JP6639747B2 - 雑音除去装置および雑音除去方法 - Google Patents
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Description
また、雑音除去技術は、音声認識システム等における雑音に対する頑健性を向上させることもできる。また、雑音除去技術は、例えば、機器の作動音に異常な音が含まれていないかを自動的に検出する機器監視システムにおいて、周囲の騒音による検出精度の劣化を防止する用途に利用することもできる。
実施の形態1.
図1は、この発明の実施の形態1における雑音除去装置1の構成を示す図である。
本実施の形態では、音響センサの具体例として、マイクロホンを用いて説明し、音響センサペアをマイクロホンペア、音響センサアレイをマイクロホンアレイとして説明する。ただし、本発明における音響センサはマイクロホンに限定されるものではなく、例えば超音波センサであってもよい。
雑音除去装置1は、2個以上のマイクロホン2(マイクロホン2a,2b,2c,2d,2e,・・・)を含むマイクロホンアレイ3と、AD変換器4と、雑音除去処理部5とから構成されている。雑音除去装置1のマイクロホン2で観測された音の信号(観測信号)は、AD変換器4に入力される。AD変換器4は、入力された観測信号をデジタル信号に変換し、雑音除去処理部5に出力する。雑音除去処理部5は、デジタル信号に変換された観測信号から雑音の信号を除去する。雑音除去処理部5は、雑音の信号が除去された観測信号を、出力信号として、雑音除去装置1に接続されたスピーカ6に出力する。
図1の例では、複数のマイクロホン2a,2b,2c,2d,2e,・・・(複数のマイクロホンを総じて示す場合、マイクロホン2と記載する)を示している。複数のマイクロホン2のうち、互いに隣接する2個のマイクロホン2a,2bの組をマイクロホンペア21とする。マイクロホンペア21は、複数のマイクロホン2の中から少なくとも1組の互いに隣接するマイクロホン2で形成されればよい。少なくとも1組のマイクロホンペア21の配置位置は、目的音を発生する目的音源Aと雑音を発生する雑音源Bとの位置に応じて決定される。なお、目的音源Aと、雑音源Bと、マイクロホンペア21との位置関係は既知であるものとして、以下説明する。なお、マイクロホンペア21を構成するマイクロホン2a,2b以外の、他のマイクロホン2c,2d,2e,・・・の配置位置は任意に設定可能である。
図2は、この発明の実施の形態1における雑音除去装置1のマイクロホン2の配置例を示す図である。
マイクロホンペア21を構成するマイクロホン2aと、マイクロホン2bとを結ぶ線分を第1の線分10とする。より具体的には、例えば、マイクロホン2aとマイクロホン2bのそれぞれの中心を結ぶ線分を第1の線分10とする。第1の線分10の中点を中点11とする。なお、マイクロホン2aの中心と、マイクロホン2bの中心とは、厳密な中心である必要はない。
当該平面12において、第1の線分10の垂直二等分線13が、目的音源Aと中点11とを結ぶ第2の線分14と、雑音源Bと中点11とを結ぶ第3の線分15とがなす角θの二等分線に一致する。より具体的には、例えば、目的音源Aの設定点と中点11とを結ぶ第2の線分14と、雑音源Bの設定点と中点11とを結ぶ第3の線分15とがなす角θの二等分線に一致する。
また、垂直二等分線13と第3の線分15とがなす角θ2は、垂直二等分線13を基準として、雑音源Bで発生する雑音がマイクロホンペア21に向かって到来する方向を示している。以下、当該角θ2を、雑音到来方向θ2とする。図2では、目的音到来方向θ1と雑音到来方向θ2とが、同一の値の角度となる場合を示している。
雑音除去処理部5の雑音除去性能が最大となるマイクロホン2aおよびマイクロホン2bの配置は、マイクロホン2aと、マイクロホン2bと、目的音源Aと、雑音源Bとが、いずれも同一の平面12上にあり、また、目的音到来方向θ1と雑音到来方向θ2とが同一の場合である。
図3は、この発明の実施の形態1における雑音除去装置1のマイクロホンペア21で観測される音の到来方向と時間差との関係を示す図である。
図3では、時間差を表す縦軸に等間隔に目盛線を記載し、当該目盛線における時間差の値に対応する音の到来方向に点を打っている。図3に示す通り、当該点の位置における到来方向は不等間隔となる。ここで、音の到来方向とは、目的音到来方向θ1と雑音到来方向θ2である。以下、角度の値は弧度法で表す。
図4に示す通り、音の到来方向が0または±π付近では点の分布が密に、音の到来方向が±π/2付近では、点の分布が疎になる。例えば、ノイズの影響により、観測された音声信号の時間差が、図3における1目盛分だけ実際の時間差からずれる場合、図4における実際の音の到来方向に対応する点に対して、当該点の両隣にある点のうちのいずれかが音の到来方向の観測値として算出される。
この場合、図4において、点の分布が密な、0または±π方向の範囲では、時間差にずれが生じたとしても、音の到来方向の観測値が大きく変動することはない。一方、図4において、点の分布が疎な、±π/2方向の範囲では、少しの時間差のずれによって音の到来方向の観測値が大きく変動する。つまり、ある一定の時間差のずれが生じる状況では、音源の位置が0または±π方向に近いとき音の到来方向の観測値には小さな誤差しか生じない(観測値のばらつきが小さい)が、音源の位置が±π/2方向に近いときは音の到来方向の観測値には大きな誤差が生じる(観測値のばらつきが大きい)。これは、マイクロホンペア21によって観測される音の到来方向の観測値のヒストグラムの形状が、実際の音の到来方向がどの範囲に存在するかに依存することを意味している。
図5Aから図5Cは、マイクロホンペア21が目的音源Aおよび雑音源Bに対して、相対的にある定められた方向を向いている場合に、目的音源Aおよび雑音源Bから到来する音波がマイクロホンペア21によって観測される音の到来方向の観測値の分布(不確実性)を示している。
図5Aは、マイクロホンペア21が目的音源Aの方向を向いている場合、即ち目的音到来方向θ1=0の場合を示している。
図5Aの場合、目的音到来方向θ1が0であることから、到来する目的音の到来方向の観測値のヒストグラムは、図5Aの分布Caで示すように、急峻な分布となる。
一方、雑音到来方向θ2は0よりも−π/2方向に位置している(図4参照)ことから、到来する雑音の到来方向の観測値のヒストグラムは、図5Aの分布Cbで示すように、なだらかな分布となる。
到来する目的音の到来方向の観測値のヒストグラムの分布Caと、到来する雑音の到来方向の観測値のヒストグラムの分布Cbとは、領域Ccにおいて重複する。領域Ccの面積は、雑音除去装置1が出力する出力信号に含まれる歪みの量に比例する。
目的音到来方向θ1と、雑音到来方向θ2とが同一であることから、到来する目的音の到来方向の観測値のヒストグラムと、到来する雑音の到来方向の観測値のヒストグラムとは、同一の形状の分布Da,Dbとなる。到来する目的音の到来方向の観測値のヒストグラムの分布Daと、到来する雑音の到来方向の観測値のヒストグラムの分布Dbとは、領域Dcにおいて重複する。
図5Cの場合、目的音到来方向θ1が0よりもπ/2方向に位置している(図4参照)ことから、到来する目的音の到来方向の観測値のヒストグラムは、図5Cの分布Eaで示すように、なだらかな分布となる。
一方、雑音到来方向θ2は0であることから、到来する雑音の到来方向の観測値のヒストグラムは、図5Cの分布Ebで示すように急峻な分布となる。
到来する目的音の到来方向の観測値のヒストグラムの分布Eaと、到来する雑音の到来方向の観測値のヒストグラムの分布Ebとは、領域Ecにおいて重複する。
なお、マイクロホンペア21が、目的音源Aと雑音源Bとの中間の方向を向いて配置されている場合とは、詳細には、図2で示した平面12において、第1の線分10の垂直二等分線13が、目的音源Aと中点11とを結ぶ第2の線分14と、雑音源Bと中点11とを結ぶ第3の線分15とがなす角θの二等分線に一致する場合である。
なお、図5Bでは、目的音到来方向θ1と雑音到来方向θ2とが同一値である場合を示したが、目的音到来方向θ1と雑音到来方向θ2とは厳密な同一値である必要はなく、若干の角度変動が許容されるものである。
また、雑音除去装置1は、車載に限定されるものではなく、機器の監視システム等に適用可能である。その場合、雑音除去装置1は、監視対象の機器の作動音を目的音として取得し、その他の機器の作動音を雑音として除去し、監視対象の機器の作動音のみを監視処理に提供することができる。
雑音除去処理部5は、マイクロホン2から入力された観測信号から雑音を除去した出力信号を、スピーカ6に出力する。一般的に、マイクロホンアレイ3を用いて雑音を除去する場合、雑音除去処理部5は複数のマイクロホン2から得られる観測信号の時間差に基づいて音の到来方向を時間−周波数成分ごとに観測する。次に、雑音除去処理部5は、観測した音の観測信号から目的とする方向以外の方向から到来している音を構成する時間−周波数成分を除去するフィルタを観測信号に掛ける。
雑音除去処理部5は、DFT(Discrete Fourier Transform)部51,52、帯域選択部53、積算部54、およびIDFT(Inverse Discrete Fourier Transform)部55を備える。ここで、図6に示す構成を用いて説明するが、雑音除去処理部5の構成は、図6に示した構成に限定されるものではなく、他の構成を適用してもよい。
図7Aおよび図7Bは、この発明の実施の形態1における雑音除去装置1の雑音除去処理部5のハードウェア構成例を示す図である。
雑音除去装置1の雑音除去処理部5におけるDFT部51,52、帯域選択部53、積算部54およびIDFT部55の各機能は、処理回路により実現される。即ち、雑音除去装置1の雑音除去処理部5は、上記各機能を実現するための処理回路を備える。当該処理回路は、図7Aに示すように専用のハードウェアである処理回路1aであってもよいし、図7Bに示すようにメモリ1cに格納されているプログラムを実行するプロセッサ1bであってもよい。
メモリ1cは、例えば、RAM(Random Access Memory)、ROM(Read Only Memory)、フラッシュメモリ、EPROM(Erasable Programmable ROM)、EEPROM(Electrically EPROM)等の不揮発性または揮発性の半導体メモリであってもよいし、ハードディスク、フレキシブルディスク等の磁気ディスクであってもよいし、ミニディスク、CD(Compact Disc)、DVD(Digital Versatile Disc)等の光ディスクであってもよい。
図8は、この発明の実施の形態1における雑音除去装置1の動作を示すフローチャートである。
図8に示す動作が行われる前提として、図2で示した平面12において、第1の線分10の垂直二等分線13が、目的音源Aと中点11とを結ぶ第2の線分14と、雑音源Bと中点11とを結ぶ第3の線分15とがなす角θの二等分線に一致するように、マイクロホンペア21が配置されているものとする。
式(1)において、cは音速、dはマイクロホン間の距離、argは複素数の偏角を表す。
また、式(1)によって計算される音の到来方向θ(ω,τ)は、図2に示すように、マイクロホンペア21を構成するマイクロホン2a,2bを結ぶ第1の線分10の垂直二等分線13の方向を0とするときの角度(弧度法)となる。
式(2)において、Θは目的音の到来方向の集合である。式(2)は、所望の方向から到来した音の時間−周波数成分には係数として1を掛け、それ以外の音の成分には0を掛けるようなフィルタを生成する。当該フィルタにより、観測信号に含まれる目的音の時間−周波数成分のみが抽出される。
なお、ステップST6の処理では、マイクロホン2aの観測信号スペクトルX1(ω,τ)にフィルタb(ω,τ)を掛ける場合を例に説明したが、マイクロホン2bの観測信号スペクトルX2(ω,τ)にフィルタb(ω,τ)を掛けてもよいし、任意のマイクロホン2の観測信号スペクトルにフィルタb(ω,τ)を掛けるように構成してもよい。
上述した処理により、スピーカ6からは、雑音が除去され、歪みが抑制された音が出力される。なお、スピーカ6を例に説明したが、IDFT部55の出力先は、イヤホン、メモリ、ハードディスク等であってもよい。出力先がメモリやハードディスクなどの記憶媒体の場合には、当該記憶媒体に雑音が除去された音のデジタルデータが保存される。
この実施の形態2では、エコーキャンセリング処理を行う構成を備えた雑音除去装置について説明する。
図9は、この発明の実施の形態2における雑音除去装置1Aの構成を示す図である。
雑音除去装置1Aは、図1に示した実施の形態1の雑音除去装置1にエコーキャンセリング部8を追加して構成している。以下では、実施の形態1における雑音除去装置1の構成要素と同一または相当する部分には、実施の形態1で使用した符号と同一の符号を付して説明を省略または簡略化する。
雑音除去処理部5は、実施の形態1と同様に、マイクロホン2から入力された観測信号から、雑音源Bである再生スピーカ101から出力される雑音(エコー成分)を除去する。雑音除去処理部5は、雑音を除去した出力信号をエコーキャンセリング部8に出力する。雑音除去処理部5による雑音の除去では、一般的に、残響または他の外乱要因によってエコー成分を完全に除去することが困難である。そこで、エコーキャンセリング部8において、雑音除去処理部5の出力信号から残留エコー成分を除去する。
エコーキャンセリング部8が残留エコー成分を除去する前に、図2で示した位置関係で配置されたマイクロホンペア21から出力された話者102の観測信号から、雑音除去処理部5が雑音を除去することにより、エコーキャンセリング部8における残留エコー成分の除去性能を向上させることができる。これにより、スピーカ6から出力された出力信号において、目的音である話者102の音声の明瞭性が向上する。
図10は、この発明の実施の形態2における雑音除去装置1Aの動作を示すフローチャートである。
以下では、実施の形態1における雑音除去装置1と同一のステップには、図8で示した符号と同一の符号を付し、説明を省略または簡略化する。
ステップST7において、IDFT部55が、出力信号スペクトルY(ω,τ)を離散逆フーリエ変換によって時間領域の出力信号y(t)に変換すると、IDFT部55は変換後の出力信号y(t)を、エコーキャンセリング部8に出力する。エコーキャンセリング部8は、再生装置7の参照信号に基づいて、ステップST7で変換された出力信号y(t)から残留エコー成分を除去し、出力信号z(t)を生成する(ステップST11)。エコーキャンセリング部8は、ステップST11で生成した出力信号z(t)をスピーカ6に出力する(ステップST12)。その後、フローチャートはステップST1の処理に戻り、上述した処理を繰り返す。
この実施の形態3では、異音検出処理を行う構成を備えた雑音除去装置について説明する。
図11は、この発明の実施の形態3における雑音除去装置1Bの構成を示す図である。
雑音除去装置1Bは、図1に示した実施の形態1の雑音除去装置1に異音検出部9を追加して構成している。以下では、実施の形態1における雑音除去装置1の構成要素と同一または相当する部分には、実施の形態1で使用した符号と同一の符号を付して説明を省略または簡略化する。
雑音除去処理部5は、実施の形態1と同様に、マイクロホン2から入力された観測信号から雑音を除去した信号を除去し、目的音である監視対象機器103の動作音の音信号を得る。雑音除去処理部5は、雑音を除去した監視対象機器103の動作音の音信号を、出力信号として異音検出部9に出力する。
・参考文献1
特開2010−271073号公報
・参考文献2
特開2008−76246号公報
図12は、この発明の実施の形態3における雑音除去装置1Bの動作を示すフローチャートである。
以下では、実施の形態1における雑音除去装置1と同一のステップには、図8で示した符号と同一の符号を付し、説明を省略または簡略化する。
ステップST7において、IDFT部55が、出力信号スペクトルY(ω,τ)を離散逆フーリエ変換によって時間領域の出力信号y(t)に変換すると、当該出力信号y(t)を、異音検出部9に出力する。異音検出部9は、ステップST7で変換された出力信号y(t)の周波数を予め設定された閾値と比較して異音であるか否かの判定を行う(ステップST21)。異音検出部9は、異音であるか否かの判定結果を、検出結果として機器制御装置(図示しない)等に出力する(ステップST22)。その後、フローチャートはステップST1の処理に戻り、上述した処理を繰り返す。
なお、上述したステップST21の異音検出部9の処理は一例であり、その他の異音検出処理を適用することが可能である。
また、異音検出部9が異音を検出した場合に、例えば監視対象機器103を自動的に停止させる制御を行う、警報またはメール等により作業者に監視対象機器103の不具合を通知する制御を行うことができる。これにより、監視対象機器103が動作に不安定な状態で長時間稼動することを防止することができる。
この実施の形態4では、目的音源と雑音源の存在する範囲が移動し得る状況において、精度よく雑音除去するためのマイクロホン2の配置について説明する。
図13は、この発明の実施の形態4における雑音除去装置1のマイクロホン2と、目的音源Aと雑音源B1,B2との位置関係を示す図である。図13Aは、目的音源Aと雑音源B1,B2が存在し得る範囲とマイクロホンアレイ3の位置関係を示す図である。図13Bは、マイクロホンアレイ3を構成する3個のマイクロホン2a,2b,2cの位置関係を示す図である。図13Cは、マイクロホン2a,2b,2cと、目的音源Aと、雑音源B1,B2との位置関係を示す図である。
同様に、交点Kと、マイクロホン2aの中心と、マイクロホン2cの中心とを結んで形成される三角形は、交点Kとマイクロホン2aの中心とを結ぶ線分の長さと、交点Kとマイクロホン2cの中心とを結ぶ線分の長さとが等しい二等辺三角形となる。
図13Cで示すように、マイクロホン2aと、マイクロホン2bとを結ぶ第1の線分10の中点を、中点11とする。マイクロホン2aと、マイクロホン2bと、目的音源Aと、雑音源B1とを通る平面12において、第1の線分10を垂直に二等分する垂直二等分線13が、目的音源Aと中点11とを結ぶ第2の線分14と、雑音源B1と中点11とを結ぶ第3の線分15とがなす角θ5の二等分線に一致する。
Claims (5)
- 音信号を観測する複数の音響センサを有する音響センサアレイと、
前記複数の音響センサが観測した音信号から、雑音を除去して目的音を取得する雑音除去処理部とを備え、
前記複数の音響センサのうち、互いに隣接する2個の前記音響センサは、当該2個の音響センサと、前記目的音を発生する目的音源と、前記雑音を発生する雑音源とを含む平面において、前記2個の音響センサを結ぶ第1の線分の垂直二等分線が、前記目的音源と前記第1の線分の中点とを結ぶ第2の線分と、前記雑音源と前記第1の線分の中点とを結ぶ第3の線分とのなす角の二等分線に、一致する配置関係を有し、
前記雑音除去処理部は、前記配置関係を有する前記音響センサの観測信号を用いて前記雑音を除去する雑音除去装置。 - 前記音響センサは、話者の通話音声の音信号を観測し、
前記雑音除去処理部が取得した前記目的音から、前記通話音声の残留エコー成分を除去するエコーキャンセリング部を備えたことを特徴とする請求項1記載の雑音除去装置。 - 前記音響センサは、監視対象機器の動作音の音信号を観測し、
前記雑音除去処理部が取得した前記目的音を参照し、前記監視対象機器で発生する異音を検出する異音検出部を備えたことを特徴とする請求項1記載の雑音除去装置。 - 音信号を観測する3以上の音響センサを有する音響センサアレイと、
前記音響センサが観測した音信号から、雑音を除去して目的音を取得する雑音除去処理部とを備え、
前記音響センサのうち、隣接する3個の前記音響センサが位置する平面において前記目的音を発生する目的音源が存在し得る範囲である目的音源方向範囲と、前記雑音を発生させる雑音源が存在し得る範囲である雑音源方向範囲との境界を示す2本の境界線がなす角の二等分線上に第1の音響センサを配置し、前記2本の境界線のそれぞれの線上に第2の音響センサおよび第3の音響センサを配置し、
前記2本の境界線がなす角の二等分線上に前記目的音源が位置し、前記2本の境界線上のそれぞれに前記雑音源が位置した場合に、
前記第1の音響センサ、前記第2の音響センサおよび前記第3の音響センサは、互いに隣接する2個の音響センサと、前記目的音源と、前記雑音源とを含む平面において、前記2個の音響センサを結ぶ第1の線分の垂直二等分線が、前記目的音源と前記第1の線分の中点とを結ぶ第2の線分と、前記雑音源と前記第1の線分の中点とを結ぶ第3の線分とのなす角の二等分線に一致する配置関係を有し、
前記雑音除去処理部は、前記配置関係を有する前記音響センサの観測信号を用いて前記雑音を除去する雑音除去装置。 - 音響センサアレイを構成する互いに隣接する2個の音響センサと、目的音を発生する目的音源と、雑音を発生する雑音源とを含む平面において、前記2個の音響センサを結ぶ第1の線分の垂直二等分線が、前記目的音源と前記第1の線分の中点とを結ぶ第2の線分と、前記雑音源と前記第1の線分の中点とを結ぶ第3の線分とのなす角の二等分線と一致する配置関係で、前記2個の音響センサを配置するステップと、
前記2個の音響センサが音信号を観測するステップと、
雑音除去処理部が、前記観測された音信号から、前記配置関係を有する前記音響センサの観測信号を用いて前記雑音を除去して前記目的音を取得するステップとを備えた雑音除去方法。
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