JP2008277163A - Multiple optical-axis photoelectric sensor - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、多光軸光電センサに関するものである。 The present invention relates to a multi-optical axis photoelectric sensor.
従来、物体が検出エリア内に侵入したことを検出する多光軸光電センサが知られている。多光軸光電センサは、複数の投光素子が備えられた投光器と各投光素子に対応して複数の受光素子が備えられた受光器とが対向して配置される。そして、投光器に備えられた投光素子が所定の投光タイミングにて順次投光される投光スキャン動作を所定周期で繰り返し行うとともに、各投光素子と対応する受光素子からの受光信号に基づいて、検出エリア内への物体侵入が検出される。 Conventionally, a multi-optical axis photoelectric sensor for detecting that an object has entered a detection area is known. In the multi-optical axis photoelectric sensor, a light projector provided with a plurality of light projecting elements and a light receiver provided with a plurality of light receiving elements corresponding to each light projecting element are arranged to face each other. The light projecting element provided in the light projector repeatedly performs the light projecting scanning operation in which light is projected sequentially at a predetermined light projecting timing at a predetermined cycle, and based on the light receiving signal from the light receiving element corresponding to each light projecting element. Thus, an object intrusion into the detection area is detected.
ところで、工場の生産ライン等では、多くの検出エリアが設定され、各検出エリアに対してそれぞれ多光軸光電センサが設置される。このような場合、多光軸光電スイッチの投光素子からの光が他の多光軸光電スイッチの受光素子に干渉光として入射するという相互干渉が懸念される。この結果、受光素子が形成する光軸が遮られているにもかかわらず、それを検出できないというおそれがある。また、工場のように複数の生産機器が設置されている場所では、機器による反射光が干渉光として入射されるおそれがある。このため、多光軸光電センサには、干渉光を検出する干渉光検出手段を備えたものがある(例えば、特許文献1参照)。 By the way, many detection areas are set in a production line of a factory, and a multi-optical axis photoelectric sensor is installed in each detection area. In such a case, there is a concern about the mutual interference that light from the light projecting element of the multi-optical axis photoelectric switch enters the light receiving element of another multi-optical axis photoelectric switch as interference light. As a result, there is a possibility that the optical axis formed by the light receiving element cannot be detected even though it is blocked. Further, in a place where a plurality of production devices are installed like a factory, there is a possibility that the reflected light from the devices may be incident as interference light. For this reason, some multi-optical axis photoelectric sensors include interference light detection means for detecting interference light (see, for example, Patent Document 1).
干渉光の入射を防止する方法としては、投光素子の前方にスリットを設けて、光芒を絞ることにより、他の多光軸光電スイッチに光が到達しないようにしたり、あるいは、受光素子の前方にスリットを設けることにより、受光素子に入射する光の範囲を制限したりして、干渉光の影響を回避するということがある。これらの対策は、作業者が多光軸センサの設置箇所に赴いて実施される。
しかしながら、上記の対策が適切であったか否かは、多光軸光電センサが干渉光を検出しないということでしか確認できない。このため、スリットの位置や幅等が適切でなかった場合、対策して数時間後に確認できたり、数日ひいては数週間後に確認できたりする(多光軸光電センサが干渉光を検出)ことになる。従って、対策が適切でなかった場合には、状況確認の手間がかかったり、再度設置箇所に赴いて新たな対策を実施するという手間がかかる。また、多光軸光電センサの使用者にとっては、生産ラインを停止させてしまう。 However, whether or not the above measures are appropriate can be confirmed only by the fact that the multi-optical axis photoelectric sensor does not detect interference light. For this reason, if the position or width of the slit is not appropriate, it can be confirmed after several hours by taking countermeasures, or after several days or even weeks (the multi-optical axis photoelectric sensor detects interference light). Become. Therefore, when the countermeasure is not appropriate, it takes time and effort to confirm the situation or to go to the installation location again and implement a new countermeasure. Moreover, the production line is stopped for the user of the multi-optical axis photoelectric sensor.
本発明は上記問題点を解決するためになされたものであって、その目的は、干渉光に対して実施した対策結果を容易に確認することができる多光軸光電センサを提供することにある。 The present invention has been made to solve the above problems, and an object of the present invention is to provide a multi-optical axis photoelectric sensor capable of easily confirming the result of countermeasures taken against interference light. .
上記目的を達成するため、請求項1に記載の発明は、複数の投光素子と、各投光素子に対向して複数の光軸を構成するように設けられた複数の受光素子と、前記複数の投光素子を所定のタイミングで点灯させる投光スキャン動作を行う投光制御手段と、前記各受光素子からの受光信号を、それと対向して前記光軸を形成する投光素子の点灯タイミングに一致させて検出することにより前記光軸における遮光状態を検出する遮光検出手段と、前記遮光検出手段からの遮光状態に基づく出力信号を出力する出力手段と、所定範囲の前記投光素子が点灯されていない期間において前記所定範囲のうちの予め設定される前記投光素子に対向する前記受光素子からの受光信号に基づいて干渉光の存在を検出する干渉光検出動作を行う干渉光検出手段と、を備えた多光軸光電センサであって、通常動作モードとテストモードとを備え、前記通常動作モードでは、前記干渉光検出手段は、干渉光判定期間、干渉光判定閾値、前記干渉光を判断した回数を異常と判定する回数判定値を含み通常基準に設定された干渉光判定基準に基づいて前記干渉光検出動作を行い、前記テストモードでは、前記干渉光検出手段は、前記干渉光判定期間と前記干渉光判定閾値と前記回数判定値のうちの少なくとも1つが前記通常基準よりも低い低基準に設定された干渉光判定基準に基づいて前記干渉光検出動作を行うようにした。 In order to achieve the above object, the invention described in claim 1 includes a plurality of light projecting elements, a plurality of light receiving elements provided so as to constitute a plurality of optical axes facing each of the light projecting elements, Light projecting control means for performing a light projecting scan operation for lighting a plurality of light projecting elements at a predetermined timing, and lighting timing of the light projecting elements that form the optical axis opposite to the light reception signals from the respective light receiving elements The light-shielding detection means for detecting the light-shielding state on the optical axis by detecting the light-shielding light, the output means for outputting an output signal based on the light-shielding state from the light-shielding detection means, and the light emitting elements in a predetermined range are turned on Interference light detection means for performing an interference light detection operation for detecting the presence of interference light based on a light reception signal from the light receiving element facing the light projecting element set in advance in the predetermined range in the predetermined range; , The multi-optical axis photoelectric sensor includes a normal operation mode and a test mode, and in the normal operation mode, the interference light detection unit determines an interference light determination period, an interference light determination threshold, and the interference light. The interference light detection operation is performed based on an interference light determination criterion set as a normal reference including a frequency determination value for determining the number of times as abnormal. In the test mode, the interference light detection means includes the interference light determination period and The interference light detection operation is performed based on an interference light determination standard in which at least one of the interference light determination threshold value and the number of times determination value is set to a low standard lower than the normal standard.
この構成によれば、作業者がテストモードで多光軸光電センサを動作させてみて、通常動作よりも低い干渉光判定基準にて、通常動作時よりも誤動作し易い環境下とすることで、通常動作時よりも短い時間で設定状態での外乱光入射状態の確認や外乱光対策の良否確認が作業者にて簡易的に的確に行える。 According to this configuration, when the operator operates the multi-optical axis photoelectric sensor in the test mode, the interference light determination standard is lower than that in the normal operation, and the environment is more likely to malfunction than in the normal operation. The operator can easily and accurately confirm the disturbance light incident state in the set state and the quality of disturbance light countermeasures in a shorter time than the normal operation.
尚、通常基準よりも低い低基準とは、通常基準よりも通常基準よりも干渉光が検出し易い値に設定した基準である。干渉光は、干渉光判定期間を長くすることと、干渉光判定閾値を低くすることと、回数判定値を小さくすることの少なくとも1つを実施することにより、検出し易くなる。干渉光判定期間は、受光信号を取り込む期間であり、この期間を長くすることは、連続的な時間を長くすること、所定期間の取り込みを複数回行うこと、により実施可能である。 The low standard lower than the normal standard is a standard set to a value at which interference light is easier to detect than the normal standard. The interference light is easily detected by performing at least one of increasing the interference light determination period, lowering the interference light determination threshold, and decreasing the number of times determination value. The interference light determination period is a period during which a received light signal is captured. Increasing this period can be achieved by increasing the continuous time and performing capturing for a predetermined period multiple times.
請求項2に記載の発明は、請求項1記載の多光軸光電センサにおいて、前記通常動作モードと前記テストモードは、外部接続される外部機器により切り換えられるものである。この構成によれば、不用意にテストモードに切り替わるのを防ぐことができる。 According to a second aspect of the present invention, in the multi-optical axis photoelectric sensor according to the first aspect, the normal operation mode and the test mode are switched by an external device connected externally. According to this configuration, it is possible to prevent inadvertent switching to the test mode.
請求項3に記載の発明は、請求項1又は2に記載の多光軸光電センサにおいて、前記干渉光を検出した場合にその旨を報知する報知手段を備えたものである。この構成によれば、干渉光の検出を作業者が容易に知ることができる。 According to a third aspect of the present invention, in the multi-optical axis photoelectric sensor according to the first or second aspect of the present invention, when the interference light is detected, a notification means for notifying the fact is provided. According to this configuration, the operator can easily know the detection of the interference light.
請求項4に記載の発明は、請求項3記載の多光軸光電センサにおいて、前記干渉光を検出した受光素子の位置を示す表示手段を備えたものである。この構成によれば、干渉光が入射される受光素子を容易に確認することができ、対策を実施することができる。 According to a fourth aspect of the present invention, in the multi-optical axis photoelectric sensor according to the third aspect of the present invention, the multi-optical axis photoelectric sensor includes a display unit that indicates a position of the light receiving element that detects the interference light. According to this configuration, the light receiving element on which the interference light is incident can be easily confirmed, and a countermeasure can be implemented.
請求項5に記載の発明は、請求項4記載の多光軸光電センサにおいて、前記表示手段は、前記受光素子毎に設けられたものである。この構成によれば、干渉光が入射される受光素子を容易に特定することができ、干渉光に対する対策を実施することができる。 A fifth aspect of the present invention is the multi-optical axis photoelectric sensor according to the fourth aspect, wherein the display means is provided for each of the light receiving elements. According to this configuration, it is possible to easily identify the light receiving element on which the interference light is incident, and to take measures against the interference light.
請求項6に記載の発明は、請求項4又は5記載の多光軸光電センサにおいて、前記干渉光の光量に応じて前記表示手段の表示態様を変更するようにしたものである。この構成によれば、受光素子における干渉光の入射光量に応じた対策を実施することができる。 A sixth aspect of the present invention is the multi-optical axis photoelectric sensor according to the fourth or fifth aspect, wherein the display mode of the display means is changed according to the amount of the interference light. According to this configuration, it is possible to implement a countermeasure according to the amount of incident interference light in the light receiving element.
請求項7に記載の発明は、請求項1〜6のうちの何れか一項に記載の多光軸光電センサにおいて、前記干渉光検出手段は、前記遮光検出手段による各光軸における遮光状態の検出の前後の少なくとも一方の期間において干渉光検出動作を行うようにしたものである。この構成によれば、各受光素子に対する干渉光検出動作を確実に行うことができる。 A seventh aspect of the present invention is the multi-optical axis photoelectric sensor according to any one of the first to sixth aspects, wherein the interference light detection means is in a light-shielded state on each optical axis by the light-shielding detection means. The interference light detection operation is performed in at least one period before and after the detection. According to this configuration, the interference light detection operation for each light receiving element can be reliably performed.
以上記述したように、本発明によれば、干渉光に対して実施した対策結果を容易に確認することが可能な多光軸光電センサを提供することができる。 As described above, according to the present invention, it is possible to provide a multi-optical axis photoelectric sensor capable of easily confirming a countermeasure result taken against interference light.
以下、本発明を具体化した一実施の形態を図1及び図2に従って説明する。
図1に示すように、多光軸光電センサは、互いに対向配置される投光器10と受光器20とから構成されている。
Hereinafter, an embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS.
As shown in FIG. 1, the multi-optical axis photoelectric sensor includes a
投光器10は、長尺体にてなる断面略U字状の本体ケース10aを有し、該本体ケース10a内部に、基本ユニット30と所望数(本例では3つ)の増設ユニット31とからなる複数のユニットが着脱可能に収容されてなる。基本ユニット30及び増設ユニット31はそれぞれ角柱状をなし、基本ユニット30の上端面に増設ユニット31が接続され、さらに、その増設ユニット31の上端面に別の増設ユニット31が接続されるといった態様にて、各ユニット30,31が直列に接続されるようになっている。本体ケース10aの両端にはエンドキャップ10b、10cが設けられ、本体ケース10a内部に各ユニット30,31を収容した状態でエンドキャップ10b、10cを両端に嵌めることで、本体ケース10a内における各ユニット30,31の位置が保持されるようになっている。なお、本実施の形態においては、基本ユニット30及び増設ユニット31がそれぞれ「投光ユニット」に相当する。又、本体ケース10aとエンドキャップ10b,10cとにより「第1ケース」が構成されている。
The
基本ユニット30及び増設ユニット31には、発光ダイオード(LED)よりなる投光素子32が例えばそれぞれ4つずつ長手方向(図中、上下方向)に一列に配されて設けられている。これら投光素子32は、各ユニット30,31が互いに接続されると、一直線上に並んだ状態に位置決めされる。
The
受光器20は、投光器10と同様、長尺体にてなる断面略U字状の本体ケース20aを有し、該本体ケース20aの内部に、基本ユニット40と所望数(本例では3つ)の増設ユニット41とからなる複数のユニットが着脱可能に収容されてなる。基本ユニット40及び増設ユニット41はそれぞれ角柱状をなし、基本ユニット40の上端面に増設ユニット41が接続され、さらに、その増設ユニット41の上端面に別の増設ユニット41が接続されるといった態様にて、各ユニット40,41が直列に接続されるようになっている。本体ケース10aの両端にはエンドキャップ20b、20cが設けられ、本体ケース20a内部に各ユニット40,41を収容した状態でエンドキャップ20b、20cを両端に嵌めることで、本体ケース20a内における各ユニット40,41の位置が保持されるようになっている。なお、本実施の形態においては、基本ユニット40及び増設ユニット41がそれぞれ「受光ユニット」に相当する。又、本体ケース20aとエンドキャップ20b,20cとにより「第2ケース」が構成されている。
Similar to the
基本ユニット40及び増設ユニット41には、フォトダイオード(PD)よりなる受光素子42が例えばそれぞれ4つずつ長手方向(図中、上下方向)に一列に配されて設けられている。これら受光素子42は、各ユニット40,41が互いに接続されると、一直線上に並んだ状態に位置決めされて保持される。なお、上下に接続された増設ユニット41同士を区別する場合には、上端側の増設ユニット41から順に、符号の末尾に「a」,「b」,「c」を付すこととする。
In the
投光器10に配される各投光素子32と、受光器20に配される各受光素子42とは、上下方向でそれぞれ同じ順位に配された素子同士が互いに正規の相手方となり、それぞれ対をなす素子同士で光軸Lを形成するようになっている。
Each
例えば、本実施の形態においては、12個の投光素子32と12個の受光素子42とにより、12本の光軸Lが所定タイミングで順次時分割に形成され、これらの光軸Lにより投光器10と受光器20との間に所定範囲の検出エリアが設定される。この検出エリアに被検出物体が存在すると、投光器10及び受光器20間を通過する光が遮断されることになり、その際、前述した12光軸のうち1光軸でも光が遮断されれば検出エリアに被検出物体が存在するとしてその旨の検出信号を外部装置(図示略)に出力するようになっている。
For example, in the present embodiment, 12
上記受光器20の基本ユニット40には、受光素子42を配した側面に報知手段及び表示手段としての表示灯43が設けられている。この表示灯43は、図2に示すように、複数(例えば4つ)の表示部43a〜43dから構成されている。各表示部43a〜43dは、それぞれ、例えば、赤色及び緑色に発光する2色発光ダイオード(LED)よりなり、各ユニット40,41の動作状態を表示する。例えば、各ユニット40,41が正常に動作している場合、各ユニット40,41に対応する表示部43a〜43dを緑色に発光させる。一方、干渉光を検出した場合に、その干渉光を検出したユニットに対応する表示部43a〜43dを赤色に点滅させる。
The
図2は、多光軸光電センサの電気的構成を示すブロック図である。
投光器10の基本ユニット30及び増設ユニット31には上記各4つの投光素子32に連なる投光回路33がそれぞれ1つずつ設けられており、各投光回路33は、それぞれ各ユニット30,31の接続部分に備えられたコネクタ(図示略)を介して電気的に接続される。各投光回路33は、基本ユニット30に備えられたCPU等よりなる投光制御手段としての投光制御回路34からのタイミング信号に基づいて作動し、例えば投光器10の上端側の投光素子32から下端側の投光素子32へと順次に駆動信号を与えるといった動作を高周期で繰り返す。これにより、投光器10の上端側の投光素子32から順次に光信号が時分割で出射される。
FIG. 2 is a block diagram showing an electrical configuration of the multi-optical axis photoelectric sensor.
Each of the
一方、受光器20の基本ユニット40及び増設ユニット41には上記各4つの受光素子42に連なる受光回路44がそれぞれ1つずつ設けられており、各受光回路44は、それぞれ各ユニット40,41の接続部分に備えられたコネクタ(図示略)を介して電気的に接続される。
On the other hand, each of the
ここで、図示は割愛しているが、各受光回路44には、各4つの受光素子42に連なる4つのスイッチ素子とそれらスイッチ素子に連なる1つのシフトレジスタとが備えられており、基本ユニット40に備えられたCPU等よりなる遮光検出手段、出力手段、及び干渉光検出手段としての受光制御回路45からの駆動信号が、各受光回路44のシフトレジスタを介して各スイッチ素子に順次に与えられるようになっている。その際、各スイッチ素子は、常にはオフ状態となっており、受光制御回路45から与えられる駆動信号によりオンしたスイッチ素子に連なる受光素子42の受光信号が受光制御回路45に順次取り込まれるようになっている。
Here, although not shown in the figure, each light receiving
詳述すると、受光制御回路45は、投光器10の基本ユニット30と受光器20の基本ユニット40とを繋ぐライン50を介して、投光制御回路34から前述のタイミング信号を取り込んでおり、このタイミング信号に応じて、所定のスイッチ素子をオンさせる。投光制御回路34は、投光タイミング信号Stと周期及び位相が一致した遮光検出タイミング信号Srと、この遮光検出タイミング信号Srよりも位相が僅かに進んだ干渉光検出タイミング信号Siと、当該信号Srよりも位相が僅かに遅れた干渉光検出タイミング信号Sjとを受光制御回路45に送信している。
More specifically, the light receiving
遮光検出タイミング信号Sr及び干渉光検出タイミング信号Si,Sjを受けた受光制御回路45は、所定位置の投光素子32が光信号を投光するタイミングに対応して、その投光素子32と対向する受光素子42に連なるスイッチ素子をオンさせる。オンしたスイッチ素子を介して受光素子42から出力された受光信号が受光回路44を介して受光制御回路45に取り込まれる。
The light
すると、受光制御回路45は、遮光検出タイミング信号Srを受信したときには、各投光素子32が点灯状態にあるから、受光素子42からの受光信号の有無によって遮光検出(被検出物体の検出・非検出)を行う。詳しくは、受光制御回路45は、受光判定閾値と、取り込んだ受光信号との大小関係を順次にチェックする。そして、受光制御回路45は、増設ユニット41a内の全ての受光素子42の受光信号が受光判定閾値を上回った場合に、投光器10と受光器20との間に被検出物体が存在しない(非検出)と判断し、いずれか1つの受光信号でも基準電圧を下回った場合には、投光器10と受光器20との間に被検出物体が存在する(検出)と判断する。受光制御回路45は、このようにして上記検出エリアに入る被検出物体を検出し、当該被検出物体を検出したか否かに応じたレベルの検出信号を外部(外部装置)に出力する。例えば、受光制御回路45は、被検出物体の検出時にはHレベル、非検出時にはLレベルの検出信号を出力する。
Then, when the light
また、受光制御回路45は、干渉光検出タイミング信号Si,Sjを受信したときには、投光素子32が非点灯状態であるから、受光素子42からの受光信号の有無によって干渉光の検出を行う。詳しくは、受光制御回路45は、干渉光判定閾値と、取り込んだ受光信号との大小関係を順次にチェックする。そして、受光制御回路45は、受光素子42の受光信号が干渉光判定閾値を上回った場合に、その受光素子42に対して干渉光が入射されている(検出)と判断し、受光信号が干渉光判定閾値を下回った場合には、その受光素子42に対して干渉光が入射されていない(非検出)と判断する。受光制御回路45は、このようにして各受光素子42に対する干渉光の有無を検出し、当該干渉光を検出した受光素子42に対応する表示部43a〜43dを点滅させる。尚、干渉光の検出/非検出に応じた信号を外部(外部装置)に出力するようにしてもよい。つまり、干渉光の検出/非検出に応じた信号を出力する回路を報知手段として備えるようにしてもよい。
Further, when receiving the interference light detection timing signals Si and Sj, the light
受光制御回路45には、外部機器(外部コントローラ)70が接続される。外部機器70は、受光制御回路45の動作モードを、通常動作モードとテストモードとの間で切り換えるために接続される。通常動作モードにおいて、受光制御回路45は、上記干渉光判定閾値を含む干渉光判定基準を通常基準に設定し、遮光検出及び干渉光検出を行う。一方、テストモードにおいて、受光制御回路45は、上記の干渉光判定基準を、通常基準よりも低い低基準に設定し、遮光検出及び干渉光検出を行う。本実施形態において、干渉光判定基準は、干渉光を取り込む干渉光判定期間S1,S2、干渉光判定閾値J1,J2、回数判定値Kである。基準が低いとは、干渉光を検出し易くすることである。低基準は、上記の干渉光判定期間S1,S2と干渉光判定閾値J1,J2と回数判定値Kのうちの少なくとも1つを、通常基準よりも干渉光が検出し易い値に設定した基準である。例えば、干渉光判定期間S1,S2を長くすると、受光素子42における受光レベルが上昇し易くなり、干渉光判定閾値J1,J2よりも大きくなりやすくなる。干渉光判定閾値J1,J2を小さな値に設定すると、わずかな光量の入射でも干渉光として検出する。受光制御回路45は、受光信号が干渉光判定閾値J1,J2より大きいと判定した回数をカウントし、その回数が回数判定値K以上になると、干渉光を検出したとして異常出力を行う。従って、回数判定値Kを小さな値に設定すると、干渉光を検出したと判断するまでの期間が短くなる。低基準にて干渉光検出を行うことで、干渉光を検出し易くなる、つまり、干渉光に対する対策の結果を短時間で確認することができるようになる。
An external device (external controller) 70 is connected to the light
次に、上記の遮光検出及び干渉光検出を行う受光処理を、図3及び図4に従って説明する。
受光制御回路45は、ステップ81において、動作モードがテストモードか否かを判断し、通常動作モードのときにはステップ82に移行し、テストモードの時にはステップ83に移行する。
Next, a light receiving process for performing the above-described light blocking detection and interference light detection will be described with reference to FIGS.
In
ステップ82において、受光制御回路45は、干渉光判定基準を通常基準に設定する。一方、ステップ83において、受光制御回路45は、干渉光判定基準を低基準に設定する。
In
次に、ステップ84において、受光制御回路45は、干渉光検出タイミング信号Siに基づいて、干渉光検出タイミング1か否かを判断する。即ち、受光制御回路45は、所定レベルの干渉光検出タイミング信号Siが入力されるまで待機し、干渉光検出タイミング信号Siが入力されるとステップ85に移行する。
Next, in
ステップ85において、受光制御回路45は、干渉光判定期間S1の受光信号を取り込む。次いで、ステップ86において、受光制御回路45は、受光信号を干渉光判定閾値J1と比較し、その比較結果に基づいて干渉光を受光しているか否かを判断する。そして、受光制御回路45は、その判断結果を図示しない記憶手段に記憶する。
In
ステップ87において、受光制御回路45は、遮光検出タイミング信号Srに基づいて、受光検出タイミングか否かを判断する。即ち、受光制御回路45は、所定レベルの遮光検出タイミング信号Srが入力されるまで待機し、遮光検出タイミング信号Srが入力されるとステップ88に移行する。
In
ステップ88において、受光制御回路45は、受光期間Tの受光信号を取り込む。次いで、ステップ89において、受光制御回路45は、受光信号を受光(遮光)判定閾値Hと比較し、その比較結果を図示しない記憶手段に記憶する。
In step 88, the light
ステップ90において、受光制御回路45は、干渉光検出タイミング信号Sjに基づいて、干渉光検出タイミング2か否かを判断する。即ち、受光制御回路45は、所定レベルの干渉光検出タイミング信号Sjが入力されるまで待機し、干渉光検出タイミング信号Sjが入力されるとステップ91に移行する。
In
ステップ91において、受光制御回路45は、干渉光判定期間S2の受光信号を取り込む。次いで、ステップ92において、受光制御回路45は、受光信号を干渉光判定閾値J2と比較し、その比較結果に基づいて干渉光を受光しているか否かを判断する。そして、受光制御回路45は、その判断結果を図示しない記憶手段に記憶する。
In
ステップ93において、受光制御回路45は、光軸数Nに対する判断を終了したか否かを判断する。この時のNは投光器10と受光器20の間に形成される光軸Lの数、即ち投光素子32及び受光素子42の対の数である。つまり、受光制御回路45は、多光軸光電センサの全ての光軸Lそれぞれに対して上記ステップ84〜92の処理を繰り返し実行する。全ての光軸Lについて判断を終了すると、受光制御回路45は、ステップ94に移行する。
In
ステップ94において、受光制御回路45は、記憶手段からステップ86,92における判断結果を読み出し、ステップ86,92において干渉光を検出した場合にはステップ95に移行し、干渉光を検出してない場合にはステップ96に移行する。
In
ステップ95において、受光制御回路45は、同一光軸で回数判定値K以上の干渉光検出があったか否かを判断する。つまり、受光制御回路45は、各光軸において干渉光を検出した回数をそれぞれカウントし、そのカウント値を図示しない記憶手段(メモリ)に記憶している。そして、受光制御回路45は、各光軸に対するカウント値が回数判定値Kより小さい場合にはステップ96に移行し、カウント値が回数判定値K以上の場合にはステップ97に移行する。
In
ステップ96において、受光制御回路45は、記憶手段からステップ89の比較結果を読み出し、その比較結果に基づいて物体検出判定を行う。そして、受光制御回路45は、判定結果に基づいて、被検出物体の検出の有無(被検出物体による遮光の有無)に応じた信号を出力する。
In
ステップ97において、受光制御回路45は、異常出力を行う、つまり、干渉光を検出した受光素子42の位置に対応する発光部43a〜43d(図2参照)を点滅させる。図1及び図2において、受光器20は4つのユニット40,41a〜41cから構成されており、各ユニット40,41a〜41cにはそれぞれ4つの受光素子42が設けられている。従って、ユニット40の各受光素子42と表示部43aとが対応し、ユニット41cの各受光素子42と表示部43bとが対応し、ユニット41bの各受光素子42と表示部43cとが対応し、ユニット41cの各受光素子42と表示部43dとが対応する。例えば、受光制御回路45は、ユニット41cの受光素子42において干渉光の入射を検出した場合、表示部43dを赤色にて点滅させる。
In
多光軸光電センサの干渉光に対応する処理を実行する作業者は、図2に示す外部機器70により、受光器20(受光制御回路45)をテストモードにて実行させる。そして、表示部43a〜43dを視認し、その表示部43a〜43dに対応する位置の受光素子42に対して、例えばスリットを形成した板を投光器10及び受光器20の少なくとも一方に取着する干渉光対策を実施する。
An operator who executes processing corresponding to the interference light of the multi-optical axis photoelectric sensor causes the light receiver 20 (light reception control circuit 45) to be executed in the test mode by the
上記したように、テストモードにおいて干渉光判定基準は、低基準に設定されている。従って、干渉光が検出しやすくなっている、つまり上記対策に対する結果を短時間で確認することができる。 As described above, in the test mode, the interference light determination criterion is set to a low criterion. Therefore, it is easy to detect the interference light, that is, the result of the countermeasure can be confirmed in a short time.
以上記述したように、本実施の形態によれば、以下の効果を奏する。
(1)本実施形態の多光軸光電センサは、通常動作モードとテストモードとを備え、通常動作モードでは、受光制御回路45は、通常基準に設定された干渉光判定基準に基づいて干渉光検出動作を行い、テストモードでは、受光制御回路45は、通常基準よりも低い低基準に設定された干渉光判定基準に基づいて干渉光検出動作を行うようにした。
As described above, according to the present embodiment, the following effects can be obtained.
(1) The multi-optical axis photoelectric sensor of this embodiment includes a normal operation mode and a test mode. In the normal operation mode, the light
この結果、作業者がテストモードで多光軸光電センサを動作させてみて、通常動作よりも低い干渉光判定基準にて、通常動作時よりも誤動作し易い環境下とすることで、通常動作時よりも短い時間で設定状態での外乱光入射状態の確認や外乱光対策の良否確認が作業者にて簡易的に的確に行える。 As a result, when the operator operates the multi-optical axis photoelectric sensor in the test mode, the interference light judgment standard lower than the normal operation is set in an environment where the malfunction is more likely to occur than in the normal operation. The operator can easily and accurately confirm the disturbance light incident state in the set state and whether the disturbance light countermeasures are good or bad in a shorter time.
(2)干渉光判定基準は、干渉光を取り込む判定期間、干渉光と比較する判定閾値、干渉光を判断した回数を異常と判定する回数判定値を含み、低基準は、判定期間と判定閾値と回数判定値のうちの少なくとも1つが変更されてなるものである。このため、通常基準よりも低い低基準を容易に設定することができ、干渉光を検出し易くすることができる。 (2) The interference light determination criterion includes a determination period for capturing the interference light, a determination threshold value to be compared with the interference light, and a frequency determination value for determining the number of times the interference light has been determined to be abnormal. And at least one of the number determination values is changed. For this reason, a low reference lower than the normal reference can be easily set, and interference light can be easily detected.
(3)通常動作モードとテストモードは、外部接続される外部機器70により切り換えるようにした。このため、不用意にテストモードに切り替わるのを防ぐことができる。
(4)干渉光を検出した受光素子の位置を示す表示灯43を備えた。このため、干渉光が入射される受光素子を容易に確認することができ、対策を実施することができる。
(3) The normal operation mode and the test mode are switched by the
(4) An
尚、上記実施の形態は、以下の態様で実施してもよい。
・上記実施の形態では、基本ユニット40に設けた表示灯43により、該基本ユニット40及び増設ユニット41(41a〜41c)に対する干渉光の有無を表示するようにしたが、図5に示すように、各ユニット101a〜101cのそれぞれに表示灯102を設けて各ユニット41a〜41cにおける干渉光の有無を出力するようにしてもよい。更に、表示灯を受光素子42毎に設けるようにしてもよく、干渉光が入射する受光素子42をより容易に特定することができるようになる。
In addition, you may implement the said embodiment in the following aspects.
In the above embodiment, the presence or absence of interference light with respect to the
・上記実施の形態において、増設ユニット31,41の数、各ユニット30,31の投光素子32の数、各ユニット40,41の受光素子42の数、基本ユニット40に設けた表示灯43を構成する表示部の数、表示灯43を構成する表示部43a〜43dの数、等を適宜変更して実施してもよい。
In the above embodiment, the number of
・上記実施の形態では、外部機器70を受光器20に接続し、該外部機器70により受光器20の動作モードを通常動作モードとテストモードの何れかに切り換えるようにしたが、受光器20が出力する検出信号を受ける外部装置から、受光器20の動作モードを設定するようにしてもよい。
In the above embodiment, the
・上記実施の形態では、表示灯43を基本ユニット40に設けたが、外部機器70に備えるようにしてもよい。干渉光を検出した受光素子の位置は、テストモードのときにのみ確認できればよいため、基本ユニット40に表示灯43を設ける必要がなくなり、基本ユニット40の構成を簡略化することができる。
In the above embodiment, the
・上記実施の形態では、基本ユニット30と増設ユニット31とを連結して投光器10を構成し、基本ユニット40と増設ユニット41とを連結して受光器20を構成したが、それぞれを1つのユニットにより構成してもよい。
In the above embodiment, the
・上記実施の形態において、干渉光判定期間における受光信号のレベル、即ち干渉光の入射光量に応じて表示灯43における表示態様を変更するようにしてもよい。表示対応の変更は、点滅の期間を変更する、一定時間における点滅回数を変更する、点灯強度を変更する、受光信号のレベルに応じて点滅させる表示素子(LED等)の数を変更する、受光信号のレベルを数字にて表示する、等を含む。このようにすることで、作業者が干渉光の入射光量を容易に確認することができ、その入射光量に応じた対策を実施することができるようになる。
In the above embodiment, the display mode of the
・上記実施の形態において、報知手段として干渉光の検出/非検出に応じた信号を出力する回路を備える、表示灯43を備えることとしたが、その他の手段(例えば音)を備えるようにしてもよい。
In the above embodiment, the
・上記実施の形態では、遮光検出(ステップ87〜89)を行う前後の期間(ステップ84〜86,90〜92)において干渉光検出動作を行うようにしたが、前後の期間の何れか一方において干渉光検出動作を行うようにしてもよい。また、予め設定した受光素子において干渉光検出動作を行うようにしてもよい。
In the above embodiment, the interference light detection operation is performed in the period (
・上記実施の形態では、1回の投光スキャン動作の間に干渉光検出動作を行うようにしたが、投光スキャン動作と次の投光スキャン動作との間に干渉光検出動作を行うようにしてもよい。また、複数の投光スキャン動作毎に干渉光検出動作を行うようにしてもよい。 In the above embodiment, the interference light detection operation is performed during one projection scan operation. However, the interference light detection operation is performed between the projection scan operation and the next projection scan operation. It may be. Further, the interference light detection operation may be performed for each of a plurality of light projection scanning operations.
・上記実施の形態では、干渉光判定期間S1,S2を長くすることにより干渉光の検出を容易にしたが、干渉光判定期間を一定とし、その干渉光判定期間の数を変更することにより、実質的に投光素子が点灯していない期間に受光素子からの受光信号を取り込む期間を長くするようにしてもよい。 In the above embodiment, the interference light determination periods S1 and S2 are lengthened to facilitate the detection of the interference light, but the interference light determination period is made constant and the number of the interference light determination periods is changed. You may make it lengthen the period which takes in the light reception signal from a light receiving element in the period when the light projection element is not substantially lighting.
・上記実施の形態において、点灯した投光素子の影響を受けない受光素子において干渉光判定動作を行うようにすればよい。つまり、1つの多光軸光電センサ内において、点灯した投光素子の影響を受ける範囲は予め判っている。このため、影響をうけない範囲(所定範囲)内の投光素子が点灯されていない期間において干渉光検出動作を行うようにしてもよい。 In the embodiment described above, the interference light determination operation may be performed in the light receiving element that is not affected by the lit light projecting element. That is, the range affected by the light-projecting element in one multi-optical axis photoelectric sensor is known in advance. For this reason, the interference light detection operation may be performed in a period in which the light projecting element within the range (predetermined range) that is not affected is not lit.
32…投光素子、34…投光制御回路、42…受光素子、43…表示灯、45…受光制御回路、70…外部機器、S1,S2…干渉光判定期間、J1,J2…干渉光判定閾値、K…回数判定値、L…光軸。 32 ... Light projecting element, 34 ... Light projecting control circuit, 42 ... Light receiving element, 43 ... Indicator lamp, 45 ... Light receiving control circuit, 70 ... External device, S1, S2 ... Interference light determination period, J1, J2 ... Interference light determination Threshold value, K: number of times determination value, L: optical axis.
Claims (7)
各投光素子に対向して複数の光軸を構成するように設けられた複数の受光素子と、
前記複数の投光素子を所定のタイミングで点灯させる投光スキャン動作を行う投光制御手段と、
前記各受光素子からの受光信号を、それと対向して前記光軸を形成する投光素子の点灯タイミングに一致させて検出することにより前記光軸における遮光状態を検出する遮光検出手段と、
前記遮光検出手段からの遮光状態に基づく出力信号を出力する出力手段と、
所定範囲の前記投光素子が点灯されていない期間において前記所定範囲のうちの予め設定される前記投光素子に対向する前記受光素子からの受光信号に基づいて干渉光の存在を検出する干渉光検出動作を行う干渉光検出手段と、
を備えた多光軸光電センサであって、
通常動作モードとテストモードとを備え、
前記通常動作モードでは、前記干渉光検出手段は、干渉光判定期間、干渉光判定閾値、前記干渉光を判断した回数を異常と判定する回数判定値を含み通常基準に設定された干渉光判定基準に基づいて前記干渉光検出動作を行い、
前記テストモードでは、前記干渉光検出手段は、前記干渉光判定期間と前記干渉光判定閾値と前記回数判定値のうちの少なくとも1つが前記通常基準よりも低い低基準に設定された干渉光判定基準に基づいて前記干渉光検出動作を行う、
ことを特徴とする多光軸光電センサ。 A plurality of light emitting elements;
A plurality of light receiving elements provided to constitute a plurality of optical axes facing each light projecting element;
Projection control means for performing a projection scan operation for lighting the plurality of projection elements at a predetermined timing;
A light-blocking detection means for detecting a light-blocking state on the optical axis by detecting a light-receiving signal from each of the light-receiving elements so as to coincide with a lighting timing of a light projecting element that forms the optical axis facing the light-receiving signal;
An output means for outputting an output signal based on a light shielding state from the light shielding detection means;
Interfering light that detects the presence of interference light based on a light receiving signal from the light receiving element facing the preset light projecting element in the predetermined range during a period when the light projecting element in the predetermined range is not lit. Interference light detecting means for performing detection operation;
A multi-optical axis photoelectric sensor comprising:
It has a normal operation mode and a test mode,
In the normal operation mode, the interference light detection means includes an interference light determination period, an interference light determination threshold, and an interference light determination criterion set as a normal reference including a number of times determination value for determining the number of times the interference light is determined as abnormal. The interference light detection operation is performed based on
In the test mode, the interference light detection means includes an interference light determination criterion in which at least one of the interference light determination period, the interference light determination threshold, and the number of times determination value is set to a low reference lower than the normal reference. The interference light detection operation is performed based on
A multi-optical axis photoelectric sensor.
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