JP6632484B2

JP6632484B2 - 光受信回路及びレーザレーダ装置

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Publication number: JP6632484B2
Application number: JP2016132445A
Authority: JP
Inventors: 勝治今城; 暁人平井; 秀伸辻
Original assignee: Mitsubishi Electric Corp
Current assignee: Mitsubishi Electric Corp
Priority date: 2016-07-04
Filing date: 2016-07-04
Publication date: 2020-01-22
Anticipated expiration: 2036-07-04
Also published as: JP2018004471A

Description

本発明は、外部空間内の物体で反射された反射レーザ光を受信し、その受信結果を基に当該物体を検出する技術に関するものである。

レーザ光で空間を走査して当該空間内の対象物体すなわちターゲットからの反射レーザ光を受信し、その受信結果に基づき、当該ターゲットまでの距離、反射強度分布または当該ターゲットの特性などの情報を測定するレーザレーダ装置が知られている。このようなレーザレーダ装置に関する従来技術は、たとえば、特許文献１（特開２０１１−２３９３２９号公報）に開示されている。

特許文献１に開示されているレーザレーダ装置は、受信回路と、この受信回路の出力信号を用いてターゲットに関する演算を行うレーダ演算部とを備えている。この受信回路は、ターゲットで反射されたレーザパルスを受信する複数の受信部と、これら受信部の出力信号をそれぞれ増幅する複数の増幅器と、これら増幅器の出力信号をそれぞれ入力とする複数のスイッチと、これらスイッチから出力された信号を加算してレーダ演算部に出力する加算回路と、これらスイッチの動作を制御する信号をそれぞれ出力する複数の比較器とを備えている。各比較器は、対応する受信部の出力信号の電圧を所定の閾値電圧と比較し、その電圧が閾値電圧以上であれば、対応するスイッチをオン状態にする信号を出力し、その電圧が閾値電圧未満であれば、対応するスイッチをオフ状態にする信号を出力する。増幅器から出力された増幅信号の電圧が閾値電圧未満であれば、その増幅器に対応するスイッチは、オフ状態となり、当該増幅信号を加算回路に供給しない。このとき、当該増幅信号に含まれる雑音成分は、加算回路による加算処理を受けないことから、加算回路の出力信号のＳＮ比の低下を防止することが可能となる。

特開２０１１−２３９３２９号公報（たとえば、図１及び段落００２０〜００２５）

しかしながら、特許文献１に開示されているレーザレーダ装置は、受信回路に入射した外乱光成分を誤って検出し、その検出結果に基づいてターゲットに関する演算（たとえば、測距演算）を誤って実行するという課題がある。

たとえば、上記した複数の受信部の１つに、外乱光成分が重畳されたレーザパルスが入力されたとき、当該受信部に対応する増幅器から出力された増幅信号は、その外乱光成分に起因して閾値電圧以上の電圧を有する場合が起こり得る。このとき、当該比較器の出力信号は、対応するスイッチをオン状態にするので、当該スイッチは、当該増幅信号に所望の反射信号成分が含まれていない場合であっても、その増幅信号を遮断することができずに加算回路に供給してしまう。よって、その増幅信号に含まれる外来光成分は、加算回路による加算処理を受けることから、誤検出を生じさせるおそれがある。

上記に鑑みて本発明の目的は、外乱光成分を受信する環境下でも誤検出を防止することができる光受信回路及びレーザレーダ装置を提供することである。

本発明の一態様による光受信回路は、レーザ光を用いた外部空間の走査に応じて前記外部空間内の対象物体で反射された反射レーザ光を受信する光受信回路であって、前記反射レーザ光を集光させる受信光学系と、前記受信光学系により集光された反射レーザ光を光電変換してＮチャンネル（Ｎは２以上の整数）の検出信号を出力する一群の受光素子を含むアレイ受光器と、前記Ｎチャンネルの検出信号の中から、前記アレイ受光器の受光面のうち前記レーザ光の照射方向に対応する結像位置の予測範囲内に配置された複数の受光素子から出力された複数の検出信号を選択し、当該選択された複数の検出信号を互いに加算して受信信号を出力する加算回路と、前記レーザ光の照射方向を定める走査制御信号に基づいて、前記Ｎチャンネルの検出信号の中から前記複数の検出信号を選択させる加算制御信号を生成し、前記加算制御信号を前記加算回路に供給する加算制御回路とを備え、前記加算制御回路は、前記走査制御信号の信号値を、互いに異なる複数の比較範囲を定める閾値群と比較し、当該比較結果に応じた複数の信号レベルをそれぞれ有する複数の制御信号を前記加算制御信号として生成し、前記加算回路は、前記加算制御信号に従って前記Ｎチャンネルの検出信号の中から前記複数の検出信号を選択することを特徴とする。

本発明によれば、外乱光成分を受信する環境下でも、誤検出を防止することができる。

本発明に係る実施の形態１のレーザレーダ装置の構成を概略的に示す図である。実施の形態１における時間計測回路の構成例を概略的に示す図である。実施の形態１における信号処理部の構成例を概略的に示す図である。実施の形態１における加算回路の構成例を概略的に示す図である。図５Ａは、走査制御信号の信号波形の一例を示す図であり、図５Ｂ〜図５Ｆは、選択制御信号の波形例を示すタイミングチャートである。図６Ａ〜図６Ｆは、加算回路の動作を説明するための図である。本発明に係る実施の形態２における加算回路の構成例を概略的に示す図である。本発明に係る実施の形態３における加算回路の構成例を概略的に示す図である。本発明に係る実施の形態４における加算回路の構成例を概略的に示す図である。本発明に係る実施の形態５のレーザレーダ装置の構成を概略的に示す図である。実施の形態５における加算回路の構成例を概略的に示す図である。本発明に係る実施の形態６のレーザレーダ装置の構成を概略的に示す図である。実施の形態６における加算回路の構成例を概略的に示す図である。図１４Ａ〜図１４Ｅは、加算回路の動作を説明するための図である。

以下、図面を参照しつつ、本発明に係る種々の実施の形態について詳細に説明する。なお、図面全体において同一符号を付された構成要素は、同一構成及び同一機能を有するものとする。

実施の形態１．
図１は、本発明に係る実施の形態１のレーザレーダ装置１の構成を概略的に示す図である。このレーザレーダ装置１は、レーザ光を用いた外部空間の走査を行う光送信回路と、その走査に応じて当該外部空間内の対象物体ＯＢＪで反射された反射レーザ光を受信する光受信回路と、当該受信結果に基づいて対象物体ＯＢＪまでの距離を測定する測距部とを備えている。

具体的には、図１に示されるようにレーザレーダ装置１は、単一の中心波長を有するレーザパルスを出力するレーザ光源１３と、このレーザ光源１３から入射されたレーザパルスの形を整形して所定ビーム形状のレーザ光を出力する送信光学系１４と、このレーザ光で外部空間を走査するスキャナ１５と、レーザ光ＬＴの照射方向を定める走査制御信号ＳＣを生成する走査駆動制御回路１１と、レーザ光源１３の動作を制御するレーザ制御回路１２とを備えている。本実施の形態の光送信回路は、これら走査駆動制御回路１１，レーザ制御回路１２，レーザ光源１３，送信光学系１４及びスキャナ１５によって構成される。

レーザ光源１３は、たとえば、半導体レーザ、ファイバレーザ（増幅媒質として光ファイバを使用する固体レーザの一種）もしくは光ファイバ以外の増幅媒質を使用する固体レーザ、または、これら半導体レーザ、ファイバレーザ及び固体レーザの中から選択された複数種の光源の組み合わせで構成可能である。レーザ制御回路１２は、走査制御信号ＳＣと同期して動作し、数ナノ秒〜数十ナノ秒の光パルス幅を作り出すためのレーザ制御信号ＬＣをレーザ光源１３に供給することができる。ここで、レーザ制御回路１２は、発光開始または発光のオン／オフなどを指定するＴＴＬ（Ｔｒａｎｓｉｓｔｏｒ−ＴｒａｎｓｉｓｔｏｒＬｏｇｉｃ）信号をレーザ光源１３に供給することにより、所定の光パルス幅及び所定の繰り返し周波数を有するレーザ光を発振させてもよい。

送信光学系１４は、レーザ光源１３から入射されたレーザパルスの形を光学的に整形して、スキャナ開口径以下のビーム径と最小のビーム拡がり角とを有するレーザ光を出力することができる。送信光学系１４の構成は、たとえば、光学レンズもしくはミラー、または光学レンズ及びミラーの組み合わせで実現可能である。

スキャナ１５は、走査制御信号ＳＣの信号値に応じた偏向角（走査角）の方向へレーザ光を偏向させて出力する。スキャナ１５の構成は、たとえば、ガルバノミラー、ポリゴンミラーもしくはＭＥＭＳ（ＭｉｃｒｏＥｌｅｃｔｒｏＭｅｃｈａｎｉｃａｌＳｙｓｔｅｍｓ）ミラー、または、ガルバノミラー，ポリゴンミラー及びＭＥＭＳミラーの中から選択された複数種の光反射部品の組み合わせで実現可能である。

またレーザレーダ装置１は、外部空間からの反射レーザ光を含む入射光を集光する受信光学系２１と、この受信光学系２１で集光された光を受光すなわち光電変換してＮチャンネル（Ｎは３以上の整数）のアナログ検出信号ＣＨ_１〜ＣＨ_Ｎからなる検出信号群ＣＨを出力するアレイ受光器２２と、この検出信号群ＣＨの中から選択された複数のアナログ検出信号を互いに加算してアナログ受信信号を生成し出力する加算回路２３と、当該アナログ受信信号にフィルタ処理を施してフィルタ信号ＦＳを出力するフィルタ２５とを備えている。本実施の形態の光受信回路は、これら受信光学系２１，アレイ受光器２２，加算回路２３及び加算制御回路２４によって構成される。

受信光学系２１は、外部空間からの入射光をアレイ受光器２２の受光面に集光させる機能を有する。受信光学系２１の集光機能は、たとえば、集光レンズもしくは集光ミラー、または光学レンズ及びミラーの組み合わせで実現可能である。

アレイ受光器２２の受光面は、所定のアレイ方向に沿って配列されたＮ個の受光素子Ｐ_１，Ｐ_２，…，Ｐ_Ｎを有し、各受光素子は、たとえば、フォトダイオード（ＰｈｏｔｏＤｉｏｄｅ，ＰＤ）、アバランシェフォトダイオード（ＡｖａｌａｎｃｈｅＰｈｏｔｏＤｉｏｄｅ，ＡＰＤ）または光電子増倍管などの光電変換素子で構成可能である。受光素子Ｐ_１，Ｐ_２，…，Ｐ_Ｎは、受信光学系２１により集光された入射光を光電変換してＮチャンネルのアナログ検出信号ＣＨ_１，ＣＨ_２，…，ＣＨ_Ｎをそれぞれ出力する。

スキャナ１５は、走査制御信号ＳＣに従って、互いに直交する２つの走査方向へレーザ光を２次元状に偏向させることができる。アレイ受光器２２の受光面（結像面）上では、レーザ光ＬＴの照射方向に対応する位置に反射レーザ光の集光スポット領域が形成される。本実施の形態のアレイ受光器２２は、２つの走査方向のうちの一方の走査方向が受光面上のアレイ方向と対応し、且つ当該２つの走査方向のうちの他方の走査方向が受光面上におけるアレイ方向に直交する方向と対応するように設計されている。対象物体ＯＢＪ上のレーザ光の照射点に対して、アレイ受光器２２での当該照射点の結像位置は、レーザ光ＬＴの照射方向と当該照射点までの距離とに基づいて予測可能である。よって、レーザレーダ装置１の設計段階またはレーザレーダ装置１を用いた実験を通じて、レーザ光ＬＴの照射方向に対応する結像位置の予測範囲を事前に把握することができる。

加算制御回路２４は、Ｎチャンネルのアナログ検出信号ＣＨ_１〜ＣＨ_Ｎの中から、アレイ受光器２２上の受光面のうちレーザ光ＬＴの照射方向に対応する結像位置の予測範囲内に配置された複数の受光素子から出力された複数のアナログ検出信号を選択させる加算制御信号ＣＬＫを加算回路２３に供給する。加算回路２３は、Ｎチャンネルのアナログ検出信号ＣＨ_１〜ＣＨ_Ｎの中から、加算制御信号ＣＬＫで指定された複数のアナログ検出信号を選択し、当該選択された複数のアナログ検出信号を互いに加算してアナログ受信信号を出力することができる。後述するように加算制御信号ＣＬＫは、Ｎチャンネルのアナログ検出信号ＣＨ_１，ＣＨ_２，…，ＣＨ_Ｎにそれぞれ対応するＮ個の選択制御信号ＣＬＫ_１，ＣＬＫ_２，…，ＣＬＫ_Ｎで構成されている。各選択制御信号は１ビット信号からなり、加算制御信号ＣＬＫはＮビット信号である。加算回路２３は、ｎ番目の選択制御信号ＣＬＫ_ｎの信号レベルが高レベル（ビット値が１）のときにｎ番目チャンネルのアナログ検出信号ＣＨ_ｎを選択し、選択制御信号ＣＬＫ_ｎの信号レベルが低レベル（ビット値が０）のときにはアナログ検出信号ＣＨ_ｎを選択しない。加算回路２３の構成と加算制御回路２４の構成については後述する。

フィルタ２５は、加算回路２３から入力されたアナログ受信信号にフィルタ処理を施すことにより、当該アナログ受信信号から雑音成分などの不要な周波数成分を減衰させる機能を有している。フィルタ２５は、たとえば、低域遮断フィルタもしくは高域遮断フィルタ、または、低域遮断フィルタ及び高域遮断フィルタの組み合わせで構成可能である。

図１に示されるようにレーザレーダ装置１は、更に、対象物体ＯＢＪ上の光照射点とレーザレーダ装置１との間のパルス状レーザ光の伝播時間に相当する計測値を示す計測信号ＴＳを生成する時間計測回路２６と、この計測信号ＴＳを基に測距データＲＤを算出する信号処理部２７とを備えている。本実施の形態の測距部は、これら時間計測回路２６及び信号処理部２７によって構成される。

時間計測回路２６は、レーザ制御回路１２から供給された基準トリガ信号ＴＲを用いて、フィルタ信号ＦＳを基に計測信号ＴＳを生成することができる。レーザ制御回路１２は、レーザパルスの出射タイミングと同期した基準トリガ信号ＴＲを生成し時間計測回路２６に供給している。時間計測回路２６は、レーザパルスの出射タイミングに対応する基準時間と反射レーザ光の受信時間との間の時間差またはこの時間差に相当する値を示す計測信号ＴＳを生成することができる。時間計測回路２６は、たとえば、時間振幅変換器（Ｔｉｍｅ−ｔｏ−ＡｍｐｌｉｔｕｄｅＣｏｎｖｅｒｔｅｒ，ＴＡＣ）または時間ディジタル変換器（ｔｉｍｅ−ｔｏ−ＤｉｇｉｔａｌＣｏｎｖｅｒｔｅｒ，ＴＤＣ）で構成可能である。

図２は、ＴＡＣ構成の時間計測回路２６の例を概略的に示す図である。図２に示される構成例では、時間計測回路２６は、フィルタ信号ＦＳの信号波形の強度ピークを検出するピーク検出器３０と、当該強度ピークの検出に応じてランプ電圧をサンプリングする検出器３１とを有する。検出器３１は、定電流源３２、キャパシタＣ１、サンプルホールド回路３３及びスイッチＳＷ１，ＳＷ２を有する。キャパシタＣ１の一端は、スイッチＳＷ１とサンプルホールド回路３３の入力端とにそれぞれ接続されており、キャパシタＣ１の他端は、電気的に接地されている。スイッチＳＷ２の一端はキャパシタＣ１の一端と接続され、スイッチＳＷ２の他端は電気的に接地されている。

スイッチＳＷ１は、パルス状の基準トリガ信号ＴＲが入力される期間だけ、オン状態となって定電流源３２をキャパシタＣ１の一端と電気的に接続する。このとき、スイッチＳＷ２がオフ状態の間、定電流源３２はキャパシタＣ１に電流を供給するので、サンプルホールド回路３３の入力端電圧は、経過時間とともに一定の率で上昇するランプ電圧となる。ピーク検出器３０が強度ピークの検出を示す信号を出力すると、サンプルホールド回路３３は、その信号に応じてランプ電圧をサンプリングし、当該サンプリングされたランプ電圧の値を計測値として有する計測信号ＴＳを出力する。スイッチＳＷ２は、外部の制御回路（たとえば、レーザ制御回路１２または走査駆動制御回路１１）から供給されたリセットパルスＲＳＴに応じてオン状態となり、キャパシタＣ１の蓄積電荷を放電する。

図１を参照すると、信号処理部２７は、走査制御信号ＳＣと同期して動作し、時間計測回路２６から供給された計測信号ＴＳを基に対象物体ＯＢＪ上の照射点までの距離を測定する測距機能を有している。図３は、信号処理部２７の構成例を概略的に示すブロック図である。図３に示されるように、信号処理部２７は、走査制御信号ＳＣ及び計測信号ＴＳをそれぞれディジタル信号に変換するＡ／Ｄ変換器３５と、このＡ／Ｄ変換器３５の出力に基づいて対象物体ＯＢＪ上の照射点までの距離を測定する距離演算部３６とを有する。今、対象物体ＯＢＪ上の照射点までの距離をＲ（単位：メートル）とし、レーザレーダ装置１と当該照射点との間のレーザ光の伝播時間をΔｔ（単位：秒）とし、光速度をｃ（単位：メートル／秒）とする。このとき、距離演算部３６は、計測信号ＴＳに基づいて伝播時間Δｔを算出し、次式（１）に従って対象物体ＯＢＪ上の照射点までの距離Ｒを算出することができる。
Ｒ＝ｃ×Δｔ／２（１）

図２に示したようなＴＡＣ構成の時間計測回路２６が使用される場合には、距離演算部３６は、当該サンプリングされたランプ電圧の計測値を用いて伝播時間Δｔを算出することができる。

信号処理部２７の構成は、たとえば、マイクロコンピュータなどのＣＰＵ（ＣｅｎｔｒａｌＰｒｏｃｅｓｓｉｎｇＵｎｉｔ）内蔵のコンピュータで実現可能である。あるいは、信号処理部２７の構成は、ＤＳＰ（ＤｉｇｉｔａｌＳｉｇｎａｌＰｒｏｃｅｓｓｏｒ）、ＡＳＩＣ（ＡｐｐｌｉｃａｔｉｏｎＳｐｅｃｉｆｉｃＩｎｔｅｇｒａｔｅｄＣｉｒｃｕｉｔ）もしくはＦＰＧＡ（Ｆｉｅｌｄ−ＰｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅＧａｔｅＡｒｒａｙ）またはこれらの組み合わせなどの信号処理回路で実現されてもよい。

次に、図４及び図５を参照しつつ、加算回路２３及び加算制御回路２４の構成について説明する。図４は、実施の形態１における加算回路２３の構成例を概略的に示す図である。ここで、図４の構成は、アレイ受光器２２の受光素子Ｐ_１〜Ｐ_Ｎが一方向（図４に示した垂直方向）のみに配列されている場合の構成である。

図４を参照すると、加算回路２３は、加算制御回路２４から供給されたＮ個の選択制御信号ＣＬＫ_１，ＣＬＫ_２，…，ＣＬＫ_Ｎをそれぞれ入力とする電圧レベル変換器４０_１，４０_２，…，４０_Ｎと、アレイ受光器２２から供給されたＮチャンネルのアナログ検出信号ＣＨ_１，ＣＨ_２，…，ＣＨ_Ｎをそれぞれ入力とするＮ個の電流電圧変換器４１_１，４１_２，…，４１_Ｎと、これら電流電圧変換器４１_１，４１_２，…，４１_Ｎにそれぞれ対応して設けられた接続スイッチ４４_１，４４_２，…，４４_Ｎと、これら接続スイッチ４４_１，４４_２，…，４４_Ｎから選択的に出力されたＭチャンネル（Ｍは、Ｎ未満の正整数）のアナログ検出信号を互いに加算してアナログ受信信号を生成する信号加算器４９とを備えている。

また、加算回路２３は、電流電圧変換器４１_１，４１_２，…，４１_Ｎの出力信号の信号レベルをそれぞれ閾値レベルＶ_ＴＨと比較する制御比較器４２_１，４２_２，…，４２_Ｎと、これら制御比較器４２_１，４２_２，…，４２_Ｎにそれぞれ対応して設けられた制御スイッチ４３_１，４３_２，…，４３_Ｎとを備える。制御スイッチ４３_１〜４３_Ｎは、接続スイッチ４４_１〜４４_Ｎにそれぞれ対応して設けられており、接続スイッチ４４_１〜４４_Ｎのスイッチング状態をそれぞれ制御することができる。

電流電圧変換器４１_１〜４１_Ｎの各々は、たとえば、トランスインピーダンスアンプ（ＴＩＡ）で構成されればよい。また、接続スイッチ４４_１〜４４_Ｎ及び制御スイッチ４３_１〜４３_Ｎの各々は、たとえば、ＭＯＳ（Ｍｅｔａｌ−ＯｘｉｄｅＳｅｍｉｃｏｎｄｕｃｔｏｒ）スイッチで構成されればよい。

電流電圧変換器４１_１〜４１_Ｎは、Ｎチャンネルのアナログ検出信号ＣＨ_１〜ＣＨ_ＮをＮチャンネルのアナログ電圧信号にそれぞれ変換し、これらＮチャンネルのアナログ電圧信号を接続スイッチ４４_１〜４４_Ｎの入力端にそれぞれ出力する。同時に、Ｎチャンネルのアナログ電圧信号は、分岐して、制御比較器４２_１〜４２_Ｎにもそれぞれ入力される。

制御比較器４２_１〜４２_Ｎは、Ｎチャンネルのアナログ電圧信号の信号レベル（電圧値）を閾値レベルＶ_ＴＨと比較し、当該比較結果に応じたＮ個のスイッチング制御信号を制御スイッチ４３_１〜４３_Ｎにそれぞれ出力する。すなわち、ｎ番目の制御比較器４２_ｎは、ｎ番目の電流電圧変換器４１_ｎから入力されたアナログ電圧信号の信号レベルを閾値レベルＶ_ＴＨと比較する。この制御比較器４２_ｎは、当該信号レベルが閾値レベルＶ_ＴＨ以上であるときは、当該制御比較器４２_ｎに対応する接続スイッチ４４_ｎをオン状態にする高レベル（ＨＩＧＨ）のスイッチング制御信号を、制御スイッチ４３_ｎの入力端に供給する。一方、電流電圧変換器４１_ｎから入力されたアナログ電圧信号の信号レベルが閾値レベルＶ_ＴＨ未満であるとき、制御比較器４２_ｎは、接続スイッチ４４_ｎをオフ状態にする低レベル（ＬＯＷ）のスイッチング制御信号を、制御スイッチ４３_ｎの入力端に供給する。

電圧レベル変換器４０_１〜４０_Ｎは、制御スイッチ４３_１〜４３_Ｎにそれぞれ対応して設けられている。ｎ番目の電圧レベル変換器４０_ｎは、入力された選択制御信号ＣＬＫ_ｎの信号レベルが高レベル（ＨＩＧＨ）のとき、この選択制御信号ＣＬＫ_ｎを、制御スイッチ４３_ｎをオン状態にするスイッチング制御信号に変換し、このスイッチング制御信号を制御スイッチ４３_ｎの被制御端に供給する。このとき、制御スイッチ４３_ｎは、制御比較器４２_ｎの出力端と接続スイッチ４４_ｎの被制御端との間の信号経路を電気的に接続するオン状態となるように制御される。オン状態の制御スイッチ４３_ｎは、制御比較器４２_ｎから入力された高レベルまたは低レベルのスイッチング制御信号を接続スイッチ４４_ｎの被制御端に供給する。

一方、電圧レベル変換器４０_ｎは、入力された選択制御信号ＣＬＫ_ｎの信号レベルが低レベル（ＬＯＷ）のとき、この選択制御信号ＣＬＫ_ｎを、制御スイッチ４３_ｎをオフ状態にするスイッチング制御信号に変換し、このスイッチング制御信号を制御スイッチ４３_ｎの被制御端に供給する。このとき、制御スイッチ４３_ｎは、制御比較器４２_ｎの出力端と接続スイッチ４４_ｎの被制御端との間の信号経路を電気的に遮断するオフ状態となるように制御される。オフ状態の制御スイッチ４３_ｎは、制御比較器４２_ｎから入力されたスイッチング制御信号を接続スイッチ４４_ｎの被制御端に出力しない。このとき、接続スイッチ４４_ｎのスイッチング状態は、電流電圧変換器４１_ｎと信号加算器４９との間の信号経路を遮断するオフ状態となる。よって、制御スイッチ４３_ｎのスイッチング状態がオフ状態のとき、この制御スイッチ４３_ｎに対応する接続スイッチ４４_ｎのスイッチング状態もオフ状態である。

したがって、高レベルの選択制御信号ＣＬＫ_ｎが入力されている場合、電流電圧変換器４１_ｎのアナログ電圧出力の信号レベルが閾値レベルＶ_ＴＨ以上であるときは、電流電圧変換器４１_ｎのアナログ電圧出力が信号加算器４９に入力される。高レベルの選択制御信号ＣＬＫ_ｎが入力されている場合でも、電流電圧変換器４１_ｎのアナログ電圧出力の信号レベルが閾値レベルＶ_ＴＨ未満であるときは、信号加算器４９への電流電圧変換器４１_ｎのアナログ電圧出力は遮断される。一方、低レベルの選択制御信号ＣＬＫ_ｎが入力されている場合には、信号加算器４９への電流電圧変換器４１_ｎのアナログ電圧出力は遮断される。

加算制御回路２４は、アレイ受光器２２上の受光面のうちレーザ光ＬＴの照射方向に対応する結像位置の予測範囲内に配置された受光素子から出力された複数のアナログ検出信号を選択させる選択制御信号ＣＬＫ_１〜ＣＬＫ_Ｎ（加算制御信号ＣＬＫ）を生成する。選択制御信号ＣＬＫ_１〜ＣＬＫ_Ｎの信号レベルの組み合わせにより、所望のアナログ検出信号を選択することが可能である。

より具体的には、加算制御回路２４は、走査制御信号ＳＣの信号値をＮ個の比較範囲Δ_１，Δ_２，…，Δ_Ｎを定める閾値群と比較し、当該比較結果に応じたＮ個の信号レベルを有する選択制御信号ＣＬＫ_１，ＣＬＫ_２，…，ＣＬＫ_Ｎを生成することができる。各比較範囲Δ_ｎは、少なくとも１つの、上限閾値と下限閾値との組で定められる。

図５Ａは、走査制御信号ＳＣの信号波形の一例を示す図であり、図５Ｂ〜図５Ｆは、５個の選択制御信号ＣＬＫ_１〜ＣＬＫ_５の波形例を示すタイミングチャートである。図５Ａ〜図５Ｆの例では、走査制御信号ＳＣの波形は、のこりぎり波で構成されている。走査制御信号ＳＣの信号値（電圧値）が最低電圧Ｖ_ｔｈ０から最高電圧まで一定の率で上昇することが繰り返されている。

図５Ｂに示されるように選択制御信号ＣＬＫ_１の信号レベルは、走査制御信号ＳＣの信号値が下限閾値Ｖ_ｔｈ０と上限閾値Ｖ_ｔｈ３との間（下限閾値Ｖ_ｔｈ０以上で且つ上限閾値Ｖ_ｔｈ３以下）であるときに高レベルとなり、図５Ｃに示されるように選択制御信号ＣＬＫ_２の信号レベルは、走査制御信号ＳＣの信号値が下限閾値Ｖ_ｔｈ１と上限閾値Ｖ_ｔｈ４との間（下限閾値Ｖ_ｔｈ１以上で且つ上限閾値Ｖ_ｔｈ４以下）であるときに高レベルとなり、図５Ｄに示されるように、選択制御信号ＣＬＫ_３の信号レベルは、走査制御信号ＳＣの信号値が下限閾値Ｖ_ｔｈ２と上限閾値Ｖ_ｔｈ５との間（下限閾値Ｖ_ｔｈ２以上で且つ上限閾値Ｖ_ｔｈ５以下）であるときに高レベルとなり、図５Ｅに示されるように選択制御信号ＣＬＫ_４の信号レベルは、走査制御信号ＳＣの信号値が下限閾値Ｖ_ｔｈ３と上限閾値Ｖ_ｔｈ６との間（下限閾値Ｖ_ｔｈ２以上で且つ上限閾値Ｖ_ｔｈ５以下）であるときに高レベルとなる。そして、図５Ｆに示されるように選択制御信号ＣＬＫ_５の信号レベルは、走査制御信号ＳＣの信号値が下限閾値Ｖ_ｔｈ４以上あるいは上限閾値Ｖ_ｔｈ１以下であるときに高レベルとなる。したがって、時間帯ごとに選択されるアナログ検出信号は、以下のようになる。

・時間帯ｔ_０〜ｔ_１：アナログ検出信号ＣＨ_１，ＣＨ_５
・時間帯ｔ_１〜ｔ_２：アナログ検出信号ＣＨ_１，ＣＨ_２
・時間帯ｔ_２〜ｔ_３：アナログ検出信号ＣＨ_２，ＣＨ_３
・時間帯ｔ_３〜ｔ_４：アナログ検出信号ＣＨ_３，ＣＨ_４
・時間帯ｔ_４〜ｔ_５：アナログ検出信号ＣＨ_４，ＣＨ_５
・時間帯ｔ_５〜ｔ_６：アナログ検出信号ＣＨ_４，ＣＨ_５

たとえば、レーザ光の走査角が走査制御信号ＳＣの信号値に対して線形となるようにスキャナ１５が構成されている場合、図５Ａに示したのこぎり波の振幅変化がアレイ受光器２２上の集光スポット領域（結像領域）の位置変化に対応する。加算制御回路２４は、走査制御信号ＳＣの信号値の変化に合わせて、選択制御信号ＣＬＫ_１，ＣＬＫ_２，…，ＣＬＫ_Ｎの信号レベルを切り替えることができる。

図６Ａ〜図６Ｄは、アナログ検出信号ＣＨ_１〜ＣＨ_４にそれぞれ対応するアナログ電圧信号の波形例をそれぞれ示すグラフである。図６Ａ及び図６Ｂには、対象物体ＯＢＪからの反射信号Ｒ１，Ｒ２がそれぞれ現れている。反射信号Ｒ１，Ｒ２は、いずれも閾値レベルＶ_ＴＨ以上の信号レベルを有する。また、図６Ｃには、閾値レベルＶ_ＴＨ未満の信号レベルを有するアンプ雑音成分のみが現れており、図６Ｄには、閾値レベルＶ_ＴＨ以上の信号レベルを有する外乱光成分が現れている。図６Ｅは、図６Ａ及び図６Ｂのアナログ電圧信号を加算して得られた加算信号波形を示すグラフであり、図６Ｆは、図６Ａ，図６Ｂ及び図６Ｄのアナログ電圧信号を加算して得られた加算信号波形を示すグラフである。

従来技術では、Ｎチャンネルのアナログ電圧信号のうち閾値レベルＶ_ＴＨ以上の信号レベルを有する信号波形がすべて加算されるので、図６Ｄの外乱光成分も加算対象となる。よって、従来技術では、図６Ｆに示した加算信号波形のうち閾値レベルＶ_ＴＨ以上の信号レベルを有する波形部分がアナログ受信信号波形として出力されてしまうが、これは誤検出の要因となる。これに対し、本実施の形態では、加算回路２３は、図６Ｄの外乱光成分を加算対象とせず、図６Ａ及び図６Ｂに示した信号波形のうち閾値レベルＶ_ＴＨ以上の信号レベルを有する反射信号Ｒ１，Ｒ２の波形部分のみを互いに加算してアナログ受信信号を生成する。すなわち、加算回路２３は、図６Ｅに示した加算信号波形のうち閾値レベルＶ_ＴＨ以上の信号レベルを有する波形部分のみをアナログ受信信号波形として出力する。このため、外乱光成分に起因する誤検出を防止することができる。また、加算回路２３は、反射信号Ｒ１，Ｒ２に重畳されている雑音成分以外の雑音成分を加算対象としないので、受信ＳＮ比の劣化を防止することもできる。

以上に説明したように実施の形態１のレーザレーダ装置１では、加算回路２３は、レーザ光ＬＴの照射方向に対応する結像位置の予測範囲内に配置された複数の受光素子から出力された複数のアナログ検出信号を選択し、当該選択されたアナログ検出信号を互いに加算してアナログ受信信号を出力するので、外乱光成分を受信する環境下でも、外来光成分の誤検出を防止することができ、受信ＳＮ比の劣化を防止することもできる。よって、測距精度を改善することが可能である。

なお、受光素子Ｐ_１〜Ｐ_Ｎが１次元配列されたアレイ受光器２２に代えて、受光素子が２次元状に配列されたアレイ受光器が使用されてもよい。この場合、２つのアレイ方向にそれぞれ対応する２つの走査方向に対する加算制御信号が生成されればよい。

また、本実施の形態では、制御比較器４２_１〜４２_Ｎの閾値レベルＶ_ＴＨはすべて同一レベルであるが、これに限定されるものではない。アレイ受光器２２の受光素子Ｐ_１〜Ｐ_Ｎのそれぞれの特性に合わせて、制御比較器４２_１〜４２_Ｎの閾値レベルが個別に設定されてもよい。

実施の形態２．
図７は、本発明に係る実施の形態２における加算回路２３Ａの構成を概略的に示す図である。実施の形態２のレーザレーダ装置の構成は、図１の加算回路２３に代えて図７の加算回路２３Ａを有する点を除いて、上記実施の形態１のレーザレーダ装置１の構成と同じである。

図７に示されるように加算回路２３Ａは、実施の形態１の加算回路２３と同様に、電圧レベル変換器４０_１，４０_２，…，４０_Ｎ、電流電圧変換器４１_１，４１_２，…，４１_Ｎ、制御比較器４２_１，４２_２，…，４２_Ｎ、接続スイッチ４４_１，４４_２，…４４_Ｎ、及び信号加算器４９を備えている。本実施の形態の加算回路２３Ａは、接続スイッチ４４_１，４４_２，…４４_Ｎにそれぞれ対応して設けられた後段スイッチ４５_１，４５_２，…４５_Ｎを備える。信号加算器４９は、これら後段スイッチ４５_１，４５_２，…４５_Ｎから選択的に出力されたＭチャンネル（Ｍは、Ｎ未満の正整数）のアナログ検出信号を互いに加算してアナログ受信信号を生成することができる。後段スイッチ４５_１〜４５_Ｎは、接続スイッチ４４_１〜４４_Ｎと同様に、たとえば、ＭＯＳ（Ｍｅｔａｌ−ＯｘｉｄｅＳｅｍｉｃｏｎｄｕｃｔｏｒ）スイッチで構成されればよい。

電流電圧変換器４１_１〜４１_Ｎは、Ｎチャンネルのアナログ電圧信号を接続スイッチ４４_１〜４４_Ｎの入力端にそれぞれ出力する。同時に、Ｎチャンネルのアナログ電圧信号は、分岐して、制御比較器４２_１〜４２_Ｎにもそれぞれ入力される。

制御比較器４２_１〜４２_Ｎは、Ｎチャンネルのアナログ電圧信号の信号レベル（電圧値）を閾値レベルＶ_ＴＨと比較し、当該比較結果に応じたＮ個のスイッチング制御信号を接続スイッチ４４_１〜４４_Ｎにそれぞれ出力する。すなわち、ｎ番目の制御比較器４２_ｎは、ｎ番目の電流電圧変換器４１_ｎから入力されたアナログ電圧信号の信号レベルを閾値レベルＶ_ＴＨと比較する。この制御比較器４２_ｎは、当該信号レベルが閾値レベルＶ_ＴＨ以上であるときは、当該制御比較器４２_ｎに対応する接続スイッチ４４_ｎをオン状態にする高レベル（ＨＩＧＨ）のスイッチング制御信号を、接続スイッチ４４_ｎの被制御端に供給する。一方、電流電圧変換器４１_ｎから入力されたアナログ電圧信号の信号レベルが閾値レベルＶ_ＴＨ未満であるとき、制御比較器４２_ｎは、接続スイッチ４４_ｎをオフ状態にする低レベル（ＬＯＷ）のスイッチング制御信号を、接続スイッチ４４_ｎの被制御端に供給する。

電圧レベル変換器４０_１〜４０_Ｎは、後段スイッチ４５_１〜４５_Ｎにそれぞれ対応して設けられている。ｎ番目の電圧レベル変換器４０_ｎは、入力された選択制御信号ＣＬＫ_ｎの信号レベルが高レベル（ＨＩＧＨ）のとき、この選択制御信号ＣＬＫ_ｎを、後段スイッチ４５_ｎをオン状態にするスイッチング制御信号に変換し、このスイッチング制御信号を後段スイッチ４５_ｎの被制御端に供給する。このとき、後段スイッチ４５_ｎは、接続スイッチ４４_ｎの出力端と信号加算器４９の入力端との間の信号経路を電気的に接続するオン状態となるように制御される。オン状態の後段スイッチ４５_ｎは、接続スイッチ４４_ｎから入力されたアナログ電圧信号を信号加算器４９に出力する。

一方、電圧レベル変換器４０_ｎは、入力された選択制御信号ＣＬＫ_ｎの信号レベルが低レベル（ＬＯＷ）のとき、この選択制御信号ＣＬＫ_ｎを、後段スイッチ４５_ｎをオフ状態にするスイッチング制御信号に変換し、このスイッチング制御信号を後段スイッチ４５_ｎの被制御端に供給する。このとき、後段スイッチ４５_ｎは、接続スイッチ４４_ｎの出力端と信号加算器４９の入力端との間の信号経路を電気的に遮断するオフ状態となるように制御される。オフ状態の後段スイッチ４５_ｎは、接続スイッチ４４_ｎから入力されたアナログ電圧信号を信号加算器４９に出力しない。

以上に説明したように実施の形態２の加算回路２３Ａは、実施の形態１の加算回路２３と同様に、加算制御信号ＣＬＫに従って、レーザ光ＬＴの照射方向に対応する結像位置の予測範囲内に配置された複数の受光素子から出力された複数のアナログ検出信号を選択し、当該選択されたアナログ検出信号を互いに加算してアナログ受信信号を出力することができる。したがって、外乱光成分を受信する環境下でも、外来光成分の誤検出を防止することができ、受信ＳＮ比の劣化を防止することもできる。よって、測距精度を改善することが可能である。

実施の形態３．
図８は、本発明に係る実施の形態３における加算回路２３Ｂの構成を概略的に示す図である。実施の形態３のレーザレーダ装置の構成は、図１の加算回路２３に代えて図８の加算回路２３Ｂを有する点を除いて、上記実施の形態１のレーザレーダ装置１の構成と同じである。

図８に示されるように加算回路２３Ｂは、実施の形態１の加算回路２３と同様に、電流電圧変換器４１_１，４１_２，…，４１_Ｎ、接続スイッチ４４_１，４４_２，…４４_Ｎ、及び信号加算器４９を備えている。本実施の形態の加算回路２３Ｂは、加算制御信号ＣＬＫにより制御される制御比較器４２_１，４２_２，…，４２_Ｎを備える。選択制御信号ＣＬＫ_１〜ＣＬＫ_Ｎは、制御比較器４２_１〜４２_Ｎの電源をそれぞれオン／オフ制御する信号として使用される。

電流電圧変換器４１_１〜４１_Ｎは、Ｎチャンネルのアナログ電圧信号を接続スイッチ４４_１〜４４_Ｎの入力端にそれぞれ出力する。同時に、Ｎチャンネルのアナログ電圧信号は、分岐して、制御比較器４６_１〜４６_Ｎにもそれぞれ入力される。

ｎ番目の制御比較器４６_ｎは、選択制御信号ＣＬＫ_ｎの信号レベルが高レベルのときに動作状態となる。このとき、制御比較器４６_ｎは、電流電圧変換器４１_ｎから入力されたアナログ電圧信号の信号レベルを閾値レベルＶ_ＴＨと比較する。この制御比較器４２_ｎは、当該信号レベルが閾値レベルＶ_ＴＨ以上であるときは、当該制御比較器４２_ｎに対応する接続スイッチ４４_ｎをオン状態にする高レベル（ＨＩＧＨ）のスイッチング制御信号を、接続スイッチ４４_ｎの被制御端に供給する。一方、電流電圧変換器４１_ｎから入力されたアナログ電圧信号の信号レベルが閾値レベルＶ_ＴＨ未満であるとき、制御比較器４２_ｎは、接続スイッチ４４_ｎをオフ状態にする低レベル（ＬＯＷ）のスイッチング制御信号を、接続スイッチ４４_ｎの被制御端に供給する。一方、選択制御信号ＣＬＫ_ｎの信号レベルが低レベルのとき、制御比較器４６_ｎの電源はオフ状態となるので、制御比較器４６_ｎは非動作状態となる。

したがって、高レベルの選択制御信号ＣＬＫ_ｎが入力されている場合、制御比較器４６_ｎが動作するので、電流電圧変換器４１_ｎのアナログ電圧出力の信号レベルが閾値レベルＶ_ＴＨ以上であるときは、電流電圧変換器４１_ｎのアナログ電圧出力が信号加算器４９に入力される。高レベルの選択制御信号ＣＬＫ_ｎが入力されている場合でも、電流電圧変換器４１_ｎのアナログ電圧出力の信号レベルが閾値レベルＶ_ＴＨ未満であるときは、信号加算器４９への電流電圧変換器４１_ｎのアナログ電圧出力は遮断される。一方、低レベルの選択制御信号ＣＬＫ_ｎが入力されている場合には、制御比較器４６_ｎが動作せず、接続スイッチ４４_ｎはオフ状態となる。よって、信号加算器４９への電流電圧変換器４１_ｎのアナログ電圧出力は遮断される。

以上に説明したように実施の形態３の加算回路２３Ｂは、実施の形態１の加算回路２３と同様に、加算制御信号ＣＬＫに従って、レーザ光ＬＴの照射方向に対応する結像位置の予測範囲内に配置された複数の受光素子から出力された複数のアナログ検出信号を選択し、当該選択されたアナログ検出信号を互いに加算してアナログ受信信号を出力することができる。したがって、外乱光成分を受信する環境下でも、対象物体ＯＢＪからの反射信号の誤検出を防止することができ、受信ＳＮ比の劣化を防止することもできる。よって、測距精度を改善することが可能である。

また、本実施の形態では、制御比較器４６_１〜４６_Ｎの電源がオフ状態またはオン状態のいずれかに制御されるので、アイソレーションレベルを上げることができる。よって、アナログ受信信号における雑音成分の低減が可能となる。

実施の形態４．
図９は、本発明に係る実施の形態４における加算回路２３Ｃの構成を概略的に示す図である。実施の形態４のレーザレーダ装置の構成は、図１の加算回路２３に代えて図９の加算回路２３Ｃを有する点を除いて、上記実施の形態１のレーザレーダ装置１の構成と同じである。

図９に示されるように加算回路２３Ｃは、実施の形態１の加算回路２３と同様に、電流電圧変換器４１_１，４１_２，…，４１_Ｎ、制御比較器４２_１，４２_２，…，４２_Ｎ、接続スイッチ４４_１，４４_２，…４４_Ｎ、及び信号加算器４９を備えている。本実施の形態の加算回路２３Ｃは、加算制御信号ＣＬＫにより制御される増幅器４７_１〜４７_Ｎを備える。選択制御信号ＣＬＫ_１〜ＣＬＫ_Ｎは、増幅器４７_１〜４７_Ｎの電源をそれぞれオン／オフ制御する信号として使用される。

電流電圧変換器４１_１，４１_２，…，４１_Ｎは、Ｎチャンネルのアナログ電圧信号を増幅器４７_１，４７_２，…，４７_Ｎにそれぞれ出力する。ｎ番目の増幅器４７_ｎは、選択制御信号ＣＬＫ_ｎの信号レベルが高レベルのときに動作状態となる。このとき、増幅器４７_ｎは、電流電圧変換器４１_ｎから入力されたアナログ電圧信号を接続スイッチ４４_ｎと制御比較器４２_ｎとに供給する。制御比較器４２_ｎは、電流電圧変換器４１_ｎから入力されたアナログ電圧信号の信号レベルを閾値レベルＶ_ＴＨと比較する。この制御比較器４２_ｎは、当該信号レベルが閾値レベルＶ_ＴＨ以上であるときは、当該制御比較器４２_ｎに対応する接続スイッチ４４_ｎをオン状態にする高レベル（ＨＩＧＨ）のスイッチング制御信号を、接続スイッチ４４_ｎの被制御端に供給する。一方、電流電圧変換器４１_ｎから入力されたアナログ電圧信号の信号レベルが閾値レベルＶ_ＴＨ未満であるとき、制御比較器４２_ｎは、接続スイッチ４４_ｎをオフ状態にする低レベル（ＬＯＷ）のスイッチング制御信号を、接続スイッチ４４_ｎの被制御端に供給する。

一方、選択制御信号ＣＬＫ_ｎの信号レベルが低レベルのときは、増幅器４７_ｎの電源はオフ状態となるので、増幅器４７_ｎは非動作状態となる。このとき、増幅器４７_ｎは、電流電圧変換器４１_ｎから入力されたアナログ電圧信号の接続スイッチ４４_ｎへの出力を遮断し、当該アナログ電圧信号の制御比較器４２_ｎへの出力を遮断する。

したがって、高レベルの選択制御信号ＣＬＫ_ｎが入力されている場合、増幅器４７_ｎは、電流電圧変換器４１_ｎのアナログ電圧出力を接続スイッチ４４_ｎ及び制御比較器４２_ｎに供給するので、電流電圧変換器４１_ｎのアナログ電圧出力の信号レベルが閾値レベルＶ_ＴＨ以上であるときは、電流電圧変換器４１_ｎのアナログ電圧出力が信号加算器４９に入力される。高レベルの選択制御信号ＣＬＫ_ｎが入力されている場合でも、電流電圧変換器４１_ｎのアナログ電圧出力の信号レベルが閾値レベルＶ_ＴＨ未満であるときは、信号加算器４９への電流電圧変換器４１_ｎのアナログ電圧出力は遮断される。一方、低レベルの選択制御信号ＣＬＫ_ｎが入力されている場合には、増幅器４７_ｎは、電流電圧変換器４１_ｎのアナログ電圧出力を遮断するので、信号加算器４９にはアナログ電圧出力が供給されない。

以上に説明したように実施の形態４の加算回路２３Ｃは、実施の形態１の加算回路２３と同様に、加算制御信号ＣＬＫに従って、レーザ光ＬＴの照射方向に対応する結像位置の予測範囲内に配置された複数の受光素子から出力された複数のアナログ検出信号を選択し、当該選択されたアナログ検出信号を互いに加算してアナログ受信信号を出力することができる。したがって、外乱光成分を受信する環境下でも、対象物体ＯＢＪからの反射信号の誤検出を防止することができ、受信ＳＮ比の劣化を防止することもできる。よって、測距精度を改善することが可能である。

また、本実施の形態では、増幅器４７_１〜４７_Ｎの電源がオフ状態またはオン状態のいずれかに制御されるので、アイソレーションレベルを上げることができる。よって、アナログ受信信号における雑音成分の低減が可能となる。

実施の形態５．
図１０は、本発明に係る実施の形態５のレーザレーダ装置２の構成を概略的に示す図である。このレーザレーダ装置２の構成は、図１の加算回路２３及び加算制御回路２４に代えて図１０の加算回路２３Ｄを有する点を除いて、上記実施の形態１のレーザレーダ装置１の構成と同じである。

本実施の形態の加算回路２３Ｄは、加算制御信号ＣＬＫを使用せず、走査制御信号ＳＣを使用して、Ｎチャンネルのアナログ検出信号ＣＨ_１〜ＣＨ_Ｎの中から複数のアナログ検出信号を選択し、当該選択されたアナログ検出信号を互いに加算してアナログ受信信号を生成することができる。図１１は、実施の形態５における加算回路２３Ｄの構成例を概略的に示す図である。

図１１に示されるように加算回路２３Ｄは、実施の形態１の加算回路２３と同様に、電流電圧変換器４１_１，４１_２，…，４１_Ｎ、制御比較器４２_１，４２_２，…，４２_Ｎ、制御スイッチ４３_１，４３_２，…，４３_Ｎ、接続スイッチ４４_１，４４_２，…，４４_Ｎ、及び信号加算器４９を備えている。本実施の形態の加算回路２３Ｄは、制御スイッチ４３_１，４３_２，…，４３_Ｎにそれぞれ対応して設けられ且つＮ個の比較範囲Φ_１，Φ_２，…，Φ_Ｎを定めるＮ組の閾値をそれぞれ有する比較器４８_１，４８_２，…，４８_Ｎを備える。これら比較器４８_１，４８_２，…，４８_Ｎは、走査制御信号ＳＣの信号値をＮ組の閾値と比較し、その比較結果に応じたＮ個の比較信号をスイッチング制御信号として生成する。そして、比較器４８_１，４８_２，…，４８_Ｎは、Ｎ個の比較信号を制御スイッチ４３_１，４３_２，…，４３_Ｎの被制御端にそれぞれ供給する。

ｎ番目の比較器４８_ｎには、比較範囲Φ_ｎを定める下限閾値ＶＬ_ｎ及び上限閾値ＶＵ_ｎの組が設定されている。比較器４８_ｎは、走査制御信号ＳＣの信号値が下限閾値ＶＬ_ｎ以上で且つ上限閾値ＶＵ_ｎ未満のときは、制御スイッチ４３_ｎをオン状態にする高レベル（ＨＩＧＨ）の比較信号をその制御スイッチ４３_ｎの被制御端に供給する。一方、走査制御信号ＳＣの信号値が下限閾値ＶＬ_ｎ未満もしくは上限閾値ＶＵ_ｎ以上のときは、制御スイッチ４３_ｎをオフ状態にする低レベル（ＬＯＷ）の比較信号をその制御スイッチ４３_ｎの被制御端に供給する。図１１の例では、たとえば、比較器４８_１には、比較範囲Φ_１を定める下限閾値Ｖ_ｔｈ０（＝ＶＬ_１）及び上限閾値Ｖ_ｔｈ３（＝ＶＵ_１）の組が設定されており、比較器４８_２には、比較範囲Φ_２を定める下限閾値Ｖ_ｔｈ１（＝ＶＬ_２）及び上限閾値Ｖ_ｔｈ４（＝ＶＵ_２）の組が設定されている。

したがって、比較器４８_ｎの出力の信号レベルが高レベルとなる場合、制御スイッチ４３_ｎはオン状態となる。この場合、電流電圧変換器４１_ｎのアナログ電圧出力の信号レベルが閾値レベルＶ_ＴＨ以上であるときは、電流電圧変換器４１_ｎのアナログ電圧出力が信号加算器４９に入力される。比較器４８_ｎの出力の信号レベルが高レベルとなる場合でも、電流電圧変換器４１_ｎのアナログ電圧出力の信号レベルが閾値レベルＶ_ＴＨ未満であるときは、接続スイッチ４４_ｎは、信号加算器４９への電流電圧変換器４１_ｎのアナログ電圧出力を遮断する。一方、比較器４８_ｎの出力の信号レベルが低レベルとなる場合、制御スイッチ４３_ｎはオフ状態となる。この場合、接続スイッチ４４_ｎは、信号加算器４９への電流電圧変換器４１_ｎのアナログ電圧出力を遮断する。

比較器４８_１〜４８_ＮにそれぞれＮ組の閾値を設定することにより、実施の形態５の加算回路２３Ｄは、レーザ光ＬＴの照射方向に対応する結像位置の予測範囲内に配置された複数の受光素子から出力された複数のアナログ検出信号を選択することができる。よって、加算回路２３Ｄは、当該選択されたアナログ検出信号を互いに加算してアナログ受信信号を出力することができる。したがって、外乱光成分を受信する環境下でも、対象物体ＯＢＪからの反射信号の誤検出を防止することができ、受信ＳＮ比の劣化を防止することもできる。よって、測距精度を改善することが可能である。

実施の形態６．
図１２は、本発明に係る実施の形態６のレーザレーダ装置３の構成を概略的に示す図である。このレーザレーダ装置３の構成は、図１の加算回路２３及び加算制御回路２４に代えて図１２の加算回路２３Ｋを有する点を除いて、上記実施の形態１のレーザレーダ装置１の構成と同じである。図１３は、実施の形態６における加算回路２３Ｋの構成例を概略的に示す図である。

図１３に示されるように加算回路２３Ｋは、実施の形態１の加算回路２３と同様に、電流電圧変換器４１_１，４１_２，…，４１_Ｎ、接続スイッチ４４_１，４４_２，…４４_Ｎ、及び信号加算器４９を備えている。本実施の形態の加算回路２３Ｋは、接続スイッチ４４_１，４４_２，…，４４_Ｎにそれぞれ対応して設けられた制御比較回路５０_１，５０_２，…，５０_Ｎを備える。

電流電圧変換器４１_１〜４１_Ｎは、Ｎチャンネルのアナログ電圧信号を接続スイッチ４４_１〜４４_Ｎの入力端にそれぞれ出力する。同時に、Ｎチャンネルのアナログ電圧信号は、分岐して、制御比較回路５０_１〜５０_Ｎにもそれぞれ入力される。これら制御比較回路５０_１〜５０_Ｎは、Ｎチャンネルの電圧信号の信号レベルをＮ個の比較範囲Ω_１〜Ω_Ｎを定めるＮ組の閾値と比較し、当該比較結果に応じたＮ個のスイッチング制御信号をそれぞれ出力する機能を有する。これらＮ個のスイッチング制御信号は、接続スイッチ４４_１〜４４_Ｎの被制御端にそれぞれ供給される。

ｎ番目の制御比較回路５０_ｎには、比較範囲Ω_ｎを定める下限閾値Ｖ_Ｌ及び上限閾値Ｖ_Ｈの組が設定されている。制御比較回路５０_ｎは、入力された電圧信号の信号レベルを下限閾値Ｖ_Ｌ及び上限閾値Ｖ_Ｈと比較し、当該信号レベルが下限閾値Ｖ_Ｌ以上で且つ上限閾値Ｖ_Ｈ未満であれば、接続スイッチ４４_ｎをオン状態にする高レベルのスイッチング制御信号をその接続スイッチ４４_ｎの被制御端に供給する。一方、当該信号レベルが下限閾値Ｖ_Ｌ未満もしくは上限閾値Ｖ_Ｈ以上であれば、接続スイッチ４４_ｎをオフ状態にする低レベルのスイッチング制御信号をその接続スイッチ４４_ｎの被制御端に供給する。

したがって、制御比較回路５０_ｎの出力の信号レベルが高レベルとなる場合、接続スイッチ４４_ｎはオン状態となる。この場合、電流電圧変換器４１_ｎのアナログ電圧出力が信号加算器４９に入力される。一方、制御比較回路５０_ｎの出力の信号レベルが低レベルとなる場合、接続スイッチ４４_ｎは、信号加算器４９への電流電圧変換器４１_ｎのアナログ電圧出力を遮断する。

このような制御比較回路５０_ｎは、図１３に示されるように比較回路５１_ｎ及び比較器５２_ｎで構成可能である。比較回路５１_ｎは、電流電圧変換器４１_ｎから入力されたアナログ電圧信号の信号レベルを下限閾値Ｖ_Ｌと比較し、当該信号レベルが下限閾値Ｖ_Ｌ以上であれば、入力されたアナログ電圧信号を比較器５２_ｎに出力する。一方、当該信号レベルが下限閾値Ｖ_Ｌ未満であれば、入力されたアナログ電圧信号を出力せずに、あらかじめ設定された基準電圧信号を比較器５２_ｎに出力する。基準電圧信号の信号レベルは、上限閾値Ｖ_Ｈを超えるレベルに設定されている。比較器５２_ｎは、その基準電圧信号が入力されたとき、接続スイッチ４４_ｎをオフ状態にする低レベルのスイッチング制御信号を出力する。アナログ電圧信号が入力されたときは、比較器５２_ｎは、当該アナログ電圧信号の信号レベルを上限閾値Ｖ_Ｈと比較し、その信号レベルが上限閾値Ｖ_Ｈ未満であれば、接続スイッチ４４_ｎをオン状態にする高レベルのスイッチング制御信号を出力する。一方、比較器５２_ｎは、当該アナログ電圧信号の信号レベルが上限閾値Ｖ_Ｈ以上であれば、接続スイッチ４４_ｎをオフ状態にする低レベルのスイッチング制御信号を出力する。

図１４Ａ〜図１４Ｃは、アナログ検出信号ＣＨ_１〜ＣＨ_３にそれぞれ対応するアナログ電圧信号の波形例をそれぞれ示すグラフである。図１４Ａには、上限閾値Ｖ_Ｈを超える飽和信号レベルを有する外来光成分Ｒ１０が現れている。図１４Ｂには、対象物体ＯＢＪからの反射信号Ｒ１１が現れている。この反射信号Ｒ１１の信号レベルは、上限閾値Ｖ_Ｈと下限閾値Ｖ_Ｌとの間の範囲（ダイナミックレンジ）内に収まっている。図１４Ｃには、下限閾値Ｖ_Ｌ未満の信号レベルを有するアンプ雑音成分のみが現れている。図１４Ｄは、図１４Ｂの波形と同じ加算信号波形を示すグラフである。また、図１４Ｅは、図１４Ａ及び及び図６Ｂのアナログ電圧信号を加算して得られた加算信号波形を示すグラフである。

従来技術では、Ｎチャンネルのアナログ電圧信号のうち下限閾値Ｖ_Ｌ以上の信号レベルを有する信号波形がすべて加算されるので、図１４Ａの飽和信号レベルを有する外乱光成分も加算対象となる。よって、従来技術では、図１４Ｅに示した加算信号波形のうち閾値レベルＶ_ＴＨ以上の信号レベルを有する波形部分がアナログ受信信号波形として出力されてしまうが、これは誤検出の要因となる。たとえば、図２に示した時間計測回路２６のピーク検出器３０がフィルタ信号ＦＳの飽和波形の立ち上がり位置と立下り位置とを強度ピーク位置と誤って検出するおそれがある。この場合、信号処理部２７は複数の測距値を誤って算出する。

これに対し、本実施の形態の加算回路２３Ｋは、図１４Ａの外来光成分及び図１４Ｃの雑音成分を加算対象とせず、図１４Ｂに示した信号波形のうち、下限閾値Ｖ_Ｌと上限閾値Ｖ_Ｈとの間の比較範囲内にある信号レベルを有する反射信号Ｒ１１の波形部分のみをアナログ受信信号波形として出力することができる。すなわち、加算回路２３Ｋは、図１４Ｄに示した加算信号波形のうち当該比較範囲内にある信号レベルを有する波形部分のみをアナログ受信信号波形として出力する。このため、飽和信号レベルを有する外乱光成分に起因する誤検出を防止することができる。

以上に説明したように実施の形態６のレーザレーダ装置３では、加算回路２３Ｋは、比較範囲内にある信号レベルを有する信号のみを加算してアナログ受信信号を生成するので、外乱光成分に起因する誤検出を防止することができ、受信ＳＮ比の劣化をも防止することができる。よって、測距精度を改善することが可能である。

なお、受光素子Ｐ_１〜Ｐ_Ｎが１次元配列されたアレイ受光器２２に代えて、受光素子が２次元状に配列されたアレイ受光器が使用されてもよい。この場合、２つのアレイ方向にそれぞれ対応する２つの走査方向について、比較範囲内にある信号レベルを有する信号のみを加算することでアナログ受信信号が生成されればよい。

また、実施の形態６の加算回路２３Ｋに対して、実施の形態１〜４における加算制御信号ＣＬＫを用いて加算されるべきアナログ検出信号を選択する構成が適用されてもよい。すなわち、実施の形態１における加算制御回路２４、電圧レベル変換器４０_１〜４０_Ｎ及び制御スイッチ４３_１〜４３_Ｎからなる構成、実施の形態２における加算制御回路２４、電圧レベル変換器４０_１〜４０_Ｎ及び後段スイッチ４５_１〜４５_Ｎからなる構成、あるいは、実施の形態３における加算制御回路２４及び制御比較器４６_１〜４６_Ｎからなる構成が実施の形態６の加算回路２３Ｋに適用されてもよい。

以上、図面を参照して本発明に係る種々の実施の形態について述べたが、これら実施の形態は本発明の例示であり、これら実施の形態以外の様々な形態を採用することもできる。たとえば、上記実施の形態１〜６のレーザレーダ装置は、いずれも、対象物体ＯＢＪまでの距離を測定する測距機能を有しているが、これに限定されるものではない。たとえば、対象物体ＯＢＪの反射強度分布、対象物体ＯＢＪの３次元形状及び対象物体ＯＢＪの特性などの情報を測定する機能を有するように実施の形態１〜６のレーザレーダ装置の構成が適宜変更されてもよい。

また、ユーザが、所望の受光素子から出力されるアナログ検出信号のみを加算対象として手動で選択することができるように上記実施の形態１〜６の構成が変更されてもよい。

なお、本発明の範囲内において、上記実施の形態１〜６の自由な組み合わせ、各実施の形態の任意の構成要素の変形、または各実施の形態の任意の構成要素の省略が可能である。
［付記］
上記実施の形態６に関し、光受信回路及びレーザレーダ装置の特徴について以下に付記する。
［１］レーザ光を用いた外部空間の走査に応じて前記外部空間内の対象物体で反射された反射レーザ光を受信する光受信回路であって、前記反射レーザ光を集光させる受信光学系と、前記受信光学系により集光された反射レーザ光を光電変換してＮチャンネル（Ｎは２以上の整数）の検出信号を出力する一群の受光素子を含むアレイ受光器と、前記Ｎチャンネルの検出信号の中から複数の検出信号を選択し、当該選択された複数の検出信号を互いに加算して受信信号を出力する加算回路とを備え、前記加算回路は、前記Ｎチャンネルの検出信号をＮチャンネルの電圧信号にそれぞれ変換するＮ個の電流電圧変換器と、前記Ｎチャンネルの電圧信号の信号レベルをＮ個の比較範囲を定めるＮ組の閾値と比較し、当該比較結果に応じたＮ個のスイッチング制御信号をそれぞれ出力するＮ個の制御比較回路と、前記Ｎ個の電流電圧変換器にそれぞれ対応して設けられ、且つ前記Ｎ個の制御比較回路にそれぞれ対応して設けられたＮ個の接続スイッチと、前記Ｎ個の接続スイッチから入力された複数の電圧信号を互いに加算して前記受信信号を生成する信号加算器とを備え、前記各接続スイッチは、前記Ｎ個の制御比較回路のうちの対応する制御比較回路から入力されたスイッチング制御信号に応じて、前記Ｎ個の電流電圧変換器のうちの対応する電流電圧変換器から入力された電圧信号を前記信号加算器に出力するオン状態と、当該対応する電流電圧変換器から入力された電圧信号を前記信号加算器へ出力しないオフ状態とのいずれか一方の状態となるように制御されることを特徴とする光受信回路。
［２］上記［１］に記載の光受信回路と、前記光受信回路で生成された当該受信信号に基づいて前記対象物体までの距離を測定する測距部とを備えることを特徴とするレーザレーダ装置。

１，２，３レーザレーダ装置、１１走査駆動制御回路、１２レーザ制御回路、１３レーザ光源、１４送信光学系、１５スキャナ、２１受信光学系、２２アレイ受光器、２３，２３Ａ〜２３Ｄ，２３Ｋ加算回路、２４加算制御回路、２５フィルタ、２６時間計測回路、２７信号処理部、３０ピーク検出器、３１検出器、３２定電流源、３３サンプルホールド回路、３５Ａ／Ｄ変換器、３６距離演算部、４０_１〜４０_Ｎ電圧レベル変換器、４１_１〜４１_Ｎ電流電圧変換器、４２_１〜４２_Ｎ制御比較器、４３_１〜４３_Ｎ制御スイッチ，４４_１〜４４_Ｎ接続スイッチ、４６_１〜４６_Ｎ制御比較器、４７_１〜４７_Ｎ増幅器、４８_１〜４８_Ｎ比較器、４９信号加算器、５０_１〜５０_Ｎ制御比較回路、５１_１〜５１_Ｎ第１比較器，５２_１〜５２_Ｎ第２比較器。

Claims

レーザ光を用いた外部空間の走査に応じて前記外部空間内の対象物体で反射された反射レーザ光を受信する光受信回路であって、
前記反射レーザ光を集光させる受信光学系と、
前記受信光学系により集光された反射レーザ光を光電変換してＮチャンネル（Ｎは２以上の整数）の検出信号を出力する一群の受光素子を含むアレイ受光器と、
前記Ｎチャンネルの検出信号の中から、前記アレイ受光器の受光面のうち前記レーザ光の照射方向に対応する結像位置の予測範囲内に配置された複数の受光素子から出力された複数の検出信号を選択し、当該選択された複数の検出信号を互いに加算して受信信号を出力する加算回路と、
前記レーザ光の照射方向を定める走査制御信号に基づいて、前記Ｎチャンネルの検出信号の中から前記複数の検出信号を選択させる加算制御信号を生成し、前記加算制御信号を前記加算回路に供給する加算制御回路と
を備え、
前記加算制御回路は、前記走査制御信号の信号値を、互いに異なる複数の比較範囲を定める閾値群と比較し、当該比較結果に応じた複数の信号レベルをそれぞれ有する複数の制御信号を前記加算制御信号として生成し、
前記加算回路は、前記加算制御信号に従って前記Ｎチャンネルの検出信号の中から前記複数の検出信号を選択する
ことを特徴とする光受信回路。
請求項１記載の光受信回路であって、
前記加算回路は、
前記Ｎチャンネルの検出信号をＮチャンネルの電圧信号にそれぞれ変換するＮ個の電流電圧変換器と、
前記Ｎチャンネルの電圧信号の信号レベルをそれぞれ閾値レベルと比較し、当該比較結果に応じたＮ個のスイッチング制御信号をそれぞれ出力するＮ個の制御比較器と、
前記Ｎ個の制御比較器にそれぞれ対応して設けられたＮ個の制御スイッチと、
前記Ｎ個の制御スイッチにそれぞれ対応して設けられ、且つ前記Ｎ個の電流電圧変換器にそれぞれ対応して設けられたＮ個の接続スイッチと、
前記Ｎ個の接続スイッチから入力された複数の電圧信号を互いに加算して前記受信信号を生成する信号加算器と
を備え、
前記各制御スイッチは、前記加算制御信号に応じて、前記Ｎ個の制御比較器のうちの対応する制御比較器から入力されたスイッチング制御信号を前記Ｎ個の接続スイッチのうちの対応する接続スイッチに出力するオン状態と、当該対応する制御比較器から入力されたスイッチング制御信号を当該対応する接続スイッチへ出力しないオフ状態とのいずれか一方の状態となるように制御され、
前記各接続スイッチは、前記Ｎ個の制御スイッチのうちの対応する制御スイッチから入力されたスイッチング制御信号に応じて、前記Ｎ個の電流電圧変換器のうちの対応する電流電圧変換器から入力された電圧信号を前記信号加算器に出力するオン状態と、当該対応する電流電圧変換器から入力された電圧信号を前記信号加算器へ出力しないオフ状態とのいずれか一方の状態となるように制御される
ことを特徴とする光受信回路。
請求項１記載の光受信回路であって、
前記加算回路は、
前記Ｎチャンネルの検出信号をＮチャンネルの電圧信号にそれぞれ変換するＮ個の電流電圧変換器と、
前記Ｎチャンネルの電圧信号の信号レベルをそれぞれ閾値レベルと比較し、当該比較結果に応じたＮ個のスイッチング制御信号をそれぞれ出力するＮ個の制御比較器と、
前記Ｎ個の制御比較器にそれぞれ対応して設けられ、且つ前記Ｎ個の電流電圧変換器にそれぞれ対応して設けられたＮ個の接続スイッチと、
前記Ｎ個の接続スイッチにそれぞれ対応して設けられたＮ個の後段スイッチと、
前記Ｎ個の後段スイッチから入力された複数の電圧信号を互いに加算して前記受信信号を生成する信号加算器と
を備え、
前記各接続スイッチは、前記Ｎ個の制御比較器のうちの対応する制御比較器から入力されたスイッチング制御信号に応じて、前記Ｎ個の電流電圧変換器のうちの対応する電流電圧変換器から入力された電圧信号を前記Ｎ個の後段スイッチのうちの対応する後段スイッチに出力するオン状態と、当該対応する電流電圧変換器から入力された電圧信号を当該対応する後段スイッチへ出力しないオフ状態とのいずれか一方の状態となるように制御され、
前記各後段スイッチは、前記加算制御信号に応じて、前記Ｎ個の接続スイッチのうちの対応する接続スイッチから入力された電圧信号を前記信号加算器に出力するオン状態と、当該対応する接続スイッチから入力された電圧信号を前記信号加算器へ出力しないオフ状態とのいずれか一方の状態となるように制御される
ことを特徴とする光受信回路。
請求項１記載の光受信回路であって、
前記加算回路は、
前記Ｎチャンネルの検出信号をＮチャンネルの電圧信号にそれぞれ変換するＮ個の電流電圧変換器と、
前記Ｎチャンネルの電圧信号の信号レベルをそれぞれ閾値レベルと比較し、当該比較結果に応じたＮ個のスイッチング制御信号をそれぞれ出力するＮ個の制御比較器と、
前記Ｎ個の制御比較器にそれぞれ対応して設けられ、且つ前記Ｎ個の電流電圧変換器にそれぞれ対応して設けられたＮ個の接続スイッチと、
前記Ｎ個の接続スイッチから入力された複数の電圧信号を互いに加算して前記受信信号を生成する信号加算器と
を備え、
前記各制御比較器は、前記加算制御信号に応じて、前記Ｎ個のスイッチング制御信号のうちの対応するスイッチング制御信号を前記Ｎ個の接続スイッチのうちの対応する接続スイッチに出力する動作状態と、当該対応するスイッチング制御信号を出力しない非動作状態とのいずれか一方の状態となるように制御され、
前記各接続スイッチは、前記Ｎ個の制御比較器のうちの対応する制御比較器から入力されたスイッチング制御信号に応じて、前記Ｎ個の電流電圧変換器のうちの対応する電流電圧変換器から入力された電圧信号を前記信号加算器に出力するオン状態と、当該対応する電流電圧変換器から入力された電圧信号を前記信号加算器へ出力しないオフ状態とのいずれか一方の状態となるように制御される
ことを特徴とする光受信回路。
請求項１記載の光受信回路であって、
前記加算回路は、
前記Ｎチャンネルの検出信号をＮチャンネルの電圧信号にそれぞれ変換するＮ個の電流電圧変換器と、
前記Ｎチャンネルの電圧信号を増幅してそれぞれＮチャンネルの増幅信号を出力するＮ個の増幅器と、
前記Ｎチャンネルの増幅信号の信号レベルをそれぞれ閾値レベルと比較し、当該比較結果に応じたＮ個のスイッチング制御信号をそれぞれ出力するＮ個の制御比較器と、
前記Ｎ個の制御比較器にそれぞれ対応して設けられ、且つ前記Ｎ個の増幅器にそれぞれ対応して設けられたＮ個の接続スイッチと、
前記Ｎ個の接続スイッチから入力された複数の増幅信号を互いに加算して前記受信信号を生成する信号加算器と
を備え、
前記各増幅器は、前記加算制御信号に応じて、前記Ｎチャンネルの増幅信号のうちの対応する増幅信号を前記Ｎ個の接続スイッチのうちの対応する接続スイッチに出力する動作状態と、当該対応する増幅信号を出力しない非動作状態とのいずれか一方の状態となるように制御され、
前記各接続スイッチは、前記Ｎ個の制御比較器のうちの対応する制御比較器から入力されたスイッチング制御信号に応じて、前記Ｎ個の増幅器のうちの対応する増幅器から入力された増幅信号を前記信号加算器に出力するオン状態と、当該対応する増幅器から入力された増幅信号を前記信号加算器へ出力しないオフ状態とのいずれか一方の状態となるように制御される
ことを特徴とする光受信回路。
レーザ光を用いた外部空間の走査に応じて前記外部空間内の対象物体で反射された反射レーザ光を受信する光受信回路であって、
前記反射レーザ光を集光させる受信光学系と、
前記受信光学系により集光された反射レーザ光を光電変換してＮチャンネル（Ｎは２以上の整数）の検出信号を出力する一群の受光素子を含むアレイ受光器と、
前記Ｎチャンネルの検出信号の中から、前記アレイ受光器の受光面のうち前記レーザ光の照射方向に対応する結像位置の予測範囲内に配置された複数の受光素子から出力された複数の検出信号を選択し、当該選択された複数の検出信号を互いに加算して受信信号を出力する加算回路と
を備え、
前記加算回路は、
前記Ｎチャンネルの検出信号をＮチャンネルの電圧信号にそれぞれ変換するＮ個の電流電圧変換器と、
前記Ｎチャンネルの電圧信号の信号レベルをそれぞれ閾値レベルと比較し、当該比較結果に応じたＮ個のスイッチング制御信号をそれぞれ出力するＮ個の制御比較器と、
前記Ｎ個の制御比較器にそれぞれ対応して設けられたＮ個の制御スイッチと、
前記Ｎ個の制御スイッチにそれぞれ対応して設けられ、且つ前記Ｎ個の電流電圧変換器にそれぞれ対応して設けられたＮ個の接続スイッチと、
前記Ｎ個の接続スイッチから入力された複数の電圧信号を互いに加算して前記受信信号を生成する信号加算器と、
前記Ｎ個の制御スイッチにそれぞれ対応して設けられ、Ｎ個の比較範囲を定めるＮ組の閾値をそれぞれ有するＮ個の比較器と
を備え、
前記Ｎ個の比較器は、前記レーザ光の照射方向を定める走査制御信号の信号値を前記Ｎ組の閾値と比較してＮ個の比較信号を生成し、
前記各制御スイッチは、前記Ｎ個の比較信号のうちの対応する比較信号に応じて、前記Ｎ個の制御比較器のうちの対応する制御比較器から入力されたスイッチング制御信号を前記Ｎ個の接続スイッチのうちの対応する接続スイッチに出力するオン状態と、当該対応する制御比較器から入力されたスイッチング制御信号を当該対応する接続スイッチへ出力しないオフ状態とのいずれか一方の状態となるように制御され、
前記各接続スイッチは、前記Ｎ個の制御スイッチのうちの対応する制御スイッチから入力されたスイッチング制御信号に応じて、前記Ｎ個の電流電圧変換器のうちの対応する電流電圧変換器から入力された電圧信号を前記信号加算器に出力するオン状態と、当該対応する電流電圧変換器から入力された電圧信号を前記信号加算器へ出力しないオフ状態とのいずれか一方の状態となるように制御される
ことを特徴とする光受信回路。
請求項１から請求項６のうちのいずれか１項記載の光受信回路と、
前記光受信回路で生成された当該受信信号に基づいて前記対象物体までの距離を測定する測距部と
を備えることを特徴とするレーザレーダ装置。