JP6503660B2 - 印刷物の検査方法、印刷物の製造方法及び印刷物の検査装置 - Google Patents
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検査対象インキが付着した印刷物を撮影し、撮影された前記検査対象インキの画像の画素において第1分光反射スペクトルを取得する第1工程と、
前記第1分光反射スペクトルと基準インキの第2分光反射スペクトルとの間の類似度を算出する第2工程と、
前記類似度に基づいて、前記検査対象インキが前記基準インキと同じであるか否か判定する第3工程と、
を備える。
前記第1工程において、撮影された画像の前記検査対象インキを含む範囲内の複数の画素において前記第1分光反射スペクトルを取得し、
前記第2工程において、前記画素毎に前記第1分光反射スペクトルと前記第2分光反射スペクトルとの間の前記類似度を算出し、前記複数の画素について前記類似度を階調表示して、前記類似度の分布を表す類似度画像を表示し、
前記第3工程において、前記類似度画像に基づいて、前記検査対象インキが前記基準インキと同じであるか否か判定してもよい。
前記第1工程の前に、前記基準インキを基材上に塗布する工程を備え、
前記第1工程において、前記印刷物及び前記基材上の前記基準インキを撮影し、前記第1分光反射スペクトルを取得すると共に、撮影された前記基準インキの画像の少なくとも一部の各画素の分光反射スペクトルを平均して前記第2分光反射スペクトルを得てもよい。
前記第2工程において、コサイン距離解析により前記類似度を算出し、
前記第3工程において、前記類似度が予め定められたしきい値以上の場合、前記検査対象インキは前記基準インキと同じであると判定してもよい。
検査対象インキが付着した印刷物を撮影し、撮影された前記検査対象インキの画像の画素において第1分光反射スペクトルを取得する第1工程と、
前記第1分光反射スペクトルと第1基準インキの第2分光反射スペクトルとの間の第1類似度を算出する第2工程と、
前記第1分光反射スペクトルと、第2基準インキの第3分光反射スペクトルとの間の第2類似度を算出する第3工程と、
前記第1類似度が前記第2類似度より大きい場合、前記検査対象インキは前記第1基準インキと同じであると判定し、前記第2類似度が前記第1類似度より大きい場合、前記検査対象インキは前記第2基準インキと同じであると判定する第4工程と、
を備える。
前記第1工程において、撮影された画像の前記検査対象インキを含む範囲内の複数の画素において前記第1分光反射スペクトルを取得し、
前記第2工程において、前記画素毎に前記第1分光反射スペクトルと前記第2分光反射スペクトルとの間の前記第1類似度を算出し、前記複数の画素について前記第1類似度を階調表示して、前記第1類似度の分布を表す第1類似度画像を表示し、
前記第3工程において、前記画素毎に前記第1分光反射スペクトルと前記第3分光反射スペクトルとの間の前記第2類似度を算出し、前記複数の画素について前記第2類似度を階調表示して、前記第2類似度の分布を表す第2類似度画像を表示し、
前記第4工程において、前記第1類似度画像および前記第2類似度画像に基づいて、前記検査対象インキが前記第1基準インキと前記第2基準インキとの何れと同じであるか判定してもよい。
前記第1工程の前に、前記第1基準インキ及び前記第2基準インキを基材上に塗布する工程を備え、
前記第1工程において、前記印刷物と、前記基材上の前記第1基準インキ及び前記第2基準インキとを撮影し、前記第1分光反射スペクトルを取得すると共に、撮影された前記第1基準インキの画像の少なくとも一部の各画素の分光反射スペクトルを平均して前記第2分光反射スペクトルを得て、撮影された前記第2基準インキの画像の少なくとも一部の各画素の分光反射スペクトルを平均して前記第3分光反射スペクトルを得てもよい。
前記第2工程において、コサイン距離解析により前記第1類似度を算出し、
前記第3工程において、コサイン距離解析により前記第2類似度を算出してもよい。
前記第1工程において、分光イメージングカメラによって分光反射スペクトルを取得してもよい。
基材を準備する工程と、
インキを準備する工程と、
前記基材に前記インキを印刷して印刷物を得る工程と、
前記印刷物の検査方法で前記印刷物を検査する工程と、
を備える。
検査対象インキが付着した印刷物を撮影し、撮影された前記検査対象インキの画像の画素において第1分光反射スペクトルを取得するスペクトル取得部と、
前記第1分光反射スペクトルと基準インキの第2分光反射スペクトルとの間の類似度を算出する演算部と、
前記類似度に基づいて、前記検査対象インキが前記基準インキと同じであるか否か判定する判定部と、
を備える。
検査対象インキが付着した印刷物を撮影し、撮影された前記検査対象インキの画像の画素において第1分光反射スペクトルを取得するスペクトル取得部と、
前記第1分光反射スペクトルと第1基準インキの第2分光反射スペクトルとの間の第1類似度を算出し、前記第1分光反射スペクトルと、第2基準インキの第3分光反射スペクトルとの間の第2類似度を算出する演算部と、
前記第1類似度が前記第2類似度より大きい場合、前記検査対象インキは前記第1基準インキと同じであると判定し、前記第2類似度が前記第1類似度より大きい場合、前記検査対象インキは前記第2基準インキと同じであると判定する判定部と、
を備える。
前記スペクトル取得部は分光イメージングカメラであってもよい。
図1は、第1の実施形態に係る印刷物の検査装置100の概略的な構成を示す図である。図1に示すように、印刷物の検査装置100は、光源10と、分光イメージングカメラ(スペクトル取得部)20と、演算部30と、判定部40と、を備える。
(第2の実施形態)
第2の実施形態では、印刷物の検査装置100の演算部30と判定部40の機能が、第1の実施形態と異なる。
以上の各実施形態では、類似度を求めるためにコサイン距離解析を行う一例について説明したが、これに限らず、他の解析方法を用いて類似度を求めてもよい。
また、光源10として、少なくとも可視光を含む照明光L1を照射できれば、LED(Light Emitting Diode)等の光源を用いてもよい。
20 分光イメージングカメラ(スペクトル取得部)
30 演算部
40 判定部
100 印刷物の検査装置
P1 印刷物
Claims (12)
- 検査対象インキが付着した印刷物を撮影し、撮影された前記検査対象インキの画像の画素において第1分光反射スペクトルを取得する第1工程と、
前記第1分光反射スペクトルと基準インキの第2分光反射スペクトルとの間の類似度を算出する第2工程と、
前記類似度に基づいて、前記検査対象インキが前記基準インキと同じであるか否か判定する第3工程と、
を備え、
前記検査対象インキは、印刷不良により前記印刷物上に生じたものであり、
前記基準インキは、前記印刷物の製造に用いられた何れかの印刷インキ、又は、前記印刷物の製造工程において付されたインキである、印刷物の検査方法。 - 前記第1工程において、撮影された画像の前記検査対象インキを含む範囲内の複数の画素において前記第1分光反射スペクトルを取得し、
前記第2工程において、前記画素毎に前記第1分光反射スペクトルと前記第2分光反射スペクトルとの間の前記類似度を算出し、前記複数の画素について前記類似度を階調表示して、前記類似度の分布を表す類似度画像を表示し、
前記第3工程において、前記類似度画像に基づいて、前記検査対象インキが前記基準インキと同じであるか否か判定する、請求項1に記載の印刷物の検査方法。 - 前記第1工程の前に、前記基準インキを基材上に塗布する工程を備え、
前記第1工程において、前記印刷物及び前記基材上の前記基準インキを撮影し、前記第1分光反射スペクトルを取得すると共に、撮影された前記基準インキの画像の少なくとも一部の各画素の分光反射スペクトルを平均して前記第2分光反射スペクトルを得る、請求項1又は請求項2に記載の印刷物の検査方法。 - 前記第2工程において、コサイン距離解析により前記類似度を算出し、
前記第3工程において、前記類似度が予め定められたしきい値以上の場合、前記検査対象インキは前記基準インキと同じであると判定する、請求項1から請求項3の何れかに記載の印刷物の検査方法。 - 検査対象インキが付着した印刷物を撮影し、撮影された前記検査対象インキの画像の画素において第1分光反射スペクトルを取得する第1工程と、
前記第1分光反射スペクトルと第1基準インキの第2分光反射スペクトルとの間の第1類似度を算出する第2工程と、
前記第1分光反射スペクトルと、第2基準インキの第3分光反射スペクトルとの間の第2類似度を算出する第3工程と、
前記第1類似度が前記第2類似度より大きい場合、前記検査対象インキは前記第1基準インキと同じであると判定し、前記第2類似度が前記第1類似度より大きい場合、前記検査対象インキは前記第2基準インキと同じであると判定する第4工程と、
を備え、
前記検査対象インキは、印刷不良により前記印刷物上に生じたものであり、
前記第1基準インキ及び前記第2基準インキは、それぞれ前記印刷物の製造に用いられた何れかの印刷インキ、又は、前記印刷物の製造工程において付されたインキである、印刷物の検査方法。 - 前記第1工程において、撮影された画像の前記検査対象インキを含む範囲内の複数の画素において前記第1分光反射スペクトルを取得し、
前記第2工程において、前記画素毎に前記第1分光反射スペクトルと前記第2分光反射スペクトルとの間の前記第1類似度を算出し、前記複数の画素について前記第1類似度を階調表示して、前記第1類似度の分布を表す第1類似度画像を表示し、
前記第3工程において、前記画素毎に前記第1分光反射スペクトルと前記第3分光反射スペクトルとの間の前記第2類似度を算出し、前記複数の画素について前記第2類似度を階調表示して、前記第2類似度の分布を表す第2類似度画像を表示し、
前記第4工程において、前記第1類似度画像および前記第2類似度画像に基づいて、前記検査対象インキが前記第1基準インキと前記第2基準インキとの何れと同じであるか判定する、請求項5に記載の印刷物の検査方法。 - 前記第1工程の前に、前記第1基準インキ及び前記第2基準インキを基材上に塗布する工程を備え、
前記第1工程において、前記印刷物と、前記基材上の前記第1基準インキ及び前記第2基準インキとを撮影し、前記第1分光反射スペクトルを取得すると共に、撮影された前記第1基準インキの画像の少なくとも一部の各画素の分光反射スペクトルを平均して前記第2分光反射スペクトルを得て、撮影された前記第2基準インキの画像の少なくとも一部の各画素の分光反射スペクトルを平均して前記第3分光反射スペクトルを得る、請求項5又は請求項6に記載の印刷物の検査方法。 - 前記第2工程において、コサイン距離解析により前記第1類似度を算出し、
前記第3工程において、コサイン距離解析により前記第2類似度を算出する、請求項5から請求項7の何れかに記載の印刷物の検査方法。 - 前記第1工程において、分光イメージングカメラによって分光反射スペクトルを取得する、請求項1から請求項8の何れかに記載の印刷物の検査方法。
- 基材を準備する工程と、
インキを準備する工程と、
前記基材に前記インキを印刷して印刷物を得る工程と、
請求項1から請求項9の何れかに記載の印刷物の検査方法で前記印刷物を検査する工程と、
を備える印刷物の製造方法。 - 検査対象インキが付着した印刷物を撮影し、撮影された前記検査対象インキの画像の画素において第1分光反射スペクトルを取得するスペクトル取得部と、
前記第1分光反射スペクトルと第1基準インキの第2分光反射スペクトルとの間の第1類似度を算出し、前記第1分光反射スペクトルと、第2基準インキの第3分光反射スペクトルとの間の第2類似度を算出する演算部と、
前記第1類似度が前記第2類似度より大きい場合、前記検査対象インキは前記第1基準インキと同じであると判定し、前記第2類似度が前記第1類似度より大きい場合、前記検査対象インキは前記第2基準インキと同じであると判定する判定部と、
を備え、
前記検査対象インキは、印刷不良により前記印刷物上に生じたものであり、
前記第1基準インキ及び前記第2基準インキは、それぞれ前記印刷物の製造に用いられた何れかの印刷インキ、又は、前記印刷物の製造工程において付されたインキである、印刷物の検査装置。 - 前記スペクトル取得部は分光イメージングカメラである、請求項11に記載の印刷物の検査装置。
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