JP6590254B2 - 配位子、高分子錯体及びその製造方法 - Google Patents
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Description
[関連出願の相互参照]
本出願は、2014年2月10日出願の日本特願2014−23813号の優先権を主張し、その全記載は、ここに特に開示として援用される。
特許文献2:特許3668966号公報
特許文献1、2、非特許文献1の全記載は、ここに特に開示として援用される。
[1]
下記一般式(1)で示される化合物。
X1−L1−Ar (1)
一般式(1)中、
Arは、硫黄原子、酸素原子及び窒素原子からなる群から選ばれるヘテロ原子を1〜3個含み、縮環していてもよい5〜14員芳香族ヘテロ炭化水素基である芳香族ヘテロ炭化水素基を示し、
L1は、連結基または直接結合であるリンカーを示し、
X1は、O=P(Ar11Ar12)−で示されるホスフィンオキシド基(但し、Ar11及びAr12は、独立に、置換若しくは無置換アリール基、置換若しくは無置換ヘテロアリール基、又は置換若しくは無置換アラルキル基を示す)を示す。
[2]
前記Arは、ヘテロ原子として1〜3個の窒素原子を含む5〜8員単環芳香族ヘテロ炭化水素基である、[1]に記載の化合物。
[3]
前記Arは、ヘテロ原子として1個の窒素原子を含む5〜8員単環芳香族ヘテロ炭化水素基である、[1]に記載の化合物。
[4]
下記一般式(2)で示される繰り返し単位を有する高分子錯体。
−(Ar−L1−X1−M1(LG)m−X1−L1−Ar−M2−)n (2)
一般式(2)中、Ar−L1−X1及びX1−L1−Arは、[1]〜3のいずれかに記載の一般式(1)で示される化合物であり、
M1は、希土類イオンであり、
M2は、遷移金属イオンであり、
LGは、前記M1で示される希土類イオンに配位する多座配位子であり、mは、任意の整数であり、
nは、2〜500,000の範囲である。
[5]
下記一般式(5)で示される繰り返し単位をさらに含有する[4]に記載の高分子錯体。
−((Ar−L1−X1)p−M1(LG)m−X1−L1−Ar−M2−)q (5)
一般式(5)中、Ar、L1、X1、M1、M2、LG及びmは、一般式(2)における定義と同義であり、pは2以上の整数であり、n+qは2〜500,000の範囲である。
[6]
下記一般式(5)で示される繰り返し単位を有する高分子錯体。
−((Ar−L1−X1)p−M1(LG)m−X1−L1−Ar−M2−)q (5)
一般式(5)中、Ar、L1、X1、M1、M2、LG及びmは、一般式(2)における定義と同義であり、pは2以上の整数であり、qは2〜500,000の範囲である。
[7]
前記X1に含まれるホスフィンオキシド基が前記M1で示される希土類イオンに配位結合し、
前記Arに含まれるヘテロ原子が前記M2で示される遷移金属イオンに配位結合する、[4]〜[6]のいずれかに記載の高分子錯体。
[8]
前記多座配位子がジケト化合物である、[7]に記載の高分子錯体。
[9]
ジケト化合物が一般式(3)で示される化合物である、[8]に記載の高分子錯体。
[10]
ジケト化合物が、アセチルアセトン(acac)、2,2,6,6−テトラメチルヘプタン−3,5−ジオン(TMHD)、1,1,1−トリフルオロアセチルアセトン(TFA)、1,1,1,5,5,5−ヘキサフルオロアセチルアセトン(HFA)、及び1−(2−ナフチル)−4,4,4−トリフルオロ−1,3−ブタンジオンから成る群から選ばれる少なくとも1種の化合物である、[9]に記載の高分子錯体。
[11]
下記工程(A)及び(B)を含む[4]〜[10]のいずれかに記載の高分子錯体の製造方法。
工程(A):[1]〜[3]のいずれかに記載の一般式(1)で示される化合物、希土類化合物(但し、希土類化合物に含まれる希土類イオンはM1である)、多座配位子LGを反応させて一般式(4)又は(6)で示される錯体を調製する工程(A)、
Ar−L1−X1−M1(LG)m (4)
(Ar−L1−X1)p−M1(LG)m (6)
[一般式(4)及び(6)中、X1、L1及びArは、[1]の一般式(1)と同義であり、M1、LG及びmは、[4]で示される一般式(2)と同義であり、pは[5]で示される一般式(5)と同義である。]
工程(B):前記一般式(4)で示される錯体及び一般式(6)で示される錯体の少なくとも1種と遷移金属化合物(但し、遷移金属化合物に含まれる遷移金属のイオンはM2である)とを反応させて、下記一般式(2)で示される繰り返し単位を有する高分子錯体、又は一般式(2)で示される繰り返し単位に一般式(5)で示される繰り返し単位をさらに含有する高分子錯体、又は一般式(5)で示される繰り返し単位を有する高分子錯体を調製する工程(B)
−(Ar−L1−X1−M1(LG)m−X1−L1−Ar−M2−)n (2)
−((Ar−L1−X1)p−M1(LG)m−X1−L1−Ar−M2−)q (5)
[一般式(2)及び(5)中のAr、L1、X1、M1、M2、LG、m及びnは、[4]で示される定義と同義であり、一般式(5)中のp及びqは、[5]又は[6]で示される定義と同義である。]
[12]
一般式(4)及び(6)で示される希土類錯体。
Ar−L1−X1−M1(LG)m (4)
(Ar−L1−X1)p−M1(LG)m (6)
一般式(4)及び(6)中、
Arは、硫黄原子、酸素原子及び窒素原子からなる群から選ばれるヘテロ原子を1〜3個含み、縮環していてもよい5〜14員芳香族ヘテロ炭化水素基である芳香族ヘテロ炭化水素基を示し、
L1は、連結基または直接結合であるリンカーを示し、
X1は、O=P(Ar11Ar12)−で示されるホスフィンオキシド基(但し、Ar11及びAr12は、独立に、置換若しくは無置換アリール基、置換若しくは無置換ヘテロアリール基、又は置換若しくは無置換アラルキル基を示す)を示し、
M1は、希土類イオンであり、
LGは、前記M1で示される希土類イオンに配位する多座配位子であり、mは、任意の整数であり、pは2以上の整数である。
[13]
前記多座配位子がジケト化合物である、[12]に記載の希土類錯体。
[14]
ジケト化合物が一般式(3)で示される化合物である、[13]に記載の希土類錯体。
[15]
ジケト化合物が、アセチルアセトン(acac)、2,2,6,6−テトラメチルヘプタン−3,5−ジオン(TMHD)、1,1,1−トリフルオロアセチルアセトン(TFA)、1,1,1,5,5,5−ヘキサフルオロアセチルアセトン(HFA)、及び1−(2−ナフチル)−4,4,4−トリフルオロ−1,3−ブタンジオンから成る群から選ばれる少なくとも1種の化合物である、[14]に記載の希土類錯体。
[16]
[4]〜[15]のいずれか1項に記載の錯体を発光材料として用いた発光素子。
[17]
[4]〜[15]のいずれか1項に記載の錯体を含有する、発光性インキ組成物。
[18]
[4]〜[15]のいずれか1項に記載の錯体を含有する、発光性プラスチック組成物。
本発明は、本発明の希土類イオンを含有する高分子錯体における配位子として用いることかできる下記一般式(1)で示される化合物を包含する。
X1−L1−Ar (1)
Arは、硫黄原子、酸素原子及び窒素原子からなる群から選ばれるヘテロ原子を1〜3個含み、縮環していてもよい5〜14員芳香族ヘテロ炭化水素基である芳香族ヘテロ炭化水素基を示す。
ヘテロ原子は、硫黄原子、酸素原子及び窒素原子からなる群から選ばれるが、ヘテロ原子が、本発明の高分子錯体において遷移金属イオンに対する配位部位となることを考慮すると、窒素原子又は酸素原子であることが好ましい。2個以上のヘテロ原子を含む場合には、同一又は異なる種類の原子であることができる。
Arに含まれるヘテロ原子の数は、1〜3個であり、1個、2個または3個の何れであっても良い。芳香族ヘテロ炭化水素基は、例えば、単環であることができるが、構成する炭素原子及びヘテロ原子の数の数に応じて2環または3環に縮環した基であっても良い。Arは、例えば、1個の窒素原子を含む5〜8員単環芳香族ヘテロ炭化水素基であることができる。
一般式(1)で示される化合物は、実施例に例示されているように、Ar−Hal(Halはハロゲン原子)を原料化合物として用い、トリアルキルシリルアセチレンを触媒(例えば、CuI及びPd(PPh3)Cl2、PPh3)の存在下に反応させ、得られた生成物をアルカリ処理して、アセチルArを得る。得られたアセチルArと修飾ホスフィンクロライド、例えば、ジフェニルホスフィンクロライドを反応させ、その後例えば、過酸化水素を用いて酸化することで、修飾ホスフィン基を修飾ホスフィンオキシド基(例えば、ジフェニルホスフィンオキシド基)に変換して一般式(1)で示される化合物を得ることができる。各反応は適当な有機溶媒(例えば、ジエチルエーテル、THF(テトラヒドロフラン)、トルエン、ジクロロメタン)中で実施できる。リンカーが連結基の場合も、常法により一般式(1)で示される化合物を得ることができる。例えば、連結基がエチレン基の場合には、上記トリアルキルシリルアセチレンに替えてトリアルキルシリルエチレンを用いることで、同様の反応を経て、一般式(1)で示される化合物を得ることができる。また連結基がアセチレンの場合には、園頭カップリング反応により合成することにより一般式(1)で示される化合物を得ることができる。
本発明は、上記本発明の化合物と希土類イオンを含む高分子錯体を包含する。この高分子錯体は、架橋成分として遷移金属イオンも含有する。本発明の高分子錯体は、下記一般式(2)で示される繰り返し単位を有するか、一般式(2)で示される繰り返し単位に一般式(5)で示される繰り返し単位をさらに含有する高分子錯体、又は一般式(5)で示される繰り返し単位を有する。
−(Ar−L1−X1−M1(LG)m−X1−L1−Ar−M2−)n (2)
−((Ar−L1−X1)p−M1(LG)m−X1−L1−Ar−M2−)q (5)
第三遷移元素(5d遷移元素) としては、W タングステン、Re レニウム、Os オスミウム 、Ir イリジウム 、Pt 白金 、Au 金、Pb鉛を例示できる。
遷移金属イオンも各元素に固有の価数のイオンとなる。
上記本発明の高分子錯体は、例えば、下記工程(A)及び(B)を含む方法により製造することかできる。
工程(A):前記一般式(1)で示される化合物、希土類化合物(但し、希土類化合物に含まれる希土類のイオンはM1である)、多座配位子LGを反応させて一般式(4)又は(6)で示される錯体を調製する工程。
Ar−L1−X1−M1(LG)m (4)
(Ar−L1−X1)p−M1(LG)m (6)
[一般式(4)及び(6)中、X1、L1及びArは、一般式(1)と同義であり、M1、LG及びmは、一般式(2)と同義であり、一般式(6)中のpは、一般式(5)と同義である。]
−(Ar−L1−X1−M1(LG)m−X1−L1−Ar−M2−)n (2)
−((Ar−L1−X1)p−M1(LG)m−X1−L1−Ar−M2−)q (5)
[一般式(2)中のAr、L1、X1、M1、M2、LG、m、n、p及びqは、前記定義と同義である。]
本発明は、上記本発明の一般式(2)及び/又は(5)で示される高分子錯体または一般式(4)又は(6)で示される希土類錯体を発光材料として用いた発光素子を包含する。本発明の発光素子は本発明の錯体の薄膜を有するものであることができる。より具体的には、本発明の高分子錯体及び希土類錯体は、例えば、白色LED素子の発光層(発光媒体)及び有機エレクトロルミネッセンス素子の発光層に用いることができる。本発明の発光素子はディスプレイまたは照明であることもできる。さらに、本発明の高分子錯体及び希土類錯体は、例えば、発光性インキ組成物に用いることもできる。
本発明の白色LED素子は、発光層を構成する発光媒体(例えば、蛍光体)中に前記高分子錯体を含有させる以外は、公知のLED素子と同様の構成を採用できる。例えば、LEDチップと発光媒体とからなる発光層を有するLED素子が挙げられる。
(1)LEDチップ:青色LED(例えばInGaN)、発光媒体:赤色光を放射する高分子錯体+黄色光を放射する無機化合物粒子(例えば、Y3Al5O12(YAG)結晶にCeを付活してなる粒子)
(2)LEDチップ:青色LED(例えばInGaN)、発光媒体:赤色光を放射する高分子錯体+緑色光を放射する高分子錯体
(3)LEDチップ:近紫外LED(例えばInGaN)、発光媒体:青色光を放射する無機化合物粒子(例えば、Sr10(PO4)6Cl2にEuを付活してなる粒子、Ca10(PO4)6Cl2にEuを付活してなる粒子、Ba10(PO4)6Cl2にEuを付活してなる粒子等)+赤色光を放射する高分子錯体+緑色光を放射する高分子錯体
(4)LEDチップ:近紫外LED(例えばInGaN)、発光媒体:赤色光を放射する高分子錯体+緑色光を放射する高分子錯体+青色光を放射する高分子錯体
前記有機媒体としては、例えば、有機溶媒、液状ポリマー等が挙げられる。
本発明の有機EL素子は、前記高分子錯体を含む発光層を有する。
本発明の発光性インキ組成物は、前記高分子錯体を含有する。前記高分子錯体は、天然光の下では放射する光の色は実質的に無色である。
本発明は、本発明の高分子錯体を含有する発光性のプラスチック組成物を包含する。発光性のプラスチック組成物に用いるプラスチック材料としては、特に制限されず、種々の材料を適用することができる。プラスチック材料としては、例えば、ポリエチレン樹脂、ポリプロピレン樹脂、ポリ塩化ビニル樹脂、尿素樹脂、フッ素樹脂、ポリエステル樹脂、ポリアミド樹脂、ポリアセタール樹脂、ポリカーボネート樹脂、ポリアリレート樹脂、ポリスルフォン樹脂、ポリフェニレンスルフィド樹脂、ポリエーテルスルホン樹脂、ポリアリルスルホン樹脂、ポリテトラフルオロエチレン樹脂、フェノール樹脂、不飽和ポリエステル樹脂、エポキシ樹脂、ポリイミド樹脂、ポリアミドイミド樹脂等が挙げられる。高分子錯体を配合して成形加工する方法としては、特に限定されないが、射出成形、ブロー成形、圧縮成形、押出成形、反応成形、中空成形、熱成形、FRP成形等が挙げられる。
配位子(4-pyridinldiphenylphosphine oxide, 4-dppy)合成
フレイムドライ後Ar雰囲気下にした100 ml三つ口フラスコに4-bromopyridine hydrochloride (1.95 g, 10.0 mmol)、超脱水トルエン(17 ml)を加えて撹拌した。反応容器を-78℃以下まで冷却した後、n-BuLi (16 ml, 25.6 mmol)を5〜10分掛けて滴下し、その後-20℃まで昇温させた。再び反応容器を-78℃以下まで冷却してから、PPh2Cl2 (2.7 ml, 15 mmol)をゆっくり滴下し、約8時間撹拌させた。撹拌終了後、反応液をCH2Cl2と飽和NaCl水溶液で抽出を行った後、MgSO4 で乾燥させ、溶媒を除去すると褐色油状物が得られた。氷浴中で、得られた褐色油状物をCH2Cl2(20 ml)に溶解させた後、反応溶液に30% H2O2 水溶液(12ml)をゆっくり滴下し、約4時間撹拌させた。撹拌終了後、反応液をCH2Cl2と飽和NaCl aqで抽出を行った後、MgSO4 で乾燥させ、溶媒を除去すると黄色の粗生成物が得られた。得られた黄色の液体をシリカゲルカラムクロマトグラフィー(CH2Cl2:MeOH=5:95)で精製を行い、第3成分を回収した。回収した第3成分をCH2Cl2に溶かし、濾過で不純物(特にシリカ)を取り除くことで、精製された配位子 4-dppyを黄色固体として得られた。Yield:0.54 g (19 %, 薄黄色粗結晶 or 白色粗結晶)
(4-dppyの物性)
1H-NMR、ESI-MSで同定した。
1H NMR : δ8.71-8.76(t, 2H,o-HC2pyr),δ7.40-7.88(m, 12H, Ar)ppm.
ESI-Mass : Calcd. for [M+H]+ : 280.09. Found, 280.09
中間錯体(Eu(III)錯体)合成
配位子 4-dppy (0.24 g, 0.86 mmol)、Eu(hfa)3(H2O)2 (0.70 g, 0.87 mmol)をMeOH (50 ml)に溶かし、65℃で4時間加熱還流した。反応後、溶媒を除去し、CH2Cl2を加え、不溶物を濾過により取り除き、濾液を集め、再び溶媒を飛ばすと、目的物が薄黄色粉末として得られた。Yield: 0.54 g (47 %, 薄黄色粉末)
(Eu(III)錯体Eu(hfa)3(4-dppy)2の物性)
1H-NMR、ESI-MSで同定した。
1H NMR : δ8.71-8.76(t, 4H,o-HC2pyr),δ7.40-7.88(m, 24H, Ar), δ3.89(s, 3H, hfa) ppm
ESI-Mass : Calcd. for [M+H]+ : 1125.06. Found, 1125.06
τobs=0.95 ms, ΦLn=73 %(粉体)
この発光スペクトルから4f-4f遷移に基づくEu(III)特有の5つの発光バンド(578 nm (5D0→7F0)、591 nm (5D0→7F1)、614 nm (5D0→7F2)、650 nm (5D0→7F3)、698 nm (5D0→7F4) )が観測された。また原料であるEu(hfa)3(H2O)2と比較すると、614nm 付近の遷移が明らかに変化している。このスペクトルの増大は、Euの配位環境の変化したことに起因していると考えられる。
高分子錯体(Eu-Pd配位高分子)合成
100 mlナス型フラスコに実施例2で得られたEu(III)錯体(0.53 g (0.40 mmol))、PdCl2(0.071 g (0.40 mmol))、ベンゼン(40ml)を加えて撹拌し、80℃のオイルバス中で約22時間還流した。還流終了後、茶色の不純物を濾過で取り除き、得た濾液の溶媒を除去したところ黄色固体が得られた。
リンカー部位の構造を調べる為に、以下に示した合成スキームでPd錯体の合成を行い、単結晶X線構造解析を行った。
1H NMR : δ8.92-8.94(m, 4H,o-HC2pyr),δ7.45-7.75(m, 24H, Ar)ppm.
ESI-Mass : Calcd. for [M+Cl]+ : 768.97. Found, 770.97
X線構造解析の結果から、パラジウムには配位子の窒素部位が結合し、平面四配位構造を取ることがわかる。このことから、この配位子を用いたEu(III)錯体をパラジウムで架橋できることが示唆される。また、ピリジン環とパラジウムは同一平面上に存在していることが確認でき、架橋部位として平面構造を有していることがわかる。
Eu(III)錯体と塩化パラジウムが錯形成するかを確認する為に、錯形成滴定を実施した。塩化パラジウムを0.1当量加えた毎に吸収スペクトルを測定し、2.5当量まで行った。図4(左図)に塩化パラジウムの各当量における吸収スペクトルを示す。このスペクトルから、300-320nm付近のピーク強度が徐々に減少していることがわかる図4(右図)。さらに、塩化パラジウムの滴下量と吸収度の関係を図5に示す。滴定曲線から、0.5-1.0当量までで1段階目の錯形成、1.5-2.0当量までで2段階目の錯形成が観測された。さらに、吸収スペクトル上の等吸収点が0.6当量までの時、280 nmに現れていたものが、2.5当量目までで等吸収点が270 nmに変化した。このことからも、Eu(III)錯体と塩化パラジウムの錯形成が、下記にスキームを示すように2段階で起こっていると考えられ、Eu-Pd配位高分子の形成が確認された。
上記実施例及び試験例における分析は下記方法により行った。
(1)単結晶X線構造解析
単結晶X線構造解析にはRigaku R-AXIS RAPIDを用いた。各Eu(III)錯体の無色単結晶を流動パラフィンと一緒にテフロン製マウントループ(φ=0.3-0.4 mm, HAMPTON RESEARCH社製)に固定した。線源はMo-Kα、測定温度は-150±1℃でX線照射角度は最大2θ = 54.9 °とした。強度減衰とLorentz-分極効果の補正は経験的吸収補正(empirical absorption correction)によって行い、補正したデータを直接法で解析し、フーリエ変換を用いて拡張した。非水素原子は異方的に、水素原子はriding modelを用いて精密化した。モデルの精密化は観測した回折点と有効なパラメータに基づいて行われ、全ての計算は結晶学解析ソフトRigaku Crystal Structureで行った。
1) 吸収スペクトル測定
Eu(III)錯体Eu(hfa)3(4-dppy)2のMeOH溶液(0.025 M)を調製し、30分間Ar バブリングを行った。測定にはJASCO V-550(UV/VIS Spectrophotometer)及び1 cm × 1 cm の四面石英セルを使用し、測定範囲300-600 nm 、40 nm / min の走査速度で測定した。
Eu(III)錯体Eu(hfa)3(4-dppy)2は液体・固体状態、配位高分子[Eu(hfa)3(4-dppy)2PdCl2]n は固体状態で測定した。液体状態測定では、Eu(III)錯体のMeOH溶液(0.025 M)を調製し、30分間Ar バブリングを行った。測定にはJASCO FP-6600 及び液体状態では1 cm × 1 cm の四面石英セル、固体状態では1 cm × 0.1 cm の薄型石英セルを使用し、測定範囲:550‐750 nm、励起波長:370 nm と465 nm で行った。
Eu(III)錯体Eu(hfa)3(4-dppy)2は液体・固体状態、配位高分子[Eu(hfa)3(4-dppy)2PdCl2]n は固体状態で測定した。励起光源にはSpectra-Physics YAGレーザーヘッド(H-INDI2-LW)を用いた。YAG レーザーに対する応答は日本テクトロニクス−デジタルオシロスコープ(TDS3052B)を用いた。求められる発光寿命は発光減衰プロファイルの縦軸の値を自然対数でプロットし、得られた直線の傾きから算出した。
Eu(III)錯体Eu(hfa)3(4-dppy)2及び配位高分子[Eu(hfa)3(4-dppy)2PdCl2]n を測定した発光スペクトルおよび発光寿命測定の結果から、発光量子効率ΦLn を算出した。Φ=0.65をリファレンスに用いた比較法と絶対法による発光量子収率の測定を行った。吸収スペクトル測定から得られたデータについて、横軸に波長(nm)を波数(cm-1)に変換した後、465 nm での吸収帯の面積を求めた。次に465 nm の励起での発光スペクトル (測定範囲:550-750 nm) における5D0→7F0 、5D0→7F1 、5D0→7F2 、5D0→7F3 、5D0→7F4に起因する発光バンドの総面積を求めた。吸収の面積に対する発光の面積の比を計算し、その値をリファレンスの値と比較することで発光量子収率を算出した。
Eu(III)錯体Eu(hfa)3(4-dppy)2のMeOH溶液(2×10-5 M)とPdCl2のMeOH溶液(6×10-4 M)を調製した。Eu(hfa)3(4-dppy)2のMeOH溶液 3 ml を加えた1 cm × 1 cm の四面石英セルにPdCl2のMeOH溶液10μlを加える毎に吸収スペクトル測定を行った。条件は測定範囲250-500 nm、走査速度20 nm/min とした。
Claims (11)
- 下記一般式(2)で示される繰り返し単位を有する高分子錯体。
−(Ar−L1−X1−M1(LG)m−X1−L1−Ar−M2−)n (2)
一般式(2)中、
Arは、硫黄原子、酸素原子及び窒素原子からなる群から選ばれるヘテロ原子を1〜3個含み、縮環していてもよい5〜14員芳香族ヘテロ炭化水素基である芳香族ヘテロ炭化水素基を示し、前記Arは、ヘテロ原子として1〜3個の窒素原子を含む5〜8員単環芳香族ヘテロ炭化水素基である、
L1は、連結基または直接結合であるリンカーを示し、
X1は、O=P(Ar11Ar12)−で示されるホスフィンオキシド基(但し、Ar11及びAr12は、独立に、置換若しくは無置換アリール基、置換若しくは無置換ヘテロアリール基、又は置換若しくは無置換アラルキル基を示す)を示し、
M1は、希土類イオンであり、
M2は、遷移金属イオンであり、
LGは、前記M1で示される希土類イオンに配位する多座配位子であり、mは、任意の整数であり、
nは、2〜500,000の範囲である。 - 下記一般式(5)で示される繰り返し単位をさらに含有する請求項1に記載の高分子錯体。
−((Ar−L1−X1)p−M1(LG)m−X1−L1−Ar−M2−)q (5)
一般式(5)中、Ar、L1、X1、M1、M2、LG及びmは、一般式(2)における定義と同義であり、pは2以上の整数であり、n+qは2〜500,000の範囲である。 - 下記一般式(5)で示される繰り返し単位を有する高分子錯体。
−((Ar−L1−X1)p−M1(LG)m−X1−L1−Ar−M2−)q (5)
一般式(5)中、Ar、L1、X1、M1、M2、LG及びmは、一般式(2)における定義と同義であり、pは2以上の整数であり、qは2〜500,000の範囲である。 - 前記X1に含まれるホスフィンオキシド基が前記M1で示される希土類イオンに配位結合し、
前記Arに含まれるヘテロ原子が前記M2で示される遷移金属イオンに配位結合する、請求項1〜3のいずれかに記載の高分子錯体。 - 前記多座配位子がジケト化合物である、請求項1〜4のいずれかに記載の高分子錯体。
- ジケト化合物が一般式(3)で示される化合物である、請求項5に記載の高分子錯体。
- ジケト化合物が、アセチルアセトン(acac)、2,2,6,6−テトラメチルヘプタン−3,5−ジオン(TMHD)、1,1,1−トリフルオロアセチルアセトン(TFA)、1,1,1,5,5,5−ヘキサフルオロアセチルアセトン(HFA)、及び1−(2−ナフチル)−4,4,4−トリフルオロ−1,3−ブタンジオンから成る群から選ばれる少なくとも1種の化合物である、請求項5に記載の高分子錯体。
- 下記工程(A)及び(B)を含む請求項1〜7のいずれかに記載の高分子錯体の製造方法。
工程(A):一般式(1)で示される化合物、希土類化合物(但し、希土類化合物に含まれる希土類イオンはM1である)、多座配位子LGを反応させて一般式(4)又は(6)で示される錯体を調製する工程(A)、
X1−L1−Ar (1)
[一般式(1)中、Arは、硫黄原子、酸素原子及び窒素原子からなる群から選ばれるヘテロ原子を1〜3個含み、縮環していてもよい5〜14員芳香族ヘテロ炭化水素基である芳香族ヘテロ炭化水素基を示し、前記Arは、ヘテロ原子として1〜3個の窒素原子を含む5〜8員単環芳香族ヘテロ炭化水素基である、
L1は、連結基または直接結合であるリンカーを示し、
X1は、O=P(Ar11Ar12)−で示されるホスフィンオキシド基(但し、Ar11及びAr12は、独立に、置換若しくは無置換アリール基、置換若しくは無置換ヘテロアリール基、又は置換若しくは無置換アラルキル基を示す)を示す。]
Ar−L1−X1−M1(LG)m (4)
(Ar−L1−X1)p−M1(LG)m (6)
[一般式(4)及び(6)中、X1、L1及びArは、前記一般式(1)と同義であり、M1、LG及びmは、請求項1で示される一般式(2)と同義であり、pは請求項2で示される一般式(5)と同義である。]
工程(B):前記一般式(4)で示される錯体及び一般式(6)で示される錯体の少なくとも1種と遷移金属化合物(但し、遷移金属化合物に含まれる遷移金属のイオンはM2である)とを反応させて、下記一般式(2)で示される繰り返し単位を有する高分子錯体、又は一般式(2)で示される繰り返し単位に一般式(5)で示される繰り返し単位をさらに含有する高分子錯体、又は一般式(5)で示される繰り返し単位を有する高分子錯体を調製する工程(B)
−(Ar−L1−X1−M1(LG)m−X1−L1−Ar−M2−)n (2)
−((Ar−L1−X1)p−M1(LG)m−X1−L1−Ar−M2−)q (5)
[一般式(2)及び(5)中のAr、L1、X1、M1、M2、LG、m及びnは、請求項1で示される定義と同義であり、一般式(5)中のp及びqは、請求項2又は3で示される定義と同義である。] - 請求項1〜7のいずれか1項に記載の錯体を発光材料として用いた発光素子。
- 請求項1〜7のいずれか1項に記載の錯体を含有する、発光性インキ組成物。
- 請求項1〜7のいずれか1項に記載の錯体を含有する、発光性プラスチック組成物。
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