JP6465973B2 - 原子発光分光計を制御するための機器及び方法 - Google Patents
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 42
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims description 133
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 claims description 75
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 claims description 4
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 150
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 109
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 54
- XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N Argon Chemical compound [Ar] XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 16
- 229910052786 argon Inorganic materials 0.000 description 8
- 230000009849 deactivation Effects 0.000 description 8
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 description 5
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 4
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 4
- 230000035939 shock Effects 0.000 description 4
- 230000008859 change Effects 0.000 description 3
- 239000011261 inert gas Substances 0.000 description 3
- 238000002679 ablation Methods 0.000 description 2
- 230000004913 activation Effects 0.000 description 2
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 2
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 2
- 238000012790 confirmation Methods 0.000 description 2
- 230000006378 damage Effects 0.000 description 2
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 2
- 230000005284 excitation Effects 0.000 description 2
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 2
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 2
- 230000008569 process Effects 0.000 description 2
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 2
- 238000009834 vaporization Methods 0.000 description 2
- 230000008016 vaporization Effects 0.000 description 2
- 206010069808 Electrical burn Diseases 0.000 description 1
- 206010014405 Electrocution Diseases 0.000 description 1
- 208000027418 Wounds and injury Diseases 0.000 description 1
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 description 1
- 230000003213 activating effect Effects 0.000 description 1
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 1
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 1
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 1
- 230000005611 electricity Effects 0.000 description 1
- 238000004993 emission spectroscopy Methods 0.000 description 1
- 230000005281 excited state Effects 0.000 description 1
- 231100001261 hazardous Toxicity 0.000 description 1
- 230000036541 health Effects 0.000 description 1
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 1
- 230000001939 inductive effect Effects 0.000 description 1
- 208000014674 injury Diseases 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000012502 risk assessment Methods 0.000 description 1
- 238000007789 sealing Methods 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
- 238000004611 spectroscopical analysis Methods 0.000 description 1
- 238000012795 verification Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/62—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
- G01N21/66—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light electrically excited, e.g. electroluminescence
- G01N21/67—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light electrically excited, e.g. electroluminescence using electric arcs or discharges
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/28—Investigating the spectrum
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
- G01N27/02—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating impedance
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
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- G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
- G01N27/02—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating impedance
- G01N27/04—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating impedance by investigating resistance
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
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- G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
- G01N27/02—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating impedance
- G01N27/04—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating impedance by investigating resistance
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- Health & Medical Sciences (AREA)
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- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
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- Biochemistry (AREA)
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- Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Electrochemistry (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
- Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
Description
第1の端子と第2の端子との間の電圧に依存する電気的パラメータを測定することと;AESのガス室でのガス圧を測定することと;電気的パラメータを、電気的パラメータの目標値の範囲と比較することと;ガス圧を、ガス圧の目標値の範囲と比較することと;電気的パラメータが電気的パラメータの目標値の範囲内であり、ガス圧がガス圧の目標値の範囲内である場合に、電極に接続された電源に通電することと;第2の時間で、ランプ素子の第2の位置を測定することと;第1の位置と第2の位置との間の差異を比較することによって、クランプ素子の変位を算出することと;変位を、変位の目標値の範囲と比較することと;差異が変位の目標値の範囲内ではない場合に、AESの電極の通電を終了させることとを含む。このステップのシーケンスは、AESが安全に操作されることができるかを判定するために特に有利であり得る。
Claims (18)
- 原子発光分光計(AES)の試料ホルダ上に配置された試料を分析するために、前記AESの安全な動作を確立するための制御器であって、
前記試料ホルダ上の試料の配置を示す2つ以上の試験パラメータの各々の測定値を受信するように構成され、
前記2つ以上の試験パラメータは、少なくとも2つの異なるタイプの試験パラメータであり、前記少なくとも2つの異なるタイプの試験パラメータの各々は、
前記試料ホルダの第1の端子と第2の端子との間の電流に依存する電気的パラメータと、
前記AESの電極を収容するガス室内のガス圧と、
前記試料ホルダのクランプ素子の角変位,又は,前記試料ホルダの部分又は前記試料自体の横方向変位と、からなる群から選択され、
前記制御器は、前記2つ以上の試験パラメータの各々を、各試験パラメータに対する目標値の範囲と比較して、前記試料が前記試料ホルダ上に正しく配置されているかを判定するように構成され、
前記制御器は、前記2つ以上の試験パラメータのうち1つ以上が、その試験パラメータに対する目標値の範囲内ではない場合、前記AESの電極を無効化するように構成されている、制御器。 - 前記2つ以上の試験パラメータが、
前記試料ホルダの第1の端子と第2の端子との間の電流に依存する電気的パラメータと、
前記AESの電極を収容するガス室内のガス圧と、
前記試料ホルダのクランプ素子の角変位,又は,前記試料ホルダの部分又は前記試料自体の横方向変位と、を含む3つの試験パラメータを備える、請求項1に記載の制御器。 - 前記2つ以上の試験パラメータのうち少なくとも1つが、前記電気的パラメータである、請求項1に記載の制御器。
- 前記第1の端子が、前記試料ホルダの試料受け器にあり、前記第2の端子が、前記試料ホルダのクランプ素子にあり、前記クランプ素子が、前記試料を前記試料ホルダの試料受け器に取り付けるためのものである、請求項2又は3に記載の制御器。
- 前記2つ以上の試験パラメータのうち少なくとも1つが前記ガス圧である、請求項1に記載の制御器。
- 前記ガス圧が、ある時間間隔の経過後に測定される、請求項2又は5に記載の制御器。
- 前記2つ以上の試験パラメータのうち少なくとも1つが前記角変位又は横方向変位である、請求項1に記載の制御器。
- 前記角変位が、第1の時間に測定された前記試料ホルダのクランプ素子の第1の位置と、第2の時間に測定された前記試料ホルダの前記クランプ素子の第2の位置と、の間の差異と等しく、前記クランプ素子が、前記試料を前記試料ホルダの試料受け器に取り付けるためのものである、請求項2又は7に記載の制御器。
- 請求項1〜8のいずれか1項に記載の制御器を備える、原子発光分光計(AES)。
- 原子発光分光計(AES)の試料ホルダ上に配置された試料を分析するために、前記AESの安全な動作を確立するための方法であって、
制御器が、前記試料ホルダ上の試料の配置を示す2つ以上の試験パラメータの各々を測定するステップであって、前記2つ以上の試験パラメータは、少なくとも2つの異なるタイプの試験パラメータであり、前記少なくとも2つの異なるタイプの試験パラメータの各々は、前記試料ホルダの第1の端子と第2の端子との間の電流に依存する電気的パラメータと、前記AESの電極を収容するガス室内のガス圧と、前記試料ホルダのクランプ素子の角変位,又は,前記試料ホルダの部分又は前記試料自体の横方向変位と、からなる群から選択される、前記測定するステップと、
制御器が、前記2つ以上の試験パラメータの各々を、各試験パラメータに対する目標値の範囲と比較して、前記試料が前記試料ホルダ上に正しく配置されているかを判定するステップと、
制御器が、前記2つ以上の試験パラメータのうち1つ以上が、その試験パラメータに対する目標値の範囲内ではない場合、前記AESの電極を無効化するステップと、を含む、方法。 - 前記2つ以上の試験パラメータが、
前記試料ホルダの第1の端子と第2の端子との間の電流に依存する電気的パラメータと、
前記AESの電極を収容するガス室内のガス圧と、
前記試料ホルダのクランプ素子の角変位,又は,前記試料ホルダの部分又は前記試料自体の横方向変位と、を含む3つの試験パラメータを備える、請求項10に記載の方法。 - 前記2つ以上の試験パラメータのうち少なくとも1つが、前記電気的パラメータである、請求項10に記載の方法。
- 前記第1の端子が、前記試料ホルダの試料受け器であり、前記第2の端子が、前記試料ホルダのクランプ素子にあり、前記クランプ素子が、前記試料を前記試料受け器に取り付けるためのものである、請求項11又は12に記載の方法。
- 前記2つ以上の試験パラメータのうち少なくとも1つが前記ガス圧である、請求項10に記載の方法。
- 前記ガス圧が、ある時間間隔の経過後に測定される、請求項11又は14に記載の方法。
- 前記2つ以上の試験パラメータのうち少なくとも1つが前記角変位又は横方向変位である、請求項10に記載の方法。
- 前記角変位が、第1の時間に測定された前記試料ホルダのクランプ素子の第1の位置と、第2の時間に測定された前記試料ホルダの前記クランプ素子の第2の位置と、の間の差異と等しく、前記第1の位置及び第2の位置が、前記試料ホルダの試料受け器を基準として測定され、前記クランプ素子が、前記試料を前記試料受け器に取り付けるためのものである、請求項11又は16に記載の方法。
- 前記方法が、時間間隔をおいて繰り返される、請求項10〜17のいずれか1項に記載の方法。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
GB1419888.1A GB2532068B (en) | 2014-11-07 | 2014-11-07 | Apparatus and method for controlling an atomic emission spectrometer |
GB1419888.1 | 2014-11-07 | ||
PCT/EP2015/075908 WO2016071493A1 (en) | 2014-11-07 | 2015-11-06 | Apparatus and method for controlling an atomic emission spectrometer |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2017534058A JP2017534058A (ja) | 2017-11-16 |
JP6465973B2 true JP6465973B2 (ja) | 2019-02-06 |
Family
ID=52118183
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2017524371A Active JP6465973B2 (ja) | 2014-11-07 | 2015-11-06 | 原子発光分光計を制御するための機器及び方法 |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US10067062B2 (ja) |
EP (1) | EP3215819B1 (ja) |
JP (1) | JP6465973B2 (ja) |
CN (1) | CN107371377B (ja) |
GB (2) | GB2532068B (ja) |
WO (1) | WO2016071493A1 (ja) |
ZA (1) | ZA201703668B (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN112067391B (zh) * | 2020-09-11 | 2023-10-10 | 钢研纳克检测技术股份有限公司 | 用于材料显微表征的辉光放电溅射样品制备的装置及方法 |
Family Cites Families (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE2513267C2 (de) | 1975-03-26 | 1977-05-18 | Kloeckner Werke Ag | Vorrichtung zur steuerung der erzeugung unipolarer funkenentladungen von legierungskomponenten von materialproben aus metall und/oder der auswertung der spektrallinien der mittels der funkenentladungen erzeugten beugungsspektren |
US4641968A (en) * | 1984-12-17 | 1987-02-10 | Baird Corporation | Mobile spectrometric apparatus |
GB9000547D0 (en) * | 1990-01-10 | 1990-03-14 | Vg Instr Group | Glow discharge spectrometry |
JPH10281995A (ja) * | 1997-04-08 | 1998-10-23 | Kawasaki Steel Corp | 発光分光分析方法及び装置 |
AUPQ944500A0 (en) * | 2000-08-16 | 2000-09-07 | Gbc Scientific Equipment Pty Ltd | Atomic absorption spectrometer |
JP2003172703A (ja) * | 2001-12-06 | 2003-06-20 | Shimadzu Corp | 可搬型発光分析装置 |
JP4247347B2 (ja) * | 2005-05-02 | 2009-04-02 | 株式会社リガク | グロー放電発光分光分析用試料位置決め治具ならびに前記治具を備えたグロー放電発光分光分析装置および前記治具を用いる試料位置決め方法 |
DE102005057919B4 (de) * | 2005-12-02 | 2021-01-21 | Spectro Analytical Instruments Gmbh | Vorrichtung zur Analyse einer Festkörperprobe und Betriebsverfahren |
US8296088B2 (en) * | 2006-06-02 | 2012-10-23 | Luminex Corporation | Systems and methods for performing measurements of one or more materials |
CN101617219B (zh) * | 2007-02-23 | 2012-11-21 | 塞莫尼根分析技术有限责任公司 | 手持的自容式光发射光谱(oes)分析仪 |
US8647273B2 (en) * | 2007-06-21 | 2014-02-11 | RF Science & Technology, Inc. | Non-invasive weight and performance management |
TWI571633B (zh) * | 2011-07-25 | 2017-02-21 | 伊雷克托科學工業股份有限公司 | 用於特徵化物件及監測製造製程之方法及設備 |
-
2014
- 2014-11-07 GB GB1419888.1A patent/GB2532068B/en active Active
- 2014-11-07 GB GB1618712.2A patent/GB2541574B/en active Active
-
2015
- 2015-11-06 WO PCT/EP2015/075908 patent/WO2016071493A1/en active Application Filing
- 2015-11-06 JP JP2017524371A patent/JP6465973B2/ja active Active
- 2015-11-06 CN CN201580060604.8A patent/CN107371377B/zh active Active
- 2015-11-06 US US15/524,915 patent/US10067062B2/en active Active
- 2015-11-06 EP EP15790582.9A patent/EP3215819B1/en active Active
-
2017
- 2017-05-29 ZA ZA2017/03668A patent/ZA201703668B/en unknown
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN107371377B (zh) | 2021-01-26 |
US10067062B2 (en) | 2018-09-04 |
ZA201703668B (en) | 2018-12-19 |
GB2541574A (en) | 2017-02-22 |
GB2541574B (en) | 2018-02-21 |
GB201419888D0 (en) | 2014-12-24 |
WO2016071493A1 (en) | 2016-05-12 |
CN107371377A (zh) | 2017-11-21 |
GB2532068A (en) | 2016-05-11 |
EP3215819A1 (en) | 2017-09-13 |
GB2532068B (en) | 2017-05-31 |
JP2017534058A (ja) | 2017-11-16 |
US20170322161A1 (en) | 2017-11-09 |
EP3215819B1 (en) | 2019-04-17 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20170706 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20180322 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20180409 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20181217 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20190108 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6465973 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |