JP6562909B2 - 分析物を含む試料の検知された物理的特性に由来する特定された抽出時間に基づいて決定された分析物測定値についての温度補償 - Google Patents
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Description
本出願は、2013年6月27日に出願された同題および代理人番号DDI5267USNPを有する先行出願である米国特許出願第13/929,495号、並びに2013年6月27日に出願された同題および代理人番号DDI5267USPSPを有する第61/840,176号からの、合衆国法典第35編第119条、第120条、第365条、第371条、およびパリ条約に基づく優先権を主張する。この先行特許出願の全ては、ここで、参照により本出願に組み込まれる。
式1 グルコース+GO(ox)→グルコン酸+GO(red)
式2 GO(red)+2 Fe(CN)6 3−→GO(ox)+2 Fe(CN)6 4−
GFは最終分析物値を含み、
G0は1以上である未補償分析物値を含み;
Tはメーターによって(℃で)測定される温度を含み;
T0は約22℃(名目上の温度)を含み、
x1は約4.69e−4を含み、
x2は約−2.19e−2を含み、
x3は約2.80e−1を含み、
x4は約2.99e0を含み、
x5は約−3.89e1を含み、
x6は約1.32e2を含む。
GFは最終分析物値を含み、
G0は未補償分析物値を含み、
Gnominalは名目上の分析物値を含み、
Tはメーターによって(℃で)測定される温度であり、
T0は約22℃(名目上の温度)を含み、
x1は約4.80e−5を含み、
x2は約−6.90e−3を含み、
x3は約2.18e−1を含み、
x4は約9.18e−6を含み、
x5は約−5.02e−3を含み、
x6は約1.18e0を含み、
x7は約2.41e−2を含む。
「特定された抽出時間」は、試験ストリップの出力信号を抽出する、試験シーケンスの開始からの時点として指定され、
Hは、試料の物理的特性を表し;
xaは、約4.3e5を表し;
xbは、約−3.9を表し;および
xcは、約4.8を表す。
G0は未補償分析物濃度を表し、
ITは、特定された抽出時間において測定された信号を表し;
Slopeは、この特定のストリップが属する試験ストリップのバッチの較正試験から得られる値を表し、
Interceptは、この特定のストリップが属する試験ストリップのバッチの較正試験から得られる値を表す。
IEは、約2.5秒にて測定された信号であり、
x1は、バイオセンサーの特定のバッチの較正勾配を含み;
x2は、バイオセンサーの特定のバッチの較正切片を含み;且つ
マイクロコントローラーは、以下の式によって、未補償分析物濃度を決定する:
ISは、特定された抽出時間において測定された信号を含み;
x3は、バイオセンサーの特定のバッチの較正勾配を含み;且つ
x4は、バイオセンサーの特定のバッチの切片を含む。
G0は未補償分析物濃度を表し、
ITは、該選択された抽出時間Tにおいて測定された信号(分析物濃度に比例する)を表し、
Slopeは、この特定のストリップが属する試験ストリップのバッチの較正試験から得られる値を表し、
Interceptは、この特定のストリップが属する試験ストリップのバッチの較正試験から得られる値を表す。
Φ=tan−1(VQUAD−PHASE/VIN−PHASE)
振幅=SQR((VQUAD−PHASE)2+(VIN−PHASE)2)
P=tan−1{Z”/Z’} 式3.1
および大きさM(Ω、従来|Z|と記載される)は、インターフェース306の線Z’およびZ”から以下の式で求めることができる。
G0=[(IE)−Intercept]/Slope 式3.3
式中、
IEは、バイオセンサーの全ての電極(例えば、センサー100では、電極12および14の両方(又はIwe1+Iwe2))からの合計信号である信号(分析物濃度と比例する)であり、
Iwe1は、設定抽出時間で第1の作用電極に測定された信号であり、
Iwe2は、設定抽出時間で第2の作用電極に測定された信号であり、
勾配は、この特定のストリップが属する試験ストリップのバッチの較正試験から得られる値である。
切片は、この特定のストリップが属する試験ストリップのバッチの較正試験から得られる値である。
Pが、入力信号と出力信号との間の位相差(度)を表し、
y1は、約−3.2e−08および与えられたその数値の±10%、5%又は1%であり(および、入力信号の周波数に応じて、ゼロであってよく)、
y2は、約−4.1e−03および与えられたその数値の±10%、5%又は1%であり(および、入力信号の周波数に応じて、ゼロであってよく)、
y3は、約−2.5e+01および与えられたその数値の±10%、5%又は1%であり、
y4は、約−1.5e−01および与えられたその数値の±10%、5%又は1%であり(および、入力信号の周波数に応じて、ゼロであってよく)、並びに
y5は、約5.0および与えられたその数値の±10%、5%又は1%である(および、入力信号の周波数に応じて、ゼロであってよい)。
ICは、インピーダンス特性[%]であり、
Mは、インピーダンスの大きさ[Ω]であり、
y1は、約1.2292e1、および与えられたその数値の±10%、5%又は1%であり、
y2は、約−4.3431e2、および与えられたその数値の±10%、5%又は1%であり、
y3は、約3.5260e4、および与えられたその数値の±10%、5%又は1%である。
G0は分析物濃度を表し、
ITは、特定された抽出時間Tで測定される終了信号の合計から決定された信号(分析物濃度と比例)を表し、これは特定された抽出時間Tで測定される合計電流であってもよく、
Slopeは、この特定のストリップが属する試験ストリップのバッチの較正試験から得られる値を表し、典型的には約0.02であり、
Interceptは、この特定のストリップが属する試験ストリップのバッチの較正試験から得られる値を表し、典型的には約0.6〜約0.7である。
IEは、約2.5秒にて測定された信号であり、
x1は、勾配(例えば、x1=1.3e01)であり;
x2は、切片(例えば、x2=6.9e02)であり;
推定されたグルコースから、グルコース濃度は、
ISは、表2の特定された抽出時間Sにおいて測定された信号であり、
x3は、勾配(例えば、x3=9.6)であり、
x4は、切片(例えば、x4=4.8e02)であり;
(a)温度補償タームは、未補償分析物値を増大するにつれて増大する(これは、CL1〜CL5線が分析物値が増大する(25、75、150、250および350mg/dL)につれて増大する)図9において見られ得る);および
(b)温度補償タームは、約22℃から約5℃まで減少する前記試験ストリップに近接した周囲温度につれて増大する;および
(c)温度補償タームは、約22℃〜約45℃である前記バイオセンサーに近接した周囲温度について約ゼロである;
GFは最終グルコース結果であり、
GOは、未補償分析物値Gグルコース結果(1以上でなければならない)であり、
Tはメーターによって(℃で)測定される温度であり、
T0=22℃(又は名目上の温度)
x1=4.69e−4、x2=−2.19e−2、x3=2.80e−1、x4=2.99e0、x5=−3.89e1、x6=1.32e2
GFは最終分析物値であり、
G0は未補償分析物値であり、
Gnominalは名目上の分析物値であり、
Tはメーターによって(℃で)測定される温度であり;
T0は約22℃(名目上の温度)であり、
x1は、約4.80e−5であり、x2は、約−6.90e−3であり、x3は、約2.18e−1であり、x4は、約9.18e−6であり、x5は、約−5.02e−3であり、x6は、約1.18e0であり、およびx7は、約2.41e−2である。
Claims (26)
- 電極の上に酵素が配置された少なくとも2つの該電極を含む複数の電極を有する試験ストリップ;
並びに
電源、メモリおよび前記試験ストリップの前記複数の電極と接続されたマイクロコントローラーを備えたメーター
を備える、分析物測定システムであって、
前記マイクロコントローラーは、
前記試験ストリップに近接した周囲温度を測定し;
分析物を含む液体試料が前記少なくとも2つの電極に近接して配置された場合、前記少なくとも2つの電極に対し信号を駆動し;
電気化学的反応の間の前記少なくとも2つの電極からの信号出力を測定し;
未補償分析物濃度を前記信号出力から計算し;
前記未補償分析物濃度を、
(a)温度補償タームは、約22℃から約5℃まで減少する前記試験ストリップに近接した周囲温度につれて増大する;および
(b)温度補償タームは、約22℃から約45℃まで変化する前記試験ストリップに近接した前記周囲温度につれて約ゼロの値を維持する
という関係性によって定義される温度補償タームによって最終分析物濃度に調整し;
並びに
前記最終分析物濃度を通知するように構成され、
前記関係性が、以下の式によって表される:
GFは前記最終分析物濃度を含み、
G0は1以上である前記未補償分析物濃度を含み、
Tは前記メーターによって(℃で)測定される前記温度を含み、
T0は約22℃を含み、
x1は約4.69e−4を含み、
x2は約−2.19e−2を含み、
x3は約2.80e−1を含み、
x4は約2.99e0を含み、
x5は約−3.89e1を含み、
x6は約1.32e2を含む、
分析物測定システム。 - 電極の上に酵素が配置された少なくとも2つの該電極を含む複数の電極を有する試験ストリップ;
並びに
電源、メモリおよび前記試験ストリップの前記複数の電極と接続されたマイクロコントローラーを備えたメーター
を備える、分析物測定システムであって、
前記マイクロコントローラーは、
前記試験ストリップに近接した周囲温度を測定し;
分析物を含む液体試料が前記少なくとも2つの電極に近接して配置された場合、前記少なくとも2つの電極に対し信号を駆動し;
電気化学的反応の間の前記少なくとも2つの電極からの信号出力を測定し;
未補償分析物濃度を前記信号出力から計算し;
前記未補償分析物濃度を、
(a)温度補償タームは、約22℃から約5℃まで減少する前記試験ストリップに近接した周囲温度につれて増大する;および
(b)温度補償タームは、約22℃から約45℃まで変化する前記試験ストリップに近接した前記周囲温度につれて約ゼロの値を維持する
という関係性によって定義される温度補償タームによって最終分析物濃度に調整し;
並びに
前記最終分析物濃度を通知するように構成され、
前記関係性が、以下の式によって表される:
GFは前記最終分析物濃度を含み、
G0は前記未補償分析物濃度を含み、
Gnominalは名目上の分析物濃度を含み、
Tは前記メーターによって(℃で)測定される前記温度を含み、
T0は約22℃(名目上の温度)を含み、
x1は約4.80e−5を含み、
x2は約−6.90e−3を含み、
x3は約2.18e−1を含み、
x4は約9.18e−6を含み、
x5は約−5.02e−3を含み、
x6は約1.18e0を含み、
x7は約2.41e−2を含む、
分析物測定システム。 - 前記マイクロコントローラーは、
(a)第1の信号を前記複数の電極に印加して、前記液体試料の物理的特性を決定し;
(b)試験シーケンスの間の予め決定された抽出時点における測定された出力信号に基づいて分析物濃度を推定し;
(c)第2の信号を前記複数の電極に印加し;
(d)前記決定された物理的特性によって確定される試験シーケンスの間の特定された抽出時間における前記複数の電極からの出力信号を測定する
ように構成され、これにより、前記複数の電極の前記出力信号から分析物濃度が計算され、
前記特定された抽出時間は、以下の式を用いて計算される:
「特定された抽出時間」は、試験ストリップの出力信号を抽出する、試験シーケンスの開始からの時点として指定され、
Hは、試料の物理的特性を表し;
xaは、約4.3e5を表し;
xbは、約−3.9を表し;
Xcは、約4.8を表す、
請求項1又は請求項2に記載の分析物測定システム。 - 前記マイクロコントローラーは、(a)前記液体試料の物理的特性;および(b)前記試料から推定された分析物濃度に基づいて、特定された抽出時間を決定する、請求項1又は請求項2に記載の分析物測定システム。
- 前記マイクロコントローラーは、前記分析物濃度を、以下の式によって推定する:
IEは、約2.5秒にて測定された前記信号であり、
X1は、試験ストリップの特定のバッチの較正勾配を含み;
X2は、試験ストリップの特定のバッチの較正切片を含み;且つ
前記マイクロコントローラーは、以下の式によって、未補償分析物濃度を決定する:
ISは、特定された抽出時間において測定された信号を含み;
X3は、試験ストリップの特定のバッチの較正勾配を含み;且つ
X4は、試験ストリップの特定のバッチの切片を含む、
請求項5に記載の分析物測定システム。 - 試験ストリップと、
分析物メーターと
を備える、分析物測定システムであって、
前記試験ストリップは、
基板と、
対応する電極コネクタに連結されている複数の電極とを含み、
前記分析物メーターは、
ハウジングと、
前記試験ストリップの対応する電極コネクタに接続するよう構成される試験ストリップポートコネクタと、
電気信号を印加し、又は前記複数の電極から電気信号を検知する、試験ストリップポートコネクタと電気通信するマイクロプロセッサと
を備え、
前記マイクロプロセッサは、
(a)センサーに近接した環境の温度を検知し;
(b)第1の信号を前記複数の電極に印加して、液体試料の物理的特性を決定し;
(c)試験シーケンスの間の予め決定された抽出時点における測定された出力信号に基づいて分析物濃度を推定し;
(d)前記決定された物理的特性により確定された前記試験シーケンスの間の特定された抽出時点において、第2の信号を前記複数の電極に印加して、未補償分析物濃度を前記第2の信号から計算し;
(e)前記未補償分析物濃度を、
(i)温度補償タームは、約22℃から約5℃まで減少する前記試験ストリップに近接した周囲温度につれて増大する;および
(ii)温度補償タームは、約22℃から約45℃まで変化する前記試験ストリップに近接した前記周囲温度につれて約ゼロの値を維持する
という温度補償タームによって補償し;並びに
(f)最終分析物濃度を通知する
ように構成される、分析物測定システム。 - 前記複数の電極が、物理的特性を測定する少なくとも2つの電極と、分析物濃度を測定する少なくとも2つの別の電極とを含む、請求項7に記載のシステム。
- 前記少なくとも2つの電極および前記少なくとも2つの別の電極が、前記基板上に提供される同一チャンバ内に配置される、請求項8に記載の分析物測定システム。
- 前記少なくとも2つの電極および前記少なくとも2つの別の電極が、前記基板上に提供されるそれぞれ異なる2つのチャンバ内に配置される、請求項8に記載の分析物測定システム。
- 前記電極の全てが前記基板によって画定される同一平面上に配置される、請求項8に記載の分析物測定システム。
- 試薬が、前記少なくとも2つの別の電極に近接して配置され、試薬が、前記少なくとも2つの電極に配置されない、請求項8に記載の分析物測定システム。
- 最終分析物濃度が、前記試験シーケンスの開始の約10秒以内に前記第2の信号により決定される、請求項8に記載の分析物測定システム。
- 前記抽出時点が、マトリックスを含む参照表から選択され、前記推定された分析物濃度の異なる定性的分類が該マトリックスの最も左側の縦列に記載されており、測定された物理的特性の異なる定性的分類が該マトリックスの最上段の横列に記載されており、抽出時間が該マトリックスの残りの欄に提供されている、請求項8に記載の分析物測定システム。
- グルコースメーターであって、
ハウジングと、
試験ストリップの対応する電極コネクタに連結するように構成された試験ストリップポートコネクタと、
(a)前記ハウジングに近接した環境の温度を検知する手段と、
(b)前記試験ストリップの複数の電極に堆積された試料の検知又は推定された物理的特性に基づいて特定された抽出時間を決定するための手段であって、該特定された抽出時間は、前記試験ストリップへの試料の堆積の際の、試験シーケンスの開始から参照される少なくとも1つの時点又は間隔である手段と、
(c)該特定された抽出時間における測定された出力信号に基づいて未補償分析物濃度を決定するための手段と、
(d)前記未補償分析物濃度を、
(i)温度補償タームは、約22℃から約5℃まで減少する前記試験ストリップに近接した周囲温度につれて増大する;および
(ii)温度補償タームは、約22℃から約45℃まで変化する前記試験ストリップに近接した前記周囲温度につれて約ゼロの値を維持する
という温度補償タームによって補償する手段と、
(e)最終分析物値を通知する手段と
を備える、グルコースメーター。 - 未補償分析物濃度を決定するための手段が、第1の信号を前記複数の電極に印加するための手段であって、液体試料の物理的特性により定義されたバッチ勾配が導き出されるようにする、手段と、第2の信号を前記複数の電極に印加するための手段であって、分析物濃度が該導き出されたバッチ勾配および前記特定された抽出時間に基づいて決定されるようにする、手段とを含む、請求項15に記載のメーター。
- 特定された抽出時間を決定するための手段が、前記試験シーケンスの開始からの予め決定された抽出時点に基づいて分析物濃度を推定するための手段と、推定された分析物濃度および検知又は推定された物理的特性のマトリックスから特定された抽出時間を選択するための手段とを含む、請求項16に記載のメーター。
- 未補償分析物濃度を決定するための手段が、前記検知又は推定された物理的特性に基づいてバッチ勾配を選択するための手段と、前記バッチ勾配から前記特定された抽出時間を確認するための手段とを含む、請求項16に記載のメーター。
- 電極の上に酵素が提供された少なくとも2つの該電極を備えた複数の電極を有する試験ストリップにおける温度の影響について調整する方法であって、
前記少なくとも2つの電極に信号を印加する工程;
前記少なくとも2つの電極と液体試料中の分析物との間で電気化学的反応を開始して分析物の副生成物への変換を引き起こす工程;
前記電気化学的反応の間の前記少なくとも2つの電極からの信号出力を測定する工程;
前記試験ストリップに近接した温度を測定する工程;
前記液体試料中の分析物の量を表す分析物値を、前記信号出力から計算する工程;
前記分析物値を、
(a)温度補償タームは、約22℃から約5℃まで減少する前記試験ストリップに近接した周囲温度につれて増大する;および
(b)温度補償タームは、約22℃から約45℃まで変化する前記試験ストリップに近接した前記周囲温度につれて約ゼロの値を維持する
という関係性によって定義される温度補償タームによって最終分析物値に調整する工程;並びに
前記液体試料中の分析物の量を表す最終値を通知する工程を含み、
前記信号を印加する工程が、
(c)第1の信号を前記試料に印加して、前記試料の物理的特性を測定することと、
(d)第2の信号を前記試料に加えて、前記分析物と試薬との酵素反応を生じさせることとを含み、
前記計算する工程は、
試験シーケンスの開始から予め決定された抽出時点における測定された出力信号に基づいて分析物濃度を推定することと、
異なる抽出時点に対する指標となる、前記推定された分析物濃度の異なる定性的分類および前記測定された物理的特性の異なる定性的分類を有する参照表から抽出時点を選択することと、
前記参照表からの前記選択された抽出時点において試料から信号出力を抽出することと、
前記選択された抽出時点で抽出された測定された出力信号から、以下の式:
G0は未補償分析物濃度を表し、
ITは、選択された抽出時間Tにおいて測定された信号(分析物濃度に比例する)を表し、
Slopeは、試験ストリップのバッチの較正試験から得られる値を表し、
Interceptは、前記試験ストリップのバッチの較正試験から得られる値を表す)
に従って分析物濃度を算出することと
を含む、方法。 - 電極の上に酵素が提供された少なくとも2つの該電極を備えた複数の電極を有する試験ストリップにおける温度の影響について調整する方法であって、
前記少なくとも2つの電極に信号を印加する工程;
前記少なくとも2つの電極と液体試料中の分析物との間で電気化学的反応を開始して分析物の副生成物への変換を引き起こす工程;
前記電気化学的反応の間の前記少なくとも2つの電極からの信号出力を測定する工程;
前記試験ストリップに近接した温度を測定する工程;
前記液体試料中の分析物の量を表す分析物値を、前記信号出力から計算する工程;
前記分析物値を、
(a)温度補償タームは、約22℃から約5℃まで減少する前記試験ストリップに近接した周囲温度につれて増大する;および
(b)温度補償タームは、約22℃から約45℃まで変化する前記試験ストリップに近接した前記周囲温度につれて約ゼロの値を維持する
という関係性によって定義される温度補償タームによって最終分析物値に調整する工程;並びに
前記液体試料中の分析物の量を表す最終値を通知する工程を含み、
前記印加する工程が、
(c)第1の信号を前記試料に印加して、試料の物理的特性を測定することと、
(d)第2の信号を前記試料に加えて、前記分析物と試薬との酵素反応を生じさせることとを含み、
前記計算する工程は、
試験シーケンスの開始からの予め決定された抽出時点における測定された出力信号に基づいて分析物濃度を推定することと
前記測定された物理的特性および前記推定された分析物濃度の両方に基づいて、抽出時点を選択することと、
前記選択された抽出時点において前記試料から信号出力を抽出することと、
前記選択された抽出時点において抽出された測定された出力信号から分析物濃度を計算することと
を含む、方法。 - 液体試料から分析物濃度を決定する方法であって、
液体試料を試験ストリップに堆積して、試験シーケンスを開始させる工程と、
該試料中の分析物に酵素反応を生じさせる工程と、
該試料中の分析物濃度を推定する工程と、
該試料の少なくとも1つの物理的特性を測定する工程と、
前記試験ストリップに近接した環境の温度を検知する工程と、
前記試験シーケンスの開始から前記試験ストリップの出力信号を抽出するまでの時点を前記推定された分析物濃度および前記測定する工程からの少なくとも1つの物理的特性に基づいて定義する工程と、
定義された時点において試験ストリップの出力信号を抽出する工程と、
定義された時点において抽出された信号から未補償分析物濃度を決定する工程と、
前記未補償分析物濃度を、
(a)温度補償タームは、約22℃から約5℃まで減少する前記試験ストリップに近接した周囲温度につれて増大する;および
(b)温度補償タームは、約22℃から約45℃まで変化する前記試験ストリップに近接した前記周囲温度につれて約ゼロの値を維持する
という関係性によって定義される温度補償タームによって最終分析物値に補償する工程と、
前記最終分析物値を通知する工程と、
を含み、
前記測定する工程が、第1の信号を前記試料に印加して、前記試料の物理的特性を測定することを含み、前記生じさせる工程が、第2の信号を前記試料に加えることを含み、前記測定する工程が、前記試験シーケンスの開始後の時点で前記試験ストリップの少なくとも2つの電極からの出力信号を評価することを含み、該評価することにおいて、前記時点が、少なくとも前記測定された物理的特性の関数として設定され、前記決定する工程が、前記時点における前記測定された出力信号から分析物濃度を計算することを含む、方法。 - 液体試料から分析物濃度を決定する方法であって、
液体試料を試験ストリップに堆積して、試験シーケンスを開始させる工程と、
該試料中の分析物に酵素反応を生じさせる工程と、
該試料中の分析物濃度を推定する工程と、
該試料の少なくとも1つの物理的特性を測定する工程と、
前記試験ストリップに近接した環境の温度を検知する工程と、
前記試験シーケンスの開始から前記試験ストリップの出力信号を抽出するまでの時点を前記推定された分析物濃度および前記測定する工程からの少なくとも1つの物理的特性に基づいて定義する工程と、
定義された時点において試験ストリップの出力信号を抽出する工程と、
定義された時点において抽出された信号から未補償分析物濃度を決定する工程と、
前記未補償分析物濃度を、
(a)温度補償タームは、約22℃から約5℃まで減少する前記試験ストリップに近接した周囲温度につれて増大する;および
(b)温度補償タームは、約22℃から約45℃まで変化する前記試験ストリップに近接した前記周囲温度につれて約ゼロの値を維持する
という関係性によって定義される温度補償タームによって最終分析物値に補償する工程と、
前記最終分析物値を通知する工程と、
を含み、
前記定義することが、前記測定された物理的特性および前記推定された分析物濃度の両方に基づいて定義された時点を選択することを含む、方法。 - 液体試料から分析物濃度を決定する方法であって、
液体試料を試験ストリップに堆積して、試験シーケンスを開始させる工程と、
該試料中の分析物に酵素反応を生じさせる工程と、
該試料中の分析物濃度を推定する工程と、
該試料の少なくとも1つの物理的特性を測定する工程と、
前記試験ストリップに近接した環境の温度を検知する工程と、
前記試験シーケンスの開始から前記試験ストリップの出力信号を抽出するまでの時点を前記推定された分析物濃度および前記測定する工程からの少なくとも1つの物理的特性に基づいて定義する工程と、
定義された時点において試験ストリップの出力信号を抽出する工程と、
定義された時点において抽出された信号から未補償分析物濃度を決定する工程と、
前記未補償分析物濃度を、
(a)温度補償タームは、約22℃から約5℃まで減少する前記試験ストリップに近接した周囲温度につれて増大する;および
(b)温度補償タームは、約22℃から約45℃まで変化する前記試験ストリップに近接した前記周囲温度につれて約ゼロの値を維持する
という関係性によって定義される温度補償タームによって最終分析物値に補償する工程と、
前記最終分析物値を通知する工程と、
を含み、
前記定義する工程が、異なる試料測定時間に対する指標となる、前記試料の分析物濃度および物理的特性のそれぞれ異なる範囲を有する参照表に対して、前記推定された分析物濃度および前記測定された物理的特性を比較して、第2の信号の前記試料からの出力の測定の時点が計算する工程のために得られるようにすることを含む、方法。 - 液体試料から分析物濃度を決定する方法であって、
液体試料を試験ストリップに堆積して、試験シーケンスを開始させる工程と、
該試料中の分析物に酵素反応を生じさせる工程と、
該試料中の分析物濃度を推定する工程と、
該試料の少なくとも1つの物理的特性を測定する工程と、
前記試験ストリップに近接した環境の温度を検知する工程と、
前記試験シーケンスの開始から前記試験ストリップの出力信号を抽出するまでの時点を前記推定された分析物濃度および前記測定する工程からの少なくとも1つの物理的特性に基づいて定義する工程と、
定義された時点において試験ストリップの出力信号を抽出する工程と、
定義された時点において抽出された信号から未補償分析物濃度を決定する工程と、
前記未補償分析物濃度を、
(a)温度補償タームは、約22℃から約5℃まで減少する前記試験ストリップに近接した周囲温度につれて増大する;および
(b)温度補償タームは、約22℃から約45℃まで変化する前記試験ストリップに近接した前記周囲温度につれて約ゼロの値を維持する
という関係性によって定義される温度補償タームによって最終分析物値に補償する工程と、
前記最終分析物値を通知する工程と、
を含み、
未補償分析物濃度を決定する工程が、以下の式を用いることを含み:
G0は未補償分析物濃度を表し、
ITは、特定された抽出時間Tにおいて測定された信号(分析物濃度と比例する)を表し、特定された抽出時間は、試験ストリップの出力信号を抽出する、試験シーケンスの開始からの時点として指定され、
Slopeは、試験ストリップのバッチの較正試験から得られる値を表し、
Interceptは、前記試験ストリップのバッチの較正試験から得られる値を表す、方法。 - 液体試料から分析物濃度を決定する方法であって、
液体試料を試験ストリップに堆積して、試験シーケンスを開始させる工程と、
該試料中の分析物に酵素反応を生じさせる工程と、
該試料中の分析物濃度を推定する工程と、
該試料の少なくとも1つの物理的特性を測定する工程と、
前記試験ストリップに近接した環境の温度を検知する工程と、
前記試験シーケンスの開始から前記試験ストリップの出力信号を抽出するまでの時点を前記推定された分析物濃度および前記測定する工程からの少なくとも1つの物理的特性に基づいて定義する工程と、
定義された時点において試験ストリップの出力信号を抽出する工程と、
定義された時点において抽出された信号から未補償分析物濃度を決定する工程と、
前記未補償分析物濃度を、
(a)温度補償タームは、約22℃から約5℃まで減少する前記試験ストリップに近接した周囲温度につれて増大する;および
(b)温度補償タームは、約22℃から約45℃まで変化する前記試験ストリップに近接した前記周囲温度につれて約ゼロの値を維持する
という関係性によって定義される温度補償タームによって最終分析物値に補償する工程と、
前記最終分析物値を通知する工程と、
を含み、
前記物理的特性が、粘度、ヘマトクリット値、温度および密度のうちの少なくとも1つを含む、方法。 - 液体試料から分析物濃度を決定する方法であって、
液体試料を試験ストリップに堆積して、試験シーケンスを開始させる工程と、
該試料中の分析物に酵素反応を生じさせる工程と、
該試料中の分析物濃度を推定する工程と、
該試料の少なくとも1つの物理的特性を測定する工程と、
前記試験ストリップに近接した環境の温度を検知する工程と、
前記試験シーケンスの開始から前記試験ストリップの出力信号を抽出するまでの時点を前記推定された分析物濃度および前記測定する工程からの少なくとも1つの物理的特性に基づいて定義する工程と、
定義された時点において試験ストリップの出力信号を抽出する工程と、
定義された時点において抽出された信号から未補償分析物濃度を決定する工程と、
前記未補償分析物濃度を、
(a)温度補償タームは、約22℃から約5℃まで減少する前記試験ストリップに近接した周囲温度につれて増大する;および
(b)温度補償タームは、約22℃から約45℃まで変化する前記試験ストリップに近接した前記周囲温度につれて約ゼロの値を維持する
という関係性によって定義される温度補償タームによって最終分析物値に補償する工程と、
前記最終分析物値を通知する工程と、
を含み、
抽出時点が、マトリックスを含む参照表から選択され、前記推定された分析物濃度の異なる定性的分類が該マトリックスの最も左側の縦列に記載されており、前記測定された物理的特性の異なる定性的分類が該マトリックスの最上段の横列に記載されており、抽出時間が該マトリックスの残りの欄に提供されている、方法。
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