JP6710574B2 - ショート検出回路 - Google Patents

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Description

本発明は、電子機器のコネクタのシェルと端子間のショートを検出するショート検出回路に関する。
近年、急速に普及したスマートフォン等の携帯電話機(電子機器)では、操作性の向上のためにキャップなしとした充電用コネクタが増加しているが、このキャップレスコネクタではコネクタ内部に異物が入りやすくなる。導電性の異物の場合、異物によって電源端子と導電性のコネクタシェルとの間がショートする。このショート状態で電子機器への充電等で電源端子に電圧が印加されると、電源端子からコネクタシェルを経由して電子機器の基板に過大な電流が流れ、コネクタの焼損やユーザの火傷に繋がる発熱を招く恐れがある。
この対策として、導電性のコネクタシェルを基板のGNDに直接接地させないことで、電源端子と導電性コネクタシェルがショートしても、基板へ電流が流れることを防ぐことが考えられている(例えば、下記非特許文献1参照。)。
また、ショート検出対象の自動車のボディと電源線の間、ショート検出対象とGND線の間のそれぞれに分圧抵抗R1、R2を接続し、ショート検出対象の電位と基準値を比較し、電源線またはGND線と接触を判定する技術が提案されている(例えば、下記特許文献1参照。)。また、金属外表面に充電端子が露出した携帯用照明機器において、短絡保護回路を充電端子に接続し、充電端子間の短絡により一方の充電端子とバッテリ間を切断する技術が提案されている(例えば、下記特許文献2参照。)。
特開2001−103652号公報 特表2008−523780号公報
平成28年4月20日検索、URL:http://www.mcpc−jp.org/press/pdf/TR−021_141008.pdf、「USB充電インタフェース安全設計ガイドラインVersion 1.00」、p10、"Appendix B.充電端子間ハーフショートエラーと対策例、B.2 被充電機器での対策例"
しかし、従来の技術では、ショート検出対象(コネクタシェルやボディ等)と電源端子(電源線およびGND)のショート検出しかできず、ショート検出対象と電圧が印加された電源線およびGND線間での抵抗性ショートを検出することができない。
例えば、非特許文献1の技術では、導電性異物がコネクタシェルと、コネクタのGND端子間に入り込んだ場合、充電や給電により電圧印加された電源端子からコネクタシェルを経由してGNDへ電流が流れ続けることを防ぐことができない。
また、特許文献1の技術では、分圧抵抗を用いてショートを検出するため、ショート検出対象と電源線の間と、ショート検出対象とGND線の間でR1,R2と同じ抵抗値比率の抵抗性ショートが発生した場合、ショート検出対象の電位は接触前後で同じとなり、ショートの有無を判定することができない。例えば、ショート検出対象(例えばコネクタシェル)を介して電源端子とGND端子とがショートしたときの検出が行えない。R1=R2のときに、ショート検出対象、電源線、GND線が電解質溶液(海水等)に濡れ、ショート検出対象と電源線間の抵抗性ショートによる抵抗値r1と、ショート検出対象とGND線間の抵抗性ショートによる抵抗値r2が同じ場合、判定が行えない。
さらに、特許文献1では、ショート検出対象に常時プルアップ電圧が印加されるため、ショート検出対象が電解質溶液に触れた場合、腐食する可能性がある。さらに、ショートなしの状態でも電源線からGND線へ分圧抵抗を経由して常時電流が流れて電力消費するため、省電力が要求される携帯端末等の電子機器への適用は不向きである。
また、特許文献2の技術では、2端子間のショート検出しか行えず、コネクタシェルと電源線およびGND線のショートを検出することができない。
一つの側面では、本発明は、ショート検出対象と端子との間で生じる各種ショート状態を簡単に検出できることを目的とする。
一つの案では、ショート検出回路は、電子機器に設けられ、導電性のコネクタシェルと、電源端子と、GND端子と、を有する外部端子コネクタのショート状態を検出するショート検出回路において、前記コネクタシェルに導通するコネクタシェル線が接続され、前記コネクタシェルと、前記電源端子あるいは前記GND端子間のショートを検出するショート検出素子と、所定電圧の電源の供給の有無の制御に基づき、前記コネクタシェル線の電位を変化させる抵抗分圧回路と、を有し、前記ショート検出素子は、前記コネクタシェル線のシェル電位を0Vとした状態で前記電源端子と前記コネクタシェル間のショートを検出し、前記コネクタシェル線の電位を所定電位とした状態で前記GND端子と前記コネクタシェル間のショートを検出することを要件とする。
一つの実施形態によれば、ショート検出対象と端子との間で生じる各種ショート状態を簡単に検出できるという効果を奏する。
図1は、実施の形態1の電子機器のハードウェア構成例を示す図である。 図2は、実施の形態1のショート検出回路の構成例を示す回路図である。 図3は、実施の形態のショート検出回路の各種ショート検出状態を説明する動作図である。(その1) 図4は、実施の形態のショート検出回路の各種ショート検出状態を説明する動作図である。(その2) 図5は、実施の形態のショート検出回路の各種ショート検出状態を説明する動作図である。(その3) 図6は、実施の形態1のショート検出回路の電源制御およびショート検出判定を説明するタイミングチャートである。 図7は、実施の形態1のショート検出回路の電源制御およびショート検出判定を説明するフローチャートである。 図8は、実施の形態2のショート検出回路の構成例を示す回路図である。 図9は、実施の形態3のショート検出回路の構成例を示す回路図である。 図10は、実施の形態4のショート検出回路の構成例を示す回路図である。 図11は、実施の形態5のショート検出回路の構成例を示す回路図である。(その1) 図12は、実施の形態5のショート検出回路の構成例を示す回路図である。(その2)
(実施の形態1)
図1は、実施の形態1の電子機器のハードウェア構成例を示す図である。図1では、主にショート検出にかかる構成を記載してあり、電子機器100がスマートフォン等の携帯電話機の場合には、ほかに、無線通信部やタッチパネル等が設けられる。
この電子機器100は、筐体の外面に外部端子コネクタ110を有し、この外部端子コネクタ110に充電アダプタ120が挿抜可能である。外部端子コネクタ110についてもショート検出にかかる電源関連のみを図示しており、電子機器100が外部機器とデータ通信を行うための信号端子等を備えてもよい。
外部端子コネクタ110は、例えばキャップレスのコネクタ(レセプタクル)であり、開口部の全周にショート検出対象としてのコネクタシェル111が設けられている。コネクタシェル111は、例えば、電子機器100のGNDに接続されている。
コネクタシェル111の内部には、ターミナル基板112が設けられ、ターミナル基板112上には、電源端子113aとGND端子113bが膜状に形成されている。充電アダプタ120には、コネクタシェル111への装着時に、電源端子113aに導通する電源端子と、GND端子113bに導通するGND端子とが設けられている。
電子機器100内部には、外部端子コネクタ110の電源端子113aに、給電IC101と、充電IC102とがそれぞれ接続されている。給電IC101は、電子機器100を電力供給源として外部コネクタ110に接続された外部機器(USBマウス等)に電力を供給するときに動作する。充電IC102は、充電アダプタ120が外部コネクタ110に装着され、充電アダプタから電子機器100へ電力を供給するときに動作する。
ショート検出回路104は、外部端子コネクタ110のコネクタシェル111に接続され、コネクタシェル111に対する電源端子113aおよびGND端子113b間で生じる以下の各種ショート状態(ショートモード)に対応した検出信号を制御部105に出力する。ショート検出回路104は、制御部105の制御に基づき動作する。
[1]ショート検出対象(コネクタシェル111)と電圧印加された電源端子113a間ショート
[2]ショート検出対象(コネクタシェル111)とGND端子113b間ショート
[3]上記[1]ショート検出対象(コネクタシェル111)と電源端子113a間の抵抗性ショート、かつ上記[2]ショート検出対象(コネクタシェル111)とGND端子113b間の抵抗性ショート
ショート検出回路104の内部構成(抵抗Rの接続構成等)は後述する。
制御部105は、給電IC101および充電IC102に対し、給電時および充電時の制御を行う。また、制御部105は、ショート検出回路104における上記各種ショート状態[1]〜[3]を検出するために、ショート検出回路104に対する電源供給を制御し、また、ショート検出回路104が出力する検出信号の取り込みを制御する。また、制御部105は、ショート検出時に、ユーザに対しショート状態であることを通知(報知)する制御を行う。
制御部105は、CPU等のプロセッサを用いて構成できる。CPUが不図示のメモリ、例えば、ROMに格納されたプログラムを実行し、RAMを作業領域に用いることで、制御部105の制御機能を実現することができる。
図2は、実施の形態1のショート検出回路の構成例を示す回路図である。図2のショート検出回路104は、複数の抵抗201、ダイオード202、ショート検出素子としてのFET(Field Effect Transistor)203、を含む。
ショート検出対象であるコネクタシェル111は、コネクタシェル線205の一端に接続されている。コネクタシェル線205の他端は一対の抵抗R1(201a),R2(201a)の分圧回路の中点Oを介してFET203のゲートに接続されている。抵抗R1(201b)には電源Bに接続されている。
抵抗R1(201a)は、SBD(Schottky Barrier Diode)からなるダイオードD1(202)を介して中点Oに接続される。抵抗R2(201c)の一端は中点Oに接続され、他端は接地されている。D1(202)は、アノードが抵抗R1(201b)に接続され、カソードが中点Oに接続される。
FET203のドレインは抵抗R3(201c)を介して電源Aに接続されるとともに、検出信号線206により検出信号Aとして制御部(CPU)105に入力される。FET203のソースは接地されている。
電源Bは、制御部(CPU)105の制御により選択的にON/OFFが切り替えられる。電源Aは常時通電(ON)された状態であり、電源Bは、上述した[2]「コネクタシェルとGNDのショート」のショート検出のために一時的に通電(ON)制御される。
抵抗R3(201c)とFET203は、ショート検出部210として機能する。ショート検出部210は、上述した[1]「コネクタシェルと電源端子のショート」と、[2]「コネクタシェルとGND端子のショート」と、[3]「コネクタシェルと電源端子の抵抗性ショート、かつコネクタシェルとGND端子の抵抗性ショート」の状態を検出する。
抵抗R1(201a)、ダイオードD1(202)は、GNDショート検出部220として機能する。GNDショート検出部220は、電源BのON時に作動し、上述した[2]「コネクタシェルとGND端子のショート」を検出する。
図2の各部の数値を例示すると、抵抗R1(201a)は27kΩ、抵抗R2(201b)は82kΩ、抵抗R3(201c)は10kΩである。FET203特性は、Vg電圧が1.2V以上でドレイン−ソース間が導通し(ON)、Vg電圧が0.3V以下でドレイン−ソース間が非導通(OFF)となる。制御部(CPU)105は、検出信号Aの電圧が1.2V以上でH(High)を検出し、0.6V以下でL(Low)を検出する。
(各種ショート状態の検出動作)
図3〜図5は、それぞれ実施の形態1のショート検出回路の各種ショート検出状態を説明する動作図である。はじめに、図3を用いて上記[1]「コネクタシェルと電源端子のショート」状態の検出例を説明する。図3の状態(通常状態)において、CPU105は電源AをONさせてショート検出部210のみを動作させ、電源BはOFFにしてGNDショート検出部220を動作させない(非動作状態)。
外部端子コネクタ110に導電性異物Nが入り込む等により、コネクタシェル111と、所定電圧(5V)の電圧が印加された電源端子113aとの間に(1)ショートが発生したとする。この場合、コネクタシェル111は、(2)0V→5Vに変化する。これにより、コネクタシェル線205のシェル電位は、(3)0V→5Vに変化する。
そして、FET203がOFF→ONに変化し、FET203の出力である検出信号線206の電圧は、(4)1.8V→0Vに変化する。これにより、CPU105への検出信号Aの入力レベルは、(5)H→Lに変化する。
CPU105は、電源Aのみ供給(ショート検出部210のみ動作)させた通常状態において、検出信号Aの(5)H→Lの変化(割り込み)に基づき、[1]「コネクタシェルと電源端子のショート」状態の発生を検出する。
つぎに、図4を用いて上記[2]「コネクタシェルとGNDのショート」状態の検出例を説明する。CPU105は、図3に示したように電源AのみをON(ショート検出部210のみを動作)させた状態の後、図4に示すように短い所定期間だけ電源BをONにする。すなわち、図4の状態では、CPU105は電源AをONさせてショート検出部210を動作させるとともに、所定期間だけ電源BをONにしてGNDショート検出部220も動作させる。
GNDショート検出部220が動作しているため、コネクタシェル線205の電圧は、電源Bの電圧1.8Vに対して、抵抗R1とR2による分圧とダイオードD1の順方向電圧による電圧降下により、約1.3Vである。
図4の状態で、外部端子コネクタ110に導電性異物Nが入り込む等により、コネクタシェル111と、GND端子113bとの間に(1)ショートが発生したとする。この場合、コネクタシェル111は、(2)約1.3V→0Vに変化する。これにより、コネクタシェル線205は、(3)約1.3V→0Vに変化する。
そして、FET203がON→OFFに変化し、FET203の出力である検出信号線206の電圧は、(4)0V→1.8Vに変化する。これにより、CPU105への検出信号Aの入力レベルは、(5)L→Hに変化する。
CPU105は、電源A,Bを供給(ショート検出部210およびGNDショート検出部220をいずれも動作)させた状態において、検出信号Aの(5)L→Hの変化(割り込み)に基づき、[2]「コネクタシェルとGNDのショート」状態の発生を検出する。
つぎに、図5を用いて上記[3]「コネクタシェルと電源端子の抵抗性ショート、かつコネクタシェルとGND端子の抵抗性ショート」状態の検出例を説明する。CPU105は、図4に示したように電源A,BをON(ショート検出部210およびGNDショート検出部220をいずれも動作)させた状態の後、図5に示すように、CPU105は電源AのみをONさせてショート検出部210のみを動作させる。すなわち、電源BをOFFにしてGNDショート検出部220を非動作状態にする。
図5の状態で、外部端子コネクタ110に導電性異物Nが入り込む等により、コネクタシェル111と、電源端子113aおよびGND端子113bとの間に抵抗性ショートが発生したとする。
この抵抗性ショートとは、ショート検出回路104(GNDショート検出部220)の抵抗R1,R2と同じ抵抗値比率のショートが外部端子コネクタ110内で生じる状態をいう。すなわち、導電性異物Nが海水等の電解質溶液の場合、(1)コネクタシェル111と電源端子113aとの間が抵抗値r1(27kΩ)を有してショートし、また(1)コネクタシェル111とGND端子113bとの間が抵抗値r2(82kΩ)を有してショートする。この抵抗性ショートでは、R1:R2=r1:r2となる。この場合、コネクタシェル111は、(2)0V→約3.8Vに変化する。これにより、コネクタシェル線205は、(3)0V→約3.8Vに変化する。
そして、FET203がOFF→ONに変化し、FET203の出力である検出信号線206の電圧は、(4)1.8V→0Vに変化する。これにより、CPU105への検出信号Aの入力レベルは、(5)H→Lに変化する。
CPU105は、電源Aのみを供給(ショート検出部210のみ動作)させた状態において、検出信号Aの(5)H→Lの変化(割り込み)に基づき、[3]「コネクタシェルと電源端子の抵抗性ショート、かつコネクタシェルとGND端子の抵抗性ショート」状態の発生を検出する。
なお、検出信号Aの(5)H→Lの変化は、[1]「コネクタシェルと電源端子のショート」と、[3]「コネクタシェルと電源端子の抵抗性ショート、かつコネクタシェルとGND端子の抵抗性ショート」とで同様に発生する。したがって、CPU105は、電源AのみをON(ショート検出部210を動作)の状態で検出信号Aの(5)H→Lに変化することで、上記[1]または[3]のショート発生であると判定する。そして、CPU105は、[1]「コネクタシェルと電源端子のショート」あるいは、[3]「コネクタシェルと電源端子の抵抗性ショート、かつコネクタシェルとGND端子の抵抗性ショート」の発生の旨を通知する。
図6は、実施の形態1のショート検出回路の電源制御およびショート検出判定を説明するタイミングチャートである。CPU105は、図6に示すように、電子機器100の動作中は、電源Aを継続的にON状態にし、ショート検出部210を動作継続させる。そして、CPU105は、タイマ計時による所定の周期T内において所定期間TB(例えば1秒)のみ電源BについてもON状態にし、GNDショート検出部220を一時的に動作させる。
CPU105は、期間TAにおいて、電源AのみONにして上記[1]「コネクタシェルと電源端子のショート」あるいは、[3]「コネクタシェルと電源端子の抵抗性ショート、かつコネクタシェルとGND端子の抵抗性ショート」の発生を検出する。また、期間TBにおいて、電源A,BをONにして[2]「コネクタシェルとGNDのショート」の発生を検出する。
そして、CPU105は、期間TAにおいては、入力される検出信号AがHであればショート発生なしと判定する。すなわち、上記[1]「コネクタシェルと電源端子のショート」および、[3]「コネクタシェルと電源端子の抵抗性ショート、かつコネクタシェルとGND端子の抵抗性ショート」のいずれも発生していないと判定する。
また、CPU105は、期間TBにおいては、入力される検出信号AがLであればショート発生なしと判定する。すなわち、上記[2]「コネクタシェルとGNDのショート」が発生していないと判定する。
一方、CPU105は、期間TAにおいて、入力される検出信号AがLであればショート発生と判定する。すなわち、上記[1]「コネクタシェルと電源端子のショート」、あるいは、[3]「コネクタシェルと電源端子の抵抗性ショート、かつコネクタシェルとGND端子の抵抗性ショート」のいずれかが発生したと判定する。
また、CPU105は、期間TBにおいて、入力される検出信号AがHであればショート発生と判定する。すなわち、上記[2]「コネクタシェルとGNDのショート」が発生したと判定する。
図7は、実施の形態1のショート検出回路の電源制御およびショート検出判定を説明するフローチャートである。制御部であるCPU105の処理内容を説明する。図7の処理は、CPU105のクロックに基づく所定間隔で継続的に行う。
はじめに、CPU105は、上記した各種ショート状態[1]〜[3]のうち、ショート状態(ショートモード)[1]および[3]を監視するか判定する(ステップS701)。例えば、CPU105は、現在のタイミングが図6に示す期間TAであれば、ショートモード[1]および[3]を監視し(ステップS701:Yes)、ステップS702に移行する。一方、期間TBのタイミングであれば、CPU105は、ステップS707に移行する。
ステップS702では、CPU105は、ショートモード[1][3]の監視を開始し、CPU割り込み設定(検出信号A)をL(Low)レベル、電源BをOFF(電源AはON継続)とする(ステップS702)。そして、期間TA内でCPU割り込み(検出信号AがLを検出)があるか判定する(ステップS703)。
ステップS703において、CPU割り込みがあれば(ステップS703:Yes)、CPU105は、[1]または[3]のショート発生と判定する(ステップS704)。そして、CPU105は、ユーザへの注意喚起を促す処理を行い(ステップS705)、以上の処理を終了する。
ショート発生時には、例えば、CPU105は、電子機器100への充電や給電を停止する制御を行い、また、表示部にショート発生の通知の表示や音声出力を行って、ユーザにショート状態が発生しているという注意喚起を行う。充電アダプタ120の抜去を促す画面表示を行ってもよい。さらに、この通知には、[1]「コネクタシェルと電源端子のショート」あるいは、[3]「コネクタシェルと電源端子の抵抗性ショート、かつコネクタシェルとGND端子の抵抗性ショート」の状態が発生していることを含めてもよい。
一方、ステップS703において、CPU割り込みがなければ(ステップS703:No)、CPU105は、[1]または[3]のショート発生なしと判定し(ステップS706)、ステップS707に移行する。
ステップS707では、CPU105は、ショートモード[2]の監視を開始するか判断する(ステップS707)。現在のタイミングが図6に示す期間TBであれば、ショートモード[2]の監視の開始と判定し(ステップS707:Yes)、ステップS708に移行する。一方、期間TBのタイミングでなければ(ステップS707:No)、以上の処理を終了する。
ステップS708では、CPU105は、ショートモード[2]の監視を開始し、CPU割り込み設定(検出信号A)をH(High)レベル、電源BをON(電源AはON継続)とする(ステップS708)。そして、期間TB内でCPU割り込み(検出信号AのHを検出)があるか判定する(ステップS709)。
ステップS709において、CPU割り込みがあれば(ステップS709:Yes)、CPU105は、[2]のショート発生と判定する(ステップS710)。そして、CPU105は、ユーザへの注意喚起を促す処理を行い(ステップS711)、以上の処理を終了する。
ショート発生時には、例えば、CPU105は、電子機器100への充電や給電を停止する制御を行い、また、表示部にショート発生の通知の表示や音声出力を行って、ユーザにショート状態が発生しているという注意喚起を行う。充電アダプタ120の抜去を促す画面表示を行ってもよい。この通知には、[2]「コネクタシェルとGND端子のショート」の状態が発生していることを含めてもよい。
一方、ステップS709において、CPU割り込みがなければ(ステップS709:No)、CPU105は、[2]のショート発生なしと判定し(ステップS712)、以上の処理を終了する。
以上説明した実施の形態1では、コネクタの金属等導電性のコネクタシェルと電源端子間、およびコネクタシェルとGND端子間での電位をそれぞれ測定する。コネクタシェルの電位測定のために、コネクタシェルの電位を0Vとして電源端子とコネクタシェル間のショートを検出する。この後、コネクタシェルの電位を電源電圧側に切り替えて、GND端子とコネクタシェル間のショートを検出する。これによりコネクタシェルと電源端子およびGND端子間のショート状態を正確に検出できる。
また、CPUの制御により検出時の高電位時間を短くすることにより、金属シェルの腐食を防止できる。例えば、電子機器が水没し、コネクタシェルと電源端子とGND端子がいずれもローインピーダンス状態になっても、各ショート状態を正しく判定できるようになる。
さらに、CPUの制御により、個別の電位変化が検出された場合に電子機器のユーザに通知、または電源供給を停止することで、コネクタの焼損等を事前に防止できる。そして、各種ショート状態を電気的に検出することができ、ショート検出時には充電や給電の停止、ユーザへの注意喚起など、電流が流れ続けることを防止する対策を迅速に実施できるようになる。
また、コネクタシェルと電圧が印加された電源端子間のショートを検出する際、コネクタシェルへ電圧を印加することなく、かつ、電流を流す必要がない。また、コネクタシェルとGND端子間のショートを検出する際、検出する任意のタイミングで間欠的に短時間のみコネクタシェルにプルアップ電圧を印加するだけでよく、コネクタの腐食を防ぎかつショート検出のために流す電流も少なくできる。
さらに、ショート検出用に個別半導体(FET、ダイオード)を用いることにより、より安価にショート検出が可能である。
(実施の形態2)
図8は、実施の形態2のショート検出回路の構成例を示す回路図である。図2と同一の構成部には同一の符号を付してある。実施の形態1で説明したショート検出部210に用いたFET203に代えて図8に示すように、一つまたは複数のコンパレータ(比較器)を用いる構成としてもよい。コンパレータを一つ設けた構成では、実施の形態1同様に一つの閾値電圧に基づくショート検出を行える。
図8の構成例では、コネクタシェル線205の他端をコンパレータ(比較器)803,804に接続してショート検出を複数段階の電圧で検出する。そして、電源Cからの電圧を分圧する抵抗R11(801a),R12(801b)の中点をコンパレータ803の一方の入力端子に接続する。また、電源Cからの電圧を分圧する抵抗R13(802a),R14(802b)の中点をコンパレータ804の一方の入力端子に接続する。電源Cは、電源Aと同様に電子機器100の起動中は継続してON状態とする。
例えば、コンパレータ803は、V+=1.0Vとなるように抵抗R11(801a),R12(801b)の抵抗値(および電源Cの電圧値)を設定する。これにより、V+(1.0V)≧Vのとき、コンパレータ803の出力(検出信号A)がHとなり、V+(1.0V)<Vのとき、検出信号AがLとなる。
また、コンパレータ804は、V+=0.4Vとなるように抵抗R13(802a),R14(802b)の抵抗値(および電源Cの電圧値)を設定する。これにより、V+(0.4V)≧Vのとき、コンパレータ804の出力(検出信号B)がHとなり、V+(0.4V)<Vのとき、検出信号BがLとなる。
このように、コンパレータを複数設けることで、検出したい電圧閾値の数を増やすことができ、発生したショート状態に対応して多段階の電圧でショート検出できるようになる。
また、図8において、ショート検出回路104には、点線で示すように、外部端子コネクタ110の電源端子113aに接続される電源線810にプルダウンの抵抗811を追加して設けてもよい。なお、抵抗811は、ショート検出部210がFETの構成(図2参照)に対しても同様に設けることができる。例えば、抵抗811の抵抗値は4.5kΩとする。これにより、電源端子113aに電圧印加がない状態においても、電源BをONにしたときに上述した[2]「コネクタシェルとGNDのショート」と同様の動作により、コネクタシェル111と電源端子113a間のショート検出を行える。
実施の形態2によれば、実施の形態1と同様の効果を得ることができる。また、コンパレータを複数設けて各種ショート状態を多段階で(の電圧を閾値として)ショート検出できるようになる。また、電源端子に電圧が印加されていなくても、コネクタシェルと電源端子間のショート検出が行える。
(実施の形態3)
図9は、実施の形態3のショート検出回路の構成例を示す回路図である。実施の形態1で説明したショート検出部210に用いたFET203に代えて図9に示すように、AD変換器(ADC)901を用いる構成としてもよい。CPU105は、ADC901のデジタル出力(検出信号A)に基づき、所定の閾値を用いてショート状態を検出する。実施の形態3によれば、ADC901は、CPU105が有する機能を用いることもでき、ショート検出回路104の回路構成をより簡単にできる。
(実施の形態4)
図10は、実施の形態4のショート検出回路の構成例を示す回路図である。実施の形態4は、電子機器100の外部端子コネクタ110に装着するほかの充電アダプタ120に対応してショート検出する構成例である。充電アダプタ120としては外部端子コネクタ110へ装着した際に、コネクタシェル111と接触する充電アダプタ120側の部分が充電アダプタ120内部で充電アダプタ120側のGND端子と接続されているものがある。このような充電アダプタ120が外部端子コネクタ110に装着されたとき、コネクタシェル111は充電アダプタ120を介してGND端子113bに接続することになる。
このような充電アダプタ120では、ショート検出回路104は、上記ショートモード[1][3]のみを検出することとなる。この場合、ショート検出回路104は、上述したGNDショート検出部220の構成が不要であり、削除することができる。実施の形態4によれば、充電アダプタ120のコネクタシェル111と接触する部分が充電アダプタ120内部で充電アダプタ120側のGND端子と接続されている充電アダプタ120が、電子機器100の外部端子コネクタ110に装着されたときにおける[1]「コネクタシェルと電源端子のショート」と、[3]「コネクタシェルと電源端子の抵抗性ショート、かつコネクタシェルとGND端子の抵抗性ショート」の状態を検出することができる。
(実施の形態5)
図11および図12は、実施の形態5のショート検出回路の構成例を示す回路図である。実施の形態5では、実施の形態1の構成に加えて、ショート検出対象に定格(例えば5V)以上の電圧印加時にショート検出回路104を保護する機能を付加したものである。
図11に示すように、コネクタシェル線205上には、コネクタシェル111と中点Oとの間に電圧制限回路1101を設ける。電圧制限回路1101は、抵抗R2(202b)と抵抗R4(1101a)と、スイッチ(SW)1101bとを含む。抵抗R4(1101a)の抵抗値は、例えば220kΩ(24V対応時)とする。スイッチ1101bは、CPU105の制御によりA,Bいずれかの位置に切り替えられる。スイッチ1101bがA側に切り替えられたときには、コネクタシェル線205上に抵抗R4(1101a)が直列に接続され、B側に切り替えられたときには、コネクタシェル線205上から抵抗R4(1101a)を外すことができる。
実施の形態5においても、実施の形態1同様に、FET203特性は、Vg電圧が1.2V以上でドレイン−ソース間が導通し(ON)、Vg電圧が0.3V以下でドレイン−ソース間が非導通(OFF)となる。制御部(CPU)105は、検出信号Aの電圧が1.2V以上でH(High)を検出し、0.6V以下でL(Low)と検出する。
そして、図11に示すように、外部端子コネクタ110に導電性異物Nが入り込む等により、コネクタシェル111と、電源端子113aとの間がショートしたとする。そして、例えば、外部端子コネクタ110に規定外の電源電圧(24V)の充電アダプタ120が接続され、電源端子113aに定格以上の電圧(例えば24V)が印加されたとする、この場合、コネクタシェル111を介してコネクタシェル線205には規定以上の電圧(24V)が印加される。
CPU105は、実施の形態1の制御と同じように、電源Bを制御して各ショートモード[1][3]、または[2]のショート状態を検出する。この際、CPU105は、ショートモード[2]検出時にはSW1101bをB側に接続する。これにより、[2]「コネクタシェルとGNDのショート」状態の検出時には、コネクタシェル線205上から抵抗R4(1101a)を外し、抵抗R4(1101a)による電圧変動の影響をなくしてショート状態を検出できる。
また、ショートモード[1][3]検出時には、CPU105は、SW1101bをA側に接続する。これにより、検出対象であるコネクタシェル111への印加電圧がFET203のゲートの絶対最大定格を超えた場合でも、コネクタシェル線205上に設けた抵抗R4(1101a)と抵抗R2(202b)で分圧されることにより、FET203のゲートに対する過大な電圧の印加を防ぐことができる。
また、図12に示すように、電圧制限回路1101は、スイッチ1101bに代えてSBD等のダイオードD2(1202)を設けてもよい。ダイオードD2(1202)は、アノードが中点O側に接続され、カソードがコネクタシェル111側に接続され、コネクタシェル線205上でダイオードD2(1202)と抵抗R4(1101a)は並列接続される。
図12の構成の場合、CPU105によるスイッチ制御が不要である。また、D2(1202)は、電源BのON時(すなわちショートモード[2]検出時)において、コネクタシェル111とGND端子113bとがショートしているとき、電源Bの電流をGND端子113bに流し、FET203での誤検出を防止する。
実施の形態5によれば、実施の形態1同様の効果を有する。また、ショート検出対象に定格以上の電圧が印加されてもショート検出回路を保護することができるようになる。
以上説明した実施の形態によれば、[1]「コネクタシェルと電源端子のショート」と、[2]「コネクタシェルとGNDのショート」と、[3]「コネクタシェルと電源端子の抵抗性ショート、かつコネクタシェルとGND端子の抵抗性ショート」を検出できる。そして、[2]のショートの検出時だけ電源BをONすることで、コネクタシェルに電圧が印加される時間を短くでき、コネクタの腐食を抑制できる。この[2]のショートの検出時だけ電源BをONすることで、分圧抵抗経由で電源からGNDに電流が流れる時間が短くなり、時間平均の電流を少なくでき、電子機器の消費電流を抑制できる。
また、ショート検出用にFETを使用することにより、検出用の電流が少なく、安価かつ低消費電力でショート発生を検出できる。さらに、各種ショート検出時に、充電や給電の停止やユーザへの注意喚起が行える。これにより、コネクタシェルを介した電源端子とGND端子のショートによる大電流が流れることを未然に防ぐ対策を実施でき、ショート発生時の安全性を向上できる。
なお、本実施の形態で説明したショート検出にかかる制御方法は、予め用意された制御プログラムを対象機器(電子機器)等のコンピュータ(CPU等のプロセッサ)で実行することにより実現することができる。本制御プログラムは、磁気ディスク、光ディスク、USB(Universal Serial Bus)フラッシュメモリなどのコンピュータで読み取り可能な記録媒体に記録され、コンピュータによって記録媒体から読み出されることによって実行される。また、制御プログラムは、インターネット等のネットワークを介して配布してもよい。
上述した実施の形態に関し、さらに以下の付記を開示する。
(付記1)電子機器に設けられ、導電性のコネクタシェルと、電源端子と、GND端子と、を有する外部端子コネクタのショート状態を検出するショート検出回路において、
前記コネクタシェルに導通するコネクタシェル線が接続され、前記コネクタシェルと、前記電源端子あるいは前記GND端子間のショートを検出するショート検出素子と、
所定電圧の電源の供給の有無の制御に基づき、前記コネクタシェル線の電位を変化させる抵抗分圧回路と、を有し、
前記ショート検出素子は、前記コネクタシェル線のシェル電位を0Vとした状態で前記電源端子と前記コネクタシェル間のショートを検出し、前記コネクタシェル線の電位を所定電位とした状態で前記GND端子と前記コネクタシェル間のショートを検出することを特徴とするショート検出回路。
(付記2)さらに、前記ショート検出素子が出力する検出信号が入力される制御部を有し、
前記制御部は、
前記電源の供給を停止し前記コネクタシェル線のシェル電位を0Vとした状態で、前記検出信号に基づき前記電源端子と前記コネクタシェル間のショートを検出し、前記電源の供給を行い前記コネクタシェル線の電位を所定電位とした状態で前記検出信号に基づき前記GND端子と前記コネクタシェル間のショートを検出する制御を行うことを特徴とする付記1に記載のショート検出回路。
(付記3)前記制御部は、前記電源の供給を停止し前記コネクタシェル線のシェル電位を0Vとした状態で、前記検出信号がLowレベルの場合、前記電源端子と前記コネクタシェル間がショートしたと判定し、前記電源の供給を行い前記コネクタシェル線の電位を所定電位とした状態で前記検出信号がHighレベルの場合、前記電源端子と前記コネクタシェル間がショートしたと判定することを特徴とする付記2に記載のショート検出回路。
(付記4)前記ショート検出素子は、FETであることを特徴とする付記1〜3のいずれか一つに記載のショート検出回路。
(付記5)前記ショート検出素子は、コンパレータであることを特徴とする付記1〜3のいずれか一つに記載のショート検出回路。
(付記6)前記ショート検出素子は、ADCであることを特徴とする付記1〜3のいずれか一つに記載のショート検出回路。
(付記7)前記ショート検出素子の前段の前記コネクタシェル線に過電圧入力を阻止する電圧制限回路を設けたことを特徴とする付記1〜6のいずれか一つに記載のショート検出回路。
(付記8)前記電圧制限回路は、抵抗とスイッチを有し、
前記制御部は、前記電源端子と前記コネクタシェル間のショートを検出する際には、前記スイッチを切り替えて、前記抵抗により過電圧を防ぎ、前記GND端子と前記コネクタシェル間のショートを検出する際には、前記スイッチを切り替えて、前記抵抗を介さずにショート検出することを特徴とする付記7に記載のショート検出回路。
(付記9)前記電圧制限回路は、前記コネクタシェル線上で並列接続された抵抗とダイオードを有することを特徴とする付記7に記載のショート検出回路。
(付記10)前記所定電圧の電源の供給を一定周期内で短期の所定期間だけ供給し、当該供給時に前記コネクタシェル線の電位を所定電位とした状態で前記GND端子と前記コネクタシェル間のショートを検出することを特徴とする付記1〜9のいずれか一つに記載のショート検出回路。
(付記11)前記制御部は、前記ショート検出時に、前記外部端子コネクタを介して行っている給電または充電を停止させることを特徴とする付記2〜10のいずれか一つに記載のショート検出回路。
(付記12)前記制御部は、前記ショート検出時に、ショートを検出した旨を前記電子機器の表示部に表示させることを特徴とする付記2〜11のいずれか一つに記載のショート検出回路。
100 電子機器
104 ショート検出回路
105 制御部(CPU)
110 外部端子コネクタ
111 コネクタシェル
112 ターミナル基板
113a 電源端子
113b GND端子
120 充電アダプタ
201a〜201c 抵抗
202 ダイオード
203 FET
205 コネクタシェル線
206 検出信号線
210 ショート検出部
220 GNDショート検出部
801a,801b,802a,802b,811 抵抗
803,804 コンパレータ
810 電源線
1101 電圧制限回路
1101a 抵抗
1101b スイッチ
1202 ダイオード
N 導電性異物

Claims (12)

  1. 電子機器に設けられ、導電性のコネクタシェルと、電源端子と、GND端子と、を有する外部端子コネクタのショート状態を検出するショート検出回路において、
    前記コネクタシェルに導通するコネクタシェル線が接続され、前記コネクタシェルと、前記電源端子あるいは前記GND端子間のショートを検出するショート検出素子と、
    所定電圧の電源の供給の有無の制御に基づき、前記コネクタシェル線の電位を変化させる抵抗分圧回路と、を有し、
    前記ショート検出素子は、前記コネクタシェル線のシェル電位を0Vとした状態で前記電源端子と前記コネクタシェル間のショートを検出し、前記コネクタシェル線の電位を所定電位とした状態で前記GND端子と前記コネクタシェル間のショートを検出することを特徴とするショート検出回路。
  2. さらに、前記ショート検出素子が出力する検出信号が入力される制御部を有し、
    前記制御部は、
    前記電源の供給を停止し前記コネクタシェル線のシェル電位を0Vとした状態で、前記検出信号に基づき前記電源端子と前記コネクタシェル間のショートを検出し、前記電源の供給を行い前記コネクタシェル線の電位を所定電位とした状態で前記検出信号に基づき前記GND端子と前記コネクタシェル間のショートを検出する制御を行うことを特徴とする請求項1に記載のショート検出回路。
  3. 前記制御部は、前記電源の供給を停止し前記コネクタシェル線のシェル電位を0Vとした状態で、前記検出信号がLowレベルの場合、前記電源端子と前記コネクタシェル間がショートした、または前記電源端子と前記コネクタシェル間が抵抗性ショートし、かつ前記GND端子と前記コネクタシェル間が抵抗性ショートしたと判定し、前記電源の供給を行い前記コネクタシェル線の電位を所定電位とした状態で前記検出信号がHighレベルの場合、前記GND端子と前記コネクタシェル間がショートしたと判定することを特徴とする請求項2に記載のショート検出回路。
  4. 前記ショート検出素子の前段の前記コネクタシェル線に過電圧入力を阻止する電圧制限
    回路を設けたことを特徴とする請求項2又は3に記載のショート検出回路。
  5. 前記電圧制限回路は、抵抗とスイッチを有し、
    前記制御部は、前記電源端子と前記コネクタシェル間のショートを検出する際には、前記スイッチを切り替えて、前記抵抗により過電圧を防ぎ、前記GND端子と前記コネクタシェル間のショートを検出する際には、前記スイッチを切り替えて、前記抵抗を介さずにショート検出することを特徴とする請求項に記載のショート検出回路。
  6. 前記電圧制限回路は、前記コネクタシェル線上で並列接続された抵抗とダイオードを有することを特徴とする請求項に記載のショート検出回路。
  7. 前記制御部は、前記ショート検出時に、前記外部端子コネクタを介して行っている給電または充電を停止させることを特徴とする請求項2〜6のいずれか一つに記載のショート検出回路。
  8. 前記ショート検出素子は、FETであることを特徴とする請求項1〜7のいずれか一つに記載のショート検出回路。
  9. 前記ショート検出素子は、コンパレータであることを特徴とする請求項1〜7のいずれか一つに記載のショート検出回路。
  10. 前記ショート検出素子は、ADCであることを特徴とする請求項1〜7のいずれか一つに記載のショート検出回路。
  11. 前記所定電圧の電源の供給を一定周期内で短期の所定期間だけ供給し、当該供給時に前記コネクタシェル線の電位を所定電位とした状態で前記GND端子と前記コネクタシェル間のショートを検出することを特徴とする請求項1〜10のいずれか一つに記載のショート検出回路。
  12. 電子機器に設けられ、導電性の第1端子と、第2端子と、第3端子と、を有する外部端子コネクタのショート状態を検出するショート検出回路において、
    前記第1端子に導通する信号線が接続され、前記第1端子と、前記第2端子あるいは前記第3端子間のショートを検出するショート検出素子と、
    所定電圧の電源の供給の有無の制御に基づき、前記信号線の電位を変化させる抵抗分圧回路と、を有し、
    前記ショート検出素子は、前記信号線の電位を0Vとした状態で前記第2端子と前記第1端子間のショートを検出し、前記信号線の電位を所定電位とした状態で前記第3端子と前記第1端子間のショートを検出することを特徴とするショート検出回路。
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