JP6608979B2 - 電圧レギュレータセルフバーンインテストのための方法、システム、及び記憶媒体 - Google Patents

電圧レギュレータセルフバーンインテストのための方法、システム、及び記憶媒体 Download PDF

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Description

本発明は、コンピューティングシステムの電源装置(PSD)に関するものである。
現在のサーバファームまたはデータセンターは、通常、大量のサーバを用いて、各種アプリケーションサービスに必要な処理を実施する。各サーバは、各種操作を処理し、特定のレベルの電力消耗を必要として、これらの操作を維持する。これらの操作のいくつかは、「ミッションクリティカルな」操作であり、これらの操作に関連するユーザーにとって、これらの操作の中断は、重大なセキュリティ違反や収入損失を招く。
これらの操作を中断する1つの原因は、サーバシステムに接続される電源ユニット(PSU)の故障や不具合によるものである。1つ以上のPSUの故障や不具合は、サーバシステムの突然のシャットダウンを生じ、サーバシステムのデータ損失、更には、サーバシステムを損壊する可能性がある。PSUの信頼性、安定性、および安全性をテストし、向上させるために、バーンインテストがPSUの製造工程中に用いられている。しかしながら、従来のバーンインテストを用いることに関連する本質的な問題が多々存在する。
電源装置(PSD)のセルフバーンインテストを可能にする方法、システム、及び記憶媒体を提供する。
本発明のいくつかの実施形態に基づいたシステムおよび方法は、多段階機構(multi−phase scheme)を用いて上述の問題の解決法を提供し、サーバシステムの電源装置(PSD)(例えば、電源ユニット(PSU))のセルフバーンインテストを実現する。PSDは、パルス幅変調(PWM)コントローラ、および複数の電力段(power stages)を含む。複数の電力段のそれぞれは、ドライバ、ハイサイドMOSFET、およびローサイドMOSFETを含む。ハイサイドMOSFETとローサイドMOSFETのペアは、オン状態、オフ状態、およびトライステート(Tri−state)を含む3つの段階を有する。オン状態では、ハイサイドMOSFETはオンにされ、ローサイドMOSFETは、オフにされる。オフ状態では、ハイサイドMOSFETはオフにされ、ローサイドMOSFETは、オンにされる。トライステートでは、ハイサイドMOSFETは、オフにされ、ローサイドMOSFETもオフにされる。
本発明の1つの態様では、サーバシステムのコントローラからのテストモードコマンドを受けたとき、PWMコントローラは、PWM信号を送り、特定の電力段をオン状態に切り替え、少なくとも他のPWM信号を送り、複数の電力段の他の電力段をトライステートに切り替える。後続の特定の電力段のセルフバーンインテスト中に、他の電力段のローサイドMOSFETは、特定の電力段の負荷として機能することができる。
いくつかの実施形態において、複数の電力段のそれぞれは、電圧検出回路、電流検出回路、および温度センサを含むことができる。特定の電力段のセルフバーンインテスト中に、PWMコントローラは、特定の電力段の電圧検出回路、電流検出回路、および温度センサからデータを収集することができる。
本発明の1つの態様によると、PWMコントローラおよび複数の電力段を含むPSDのセルフバーンインテストを可能にするために、コンピュータが実行する方法は、第1のPWM信号を送信し、複数の電力段の特定の電力段をオン状態に切り替えるステップ、少なくとも1つの第2のPWM信号を送信し、複数の電力段の他の電力段をトライステートに切り替え、他の電力段は、特定の電力段がオン状態にある期間中に負荷として機能するステップ、および特定の電力段から出力電圧、出力電流、および温度のデータを収集するステップを含む。
いくつかの実施形態において、PSDのセルフバーンインテストを可能にするために、コンピュータが実行する方法は、いずれかのデータが所定の基準に適合しないと判定するとき(例えば、出力電圧が高過ぎるまたは低過ぎる、出力電流が高過ぎるまたは低過ぎる、および温度が高過ぎる)、警報信号を発生するステップを含む。データが所定の基準を通過した状態では、セルフバーンインテストを可能にするコンピュータ実施方法は、PSDの少なくとも1つの付加的な電力段がまだテストされるべきかどうかを判定するステップ、および第3のPWM信号を送信し、少なくとも1つの付加的な電力段の1つをオン状態に切り替え、少なくとも1つの第4のPWM信号を送信し、複数の電力段の残りの電力段をトライステートに切り替えるステップを含むことができる。
いくつかの実施形態において、セルフバーンインテストは、特定の電力段からのいずれかのデータが所定の基準に適合しないと判定し、特定の電力段に関する警報信号を発生することに応じて中止する。いくつかの他の実施形態において、セルフバーンインテストは、後続の電力段に移動し、特定の電力段からのいずれかのデータも所定の基準に適合しないと判定したとき、特定の電力段に関する警報信号を発生することができる。
いくつかの実施形態において、PSDのセルフバーンインテストは、8個の段階を含むことができる。セルフバーンインテストは、n個の電力段が並列してテストされる場合、8n個の段階(例えば、16個の段階)に拡張されることができる。
本発明のもう1つの態様によると、PWMコントローラおよび複数の電力段を含むPSDのセルフバーンインテストを可能にするために、コンピュータが実行する方法は、少なくとも2つの第1のPWM信号を送信し、複数の電力段の少なくとも2つの電力段をオン状態に実質的に同時に切り替えるステップ、少なくとも2つの第2のPWM信号を送信し、複数の電力段の他の電力段をトライステートに実質的に同時に切り替え、他の電力段は、少なくとも2つの電力段がオン状態にある期間中に負荷として機能するステップ、および少なくとも2つの電力段から電圧、電流、および温度のデータを収集するステップを含む。いくつかの実施形態において、PSDのセルフバーンインテストを可能にするために、コンピュータが実行する方法は、いずれかのデータが所定の基準に適合しないと判定したとき、警報信号を発生するステップを含む。データが所定の基準を通過した状態では、セルフバーンインテストを可能にするために、コンピュータが実行する方法は、PSDの少なくとも2つの付加的な電力段がまだテストされるべきかどうかを判定するステップ、および少なくとも2つの第3のPWM信号を送信し、少なくとも2つの付加的な電力段をオン状態に実質的に同時に切り替え、少なくとも2つの第4のPWM信号を送信し、複数の電力段の残りの電力段をトライステートに実質的に同時に切り替えるステップを含む。
本発明のもう1つの態様によると、指令を記録し、コンピュータにより読み取り可能な記憶媒体が提供され、指令がプロセッサによって実行されると、プロセッサは以下の処理を実行し、その処理は、第1のPWM信号を送信し、PSDの複数の電力段の特定の電力段をオン状態に切り替えるステップ、少なくとも1つの第2のPWM信号を送信し、複数の電力段の他の電力段をトライステートに切り替え、他の電力段は、特定の電力段がオン状態にある期間中に負荷として機能するステップ、および特定の電力段から出力電圧、出力電流、および温度のデータを収集するステップを含む。
本発明のもう1つの態様によると、指令を記録し、コンピュータにより読み取り可能な記憶媒体が提供され、指令がプロセッサによって実行されると、プロセッサは以下の処理を実行し、その処理は、少なくとも2つの第1のPWM信号を送信し、PSDの複数の電力段の少なくとも2つの電力段をオン状態に実質的に同時に切り替えるステップ、少なくとも2つの第2のPWM信号を送信し、複数の電力段の他の電力段をトライステートに実質的に同時に切り替え、他の電力段は、少なくとも2つの電力段がオン状態にある期間中に負荷として機能するステップ、および少なくとも2つの電力段から電圧、電流、および温度のデータを収集するステップを含む。
いくつかの構成によると、サーバシステムのコントローラは、基板管理コントローラ(BMC)である。サーバシステム上のストレージデバイスは、サーバシステム上のコントローラおよび中央処理装置(CPU)によりアクセスされるように構成される。ストレージデバイスは、一定期間でプログラム命令またはデータを保存する任意のストレージ媒体である。サービスコントローラとCPU間の共有メモリである。いくつかの実施形態によると、ストレージデバイスは、フラッシュドライブ、ランダムアクセスメモリ、不揮発性ランダムアクセスメモリ(NVRAM)、リードオンリメモリ(ROM)、電気的に消去可能なROM(EEPROM)またはメールボックスレジスタでもよい。
ここでは、多くの実施形態がノード上で特定のコントローラを用いて説明されているが、これらは例示に過ぎず、本発明を限定するものではない。逆に、メインCPUから独立したどのサービスコントローラもPSDのセルフバーンインテストを実行するのに用いられることができる。
本発明によれば、セルフバーインテストを実行しているとき、MOSFET部品(component)の全負荷テストを達成することができる。
本発明の上述の、およびその他の長所と特徴を得る方式を記述するため、前述の簡単に描写された原理は、更に具体的に、図面で示される具体的な実施形態により説明する。これらの図面は、本発明の例を示すものであり、本発明を限定するものではないことを理解すべきである。本発明の原理は、図面の描写、および付加された特徴と詳細の解釈によって説明される。
本発明の実施形態に係る、電源装置(PSD)のセルフバーンインテストを可能にする例示的なシステムを示すブロック図である。 本発明の実施形態に係る、電源装置(PSD)のセルフバーンインテスト期間のタイミングチャートを示すブロック図である。 本発明の実施形態に係る、電源装置(PSD)のセルフバーンインテスト期間のタイミングチャートを示すブロック図である。 本発明の実施形態に係る、電源装置(PSD)のセルフバーンインテスト期間のタイミングチャートを示すブロック図である。 本発明の実施形態に係る、電源装置(PSD)のセルフバーンインテスト期間のタイミングチャートを示すブロック図である。 本発明の実施形態に係る、データセンター内のサーバシステムのPSDのセルフバーンインテストを可能にする例示的なシステムを示すブロック図である。 本発明の実施形態に係る、PSDのセルフバーンインテストを可能にする例示的な方法である。 本発明の実施形態に係る、PSDのセルフバーンインテストを可能にする例示的な方法である。 本発明のさまざまな実施形態に係る、例示的なコンピューティングデバイスを示している。 本発明のさまざまな実施形態に係る、例示的なシステムを示している。 本発明のさまざまな実施形態に係る、例示的なシステムを示している。
本発明のさまざまな実施形態は、多段階機構(multi−phase scheme)を用いてサーバシステムの電源装置(PSD)(例えば、電源ユニット(PSU))のセルフバーンインテストを可能にするシステムおよび方法を提供する。PSDは、パルス幅変調(PWM)コントローラ、および複数の電力段(power stages)を含む。複数の電力段のそれぞれは、ドライバ、ハイサイドMOSFET、およびローサイドMOSFETを含む。本発明の1つの態様では、サーバシステムのコントローラからのテストモードコマンドを受けたとき、PWMコントローラは、PWM信号を送り、特定の電力段をオン状態に切り替え、少なくとも他のPWM信号を送り、複数の電力段の他の電力段をトライステートに切り替える。後続の特定の電力段のセルフバーンインテスト中に、他の電力段のローサイドMOSFETは、特定の電力段の負荷として機能することができる。
図1Aは、本発明の実施形態に係る、サーバシステムのPSDのセルフバーンインテストを可能にする例示的なシステム100Aを示すブロック図である。この実施形態において、PSDは、PWMコントローラ101および複数の電力段102を含む。複数の電力段102の出力は、負荷(load)103に結合される。PWMコントローラ101は、システム管理バス(SMBus)/集積回路間バス(I2C)バス/電源管理バス(PMBus)を介してサーバシステムのコントローラ(例えば、基板管理コントローラ(BMC))からテストモードコマンドを受け、複数の電力段102のセルフバーンインテストを可能にすることができる。複数の電力段のそれぞれ102は、ドライバ102−1、ハイサイドMOSFET102−2、およびローサイドMOSFET102−3を含む。
サーバシステムのコントローラ(例えば、基板管理コントローラ(BMC))からテストモードコマンドを受けたとき、PWMコントローラは、PWM信号(例えば、PWM1)を特定の電力段(例えば、電力段PH1)に送信し、特定の電力段(例えば、電力段PH1)は、オン状態に切り替え、同時に、PWM信号(例えば、PWM2、PWMx、およびPWMn)を送信し、他の電力段(例えば、電力段PH2、電力段PHx、および電力段PHn)をトライステートに切り替える。
後続の特定の電力段のセルフバーンインテストでは、特定の電力段(例えば、電力段PH1)は、オン状態にあり、この期間中に、特定の電力段のハイサイドMOSFET(例えば、PH1 HS)はオンにされ、特定の電力段のローサイドMOSFETは、オフにされる。他の電力段(例えば、電力段PH2、電力段PHx、および電力段PHn)は、トライステートに切り替えられ、この期間中、他の電力段(例えば、電力段PH2と電力段PHn)のハイサイドMOSFET(例えば、PH2 HSとPHn HS)とローサイドMOSFET(例えば、PH2 LSとPHn LS)の両方は、それぞれオフにされる。実際には、他の電力段(例えば、電力段PH2と電力段PHn)のローサイドMOSFET(例えば、PH2 LSとPHn LS)は、全て特定の電力段(例えば、電力段PH1)の負荷として機能する。
複数の電力段102のそれぞれは、少なくとも1つの電圧検出回路、電流検出回路、および温度センサを含む。特定の電力段のセルフバーンインテスト中に、PWMコントローラ101は、特定の電力段の電圧検出回路、電流検出回路、および/または温度センサからデータを収集することができる。いずれかのデータが所定の基準に適合しないと判定したとき(例えば、出力電圧が高過ぎるまたは低過ぎる、出力電流が高過ぎるまたは低過ぎる、或いは温度が高過ぎる)、サーバシステムのコントローラまたはPWMコントローラは、警報信号を発生し、特定の電力段またはPSDがセルフバーンインテストに失敗したことを示す。
図1AのPSDのセルフバーンインテストの期間のタイミング図は、図1B〜図1Eに示される。図1Bでは、PWM信号PWM1を受けたとき、ハイサイドMOSFET PH1_HSは、オンにされ、ローサイドMOSFET PH1_LSは、オフにされる。PWM信号PWM2、PWM3、およびPWMnを受けたとき、ハイサイドMOSFET PH2_HS、PH3_HS、およびPHn_HSは、オフにされ、ローサイドMOSFET PH2_LS、PH3_LS、およびPHn_LSもオフにされる。結果、ローサイドMOSFET PH2_LS、PH3_LS、およびPHn_LSは、ハイサイドMOSFET PH1_HSの負荷として機能する。
同様に、図1Cでは、PWM信号PWM2を受けたとき、ハイサイドMOSFET PH2_HSは、オンにされ、ローサイドMOSFET PH2_LSは、オフにされる。PWM信号PWM1、PWM3、およびPWMnを受けたとき、ハイサイドMOSFET PH1_HS、PH3_HS、およびPHn_HSは、オフにされ、ローサイドMOSFET PH1_LS、PH3_LS、およびPHn_LSもオフにされる。
図1Dでは、PWM信号PWM3を受けたとき、ハイサイドMOSFET PH3_HSは、オンにされ、ローサイドMOSFET PH3_LSは、オフにされる。PWM信号PWM1、PWM2、およびPWMnを受けたとき、ハイサイドMOSFET PH1_HS、PH2_HS、およびPHn_HSは、オフにされ、ローサイドMOSFET PH1_LS、PH2_LS、およびPHn_LSもオフにされる。図1Eでは、PWM信号PWMnを受けたとき、ハイサイドMOSFET PHn_HSは、オンにされ、ローサイドMOSFET PHn_LSは、オフにされる。PWM信号PWM1、PWM2、およびPWM3を受けたとき、ハイサイドMOSFET PH1_HS、PH2_HS、およびPH3_HSは、オフにされ、ローサイドMOSFET PH1_LS、PH2_LS、およびPH3_LSもオフにされる。
本発明のもう1つの態様に基づいて、サーバシステムのコントローラからテストモードコマンドを受けたとき、PWMコントローラ101は、少なくとも2つの第1のPWM信号を送信し、複数の電力段102の少なくとも2つの電力段をオン状態に実質的に同時に切り替え、少なくとも2つの第2のPWM信号を送信し、複数の電力段102の少なくとも2つの他の電力段をトライステートに実質的に同時に切り替えることができる。実際には、少なくとも2つの他の電力段102の対応するローサイドMOSFETは、少なくとも2つの電力段の負荷として機能する。
PWMコントローラ101は、特定の電力段の電圧検出回路、電流検出回路、および温度センサからデータを収集することができる。いずれかのデータが所定の基準に適合しないと判定したとき、サーバシステムのコントローラまたはPWMコントローラは、警報信号を発生し、少なくとも2つの電力段またはPSDがセルフバーンインテストに失敗したことを示す。
概して、本発明は、従来の解決法よりも有利である。従来のシステムは、セルフバーンインテストを実行しているとき、MOSFET部品(component)の全負荷テストを実際に達成することはできないか、または少なくとも高電力抵抗器をダミー負荷として用いる必要がある。しかしながら、従来のシステムの高電圧抵抗器は、大きなサイズを有し、必要な負荷電流に正確に適合することができない。
図1Fは、本発明の実施形態に係る、データセンター内のサーバシステム100Fの電源ユニット(PSU)104のセルフバーンインテストを可能にする例示的なシステムを示すブロック図である。この実施形態では、サーバシステム100Fは、少なくとも1つのマイクロプロセッサまたはプロセッサ105、1つ以上の冷却コンポーネンツ113、メインメモリ(MEM)112、AC電源114からAC電力を受信し、電源を、サーバシステム100Fの各種コンポーネンツ、例えば、プロセッサ105、ノースブリッジ(NB)ロジック106、PCIeスロット160、サウスブリッジ (SB)ロジック108、ストレージデバイス109、ISAスロット150、PCIスロット170、およびコントローラ111に提供する少なくとも1つのPSU104を有する。電源起動後、サーバシステム100Fは、メモリ、コンピュータストレージデバイス、または外部ストレージデバイスから、ソフトウェアアプリケーションをローディングして、各種操作を実行する。ストレージデバイス109は、サーバシステム100Fのオペレーティングシステム、およびアプリケーションに使用可能な論理ブロックに構造化され、サーバシステム100Fがオフであるときでも、サーバデータを保有することができる。
メインメモリ112は、NBロジック106を介して、プロセッサ105に結合される。メインメモリ112は、これに限定されないが、ダイナミックランダムアクセスメモリ(DRAM)、ダブルデータレートDRAM(DDR DRAM)、スタティックRAM(SRAM)、またはその他のタイプの適切なメモリを有する。メインメモリ112は、サーバシステム100FのBIOSデータを保存する。いくつかの配置において、BIOSデータは、ストレージデバイス109上に保存される。
BIOS110は、サーバシステム100Fの各種コンポーネンツを初期化および識別する任意のプログラム命令、またはファームウェアであってもよい。BIOS110は、サーバシステム100Fのハードウェアコンポーネンツの初期化およびテストを担う重要なシステムコンポーネントである。BIOSは、ハードウェアコンポーネンツに抽象層を提供することができ、これにより、周辺装置、例えば、キーパッド、ディスプレイ、およびその他の入力/出力装置と相互作用するアプリケーション、およびオペレーティングシステムの一貫した方法を提供する。
いくつかの構成において、BIOS110は、対応するサーバシステム上で、オペレーティングシステム(OS)、例えば、Microsoft Windows(登録商標) OS、Linux(登録商標) OS、または任意のオペレーティングシステム、を起動する前に、システムチェックを実行することができる。システムチェックは、対応するサーバシステムの初期化期間中に実行される診断体系テストである。システムチェックの例は、パワーオンセルフテスト(POST)を有する。BIOSは、POSTの主要機能を処理することができ、特定の周辺装置(例えば、ビデオ、および小型コンピュータ用周辺機器インターフェース(SCSI)初期化)を初期化するように設計されたるいくつかの責務を別のプログラムにオフロードする。POSTの主要機能には、CPUレジスタとBIOSコードのインテグリティを検証する、基本コンポーネンツをチェックする、システムメインメモリを検査する、および制御をその他の特殊なBIOS拡張に渡すことがある。いくつかの構成において、BIOSは、更に、全てのシステムバスと装置の発見、初期化、およびカタログ化、システムの構成を更新する一ユーザーインターフェースの提供、オペレーティングシステムにより要求サレスシステム環境の構築を含む追加POSTの機能を処理する。
システム100Fにおいて、ストレージデバイス109は、一期間中で、プログラム命令、またはデータを保存する任意のストレージ媒体である。ストレージデバイスは、コントローラ111とプロセッサ105間の共有メモリとすることができる。いくつかの構成において、ストレージデバイスは、独立したストレージデバイスとすることができる。ストレージデバイスは、フラッシュドライブ、ランダムアクセスメモリ(RAM)、不揮発性ランダムアクセスメモリ(NVRAM)、読み取り専用メモリ、または電気的に消去可能なPROM (EEPROM)であってもよい。ストレージデバイスは、システム構成、例えば、BIOS データを保存する。
プロセッサ105は、特定機能のプログラム命令を実行する中央処理装置(CPU)である。例えば、ブート処理プロセス期間中、プロセッサは、ストレージデバイス109中に保存されたBIOSデータにアクセスし、BIOS110を実行して、サーバシステム100Fを初期化することができる。ブート処理プロセス後、プロセッサ105は、サーバシステム100Fの特定タスクを実行し、管理するためにオペレーティングシステムを実行することができる。
いくつかの構成では、プロセッサ105は、マルチコアプロセッサであり、それぞれ、NBロジック106に接続されるCPUにより互いに結合される。いくつかの構成において、NBロジック106はプロセッサ105に組み込まれる。NBロジック106は、更に、複数のペリフェラルコンポーネントインターコネクトエキスプレス(PCIe)スロット160とSBロジック108(任意)に接続することもできる。複数のPCIeスロット160は、接続およびバス、例えば、PCIEXPRESSx1、USB 2.0、SMBuS、SIMカード、別のPCIeレーン用の将来の拡張、1.5Vと3.3Vの電源、およびサーバシステム100Fのシャーシ上のLEDを診断するワイヤに用いられることができる。
システム100Fにおいて、NBロジック106とSBロジック108は、ペリフェラルコンポーネントインターコネクト(PCI)バス107により接続される。PCIバス107は、プロセッサ105の標準化フォーマットの機能をサポートし、この標準化フォーマットは、任意のプロセッサ105のネイティブバスから独立している。PCIバス107は、更に、複数のPCIスロット170(例えば、PCIスロット171)に接続することができる。PCIバス107に接続される装置は、CPUバスに直接接続されるバスコントローラ(図示しない)であり、プロセッサ105のアドレス空間のアドレスが割り当てられ、単一バスクロックに同期化される。PCIカードは複数のPCIスロット170に用いられ、これに限定されないが、ネットワークインターフェースカード(NIC)、音声カード、モデム、TVチューナーカード、ディスクコントローラ、ビデオカード、小型コンピュータ用周辺機器インターフェース (SCSI)アダプター、およびPCメモリカード国際協会 (PCMCIA)を有する。
SBロジック108は、拡張バスを介して、PCIバス107を、複数の拡張カード、またはISAスロット150(例えば、ISAスロット151)に結合する。拡張バスは、SBロジック108と周辺装置間の通信に用いられ、且つ、これに限定されないが、インダストリスタンダードアーキテクチャ(ISA)バス、PC/104バス、ロウピンカウントバス、拡張ISA(EISA) バス、ユニバーサルシリアルバス(USB)、統合ドライブエレクトロニクス(IDE) バス、または周辺装置のデータ通信に用いることができるその他の任意の適切なバスを有する。
システム100Fでは、SBロジック108は、更に、少なくとも1つのPSU104に接続されるコントローラ111に結合される。いくつかの実施形態において、コントローラ111は、基板管理コントローラ(BMC)、ラックマネジメントコントローラ(RMC)、またはメイン中央処理装置(例えば、プロセッサ105)から独立した別のタイプのサービスコントローラであることができ、ここで開示される機能を実行することができる。
いくつかの構成では、コントローラ111は、少なくとも1つのPSU104の操作、および/またはその他の可用な操作を制御するように構成される。コントローラ111は、SMBus、I2C、またはPMBusを介して少なくともPSU104と通信することができる。セルフバーンインテストが必要なとき、コントローラ111は、テストモードコマンドを少なくとも1つのPSU104に送り、セルフバーンインテストを初期化することができる。
いくつかの構成では、コントローラ111は、インテリジェントプラットフォーム管理バス/ブリッジ(IPMB)を用いたインテリジェントプラットフォーム管理インターフェース(IPMI)メッセージを介してプロセッサ105およびストレージデバイス109と通信することができる。IPMBは、IC間バス(I2C)の強化型応用であり、且つ、メッセージベースのハードウェア-レベル基本インターフェース基準である。
いくつかの実施形態では、コントローラ111は、少なくとも1つのPSU104の少なくとも1つのPWMコントローラによって収集された電圧、電流、および温度のデータを受けて分析することができる。いずれかのデータが所定の基準に適合しないと判定したとき(例えば、出力電圧が高過ぎるまたは低過ぎる、出力電流が高過ぎるまたは低過ぎる、および温度が高過ぎる)、コントローラ111は、警報信号を発生し、少なくとも1つのPSDがセルフバーンインテストに失敗したことを示す。
いくつかの実施形態において、コントローラ111は、サーバシステム100Fの処理命令、およびコンポーネンツおよび/または接続状態を監視する。少なくとも処理命令に基づいて、コントローラ111は、適合する日時を決め、少なくとも1つのPSU104のセルフバーンインテストを初期化することができる。
図1Aおよび図1F中のシステム100Aおよび100Fは、それぞれ、ある素子だけを示しているが、データを処理または保存、或いは信号を送受信できる様々なタイプの電子またはコンピューティングコンポーネンツも、例示的なシステム100Aおよび100Fに含まれることができる。更に、システム100Aおよび100F中の電子またはコンピューティングコンポーネンツは、各種タイプのアプリケーションを実行する、および/または各種タイプのオペレーティングシステムを用いることができる。これらのオペレーティングシステムは、これに限定されないが、Android、BSD(Berkeley software Distribution)、iPhone(登録商標) OS (iOS)、Linux、OS X、Unix系のリアルタイムオペレーティングシステム (例えば、QNX)、Microsoft Windows、Window Phone、およびIBM z/OSを有する。
システム100Aと100Fに必要な実施方式に基づいて、各種ネットワーク、およびメッセージプロトコルが用いられ、これに限定されないが、TCP/IP、開放型システム間相互接続 (OSI)、ファイル転送プロトコル (FTP)、ユニバーサルプラグアンドプレイ (UpnP)、ネットワークファイルシステム(NFS)、コモンインターネットファイルシステム(CIFS)、 AppleTalk 等を有する。当業者なら理解できるように、図1Aと図1Fに説明されるシステム100Aと100Fは、説明のために用いられる。よって、ネットワークシステムは、多種の変化によって適切に実現され、同時に、本発明の各種実施形態に従って、ネットワークプラットフォームの設置を提供する。
図1Aと図1Fの構成では、システム100Aと100Fは、更に、1つ以上のワイヤレスコンポーネンツを有して、特定のワイヤレスチャネルの計算範囲で、1つ以上の電子装置と通信する。ワイヤレスチャネルは、装置が無線で通信できるようにする任意の適切なチャネル、例えば ブルートゥース(登録商標)、セルラー、NFC、またはWi-Fiチャネルである。理解できることは、装置は、従来の技術のように、1つ以上の従来の有線通信接続を有することである。各種実施形態の範囲内で、各種のその他の素子、および/または組み合わせが可能である。
図2Aは、本発明の一実施形態に係る、PWMコントローラおよび複数の電力段を含むPSDのセルフバーンインテストを可能にする例示的な方法200Aを示している。複数のノードを含むシステム中で、自動的に、BIOSセットアップオプションを送信するシステム200Aを示す図である。理解できることは、方法200Aは単なる例であり、本技術のその他の方法に従って、追加の、少ない、または代替の工程を有して、類似または代替順序、または並行して実施することができることである。例示的な方法200Aは、図1A〜図1Fに示されるように、第1のPWM信号を送信することから開始し、複数の電力段の特定の電力段をオン状態に切り替える。いくつかの実施形態では、PSDのPWMコントローラは、サーバシステムのコントローラからテストモードコマンドを受けたとき、PWM信号を送信することができる。PWMコントローラは、SMBus、I2C、またはPMBusを介してテストモードコマンドを受けることができる。
ステップ204では、図1A〜図1Fに示されるように、PWMコントローラは、少なくとも1つの第2のPWM信号を送信し、複数の電力段の他の電力段をトライステートに切り替えることができる。特定の電力段がオン状態にあるとき、他の電力段の対応するローサイドMOSFETは、特定の電力段の負荷として機能する。
ステップ206では、図1A〜図1Fに示されるように、PWMコントローラは、特定の電力段から出力電圧、出力電流、および温度のデータを収集することができる。ステップ208では、図1Aおよび図1Fに示されるように、PWMコントローラまたはサーバシステムのコントローラは、いずれかのデータが所定の基準に適合しないかどうかを判定することができる。所定の基準は、特定の電力段の出力電圧が高過ぎるまたは低過ぎる、特定の電力段の出力電流が高過ぎるまたは低過ぎる、および特定の電力段の温度が高過ぎることを含むことができるが、これに限定されるものではない。
ステップ210では、データが所定の基準に適合しない状態では、PWMコントローラまたはサーバシステムのコントローラは、警報信号を発生し、特定の電力段またはPSDが失敗したことを示す。ステップ212では、データが所定の基準を通過した状態においては、PWMコントローラは、PSDの少なくとも1つの付加的な電力段がまだテストされるべきかどうかを判定する。
PSDの少なくとも1つの付加的な電力段がまだテストされる状態では、PWMコントローラまたはサーバシステムのコントローラは、第3のPWM信号を送信し、少なくとも1つの付加的な電力段の1つをオン状態に切り替え、少なくとも1つの第4のPWM信号を送信し、複数の電力段の残りの電力段をトライステートに切り替えることができる。PSDのセルフバーンインテストを可能にするために、コンピュータが実行する方法は、ステップ202に戻る。複数の電力段の全ての電力段がテストされた状態では、コンピュータが実行する方法は、ステップ214で終了する。
図2Bは、本発明の実施形態に係る、PWMコントローラおよび複数の電力段を含むPSDのセルフバーンインテストを可能にする例示的な方法200Bを示している。ステップ222では、図1Aおよび図1Fに示されるように、PWMコントローラは、少なくとも2つの第1のPWM信号を送信し、複数の電力段の少なくとも2つの電力段をオン状態に実質的に同時に切り替える。いくつかの実施形態では、PWMコントローラは、サーバシステムのコントローラからテストモードコマンドを受けたとき、少なくとも2つの第1のPWM信号を送信することができる
ステップ224では、ステップ204では、図1Aおよび図1Fに示されるように、PWMコントローラは、少なくとも1つの第2のPWM信号を送信し、複数の電力段の他の電力段をトライステートに切り替えることができる。少なくとも2つの電力段がオン状態にあるとき、他の電力段の対応するローサイドMOSFETは、少なくとも2つの電力段の負荷として機能する。
ステップ226では、図1A〜図1Fに示されるように、PWMコントローラは、少なくとも2つの電力段から出力電圧、出力電流、および温度のデータを収集することができる。ステップ228では、図1Aおよび図1Fに示されるように、PWMコントローラまたはサーバシステムのコントローラは、いずれかのデータが所定の基準に適合しないかどうかを判定することができる。
ステップ230では、データが所定の基準に適合しない状態では、PWMコントローラまたはサーバシステムのコントローラは、警報信号を発生し、少なくとも2つの電力段またはPSDがセルフバーンインテストに失敗したことを示す。ステップ232では、データが所定の基準を通過した状態においては、PWMコントローラは、PSDの少なくとも2つの付加的な電力段がまだテストされるべきかどうかを判定する。
PSDの少なくとも2つの付加的な電力段がまだテストされる状態では、PWMコントローラまたはサーバシステムのコントローラは、少なくとも2つの第3のPWM信号を送信し、少なくとも2つの付加的な電力段の2つをオン状態に切り替え、少なくとも2つの第4のPWM信号を送信し、複数の電力段の残りの電力段をトライステートに切り替えることができる。PSDのセルフバーンインテストを可能にするために、コンピュータが実行する方法は、ステップ222に戻る。複数の電力段の全ての電力段がテストされた状態では、コンピュータが実行する方法は、ステップ234で終了する。
コンピュータネットワークは、通信リンクにより相互接続されるノードとエンドポイント、例えば パソコンとワークステーション間でデータを転送するセグメントの地理的に分配された集合である。多くのタイプのネットワークが可用であり、そのタイプは、ローカルエリアネットワーク(LAN)と広域ネットワーク(WAN)から、オーバーレイ、およびソフトウェア-定義ネットワーク、例えば、仮想拡張ローカルエリアネットワーク(VXLAN)まである。
LANは、通常、同一の物理位置、例えば、ビルやキャンパスに位置する専用のプライベート通信リンクにより、ノードと通信する。一方、WANは、通常、長距離通信リンク、例えば、コモンキャリア電話線、光学光路、同期光学ネットワーク(SONET)、または同期デジタル階層(SDH)リンクにより、地理的に分散したノードと接続する。LANとWANは、第2の層(L2)、および/または第2の層(L3)ネットワーク、および装置を有する。
インターネットは、世界中の異なるネットワークと接続するWANの一例であり、各種ネットワーク上のノード間にグローバル通信を提供する。ノードは、通常、所定のプロトコル、例えば 通信制御プロトコル/インターネットプロトコル(TCP/IP)に従って、データの離散フレーム、またはパケットを交換することにより、ネットワークで通信する。本案中、プロトコルは、どのように、ノードが互いに作用するかを定義する一組のルールを参照する。コンピュータネットワークは、更に、中間ネットワークノード、例えば、ルーターにより相互接続されて、各ネットワークの効果的な尺寸に拡張する。
オーバーレイネットワークは、一般に、仮想ネットワークが、物理ネットワークインフラ上で、創造、および分層できるようにする。オーバーレイネットワークプロトコル、例えば 仮想拡張LAN(VXLAN)、総称ルーティングカプセル化(NVGRE)を用いたネットワーク仮想化、ネットワーク仮想化オーバーレイ(NV03)、およびステートレストランスポートトンネリング (STT)は、トラフィックカプセル化スキームを提供し、このスキームは、ネットワークトラフィックが、論理トンネルにより、L2とL3ネットワークで実行できるようにする。このような論理トンネルは、仮想トンネルエンドポイント(VTEP)により起源、および終了する。
更に、オーバーレイネットワークは、仮想セグメント、例えば、VXLANオーバーレイネットワーク内のVXLANセグメントを有し、VMがその上で通信する仮想L2、および/L3オーバーレイネットワークを有する。仮想セグメントは、仮想ネットワーク識別子(VNI)、例えば、VXLANネットワーク識別子により識別され、VXLANネットワーク識別子は、特に、関連する仮想セグメント、またはドメインを識別する。
ネットワーク仮想化は、ハードウェア、およびソフトウェアリソースを、仮想ネットワークに結合できるようにする。例えば、ネットワーク仮想化は、各自仮想LAN(VLAN)により、複数のVMが、物理ネットワークに取り付けられるようにする。VMは、それらの各自VLANに従ってグループ化され、その他のVM、および内部または外部ネットワーク上のその他の装置と通信することができる。
ネットワークセグメント、例えば、物理または仮想セグメント、ネットワーク、装置、ポート、物理または論理リンク、および/またはトラフィックは、通常、ブリッジまたはフラッドドメインにグループ化される。ブリッジドメインまたはフラッドドメインは、ブロードキャストドメイン、例えば、L2ブロードキャストドメインを表す。ブリッジドメインまたはフラッドドメインは、単一サブネットを有するが、複数のサブネットを有してもよい。更に、ブリッジドメインは、ネットワークデバイス、例えば、スイッチ上のブリッジドメインインターフェースと関連する。ブリッジドメインインターフェースは、L2ブリッジネットワークとL3ルート間のトラフィックをサポートする論理インターフェースである。この他、ブリッジドメインインターフェースは、インターネットプロトコル(IP)端子、VPN端子、アドレス解像処理、MACアドレッシング等をサポートすることができる。ブリッジドメインとブリッジドメインインターフェースはともに、同一のインデックスまたは識別子により識別されることができる。
更に、エンドポイントグループ(EPG)が、ネットワークに陥られて、アプリケーションをネットワークにマッピングする。特に、EPGは、ネットワーク中のアプリケーションエンドポイントのグルーピングを用いて、接続性とポリシーをアプリケーションの群に応用する。EPGは、バケットのコンテナ、またはアプリケーションの集合またはアプリケーションコンポーネンツ、および転送とポリシーロジックを実行する段階として作用する。EPGは、更に、論理アプリケーション境界を代わりに用いて、ネットワークポリシー、セキュリティ、およびアドレッシングからの転送の分離を許可する。
クラウドコンピューティングが、1つ以上のネットワーク中に提供されて、共有リソースを用いてコンピューティングサービスを提供する。クラウドコンピューティングは、通常、コンピューティングリソースを、動的にプロビジョニングし、ネットワーク(例えば、クラウド)を介して、利用可能なリソースの集合からオンデマンドでクライアントコンピュータまたはユーザーコンピュータまたはその他の装置に割り当てられるインターネットベースのコンピューティングを含む。クラウドコンピューティングリソースは、例えば、コンピューティング、ストレージ、およびネットワーク装置、仮想マシン(VM)等の任意のタイプのリソースを有することができる。例えば、リソースは、サービス装置 (ファイヤウォール、ディープパケットインスペクタ、トラフィックモニター、ロードバランサ−等)、計算/処理装置(サーバ、CPU、メモリ、ブルートフォース処理機能)、ストレージデバイス(例えば、ネットワーク付加ストレージ、ストレージ領域ネットワーク装置)等を有することができる。このほか、このようなリソースが用いられて、仮想ネットワーク、仮想マシン(VM)、データベース、アプリケーション(Apps)等をサポートする。
クラウドコンピューティングリソースは、「プライベートクラウド」、 「パブリッククラウド」、および/または「ハイブリッドクラウド」を有する。「ハイブリッドクラウド」は、技術を介して相互運用(inter-operate)または連携(federate)する2つ以上のクラウドから構成されるクラウドインフラストラクチャーである。本質的に、ハイブリッドクラウドは、プライベートとパブリッククラウド間の相互作用であり、プライベートクラウドは、安全、且つ、スケーラブル方式で、パブリッククラウドに加入し、パブリッククラウドリソースを利用する。クラウドコンピューティングリソースは、更に、VXLAN等のオーバーレイネットワーク中の仮想ネットワークを介して、プロビジョニングすることができる。
ネットワーク切り換えシステムにおいて、ルックアップデータベースを維持して、切り換えシステムに取り付けられる複数のエンドポイント間のルートのトラックを記録する。しかしながら、エンドポイントは各種配置を有し、且つ、多数のテナントに関連する。これらのエンドポイントは、各種識別子、例えば、IPv4、IPv6、またはLayer-2を有する。ルックアップデータベースは、異なるモードで設定されて、異なるタイプのエンドポイント識別子を処理しなければならない。ルックアップデータベースのいくつかの能力は、入ってくるパケットの異なるアドレスタイプを処理するように設計される。更に、ネットワーク切り換えシステム上のルックアップデータベースは、通常、1K仮想ルーティング、および転送 (VRF)に制限される。これにより、各種タイプのエンドポイント識別子を処理する改善されたルックアップ演算法が必要である。本発明の技術は、電気通信ネットワーク中のルックアップにアドレスするのに必要な技術を提供する。本発明は、システム、方法、コンピュータに読み取り可能な記憶媒体を開示し、エンドポイント識別子を統一空間にマッピングし、異なる形式のルックアップを統一処理することができるようにすることにより、様々なタイプのエンドポイント識別子を統一する。システムとネットワークの手短な前置きは、図3と図4に示されるように、ここで開示される。これらの変化は各種実施形態中で描写される。相関技術は図3を参照する。
図3は、本発明を実行するのに適するコンピューティングデバイス300を示す図である。コンピューティングデバイス300は、マスター中央処理装置(CPU)362、インターフェース368、およびバス315(例えば、PCIバス)を有する。適するソフトウェア、またはファームウェアの制御下で起動するとき、CPU362は、パケット管理、エラー検出、および/またはルーティング機能、例えば、配線ミス検出機能の実行を担う。CPU362は、好ましくは、オペレーティングシステム、および任意の適当なアプリケーションソフトウェアを有するソフトウェアの制御下で、これらの全機能を完成する。CPU362は、1つ以上のプロセッサ363を有し、例えば、マイクロプロセッサのMotorola family、またはマイクロプロセッサのMIPSfamilyである。その他の実施形態において、プロセッサ363は、コンピューティングデバイス300の操作を制御するために特別に設計されたハードウェアである。特定の実施形態において、メモリ361(例えば、不揮発性RAM、および/またはROM)は、更に、CPU362の一部を形成する。しかしながら、メモリは多くの異なる方式によりシステムに結合することができる。
インターフェース368は、一般に、インターフェースカード(ときに、「ラインカード)とも称される)として提供される。一般に、それらは、ネットワークにより、データパケットの送受信を制御し、ときに、コンピューティングデバイス300とともに用いられるその他の周辺装置をサポートする。インターフェース間で、イーサネット(登録商標)インターフェース、フレームリレーインターフェース、ケーブルインターフェース、DSLインターフェース、トークンリングインターフェース等を使用することができる。このほか、各種超高速インターフェースは、高速トークンリングインターフェース、ワイヤレスインターフェース、イーサネットインターフェース、ギガビットイーサネットインターフェース、ATMインターフェース、HSSIインターフェース、POSインターフェース、FDDIインターフェース等を使用することができる。一般に、これらのインターフェースは、適切な媒体と通信する適切なポートを有する。いくつかの実施形態において、インターフェースは、更に、独立したプロセッサ、および揮発性RAMを有する。独立したプロセッサは、パケット切り換え、媒体制御と管理として、このような通信集中タスクを制御することができる。通信集中タスク用に別々のプロセッサを提供することにより、これらのインターフェースは、マスターマイクロプロセッサ362が、ルーティング計算、ネットワーク診断、セキュリティ機能等を効率的に実行できるようにする。
図3に示されるシステムは、本発明の1つの特定コンピューティングデバイスであるが、それが、本発明の唯一のネットワーク装置構造であることを意味するのではない。例えば、通信やルーティング計算等を処理する単一プロセッサを有する機構が頻繁に用いられる。更に、別のタイプのインターフェースと媒体も、ルーターと一緒に用いることができる。
ネットワークデバイスの構成にかかわらず、1つ以上のメモリ、またはメモリモジュール(メモリ361を有する)を採用し、ローミング、ルート最適化、およびルーティング機能を実行する汎用目的ネットワーク操作とメカニズムのプログラム命令を保存するように構成される。プログラム命令は、オペレーティングシステム、および/または1つ以上のアプリケーションの操作を制御することができる。1つのメモリ、または複数のメモリは、モビリティバインディング、登録、および関連表等の表を保存するように構成することができる。
図4と図5は、本発明実施形態による例示的システムを示す図である。当業者なら、本発明の技術を実行するとき、更に適当な実施形態を理解することができる。当業者ならその他のシステムも可能であることが理解できる。
図4は、システムバスコンピューティングシステム構造400を示す図であり、システムのコンポーネンツは、バス402を用いて互いに電気的に通信する。システム400は、処理ユニット(CPUまたはプロセッサ)430、およびシステムバス402を有する。システムバス402は、システムメモリ404、例えば、読み取り専用メモリ (ROM)406、およびランダムアクセスメモリ(RAM)408を含む各種システムコンポーネンツをプロセッサ430に結合する。システム400は、高速メモリのキャッシュを有し、キャッシュは、直接、プロセッサ430に接続される、プロセッサ430に隣接する、またはプロセッサ430の一部分として統合される。システム400は、メモリ404、および/またはストレージデバイス412から、キャッシュ428にデータを複製して、プロセッサ430により高速アクセスする。この方法で、キャッシュは、プロセッサ430がデータを待つときに遅延が生じるのを防止する性能向上を提供する。これら、およびその他のモジュールは、様々な動作を実行するためにプロセッサ430を制御する、またはプロセッサ430を制御するように構成される。その他のシステムメモリ404もこの用途として可能である。メモリ404は、異なるパフィーマンス特徴を有する複数の異なるタイプのメモリを有することができる。プロセッサ430は、任意の汎用目的のプロセッサ、およびハードウェアモジュール、またはソフトウェアモジュール、例えば、ストレージデバイス412中に保存され、プロセッサ430と特殊用途プロセッサを制御するように構成されるモジュール1 414、モジュール2 416、およびモジュール3 418を有し、ソフトウェア命令は、実際のプロセッサ設計に組み込まれる。プロセッサ430は、実質的に、複数のコア、またはプロセッサ、バス、メモリコントローラ、キャッシュ等を含む完全に自己完結型のコンピューティングシステムであってもよい。マルチコアプロセッサは、対称、または非対称である。
ユーザーがコンピューティングデバイス400と相互作用できるようにするため、入力装置420は、任意の数量の入力メカニズム、例えば、スピーチのマイクロフォン、ジェスチャーやグラフィカル入力のタッチスクリーン、キーボード、マウス、動き入力等を表す。出力装置422は、従来の技術で知られる1つ、またはそれ以上の数量の出力メカニズムである。ある状況下で、マルチモーダルシステムは、ユーザーが、コンピューティングデバイス400と通信する複数のタイプの入力を提供できるようにする。通信インターフェース424は、通常、ユーザー入力とシステム出力を統治、および管理することができる。任意の特定のハードウェア構成における操作の制限がなく、よって、ここでの基本的特徴は、改良されたハードウェアやファームウェアの構成が開発されるときに容易に代用することができる。
ストレージデバイス412は不揮発性メモリであり、且つ、ハードディスク、または磁気カセット、フラッシュメモリカード、固体メモリ装置、デジタル多用途ディスク、カートリッジ、ランダムアクセスメモリ(RAM)408、読み取り専用メモリ(ROM)406、およびそれらの混合等のコンピュータでアクセス可能なデータを保存するその他のタイプのコンピュータ読み取り可能媒体であってもよい。
ストレージデバイス412は、ソフトウェアモジュール414、416、418を有して、プロセッサ430を制御する。その他のハードウェア、またはソフトウェアモジュールも含まれる。ストレージデバイス412はシステムバス402に接続される。一実施形態において、特定の機能を実行するハードウェアモジュールは、必要なハードウェアコンポーネント、例えば、プロセッサ430、バス402、ディスプレイ436等と接続するコンピュータ読み取り可能媒体中に保存されるソフトウェアコンポーネントを有して、機能を実行する。
コントローラ410は、システム400上の専門のマイクロコントローラ、またはプロセッサ、例えば、BMC(基板管理コントローラ)である。一部の例では、コントローラ410は、インテリジェントプラットフォーム管理インターフェース(IPMI)の一部である。更に、一部の例では、コントローラ410は、システム400のマザーボード、またはメイン回路板に組み込まれる。コントローラ410は、システム管理ソフトウェアとプラットフォームハードウェア間のインターフェースを管理することができる。コントローラ410は、また、以下で記述するように、各種システムデバイス、およびコンポーネント(内部および/または外部)、例えば、コントローラ、または周辺機器と通信することができる。
コントローラ410は、通知、警告、および/またはイベントに特定の応答を生成し、遠隔装置、またはコンポーネント(例えば、電子メールメッセージ、ネットワークメッセージ等)と通信して、自動ハードウェア回復工程等の指令や命令を生成することができる。システム管理者は、以下で更に記述するように、コントローラ410と遠隔通信して、特定のハードウェア回復工程、または操作を開始または実行することができる。
システム400上の異なるタイプのセンサ(例えば、センサ426)は、コントローラ410に、パラメータ、例えば、冷却ファン速度、電源状態、オペレーティングシステム (OS)状態、ハードウェア状態等を報告する。コントローラ410は、システムイベントログコントローラ、および/またはストレージも含んで、コントローラ410により受信されるイベント、警告、および注意を管理し、保存することができる。例えば、コントローラ410またはシステムイベントログコントローラは、1つ以上の装置とコンポーネントから警告や注意を受信し、システムイベントログストレージコンポーネント中にその警告や注意を維持することができる。
フラッシュメモリ432は、ストレージおよび/またはデータ転送に用いられるシステム400により用いられる電子不揮発性コンピュータストレージ媒体、またはチップである。フラッシュメモリ432は、電気的に消去、および/または再プログラム化される。フラッシュメモリ432は、例えば、消去可能なPROM(EPROM)、電気的に消去可能なPROM(EEPROM)、ROM、NVRAM、または相補型MOS(CMOS)を有する。フラッシュメモリ432は、システム400が起動するとき、システム400により実行されるファームウェア434、およびファームウェア434に対して指定された構成のセットを保存する。フラッシュメモリ432は、更に、ファームウェア434により用いられる構成を保存することができる。
ファームウェア434は、ベーシックインプット/アウトプットシステム(BIOS)、またはその後継、または例えば、エクステンシブルファームウェアインターフェース(EFI)、またはユニファイドエクステンシブルファームウェアインタフェース(UEFI)等の等価物を含むことができる。システム400が起動されるたびに、ファームウェア434は、シーケンスプログラムとしてローディングされ、実行されることができる。ファームウェア434は、構成のセットに基づいて、システム400中に存在するハードウェアを識別、初期化、並びに、テストする。ファームウェア434は、システム400上で、セルフテスト、例えば、パワーオンセルフテスト(POST)を実行する。このセルフテストは、各種ハードウェアコンポーネント(例えば、ハードディスクドライブ、光学読み取り装置、冷却装置、メモリモジュール、拡張カード等)の機能性をテストする。ファームウェア434は、メモリ404、ROM406、RAM408、および/またはストレージデバイス412中の一領域をアドレス、および割り当てて、オペレーティングシステム(OS)を保存する。ファームウェア434は、ブートローダーおよび/またはOSをローディングし、システム400の制御権をOSに与える。
システム400のファームウェア434は、どのように、ファームウェア434が、システム400中で、各種ハードウェアコンポーネントを制御するかを定義するファームウェア構成を有することができる。ファームウェア構成は、システム400内の各種ハードウェアコンポーネントが起動される順番を判定する。ファームウェア434は、各種異なるパラメータの設定を許可するインターフェース(例えば、UEFI)を提供し、これは、ファームウェアデフォルト設定のパラメータと異なる。例えば、ユーザー(例えば、システム管理者)は、ファームウェア434を用いて、クロックおよびバス速度を指定し、どの周辺機器をシステム400に取り付けるか指定し、監視の状態(例えば、ファン速度およびCPU温度制限)を指定し、システム400のパフォーマンス全体、および電力使用量に影響する多種のその他のパラメータを指定する。
ファームウェア434は、フラッシュメモリ432中に保存されるように説明されているが、当業者なら理解できるように、ファームウェア434は、その他のメモリ、コンポーネント、例えば、メモリ404、またはROM406中に保存することができる。しかしながら、示されるフラッシュメモリ432中に保存されるファームウェア434は説明の目的であり、これに限定しない。
システム400は1つ以上のセンサ426を有する。1つ以上のセンサ426は、例えば、1つ以上の温度センサ、サーマルセンサ、酸素センサ、化学センサ、ノイズセンサ、ヒートセンサ、電流センサ、電圧検出器、気流センサ、流量センサ、赤外線放射温度計、熱流束センサ、温度計、高温計等を有する。1つ以上のセンサ426は、例えば、バス402により、プロセッサ、キャッシュ428、フラッシュメモリ432、通信インターフェース424、メモリ404、ROM406、RAM408、コントローラ410、およびストレージデバイス412と通信する。1つ以上のセンサ426は、また、1つ以上の異なる手段、例えば、アイスクエアドシー(I2C)、汎用並列出力(GPO)等を介して、システム内のその他のコンポ―ネントと通信することができる。
図5は、記述した方法、または操作の実行、およびグラフィカルユーザーインターフェース(GUI)を生成、ならびに、表示に用いることができるチップセット機構を有する例示的なコンピュータシステム500を示す図である。コンピュータシステム500は、コンピュータハードウェア、ソフトウェア、およびファームウェアを有し、本発明の技術を実行する。システム500は、任意の数量の物理的、および/または論理的に異なるリソースを表すプロセッサ510を有し、ソフトウェア、ファームウェア、および識別された計算を実行するように構成されたハードウェアを実行することができる。プロセッサ510は、プロセッサ510からの入出力を制御することができるチップセット502と通信する。この例において、チップセット502は、情報を出力装置514、例えば、ディスプレイに出力し、ストレージデバイス516(磁気媒体、固体媒体を有する)と情報を読み書きする。チップセット502も、RAM518とデータをやり取りする。各種ユーザーインターフェースコンポーネント506と相互作用するブリッジ504が提供されて、チップセット502と相互作用する。このようなユーザーインターフェースコンポーネント506は、キーボード、マイクロフォン、タッチ検出、および処理回路、ポインティングデバイス(マウス等)を有する。一般に、システム500への入力は、任意の各種ソース、機器生成、および/または使用者の生成による入力である。
チップセット502も、異なる物理インターフェースを有する1つ以上の通信インターフェース508と相互作用する。このような通信インターフェースは、有線および無線のローカルエリアネットワークのインターフェースを含むことができ、広域帯域幅ネットワークおよびパーソナルエリアネットワークに用いる。本発明におけるGUIを生成、表示、および使用する方法のいくつかの応用は、物理インターフェースにより、または、ストレージデバイス516またはRAM518中に保存されるデータを分析するプロセッサ510によって、機器自身により生成された順序付けられたデータセットを受信する工程を有する。更に、機器は、ユーザーインターフェースコンポーネント506を介して、ユーザーからの入力を受信し、適当な機能を実行し、例えば、プロセッサ510を用いて、これらの入力を解釈することによりブラウズ機能を実行する。
更に、チップセット502は、電源が入れられたとき、コンピュータシステム500により実行することができるファームウェア512と通信することができる。ファームウェア512は、ファームウェア構成のセットに基づいて、コンピュータシステム500中に存在するハードウェアを認識、初期化、およびテストすることができる。ファームウェア512は、システム500で、セルフテスト、例えば、POSTを実行する。セルフテストは、各種ハードウェアコンポーネント502〜518の機能をテストすることができる。ファームウェア512は、メモリ518中の一領域をアドレス、および割り当てて、OSを保存する。ファームウェア512は、ブートローダーおよび/またはOSをローディングし、システム500の制御権をOSに与える。一部の例では、ファームウェア512は、ハードウェアコンポーネント502〜510、および514〜518と通信する。ここで、ファームウェア512は、チップセット502、および/または1つ以上のその他のコンポーネントを介して、ハードウェアコンポーネント502〜510、および514〜518と通信する。ある場合では、ファームウェア512は、ハードウェアコンポーネント502〜510、および514〜518と直接通信することができる。
例示的なシステム300、400、および500は、1つ以上のプロセッサ(例えば、363、430、510)、またはネットワーク接続されるコンピューティングデバイスの一群またはクラスタを有し、より良い処理能力を提供することができることは理解できるであろう。
説明をわかりやすくするため、いくつかの実施形態において、本発明の技術は、独立した機能ブロックを含み、機能ブロックは、装置、デバイスコンポーネント、ソフトウェア、またはハードウェアとソフトウェアの組み合わせで具体化される方法中の工程やルーティンを有する。
いくつかの実施形態において、コンピュータにより読み取り可能なストレージデバイス、媒体、およびメモリは、ビットストリーム等を含むケーブルや無線信号を有する。しかしながら、言及されるとき、非一過性の(non-transitory)コンピュータ読み取り可能ストレージ媒体は、エネルギー、キャリア信号、電磁波、および信号自身等の媒体を明確に排除する。
上記の例における方法は、コンピュータ読み取り可能媒体に保存されるか、さもなければ利用可能なコンピュータ実行可能命令を用いて実施することができる。例えば、指令およびデータなど、このような指令は、特定の機能または機能の群を実行する汎用目的コンピュータ、特殊用途コンピュータ、または特殊用途処理装置を引き起こすか、または構成する命令およびデータを含むことができる。用いられるコンピュータリソースの一部は、ネットワークによりアクセス可能である。コンピュータ実行可能命令は、例えば、バイナリー、中間フォーマット指令、例えば、アセンブリ言語、ファームウェア、またはソースコードである。命令、使用した情報、および/または記述例に従った方法中に生成された情報の保存に用いることができるコンピュータ読み取り可能媒体の例は、磁気または光学ディスク、フラッシュメモリ、不揮発性メモリを備えるUSBデバイス、ネットワークストレージデバイス等を含む。
これらの開示における方法を実施する装置は、ハードウェア、ファームウェア、および/またはソフトウェアを有し、任意の各種フォームファクタを利用する。このようなフォームファクタの一般的な例は、ラップトップ、スマートフォン、スモールフォームファクタパーソナルコンピュータ、PDA、ラックマウント型装置、スタンドアロン装置等を有する。ここで記述される機能性は、更に、周辺装置、またはアドインカードで具体化される。更なる例として、このような機能性は、異なるチップ間の回路基板上、または単一の装置で実行される異なるプロセス間で実行することができる。
命令、このような命令を伝達する媒体、それらを実行するコンピューティングリソース、およびこのようなコンピューティングリソースをサポートするその他の構造は、ここで記述される機能を提供する手段である。
本発明の各種実施形態は、データセンターのサーバシステムのPSUのセルフバーンインテストを可能にするシステムと方法を提供する。特定の実施形態は、どのように、任意の操作を異なる指令で実現するかを示しているが、その他の実施形態は、任意の操作を異なる指令に組み込んでいる。説明を明確にさせるため、本発明のいくつかの実施形態において、デバイス、デバイスコンポーネント、ソフトウェア、またはハードウェアとソフトウェアの組み合わせで具体化される方法中の工程、またはルーティンを有する機能ブロックを有するものとして示される。
各種実施形態は、更に、多様な操作環境中で実現され、いくつかの実施形態において、1つ以上のサーバコンピュータ、ユーザーコンピュータ、または任意の数量のアプリケーションを操作するのに用いられるコンピューティングデバイスを有する。ユーザー、またはクライアントデバイスは、例えば、標準のオペレーティングシステムを実行するデスクトップまたはラップトップコンピュータ等の任意の数量の汎用目的のパソコン、およびモバイルソフトウェアを実行し、複数のネットワークおよびメッセージプロトコルをサポートすることもできるセルラー、ワイヤレス、およびハンドヘルド装置を含むことができる。このようなシステムは、更に、任意の各種商用のオペレーティングシステムおよびその他の既知のアプリケーション(開発、およびデータベース管理)を実行する、いくつかのワークステーションを有する。これらの装置は、その他の電子装置、例えば、ダミー端子、シンクライアント、ゲームシステム、およびネットワークにより通信できるその他の装置を有する。
本発明のいくつかの実施態様、または一部は、ハードウェア中で実現され、本特許出願は、以下の技術の任意の1つ、またはその組み合わせにより実現されることができる: ロジック機能をデータ信号に実行するロジックゲートを有する離散ロジック回路、適当な組み合わせのロジックゲート、プログラム可能ハードウェア、例えば、プログラマブルゲートアレイ(PGA)、フィールドプログラマブルゲートアレイ(FPGA)等を有する特定用途向け集積回路(ASIC)。
大多数の実施形態は、当業者が熟知する少なくとも1つのネットワークを用いて、任意の各種商用のプロトコル、例えば、TCP/IP、 OSI、 FTP、 UPnP、 NFS、 CIFS、 AppleTalk等を利用して、通信をサポートする。ネットワークは、例えば、ローカルエリアネットワーク、広域ネットワーク、仮想プライベートネットワーク、インターネット、イントラネット、エクストラネット、公衆交換電話網、赤外線ネットワーク、無線ネットワーク、およびそれらの任意の組み合わせである。
上記の例における方法は、コンピュータ実行可能命令を用いて実施され、コンピュータ実行可能命令は、コンピュータ読み取り可能媒体に保存される、または利用可能である。このような命令は、例えば、汎用目的コンピュータ、特殊用途コンピュータ、または特殊用途処理装置を構成して、ある機能、または機能の群を実行する命令およびデータを有することができる。用いられるコンピュータリソースの一部は、ネットワークによりアクセス可能である。コンピュータ実行可能命令は、例えば、バイナリー、中間フォーマット命令、例えば、アセンブリ言語、ファームウェア、またはソースコードである。命令、使用した情報、および/または記述例に従った方法中に生成された情報の保存に用いることができるコンピュータ読み取り可能媒体の例は、磁気または光学ディスク、フラッシュメモリ、不揮発性メモリを備えるUSBデバイス、ネットワークストレージデバイス等を含む。コンピュータ読み取り可能媒体の例は、指令、使用した情報、および/または方法の期間中に生成された情報の保存に用いられ、コンピュータ読み取り可能媒体は、記述される例に従って、磁気または光学ディスク、フラッシュメモリ、USBデバイスを有し、磁気または光学ディスク、フラッシュメモリ、USBデバイスは、不揮発性メモリ、ネットワークストレージデバイス等に提供される。
これらの開示における方法を実施する装置は、ハードウェア、ファームウェア、および/またはソフトウェアを有し、任意の各種フォームファクタを利用する。このようなフォームファクタの一般的な例は、ラップトップ、スマートフォン、スモールフォームファクタパーソナルコンピュータ、PDA、ラックマウント型装置、スタンドアロン装置等を有する。ここで記述される機能性は、更に、周辺装置、またはアドインカードで具体化される。更なる例として、このような機能性は、異なるチップ間の回路基板上、または単一の装置で実行される異なるプロセス間で実行することができる。
ウェブサーバを用いた実施形態において、ウェブサーバは、HTTPサーバ、FTPサーバ、CGIサーバ、データサーバ、Javaサーバ、およびビジネスアプリケーションサーバを有する任意の種類のサーバ、または中層アプリケーションを実行する。サーバは、例えば、任意のプログラミング言語、例えば、Java(登録商標)、C、C#、またはC++、または任意のスクリプト言語、例えば、Perl、PythonまたはTCL、およびそれらの組み合わせで書き込まれる1つ以上のスクリプト、またはプログラムとして実行される1つ以上のウェブアプリケーションを実行することにより、ユーザー装置からの要求に応答して、プログラムやスクリプトを実行することができる。サーバは、更に、データベースサーバを有し、開放市場による商用のソフトウェアに限定されない。
サーバシステムは、前述の様々なデータ保存、およびその他のメモリ、およびストレージ媒体を有する。これらは、様々な位置に存在し、例えば、ストレージ媒体が1つ以上のコンピュータにローカル接続される(および/または存在する)、またはネットワークにより、任意の、または全てのコンピュータから遠隔で連結される。一組の特定の実施形態において、情報は、当業者により熟知されるストレージエリアネットワーク (SAN)中に存在する。同様に、コンピュータに起因する機能を実行するのに必要とされる任意のファイル、サーバ、またはその他のネットワーク装置は、必要に応じて、局部的、および/または遠隔で保存される。システムは、コンピュータ制御の装置を有し、このような装置は、それぞれ、1つのバスにより電気的に結合されるハードウェアコンポーネントを有し、コンポーネントは、例えば、少なくとも1つの中央処理ユニット(CPU)、少なくとも1つの入力装置 (例えば、マウス、キーボード、コントローラ、タッチセンサーディスプレイコンポーネント、またはキーパッド)、および少なくとも1つの出力装置(例えば、ディスプレイ装置、プリンター、またはスピーカー)を有する。このようなシステムは、更に、1つ以上のストレージデバイス、例えば、 ディスクドライブ、光学ストレージデバイス、およびソリッドステートストレージデバイス(例えば、ランダムアクセスメモリ(RAM)、またはリードオンリメモリ(ROM))も含むことができ、除去可能な媒体装置、メモリカード、フラッシュカード等も含むことができる。
このような装置は、上述のように、コンピュータにより読み取り可能なストレージ媒体の読み取り機、通信装置(例えば、モデム、ネットワークカード(有線または無線)、赤外線コンピューティングデバイス)、およびワーキングメモリも含むことができる。コンピュータ可読ストレージ媒体読み取り機は、コンピュータ可読ストレージ媒体に接続される、またはコンピュータ可読ストレージ媒体を受け入れることができる。コンピュータ可読ストレージ媒体は、遠隔、局部、固定、および/または取り外し可能なストレージデバイスを表しており、一時的、および/または更に永久的に、コンピュータ可読情報を含有、保存、送信、および回収するストレージ媒体も表している。システムおよび各種デバイスは、更に、一般に、少なくとも1つのワーキングメモリ装置中に位置する複数のソフトウェアアプリケーション、モジュール、サービス、またはその他の素子を有し、その他の素子は、オペレーティングシステム、およびアプリケーションプログラム(例えば、クライアントアプリケーション、またはウェブブラウザ)を有する。注意すべきことは、前述の例に基づいて、様々に変化させることができることである。例えば、カスタマイズされたハードウェアを使用することもできる、および/または特定素子をハードウェア/ソフトウェア(ポータブルソフトウェア、例えば、アプレットを含む)、または両方で実施することができる。更に、その他のコンピューティングデバイス、例えば、ネットワーク入/出力装置への接続も使用される。
コード、またはコードの一部のストレージ媒体およびコンピュータ可読媒体は、従来の記述で用いられる任意の適当な媒体を含むことができる。この媒体は、例えば、これに限定されるものではないが、揮発性と不揮発性、取り外し可能と非取り外し可能媒体等のストレージ媒体およびコンピューティング媒体を含むことができ、RAM、ROM、EPROM、EEPROM、フラッシュメモリ、またはその他のメモリ技術、CD-ROM、デジタル多用途ディスク(DVD)、またはその他の光学ストレージ、磁気カセット、磁気テープ、磁気ディスクストレージ、またはその他の磁気ストレージデバイス、または必要な情報を保存するのに用いられることができ、システムデバイスによりアクセスされることができるその他の任意の媒体を含む情報(例えば、コンピュータ可読指令、データ構造、プログラムモジュール、またはその他のデータ)を保存、および/または送信する任意の方法または技術で実現される。ここで提供される技術と教示に基づいて、当業者なら、本発明の各種態様を実施するその他の方法、および/または方法を理解することができる。
本発明では好ましい実施例を前述の通り開示したが、これらは決して本発明に限定するものではなく、当該技術を熟知する者なら誰でも、本発明の精神と領域を脱しない範囲内で各種の変動や潤色を加えることができ、従って本発明の保護範囲は、特許請求の範囲で指定した内容を基準とする。
100A 例示的なシステム
100F サーバシステム
101 PWMコントローラ
102 電力段
102−1 ドライバ
102−2 ハイサイドMOSFET
102−3 ローサイドMOSFET
103 負荷
104 電源ユニット(PSU)
105 プロセッサ
106 ノースブリッジ(NB)ロジック
107 ペリフェラルコンポーネントインターコネクト(PCI)バス
108 サウスブリッジ (SB)ロジック
109 ストレージデバイス
110 BIOS
111 コントローラ
112 メインメモリ(MEM)
113 冷却コンポーネンツ
114 AC電源
150 ISAスロット
151 ISAスロット
160 PCIeスロット
161 PCIeスロット
170 PCIスロット
171 PCIスロット
200A、200B 例示的な方法
300 コンピューティングデバイス
315 バス
361 メモリ
362 CPU
363 プロセッサ
368 インターフェース
400 システム
402 バス
404 メモリ
406 ROM
408 RAM
410 コントローラ
412 ストレージデバイス
414 MOD1
416 MOD2
418 MOD3
420 入力装置
422 出力装置
424 通信インターフェース
426 センサ
428 キャッシュ
430 プロセッサ
432 フラッシュメモリ
434 ファームウェア
436 ディスプレイ
500 コンピュータシステム
502 チップセット
504 ブリッジ
506 ユーザーインターフェースコンポーネント
508 通信インターフェース
510 プロセッサ
512 ファームウェア
514 出力装置
516 ストレージデバイス
518 RAM

Claims (10)

  1. 変調コントローラおよび複数の電力段を含むサーバシステムの電源装置(PSD)のセルフバーンインテストを可能にするために、コンピュータが実行する方法であって、
    第1の信号を送信し、前記複数の電力段の特定の電力段をオン状態に切り替えるステップ、
    少なくとも1つの第2の信号を送信し、前記複数の電力段の他の電力段をトライステートに切り替え、前記他の電力段は、前記特定の電力段が前記オン状態にある期間中に負荷として機能し、前記トライステートの期間中に電力の出力を停止するステップ、および
    前記特定の電力段から出力電圧、出力電流、および温度のデータを収集するステップを含み、
    前記電力段のそれぞれは、ドライバ、ハイサイドMOSFET、およびローサイドMOSFETを含み、前記ハイサイドMOSFETと前記ローサイドMOSFETは、前記電力段それぞれの出力端子と接続されており、
    前記電力段それぞれの前記出力端子と前記負荷の間にインダクタとキャパシタが接続されており、
    前記他の電力段が前記トライステートの状態にある場合、前記他の電力段の前記ハイサイドMOSFETはオフ状態である方法。
  2. 記他の電力段の対応するローサイドMOSFETは、前記特定の電力段が前記オン状態にある期間中に前記負荷として機能する請求項1に記載の方法。
  3. 前記複数の電力段のそれぞれは、電圧検出回路、電流検出回路、および温度センサを含み、前記出力電圧、前記出力電流、および前記温度のデータを収集するステップは、前記特定の電力段の前記電圧検出回路、前記電流検出回路、および温度センサから前記データを収集するステップを含む請求項1に記載の方法。
  4. 前記データが所定の基準に適合しないと判定するステップ、および
    警報信号を発生し、前記PSDがセルフバーンインテストに失敗したことを示すステップを含む請求項3に記載の方法。
  5. 前記データが所定の基準を通過したかどうかを判定するステップ、
    前記PSDの少なくとも1つの付加的な電力段がまだテストされるべきかどうかを判定するステップ、
    第3の信号を送り、前記少なくとも1つの付加的な電力段の1つをオン状態に切り替えるステップ、および
    少なくとも1つの第4の信号を送り、前記複数の電力段の残りの電力段を前記トライステートに切り替えるステップを含む請求項3に記載の方法。
  6. 変調コントローラおよび複数の電力段を含む電源装置(PSD)のセルフバーンインテストを可能にするシステムであって、前記システムは、
    前記PSD、
    プロセッサ、および
    コンピュータにより読み込み可能であり、指令を記録する記憶媒体を備え、
    前記プロセッサが前記指令を実行することによって、システムが処理する工程は、
    第1の信号を送信し、前記複数の電力段の特定の電力段をオン状態に切り替えるステップ、
    少なくとも1つの第2の信号を送信し、前記複数の電力段の他の電力段をトライステートに切り替え、前記他の電力段は、前記特定の電力段が前記オン状態にある期間中に負荷として機能し、前記トライステートの期間中に電力の出力を停止するステップ、および
    前記特定の電力段から出力電圧、出力電流、および温度のデータを収集するステップを含み、
    前記電力段のそれぞれは、ドライバ、ハイサイドMOSFET、およびローサイドMOSFETを含み、前記ハイサイドMOSFETと前記ローサイドMOSFETは、前記電力段それぞれの出力端子と接続されており、
    前記電力段それぞれの前記出力端子と前記負荷の間にインダクタとキャパシタが接続されており、
    前記他の電力段が前記トライステートの状態にある場合、前記他の電力段の前記ハイサイドMOSFETはオフ状態であるシステム。
  7. 前記複数の電力段のそれぞれは、電圧検出回路、電流検出回路、および温度センサを含み、前記出力電圧、前記出力電流、および前記温度のデータを収集するステップは、前記特定の電力段の前記電圧検出回路、前記電流検出回路、および温度センサから前記データを収集するステップを含む請求項6に記載のシステム。
  8. 前記工程は、
    前記データが所定の基準に適合しないと判定するステップ、および
    警報信号を発生し、前記PSDがセルフバーンインテストに失敗したことを示すステップを含む請求項7に記載のシステム。
  9. 前記工程は、
    前記データが所定の基準を通過したかどうかを判定するステップ、
    前記PSDの少なくとも1つの付加的な電力段がまだテストされるべきかどうかを判定するステップ、
    第3の信号を送り、前記少なくとも1つの付加的な電力段の1つをオン状態に切り替えるステップ、および
    少なくとも1つの第4の信号を送り、前記複数の電力段の残りの電力段を前記トライステートに切り替えるステップを含む請求項7に記載のシステム。
  10. コンピュータにより読み取り可能であり、複数の指令を記録する記憶媒体であって、
    プロセッサが前記指令を実行することによって、変調コントローラおよび複数の電力段を含む電源装置(PSD)のセルフバーンインテストを可能にするシステムが処理する工程は、
    第1の信号を送信し、前記複数の電力段の特定の電力段をオン状態に切り替えるステップ、
    少なくとも1つの第2の信号を送信し、前記複数の電力段の他の電力段をトライステートに切り替え、前記他の電力段は、前記特定の電力段が前記オン状態にある期間中に負荷として機能し、前記トライステートの期間中に電力の出力を停止するステップ、および
    前記特定の電力段から出力電圧、出力電流、および温度のデータを収集するステップ、
    前記複数の電力段のそれぞれは、電圧検出回路、電流検出回路、および温度センサを含み、前記出力電圧、前記出力電流、および前記温度のデータを収集するステップは、前記特定の電力段の前記電圧検出回路、前記電流検出回路、および温度センサから前記データを収集するステップ、
    前記データが所定の基準を通過したかどうかを判定するステップ、
    前記PSDの少なくとも1つの付加的な電力段がまだテストされるべきかどうかを判定するステップ、
    第3の信号を送り、前記少なくとも1つの付加的な電力段の1つをオン状態に切り替えるステップ、および
    少なくとも1つの第4の信号を送り、前記複数の電力段の残りの電力段を前記トライステートに切り替えるステップを含み、
    前記電力段のそれぞれは、ドライバ、ハイサイドMOSFET、およびローサイドMOSFETを含み、前記ハイサイドMOSFETと前記ローサイドMOSFETは、前記電力段それぞれの出力端子と接続されており、
    前記電力段それぞれの前記出力端子と前記負荷の間にインダクタとキャパシタが接続されており、
    前記他の電力段が前記トライステートの状態にある場合、前記他の電力段の前記ハイサイドMOSFETはオフ状態である記憶媒体。
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Families Citing this family (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US10481626B1 (en) * 2018-08-21 2019-11-19 Infineon Technologies Austria Ag Method and apparatus for power distribution using a multiphase voltage regulator with phase redundancy and fault tolerant operation
TWI692183B (zh) 2018-11-28 2020-04-21 群光電能科技股份有限公司 同步整流裝置
US11394693B2 (en) * 2019-03-04 2022-07-19 Cyxtera Cybersecurity, Inc. Establishing network tunnel in response to access request
US10698465B1 (en) * 2019-05-13 2020-06-30 Quanta Computer Inc. System and method for efficient energy distribution for surge power
WO2021154302A1 (en) * 2020-01-31 2021-08-05 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Power supply units
US11567551B2 (en) 2020-07-28 2023-01-31 Rohde & Schwarz Gmbh & Co. Kg Adaptive power supply
TWI759833B (zh) * 2020-08-25 2022-04-01 伊士博國際商業股份有限公司 具有功能測試之處理器燒機裝置
CN112364671A (zh) * 2020-11-16 2021-02-12 深圳市硅格半导体有限公司 针对插卡设备的自动老化和校验系统及方法
CN114764397A (zh) * 2021-01-13 2022-07-19 神讯电脑(昆山)有限公司 电子设备及其控制方法
JP7272511B1 (ja) * 2021-06-29 2023-05-12 東芝三菱電機産業システム株式会社 電力変換システムの制御装置に対する外部記憶装置および電力変換システムの制御装置
CN114563882A (zh) * 2022-01-19 2022-05-31 业成科技(成都)有限公司 一种液晶模组老化测试系统

Family Cites Families (24)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3867618A (en) * 1973-06-25 1975-02-18 Ibm Dynamic power supply test system
JPS573525A (en) * 1980-06-06 1982-01-09 Fujitsu Denso Power source
US5390129A (en) 1992-07-06 1995-02-14 Motay Electronics, Inc. Universal burn-in driver system and method therefor
JP2000206176A (ja) 1999-01-07 2000-07-28 Nippon Scientific Co Ltd バ―イン装置
TW448607B (en) 1999-08-11 2001-08-01 Delta Electronics Inc Burn-in recycling unit
JP2002186258A (ja) * 2000-12-15 2002-06-28 Hitachi Ltd 並列電源システム
US20030090257A1 (en) 2001-10-30 2003-05-15 Howes Lawrence H. Method and apparatus for load testing electrical systems
US20040119449A1 (en) * 2002-12-19 2004-06-24 Matley J. Brian High power factor inverter for electronic loads & other DC sources
US7141998B1 (en) 2005-05-19 2006-11-28 International Business Machines Corporation Method and apparatus for burn-in optimization
JP2008218442A (ja) * 2007-02-28 2008-09-18 Matsushita Electric Ind Co Ltd 半導体集積回路装置及びその製造方法
JP5060274B2 (ja) * 2007-12-25 2012-10-31 パナソニック株式会社 電源システム
US8390148B2 (en) * 2008-08-13 2013-03-05 Dell Products L.P. Systems and methods for power supply wear leveling in a blade server chassis
WO2010033076A1 (en) 2008-09-17 2010-03-25 Stl Energy Technology (S) Pte Ltd Battery pack burn-in test system and method
JP5380041B2 (ja) * 2008-10-30 2014-01-08 ローム株式会社 マルチフェーズ型dc/dcコンバータ
JP5300059B2 (ja) * 2009-02-13 2013-09-25 エヌイーシーコンピュータテクノ株式会社 電源供給システム、その診断方法及びプログラム
US8589110B2 (en) * 2009-03-03 2013-11-19 Synergistic Technologies Solutions, Inc. System and method for programmable automatic testing of power supplied
JP2011004196A (ja) * 2009-06-18 2011-01-06 Toshiba Corp 半導体集積回路
CN102129044A (zh) * 2010-01-13 2011-07-20 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 电源测试系统
CN102830784A (zh) 2011-06-17 2012-12-19 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 电源检测电路及具有该电源检测电路的电源电路
TWI483104B (zh) * 2011-12-20 2015-05-01 Hon Hai Prec Ind Co Ltd 電子裝置測試系統及方法
JP5966486B2 (ja) * 2012-03-22 2016-08-10 日本電気株式会社 電源システム、制御方法及び制御プログラム
CN103376422A (zh) * 2012-04-24 2013-10-30 鸿富锦精密工业(武汉)有限公司 电源测试系统
US10470496B2 (en) 2015-04-15 2019-11-12 Philip Morris Product S.A. Device and method for controlling an electrical heater to limit temperature according to desired temperature profile over time
US20170117813A1 (en) * 2015-10-21 2017-04-27 Quanta Computer Inc. Method and system for testing a power supply unit

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