JP6412786B2 - 搬送方法 - Google Patents

搬送方法 Download PDF

Info

Publication number
JP6412786B2
JP6412786B2 JP2014245407A JP2014245407A JP6412786B2 JP 6412786 B2 JP6412786 B2 JP 6412786B2 JP 2014245407 A JP2014245407 A JP 2014245407A JP 2014245407 A JP2014245407 A JP 2014245407A JP 6412786 B2 JP6412786 B2 JP 6412786B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
support plate
support
chamber
robot arm
wafer
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2014245407A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2016111109A (ja
Inventor
公宏 中田
公宏 中田
加藤 茂
茂 加藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd
Original Assignee
Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd filed Critical Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd
Priority to JP2014245407A priority Critical patent/JP6412786B2/ja
Priority to TW104138305A priority patent/TWI663677B/zh
Priority to US14/945,959 priority patent/US10239211B2/en
Priority to KR1020150170486A priority patent/KR102404840B1/ko
Publication of JP2016111109A publication Critical patent/JP2016111109A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6412786B2 publication Critical patent/JP6412786B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B25HAND TOOLS; PORTABLE POWER-DRIVEN TOOLS; MANIPULATORS
    • B25JMANIPULATORS; CHAMBERS PROVIDED WITH MANIPULATION DEVICES
    • B25J9/00Programme-controlled manipulators
    • B25J9/16Programme controls
    • B25J9/1679Programme controls characterised by the tasks executed
    • B25J9/1682Dual arm manipulator; Coordination of several manipulators
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B32LAYERED PRODUCTS
    • B32BLAYERED PRODUCTS, i.e. PRODUCTS BUILT-UP OF STRATA OF FLAT OR NON-FLAT, e.g. CELLULAR OR HONEYCOMB, FORM
    • B32B38/00Ancillary operations in connection with laminating processes
    • B32B38/18Handling of layers or the laminate
    • B32B38/1825Handling of layers or the laminate characterised by the control or constructional features of devices for tensioning, stretching or registration
    • B32B38/1833Positioning, e.g. registration or centering
    • B32B38/1841Positioning, e.g. registration or centering during laying up
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B32LAYERED PRODUCTS
    • B32BLAYERED PRODUCTS, i.e. PRODUCTS BUILT-UP OF STRATA OF FLAT OR NON-FLAT, e.g. CELLULAR OR HONEYCOMB, FORM
    • B32B41/00Arrangements for controlling or monitoring lamination processes; Safety arrangements
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/677Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations
    • H01L21/67739Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations into and out of processing chamber
    • H01L21/67742Mechanical parts of transfer devices
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/677Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations
    • H01L21/67739Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations into and out of processing chamber
    • H01L21/67748Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations into and out of processing chamber horizontal transfer of a single workpiece
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/683Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping
    • H01L21/6835Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using temporarily an auxiliary support
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/683Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping
    • H01L21/687Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using mechanical means, e.g. chucks, clamps or pinches
    • H01L21/68714Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using mechanical means, e.g. chucks, clamps or pinches the wafers being placed on a susceptor, stage or support
    • H01L21/68742Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using mechanical means, e.g. chucks, clamps or pinches the wafers being placed on a susceptor, stage or support characterised by a lifting arrangement, e.g. lift pins
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B32LAYERED PRODUCTS
    • B32BLAYERED PRODUCTS, i.e. PRODUCTS BUILT-UP OF STRATA OF FLAT OR NON-FLAT, e.g. CELLULAR OR HONEYCOMB, FORM
    • B32B38/00Ancillary operations in connection with laminating processes
    • B32B38/18Handling of layers or the laminate
    • B32B2038/1891Using a robot for handling the layers
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B32LAYERED PRODUCTS
    • B32BLAYERED PRODUCTS, i.e. PRODUCTS BUILT-UP OF STRATA OF FLAT OR NON-FLAT, e.g. CELLULAR OR HONEYCOMB, FORM
    • B32B2309/00Parameters for the laminating or treatment process; Apparatus details
    • B32B2309/02Temperature
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B32LAYERED PRODUCTS
    • B32BLAYERED PRODUCTS, i.e. PRODUCTS BUILT-UP OF STRATA OF FLAT OR NON-FLAT, e.g. CELLULAR OR HONEYCOMB, FORM
    • B32B2309/00Parameters for the laminating or treatment process; Apparatus details
    • B32B2309/60In a particular environment
    • B32B2309/68Vacuum
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B32LAYERED PRODUCTS
    • B32BLAYERED PRODUCTS, i.e. PRODUCTS BUILT-UP OF STRATA OF FLAT OR NON-FLAT, e.g. CELLULAR OR HONEYCOMB, FORM
    • B32B2457/00Electrical equipment
    • B32B2457/14Semiconductor wafers
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B32LAYERED PRODUCTS
    • B32BLAYERED PRODUCTS, i.e. PRODUCTS BUILT-UP OF STRATA OF FLAT OR NON-FLAT, e.g. CELLULAR OR HONEYCOMB, FORM
    • B32B37/00Methods or apparatus for laminating, e.g. by curing or by ultrasonic bonding
    • B32B37/0007Methods or apparatus for laminating, e.g. by curing or by ultrasonic bonding involving treatment or provisions in order to avoid deformation or air inclusion, e.g. to improve surface quality
    • B32B37/003Methods or apparatus for laminating, e.g. by curing or by ultrasonic bonding involving treatment or provisions in order to avoid deformation or air inclusion, e.g. to improve surface quality to avoid air inclusion
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B32LAYERED PRODUCTS
    • B32BLAYERED PRODUCTS, i.e. PRODUCTS BUILT-UP OF STRATA OF FLAT OR NON-FLAT, e.g. CELLULAR OR HONEYCOMB, FORM
    • B32B37/00Methods or apparatus for laminating, e.g. by curing or by ultrasonic bonding
    • B32B37/0046Methods or apparatus for laminating, e.g. by curing or by ultrasonic bonding characterised by constructional aspects of the apparatus
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B32LAYERED PRODUCTS
    • B32BLAYERED PRODUCTS, i.e. PRODUCTS BUILT-UP OF STRATA OF FLAT OR NON-FLAT, e.g. CELLULAR OR HONEYCOMB, FORM
    • B32B37/00Methods or apparatus for laminating, e.g. by curing or by ultrasonic bonding
    • B32B37/06Methods or apparatus for laminating, e.g. by curing or by ultrasonic bonding characterised by the heating method
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B32LAYERED PRODUCTS
    • B32BLAYERED PRODUCTS, i.e. PRODUCTS BUILT-UP OF STRATA OF FLAT OR NON-FLAT, e.g. CELLULAR OR HONEYCOMB, FORM
    • B32B37/00Methods or apparatus for laminating, e.g. by curing or by ultrasonic bonding
    • B32B37/10Methods or apparatus for laminating, e.g. by curing or by ultrasonic bonding characterised by the pressing technique, e.g. using action of vacuum or fluid pressure
    • GPHYSICS
    • G05CONTROLLING; REGULATING
    • G05BCONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
    • G05B2219/00Program-control systems
    • G05B2219/30Nc systems
    • G05B2219/39Robotics, robotics to robotics hand
    • G05B2219/39117Task distribution between involved manipulators
    • GPHYSICS
    • G05CONTROLLING; REGULATING
    • G05BCONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
    • G05B2219/00Program-control systems
    • G05B2219/30Nc systems
    • G05B2219/39Robotics, robotics to robotics hand
    • G05B2219/39121Two manipulators operate on same object
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2221/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof covered by H01L21/00
    • H01L2221/67Apparatus for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L2221/683Apparatus for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping
    • H01L2221/68304Apparatus for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using temporarily an auxiliary support
    • H01L2221/68327Apparatus for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using temporarily an auxiliary support used during dicing or grinding
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10STECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10S901/00Robots
    • Y10S901/02Arm motion controller
    • Y10S901/06Communication with another machine
    • Y10S901/08Robot

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Robotics (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
  • Manipulator (AREA)
  • Fluid Mechanics (AREA)

Description

本発明は、基板と支持体とを貼り合わせる貼付装置および当該貼付装置における搬送方法に関する。
携帯電話、デジタルAV機器およびICカード等の高機能化に伴い、搭載される半導体シリコンチップ(以下、チップ)を小型化および薄板化することによって、パッケージ内にチップを高集積化する要求が高まっている。パッケージ内のチップの高集積化を実現するためには、チップの厚さを25〜150μmの範囲にまで薄くする必要がある。
しかしながら、チップのベースとなる半導体ウエハ(以下、ウエハ)は、研削することにより薄化され、その強度は弱くなり、ウエハにクラックまたは反りが生じやすくなる。また、薄板化することによって強度が弱くなったウエハを自動搬送することは困難であるため、人手によって搬送しなければならず、その取り扱いが煩雑であった。
そのため、研削するウエハにサポートプレートと呼ばれる、ガラスまたは硬質プラスチック等からなるプレートを貼り合わせることによって、ウエハの強度を保持し、クラックの発生およびウエハの反りを防止するウエハサポートシステムが開発されている。ウエハサポートシステムによりウエハの強度を維持することができるため、薄板化した半導体ウエハの搬送を自動化することができる。
ウエハとサポートプレートとは、粘着テープ、熱可塑性樹脂および接着剤等を用いて貼り合わせられている。サポートプレートが貼り付けられたウエハを薄板化した後、ウエハをダイシングする前にサポートプレートを基板から剥離する。
ウエハにサポートプレートを貼り付ける手段として、特許文献1には、ウエハとサポートプレートとを貼り合わせる前にウエハとサポートプレートとを所定位置で重ね合わせる、重ね合わせユニットを備えた貼り合わせ装置が開示されている。また、特許文献2には、上記基板と上記支持体との貼り合わせに先立って上記基板と上記支持体との位置合わせを行う位置合わせ手段を有する、減圧可能な第1の処理室と、位置合わせされた上記基板と上記支持体とを貼り合わせる貼り合わせ手段を有する、減圧可能な第2の処理室とを備えており、上記第1の処理室および上記第2の処理室は、位置合わせされた少なくとも一組の上記基板および上記支持体が、上記第1の処理室から上記第2の処理室に減圧下で移動可能となるように形成されている貼り合わせ装置が開示されている。
特開2008−182127号公報(2008年8月7日公開) 特開2012−59758号公報(2012年3月22日公開) 特開2009−212196号公報(2009年9月17日公開)
本発明者らは、特許文献1、2に記載の装置をさらに改良すべく、基板と支持体との重ね合わせを行う重ね合わせ室(上記第1の処理室に対応)と、重ね合わされた基板と支持体とを貼り合わせる貼り合わせ室(上記第2の処理室に対応)とを備えた貼付装置について鋭意検討を重ねたところ、条件によっては、以下のような問題が生じ得ることを独自に見出した。
すなわち、このような貼付装置では、通常、貼り合わせ室内の環境を維持するため、貼り合わせ室において貼り合わせた基板と支持体との積層体を、一旦、重ね合わせ室に搬送してから、搬出するようになっている。このとき、積層体は、重ね合わせ室内の所定の部位に一時的に載置されるが、貼り合わせ後の積層体は高温である場合が多いため、当該所定の部位は加熱される場合がある。
そして、新たな重ね合わせを行うための支持体を重ね合わせ室に搬入するとき、プロセス上の都合により、下面に接着層が形成された支持体を上記所定の部位上に載置する場合がある。その場合、上記特定の部位が加熱されていると、上記接着層が軟化して上記所定の部位にくっつくおそれがある。
本発明は、上記問題に鑑みてなされたものであり、その主たる目的は、基板と支持体とを貼り合わせる貼付装置において、基板と支持体とを貼り合わせるための接着層の意図しない軟化を防ぐための技術を提供することにある。
上記課題を解決するため、本発明に係る搬送方法は、基板と支持体との重ね合わせを行う重ね合わせ室から、重ね合わせた該基板および該支持体を、該基板と該支持体との貼り合わせを行う貼り合わせ室へ、第1ロボットアームによって搬送する第1搬送工程、該貼り合わせ室から、貼り合わされた積層体を、該重ね合わせ室へ、第1ロボットアームによって搬送する第2搬送工程、該重ね合わせ室に搬送された該積層体を、第1ロボットアームから第2ロボットアームへ直接受け渡す受け渡し工程、および、第2ロボットアームに受け渡された該積層体を、該重ね合わせ室から外部へ搬出する搬出工程を含む。
また、本発明に係る貼付装置は、基板と支持体との重ね合わせを行う重ね合わせ室、重ね合わせた該基板と該支持体との貼り合わせを行い、積層体を得る貼り合わせ室、重ね合わせた該基板および該支持体を該重ね合わせ室から該貼り合わせ室へ搬送し、該貼り合わせ室から、該積層体を、該重ね合わせ室へ搬送する、第1ロボットアーム、および、該重ね合わせ室に搬送された該積層体を、第1ロボットアームから直接受け渡され、該積層体を、該重ね合わせ室から外部へ搬出する第2ロボットアームを備えている。
本発明によれば、貼り合わせ室から重ね合わせ室に積層体を搬送する第1ロボットアームから、重ね合わせ室から外部へ積層体を搬出する第2ロボットアームへ、積層体を直接受け渡すことにより、重ね合わせ室内において特定の部位が加熱されることを避け、基板と支持体とを貼り合わせるための接着層の意図しない軟化を防ぐことができる。
一実施形態における本発明の貼付装置の要部の構成を上方から見た図である。 一実施形態における本発明の貼付装置を含むシステム全体の構成を示す図である。 一実施形態における本発明の貼付装置の第1ロボットアームの構成を示す図であり、(a)は上面図、(b)は側面図である。 他の実施形態における本発明の貼付装置の第1ロボットアームの構成を示す図であり、(a)は上面図、(b)は側面図である。 一実施形態における本発明の貼付装置の内部構成を側方から見た図である。 一実施形態における本発明の搬送方法の一工程での貼付装置の各構成の状態を示す図である。 一実施形態における本発明の搬送方法の一工程での貼付装置の各構成の状態を示す図である。 一実施形態における本発明の搬送方法の一工程での貼付装置の各構成の状態を示す図である。 一実施形態における本発明の搬送方法の一工程での貼付装置の各構成の状態を示す図である。 一実施形態における本発明の搬送方法の一工程での貼付装置の各構成の状態を示す図である。 一実施形態における本発明の搬送方法の一工程での貼付装置の各構成の状態を示す図である。 一実施形態における本発明の搬送方法の一工程での貼付装置の各構成の状態を示す図である。 一実施形態における本発明の搬送方法の一工程での貼付装置の各構成の状態を示す図である。 一実施形態における本発明の搬送方法の一工程での貼付装置の各構成の状態を示す図である。 一実施形態における本発明の搬送方法の一工程での貼付装置の各構成の状態を示す図である。 参考としての搬送方法の一工程での貼付装置の各構成の状態を示す図である。 参考としての搬送方法において、支持体と支持ピンとがくっついてしまう問題を説明する図である。 支持ピンの温度の最適化のための実験結果を示す図である。
本発明に係る貼付装置および搬送方法の一実施形態について、図1〜図15および図18に基づいて説明すれば以下の通りである。
〔1.貼付装置〕
本発明に係る貼付装置は、基板と支持体との重ね合わせを行う重ね合わせ室、重ね合わせた該基板と該支持体との貼り合わせを行い、積層体を得る貼り合わせ室、重ね合わせた該基板および該支持体を該重ね合わせ室から該貼り合わせ室へ搬送し、該貼り合わせ室から、該積層体を、該重ね合わせ室へ搬送する、第1ロボットアーム、および、該重ね合わせ室に搬送された該積層体を、第1ロボットアームから直接受け渡され、該積層体を、該重ね合わせ室から外部へ搬出する第2ロボットアームを備えている。
本実施の形態では、サポートプレート(支持体)41にウエハ(基板)42を一時的に貼り合わせる処理を例に挙げて説明する。すなわち、サポートプレート41は、ウエハ42の薄化、搬送、実装等のプロセス時に、ウエハ42の破損または変形を防ぐためにウエハ42を支持するためのものである。サポートプレート41は、例えば、ガラス、シリコン等からなる。また、サポートプレート41のウエハ42と接合される側の面には、光によって変質する分離層等の機能層が形成されていてもよい。なお、本明細書では、サポートプレート41とウエハ42とを重ね合わせたものを、本接合の前後に関わらずサポートプレート積層ウエハ40と呼ぶ。
図2は、本実施の形態における貼付装置2を含むシステム1全体を示す構成図であり、システム1を真上から見た概略の構成を示している。図2に示されるように、システム1は、貼付装置2、プリアライナー3、外部ロボットアーム(第2ロボットアーム)4および外部ロボットアーム走行路5を備えている構成である。図2には、さらに、システム1が備えているFOUPオープナー50、サポートプレート41に接着層を塗布するスピンナー52、塗布された接着層を硬化させるベークプレート51、外部ロボットアーム54、およびサポートプレート41を外部ロボットアーム4に引き渡すためのパスライン53、が図示されている。
貼付装置2は、ロードロック室(重ね合わせ室)6および接合室(貼り合わせ室)7を含んで構成されている。ロードロック室6および接合室7は、これに限定されるものではないが、例えば、一つの処理室の内部を二つの処理室に仕切る壁を設けた構造となっている。このほかにもロードロック室6および接合室7は、ロードロック室6と接合室7とがそれぞれの側面において隙間なく互いに接している構造であってもよい。ロードロック室6および接合室7の境界には、ロードロック室6および接合室7間でサポートプレート積層ウエハ(積層体)40の受け渡しを行うためのゲート8が設けられている。ゲート8はシャッターによって開閉が制御されている。また、ロードロック室6には、貼付装置2と外部ロボットアーム4との間でサポートプレート41、ウエハ42およびサポートプレート積層ウエハ40の受け渡しを行うための開閉可能な受け渡し窓9が設けられている。ロードロック室6および接合室7にはそれぞれ、公知の減圧ポンプが設けられており(図示せず)、各室の内部圧の状態を独立に制御することができる。
接合室7が減圧可能な構成であるため、減圧雰囲気下においてウエハ42とサポートプレート41とを接着層を介して貼り合わせることができる。減圧雰囲気下において接着層にウエハを圧着させることによって、ウエハ表面の凹凸パターンの窪みに空気が存在しない状態において、接着層を当該窪みに入り込ませることができるため、接着層とウエハとの間の気泡の発生をより確実に防止することが可能である。
ゲート8は、シャッターが開いた状態で、位置合わせがなされたサポートプレート積層ウエハ40をロードロック室6から接合室7に移動させることができるように、また、接合後のサポートプレート積層ウエハ40を接合室7からロードロック室6に移動させることができるように形成されている。ロードロック室6および接合室7の何れも減圧させた状態でシャッターを開けることにより、接合前のサポートプレート積層ウエハ40をロードロック室6から接合室7に減圧下で移動させることができる構造となっている。
貼付装置2にはさらにゲート8を介してロードロック室6および接合室7間でサポートプレート積層ウエハ40の受け渡しを行う内部ロボットアーム(第1ロボットアーム)10が設けられている。内部ロボットアーム10の詳細は後述する。
ロードロック室6には、ウエハ42とサポートプレート41との貼り合わせに先立ってウエハ42とサポートプレート41との重ね合わせを行うための重ね合わせ機構が配設されている。外部ロボットアーム4によってロードロック室6に搬入されるサポートプレート41には、スピンナー52およびベークプレート51によって接着層が形成されており、ロードロック室6では、当該接着層を挟むようにウエハ42とサポートプレート41とが重ね合わされる。重ね合わせ機構の詳細については後述する。
接合室7には、重ね合わされたウエハ42とサポートプレート41(サポートプレート積層ウエハ40)を貼り合わせるための貼り合わせ機構が配設されている。接合室7では、ウエハ42とサポートプレート41とは、熱圧着される。貼り合わせ機構の詳細については後述する。
ここで、上述の構成を有する貼付装置2によれば、接合室7内部の圧状態とロードロック室6内部の圧状態とを独立に制御することができる。すなわち、接合室7を常に真空状態にしておく一方で、ロードロック室6内部を真空にしたり大気圧にしたりすることができる。そのため、貼付装置2が外部ロボットアーム4との間で、ウエハ42、サポートプレート41およびサポートプレート積層ウエハ40の受け渡しを行うために大気圧にしておく必要がある場合には、ロードロック室6のみを大気圧にして、接合室7を真空状態に維持しておくことができる。そして、ロードロック室6と接合室7との間でサポートプレート積層ウエハ40の受け渡しを行うときには、ロードロック室6を真空状態にした後でゲート8のシャッターを開けることにより、接合室7を真空状態に維持した状態で受け渡しを行うことができる。以上によれば、接合室7を常に真空とすることができるため、プレスプレートに温度変化が生じるのを防ぐことができ、これにより貼り合わせの精度が低下することを防ぐことができる。
また、ロードロック室6を大気開放し、再び真空にする間にも、接合室7においては真空中でウエハ42とサポートプレート41との貼り合わせ(接合)を行うことができる。これに対し、サポートプレート積層ウエハ40の次工程への搬送のために貼り合わせ部分も大気開放する必要がある構成では、大気開放してサポートプレート積層ウエハ40の次工程へ搬送している間、貼り合わせの処理を進めることができない。そのため、システム1は、貼り合わせ部分も大気開放する必要がある構成と比較して、全体の処理時間を短縮することができる。
具体例を挙げて説明すれば、貼り合わせ部分も大気開放する必要がある構成を用いた場合、全体の処理時間は、貼り合わせ時間のほかにその他の動作時間として3分間を要していた。一方で、システム1を用いた場合には、貼り合わせ時間のほかのその他の動作時間は1分間であった。すなわち、1回の貼り合わせ処理において、処理時間を2分間短縮することができている。
プリアライナー3としては、例えば、上記特許文献3に開示された吸着装置をサポートプレート41およびウエハ42のアラインメントのために用いることができる。
外部ロボットアーム4は、サポートプレート41、ウエハ42およびサポートプレート積層ウエハ40を持ち運びできる構成を有しており、貼付装置2との間で、サポートプレート41、ウエハ42およびサポートプレート積層ウエハ40の受け渡しが可能な構成となっている。外部ロボットアーム4は外部ロボットアーム走行路5上を移動する。このような機能を担う外部ロボットアーム4および外部ロボットアーム走行路5は、従来公知の技術によって準備することができる。
ベークプレート51は、ウエハに塗布した接着層を硬化させるユニットである。
<内部ロボットアーム>
貼付装置2は、ロードロック室6と接合室7との間でサポートプレート積層ウエハ40を移動させる内部ロボットアーム10を備えている。図1は、内部ロボットアーム10を含めた貼付装置2の内部構成を上方から見た構成図である。内部ロボットアーム10は、サポートプレート積層ウエハ40をロードロック室6と接合室7との間で移動させることができる構成である限り、具体的な機構に特に制限はない。本実施の形態では、図1に示すように、内部ロボットアーム10は、アーム11およびアーム旋回軸12によって構成されている。内部ロボットアーム10は、サポートプレート積層ウエハ40をその下面から支持することができるアーム11のアーム旋回軸12を回転中心とした回動によって、サポートプレート積層ウエハ40を移動させる機構となっている。詳しくは後述するが、本実施の形態では、回動の旋回軸が共通する2つの内部ロボットアーム10が設けられている。アーム旋回軸12はロードロック室6側に設けられているが、接合室7側に設けられた構成であってもよい。ロードロック室6と外部ロボットアーム4との間での受け渡しのストロークを短くすることができるという観点から、アーム旋回軸12は、受け渡し窓9が形成されている側面に近い側に形成されていることが好ましい。図1中、「A」で示す実線は、アーム11のロードロック室6での位置(ロードロック室受け渡し位置)を表しており、「B」で示す二点鎖線は、アーム11の待機位置を表しており、「C」で示す二点鎖線は、アーム11の接合室7での位置(接合室受け渡し位置)を表している。
アーム11の回動速度は状況に応じた速度を設定することができる。そのため、アーム11がサポートプレート積層ウエハ40を保持しているときには、アーム11を低速で回動させることができ、サポートプレート積層ウエハ40を保持していないときには、アーム11を高速で回動させることができる。また、アーム11の回動の立ち上がりと停止とがスムーズになるように加減速を制御することができる。
図1に示すように、ゲート8は、シャッターが開いた状態において、回動するアーム11がゲート8を通過してサポートプレート積層ウエハ40を接合室受け渡し位置Cにまで運べるような幅の開口となっている。ゲート8の開閉には従来公知の手段を用いることができ、例えばゲートバルブ構造を適用することができる。
また、内部ロボットアーム10は、回動するアーム11がサポートプレート積層ウエハ40をロードロック室受け渡し位置Aに運んだ状態において、外部ロボットアーム4に対して、サポートプレート積層ウエハ40を直接受け渡すようになっている。したがって、受け渡し窓9は、外部ロボットアーム4を、ロードロック室受け渡し位置Aのサポートプレート積層ウエハ40を直接受け取ることができる位置に挿入可能なように設けられている。
図3は、サポートプレート積層ウエハ40を保持している状態の内部ロボットアーム10を示す図であり、(a)は上面を図示しており、(b)は側面を図示している。図3(a)および図3(b)に示すように、アーム11は、アームブーム13と、アームブーム13先端に設けられているハンド枠部(枠部)14とハンド爪部(支持部材)15とによって形成されている。
ハンド枠部14は、一実施形態において、弧を描くような形状を有しており、内部ロボットアーム10が、サポートプレート積層ウエハ40等を保持している状態において、サポートプレート積層ウエハ40等の外周の一部を囲むようになっている。但し、ハンド枠部14の形状はこれに限定されず、多角形形状であってもよいし、その他の形状であってもよい。
ハンド爪部15は、ハンド枠部14の下部に結合しており、サポートプレート積層ウエハ40等を下方から支持するようになっている。ハンド爪部15におけるサポートプレート積層ウエハ40等との接触部分には、サポートプレート積層ウエハ40等のズレを防止するためのズレ防止部材16が形成されている。ズレ防止部材16は耐熱性材料によって形成されていることが好ましく、250℃において耐熱性を有していることがより好ましい。なお、サポートプレート積層ウエハ40等のズレ防止機構がなくてもサポートプレート積層ウエハ40等のズレが生じない場合には、ズレ防止部材16などを形成しなくてもよい。
本実施形態では、図3に示すように、三箇所のズレ防止部材16が、サポートプレート積層ウエハ40等を均等に三点支持するようになっている。これにより、サポートプレート積層ウエハ40等を安定して支持することができる。但し、本発明はこれに限定されず、サポートプレート積層ウエハ40等を安定して支持する態様であれば、三点支持する構成に限定されない。
また、ハンド爪部15は、アームブーム13と平行な方向に伸びていることが好ましい。このように構成することによって、接合室7におけるサポートプレート積層ウエハ40の受け渡しにおいて、ハンド爪部15がサポートプレート積層ウエハ40に接触することを避けることができる。
ここで、本発明において、内部ロボットアーム10は、ロードロック室6において、外部ロボットアーム4に対して、サポートプレート積層ウエハ40を直接受け渡すことが可能なように構成されている。本実施の形態では、ハンド枠部14が、サポートプレート積層ウエハ40の外周における、外部ロボットアーム4がサポートプレート積層ウエハ40を引き抜く側を露出させるように構成されている。これにより、内部ロボットアーム10によって保持されているサポートプレート積層ウエハ40を、サポートプレート積層ウエハ40の外周におけるハンド枠部14によって囲まれていない側から、外部ロボットアーム4によって引き抜くことにより、内部ロボットアーム10から、外部ロボットアーム4へ、サポートプレート積層ウエハ40を直接受け渡すことができる。
このことを、図3を参照して詳細に説明する。図3の紙面右側において、内部ロボットアーム10に保持されているサポートプレート積層ウエハ40の外周の位置Eは、ハンド枠部14の内周の位置Dよりも内側に存在している。そのため、サポートプレート積層ウエハ40を紙面下方向に移動させても、ハンド枠部14には引っ掛からない。ゆえに、図3の紙面下側に示すように、サポートプレート積層ウエハ40を、ズレ防止部材16から少し浮かせることで(40’の位置)、外部ロボットアーム4によって容易に引き抜くことができる。
なお、本実施の形態では、貼付装置2は、後述するように、互いに異なる位置に設けられた二つの内部ロボットアーム10を備えているが、内部ロボットアーム10の数は特に限定されない。
<内部ロボットアームの変形例>
なお、ハンド枠部14は、必ずしも、サポートプレート積層ウエハ40の外周における、外部ロボットアーム4がサポートプレート積層ウエハ40を引き抜く側を露出させるように構成されていなくともよい。
例えば、図4に、本実施の形態の変形例に係る内部ロボットアーム10’の構成を示す。図4の紙面右側に示すように、内部ロボットアーム10’に保持されているサポートプレート積層ウエハ40の外周の位置Eが、ハンド枠部14’の内周の位置Dよりも外側に存在している場合、サポートプレート積層ウエハ40を紙面下方向に移動させると、ハンド枠部14’に引っ掛かってしまう。その場合でも、図4の紙面下側に示すように、サポートプレート積層ウエハ40を、ハンド枠部14’よりも上方に浮かせることで(40’’の位置)、外部ロボットアーム4によって容易に引き抜くことができる。
このように、内部ロボットアーム10におけるサポートプレート積層ウエハ40等を保持する機構を、サポートプレート積層ウエハ40の外周の一部を囲むハンド枠部14と、サポートプレート積層ウエハ40を下方から支持しているハンド爪部15とによって構成することにより、内部ロボットアーム10を、外部ロボットアーム4に対して、サポートプレート積層ウエハ40を直接受け渡すことが可能なように構成することができる。
<重ね合わせ機構>
ロードロック室6内に設けられている、ウエハ42とサポートプレート41との重ね合わせを行う重ね合わせ機構について説明する。図5は、本実施の形態における重ね合わせ機構および貼り合わせ機構の具体的な構成を説明するための図であり、ロードロック室6および接合室7の内部を示している。
図5に示すように、ロードロック室6内部には、上下動可能なリフトピン(支持ピン)21、ヒーターを備えたプレート(加熱部)22、水平方向に移動可能な外径合わせ機構25、水平方向に移動可能なスペーサ機構(保持部材)23および仮押さえ具24によって構成された重ね合わせ機構が設けられている。なお、説明の便宜上、図5では、外径合わせ機構25、スペーサ機構23および仮押さえ具24を保持または制御するためのそれぞれの部材については、その図示を省略している。
(プレート)
プレート22は、ロードロック室6の下部に設けられた台である。プレート22は、ヒーターを備えており、これによって、ウエハ42を加熱することができる。
(リフトピン)
リフトピン21は、プレート22に設けられ、鉛直方向上下に移動可能な棒状の部材である。リフトピン21は、重ね合わせの対象となるサポートプレート41もしくはウエハ42、またはこれらを重ね合わせたサポートプレート積層ウエハ40をその底面から保持することができ、これにより、保持するサポートプレート41、ウエハ42およびサポートプレート積層ウエハ40を鉛直方向上下に移動させることができる。
(外径合わせ機構)
外径合わせ機構25は、位置合わせのために、位置合わせの対象となるサポートプレート41およびウエハ42の水平方向における位置を調節する部材である。サポートプレート41およびウエハ42の水平方向における位置を適切に調節することができる限り、すなわち、サポートプレート41およびウエハ42を所望の水平位置に移動させることができる限り、外径合わせ機構25の具体的な機構は特に制限されず、公知のアライナーを用いることができる。なお、本実施の形態では、外径合わせ機構25は、例えば、これに限定するものでないが、エアシリンダー、ステッピングモーター等を備え、各部材を水平放射方向に移動することができるものであり、各部材がサポートプレート41またはウエハ42から遠ざけた状態にある「開いた状態」から、各部材が互いに近づく方向にそれぞれを移動させた「閉じた状態」にすることで、サポートプレート41またはウエハ42を所望の位置まで押す構成であってもよい。
(スペーサ機構)
スペーサ機構23は、外径合わせを行ったサポートプレート41(ウエハの外径合わせを先に行う場合には、ウエハ42)を、その水平位置を変化させずに仮接合を行うまで保持しておく部材である。スペーサ機構23は、サポートプレート41の周縁部の一部をその下側から支持することによって、サポートプレート41を安定に保持する。スペーサ機構23は、水平方向に移動可能である。サポートプレート41がリフトピン21に載ってスペーサ挿入位置まで運ばれるときには、スペーサ機構23をサポートプレート41と一切重ならない位置に移動させておく。そして、サポートプレート41がスペーサ挿入位置に運び込まれた後、スペーサ機構23によってサポートプレート41を支持できるように、スペーサ機構23をサポートプレートと重なる位置に戻す。
スペーサ機構23の材質は特に限定されるものではなく、例えば、ステンレス鋼(SUS)や、ステンレス鋼(SUS)にテフロン(登録商標)コート等を施したもの等を使用することができる。
(仮押さえ具)
仮押さえ具24は、サポートプレート41とウエハ42とを重ね合わせるときに、リフトピン21と対になって、サポートプレート41とウエハ42とを挟み、サポートプレート41をウエハ42に押し当てて仮接合させることによって重ね合わせのときに生じ得る水平方向の位置ズレを防止する部材である。仮押さえ具24は、スペーサ機構23よりも鉛直上方に設けられている。本実施形態において、仮押さえ具24は、上下への移動が可能な構成になっている。
仮押さえ具24は、サポートプレート41と接触するため、サポートプレート41に傷がつくことを防止することができる材料によって形成されていることが好ましく、例えば樹脂を用いることができる。中でも、ポリテトラフルオロエチレンなどのフッ素樹脂が好ましい。仮押さえ具24の形状に特に制限はないが、本実施形態では、図5に示すように、三点支持するリフトピン21と対応するように、サポートプレート41を三点で押さえる三叉状の構造である。但し、本発明はこれに限定されず、例えば、サポートプレート41との接触面が円形である円柱状であってよい。
なお、仮押さえ具24は、サポートプレート41とウエハ42との仮接合を行うとき以外は、サポートプレート41に対して上方に離間している待機位置に待機しており、仮接合を行うときに下降してサポートプレート41を押さえるようになっている。また、本実施形態では、仮押さえ具24の先端(サポートプレート41に接触する側の端)にバネ機構を設け、当該バネの力によってサポートプレート41を押さえるようになっている。なお、バネに替えて、他の公知の弾性体を用いてもよい。
上述の構成を有する重ね合わせ機構によれば、外径合わせ機構25を用いて、リフトピン21上に載置されたサポートプレート41の水平位置を調節することができる。また、サポートプレート41の位置調節が済んだ後に、リフトピン21を用いてサポートプレート41を上方に移動させて、その水平位置を変化させずにスペーサ機構23に保持させることができる。そして、プレート22の僅か上方に移動させたリフトピン21上にウエハ42を載せて、外径合わせ機構25を用いて、ウエハ42の水平位置を調節すると共に、プレート22に設けられたヒーターによって、ウエハ42を加熱することができる。そして、リフトピン21をそのまま上昇させることにより、位置合わせが済み、加熱されたウエハ42を、水平位置を変化させずにサポートプレート41が保持されている位置まで運び、仮押さえ具24およびリフトピン21によって、サポートプレート41およびウエハ42を対になって挟むことで、サポートプレート41およびウエハ42を仮接合させることができる。これにより、スペーサ機構23を抜いたときにも、サポートプレート41の水平位置が変化することを防ぐことができる。したがって、以上により、ウエハ42とサポートプレート41とを精度良く重ね合わせることができる。
プレート22に設けられたヒーターの温度は、以下の条件を満たすことが好ましい。これにより、ウエハ42とサポートプレート41とを首尾よく仮接合してズレが生じることを好適に避け得ると共に、リフトピン21がサポートプレート41にくっつくことを好適に避け得る。
・ウエハ42とサポートプレート41とを重ね合わせたとき、ウエハ42とサポートプレート41との少なくとも一部を接着層によって融着させることができる。
・後述する「3.スペーサ挿入−サポートプレート受け渡し」のときに、搬入されたサポートプレート41の下側の面に形成された接着層にリフトピン21が融着する温度にまで、リフトピン21が加熱されることを抑制することができる。
すなわち、ヒーターの温度を下げ過ぎると、重ね合わせおよび仮接合時に、ウエハ42がサポートプレート41に対して十分に接合せずに滑ってしまう。一方、ヒーターの温度を上げ過ぎると、リフトピン21がサポートプレート41にくっついてしまう。その場合、リフトピン21の移動にサポートプレート41が一時的に追従した後、その反動でサポートプレート41のバウンシング(縦揺れ)が生じてしまう。
上記条件を満たすヒーターの温度は、例えば、以下のように、実験を行って決定することができる。すなわち、ヒーターの設定温度を変化させながら、バウンシングの有無と、仮接合時の接着範囲を調べ、バウンシングが無く、ある程度以上、仮接合時の接着範囲が広くなる温度を決定すればよい(後述する参考例を参照)。
また、ウエハ42単体を先に暖めておくことで、仮接合および本接合の処理時間も短縮することができる。また、ウエハ42とサポートプレート41と重ね合わせる前に真空状態で加熱することで、ガスが後々発生することを防止することができる。
<貼り合わせ機構>
接合室7内に設けられている、ウエハ42とサポートプレート41との貼り合わせを行う貼り合わせ機構について説明する。図5に示すように、接合室7内部には、上下動可能なリフトピン33、ヒーターを備えたプレスプレート34、および、プレスプレート34と対になって上下方向からサポートプレート積層ウエハ40を挟むためのプレスプレート35によって構成された重ね合わせ機構が設けられている。なお、説明の便宜上、図5では、プレスプレート35を保持または制御するための部材については、その図示を省略している。
本実施の形態における貼り合わせ機構は、一対のプレスプレート34・35の間に、接合前のサポートプレート積層ウエハ40を挟み込み、熱圧着によりウエハ42とサポートプレート41とを貼り合わせる。
ロードロック室6において重ね合わせ機構によって重ね合わされたサポートプレート積層ウエハ40は、内部ロボットアーム10によって、接合室7に搬送され、貼り合わせ機構によって貼り合わされる。貼り合わされたサポートプレート積層ウエハ40は、内部ロボットアーム10によって、ロードロック室6に搬送され、内部ロボットアーム10から、直接、外部ロボットアーム4へ受け渡され、外部に搬出される。このように、接合室7からロードロック室6にサポートプレート積層ウエハ40を搬送する内部ロボットアーム10から、ロードロック室6から外部へサポートプレート積層ウエハ40を搬出する外部ロボットアーム4へ、サポートプレート積層ウエハ40を直接受け渡すことにより、ロードロック室6内において特定の部位が加熱されることを避け、ウエハ42とサポートプレート41とを貼り合わせるための接着層の意図しない軟化を防ぐことができる。
〔2.搬送方法〕
本発明に係る搬送方法は、基板と支持体との重ね合わせを行う重ね合わせ室から、重ね合わせた該基板および該支持体を、該基板と該支持体との貼り合わせを行う貼り合わせ室へ、第1ロボットアームによって搬送する第1搬送工程、該貼り合わせ室から、貼り合わされた積層体を、該重ね合わせ室へ、第1ロボットアームによって搬送する第2搬送工程、該重ね合わせ室に搬送された該積層体を、第1ロボットアームから第2ロボットアームへ直接受け渡す受け渡し工程、および、第2ロボットアームに受け渡された該積層体を、該重ね合わせ室から外部へ搬出する搬出工程を含む。
本実施の形態では、上述のシステム1を用いて本発明に係る搬送方法を行う場合について説明する。
図6〜図15は、本実施の形態における搬送方法での各工程の状態を順に説明するための図であり、ロードロック室6および接合室7の内部の構成を表している図である。なお、説明の便宜上、図5と同様に、スペーサ機構23、仮押さえ具24、外径合わせ機構25およびプレスプレート35を保持または制御するためのそれぞれの部材については、その図示を省略している。以下、図6〜図15を参照して、本実施の形態における搬送方法での各工程を順に説明する。
(1.サポートプレート搬入(重ね合わせ工程:支持体搬入段階))
まず、リフトピン21を、外部ロボットアーム4の鉛直方向の位置に対応する外部ロボットアーム受け渡し位置まで上昇させる。そして、外部ロボットアーム4を用いて、下側の面に接着層が形成されたサポートプレート41を、受け渡し窓9を介してロードロック室6内部に搬入し、リフトピン21上に載置する(図6参照)。
(2.サポートプレート外径合わせ(重ね合わせ工程:支持体位置合わせ段階))
次に、サポートプレート41を載せたリフトピン21を、プレート22の僅か上方(例えば、プレート22表面から10mm程度上方)の外径合わせ位置まで下降させる。リフトピン21が外径合わせ位置まで移動し、サポートプレート41がプレート22上に載置された状態で、外径合わせ機構25を閉じて、サポートプレート41の外径合わせ(アライメント)を行って水平方向における位置を調節し、サポートプレート41を適切な位置に移動させる(図7参照)。このように、リフトピン21上で外径合わせを行うことによって、サポートプレート41がプレート22にくっつくことを避けることができる。
(3.スペーサ挿入−サポートプレート受け渡し(重ね合わせ工程:支持体受け渡し段階))
サポートプレート41の外径合わせが終了した後、外径合わせ機構25を開いた状態に戻す。次いで、外径合わせを終えたサポートプレート41を載せたリフトピン21を、スペーサ機構23の鉛直方向の位置に対応するスペーサ挿入位置まで上昇させる。リフトピン21がスペーサ挿入位置まで移動した後、スペーサ機構23をサポートプレート41の下に挿入する(図8参照)。これにより、外径合わせを終えたサポートプレート41の水平方向の位置を変えずにスペーサ機構23に受け渡して保持させることができる。このとき、仮押さえ具24は、サポートプレート41の上方の待機位置に待機している。
(4.ウエハ搬入(重ね合わせ工程:基板搬入段階))
スペーサ機構23をサポートプレート41の下に挿入した後、リフトピン21を下降させて、上記外部ロボットアーム受け渡し位置まで移動させる。このとき、外径合わせを終えているサポートプレート41は、その水平方向の位置を変えずにスペーサ機構23に支持された状態となる。リフトピン21を外部ロボットアーム受け渡し位置まで移動させた後、外部ロボットアーム4を用いて、ウエハ42を、受け渡し窓9を介してロードロック室6内部に搬入し、リフトピン21上に配置させる(図9参照)。ウエハ42をロードロック室6内に搬入し終えて、受け渡し窓9を閉じた後に、ロードロック室6の減圧を開始する。ロードロック室6の減圧は、仮接合が終了した時点におけるロードロック室6の減圧状態および接合室7の減圧状態が、互いにほぼ同じ状態になるように行えばよい。好適には、10Pa以下である。
(5.ウエハ外径合わせ(重ね合わせ工程:基板位置合わせ段階、加熱段階))
ウエハ42を配置させた後、ウエハ42を載せたリフトピン21を、上記外径合わせ位置まで下降させる。リフトピン21が外径合わせ位置まで下降した後、外径合わせ機構25を閉じた状態にして、ウエハ42の外径合わせを行って水平方向における位置を調節し、ウエハ42を適切な位置に移動させる(図10参照、基板位置合わせ段階)。
このとき、併せて、プレート22に設けられたヒーターによって、リフトピン21上のウエハ42を加熱する(加熱段階)。当該ヒーターの温度は、以下の条件を満たすことが好ましい。これにより、ウエハ42とサポートプレート41とを首尾よく仮接合してズレが生じることを好適に避け得ると共に、リフトピン21がサポートプレート41にくっつくことを好適に避け得る。
・ウエハ42とサポートプレート41とを重ね合わせたとき、ウエハ42とサポートプレート41との少なくとも一部を接着層によって融着させることができる。
・上述した「3.スペーサ挿入−サポートプレート受け渡し」のときに、搬入されたサポートプレート41の下側の面に形成された接着層にリフトピン21が融着する温度にまで、リフトピン21が加熱されることを抑制することができる。
(6.仮接合(重ね合わせ工程:重ね合わせ段階))
ウエハ42の外径合わせおよび加熱が終了した後、外径合わせ機構25を開いた状態に戻す。次いで、外径合わせを終えたウエハ42を載せたリフトピン21を、仮押さえ具24の鉛直方向の位置に対応する仮接合位置まで上昇させる。その後に、仮押さえ具24が下降して、サポートプレート41に当接する。これにより、ウエハ42とサポートプレート41とを重ね合わせてサポートプレート積層ウエハ40とすると共に、仮押さえ具24と、リフトピン21とによってサポートプレート積層ウエハ40を挟んだ状態となる(図11参照)。このとき、ウエハ42は加熱されているため、サポートプレート41上に形成された接着層を部分的に軟化させ、ウエハ42とサポートプレート41とを仮接合することができる。これにより、サポートプレート41とウエハ42との互いの水平方向の相対位置がずれてしまうことを防ぐことができる。その後、スペーサ機構23をウエハ42とサポートプレート41との間から抜く。なお、仮押させ具24は、仮接合時以外では、サポートプレート41に接触しない位置に退避している。
(7.内部搬送(第1搬送工程))
続いて、内部ロボットアーム10aによって、サポートプレート積層ウエハ40を、接合室7に搬送する。まず、内部ロボットアーム10aをロードロック室受け渡し位置まで移動させ、サポートプレート積層ウエハ40を内部ロボットアーム10aに保持させる。そして、ゲート8のシャッターを開いて、内部ロボットアーム10aを接合室受け渡し位置まで移動させる。そして、リフトピン33を、接合室受け渡し位置まで移動させることにより、サポートプレート積層ウエハ40をリフトピン33に支持させる(図12参照)。
(8.本接合:予熱(貼り合わせ工程:予熱段階))
次いで、リフトピン33をプレスプレート34と面一であるプレート載置位置まで下降させる。これにより、サポートプレート積層ウエハ40をプレスプレート34上に載置することができる(図13参照)。このとき、プレスプレート34に設けられたヒーターによって、本接合のために、サポートプレート積層ウエハ40を予熱する。
(9.本接合:熱圧着(貼り合わせ工程:熱圧着段階))
そして、プレスプレート34とプレスプレート35とで対になってサポートプレート積層ウエハ40を挟み、熱圧着する(図14参照)。これにより、ウエハ42とサポートプレート41との本接合が完了する。
(10.サポートプレート積層ウエハ搬出(第2搬送工程、受け渡し工程、搬出工程))
続いて、本接合されたサポートプレート積層ウエハ40を、内部ロボットアーム10bによってロードロック室6に搬送し(第2搬送工程)、内部ロボットアーム10bから外部ロボットアーム4に直接受け渡し(受け渡し工程)、外部ロボットアーム4によって貼付装置2の外部に搬出する(搬出工程)。
まず、内部ロボットアーム10bを接合室受け渡し位置まで移動させ、サポートプレート積層ウエハ40を内部ロボットアーム10bに保持させる。そして、ゲート8のシャッターを開いて、内部ロボットアーム10bをロードロック室受け渡し位置まで移動させた後、ゲート8のシャッターを閉じる。
ゲート8のシャッターを閉じたのち、ロードロック室6の減圧を解いて、内部を大気圧に戻す。ロードロック室6の内部が大気圧に戻った後に、受け渡し窓9を開けて、外部ロボットアーム4をロードロック室6内に挿入させる。そして、内部ロボットアーム10bが保持するサポートプレート積層ウエハ40を、外部ロボットアーム4に直接受け渡す(図15参照)。
このとき、内部ロボットアーム10bは、ハンド枠部14が、サポートプレート積層ウエハ40の外周の一部を囲み、ハンド爪部15が、サポートプレート積層ウエハ40を下方から支持している状態でサポートプレート積層ウエハ40を保持しており、外部ロボットアーム4が、サポートプレート積層ウエハ40の外周におけるハンド枠部14によって囲まれていない側から、サポートプレート積層ウエハ40を引き抜くことによって、内部ロボットアーム10bから外部ロボットアーム4への受け渡しが首尾よくなされる。
そして、外部ロボットアーム4は、受け取ったサポートプレート積層ウエハ40を、受け渡し窓9を介して、貼付装置2の外部に搬出する。これにより、サポートプレート積層ウエハ40の搬出が完了する。
〔参考〕
ここで、参考のために、貼り合わせ室から重ね合わせ室に積層体を搬送する第1ロボットアームから、重ね合わせ室から外部へ積層体を搬出する第2ロボットアームへ、積層体を直接受け渡さないように構成した場合について、本実施の形態と対比する。
具体的には、上述した「1.サポートプレート搬入」〜「9.本接合:熱圧着」までは本実施の形態と同様に実施し、「10.サポートプレート積層ウエハ搬出」において、内部ロボットアーム10bが保持するサポートプレート積層ウエハ40を、外部ロボットアーム4に直接受け渡す替わりに、一旦、リフトピン21上に載置する(図16参照)。そして、外部ロボットアーム4が、リフトピン21上のサポートプレート積層ウエハ40を受け取り、外部に搬出する参考構成について検討する。
当該分野においては、ロボットアーム同士で搬送物を直接受け渡すことは通常行われず、上記参考構成のように、1番目のロボットアームが、搬送物を、一旦、リフトピン等の上に載置してから、2番目のロボットアームが、当該搬送物を拾い上げる構成が一般的である。しかしながら、上述したように、ウエハ42とサポートプレート41との本接合は熱圧着によって行われるため、接合室7から搬送されるサポートプレート積層ウエハ40は、高温になっている。そのため、一旦、接合室7から搬送されるサポートプレート積層ウエハ40を、リフトピン21上に載置すると、リフトピン21が加熱されてしまう。
この状態において、「1.サポートプレート搬入」において説明したように、新たな重ね合わせを行うためのサポートプレート41をロードロック室6に搬入した場合、サポートプレート41の下面に形成された接着層が、リフトピン21によって加熱されて軟化し、サポートプレート41とリフトピン21とがくっついてしまう。
この状態において、「3.スペーサ挿入−サポートプレート受け渡し」および「4.ウエハ搬入」において説明したように、サポートプレート41をスペーサ機構23に受け渡し(図17の(a)参照)、その後、リフトピン21を下降させようとすると、サポートプレート41がリフトピン21の下降に一時的に追従し(図17の(b)参照)、その後、反動によりサポートプレート41がバウンシング(縦揺れ)を起こす(図17の(c)参照)。
このように、内部ロボットアーム10bが保持するサポートプレート積層ウエハ40を、外部ロボットアーム4に直接受け渡す替わりに、一旦、リフトピン21上に載置する参考構成では、接合室7から搬送されたサポートプレート積層ウエハ40によってリフトピン21が加熱され、当該リフトピン21に接触するサポートプレート41において、接着層が意図せずに軟化してしまい、結果的に、上述したようなサポートプレート41のバウンシングのような現象が生じるおそれがある。
これに対し、本実施の形態では、内部ロボットアーム10bが保持するサポートプレート積層ウエハ40を、外部ロボットアーム4に直接受け渡すことによって、リフトピン21が加熱されることを防ぎ、これにより、当該リフトピン21に接触するサポートプレート41において、接着層が意図せずに軟化すること、および、上述したようなサポートプレート41のバウンシングを首尾よく防止することができる。また、軟化した接着剤がリフトピン21に付着することに起因するコンタミネーションを防止することができる。
本発明は上述した実施形態に限定されるものではなく、請求項に示した範囲で種々の変更が可能である。すなわち、請求項に示した範囲で適宜変更した技術的手段を組み合わせて得られる実施形態についても本発明の技術的範囲に含まれる。
下記条件にて10組のウエハおよびサポートプレートを連続して貼り合わせた。
・装置:上述したシステム1
・ウエハ:ベアウエハ
・サポートプレート:ガラス板(直径300mm、厚さ0.7mm)
・接着剤:TZNR(登録商標)−A3007
・接着剤のベーク温度および時間:(i)100℃にて、5分間、(ii)160℃にて、5分間、(iii)220℃にて、3分間
・ロードロック室における加熱:ウエハのみに対し、大気圧、100℃にて、1分間
・内部ロボットアーム10から外部ロボットアーム4へ、サポートプレート積層ウエハ40を直接受け渡した。
その結果、全ての組において、良好に本接合することができた。また、何れの組においても、バウンシングは見られなかった。また、リフトピン21およびスペーサ機構23に異物や接着剤等の跡が見受けられたが、問題となるレベルではなかった。
(参考例)
ロードロック室6のプレート22におけるヒーターの温度の最適値を決定するために、以下の実験を行った。すなわち、ヒーターの設定温度を変化させながら、バウンシングの有無と、仮接合時の接着範囲を調べた。接着剤は、上記実施例と同じものを用いた。結果を表1に示す。表1に示すように、ヒーターの設定温度の最適値は、100℃程度であった。
Figure 0006412786
なお、図16に示す参考構成のように、接合室7において本接合した後のサポートプレート積層ウエハ40を、ロードロック室6内のリフトピン21に載置した場合、サポートプレート積層ウエハ40を搬出した後でも、リフトピン21の温度は110℃となっていた。ゆえに、参考構成においてバウンシングが生じることは明らかである。
本発明は、基板および支持板の貼り合わせを伴うプロセスの実施およびそのための装置に利用することができる。
1 システム
2 貼付装置
3 プリアライナー
4 外部ロボットアーム(第2ロボットアーム)
5 外部ロボットアーム走行路
6 ロードロック室(重ね合わせ室)
7 接合室(貼り合わせ室)
8 ゲート
9 受け渡し窓
10,10a,10b 内部ロボットアーム(第1ロボットアーム)
11,11a,11b アーム
12 アーム旋回軸
13 アームブーム
14 ハンド枠部(枠部)
15 ハンド爪部(支持部材)
16 ズレ防止部材
21 リフトピン(支持ピン)
22 プレート(加熱部)
23 スペーサ機構(保持部材)
24 仮押さえ具
25 外径合わせ機構
33 リフトピン
34 プレスプレート
35 プレスプレート
40 サポートプレート積層ウエハ(積層体)
41 サポートプレート(支持体)
42 ウエハ(基板)
50 FOUPオープナー
51 ベークプレート
52 スピンナー
53 パスライン
54 外部ロボットアーム
A ロードロック室受け渡し位置
B 待機位置
C 接合室受け渡し位置

Claims (4)

  1. 基板と支持体との重ね合わせを行う重ね合わせ室から、重ね合わせた該基板および該支持体を、該基板と該支持体との貼り合わせを行う貼り合わせ室へ、第1ロボットアームによって搬送する第1搬送工程、
    該貼り合わせ室から、貼り合わされた積層体を、該重ね合わせ室へ、第1ロボットアームによって搬送する第2搬送工程、
    該重ね合わせ室に搬送された該積層体を、第1ロボットアームから第2ロボットアームへ直接受け渡す受け渡し工程
    第2ロボットアームに受け渡された該積層体を、該重ね合わせ室から外部へ搬出する搬出工程、および、
    第1搬送工程の前に、上記重ね合わせ室において上記基板と上記支持体との重ね合わせを行なう重ね合わせ工程、を含み、
    上記重ね合わせ工程は、
    下側の面に接着層が形成された上記支持体を上記重ね合わせ室に搬入する、支持体搬入段階、
    上記重ね合わせ室に搬入した上記支持体を、上下方向に移動可能な支持ピンにより支持して上方向に移動させ、該支持体を保持するための保持部材に受け渡す、支持体受け渡し段階、
    支持体受け渡し段階の後、該基板を重ね合わせ室内に搬入する、基板搬入段階、
    搬入した基板を、該支持ピンにより支持して下方向に移動させ、該重ね合わせ室の下部に設けられている加熱部によって加熱する加熱段階、および、
    加熱段階の後に、上記基板と上記支持体とを重ね合わせる重ね合わせ段階を含むことを特徴とする搬送方法。
  2. 第1ロボットアームは、枠部と、支持部材とを備えており、
    第2搬送工程では、該枠部が、上記積層体の外周の一部を囲み、該支持部材が、上記積層体を下方から支持している状態で、第1ロボットアームによって上記積層体を搬送し、
    上記受け渡し工程では、第1ロボットアームによって保持されている上記積層体を、当該積層体の外周における該枠部によって囲まれていない側から、第2ロボットアームによって引き抜くことを特徴とする請求項1に記載の搬送方法。
  3. 1搬送工程の後、第2搬送工程の前に、上記貼り合わせ室において上記重ね合わせた上記基板と上記支持体とを貼り合わせる貼り合わせ工程を含むことを特徴とする請求項1または2に記載の搬送方法。
  4. 上記加熱部の加熱温度は、重ね合わせ工程において、基板と支持体との少なくとも一部を該接着層によって融着させることができる温度で、かつ、支持体受け渡し段階において、搬入された該支持体の下側の面に形成された接着層に該支持ピンが融着する温度にまで該支持ピンが加熱されることを抑制することができる温度であることを特徴とする請求項1〜3のいずれか一項に記載の搬送方法。
JP2014245407A 2014-12-03 2014-12-03 搬送方法 Active JP6412786B2 (ja)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2014245407A JP6412786B2 (ja) 2014-12-03 2014-12-03 搬送方法
TW104138305A TWI663677B (zh) 2014-12-03 2015-11-19 搬運方法及黏貼裝置
US14/945,959 US10239211B2 (en) 2014-12-03 2015-11-19 Carrying method and bonding apparatus
KR1020150170486A KR102404840B1 (ko) 2014-12-03 2015-12-02 반송 방법 및 첩부 장치

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2014245407A JP6412786B2 (ja) 2014-12-03 2014-12-03 搬送方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2016111109A JP2016111109A (ja) 2016-06-20
JP6412786B2 true JP6412786B2 (ja) 2018-10-24

Family

ID=56093453

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2014245407A Active JP6412786B2 (ja) 2014-12-03 2014-12-03 搬送方法

Country Status (4)

Country Link
US (1) US10239211B2 (ja)
JP (1) JP6412786B2 (ja)
KR (1) KR102404840B1 (ja)
TW (1) TWI663677B (ja)

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6272676B2 (ja) * 2013-11-07 2018-01-31 東レエンジニアリング株式会社 ボンディング装置
US10825705B2 (en) 2015-05-15 2020-11-03 Suss Microtec Lithography Gmbh Apparatus, system, and method for handling aligned wafer pairs
US11183401B2 (en) 2015-05-15 2021-11-23 Suss Microtec Lithography Gmbh System and related techniques for handling aligned substrate pairs
CN113459642A (zh) * 2021-05-14 2021-10-01 苏州世椿新能源技术有限公司 贴合机及其贴合方法、可读存储介质
JP2023145908A (ja) * 2022-03-29 2023-10-12 Aiメカテック株式会社 基板貼り合わせ装置及び基板貼り合わせ方法

Family Cites Families (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6276731B1 (en) * 1997-07-15 2001-08-21 Kabushiki Kaisha Yaskawa Denki Wafer carrying fork
US6116848A (en) * 1997-11-26 2000-09-12 Brooks Automation, Inc. Apparatus and method for high-speed transfer and centering of wafer substrates
US8030298B2 (en) * 2005-05-26 2011-10-04 Abbott Products Gmbh 17β-HSD1 and STS inhibitors
JP4750724B2 (ja) 2007-01-25 2011-08-17 東京応化工業株式会社 重ね合わせユニット及び貼り合わせ装置
JP5036596B2 (ja) 2008-03-03 2012-09-26 東京応化工業株式会社 吸着装置
KR20100108418A (ko) * 2008-11-14 2010-10-06 도쿄엘렉트론가부시키가이샤 접합 장치 및 접합 방법
JP2011071293A (ja) 2009-09-25 2011-04-07 Tokyo Electron Ltd プロセスモジュール、基板処理装置、および基板搬送方法
JP6014302B2 (ja) * 2010-09-06 2016-10-25 東京応化工業株式会社 貼り合わせ装置および貼り合わせ方法
JP6055597B2 (ja) * 2012-02-09 2016-12-27 東京応化工業株式会社 貼付方法及び貼付装置
JP5990037B2 (ja) * 2012-05-18 2016-09-07 東京応化工業株式会社 重ね合わせ装置および重ね合わせ方法
JP6001934B2 (ja) * 2012-06-25 2016-10-05 東京応化工業株式会社 重ね合わせ装置および重ね合わせ方法
JP2013055363A (ja) * 2012-12-17 2013-03-21 Tokyo Electron Ltd プロセスモジュール、基板処理装置、および基板搬送方法
KR101553801B1 (ko) * 2013-03-29 2015-09-30 도오꾜오까고오교 가부시끼가이샤 첩부 방법

Also Published As

Publication number Publication date
US10239211B2 (en) 2019-03-26
KR102404840B1 (ko) 2022-06-02
TW201633432A (zh) 2016-09-16
JP2016111109A (ja) 2016-06-20
US20160158939A1 (en) 2016-06-09
TWI663677B (zh) 2019-06-21
KR20160067046A (ko) 2016-06-13

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6412786B2 (ja) 搬送方法
CN110416142B (zh) 接合装置、接合系统以及接合方法
JP6014302B2 (ja) 貼り合わせ装置および貼り合わせ方法
JP4781802B2 (ja) サポートプレートの貼り合わせ手段及び貼り合わせ装置、並びにサポートプレートの貼り合わせ方法
JP5759086B2 (ja) 貼付方法
KR101617316B1 (ko) 디바이스 웨이퍼와 캐리어 웨이퍼의 본딩/디본딩 방법 및 본딩/디본딩 장치
TW201423876A (zh) 半導體晶圓安裝方法及半導體晶圓安裝裝置
KR101677864B1 (ko) 중첩 장치 및 중첩 방법
KR101821853B1 (ko) 중첩 장치 및 중첩 방법
WO2014050484A1 (ja) 貼合装置および貼り合わせ方法
TWI540661B (zh) 接合方法、電腦記憶媒體及接合系統
TW201509680A (zh) 剝離裝置及剝離方法
KR101710221B1 (ko) 기판 처리 장치 및 기판 처리 방법
TWI701755B (zh) 黏貼系統、及黏貼方法
JP2017224735A (ja) 重ね合わせ装置、貼付装置、重ね合わせ方法および貼付方法
WO2014050494A1 (ja) 搬送方法、貼付方法および貼付装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20170912

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20180410

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20180412

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20180518

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20180925

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20181001

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6412786

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313111

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250