JP6558122B2 - 光飛行型測距装置 - Google Patents

光飛行型測距装置 Download PDF

Info

Publication number
JP6558122B2
JP6558122B2 JP2015150745A JP2015150745A JP6558122B2 JP 6558122 B2 JP6558122 B2 JP 6558122B2 JP 2015150745 A JP2015150745 A JP 2015150745A JP 2015150745 A JP2015150745 A JP 2015150745A JP 6558122 B2 JP6558122 B2 JP 6558122B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light emission
duty
measuring device
distance measuring
exposure
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2015150745A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2017032342A (ja
Inventor
利明 長井
利明 長井
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Denso Corp
Original Assignee
Denso Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Denso Corp filed Critical Denso Corp
Priority to JP2015150745A priority Critical patent/JP6558122B2/ja
Priority to PCT/JP2016/071797 priority patent/WO2017018399A1/ja
Publication of JP2017032342A publication Critical patent/JP2017032342A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6558122B2 publication Critical patent/JP6558122B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01CMEASURING DISTANCES, LEVELS OR BEARINGS; SURVEYING; NAVIGATION; GYROSCOPIC INSTRUMENTS; PHOTOGRAMMETRY OR VIDEOGRAMMETRY
    • G01C3/00Measuring distances in line of sight; Optical rangefinders
    • G01C3/02Details
    • G01C3/06Use of electric means to obtain final indication
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01SRADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
    • G01S17/00Systems using the reflection or reradiation of electromagnetic waves other than radio waves, e.g. lidar systems
    • G01S17/02Systems using the reflection of electromagnetic waves other than radio waves
    • G01S17/06Systems determining position data of a target
    • G01S17/08Systems determining position data of a target for measuring distance only
    • G01S17/32Systems determining position data of a target for measuring distance only using transmission of continuous waves, whether amplitude-, frequency-, or phase-modulated, or unmodulated

Description

本発明は光飛行型測距装置に関する。
自装置から対象物までの距離を非接触で計算する装置として、光飛行(TOF:Time of Flight)型測距装置が供されている。光飛行型測距装置は、繰り返し周期を持つパターンで変調された変調光を空間に発光し、変調光が対象物で反射した反射光を含む入射光を受光する。そして、光飛行型測距装置は、受光した入射光に応じた電荷を複数の蓄積容量に振り分けて蓄積し、サンプリングした値を用いて自装置から対象物までの距離を計算する(例えば特許文献1〜4参照)。
特許第5579893号公報 特開2010−96730号公報 特許第5585903号公報 特開2010−25906号公報
この種の光飛行型測距装置においては、発光波形のデューティーがずれると、位相シフトを誤検出してしまい、距離誤差が発生するという問題がある。このような事情から、発光波形のデューティーを検出し、デューティーのずれを補正することで、距離誤差を適切に低減することが求められている。発光波形のデューティーを検出する方法として、所定の高次高調波に感度を持つシーケンスで受光素子を駆動させる方法がある。しかしながら、信号経路の周波数特性により高周波成分が減衰してしまうと、デューティーの検出精度が低下するという問題がある。
本発明は、上記した事情に鑑みてなされたものであり、その目的は、発光波形のデューティーを高い精度で検出することができる光飛行型測距装置を提供することにある。
請求項1に記載した発明によれば、発光素子は、繰り返し周期を持つパターンで変調された変調光を空間に発光する。駆動部は、発光素子を駆動する。受光素子は、変調光が対象物で反射した反射光を含む入射光に応じた電荷を複数の蓄積容量に振り分けて蓄積する。制御部は、互いに異なる複数の変調周波数で受光素子に露光を行わせ、変調周波数に対応する複数の露光期間を組み合わせて受光素子の露光を制御する。信号処理部は、受光素子によりサンプリングされた値を用いて自装置から対象物までの距離を計算する。ここで、制御部は、複数の変調周波数のうち最も高い変調周波数よりも低い変調周波数に対応する露光期間で所定の高次高調波に感度を有するように受光素子の露光を制御する。信号処理部は、制御部が所定の高次高調波に感度を有するように受光素子の露光を制御することで、発光波形のデューティーを検出する。

本発明は、デューティーのずれが変調周波数に依存せず、低い変調周波数で露光を行うコォース測距の露光期間でのデューティーのずれと、高い変調周波数で露光を行うファイン測距の露光期間でのデューティーのずれとの間に相関を有することに着目したものである。コォース測距の露光期間とファイン測距の露光期間とを組み合わせて露光を行う場合に、ファイン測距の露光期間ではなく、コォース測距の露光期間で所定の高次高調波に感度を有するように受光素子の露光を制御し、発光波形のデューティーを検出するようにした。これにより、信号経路の周波数特性の影響を受けず、発光波形のデューティーを高い精度で検出することができる。そして、コォース測距の露光期間で検出したデューティーを用いてデューティーのずれを演算し、その演算結果をファイン測距の露光期間に適用することで、距離誤差を適切に低減することができる。
本発明の第1の実施形態の全体構成を示す機能ブロック図 受光素子(2容量構成)の構成を示す図 4位相のシーケンスを示す図 差動出力のシーケンスを示す図 発光波形及び基本波成分を示す図 周波数特性及び振幅を示す図 2次高調波の波形及び非積分期間を示す図 「0」を実現する構成及びシーケンスを示す図(その1) 「0」を実現する構成及びシーケンスを示す図(その2) 「0」を実現する構成及びシーケンスを示す図(その3) シーケンスを示す図(その1) デジタル信号処理回路の構成を示す図 発光波形を示す図 シーケンスを示す図(その2) シーケンスを示す図(その3) 本発明の第2の実施形態の全体構成を示す機能ブロック図 駆動回路及びデジタル信号処理回路の構成を示す図
(第1の実施形態)
以下、本発明を、例えば車両に搭載可能な車載用の光飛行型測距装置に適用した第1の実施形態について図1から図15を参照して説明する。自装置からの距離を計算する対象物は、例えば人、車両、壁等である。光飛行型測距装置1は、信号源2と、駆動回路3(駆動部)と、発光素子4と、制御回路5(制御部)と、受光素子6と、CM(コモンモード)成分除去回路7と、バッファ8a,8bと、差分検出回路9と、AD変換回路10と、デジタル信号処理回路11(信号処理部)とを有する。
信号源2は、駆動信号を駆動回路3及び制御回路5に出力することで、発光素子4と受光素子6との間で同期を確立し、発光素子4から発光される変調光に同期して受光素子6の露光を制御する。信号源2から出力される駆動信号は、発光素子4及び受光素子6を駆動する矩形パルス(通常数〜数10MHz)であっても良いし、同期パルスのみであっても良い。発光素子4は、変調光としての例えば赤外光を発光するLD(Laser Diode)やLED(Light Emitting Diode)等である。受光素子6は、例えばCMOS(Complementary Metal Oxide Semiconductor)やCCD(Charge Coupled Device)のプロセスを用いたイメージセンサ等である。
受光素子6は、図2に示すように、PD(Photodiode)12と、2個の変調スイッチ13a,13bと、2個の蓄積容量14a,14bとを有する。2個の変調スイッチ13a,13bは、例えばMOSトランジスタやトランスファゲート等のMOS型のデバイス、CCD構造のデバイス等である。2個の蓄積容量14a,14bは、例えばMOS、CCD、MIM(Metal Insulator Metal)等の容量素子、配線、PN接合の寄生容量等である。受光素子6は、変調スイッチ13a,13bを制御信号TG1,TG2により駆動し、受光した入射光により発生する光電子を蓄積容量14a,14bに振り分け、その振り分けた光電子の電荷量を示す信号をCM成分除去回路7に出力する。制御信号TG1,TG2は変調光に同期した信号であるので、自装置から対象物までの距離に応じて蓄積容量14a,14bに振り分けられる光電子の電荷量が変化する。図2では、受光素子6が2個の蓄積容量14a,14bを有する構成を例示しているが、受光素子6が3個以上の蓄積容量を有する構成でも良い。
CM成分除去回路7は、変調光に対して無視できない程度のレベルの背景光が存在する場合に、画素の構成を用いて飽和を回避する。バッファ8a,8bは、それぞれ例えばソースフォロア回路により構成され、CM成分除去回路7から入力した信号を差分検出回路9に出力する。差分検出回路9は、例えば差動のアンプにより構成され、バッファ8a,8bから入力した信号の差分を検出し、その検出した差分に応じた信号をAD変換回路10に出力する。AD変換回路10は、差分検出回路9から入力した信号をアナログ信号からデジタル信号に変換してデジタル信号処理回路11に出力する。デジタル信号処理回路11は、AD変換回路10から入力した信号をデジタル信号処理することで、蓄積容量14a,14bに振り分けられた光電子の電荷量を演算し、自装置から対象物までの距離を計算し、その計算結果を装置外部に出力する。
図3は、発光波形のデューティーを50%として受光素子6を4位相で駆動した場合のシーケンス(変調周期:Tm,露光期間:Tw)である。発光素子4から発光される変調光の波形(発光波形110)は、制御信号TG1,TG2と同期した矩形波で変調している。図3では矩形波で変調した場合を例示しているが、正弦波、三角波又は疑似ランダムシーケンス等の波形で変調しても良い。変調光が対象物で反射した反射光の波形(反射波形120)は、発光波形110に対して時間差を有するので、発光波形110に対して位相差φだけ遅れた波形となる。一方、制御信号TG1,TG2は90度ずつ位相が異なる矩形波で駆動される。デジタル信号処理回路11は、制御信号TG1−1,TG2−1(駆動波形111,121)で駆動するシーケンスを数十〜数十万回程度の周期繰り返した後に、発生した光電荷Q1、Q2の情報(電荷電圧変換された電圧値)を取得する。その後、デジタル信号処理回路11は、制御信号TG1−2,TG2−2(駆動波形112、122)で駆動するシーケンスを同様に数十〜数十万回程度の周期繰り返した後に、発生した光電荷Q3、Q4の情報を取得する。そして、デジタル信号処理回路11は、取得したQ1〜Q4から離散フーリエ変換(DFT:Discrete Fourier Transform)を用いて位相差θを以下の演算式(1)により計算する。
θ=tan−1[(Q1−Q3)/(Q2−Q4)]…(1)
演算式(1)は上記4つのサンプリングに基づく位相差の演算式であるが、一般のN位相についても位相差θを以下の演算式(2)により計算することが可能である。
θ=tan−1[(ΣQk*sin(2π/N*k))/(ΣQk*cos(2π/N*k))]…(2)
図4は、差動出力のシーケンスである。差分検出回路9は、制御信号TG1,TG2の組み合わせ、例えば制御信号TG1−1(駆動波形111),TG2−1(駆動波形121)を数十〜数十万回繰り返してデジタル値D1(201)を生成する。同様にして、差分検出回路9は、制御信号TG1−2(駆動波形112),TG2−2(駆動波形122)からデジタル値D2(202)を生成し、制御信号TG1−3(駆動波形113),TG2−3(駆動波形123)からデジタル値D3(203)を生成し、制御信号TG1−4(駆動波形114),TG2−4(駆動波形124)からデジタル値D4(204)を生成する。この場合、差分検出回路9は、デジタル値D1〜D4を、DC成分を除去した値として出力する。それぞれのデジタル値D1〜D4について制御信号TG1が「H」であり且つTG2が「L」であるときに「1」を割り当て、制御信号TG1が「L」であり且つTG2が「H」であるときに「−1」を割り当てて記述する。即ち、Dxの波形について値が「1」及び「−1」の何れであるかにより、制御信号TG1,TG2の状態が一意に決定される。尚、このようにDxが2つの蓄積容量14a,14bの差分を示す信号であるので、AD変換回路10は、先述した演算式(1)の分子又は分母に相当する演算が実施された信号を出力する。
さて、[発明が解決しようとする課題]で説明したように、光飛行型測距装置1においては、発光波形のデューティーがずれると、位相シフトを誤検出してしまい、距離誤差が発生するという問題がある。図5に示すように、理想とする発光波形301に対して実際の発光波形302が出力されていると、理想とする基本波成分(1次成分)311に対して実際の基本波成分312がずれる。この点に関し、所定の高次高調波に感度を持つシーケンスで受光素子6を駆動させることで、発光波形のデューティーのずれを検出する方法がある。しかしながら、信号経路の周波数特性により高周波成分が減衰してしまうと、デューティーのずれの検出精度が低下するという問題がある。図6に示すように、理想とする周波数特性401に対して実際の周波数特性402の高周波成分が減衰すると、基本波成分(f1)のゲインは低下しないが、2次成分(f2)のゲインが低下する。
本発明では、デューティーのずれの発生が変調周波数に依存しないことに着目した。一般的に位相型の測距センサでは位相回りが発生するために、測定可能距離と精度との間にトレードオフがある。即ち、高い変調周波数では精度が得られるが、測定可能距離が短くなってしまうのに対し、低い変調周波数では測定可能距離を長くできる代わりに精度が犠牲になってしまう。このため、一般的に複数の変調周波数を組み合わせて測距を行い、長い測定可能距離と精度を両立することが行われる。このような低い変調周波数で露光を行うコォース測距の露光期間(低い変調周波数に対応する露光期間)と、高い変調周波数で露光を行うファイン測距の露光期間(高い変調周波数に対応する露光期間)とを組み合わせて露光を行う場合に、本発明では、コォース測距の露光期間で所定の高次高調波に感度を有するように受光素子6の露光を制御する。即ち、受光素子6において光電子を蓄積容量14a,14bに振り分けるための制御信号TG1,TG2を、コォース測距の露光期間では所定の高次高調波の感度を高めるように変更する。具体的には、図7に示すように、差動出力のシーケンスにおいて非積分期間(信号を積分せずに破棄する期間)を挿入する。図7は、2次高調波(501)の感度を高める場合を例示しており、「1」,「−1」に加え、非積分期間である「0」を定義し(挿入し)、「1」,「−1」,「0」を含むデジタル値(502)とする。即ち、従来のデジタル値(503)(「1」,「−1」のみであり、「0」を定義しない)では、2次高調波の成分がキャンセルされてしまうが、非積分期間である「0」を定義することで、2次高調波の成分がキャンセルされてしまうことを回避する。
「0」を実現する方法としては、以下に示す例えば第1から第3の方法がある。
第1の方法では、図8に示すように、変調スイッチ13a,13bを同時にオンする期間、即ち、TG1,TG2の両方が「H」となる期間を設けて「0」を実現する。TG1,TG2の両方が「H」となる期間においてPD12に発生した電荷はQa,Qbに分かれて蓄積容量14a,14bに蓄積され、Qa,Qbは等しい値となる。そのため、この成分はCM成分除去回路7及び差分検出回路9でキャンセルされ、その結果、AD変換回路10は「0」を出力する。
第2の方法では、図9に示すように、変調スイッチ13a,13bとは別の変調スイッチ13cを設け、変調スイッチ13a,13bを同時にオフし且つ別の変調スイッチ13cがオンする期間、即ち、TG1,TG2の両方が「L」となり且つTG3が「H」となる期間を設けて「0」を実現する。このTG1,TG2の両方が「L」となり且つTG3が「H」となる期間においてPD12に発生した電荷は固定電位(例えばVDD)に破棄される。
第3の方法では、図10に示すように、Qa,Qbのうち一方を破棄し、2回分のサンプルを統合して「0」を実現する。即ち、TG2が「H」の期間に蓄積された電荷を破棄する周期と、TG1が「H」の期間に蓄積された電荷を破棄する周期とを統合する。上記した第1の方法ではTG1,TG2の両方を「H」とする期間を設ける必要があり、第2の方法ではTG1,TG2の両方を「L」とする期間を設ける必要があるが、第3の方法は、そのような期間を設ける必要はなく、TG1,TG2を互いに反転する制御を行えば良く、単純な制御で済む利点がある。
図11は、コォース測距の露光期間とファイン測距の露光期間とを組み合わせた露光パターンにより受光素子6の露光を制御するシーケンスである。コォース測距の露光期間では発光波形のデューティーを50%として8位相で駆動し、ファイン測距の露光期間では発光波形のデューティーを50%として4位相で駆動する。差分検出回路9は、コォース測距の露光期間ではデジタル値DC1〜DC8(601〜608)を出力し、ファイン測距の露光期間ではデジタル値DF1〜DF4(611〜614)を出力する。
デジタル信号処理回路11は、図12に示すように、位相角計算回路15と、デューティー検出回路16と、誤差演算回路17と、加算回路18とを有する。位相角計算回路15は、AD変換回路10からデジタル信号を入力すると、その入力したデジタル信号を用いて位相角を計算し、その計算結果を加算回路18に出力する。デューティー検出回路16は、AD変換回路10からデジタル信号を入力すると、その入力したデジタル信号の1次成分の振幅と2次成分の振幅との比率を用いてデューティーを検出し、その検出結果を誤差演算回路17に出力する。
ここで、発光波形のデューティーのずれについて説明する。図13に示すように、波形の立上がり期間(tr)と立下がり期間(tf)とが同等でないためにデューティーにずれを生じていた場合、コォース測距の露光期間での発光波形のデューティーのずれと、ファイン測距の露光期間での発光波形のデューティーのずれとの間には相関を有する。なぜならば、コォース測距からファイン測距へと変更する際に変調周波数を上げても立上がり期間及び立下がり期間がそれぞれ変調周波数を上げる前後で変化しないからである。これは、立上がり期間及び立下がり期間がそれぞれ駆動回路3及び発光素子4の応答特性で決まるものであり、変調周波数に依存しないことによる。この点に着目し、誤差演算回路17は、コォース測距の露光期間でデューティー検出回路16から検出結果を入力すると、信号源2から入力するコォース測距の露光期間での変調周波数を用い、コォース測距の露光期間でのデューティーの差分を演算する。そして、誤差演算回路17は、その演算結果を加算回路18に出力する。加算回路18は、コォース測距の露光期間では、位相角計算回路15から計算結果を入力すると、その入力した計算結果をそのまま位相出力として出力する。一方、加算回路18は、ファイン測距の露光期間では、位相角計算回路15から計算結果を入力すると、その入力した計算結果と誤差演算回路17から入力した演算結果とを加算し、その加算結果を位相出力として出力する。デジタル信号処理回路11は、上記した処理を行うことで、コォース測距の露光期間で計算した発光波形のデューティーのずれをファイン測距の露光期間に適用し、距離誤差を低減する。
図14は、コォース測距の露光期間とファイン測距の露光期間とを組み合わせた露光パターンにより受光素子6の露光を制御する別のシーケンスである。コォース測距の露光期間では上記した図11のシーケンスと同様に発光波形のデューティーを50%として8位相で駆動し、ファイン測距の露光期間では発光波形のデューティーを25%とし且つ上記した図11のシーケンスに対して尖頭値を2倍として8位相で駆動する。差分検出回路9は、コォース測距の露光期間ではデジタル値DC1〜DC8(601〜608)を出力し、ファイン測距の露光期間ではデジタル値DF1〜DF8(621〜628)を出力する。図14のシーケンスでは図11のシーケンスに対して同じ発光パワーでありながらも距離精度を高めることができる。
図15は、コォース測距の露光期間とファイン測距の露光期間とを組み合わせた露光パターンにより受光素子6の露光を制御する更に別のシーケンスである。コォース測距の露光期間では上記した図11のシーケンスと同様に発光波形のデューティーを50%として8位相で駆動し、ファイン測距の露光期間では発光波形のデューティーを50%とし且つ上記した図11のシーケンスに対して尖頭値を2倍として4位相で駆動し、バースト発光により駆動する。差分検出回路9は、コォース測距の露光期間ではデジタル値DC1〜DC8(601〜608)を出力し、ファイン測距の露光期間ではデジタル値DF1〜DF4(631〜634)を出力する。図15のシーケンスでも図11のシーケンスに対して同じ発光パワーでありながらも距離精度を高めることができる。
以上に説明したように第1の実施形態によれば、次に示す作用効果を得ることができる。光飛行型測距装置1において、コォース測距の露光期間とファイン測距の露光期間とを組み合わせて露光を行う場合に、コォース測距の露光期間で2次高調波に感度を有するように受光素子6の露光を制御し、発光波形のデューティーを検出するようにした。これにより、信号経路の周波数特性の影響を受けず、発光波形のデューティーを高い精度で検出することができる。そして、コォース測距の露光期間で検出したデューティーを用いてデューティーのずれを演算し、その演算結果をファイン測距の露光期間に適用することで、距離誤差を適切に低減することができる。
又、デジタル信号処理回路11においてコォース測距の露光期間で計算した発光波形のデューティーのずれをファイン測距の露光期間に適用するようした。これにより、デジタル信号処理回路11のみを改良することで、距離誤差を適切に低減することができる。又、ファイン測距の露光期間で発光波形のデューティーを25%とし且つ尖頭値を2倍としたりバースト発光したりすることで、距離精度を高めることができる。
(第2の実施形態)
次に、本発明の第2の実施形態について、図16及び図17を参照して説明する。尚、上記した第1の実施形態と同一部分については説明を省略し、異なる部分について説明する。上記した第1の実施形態は、誤差演算回路17の演算結果を位相角計算回路15から出力される計算結果に反映する構成であるが、第2の実施形態は、誤差演算回路17の演算結果を発光波形に反映する構成である。
光飛行型測距装置21は、信号源2と、駆動回路22(駆動部)と、発光素子4と、制御回路5と、受光素子6と、CM成分除去回路7と、バッファ8a,8bと、差分検出回路9と、AD変換回路10と、デジタル信号処理回路23(信号処理部)とを有する。駆動回路22は、図17に示すように、デューティー調整回路24を有する。デジタル信号処理回路23は、第1の実施形態で説明したデジタル信号処理回路11から加算回路18が省略されており、位相角計算回路15と、デューティー検出回路16と、誤差演算回路17とを有する。誤差演算回路17は、演算結果をデューティー調整回路24に出力する。デューティー調整回路24は、コォース測距の露光期間では、信号源2から入力した駆動信号に対して発光波形のデューティーを調整せずにそのまま発光素子4に出力する。一方、誤差演算回路17は、ファイン測距の露光期間では、信号源2から入力した駆動信号に対して誤差演算回路17から入力した演算結果により発光波形のデューティーを調整して発光素子4に出力する。駆動回路22及びデジタル信号処理回路23は、上記した処理を行うことで、コォース測距の露光期間で計算した発光波形のデューティーのずれをファイン測距の露光期間に適用し、距離誤差を低減する。
以上に説明したように第2の実施形態によれば、上記した第1の実施形態と同様の作用効果を得ることができる。即ち、発光波形のデューティーを高い精度で検出することができる。又、コォース測距の露光期間で検出したデューティーを用いてデューティーのずれを演算し、その演算結果をファイン測距の露光期間に適用することで、距離誤差を適切に低減することができる。又、駆動回路22及びデジタル信号処理回路23においてコォース測距の露光期間で計算した発光波形のデューティーのずれをファイン測距の露光期間に適用するようした。これにより、発光波形のデューティーを調整することで、距離誤差を適切に低減することができる。又、デジタル信号処理回路23を上記した第1の実施形態で説明したデジタル信号処理回路11よりも構成を簡素化することができる。
(その他の実施形態)
本発明は、上記した実施形態にのみ限定されるものではなく、以下のように変形又は拡張することができる。
車両以外の用途に適用しても良い。
互いに異なる変調周波数に対応する露光期間は2個に限らず3個以上でも良い。即ち、互いに異なる3個以上の変調周波数に対応する3個以上の露光期間を組み合わせて受光素子6の露光を制御する構成であれば、最も高い変調周波数よりも低い変調周波数に対応する露光期間で所定の高次高調波に感度を有するように受光素子6の露光を制御すれば良い。
デジタル信号処理回路11,23が信号源2から変調周波数を入力する構成に限らず、デジタル信号処理回路11,23が装置外部から変調周波数を入力する構成でも良い。
図面中、1,21は光飛行型測距装置、3,22は駆動回路(駆動部)、4は発光素子、5は制御回路(制御部)、6は受光素子、11,23はデジタル信号処理回路(信号処理部)である。

Claims (9)

  1. 繰り返し周期を持つパターンで変調された変調光を空間に発光する発光素子(4)と、
    前記発光素子を駆動する駆動部(3)と、
    変調光が対象物で反射した反射光を含む入射光に応じた電荷を複数の蓄積容量(14a,14b)に振り分けて蓄積する受光素子(6)と、
    互いに異なる複数の変調周波数で前記受光素子に露光を行わせ、前記変調周波数に対応する複数の露光期間を組み合わせて前記受光素子の露光を制御する制御部(5)と、
    前記受光素子によりサンプリングされた値を用いて自装置から対象物までの距離を計算する信号処理部(11)と、を備え、
    前記制御部は、複数の変調周波数のうち最も高い変調周波数よりも低い変調周波数に対応する露光期間で所定の高次高調波に感度を有するように前記受光素子の露光を制御し、
    前記信号処理部は、前記制御部が所定の高次高調波に感度を有するように前記受光素子の露光を制御することで、発光波形のデューティーを検出することを特徴とする光飛行型測距装置(1)。
  2. 請求項1に記載した光飛行型測距装置において、
    前記信号処理部は、発光波形の1次成分の振幅と、前記1次成分の周波数の2倍の周波数である2次成分の振幅との比率を用いて発光波形のデューティーを検出することを特徴とする光飛行型測距装置。
  3. 請求項1又は2に記載した光飛行型測距装置において、
    前記信号処理部は、発光波形のデューティーの検出結果を用いて当該発光波形の位相角を補正することを特徴とする光飛行型測距装置。
  4. 請求項3に記載した光飛行型測距装置において、
    前記信号処理部は、一の変調周波数に対応する露光期間での発光波形のデューティーの検出結果を用いて、前記一の変調周波数よりも周波数が高い変調周波数に対応する露光期間での位相角を補正することを特徴とする光飛行型測距装置。
  5. 請求項3又は4に記載した光飛行型測距装置において、
    前記信号処理部は、距離誤差の補正をデジタル演算で行うことを特徴とする光飛行型測距装置。
  6. 請求項1又は2に記載した光飛行型測距装置において、
    前記信号処理部は、発光波形のデューティーの検出結果を前記駆動部に出力し、
    前記駆動部は、前記信号処理部から入力した検出結果を用いて発光波形のデューティーを調整することを特徴とする光飛行型測距装置。
  7. 請求項6に記載した光飛行型測距装置において、
    前記駆動部は、一の変調周波数に対応する露光期間での発光波形のデューティーの検出結果を用いて、前記一の変調周波数よりも周波数が高い変調周波数に対応する露光期間での発光波形のデューティーを調整することを特徴とする光飛行型測距装置。
  8. 請求項1から7の何れか一項に記載した光飛行型測距装置において、
    前記駆動部は、高い変調周波数に対応する露光期間では、発光波形のデューティーを50%よりも短くし且つ低い変調周波数に対応する露光期間に対して発光波形の尖頭値を高くして前記発光素子を駆動することを特徴とする光飛行型測距装置。
  9. 請求項1から7の何れか一項に記載した光飛行型測距装置において、
    前記駆動部は、高い変調周波数に対応する露光期間では、低い変調周波数に対応する露光期間に対して発光波形の尖頭値を高くして前記発光素子を駆動することを特徴とする光飛行距装置。
JP2015150745A 2015-07-30 2015-07-30 光飛行型測距装置 Active JP6558122B2 (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2015150745A JP6558122B2 (ja) 2015-07-30 2015-07-30 光飛行型測距装置
PCT/JP2016/071797 WO2017018399A1 (ja) 2015-07-30 2016-07-26 光飛行型測距装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2015150745A JP6558122B2 (ja) 2015-07-30 2015-07-30 光飛行型測距装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2017032342A JP2017032342A (ja) 2017-02-09
JP6558122B2 true JP6558122B2 (ja) 2019-08-14

Family

ID=57884353

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2015150745A Active JP6558122B2 (ja) 2015-07-30 2015-07-30 光飛行型測距装置

Country Status (2)

Country Link
JP (1) JP6558122B2 (ja)
WO (1) WO2017018399A1 (ja)

Families Citing this family (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
LU92173B1 (en) * 2013-03-20 2014-09-22 Iee Sarl Distance determination method
EP3414599B1 (en) * 2016-02-08 2019-12-18 Denso Corporation Time-of-flight distance measuring device and method for detecting multipath error
CN110199205A (zh) * 2017-12-22 2019-09-03 索尼半导体解决方案公司 信号生成装置
EP3575825B1 (en) * 2017-12-22 2023-07-05 Sony Semiconductor Solutions Corporation Sensor chip and electronic device
EP3572832A4 (en) 2017-12-22 2019-12-25 Sony Semiconductor Solutions Corporation PULSE GENERATOR AND SIGNAL GENERATING DEVICE
EP3572843B1 (en) 2017-12-22 2024-01-10 Sony Semiconductor Solutions Corporation Signal generation device
EP3525004B1 (de) 2018-02-08 2020-10-14 Cedes AG Tof sensor mit prüfsender
JP7030607B2 (ja) 2018-04-27 2022-03-07 ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 測距処理装置、測距モジュール、測距処理方法、およびプログラム
JP7154924B2 (ja) * 2018-10-03 2022-10-18 株式会社日立エルジーデータストレージ 測距撮像装置
KR102648089B1 (ko) 2019-03-26 2024-03-19 삼성전자주식회사 이미징 장치 및 이미지 센서

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4235729B2 (ja) * 2003-02-03 2009-03-11 国立大学法人静岡大学 距離画像センサ
JP4161910B2 (ja) * 2004-01-28 2008-10-08 株式会社デンソー 距離画像データ生成装置及び生成方法,プログラム
JP2007170856A (ja) * 2005-12-19 2007-07-05 Denso Corp 距離データ生成方法、距離画像生成装置、光電センサ
US8629976B2 (en) * 2007-10-02 2014-01-14 Microsoft Corporation Methods and systems for hierarchical de-aliasing time-of-flight (TOF) systems
JP2013076645A (ja) * 2011-09-30 2013-04-25 Stanley Electric Co Ltd 距離画像生成装置および距離画像生成方法
LU92173B1 (en) * 2013-03-20 2014-09-22 Iee Sarl Distance determination method
US9488722B2 (en) * 2013-06-05 2016-11-08 Samsung Electronics Co., Ltd. Time-of-flight ranging system and method with extended range
JP6245901B2 (ja) * 2013-09-02 2017-12-13 株式会社メガチップス 距離測定装置
CN105899966B (zh) * 2014-01-14 2019-05-07 松下知识产权经营株式会社 距离图像生成装置以及距离图像生成方法

Also Published As

Publication number Publication date
WO2017018399A1 (ja) 2017-02-02
JP2017032342A (ja) 2017-02-09

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6558122B2 (ja) 光飛行型測距装置
JP6520053B2 (ja) 光飛行型測距装置
CN109564287B (zh) 光飞行型测距装置
WO2016075945A1 (ja) 光飛行型測距装置
US20190178995A1 (en) Ranging device and method thereof
WO2016031240A1 (ja) 光飛行型測距装置
JP6045963B2 (ja) 光測距装置
JP5593479B2 (ja) バックグランド放射光の抑制に有利なtof領域
JP3935897B2 (ja) 光波測距装置
EP2729826B1 (en) Improvements in or relating to the processing of time-of-flight signals
JP6933473B2 (ja) 距離計測装置および距離画像撮影装置
JP6539990B2 (ja) 光飛行型測距装置
US20170090020A1 (en) Optoelectronic modules operable to collect distance data via time-of-flight and triangulation
US11333760B2 (en) Frequency modulation for interference free optical time of flight system
JP6424581B2 (ja) 光飛行型測距装置
JP2006308357A (ja) 光学式距離測定装置および電子機器
JP3089332B2 (ja) 光波距離計
WO2021256094A1 (ja) 光源駆動装置、光源装置および測距装置
Deleener et al. A delay locked loop for instantaneous time-of-flight sensing based on a CMOS demodulation detector
CN115701132A (zh) 一种用于减少图像传感器背景噪声的方法和像素电路
WO2012073378A1 (ja) 光波測距装置
CN113424072A (zh) 飞行时间装置和方法
Joboji et al. A Range Finding Array Sensor Performing Correlated Calculations with a PN Code Modulation Light

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20171215

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20181218

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20190124

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20190618

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20190701

R151 Written notification of patent or utility model registration

Ref document number: 6558122

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250