JP6678612B2 - X-ray inspection equipment - Google Patents

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Description

本発明は、肉、魚、加工食品、医薬品等の被検査物に対してX線発生器で発生したX線を照射し、被検査物を透過したX線をX線検出器により検出することで、被検査物の異物の有無や欠陥等について検査するX線検査装置に関するものである。   The present invention is directed to irradiating an X-ray generated by an X-ray generator to an inspection object such as meat, fish, processed food, and a pharmaceutical, and detecting the X-ray transmitted through the inspection object by an X-ray detector. The present invention relates to an X-ray inspection apparatus for inspecting the inspection object for the presence or absence of a foreign substance, a defect, and the like.

例えば食品などの被検査物への異物の混入の有無を検出するために、従来からX線検査装置が用いられている。X線検査装置は、搬送される被検査物にX線を照射し、被検査物を透過したX線の透過量に応じて得られるX線画像から被検査物中の異物の有無や欠陥等について検査している。   2. Description of the Related Art X-ray inspection apparatuses have conventionally been used to detect the presence or absence of foreign matter mixed into an inspection object such as food. The X-ray inspection apparatus irradiates the inspected object with X-rays, and detects the presence or absence of a foreign substance, a defect, etc. in the inspected object from an X-ray image obtained according to an amount of X-ray transmitted through the inspected object. Has been inspected.

従来のこの種のX線検査装置にあっては、特許文献1に記載されたものが知られている。特許文献1に記載のものは、コンベア上の搬送路を幅方向に跨ぐようにX線発生器およびX線検出器を対向して配置し、X線発生器からコンベア上の被検査物に対してX線を横向きに照射している。   As this type of conventional X-ray inspection apparatus, the one described in Patent Document 1 is known. In the apparatus described in Patent Document 1, an X-ray generator and an X-ray detector are arranged to face each other so as to straddle a conveying path on a conveyor in a width direction. X-rays are radiated sideways.

特開2001−272357号公報JP 2001-272357A

ここで、特許文献1に記載されているような横照射型のX線検査装置として、コンベアを自機に備えず、生産設備のコンベアに組み込んで用いられる組み込み型のX線検査装置があり、この組み込み型のX線検査装置が用いられることが多くなっている。   Here, as a lateral irradiation type X-ray inspection apparatus as described in Patent Document 1, there is a built-in type X-ray inspection apparatus that is not provided with a conveyor but is used by being incorporated into a conveyor of a production facility, This built-in type X-ray inspection apparatus is often used.

組み込み型のX線検査装置は、生産設備への設置時に設置作業者によってコンベアに対してX線発生器およびX線検出器が最適位置に調整された上で、製品検査時に検査作業者によって用いられる。X線発生器およびX線検出器の最適位置とは、コンベア上の被検査物にX線を照射して得られるX線画像にコンベアが映り込まず、かつ、被検査物の全体が映るような位置である。X線発生器およびX線検出器を最適位置に配置することで、X線画像にコンベアが映り込まなくなり、誤検出等により検査精度が低下してしまうことが防止される。   The built-in X-ray inspection device is used by inspection workers during product inspection after the X-ray generator and X-ray detector have been adjusted to the optimum position with respect to the conveyor by the installation worker when installed in production equipment. Can be The optimum positions of the X-ray generator and the X-ray detector are such that the X-ray image obtained by irradiating the inspection object on the conveyor with X-rays does not show the conveyor and also shows the entire inspection object. Position. By arranging the X-ray generator and the X-ray detector at the optimum positions, the conveyor does not appear in the X-ray image and the inspection accuracy is prevented from being reduced due to erroneous detection or the like.

しかしながら、従来のX線検査装置にあっては、X線発生器およびX線検出器を最適位置に配置するためには、X線検出器の各検出素子から得た画素単位で高精度に位置調整を行う必要があり、最適位置に完全に調整したり常に最適位置を保つようにすることは容易ではないため、誤検出要因を完全に排除できず、検査精度を低下させてしまうおそれがあった。   However, in the conventional X-ray inspection apparatus, in order to arrange the X-ray generator and the X-ray detector at the optimum positions, the position is determined with high accuracy in pixel units obtained from each detection element of the X-ray detector. It is necessary to make adjustments, and it is not easy to completely adjust to the optimum position or to always maintain the optimum position.Therefore, it is not possible to completely eliminate the cause of erroneous detection, and there is a possibility that the inspection accuracy may be reduced. Was.

したがって、X線発生器およびX線検出器が最適位置から外れている場合であっても、X線画像にコンベアが映り込むことに起因して検査精度が低下しないようにすることが求められていた。   Therefore, even when the X-ray generator and the X-ray detector deviate from the optimum positions, it is required to prevent the inspection accuracy from being deteriorated due to the conveyor being reflected in the X-ray image. Was.

そこで、本発明は、前述のような従来の問題を解決するためになされたもので、X線画像にコンベアが映り込むことに起因して検査精度が低下することを防止できるX線検査装置を提供することを目的とする。   Accordingly, the present invention has been made to solve the above-described conventional problems, and an X-ray inspection apparatus capable of preventing a decrease in inspection accuracy due to a conveyor being reflected in an X-ray image. The purpose is to provide.

本発明に係るX線検査装置は、X線を発生するX線発生器と、X線を検出するX線検出器と、を備え、被検査物が水平方向に通過する搬送路を形成するコンベアを挟んで、前記X線検出器が前記コンベアの搬送面からの高さ方向を検出するように、前記X線発生器と前記X線検出器とが配置されたX線検査装置であって、前記X線検出器が検出したX線に基づくX線画像に画像処理を実施する画像処理部と、前記X線画像における前記被検査物の所定の特定部位を検出する特定部位検出部とを備え、前記特定部位検出部が検出した前記特定部位から前記高さ方向への所定の長さまでの領域を、検査対象である検査領域とし、該検査領域内で前記画像処理部が画像処理を実施して前記被検査物を検査することを特徴とする。
An X-ray inspection apparatus according to the present invention includes an X-ray generator that generates X-rays, and an X-ray detector that detects X-rays, and a conveyor that forms a transport path through which a test object passes in a horizontal direction. An X-ray inspection apparatus in which the X-ray generator and the X-ray detector are arranged so that the X-ray detector detects the height direction from the conveyor surface of the conveyor, An image processing unit that performs image processing on an X-ray image based on the X-rays detected by the X-ray detector, and a specific part detection unit that detects a predetermined specific part of the inspection object in the X-ray image the region from the specific portion of the specific portion detecting section detects to a predetermined length of the height direction, the inspection area is inspected, the image processing unit in the examination zone is conducted image processing And inspecting the inspection object.

この構成により、X線画像において被検査物のみが映っておりコンベアが映り込んでない領域を検査領域に自動的に設定でき、検査領域のみを対象に検査を行うことができる。このため、X線画像にコンベアが映り込むことによる誤検出を防止できる。この結果、X線画像にコンベアが映り込むことに起因して検査精度が低下することを防止できる。   With this configuration, it is possible to automatically set a region where only the inspection object is reflected in the X-ray image and the conveyor is not reflected as the inspection region, and the inspection can be performed only on the inspection region. For this reason, erroneous detection due to the conveyor being reflected in the X-ray image can be prevented. As a result, it is possible to prevent the inspection accuracy from being lowered due to the conveyor being reflected in the X-ray image.

本発明に係るX線検査装置において、前記特定部位検出部は、前記X線画像における前記被検査物の上端面を前記特定部位として検出し、前記特定部位検出部が検出した前記特定部位から下方への所定の長さまでの領域を前記検査領域として検査を行うことを特徴とする。   In the X-ray inspection apparatus according to the present invention, the specific part detection unit detects an upper end surface of the inspection object in the X-ray image as the specific part, and the lower part from the specific part detected by the specific part detection unit. The inspection is performed by using an area up to a predetermined length as the inspection area.

この構成により、被検査物Wの上端面を特定部位とすることで、設定値として長さの値を1つだけ設定すればよいため、設定値の設定操作を簡略化でき、設定操作の誤りを防止できる。   With this configuration, by setting the upper end surface of the inspection object W as a specific portion, only one length value needs to be set as the set value, so that the set value setting operation can be simplified, and the setting operation error Can be prevented.

本発明に係るX線検査装置において、前記特定部位検出部は、前記X線画像における前記被検査物の上端面よりも下方の部位を前記特定部位として検出し、前記特定部位検出部が検出した前記特定部位から下方への第1の所定の長さと上方への第2の所定の長さまでの領域を、前記検査領域として検査を行うことを特徴とする。   In the X-ray inspection apparatus according to the present invention, the specific part detection unit detects a part lower than an upper end surface of the inspection object in the X-ray image as the specific part, and the specific part detection unit detects the part. An inspection is performed on a region from a specific portion to a first predetermined length downward and a second predetermined length upward, as the inspection region.

このX線検査装置においては、X線発生器とコンベアとX線検出器との相対位置に起因し、コンベアの搬送面から離れた位置ほど、X線が被検査物を通過する傾斜角が大きくなりX線の画像がボケ易いが、上記構成のようにコンベアの搬送面から近い位置を特定位置とすることで、例えば高さが高い被検査物に対しても、X線画像のボケによる誤差を低減して精度よく検査領域と非検査領域とを区分けすることができる。   In this X-ray inspection apparatus, due to the relative position of the X-ray generator, the conveyor, and the X-ray detector, the inclination angle at which the X-ray passes through the inspection object increases as the distance from the transport surface of the conveyor increases. Although the image of the X-ray is easily blurred, the error due to the blur of the X-ray image can be obtained even when the height of the inspection object is high, for example, by setting the position close to the conveying surface of the conveyor as the specific position as described above. And the inspection area and the non-inspection area can be accurately separated.

本発明に係るX線検査装置において、前記特定部位検出部は、前記X線画像における前記被検査物の外形形状に基づいて前記特定部位を検出することを特徴とする。   In the X-ray inspection apparatus according to the present invention, the specific part detection unit detects the specific part based on an outer shape of the inspection object in the X-ray image.

この構成により、外形形状に基づいて特定部位を検出し易い場合に、特定部位を確実に検出することができる。   With this configuration, when it is easy to detect a specific portion based on the external shape, the specific portion can be reliably detected.

本発明に係るX線検査装置において、前記特定部位検出部は、前記X線画像における前記被検査物の輝度に基づいて前記特定部位を検出することを特徴とする。   In the X-ray inspection apparatus according to the present invention, the specific part detection unit detects the specific part based on luminance of the inspection object in the X-ray image.

この構成により、輝度に基づいて特定部位を検出し易い場合に、特定部位を確実に検出することができる。   With this configuration, when it is easy to detect the specific part based on the luminance, the specific part can be reliably detected.

本発明は、X線画像にコンベアが映り込むことに起因して検査精度が低下することを防止できるX線検査装置を提供することができる。   The present invention can provide an X-ray inspection apparatus that can prevent a decrease in inspection accuracy due to a conveyor being reflected in an X-ray image.

本発明の一実施の形態に係るX線検査装置の斜視図である。It is a perspective view of the X-ray inspection device concerning one embodiment of the present invention. 本発明の一実施の形態に係るX線検査装置の搬送方向に直交する断面における断面図である。It is a sectional view in a section which intersects perpendicularly with the conveyance direction of the X-ray inspection device concerning one embodiment of the present invention. 本発明の一実施の形態に係るX線検査装置の検査モードにおける動作を説明するフローチャートである。4 is a flowchart illustrating an operation in an inspection mode of the X-ray inspection apparatus according to one embodiment of the present invention. 本発明の一実施の形態に係るX線検査装置の検査モードにおいて被検査物の上端面を基準に検査領域を設定する例を示す図である。FIG. 3 is a diagram showing an example in which an inspection area is set based on an upper end surface of an inspection object in an inspection mode of the X-ray inspection apparatus according to one embodiment of the present invention. 本発明の一実施の形態に係るX線検査装置の検査モードにおいて被検査物の肩部を基準に検査領域を設定する例を示す図である。FIG. 4 is a diagram showing an example in which an inspection area is set based on a shoulder of an inspection object in an inspection mode of the X-ray inspection apparatus according to one embodiment of the present invention. 本発明の一実施の形態に係るX線検査装置の検査モードにおいて被検査物の内容物の上端面を基準に検査領域を設定する例を示す図である。FIG. 3 is a diagram showing an example in which an inspection area is set based on the upper end surface of the content of the inspection object in the inspection mode of the X-ray inspection apparatus according to one embodiment of the present invention.

以下、本発明の一実施の形態について、図面を参照して説明する。まず構成について説明する。   Hereinafter, an embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings. First, the configuration will be described.

図1において、X線検査装置1は筐体4を備えている。筐体4は、被検査物Wを搬送するコンベア2に組み込まれている。コンベア2の上部空間は、被検査物Wが水平方向に通過する搬送路3を形成している。本実施の形態は、被検査物Wが飲料ボトルである場合を例示している。   In FIG. 1, the X-ray inspection apparatus 1 includes a housing 4. The housing 4 is incorporated in the conveyor 2 that transports the inspection object W. The upper space of the conveyor 2 forms a transport path 3 through which the inspection object W passes in the horizontal direction. This embodiment illustrates a case where the inspection object W is a beverage bottle.

コンベア2は、被検査物Wの生産設備の一部であり、X線検査装置1と別体に構成されている。本実施の形態は、コンベア2がトップチェーンコンベアからなる場合を例示している。トップチェーンコンベアは、無端状のチェーンに複数のプレートを設けたものであり、コンベア2の搬送部材21となるプレートの上面で被検査物Wを搬送するようになっている。   The conveyor 2 is a part of a production facility for the inspection object W, and is configured separately from the X-ray inspection apparatus 1. This embodiment exemplifies a case where the conveyor 2 comprises a top chain conveyor. The top chain conveyor is provided with a plurality of plates on an endless chain, and conveys the inspection object W on the upper surface of a plate serving as the conveying member 21 of the conveyor 2.

このように、X線検査装置1は、別体のコンベア2に組み込まれる組み込み型のX線検査装置であり、図1で示すようなボトル搬送でよく使用されるトップチェーンコンベアやベルトコンベア等の被検査物Wを水平方向に搬送する既設のコンベアに組み込まれる。なお、ベルトコンベアによる被検査物Wの搬送の場合にはベルトが搬送部材21となる。また、コンベア2は、X線検査装置1と一体に構成されていてもよい。   As described above, the X-ray inspection apparatus 1 is a built-in X-ray inspection apparatus incorporated in the separate conveyor 2, and includes a top chain conveyor, a belt conveyor, and the like that are often used in bottle conveyance as shown in FIG. The inspection object W is incorporated into an existing conveyor that transports the inspection object W in the horizontal direction. In the case of transporting the inspection object W by the belt conveyor, the belt serves as the transport member 21. Further, the conveyor 2 may be configured integrally with the X-ray inspection apparatus 1.

筐体4には、被検査物Wが搬入される開口部7と、被検査物Wが搬出される開口部8とが形成されている。コンベア2は、開口部7、8を通って筐体4を貫通している。筐体4は、ステンレス等のX線を遮蔽可能な金属からなる遮蔽カバー16を、開口部7、8の周囲に備えており、遮蔽カバー16は、開口部7、8から外部へのX線の漏洩を防止している。   The housing 4 has an opening 7 into which the inspection object W is carried in, and an opening 8 through which the inspection object W is carried out. The conveyor 2 penetrates the housing 4 through the openings 7 and 8. The housing 4 includes a shielding cover 16 made of a metal such as stainless steel capable of shielding X-rays around the openings 7 and 8. The shielding cover 16 is configured to transmit X-rays from the openings 7 and 8 to the outside. Leakage is prevented.

コンベア2の上方にはガイド部材61が設けられており、ガイド部材61は、被検査物Wをコンベア2上の幅方向の中央の位置で搬送されるように案内している。ガイド部材61は、被検査物Wを幅方向で挟むように、左右で一対、合計4本設けられている。   A guide member 61 is provided above the conveyor 2, and guides the inspection object W so as to be conveyed at a center position in the width direction on the conveyor 2. The guide members 61 are provided in a pair on the left and right, and a total of four guide members 61 are provided so as to sandwich the inspection object W in the width direction.

ガイド部材61は、X線発生器9のX線照射野に入り込まないように分断されている。なお、ガイド部材61は、X線透過率の高い材質から構成し、コンベア2と同様に開口部7から開口部8まで貫通するように連続して設けられていてもよい。   The guide member 61 is divided so as not to enter the X-ray irradiation field of the X-ray generator 9. Note that the guide member 61 may be made of a material having a high X-ray transmittance, and may be provided continuously so as to penetrate from the opening 7 to the opening 8 similarly to the conveyor 2.

図2において、X線検査装置1は、X線を発生するX線発生器9と、X線を検出するX線検出器10と、総合制御部40とを備えている。これらのX線発生器9、X線検出器10および総合制御部40は筐体4(図1参照)の内部に収納されている。   2, the X-ray inspection apparatus 1 includes an X-ray generator 9 that generates X-rays, an X-ray detector 10 that detects X-rays, and a general control unit 40. The X-ray generator 9, the X-ray detector 10, and the general control unit 40 are housed inside the housing 4 (see FIG. 1).

X線発生器9およびX線検出器10は、コンベア2上の被検査物Wが搬送される搬送路3を挟むように、コンベア2の幅方向に対向して配置されている。すなわち、コンベア2を幅方向に挟んで対向するように、X線発生器9とX線検出器10とが配置されている。   The X-ray generator 9 and the X-ray detector 10 are arranged opposite to each other in the width direction of the conveyor 2 so as to sandwich the transport path 3 on which the inspection object W on the conveyor 2 is transported. That is, the X-ray generator 9 and the X-ray detector 10 are arranged so as to face each other with the conveyor 2 sandwiched in the width direction.

X線発生器9は、その内部に設けられた図示しないX線管の陰極からの電子ビームを陽極のターゲットに照射させてX線を生成し、生成したX線を図示しないスリットにより略三角形状のスクリーン状に成形するようになっている。また、X線発生器9は、スクリーン状のX線照射野に成形したX線を、コンベア2上の搬送路3を幅方向に横切るようにして、X線検出器10に向けて照射するようになっている。   The X-ray generator 9 generates an X-ray by irradiating an electron beam from a cathode of an X-ray tube (not shown) provided therein to a target of an anode, and generates the X-ray by a slit (not shown). In the form of a screen. The X-ray generator 9 irradiates the X-rays formed in the screen-shaped X-ray irradiation field toward the X-ray detector 10 so as to cross the conveying path 3 on the conveyor 2 in the width direction. It has become.

したがって、X線発生器9から発生するX線は、X線発生器9を点光源として放射状に広がる。このため、コンベア2の上面である搬送面2Aの近傍ではX線が搬送面2Aと概ね平行に照射されるが、搬送面2Aから離れた位置ほどX線が大きな角度で斜めに照射される。   Therefore, X-rays generated from the X-ray generator 9 spread radially using the X-ray generator 9 as a point light source. For this reason, near the transport surface 2A, which is the upper surface of the conveyor 2, the X-rays are emitted substantially parallel to the transport surface 2A, but the X-rays are emitted obliquely at a larger angle at a position farther from the transport surface 2A.

X線検出器10は、複数の検出素子10Aをライン状に整列したX線ラインセンサからなる。X線検出器10の検出素子10Aは、図示しないフォトダイオードと、このフォトダイオード上に設けられた図示しないシンチレータとからなり、X線をシンチレータにより光に変換し、この光をフォトダイオードにより検出している。   The X-ray detector 10 includes an X-ray line sensor in which a plurality of detection elements 10A are arranged in a line. The detection element 10A of the X-ray detector 10 includes a photodiode (not shown) and a scintillator (not shown) provided on the photodiode. X-rays are converted into light by the scintillator, and the light is detected by the photodiode. ing.

X線検出器10の複数の検出素子10Aは、コンベア2の上面に対して垂直にn個配置されている。X線検出器10の下端部の検出素子10Aから出力されるデータは、X線画像の下端部の1画素目の画像に対応する。   The plurality of detection elements 10 </ b> A of the X-ray detector 10 are vertically arranged with respect to the upper surface of the conveyor 2. Data output from the detection element 10A at the lower end of the X-ray detector 10 corresponds to the first pixel image at the lower end of the X-ray image.

同様に、X線検出器10の下端部からn個目の検出素子10Aから出力されるデータは、X線画像の下端部からn画素目の画像に対応する。なお、図2には、ガイド部材61の位置が破線で示されているが、ガイド部材61はX線発生器9のX線照射野に入り込んでいない。   Similarly, data output from the n-th detection element 10A from the lower end of the X-ray detector 10 corresponds to the image at the n-th pixel from the lower end of the X-ray image. In FIG. 2, the position of the guide member 61 is indicated by a broken line, but the guide member 61 does not enter the X-ray irradiation field of the X-ray generator 9.

このように構成されたX線検出器10は、被検査物WがX線検出器10を通過することで、被検査物Wを透過するX線の量(検出レベル)に応じたX線画像を出力する。X線検出器10は、図示しないA/D変換部を備えており、このA/D変換部によりフォトダイオードからの輝度値データをデジタルデータに変換するようになっている。   The X-ray detector 10 having the above-described configuration is configured such that an X-ray image corresponding to the amount (detection level) of X-rays transmitted through the inspection object W when the inspection object W passes through the X-ray detector 10 Is output. The X-ray detector 10 includes an A / D converter (not shown), and the A / D converter converts luminance value data from the photodiode into digital data.

なお、A/D変換部から出力されるデータは、輝度値により明暗で表されるX線画像(明暗画像)であってもよいし、輝度値を所望の濃度となるように変換した濃度値により濃淡で表されるX線画像(濃淡画像)であってもよい。本実施例では、X線検出器10のA/D変換部から出力されるX線画像は、検出レベルを明暗で表した明暗画像である。   Note that the data output from the A / D converter may be an X-ray image (bright and dark image) represented by brightness and darkness by a brightness value, or a density value obtained by converting the brightness value to a desired density. May be an X-ray image (shade image) represented by shading. In the present embodiment, the X-ray image output from the A / D converter of the X-ray detector 10 is a light-dark image in which the detection level is expressed by light and dark.

本実施の形態において、X線発生器9は、X線照射野がコンベア2の上方となるように、設置作業により予め調整されている。より詳しくは、X線発生器9は、コンベア2の搬送面2Aと同一面に位置するように調整されている。また、X線検出器10の下端部がコンベア2の上面とほぼ同じ高さになるように、X線検出器10の位置が設置作業により予め調整されている。   In the present embodiment, the X-ray generator 9 is adjusted in advance by an installation operation such that the X-ray irradiation field is above the conveyor 2. More specifically, the X-ray generator 9 is adjusted to be located on the same plane as the conveyor surface 2A of the conveyor 2. Further, the position of the X-ray detector 10 is adjusted in advance by an installation operation such that the lower end of the X-ray detector 10 is substantially at the same height as the upper surface of the conveyor 2.

X線検査装置1は、表示部5、設定操作部45および総合制御部40を備えている。   The X-ray inspection apparatus 1 includes a display unit 5, a setting operation unit 45, and a general control unit 40.

表示部5は、平面ディスプレイ等から構成されており、ユーザに対する表示出力を行うようになっている。表示部5は、総合制御部40による検査結果等の画像を表示するようになっている。   The display unit 5 is configured by a flat display or the like, and performs display output to a user. The display unit 5 displays an image such as an inspection result by the general control unit 40.

また、表示部5は、被検査物Wの良否判定結果を「OK」や「NG」等の文字または記号で表示するようになっている。また、表示部5は、総検査数、良品数、NG総数等の統計値を表示するようになっている。   In addition, the display unit 5 displays the result of the pass / fail judgment of the inspection object W with characters or symbols such as “OK” and “NG”. The display unit 5 displays statistical values such as the total number of inspections, the number of non-defective products, and the total number of NGs.

表示部5の表示内容および表示態様は、既定設定、または設定操作部45からの所定のキー操作による要求に基づいて決定される。   The display content and the display mode of the display unit 5 are determined based on a default setting or a request by a predetermined key operation from the setting operation unit 45.

設定操作部45は、総合制御部40への各種パラメータ等の設定入力を行うものである。設定操作部45は、ユーザが操作する複数のキーやスイッチ等で構成され、総合制御部40への各種パラメータ等の設定入力や動作モードの選択を行うものである。本実施の形態では、表示部5と設定操作部45とがタッチパネル式表示器として一体化され、筐体4の前面上部に配置されている。X線検査装置1の動作モードには、被検査物Wの検査を行う通常の検査モードと、X線検査装置1の各種の調整や状態確認等のメンテナンスを行うメンテナンスモードとが含まれる。   The setting operation section 45 is for inputting setting of various parameters and the like to the general control section 40. The setting operation unit 45 includes a plurality of keys and switches operated by the user, and performs setting input of various parameters and the like and selection of an operation mode to the general control unit 40. In the present embodiment, the display unit 5 and the setting operation unit 45 are integrated as a touch panel display, and are arranged on the upper front surface of the housing 4. The operation modes of the X-ray inspection apparatus 1 include a normal inspection mode for inspecting the inspection object W and a maintenance mode for performing various adjustments and state confirmation of the X-ray inspection apparatus 1.

総合制御部40は、X線画像記憶部42、画像処理部43、判定部44および制御部46を備えている。   The general control unit 40 includes an X-ray image storage unit 42, an image processing unit 43, a determination unit 44, and a control unit 46.

X線画像記憶部42は、X線検出器10から受け取ったX線画像を一時的に記憶するようになっている。すなわち、X線画像記憶部42は、X線画像のバッファメモリとして機能する。   The X-ray image storage unit 42 temporarily stores the X-ray image received from the X-ray detector 10. That is, the X-ray image storage unit 42 functions as an X-ray image buffer memory.

画像処理部43は、X線画像記憶部42から読み出したX線画像に対して各種の画像処理アルゴリズム等を適用して画像処理を施すようになっている。ここで、画像処理アルゴリズムは、複数の画像処理フィルタを組み合わせたものからなる。本実施の形態において、画像処理部43には特定部位検出部43Aが設けられており、この特定部位検出部43Aは、X線画像における被検査物Wの所定の特定部位を検出するようになっている。   The image processing unit 43 performs image processing on the X-ray image read from the X-ray image storage unit 42 by applying various image processing algorithms and the like. Here, the image processing algorithm includes a combination of a plurality of image processing filters. In the present embodiment, the image processing unit 43 is provided with a specific part detection unit 43A, and the specific part detection unit 43A detects a predetermined specific part of the inspection object W in the X-ray image. ing.

判定部44は、画像処理部43により画像処理されたX線画像に対して、被検査物Wと異物との判別を行って異物の混入の有無を判定する異物判定を行い、また、被検査物Wの形状の良否を判定する形状判定を行うようになっている。   The determination unit 44 performs foreign matter determination on the X-ray image image-processed by the image processing unit 43 to determine whether or not foreign matter is mixed with the inspection object W to determine whether foreign matter is mixed. A shape determination for determining the quality of the shape of the object W is performed.

制御部46は、CPUおよび制御プログラムの記憶領域または作業領域としてのメモリなどを有しており、検査モードおよびメンテナンスモードを含む各動作モードにおいて、X線検査装置1の全体を制御するようになっている。制御部46の制御内容には、表示部5の表示内容および表示形態の制御が含まれる。   The control unit 46 has a CPU and a memory as a storage area or a work area for a control program, and controls the entire X-ray inspection apparatus 1 in each operation mode including the inspection mode and the maintenance mode. ing. The control content of the control unit 46 includes control of the display content and the display mode of the display unit 5.

ここで、コンベア2に対してX線発生器9とX線検出器10とを最適位置に完全に調整したり、完全な最適位置に保つようにすることは容易ではない。このため、X線検出器10から取得したX線画像にコンベア2が映り込んでしまう場合がある。例えば、設置時の位置調整後に、振動等によりコンベア2の上面に沿う平面がX線検出器10の下端部より上方に定常的に変位した場合、X線画像にコンベア2の上側、すなわち、被検査物Wが載る搬送部材21などが映り込んでしまう。特に、本実施の形態のコンベア2は、プレートとしての複数の搬送部材21を無端状のチェーンに設けてなるトップチェーンコンベアであり、搬送部材21のX線透過率がベルトコンベアのベルトよりも低いため、X線画像への搬送部材21の映り込みの影響が大きい。   Here, it is not easy to completely adjust the X-ray generator 9 and the X-ray detector 10 to the optimum position with respect to the conveyor 2, or to maintain the X-ray detector 9 at the perfect optimum position. For this reason, the conveyor 2 may be reflected in the X-ray image acquired from the X-ray detector 10. For example, if the plane along the upper surface of the conveyor 2 is constantly displaced above the lower end of the X-ray detector 10 due to vibration or the like after the position adjustment at the time of installation, the X-ray image shows the upper side of the conveyor 2, that is, The transport member 21 on which the inspection object W is placed is reflected. In particular, the conveyor 2 of the present embodiment is a top chain conveyor in which a plurality of conveying members 21 as plates are provided in an endless chain, and the X-ray transmittance of the conveying member 21 is lower than the belt of the belt conveyor. Therefore, the influence of the reflection of the transport member 21 on the X-ray image is large.

X線画像にコンベア2の搬送部材21が映り込んでしまうと、その搬送部材21の影響により、判定部44における誤検出が発生して検査精度が低下するおそれがある。一方、X線検出器10を最適位置に再度調整することは、調整作業の時間を確保できない等の理由から容易ではない場合がある。   If the transport member 21 of the conveyor 2 is reflected in the X-ray image, erroneous detection may occur in the determination unit 44 due to the influence of the transport member 21 and inspection accuracy may be reduced. On the other hand, it may not be easy to adjust the X-ray detector 10 to the optimum position again, for example, because time for the adjustment operation cannot be secured.

そこで、本実施の形態のX線検査装置1は、X線画像における被検査物Wが映っている領域のみを、検査対象の領域である検査領域に自動で設定し、非検査領域を除外して検査領域に対してのみ検査を行うようになっている。検査領域はX線画像における検査対象の領域であり、非検査領域はX線画像における検査対象外の領域である。   Therefore, the X-ray inspection apparatus 1 of the present embodiment automatically sets only the region in the X-ray image where the inspection object W is reflected as the inspection region, which is the inspection target region, and excludes the non-inspection region. Inspection is performed only on the inspection area. The inspection region is a region to be inspected in the X-ray image, and the non-inspection region is a region outside the inspection target in the X-ray image.

詳しくは、画像処理部43の特定部位検出部43Aは、X線画像における被検査物Wの所定の特定部位を検出し、検出した特定部位から所定の高さ方向への所定の長さまでの領域を、検査対象である検査領域に設定するようになっている。   Specifically, the specific part detection unit 43A of the image processing unit 43 detects a predetermined specific part of the inspection object W in the X-ray image, and detects a region from the detected specific part to a predetermined length in a predetermined height direction. Is set in the inspection area to be inspected.

所定の特定部位、所定の高さ方向、および所定の長さは、メンテナンスモードにおいてユーザが設定操作部45から予め設定値として入力し、特定部位検出部43Aに記憶しておくようになっている。設定値のうち、所定の特定部位については、この特定部位を識別可能な外形形状または輝度に関する情報が設定されるようになっている。   The predetermined specific portion, the predetermined height direction, and the predetermined length are input by the user as setting values from the setting operation portion 45 in the maintenance mode in advance, and are stored in the specific portion detecting portion 43A. . Among the set values, for a predetermined specific portion, information relating to the outer shape or luminance capable of identifying the specific portion is set.

被検査物Wが外形形状により特定部位を検出し易い材質や形状である場合、設定値に外形形状を用いることが好ましく、被検査物Wが輝度により特定部位を検出し易い材質や形状である場合、設定値に輝度を用いることが好ましい。設定値の詳細と、設定値に基づく検査領域の設定動作の詳細については後述する。   When the inspected object W is a material or a shape that is easy to detect a specific part based on the outer shape, it is preferable to use the outer shape as the set value, and the inspected object W is a material or a shape that easily detects the specific part based on luminance. In this case, it is preferable to use the luminance as the set value. Details of the set value and details of the operation of setting the inspection area based on the set value will be described later.

なお、被検査物Wの外形形状に基づいて特定部位を設定する場合、被検査物Wであるボトルの肩部、または首部の基部、等の複数の部位を、特定部位に設定してもよい。また、底部に窪みのあるボトルにおける窪みの上底部分や、くびれのあるボトルにおけるくびれ部分、等の複数の部位を、特定部位に設定してもよい。複数の特定部位を設定することで、被検査物Wが揺れていても、複数の特定部位の位置関係から高さ方向を補正することが可能となり、検査領域にコンベア2が含まれないように精度良く検査領域と非検査領域とを区分けすることができる。   In the case where a specific part is set based on the external shape of the inspection object W, a plurality of parts such as the shoulder part of the bottle as the inspection object W or the base part of the neck part may be set as the specific part. . Further, a plurality of portions such as an upper bottom portion of a dent in a bottle having a dent at a bottom portion and a constricted portion of a bottle having a dent may be set as a specific portion. By setting a plurality of specific parts, even if the inspection object W is shaking, it is possible to correct the height direction from the positional relationship of the plurality of specific parts, so that the conveyor 2 is not included in the inspection area. The inspection region and the non-inspection region can be accurately separated.

このようにすることで、X線画像において被検査物Wのみが映っておりコンベア2が映り込んでない領域を検査領域に自動的に設定でき、検査領域のみを対象に検査を行うことができる。このため、X線画像にコンベア2が映り込むことによる誤検出を防止できる。この結果、X線画像にコンベアが映り込むことに起因して検査精度が低下することを防止できる。   By doing so, an area where only the inspection object W is reflected in the X-ray image and the conveyor 2 is not reflected can be automatically set as the inspection area, and the inspection can be performed only on the inspection area. For this reason, erroneous detection due to the conveyor 2 being reflected in the X-ray image can be prevented. As a result, it is possible to prevent the inspection accuracy from being lowered due to the conveyor being reflected in the X-ray image.

次に動作と作用効果を説明する。まず、図3のフローチャートを参照して検査モードの動作を説明する。検査モードにおいて、X線検査装置1は、X線検出器10からX線画像(透過画像)のデータを取得し(ステップS1)、このX線画像をX線画像記憶部42に一時的に記憶する(ステップS2)。   Next, the operation and effect will be described. First, the operation in the inspection mode will be described with reference to the flowchart in FIG. In the inspection mode, the X-ray inspection apparatus 1 acquires data of an X-ray image (transmission image) from the X-ray detector 10 (Step S1), and temporarily stores the X-ray image in the X-ray image storage unit 42. (Step S2).

次いで、X線検査装置1は、X線画像において検査領域を設定するための設定値を読み込む(ステップS3)。次いで、X線検査装置1は、設定値に基づいて特定部位を検出するとともにX線画像を検査領域と非検査領域とに区分し、検査領域に対してエッジ強調処理等の画像処理を実施する(ステップS4)。   Next, the X-ray inspection apparatus 1 reads a set value for setting an inspection area in the X-ray image (Step S3). Next, the X-ray inspection apparatus 1 detects a specific part based on the set value, divides the X-ray image into an inspection area and a non-inspection area, and performs image processing such as edge enhancement processing on the inspection area. (Step S4).

このように、本実施例では、X線画像の全体に画像処理を実施するのではなく、検査対象の領域である検査領域に対してのみ画像処理を実施しているため、画像処理の演算の負荷を低減できる。   As described above, in the present embodiment, the image processing is not performed on the entire X-ray image, but is performed only on the inspection area that is the inspection target area. Load can be reduced.

次いで、X線検査装置1は、ステップS4で設定および画像処理された検査領域のみを対象として、判定部44により異物の混入の有無や形状不良の有無等について判定を行い(ステップS5)、この判定結果をX線画像等と共に表示部5により表示する(ステップS6)。   Next, the X-ray inspection apparatus 1 makes a determination as to whether or not there is a foreign substance and whether or not there is a shape defect by the determination unit 44 only for the inspection area set and image-processed in step S4 (step S5). The determination result is displayed on the display unit 5 together with the X-ray image and the like (step S6).

以下、設定値の詳細と、設定値に基づく検査領域の設定動作の詳細について説明する。   Hereinafter, the details of the set value and the details of the operation of setting the inspection area based on the set value will be described.

上記のステップS4において、画像処理部43の特定部位検出部43Aは、X線画像における被検査物Wの上端面を特定部位として検出し、特定部位から下方への所定の長さまでの領域を、検査対象である検査領域に設定することが好ましい。   In the above step S4, the specific part detection unit 43A of the image processing unit 43 detects the upper end surface of the inspection object W in the X-ray image as the specific part, and determines an area from the specific part to a predetermined length downward, It is preferable to set the inspection area to be inspected.

より詳しくは、特定部位検出部43Aは、図4に示すように、X線画像における被検査物Wの透過画像WXの上端面を特定部位P1として検出する。そして、特定部位検出部43Aは、この特定部位P1を基準として被検査物Wの長さL1だけ下方までの領域を検査領域52に設定する。   More specifically, the specific part detection unit 43A detects the upper end surface of the transmission image WX of the inspection object W in the X-ray image as the specific part P1, as shown in FIG. Then, the specific part detection unit 43A sets an area up to the length L1 of the inspection object W below the reference part P1 as the inspection area 52.

これにより、検査領域52は、図4において、X線画像上の被検査物Wの透過画像WXのみが映っている縦方向の領域(2本の破線で挟まれた領域)となる。また、特定部位検出部43Aは、検査領域52以外の領域を非検査領域51、53に設定する。   Thus, the inspection area 52 is a vertical area (an area sandwiched between two broken lines) in which only the transmission image WX of the inspection object W on the X-ray image is shown in FIG. In addition, the specific part detection unit 43A sets areas other than the inspection area 52 as the non-inspection areas 51 and 53.

図4において、非検査領域51は、X線画像におけるコンベア2の透過画像2Xが映り込んでいる領域であり、非検査領域53は、X線画像において被検査物Wの透過画像WXの上方の背景の領域である。   In FIG. 4, the non-inspection area 51 is an area where the transmission image 2X of the conveyor 2 is reflected in the X-ray image, and the non-inspection area 53 is above the transmission image WX of the inspection object W in the X-ray image. The background area.

なお、本実施の形態は、コンベア2がトップチェーンコンベアからなる場合を例示しているため、図4において、コンベア2の透過画像2Xの上面は平坦ではなくプレート間の段差が生じている。   In this embodiment, the case where the conveyor 2 is a top chain conveyor is illustrated. Therefore, in FIG. 4, the upper surface of the transmission image 2 </ b> X of the conveyor 2 is not flat but has a step between the plates.

図4のように、被検査物Wの上端面を特定部位P1とし、この特定部位P1から下方に長さL1までの縦方向の領域を検査領域52に設定することで、検査領域52にコンベア2の透過画像2Xが含まれてしまうことを防止でき、被検査物Wの透過画像WXのみを検査領域52に含めることができる。   As shown in FIG. 4, the upper end surface of the inspection object W is defined as the specific region P <b> 1, and a vertical region extending downward from the specific region P <b> 1 to the length L <b> 1 is set as the inspection region 52. 2 can be prevented from being included, and only the transmitted image WX of the inspection object W can be included in the inspection area 52.

また、コンベア2の振動等により被検査物Wが上下に変位した場合であっても、変位に追従して特定部位P1が検出されるため、X線画像が常に精度よく検査領域と非検査領域とに区分される。   Further, even when the inspection object W is displaced up and down due to the vibration of the conveyor 2 or the like, the specific portion P1 is detected following the displacement, so that the X-ray image is always accurately inspected and inspected. It is divided into and.

このため、X線画像の検査領域52にコンベア2が映り込むことによる誤検出を防止でき、ステップS5の判定動作において誤判定が防止されるので、被検査物Wの検査精度を向上することができる。   For this reason, erroneous detection due to reflection of the conveyor 2 in the inspection region 52 of the X-ray image can be prevented, and erroneous determination is prevented in the determination operation in step S5, so that the inspection accuracy of the inspection object W can be improved. it can.

特に、被検査物Wの上端面を特定部位P1とすることで、設定値として長さの値を1つだけ設定すればよいため、設定値の設定操作を簡略化でき、設定操作の誤りを防止できる。   In particular, by setting the upper end surface of the inspection object W to the specific portion P1, only one length value needs to be set as the set value, so that the set value setting operation can be simplified, and the setting operation error can be reduced. Can be prevented.

ここで、X線検査装置1においては、X線発生器9とコンベア2とX線検出器10との相対位置に起因し、コンベア2の搬送面2Aから離れた位置ほど、X線が被検査物Wを通過する傾斜角が大きくなりX線の画像がボケ易い。   Here, in the X-ray inspection apparatus 1, due to the relative position of the X-ray generator 9, the conveyor 2, and the X-ray detector 10, the X-rays to be inspected become more distant from the conveyor surface 2A of the conveyor 2 The inclination angle passing through the object W increases, and the X-ray image is easily blurred.

そこで、上記のステップS4において、特定部位検出部43Aは、X線画像における被検査物Wの上端面よりも下方の所定の特定部位を検出し、特定部位から下方への第1の所定の長さと上方への第2の所定の長さまでの領域を、検査対象である検査領域に設定することが好ましい。   Therefore, in the above step S4, the specific site detecting unit 43A detects a predetermined specific site below the upper end surface of the inspected object W in the X-ray image, and the first predetermined length from the specific site downward. It is preferable that an area up to a second predetermined length be set as an inspection area to be inspected.

より詳しくは、特定部位検出部43Aは、図5に示すように、X線画像における被検査物Wの透過画像WXの肩部を特定部位P1として検出する。そして、特定部位検出部43Aは、この特定部位P1を基準として、下方に長さL2および上方に長さL3までの領域を検査領域52に設定する。長さL2は本発明における第1の所定の長さに対応し、長さL3は本発明における第2の所定の長さに対応する。   More specifically, the specific part detection unit 43A detects the shoulder of the transmission image WX of the inspection object W in the X-ray image as the specific part P1, as shown in FIG. Then, the specific part detection unit 43A sets an area up to the length L2 and the area up to the length L3 upward as the inspection area 52 based on the specific part P1. The length L2 corresponds to a first predetermined length in the present invention, and the length L3 corresponds to a second predetermined length in the present invention.

図5のように、被検査物Wの肩部を特定部位P1とし、この特定部位P1から下方に長さL2および上方に長さL3までの領域を検査領域52に設定することで、コンベア2の搬送面2Aから近い位置を特定位置にできる。このため、例えば高さが高い被検査物Wに対しても、X線画像のボケによる誤差を低減して精度よく検査領域と非検査領域とを区分けすることができる。   As shown in FIG. 5, the shoulder of the inspection object W is defined as a specific portion P1, and a region extending from the specific portion P1 to a length L2 downward and a length L3 upward is set as the inspection region 52, so that the conveyor 2 The position close to the transfer surface 2A can be set as the specific position. For this reason, for example, even for an inspection object W having a high height, an error due to blurring of the X-ray image can be reduced and the inspection region and the non-inspection region can be accurately separated.

ここで、被検査物Wの透過画像WXは、容器の透過画像WX1と内容物の透過画像WX2とからなり、内容物の透過画像WX2の上端面は、形状または輝度に基づく検出が可能である。   Here, the transmission image WX of the inspection object W includes a transmission image WX1 of the container and a transmission image WX2 of the content, and the upper end surface of the transmission image WX2 of the content can be detected based on the shape or the luminance. .

そこで、上記のステップS4において、特定部位検出部43Aは、図6に示すように、内容物の透過画像WX2の上端面を特定部位P1として検出し、この特定部位P1を基準として、下方に長さL4および上方に長さL5までの領域を検査領域52に設定してもよい。長さL4は本発明における第1の所定の長さに対応し、長さL5は本発明における第2の所定の長さに対応する。   Therefore, in the above step S4, the specific part detection unit 43A detects the upper end surface of the transparent image WX2 of the contents as the specific part P1, as shown in FIG. An area up to the length L4 and up to the length L5 may be set as the inspection area 52. The length L4 corresponds to a first predetermined length in the present invention, and the length L5 corresponds to a second predetermined length in the present invention.

図6のように、内容物の透過画像WX2の上端面を特定部位P1とし、この特定部位P1から下方に長さL4および上方に長さL5までの領域を検査領域52に設定することで、検査領域52にコンベア2の透過画像2Xが含まれてしまうことを防止でき、被検査物Wの透過画像WXのみを検査領域52に含めることができる。   As shown in FIG. 6, by setting the upper end surface of the transparent image WX2 of the content as a specific portion P1, and setting a region having a length L4 below and a length L5 above the specific portion P1 as the inspection region 52, The inspection area 52 can be prevented from including the transmission image 2X of the conveyor 2, and only the transmission image WX of the inspection object W can be included in the inspection area 52.

また、コンベア2の振動等により被検査物Wが上下に変位した場合であっても、変位に追従して特定部位P1が検出されるため、X線画像が常に精度よく検査領域と非検査領域とに区分される。   Further, even when the inspection object W is displaced up and down due to the vibration of the conveyor 2 or the like, the specific portion P1 is detected following the displacement, so that the X-ray image is always accurately inspected and inspected. It is divided into and.

このため、X線画像の検査領域52にコンベア2が映り込むことによる誤検出を防止でき、ステップS5の判定動作において誤判定が防止されるので、被検査物Wの検査精度を向上することができる。   For this reason, erroneous detection due to reflection of the conveyor 2 in the inspection region 52 of the X-ray image can be prevented, and erroneous determination is prevented in the determination operation in step S5, so that the inspection accuracy of the inspection object W can be improved. it can.

以上のように、本発明に係るX線検査装置は、X線画像にコンベアが映り込むことに起因して検査精度が低下することを防止できるという効果を有し、X線発生器から照射されて被検査物を透過したX線をX線検出器により検出して異物を検出するX線検査装置として有用である。   As described above, the X-ray inspection apparatus according to the present invention has an effect that it is possible to prevent the inspection accuracy from being reduced due to the fact that the conveyor is reflected in the X-ray image. Thus, the present invention is useful as an X-ray inspection apparatus for detecting foreign matter by detecting X-rays transmitted through an inspection object with an X-ray detector.

1 X線検査装置
2 コンベア
3 搬送路
9 X線発生器
10 X線検出器
43 画像処理部
43A 特定部位検出部
52 検査領域
W 被検査物
P1 特定部位
L1 長さ
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 X-ray inspection apparatus 2 Conveyor 3 Transport path 9 X-ray generator 10 X-ray detector 43 Image processing part 43A Specific part detection part 52 Inspection area W Inspection object P1 Specific part L1 Length

Claims (5)

X線を発生するX線発生器(9)と、
X線を検出するX線検出器(10)と、を備え、
被検査物(W)が水平方向に通過する搬送路(3)を形成するコンベア(2)を挟んで、前記X線検出器が前記コンベアの搬送面からの高さ方向を検出するように、前記X線発生器と前記X線検出器とが配置されたX線検査装置であって、
前記X線検出器が検出したX線に基づくX線画像に画像処理を実施する画像処理部(43)と、
前記X線画像における前記被検査物の所定の特定部位(P1)を検出する特定部位検出部(43A)とを備え、
前記特定部位検出部が検出した前記特定部位から前記高さ方向への所定の長さ(L1)までの領域を、検査対象である検査領域(52)とし、該検査領域内で前記画像処理部が画像処理を実施して前記被検査物を検査することを特徴とするX線検査装置。
An X-ray generator (9) for generating X-rays,
An X-ray detector (10) for detecting X-rays,
With the conveyor (2) forming a transport path (3) through which the object to be inspected (W) passes in the horizontal direction interposed therebetween, the X-ray detector detects the height direction from the transport surface of the conveyor, An X-ray inspection apparatus in which the X-ray generator and the X-ray detector are arranged,
An image processing unit (43) that performs image processing on an X-ray image based on the X-ray detected by the X-ray detector;
A specific part detector (43A) for detecting a predetermined specific part (P1) of the inspection object in the X-ray image,
Said region from a particular part detection unit is the specific site has been detected to a predetermined length (L1) of the height direction, the inspection area to be inspected (52), the image processing unit in the examination region X-ray inspection apparatus, which performs image processing and inspects the inspection object.
前記特定部位検出部は、前記X線画像における前記被検査物の上端面を前記特定部位として検出し、
前記特定部位検出部が検出した前記特定部位から下方への所定の長さまでの領域を前記検査領域として検査を行うことを特徴とする請求項1に記載のX線検査装置。
The specific part detection unit detects an upper end surface of the inspection object in the X-ray image as the specific part,
2. The X-ray inspection apparatus according to claim 1, wherein an inspection is performed using, as the inspection area, a region extending down to a predetermined length from the specific region detected by the specific region detection unit. 3.
前記特定部位検出部は、前記X線画像における前記被検査物の上端面よりも下方の部位を前記特定部位として検出し、
前記特定部位検出部が検出した前記特定部位から下方への第1の所定の長さと上方への第2の所定の長さまでの領域を、前記検査領域として検査を行うことを特徴とする請求項1に記載のX線検査装置。
The specific part detection unit detects a part of the X-ray image below an upper end surface of the inspection object as the specific part,
The inspection is performed using, as the inspection area, an area extending from the specific area detected by the specific area detection unit to a first predetermined length downward and a second predetermined length upward. 2. The X-ray inspection apparatus according to 1.
前記特定部位検出部は、前記X線画像における前記被検査物の外形形状に基づいて前記特定部位を検出することを特徴とする請求項1から請求項3の何れか1項に記載のX線検査装置。   The X-ray according to any one of claims 1 to 3, wherein the specific part detection unit detects the specific part based on an outer shape of the inspection object in the X-ray image. Inspection equipment. 前記特定部位検出部は、前記X線画像における前記被検査物の輝度に基づいて前記特定部位を検出することを特徴とする請求項1から請求項3の何れか1項に記載のX線検査装置。   The X-ray inspection according to any one of claims 1 to 3, wherein the specific part detection unit detects the specific part based on luminance of the inspection object in the X-ray image. apparatus.
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