nonprojection periods have continued a specified number of times, this photoelectric sensor varies the scan cycle at random. Hereby, it becomes possible to detect the coherent light, and interference can be avoided by ordinary interference-avoiding action. In this case, the possibility of executing the same interference-avoiding action as in other multiple optical axis photoelectric sensors is very low, because this varies the scan cycle at random. <P>COPYRIGHT: (C)2004,JPO

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、複数の投光素子か
らの投光を当該投光素子に対応する複数の受光素子で受
光することにより検出エリアに位置する物体を検出する
多光軸光電センサに関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a multi-optical axis photoelectric sensor for detecting an object located in a detection area by receiving light emitted from a plurality of light emitting elements by a plurality of light receiving elements corresponding to the light emitting elements. Regarding sensors.

【0002】[0002]

【発明が解決しようとする課題】この種の光電センサで
は、より広い領域への物体の進入を検出すべく、複数の
多光軸光電センサを並設することが行われている。この
ように複数の多光軸光電センサを並設した場合は、多光
軸光電センサのスキャン周期が一致しているという事情
から、投光タイミングと受光タイミングとの同期を図る
にしても、他の多光軸光電センサの投光タイミングと一
致してしまう相互干渉を生じることがあり、誤検出を引
き起こすという問題を生じる。
In this type of photoelectric sensor, a plurality of multi-optical axis photoelectric sensors are arranged side by side in order to detect the entry of an object into a wider area. In the case where a plurality of multi-optical axis photoelectric sensors are arranged side by side in this way, even if the projection timing and the light receiving timing are synchronized with each other due to the fact that the scan cycles of the multi-optical axis photoelectric sensors match. In some cases, mutual interference may occur that coincides with the light projection timing of the multi-optical axis photoelectric sensor, causing a problem of erroneous detection.

【0003】このような相互干渉を防止する方法とし
て、自器の投光タイミングの直前に受光素子の受光状態
を検出し、受光している場合は、自器以外からの光を受
光している、即ち干渉しているとして、自器の投光タイ
ミングをずらすことで、干渉を防止する方法が用いられ
てきた。
As a method of preventing such mutual interference, the light receiving state of the light receiving element is detected immediately before the light projecting timing of the own device, and when light is being received, light from other than the own device is received. That is, it has been used a method of preventing interference by shifting the light projecting timing of the device itself, assuming that they interfere.

【0004】しかしながら、例えば、電源投入直後など
で、自器の投光タイミングと干渉光のタイミングとが完
全に一致した場合、自器の非投光タイミングの受光状態
を検出しても干渉光は検出されないことから、本当は干
渉光の影響を受けているにもかかわらず干渉光が検出さ
れず、干渉しているとは判断されなくなってしまう。こ
のため、自器が遮光状態になっても干渉光が入光するこ
とで、入光状態と誤って判断してしまうことになる。
However, for example, when the light emitting timing of the own device and the timing of the interfering light completely match immediately after the power is turned on, the interfering light is generated even if the light receiving state of the non-light emitting timing of the own device is detected. Since the interference light is not detected, the interference light is not detected although it is actually affected by the interference light, and it is not determined that the interference light is present. For this reason, even if the device itself is in the light-shielded state, the interference light is incident, so that it is erroneously determined to be the incident state.

【0005】本発明は上記事情に鑑みてなされたもの
で、その目的は、他器から干渉光を受ける環境であって
も、干渉光の影響を確実に回避することができる多光軸
光電センサを提供することにある。
The present invention has been made in view of the above circumstances, and an object thereof is a multi-optical axis photoelectric sensor capable of reliably avoiding the influence of interference light even in an environment in which interference light is received from another device. To provide.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】本発明は、検出エリアに
向けて光を照射すべく一列状に配置された複数の投光素
子と、これらの投光素子と対応して設けられ、前記検出
エリアからの光を受光する複数の受光素子と、前記投光
素子を所定の投光タイミングで順次走査するように投光
させる投光期間と何れの前記投光素子も投光させない非
投光期間からなるスキャン動作を繰返す投光駆動手段
と、前記投光期間においては前記受光素子からの受光信
号を対応する前記投光素子のタイミングに同期させて有
効化し、前記受光素子からの受光信号に基づいて前記検
出エリアにおける遮光状態を判断する判断手段と、前記
非投光期間においては前記受光素子からの受光信号に基
づいて干渉光の検出を行う干渉光検出手段と、この干渉
光検出手段が干渉光を検出した場合、前記投光タイミン
グが干渉光と重ならないように前記投光駆動手段のスキ
ャン周期を可変するスキャン周期可変手段とを備えた多
光軸光電センサにおいて、乱数発生手段を備え、前記ス
キャン周期可変手段は、前記干渉光検出手段が干渉光を
検出しないスキャン動作が所定回数連続したときは、前
記投光駆動手段のスキャン周期を前記乱数発生手段に応
じて決められる数値でランダムに可変するものである
(請求項1)。このような構成によれば、非投光期間に
おいて干渉光を検出したときは、スキャン周期可変手段
は、投光タイミングが干渉光と重ならないように投光駆
動手段のスキャン周期を可変するので、干渉光の影響を
防止できる。
According to the present invention, a plurality of light projecting elements arranged in a line to irradiate light toward a detection area and a plurality of light projecting elements provided corresponding to the light projecting elements are provided. A plurality of light receiving elements that receive light from the area, a light projecting period in which the light projecting elements project light so as to sequentially scan at a predetermined light projecting timing, and a non-light projecting period in which none of the light projecting elements projects light. And a light emitting drive unit that repeats the scan operation, and activates a light receiving signal from the light receiving element in synchronization with the timing of the corresponding light emitting element in the light emitting period, and based on the light receiving signal from the light receiving element. And the interference light detecting means for detecting the interference light based on the light receiving signal from the light receiving element in the non-light projecting period, and the interference light detecting means interferes with each other. light When detected, a multi-optical axis photoelectric sensor including a scan cycle changing means for changing the scan cycle of the light projecting drive means so that the light projection timing does not overlap with the interference light, a random number generating means is provided, and the scan is performed. The cycle changing means randomly changes the scan cycle of the light projecting drive means by a numerical value determined according to the random number generating means when the scanning operation in which the interference light detecting means does not detect the interference light continues for a predetermined number of times. (Claim 1). According to such a configuration, when the interference light is detected in the non-light-projecting period, the scan cycle changing means changes the scan cycle of the light projecting drive means so that the light projection timing does not overlap with the interference light. The influence of interference light can be prevented.

【0007】ところで、投光タイミングと干渉光とが完
全に重なっている場合は、上述したような干渉光の検出
を行うことができないことから、検出エリアに物体が存
在するにしても、干渉光が入光して物体を検出できなく
なる虞がある。ここで、スキャン周期可変手段は、干渉
光検出手段が干渉光を検出しないスキャン動作が所定回
数連続したときは、投光駆動手段のスキャン周期を乱数
発生手段に応じて決められる数値でランダムに可変する
から、投光タイミングと干渉光とが完全に重なっている
にしても、干渉光の存在を検出して、以後においては、
干渉光が投光タイミングに重ならないように投光駆動手
段のスキャン周期を可変することにより干渉光の影響を
未然に防止することができる。この場合、干渉光が他の
多光軸光電センサからのものであっても、乱数発生手段
を採用した結果、他の多光軸光電センサと同一の干渉光
回避動作を実行してしまうことを極力防止することがで
きる。
By the way, when the projection timing and the coherent light completely overlap each other, the coherent light cannot be detected as described above. Therefore, even if an object exists in the detection area, the coherent light is detected. There is a risk that the light may enter and the object cannot be detected. Here, when the scanning operation in which the interference light detecting means does not detect the interference light continues for a predetermined number of times, the scanning cycle changing means randomly changes the scanning cycle of the light projecting drive means by a numerical value determined according to the random number generating means. Therefore, even if the projection timing and the interference light completely overlap with each other, the presence of the interference light is detected, and thereafter,
The influence of the interference light can be prevented in advance by changing the scan cycle of the light projection drive unit so that the interference light does not overlap the light projection timing. In this case, even if the interference light is from another multi-optical axis photoelectric sensor, it is possible to perform the same interference light avoiding operation as that of the other multi-optical axis photoelectric sensor as a result of adopting the random number generating means. It can be prevented as much as possible.

【0008】また、本発明は、検出エリアに向けて光を
照射すべく一列状に配置された複数の投光素子と、これ
らの投光素子と対応して設けられ、前記検出エリアから
の光を受光する複数の受光素子と、前記投光素子を所定
の投光タイミングで順次走査するように投光させる投光
期間と何れの前記投光素子も投光させない非投光期間か
らなるスキャン動作を繰返す投光駆動手段と、前記投光
期間においては前記受光素子からの受光信号を対応する
前記投光素子のタイミングに同期させて有効化し、前記
受光素子からの受光信号に基づいて前記検出エリアにお
ける遮光状態を判断する判断手段と、前記非投光期間に
おいては前記受光素子からの受光信号に基づいて干渉光
の検出を行う干渉光検出手段と、この干渉光検出手段が
干渉光を検出した場合、前記投光タイミングが干渉光と
重ならないように前記投光駆動手段のスキャン周期を可
変するスキャン周期可変手段とを備えた多光軸光電セン
サにおいて、乱数発生手段を備え、前記スキャン周期可
変手段は、前記干渉光検出手段が干渉光を検出しないス
キャン動作が前記乱数発生手段に応じて決められるラン
ダムな回数連続したときは、前記投光駆動手段における
スキャン周期を可変するものである(請求項2)。
Further, according to the present invention, a plurality of light projecting elements arranged in a line to irradiate light toward the detection area and a plurality of light projecting elements provided corresponding to the light projecting elements are provided. A scanning operation including a plurality of light receiving elements for receiving light, a light projecting period in which the light projecting elements are projected to sequentially scan at a predetermined light projecting timing, and a non-light projecting period in which none of the light projecting elements is projected. And a light-emission driving unit that repeats the operation, and validates the light-receiving signal from the light-receiving element in synchronization with the timing of the corresponding light-emitting element during the light-projecting period, and detects the detection area based on the light-receiving signal from the light-receiving element In the non-light projecting period, the interference light detecting means for detecting the interference light based on the light receiving signal from the light receiving element, and the interference light detecting means detects the interference light. In this case, in the multi-optical axis photoelectric sensor including a scan cycle changing means for changing the scan cycle of the light projecting drive means so that the light projection timing does not overlap the interference light, a random number generating means is provided, and the scan cycle variable The means changes the scan cycle in the light projecting drive means when the scanning operation in which the interference light detecting means does not detect the interference light continues a random number of times determined according to the random number generating means. Item 2).

【0009】このような構成によれば、スキャン周期可
変手段は、干渉光検出手段が干渉光を検出しないスキャ
ン動作が乱数発生手段に応じて決められるランダムな回
数連続したときは、投光駆動手段のスキャン周期を可変
するから、投光タイミングと干渉光とが完全に重なって
いるにしても、干渉光の存在を検出して、以後において
は、干渉光が投光タイミングに重ならないように投光駆
動手段のスキャン周期を可変するようになり、干渉光の
影響を未然に防止することができる。
According to this structure, the scanning period changing means is arranged so that when the scanning operation in which the interference light detecting means does not detect the interference light continues for a random number of times determined by the random number generating means, the light projecting drive means is provided. Even if the light projection timing and the interference light completely overlap, the existence of the interference light is detected, and after that, the interference light does not overlap the light projection timing. The scan cycle of the light driving means can be changed, and the influence of interference light can be prevented in advance.

【0010】[0010]

【発明の実施の形態】(第1の実施の形態)以下、本発
明を4光軸の多光軸光電センサに適用した第1の実施の
形態を図1ないし図4に基づいて説明する。図1は、多
光軸光電センサの電気的構成を概略的に示している。こ
の図1において、多光軸光電センサ1は、検出エリアを
挟んで設置された投光器2及び受光器3から構成されて
いる。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION (First Embodiment) A first embodiment in which the present invention is applied to a multi-optical axis photoelectric sensor having four optical axes will be described below with reference to FIGS. 1 to 4. FIG. 1 schematically shows the electrical configuration of a multi-optical axis photoelectric sensor. In FIG. 1, a multi-optical axis photoelectric sensor 1 is composed of a light projector 2 and a light receiver 3 which are installed with a detection area sandwiched therebetween.

【0011】投光器2は、全体の制御を行う投光側CP
U4を主体として構成されており、この投光側CPU4
に接続される選択回路5と、この選択回路5に接続され
る複数の駆動回路6と、この駆動回路6のそれぞれに接
続される複数の投光素子7とを含んで構成されている。
The projector 2 is a projecting side CP that controls the entire system.
It is mainly composed of U4, and this projecting side CPU4
And a plurality of drive circuits 6 connected to the selection circuit 5, and a plurality of light projecting elements 7 connected to each of the drive circuits 6.

【0012】投光側CPU4は、後述するように受光器
3から同期信号を入力するように接続されており、この
同期信号に基づいて選択回路5に対して駆動回路6を順
次選択するための選択信号を出力するようになってい
る。選択回路5は、投光側CPU4から与えられた選択
信号に基づいて駆動回路6を通じて投光素子7を順次選
択して駆動させる。
The light-projecting side CPU 4 is connected so as to input a synchronizing signal from the light receiver 3 as will be described later, and for sequentially selecting the drive circuit 6 with respect to the selecting circuit 5 based on this synchronizing signal. It is designed to output a selection signal. The selection circuit 5 sequentially selects and drives the light projecting elements 7 through the drive circuit 6 based on the selection signal given from the light projecting CPU 4.

【0013】投光素子7は、駆動回路6から駆動された
ときは投光信号を検出エリアに向けて照射するもので、
投光器2全体としては、投光素子7から所定の投光タイ
ミングでch1〜ch4のパルス光が検出エリアに向け
て順次照射するようになっている。
The light projecting element 7 emits a light projecting signal toward the detection area when driven by the drive circuit 6.
The projector 2 as a whole is configured such that the pulsed light of ch1 to ch4 is sequentially emitted from the light projecting element 7 toward the detection area at a predetermined projecting timing.

【0014】受光器3は、全体の制御を行う受光側CP
U8を主体として構成されており、投光器2から検出エ
リアに向けて照射された光を受光すると受光信号を出力
する複数の受光素子9と、これらの受光素子9にそれぞ
れ接続される複数の受光アンプ10と、これらの受光ア
ンプ10のそれぞれの出力端子に接続される複数の受光
用コンパレータ11と、これらの受光用コンパレータ1
1のそれぞれの出力端子に入力端子が接続されるアナロ
グスイッチ12と、これらのアナログスイッチ12を受
光側CPU8からの選択信号にしたがってオンオフ制御
する選択回路13と、受光アンプ10のそれぞれの出力
端子に接続される複数の干渉検出用コンパレータ14
と、これらの干渉検出用コンパレータ14のそれぞれの
出力の論理和をとり受光側CPU8に出力する論理和回
路(以降,OR回路と称する)15とを含んで構成されて
いる。
The light receiver 3 is a light receiving side CP for controlling the entire device.
A plurality of light receiving elements 9 which are configured mainly by U8 and which output a light receiving signal when receiving the light emitted from the light projector 2 toward the detection area, and a plurality of light receiving amplifiers respectively connected to these light receiving elements 9. 10, a plurality of light receiving comparators 11 connected to respective output terminals of these light receiving amplifiers 10, and these light receiving comparators 1
1 is connected to each output terminal of an analog switch 12, an analog switch 12 is turned on / off in accordance with a selection signal from the light-receiving side CPU 8, and a selection circuit 13 is connected to each output terminal of the light-receiving amplifier 10. A plurality of interference detection comparators 14 connected
And a logical sum circuit (hereinafter referred to as an OR circuit) 15 which takes the logical sum of the outputs of the interference detection comparators 14 and outputs the logical sum to the CPU 8 on the light receiving side.

【0015】受光アンプ10は、受光素子9において検
出エリアからの光を受光して出力された受光信号を増幅
し、受光用コンパレータ11及び干渉検出用コンパレー
タ14にそれぞれ出力するようになっている。受光用コ
ンパレータ11は、あらかじめ設定された第1のしきい
値(それぞれ略同一な値に設定されている)をそれぞれ
有しており、受光アンプ10において増幅された受光信
号がこの第1のしきい値以上となるときには電源電圧V
cc程度のハイレベルの信号(以降、「H」信号と称する)
を出力し、第1しきい値以上とならないときには略GN
Dレベルに一致するロウレベルの信号(以降、「L」信
号と称する)を出力するように構成されている。
The light-receiving amplifier 10 receives light from the detection area in the light-receiving element 9 and amplifies the light-receiving signal output, and outputs it to the light-receiving comparator 11 and the interference detection comparator 14, respectively. The light receiving comparators 11 each have a preset first threshold value (set to substantially the same value), and the light receiving signal amplified by the light receiving amplifier 10 is the first threshold value. When the threshold value is exceeded, the power supply voltage V
High level signal of about cc (hereinafter referred to as "H" signal)
Is output, and when the value does not exceed the first threshold value, approximately GN
It is configured to output a low level signal (hereinafter, referred to as an “L” signal) that matches the D level.

【0016】アナログスイッチ12は、選択回路13に
よりオンオフ制御されて、オン状態となるとそれぞれ受
光用コンパレータ11の出力を通過させることにより受
光側CPU8に入力させるようになっている。尚、アナ
ログスイッチ12がオフ状態のときには受光用コンパレ
ータ11の出力は受光側CPU8に入力されることはな
く、受光側CPU8への入力電圧は例えば「L」レベル
が維持されるようになっている。
The analog switch 12 is on / off controlled by the selection circuit 13, and when it is turned on, the output of the light receiving comparator 11 is passed to input the analog switch 12 to the light receiving side CPU 8. When the analog switch 12 is off, the output of the light receiving comparator 11 is not input to the light receiving side CPU 8, and the input voltage to the light receiving side CPU 8 is maintained at, for example, "L" level. .

【0017】選択回路13は、受光側CPU8からの選
択信号を入力し、選択されたアナログスイッチ12を順
次オンオフ制御するようになっている。受光側CPU8
は、前述したように投光側CPU4にあらかじめ設定さ
れた受光信号を有効化する期間(同期タイミング)に応じ
て同期信号を出力すると共に、選択回路13に対してア
ナログスイッチ12の選択信号を出力するようになって
おり、有効となったアナログスイッチ12からの各出力
を同期タイミングに入力することにより検出エリアにお
ける物体の存在を判断するようになっている。以上のよ
うに多光軸光電センサ1は検出エリアに位置する物体を
検出するという基本機能に加えて干渉光の影響を回避す
る干渉回避機能を有しており、以下、干渉回避機能を実
現するための構成について簡単に説明する。
The selection circuit 13 inputs a selection signal from the CPU 8 on the light receiving side and sequentially turns on / off the selected analog switch 12. Light receiving side CPU8
Outputs a synchronization signal in accordance with a period (synchronization timing) in which the light reception signal preset in the light-emission-side CPU 4 is valid as described above, and outputs a selection signal of the analog switch 12 to the selection circuit 13. The presence of an object in the detection area is determined by inputting each output from the enabled analog switch 12 at the synchronization timing. As described above, the multi-optical axis photoelectric sensor 1 has not only the basic function of detecting an object located in the detection area but also the interference avoidance function for avoiding the influence of the interference light. Hereinafter, the interference avoidance function is realized. The configuration for this will be briefly described.

【0018】干渉検出用コンパレータ14は、あらかじ
め設定された第2のしきい値(それぞれ略同一な値に設
定されている)をそれぞれ有しており、受光アンプ10
において増幅された受光信号がこの第2のしきい値以上
となるときには「H」信号を出力し、第2しきい値以上
とならないときには「L」信号をOR回路15に出力す
るように構成されている。
The interference detecting comparators 14 each have a second threshold value set in advance (set to substantially the same value), and the light receiving amplifier 10
When the light reception signal amplified in (1) is equal to or higher than the second threshold value, an "H" signal is output, and when the amplified light reception signal is not equal to or higher than the second threshold value, an "L" signal is output to the OR circuit 15. ing.

【0019】尚、受光用コンパレータ11に設定された
第1しきい値と干渉検出用コンパレータ14に設定され
た第2しきい値とは異なる値に設定されており、第1し
きい値に対して第2しきい値が小さく設定されている。
これは、受光信号に対して干渉光の信号レベルが小さい
のが通常であることから、干渉光を確実に検出するため
である。
Note that the first threshold value set in the light receiving comparator 11 and the second threshold value set in the interference detecting comparator 14 are set to different values, with respect to the first threshold value. And the second threshold value is set small.
This is because the signal level of the interference light is usually smaller than that of the received light signal, so that the interference light is reliably detected.

【0020】OR回路15は、例えばワイヤードOR回
路から構成されており、負論理のOR回路として機能す
るようになっている。受光側CPU8は、OR回路15
において取得された論理和の信号をあらかじめ設定され
た有効化期間(非投光期間)に検出するようになってい
る。
The OR circuit 15 is composed of, for example, a wired OR circuit, and functions as a negative logic OR circuit. The light-receiving side CPU 8 has an OR circuit 15
The signal of the logical sum obtained in (1) is detected during a preset valid period (non-light-projecting period).

【0021】尚、本発明における投光駆動手段は、投光
側CPU4及び選択回路から構成され、判断手段は、受
光側CPU8及び受光用コンパレータ11とから構成さ
れ、干渉光判定手段は、受光側CPU8、干渉検出用コ
ンパレータ14及びOR回路15から構成され、スキャ
ン周期可変手段及び乱数発生手段は、受光側CPU8か
ら構成されている。
The light projecting drive means in the present invention is composed of the light projecting side CPU 4 and the selection circuit, the judging means is composed of the light receiving side CPU 8 and the light receiving comparator 11, and the interference light judging means is the light receiving side. The CPU 8, the interference detection comparator 14, and the OR circuit 15 are included, and the scan cycle changing unit and the random number generating unit are included in the light-receiving side CPU 8.

【0022】次に上記構成の作用について説明する。 [遮光検出(投光期間)]受光側CPU8は、投光側C
PU4と同期するための同期信号を、内部クロックを基
準にして生成して投光側CPU4に出力する。投光側C
PU4は、この同期信号に基づいて選択回路5に対して
選択信号を出力する。このとき、選択回路5は、選択信
号により駆動回路6を選択するので、投光側CPU4
は、駆動回路6に対して投光指令P1〜P4を与え、こ
れにより、投光素子7からは、所定の投光タイミングで
ch1〜ch4のパルス光が順次投光される。
Next, the operation of the above configuration will be described. [Light-shielding detection (light emitting period)] The light receiving side CPU 8 is
A synchronizing signal for synchronizing with the PU 4 is generated based on the internal clock and output to the projecting CPU 4. Emitter side C
The PU 4 outputs a selection signal to the selection circuit 5 based on this synchronization signal. At this time, the selection circuit 5 selects the drive circuit 6 by the selection signal.
Gives light emission commands P1 to P4 to the drive circuit 6, whereby the light emitting element 7 sequentially emits the pulsed lights of ch1 to ch4 at a predetermined light emitting timing.

【0023】一方、受光側CPU8は、投光側CPU4
に同期信号を出力すると、選択回路13に選択信号を出
力する。このとき、選択回路13は、選択信号によりc
h1のアナログスイッチ12をオン状態とするように制
御し、ch1となる受光素子9からの受光信号をあらか
じめ定められた投光タイミングを含む所定期間だけ有効
化する。
On the other hand, the light receiving side CPU 8 is the light emitting side CPU 4
When the synchronizing signal is output to, the selection signal is output to the selection circuit 13. At this time, the selection circuit 13 causes the selection signal c
The analog switch 12 of h1 is controlled to be turned on, and the light receiving signal from the light receiving element 9 for ch1 is validated for a predetermined period including a predetermined light emitting timing.

【0024】さて、受光素子9が受光した受光信号は、
受光アンプ10で増幅されてから、受光用コンパレータ
11において第1しきい値と比較される。このとき、検
出エリアにおいて投光素子7からのパルス光が遮光され
ていなければ、受光用コンパレータ11からは、受光ア
ンプ10で増幅された受光信号と第1しきい値との比較
出力から受光側CPU8には「H」信号が入力され、遮
光されていれば「L」信号が入力される。
The received light signal received by the light receiving element 9 is
After being amplified by the light receiving amplifier 10, it is compared with the first threshold value by the light receiving comparator 11. At this time, if the pulsed light from the light projecting element 7 is not shielded in the detection area, the light receiving comparator 11 outputs a comparison output between the light receiving signal amplified by the light receiving amplifier 10 and the first threshold value to the light receiving side. The "H" signal is input to the CPU 8 and the "L" signal is input if the light is shielded.

【0025】受光側CPU8は、投光側CPU4に出力
した同期信号に基づいて、所定タイミングで入力される
信号が「H」信号であるか否かを判定し、この結果か
ら、検出エリアにおいて遮光されているか否かを判断す
る。その後、投光側CPU4は、選択回路5に対して選
択信号を出力し、ch2の駆動回路6を選択するので、
ch2の投光素子7から所定の投光タイミングでパルス
光が投光される。
The light-receiving side CPU 8 determines whether or not the signal input at a predetermined timing is the "H" signal based on the synchronization signal output to the light-emitting side CPU 4, and from this result, the light is shielded in the detection area. It is determined whether or not it has been done. After that, the CPU 4 on the light projecting side outputs a selection signal to the selection circuit 5 to select the drive circuit 6 for ch2.
Pulsed light is projected from the light projecting element 7 of ch2 at a predetermined projecting timing.

【0026】一方、受光側CPU8は、ch1において
有効化された所定期間だけ経過すると、選択回路13に
選択信号を出力し、選択回路13はこの選択信号に基づ
いてch1のアナログスイッチ12をオフ状態とし、c
h2のアナログスイッチ12をオン状態として所定期間
だけ同様に有効化することで、この有効化された期間に
投光信号を受光し、増幅された受光信号の第1しきい値
と比較した結果を受光側CPU8に入力することにな
る。
On the other hand, the light-receiving side CPU 8 outputs a selection signal to the selection circuit 13 after a lapse of a predetermined period enabled in ch1, and the selection circuit 13 turns off the analog switch 12 of ch1 based on this selection signal. And c
By similarly turning on the analog switch 12 of h2 and validating it for a predetermined period, the light projection signal is received during this valid period and the result of comparison with the first threshold value of the amplified light reception signal is shown. It is input to the light receiving side CPU 8.

【0027】以上のような動作により、投光器2の投光
素子7からは、検出エリアに向けてパルス光がch1か
らch4の順に繰返して投光されると共に、投光器2に
対向する受光器3の受光素子9は、これらのパルス光を
投光タイミングの期間を含んだ有効期間に受光し、この
有効化された期間内に増幅された受光信号と第1しきい
値とを比較した結果が受光側CPU8に間欠的に入力さ
れることになり(図2参照)、その結果に基づいて検出
エリアに物体が位置しているか否かを判断することがで
きる。
By the above-described operation, the pulsed light is repeatedly projected from the light projecting element 7 of the light projecting device 2 toward the detection area in the order of ch1 to ch4, and the light receiving device 3 facing the light projecting device 2 operates. The light receiving element 9 receives these pulsed lights during an effective period including the period of the light emission timing, and the result of comparison between the light receiving signal amplified within this enabled period and the first threshold value is the received light. The data is intermittently input to the side CPU 8 (see FIG. 2), and it is possible to determine whether or not the object is located in the detection area based on the result.

【0028】[干渉光検出(非投光期間)]投光側CPU
4は、図2に示すように所定期間(干渉光の状態によっ
て変化する)投光を停止し、この非投光期間において受
光側CPU8は干渉光の検出を開始する。
[Interference light detection (non-light emission period)] Light emission side CPU
As shown in FIG. 2, 4 stops the light projection for a predetermined period (which changes depending on the state of the interference light), and the light-receiving side CPU 8 starts the detection of the interference light during this non-light projection period.

【0029】ここで、受光側CPU8は、非投光期間に
おいてはOR回路15からの入力電圧の検出を開始する
(干渉光判定期間の開始)。干渉検出用コンパレータ1
4は、受光アンプ10により増幅された受光信号を第2
しきい値と比較する。この場合、干渉検出用コンパレー
タ14は、受光信号が第2しきい値以上となるときは、
「H」信号を出力し、受光側CPU8には「H」信号が
入力される。また、受光信号が第2しきい値以上となら
ないときには、「L」信号を出力し、受光側CPU8に
は「L」信号が入力される。
Here, the light-receiving side CPU 8 starts the detection of the input voltage from the OR circuit 15 in the non-light projecting period (start of the interference light determining period). Interference detection comparator 1
Reference numeral 4 is a second light receiving signal amplified by the light receiving amplifier 10.
Compare with threshold. In this case, when the received light signal is equal to or higher than the second threshold, the interference detection comparator 14
The "H" signal is output, and the "H" signal is input to the light-receiving side CPU 8. When the light receiving signal does not exceed the second threshold value, the “L” signal is output and the “L” signal is input to the light receiving side CPU 8.

【0030】さて、受光器3の受光素子9に干渉光が入
光すると、受光素子9はこの干渉光を受光信号として検
出し、受光アンプ10はこの受光信号を増幅する。これ
により、非投光期間においてOR回路15から「H」信
号が入力されるので、受光側CPU8は、干渉光が入光
したと判断することができ、投光タイミングが干渉光と
重ならないようにずらす周知の干渉回避動作を実行す
る。以上のようにして、投光素子7を所定の投光タイミ
ングで順次走査するように投光させる投光期間と何れの
投光素子7も投光させない非投光期間からなるスキャン
動作が繰返して行われる。
When the interference light enters the light receiving element 9 of the light receiver 3, the light receiving element 9 detects the interference light as a light receiving signal, and the light receiving amplifier 10 amplifies the light receiving signal. As a result, since the "H" signal is input from the OR circuit 15 during the non-light-emission period, the light-receiving side CPU 8 can determine that the interference light has entered, and the light-emission timing does not overlap with the interference light. The well-known interference avoidance operation is performed. As described above, the scanning operation including the light projecting period in which the light projecting element 7 is sequentially projected at a predetermined light projecting timing and the non-light projecting period in which none of the light projecting elements 7 is projected is repeated. Done.

【0031】[干渉回避動作]図3は、本発明に係る受光
側CPU8の干渉回避動作を示している。この図3にお
いて、干渉光が検出されない状態がはじめての場合(S
=0)は(S101:YES)、乱数を発生し(S10
2)、これに基づいて監視スキャン数Xを設定する(S
103)。例えば乱数が「3」とすると、監視スキャン
数Xは3スキャンに設定される(X=3)。
[Interference Avoidance Operation] FIG. 3 shows an interference avoidance operation of the light receiving side CPU 8 according to the present invention. In FIG. 3, when the interference light is not detected for the first time (S
= 0) (S101: YES), a random number is generated (S10
2) Based on this, the number X of monitoring scans is set (S
103). For example, if the random number is "3", the number X of monitoring scans is set to 3 scans (X = 3).

【0032】次に、干渉光が検出されない状態のスキャ
ン数Sと監視スキャン数Xとを比較する(S104)。
この場合、監視スキャン数が3スキャンなので、干渉光
が検出されないスキャン動作が3回連続するまでは、通
常周期が保たれる(S105)。これにより、上述した
通常のスキャン周期による検出動作が行われ、検出動作
が終了したところでスキャン数Sがインクリメントされ
る(S106)。
Next, the number S of scans in which no interference light is detected and the number X of monitoring scans are compared (S104).
In this case, since the number of monitoring scans is 3, the normal cycle is maintained until the scanning operation in which the interference light is not detected continues three times (S105). As a result, the detection operation is performed in the normal scan cycle described above, and the scan number S is incremented when the detection operation ends (S106).

【0033】さて、干渉光が検出されないスキャン動作
が3回(S=3)連続した場合は(S104:NO)、
スキャン周期を可変する(S107)。このスキャン周
期を可変する仕方としては様々な方法があるが、本実施
の形態ではスキャン周期を所定時間だけ短くするように
した。この結果、図4に示すように他の多光軸光電セン
サ1からの投光を検出することが可能となり、干渉光の
回避動作を確実に実行することができる。そして、スキ
ャン周期を所定時間短くしたときは、S=0とすること
により初期状態に復帰する(S108)。
When the scanning operation in which the interference light is not detected is repeated three times (S = 3) (S104: NO),
The scan cycle is changed (S107). There are various methods for changing the scan cycle, but in the present embodiment, the scan cycle is shortened by a predetermined time. As a result, as shown in FIG. 4, it is possible to detect the light projected from the other multi-optical axis photoelectric sensor 1, and it is possible to reliably execute the interference light avoiding operation. When the scan cycle is shortened by a predetermined time, S = 0 is set to restore the initial state (S108).

【0034】このような実施の形態によれば、非投光期
間において干渉光を検出できないスキャン動作が乱数で
決定した監視スキャン数だけ連続したときは、スキャン
周期を変更するようにしたので、他の多光軸光電センサ
1からスキャン周期と同一周期の干渉光が入光するにし
ても、その干渉光を確実に検出して干渉回避動作を確実
に実行することができる。この場合、監視スキャン数を
乱数で求めるようにしたので、他の多光軸光電センサ1
と同一の干渉回避動作を実行する可能性は極めて低く、
干渉光を確実に検出することができる。
According to such an embodiment, when the number of scan operations in which the interference light cannot be detected during the non-light-projecting period continues for the number of monitoring scans determined by the random number, the scan cycle is changed. Even if interference light having the same cycle as the scan cycle enters from the multi-optical axis photoelectric sensor 1, it is possible to reliably detect the interference light and reliably execute the interference avoiding operation. In this case, since the number of monitoring scans is determined by a random number, the other multi-optical axis photoelectric sensor 1
It is extremely unlikely to perform the same interference avoidance action as
Interference light can be detected reliably.

【0035】(第2の実施の形態)次に本発明の第2の
実施に形態を図5に基づいて説明する。この第2の実施
の形態は、スキャン周期を乱数によりランダムに変更す
ることを特徴とする。
(Second Embodiment) Next, a second embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. The second embodiment is characterized in that the scan cycle is randomly changed by a random number.

【0036】受光側CPU8の動作を示す図5におい
て、監視スキャン数は固定(例えばX=3)であり(S
201)、干渉光を検出できないスキャン動作が3回連
続したときは(S202:NO)、乱数を発生し(S2
05)、スキャン周期を乱数分だけ短くする(S20
6)。この場合、監視スキャン数は3回と固定している
ものの、スキャン周期を可変する手段として、スキャン
周期をランダムに変更するようにしたので、他の多光軸
光電センサ1からの干渉光を確実に検出することができ
る。
In FIG. 5 showing the operation of the CPU 8 on the light receiving side, the number of monitoring scans is fixed (for example, X = 3) (S
201), when the scanning operation in which the interference light cannot be detected is repeated three times (S202: NO), a random number is generated (S2).
05), the scan cycle is shortened by a random number (S20).
6). In this case, although the number of monitoring scans is fixed to three, the scanning cycle is randomly changed as a means for varying the scanning cycle, so that the interference light from other multi-optical axis photoelectric sensors 1 is surely obtained. Can be detected.

【0037】このような実施の形態によれば、干渉光を
検出できないスキャン動作が監視スキャン数連続したと
きは、スキャン周期をランダムに可変するようにしたの
で、第1の実施の形態と同様に、他の多光軸光電センサ
1からの干渉光を確実に検出して干渉回避動作を実行す
ることができる。
According to such an embodiment, when the number of scan operations in which the interference light cannot be detected continues for the number of monitoring scans, the scan cycle is randomly changed. Therefore, similar to the first embodiment. Therefore, the interference avoidance operation can be executed by surely detecting the interference light from the other multi-optical axis photoelectric sensor 1.

【0038】本発明は、上記各実施の形態に限定される
ものではなく、監視スキャン数及びスキャン周期を同時
にランダムに変更するようにしてもよい。
The present invention is not limited to the above embodiments, but the number of monitoring scans and the scan cycle may be changed at the same time randomly.

【0039】[0039]

【発明の効果】以上の説明から明らかなように、本発明
の多光軸光電センサによれば、干渉光を検出しないスキ
ャン動作が所定回数連続したときは、スキャン周期をラ
ンダムに可変したり、干渉光を検出しないスキャン動作
がランダムな回数連続したときは、スキャン周期を可変
するようにしたので、他器から干渉光を受ける環境であ
っても、干渉光の影響を確実に回避することができると
いう優れた効果を奏する。
As is apparent from the above description, according to the multi-optical axis photoelectric sensor of the present invention, when the scanning operation in which the interference light is not detected continues for a predetermined number of times, the scanning cycle is randomly changed, When the scanning operation that does not detect the interference light is repeated a random number of times, the scan cycle is made variable, so that the influence of the interference light can be reliably avoided even in an environment where the interference light is received from another device. It has an excellent effect that it can be done.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の第1の実施の形態における電気的構成
を概略的に示すブロック図
FIG. 1 is a block diagram schematically showing an electrical configuration according to a first embodiment of the present invention.

【図2】検出動作及び干渉光の検出動作を示すタイミン
グ図
FIG. 2 is a timing diagram showing a detection operation and an interference light detection operation.

【図3】受光器の受光側CPUの動作を示すフローチャ
ート
FIG. 3 is a flowchart showing an operation of a light-receiving side CPU of a light receiver.

【図4】干渉回避動作を示すタイミング図FIG. 4 is a timing diagram showing an interference avoidance operation.

【図5】本発明の第2の実施の形態における図3相当図FIG. 5 is a diagram corresponding to FIG. 3 in the second embodiment of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1は多光軸光電センサ、2は投光器、3は受光器、4は
投光側CPU(投光駆動手段)、5は選択回路(投光駆
動手段)、7は投光素子、8は受光側CPU(判断手
段、干渉光判定手段、スキャン周期可変手段、乱数発生
手段)、9は受光素子、11は受光用コンパレータ(判
断手段)、14は干渉検出用コンパレータ(干渉光判定
手段)、15はOR回路(干渉光判定手段)である。
Reference numeral 1 is a multi-optical axis photoelectric sensor, 2 is a light emitter, 3 is a light receiver, 4 is a light emitting side CPU (light emitting drive means), 5 is a selection circuit (light emitting drive means), 7 is a light emitting element, and 8 is light receiving. Side CPU (determination means, interference light determination means, scan cycle variable means, random number generation means), 9 is a light receiving element, 11 is a light receiving comparator (determination means), 14 is an interference detection comparator (interference light determination means), 15 Is an OR circuit (interference light determination means).

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 検出エリアに向けて光を照射すべく一列
状に配置された複数の投光素子と、 これらの投光素子と対応して設けられ、前記検出エリア
からの光を受光する複数の受光素子と、 前記投光素子を所定の投光タイミングで順次走査するよ
うに投光させる投光期間と何れの前記投光素子も投光さ
せない非投光期間からなるスキャン動作を繰返す投光駆
動手段と、 前記投光期間においては前記受光素子からの受光信号を
対応する前記投光素子のタイミングに同期させて有効化
し、前記受光素子からの受光信号に基づいて前記検出エ
リアにおける遮光状態を判断する判断手段と、 前記非投光期間においては前記受光素子からの受光信号
に基づいて干渉光の検出を行う干渉光検出手段と、 この干渉光検出手段が干渉光を検出した場合、前記投光
タイミングが干渉光と重ならないように前記投光駆動手
段のスキャン周期を可変するスキャン周期可変手段とを
備えた多光軸光電センサにおいて、 乱数発生手段を備え、 前記スキャン周期可変手段は、前記干渉光検出手段が干
渉光を検出しないスキャン動作が所定回数連続したとき
は、前記投光駆動手段のスキャン周期を前記乱数発生手
段に応じて決められる数値でランダムに可変することを
特徴とする多光軸光電センサ。
1. A plurality of light projecting elements arranged in a line so as to irradiate light toward a detection area, and a plurality of light emitting elements provided corresponding to these light projecting elements and receiving light from the detection area. A light receiving element, a light projecting period in which the light projecting element projects light so as to sequentially scan at a predetermined light projecting timing, and a non-light projecting period in which none of the light projecting elements projects light. The driving means and the light receiving period from the light receiving element in the light projecting period are activated in synchronization with the timing of the corresponding light projecting element, and the light blocking state in the detection area is set based on the light receiving signal from the light receiving element. Judgment means for judging, interference light detection means for detecting interference light based on a light reception signal from the light receiving element in the non-light projection period, and if the interference light detection means detects interference light, A multi-optical axis photoelectric sensor having a scan cycle varying means for varying the scan cycle of the light projecting drive means so that the timing does not overlap with the interference light, wherein a random number generating means is provided, and the scan cycle varying means comprises the interference When the scanning operation in which the light detecting means does not detect the interference light continues for a predetermined number of times, the scanning cycle of the light projecting driving means is randomly varied by a numerical value determined according to the random number generating means. Axis photoelectric sensor.
【請求項2】 検出エリアに向けて光を照射すべく一列
状に配置された複数の投光素子と、 これらの投光素子と対応して設けられ、前記検出エリア
からの光を受光する複数の受光素子と、 前記投光素子を所定の投光タイミングで順次走査するよ
うに投光させる投光期間と何れの前記投光素子も投光さ
せない非投光期間からなるスキャン動作を繰返す投光駆
動手段と、 前記投光期間においては前記受光素子からの受光信号を
対応する前記投光素子のタイミングに同期させて有効化
し、前記受光素子からの受光信号に基づいて前記検出エ
リアにおける遮光状態を判断する判断手段と、 前記非投光期間においては前記受光素子からの受光信号
に基づいて干渉光の検出を行う干渉光検出手段と、 この干渉光検出手段が干渉光を検出した場合、前記投光
タイミングが干渉光と重ならないように前記投光駆動手
段のスキャン周期を可変するスキャン周期可変手段とを
備えた多光軸光電センサにおいて、 乱数発生手段を備え、 前記スキャン周期可変手段は、前記干渉光検出手段が干
渉光を検出しないスキャン動作が前記乱数発生手段に応
じて決められるランダムな回数連続したときは、前記投
光駆動手段におけるスキャン周期を可変することを特徴
とする多光軸光電センサ。
2. A plurality of light projecting elements arranged in a line so as to irradiate light toward the detection area, and a plurality of light emitting elements provided corresponding to these light projecting elements and receiving light from the detection area. A light receiving element, a light projecting period in which the light projecting element projects light so as to sequentially scan at a predetermined light projecting timing, and a non-light projecting period in which none of the light projecting elements projects light. The driving means and the light receiving period from the light receiving element in the light projecting period are activated in synchronization with the timing of the corresponding light projecting element, and the light blocking state in the detection area is set based on the light receiving signal from the light receiving element. Judgment means for judging, interference light detection means for detecting interference light based on a light reception signal from the light receiving element in the non-light projection period, and if the interference light detection means detects interference light, A multi-optical axis photoelectric sensor having a scan cycle varying means for varying the scan cycle of the light projecting drive means so that the timing does not overlap with the interference light, wherein a random number generating means is provided, and the scan cycle varying means comprises the interference When the scanning operation in which the light detecting means does not detect the interference light is repeated a random number of times determined according to the random number generating means, the scanning cycle in the light projecting drive means is varied. .
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JP2014123835A (en) * 2012-12-20 2014-07-03 Azbil Corp Reflected wave detector

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