JP6502657B2 - ファインバブルの粒度分布測定方法及び測定装置 - Google Patents

ファインバブルの粒度分布測定方法及び測定装置 Download PDF

Info

Publication number
JP6502657B2
JP6502657B2 JP2014244324A JP2014244324A JP6502657B2 JP 6502657 B2 JP6502657 B2 JP 6502657B2 JP 2014244324 A JP2014244324 A JP 2014244324A JP 2014244324 A JP2014244324 A JP 2014244324A JP 6502657 B2 JP6502657 B2 JP 6502657B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
particle size
size distribution
measuring
fine bubbles
distance
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2014244324A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2016109453A (ja
Inventor
藤田豊久
ドドビバジョルジ
河邊憲次
Original Assignee
シーエムシー技術開発 株式会社
シーエムシー技術開発 株式会社
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by シーエムシー技術開発 株式会社, シーエムシー技術開発 株式会社 filed Critical シーエムシー技術開発 株式会社
Priority to JP2014244324A priority Critical patent/JP6502657B2/ja
Publication of JP2016109453A publication Critical patent/JP2016109453A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6502657B2 publication Critical patent/JP6502657B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)

Description

本発明は、ファインバブルの粒度分布測定方法及び測定装置に関する。
従来、エマルションやナノ粒子の粒度分布を測定する方法及び装置としては、運動速度解析等を利用した動的光散乱法による粒度分布測定方法及びその装置、レーザー解析・散乱法を利用した粒度分布測定方法及びその装置、共振式質量測定法及びその装置等が開発されている。
動的光散乱法による粒度分布測定は、ブラウン運動している液中の粒子の運動速度を解析する方法であり、溶液中でブラウン運動をしている粒子にレーザー光を照射し、その散乱光を光子検出器でする方法である。
レーザー解析・散乱法による粒度分布測定は、粒子に光があたると、光は回析したり散乱したりするが、その回折/散乱光の強度パターンは粒子の大きさに依存するので、回析・散乱光の角度により異なる強度パターンを観測し、粒子径分布を求める方法である。
共振式質量測定法による粒度分測定は、マイクロ流体チャンネルが埋め込まれた共振用カンチレバーを有するMEMSセンサーで流体中の粒子の浮遊重量、乾燥重量、粒子径を共振周波数の変化で捉え、測定する方法である。
しかし、動的光散乱法やレーザー解析・散乱法による粒度分布測定は、いずれもレーザー光を用いて計測するものであるから、いずれもファインバブルを含む液が光を通しにくい場合、屈折率がファインバブルの屈折率と近接している場合又は黒色濃度が高い場合には、測定が困難であるという問題点があった。
また、共振式質量測定法による粒度分測定は、ファインバブルの測定できる粒子サイズが50nm〜5μmの範囲に限られるという問題点があった。
特開2001−77583号公報 特開2004−137459号公報
そこで、本発明は、上記問題に鑑みてなされたものであり、数nm〜数100μmまでのファインバブルの粒度分布を高精度に測定することができ、また、粒子濃度、液の光透過性、屈折率に影響されることなく、測定可能なファインバブルの測定方法及び測定装置を提供することも主たる目的とする。
前記目的を達成するために本発明が採用したファインバブルの測定方法は、
一方が測定機器に連結され、間隔を変更可能な一対の電極にファインバブルを有する液を配置し、電界を発生させてファインバブルを配列させた状態で、前記間隔を変更させることにより発生する一対の電極間にある前記ファインバブルの相互作用力を測定機器で測定し、前記測定機器で測定した前記相互作用力を前記一対の電極間距離で微分することによって前記ファインバブルの粒度分布を得ることを特徴とするものである。
本発明にかかるファインバブルの測定方法は、一対の電極間に電圧を印加し、電界をかけた状態で、電極間の間隔を変更することによって、変化する一対の電極間及びファインバブルの相互作用力を測定する。相互作用力の変化は、ファインバブルの粒子径に相関関係があることから、その変化量を解析し、ファインバブルの粒径及び粒度分布を測定する方法である。
また、本発明にかかるファインバブルの測定方法において、前記一対の電極が球面で作製されてなり、前記測定機器で測定した前記相互作用力を前記電極の曲率半径で除算し、電極間距離で微分することによって前記ファインバブルの粒度分布を得ることを特徴とするものであってもよい。電極の一方を球面とすることで、より高い精度でファインバブルの粒径及び粒度分布を得ることができる。
さらに、本発明にかかるファインバブルの測定方法において、前記ファインバブルの液を旋回させた状態で前記相互作用力を測定することを特徴とするものであってもよい。かかる構成を採用することによって、ファインバブルを旋回流の中心につかまえやすくなり、マイクロバブル等の比較的大きなバブルであっても、粒度分布を測定することができるようになる。
さらに、本発明にかかるファインバブルの測定方法において、測定時の前記電極間の所定の間隔を得る際に、瞬時に広い間隔から所定の間隔へ移動させることを特徴とするものであってもよい。かかる構成を採用することによって、液内のファインバブルを電極間に配列しやすくすることができる。
また、本発明にかかるファインバブルの測定装置は、ファインバブルを含む液からなる試料を収容する試料容器と、前記試料容器の底面に一体又は底面に配置される下部電極と、前記下部電極の上方に間隔をおいて前記試料内に配置される上部電極と、前記下部電極の位置を変更させるピエゾアクチュエータと、前記下部電極と前記上部電極との間に電圧を印加する電圧源と、前記上部電極に連結され、前記ピエゾアクチュエータの位置変更によって発生する上部電極及び下部電極及びファインバブルの相互作用力を重量変化として測定する重量測定機器と、を備えたことを特徴とする。相互作用力を測定するのに電極の重量変化を測定することによって得るものとしたものである。
さらに、本発明にかかるファインバブルの測定装置において、前記上部電極は、球面であることを特徴とするものであってもよい。
さらに、本発明にかかるファインバブルの測定装置において、前記重量測定器から得られた前記上部電極の重量変化情報とピエゾアクチュエータから得られた振幅情報と、電圧源から得られた印加電圧情報とから粒度分布を算出する粒度分布算出手段を備えたことを特徴とするものであってもよい。
さらに、本発明にかかるファインバブルの測定装置において、前記試料容器に旋回流を発生させる還流ポンプを備えたことを特徴とするものであってもよい。液に旋回流を作ることができ、ファインバブルを旋回流の中心に捕まえやすくなり、マイクロバブル等の比較的大きなバブルであっても、粒度分布を測定することができるようになる。
さらに、本発明にかかるファインバブルの測定装置において、前記下部電極と前記上部電極との距離を瞬時に変更可能な電極間位置変更手段を備えていることを特徴とするものであってもよい。かかる構成を採用することによって、液内のファインバブルを電極間に配列しやすくすることができる。
図1は、本発明にかかるファインバブルの粒度分布測定装置100の模式図である。 図2は、ファインバブルにかかる相互作用の力の関係を模式的に表した図である。 図3は、電極間の距離を変化させた場合のファインバブルの挙動について説明したモデル図である。 図4は、実施例にかかるファインバブルの粒度分布測定装置及び測定方法によって得られた結果を表すグラフである。 図5は、実施例にかかるファインバブルの粒度分布測定装置及び測定方法によって得られた結果を表すグラフである。 図6は、比較例によるファインバブルの粒度分布測定装置及び測定方法によって得られた結果を表すグラフである。 図7は、比較例によって得られた体積粒度分布をマイクロバブルの体積粒度分を除去(補正)したグラフである。
本発明にかかる相互作用力を利用したファインバブルの粒度分布測定方法及び測定装置について説明する。なお、特許請求の範囲及び本明細書において、「相互作用力」とは、上部電極と下部電極の電極間にファインバブルを含む液を挟んだ状態で、上部電極と下部電極の間隔を変化したときの吸引あるいは反発力のことである。本発明は、電場を印加して多くの粒子を配列させ、電極の幅を変化させてこの相互作用力を測定して粒度分布を得るものである。
まず、初めに、本発明の測定に使用されるファインバブルについて説明する。本特許請求の範囲及び測定に使用するファインバブルとは、1μm以下のナノバブル、1μm〜60μm程度のマイクロバブル及び60μm〜500μm程度の大きさのミリバブルを含むものである。また、個々のファインバブルの大きさを「粒度」と呼ぶ。
本発明の粒度分布測定方法及び測定装置100は、主として、0.001μm〜500μm程度の大きさを有するファインバブルの粒径測定に好適に使用することができる。ファインバブルを発生させるのに使用する液は、特に限定するものではなく、光を通しにくい液体、屈折率がファインバブルの屈折率と近接している液体又は黒色濃度が高い液体であってもよい。
次に、ファインバブルの測定装置100について説明する。測定装置100は、図1に示すように、主として、試料を収容する試料容器10、試料容器10の底面に配置される下部電極20及び上部電極25からなる一対の電極、相互作用力を測定する測定機器として電子天秤30、ピエゾステージ40、電圧源(図示しない。)を備えている。その他、任意に測定器具としてマルチメータ、オシロスコープを備えていてもよい。電圧源、ピエゾステージ40及び電子天秤30から得られた印加電圧情報、振幅情報、重量変化情報等のデータを解析する電子計算機等を備えていても良い。
試料容器10は、下部電極20が底面に一体となって作製されている。試料容器10には、粒度が比較的大きいファインバブル測定の場合に、外部に設置した還流ポンプ50と試料容器10内に設置した複数本のパイプ51とこのパイプ51の先端51aからの吹き出し流53により旋回流を発生することにより、ファインバブルが測定領域に適切に供給することができる。なお、還流ポンプ50はファインバブル液の給液にも使用できる。
下部電極20は、平板の金属板で作製されている。真鍮、銅板、アルミニウム、金又はこれらがメッキされた金属板が使用される。好ましくは、金メッキがされた金属板を使用するとよい。
上部電極25は、下部電極20の上方に配置される電極であり、より測定精度を向上させるために、球面又は楕円球面等の中心が突出した湾曲面25aを有する電極板を使用するとよい。例えば球面状のガラス板に金メッキを施したものを使用するとよい。上部電極を球面や楕円球面とすることで、中央部分に効率よくファインバブルを配置させることができるため、正確なファインバブルの相互作用力を測定することができる。上部電極25は、吊り下げ式の電子天秤30に白金等の金属線で吊り下げられており、電子天秤30によって、2つの電極の間隔を1nm〜100nmの間隔で距離を変更させた場合の上部電極25の重量変化を測定することができる。
下部電極20と上部電極25の距離dは、1nm〜1000μmとし、1μm以下のナノバブルを測定する場合は、0.1μm〜10μm程度、1μm〜100μm程度のマイクロバブルを測定する場合は、100〜500μm程度に設定するとよい。
ピエゾステージ40は、ステージ型のピエゾアクチュエータであり、下部電極20が載置され、下部電極20を振動させて上部電極25との距離をナノメートルオーダーで位置を変更させることができる。ピエゾステージ40は、下部電極20と上部電極25との大まかな距離を調整するために手動又は自動のZ軸ステージ60の上に載置して使用してもよい。下部電極20と上部電極25間の距離dの調整はZ軸ステージ60で行うとともに、測定時に最適な下部電極20と上部電極25間の距離dに微調整daする場合には、Z軸ステージ60と一体化したソレノイド61とストッパ62を設けて、ソレノイド61に電流を印荷することにより瞬時的に行なうことができる電極間位置変更手段を設定するとよい。瞬時に電極間の距離を縮めることによって、ファインバブルを効率的に捕まえて、配列させることができる。
次に、以上の測定装置100を使用した粒度分布測定方法について説明する。まず、電圧を印加した下部電極20と上部電極25におけるファインバブルの相互作用力について説明する。電界におけるファインバブルは、下部電極20と上部電極25によって自由な動きが制限される。図2に、この状態における2つのファインバブルにかかる力の関係の模式図が示されている。ファインバブルの分極率は、式1によって表される。

P=χ(εθεE) ・・・・(1)

ここで、χe、εθ、ε及びEは、それぞれ分極率、空間誘電率、媒体の比誘電率、外部磁場を示す。
分極はファインバブルの中心に配置されていると仮定すると、ファインバブルの球体(体積V)の分極率は、PV/3で表される。電解の方向と2つのファインバブルの中心をつなぐ線の角度は、θEC、2つのファインバブルの中心間距離はrとすると、電界Fの方向での球体2から球体1への力及び電場Fの垂直方向の力は、以下の式2及び式3で表される。
Figure 0006502657
次に、相互作用力の測定方法について説明する。図3に、理解容易のため、下部電極20と上部電極25間に存在する3個の同じ径のファインバブルを例としてファインバブルの挙動を示してある。
まず、用意した試料容器10にファインバブルを含む液(試料)を入れる。下部電極20と上部電極25間を所定の距離dにセットし、下部電極20と上部電極25の間に所定の電圧を印加する。すると、液中のファインバブルは、液体の誘電率により分極し、分極したファインバブルは、電極間の電界の方向に配列する(図3のA)。
この状態からピエゾステージ40によって下部電極20を上部電極25に近づくように移動する。すなわち、下部電極20と上部電極25の間の距離dを縮めていくと、反発力が圧縮する方向と反対方向に働く(図3のB)。さらに、距離dを縮めると、圧縮力を維持できない中間のファインバブルが押し出される。ファインバブルが押し出されたスペースでは引力が発生する(図3のC)。さらに、下部電極20と上部電極25との距離dを縮めると、しばらくは吸引力が生じ(図3のD)、その後、ファインバブルが接触し、誘電分極によって、ファインバブルが再配列される(図3のE)。さらに、縮めると、再び、下部電極20と上部電極25の間には、反発力が発生するようになる(図3のF)。実際の液では、複数のファインバブルによって引力と反発力は繰り返し発現する。このファインバブルの相互作用力を電子天秤で上部電極25の重さとして測定し、下部電極20と上部電極25との距離dをピエゾステージ40で時系列的な変化を測定する。反発力と引力の作用力のサイクルと上下電極間の距離は、粒子径と相関関係があることから、その変化量を解析することで粒径及び粒度分布を計算することができる。ナノバブルを測定する場合には、好ましくは1nmの間隔で上下させ、マイクロサイズの粒子の測定では、より駆動距離間隔を大きくする。上下させる時間は数分/回である。例えば、0.5分〜3分/回程度が好ましい。
測定された上部電極の重さは、いわゆるデリャーギンの近似式(式4)を使用することによって、表面間力に変換できる。
Figure 0006502657
ここで、W(D)planeは、相互作用自由エネルギー(無限に離れた半球面と平板から微細な間隔まで近づけた際のエネルギー変化)、F(D)sphereは、下部電極20と上部電極25との相互作用力、Rは、上部電極25の曲率半径である。縦軸にF/Rと横軸に距離dを測定したものでは、表面間力の吸引と反発が振動で表れ、この縦軸を距離で微分すると半球面と平板間にある粒子の反発力あるいは吸引力が示される。こうしてプロットされたグラフのプラスとマイナスとなる間隔が粒子径と考えられる。これらを数百回以上測定することで粒度分布を求めることができる。これらの算出は、電子計算機で行われる。
(実施例)
ナノバブル発生装置(株式会社オーテック社製 OM4−MDG−020)で製造したナノバブル水を試料として、ナノバブル粒径分布を測定した。
測定条件
上部電極 :曲率半径30mm 直径1.4cm、金メッキガラス板
下部電極 :金メッキ金属板
ピエゾステージ:(NEC/TOKEN社製) ストローク17.4±2.0μm
印加電圧 :150DVC
縦軸にF/Rと横軸に距離dを測定したものでは、表面間力の吸引と反発が振動で表れ、この縦軸を距離で微分すると上部電極と下部電極間にある粒子の反発力あるいは吸引力が示される。これを図4に示す。上部電極と下部電極間の最も距離の近い部分の気泡が吸引力あるいは反発力として表れると考えられ、縦線αの間隔が粒子径となる。図4では、左から、はじめにプラスを示して次にマイナスが表れ次にプラスとなる間隔が粒子径と考えられる。この縦線αで書かれた間隔を数百集めて、積算粒度分布のグラフを作成し、50%平均粒径などを得ることができる。こうして得られたファインバブルの積算粒度分布のグラフを図5に示す。
(比較例)
実施例と同様のナノバブル水を用意し、動的光散乱測定装置(大塚電子株式会社 LS−2000F型)を使用して、ナノバブルの粒径分布を測定した。各粒径における粒径個数分布の結果を図6に示す。
動的光散乱法の粒径個数分布の測定結果では、ナノサイズの気泡が回析により、マイクロバブルの領域にもピーク像(虚像)が生じる測定結果となった。この場合、体積分布では、マイクロバブルのピークの体積粒度がかなり大きいため、ナノバブルの体積粒度が過小評価されてしまう。つまり存在しないはずのマイクロバブルがあたかも存在しているかのような測定結果となった。動的散乱法の図の結果から存在しないはずのマイクロバブルの体積粒度分を除去(補正)してナノバブルの体積粒度分布を評価した。その結果を図7に示す。
以上の評価結果から、動的散乱法は、ファインバブルの測定でファインバブルの測定でファインバブルがナノバブルのみの場合は、測定結果の補正評価を行なうことにより、ファインバブル(ナノバブル)の体積粒度分布の測定が可能であるが、ナノバブルとマイクロバブルの両方が混在しているファインバブルの測定は動的散乱法では困難であることを示している。
一方、本発明にかかる測定装置100及び測定方法によれば、測定原理から動的散乱法のような回析による影響を受けることなく、ナノバブル及びマイクロバブルが混在している場合であっても、ナノバブル及びマイクロバブルそれぞれの幅広い粒度の分布を測定することができる。
さらに、本発明にかかる測定装置100及び測定方法によれば、図5及び図7の比較から100nm以下の粒径のファインバブルでは、より高い精度を得ることができる。さらに、液に含まれるファインバブルの濃度が希薄でも、濃厚でも測定することができる。さらに、液が光を通しにくい場合や液の屈折率が気泡と近い場合であっても測定することができる。
なお、本発明は上述した各実施形態に何ら限定されることはなく、本発明の技術的範囲に属する限り種々の態様で実施し得ることはいうまでもない。
上述した実施の形態で示すように、ファインバブルの粒径分布の測定方法及ぶ測定装置として産業上利用可能性がある。
10…試料容器、17…ストローク、20…下部電極、25…上部電極、25a…湾曲面、30…電子天秤、40…ピエゾステージ、50…還流ポンプ、51…パイプ、51a…先端、53…吹き出し流、60…Z軸ステージ、61…ソレノイド、62…ストッパ、100…測定装置


Claims (9)

  1. 一方が測定機器に連結され、間隔を変更可能な一対の電極にファインバブルを有する液を配置し、
    電界を発生させてファインバブルを配列させた状態で、前記間隔を変更させることにより発生する一対の電極間にある前記ファインバブルの相互作用力を測定機器で測定し、
    前記測定機器で測定した前記相互作用力を前記一対の電極間の距離で微分することによって前記ファインバブルの粒度分布を得ることを特徴とするファインバブルの粒度分布測定方法。
  2. 前記一対の電極が球面で作製されてなり、
    前記測定機器で測定した前記相互作用力を前記電極の曲率半径で除算し、電極間の距離で微分することによって前記ファインバブルの粒度分布を得ることを特徴とする請求項1記載のファインバブルの粒度分布測定方法。
  3. 前記ファインバブルの液を旋回させた状態で前記相互作用力を測定することを特徴とする請求項1又は2に記載のファインバブルの粒度分布測定方法。
  4. 測定時の前記電極間の所定の間隔を得る際に、瞬時に広い間隔から所定の間隔へ移動させることを特徴とする1から3のいずれか1項に記載のファインバブルの粒度分布測定方法。
  5. ファインバブルの粒度分布を測定する測定装置において、
    ファインバブルを含む液からなる試料を収容する試料容器と、
    前記試料容器の底面に一体又は底面に配置される下部電極と、
    前記下部電極の上方に間隔をおいて前記試料の中に配置される上部電極と、
    前記下部電極の位置を変更させるピエゾアクチュエータと、
    前記下部電極と前記上部電極との間に電圧を印加する電圧源と、
    前記上部電極に連結され、前記ピエゾアクチュエータの位置変更によって発生する上部
    電極及び下部電極及びファインバブルの相互作用力を重量変化として測定する測定機器と、
    を備えたことを特徴とするファインバブルの粒度分布測定装置。
  6. 前記上部電極は、球面であることを特徴とする請求項5に記載の粒度分布測定装置。
  7. 前記測定機器から得られた前記上部電極の重量変化情報とピエゾアクチュエータから得られた振幅情報と、電圧源から得られた印加電圧情報とから粒度分布を算出する粒度分布算出手段を備えたことを特徴とする請求項5又は6に記載の粒度分布測定装置。
  8. 前記試料容器に旋回流を発生させる還流ポンプを備えたことを特徴とする請求項5から7のいずれか1項に記載の粒度分布測定装置。
  9. 前記下部電極と前記上部電極との距離を瞬時に変更可能な電極間位置変更手段を備えていることを特徴とする請求項5から8のいずれか1項に記載の粒度分布測定装置。
JP2014244324A 2014-12-02 2014-12-02 ファインバブルの粒度分布測定方法及び測定装置 Expired - Fee Related JP6502657B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2014244324A JP6502657B2 (ja) 2014-12-02 2014-12-02 ファインバブルの粒度分布測定方法及び測定装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2014244324A JP6502657B2 (ja) 2014-12-02 2014-12-02 ファインバブルの粒度分布測定方法及び測定装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2016109453A JP2016109453A (ja) 2016-06-20
JP6502657B2 true JP6502657B2 (ja) 2019-04-17

Family

ID=56123716

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2014244324A Expired - Fee Related JP6502657B2 (ja) 2014-12-02 2014-12-02 ファインバブルの粒度分布測定方法及び測定装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP6502657B2 (ja)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN107389489B (zh) * 2017-07-31 2019-08-20 东南大学 一种气固混合物中颗粒物浓度的测量装置及测量方法
CN114705593A (zh) * 2021-10-28 2022-07-05 中国矿业大学 浮选颗粒与气泡间动态相互作用力测试系统及测试方法

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007263876A (ja) * 2006-03-29 2007-10-11 Miyazaki Prefecture レーザ回折・散乱式粒度分布測定法における校正方法および液体中の気泡の体積濃度の測定方法
US8489341B2 (en) * 2008-06-19 2013-07-16 Carefusion 303, Inc. Method and apparatus for volumetric gas in-line sensing
JP5871024B2 (ja) * 2014-03-06 2016-03-01 セイコーエプソン株式会社 液体輸送装置

Also Published As

Publication number Publication date
JP2016109453A (ja) 2016-06-20

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Xing et al. Recent experimental advances for understanding bubble-particle attachment in flotation
Carberry et al. Calibration of optically trapped nanotools
Gunning et al. Atomic force microscopy of emulsion droplets: probing droplet− droplet interactions
JP6910083B2 (ja) 超音波粒子径測定器及び超音波測定装置
CN104568857B (zh) 一种二维光散射静态细胞仪方法及装置
JP6502657B2 (ja) ファインバブルの粒度分布測定方法及び測定装置
JPH02501087A (ja) 懸濁液中の粒子の電気泳動移動度を決定する方法及び装置
Abbireddy et al. A review of modern particle sizing methods
JP4793601B2 (ja) 微粒子の誘電泳動の強さ評価方法
Gerlt et al. Focusing of micrometer-sized metal particles enabled by reduced acoustic streaming via acoustic forces in a round glass capillary
Bogatyr et al. Quantitative acoustophoresis
JP6360735B2 (ja) 細胞の複素弾性率の計測方法および計測システム
JP2018146307A (ja) ゼータ電位測定装置
Pesce et al. Mapping electric fields generated by microelectrodes using optically trapped charged microspheres
Ding et al. New insights into the role of nearby particles in bubble-particle detachment
JPH07318476A (ja) 微粒子分析装置
CN101793663A (zh) 跳跃式多分辨率扫描探针显微镜
Zografov Resonant droplet tensiometry driven by an electric field
JP2015141036A (ja) 探針検査装置、その方法及びプログラム
US11525764B2 (en) Device for quantitative measurement of particle properties
Mukhtar Characterisation of tip wear during AFM probe-based nanomachining
JP4998949B2 (ja) コールター原理及び光散乱の同時測定による粒子分析装置及び方法
Mishra et al. A microfluidic device for the study of the orientational dynamics of microrods
US11874203B2 (en) Nano printing device and Raman analysis apparatus using same
Zembrzycki et al. Development of a hybrid Atomic Force microscope and Optical Tweezers apparatus

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20171128

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20180918

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20180919

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20181023

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20190312

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20190322

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6502657

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees