JP6711690B2 - Automatic analyzer - Google Patents

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Description

本発明の実施形態は、自動分析装置に関する。 Embodiments of the present invention relate to automatic analyzers.

自動分析装置は、試料に含まれる、生化学検査項目、及び免疫検査項目等の検査項目に関する成分を測定するための装置である。例えば、自動分析装置は、試料容器に収容されている試料をサンプル分注プローブにより吸引し、吸引した試料を反応管へ吐出する。次いで、自動分析装置は、各検査項目の分析に用いる試薬を試薬分注プローブにより吸引し、吸引した試薬を反応管へ吐出する。そして、自動分析装置は、反応管へ吐出された試料と試薬との混合液の反応によって生ずる色調及び/又は濁りの変化を、測光部により光学的に測定する。 The automatic analyzer is a device for measuring components contained in a sample, which are related to test items such as biochemical test items and immunological test items. For example, the automatic analyzer sucks the sample contained in the sample container with the sample dispensing probe and discharges the sucked sample to the reaction tube. Next, the automatic analyzer sucks the reagent used for the analysis of each inspection item by the reagent dispensing probe and discharges the sucked reagent to the reaction tube. Then, the automatic analyzer optically measures the change in color tone and/or turbidity caused by the reaction of the mixed liquid of the sample and the reagent discharged into the reaction tube, by the photometric unit.

ところで、各検査項目の分析では、試料として血液から分離された血清又は血漿が用いられることが多い。これらの試料には血液成分から生成されるフィブリン等の不溶物が含まれていることがある。この種の不溶物は、試料を吸引しているサンプル分注プローブに付着するとサンプル分注プローブに詰まりを生じさせ、試料の分注精度を低下させる原因となる。 By the way, in the analysis of each test item, serum or plasma separated from blood is often used as a sample. These samples may contain insoluble substances such as fibrin produced from blood components. When this kind of insoluble matter adheres to the sample dispensing probe that is sucking the sample, it causes clogging of the sample dispensing probe and causes a decrease in sample dispensing accuracy.

この問題を解決するために、サンプル分注プローブ内の圧力を検出する圧力センサを設け、サンプル分注プローブの詰まりを検出することができる自動分析装置が知られている。この種の自動分析装置において、サンプル分注プローブの詰まりが検出された場合、操作者は、サンプル分注プローブの詰まりを発生させた試料を確認し、再度この試料を測定する必要がある。しかしながら、サンプル分注プローブの詰まりを発生させた試料を特定し、この試料を確認した後に再度この試料を測定することは、操作者の負担であり、装置のスループットを低下させ、測定結果の報告が遅れる要因となる。 In order to solve this problem, there is known an automatic analyzer that is provided with a pressure sensor that detects the pressure inside the sample dispensing probe and can detect clogging of the sample dispensing probe. When clogging of the sample dispensing probe is detected in this type of automatic analyzer, the operator needs to confirm the sample that has caused clogging of the sample dispensing probe and measure the sample again. However, it is a burden on the operator to identify the sample that has caused the clogging of the sample dispensing probe, and to measure this sample again after confirming this sample, which reduces the throughput of the device and reports the measurement result. Will be delayed.

特開2015−175783号公報JP, 2005-157883, A

目的は、操作者の負担を軽減し、装置のスループットの低下を抑えることが可能な自動分析装置を提供することにある。 It is an object of the present invention to provide an automatic analyzer capable of reducing the burden on the operator and suppressing the decrease in the throughput of the apparatus.

実施形態によれば、自動分析装置は、分注プローブ、圧力検出器、及び分注制御部を具備する。分注プローブは、試料容器に収容される試料を、前記試料容器内における吸引標準位置で吸引する。圧力検出器は、前記分注プローブの圧力を検出する。分注制御部は、前記圧力検出器により検出される圧力に異常がある場合、前記試料容器から前記試料を吸引する位置を、前記吸引標準位置から、前記試料容器内における吸引変更位置に変更する。 According to the embodiment, the automatic analyzer includes a dispensing probe, a pressure detector, and a dispensing controller. The dispensing probe sucks the sample contained in the sample container at the suction standard position in the sample container. The pressure detector detects the pressure of the dispensing probe. When there is an abnormality in the pressure detected by the pressure detector, the dispensing control unit changes the position for sucking the sample from the sample container from the standard suction position to the suction change position in the sample container. ..

図1は、第1の実施形態に係る自動分析装置の機能構成を示すブロック図である。FIG. 1 is a block diagram showing the functional configuration of the automatic analyzer according to the first embodiment. 図2は、図1に示される分析機構の構成を示す図である。FIG. 2 is a diagram showing the configuration of the analysis mechanism shown in FIG. 図3は、図1に示される分析機構の構成を示す図である。FIG. 3 is a diagram showing a configuration of the analysis mechanism shown in FIG. 図4は、図2に示される分注ユニット、及び圧力検出器の構成を示すブロック図である。FIG. 4 is a block diagram showing the configurations of the dispensing unit and the pressure detector shown in FIG. 図5は、試料容器内におけるサンプル吸引位置を示す図である。FIG. 5 is a diagram showing a sample suction position in the sample container. 図6は、サンプル分注プローブの回動軌道上の水平移動を表す図である。FIG. 6 is a diagram showing the horizontal movement of the sample dispensing probe on the rotation trajectory. 図7は、サンプル分注プローブの垂直移動を表す図である。FIG. 7 is a diagram showing the vertical movement of the sample dispensing probe. 図8は、図2に示される記憶回路に記憶される、試料容器の種類と、サンプル吸引位置の移動量との関係を表すテーブルを示す図である。FIG. 8 is a diagram showing a table which is stored in the storage circuit shown in FIG. 2 and which shows the relationship between the type of sample container and the movement amount of the sample suction position. 図9は、図1に示される制御回路による分注動作を表すフローチャートである。FIG. 9 is a flowchart showing a dispensing operation by the control circuit shown in FIG. 図10は、第2の実施形態に係る自動分析装置が具備する分析機構の構成を示す図である。FIG. 10 is a diagram showing a configuration of an analysis mechanism included in the automatic analyzer according to the second embodiment. 図11は、自動分析装置の機能構成のその他の例を示すブロック図である。FIG. 11 is a block diagram showing another example of the functional configuration of the automatic analyzer.

以下、実施の形態について、図面を参照して説明する。 Hereinafter, embodiments will be described with reference to the drawings.

(第1の実施形態)
図1は、第1の実施形態に係る自動分析装置1の機能構成を示すブロック図である。図1に示される自動分析装置1は、分析機構2、解析回路3、駆動機構4、入力インタフェース回路5、出力インタフェース回路6、記憶回路7、及び制御回路8を具備する。
(First embodiment)
FIG. 1 is a block diagram showing a functional configuration of an automatic analyzer 1 according to the first embodiment. The automatic analyzer 1 shown in FIG. 1 includes an analyzing mechanism 2, an analyzing circuit 3, a driving mechanism 4, an input interface circuit 5, an output interface circuit 6, a memory circuit 7, and a control circuit 8.

分析機構2は、標準試料又は被検試料等の試料と、この試料に設定された各検査項目で用いられる試薬とを混合する。分析機構2は、試料と試薬との混合液を測定し、例えば吸光度で表される標準データ及び被検データを生成する。 The analysis mechanism 2 mixes a sample such as a standard sample or a test sample with a reagent used for each inspection item set for this sample. The analysis mechanism 2 measures a mixed liquid of a sample and a reagent, and generates standard data and test data represented by, for example, absorbance.

解析回路3は、分析機構2により生成された標準データ及び被検データを解析するプロセッサである。解析回路3は、記憶回路7から動作プログラムを読み出し、読み出した動作プログラムを実行することで、標準データ及び被検データを解析する。例えば、解析回路3は、生成された標準データと、標準試料に予め設定された標準値との関係を示す検量データを生成する。また、解析回路3は、生成された被検データと、この被検データに対応する検査項目の検量データとに基づいて、濃度値及び酵素の活性値として表される分析データを生成する。解析回路3は生成した検量データ及び分析データ等を制御回路8へ出力する。 The analysis circuit 3 is a processor that analyzes the standard data and the test data generated by the analysis mechanism 2. The analysis circuit 3 analyzes the standard data and the test data by reading the operation program from the storage circuit 7 and executing the read operation program. For example, the analysis circuit 3 generates calibration data indicating the relationship between the generated standard data and the standard value preset in the standard sample. The analysis circuit 3 also generates analysis data represented as a concentration value and an enzyme activity value based on the generated test data and the calibration data of the test item corresponding to the test data. The analysis circuit 3 outputs the generated calibration data and analysis data to the control circuit 8.

駆動機構4は、ギア、ステッピングモータ、ベルトコンベア、及びリードスクリュー等により実現される。駆動機構4は、制御回路8の制御に従い、分析機構2を駆動させる。 The drive mechanism 4 is realized by a gear, a stepping motor, a belt conveyor, a lead screw, and the like. The drive mechanism 4 drives the analysis mechanism 2 under the control of the control circuit 8.

入力インタフェース回路5は、例えば、マウス、キーボード、及び、操作面へ触れることで指示が入力されるタッチパッド等により実現される。操作者は、入力インタフェース回路5から、例えば、検査を行う検査対象の試料を識別する試料ID、この試料IDに対する検査項目、各検査項目における試料及び試薬の分注量等の分析パラメータ、並びに、各検査項目をAライン系統又はBライン系統に区分するための区分情報等を入力する。入力インタフェース回路5は、制御回路8に接続され、操作者から入力される操作指示を電気信号へ変換し、電気信号を制御回路8へ出力する。なお、本明細書において入力インタフェース回路5はマウス及びキーボード等の物理的な操作部品を備えるものだけに限られない。例えば、自動分析装置1とは別体に設けられた外部の入力機器から入力される操作指示に対応する電気信号を受け取り、この電気信号を制御回路8へ出力する電気信号の処理回路も入力インタフェース回路5の例に含まれる。 The input interface circuit 5 is realized by, for example, a mouse, a keyboard, and a touch pad that inputs an instruction by touching an operation surface. From the input interface circuit 5, the operator, for example, a sample ID for identifying a sample to be inspected to be inspected, an inspection item for this sample ID, analysis parameters such as the sample and reagent dispensing amounts in each inspection item, and the like. Input the division information for dividing each inspection item into A line system or B line system. The input interface circuit 5 is connected to the control circuit 8, converts an operation instruction input by the operator into an electric signal, and outputs the electric signal to the control circuit 8. In this specification, the input interface circuit 5 is not limited to the one including physical operation parts such as a mouse and a keyboard. For example, an electric signal processing circuit that receives an electric signal corresponding to an operation instruction input from an external input device provided separately from the automatic analyzer 1 and outputs the electric signal to the control circuit 8 is also an input interface. Included in the example of circuit 5.

出力インタフェース回路6は、例えばCRTディスプレイ、液晶ディスプレイ、有機ELディスプレイ、及びプラズマディスプレイ等の表示回路62、並びに、プリンタ等の印刷回路61を含む。出力インタフェース回路6は、制御回路8に接続され、制御回路8から供給される信号を出力する。 The output interface circuit 6 includes a display circuit 62 such as a CRT display, a liquid crystal display, an organic EL display, and a plasma display, and a printing circuit 61 such as a printer. The output interface circuit 6 is connected to the control circuit 8 and outputs a signal supplied from the control circuit 8.

例えば、表示回路62は、制御回路8から供給される検量データ及び分析データを表示する。また、表示回路62は、検査項目毎に分注する試料の量(分注量)等の分析パラメータを設定するための分析パラメータ設定画面、検査対象の試料毎にこの試料の試料ID及びこの試料IDに対して検査項目を設定するための検査項目設定画面、並びに各検査項目に対する区分情報を設定するための区分設定画面等を表示する。また、例えば、印刷回路61は、制御回路8から供給される検量データ及び分析データを、予め設定されたフォーマットに従ってプリンタ用紙等に印刷する。 For example, the display circuit 62 displays the calibration data and analysis data supplied from the control circuit 8. The display circuit 62 also displays an analysis parameter setting screen for setting analysis parameters such as the amount of sample to be dispensed for each inspection item (dispensing amount), the sample ID of this sample for each sample to be inspected, and this sample. An inspection item setting screen for setting inspection items for the ID, a classification setting screen for setting classification information for each inspection item, and the like are displayed. Further, for example, the printing circuit 61 prints the calibration data and the analysis data supplied from the control circuit 8 on a printer paper or the like according to a preset format.

記憶回路7は、磁気的若しくは光学的記録媒体又は半導体メモリ等の、プロセッサにより読み取り可能な記録媒体等を含む。記憶回路7は、解析回路3で実行される動作プログラム、及び制御回路8で実行される動作プログラムを記憶する。記憶回路7は、解析回路3により生成される検量データを検査項目毎に記憶する。記憶回路7は、解析回路3により生成される分析データを被検試料毎に記憶する。また、記憶回路7は、サンプル吸引位置の移動量に関する情報を予め記憶する。 The memory circuit 7 includes a recording medium readable by a processor, such as a magnetic or optical recording medium or a semiconductor memory. The storage circuit 7 stores an operation program executed by the analysis circuit 3 and an operation program executed by the control circuit 8. The storage circuit 7 stores the calibration data generated by the analysis circuit 3 for each inspection item. The storage circuit 7 stores the analysis data generated by the analysis circuit 3 for each test sample. Further, the storage circuit 7 stores in advance information regarding the movement amount of the sample suction position.

制御回路8は、自動分析装置1の中枢として機能するプロセッサである。制御回路8は、記憶回路7に記憶されている動作プログラムを実行することで、この動作プログラムに対応する機能を実現する。 The control circuit 8 is a processor that functions as the center of the automatic analyzer 1. The control circuit 8 realizes the function corresponding to the operation program by executing the operation program stored in the storage circuit 7.

図2及び図3は、図1に示される分析機構2の構成の一例を示す模式図である。図2及び図3に示される分析機構2は、反応ディスク201、第1試薬庫202、及び第2試薬庫203を備える。 2 and 3 are schematic diagrams showing an example of the configuration of the analysis mechanism 2 shown in FIG. The analysis mechanism 2 shown in FIGS. 2 and 3 includes a reaction disk 201, a first reagent storage 202, and a second reagent storage 203.

反応ディスク201は、Aライン系統に区分される複数の反応管2011aと、Bライン系統に区分される複数の反応管2011bとを保持する。反応管2011a,2011bは、反応ディスク201の円周上の互いに隣り合う位置に交互に配列される。反応ディスク201は、駆動機構4によって既定の時間間隔で回動と停止とが交互に繰り返される。反応管2011a,2011bは、例えば、ガラスにより形成される。 The reaction disk 201 holds a plurality of reaction tubes 2011a classified into an A line system and a plurality of reaction tubes 2011b classified into a B line system. The reaction tubes 2011a and 2011b are alternately arranged at positions adjacent to each other on the circumference of the reaction disk 201. The reaction disk 201 is alternately rotated and stopped at predetermined time intervals by the drive mechanism 4. The reaction tubes 2011a and 2011b are made of glass, for example.

第1試薬庫202は、試薬が収容されている試薬容器を複数保持する試薬庫の一例であり、反応ディスク201の内側に配置される。第1試薬庫202は、第1試薬容器ラックにより、円周状に複数の試薬容器を保持する。図2及び図3に示される第1試薬庫202内の外円2021は、第1試薬庫202内で円周状に配列される試薬容器のうち、外側の円周に配列される試薬容器の開口部の位置を表す。第1試薬庫202内の内円2022は、第1試薬庫202内で円周状に配列される試薬容器のうち、内側の円周に配列される試薬容器の開口部の位置を表す。第1試薬庫202に保持されている試薬容器は、Bライン系統に区分される反応管2011bに分注される試薬を収容している。開口部が外円2021に沿って配置される試薬容器は、Bライン系統に区分される各検査項目に対応する第1試薬を収容している。開口部が内円2022に沿って配置される試薬容器は、Bライン系統に区分される検査項目に対応する第2試薬を収容している。第1試薬及び第2試薬は、検査項目毎に使われるものが決められている。第1試薬容器ラックは、駆動機構4によって第1試薬庫202の中心を回転中心として回動される。 The first reagent container 202 is an example of a reagent container that holds a plurality of reagent containers containing reagents, and is arranged inside the reaction disk 201. The first reagent container 202 holds a plurality of reagent containers circumferentially by the first reagent container rack. The outer circle 2021 in the first reagent storage 202 shown in FIG. 2 and FIG. 3 is one of the reagent containers arranged in the outer circumference of the reagent containers arranged in a circle in the first reagent storage 202. Indicates the position of the opening. The inner circle 2022 in the first reagent container 202 represents the position of the opening of the reagent container arranged in the inner circumference among the reagent containers arranged in the first reagent container 202 in a circumferential shape. The reagent container held in the first reagent container 202 contains the reagent to be dispensed into the reaction tube 2011b divided into the B line system. The reagent container whose opening is arranged along the outer circle 2021 accommodates the first reagent corresponding to each test item classified into the B line system. The reagent container whose opening is arranged along the inner circle 2022 accommodates the second reagent corresponding to the inspection item classified into the B line system. As the first reagent and the second reagent, the one to be used is determined for each inspection item. The first reagent container rack is rotated by the drive mechanism 4 with the center of the first reagent container 202 as the center of rotation.

第2試薬庫203は、第1試薬庫202同様に本実施形態における試薬庫の一例であり、反応ディスク201の外側に反応ディスク201と隣接して配置される。第2試薬庫203は、第2試薬容器ラックにより、円周状に複数の試薬容器を保持する。図2に示される第2試薬庫203内の外円2031は、第2試薬庫203内で円周状に配列される試薬容器のうち、外側の円周に配列される試薬容器の開口部の位置を表す。第2試薬庫203内の内円2032は、第2試薬庫203内で円周状に配列される試薬容器のうち、内側の円周に配列される試薬容器の開口部の位置を表す。第2試薬庫203に保持されている試薬容器は、Aライン系統に区分される反応管2011aに分注される試薬を収容している。開口部が外円2031に沿って配置される試薬容器は、Aライン系統に区分される各検査項目に対応する第1試薬を収容している。開口部が内円2032に沿って配置される試薬容器は、Aライン系統に区分される検査項目に対応する第2試薬を収容している。第2試薬容器ラックは、駆動機構4によって第2試薬庫203の中心を回転中心として回動される。 The second reagent storage 203 is an example of the reagent storage in the present embodiment like the first reagent storage 202, and is arranged outside the reaction disc 201 and adjacent to the reaction disc 201. The second reagent container 203 holds a plurality of reagent containers circumferentially by the second reagent container rack. The outer circle 2031 in the second reagent container 203 shown in FIG. 2 is the opening of the reagent container arranged in the outer circumference of the reagent containers arranged in a circle in the second reagent container 203. Indicates a position. The inner circle 2032 in the second reagent storage 203 represents the position of the opening of the reagent container arranged in the inner circumference among the reagent containers arranged in the second reagent storage 203 in a circumferential shape. The reagent container held in the second reagent storage 203 contains the reagent to be dispensed into the reaction tube 2011a divided into the A line system. The reagent container whose opening is arranged along the outer circle 2031 accommodates the first reagent corresponding to each test item classified into the A line system. The reagent container whose opening is arranged along the inner circle 2032 accommodates the second reagent corresponding to the inspection item classified into the A line system. The second reagent container rack is rotated about the center of the second reagent storage 203 by the drive mechanism 4 as a rotation center.

また、図2及び図3に示される分析機構2は、ラック投入ユニット220、ラック移動ユニット230、及びラック回収ユニット240を備える。ラック投入ユニット220は、複数の試料容器100を保持するサンプルラック102が投入される。サンプルラック102の両端の側面には、ラック移動ユニット230に設けられる搬送アーム231によりピックアップ可能な形状、例えば1対の溝が形成される。 The analysis mechanism 2 shown in FIGS. 2 and 3 includes a rack loading unit 220, a rack moving unit 230, and a rack collecting unit 240. The rack loading unit 220 loads the sample rack 102 holding a plurality of sample containers 100. A shape, for example, a pair of grooves, which can be picked up by a transfer arm 231 provided in the rack moving unit 230 is formed on both side surfaces of the sample rack 102.

試料容器100には、標準試料又は被検試料等の試料が収容される。試料容器100には、試料容器100に関する情報、及び試料容器100に収容される試料の識別情報等が記載される光学式マークが設けられる。ここで、試料容器100に関する情報には、例えば、デフォルト容器、サンプルカップ、及び採血管等の、試料容器の種類が含まれる。また、試料の識別情報には、例えば、患者情報、試料情報、及び試料ID等が含まれる。光学式マークは、試料容器100に関する情報、及び試料の識別情報等を符号化したマーク、例えば、バーコード、1次元画素コード、及び2次元画素コード等である。 The sample container 100 stores a sample such as a standard sample or a test sample. The sample container 100 is provided with an optical mark in which information regarding the sample container 100, identification information of the sample contained in the sample container 100, and the like are described. Here, the information about the sample container 100 includes, for example, types of sample containers such as a default container, a sample cup, and a blood collection tube. The sample identification information includes, for example, patient information, sample information, sample ID, and the like. The optical mark is a mark that encodes information about the sample container 100, sample identification information, and the like, such as a barcode, a one-dimensional pixel code, and a two-dimensional pixel code.

サンプルラック102は、第1投入レーン221、及び第2投入レーン222へ投入される。第1及び第2投入レーン221,222へ投入されるサンプルラック102は、駆動機構4により、ラック移動ユニット230へ移動可能な投入位置へ移動される。このとき、第1及び第2投入レーン221,222におけるサンプルラック102の移動は、例えば、ベルトコンベア、及びリードスクリュー等により実現される。 The sample rack 102 is loaded into the first loading lane 221 and the second loading lane 222. The sample rack 102 loaded into the first and second loading lanes 221 and 222 is moved by the drive mechanism 4 to a loading position where the rack moving unit 230 can move. At this time, the movement of the sample rack 102 in the first and second loading lanes 221 and 222 is realized by, for example, a belt conveyor and a lead screw.

ラック移動ユニット230は、搬送アーム231、搬送レール232、仮置きレーン233、サンプリングレーン234、再検査バッファレーン235、及びリーダ236を備える。 The rack moving unit 230 includes a transfer arm 231, a transfer rail 232, a temporary placement lane 233, a sampling lane 234, a reinspection buffer lane 235, and a reader 236.

搬送アーム231は、駆動機構4によって駆動され、サンプルラック102を搬送する。例えば、搬送アーム231は、第1投入レーン221における投入位置に載置されているサンプルラック102を、搬送レール232に沿って仮置きレーン233又はサンプリングレーン234へ搬送する。また、搬送アーム231は、サンプリングレーン234における搬出位置に位置するサンプルラック102を、搬送レール232に沿って再検査バッファレーン235又はラック回収ユニット240の第1回収レーン241へ搬送する。 The transfer arm 231 is driven by the drive mechanism 4 and transfers the sample rack 102. For example, the transport arm 231 transports the sample rack 102 placed at the loading position in the first loading lane 221 to the temporary placement lane 233 or the sampling lane 234 along the transport rail 232. Further, the transport arm 231 transports the sample rack 102 located at the carry-out position in the sampling lane 234 along the transport rail 232 to the reinspection buffer lane 235 or the first recovery lane 241 of the rack recovery unit 240.

搬送アーム231は、例えば、1対の爪を上下動自在に有する。搬送アーム231は、サンプルラック102に形成される1対の溝に爪を差し込んだ状態で、フォークリフトがそのフォークで荷物を抱えて運ぶように、サンプルラックを搬送する。 The transfer arm 231 has, for example, a pair of claws that can move up and down. The transport arm 231 transports the sample rack so that the forklift holds and carries the luggage with the fork in a state where the claws are inserted in the pair of grooves formed in the sample rack 102.

サンプリングレーン234は、駆動機構4により駆動され、搬入されたサンプルラック102を移動させる。例えば、サンプリングレーン234は、サンプルラック102に保持される試料容器100各々の開口を、試料を吸引するための所定の位置へ移動させる。また、サンプリングレーン234は、サンプルラック102に保持される全ての試料容器100に収容される試料の分注が正常に終了すると、サンプルラック102を、ラック回収ユニット240へ移動可能な搬出位置へ移動させる。サンプリングレーン234におけるサンプルラック102の移動は、例えば、ベルトコンベア、及びリードスクリュー等により実現される。 The sampling lane 234 is driven by the drive mechanism 4 to move the sample rack 102 loaded therein. For example, the sampling lane 234 moves the opening of each sample container 100 held in the sample rack 102 to a predetermined position for sucking the sample. In addition, the sampling lane 234 moves the sample rack 102 to a carry-out position where it can be moved to the rack collection unit 240 when the dispensing of the samples contained in all the sample containers 100 held in the sample rack 102 is normally completed. Let The movement of the sample rack 102 in the sampling lane 234 is realized by, for example, a belt conveyor, a lead screw, or the like.

リーダ236は、試料を吸引するための位置の近傍に設けられる。リーダ236は、サンプリングレーン234を移動する試料容器100に付される光学式マークを読み取る。リーダ236は、読み取った光学式マークに基づく情報を制御回路8へ出力する。なお、リーダ236は、RFID(Radio Frequency IDentification)等を利用した他のセンサで代替してもよい。 The reader 236 is provided near the position for sucking the sample. The reader 236 reads the optical mark attached to the sample container 100 moving in the sampling lane 234. The reader 236 outputs information based on the read optical mark to the control circuit 8. The reader 236 may be replaced with another sensor using RFID (Radio Frequency IDentification) or the like.

ラック回収ユニット240は、第1及び第2回収レーン241,242を有する。第1及び第2回収レーン241,242は、駆動機構4により駆動され、ラック移動ユニット230から搬送アーム231により搬入されるサンプルラック102を、取り出し位置へ移動させる。 The rack recovery unit 240 has first and second recovery lanes 241 and 242. The first and second recovery lanes 241 and 242 are driven by the drive mechanism 4 and move the sample rack 102 loaded by the transport arm 231 from the rack moving unit 230 to the take-out position.

また、図2及び図3に示される分析機構2は、第1サンプル分注アーム204a、第2サンプル分注アーム204b、第1サンプル分注プローブ205a、第2サンプル分注プローブ205b、第1分注ユニット206a、第2分注ユニット206b、第1圧力検出器2061a、第2圧力検出器2061b、第1液面検出器2062a、及び第2液面検出器2062bを備える。 Further, the analysis mechanism 2 shown in FIGS. 2 and 3 includes a first sample dispensing arm 204a, a second sample dispensing arm 204b, a first sample dispensing probe 205a, a second sample dispensing probe 205b, and a first dispensing. The injection unit 206a, the second dispensing unit 206b, the first pressure detector 2061a, the second pressure detector 2061b, the first liquid level detector 2062a, and the second liquid level detector 2062b are provided.

第1サンプル分注アーム204aは、一端に上下動可能に第1サンプル分注プローブ205aを支持する。第1サンプル分注アーム204aは、駆動機構4によって回動される。第1サンプル分注アーム204aが回動されることにより、第1サンプル分注プローブ205aは、円弧状の回動軌道に沿って回動される。この回動軌道上には、試料を吸引する位置である、サンプル吸引基準位置2341と、サンプル吸引予備位置2341aとが設定される。サンプル吸引基準位置2341は、サンプリングレーン234上に位置するように予め設定されている。サンプル吸引予備位置2341aは、サンプル吸引基準位置2341から、記憶回路7に記憶される移動量に基づいて設定される位置である。また、第1サンプル分注プローブ205aが回動される回動軌道上には、Aライン系統に区分され、吸引した試料が吐出される第1サンプル吐出位置2012aが設定されている。第1サンプル分注プローブ205aは、駆動機構4によって駆動され、サンプル吸引基準位置2341、サンプル吸引予備位置2341a、及び第1サンプル吐出位置2012aにおいて上下方向に移動する。 The first sample dispensing arm 204a supports the first sample dispensing probe 205a at one end thereof so as to be vertically movable. The first sample dispensing arm 204a is rotated by the drive mechanism 4. By rotating the first sample dispensing arm 204a, the first sample dispensing probe 205a is rotated along an arc-shaped rotation trajectory. A sample suction reference position 2341 and a sample suction preliminary position 2341a, which are positions for sucking the sample, are set on the rotation trajectory. The sample suction reference position 2341 is preset so as to be located on the sampling lane 234. The sample suction preliminary position 2341a is a position set from the sample suction reference position 2341 based on the movement amount stored in the storage circuit 7. In addition, a first sample discharge position 2012a, which is divided into the A line system and discharges the sucked sample, is set on the rotation orbit around which the first sample dispensing probe 205a is rotated. The first sample dispensing probe 205a is driven by the drive mechanism 4 and moves up and down at the sample suction reference position 2341, the sample suction preliminary position 2341a, and the first sample discharge position 2012a.

第1分注ユニット206aは、Aライン系統に区分される検査項目についての検査を実施する際、第1サンプル分注プローブ205aにより、サンプル吸引基準位置2341又はサンプル吸引予備位置2341aで、試料容器100に収容される試料を吸引する。また、第1分注ユニット206aは、制御回路8の制御に従い、第1サンプル分注プローブ205aにより吸引した試料を、第1サンプル吐出位置2012aに位置する反応管2011aへ吐出する。また、第1分注ユニット206aは、第1サンプルプローブ洗浄位置2069aにて第1サンプル分注プローブ205aへ洗浄液を供給し、第1サンプル分注プローブ205aを洗浄する。 The first dispensing unit 206a uses the first sample dispensing probe 205a at the sample suction reference position 2341 or the sample suction preliminary position 2341a to perform the test on the test items classified into the A line system. Aspirate the sample contained in. Further, the first dispensing unit 206a discharges the sample sucked by the first sample dispensing probe 205a to the reaction tube 2011a located at the first sample discharging position 2012a under the control of the control circuit 8. Further, the first dispensing unit 206a supplies the cleaning liquid to the first sample dispensing probe 205a at the first sample probe cleaning position 2069a to clean the first sample dispensing probe 205a.

第1圧力検出器2061aは、第1サンプル分注プローブ205a内の圧力を測定する。第1圧力検出器2061aは、測定結果を制御回路8へ出力する。 The first pressure detector 2061a measures the pressure inside the first sample dispensing probe 205a. The first pressure detector 2061a outputs the measurement result to the control circuit 8.

図4は、第1分注ユニット206a、及び第1圧力検出器2061aの構成例を示す模式図である。図4に示される第1分注ユニット206aは、一端が第1サンプル分注プローブ205aに接続されるチューブ2063、チューブ2063の他端部に接続されるシリンジ2064、及びシリンジ2064の下端部に設けられる開口に勘合するプランジャ2065を備える。また、第1分注ユニット206aは、第1サンプル分注プローブ205a、チューブ2063、及びシリンジ2064の各内部に充填される圧力伝達媒体を貯留するタンク2066を備える。 FIG. 4 is a schematic diagram showing a configuration example of the first dispensing unit 206a and the first pressure detector 2061a. The first dispensing unit 206a shown in FIG. 4 is provided at a lower end of the tube 2063 connected to the first sample dispensing probe 205a, a syringe 2064 connected to the other end of the tube 2063, and a lower end of the syringe 2064. Plunger 2065 that fits into the opened opening. The first dispensing unit 206a also includes a tank 2066 that stores the pressure transmission medium that is filled inside each of the first sample dispensing probe 205a, the tube 2063, and the syringe 2064.

また、第1分注ユニット206aは、タンク2066に貯留された圧力伝達媒体を吸引し、吸引した圧力伝達媒体を洗浄液としてシリンジ2064、及びチューブ2063を経由して第1サンプル分注プローブ205a内に供給する洗浄ポンプ2067を備える。また、第1分注ユニット206aは、シリンジ2064と洗浄ポンプ2067との間を連通する流路を開閉する開閉弁2068を備える。 Further, the first dispensing unit 206a sucks the pressure transmitting medium stored in the tank 2066, and uses the sucked pressure transmitting medium as a cleaning liquid into the first sample dispensing probe 205a via the syringe 2064 and the tube 2063. The cleaning pump 2067 which supplies is provided. Further, the first dispensing unit 206a includes an opening/closing valve 2068 that opens/closes a flow path that connects the syringe 2064 and the washing pump 2067.

試料を分注する際、シリンジ2064と洗浄ポンプ2067との間の流路は、制御回路8により制御される開閉弁2068により閉鎖される。駆動機構4がプランジャ2065を矢印L1方向へ吸引駆動することにより、第1サンプル分注プローブ205aは、サンプル吸引基準位置2341、又はサンプル吸引予備位置2341aで試料容器100内の試料を吸引する。また、駆動機構4がプランジャ2065を矢印L2方向へ吐出駆動することにより、第1サンプル分注プローブ205aは、第1サンプル吐出位置2012aで停止した反応管2011a内へ試料を吐出する。 When the sample is dispensed, the flow path between the syringe 2064 and the washing pump 2067 is closed by the open/close valve 2068 controlled by the control circuit 8. When the drive mechanism 4 suction-drives the plunger 2065 in the direction of the arrow L1, the first sample dispensing probe 205a sucks the sample in the sample container 100 at the sample suction reference position 2341 or the sample suction preliminary position 2341a. Further, the drive mechanism 4 drives the plunger 2065 to discharge in the direction of the arrow L2, so that the first sample dispensing probe 205a discharges the sample into the reaction tube 2011a stopped at the first sample discharging position 2012a.

同一試料の分注が終了したとき、又は試料の分注が異常であると判定されたとき、シリンジ2064と洗浄ポンプ2067との間の流路は、制御回路8により制御される開閉弁2068により開放される。洗浄ポンプ2067は、駆動機構4により駆動され、第1サンプル分注プローブ205a内へ洗浄液を供給する。 When the dispensing of the same sample is completed, or when it is determined that the dispensing of the sample is abnormal, the flow path between the syringe 2064 and the washing pump 2067 is controlled by the open/close valve 2068 controlled by the control circuit 8. Be released. The cleaning pump 2067 is driven by the drive mechanism 4 and supplies the cleaning liquid into the first sample dispensing probe 205a.

図4に示される第1圧力検出器2061aは、一端が第1分注ユニット206aのチューブ2063に接続される。第1圧力検出器2061aは、圧力センサ20611、アンプ20612、及びA/D変換器20613を備える。圧力センサ20611は、第1サンプル分注プローブ205a内の圧力を大気の圧力を基準として測定する。圧力センサ20611は、測定した圧力に基づく信号をアンプ20612へ出力する。アンプ20612は、圧力センサ20611から出力される信号を増幅し、A/D変換器20613へ出力する。A/D変換器20613は、アンプ20612で増幅された信号をデジタル信号に変換する。圧力検出器2061は、デジタル信号を制御回路8へ出力する。 One end of the first pressure detector 2061a shown in FIG. 4 is connected to the tube 2063 of the first dispensing unit 206a. The first pressure detector 2061a includes a pressure sensor 20611, an amplifier 20612, and an A/D converter 20613. The pressure sensor 20611 measures the pressure inside the first sample dispensing probe 205a with reference to atmospheric pressure. The pressure sensor 20611 outputs a signal based on the measured pressure to the amplifier 20612. The amplifier 20612 amplifies the signal output from the pressure sensor 20611 and outputs the amplified signal to the A/D converter 20613. The A/D converter 20613 converts the signal amplified by the amplifier 20612 into a digital signal. The pressure detector 2061 outputs a digital signal to the control circuit 8.

第1圧力検出器2061aは、第1サンプル分注プローブ205aにより試料の吸引が行われているとき、即ち第1分注ユニット206aにより吸引動作が行われているときの第1サンプル分注プローブ205a内の大気圧よりも低い吸引圧を検出する。また、第1圧力検出器2061aは、第1サンプル分注プローブ205aにより試料の吐出が行われているとき、即ち第1分注ユニット206aにより吐出動作が行われているときの第1サンプル分注プローブ205a内の大気圧よりも高い吐出圧を検出する。また、第1圧力検出器2061aは、第1分注ユニット206aの洗浄ポンプ2067により洗浄液の供給動作が行われているときの第1サンプル分注プローブ205a内の大気圧よりも高い洗浄圧を検出する。 The first pressure detector 2061a includes the first sample dispensing probe 205a when the sample is sucked by the first sample dispensing probe 205a, that is, when the suction operation is performed by the first dispensing unit 206a. A suction pressure lower than the atmospheric pressure inside is detected. Further, the first pressure detector 2061a dispenses the first sample while the sample is being discharged by the first sample dispensing probe 205a, that is, when the discharging operation is being performed by the first dispensing unit 206a. A discharge pressure higher than the atmospheric pressure in the probe 205a is detected. Further, the first pressure detector 2061a detects a cleaning pressure higher than the atmospheric pressure in the first sample dispensing probe 205a when the cleaning liquid is being supplied by the cleaning pump 2067 of the first dispensing unit 206a. To do.

第1液面検出器2062aは、一端が電気的に第1サンプル分注プローブ205aに接続される。第1液面検出器2062aは、発振回路、ブリッジ回路、差動アンプ、同期検波回路、積分回路、及び増幅回路等を備える。第1液面検出器2062aは、第1サンプル分注プローブ205aが試料容器100内の試料に接触したときの例えば静電容量の変化により、試料への第1サンプル分注プローブ205aの接触を検出する。また、第1液面検出器2062aは、第1サンプル分注プローブ205aが試料容器100内の試料から離間したときの静電容量の変化により、試料からの第1サンプル分注プローブ205aの離間を検出する。第1液面検出器2062aは、第1サンプル分注プローブ205aの接触及び離間に関する検出信号を制御回路8へ出力する。 One end of the first liquid level detector 2062a is electrically connected to the first sample dispensing probe 205a. The first liquid level detector 2062a includes an oscillation circuit, a bridge circuit, a differential amplifier, a synchronous detection circuit, an integration circuit, an amplification circuit, and the like. The first liquid level detector 2062a detects contact of the first sample dispensing probe 205a with the sample, for example, by a change in capacitance when the first sample dispensing probe 205a contacts the sample in the sample container 100. To do. In addition, the first liquid level detector 2062a separates the first sample dispensing probe 205a from the sample due to a change in capacitance when the first sample dispensing probe 205a is separated from the sample in the sample container 100. To detect. The first liquid surface detector 2062a outputs to the control circuit 8 a detection signal regarding contact and separation of the first sample dispensing probe 205a.

第2サンプル分注アーム204bは、一端に上下動可能に第2サンプル分注プローブ205bを支持する。第2サンプル分注アーム204bは、駆動機構4により、第1サンプル分注アーム204aと共通の回転軸で回動される。第2サンプル分注アーム204bが回動されることにより、第2サンプル分注プローブ205bは、第1サンプル分注プローブ205aと同一の回動軌道に沿って回動される。この回動軌道上には、Bライン系統に区分され、吸引した試料が吐出される第2サンプル吐出位置2012bが設定されている。第2サンプル分注プローブ205bは、駆動機構4によって駆動され、サンプル吸引基準位置2341、サンプル吸引予備位置2341a、及び第2サンプル吐出位置2012bにおいて上下方向に移動する。 The second sample dispensing arm 204b supports one end of the second sample dispensing probe 205b so as to be vertically movable. The second sample dispensing arm 204b is rotated by the drive mechanism 4 on the same rotation axis as the first sample dispensing arm 204a. By rotating the second sample dispensing arm 204b, the second sample dispensing probe 205b is rotated along the same rotation trajectory as the first sample dispensing probe 205a. A second sample ejection position 2012b, which is divided into the B line system and ejects the aspirated sample, is set on the rotation trajectory. The second sample dispensing probe 205b is driven by the drive mechanism 4 and moves vertically in the sample suction reference position 2341, the sample suction preliminary position 2341a, and the second sample ejection position 2012b.

第2分注ユニット206bは、Bライン系統に区分される検査項目についての検査を実施する際、第2サンプル分注プローブ205bにより、サンプル吸引基準位置2341又はサンプル吸引予備位置2341aで、試料容器100に収容される試料を吸引する。また、第2分注ユニット206bは、制御回路8の制御に従い、第2サンプル分注プローブ205bにより吸引した試料を、第2サンプル吐出位置2012bに位置する反応管2011bへ吐出する。また、第2分注ユニット206bは、第1サンプルプローブ洗浄位置2069bにて第2サンプル分注プローブ205bへ洗浄液を供給し、第2サンプル分注プローブ205bを洗浄する。第2圧力検出器2061bは、第2サンプル分注プローブ205b内の圧力を測定し、測定結果を制御回路8へ出力する。なお、第2分注ユニット206b及び第2圧力検出器2061bの構成は、図4に示される第1分注ユニット206a及び第1圧力検出器2061aの構成と同様である。 The second dispensing unit 206b uses the second sample dispensing probe 205b at the sample suction reference position 2341 or the sample suction preliminary position 2341a to perform the test on the test items classified into the B line system. Aspirate the sample contained in. Further, the second dispensing unit 206b discharges the sample sucked by the second sample dispensing probe 205b to the reaction tube 2011b located at the second sample discharging position 2012b under the control of the control circuit 8. In addition, the second dispensing unit 206b supplies the cleaning liquid to the second sample dispensing probe 205b at the first sample probe cleaning position 2069b to clean the second sample dispensing probe 205b. The second pressure detector 2061b measures the pressure inside the second sample dispensing probe 205b and outputs the measurement result to the control circuit 8. The configurations of the second dispensing unit 206b and the second pressure detector 2061b are the same as the configurations of the first dispensing unit 206a and the first pressure detector 2061a shown in FIG.

第2液面検出器2062bは、一端が電気的に第2サンプル分注プローブ205bに接続される。第2液面検出器2062bは、第2サンプル分注プローブ205bが試料容器100内の試料に接触したときの例えば静電容量の変化により、試料への第2サンプル分注プローブ205bの接触を検出する。また、第2液面検出器2062bは、第2サンプル分注プローブ205bが試料容器100内の試料から離間したときの静電容量の変化により、試料からの第2サンプル分注プローブ205bの離間を検出する。第2液面検出器2062bは、第2サンプル分注プローブ205bの接触及び離間に関する検出信号を制御回路8へ出力する。 One end of the second liquid level detector 2062b is electrically connected to the second sample dispensing probe 205b. The second liquid level detector 2062b detects the contact of the second sample dispensing probe 205b with the sample, for example, by a change in capacitance when the second sample dispensing probe 205b contacts the sample in the sample container 100. To do. Further, the second liquid level detector 2062b separates the second sample dispensing probe 205b from the sample due to a change in capacitance when the second sample dispensing probe 205b is separated from the sample in the sample container 100. To detect. The second liquid surface detector 2062b outputs to the control circuit 8 a detection signal regarding contact and separation of the second sample dispensing probe 205b.

また、図2及び図3に示される分析機構2は、第1A試薬分注アーム207、第1A試薬分注プローブ208、第2A試薬分注アーム209、第2A試薬分注プローブ210、第1B試薬分注アーム211、第1B試薬分注プローブ212、第2B試薬分注アーム213、第2B試薬分注プローブ214、第1撹拌ユニット215、及び第2撹拌ユニット216を備える。 The analysis mechanism 2 shown in FIGS. 2 and 3 includes a first A reagent dispensing arm 207, a first A reagent dispensing probe 208, a second A reagent dispensing arm 209, a second A reagent dispensing probe 210, and a 1B reagent. A dispensing arm 211, a first B reagent dispensing probe 212, a second B reagent dispensing arm 213, a second B reagent dispensing probe 214, a first stirring unit 215, and a second stirring unit 216 are provided.

第1A試薬分注アーム207は、一端に上下動可能に第1A試薬分注プローブ208を支持する。第1A試薬分注アーム207は、駆動機構4によって回動される。第1A試薬分注アーム207が回動されることにより、第1A試薬分注プローブ208は、円弧状の回動軌道に沿って回動される。この回動軌道上には、第2試薬庫203の外円2031上に配置される試薬容器からAライン系統に区分される各検査項目に対応する第1試薬を吸引する試薬吸引位置と、吸引した第1試薬を反応管2011aへ吐出する第1試薬吐出位置2013aとが設定されている。 The first A reagent dispensing arm 207 supports the first A reagent dispensing probe 208 at one end thereof so as to be vertically movable. The first A reagent dispensing arm 207 is rotated by the drive mechanism 4. By rotating the 1A reagent dispensing arm 207, the 1A reagent dispensing probe 208 is rotated along an arc-shaped rotation trajectory. On this rotation orbit, a reagent suction position for sucking the first reagent corresponding to each inspection item divided into the A line system from the reagent container arranged on the outer circle 2031 of the second reagent storage 203, and the suction position The first reagent ejection position 2013a for ejecting the first reagent to the reaction tube 2011a is set.

第1A試薬分注プローブ208は、駆動機構4によって駆動され、回動軌道上の試薬吸引位置、及び第1試薬吐出位置2013aにおいて上下方向に移動する。また、第1A試薬分注プローブ208は、制御回路8の制御に従い、回動軌道上の試薬吸引位置に位置する試薬容器から第1試薬を吸引する。また、第1A試薬分注プローブ208は、制御回路8の制御に従い、吸引した第1試薬を、第1試薬吐出位置2013aに位置する反応管2011aへ吐出する。 The first-A reagent dispensing probe 208 is driven by the drive mechanism 4 and moves in the vertical direction at the reagent suction position on the rotation trajectory and the first reagent discharge position 2013a. Further, the first-A reagent dispensing probe 208, under the control of the control circuit 8, sucks the first reagent from the reagent container located at the reagent suction position on the rotation trajectory. Further, the first A reagent dispensing probe 208 discharges the sucked first reagent to the reaction tube 2011a located at the first reagent discharging position 2013a under the control of the control circuit 8.

第2A試薬分注アーム209は、一端に上下動可能に第2A試薬分注プローブ210を支持する。第2A試薬分注アーム209は、駆動機構4によって回動される。第2A試薬分注アーム209が回動されることにより、第2A試薬分注プローブ210は、円弧状の回動軌道に沿って回動される。この回動軌道上には、第2試薬庫203の内円2032上に配置される試薬容器からAライン系統に区分される各検査項目に対応する第2試薬を吸引する試薬吸引位置と、吸引した第2試薬を反応管2011aへ吐出する第2試薬吐出位置2014aとが設定されている。 The second A reagent dispensing arm 209 supports the second A reagent dispensing probe 210 at one end thereof so as to be vertically movable. The second A reagent dispensing arm 209 is rotated by the drive mechanism 4. By rotating the second A reagent dispensing arm 209, the second A reagent dispensing probe 210 is rotated along an arc-shaped rotation trajectory. On this rotation orbit, a reagent suction position for sucking the second reagent corresponding to each inspection item divided into the A line system from the reagent container arranged on the inner circle 2032 of the second reagent storage 203, and the suction The second reagent discharge position 2014a for discharging the second reagent to the reaction tube 2011a is set.

第2A試薬分注プローブ210は、駆動機構4によって駆動され、回動軌道上の試薬吸引位置、及び第2試薬吐出位置2014aにおいて上下方向に移動する。また、第2A試薬分注プローブ210は、制御回路8の制御に従い、回動軌道上の試薬吸引位置に位置する試薬容器から第2試薬を吸引する。また、第2A試薬分注プローブ210は、制御回路8の制御に従い、吸引した第2試薬を、第2試薬吐出位置2014aに位置する反応管2011aへ吐出する。 The second A reagent dispensing probe 210 is driven by the drive mechanism 4 and moves in the vertical direction at the reagent suction position on the rotation trajectory and the second reagent discharging position 2014a. Further, the second-A reagent dispensing probe 210, under the control of the control circuit 8, sucks the second reagent from the reagent container located at the reagent suction position on the rotation trajectory. Further, the second A reagent dispensing probe 210 discharges the sucked second reagent to the reaction tube 2011a located at the second reagent discharging position 2014a according to the control of the control circuit 8.

第1B試薬分注アーム211は、一端に上下動可能に第1B試薬分注プローブ212を支持する。第1B試薬分注アーム211は、駆動機構4によって回動される。第1B試薬分注アーム211が回動されることにより、第1B試薬分注プローブ212は、円弧状の回動軌道に沿って回動される。この回動軌道上には、第1試薬庫202の外円2021上に配置される試薬容器からBライン系統に区分される各検査項目に対応する第1試薬を吸引する試薬吸引位置と、吸引した第1試薬を反応管2011bへ吐出する第1試薬吐出位置2013bとが設定されている。 The first B reagent dispensing arm 211 supports the first B reagent dispensing probe 212 at one end so as to be vertically movable. The first B reagent dispensing arm 211 is rotated by the drive mechanism 4. By rotating the first B reagent dispensing arm 211, the first B reagent dispensing probe 212 is rotated along an arc-shaped rotation trajectory. On this rotation orbit, a reagent suction position for sucking the first reagent corresponding to each test item classified into the B line system from the reagent container arranged on the outer circle 2021 of the first reagent storage 202, and a suction A first reagent discharge position 2013b for discharging the first reagent to the reaction tube 2011b is set.

第1B試薬分注プローブ212は、駆動機構4によって駆動され、回動軌道上の試薬吸引位置、及び第1試薬吐出位置2013bにおいて上下方向に移動する。また、第1B試薬分注プローブ212は、制御回路8の制御に従い、回動軌道上の試薬吸引位置に位置する試薬容器から第1試薬を吸引する。また、第1B試薬分注プローブ212は、制御回路8の制御に従い、吸引した第1試薬を、第1試薬吐出位置2013bに位置する反応管2011bへ吐出する。 The first B reagent dispensing probe 212 is driven by the drive mechanism 4 and moves in the vertical direction at the reagent suction position on the rotation trajectory and the first reagent discharge position 2013b. Further, the first B reagent dispensing probe 212 sucks the first reagent from the reagent container located at the reagent suction position on the rotation trajectory under the control of the control circuit 8. Further, the first B reagent dispensing probe 212 discharges the sucked first reagent to the reaction tube 2011b located at the first reagent discharging position 2013b under the control of the control circuit 8.

第2B試薬分注アーム213は、一端に上下動可能に第2B試薬分注プローブ214を支持する。第2B試薬分注アーム213は、駆動機構4によって回動される。第2B試薬分注アーム213が回動されることにより、第2B試薬分注プローブ214は、円弧状の回動軌道に沿って回動される。この回動軌道上には、第1試薬庫202の内円2022上に配置される試薬容器からBライン系統に区分される各検査項目に対応する第2試薬を吸引する試薬吸引位置と、吸引した第2試薬を反応管2011bへ吐出する第2試薬吐出位置2014bとが設定されている。 The second B reagent dispensing arm 213 supports the second B reagent dispensing probe 214 at one end thereof so as to be vertically movable. The second B reagent dispensing arm 213 is rotated by the drive mechanism 4. By rotating the second B reagent dispensing arm 213, the second B reagent dispensing probe 214 is rotated along an arc-shaped rotation trajectory. On this rotation orbit, a reagent suction position for sucking the second reagent corresponding to each test item classified into the B line system from the reagent container arranged on the inner circle 2022 of the first reagent storage 202, and a suction The second reagent ejection position 2014b for ejecting the second reagent to the reaction tube 2011b is set.

第2B試薬分注プローブ214は、駆動機構4によって駆動され、回動軌道上の試薬吸引位置、及び第2試薬吐出位置2014bにおいて上下方向に移動する。また、第2B試薬分注プローブ214は、制御回路8の制御に従い、回動軌道上の試薬吸引位置に位置する試薬容器から第2試薬を吸引する。また、第2B試薬分注プローブ214は、制御回路8の制御に従い、吸引した第2試薬を、第2試薬吐出位置2014に位置する反応管2011へ吐出する。 The second B reagent dispensing probe 214 is driven by the drive mechanism 4 and moves in the vertical direction at the reagent suction position on the rotation orbit and the second reagent discharge position 2014b. Further, the second-B reagent dispensing probe 214, under the control of the control circuit 8, sucks the second reagent from the reagent container located at the reagent suction position on the rotation trajectory. Further, the second B reagent dispensing probe 214 discharges the sucked second reagent to the reaction tube 2011 located at the second reagent discharging position 2014 under the control of the control circuit 8.

第1撹拌ユニット215、及び第2撹拌ユニット216は、撹拌アーム、及び撹拌子をそれぞれ有する。撹拌アームは、先端近傍に、回動可能、かつ、上下動可能に撹拌子を支持する。第1撹拌ユニット215は、制御回路8の制御に従い、反応ディスク201上の撹拌位置2015aへ撹拌子を移動させ、撹拌子により撹拌位置2015aに位置する反応管2011a内で試料と第1試薬との混合液を撹拌する。また、第1撹拌ユニット215は、制御回路8の制御に従い、反応ディスク201上の撹拌位置2015bへ撹拌子を移動させ、撹拌子により撹拌位置2015bに位置する反応管2011b内で試料と第1試薬との混合液を撹拌する。 The first stirring unit 215 and the second stirring unit 216 each have a stirring arm and a stirring bar. The stirring arm supports the stirring bar near the tip end in a rotatable and vertically movable manner. The first stirring unit 215 moves the stirring bar to the stirring position 2015a on the reaction disk 201 according to the control of the control circuit 8, and the stirring bar moves the stirring bar to the sample and the first reagent in the reaction tube 2011a located at the stirring position 2015a. Stir the mixture. Further, the first stirring unit 215 moves the stirrer to the stirring position 2015b on the reaction disk 201 according to the control of the control circuit 8 and the sample and the first reagent in the reaction tube 2011b located at the stirring position 2015b by the stirring bar. Stir the mixture with.

第2撹拌ユニット216は、制御回路8の制御に従い、反応ディスク201上の撹拌位置2016aへ撹拌子を移動させ、撹拌子により撹拌位置2016aに位置する反応管2011a内で試料、第1試薬、及び第2試薬の混合液を撹拌する。また、第2撹拌ユニット216は、制御回路8の制御に従い、反応ディスク201上の撹拌位置2016bへ撹拌子を移動させ、撹拌子により撹拌位置2016bに位置する反応管2011b内で試料、第1試薬、及び第2試薬の混合液を撹拌する。 The second stirring unit 216 moves the stirring bar to the stirring position 2016a on the reaction disk 201 according to the control of the control circuit 8, and the stirring bar causes the sample, the first reagent, and the sample in the reaction tube 2011a located at the stirring position 2016a. The second reagent mixture is agitated. Further, the second stirring unit 216 moves the stirring bar to the stirring position 2016b on the reaction disk 201 according to the control of the control circuit 8, and the stirring bar causes the sample and the first reagent in the reaction tube 2011b located at the stirring position 2016b. , And the mixed solution of the second reagent are stirred.

また、図2及び図3に示される分析機構2は、測光ユニット217、洗浄ユニット218、及び電解質測定ユニット219を備える。
測光ユニット217は、光源、及び光検出器を有する。測光ユニット217は、制御回路8の制御に従い、光源から反応管2011a,2011bへ光を照射する。光検出器は、反応管2011a,2011b内の標準試料と試薬との混合液、又は被検試料と試薬との混合液を通過した光を検出する。光検出器は、検出した光の強度に基づいて例えば吸光度で表される標準データ又は被検データを生成する。測光ユニット217は、生成した標準データ及び被検データを、解析回路3へ出力する。
The analysis mechanism 2 shown in FIGS. 2 and 3 includes a photometric unit 217, a cleaning unit 218, and an electrolyte measuring unit 219.
The photometric unit 217 has a light source and a photodetector. The photometric unit 217 emits light from the light source to the reaction tubes 2011a and 2011b under the control of the control circuit 8. The photodetector detects light that has passed through the mixed liquid of the standard sample and the reagent or the mixed liquid of the test sample and the reagent in the reaction tubes 2011a and 2011b. The photodetector generates standard data or test data represented by, for example, absorbance based on the detected light intensity. The photometric unit 217 outputs the generated standard data and test data to the analysis circuit 3.

洗浄ユニット218は、廃液ノズル、洗浄ノズル、及び乾燥ノズルを備える。洗浄ユニット218は、廃液ノズルにより、反応管洗浄位置に位置する反応管2011a,2011b内の混合液を廃液として吸引する。洗浄ユニット218は、洗浄ノズルにより、反応管洗浄位置に位置する反応管2011a,2011bへ純水を吐出し、反応管2011a,2011bを洗浄する。洗浄ユニット218は、乾燥ノズルにより、反応管2011a,2011bへ乾燥空気を供給することで、純水により洗浄された反応管2011a,2011bを乾燥させる。 The cleaning unit 218 includes a waste liquid nozzle, a cleaning nozzle, and a drying nozzle. The cleaning unit 218 uses the waste liquid nozzle to suck the mixed liquid in the reaction tubes 2011a and 2011b located at the reaction tube cleaning position as waste liquid. The cleaning unit 218 cleans the reaction tubes 2011a and 2011b by discharging pure water to the reaction tubes 2011a and 2011b located at the reaction tube cleaning position by the cleaning nozzle. The cleaning unit 218 supplies the dry air to the reaction tubes 2011a and 2011b by the drying nozzle to dry the reaction tubes 2011a and 2011b washed with pure water.

電解質測定ユニット219は、反応管2011a,2011b内の混合液中に存在する特定電解質を測定する。電解質測定ユニット219は、例えば特定電解質から発生するイオン濃度を測定する。 The electrolyte measuring unit 219 measures the specific electrolyte existing in the mixed liquid in the reaction tubes 2011a and 2011b. The electrolyte measuring unit 219 measures, for example, the concentration of ions generated from the specific electrolyte.

本実施形態に係る制御回路8は、記憶回路7から読み出した動作プログラムを実行することで、図1に示される各種機能を実現する。すなわち、制御回路8は、システム制御機能81、分析制御機能82、及び分注モニタ機能83を備える。なお、本実施形態では、単一のプロセッサによってシステム制御機能81、分析制御機能82、及び分注モニタ機能83が実現される場合を説明するが、これに限定されない。例えば、複数の独立したプロセッサを組み合わせて制御回路を構成し、各プロセッサが動作プログラムを実行することによりシステム制御機能81、分析制御機能82、及び分注モニタ機能83を実現しても構わない。 The control circuit 8 according to the present embodiment realizes the various functions shown in FIG. 1 by executing the operation program read from the storage circuit 7. That is, the control circuit 8 includes a system control function 81, an analysis control function 82, and a dispensing monitor function 83. In the present embodiment, the case where the system control function 81, the analysis control function 82, and the dispensing monitor function 83 are realized by a single processor will be described, but the present invention is not limited to this. For example, the control circuit may be configured by combining a plurality of independent processors, and each processor may execute the operation program to realize the system control function 81, the analysis control function 82, and the dispensing monitor function 83.

システム制御機能81は、入力インタフェース回路5から入力される入力情報に基づき、自動分析装置1における各部を統括して制御する機能である。 The system control function 81 is a function that collectively controls each unit in the automatic analyzer 1 based on the input information input from the input interface circuit 5.

分析制御機能82は、入力インタフェース回路5から入力される入力情報に基づき、駆動機構4を制御する機能である。例えば、分析制御機能82において、制御回路8は、入力インタフェース回路5から入力される入力情報に基づき、駆動機構4に設けたステッピングモータ等へ駆動パルスを供給することで、分析機構2に設けられる各部の動作を制御する。 The analysis control function 82 is a function of controlling the drive mechanism 4 based on the input information input from the input interface circuit 5. For example, in the analysis control function 82, the control circuit 8 is provided in the analysis mechanism 2 by supplying a drive pulse to the stepping motor or the like provided in the drive mechanism 4 based on the input information input from the input interface circuit 5. Controls the operation of each part.

より具体的には、例えば、制御回路8は、入力インタフェース回路5から入力される入力情報に基づき、第1サンプル分注アーム204a、第1サンプル分注プローブ205a、及び第1分注ユニット206aを、吸引動作、吐出動作、及び洗浄動作を実行するように制御する。このとき、制御回路8は、分注モニタ機能83によって取得される、第1サンプル分注プローブ205aが正常な状態であるか否かの判定結果を利用して、第1サンプル分注アーム204a、第1サンプル分注プローブ205a、及び第1分注ユニット206aを制御する。 More specifically, for example, the control circuit 8 determines the first sample dispensing arm 204a, the first sample dispensing probe 205a, and the first dispensing unit 206a based on the input information input from the input interface circuit 5. , Suction operation, discharge operation, and cleaning operation are controlled. At this time, the control circuit 8 uses the determination result, which is acquired by the dispensing monitor function 83, whether the first sample dispensing probe 205a is in a normal state, and uses the first sample dispensing arm 204a, The first sample dispensing probe 205a and the first dispensing unit 206a are controlled.

また、制御回路8は、入力インタフェース回路5から入力される入力情報に基づき、第2サンプル分注アーム204b、第2サンプル分注プローブ205b、及び第2分注ユニット206bを、吸引動作、吐出動作、及び洗浄動作を実行するように制御する。このとき、制御回路8は、分注モニタ機能83によって取得される、第2サンプル分注プローブ205bが正常な状態であるか否かの判定結果を利用して、第2サンプル分注アーム204b、第1サンプル分注プローブ205b、及び第1分注ユニット206bを制御する。 The control circuit 8 also causes the second sample dispensing arm 204b, the second sample dispensing probe 205b, and the second dispensing unit 206b to perform a suction operation and a discharge operation based on the input information input from the input interface circuit 5. , And control to perform the cleaning operation. At this time, the control circuit 8 uses the determination result, which is acquired by the dispensing monitor function 83, whether the second sample dispensing probe 205b is in the normal state, and uses the second sample dispensing arm 204b, The first sample dispensing probe 205b and the first dispensing unit 206b are controlled.

以下に、分析制御機能82において、制御回路8が第1サンプル分注アーム204a、第1サンプル分注プローブ205a、及び第1分注ユニット206aを制御する動作をより詳細に説明する。なお、第2サンプル分注アーム204b、第2サンプル分注プローブ205b、及び第2分注ユニット206bについても同様に制御される。 Hereinafter, in the analysis control function 82, the operation in which the control circuit 8 controls the first sample dispensing arm 204a, the first sample dispensing probe 205a, and the first dispensing unit 206a will be described in more detail. The second sample dispensing arm 204b, the second sample dispensing probe 205b, and the second dispensing unit 206b are similarly controlled.

制御回路8は、例えば、図5に示される吸引標準位置で試料を吸引する際、又はこのサンプル吸引位置で吸引した試料を吐出する際に、分注モニタ機能83により第1サンプル分注プローブ205aが異常な状態であるか否かを判定する。吸引標準位置とは、サンプル吸引基準位置2341、かつ試料の接触が検出される位置から下方に基準距離D移動させた位置を表す。第1サンプル分注プローブ205aが異常な状態であると判定すると、制御回路8は、この判定が下された検査項目について記憶されている検量データ及び分析データを外部へ報告しない。第1サンプル分注プローブ205aが異常と判定された検査項目については、再度サンプリング動作を実施するためである。また、第1サンプル分注プローブ205aが異常な状態であると判定すると、制御回路8は、第1サンプル分注プローブ205aが正常な状態と判定するまで洗浄液の吐出を繰り返すように第1分注ユニット206aを制御する。 For example, when the sample is sucked at the suction standard position shown in FIG. 5 or when the sample sucked at this sample suction position is discharged, the control circuit 8 causes the first sample dispensing probe 205a by the dispensing monitor function 83. Is determined to be in an abnormal state. The suction standard position refers to the sample suction reference position 2341 and the position moved by the reference distance D downward from the position where contact of the sample is detected. When it is determined that the first sample dispensing probe 205a is in the abnormal state, the control circuit 8 does not report the calibration data and analysis data stored for the inspection item for which the determination is made to the outside. This is because the sampling operation is performed again for the inspection item for which the first sample dispensing probe 205a is determined to be abnormal. When the control circuit 8 determines that the first sample dispensing probe 205a is in the abnormal state, the control circuit 8 repeats the discharge of the cleaning liquid until the first sample dispensing probe 205a determines that the normal state. It controls the unit 206a.

制御回路8は、異常が解消された第1サンプル分注プローブ205aにより同一の試料を吸引する際、記憶回路7に記憶される移動量に関する情報を参照し、サンプル吸引位置を変更する。サンプル吸引位置の移動量に関する情報には、サンプル吸引基準位置2341からサンプル吸引予備位置2341aへの移動量に関する情報、及び試料の接触が検出される位置からの基準距離Dに対する深さ方向への移動量に関する情報が含まれる。サンプル吸引位置の移動量は、例えば、正常な状態の試料であるならば、吸引標準位置に存在するフィブリン等の不溶物から離間可能であると想定される程度の距離である。
サンプル吸引位置の変更は、サンプル吸引位置の水平方向の変更、垂直方向の変更、及びこれらのうち少なくともいずれかにより実現される。サンプル吸引位置の水平方向の変更とは、例えば、サンプル吸引基準位置2341をサンプル吸引予備位置2341aへ変更することを表す。図6は、第1サンプル分注プローブ205aによる試料のサンプル吸引位置がサンプル吸引基準位置2341からサンプル吸引予備位置2341aへ変更される場合の例を表す模式図である。また、サンプル吸引位置の垂直方向の変更とは、第1サンプル分注プローブ205aが試料へ接触する位置から基準距離Dであるサンプル吸引位置を深さ方向へずらすことを表す。図7は、第1サンプル分注プローブ205aによる試料のサンプル吸引位置が深さ方向へ変更される場合の例を表す模式図である。
The control circuit 8 changes the sample suction position by referring to the information regarding the movement amount stored in the storage circuit 7 when the same sample is sucked by the first sample dispensing probe 205a in which the abnormality is eliminated. The information regarding the movement amount of the sample suction position includes information regarding the movement amount from the sample suction reference position 2341a to the sample suction preliminary position 2341a and the movement in the depth direction with respect to the reference distance D from the position where the contact of the sample is detected. Contains information about the quantity. The amount of movement of the sample suction position is, for example, a distance to the extent that it can be separated from an insoluble matter such as fibrin existing at the suction standard position if the sample is in a normal state.
The change of the sample suction position is realized by changing the sample suction position in the horizontal direction and/or the vertical direction. Changing the sample suction position in the horizontal direction means, for example, changing the sample suction reference position 2341 to the sample suction preliminary position 2341a. FIG. 6 is a schematic diagram showing an example in which the sample suction position of the sample by the first sample dispensing probe 205a is changed from the sample suction reference position 2341 to the sample suction preliminary position 2341a. Further, changing the sample suction position in the vertical direction means shifting the sample suction position, which is the reference distance D, in the depth direction from the position where the first sample dispensing probe 205a contacts the sample. FIG. 7 is a schematic diagram showing an example in which the sample suction position of the sample by the first sample dispensing probe 205a is changed in the depth direction.

制御回路8は、外部報告が制限された検査項目と同一の検査項目に関する分析、又は次の検査項目に関する分析では、変更したサンプル吸引位置で試料を吸引するように第1サンプル分注アーム204a、第1サンプル分注プローブ205a、及び第1分注ユニット206aを制御する。 The control circuit 8 uses the first sample dispensing arm 204a, so as to suck the sample at the changed sample suction position in the analysis regarding the same inspection item as the external inspection limited inspection item or the analysis regarding the next inspection item. The first sample dispensing probe 205a and the first dispensing unit 206a are controlled.

また、制御回路8は、変更したサンプル吸引位置、すなわち、吸引変更位置で試料を吸引する際、又はこのサンプル吸引位置で吸引した試料を吐出する際に、分注モニタ機能83により第1サンプル分注プローブ205aが異常な状態であるか否かを判定する。第1サンプル分注プローブ205aが異常な状態であると判定すると、制御回路8は、出力インタフェース回路6へ詰まりエラー報告を出力し、この試料についての分注動作を停止させる。一方、制御回路8は、第1サンプル分注プローブ205aが正常な状態であると判定すると、吸引変更位置を以降のサンプル吸引位置として継承する。 Further, the control circuit 8 causes the dispensing monitor function 83 to dispense the first sample when the sample is sucked at the changed sample suction position, that is, at the suction change position, or when the sample sucked at the sample suction position is discharged. It is determined whether the injection probe 205a is in an abnormal state. When determining that the first sample dispensing probe 205a is in an abnormal state, the control circuit 8 outputs a clogging error report to the output interface circuit 6 and stops the dispensing operation for this sample. On the other hand, when the control circuit 8 determines that the first sample dispensing probe 205a is in the normal state, it inherits the suction change position as the subsequent sample suction position.

試料容器100として複数種類の容器が用いられる場合、記憶回路7には、例えば、図8に示される、試料容器の種類と、サンプル吸引位置の移動量との関係を表すテーブルが記憶されている。図8によれば、試料容器100がデフォルトの容器である場合には、サンプル吸引基準位置2341からサンプル吸引予備位置2341aへの移動量、すなわち、水平方向の移動量は「2mm」と設定され、基準距離に対する深さ方向への移動量に関する情報、すなわち、垂直方向の移動量は「2mm」と設定されている。また、試料容器100がサンプルカップAである場合には、水平方向の移動量は「2mm」と設定され、垂直方向の移動量は「2mm」と設定されている。また、試料容器100がサンプルカップBである場合には、水平方向の移動量は「4mm」と設定され、垂直方向の移動量は「3mm」と設定されている。また、試料容器100が採血管Aである場合には、水平方向の移動量は「2mm」と設定され、垂直方向の移動量は「2mm」と設定されている。また、試料容器100が採血管Bである場合には、水平方向の移動量は「4mm」と設定され、垂直方向の移動量は「3mm」と設定されている。なお、サンプル吸引位置の移動量は、試料容器100の種類毎に、試料容器100の形状、容器径、断面積、及び深さ等に基づいて予め設定される。制御回路8は、図8に示されるテーブルを参照し、サンプル吸引位置を変更する際の移動量を決定する。具体的には、制御回路8は、リーダ236から光学式マークに基づく情報を取得する。制御回路8は、光学式マークに基づく情報に含まれる試料容器100に関する情報から、分析対象である試料容器100の種類を判別する。制御回路8は、判別した試料容器100の種類を、記憶回路7に記憶されるテーブルと照合し、サンプル吸引位置の水平方向の移動量、及び垂直方向の移動量を決定する。 When a plurality of types of containers are used as the sample container 100, the storage circuit 7 stores, for example, a table showing the relationship between the type of sample container and the movement amount of the sample suction position, as shown in FIG. .. According to FIG. 8, when the sample container 100 is the default container, the movement amount from the sample suction reference position 2341 to the sample suction preliminary position 2341a, that is, the horizontal movement amount is set to “2 mm”, The information regarding the movement amount in the depth direction with respect to the reference distance, that is, the movement amount in the vertical direction is set to “2 mm”. When the sample container 100 is the sample cup A, the horizontal movement amount is set to “2 mm” and the vertical movement amount is set to “2 mm”. When the sample container 100 is the sample cup B, the horizontal movement amount is set to “4 mm” and the vertical movement amount is set to “3 mm”. When the sample container 100 is the blood collection tube A, the horizontal movement amount is set to “2 mm” and the vertical movement amount is set to “2 mm”. When the sample container 100 is the blood collection tube B, the horizontal movement amount is set to “4 mm” and the vertical movement amount is set to “3 mm”. The amount of movement of the sample suction position is preset for each type of the sample container 100 based on the shape of the sample container 100, the container diameter, the cross-sectional area, the depth, and the like. The control circuit 8 refers to the table shown in FIG. 8 to determine the movement amount when changing the sample suction position. Specifically, the control circuit 8 acquires information based on the optical mark from the reader 236. The control circuit 8 determines the type of the sample container 100 to be analyzed from the information about the sample container 100 included in the information based on the optical mark. The control circuit 8 collates the determined type of the sample container 100 with the table stored in the storage circuit 7, and determines the horizontal movement amount and the vertical movement amount of the sample suction position.

また、制御回路8は、試料容器100に収容される試料の残量に応じ、サンプル吸引位置を変更するか否かを判断する。制御回路8は、試料の残量が予め設定される量より少ない場合、サンプル吸引位置を変更しない。これにより、サンプル分注プローブ205aの先端が試料容器の内壁傾斜部分に接触することを回避することが可能となる。分析制御機能82において、制御回路8は、例えば、以下のように試料の残量を検出する。 Further, the control circuit 8 determines whether to change the sample suction position according to the remaining amount of the sample contained in the sample container 100. The control circuit 8 does not change the sample suction position when the remaining amount of the sample is less than the preset amount. This makes it possible to prevent the tip of the sample dispensing probe 205a from coming into contact with the inclined portion of the inner wall of the sample container. In the analysis control function 82, the control circuit 8 detects the remaining amount of the sample as follows, for example.

制御回路8は、第1液面検出器2062aから出力される第1サンプル分注プローブ205aの接触又は離間に関する検出信号と、第1サンプル分注プローブ205aを移動させるために供給した例えば駆動パルスの情報とに基づき、第1サンプル分注プローブ205aが上停止位置から試料容器100内の試料液面の検出位置までの移動した距離を算出する。制御回路8は、算出した距離、試料容器100のサイズ及び高さ、並びに分析パラメータとして設定される試料の量等の情報に基づき、試料容器100内の試料の量を、反応管2011aへ分注可能な回数に換算して検出する。 The control circuit 8 outputs a detection signal output from the first liquid level detector 2062a regarding contact or separation of the first sample dispensing probe 205a and, for example, a drive pulse supplied to move the first sample dispensing probe 205a. Based on the information, the distance that the first sample dispensing probe 205a has moved from the upper stop position to the detection position of the sample liquid level in the sample container 100 is calculated. The control circuit 8 dispenses the amount of the sample in the sample container 100 to the reaction tube 2011a based on the information such as the calculated distance, the size and height of the sample container 100, and the amount of the sample set as an analysis parameter. Convert to the number of times possible and detect.

分注モニタ機能83は、第1サンプル分注プローブ205aの状態、及び第2サンプル分注プローブ205bの状態を監視し、異常が発生したか否かを判断する機能である。例えば、分注モニタ機能83において、制御回路8は、第1液面検出器2062aから出力される、第1サンプル分注プローブ205aと試料との接触及び離間に関する検出信号と、第1圧力検出器2061aにより検出される第1サンプル分注プローブ205a内の大気圧に対する圧力の情報とに基づき、第1サンプル分注プローブ205aの状態が正常であるか否かを判定する。例えば、制御回路8は、吸引動作の際の検出値が、予め設定される吸引圧よりも低い場合、第1サンプル分注プローブ205aによる試料の吸引が異常であると判断する。また、制御回路8は、吐出動作の際の検出値が、予め設定される吐出圧よりも高い場合、第1サンプル分注プローブ205aによる試料の吐出が異常であると判断する。また、制御回路8は、洗浄動作の際の検出値が、予め設定される洗浄圧よりも高い場合、第1サンプル分注プローブ205aによる洗浄が異常であると判断する。 The dispensing monitor function 83 is a function of monitoring the state of the first sample dispensing probe 205a and the state of the second sample dispensing probe 205b, and determining whether or not an abnormality has occurred. For example, in the dispensing monitor function 83, the control circuit 8 outputs the detection signal output from the first liquid level detector 2062a regarding the contact and separation between the first sample dispensing probe 205a and the sample, and the first pressure detector. It is determined whether or not the state of the first sample dispensing probe 205a is normal based on the pressure information with respect to the atmospheric pressure inside the first sample dispensing probe 205a detected by the 2061a. For example, the control circuit 8 determines that the suction of the sample by the first sample dispensing probe 205a is abnormal when the detected value during the suction operation is lower than the preset suction pressure. Further, the control circuit 8 determines that the ejection of the sample by the first sample dispensing probe 205a is abnormal when the detection value during the ejection operation is higher than the preset ejection pressure. Further, the control circuit 8 determines that the cleaning by the first sample dispensing probe 205a is abnormal when the detected value during the cleaning operation is higher than the preset cleaning pressure.

次に、以上のように構成された自動分析装置1による分注動作を、制御回路8の処理手順に従い説明する。図9は、第1の実施形態に係る制御回路8による分注動作の例を表すフローチャートである。なお、図9では、Aライン系統に区分される検査項目に関する検査において、制御回路8が第1サンプル分注アーム204a、第1サンプル分注プローブ205a、及び第1分注ユニット206aを制御する場合を例に説明する。 Next, the dispensing operation by the automatic analyzer 1 configured as described above will be described according to the processing procedure of the control circuit 8. FIG. 9 is a flowchart showing an example of the dispensing operation by the control circuit 8 according to the first embodiment. In FIG. 9, when the control circuit 8 controls the first sample dispensing arm 204a, the first sample dispensing probe 205a, and the first dispensing unit 206a in the inspection related to the inspection items classified into the A line system. Will be described as an example.

まず、制御回路8は、現在の吸引が、分析対象となる試料についての先頭の検査項目に関するものであるか否かを判断する(ステップS91)。先頭の検査項目に関するものであるか否かの判断は、例えば、記憶回路7に記憶される、試料に対して依頼される検査項目についての管理情報に基づいて行われる。先頭の検査項目である場合(ステップS91のYes)、制御回路8は、分析対象となる試料の「詰まりフラグ」を「0」に設定する(ステップS92)。先頭の検査項目でない場合(ステップS91のNo)、又はステップS92の後、制御回路8は、「詰まりフラグ」が「0」であるか否かを判断する(ステップS93)。 First, the control circuit 8 determines whether or not the current suction is related to the leading inspection item for the sample to be analyzed (step S91). The determination as to whether or not it is related to the first inspection item is made based on, for example, the management information about the inspection item requested for the sample, which is stored in the storage circuit 7. If it is the first inspection item (Yes in step S91), the control circuit 8 sets the "clogging flag" of the sample to be analyzed to "0" (step S92). When it is not the first inspection item (No in step S91) or after step S92, the control circuit 8 determines whether or not the "clogging flag" is "0" (step S93).

ステップS93において、「詰まりフラグ」が「0」である場合(ステップS93のYes)、制御回路8は、駆動機構4を制御し、第1サンプル分注プローブ205aをサンプル吸引基準位置2341へ移動させ、試料容器100上の上停止位置で停止させる。制御回路8は、駆動機構4を制御し、第1サンプル分注プローブ205aを、上停止位置から下方向に移動させ、第1液面検出器2062aにより試料容器100内の試料との接触が検出される位置から下方に基準距離Dだけ移動した吸引停止位置で停止させる(ステップS94)。「詰まりフラグ」が「0」でない場合(ステップS93のNo)、制御回路8は、駆動機構4を制御し、第1サンプル分注プローブ205aをサンプル吸引予備位置2341aへ移動させ、試料容器100上の上停止位置で停止させる。制御回路8は、駆動機構4を制御し、第1サンプル分注プローブ205aを、上停止位置から下方向に移動させ、第1液面検出器2062aにより試料容器100内の試料との接触が検出される位置から下方に基準距離Dと所定の移動量だけ移動した吸引停止位置で停止させる(ステップS95)。 In step S93, when the “clogging flag” is “0” (Yes in step S93), the control circuit 8 controls the drive mechanism 4 to move the first sample dispensing probe 205a to the sample suction reference position 2341. , Stop at the upper stop position on the sample container 100. The control circuit 8 controls the drive mechanism 4 to move the first sample dispensing probe 205a downward from the upper stop position, and the first liquid surface detector 2062a detects contact with the sample in the sample container 100. It is stopped at the suction stop position which is moved by the reference distance D downward from the position (step S94). When the “clogging flag” is not “0” (No in step S93), the control circuit 8 controls the drive mechanism 4 to move the first sample dispensing probe 205a to the sample suction preliminary position 2341a, and the sample container 100 Stop at the upper stop position. The control circuit 8 controls the drive mechanism 4 to move the first sample dispensing probe 205a downward from the upper stop position, and the first liquid surface detector 2062a detects contact with the sample in the sample container 100. It is stopped at the suction stop position which is moved by the reference distance D and a predetermined movement amount downward from the position (step S95).

第1サンプル分注プローブ205aが吸引停止位置に到達すると、制御回路8は、駆動機構4を制御し、第1サンプル分注プローブ205aに、予め設定された検査項目の分注量に対応する量の試料を吸引させる(ステップS96)。 When the first sample dispensing probe 205a reaches the suction stop position, the control circuit 8 controls the drive mechanism 4 to cause the first sample dispensing probe 205a to have an amount corresponding to the dispensing amount of the preset inspection item. The sample is sucked (step S96).

制御回路8は、試料を吸引する際の圧力データを第1圧力検出器2061aから取得する(ステップS97)。制御回路8は、第1液面検出器2062aから出力される検出信号、第1圧力検出器2061aから出力される圧力データ、及び予め設定される吸引圧に基づき、第1サンプル分注プローブ205aによる試料の吸引が異常であるか、すなわち、第1サンプル分注プローブ205aが詰まっているか否かを判定する(ステップS98)。 The control circuit 8 acquires the pressure data at the time of sucking the sample from the first pressure detector 2061a (step S97). The control circuit 8 uses the first sample dispensing probe 205a based on the detection signal output from the first liquid level detector 2062a, the pressure data output from the first pressure detector 2061a, and the preset suction pressure. It is determined whether the suction of the sample is abnormal, that is, whether the first sample dispensing probe 205a is clogged (step S98).

第1サンプル分注プローブ205aが詰まっていない場合(ステップS98の正常)、制御回路8は、駆動機構4を制御し、第1サンプル分注プローブ205aを第1サンプル吐出位置2012aに移動させ、吸引した試料を第1サンプル吐出位置2012aで吐出させる(ステップS99)。制御回路8は、試料を吐出する際の圧力データを第1圧力検出器2061aから取得する(ステップS910)。 When the first sample dispensing probe 205a is not clogged (normal in step S98), the control circuit 8 controls the drive mechanism 4 to move the first sample dispensing probe 205a to the first sample discharging position 2012a and suck the sample. The prepared sample is ejected at the first sample ejection position 2012a (step S99). The control circuit 8 acquires the pressure data at the time of discharging the sample from the first pressure detector 2061a (step S910).

制御回路8は、第1液面検出器2062aから出力される検出信号、第1圧力検出器2061aから出力される圧力データ、及び予め設定される吐出圧に基づき、第1サンプル分注プローブ205aによる試料の吐出が異常であるか、すなわち、第1サンプル分注プローブ205aが詰まっているか否かを判定する(ステップS911)。第1サンプル分注プローブ205aが詰まっていない場合(ステップS911の正常)、制御回路8は、試料の「詰まりフラグ」を「0」に設定する(ステップS912)。 The control circuit 8 controls the first sample dispensing probe 205a based on the detection signal output from the first liquid level detector 2062a, the pressure data output from the first pressure detector 2061a, and the preset discharge pressure. It is determined whether the ejection of the sample is abnormal, that is, whether the first sample dispensing probe 205a is clogged (step S911). If the first sample dispensing probe 205a is not clogged (normal in step S911), the control circuit 8 sets the "clogging flag" of the sample to "0" (step S912).

ステップS98、又はステップS911において、第1サンプル分注プローブ205aが詰まっている場合(ステップS98の異常、又はS811の異常)、制御回路8は、「詰まりフラグ」が「1」であるか否かを判断する(ステップS913)。「詰まりフラグ」が「1」である場合(ステップS913のYes)、制御回路8は、サンプル吸引位置を変更した後も連続して詰まりが発生したとして、詰まりエラー報告を出力インタフェース回路6へ出力し(ステップS914)、この試料容器からの試料の分注を中止する。出力インタフェース回路6の表示回路62は、制御回路8から出力される詰まりエラー報告を表示する。詰まりエラー報告には、例えば、詰まりを発生させた試料IDと、第1サンプル分注プローブ205aが詰まった旨の報告とが含まれる。また、制御回路8から出力される詰まりエラー報告は、出力インタフェース回路6の印刷回路61から、予め設定されたフォーマットに従ってプリンタ用紙等に印刷されてもよい。 When the first sample dispensing probe 205a is clogged in step S98 or step S911 (abnormality in step S98 or abnormal in S811), the control circuit 8 determines whether the "clogging flag" is "1". Is determined (step S913). When the "clogging flag" is "1" (Yes in step S913), the control circuit 8 outputs the clogging error report to the output interface circuit 6 as the clogging continues even after the sample suction position is changed. Then, (step S914), the dispensing of the sample from this sample container is stopped. The display circuit 62 of the output interface circuit 6 displays the clogging error report output from the control circuit 8. The clogging error report includes, for example, the sample ID that caused the clogging and a report that the first sample dispensing probe 205a has clogged. Further, the jamming error report output from the control circuit 8 may be printed from the printing circuit 61 of the output interface circuit 6 on a printer paper or the like according to a preset format.

ステップS913において、「詰まりフラグ」が「1」でない場合(ステップS913のNo)、制御回路8は、試料の「詰まりフラグ」を「1」に設定する(ステップS915)。 When the "clogging flag" is not "1" in step S913 (No in step S913), the control circuit 8 sets the "clogging flag" of the sample to "1" (step S915).

ステップS912、又はステップS915において「詰まりフラグ」を設定すると、制御回路8は、駆動機構4を制御して第1サンプル分注プローブ205aを第1サンプルプローブ洗浄位置2069aへ移動させ、第1分注ユニット206aを制御して洗浄液を吐出させる(ステップS916)。制御回路8は、第1サンプル分注プローブ205aを洗浄する際の圧力データを第1圧力検出器2061aから取得する(ステップS917)。制御回路8は、第1圧力検出器2061aから出力される圧力データ、及び予め設定される洗浄圧に基づき、第1サンプル分注プローブ205aが詰まっているか否かを判定する(ステップS918)。 When the "clogging flag" is set in step S912 or step S915, the control circuit 8 controls the drive mechanism 4 to move the first sample dispensing probe 205a to the first sample probe cleaning position 2069a, and then the first dispensing operation. The unit 206a is controlled to discharge the cleaning liquid (step S916). The control circuit 8 acquires the pressure data for cleaning the first sample dispensing probe 205a from the first pressure detector 2061a (step S917). The control circuit 8 determines whether or not the first sample dispensing probe 205a is clogged based on the pressure data output from the first pressure detector 2061a and the preset cleaning pressure (step S918).

第1サンプル分注プローブ205aが詰まっていない場合(ステップS918の正常)、制御回路8は処理を終了させ、同一の試料における次の検査項目に関する分注動作、又は次の試料についての分注動作に移る。第1サンプル分注プローブ205aが詰まっている場合(ステップS918の異常)、制御回路8は、第1分注ユニット206aを制御し、次の分析サイクルで、第1サンプル分注プローブ205aから洗浄液を吐出させる。 If the first sample dispensing probe 205a is not clogged (normal in step S918), the control circuit 8 terminates the process and dispenses the next inspection item in the same sample or dispenses the next sample. Move on to. When the first sample dispensing probe 205a is clogged (abnormality in step S918), the control circuit 8 controls the first dispensing unit 206a to remove the cleaning liquid from the first sample dispensing probe 205a in the next analysis cycle. Discharge.

なお、図9にけるステップS95の前段において、制御回路8は、試料容器100に収容される試料の残量が、予め設定する量残っているか否かを判断するようにしてもよい。残っている場合、制御回路8は処理をステップS95へ移行し、残っていない場合、処理回路8は、サンプル吸引位置の変更ができないとして処理を終了させる。 Note that, before the step S95 in FIG. 9, the control circuit 8 may determine whether or not the remaining amount of the sample contained in the sample container 100 is a preset amount. If it remains, the control circuit 8 shifts the processing to step S95, and if it does not remain, the processing circuit 8 terminates the processing because the sample suction position cannot be changed.

以上のように、第1の実施形態では、自動分析装置1は、第1サンプル分注プローブ205a内の圧力を第1圧力検出器2061aにより検出する。自動分析装置1に設けられる制御回路8は、第1圧力検出器2061aにより検出される圧力データに基づき、吸引標準位置で吸引した試料により第1サンプル分注プローブ205aに異常が発生したか否かを判断する。そして、制御回路8は、第1サンプル分注プローブ205aに異常が発生した場合、異常を発生させた試料を、吸引標準位置とは異なる吸引変更位置から、再度吸引するようにしている。 As described above, in the first embodiment, the automatic analyzer 1 detects the pressure inside the first sample dispensing probe 205a by the first pressure detector 2061a. The control circuit 8 provided in the automatic analyzer 1 determines whether or not an abnormality has occurred in the first sample dispensing probe 205a due to the sample sucked at the suction standard position based on the pressure data detected by the first pressure detector 2061a. To judge. Then, when an abnormality occurs in the first sample dispensing probe 205a, the control circuit 8 re-sucks the sample in which the abnormality has occurred from a suction change position different from the suction standard position.

詰まりの原因となるフィブリン等の不溶物は、試料容器100の液面上部の全ての位置に存在することは少ない。第1の実施形態に係る自動分析装置1によれば、第1サンプル分注プローブ205aに異常が発生した場合、不溶物が存在しないと想定される、異なるサンプル吸引位置から試料を吸引することが可能となる。これにより、同一の試料についての分析を継続することが可能となるため、再検を実施する必要がなくなる。また、再検を実施する必要がなくなるため、異常の原因となる試料を操作者が検索する必要がなくなると共に、検索した試料の状態を操作者が確認する必要がなくなる。 Insoluble matter such as fibrin that causes clogging rarely exists at all positions above the liquid surface of the sample container 100. According to the automatic analyzer 1 according to the first embodiment, when an abnormality occurs in the first sample dispensing probe 205a, it is possible to suck the sample from different sample suction positions where it is assumed that the insoluble matter does not exist. It will be possible. This allows the analysis of the same sample to be continued, eliminating the need for retesting. Further, since it is not necessary to perform a retest, it is not necessary for the operator to search for a sample causing an abnormality, and it is not necessary for the operator to check the state of the searched sample.

したがって、第1の実施形態に係る自動分析装置1によれば、操作者の負担を軽減でき、再検に要する時間が無くなるため、測定結果を早く報告することができる。すなわち、スループットの低下を抑えることができる。 Therefore, according to the automatic analyzer 1 of the first embodiment, the burden on the operator can be reduced and the time required for re-examination can be eliminated, so that the measurement result can be reported quickly. That is, a decrease in throughput can be suppressed.

また、第1の実施形態では、制御回路8は、第1サンプル分注プローブ205aの回動軌道上の異なる位置への水平方向の移動、第1サンプル分注プローブ205aの垂直方向のより深い位置への移動、及びこれらの移動のうち少なくともいずれかにより、サンプル吸引位置を変更するようにしている。これにより、例えば、試料の種類、分注量、検査項目の種類、及び要される精度に応じ、サンプル吸引位置をどのように変更させるかを選択することが可能となる。 Further, in the first embodiment, the control circuit 8 moves the first sample dispensing probe 205a to a different position on the rotation trajectory in the horizontal direction, and moves the first sample dispensing probe 205a to a deeper position in the vertical direction. The sample suction position is changed by at least one of the above movement and the movement. This makes it possible to select how to change the sample suction position, for example, according to the type of sample, dispensed amount, type of inspection item, and required accuracy.

また、第1の実施形態では、制御回路8は、吸引変更位置で吸引した同一の試料により、第1サンプル分注プローブ205aに異常が発生した場合、この試料についてのサンプリング動作を停止するようにしている。これにより、同一の試料に対して第1サンプル分注プローブ205aの異常が繰り返し発生する場合には、再検動作を実施することが可能となる。 Further, in the first embodiment, the control circuit 8 stops the sampling operation for this sample when an abnormality occurs in the first sample dispensing probe 205a due to the same sample sucked at the suction change position. ing. Accordingly, when the abnormality of the first sample dispensing probe 205a repeatedly occurs with respect to the same sample, the retesting operation can be performed.

また、第1の実施形態では、制御回路8は、リーダ236により読み取られた情報に基づき、分析対象となる試料容器100の種類、例えば、デフォルト容器、サンプルカップ、及び採血管等を把握する。そして、制御回路8は、把握した種類を、予め記憶する対応テーブルに照合させることで、サンプル吸引位置の移動量を決定するようにしている。これにより、試料容器の形状、容器径、断面積、及び深さ等を考慮した最適な移動量を設定することが可能となる。 Further, in the first embodiment, the control circuit 8 grasps the type of the sample container 100 to be analyzed, such as the default container, the sample cup, and the blood collection tube, based on the information read by the reader 236. Then, the control circuit 8 determines the movement amount of the sample suction position by collating the grasped type with a correspondence table stored in advance. This makes it possible to set an optimum amount of movement in consideration of the shape of the sample container, the container diameter, the cross-sectional area, the depth, and the like.

また、第1の実施形態では、制御回路8は、試料容器100内の試料の残量が予め設定される量より少ない場合、サンプル吸引位置を変更しないようにしている。これにより、第1サンプル分注プローブ205aの先端が試料容器の内壁傾斜部分に接触することを回避することが可能となる。 Further, in the first embodiment, the control circuit 8 does not change the sample suction position when the remaining amount of the sample in the sample container 100 is smaller than a preset amount. This makes it possible to prevent the tip of the first sample dispensing probe 205a from coming into contact with the inclined portion of the inner wall of the sample container.

なお、第1の実施形態では、吸引変更位置で吸引した同一の試料により第1サンプル分注プローブ205aに異常が発生した場合、制御回路8は、試料のサンプリング動作を停止する場合を例に説明した。しかしながら、これに限定されない。制御回路8は、複数回、例えば、2回サンプル吸引位置を変更した後の吸引変更位置で吸引した同一の試料により第1サンプル分注プローブ205aに異常が発生した場合に、試料のサンプリング動作を停止するようにしてもよい。第1サンプル分注プローブ205aの水平方向の移動量は、試料容器100の開口から外れて設定することはできない。また、第1サンプル分注プローブ205aの垂直方向の移動量は、試料容器100の深さ以上に設定することはできない。このため、サンプル吸引位置の変更を繰り返す回数の最大回数は、例えば、試料容器100の容器径、及び深さ等と、第1サンプル分注プローブ205aの水平方向の移動量及び垂直方向の移動量と、第1サンプル分注プローブ205aの直径等とから成る関係式に基づいて予め設定される。ただし、試料の消費を抑えるため、サンプル吸引位置の変更を繰り返す回数は少なく抑えた方が望ましい。
また、第1の実施形態では、サンプル吸引位置の移動量が、試料容器毎に1種類のみ設定されている場合を例に説明した。しかしながら、これに限定されない。サンプル吸引位置を複数回変更した後の吸引変更位置で同一の試料を吸引する場合、サンプル吸引位置の移動量を、変更回数に応じて変化させるようにしても構わない。例えば、サンプル吸引位置の変更を重ねる度に、水平方向の移動量、及び垂直方向の移動量を大きくするようにしてもよい。これにより、サンプル吸引位置を変更する度に、詰まりの原因位置から遠ざかることになるため、より第1サンプル分注プローブ205aに異常が発生しにくくなる。
In the first embodiment, the case where the control circuit 8 stops the sample sampling operation when an abnormality occurs in the first sample dispensing probe 205a due to the same sample sucked at the suction change position will be described as an example. did. However, it is not limited to this. The control circuit 8 performs the sampling operation of the sample when the first sample dispensing probe 205a has an abnormality due to the same sample sucked at the suction change position after changing the sample suction position a plurality of times, for example, twice. You may make it stop. The horizontal movement amount of the first sample dispensing probe 205a cannot be set outside the opening of the sample container 100. Further, the amount of movement of the first sample dispensing probe 205a in the vertical direction cannot be set more than the depth of the sample container 100. Therefore, the maximum number of times of repeating the change of the sample suction position is, for example, the container diameter and depth of the sample container 100, the horizontal movement amount and the vertical movement amount of the first sample dispensing probe 205a. And the diameter of the first sample dispensing probe 205a, etc., are set in advance based on a relational expression. However, in order to suppress the consumption of the sample, it is desirable to keep the number of times of changing the sample suction position small.
Further, in the first embodiment, the case where only one type of movement of the sample suction position is set for each sample container has been described. However, it is not limited to this. When sucking the same sample at the suction change position after changing the sample suction position a plurality of times, the movement amount of the sample suction position may be changed according to the number of changes. For example, the amount of movement in the horizontal direction and the amount of movement in the vertical direction may be increased each time the sample suction position is changed. As a result, each time the sample suction position is changed, the sample suction position is moved away from the position causing the clogging, so that an abnormality is less likely to occur in the first sample dispensing probe 205a.

また、第1の実施形態では、第1サンプル分注プローブ205aをサンプル吸引予備位置2341aへ移動させることで、試料容器100内における第1サンプル分注プローブ205aの挿入位置を水平方向へ移動させる場合を例に説明した。しかしながら、これに限定されない。制御回路8は、駆動機構4を制御し、サンプリングレーン234のベルトコンベアを駆動させることで試料容器100内における第1サンプル分注プローブ205aの挿入位置を水平方向へ移動させるようにしても構わない。 Further, in the first embodiment, the case where the insertion position of the first sample dispensing probe 205a in the sample container 100 is moved horizontally by moving the first sample dispensing probe 205a to the sample suction preliminary position 2341a. Was described as an example. However, it is not limited to this. The control circuit 8 may control the drive mechanism 4 to drive the belt conveyor of the sampling lane 234 to move the insertion position of the first sample dispensing probe 205a in the sample container 100 in the horizontal direction. ..

また、第1の実施形態では、試料容器100の種類に応じてサンプル吸引位置の移動量を切り替える場合を例に説明した。しかしながら、これに限定されない。制御回路8は、第1圧力検出器2061aから出力される圧力データに応じてサンプル吸引位置の移動量を切り替えるようにしても構わない。この場合、記憶回路7は、例えば、圧力データと、サンプル吸引位置の移動量との関係を表すテーブルを記憶する。 Further, in the first embodiment, the case where the movement amount of the sample suction position is switched according to the type of the sample container 100 has been described as an example. However, it is not limited to this. The control circuit 8 may switch the movement amount of the sample suction position according to the pressure data output from the first pressure detector 2061a. In this case, the storage circuit 7 stores, for example, a table showing the relationship between the pressure data and the movement amount of the sample suction position.

また、第1の実施形態では、第1サンプル分注プローブ205aに異常が発生した場合、第1サンプル分注プローブ205aによる試料の吸引位置を、吸引標準位置とは異なる吸引変更位置から再度吸引する場合を例に説明した。しかしながら、これに限定されない。第1サンプル分注プローブ205aに異常が発生した場合、第2サンプル分注プローブ205bによる試料の吸引位置を、吸引標準位置とは異なる吸引変更位置から吸引するようにしてもよい。 Further, in the first embodiment, when an abnormality occurs in the first sample dispensing probe 205a, the suction position of the sample by the first sample dispensing probe 205a is sucked again from a suction change position different from the suction standard position. The case has been described as an example. However, it is not limited to this. When an abnormality occurs in the first sample dispensing probe 205a, the sample suction position of the second sample dispensing probe 205b may be sucked from a suction change position different from the suction standard position.

具体的には、例えば、第1サンプル分注プローブ205aにより試料を分注する際に、図9のステップS915において、試料の「詰まりフラグ」が「1」に設定されたとする。制御回路8は、第1サンプル分注プローブ205aにより試料を吸引した後、同じ分析サイクルで、同一の試料に対して設定されるBライン系統の検査項目に関する分注を第2サンプル分注プローブ205bにより実施する。このとき、制御回路8は、第2サンプル分注プローブ205bによる分注動作を図9に示される処理手順に従って実施する。 Specifically, for example, it is assumed that the “clogging flag” of the sample is set to “1” in step S915 of FIG. 9 when the sample is dispensed by the first sample dispensing probe 205a. After sucking the sample by the first sample dispensing probe 205a, the control circuit 8 performs the dispensing related to the inspection items of the B line system set for the same sample in the same analysis cycle as the second sample dispensing probe 205b. It is carried out by. At this time, the control circuit 8 performs the dispensing operation by the second sample dispensing probe 205b according to the processing procedure shown in FIG.

図9に示される処理手順のステップS91において、制御回路8は、現在の吸引が2番目以降の検査項目に関するものであると判断する(ステップS91のNo)。続いて、制御回路8は、ステップS93において、分析対象となる試料の「詰まりフラグ」が「0」であるか否かを判断する。このとき、試料の「詰まりフラグ」は第1サンプル分注プローブ205aによる分注の際に「1」と設定されている。制御回路8は、「詰まりフラグ」が「1」であると判断し(ステップS93のNo)、第2サンプル分注プローブ205bをサンプル吸引予備位置2341aへ移動させ、試料容器100上の上停止位置で停止させる。そして、制御回路8は、第2サンプル分注プローブ205bを、上停止位置から下方向に移動させ、第2液面検出器2062bにより試料容器100内の試料との接触が検出される位置から下方に基準距離Dと所定の移動量だけ移動した吸引停止位置で停止させる(ステップS95)。 In step S91 of the processing procedure shown in FIG. 9, the control circuit 8 determines that the current suction is related to the second and subsequent inspection items (No in step S91). Then, in step S93, the control circuit 8 determines whether or not the “clogging flag” of the sample to be analyzed is “0”. At this time, the "clogging flag" of the sample is set to "1" at the time of dispensing by the first sample dispensing probe 205a. The control circuit 8 determines that the “clogging flag” is “1” (No in step S93), moves the second sample dispensing probe 205b to the sample suction preliminary position 2341a, and moves it to the upper stop position on the sample container 100. To stop. Then, the control circuit 8 moves the second sample dispensing probe 205b downward from the upper stop position, and moves downward from the position where the second liquid level detector 2062b detects contact with the sample in the sample container 100. Then, it is stopped at the suction stop position which has moved by the reference distance D and a predetermined movement amount (step S95).

また、第1の実施形態では、吸引変更位置で吸引した同一の試料により、第1サンプル分注プローブ205aに異常が発生した場合、この試料についてのサンプリング動作を停止する場合を例に説明した。しかしながら、これに限定されない。制御回路8は、吸引変更位置で吸引した同一の試料により、第1サンプル分注プローブ205aに異常が発生し、かつ、第2サンプル分注プローブ205bに異常が発生した場合、この試料についてのサンプリング動作を停止するようにしてもよい。 Further, in the first embodiment, the case where the same sample sucked at the suction change position causes an abnormality in the first sample dispensing probe 205a and the sampling operation for this sample is stopped has been described as an example. However, it is not limited to this. When an abnormality occurs in the first sample dispensing probe 205a and an abnormality occurs in the second sample dispensing probe 205b due to the same sample sucked at the suction change position, the control circuit 8 performs sampling for this sample. The operation may be stopped.

(第2の実施形態)
第1の実施形態では、自動分析装置1が単体で動作する場合を例に説明した。しかしながら、図10で示されるように、分析機構2aと分析機構2bとが連結されても構わない。なお、図10では、自動分析装置1a,1bが連結される場合を例に記載しているが、連結される台数は2台に限定されず、4台であっても構わない。
(Second embodiment)
In the first embodiment, the case where the automatic analyzer 1 operates alone has been described. However, as shown in FIG. 10, the analysis mechanism 2a and the analysis mechanism 2b may be connected. Although FIG. 10 illustrates the case where the automatic analyzers 1a and 1b are connected as an example, the number of connected automatic analyzers is not limited to two and may be four.

自動分析装置1aは、分析機構2a、解析回路3、駆動機構4、入力インタフェース回路5、出力インタフェース回路6、記憶回路7、及び制御回路8aを備える。分析機構2aは、図2で示される分析機構2から、ラック回収ユニット240を抜いた構成を有する。制御回路8aは、記憶回路7から読み出した動作プログラムを実行することで、システム制御機能81、分析制御機能82a、及び分注モニタ機能83を備える。 The automatic analyzer 1a includes an analyzing mechanism 2a, an analyzing circuit 3, a driving mechanism 4, an input interface circuit 5, an output interface circuit 6, a memory circuit 7, and a control circuit 8a. The analysis mechanism 2a has a configuration in which the rack recovery unit 240 is removed from the analysis mechanism 2 shown in FIG. The control circuit 8a includes a system control function 81, an analysis control function 82a, and a dispensing monitor function 83 by executing the operation program read from the storage circuit 7.

自動分析装置1bは、分析機構2b、解析回路3、駆動機構4、入力インタフェース回路5、出力インタフェース回路6、記憶回路7、及び制御回路8bを備える。分析機構2bは、図2で示される分析機構2から、ラック投入ユニット220を抜いた構成を有する。制御回路8bは、記憶回路7から読み出した動作プログラムを実行することで、システム制御機能81、分析制御機能82b、及び分注モニタ機能83を備える。 The automatic analyzer 1b includes an analyzing mechanism 2b, an analyzing circuit 3, a driving mechanism 4, an input interface circuit 5, an output interface circuit 6, a storage circuit 7, and a control circuit 8b. The analysis mechanism 2b has a configuration in which the rack loading unit 220 is removed from the analysis mechanism 2 shown in FIG. The control circuit 8b has a system control function 81, an analysis control function 82b, and a dispensing monitor function 83 by executing the operation program read from the storage circuit 7.

分析制御機能82aにおいて、制御回路8aは、分析サイクルに従い、第1サンプル分注プローブ205aがAライン系統に区分される検査項目に関する分注を実施するように、第1サンプル分注アーム204a、第1サンプル分注プローブ205a、及び第1分注ユニット206aを制御する。また、制御回路8aは、分析サイクルに従い、第2サンプル分注プローブ205bがBライン系統に区分される検査項目に関する分注を実施するように、第2サンプル分注アーム204b、第2サンプル分注プローブ205b、及び第2分注ユニット206bを制御する。 In the analysis control function 82a, the control circuit 8a controls the first sample dispensing arm 204a and the first sample dispensing arm 204a so that the first sample dispensing probe 205a performs the dispensing related to the inspection item classified into the A line system in accordance with the analysis cycle. The 1-sample dispensing probe 205a and the first dispensing unit 206a are controlled. The control circuit 8a also performs the second sample dispensing arm 204b and the second sample dispensing so that the second sample dispensing probe 205b performs the dispensing related to the inspection item classified into the B line system according to the analysis cycle. The probe 205b and the second dispensing unit 206b are controlled.

具体的には、制御回路8aは、例えば、吸引標準位置、すなわち、第1サンプル分注プローブ205aによりサンプル吸引基準位置2341、かつ試料の接触が検出される位置から下方に基準距離Dだけ移動させた位置で試料を吸引する際、又はこのサンプル吸引位置で吸引した試料を吐出する際に、分注モニタ機能83により第1サンプル分注プローブ205aが異常な状態であるか否かを判定する。第1サンプル分注プローブ205aが異常な状態であると判定すると、制御回路8aは、分注サイクルに従って同一の試料を次に吸引する第2サンプル分注プローブ205bのサンプル吸引位置を、記憶回路7に記憶される移動量に関する情報を参照して変更する。また、第1サンプル分注プローブ205aが異常な状態であると判定すると、制御回路8aは、分析対象となった試料が第1サンプル分注プローブ205aに異常を生じさせた旨を、自動分析装置1bへ通知する。 Specifically, for example, the control circuit 8a moves the suction standard position, that is, the sample suction reference position 2341 by the first sample dispensing probe 205a, and the reference distance D downward from the position where the contact of the sample is detected. When the sample is sucked at the different position or when the sample sucked at the sample suction position is discharged, the dispensing monitor function 83 determines whether or not the first sample dispensing probe 205a is in an abnormal state. When the control circuit 8a determines that the first sample dispensing probe 205a is in an abnormal state, the control circuit 8a stores the sample suction position of the second sample dispensing probe 205b that subsequently aspirates the same sample according to the dispensing cycle in the storage circuit 7. It is changed by referring to the information regarding the movement amount stored in. When the control circuit 8a determines that the first sample dispensing probe 205a is in an abnormal state, the control circuit 8a indicates that the sample to be analyzed has caused an abnormality in the first sample dispensing probe 205a. Notify 1b.

また、制御回路8aは、例えば、吸引標準位置、すなわち、第2サンプル分注プローブ205bによりサンプル吸引基準位置2341、かつ試料の接触が検出される位置から下方に基準距離Dだけ移動させた位置で試料を吸引する際、又はこのサンプル吸引位置で吸引した試料を吐出する際に、分注モニタ機能83により第2サンプル分注プローブ205bが異常な状態であるか否かを判定する。第2サンプル分注プローブ205bが異常な状態であると判定すると、制御回路8aは、分析サイクルに従って同一の試料を次に吸引する第1サンプル分注プローブ205aのサンプル吸引位置を、記憶回路7に記憶される移動量に関する情報を参照して変更する。また、第2サンプル分注プローブ205bが異常な状態であると判定すると、制御回路8aは、分析対象となった試料が第2サンプル分注プローブ205bに異常を生じさせた旨を、自動分析装置1bへ通知する。 Further, the control circuit 8a is, for example, at the suction standard position, that is, at the position moved by the reference distance D downward from the sample suction reference position 2341 by the second sample dispensing probe 205b and the position where the contact of the sample is detected. When the sample is sucked or when the sample sucked at this sample suction position is discharged, the dispensing monitor function 83 determines whether or not the second sample dispensing probe 205b is in an abnormal state. When the control circuit 8a determines that the second sample dispensing probe 205b is in an abnormal state, the control circuit 8a stores the sample suction position of the first sample dispensing probe 205a that subsequently aspirates the same sample in the storage circuit 7. Change the information by referring to the stored information regarding the movement amount. When the control circuit 8a determines that the second sample dispensing probe 205b is in an abnormal state, the control circuit 8a indicates that the sample to be analyzed causes an abnormality in the second sample dispensing probe 205b. Notify 1b.

サンプル吸引位置を変更した後の制御回路8aの処理は、制御回路8の処理と同様である。 The process of the control circuit 8a after changing the sample suction position is the same as the process of the control circuit 8.

分析制御機能82bにおいて、制御回路8bは、分析サイクルに従い、第1サンプル分注プローブ205aがAライン系統に区分される検査項目に関する分注を実施するように、第1サンプル分注アーム204a、第1サンプル分注プローブ205a、及び第1分注ユニット206aを制御する。また、制御回路8bは、分析サイクルに従い、第2サンプル分注プローブ205bがBライン系統に区分される検査項目に関する分注を実施するように、第2サンプル分注アーム204b、第2サンプル分注プローブ205b、及び第2分注ユニット206bを制御する。 In the analysis control function 82b, the control circuit 8b controls the first sample dispensing arm 204a and the first sample dispensing arm 204a so that the first sample dispensing probe 205a performs the dispensing related to the inspection item classified into the A line system in accordance with the analysis cycle. The 1-sample dispensing probe 205a and the first dispensing unit 206a are controlled. Further, the control circuit 8b performs the second sample dispensing arm 204b and the second sample dispensing so that the second sample dispensing probe 205b performs the dispensing related to the inspection item classified into the B line system according to the analysis cycle. The probe 205b and the second dispensing unit 206b are controlled.

具体的には、制御回路8bは、自動分析装置1aから異常を発生させた試料についての通知を受けると、この通知に基づき、例えば、記憶回路7に記憶される管理情報を更新する。管理情報には、試料のステータスが含まれており、この更新により、試料のステータスは、例えば、「詰まりフラグ=0」から「詰まりフラグ=1」へ変更される。 Specifically, when the control circuit 8b receives a notification from the automatic analyzer 1a regarding a sample in which an abnormality has occurred, the control circuit 8b updates the management information stored in the storage circuit 7, for example, based on this notification. The management information includes the status of the sample, and this update changes the status of the sample from, for example, “clogging flag=0” to “clogging flag=1”.

制御回路8bは、例えば、第1サンプル分注プローブ205a、又は第2サンプル分注プローブ205bにより吸引標準位置で試料を吸引する際に、記憶回路7に記憶されている管理情報を参照し、分析対象となる試料が第1サンプル分注プローブ205a、又は第2サンプル分注プローブ205bに異常を生じさせた試料であるか否かを判断する。異常を生じさせた試料である場合、制御回路8bは、第1サンプル分注プローブ205a、又は第2サンプル分注プローブ205bにより、この試料を吸引変更位置で吸引する。 The control circuit 8b refers to the management information stored in the storage circuit 7 when the sample is sucked at the suction standard position by the first sample dispensing probe 205a or the second sample dispensing probe 205b, and the analysis is performed. It is determined whether the target sample is a sample in which the first sample dispensing probe 205a or the second sample dispensing probe 205b has an abnormality. When the sample has an abnormality, the control circuit 8b sucks the sample at the suction change position by the first sample dispensing probe 205a or the second sample dispensing probe 205b.

サンプル吸引位置を変更した後の制御回路8bの処理は、制御回路8の処理と同様である。 The process of the control circuit 8b after changing the sample suction position is the same as the process of the control circuit 8.

分析対象となる試料が第1サンプル分注プローブ205a、又は第2サンプル分注プローブ205bに異常を生じさせた試料でない場合、制御回路8bは、制御回路8aと同様の処理を実施する。 When the sample to be analyzed is not the sample in which the first sample dispensing probe 205a or the second sample dispensing probe 205b has an abnormality, the control circuit 8b performs the same process as the control circuit 8a.

なお、分注動作における制御回路8a,8bの処理手順は、図9に示されるものと同様である。 The processing procedure of the control circuits 8a and 8b in the dispensing operation is the same as that shown in FIG.

以上のように、第2の実施形態では、自動分析装置1aにおいて第1サンプル分注プローブ205a、又は第2サンプル分注プローブ205bに異常を発生させた試料についての情報を、自動分析装置1bへ出力する。自動分析装置1bに設けられる制御回路8bは、分析対象となる試料を最初に吸引する場合であっても、この試料が自動分析装置1aにおいてプローブの異常を発生させた試料である場合には、この試料を、吸引変更位置で吸引するようにしている。これにより、自動分析装置1bは、最初に試料を吸引する際、不溶物が存在しないと想定されるサンプル吸引位置から試料を吸引することが可能となる。 As described above, in the second embodiment, information about the sample in which the first sample dispensing probe 205a or the second sample dispensing probe 205b has an abnormality in the automatic analyzer 1a is sent to the automatic analyzer 1b. Output. Even when the sample to be analyzed is first sucked, the control circuit 8b provided in the automatic analyzer 1b, when this sample is the sample in which the probe abnormality has occurred in the automatic analyzer 1a, This sample is sucked at the suction change position. This allows the automatic analyzer 1b to suck the sample from the sample suction position where the insoluble matter is assumed not to exist when the sample is first sucked.

したがって、第2の実施形態に係る自動分析装置1a,1bによれば、操作者の負担を軽減でき、再検に要する時間が無くなるため、測定結果を早く報告することができる。すなわち、スループットの低下を抑えることができる。 Therefore, according to the automatic analyzers 1a and 1b according to the second embodiment, the burden on the operator can be reduced and the time required for re-examination can be eliminated, so that the measurement result can be reported quickly. That is, a decrease in throughput can be suppressed.

(その他の実施形態)
第1及び第2の実施形態では、自動分析装置1,1a,1bが図1に示される構成を有する場合を例に説明した。しかしながら、これに限定されない。自動分析装置1,1a,1bは、例えば、図11に示される自動分析装置1cのような構成を有していてもよい。このとき、自動分析装置1cは、情報処理装置9と接続し、測光ユニット217により生成された標準データ及び被検データを、情報処理装置9へ出力する。情報処理装置9は、解析機能912を有する制御回路91を備え、標準データ及び被検データに基づき、検量データ及び分析データ等を生成する。
(Other embodiments)
In the first and second embodiments, the case where the automatic analyzers 1, 1a, 1b have the configuration shown in FIG. 1 has been described as an example. However, it is not limited to this. The automatic analyzers 1, 1a, 1b may have a configuration like the automatic analyzer 1c shown in FIG. 11, for example. At this time, the automatic analyzer 1c is connected to the information processing device 9 and outputs the standard data and the test data generated by the photometric unit 217 to the information processing device 9. The information processing device 9 includes a control circuit 91 having an analysis function 912, and generates calibration data, analysis data, etc. based on standard data and test data.

また、第1及び第2の実施形態では、自動分析装置1,1a,1bが2本のサンプル分注プローブを備える場合を例に説明した。しかしながら、これに限定されない。自動分析装置が有するサンプル分注プローブは1本であっても構わない。 Further, in the first and second embodiments, the case where the automatic analyzers 1, 1a, 1b include two sample dispensing probes has been described as an example. However, it is not limited to this. The automatic analyzer may have only one sample dispensing probe.

上記説明において用いた「プロセッサ」という文言は、例えば、CPU(central processing unit)、GPU(Graphics Processing Unit)、或いは、特定用途向け集積回路(Application Specific Integrated Circuit:ASIC))、プログラマブル論理デバイス(例えば、単純プログラマブル論理デバイス(Simple Programmable Logic Device:SPLD)、複合プログラマブル論理デバイス(Complex Programmable Logic Device:CPLD)、及びフィールドプログラマブルゲートアレイ(Field Programmable Gate Array:FPGA))等の回路を意味する。プロセッサは記憶回路に保存されたプログラムを読み出し実行することで機能を実現する。なお、本実施形態の各プロセッサは、プロセッサごとに単一の回路として構成される場合に限らず、複数の独立した回路を組み合わせて1つのプロセッサとして構成し、その機能を実現するようにしてもよい。さらに、図1における複数の構成要素を1つのプロセッサへ統合してその機能を実現するようにしてもよい。 The word "processor" used in the above description is, for example, a CPU (central processing unit), a GPU (Graphics Processing Unit), or an application specific integrated circuit (ASIC), a programmable logic device (for example, , Simple Programmable Logic Device (SPLD), Complex Programmable Logic Device (CPLD), and Field Programmable Gate Array (FPGA). The processor realizes the function by reading and executing the program stored in the memory circuit. It should be noted that each processor of the present embodiment is not limited to the case where each processor is configured as a single circuit, and a plurality of independent circuits may be combined and configured as one processor to realize its function. Good. Further, the plurality of constituent elements in FIG. 1 may be integrated into one processor to realize its function.

本発明のいくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。これら実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれると同様に、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれるものである。 Although some embodiments of the present invention have been described, these embodiments are presented as examples and are not intended to limit the scope of the invention. These embodiments can be implemented in various other forms, and various omissions, replacements, and changes can be made without departing from the spirit of the invention. The embodiments and their modifications are included in the scope of the invention and the scope thereof, and are included in the invention described in the claims and the scope of equivalents thereof.

1,1a,1b,1c…自動分析装置、2,2a,2b…分析機構、3…解析回路、4…駆動機構、5,5c…入力インタフェース回路、6,6c…出力インタフェース回路、61,61c…印刷回路、62,62c…表示回路、7…記憶回路、8,8a,8b,8c…制御回路、81…システム制御機能、82,82a,82b…分析制御機能、83…分注モニタ機能、9…情報処理装置、91…制御回路、911…システム制御機能、912…解析機能、100…試料容器、102…サンプルラック、201…反応ディスク、2011a,2011b…反応管、2012a…第1サンプル吐出位置、2012b…第2サンプル吐出位置、2013a,2013b…第1試薬吐出位置、2014a,2014b…第2試薬吐出位置、2015a,2015b,2016a,2016b…撹拌位置、202…第1試薬庫、2021…外円、2022…内円、203…第2試薬庫、2031…外円、2032…内円、204a…第1サンプル分注アーム、204b…第2サンプル分注アーム、205a…第1サンプル分注プローブ、205b…第2サンプル分注プローブ、206a…第1分注ユニット、206b…第2分注ユニット、2061a…第1圧力検出器、2061b…第2圧力検出器、20611…圧力センサ、20612…アンプ、20613…変換器、2062a…第1液面検出器、2062b…第2液面検出器、2063…チューブ、2064…シリンジ、2065…プランジャ、2066…タンク、2067…洗浄ポンプ、2068…開閉弁、2069a…第1サンプルプローブ洗浄位置、2069b…第2サンプルプローブ洗浄位置、207…第1A試薬分注アーム、208…第1A試薬分注プローブ、209…第2A試薬分注アーム、210…第2A試薬分注プローブ、211…第1B試薬分注アーム、212…第1B試薬分注プローブ、213…第2B試薬分注アーム、214…第2B試薬分注プローブ、215…第1撹拌ユニット、216…第2撹拌ユニット、217…測光ユニット、218…洗浄ユニット、219…電解質測定ユニット、220…ラック投入ユニット、221…第1投入レーン、222…第2投入レーン、230…ラック移動ユニット、231…搬送アーム、232…搬送レール、233…仮置きレーン、234…サンプリングレーン、2341…サンプル吸引基準位置、2341a…サンプル吸引予備位置、235…再検査バッファレーン、236…リーダ、240…ラック回収ユニット、241…第1回収レーン、242…第2回収レーン。 1, 1a, 1b, 1c... Automatic analyzer, 2, 2a, 2b... Analysis mechanism, 3... Analysis circuit, 4... Driving mechanism, 5, 5c... Input interface circuit, 6, 6c... Output interface circuit, 61, 61c ... Print circuit, 62, 62c... Display circuit, 7... Storage circuit, 8, 8a, 8b, 8c... Control circuit, 81... System control function, 82, 82a, 82b... Analysis control function, 83... Dispensing monitor function, 9... Information processing device, 91... Control circuit, 911... System control function, 912... Analysis function, 100... Sample container, 102... Sample rack, 201... Reaction disk, 2011a, 2011b... Reaction tube, 2012a... First sample discharge Position, 2012b... 2nd sample discharge position, 2013a, 2013b... 1st reagent discharge position, 2014a, 2014b... 2nd reagent discharge position, 2015a, 2015b, 2016a, 2016b... Stirring position, 202... 1st reagent storage, 2021... Outer circle, 2022... Inner circle, 203... Second reagent storage, 2031... Outer circle, 2032... Inner circle, 204a... First sample dispensing arm, 204b... Second sample dispensing arm, 205a... First sample dispensing Probe, 205b... Second sample dispensing probe, 206a... First dispensing unit, 206b... Second dispensing unit, 2061a... First pressure detector, 2061b... Second pressure detector, 20611... Pressure sensor, 20612... Amplifier, 20613... Converter, 2062a... First liquid level detector, 2062b... Second liquid level detector, 2063... Tube, 2064... Syringe, 2065... Plunger, 2066... Tank, 2067... Wash pump, 2068... Open/close valve , 2069a... First sample probe washing position, 2069b... Second sample probe washing position, 207... 1A reagent dispensing arm, 208... 1A reagent dispensing probe, 209... 2A reagent dispensing arm, 210... 2A Reagent dispensing probe, 211... 1B reagent dispensing arm, 212... 1B reagent dispensing probe, 213... 2B reagent dispensing arm, 214... 2B reagent dispensing probe, 215... First stirring unit, 216... Second agitating unit, 217... Photometric unit, 218... Washing unit, 219... Electrolyte measuring unit, 220... Rack loading unit, 221... First loading lane, 222... Second loading lane, 230... Rack moving unit, 231... Conveying Arm, 232... Transport rail, 233... Temporary placement lane, 234... Sampling lane, 2341... Sample suction reference position, 23 41a... Sample suction preliminary position, 235... Re-inspection buffer lane, 236... Reader, 240... Rack recovery unit, 241... First recovery lane, 242... Second recovery lane.

Claims (11)

試料容器に収容される試料を、前記試料容器内における吸引標準位置で吸引する分注プローブと、
前記分注プローブの圧力を検出する圧力検出器と、
前記圧力検出器により検出される圧力に異常がある場合、前記試料容器から前記試料を吸引する位置を、前記吸引標準位置から、前記試料容器内における吸引変更位置に変更する分注制御部と
を具備し、
前記分注制御部は、前記吸引標準位置から前記吸引変更位置への移動量を、前記試料容器の種類に応じて切り替える自動分析装置。
A sample stored in a sample container, a dispensing probe for sucking at a suction standard position in the sample container,
A pressure detector for detecting the pressure of the dispensing probe,
When there is an abnormality in the pressure detected by the pressure detector, a position for sucking the sample from the sample container is changed from the standard suction position to a suction change position in the sample container, and a dispensing control unit. Be equipped with
The said dispensing control part is an automatic analyzer which switches the movement amount from the said suction standard position to the said suction change position according to the kind of the said sample container .
前記分注制御部は、前記分注プローブの回動軌道上の水平方向の移動、前記分注プローブの垂直方向の移動、及びこれらの移動のうち少なくともいずれかにより、前記吸引標準位置を前記吸引変更位置へ変更する請求項1記載の自動分析装置。 The dispensing control unit suctions the suction standard position by at least one of a horizontal movement of the dispensing probe on a rotation path, a vertical movement of the dispensing probe, and a movement thereof. The automatic analyzer according to claim 1, which is changed to a change position. 前記分注プローブは、前記試料容器に収容される前記試料を、前記吸引変更位置で吸引し、
前記圧力検出器は、前記吸引変更位置で前記試料を吸引した前記分注プローブの圧力を検出し、
前記分注制御部は、前記圧力検出器により検出される圧力に異常がある場合、前記試料についてのサンプリング動作を停止する請求項1又は2に記載の自動分析装置。
The dispensing probe sucks the sample contained in the sample container at the suction change position,
The pressure detector detects the pressure of the dispensing probe that has sucked the sample at the suction change position,
The automatic analyzer according to claim 1 or 2, wherein the dispensing control unit stops the sampling operation for the sample when the pressure detected by the pressure detector is abnormal.
前記圧力検出器は、前記分注プローブにより試料を吸引する際、及び前記吸引した試料を吐出する際に前記分注プローブの圧力を検出する請求項1乃至3のいずれかに記載の自動分析装置。 The automatic analyzer according to claim 1, wherein the pressure detector detects the pressure of the dispensing probe when the sample is sucked by the dispensing probe and when the sucked sample is discharged. .. 前記分注制御部は、前記試料の残量が予め設定される量よりも少ない場合、前記吸引標準位置から前記吸引変更位置への変更を行わない請求項1乃至のいずれかに記載の自動分析装置。 The dispensing control unit, is less than the amount remaining of the sample is set in advance, automatically according to any one of the suction standard position of claims 1 to 4 does not change to the suction change position Analysis equipment. 試料容器に収容される試料を、前記試料容器内における吸引標準位置で吸引する分注プローブと、
前記分注プローブの圧力を検出する圧力検出器と、
前記圧力検出器により検出される圧力に異常がある場合、前記試料容器から前記試料を吸引する位置を、前記吸引標準位置から、前記試料容器内における吸引変更位置に変更する分注制御部と、
前記試料容器に収容される試料を吸引する第2分注プローブ
を具備し、
前記分注制御部は、前記圧力検出器により検出される圧力に異常がある場合、前記第2分注プローブが前記試料容器から前記試料を吸引する位置を前記吸引変更位置に変更する自動分析装置。
A sample stored in a sample container, a dispensing probe for sucking at a suction standard position in the sample container,
A pressure detector for detecting the pressure of the dispensing probe,
When there is an abnormality in the pressure detected by the pressure detector, a position for sucking the sample from the sample container, from the standard suction position, a dispensing control unit for changing to a suction change position in the sample container,
A second dispensing probe for sucking the sample contained in the sample container ;
Was immediately Bei,
The dispensing control unit, if there is an abnormality in the pressure detected by the pressure detector, automatic said second dispensing probe to change the position for sucking the sample from the sample container to the aspirating change position Analysis equipment.
前記第2分注プローブは、前記試料容器に収容される前記試料を、前記吸引変更位置で吸引し、
前記第2分注プローブの圧力を検出する第2圧力検出器をさらに具備し、
前記分注制御部は、前記第2圧力検出器により検出される圧力に異常がある場合、前記試料についてのサンプリング動作を停止する請求項記載の自動分析装置。
The second dispensing probe sucks the sample contained in the sample container at the suction change position,
Further comprising a second pressure detector for detecting the pressure of the second dispensing probe,
7. The automatic analyzer according to claim 6 , wherein the dispensing control unit stops the sampling operation for the sample when the pressure detected by the second pressure detector is abnormal.
前記分注制御部は、前記試料容器に収容される前記試料を前記吸引標準位置で吸引したことで、前記圧力検出器により検出される圧力に異常が発生する場合、前記試料により異常が発生した旨を、連結する他の自動分析装置へ通知する請求項1乃至のいずれかに記載の自動分析装置。 The dispensing control unit sucks the sample stored in the sample container at the suction standard position, and when the pressure detected by the pressure detector causes an abnormality, the abnormality occurs due to the sample. The automatic analyzer according to any one of claims 1 to 7 , which notifies the effect to another connected automatic analyzer. 前記分注制御部は、連結する他の自動分析装置から、前記試料により異常が発生した旨の通知を受けた場合、前記分注プローブによる前記試料の吸引を、前記吸引標準位置から前記吸引変更位置に変更する請求項1乃至のいずれかに記載の自動分析装置。 The dispensing control unit changes the suction of the sample by the dispensing probe from the suction standard position to the suction when receiving a notification from the other automatic analyzer to be connected that an abnormality has occurred in the sample. automatic analyzer according to any one of claims 1 to 7 to change the position. 試料容器に収容される試料を、前記試料容器内における吸引標準位置で吸引する分注プローブと、 A sample stored in a sample container, a dispensing probe for sucking at a suction standard position in the sample container,
前記分注プローブの圧力を検出する圧力検出器と、 A pressure detector for detecting the pressure of the dispensing probe,
前記圧力検出器により検出される圧力に異常がある場合、前記試料容器から前記試料を吸引する位置を、前記吸引標準位置から、前記試料容器内における吸引変更位置に変更する分注制御部と When there is an abnormality in the pressure detected by the pressure detector, a position for sucking the sample from the sample container is changed from the standard suction position to a suction change position in the sample container, and a dispensing control unit.
を具備し、Equipped with,
前記分注制御部は、前記試料容器に収容される前記試料を前記吸引標準位置で吸引したことで、前記圧力検出器により検出される圧力に異常が発生する場合、前記試料により異常が発生した旨を、連結する他の自動分析装置へ通知する自動分析装置。 The dispensing control unit sucks the sample stored in the sample container at the suction standard position, and when an abnormality occurs in the pressure detected by the pressure detector, the abnormality is caused by the sample. An automatic analyzer that informs other connected automatic analyzers.
試料容器に収容される試料を、前記試料容器内における吸引標準位置で吸引する分注プローブと、 A sample stored in a sample container, a dispensing probe for sucking at a suction standard position in the sample container,
前記分注プローブの圧力を検出する圧力検出器と、 A pressure detector for detecting the pressure of the dispensing probe,
前記圧力検出器により検出される圧力に異常がある場合、前記試料容器から前記試料を吸引する位置を、前記吸引標準位置から、前記試料容器内における吸引変更位置に変更する分注制御部と When there is an abnormality in the pressure detected by the pressure detector, a position for sucking the sample from the sample container is changed from the standard suction position to a suction change position in the sample container, and a dispensing control unit.
を具備し、Equipped with,
前記分注制御部は、連結する他の自動分析装置から、前記試料により異常が発生した旨の通知を受けた場合、前記分注プローブによる前記試料の吸引を、前記吸引標準位置から前記吸引変更位置に変更する自動分析装置。 The dispensing control unit changes the suction of the sample by the dispensing probe from the suction standard position to the suction when the abnormality is caused by the sample from another automatic analyzer to be connected. An automatic analyzer that changes the position.
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EP4303590A1 (en) * 2021-03-04 2024-01-10 Hitachi High-Tech Corporation Automated analysis device, and sample dispensing method

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CA3009281C (en) * 2011-09-09 2021-10-19 Gen-Probe Incorporated Automated sample handling instrumentation, systems, processes, and methods
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