JP6619484B2 - ナノ粒子から作られた薄膜中のカーボンを低減するためのh2s反応性アニーリング - Google Patents

ナノ粒子から作られた薄膜中のカーボンを低減するためのh2s反応性アニーリング Download PDF

Info

Publication number
JP6619484B2
JP6619484B2 JP2018143123A JP2018143123A JP6619484B2 JP 6619484 B2 JP6619484 B2 JP 6619484B2 JP 2018143123 A JP2018143123 A JP 2018143123A JP 2018143123 A JP2018143123 A JP 2018143123A JP 6619484 B2 JP6619484 B2 JP 6619484B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
annealing
film
nanoparticles
cigs
temperature
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2018143123A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2018197188A (ja
Inventor
カークハム,ポール
アレン,ケアリー
ホワイトレッグ,ステフェン
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nanoco Technologies Ltd
Original Assignee
Nanoco Technologies Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nanoco Technologies Ltd filed Critical Nanoco Technologies Ltd
Publication of JP2018197188A publication Critical patent/JP2018197188A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6619484B2 publication Critical patent/JP6619484B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/0248Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by their semiconductor bodies
    • H01L31/0256Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by their semiconductor bodies characterised by the material
    • H01L31/0264Inorganic materials
    • H01L31/032Inorganic materials including, apart from doping materials or other impurities, only compounds not provided for in groups H01L31/0272 - H01L31/0312
    • H01L31/0322Inorganic materials including, apart from doping materials or other impurities, only compounds not provided for in groups H01L31/0272 - H01L31/0312 comprising only AIBIIICVI chalcopyrite compounds, e.g. Cu In Se2, Cu Ga Se2, Cu In Ga Se2
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/02104Forming layers
    • H01L21/02365Forming inorganic semiconducting materials on a substrate
    • H01L21/02518Deposited layers
    • H01L21/02521Materials
    • H01L21/02568Chalcogenide semiconducting materials not being oxides, e.g. ternary compounds
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/02104Forming layers
    • H01L21/02365Forming inorganic semiconducting materials on a substrate
    • H01L21/02518Deposited layers
    • H01L21/02587Structure
    • H01L21/0259Microstructure
    • H01L21/02601Nanoparticles
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/02104Forming layers
    • H01L21/02365Forming inorganic semiconducting materials on a substrate
    • H01L21/02612Formation types
    • H01L21/02617Deposition types
    • H01L21/02623Liquid deposition
    • H01L21/02628Liquid deposition using solutions
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/02Details
    • H01L31/0216Coatings
    • H01L31/02161Coatings for devices characterised by at least one potential jump barrier or surface barrier
    • H01L31/02167Coatings for devices characterised by at least one potential jump barrier or surface barrier for solar cells
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/04Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof adapted as photovoltaic [PV] conversion devices
    • H01L31/042PV modules or arrays of single PV cells
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/18Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment of these devices or of parts thereof
    • H01L31/186Particular post-treatment for the devices, e.g. annealing, impurity gettering, short-circuit elimination, recrystallisation
    • H01L31/1864Annealing
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02EREDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
    • Y02E10/00Energy generation through renewable energy sources
    • Y02E10/50Photovoltaic [PV] energy
    • Y02E10/541CuInSe2 material PV cells
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02PCLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
    • Y02P70/00Climate change mitigation technologies in the production process for final industrial or consumer products
    • Y02P70/50Manufacturing or production processes characterised by the final manufactured product

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Inorganic Chemistry (AREA)
  • Nanotechnology (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Sustainable Development (AREA)
  • Sustainable Energy (AREA)
  • Photovoltaic Devices (AREA)
  • Liquid Deposition Of Substances Of Which Semiconductor Devices Are Composed (AREA)
  • Surface Treatment Of Glass (AREA)

Description

<関連出願の記載>
この出願は、2014年1月31日に出願された米国仮特許出願第61/934495号の利益を主張する。
<発明の分野>
本発明は、概して、薄膜光起電力デバイスに関する。より具体的には、銅インジウムガリウムジセレニド/ジスルフィド(CIGS)をベースとする薄膜光起電力デバイスに関する。
光起電力セルは、化石燃料から生成されるエネルギーの最も有望な代替エネルギーの1つである。光起電力セルを商業的に実行可能とするには、低コスト材料を用いて安価に製造され、太陽光から電気への変換が中効率乃至高効率であらねばならない。さらに、デバイスの製造方法が商業的に成功するには、材料を合成するのに用いられる方法は大量生産可能でなければならない。
今日の光起電力デバイスに用いられる最も一般的な材料はシリコンである。しかしながら、シリコンは、柔軟性がなく、高価であり、光吸収も比較的良くない。それゆえ、多くの薄膜バルク半導体材料では、シリコンの代替となり得る材料として、例えば、テルル化カドミウム、銅インジウムガリウムスルフィド(セレナイド)及びアモルファスシリコンが提案されている。これら材料の中でも、銅インジウムガリウムスルフィド(セレナイド)(CuInGaSe)、即ち一般的にCIGSとして知られている材料が、光起電力デバイスにおける光活性吸収体としてのシリコンの代替材料として有望であると広く考えられている。
現在、CIGSを製造する多くの技術は、蒸発又はスパッタリング等の高真空技術を用いる。これらの技術は、高真空チャンバーを必要とし、サイズに制限があるため、高処理能力で実施することが困難であり、高処理能力操業には適さない。このため、これらの技術を用いて、大きく及び/又は奇妙な形をした基板上にCIGS膜を製造することは困難である。
CIGS層を製造する代替方法として有望な方法は、ナノ粒子の焼結による方法である。この技術は、CIGS前駆体材料のナノ粒子から溶液又はインキを作製し、様々な膜形成技術の中の1つを用いて、インキの層を基板の上に堆積するものである。堆積された層は、アニーリングすることにより、溶媒及び他のインキ成分が膜から除去されると共に、ナノ粒子が一緒に溶融して、CIGS半導体層が形成される。
CIGSインキのナノ粒子成分は、CIGS前駆体(precursors)、即ち、銅、インジウム及び/又はガリウム)並びにイオウ及び/又はセレニウムのナノ粒子を含む。例えば、ナノ粒子は、Cu、In及びSeを含み、CuInSe層が形成される。或いはまた、インキは、数種類の異なるナノ粒子を含むことができ、それらを組み合わせて所望成分にすることができる。例えば、インキは、Cu及びInのナノ粒子とCu及びSeの他のナノ粒子とを含み、これらが組み合わされて、CuInSeが得られる。
CIGSナノ粒子が光起電力薄膜用の開始物質として有用となるためには、複数の特性を具備する必要がある。まず第1に、ナノ粒子は小さくなければならず、理想的には、直径が数ナノメートルから数百ナノメートルのオーダである。このような小粒子は、密に詰められることができ、溶融時により容易く互いに融合するからである。第2に、狭い粒度分布となるので、全てのナノ粒子がほぼ同じ温度で溶融することができ、均一で高品質の薄膜が得られるからである。第3に、ナノ粒子は、有機キャッピング剤でキャッピングされることが望ましい。このようなキャッピング剤は、一般的には、ナノ粒子を基板に堆積させるのに用いられる有機溶液中で、ナノ粒子を可溶化を補助するのに必要とされる。キャッピング用リガンドは、膜がアニーリングされるときに効率良く除去されるように、高揮発性であることが望ましい。最後に、できるだけ低温度での処理を可能にするために、ナノ粒子の溶融温度は、対応バルク材料よりも低い温度であることが望ましい。
CIGSナノ粒子の作製に際しては、現在、多くの技術が用いられている。ナノ粒子の作製に用いられている方法は、例えば、コロイド法、ソルボサーマル法、音響化学法及びバルク状セレン化銅のボールミリングがある。
この明細書で記載されるプロセスは、あらゆる方法を用いて作られたCIGSナノ粒子を用いて実行されることができる。しかしながら、コロイド法では、トリオクチルホスフィンオキシド(TOPO)又はアミンでキャップされたナノ粒子を形成するのに、「ホットインジェクション」法等の高温合成(>250℃)が行われる。ホットインジェクションは、少量の前駆体を、高温で大量の溶媒の中に注入するものである。高温により、前駆体が分解され、ナノ粒子の核生成が開始する。その後、適当な有機溶媒で急冷する前に、反応混合物の温度を低下させて、ある一定時間、ナノ粒子の成長を支援する。ナノ粒子のコロイド合成の他の方法は、米国特許出願公開2009/0139574A1及び米国特許第8563348号に記載されている。
ナノ粒子が作製され分離されると、次にインキに調製され、調製されたインキは基板に施されて膜が形成される。このようなインキは、一般的には、ナノ粒子が有機溶媒(例えば、トルエン、イソホロン、プロパノール等)に懸濁した溶液又は懸濁液である。ナノ粒子の表面結合リガンドは、インキ中のナノ粒子の分散/懸濁を促進し、ナノ粒子の凝集を防止する。インキは、保存剤、流れ向上剤又は粘度向上剤等の追加の成分を含むことができる。
CIGSインキの膜は、様々な膜形成技術を用いて、基板上に形成されることができる。前記膜形成技術として、例えば、プリンティング法、スプレー法、スピンコーティング、ドクターブレーディング等がある。膜が形成されると、通常は、膜の有機成分を除去するために加熱され、ナノ粒子を焼結して、CIGS半導体層が形成される。
膜から有機成分を除去することは、高性能のCIGS半導体層を得る上で重要であることは知られている。焼結工程で、膜の中に有機成分が存在すると、半導体結晶粒の成長を制限すると考えられている。結晶粒が小さいと、得られる半導体層内の結晶粒界の数が増加し、膜の性能に悪影響を及ぼす。それゆえ、この分野では、焼結工程において、CIGS膜の有機成分を除去する改良された方法及びシステムへの要請がある。
<発明の要旨>
本発明は、光起電力デバイスのCIGS吸収体層の作製を、CIGSナノ粒子前駆体の膜を堆積し(depositing)、アニーリングすることによって行なうシステム及び方法を提供する。開示される方法の利点は、膜からのカーボン成分の除去が向上し、より良好なデバイス性能が得られることである。開示される方法は、堆積されたCIGSナノ粒子膜を、反応性HS雰囲気、及び/又は、HSとHSeの混合物を含む雰囲気中でアニーリングすることを含む。
本発明の第1の態様は、銅インジウムガリウムスルフィド(セレニド)[CIGS]ナノ粒子を含有する膜を製造する方法を提供するもので、CIGS前駆体の溶液又は懸濁液を基板上に堆積して膜を形成し、前記膜を反応性イオウ含有雰囲気でアニーリングすることを含む。反応性イオウ含有雰囲気は、硫化水素ガス(HS)を含むことができる。反応性イオウ含有雰囲気は、セレニウムをさらに含むことができる。セレニウムは、セレン化水素ガス(HSe)の形態であってよい。CIGS前駆体は、銅、インジウム及び/又はガリウム、並びにイオウ及び/又はセレニウムを含むことができる。基板は、例えば、ガラスである。ガラスは、モリブデンがコートされたガラスであってよい。アニーリングは、約200℃よりも高温で行われることができる。アニーリング温度は、アニーリング工程中に変動させることができる。アニーリング温度は、第1の温度から第2の温度へ、選択された変化率で変化させることができる。方法は、アニーリング温度を第2の温度で選択された時間保持し、次に、アニーリング温度を第3の温度に変化させることをさらに含むことができる。イオウ含有雰囲気は静的(static)であってよい。イオウ含有雰囲気は動的(dynamic)であってもよい。アニーリングの時間と温度は、粒子を溶融させてCIGS結晶を形成するのに十分なものとする。方法は、反応性イオウ含有雰囲気中でアニーリングした後、セレニウム含有雰囲気の中で膜をアニーリングすることをさらに含む。アニーリングは、チューブ炉の中で行なわれることができる。基板はポリマーであってよく、アニーリング温度は約500℃より低い温度であってよい。基板はポリマーであってよく、アニーリング温度は約460℃より低い温度であってよい。方法は、複数層の膜を形成するために、追加の堆積ステップ及びアニーリングステップをさらに含むことができる。複層膜におけるインジウムとガリウムの比率は、膜内部の深さの関数として変動させることができる。
図1は、CIGSナノ粒子の膜を堆積しアニーリングしてCIGS半導体層を形成する方法を説明する概略図である。
図2は、CIGSナノ粒子を堆積し、膜をHS雰囲気中で膜をアニーリングすることによって製造された光起電力デバイスのI−V曲線である。
図3は、CIGSナノ粒子を堆積し、膜をHS及びHSe雰囲気中で膜をアニーリングすることによって製造された光起電力デバイスのI−V曲線である。
図4は、図2及び図3のI−V曲線を作成するのに用いられたデバイスのCIGS層のXRDスペクトルを示す図である。
図5は、図3のI−V曲線を作成するのに用いられたデバイスのCIGS層のSEM像である。
<発明の詳細な説明>
この明細書で用いられる「CIGS」という用語は、周期表11族、13族及び16族の元素を含む材料のことを言う。一般的に、CIGS材料は、式Cu(In、Ga)(S,Se)を有する。但し、化学量論は異なることがある。また、「CIGS」とは、例えば、Gaを含まない場合、CuInSのような材料のことを言うものとする。この明細書で用いられる「CIGSナノ粒子インキ」という用語は、CIGS材料を成分として有するナノ粒子を含むインキのことを言う。
図1は、基板101にCIGSナノ粒子を用いてCIGS吸収体層を作製する方法100を示している。当業者であれば、光起電力セルを作るのに、多くの種類の基板が用いられることは理解するであろう。基板の一例は、当該分野で知られているように、モリブデンがコートされたガラスである。
第1のCIGSナノ粒子インキ102は、プリンタ103を用いて基板101上に印刷される。CIGSナノ粒子インキ102は、一般的に、ナノ粒子CIGS前駆体を含有する有機溶媒懸濁液であり、前記ナノ粒子CIGS前駆体は、13族材料(一般的には、インジウム及び/又はガリウム)、11族材料(一般的には、銅)及び16族材料(一般的には、イオウ及び/又はセレニウム)の少なくとも一種を含有する。CIGS前駆体は全て、単一種のナノ粒子、即ち、一般式Cu(In、Ga)(S,Se)を有するナノ粒子として供給されることができる。或いはまた、CIGS前駆体は、2種以上のナノ粒子の成分であって、各々が1又は2種以上のCIGS成分であるナノ粒子の成分として供されることができる。一例は、CuSeナノ粒子及びInSeナノ粒子を含有するインキであり、CuInSeCIGS層の成分となる。
この明細書に記載される方法は、あらゆる方法で作製されたCIGSナノ粒子から膜を形成するのに用いられることができる。CIGSナノ粒子を均一サイズ及び所定化学量論に作製する方法は、米国特許出願公開2009/0139574A1及び米国特許第8563348号に記載されており、これらは引用を以て、その全体が本願に組み込まれるものとする。
ナノ粒子がインキの中に分散されることで、ナノ粒子は、薄肉の材料層に、正確で、カスタマイズ可能で、効率良く印刷されることができる。インキは、一般的には、例えば、芳香族化合物、脂肪族化合物及び/又はセレノール若しくはチオール化合物等の1又は複数種の有機化合物を含む。幾つかの実施形態において、得られたインキ配合物(ink formulation)は、最大約50%w/vのナノ粒子を含むことができる。なお、w/vパーセントは調節可能である。また、インキには、材料のコーティング特性に影響を与えるために、エラストマー又はバインダーを加えることができる。
プリンタ103は、CIGSナノ粒子インキを分散させるのに用いられるプリンタとして当該分野で知られているあらゆるプリンタであってよい。プリンタの例として、ドットマトリックスプリンタ、インクジェットプリンタ等が挙げられる。また、図1では、プリンタを用いる例として印刷ステージ1が示されているが、他の膜形成法を用いることもできる。そのような方法は、スピンコーティング、蒸発コーティング、ドクターブレーディング、ドロップコーティングの他、当該分野で有機薄膜を形成する方法として知られている他のあらゆる方法であってよい。
膜の堆積後、堆積されたCIGSナノ粒子膜は、アニーリングステージ104でアニーリングされ、CIGS層105が作製される。アニーリングステップ104は、一般的に、CIGSナノ粒子膜を、該膜が十分に乾燥できる温度及び時間で加熱することを含む。アニーリングステップ104により、ナノ粒子が溶融し、CIGS結晶が形成される。アニーリングステージについては、以下に、より詳細に説明する。しかしながら、方法は、ナノ粒子を溶融し結晶を形成するために、少なくとも1回のアニーリングステップを含むことに留意されるべきである。
次に、印刷ステージ2において、プリンタ107を使用して、CIGSナノ粒子インキ106が加えられる。プリンタ107は、プリンタ103と同じものを印刷ステージ2で再使用することができるし、異なる装置を用いてもよい。CIGSナノ粒子インキ106は、102と同じインキ配合物でもよいし、異なる配合物でもよい。同じ配合物を複数層に適用することにより、より厚い膜が形成される。或いはまた、インキ配合物102と106を異なるものを使用することで、吸収体層内の位置機能として異なる組成物を有する吸収体層を形成することができる。例えば、米国特許第8563348号には、複数のCIGS層を使用して吸収体層を形成する例が記載されており、ここでは、InとGaの比率は、吸収体層内の深さの関数として変動する。
印刷ステージ2の後、膜は、第2アニーリングステージ107でアニーリングされ、二重層108が形成される。膜108は、説明の明瞭化のために、2つの異なる層として示しているが、実際は、層の境界は無くてもよい(境界が無い方が好ましいことがしばしばある)。
方法100は、CIGSナノ粒子インキ110の追加の層を形成するための追加の印刷ステージ109と、追加のアニーリングステージ111を含むことができる。図1は、3つの各ステージを示しているが、ステージの数は、所望される最終製品の厚さ及び組成物に応じて、あらゆる数であってよい。方法100の最終製品は吸収体層112である。
開示される方法は、図1に示されるアニーリングステップ104、107及び111の1又は複数のアニーリングステップに関する。1又は複数のアニーリングステップは、以下に記載されるプロセスに基づいて行われることができる。上記したように、アニーリングは、CIGSナノ粒子膜を加熱して、膜を乾燥させると共に、CIGSナノ粒子を溶融して、CIGS結晶を形成する。概して、少なくとも最終アニーリングステージは、粒子を溶融して、CIGS結晶を形成する。
膜は、あらゆる適当な加熱源で加熱される。加熱源の例として、例えば、オーブン、真空炉、加熱炉、IRランプ、レーザー、ホットプレートがある。アニーリング時間と温度は、ナノ粒子のサイズと組成の他にインキ組成にも依存する。このようなパラメータは、過度の実験を行わなくても得られることができる。アニーリング温度は、通常、200℃よりも高い。アニーリング温度は、温度ランプ(ramp)に基づいて制御されることができ、温度は、例えば、所定の変化率で第1の温度から第2の温度へ変更され、第2の温度で所定長さ時間保持され、第3の温度に変更される。温度ランプの例は、米国特許出願公開2009/0139574に記載されている。
アニーリングは、静的雰囲気又は動的雰囲気で行われることができる。一実施例において、アニーリングは、選択されたガスの流動雰囲気下のチューブ炉を用いて行われる。
米国特許出願公開2009/0139574は、静的及び動的の両方の不活性雰囲気(例えば、窒素)の下でのアニーリングについて記載している。しかしながら、反応性雰囲気が用いられることもできる。例えば、Seは、アニーリング中にから排出される傾向にある。Se含有膜は、それゆえ、HSe等のSe含有雰囲気下でアニーリングされることで、膜の中のSe濃度が維持又は調節される。また、Se含有雰囲気下でS含有膜をアニーリングすることにより、Seは、アニーリング中に膜内のSを置換する。Se含有雰囲気を用いてS含有膜をアニーリングすると膜内の大結晶粒の生成が促進されることがわかった。それは、SeがS原子を置換するとき、膜の体積が膨張するからである。体積膨張の程度は、約14%である。
反応性ガスでアニーリングすると、得られるCIGS吸収体層中の大結晶粒の成長を促進し、これら層の光起電力性能が向上することがわかった。CIGSナノ粒子膜にカーボンが存在すると、結晶粒の成長が妨げられ、アニーリング時にCIGS膜に得られる結晶のサイズが制限されると考えられる。そのようなカーボン源となるのは、CIGSナノ粒子インキを形成するのに用いられる溶媒、インキ内の他の成分、例えばエラストマー、バインダー、粘度調整剤等であり、その他に、ナノ粒子の表面に結合されるリガンドである。
発明者らは、CIGSナノ粒子膜を、イオウを含有する反応性雰囲気に曝露すると、膜内のカーボン量が減少し、アニーリング時にCIGS結晶がより大きく成長することを見出した。一実施形態において、図1に示される1又は複数のアニーリングステップは、反応性イオウ含有雰囲気(例えば、HS)の下で行われる。CIGSナノ粒子膜は、一般的に、1又は複数種類のナノ粒子を含み、全体組成は、Cu(In及び/又はGa)(S及び/又はSe)である。S含有膜又はSe含有膜を、S含有雰囲気中でアニーリングすることは普通では考えられないことである。より一般的には、これら種類の膜はSe雰囲気中でアニーリングされる。反応性Se含有雰囲気中でアニーリングした後、膜は含有雰囲気中でアニーリングされる。
CIGSナノ粒子膜からカーボンを反応的に除去することにより、カーボン含有膜における結晶形成に必要とされるアニーリング温度よりも低い温度でより大きなCIGS結晶が得られる。アニーリング温度は、500℃よりも低い温度、又は480℃よりも低い温度、又は460℃よりも低い温度であってよい。より低い温度で処理することにより、幾つかの利点がもたらされる。例えば、低温度処理では、CIGS吸収体層は、高温度処理では耐えることができないポリマー等の可撓性基板上で成長することができる。また、低温度処理により、故障モードとして作用するMoSe等の種の生成が防止される。
反応性イオウによるアニーリングは、図1に示されるアニーリングステップの一部として実行されることができる。換言すれば、1又は複数の層及び/又は完全な吸収体層は、反応性イオウの存在下でアニーリングされることができる。
他の実施形態において、1又は複数のアニーリングステージは、S含有ガスとSe含有ガスの混合物の中で行われる。HSeの後にHSを用いた反応性アニーリングにより、開回路電圧(Voc)が増加し、同時に、短絡回路電流(Jsc)が減少する。膜の内部がHSとHSeの混合物中で反応性アニーリングが行われると、膜の曲線因子(fill factor)及び電力変換効率が向上する。
図2は、CIGSナノ粒子インキを膜に堆積し、HSe雰囲気中で膜をアニーリングすることによって形成された吸収体層を用いたデバイスの電流−電圧をプロットしたものである。デバイスは、Vocが0.46V、Jscが32.4mA/cm、曲線因子が53、PCEが8.1%を示す。
図3は、同じように作製したデバイスをプロットしたものであるが、膜を、HSとHSeの混合物の中でアニーリングした点が図2とは異なる。図3のデバイスは、Vocが0.48V、Jscが35.7mA/cm、曲線因子が61.1、PCEが10.6%を示す。基準のデバイスと比べて、Jscは32.4mA/cmから35.7mA/cmに増加し、曲線因子は53から61.1に増加し、デバイスのPCEは10.6%になった。
表1は、図に示されたプロットを作成するために用いられたデバイスを特徴付ける(singularization)ためのデバイスデータを示す。表1は、デバイスの表面積の減少に対して増加する曲線因子(FF)を示す。デバイスは、(入射表面積を減少させることによって)特徴づけられ、FFは68.3に増加し、効率は11.0%に増加する。値は、真空プロセスを用いて作製されたデバイスの文献で引用された値に対する比較である。
図4は、HS(A)中及びHS/HSe(B)中でアニーリングされた膜のXRDスペクトルを示す。膜の組成は、CuInSeに非常に近く、大部分が一致する。膜の類似性は、FFの結晶が膜の化学成分の結果ではなく、膜の品質に関するものであることを示している。HS/HSe中でアニーリングされた膜のSEM像は、結晶粒に有意の成長があることを示している。膜のSEM像の例が図5に示されている。
望ましい実施形態及び他の実施形態の上記記載は、出願人が着想した発明概念の範囲又は適用性を限定又は制限することを意図するものでない。開示された主題のあらゆる実施形態又は態様に基づいて記載した上記の特徴は、単独で、又は開示された主題の他のあらゆる実施形態又は態様と組み合わせて用いられるという本発明の利点は理解されるであろう。本発明の具体的実施態様を示して記載したが、この発明が包含するものを制限することを意図するものではない。当該分野の専門家であれば、本発明の範囲及びその均等の範囲から逸脱することなく様々な変化又は変形を成し得ることは理解し得るであろう。

Claims (19)

  1. 一般式Cu(In,Ga)(S,Se)を有するCIGS結晶を含有する膜を製造する方法であって、
    CIGS前駆体の溶液又は懸濁液を基板上に堆積して膜を形成することであって、前記CIGS前駆体が、銅と、インジウム及びガリウムのうちの少なくとも一種と、イオウ及びセレニウムのうちの少なくとも一種と、を含む、膜を形成することと、
    前記膜を反応性セレニウム含有雰囲気の中でアニーリングすることと、
    反応性セレニウム含有雰囲気の中でアニーリングした後、前記膜を反応性イオウ含有雰囲気の中でアニーリングすることと、を含む、方法。
  2. 反応性イオウ含有雰囲気での前記膜のアニーリング中に、前記膜からカーボンを反応除去すること、をさらに含む、請求項1に記載の方法。
  3. 反応性イオウ含有雰囲気は、硫化水素ガス(HS)を含む、請求項1に記載の方法。
  4. 反応性セレニウム含有雰囲気は、セレン化水素ガス(HSe)を含む、請求項1に記載の方法。
  5. 反応性イオウ含有雰囲気中でのアニーリングは、200〜500℃の温度で行われる請求項1に記載の方法。
  6. アニーリング温度は、反応性イオウ含有雰囲気中でのアニーリング中に変動する、請求項1に記載の方法。
  7. アニーリング温度は、第1の温度から、選択された変化率で、第2の温度へ変化される、請求項6に記載の方法。
  8. アニーリング温度を第2の温度で選択された時間保持し、次に、アニーリング温度を第3の温度に変化させることをさらに含む、請求項7に記載の方法。
  9. 複数層の膜を形成するために、追加の堆積ステップ及びアニーリングステップをさらに含む、請求項1に記載の方法。
  10. 複数層の膜におけるインジウムとガリウムの比率は、膜内部の深さの関数として変動する、請求項9に記載の方法。
  11. CIGS前駆体は、銅と、インジウム及び/又はガリウムと、イオウ及び/又はセレニウムと、を含むナノ粒子である、請求項1に記載の方法。
  12. CIGS前駆体は、CuSeナノ粒子とInSeナノ粒子を含む、請求項1に記載の方法。
  13. CIGS前駆体は、CuSeナノ粒子とInSeナノ粒子である、請求項1に記載の方法。
  14. CIGS前駆体は、単一種のナノ粒子にて懸濁溶液で供給される、請求項1に記載の方法。
  15. ナノ粒子は、前記溶液又は懸濁液の最大約50%w/vである、請求項11乃至14の何れかに記載の方法。
  16. 前記基板は、ガラスを含む、請求項1に記載の方法。
  17. 前記ガラスは、モリブデンがコートされたガラスである、請求項16に記載の方法。
  18. 前記基板は、ポリマーである、請求項1に記載の方法。
  19. 前記アニーリングは、チューブ炉で行われる、請求項1に記載の方法。
JP2018143123A 2014-01-31 2018-07-31 ナノ粒子から作られた薄膜中のカーボンを低減するためのh2s反応性アニーリング Expired - Fee Related JP6619484B2 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US201461934495P 2014-01-31 2014-01-31
US61/934,495 2014-01-31

Related Parent Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2016549235A Division JP2017511782A (ja) 2014-01-31 2015-01-30 ナノ粒子から作られた薄膜中のカーボンを低減するためのh2s反応性アニーリング

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2018197188A JP2018197188A (ja) 2018-12-13
JP6619484B2 true JP6619484B2 (ja) 2019-12-11

Family

ID=52450516

Family Applications (2)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2016549235A Pending JP2017511782A (ja) 2014-01-31 2015-01-30 ナノ粒子から作られた薄膜中のカーボンを低減するためのh2s反応性アニーリング
JP2018143123A Expired - Fee Related JP6619484B2 (ja) 2014-01-31 2018-07-31 ナノ粒子から作られた薄膜中のカーボンを低減するためのh2s反応性アニーリング

Family Applications Before (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2016549235A Pending JP2017511782A (ja) 2014-01-31 2015-01-30 ナノ粒子から作られた薄膜中のカーボンを低減するためのh2s反応性アニーリング

Country Status (7)

Country Link
US (1) US9887304B2 (ja)
EP (1) EP3100306A1 (ja)
JP (2) JP2017511782A (ja)
KR (1) KR101822147B1 (ja)
CN (1) CN105940500A (ja)
TW (1) TWI560891B (ja)
WO (1) WO2015114356A1 (ja)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101939114B1 (ko) * 2016-09-27 2019-01-17 재단법인대구경북과학기술원 셀렌화 및 황화 열처리를 통한 셀렌 및 황의 조성이 조절된 박막 태양전지 광흡수층의 제조방법 및 상기 광흡수층을 함유한 박막 태양전지

Family Cites Families (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6127202A (en) * 1998-07-02 2000-10-03 International Solar Electronic Technology, Inc. Oxide-based method of making compound semiconductor films and making related electronic devices
US8563348B2 (en) 2007-04-18 2013-10-22 Nanoco Technologies Ltd. Fabrication of electrically active films based on multiple layers
KR101144807B1 (ko) * 2007-09-18 2012-05-11 엘지전자 주식회사 태양전지 박막조성용 잉크와 그 제조방법, 이를 이용한cigs 박막형 태양전지, 및 그 제조 방법
EP2212916B1 (en) * 2007-11-30 2018-06-06 Nanoco Technologies Limited Preparation of nanoparticle material
US8784701B2 (en) * 2007-11-30 2014-07-22 Nanoco Technologies Ltd. Preparation of nanoparticle material
US8802977B2 (en) * 2008-05-09 2014-08-12 International Business Machines Corporation Techniques for enhancing performance of photovoltaic devices
US8889469B2 (en) * 2009-12-28 2014-11-18 Aeris Capital Sustainable Ip Ltd. Multi-nary group IB and VIA based semiconductor
US7998789B1 (en) * 2010-04-16 2011-08-16 Jenn Feng New Energy Co., Ltd. Method and system for forming copper indium gallium sulfur selenide absorption layer and cadmium sulfide buffer layer under non-vacuum condition
WO2013033729A1 (en) * 2011-09-02 2013-03-07 Alliance For Sustainable Energy, Llc Electrodepostion of gallium for photovoltaics
US8551802B2 (en) * 2011-09-12 2013-10-08 Intermolecular, Inc. Laser annealing for thin film solar cells
US20130157407A1 (en) 2011-12-20 2013-06-20 Intermolecular, Inc. APPARATUS FOR INLINE PROCESSING OF Cu(In,Ga)(Se,S)2 EMPLOYING A CHALCOGEN SOLUTION COATING MECHANISM
US9018032B2 (en) * 2012-04-13 2015-04-28 Tsmc Solar Ltd. CIGS solar cell structure and method for fabricating the same
US9243340B2 (en) * 2013-03-07 2016-01-26 Nano And Advanced Materials Institute Limited Non-vacuum method of manufacturing light-absorbing materials for solar cell application

Also Published As

Publication number Publication date
US9887304B2 (en) 2018-02-06
TW201543694A (zh) 2015-11-16
CN105940500A (zh) 2016-09-14
TWI560891B (en) 2016-12-01
US20150221795A1 (en) 2015-08-06
KR20160103077A (ko) 2016-08-31
KR101822147B1 (ko) 2018-01-25
WO2015114356A1 (en) 2015-08-06
JP2018197188A (ja) 2018-12-13
EP3100306A1 (en) 2016-12-07
JP2017511782A (ja) 2017-04-27

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5566901B2 (ja) ナノ粒子材料の調製
JP6760984B2 (ja) セレン化13族ナノ粒子
US8722447B2 (en) Selenization of precursor layer containing CulnS2 nanoparticles
KR101935270B1 (ko) 박막 태양 전지를 위한 구리-인듐-갈륨-칼코게나이드 나노 입자 전구체
US8158537B2 (en) Chalcogenide absorber layers for photovoltaic applications and methods of manufacturing the same
US20120115312A1 (en) Thin films for photovoltaic cells
TWI609840B (zh) 用於薄膜光伏打裝置之無機鹽-奈米粒子墨水及相關方法
WO2008129250A2 (en) Fabrication of electrically active films based on multiple layers
US20160049542A1 (en) Homogeneous precursor formation method and device thereof
US20110076798A1 (en) Dichalcogenide ink containing selenium and methods of making and using same
TWI644444B (zh) 金屬摻雜之Cu(In,Ga)(S,Se)<sub>2</sub>奈米顆粒
JP6302546B2 (ja) 高いクラックフリー限界を有するcigsナノ粒子インキ調製物
EP3022764A1 (en) Preparation of copper selenide nanoparticles
JP6619484B2 (ja) ナノ粒子から作られた薄膜中のカーボンを低減するためのh2s反応性アニーリング
Carrete et al. Spray‐deposited CuIn1− xGaxSe2 solar cell absorbers: Influence of spray deposition parameters and crystallization promoters
KR101349852B1 (ko) 나노입자 잉크를 이용한 태양전지용 박막의 제조 방법 및그 방법을 이용한 태양전지
KR101541449B1 (ko) 다공성 czts계 박막의 제조방법
TWI675890B (zh) 具有高無裂縫限度之cigs奈米粒子墨水調配物
WO2013002605A2 (ko) 태양전지 광활성층용 복합입자 및 이의 제조방법

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20180827

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20180827

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20190408

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20190528

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20190827

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20191011

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20191105

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20191114

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6619484

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees