JP6608899B2 - 光学測定のためのエポキシ成形ガスセル及び形成方法 - Google Patents
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- 238000005259 measurement Methods 0.000 title claims description 63
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 title claims description 45
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 28
- 239000004593 Epoxy Substances 0.000 title claims description 16
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 40
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 21
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 claims description 15
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims description 12
- 239000012778 molding material Substances 0.000 claims description 9
- 229910052500 inorganic mineral Inorganic materials 0.000 claims description 6
- 239000011707 mineral Substances 0.000 claims description 6
- 238000001721 transfer moulding Methods 0.000 claims description 4
- 238000011109 contamination Methods 0.000 description 5
- 238000001914 filtration Methods 0.000 description 5
- 238000005538 encapsulation Methods 0.000 description 4
- 230000006870 function Effects 0.000 description 4
- 230000008859 change Effects 0.000 description 3
- 230000007613 environmental effect Effects 0.000 description 3
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 3
- 229920000106 Liquid crystal polymer Polymers 0.000 description 2
- 239000004977 Liquid-crystal polymers (LCPs) Substances 0.000 description 2
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 2
- 238000009833 condensation Methods 0.000 description 2
- 230000005494 condensation Effects 0.000 description 2
- 238000001746 injection moulding Methods 0.000 description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 2
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 2
- 238000000465 moulding Methods 0.000 description 2
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 2
- 239000012815 thermoplastic material Substances 0.000 description 2
- DHDBTLFALXRTLB-UHFFFAOYSA-N 1,2,5-trichloro-3-(3-chlorophenyl)benzene Chemical compound ClC1=CC=CC(C=2C(=C(Cl)C=C(Cl)C=2)Cl)=C1 DHDBTLFALXRTLB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N Ethanol Chemical compound CCO LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 1
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 1
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 1
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 1
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000005670 electromagnetic radiation Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 229920006332 epoxy adhesive Polymers 0.000 description 1
- 125000003700 epoxy group Chemical group 0.000 description 1
- 231100001261 hazardous Toxicity 0.000 description 1
- 229920006258 high performance thermoplastic Polymers 0.000 description 1
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 1
- 238000004806 packaging method and process Methods 0.000 description 1
- 239000004033 plastic Substances 0.000 description 1
- 150000003071 polychlorinated biphenyls Chemical class 0.000 description 1
- 229920000647 polyepoxide Polymers 0.000 description 1
- 230000008569 process Effects 0.000 description 1
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/01—Arrangements or apparatus for facilitating the optical investigation
- G01N21/03—Cuvette constructions
- G01N21/031—Multipass arrangements
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B29—WORKING OF PLASTICS; WORKING OF SUBSTANCES IN A PLASTIC STATE IN GENERAL
- B29C—SHAPING OR JOINING OF PLASTICS; SHAPING OF MATERIAL IN A PLASTIC STATE, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; AFTER-TREATMENT OF THE SHAPED PRODUCTS, e.g. REPAIRING
- B29C45/00—Injection moulding, i.e. forcing the required volume of moulding material through a nozzle into a closed mould; Apparatus therefor
- B29C45/02—Transfer moulding, i.e. transferring the required volume of moulding material by a plunger from a "shot" cavity into a mould cavity
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/01—Arrangements or apparatus for facilitating the optical investigation
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/01—Arrangements or apparatus for facilitating the optical investigation
- G01N21/03—Cuvette constructions
- G01N21/05—Flow-through cuvettes
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/31—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
- G01N21/35—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light
- G01N21/3504—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light for analysing gases, e.g. multi-gas analysis
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- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B29—WORKING OF PLASTICS; WORKING OF SUBSTANCES IN A PLASTIC STATE IN GENERAL
- B29K—INDEXING SCHEME ASSOCIATED WITH SUBCLASSES B29B, B29C OR B29D, RELATING TO MOULDING MATERIALS OR TO MATERIALS FOR MOULDS, REINFORCEMENTS, FILLERS OR PREFORMED PARTS, e.g. INSERTS
- B29K2063/00—Use of EP, i.e. epoxy resins or derivatives thereof, as moulding material
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B29—WORKING OF PLASTICS; WORKING OF SUBSTANCES IN A PLASTIC STATE IN GENERAL
- B29K—INDEXING SCHEME ASSOCIATED WITH SUBCLASSES B29B, B29C OR B29D, RELATING TO MOULDING MATERIALS OR TO MATERIALS FOR MOULDS, REINFORCEMENTS, FILLERS OR PREFORMED PARTS, e.g. INSERTS
- B29K2509/00—Use of inorganic materials not provided for in groups B29K2503/00 - B29K2507/00, as filler
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B29—WORKING OF PLASTICS; WORKING OF SUBSTANCES IN A PLASTIC STATE IN GENERAL
- B29L—INDEXING SCHEME ASSOCIATED WITH SUBCLASS B29C, RELATING TO PARTICULAR ARTICLES
- B29L2011/00—Optical elements, e.g. lenses, prisms
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B29—WORKING OF PLASTICS; WORKING OF SUBSTANCES IN A PLASTIC STATE IN GENERAL
- B29L—INDEXING SCHEME ASSOCIATED WITH SUBCLASS B29C, RELATING TO PARTICULAR ARTICLES
- B29L2011/00—Optical elements, e.g. lenses, prisms
- B29L2011/0083—Reflectors
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/01—Arrangements or apparatus for facilitating the optical investigation
- G01N21/03—Cuvette constructions
- G01N21/031—Multipass arrangements
- G01N2021/0314—Double pass, autocollimated path
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/01—Arrangements or apparatus for facilitating the optical investigation
- G01N21/03—Cuvette constructions
- G01N2021/0378—Shapes
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2201/00—Features of devices classified in G01N21/00
- G01N2201/02—Mechanical
- G01N2201/022—Casings
- G01N2201/0228—Moulded parts
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- Physics & Mathematics (AREA)
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- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Optical Measuring Cells (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Description
ワイヤボンド接続が破壊され、部品の覆われるべき部分が覆われないという危険にさらすことなく、検出器及びエミッタのような部品を封入するという課題がある。
また、温度が露点に近づくような温度変化に起因して、光学部品、特に反射面の上に見られる結露への対策を講じるという課題がある。
CREのために、前記EMCは標準高ミネラル充填エポキシが使用され得て、それは、非常に広く主にエレクトロニクスICパッケージング業界で使用されている材料である。電子部品業界における、この材料の成功の理由は、小型電子チップ及び薄さがマイクロメートルのワイヤボンド接続であっても、破損又は破壊されることなく、この成形によって埋め込まれ、完全に充填されるほどに成形工程中の材料の粘度が非常に小さい。
これは、光透過性EMC又は保護のみならず、光検出手段によって検出されない波長を含む入射光から光検出手段によって検出される入射光の波長を分離するための手段を提供することができる光学フィルタとなり得る。
光反射手段は反射面であり得て、この反射面の形状はEMCに形成され得る。そして、この反射面は、測定経路を規定する部分であり、それは決して測定経路における光の波面を歪ませない。
ガスセルに関連する増幅手段、演算手段、記憶手段又は発光手段のためのドライバ電子機器のような電子部品もEMCに封入可能である。
開口内に配置され、少なくとも部分的にEMCに封入されたキャビティの汚染を防止するフィルタのようなガスフィルタ手段が提案されている。
これらの光検出手段は、保護のために、例えば、光透過性EMC又は光学フィルタのような光透過性材料で覆われ得る。
光反射手段は光反射ミラーとなり得て、その光反射ミラーは少なくとも部分的にEMCに封入され得る。
光反射手段は反射面であり得て、この反射面の形状はEMCに形成され得る。
EMCに封入可能であるとともに、ガスセルに関連する増幅手段、演算手段、記憶手段又は発光手段のためのドライバ電子機器のような電子部品も提案されている。
本発明の方法は、ガスセルがトランスファー成形により形成され得ることを教示する。
キャビティ1aを介した光測定経路Aの長さは、第1のソケット12における発光手段と第2のソケット13における光検出手段との間の直接的又は間接的な距離によって規定される。発光手段2及び受光手段3間の直接的な光経路は単純な光経路であるが過度に短い。ガスセルの感度を向上させるために、ガスセルの小型化とともに光測定経路を長くするというニーズは、小さいキャビティであっても十分に長い測定経路を得るべく、光測定経路Aが上記キャビティを介して1回又は複数回に亘って反射されることで充足される。このように光測定経路は、多くの場合、発光手段2と受光手段3との間の間接的な経路であり、この経路はキャビティにおける反射手段上で1回又は複数回に亘って反射する。図1は光検出手段3に到達する前に二回に亘って反射する光測定経路Aを示す。このため、この光測定経路Aは、発光手段と光検出手段との間の間接的な距離によって規定される。
また、光検出手段3が第2のソケット13内に設置され得ること、及びその光検出手段3が少なくとも部分的にEMC中に封入されることが提案されている。
また、光反射手段4は反射面42とし得るとともに、反射面42の形状は、EMC内に形成され得る。
また、本発明は、キャビティ1aと、ガス交換のための少なくとも一つの開口11と、発光手段のための少なくとも一つの第1のソケット12と、検出手段のための少なくとも一つの第2のソケット13と、を備えるガス含有量及び/又は濃度の光学的測定のためのガスセル1を形成するための方法に関連し、そのキャビティ1aを介した光測定経路Aの長さは第1のソケット12における発光手段と、第2のソケット13における光検出手段との間の直接的又は間接的な距離によって規定される。本発明は、具体的に、エポキシ樹脂封入(EMC:epoxy mold compound)はガスセル1の光測定経路の長さが規定されるガスセルの少なくとも一部を形成するために使用されることを教示している。
また、光検出手段3も、光透過性EMC又は光学フィルタのような光透過性材料13´で覆われ得る。
上記キャビティが少なくとも1つの光反射手段4を備える場合、その測定経路は光反射手段4における反射を含み、光反射手段4が反射面42の場合、反射面42の形状がEMCにおいて形成されている。
また、増幅手段71、演算手段72、メモリ手段73、又は発光手段2のためのドライバ電子部品74のようなガスセルに関連する電子部品がEMC中に封入されている。
また、少なくとも部分的にEMC中に封入され得るとともに、開口11に設置され、キャビティ1aの汚染を防止するためのフィルタとしてガスフィルタ手段9が提案されている。
図1は、全体のガスセルを形成するためにEMCが使用された本発明を非常に簡略化した概略図であるが、本発明は光測定経路の長さを規定するガスセル31の少なくとも一部を形成するためにEMCが使用されたガスセルに関連する。
図4bの実施形態には、発光手段42は、第1のソケット(同図には示されない)内に設置され、その第1のソケットは反射ミラー441に近い位置に発光手段42を設置することが示されている。反射ミラーは、光検出手段43に向けて発光手段から放出された光を反射し集束する凹形状を有している。
図5dは、第2の規定部562にモールドされたPCB57を示している。このPCBは、反射面54上での凝縮を避けるために、反射面を加熱する2つの加熱部56a、56bを保持する。
本発明は前述の実施形態に限定されず、かつ添付の特許請求の範囲によって規定される本発明の範囲内で変更を行うことができるものと理解される。
Claims (28)
- マクロ的システムにおけるガス含有量及び濃度のうちの少なくともいずれか一方を光学的に測定するための、光測定経路の長さがセンチメートル単位の範囲内であるガスセルであって、
前記ガスセルは、
キャビティと、
ガス交換のための少なくとも一つの開口と、
発光手段のための少なくとも1つの第1のソケットと、
光検出手段のための少なくとも1つの第2のソケットと、を備え、
前記キャビティは少なくとも1つの光反射手段を備え、
前記キャビティを通じた前記光測定経路の長さが、前記第1のソケット内に設置される前記発光手段と前記第2のソケット内に設置される前記光検出手段との間の距離によって規定され、前記光測定経路は前記光反射手段の反射を含むガスセルにおいて、
エポキシ成形材料(EMC)が前記第1のソケット及び前記第2のソケットを形成するために使用されており、
EMCが前記光反射手段を形成するために使用されており、
前記発光手段は前記第1のソケット内に設置されており、
前記発光手段は少なくとも部分的にEMCに封入されており、
前記光検出手段は前記第2のソケット内に設置されており、
前記光検出手段は少なくとも部分的にEMCに封入されており、
少なくとも前記ガスセルにおける光測定経路の長さを規定する全ての部分を形成するためにEMCが使用されていることを特徴とするガスセル。 - 前記発光手段は光透過性材料によって覆われていることを特徴とする請求項1に記載のガスセル。
- 前記光検出手段は光透過性材料によって覆われていることを特徴とする請求項
1又2に記載のガスセル。 - 前記光透過性材料は光透過性EMCであることを特徴とする請求項2又は3に記載のガスセル。
- 前記光透過性材料は光学フィルタであることを特徴とする請求項3に記載のガスセル。
- 前記光反射手段は光反射ミラーであり、
前記光反射ミラーは少なくとも部分的に前記EMCに封入されることを特徴とする請求項1〜5の何れか一項に記載のガスセル。 - 前記反射ミラーの背後に設置されるとともに、前記反射ミラーの位置を調節するように適合され、かつ前記EMCに封入される圧電変換器を備えることを特徴とする請求項6に記載のガスセル。
- 前記光反射手段は反射面であって、
前記反射面の形状は前記EMCに形成されていることを特徴とする請求項1〜7の何れか一項に記載のガスセル。 - 前記光反射手段の背後に設置されるとともに、前記EMCに封入される加熱手段を備えたことを特徴とする請求項6〜8の何れか一項に記載のガスセル。
- 前記EMCに封入されるとともにガスセルに関連する電子部品を備えたことを特徴とする請求項1〜9の何れか一項に記載のガスセル。
- 少なくとも部分的に前記EMCに封入されるとともにガスセルに関連する光学部品を備えたことを特徴とする請求項1〜10の何れか一項に記載のガスセル。
- 少なくとも部分的に前記EMCに封入されるとともに、前記開口に設置されるガスフィルタ手段を備えたことを特徴とする請求項1〜11の何れか一項に記載のガスセル。
- マクロ的システムにおけるガス含有量及び濃度のうちの少なくともいずれか一方を光学的に測定するための、光測定経路の長さがセンチメートル単位の範囲内であるガスセルであって、
前記ガスセルは、
キャビティと、
ガス交換のための少なくとも一つの開口と、
発光手段のための少なくとも1つの第1のソケットと、
光検出手段のための少なくとも1つの第2のソケットと、を備え、
前記キャビティは少なくとも1つの光反射手段を備え、
前記キャビティを通じた前記光測定経路の長さが、前記第1のソケット内に設置される前記発光手段と前記第2のソケット内に設置される前記光検出手段との間の距離によって規定され、前記光測定経路は前記光反射手段の反射を含むガスセルにおいて、
エポキシ成形材料(EMC)が前記第1のソケット及び前記第2のソケットを形成するために使用されており、
EMCが前記光反射手段を形成するために使用されており、
前記発光手段は前記第1のソケット内に設置されており、
前記発光手段は少なくとも部分的にEMCに封入されており、
前記光検出手段は前記第2のソケット内に設置されており、
前記光検出手段は少なくとも部分的にEMCに封入されており、
少なくとも前記ガスセルにおける光測定経路の長さを規定する全ての部分を形成するためにEMCが使用されており、
前記EMCは高いミネラルが充填されたエポキシであることを特徴とするガスセル。 - マクロ的システムにおけるガス含有量及び濃度のうちの少なくともいずれか一方を光学的に測定するための、光測定経路の長さがセンチメートル単位の範囲内であるガスセルを形成するための方法であって、
前記ガスセルは、
キャビティと、
ガス交換のための少なくとも一つの開口と、
発光手段のための少なくとも1つの第1のソケットと、
光検出手段のための少なくとも1つの第2のソケットと、を備え、
前記キャビティは少なくとも1つの光反射手段を備え、
前記キャビティを通じた前記光測定経路の長さが、前記第1のソケット内に設置される前記発光手段と、前記第2のソケット内に設置される前記光検出手段との間の距離によって規定され、前記光測定経路は前記光反射手段の反射を含むガスセルを形成するための方法において、
前記第1のソケット及び前記第2のソケットを形成するためにエポキシ成形材料(EMC)を使用することと、
前記光反射手段を形成するためにEMCを使用することと、
前記発光手段を前記第1のソケット内に設置することと、
前記発光手段を少なくとも部分的に封入するためにEMCを使用することと、
前記光検出手段を前記第2のソケット内に設置することと、
前記光検出手段を少なくとも部分的に封入するためにEMCを使用することと、
少なくとも前記ガスセルにおける光測定経路の長さを規定する全ての部分を形成するためにEMCを使用することとを含むことを特徴とする方法。 - 前記発光手段を覆うために光透過性材料を使用することを含むこと特徴とする請求項14に記載の方法。
- 前記光検出手段を覆うために光透過性材料を使用することを含むことを特徴とする請求項14又は15に記載の方法。
- 前記光透過性材料として光透過性EMCを使用することを含むことを特徴とする請求項15又は16に記載の方法。
- 前記光透過性材料として光学フィルタを使用することを含むことを特徴とする請求項16に記載の方法。
- 前記光反射手段として光反射ミラーを使用することと、
前記光反射ミラーを少なくとも部分的に封入するために前記EMCを使用することとを含むことを特徴とする請求項14〜18の何れか一項に記載の方法。 - 前記反射ミラーの背後に設置され、かつ前記反射ミラーの位置を調節するように適合された圧電変換器を封入するために前記EMCを使用することを含むことを特徴とする請求項19に記載の方法。
- 前記光反射手段は反射面であって、
前記反射面の形状を形成するために前記EMCを使用すること含むことを特徴とする請求項14〜18の何れか一項に記載の方法。 - 前記光反射手段の背後に設置される加熱手段を封入するために前記EMCを使用することを含むことを特徴とする請求項19〜21の何れか一項に記載の方法。
- ガスセルに関連する電子部品を封入するために前記EMCを使用することを含むことを特徴とする請求項14〜22の何れか一項に記載の方法。
- ガスセルに関連する光学部品を少なくとも部分的に封入するために前記EMCを使用することを含むことを特徴とする請求項14〜23の何れか一項に記載の方法。
- 前記開口に設置されるガスフィルタ手段を少なくとも部分的に封入するために
前記EMCを使用することを含むことを特徴とする請求項14〜24の何れか一項に記載の方法。 - ガスセルを形成するためにトランスファー成形を使用することを含むことを特徴とする請求項14〜25の何れか一項に記載の方法。
- 複数のガスセルを並列に製造するために、単一及び同一の製造工具を使用することを含むことを特徴とする請求項26に記載の方法。
- マクロ的システムにおけるガス含有量及び濃度のうちの少なくともいずれか一方を光学的に測定するための、光測定経路の長さがセンチメートル単位の範囲内であるガスセルを形成するための方法であって、
前記ガスセルは、
キャビティと、
ガス交換のための少なくとも一つの開口と、
発光手段のための少なくとも1つの第1のソケットと、
光検出手段のための少なくとも1つの第2のソケットと、を備え、
前記キャビティは少なくとも1つの光反射手段を備え、
前記キャビティを通じた前記光測定経路の長さが、前記第1のソケット内に設置される前記発光手段と、前記第2のソケット内に設置される前記光検出手段との間の距離によって規定され、前記光測定経路は前記光反射手段の反射を含むガスセルを形成するための方法において、
前記第1のソケット及び前記第2のソケットを形成するためにエポキシ成形材料(EMC)を使用することと、
前記光反射手段を形成するためにEMCを使用することと、
前記発光手段を前記第1のソケット内に設置することと、
前記発光手段を少なくとも部分的に封入するためにEMCを使用することと、
前記光検出手段を前記第2のソケット内に設置することと、
前記光検出手段を少なくとも部分的に封入するためにEMCを使用することと、
少なくとも前記ガスセルにおける光測定経路の長さを規定する全ての部分を形成するためにEMCを使用することと、
前記EMCとして高いミネラルが充填されたエポキシを使用することとを含むことを特徴とする方法。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SE1151147-4 | 2011-12-02 | ||
SE1151147 | 2011-12-02 |
Related Parent Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2014544704A Division JP2015500468A (ja) | 2011-12-02 | 2012-11-30 | 光学測定のためのエポキシ成形ガスセル及び形成方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2018021938A JP2018021938A (ja) | 2018-02-08 |
JP6608899B2 true JP6608899B2 (ja) | 2019-11-20 |
Family
ID=48535847
Family Applications (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2014544704A Pending JP2015500468A (ja) | 2011-12-02 | 2012-11-30 | 光学測定のためのエポキシ成形ガスセル及び形成方法 |
JP2017218158A Active JP6608899B2 (ja) | 2011-12-02 | 2017-11-13 | 光学測定のためのエポキシ成形ガスセル及び形成方法 |
Family Applications Before (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2014544704A Pending JP2015500468A (ja) | 2011-12-02 | 2012-11-30 | 光学測定のためのエポキシ成形ガスセル及び形成方法 |
Country Status (9)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US9448159B2 (ja) |
EP (1) | EP2786122B1 (ja) |
JP (2) | JP2015500468A (ja) |
KR (1) | KR20140096169A (ja) |
CN (1) | CN103988066B (ja) |
AU (1) | AU2012346560B2 (ja) |
CA (1) | CA2856353C (ja) |
SG (1) | SG11201402136WA (ja) |
WO (1) | WO2013081519A1 (ja) |
Families Citing this family (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
SE536784C2 (sv) | 2012-08-24 | 2014-08-05 | Automotive Coalition For Traffic Safety Inc | System för utandningsprov |
SE536782C2 (sv) | 2012-08-24 | 2014-08-05 | Automotive Coalition For Traffic Safety Inc | System för utandningsprov med hög noggrannhet |
CN107589087A (zh) * | 2013-10-24 | 2018-01-16 | 日月光半导体制造股份有限公司 | 感测模块及其制造方法 |
GB2533125A (en) * | 2014-12-10 | 2016-06-15 | Cambridge Respiratory Innovations Ltd | Capnometer |
KR101765136B1 (ko) * | 2016-03-10 | 2017-08-07 | 에이테크솔루션(주) | 파장형 흡수 분광특성을 이용한 광학식 가스 검출기 |
US11104227B2 (en) | 2016-03-24 | 2021-08-31 | Automotive Coalition For Traffic Safety, Inc. | Sensor system for passive in-vehicle breath alcohol estimation |
DE102016114542A1 (de) * | 2016-08-05 | 2018-02-08 | Osram Opto Semiconductors Gmbh | Detektionsanordnung und Verfahren zur Herstellung von Detektionsanordnungen |
US10732106B2 (en) * | 2018-02-02 | 2020-08-04 | Honeywell International Inc. | Two detector gas detection system |
US11662109B2 (en) | 2019-06-05 | 2023-05-30 | Carrier Corporation | Enclosure for gas detector |
US20240163184A1 (en) * | 2022-11-16 | 2024-05-16 | Red Hat, Inc. | Lightweight container networking solution for resource constrained devices |
Family Cites Families (38)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3019853A (en) * | 1958-06-30 | 1962-02-06 | Bell Telephone Labor Inc | Separation of gases by diffusion |
US3613026A (en) * | 1970-03-20 | 1971-10-12 | United Aircraft Corp | Plasma tube impedance variation frequency stabilized gas laser |
US3773424A (en) * | 1972-08-24 | 1973-11-20 | Neotec Corp | Device for color measurement of liquids in continuous flow |
GB1559810A (en) * | 1975-11-05 | 1980-01-30 | Nat Res Dev | Device for measuring light received from an illuminated material |
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US5369277A (en) * | 1990-05-23 | 1994-11-29 | Ntc Technology, Inc. | Infrared source |
US5261415A (en) * | 1991-07-12 | 1993-11-16 | Ciba Corning Diagnostics Corp. | CO2 mainstream capnography sensor |
JPH11344434A (ja) * | 1998-05-29 | 1999-12-14 | Japan Radio Co Ltd | 光学吸収セル装置 |
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CN101138094B (zh) * | 2005-03-09 | 2010-10-13 | 旭化成电子材料元件株式会社 | 光学器件及光学器件的制造方法 |
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US8304849B2 (en) * | 2005-12-29 | 2012-11-06 | Intel Corporation | Apparatus to send biological fluids through a printed wire board |
GB2441781B (en) * | 2006-09-13 | 2010-05-19 | Autoliv Dev | Breath analyser |
EP2527022B1 (en) * | 2006-11-24 | 2015-03-25 | Xtralis Technologies Ltd | Particle detector |
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US8294898B2 (en) * | 2007-08-28 | 2012-10-23 | Trustees Of Princeton University | Rotationally asymmetric chaotic optical multi-pass cavity |
CN102057495B (zh) * | 2008-06-04 | 2013-10-09 | 旭化成微电子株式会社 | 量子型红外线传感器以及使用该量子型红外线传感器的量子型红外线气体浓度仪 |
SE534685C2 (sv) * | 2008-12-12 | 2011-11-15 | Senseair Ab | Gassensorarrangemang för kretskort |
JP5209556B2 (ja) * | 2009-03-26 | 2013-06-12 | 新日鉄住金化学株式会社 | エポキシ樹脂組成物および成形物 |
TWI455949B (zh) * | 2009-04-17 | 2014-10-11 | Nippon Kayaku Kk | 烯烴樹脂、環氧樹脂、硬化性樹脂組成物及其硬化物 |
EP2446241A1 (en) * | 2009-06-25 | 2012-05-02 | Battelle Memorial Institute | Fluid submersible sensing device |
US8852513B1 (en) * | 2011-09-30 | 2014-10-07 | Silicon Laboratories Inc. | Systems and methods for packaging integrated circuit gas sensor systems |
-
2012
- 2012-11-30 WO PCT/SE2012/000197 patent/WO2013081519A1/en active Application Filing
- 2012-11-30 CA CA2856353A patent/CA2856353C/en active Active
- 2012-11-30 KR KR1020147018157A patent/KR20140096169A/ko active Search and Examination
- 2012-11-30 EP EP12852572.2A patent/EP2786122B1/en active Active
- 2012-11-30 US US14/362,384 patent/US9448159B2/en active Active
- 2012-11-30 JP JP2014544704A patent/JP2015500468A/ja active Pending
- 2012-11-30 SG SG11201402136WA patent/SG11201402136WA/en unknown
- 2012-11-30 CN CN201280059029.6A patent/CN103988066B/zh active Active
- 2012-11-30 AU AU2012346560A patent/AU2012346560B2/en active Active
-
2017
- 2017-11-13 JP JP2017218158A patent/JP6608899B2/ja active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP2786122A1 (en) | 2014-10-08 |
WO2013081519A1 (en) | 2013-06-06 |
CA2856353A1 (en) | 2013-06-06 |
US20140333924A1 (en) | 2014-11-13 |
SG11201402136WA (en) | 2014-10-30 |
JP2018021938A (ja) | 2018-02-08 |
JP2015500468A (ja) | 2015-01-05 |
CN103988066A (zh) | 2014-08-13 |
EP2786122B1 (en) | 2022-06-08 |
EP2786122A4 (en) | 2015-07-08 |
AU2012346560A1 (en) | 2014-05-29 |
KR20140096169A (ko) | 2014-08-04 |
CN103988066B (zh) | 2016-03-23 |
US9448159B2 (en) | 2016-09-20 |
AU2012346560B2 (en) | 2015-05-14 |
CA2856353C (en) | 2020-03-24 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A521 | Request for written amendment filed |
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A131 | Notification of reasons for refusal |
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A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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|
R250 | Receipt of annual fees |
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|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |