JP6571882B2 - 光変調器および光変調器の制御方法 - Google Patents

光変調器および光変調器の制御方法 Download PDF

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Description

本発明は、光変調器および光変調器の制御方法に関し、特に、偏波多重を用いた、光変調器および光変調器の制御方法に関するものである。
マッハツェンダ(Mach−Zehnder:MZ)型光変調器による変調として、二重偏波四位相偏移変調(Dual Polarization Quadrature Phase Shift Keying:DP−QPSK)および二重偏波16直交振幅変調(Dual Polarization Quadrature Amplitude Modulation:DP−16QAM)などが挙げられる。これらの変調方式は複数のデータストリームを光によって偏波多重変調する。この変調時に発生し得る、偏波間でのデータストリームのタイミングずれは、信号特性を劣化させてしまう。よってタイミングずれを低減することが求められる(特開2015−052670号公報(特許文献1)参照)。
例えば、特開2011−044906号公報(特許文献2)によれば、レーザ光が2つの光に分岐される。各光が変調され、そして合成される。この合成までに、一方の光は偏波が維持されるが(X偏波)、他方の光は偏波が90°回転される(Y偏波)。この変調後に偏波間のタイミングずれが発生し得る。この原因は、変調に用いられるデータストリームを生成するデータ生成部から変調器までの距離、または変調器内部の距離が、データストリーム間で異なり得るためである。このタイミングずれは、信号特性を劣化させる原因となる。そこで、X偏波およびY偏波が合成された出力の強度が検出され、その情報を用いて各データストリームのタイミングが制御される。これにより偏波間におけるデータのタイミングずれが低減される。
特開2015−052670号公報 特開2011−044906号公報
特開2011−44906号公報の技術によると、1ビット以上の大きなタイミングずれには対応することが困難であった。
本発明は以上のような課題を解決するためになされたものであり、その目的は、任意の量のタイミングずれに対する調整を行うことができる光変調器および光変調器の制御方法を提供することである。
本発明の一の局面に従う光変調器は、データ生成部と、タイミング調整部と、少なくとも1つの分岐部と、第1の光変調部と、第2の光変調部と、第1の位相調整部と、第1の光合成部と、第3の光変調部と、第4の光変調部と、第2の位相調整部と、第2の光合成部と、偏波合成部と、ピーク検波回路と、制御部とを有している。データ生成部は、第1のデータストリームおよび第2のデータストリームを有する第1のデータストリーム群と、第3のデータストリームおよび第4のデータストリームを有する第2のデータストリーム群とを生成する。タイミング調整部は、第1のデータストリーム群と第2のデータストリーム群との間でのタイミングをタイミング設定に応じてシフトする。少なくとも1つの分岐部は、入力された光を第1の光と第2の光と第3の光と第4の光とへ分割する。第1の光変調部は、第1のデータストリームに基づいて第1の光を変調する。第2の光変調部は、第2のデータストリームに基づいて第の光を変調する。第1の位相調整部は、第1の光変調部からの光と第2の光変調部からの光との間の位相差を第1の位相差設定に応じてシフトする。第1の光合成部は、第1の光変調部からの光と、第1の位相調整部を経由した第2の光変調部からの光とを合成する。第3の光変調部は、第3のデータストリームに基づいて第3の光を変調する。第4の光変調部は、第4のデータストリームに基づいて第4の光を変調する。第2の位相調整部は、第3の光変調部からの光と第4の光変調部からの光との間の位相差を第2の位相差設定に応じてシフトする。第2の光合成部は、第3の光変調部からの光と、第2の位相調整部を経由した第4の光変調部からの光とを合成する。偏波合成部は、互いに直交する2つの偏波としての第1の光合成部からの光と第2の光合成部からの光とを合成する。ピーク検波回路は、偏波合成部からの光の強度に対してピーク検波を行うことにより検出値を出力する。制御部は、タイミング調整部のタイミング設定を調整するための調整モードを有している。データ生成部は第1のテストモードを有している。第1のテストモードにおいてデータ生成部は、Nを自然数として、第1のデータストリームおよび第3のデータストリームの各々として、2Nビットのマークと2Nビットのスペースとを繰り返す第1のテストデータストリームを生成し、かつ、第2のデータストリームおよび第4のデータストリームの各々として、第1のテストデータストリームに対してNビットシフトされた第2のテストデータストリームを生成する。タイミング調整部は、ピーク検波回路からの検出値を最大化するようにタイミング設定を調整する設定モードを有している。制御部は調整モードにおいて、第1の位相差設定および第2の位相差設定がゼロとなるように第1の位相調整部および第2の位相調整部を制御し、かつデータ生成部を少なくとも一時的に第1のテストモードとし、かつタイミング調整部を設定モードとする。
本発明の他の局面に従う光変調器は、データ生成部と、タイミング調整部と、少なくとも1つの分岐部と、第1の光変調部と、第2の光変調部と、第1の位相調整部と、第1の光合成部と、第3の光変調部と、第4の光変調部と、第2の位相調整部と、第2の光合成部と、偏波合成部と、第3の光合成部と、光強度検出部と、制御部とを有している。データ生成部は、第1のデータストリームおよび第2のデータストリームを有する第1のデータストリーム群と、第3のデータストリームおよび第4のデータストリームを有する第2のデータストリーム群とを生成する。タイミング調整部は、第1のデータストリーム群と第2のデータストリーム群との間でのタイミングをタイミング設定に応じてシフトする。少なくとも1つの分岐部は、入力された光を第1の光と第2の光と第3の光と第4の光とへ分割する。第1の光変調部は、第1のデータストリームに基づいて第1の光を変調する。第2の光変調部は、第2のデータストリームに基づいて第の光を変調する。第1の位相調整部は、第1の光変調部からの光と第2の光変調部からの光との間の位相差を第1の位相差設定に応じてシフトする。第1の光合成部は、第1の光変調部からの光と、第1の位相調整部を経由した第2の光変調部からの光とを合成する。第3の光変調部は、第3のデータストリームに基づいて第3の光を変調する。第4の光変調部は、第4のデータストリームに基づいて第4の光を変調する。第2の位相調整部は、第3の光変調部からの光と第4の光変調部からの光との間の位相差を第2の位相差設定に応じてシフトする。第2の光合成部は、第3の光変調部からの光と、第2の位相調整部を経由した第4の光変調部からの光とを合成する。偏波合成部は、互いに直交する2つの偏波としての第1の光合成部からの光と第2の光合成部からの光とを合成する。第3の光合成部は、共通の偏波方向を有する2つの偏波としての第1の光合成部からの光と第2の光合成部からの光とを合成する。光強度検出部は、第3の光合成部からの光の強度を検出することにより検出値を出力する。制御部は、タイミング調整部のタイミング設定を調整するための調整モードを有している。データ生成部は第1のテストモードを有している。第1のテストモードにおいてデータ生成部は、Nを自然数として、第1のデータストリームおよび第3のデータストリームの各々として、2Nビットのマークと2Nビットのスペースとを繰り返す第1のテストデータストリームを生成し、かつ、第2のデータストリームおよび第4のデータストリームの各々として、第1のテストデータストリームに対してNビットシフトされた第2のテストデータストリームを生成する。タイミング調整部は、光強度検出部からの検出値を最大化するようにタイミング設定を調整する設定モードを有している。制御部は調整モードにおいて、第1の位相差設定および第2の位相差設定がゼロとなるように第1の位相調整部および第2の位相調整部を制御し、かつデータ生成部を少なくとも一時的に第1のテストモードとし、かつタイミング調整部を設定モードとする。
本発明の光変調器の制御方法において、光変調器は、データ生成部と、タイミング調整部と、少なくとも1つの分岐部と、第1の光変調部と、第2の光変調部と、第1の位相調整部と、第1の光合成部と、第3の光変調部と、第4の光変調部と、第2の光合成部と、偏波合成部と、ピーク検波回路とを有している。データ生成部は、第1のデータストリームおよび第2のデータストリームを有する第1のデータストリーム群と、第3のデータストリームおよび第4のデータストリームを有する第2のデータストリーム群とを生成する。タイミング調整部は、第1のデータストリーム群と第2のデータストリーム群との間でのタイミングをタイミング設定に応じてシフトする。少なくとも1つの分岐部は、入力された光を第1の光と第2の光と第3の光と第4の光とへ分割する。第1の光変調部は、第1のデータストリームに基づいて第1の光を変調する。第2の光変調部は、第2のデータストリームに基づいて第の光を変調する。第1の位相調整部は、第1の光変調部からの光と第2の光変調部からの光との間の位相差を第1の位相差設定に応じてシフトする。第1の光合成部は、第1の光変調部からの光と、第1の位相調整部を経由した第2の光変調部からの光とを合成する。第3の光変調部は、第3のデータストリームに基づいて第3の光を変調する。第4の光変調部は、第4のデータストリームに基づいて第4の光を変調する。第2の位相調整部は、第3の光変調部からの光と第4の光変調部からの光との間の位相差を第2の位相差設定に応じてシフトする。第2の光合成部は、第3の光変調部からの光と、第2の位相調整部を経由した第4の光変調部からの光とを合成する。偏波合成部は、互いに直交する2つの偏波としての第1の光合成部からの光と第2の光合成部からの光とを合成する。ピーク検波回路は、偏波合成部からの光の強度に対してピーク検波を行うことにより検出値を出力する。光変調器の制御方法は、次の工程を有している。第1の位相調整部の第1の位相差設定と、第2の位相調整部の第2の位相差設定とがゼロにされる。データ生成部から、Nを自然数として、第1のデータストリームおよび第3のデータストリームの各々として、2Nビットのマークと2Nビットのスペースとを繰り返す第1のテストデータストリームが生成され、かつ、第2のデータストリームおよび第4のデータストリームの各々として、第1のテストデータストリームに対してNビットシフトされた第2のテストデータストリームが生成される。第1のテストデータストリームおよび第2のテストデータストリームが生成されている際に、ピーク検波回路からの検出値を最大化するように、タイミング調整部のタイミング設定が調整される。
なお上記記載において、「第1の」〜「第4の」などの序数は、同じ名称を有する要素を互いに区別するために用いられているものであって、当該要素の総数を限定するものではない。
本発明の一の局面に従う光変調器によれば、偏波間におけるタイミングずれに対する調整を行うに際して、第1のテストデータストリームおよび第2のテストデータストリームとして、2Nビットのマークと2Nビットのスペースとの繰り返しパターンが用いられる。第1のテストデータストリームと第2のテストデータストリームとは互いにNビットずらされていることから、これらが適用されることによって得られる2つの光が合成されることによって、周期2Nビットのパルスパターンが生じる。このパルスパターンを、互いに直交する偏波の各々が有する。このため、偏波間のタイミングのずれ量がNビットまで増加するにつれて、両偏波が合成された光の強度ピークは減少していく。よって、強度ピークを最大化することで、ほぼNビットまでのタイミングずれに対応することができる。またNの値を選択することによって、任意の量のタイミングずれに適した調整を行うことができる。
本発明の他の局面に従う光変調器によれば、変調信号の出力を生成するために合成されることになる互いに直交する2つの偏波が、これら偏波間におけるタイミングずれに対する調整を行うに際しては、共通の偏波方向を有する2つの偏波として合成される。第1のテストデータストリームおよび第2のテストデータストリームとして、2Nビットのマークと2Nビットのスペースとの繰り返しパターンが用いられる。第1のテストデータストリームと第2のテストデータストリームとは互いにNビットずらされていることから、これらが適用されることによって得られる2つの光が合成されることによって、周期2Nビットのパルスパターンが生じる。このパルスパターンを、2つの偏波の各々が有する。このため、偏波間のタイミングのずれ量がNビットまで増加するにつれて、両偏波が合成された光の強度は減少していく。よって、強度を最大化することで、ほぼNビットまでのタイミングずれに対応することができる。またNの値を選択することによって、任意の量のタイミングずれに適した調整を行うことができる。また上記強度は、共通の偏波方向を有する2つの偏波の合成光の光強度である。共通の偏波方向を有する2つの偏波は互いに干渉するので、偏波間のタイミングのずれ量が光強度に反映されやすくなる。これにより、タイミング調整の際に、光強度の信号に対して複雑な処理を施す必要がなる。よって光変調器の構成を簡素化することができる。
本発明の光変調器の制御方法によれば、偏波間におけるタイミングずれに対する調整を行うに際して、第1のテストデータストリームおよび第2のテストデータストリームとして、2Nビットのマークと2Nビットのスペースとの繰り返しパターンが用いられる。第1のテストデータストリームと第2のテストデータストリームとは互いにNビットずらされていることから、これらが適用されることによって得られる2つの光が合成されることによって、周期2Nビットのパルスパターンが生じる。このパルスパターンを、互いに直交する偏波の各々が有する。このため、偏波間のタイミングのずれ量がNビットまで増加するにつれて、両偏波が合成された光の強度ピークは減少していく。よって、強度ピークを最大化することで、ほぼNビットまでのタイミングずれに対応することができる。またNの値を選択することによって、任意の量のタイミングずれに適した調整を行うことができる。
この発明の目的、特徴、局面、および利点は、以下の詳細な説明と添付図面とによって、より明白となる。
本発明の実施の形態1における光変調器を有する光送信器の構成を概略的に示す図である。 図1の光変調器の制御方法を概略的に示すフロー図である。 図2の光変調器の制御方法においてデータ生成部が生成する第1のテストデータストリームおよび第2のテストデータストリームをN=2の場合について示すグラフ図である。 図2の光変調器の制御方法において光合成部によって合成される光の強度を示すグラフ図である。 図2の光変調器の制御方法において偏波合成部によって合成される光を、X偏波およびY偏波間のタイミングが一致している場合について示すグラフ図である。 図5の光の強度に対するピーク検波の検出値を示すグラフ図である。 図2の光変調器の制御方法において偏波合成部によって合成される光を、X偏波およびY偏波間のタイミングがNビットずれている場合について示すグラフ図である。 図7の光の強度に対するピーク検波の検出値を示すグラフ図である。 本発明の実施の形態2における光変調器の構成を概略的に示す図である。
以下、図面に基づいて本発明の実施の形態について説明する。
<実施の形態1>
図1は、本発明の実施の形態1における光変調器22を有する光送信器91の構成を概略的に示す図である。光送信器91は、光変調器22と、光変調器22へレーザ光を出力するレーザ光源1とを有している。光変調器22は、DP−QPSK変調器である。すなわち、X偏波(Horizontal偏波(H偏波)とも称される)およびY偏波(Vertical偏波(V偏波)とも称される)の二重偏波の各々について、変調によって4つの位相が付与される。言い換えれば、二重偏波の各々において、実数部Ich(In−phase channel)の光信号と虚数部Qch(Quadrature−phase channel)の光信号とがπ/2の搬送波位相差で合波されることによって、複素光電界が生成される。
光変調器22は、データ生成部19と、タイミング調整部20と、電気信号増幅器21と、分岐部2〜4と、第1〜第4の光変調部5〜8と、第1の位相調整部10と、第2の位相調整部11と、制御部12と、第1の光合成部13と、第2の光合成部14と、偏波回転部15と、偏波合成部16と、光強度検出部17と、ピーク検波回路18とを有している。
第1〜第4の光変調部5〜8の各々はMZ型光変調部である。このMZ型光変調部は、電界印加による屈折率変化、いわゆる電気光学効果、を利用することで光変調を行う。MZ型光変調部の構成材料としては、典型的にはインジウムリンが用いられる。MZ型光変調器の各々の詳細な構成は図1中に示されていないが、MZ型光変調器は、電極が設けられた2つの光導波路と、それらを並列に接続する2つのY分岐光導波路とを有しており、いわゆるマッハツェンダ干渉計として構成される。MZ型光変調部における変調は、マッハツェンダ干渉計を通過する光に対して、電極への電圧印加によって制御される屈折率変化に起因しての2本の光導波路の間の位相差に応じた光強度変化を与えることで行われる。電極には、変調信号電圧およびバイアス電圧が印加される。MZ型光変調器は、低チャープといった高い信号品質と、高速性との両立が可能な光変調器である。
第1の光変調部5および第2の光変調部6の組は、MZ干渉計としてMZ型光変調器が並列に接続された、2並列MZ型光変調器(DP−MZM:Dual−Parallel Mach−Zehnder Modulator、I/Q変調器とも呼ばれる)を構成している。この変調器は、実数部Ichの光信号と虚数部Qchの光信号とを、π/2の搬送波位相差を与えつつ合波することで、複素光電界を生成する。第3の光変調部7および第4の光変調部8の組も同様である。さらに、第1の光変調部5および第2の光変調部6の組からのX偏波と、90°偏波回転をともなう第3の光変調部7および第4の光変調部8の組からのY偏波とが合波されることによって、偏波多重が行われる。これによりDP−QPSK変調の出力が得られる。
データ生成部19は、多値変調のための複数のデータストリームを生成する。本実施の形態においては、データ生成部19は、第1のデータストリームおよび第2のデータストリームを有する第1のデータストリーム群と、第3のデータストリームおよび第4のデータストリームを有する第2のデータストリーム群とを生成する。第1のデータストリーム群の各々はX偏波の変調に用いられ、第2のデータストリーム群の各々はY偏波の変調に用いられる。第1のデータストリームおよび第3のデータストリームは実数部Ichの変調に用いられ、第2のデータストリームおよび第4のデータストリームは虚数部Qchの変調に用いられる。つまり、第1〜第4のデータストリームのそれぞれは、光信号X−Ich、X−Qch、Y−Ich、およびY−Qchの変調に用いられる。
タイミング調整部20は、X偏波用の第1のデータストリーム群と、Y偏波用の第2のデータストリーム群との間でのタイミングを、タイミング設定に応じてシフトする。タイミング設定を適切に設定することによって、データ生成部19から各変調部までの距離などに起因しての、望ましくないタイミングずれが相殺される。なお以下において、タイミング設定は「(X,Y)」のようにも表され、また、異なるタイミング設定(X,Y)が、必要に応じて添え字によって区別される。またタイミング設定は、第1のデータストリーム群と第2のデータストリーム群との間の相対的なタイミングを調整することを目的とするものであることから、第1および第2のデータストリーム群のどちらのタイミングを相対的により遅くするかによって、調整方向は2種類存在する。この2種類の方向を「プラス方向」および「マイナス方向」とも称する。
なおタイミング調整部20はさらに、第1データストリーム群に含まれる第1のデータストリームおよび第2のデータストリーム間でのタイミング調整、および、第2データストリーム群に含まれる第3のデータストリームおよび第4のデータストリーム間でのタイミング調整を行う機能を有していてもよい。
電気信号増幅器21には、データ生成部19からタイミング調整部20を経由して第1〜第4のデータストリームの電気信号が入力される。電気信号増幅器21は、これら4つの電気信号のそれぞれを増幅し、第1〜第4の光変調部5〜8へ出力する。なおデータ生成部19、タイミング調整部20および電気信号増幅器21のうちの一部またはすべてが、ICまたはLSIなどとして集積化されていてもよい。
分岐部2〜4は、レーザ光源1から入力されたレーザ光を第1〜第4の光とへ分割する。具体的には、レーザ光がまず分岐部2によって2つに分岐され、そのそれぞれが分岐部3および4によってさらに2つに分岐される。第1〜第4の光のそれぞれは第1〜第4の光変調部5〜8に供される。
第1〜第4の光変調部5〜8のそれぞれには第1〜第4のデータストリームが電気信号として入力される。この入力に基づいて、第1〜第4の光変調部5〜8のそれぞれは第1〜第4の光を変調する。
第1の位相調整部10は、第1の光変調部5からの光と第2の光変調部6からの光との間の位相差を、第1の位相差設定に応じてシフトする。第2の位相調整部11は、第3の光変調部7からの光と第4の光変調部8からの光との間の位相差を、第2の位相差設定に応じてシフトする。これにより各偏波における実数部Ichと虚数部Qchとの間の位相ずれ量が制御される。通常のQPSK変調を行う通常モードにおいては、第1および第2の位相差設定の各々はπ/2である。これにより、実数部Ichの光信号および虚数部Qchの光信号を合波する際に、π/2の搬送波位相差を与えることができる。また詳しくは後述するが、制御部12の調整モードにおいては、第1および第2の位相差設定の各々がゼロとされる。
第1の光合成部13は、第1の光変調部5からの光と、第1の位相調整部10を経由した第2の光変調部6からの光とを合成する。第2の光合成部14は、第3の光変調部7からの光と、第2の位相調整部11を経由した第4の光変調部8からの光とを合成する。
偏波回転部15は、90°の偏波回転を行う。偏波合成部16は、互いに直交する2つの偏波としての第1の光合成部13からの光と第2の光合成部14からの光とを合成する。
光強度検出部17は、偏波合成部16から出力された光の強度を検出する。光強度検出部17は、例えばフォトダイオード(Photodiode:PD)などである。ピーク検波回路18は、光強度検出部17によって検出された光強度に対してピーク検波を行うことにより、検出値を出力する。ピーク検波回路18は、ICによって構成されていてもよい。
制御部12は、データ制御部12Dと、バイアス制御部12Bと、位相制御部12Pとを有している。制御部12は、通常モードに加えて、タイミング調整部20のタイミング設定を調整するための調整モードを有している。位相制御部12Pは、第1の位相調整部10および第2の位相調整部11のそれぞれの第1の位相差設定および第2の位相差設定を制御する。具体的には、位相制御部12Pは、通常モードにおいて第1の位相差設定および第2の位相差設定がπ/2となり、調整モードにおいて第1の位相差設定および第2の位相差設定がゼロとなるように、第1の位相調整部10および第2の位相調整部11を制御する。データ制御部12Dは、調整モードにおいて、データ生成部19を少なくとも一時的に、詳しくは後述する第1のテストモードとし、好ましくはその後、詳しくは後述する第2のテストモードとする。またデータ制御部12Dは、調整モードにおいて、タイミング調整部20を設定モードとする。設定モードにおいてタイミング調整部20は、ピーク検波回路18からの検出値を最大化するように、タイミング調整部20のタイミング設定を調整する。バイアス制御部12Bは、第1〜第4の光変調部5〜8のバイアス電圧を制御する。
上述したように、データ生成部19は第1のテストモードを有している。具体例については後述するが、第1のテストモードにおいてデータ生成部19は、Nを自然数として、第1のデータストリームおよび第3のデータストリームの各々として、2Nビットのマークと2Nビットのスペースとを繰り返す第1のテストデータストリームを生成し、かつ、第2のデータストリームおよび第4のデータストリームの各々として、第1のテストデータストリームに対してNビットシフトされた第2のテストデータストリームを生成する。
データ生成部19の第1のテストモードにおいて、Nは2以上であることが好ましい。データ生成部19は第2のテストモードを有していることが、より好ましい。その場合、データ制御部12Dは調整モードにおいて、データ生成部19を第1のテストモードとした後に第2のテストモードとする。第2のテストモードにおいてデータ生成部19は、第1のデータストリームおよび第3のデータストリームの各々として、2ビットのマークと2ビットのスペースとを繰り返す第3のテストデータストリームを生成し、かつ、第2のデータストリームおよび第4のデータストリームの各々として、2ビットのマークと2ビットのスペースとを繰り返しかつ第3のテストデータストリームに対して1ビットシフトされた第4のテストデータストリームを生成する。
レーザ光源1と分岐部2との間、分岐部2と分岐部3または分岐部4との間、分岐部3と第1の光変調部5または第2の光変調部との間、分岐部4と第3の光変調部7または第4の光変調部8との間、第2の光変調部と第1の位相調整部10との間、第4の光変調部と第2の位相調整部11との間、第1の光変調部または第1の位相調整部10と第1の光合成部13との間、第3の光変調部または第2の位相調整部11と第2の光合成部14との間、第2の光合成部14と偏波回転部15との間、第1の光合成部13または偏波回転部15と偏波合成部16との間、偏波合成部16と光強度検出部17との間は、導波路、空間またはファイバなどによる光学的経路が光学的に接続している。また、バイアス制御部12Bと第1〜第4の光変調部5〜8との間と、位相制御部12Pと第1の位相調整部10または第2の位相調整部11との間と、光強度検出部17とピーク検波回路18との間と、ピーク検波回路18とタイミング調整部20との間と、データ生成部19とタイミング調整部20との間と、タイミング調整部20と電気信号増幅器21との間とは、電気的経路が電気的に接続している。
なお、複数の光変調部を有する構成であれば、光変調器の構成は図1に示されているものに限定されない。具体的には、図1に示す構成以外のDP−QPSK変調器が用いられてもよい。また変調器はDP−QPSK変調器に限定されるものではなく、DP−16QAMなど、他の種類の変調器であってもよい。また、電気信号を複数の光変調部に入力する構成であれば、データ生成部、タイミング調整部、および電気信号増幅器の構成も図1の構成に限定されるものではない。
次に、光送信器91の動作について、以下に説明する。
レーザ光源1のレーザ光が光変調器22に入力される。このレーザ光が分岐部2〜4により第1〜第4の光に分岐される。第1〜第4の光のそれぞれが第1〜第4の光変調部5〜8に入力される。データ生成部19により生成され、タイミング調整部20によってタイミングが調整され、電気信号増幅器21によって増幅された第1〜第4のデータストリームの信号電圧が、バイアス制御部12Bにより制御されたバイアス電圧とともに、第1〜第4の光変調部5〜8に印加される。これにより光変調が行われる。第2の光変調部6および第4の光変調部8のそれぞれからの光出力は、第1および第2の位相調整部10,11に入力される。これにより第2の光変調部6および第4の光変調部8のそれぞれからの光出力は、第1の光変調部5および第3の光変調部7の光出力に対する位相シフトを受ける。第2の光変調部6および第4の光変調部8のそれぞれからの光出力の位相シフト量は、位相制御部12Pで制御される第1および第2の位相差設定によって決定される。第1の光変調部5からの光出力(光信号X−Ich)と、第1の位相調整部10からの光出力(光信号X−Qch)は、第1の光合成部13により合成される。第3の光変調部7からの光出力(光信号Y−Ich)と、第2の位相調整部11からの光出力(光信号Y−Qch)は、第2の光合成部14により合成される。第2の光合成部14からの光出力は、偏波回転部15によって90°偏波回転を受ける。第1の光合成部13からの光出力と偏波回転部1からの光出力とが偏波合成部16によって偏波合成を受ける。偏波合成による出力がDP−QPSK変調信号として出力される。この変調信号出力の一部を用いて、光強度検出部17により、変調信号出力の光強度が検出される。この光強度に対してピーク検波回路18によりピーク検波が行われる。ピーク検波回路の検出値を用いて、以下に説明するように、X偏波用の第1のデータストリーム群と、Y偏波用の第2のデータストリーム群との間での、電気信号のタイミング調整が行われる。
図2は、上記タイミング調整を行うための光変調器22の制御方法を概略的に示すフロー図である。
ステップS1にて、通常のDP−QPSK変調信号が出力される。具体的には、データ生成部19から、第1〜第4のデータストリームの各々として、ランダムなデータパターンが出力される。すなわち、マーク(論理「1」)とスペース(論理「0」)との各々が50%の確率でランダムに生成される。この生成は、データ生成部19が有する疑似ランダムビット列(Pseudo Random Bit Sequence:PRBS)発生機能によって行われ得る。この代わりに、実際の通信用のデータストリームが用いられてもよい。タイミング調整部20のタイミング設定、すなわちX偏波とY偏波との間のタイミング設定は、任意の初期値(X,Y)とされる。タイミング調整部20を経た第1〜第4のデータストリームのそれぞれは、電気信号増幅器21で増幅され、そして第1〜第4の光変調部5〜8に入力される。
なお、バイアス制御部12Bは、第1および第2の光変調部5,6に電気信号増幅器21からの電気信号が入力されていないときに第1の光合成部13からの光出力が最小(Null点)になるように、バイアス電圧を常に制御している。同様に、バイアス制御部12Bは、第3および第4の光変調部7,8に電気信号増幅器21からの電気信号が入力されていないときに第2の光合成部14からの光出力が最小(Null点)になるように、バイアス電圧を常に制御している。位相制御部12Pは、第1の位相差設定および第2の位相差設定がπ/2となるように、第1の位相調整部10および第2の位相調整部11を制御する。言い換えれば、位相制御部12Pは、第1の位相差設定および第2の位相差設定がπ/2となるような制御値を見出し、それを適用する。
ステップS2にて、次に、タイミング調整部20のタイミング調整が開始される。すなわち、制御部12が調整モードに入る。このとき、カウンタiおよびjの各々はゼロとされる。
ステップS3にて、調整モードに入った制御部12のデータ制御部12Dは、データ生成部19を第1のテストモードとする。これにより、データ生成部19から生成されるデータストリームは、ステップS1におけるランダムなものから、テストパターンを有するものへと変更される。具体的には、第1のテストモードにおいてデータ生成部19は、Nを自然数として、実数部Ich用の第1のデータストリームおよび第3のデータストリームの各々として、2Nビットのマークと2Nビットのスペースとを繰り返す第1のテストデータストリームを生成する。またデータ生成部19は、虚数部Qch用の第2のデータストリームおよび第4のデータストリームの各々として、上記の第1のテストデータストリームに対してNビットシフトされた第2のテストデータストリームを生成する。すなわち、光信号X−Ichおよび光信号Y−Ich用に共通して第1のテストデータストリームが生成され、光信号X−Qchおよび光信号Y−Qch用に共通して第2のテストデータストリームが生成される。
例えばN=2の場合、第1のテストデータストリームとして「1111000011110000・・・」が生成され、同時に、第2のテストデータストリームとして「0011110000111100・・・」が生成される。この場合に、論理「0」および「1」のそれぞれに位相0およびπでの位相変調が対応しているとすれば、X偏波およびY偏波で共通して、実数部Ichおよび虚数部Qchは、図3に示す位相を有する。
また調整モードに入った制御部12の位相制御部12Pは、第1の位相差設定および第2の位相差設定がゼロとされるように、第1の位相調整部10および第2の位相調整部11を制御する。これにより、第1の光合成部13および第2の光合成部14の各々からの変調光の強度は、図4に示すように、連続Nビットのマーク(論理「1」)と、連続Nビットのスペース(論理「0」)との繰り返しパターンを有する。
また調整モードに入った制御部12のデータ制御部12Dは、タイミング調整部20を設定モードとする。これにより、上記のように第1のテストデータストリームおよび第2のテストデータストリームが生成されている際に、ピーク検波回路18からの検出値を最大化するように、タイミング調整部20のタイミング設定が調整される。具体的には、以下のステップS4〜S11が行われる。
ステップS4にて、タイミング調整部20のタイミング設定が(X,Y)のときのピーク検波回路の検出値Pが検出される。ここで、X偏波とY偏波との間のタイミング設定が最適であるとすると、図5に示すような偏波合成が行われる。この場合、図6に示すように、光強度SAに対するピーク検波による検出値PAは最大化される。X偏波とY偏波との間のタイミング設定のずれが大きくなっていくと、検出値は小さくなっていく。図7に示すようにずれがNビットに達すると、図8に示すように検出値PBが最小化される。ずれがさらに大きくなると、検出値は再び増加し始める。
なお、本来、偏波間でのタイミングのずれは、光強度の検出値を変化させない。さらに、データレートが高いためにマークとスペースとの間の遷移が速い場合は、高帯域でない通常の光強度検出部では、平均化された光強度しか検出することができず、検出精度が低い。本実施の形態によれば、X偏波とY偏波との間の光出力のタイミングのずれを、ピーク検波回路18の検出値の変動へ、大きく反映させることができる。
ステップS5にて、P≦Pi−1か否かが判断される。ただしi=0のときは、比較対象がなく、その場合「NO」と判断されるものとする。判断が「NO」の場合、処理がステップS6へと進む。
ステップS6にて、i=i+1のカウントアップ(インクリメント)がなされることで、タイミング設定(X,Y)がプラス方向へ変化させられる。次に、処理がステップS4に戻されることにより、上述した処理が繰り返される。ステップ5にてP≦Pi−1が満たされることによって処理がステップS7へと進むまで、この繰り返しが行われる。
ステップS7にて、(Xi−1,Yi−1)=(X,Y)とされる。これにより、タイミング設定のプラス方向への調整による検出値Pの最大化の試行が完了する。同様に、ステップS8〜S11にて、タイミング設定のマイナス方向への調整による検出値Pの最大化の試行が完了する。これにより、プラス方向およびマイナス方向の両方の調整が試みられる。よって、タイミング設定の初期値(X,Y)がプラス方向およびマイナス方向のいずれにずれていたかにかかわらず、ステップS11におけるタイミング設定(Xj−1,Yj−1)は、検出値Pを最大化するものである。このタイミング設定がタイミング調整部20の最終設定値とされる。
ステップS12にて、制御部12が調整モードから通常モードへと移行する。すなわち、タイミング調整を行うための処理が完了し、ステップS1で説明した、通常のDP−QPSK変調のための設定が再び用いられる。具体的には、データ生成部19の出力が通常のデータストリームとされ、第1の位相調整部10の第1の位相差設定と第2の位相調整部11の第2の位相差設定とがπ/2に戻される。これにより、以後、最適なタイミング設定の下で通常のDP−QPSK変調を行うことができる。
上記のタイミング調整により、最大でほぼNビットまでのタイミングずれに対応することができる。なお厳密にいえば、タイミングずれがちょうどNビットの場合は、タイミング調整をプラス方向およびマイナス方向のいずれに行うべきかが判別できない。よって、対応可能な最大のタイミングずれ量はNビット未満である。
上記のように、Nが大きいほど、大きなタイミングずれに対応することができる。一方で、Nが過度に大きいと、タイミングの調整量に対する検出値Pの変化の割合が小さくなるため、精密な調整が困難である。このため、上述した第1のテストモードにおけるNの値は、想定される、X偏波とY偏波との間でのタイミングの最大ずれ量に応じて、設定され得る。好ましくは、第1のテストモードにおいてN≧2とされ、上記ステップS11で得られた値を初期値として用いつつ、N=1である第2のテストモードでステップS2〜S12が再度行われる。この場合、第1のテストモードでの調整によってN≧2以上のタイミングずれがおおよそ解消された後、第2のテストモードでの調整によって高精度の調整が行われる。
(効果のまとめ)
本実施の形態によれば、偏波間におけるタイミングずれに対する調整を行うに際して、第1のテストデータストリームおよび第2のテストデータストリームとして、2Nビットのマークと2Nビットのスペースとの繰り返しパターンが用いられる。第1のテストデータストリームと第2のテストデータストリームとは互いにNビットずらされていることから、これらが適用されることによって得られる2つの光が合成されることによって、周期2Nビットのパルスパターンが生じる。このパルスパターンを、互いに直交するX偏波およびY偏波の各々が有する。このため、偏波間のタイミングのずれ量がNビットまで増加するにつれて、両偏波が合成された光の強度ピークは減少していく。よって、強度ピークを最大化することで、ほぼNビットまでのタイミングずれに対応することができる。またNの値を選択することによって、任意の量のタイミングずれに適した調整を行うことができる。
好ましくは、データ生成部19の第1のテストモードにおいて、Nは2以上である。これにより、1ビット以上のタイミングずれに対応することができる。より好ましくは、N≧2である第1のテストモードに加えて、N=1である第2のテストモードが用いられる。これにより、1ビット以上のタイミングずれに対応しつつ、タイミングずれをより高精度に低減させることができる。
<実施の形態2>
図9は、本発明の実施の形態2における光変調器22Mの構成を概略的に示す図である。光変調器22Mは、光変調器22(図1:実施の形態1)と同様に、入力されたレーザ光を変調することによって変調信号を出力することができるものである。よって光変調器22Mは、光送信器91(図1)において光変調器22の代わりに用いることができる。
光変調器22Mは、第1の光合成部13(図1:実施の形態1)に代わり第1の2×2光合成部23(第1の光合成部)を有しており、第2の光合成部14(図1:実施の形態1)に代わり第2の2×2光合成部24(第2の光合成部)を有している。「2×2光合成部」は、2つの入力端からの光を合成することによって合成光を生成し、この合成光を2つの出力端の各々から出力するものであり、例えば、Multi Mode Interferer(MMI)、または、ファイバなどを用いた光カプラによって構成され得る。
具体的には、第1の2×2光合成部23は、入力端23aと、入力端23bと、出力端23eと、出力端23fとを有している。入力端23aへは第1の光変調部5からの光が入力され、入力端23bへは第1の位相調整部10を経由した第2の光変調部6からの光が入力される。これらの光が合成されることによって生成された合成光が、出力端23eおよび出力端23fの各々から出力される。第2の2×2光合成部24は、入力端24aと、入力端24bと、出力端24eと、出力端24fとを有している。入力端24aへは第3の光変調部7からの光が入力され、入力端24bへは第2の位相調整部11を経由した第4の光変調部8からの光が入力される。これらの光が合成されることによって生成された合成光が、出力端24eおよび出力端24fの各々から出力される。
偏波合成部16は、互いに直交する2つの偏波としての、第1の2×2光合成部23の出力端23eからの光と、第2の2×2光合成部24の出力端24eからの光とを合成する。これら2つの偏波を互いに直交するものとするために、図9に示された構成においては、出力端24eと偏波合成部16との間に偏波回転部15が設けられている。
光変調器22Mは、光合成部25(第3の光合成部)を有している。光合成部25は、共通の偏波方向を有する2つの偏波としての、第1の2×2光合成部23の出力端23fからの光と、第2の2×2光合成部24の出力端24fからの光とを合成する。
実施の形態1と異なり本実施の形態においては、光強度検出部17は、光合成部25からの光の強度を検出することにより検出値を出力する。また、タイミング調整部20は、ピーク検波回路18(図1:実施の形態1)の検出値の代わりに、光強度検出部17の検出値を用いる。よって、タイミング調整部20の設定モードは、光強度検出部17からの検出値を最大化するようにタイミング設定を調整する。よって本実施の形態においては、ピーク検波回路18(図1:実施の形態1)が省略されている。
上記構成に対応して、本実施の形態におけるタイミング調整においては、図2(実施の形態1)のフロー図に示された動作と同様の動作が行われる際に、ピーク検波回路の検出値の代わりに、光強度検出部17の検出値が用いられる。この点以外は、本実施の形態においても実施の形態1と同様の動作がなされる。
なお図9に示された構成のうち偏波回転部15および偏波合成部16以外の部分が、光変調素子26として構成されてもよい。この場合、光変調素子26からは、共通の偏波方向を有する2つの偏波が出力される。これら2つの偏波が、偏波回転部15によって互いに直交する2つの偏波とされる。これらの偏波が偏波合成部16によって合成されることによって、変調信号が生成される。
上記以外の構成については、上述した実施の形態1の構成とほぼ同じであるため、同様の要素について同一の符号を付し、その説明を繰り返さない。本実施の形態によっても、実施の形態1と同様に、ほぼNビットまでのタイミングずれに対応したタイミング調整が可能であり、またNの値を選択することによって、任意の量のタイミングずれに適した調整が可能である。
本実施の形態によれば、変調信号の出力を生成するために、互いに直交する2つの偏波として、出力端23eからの偏波と、出力端24eからの波長回転部15を経由した偏波とが合成される。これら偏波間におけるタイミングずれに対する調整を行うに際しては、共通の偏波方向を有する2つの偏波として、出力端23fからの偏波と、出力端24fからの偏波とが、光合成部25によって合成される。そして光合成部25からの光の強度が光強度検出部17によって検出される。よってこの強度は、共通の偏波方向を有する2つの偏波の合成光についての光強度である。共通の偏波方向を有する2つの偏波は互いに干渉するので、偏波間のタイミングのずれ量が光強度に反映されやすくなる。これにより、タイミング調整の際に、光強度の信号に対して複雑な処理を施す必要がなくなる。具体的には、実施の形態1で用いられているようなピーク検波回路が、必ずしも必要ではなくなる。よって光変調器の構成を簡素化することができる。
本発明は、その発明の範囲内において、各実施の形態を自由に組み合わせたり、各実施の形態を適宜、変形、省略したりすることが可能である。この発明は詳細に説明されたが、上記した説明は、すべての局面において、例示であって、この発明がそれに限定されるものではない。例示されていない無数の変形例が、この発明の範囲から外れることなく想定され得るものと解される。
1,1P レーザ光源、2〜4 分岐部、5〜8 第1〜第4の光変調部、10,11 第1および第2の位相調整部、12 制御部、12B バイアス制御部、12D データ制御部、12位相制御部、13,14 第1および第2の光合成部、15 偏波回転部、16 偏波合成部、17 光強度検出部、18 ピーク検波回路、1データ生成部、2タイミング調整部、21 電気信号増幅器、2光変調器、22M 光変調器、23 第1の2×2光合成部(第1の光合成部)、24 第2の2×2光合成部(第2の光合成部)、25 光合成部(第3の光合成部)、91 光送信器。

Claims (5)

  1. 第1のデータストリームおよび第2のデータストリームを有する第1のデータストリーム群と、第3のデータストリームおよび第4のデータストリームを有する第2のデータストリーム群とを生成するデータ生成部(19)と、
    前記第1のデータストリーム群と前記第2のデータストリーム群との間でのタイミングをタイミング設定に応じてシフトするタイミング調整部(20)と、
    入力された光を第1の光と第2の光と第3の光と第4の光とへ分割する少なくとも1つの分岐部(2〜4)と、
    前記第1のデータストリームに基づいて前記第1の光を変調する第1の光変調部(5)と、
    前記第2のデータストリームに基づいて前記第の光を変調する第2の光変調部(6)と、
    前記第1の光変調部(5)からの光と前記第2の光変調部(6)からの光との間の位相差を第1の位相差設定に応じてシフトする第1の位相調整部(10)と、
    前記第1の光変調部(5)からの光と、前記第1の位相調整部(10)を経由した前記第2の光変調部(6)からの光とを合成する第1の光合成部(13)と、
    前記第3のデータストリームに基づいて前記第3の光を変調する第3の光変調部(7)と、
    前記第4のデータストリームに基づいて前記第4の光を変調する第4の光変調部(8)と、
    前記第3の光変調部(7)からの光と前記第4の光変調部(8)からの光との間の位相差を第2の位相差設定に応じてシフトする第2の位相調整部(11)と、
    前記第3の光変調部(7)からの光と、前記第2の位相調整部(11)を経由した前記第4の光変調部(8)からの光とを合成する第2の光合成部(14)と、
    互いに直交する2つの偏波としての前記第1の光合成部(13)からの光と前記第2の光合成部(14)からの光とを合成する偏波合成部(16)と、
    前記偏波合成部(16)からの光の強度に対してピーク検波を行うことにより検出値を出力するピーク検波回路(18)と、
    前記タイミング調整部(20)の前記タイミング設定を調整するための調整モードを有する制御部(12)と、
    を備え、
    前記データ生成部(19)は第1のテストモードを有しており、
    前記第1のテストモードにおいて前記データ生成部(19)は、Nを自然数として、前記第1のデータストリームおよび前記第3のデータストリームの各々として、2Nビットのマークと2Nビットのスペースとを繰り返す第1のテストデータストリームを生成し、かつ、前記第2のデータストリームおよび前記第4のデータストリームの各々として、前記第1のテストデータストリームに対してNビットシフトされた第2のテストデータストリームを生成し、
    前記タイミング調整部(20)は、前記ピーク検波回路(18)からの前記検出値を最大化するように前記タイミング設定を調整する設定モードを有し、
    前記制御部(12)は前記調整モードにおいて、前記第1の位相差設定および前記第2の位相差設定がゼロとなるように前記第1の位相調整部(10)および前記第2の位相調整部(11)を制御し、かつ前記データ生成部(19)を少なくとも一時的に前記第1のテストモードとし、かつ前記タイミング調整部(20)を前記設定モードとする、
    光変調器(22)。
  2. 前記データ生成部(19)の前記第1のテストモードにおいて、Nは2以上である、請求項1に記載の光変調器(22)。
  3. 前記データ生成部(19)は第2のテストモードを有しており、
    前記第2のテストモードにおいて前記データ生成部(19)は、前記第1のデータストリームおよび前記第3のデータストリームの各々として、2ビットのマークと2ビットのスペースとを繰り返す第3のテストデータストリームを生成し、かつ、前記第2のデータストリームおよび前記第4のデータストリームの各々として、2ビットのマークと2ビットのスペースとを繰り返しかつ前記第3のテストデータストリームに対して1ビットシフトされた第4のテストデータストリームを生成し、
    前記制御部(12)は前記調整モードにおいて、前記データ生成部(19)を前記第1のテストモードとした後に前記第2のテストモードとする、
    請求項2に記載の光変調器(22)。
  4. 第1のデータストリームおよび第2のデータストリームを有する第1のデータストリーム群と、第3のデータストリームおよび第4のデータストリームを有する第2のデータストリーム群とを生成するデータ生成部(19)と、
    前記第1のデータストリーム群と前記第2のデータストリーム群との間でのタイミングをタイミング設定に応じてシフトするタイミング調整部(20)と、
    入力された光を第1の光と第2の光と第3の光と第4の光とへ分割する少なくとも1つの分岐部(2〜4)と、
    前記第1のデータストリームに基づいて前記第1の光を変調する第1の光変調部(5)と、
    前記第2のデータストリームに基づいて前記第の光を変調する第2の光変調部(6)と、
    前記第1の光変調部(5)からの光と前記第2の光変調部(6)からの光との間の位相差を第1の位相差設定に応じてシフトする第1の位相調整部(10)と、
    前記第1の光変調部(5)からの光と、前記第1の位相調整部(10)を経由した前記第2の光変調部(6)からの光とを合成する第1の光合成部(23)と、
    前記第3のデータストリームに基づいて前記第3の光を変調する第3の光変調部(7)と、
    前記第4のデータストリームに基づいて前記第4の光を変調する第4の光変調部(8)と、
    前記第3の光変調部(7)からの光と前記第4の光変調部(8)からの光との間の位相差を第2の位相差設定に応じてシフトする第2の位相調整部(11)と、
    前記第3の光変調部(7)からの光と、前記第2の位相調整部(11)を経由した前記第4の光変調部(8)からの光とを合成する第2の光合成部(24)と、
    互いに直交する2つの偏波としての前記第1の光合成部(23)からの光と前記第2の光合成部(24)からの光とを合成する偏波合成部(16)と、
    共通の偏波方向を有する2つの偏波としての前記第1の光合成部(23)からの光と前記第2の光合成部(24)からの光とを合成する第3の光合成部(25)と、
    前記第3の光合成部(25)からの光の強度を検出することにより検出値を出力する光強度検出部(17)と、
    前記タイミング調整部(20)の前記タイミング設定を調整するための調整モードを有する制御部(12)と、
    を備え、
    前記データ生成部(19)は第1のテストモードを有しており、
    前記第1のテストモードにおいて前記データ生成部(19)は、Nを自然数として、前記第1のデータストリームおよび前記第3のデータストリームの各々として、2Nビットのマークと2Nビットのスペースとを繰り返す第1のテストデータストリームを生成し、かつ、前記第2のデータストリームおよび前記第4のデータストリームの各々として、前記第1のテストデータストリームに対してNビットシフトされた第2のテストデータストリームを生成し、
    前記タイミング調整部(20)は、前記光強度検出部(17)からの前記検出値を最大化するように前記タイミング設定を調整する設定モードを有し、
    前記制御部(12)は前記調整モードにおいて、前記第1の位相差設定および前記第2の位相差設定がゼロとなるように前記第1の位相調整部(10)および前記第2の位相調整部(11)を制御し、かつ前記データ生成部(19)を少なくとも一時的に前記第1のテストモードとし、かつ前記タイミング調整部(20)を前記設定モードとする、
    光変調器(22M)。
  5. 第1のデータストリームおよび第2のデータストリームを有する第1のデータストリーム群と第3のデータストリームおよび第4のデータストリームを有する第2のデータストリーム群とを生成するデータ生成部(19)と、前記第1のデータストリーム群と前記第2のデータストリーム群との間でのタイミングをタイミング設定に応じてシフトするタイミング調整部(20)と、入力された光を第1の光と第2の光と第3の光と第4の光とへ分割する少なくとも1つの分岐部(2〜4)と、前記第1のデータストリームに基づいて前記第1の光を変調する第1の光変調部(5)と、前記第2のデータストリームに基づいて前記第の光を変調する第2の光変調部(6)と、前記第1の光変調部(5)からの光と前記第2の光変調部(6)からの光との間の位相差を第1の位相差設定に応じてシフトする第1の位相調整部(10)と、前記第1の光変調部(5)からの光と前記第1の位相調整部(10)を経由した前記第2の光変調部(6)からの光とを合成する第1の光合成部(13)と、前記第3のデータストリームに基づいて前記第3の光を変調する第3の光変調部(7)と、前記第4のデータストリームに基づいて前記第4の光を変調する第4の光変調部(8)と、前記第3の光変調部(7)からの光と前記第4の光変調部(8)からの光との間の位相差を第2の位相差設定に応じてシフトする第2の位相調整部(11)と、前記第3の光変調部(7)からの光と前記第2の位相調整部(11)を経由した前記第4の光変調部(8)からの光とを合成する第2の光合成部(14)と、互いに直交する2つの偏波としての前記第1の光合成部(13)からの光と前記第2の光合成部(14)からの光とを合成する偏波合成部(16)と、前記偏波合成部(16)からの光の強度に対してピーク検波を行うことにより検出値を出力するピーク検波回路(18)と、を含む光変調器(22)の制御方法であって、
    前記第1の位相調整部(10)の前記第1の位相差設定と、前記第2の位相調整部(11)の前記第2の位相差設定とをゼロにする工程と、
    前記データ生成部(19)から、Nを自然数として、前記第1のデータストリームおよび前記第3のデータストリームの各々として、2Nビットのマークと2Nビットのスペースとを繰り返す第1のテストデータストリームを生成し、かつ、前記第2のデータストリームおよび前記第4のデータストリームの各々として、前記第1のテストデータストリームに対してNビットシフトされた第2のテストデータストリームを生成する工程と、
    前記第1のテストデータストリームおよび前記第2のテストデータストリームが生成されている際に、前記ピーク検波回路(18)からの前記検出値を最大化するように、前記タイミング調整部(20)の前記タイミング設定を調整する工程と、
    を備える、光変調器(22)の制御方法。
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