JP6527664B2 - イオン発生装置 - Google Patents

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Description

本発明は、高電圧の印加によりイオンを発生するイオン発生装置に関する。
高電圧発生回路に放電電極及び誘導電極を接続し、放電電極からコロナ放電によりイオンを発生するイオン発生装置は特許文献1、2に開示される。特許文献1に開示されるイオン発生装置は高電圧発生回路が一次コイル及び二次コイルから成る昇圧トランスを有している。二次コイルの一端には一対の放電電極がそれぞれダイオードを介して接続され、他端には接地した誘導電極が接続される。
昇圧トランスの一次側にはサイリスタ等のスイッチング素子が設けられ、一次コイルにはコンデンサ及びダイオードが並列に接続される。コンデンサ及び一次コイルによって昇圧トランスの一次側に共振回路が形成される。昇圧トランスの二次側は放電電極と誘導電極との間の容量及び二次コイルによって共振回路が形成される
高電圧発生回路に電力が供給されると所定方向に電流が流れてコンデンサに充電される。コンデンサの端子間電圧が上昇してサイリスタのブレークオーバー電圧に到達すると、サイリスタが短絡状態となる。これにより、コンデンサに充電された電荷が放電されて一次コイルに電流が流れ、二次コイルに誘導起電力が発生する。
誘導起電力によって昇圧トランスの二次側の共振回路が共振し、所定の周波数で放電電極と誘導電極との間に正電圧及び負電圧が印加される。これにより、放電電極がコロナ放電して正イオン及び負イオンを発生する。
一方、昇圧トランスの一次側は共振回路を形成するため振動電圧が発生するが、第2波の電流が一次コイルに並列接続されるダイオードを流れるため急速に減衰する。これにより、昇圧トランスの一次側の振動電圧による二次コイルの誘導起電力が抑制される。従って、一次側と二次側との周波数の違いによる二次コイルの出力電圧の歪みを防止し、安定してイオンを発生することができる。
特許文献2に開示されるイオン発生装置は複数の放電電極(放電針)が放電基板上に一方向に並べて実装され、高電圧発生回路及び放電基板が絶縁体のハウジング内に収納される。放電電極はハウジングから突出し、放電電極の並設方向に延びる一対の金属棒から成る誘導電極(接地電極部)が放電電極を挟んでハウジング上に取り付けられる。誘導電極は長手方向の一端に接続される接続線を介して接地される。
そして、高電圧発生回路により放電電極と誘導電極との間に正電圧及び負電圧が印加される。これにより、放電電極がコロナ放電して正イオン及び負イオンを発生する。
特開2003−7427号公報(第2頁−第3頁、第2図) 特開2007−157541号公報(第5頁−第10頁、第1図) 特開2011−96555号公報(第4頁−第5頁、第1図)
上記特許文献1に開示されたイオン発生装置によると、経年使用により放電電極が劣化すると放電が微弱になるためイオンの発生量が減少する。これにより、イオン発生装置の交換が必要となるため、イオン発生装置の長寿命化が望まれている。
また、特許文献2に開示されたイオン発生装置によると、接地される接続線が誘導電極の長手方向の一端に接続され、該長手方向に並設される放電電極の外側に配置される。このため、イオン発生装置が大型になる問題があった。
また、一方向に延びる金属棒から成る誘導電極が設けられるため、イオン発生装置がより大型になるとともに部品点数が増加する問題があった。
本発明は、長寿命化を図ることのできるイオン発生装置を提供することを目的とする。また本発明は、小型化を図ることのできるイオン発生装置を提供することを目的とする。また本発明は、部品点数を削減できるイオン発生装置を提供することを目的とする。
上記目的を達成するために本発明は、一次コイル及び二次コイルから成る昇圧トランスと前記一次コイルに並列に接続して共振回路を形成するコンデンサとを有する高電圧発生回路と、前記二次コイルの一端に接続される放電電極と、前記二次コイルの他端に接続される誘導電極とを備え、前記放電電極と前記誘導電極との間に高電圧を印加して前記放電電極からコロナ放電によりイオンを発生するイオン発生装置において、前記コンデンサの放電によって振動電圧が印加される前記一次コイルの一方向の電流を可変する電流可変部を設けたことを特徴としている。
また本発明は、上記構成のイオン発生装置において、前記電流可変部が可変抵抗から成り、直列接続されるダイオード及び前記電流可変部を前記一次コイルに並列に接続したことを特徴としている。
また本発明は、上記構成のイオン発生装置において、前記放電電極で発生したイオンの発生量を検出するイオン検出部を備え、前記イオン検出部の検知結果に基づいて前記電流可変部により電流を可変したことを特徴としている。
また本発明は、一対の針状の放電電極が立設される放電基板と、前記放電電極に対向する誘導電極と、前記放電電極と前記誘導電極との間に高電圧を印加する高電圧発生回路と、少なくとも前記放電基板及び前記高電圧発生回路を収納するハウジングとを備えたイオン発生装置において、前記ハウジングが一対の前記放電電極の間を仕切る仕切壁により囲まれた隔離室を有し、前記誘導電極と前記高電圧発生回路とを接続する接続部材を前記隔離室内に配したことを特徴としている。
また本発明は、上記構成のイオン発生装置において、前記放電基板の実装面をモールド材によりモールドし、前記モールド材を前記放電基板と前記仕切壁との隙間に充填したことを特徴としている。
また本発明は、上記構成のイオン発生装置において、前記誘導電極が前記放電基板に対向する対向基板上にパターン形成され、前記隔離室の周壁の上端または上壁が前記対向基板に接することを特徴としている。
また本発明は、上記構成のイオン発生装置において、前記ハウジングの外壁上に前記対向基板を配置するとともに、前記外壁に前記接続部材が挿通される開口部を設けたことを特徴としている。
また本発明は、上記構成のイオン発生装置において、前記放電基板が一方の前記放電電極を実装した第1基板部と、他方の前記放電電極を実装した第2基板部とに分割されることを特徴としている。
また本発明は、上記構成のイオン発生装置において、前記高電圧発生回路が一次コイル及び二次コイルから成る昇圧トランスを有して前記放電基板に少なくとも前記二次コイルを実装するとともに、一端面を開口した有底筒状に形成して前記昇圧トランスを覆う導電性のシールドケースを備え、前記シールドケースの周壁が挿入されるスリットを前記放電基板の前記放電電極と前記二次コイルとの間に設けたことを特徴としている。
また本発明は、上記構成のイオン発生装置において、前記高電圧発生回路が前記一次コイルと共振回路を形成するコンデンサを有するとともに、前記シールドケースが周壁の開放端を屈曲して前記一次コイルと前記コンデンサとの間を仕切る遮蔽部を有することを特徴としている。
また本発明は、上記構成のイオン発生装置において、前記シールドケースが開口側から一周壁を前記スリットよりも延設して前記コンデンサの一部を覆う延設部を有することを特徴と
また本発明は、上記構成のイオン発生装置において、一次コイル及び二次コイルから成る昇圧トランスを有する高電圧発生回路と、導電性樹脂により形成して前記高電圧発生回路を収納するハウジングと、前記ハウジングに設けられるとともに前記高電圧発生回路に電力供給する外部電源が接続されるコネクタ部と、前記二次コイルの一端に接続される放電電極と、前記二次コイルの他端を前記コネクタ部のGND端子に接続するGND線と、前記高電圧発生回路よりも前記GND端子側で前記GND線と前記ハウジングとを接続する接続線とを備え、前記ハウジングが前記放電電極に臨む開口部を開口して前記放電電極に対向する誘導電極を形成することを特徴としている。
また本発明は、上記構成のイオン発生装置において、前記ハウジングがカーボンを含有した樹脂またはPBTから成ることを特徴としている。
本発明によると、振動電圧が印加される一次コイルの一方向の電流を可変する電流可変部を設けたので、放電電極が経年劣化した際に一次コイルの電流を大きくして二次コイルの電圧を増加させ、イオンの減少を抑制することができる。従って、放電電極が劣化してもイオン発生装置を継続使用することができ、イオン発生装置の長寿命化を図ることができる。
また、本発明によると、誘導電極と高電圧発生回路とを接続する接続部材が、一対の放電電極の間を仕切る仕切壁により囲まれた隔離室に配される。これにより、イオン発生装置の小型化を図るとともに、接続部材と放電電極との間の異物や水蒸気による短絡を防止することができる。
また、本発明によると、導電性樹脂から成るハウジングにより誘導電極を形成し、ハウジングが高電圧発生回路よりもGND端子側で接続線を介してGND線に接続される。これにより、イオン発生装置の小型軽量化及び部品点数削減を図ることができるとともに、イオン発生装置から発生するノイズを低減することができる。
本発明の第1実施形態のイオン発生装置を示す斜視図 本発明の第1実施形態のイオン発生装置の内部を示す上面図 本発明の第1実施形態のイオン発生装置を図2のA−A線で切断した正面断面図 本発明の第1実施形態のイオン発生装置を図2のB−B線で切断した正面断面図 本発明の第1実施形態のイオン発生装置の回路図 本発明の第1実施形態のイオン発生装置の二次コイルに発生する電圧を示す図 本発明の第2実施形態のイオン発生装置を示す正面断面図 本発明の第3実施形態のイオン発生装置を示す正面断面図 本発明の第4実施形態のイオン発生装置を示す正面断面図 本発明の第5実施形態のイオン発生装置を示す斜視図 本発明の第5実施形態のイオン発生装置の回路図 本発明の第5実施形態のイオン発生装置のノイズレベルを示す図
<第1実施形態>
以下に図面を参照して本発明の実施形態を説明する。図1は第1実施形態のイオン発生装置の斜視図を示している。イオン発生装置1は絶縁体のセラミックや樹脂等から成るハウジング2によって後述する高電圧発生回路30(図5参照)等を収納する。ハウジング2は下カバー3及び上カバー4を有し、下カバー3の上面開口部が上カバー4により塞がれる。
上カバー4の上面には対向基板13が配される。対向基板13は上カバー4の上面に突設したリブ4aにより位置決めされ、リブ4aに設けた係止爪(不図示)によって固定される。下カバー3の一側面には外部電源が接続されるコネクタ部5が設けられる。コネクタ部5を介して高電圧発生回路30に電力供給される。
図2はイオン発生装置1の内部を示す上面断面図である。図3、図4はイオン発生装置1の正面断面図を示している。図3は図2のA−A線で切断した断面を示しており、図4は図2のB−B線で切断した断面を示している。下カバー3内には放電基板11及び駆動基板15が収納される。
駆動基板15は一端にコネクタ部5が接続され、昇圧トランス31の一次コイル31a及びコンデンサ32を含む回路部品が実装される。放電基板11には一対の針状の放電電極12及び昇圧トランス31の二次コイル31bが実装される。放電基板11の両面の実装面は樹脂等のモールド材17によりモールドされる。下カバー4内の全体をモールド材17によりモールドしてもよい。放電基板11及び駆動基板15上の回路部品によって放電電極12と誘導電極14との間に高電圧を印加する高電圧発生回路30(図5参照)が形成される。
また、下カバー3内には金属等の導電性のシールドケース20が設けられる。シールドケース20はコネクタ部5側の端面を開口した有底筒状に形成され、昇圧トランス31を覆う。昇圧トランス31から発生するノイズをシールドケース20によってシールドすることができる。
この時、シールドケース20の奥側の側壁が放電基板11の放電電極12と二次コイル31bとの間に形成されるスリット11cに挿入される。これにより、放電電極12を避けてシールドケース20によって確実に昇圧トランス31を覆うことができる。また、スリット11cを設けるため放電基板11の一部と昇圧トランス31とがシールドケース20により覆われる。このため、シールドケース20により放電基板11の全体を覆う必要がなく、シールドケース20を小型化してイオン発生装置1のコストを削減することができる。
シールドケース20は開口側の下壁を上方に屈曲した遮蔽部20aを有している。遮蔽部20aは昇圧トランス31の一次コイル31aとコンデンサ32との間を仕切る。これにより、昇圧トランス31から発生するノイズのコンデンサ32に対する影響を低減することができる。
また、シールドケース20には上壁を開口側からスリット11cよりも延設した延設部20bを有している。延設部20bによりコンデンサ32の上方が覆われ、コンデンサ32から発生するノイズをシールドすることができる。尚、シールドケース20の正面側の側壁を開口側からスリット11cよりも延設してもよい。
ハウジング2の上カバー4には放電電極12が臨む一対の開口部4bが設けられる。対向基板13には開口部4bに重なる一対の貫通孔13aが設けられる。対向基板13の下面には誘導電極14がパターン形成される。誘導電極14は貫通孔13aの周囲に配される一対の環状部14aを直線状の連結部14bにより連結して形成される。
また、上カバー4には両方の開口部4b間に開口部18aが開口し、開口部18aの周縁から上面断面がコ字状の仕切壁19が下方に延びて形成される。仕切壁19の奥側(図2において上側)の開放端は下カバー3の周壁に接するように形成される。仕切壁19は一対の放電電極12間を仕切り、仕切壁19により囲まれた隔離室18がハウジング2内に形成される。隔離室18の周壁は開口部18aの周縁から延びる仕切壁19により形成され、隔離室18の周壁の上端は対向基板13に接して下端は放電基板11に接する。
尚、上カバー4により隔離室18の上壁を設けて該上壁に開口部18aが開口してもよい。この時、対向基板13は隔離室18の上壁に接して配される。また、仕切壁19を下カバー3の周壁から突設して隔離室18を形成してもよい。
詳細を後述するように、高電圧発生回路30(図5参照)を形成する二次コイル31bの一端は放電電極12に接続され、他端は誘導電極14に接続される。この時、誘導電極14に一端を半田付けした接続部材16が隔離室18内に配され、接続部材16の他端が放電基板11に半田付けされる。接続部材16は放電基板11上の導体パターンを介して二次コイル31bに接続される。
これにより、誘導電極14と昇圧トランス31とを接続する接続部材16が従来例のように複数の放電電極12の外側に配置されず、一対の放電電極12間に配される。このため、イオン発生装置1の小型化を図ることができる。
この時、仕切壁19の上端が対向基板13に接して下端が放電基板11に接するため、接続部材16と放電電極12とが隔離される。従って、接続部材16と放電電極12との間の異物や水蒸気による短絡を防止することができる。
また、仕切壁19の下端と放電基板11との間に僅かに形成される隙間にはモールド材17が充填される。これにより、接続部材16と放電電極12とをより確実に隔離することができる。
図5はイオン発生装置1の駆動回路を示す回路図である。駆動回路はコネクタ部5に設けた端子5a、5bを介して外部電源(不図示)に接続される。端子5bはGND端子になっており、GND線38に接続される。
端子5a、5b間にはダイオードD1、入力抵抗R、コンデンサ32が直列に接続される。また、直列接続される昇圧トランス31の一次コイル31a及びスイッチング素子33が、コンデンサ32の両端に並列に接続される。コンデンサ32及び一次コイル31aによって昇圧トランス31の一次側の共振回路が形成される。スイッチング素子33はサイダック(登録商標)やサイリスタ等により形成され、コンデンサ32の両端電圧が所定電圧になると導通する。コンデンサ32の両端電圧が所定電圧になった際に導通する他の素子によりスイッチング素子33を形成してもよい。
また、直列接続されるダイオードD2及び電流可変部34が、コンデンサ32の両端に並列に接続される。電流可変部34はダイオードD2によって一方向に電流が流れ、この電流をマイクロコンピュータ35により制御される可変抵抗により可変する。この時、マイクロコンピュータ35は放電電極12から発生するイオンの発生量を検知するイオン検出部36の検知結果に基づいて電流可変部34の電流を可変する。
昇圧トランス31の二次コイル31bの一端には一対の放電電極12がそれぞれダイオードD3、ダイオードD4を介して接続される。ダイオードD3はカソードを二次コイル31bに接続し、ダイオードD4はアノードを二次コイル31bに接続すれる。二次コイル31bの他端には誘導電極14が接続される。放電電極12と誘導電極14との間の静電容量と二次コイル31bとによって昇圧トランス31の二次側の共振回路が形成される。
外部電源から端子5a、5b間に電圧が印加されると、ダイオードD1及び入力抵抗Rを介してコンデンサ32に充電される。コンデンサ32の端子間電圧が上昇して所定電圧になると、スイッチング素子33が導通する。これにより、コンデンサ32に充電された電荷がスイッチング素子33及び一次コイル31aを介して放電され、一次コイル31aにインパルス電圧が発生する。
一次コイル31aには昇圧トランス31の一次側の共振回路によって振動しながら減衰する振動電圧が発生する。この時、振動電圧の減衰時間は短時間(数十μsec〜数百μsec)であり、スイッチング素子33はオン状態を維持する。そして、コンデンサ32の両端電圧が減衰してゼロになるとスイッチング素子33がオフになり、外部電源からコンデンサ32に充電して充放電が繰り返される。
一次コイル31aにインパルス電圧が発生すると二次コイル31bには一次コイル31aからエネルギーが伝達されて起電力が発生する。これにより、昇圧トランス31の二次側では共振回路によって二次コイル31bの両端に正及び負の高電圧パルスが交互に減衰しながら発生する。二次コイル31bで発生した負の高電圧パルスはダイオードD3を介して一方の放電電極12に印加される。また、二次コイル31bで発生した正の高電圧パルスはダイオードD4を介して他方の放電電極12に印加される。これにより、放電電極12の先端でコロナ放電が発生する。
従って、コンデンサ32、昇圧トランス31及びスイッチング素子33を有した回路によって放電電極12と誘導電極14との間に高電圧を印加する高電圧発生回路30が構成される。
正電圧に印加された放電電極12のコロナ放電により空気中の水分子が電離して水素イオンが生成される。この水素イオンが溶媒和エネルギーにより空気中の水分子とクラスタリングする。これにより、H+(H2O)m(mは0または任意の自然数)から成る空気イオンの正イオンが放出される。
また、負電圧に印加された放電電極12のコロナ放電により空気中の酸素分子または水分子が電離して酸素イオンが生成される。この酸素イオンが溶媒和エネルギーにより空気中の水分子とクラスタリングする。これにより、O2 -(H2O)n(nは任意の自然数)から成る空気イオンの負イオンが放出される。
+(H2O)m及びO2 -(H2O)nは空気中の浮遊菌や臭い成分の表面で凝集してこれらを取り囲む。そして、式(1)〜(3)に示すように、衝突により活性種である[・OH](水酸基ラジカル)やH22(過酸化水素)を微生物等の表面上で凝集生成して浮遊菌や臭い成分を破壊する。ここで、m’、n’は任意の自然数である。従って、正イオン及び負イオンを放出して空気中の殺菌及び臭い除去を行うことができる。
+(H2O)m+O2 -(H2O)n→・OH+1/2O2+(m+n)H2O ・・・(1)
+(H2O)m+H+(H2O)m’+O2 -(H2O)n+O2 -(H2O)n’
→ 2・OH+O2+(m+m'+n+n')H2O ・・・(2)
+(H2O)m+H+(H2O)m’+O2 -(H2O)n+O2 -(H2O)n’
→ H22+O2+(m+m'+n+n')H2O ・・・(3)
上述したように、コンデンサ32はスイッチング素子33がオンの時に放電し、一次コイル31aの両端に振動電圧が発生する。昇圧トランス31の一次側に振動電圧が発生すると、ダイオードD2の逆方向の電流は電流可変部34を流れずに一次コイル31aを流れる。また、ダイオードD2の順方向の電流は電流可変部34を流れる。
この時、電流可変部34の抵抗値を小さく(例えば、0Ω)して電流可変部34を流れる電流が大きくなると、一次コイル31aに電流が流れない。一方、電流可変部34の抵抗値を大きくして電流可変部34を流れる電流が小さくなると、一次コイル31aに電流が流れて二次側に起電力が発生する。このため、電流可変部34によって一次コイル31aの一方向(ダイオードD2の順方向)の電流を可変することができる。
図6は二次コイル31bに発生する電圧を示す図である。同図において、縦軸は電圧であり、横軸は時間である。図中、実線E1の状態は破線E2の状態よりも電流可変部34の抵抗値が大きくなっている。
同図によると、二次コイル31bの電圧はスイッチング素子33がオンになった後の第1波のピークが負極性となり、第2波のピークが正極性となる。スイッチング素子33がオンになった時に電流がダイオードD2によって電流可変部34に流れないため、一次コイル31aを流れる。これにより、二次コイル31bに起電力が発生して第1波が形成される。このため、電流可変部34の抵抗値が異なる実線E1、破線E2の第1波の電圧が同じになっている。
次に、コンデンサ32からダイオードD2の順方向に電流が流れると電流可変部34には抵抗値に応じた電流が流れる。破線E2では電流可変部34の抵抗値が小さいため一次コイル31aに電流が流れず、二次コイル31bの電圧は二次側の共振回路によって第2波以降が振動しながら減衰する。
これに対して、実線E1では電流可変部34の抵抗値が大きいため一次コイル31aに電流が流れ、これによる起電力が二次コイル31bの振動電圧に重畳される。このため、実線E1の第2波が破線E2の第2波よりも大きくなる。その後、二次コイル31bの電圧は二次側の共振回路によって第3波以降が振動しながら減衰する。
これにより、電流可変部34の抵抗値が小さい場合(破線E2)よりも大きい場合(実線E1)に放電電極12の印加電圧が大きくなり、イオン発生量が増加する。
本実施形態ではイオン検出部36(図5参照)により検知したイオンの発生量が所定の閾値よりも大きい時に電流可変部34の抵抗値が所定の標準値に設定される。これにより、放電電極12の印加電圧を必要以上に大きくすることなく閾値以上のイオンを発生することができ、放電電極12の経年劣化を抑制することができる。
そして、放電電極12の経年劣化によってイオンの発生量が閾値よりも低下すると、マイクロコンピュータ35により電流可変部34の抵抗値を標準値よりも小さくする(例えば、0Ω)。これにより、放電電極12の印加電圧を大きくしてイオンの減少を抑制することができる。従って、放電電極12が劣化してもイオン発生装置1を継続使用することができ、イオン発生装置1の長寿命化を図ることができる。
尚、イオン検出部36で検知したイオンの発生量の閾値を複数設け、各閾値に対して電流可変部34の抵抗値を複数の段階に可変してもよい。また、電流可変部34が可変抵抗により構成されるが、他の素子を用いて一次コイル31aに流れる一方向の電流を可変してもよい。
また、イオン検出部36を省いてタイマーを設け、タイマーにより検知されるイオン発生装置1の使用時間に基づいて電流可変部34の電流を可変してもよい。即ち、イオン発生装置1の使用時間が所定の閾値よりも短い時に電流可変部34の抵抗値を標準値に設定し、閾値よりも長くなると電流可変部34の抵抗値を標準値よりも小さくする。これにより、上記と同様に、放電電極12が劣化してもイオン発生装置1を継続使用することができる。
本実施形態によると、振動電圧が印加される一次コイル31aの一方向の電流を可変する電流可変部34を設けたので、放電電極12が経年劣化した際に一次コイル31aの電流を大きくして二次コイル31bの電圧を増加させ、イオンの減少を抑制することができる。従って、放電電極12が劣化してもイオン発生装置1を継続使用することができ、イオン発生装置1の長寿命化を図ることができる。
また、直列接続されるダイオードD2及び可変抵抗から成る電流可変部34を一次コイル31aに並列に接続したので、一次コイル31aに流れる電流を容易に可変することができる。
また、放電電極12で発生したイオンの発生量を検出するイオン検出部36の検知結果に基づいて電流可変部34により電流を可変したので、放電電極12の劣化時に確実に所望量のイオンを発生させることができる。
また、誘導電極14と高電圧発生回路30の二次コイル31bとを接続する接続部材16が、一対の放電電極12の間を仕切る仕切壁19により囲まれた隔離室18に配される。これにより、接続部材16が一対の放電電極12の間に配され、イオン発生装置1の小型化を図ることができる。また、接続部材16と放電電極12とが仕切壁19によって仕切られるため、接続部材16と放電電極12との間の異物や水蒸気による短絡を防止することができる。
また、放電基板12の実装面をモールド材17によりモールドし、モールド材17を放電基板12と仕切壁19との隙間に充填したので、接続部材16と放電電極12とを仕切壁19によってより確実に仕切ることができる。
また、誘導電極14が放電基板11に対向する対向基板13上にパターン形成され、隔離室18の周壁を形成する仕切壁19の上端が対向基板13に接する。これにより、接続部材16と放電電極12とを仕切壁19によってより確実に仕切ることができる。尚、隔離室18の上壁が対向基板13に接してもよい。これにより、接続部材16と放電電極12とを仕切壁19及び上壁によってより確実に仕切ることができる。
また、ハウジング2の上カバー4の外壁上に対向基板13を配置し、該外壁に接続部材16が挿通される開口部18aを設けたので、隔離室18の周壁の上端または上壁が対向基板13に接するイオン発生装置1を容易に実現することができる。
また、昇圧トランス31を覆う有底筒状の導電性のシールドケース20を有し、放電基板11上の放電電極12と二次コイル31bとの間にシールドケース20の周壁を挿入するスリット11cが設けられる。これにより、シールドケース20により放電基板11の全体を覆う必要がなく、シールドケース20を小型化してイオン発生装置1のコストを削減することができる。
また、シールドケース20が周壁の開放端を屈曲して一次コイル31aとコンデンサ32との間を仕切る遮蔽部20aを有する。これにより、昇圧トランス31から発生するノイズのコンデンサ32に対する影響を低減することができる。
また、シールドケース20が開口側から一周壁をスリット11cよりも延設してコンデンサ32の一部を覆う延設部20bを有する。これにより、コンデンサ32から発生するノイズをシールドすることができる。
<第2実施形態>
次に、図7は第2実施形態のイオン発生装置1の正面断面図であり、前述の図4と同じ断面を示している。説明の便宜上、前述の図1〜図6に示す第1実施形態と同様の部分には同一の符号を付している。本実施形態は仕切壁19の構成が第1実施形態と異なっている。その他の部分は第1実施形態と同様である。
上カバー4には一対の開口部4b間に開口部18aが開口し、下カバー3には周壁から突出した上面断面がコ字状の仕切壁19が形成される。仕切壁19は一対の放電電極12間を仕切り、仕切壁19により囲まれた隔離室18がハウジング2内に形成される。この時、対向基板13は隔離室18の上壁に接して配される。仕切壁19の上端と上カバー4との間には隙間が設けられ、仕切壁19の下端は放電基板11に接する。また、仕切壁19の下端と放電基板11との間に僅かに形成される隙間にはモールド材17が充填される。
上記構成のイオン発生装置1によると、誘導電極14と昇圧トランス31とを接続する接続部材16が従来例のように複数の放電電極12の外側に配置されず、一対の放電電極12間に配される。このため、イオン発生装置1の小型化を図ることができる。
この時、仕切壁19の下端が放電基板11に接するため、接続部材16と放電電極12との間の沿面距離を長くすることができる。従って、接続部材16と放電電極12との間の異物や水蒸気による短絡を防止することができる。
また、仕切壁19の下端と放電基板11との間に充填されるモールド材17によって接続部材16と放電電極12との間の沿面距離をより確実に長くすることができる。
<第3実施形態>
次に、図8は第3実施形態のイオン発生装置1の正面断面図であり、前述の図4と同じ断面を示している。説明の便宜上、前述の図1〜図6に示す第1実施形態と同様の部分には同一の符号を付している。本実施形態は放電基板11の構成が第1実施形態と異なっている。その他の部分は第1実施形態と同様である。
放電基板11は一方の放電電極12を実装した第1基板部11aと、他方の放電電極12を実装した第2基板部11bとに分割される。仕切壁19の下端は第1基板部11a及び第2基板部11bの端部にそれぞれ接する。隔離室18内に配される接続部材16の下端にはリード線16aが接続される。リード線16aは第1基板部11aと第2基板部11bとの間を通って放電基板11に接続される。これにより、誘導電極14と二次コイル31bとが接続される。
本実施形態によると、第1実施形態と同様の効果を得ることができる。また、放電基板11が放電電極12をそれぞれ実装した第1基板部11aと第2基板部11bとに分割される。これにより、第1基板部11aと第2基板部11bとの間を通る接続部材16を介して誘導電極14と二次コイル31bとを容易に接続することができる。
<第4実施形態>
次に、図9は第4実施形態のイオン発生装置1の正面断面図であり、前述の図7と同じ断面を示している。説明の便宜上、前述の図7に示す第2実施形態と同様の部分には同一の符号を付している。本実施形態は放電基板11の構成が第2実施形態と異なっている。その他の部分は第2実施形態と同様である。
放電基板11は一方の放電電極12を実装した第1基板部11aと、他方の放電電極12を実装した第2基板部11bとに分割される。仕切壁19の下端は第1基板部11a及び第2基板部11bの端部にそれぞれ接する。隔離室18内に配される接続部材16の下端にはリード線16aが接続される。リード線16aは第1基板部11aと第2基板部11bとの間を通って放電基板11に接続される。これにより、誘導電極14と二次コイル31bとが接続される。
本実施形態によると、第2実施形態と同様の効果を得ることができる。また、第1基板部11aと第2基板部11bとの間を通る接続部材16を介して誘導電極14と二次コイル31bとを容易に接続することができる。
<第5実施形態>
次に、図10は第5実施形態のイオン発生装置1の斜視図を示している。説明の便宜上、前述の図1〜図6に示す第1実施形態と同様の部分には同一の符号を付している。本実施形態はハウジング2の構成が第1実施形態と異なり、シールドケース20(図3参照)が省かれている。その他の部分は第1実施形態と同様である。
イオン発生装置1は下カバー3及び上カバー4を有したハウジング2によって高電圧発生回路30(図5参照)等を収納する。下カバー3及び上カバー4はカーボンを含有した樹脂やPBT(ポリブチレンテレフタレート)等の導電性樹脂により形成される。これにより、駆動回路が導電性のハウジング2により覆われるため、駆動回路から発生するノイズをシールドすることができる。また、金属ケース等によりイオン発生装置1を覆うよりもイオン発生装置1の軽量化を図ることができる。
また、上カバー4は放電電極12(図4参照)に臨む一対の開口部4bが開口し、後述するように開口部4bによって誘導電極14(図11参照)を形成する。このため、第1実施形態に示す対向基板13及びリブ4a(図1参照)が省かれる。
図11はイオン発生装置1の駆動回路を示す回路図である。前述の図5と同様の部分の説明は省略する。昇圧トランスの二次コイル31bの一端はダイオードD3、D4を介して放電電極12に接続され、他端はGND線38に接続される。また、リード線38a(接続線)によってGND線38と導電性のハウジング2とが接続される。これにより、放電電極12に対向する開口部4bはGND電位に維持され、一対の誘導電極14を形成する。
この時、リード線38aの一端はコンデンサ32、昇圧トランス31及びスイッチング素子33を含む高電圧発生回路30よりも端子5b(GND端子)側でGND線38に接続される。これにより、誘導電極14は高電圧発生回路30をバイパスしてGND電位の端子5bに接続される。このため、昇圧トランス31から発生するノイズの影響をより確実に低減することができる。
図12はイオン発生装置1のノイズレベルを示す図である。同図において、縦軸はノイズレベルであり、横軸は周波数(単位:Hz)である。図中、実線F1は本実施形態を示し、破線F2は第1実施形態のイオン発生装置1に対してシールドケース20(図3参照)を省いた状態を示している。
同図によると、本実施形態の実線F1はシールドケース20(図3参照)を省いてもイオン発生装置1から発生するノイズを低減することができる。
本実施形態によると、第1実施形態と同様の効果を得ることができる。また、導電性樹脂から成るハウジング2により誘導電極14を形成し、ハウジング2が高電圧発生回路30よりも端子5b(GND端子)側でリード線38a(接続線)を介してGND線38に接続される。これにより、対向基板13やシールドケース20(図3参照)を省くとともに金属ケースを必要とせず、イオン発生装置1の小型軽量化及び部品点数削減を図ることができる。また、昇圧トランス31から発生するノイズを確実に低減し、イオン発生装置1から発生するノイズを低減することができる。
尚、第1実施形態と同様のシールドケース20(図3参照)を設けてもよい。これにより、イオン発生装置1から発生するノイズをより低減することができる。
本実施形態において、車載用途のイオン発生装置1では端子5a、5bの入力電圧を所定電圧(例えば、DC9V)に変換する定電圧回路が駆動基板15に設けられる。高電圧発生回路30には定電圧回路の出力電圧が入力される。この時、リード線38aを定電圧回路よりも端子5b側でGND線38に接続するとより望ましい。これにより、定電圧回路から発生するノイズによる影響を低減することができる。
また、単一の放電電極12が設けられるイオン発生装置1において導電性樹脂から成るハウジング2により単一の誘導電極14を形成してもよい。
本発明によると、高電圧の印加によりイオンを発生するイオン発生装置に利用することができる。
1 イオン発生装置
2 ハウジング
3 下カバー
4 上カバー
4a リブ
4b、18a 開口部
5 コネクタ部
5a、5b 端子
11 放電基板
11a 第1基板部
11b 第2基板部
11c スリット
12 放電電極
13 対向基板
13a 貫通孔
14 誘導電極
15 駆動基板
16 接続部材
16a リード線
17 モールド材
18 隔離室
19 仕切壁
20 シールドケース
20a 遮蔽部
20b 延設部
30 高電圧発生回路
31 昇圧トランス
31a 一次コイル
31b 二次コイル
32 コンデンサ
33 スイッチング素子
34 電流可変部
35 マイクロコンピュータ
36 イオン検出部
38 GND線
38a リード線

Claims (2)

  1. 一次コイル及び二次コイルから成る昇圧トランスと前記一次コイルに並列に接続して共振回路を形成するコンデンサとを有する高電圧発生回路と、前記二次コイルの一端に接続される放電電極と、前記二次コイルの他端に接続される誘導電極とを備え、前記放電電極と前記誘導電極との間に高電圧を印加して前記放電電極からコロナ放電によりイオンを発生するイオン発生装置において、前記コンデンサの放電によって振動電圧が印加される前記一次コイルの一方向の電流を可変する可変抵抗から成る電流可変部と、前記電流可変部に直列接続して該一方向に電流を流して逆方向に電流を流さないダイオードとを設け、前記ダイオード及び前記電流可変部を前記一次コイルに並列に接続し、
    前記電流可変部の抵抗値が小さい場合に対して大きい場合に、前記二次コイルの電圧の第1波が同じで第2波が大きいことを特徴とするイオン発生装置。
  2. 前記放電電極で発生したイオンの発生量を検出するイオン検出部を備え、前記イオン検出部の検知結果に基づいて前記電流可変部の抵抗値を可変したことを特徴とする請求項1に記載のイオン発生装置。
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