JP6631424B2 - プラント制御装置試験システム - Google Patents
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Description
収集期間の各時刻において、前記既設制御装置が入力する既設外部入力信号および前記既設制御装置が出力する既設外部出力信号を収集する既設外部入出力信号収集部と、
前記収集期間中の所定の収集時間における前記既設制御装置の内部メモリの情報であって前記外部入力信号から前記外部出力信号を演算する過程で用いられる内部値を記録する内部メモリ情報セーブ部と、
前記内部メモリ情報セーブ部が記録した内部メモリ情報を、前記被試験制御装置の内部メモリの形式に応じた更新内部メモリ情報に変換する内部メモリ情報変換部と、
前記更新内部メモリ情報を、前記被試験制御装置の内部メモリにロードする更新内部メモリ情報ロード部と、
前記更新内部メモリ情報ロード部によるロード完了後、前記収集時間以降に収集された前記既設外部入力信号を時系列順に前記被試験制御装置へ出力する再生試験実行部と、を備えることを特徴とする。
図1は、本発明の実施の形態1に係るプラント制御装置試験システムを実プラントシステムと合わせて示した全体構成図である。
実プラントシステムは、制御対象プラントの制御機器(図示省略)、制御機器を制御するプラント制御装置(以下、単に既設制御装置1と記す)、オペレータにより操作される操作入力装置(図示省略)を備え、既設制御ネットワーク2を介して互いに接続している。既設制御装置1は、試験済みの制御装置、すなわち、要求仕様にあっていることが既に確認されている制御装置である。既設制御装置1による制御機器の制御は、シーケンスプログラムに従って行われる。既設制御装置1は、操作入力装置からの操作量信号と、制御対象プラントに取り付けられた各種センサからの状態フィードバック信号とを入力する。既設制御装置1は、シーケンスプログラムに従って、これらの入力信号および内部メモリ情報に応じた制御信号を出力する。
次に、図1を参照してプラント制御装置試験システムの概要について説明する。
プラント制御装置試験システムは、試験装置10、内部メモリ情報収集装置20、内部メモリ情報管理部30、比較表示部40を備える。試験装置10、内部メモリ情報管理部30、および比較表示部40は、更新制御ネットワーク3を介して互いに接続している。内部メモリ情報収集装置20は、既設制御装置1に取り付けられ、既設制御ネットワーク2とゲートウェイ4を介して更新制御ネットワーク3に接続している。また、プラント制御装置試験システムは、更新制御ネットワーク3を介して試験対象のプラント制御装置(以下、単に被試験制御装置50と記す)に接続している。
以上説明したように、上述した実施の形態1のプラント制御装置試験システムによれば、内部メモリ情報セーブ部21、内部メモリ情報変換部31、更新内部メモリ情報ロード部32、再生試験実行部14を備えるため、既設制御装置の内部メモリの内容を被試験制御装置の内部メモリに自動的に反映させた後に再生試験を開始できる。
以上、本発明の実施の形態について説明したが、本発明は上述の実施の形態に限定されるものではない。本発明の趣旨を逸脱しない範囲で種々変形して実施することができる。例えば以下の各例のように変形して実施してもよい。
図5は、試験装置10、内部メモリ情報管理部30、比較表示部40がそれぞれ有する処理回路のハードウェア構成例を示すブロック図である。図2に示す各部は、本システムが有する機能の一部を示し、各機能は処理回路により実現される。例えば、処理回路は、CPU(Central Processing Unit)101、ROM(Read Only Memory)102、RAM(Random Access Memory)103、入出力インターフェース104、システムバス105、入力装置106、表示装置107、ストレージ108および通信装置109を備えたコンピュータである。
2 既設制御ネットワーク
3 更新制御ネットワーク
4 ゲートウェイ
10 試験装置
11 試験データ収集指令部
12 既設外部入出力信号収集部
13 初期設定指令部
14 再生試験実行部
20 内部メモリ情報収集装置
21 内部メモリ情報セーブ部
30、30a 内部メモリ情報管理部
31 内部メモリ情報変換部
32 更新内部メモリ情報ロード部
40 比較表示部
41 被試験外部出力信号収集部
42 比較表示処理部
50 被試験制御装置
100、300 記憶部
105 システムバス
Claims (3)
- 実プラントシステムの既設制御装置が入出力する信号を再生して、被試験制御装置の動作を検証するためのプラント制御装置試験システムであって、
収集期間の各時刻において、前記既設制御装置が入力する既設外部入力信号および前記既設制御装置が出力する既設外部出力信号を収集する既設外部入出力信号収集部と、
前記収集期間中の所定の収集時間における前記既設制御装置の内部メモリの情報であって前記外部入力信号から前記外部出力信号を演算する過程で用いられる内部値を記録する内部メモリ情報セーブ部と、
前記内部メモリ情報セーブ部が記録した内部メモリ情報を、前記被試験制御装置の内部メモリの形式に応じた更新内部メモリ情報に変換する内部メモリ情報変換部と、
前記更新内部メモリ情報を、前記被試験制御装置の内部メモリにロードする更新内部メモリ情報ロード部と、
前記更新内部メモリ情報ロード部によるロード完了後、前記収集時間以降に収集された前記既設外部入力信号を時系列順に前記被試験制御装置へ出力する再生試験実行部と、
を備えることを特徴とするプラント制御装置試験システム。 - 前記内部メモリ情報変換部は、前記既設制御装置の内部メモリのアドレスおよびデータ値と、前記被試験制御装置の内部メモリのアドレスおよびデータ値との対応関係を定めた変換テーブルを備え、変換テーブルに基づいて自動的に、前記内部メモリ情報セーブ部が記録した内部メモリ情報を、前記被試験制御装置の内部メモリの形式に応じた更新内部メモリ情報に変換すること、
を特徴とする請求項1に記載のプラント制御装置試験システム。 - 前記収集時間以降に収集された前記既設外部出力信号と、前記被試験制御装置が出力する被試験外部出力信号とを時系列順に並べて比較可能な状態で表示する比較表示処理部、
をさらに備えることを特徴とする請求項1又は2に記載のプラント制御装置試験システム。
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