JP6665236B2 - 耐ブリスター性に優れたpfa成形体およびpfa成形体のブリスター発生を抑制する方法 - Google Patents
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Description
また本発明は、中空部を有するPFA成形体のブリスター発生を抑制する方法に関する。
本発明は、耐ブリスター性に優れた中空部を有するPFA成形体を提供する。
本発明は、耐ブリスター性に優れた中空部を有するPFA成形体の製造方法を提供する。
本発明はまた、ブリスターの発生量の少ない中空部を有するPFA成形体を提供する。
ブリスター存在比率=加熱処理成形体のブリスター個数/加熱処理前の成形体のブリスター個数 [I]
また本発明により、中空部を有するPFA成形体のブリスター発生を抑制する方法が提供される。
さらに本発明によりブリスター発生量の少ない中空部を有するPFA成形体が提供される。
中でも、中空部を有する成形体としてはチューブ状成形体が好ましく、より好ましいのは押出成形法で得たチューブ状成形体であり、特に好ましくは押出成形法により得られる無延伸のチューブ状成形体である。
図1は、PFAの成形体に発生するブリスターの断面図である。
本発明によれば、ブリスター存在比率が50%以下の中空部を有する成形体を得ることができるが、ブリスター存在比率が35%以下の中空部を有する成形体を得ることもできる。
また、本発明によれば、ブリスター存在比率が35%以下、好ましくは5%以下のチューブを得ることも可能となる。
本発明で用いた物性の測定方法および原材料は下記のとおりである。
(1)メルトフローレート(MFR)
ASTM D1238に準拠して、荷重5kg、測定温度372±0.1℃で測定したメルトフローレート(MFR)
下記のブリスター発生試験により、得られたブリスター測定用成形体についてブリスター発生個数を測定した。
(a)ブリスター発生試験
中空部を有する成形体の中空部内に35質量%濃度の塩酸を封入し、塩酸の入った成形体を容器中で純水に浸漬し、容器ごと70℃のオーブン内に置く。
この状態で2か月保持した後、成形体を取出し塩酸を抜き出して、成形体中空内を純水で5回洗浄した後、室温にて12時間風乾を行い、ブリスター測定用成形体を得た。
また、貯蔵容器(ボトル)、フィルターハウジング、ポンプ等、密閉して用いられる成形体においては、チューブと同様に封止栓を用いることも、成形体に付属の蓋を用いて封止することも可能である。配管用の継ぎ手(フィッティング)においても、チューブと同様に市販の封止栓を用いることが出来る。
1)測定用成形体表面の転写
PFA板(ショアーD硬度 D51、1.5mm厚)を基板とし、基板上にカーボン転写紙(SOL General Carbon paper #1300 pencil use)をその転写面を上にして置き、その上に白紙のコピー用普通紙(厚さ0.09mm)を置く。
コピー用紙の上にブリスター測定用成形体(長さ40mm、幅20mm)を置き、その上から測定用成形体の測定面を荷重1kgで押圧して転写紙に押圧模様を形成させる。得られた縦40mm、横20mmの転写像についてブリスターの個数測定を行う。
成形体の測定面が平面である場合には、測定面を荷重1kgで押圧すればよく、測定面が曲面を有する場合には荷重1kgで押圧しながら測定面を移動させて測定面全部の転写像を得る。
図5は、成形体がチューブ状の場合の転写像作成例を示す概略図である。図5では幅20mm切り出したチューブ10を、錘12の荷重1kgで押圧しながら、PFA板7上に転写面を上にして置かれたカーボン転写紙8上のコピー用紙9の上を、長さ40mm回転させて転写像を得る。この場合、図5に示すようなガイド部11を設けて安定した転写ができるようにしてもよい。
得られた転写像のうち縦40mm、横20mmの個数測定範囲に存在する斑状模様で長径が0.1mm以上のものの個数を測定する。個数測定は、顕微鏡(オリンパスBX51)を使用して20倍に拡大して行った。
測定用成形体3個について、得られた転写像のブリスターの個数測定を行い、その平均値をブリスター個数とした。
3)ブリスターの存在比率
ブリスターの個数測定により得られたブリスター個数に基づき、ブリスターの存在比率を下記式[I]によって算出した。
ブリスター存在比率=加熱処理成形体のブリスター個数/加熱処理前の成形体のブリスター個数 [I]
示差走査熱量計(Pyris1型DSC、パーキンエルマー社製)を用いた。試料粉末10mgを秤量して専用のアルミパンに入れ、専用のクリンパーによってクリンプした後、DSC本体に収納し、150℃から360℃まで10℃/分で昇温をする。この時得られる融解曲線から融解ピーク温度(Tm)を求めた。
(4)不安定末端基の個数
特公平4−83に従い、不安定末端基の個数を測定した。
(1)PFA(1)
三井・デュポンフロロケミカル株式会社製PFA[テトラフルオロエチレン/パーフルオロエチルビニルエーテル共重合体、MFR2g/10分、融点320℃、不安定末端基(−CH2OH末端基、−CONH2末端基、−COF末端基)が炭素数106個あたり6個未満]。
(2)PFA(2)
三井・デュポンフロロケミカル株式会社製PFA[テトラフルオロエチレン/パーフルオロプロピルビニルエーテル共重合体、MFR 2g/10分、融点310℃、不安定末端基(−CH2OH末端基、−CONH2末端基、−COF末端基)が炭素数106個あたり6個未満]。
(A)チューブの調製
PFA(1)を用いて、φ30mmの押出成形機によって360℃で、外径12.7±0.12mm、厚さ1.59±0.10mmの無延伸チューブを得た。
(B)加熱処理
得られたチューブを約50cm切り取り、加熱処理温度300℃に保持されたエスペック社製STPH−101オーブン内でガラスクロス上に静置し、1時間保持して加熱処理をした後、チューブを取り出して室温になるまで放置した。その後チューブをオーブン内に入れた状態で、オーブンの設定を25℃、降温させた後にチューブを取り出した。得られた加熱処理したチューブをブリスター発生試験にかけた。
前記チューブの場合のブリスター発生試験方法に従い、得られた加熱処理チューブ約50cmから25cm長さを切り出し、加熱処理チューブ1の両末端に封止栓2(ピラー工業株式会社製スーパー300)を取り付け、チューブ内に35質量%濃度の塩酸3を25ml封入した。塩酸の入った該チューブをガラス瓶4に立てて入れ、該チューブの全面が浸漬されるまで純水5を入れ、70℃のオーブン6内に置いた。この状態で2か月放置した後、ガラス瓶4から該チューブを取出し、封止栓2から35質量%濃度の塩酸3を抜き出し、チューブ内を純水で5回洗浄した後、室温にて12時間風乾を行い、ブリスター測定用チューブを得た。
得られたブリスター測定用チューブから長さ20mm切り出して、測定用成形体とし、図5に示すようなガイド部11を設けて荷重1kgで押圧しながら長さ40mm回転させて測定用成形体表面の転写を行い、転写像を得た。図5中の13は測定用成形体と錘を安定させるために設けたPTFE板(ショアーD硬度:D51、80mm×28mm×5mm)である。得られた転写像について、ブリスターの個数を測定した。測定用成形体3個についてブリスターの個数を測定し、その平均値を算出した。結果を表1に示す。また、得られた転写像の一例を図6の(A)に示す。
図3は、加熱処理チューブのブリスター発生試験後の外観である。加熱処理チューブにはブリスター発生は実質的に認められず、ブリスター発生試験後も滑らかな外表面を有していた。
実施例1において、チューブの加熱処理温度を260℃に変更するほかは同様にしてブリスター個数を測定した。結果を表1に示した。得られた転写像の一例を図6の(B)に示した。
実施例1において、チューブの加熱処理を省略するほかは同様にしてブリスター個数を測定した。結果を表1に示した。得られた転写像の一例を図6の(C)に示した。
図2は、ブリスター発生試験後のチューブの外観である。チューブにはブリスター発生が多数認められ、粗い外表面を有していた。
実施例1において、PFA(2)を用いてチューブの調製を行うほかは同様にして、ブリスター個数を測定した。結果を表2に示した。
実施例3において、チューブの加熱処理温度を190℃に変更するほかは同様にしてブリスター個数を測定した。結果を表2に示した。
実施例3において、チューブの加熱処理を省略するほかは同様にしてブリスター個数を測定した。結果を表2に示した。
本発明によって、前記した中空部を有するPFA成形体に発生するブリスターを抑制することができ、成形体の使用寿命を格段に延長することができる。
2.封止栓
3.35質量%塩酸
4.ガラス瓶
5.純水
6.オーブン
7.PFA板
8.カーボン転写紙
9.コピー用紙
10.ブリスター測定用PFAチューブ
11.ガイド部
12.錘
13.PTFE板
Claims (3)
- テトラフルオロエチレン(TFE)とパーフルオロ(アルキルビニルエーテル)(PAVE)との共重合体(PFA)であって、ASTM D1238に準拠して、荷重5kg、測定温度372±0.1℃で測定したメルトフローレート(MFR)が0.1〜100g/10分であり、−CH2OH末端基、−CONH2末端基および−COF末端基が炭素数106個あたり6個未満であるPFAの溶融成形体であって、ブリスター個数が表面積1cm2当たり0〜12.25個である中空部を有するPFA成形体。
- パーフルオロ(アルキルビニルエーテル)(PAVE)が、パーフルオロ(エチルビニルエーテル)(PEVE)である請求項1に記載の中空部を有するPFA成形体。
- 前記中空部を有するPFA成形体が、半導体や液晶の製造または化学プラントに使用される薬液移送用の配管、配管用の継ぎ手、貯蔵容器、ポンプ、フィルターハウジングから選択される請求項1または2に記載の中空部を有するPFA成形体。
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