JP6400463B2 - 光量測定装置 - Google Patents

Description

本発明は、測定対象光の波長および光量を測定可能に構成された光量測定装置に関するものである。

この種の光量測定装置として、下記の特許文献に光パワー測定器が開示されている。この光パワー測定器は、受光素子（光電変換部：シリコンフォトダイオード）および光学フィルタ（ガラスフィルタ）を有する受光器（受光センサ）と、受光器における受光素子の出力信号（電流信号）をＩ／Ｖ変換する演算増幅器とをそれぞれ一対備えている。また、この光パワー測定器は、両演算増幅器の出力信号（電圧信号）をＡ／Ｄ変換するＡ／Ｄ変換器と、Ａ／Ｄ変換器に対して両演算増幅器の一方を選択的に接続するスイッチ（アナログスイッチ）と、スイッチの切替え制御を行うと共にＡ／Ｄ変換器の出力信号（デジタル信号）に基づいて測定対象光の波長や光パワー（放射量）を演算するマイクロコンピュータとを備えている。

この場合、この光パワー測定器では、両受光器の一方（受光器Ａ）の分光感度特性が測定対象とする波長範囲内において長い波長の光ほど感度が高くなるように受光器Ａにおける光学フィルタの光学特性（各波長毎の光透過特性）が調整されている。また、この光パワー測定器では、両受光器の他方（受光器Ｂ）の分光感度特性が測定対象とする波長範囲内において短い波長の光ほど感度が高くなるように受光器Ｂにおける光学フィルタの光学特性（各波長毎の光透過特性）が調整されている。

したがって、この光パワー測定器では、両受光器Ａ，Ｂに対して測定対象光が入射したときに、測定対象光の波長が長いときほど、受光器Ａの受光素子から出力される出力信号の電流値（信号レベル）が大きくなり、かつ受光器Ｂの受光素子から出力される出力信号の電流値（信号レベル）が小さくなると共に、測定対象光の波長が短いときほど、受光器Ａの受光素子から出力される出力信号の電流値が小さくなり、かつ受光器Ｂの受光素子から出力される出力信号の電流値が大きくなる。

これにより、この光パワー測定器では、マイクロコンピュータが、受光器Ａの受光素子に接続された演算増幅器からの出力信号をＡ／Ｄ変換器がＡ／Ｄ変換した出力信号の値と、受光器Ｂの受光素子に接続された演算増幅器からの出力信号をＡ／Ｄ変換器がＡ／Ｄ変換した出力信号の値との比を演算し、演算した比に基づいて測定対象光の波長を特定することが可能となっている。また、この光パワー測定器では、上記のように特定した波長と、上記の両出力信号のいずれかの値とに基づいて測定対象光の光パワー（放射量）を演算することが可能となっている。

特開昭６３−１２７１２７号公報（第２−３頁、第１−４図）

ところが、従来の光パワー測定器には、以下の解決すべき問題点が存在する。すなわち、従来の光パワー測定器では、両受光器Ａ，Ｂに入射した測定対象光の波長を特定可能とするために、受光器Ａの分光感度特性が長い波長の光ほど感度が高くなり、受光器Ｂの分光感度特性が短い波長の光ほど感度が高くなるように両受光器の光学フィルタの光学特性が調整されている。

この場合、この光パワー測定器では、測定対象光の波長に対して受光器の感度が比例的に上昇（または減少）するように両光学フィルタの光学特性が調整されている。また、測定対象光の放射量（純物理量）の測定を目的とするこの光パワー測定器では、標準比視感度において感度がほぼ「０」となる波長＝３５０ｎｍの光や波長＝７５０ｎｍの光についての受光器の感度が「０」とはならない（受光素子から出力される出力信号の電流値が「０」とはならない）ように両受光器の光学フィルタの光学特性が調整されている。このため、従来の光パワー測定器の構成によって測定対象光の測光量（標準比視感度に対応する光量：心理物理量）を測定しようとした場合には、特定される波長毎に相違する係数と、両Ａ／Ｄ変換器の出力信号のいずれかの値とに基づいて測光量を演算する複雑な演算処理が必要となる。

したがって、従来の光パワー測定器の構成では、測定対象光の測光量の演算にある程度の時間を要するため、極く短い周期で測光量を繰り返し測定するのが困難となっている。このため、測定される（演算される）測光量に基づいてフリッカー測定（フリッカー現象の発生の有無や、その度合いの測定）を行おうとしても、逐次変化する光量に応じた測光量（演算結果）をリアルタイムに得ることができないことから、有効なフリッカー測定を行うことができないという問題点がある。

本発明は、かかる問題点に鑑みてなされたものであり、測光量を特定し得る情報を極く短い周期でリアルタイムに出力可能な光量測定装置を提供することを主目的とする。

上記目的を達成すべく、請求項１記載の光量測定装置は、測定対象光を受光可能に配設されて受光量に応じた第１の検出信号を出力する第１の光電変換部、および当該第１の光電変換部に対する当該測定対象光の入射量を制限する第１の光学フィルタを有する第１の受光センサと、前記測定対象光を受光可能に配設されて受光量に応じた第２の検出信号を出力する第２の光電変換部、および当該第２の光電変換部に対する当該測定対象光の入射量を制限する第２の光学フィルタを有する第２の受光センサと、前記両検出信号に基づいて前記測定対象光の波長および光量を測定する測定部とを備え、前記第１の受光センサの分光感度と前記第２の受光センサの分光感度との比が測定対象波長範囲内における各波長の前記測定対象光毎に相違するように前記第１の光学フィルタおよび前記第２の光学フィルタがそれぞれ構成されている光量測定装置であって、前記第１の検出信号および前記第２の検出信号を信号処理して外部装置に出力する信号出力部を備え、前記第１の光学フィルタは、前記測定対象波長範囲において最も短い波長から標準比視感度における最大視感度の波長までの第１の波長範囲内における前記第１の受光センサの分光感度特性が当該標準比視感度に対応する分光感度特性となるように前記第１の光電変換部に対する前記測定対象光の入射量を制限可能に構成され、前記第２の光学フィルタは、前記標準比視感度における最大視感度の波長から前記測定対象波長範囲において最も長い波長までの第２の波長範囲内における前記第２の受光センサの分光感度特性が当該標準比視感度に対応する分光感度特性となるように前記第２の光電変換部に対する前記測定対象光の入射量を制限可能に構成され、前記測定部は、前記第１の検出信号の信号レベル、および前記第２の検出信号の信号レベルのいずれか予め規定された一方に対する他方の比に基づいて前記測定対象光の波長を特定すると共に、前記測定対象光の光量として当該測定対象光の放射量を測定する際に、当該測定対象光の波長が前記第１の波長範囲内のときには、前記第２の検出信号に基づいて当該測定対象光の放射量を測定し、当該測定対象光の波長が前記第２の波長範囲内のときには、前記第１の検出信号に基づいて当該測定対象光の放射量と測定すると共に、前記測定対象光の光量として当該測定対象光の測光量を測定する際に、当該測定対象光の波長が前記第１の波長範囲内のときには、前記第１の検出信号に基づいて当該測定対象光の測光量を測定し、当該測定対象光の波長が前記第２の波長範囲内のときには、前記第２の検出信号に基づいて当該測定対象光の測光量を測定する。

また、請求項２記載の光量測定装置は、請求項１記載の光量測定装置において、前記第１の光学フィルタは、前記第１の受光センサの分光感度特性が長い波長の光ほど感度が高くなるように前記第１の光電変換部に対する前記測定対象光の入射量を制限可能に構成され、前記第２の光学フィルタは、前記第２の受光センサの分光感度特性が短い波長の光ほど感度が高くなるように前記第２の光電変換部に対する前記測定対象光の入射量を制限可能に構成されている。

また、請求項３記載の光量測定装置は、請求項１記載の光量測定装置において、前記第１の光学フィルタは、前記第１の受光センサの分光感度特性が前記第２の波長範囲内において一定の感度となるように前記第１の光電変換部に対する前記測定対象光の入射量を制限可能に構成され、 前記第２の光学フィルタは、前記第２の受光センサの分光感度特性が前記第１の波長範囲内において一定の感度となるように前記第２の光電変換部に対する前記測定対象光の入射量を制限可能に構成されている。
なお、「第１の波長範囲内において一定の感度」および「第２の波長範囲内において一定の感度」とは、「第１の波長範囲内の感度が一定、または、ほぼ一定の状態」および「第２の波長範囲内の感度が一定、または、ほぼ一定の状態」を意味するものであり、「第１の波長範囲内において感度が僅かに相違する状態」や「第２の波長範囲内において感度が僅かに相違する状態」はこれに含まれるものとする。

請求項１記載の光量測定装置では、第１の光学フィルタが、光量測定装置の測定対象波長範囲において最も短い波長から標準比視感度における最大視感度の波長までの第１の波長範囲内における第１の受光センサの分光感度特性が標準比視感度に対応する分光感度特性となるように第１の光電変換部に対する測定対象光の入射量を制限可能に構成されると共に、第２の光学フィルタが、標準比視感度における最大視感度の波長から測定対象波長範囲において最も長い波長までの第２の波長範囲内における第２の受光センサの分光感度特性が標準比視感度に対応する分光感度特性となるように第２の光電変換部に対する測定対象光の入射量を制限可能に構成されている。

したがって、この光量測定装置によれば、ある程度の処理時間を必要とする測光量の演算処理などを行わずに、測定対象光の波長が第１の波長範囲内のときには、第１の光電変換部からの第１の検出信号を信号処理して外部装置（フリッカー測定装置）に出力し、測定対象光の波長が第２の波長範囲内のときには、第２の光電変換部からの第２の検出信号を信号処理して外部装置（フリッカー測定装置）に出力することで、例えばフリッカー現象が生じて測定対象光の測光量が極く短い周期で増減している状態であっても、逐次変化する測光量の信号レベルに応じた検出信号を外部装置（フリッカー測定装置）に対してリアルタイムに出力することができる。これにより、外部装置（フリッカー測定装置）において測光量の変化（フリッカー現象の発生の有無や、その度合いの測定）を検出信号に基づいて好適に検出することができる。

また、この光量測定装置では、測定部が、第１の検出信号の信号レベル、および第２の検出信号の信号レベルのいずれか予め規定された一方に対する他方の比に基づいて測定対象光の波長を特定すると共に、測定対象光の放射量を測定する際に、測定対象光の波長が第１の波長範囲内のときには、第２の検出信号に基づいて測定対象光の放射量を測定し、測定対象光の波長が第２の波長範囲内のときには、第１の検出信号に基づいて測定対象光の放射量と測定すると共に、測定対象光の測光量を測定する際に、測定対象光の波長が第１の波長範囲内のときには、第１の検出信号に基づいて測定対象光の測光量を測定し、測定対象光の波長が第２の波長範囲内のときには、第２の検出信号に基づいて測定対象光の測光量を測定する。

したがって、この光量測定装置によれば、測定対象光の波長の特定が完了した後に、放射量を測定するときには、放射量の測定に不要な信号（波長が第１の波長範囲のときには、第１の検出信号、波長が第２の波長範囲のときには、第２の検出信号）についての処理が不要となり、測光量を測定するときには、測光量の測定に不要な信号（波長が第１の波長範囲のときには、第２の検出信号、波長が第２の波長範囲のときには、第１の検出信号）についての処理が不要となるため、２つの検出信号を並列的に信号処理する構成が不要となる結果、光量測定装置の製造コストを十分に低減することができる。

また、請求項２記載の光量測定装置によれば、第１の受光センサの分光感度特性が長い波長の光ほど感度が高くなるように第１の光学フィルタを構成すると共に、第２の受光センサの分光感度特性が短い波長の光ほど感度が高くなるように第２の光学フィルタを構成したことにより、測定対象波長範囲内の各波長毎の測定対象光についての第１の受光センサの感度と第２の受光センサの感度との比が大きく相違する状態となるため、どのような波長の測定対象光が入射しているかを高精度に測定することができる。

また、請求項３記載の光量測定装置によれば、第１の受光センサの分光感度特性が第２の波長範囲内において一定の感度となるように第１の光学フィルタを構成すると共に、第２の受光センサの分光感度特性が第１の波長範囲内において一定の感度となるように第２の光学フィルタを構成したことにより、測定対象光の波長が第２の波長範囲内のときには、第１の光電変換部からの第１の検出信号を信号処理して外部装置（フリッカー測定装置）に出力し、測定対象光の波長が第１の波長範囲内のときには、第２の光電変換部からの第２の検出信号を信号処理して外部装置（フリッカー測定装置）に出力することで、放射量の信号レベルに応じた検出信号を外部装置（フリッカー測定装置）に対してリアルタイムに出力することができる。これにより、外部装置（フリッカー測定装置）において放射量の変化（フリッカー現象の発生の有無や、その度合いの測定）を検出信号に基づいて好適に検出することができる。

光量測定装置１の構成図である。 受光センサ２ａ，２ｂの分光感度特性の一例について説明するための説明図である。 受光センサ２ａ，２ｂの分光感度特性の他の一例について説明するための説明図である。 受光センサ２ａ，２ｂの分光感度特性のさらに他の一例について説明するための説明図である。

以下、光量測定装置の実施の形態について、添付図面を参照して説明する。

図１に示す光量測定装置１は、「光量測定装置」の一例であって、受光センサ２ａ，２ｂ、Ｉ／Ｖ変換部３ａ，３ｂ、切替えスイッチ４、Ａ／Ｄ変換部５、信号処理回路６、操作部７、表示部８、処理部９および記憶部１０を備え、測定対象光Ｌの放射量および測光量の測定、並びに測光量を特定し得る検出信号Ｓｏの出力を実行可能に構成されている。なお、この光量測定装置１は、実際には、受光センサ２ａ，２ｂに対する測定対象光Ｌの入射方向や入射量を規制するための光拡散部やアパーチャなどを備えているが、これらの構成および機能については公知のため、図示および詳細な説明を省略する。

また、受光センサ２ａは、「第１の受光センサ」の一例であって、「第１の光学フィルタ」に相当する光学フィルタ１１ａ、および「第１の光電変換部」に相当する光電変換部１２ａを備えて構成されている。また、受光センサ２ｂは、「第２の受光センサ」の一例であって、「第２の光学フィルタ」に相当する光学フィルタ１１ｂおよび「第２の光電変換部」に相当する光電変換部１２ｂを備えて構成されている。この場合、本例の光量測定装置１では、受光センサ２ａの分光感度と、受光センサ２ｂの分光感度との比が「測定対象波長範囲」内における各波長の測定対象光Ｌ毎に相違するように両光学フィルタ１１ａ，１１ｂが構成されている。

具体的には、光学フィルタ１１ａは、受光センサ２ａの分光感度特性が長い波長の光ほど感度が高くなるように光電変換部１２ａに対する測定対象光Ｌの入射量を制限（規制）可能に構成されて、光電変換部１２ａの受光面側に配設されている。また、光学フィルタ１１ｂは、受光センサ２ｂの分光感度特性が短い波長の光ほど感度が高くなるように光電変換部１２ｂに対する測定対象光Ｌの入射量を制限（規制）可能に構成されて、光電変換部１２ｂの受光面側に配設されている。

光電変換部１２ａは、光学フィルタ１１ａを透過した測定対象光Ｌを受光可能に配設されて受光量に応じた検出信号Ｓｉａ（「第１の検出信号」の一例）を出力し、光電変換部１２ｂは、光学フィルタ１１ｂを透過した測定対象光Ｌを受光可能に配設されて受光量に応じた検出信号Ｓｉｂ（「第２の検出信号」の一例）を出力する。

Ｉ／Ｖ変換部３ａ，３ｂは、Ａ／Ｄ変換部５および処理部９と相俟って「測定部」を構成し、Ｉ／Ｖ変換部３ａが受光センサ２ａ（光電変換部１２ａ）からの検出信号ＳｉａをＩ／Ｖ変換して検出信号Ｓｖａを出力し、Ｉ／Ｖ変換部３ｂが受光センサ２ｂ（光電変換部１２ｂ）からの検出信号ＳｉｂをＩ／Ｖ変換して検出信号Ｓｖｂを出力可能に構成されている。切替えスイッチ４は、処理部９の制御に従い、Ａ／Ｄ変換部５および信号処理回路６に対してＩ／Ｖ変換部３ａ，３ｂのいずれか一方を選択的に接続する。

Ａ／Ｄ変換部５は、切替えスイッチ４を介してＩ／Ｖ変換部３ａが接続されているときには、Ｉ／Ｖ変換部３ａから出力された検出信号Ｓｖａを所定の周期でＡ／Ｄ変換して検出信号Ｄａを生成し、生成した検出信号Ｄａを処理部９に出力すると共に、切替えスイッチ４を介してＩ／Ｖ変換部３ｂが接続されているときには、Ｉ／Ｖ変換部３ｂから出力された検出信号Ｓｖｂを所定の周期でＡ／Ｄ変換して検出信号Ｄｂを生成し、生成した検出信号Ｄｂを処理部９に出力する。

信号処理回路６は、Ｉ／Ｖ変換部３ａ，３ｂと相俟って「信号出力部」を構成する。この信号処理回路６は、一例として、上記の検出信号Ｓｖａ，Ｓｖｂを増幅するオペアンプ等を備え、切替えスイッチ４を介してＩ／Ｖ変換部３ａが接続されているときには、Ｉ／Ｖ変換部３ａから出力された検出信号Ｓｖａを増幅して検出信号Ｓｏとして外部装置（一例として、フリッカー測定装置）に出力し、切替えスイッチ４を介してＩ／Ｖ変換部３ｂが接続されているときには、Ｉ／Ｖ変換部３ｂから出力された検出信号Ｓｖｂを増幅して検出信号Ｓｏとして外部装置に出力する。

操作部７は、後述する測定処理の条件の設定操作や、測定処理の開始／停止を指示する各種の操作スイッチを備え、スイッチ操作に応じた操作信号を処理部９に出力する。表示部８は、処理部９の制御に従い、測定条件設定画面や測定結果表示画面など（いずれも図示せず）を表示する。

処理部９は、光量測定装置１を総括的に制御する。具体的には、処理部９は、操作部７の操作によって測定処理の開始を指示されたときに、切替えスイッチ４を制御して、一例として、Ｉ／Ｖ変換部３ａをＡ／Ｄ変換部５に接続させ、かつＡ／Ｄ変換部５を制御して検出信号Ｄａを生成させると共に、Ａ／Ｄ変換部５から出力される検出信号Ｄａを記憶部１０に記憶させる。また、処理部９は、記憶部１０への検出信号Ｄａの記憶が完了したときに、切替えスイッチ４を制御してＩ／Ｖ変換部３ｂをＡ／Ｄ変換部５に接続させ、かつＡ／Ｄ変換部５を制御して検出信号Ｄｂを生成させると共に、Ａ／Ｄ変換部５から出力される検出信号Ｄｂを記憶部１０に記憶させる。

また、処理部９は、記憶部１０に記憶させた検出信号Ｄａ，Ｄｂに基づき、測定対象光Ｌの波長を特定（測定）する。さらに、処理部９は、特定した波長、および予め規定された光量算出用の係数（または、両検出信号Ｄａ，Ｄｂの値および波長と光量との関係を記録した光量算出用のテーブル）に基づき、放射量および測光量のうちの利用者によって指定された一方を測定対象光Ｌの光量として演算（測定）する。また、特定した波長に応じて切替えスイッチ４を制御することでＩ／Ｖ変換部３Ａから出力される検出信号Ｓｖａ、およびＩ／Ｖ変換部３ｂから出力される検出信号Ｓｖｂのいずれかを信号処理回路６に信号処理させて検出信号Ｓｏとして外部装置（フリッカー測定装置等）に出力させる。なお、測定対象光Ｌの波長や光量（放射量または測光量）の測定処理、および外部装置に対する検出信号Ｓｏの出力処理等については、後に詳細に説明する。記憶部１０は、処理部９の動作プログラムや、Ａ／Ｄ変換部５から出力された検出信号Ｄａ，Ｄｂなどを記憶する。

この場合、本例の光量測定装置１では、図２に示すように、一例として３５０ｎｍから７５０ｎｍの波長範囲Ｒｍを「測定対象波長範囲」とし、その波長範囲Ｒｍ内の波長の測定対象光Ｌを測定対象として、波長、放射量および測光量を測定することができるように構成されている。また、この光量測定装置１では、前述したように、受光センサ２ａが長い波長の光ほど感度が高くなるように光学フィルタ１１ａが構成されると共に、受光センサ２ｂが短い波長の光ほど感度が高くなるように光学フィルタ１１ｂが構成されている。さらに、この光量測定装置１では、標準比視感度における最大視感度の波長（一例として、波長＝５５５ｎｍ）における両受光センサ２ａ，２ｂの感度が同じ感度となるように光学フィルタ１１ａ，１１ｂが構成されている。

具体的には、光学フィルタ１１ａは、図２に一点鎖線Ｌａで示すように、上記の波長範囲Ｒｍにおいて最も短い波長（この例では、波長＝３５０ｎｍ）から標準比視感度における最大視感度の波長（波長＝５５５ｎｍ）までの波長範囲Ｒａ（「第１の波長範囲」の一例）における受光センサ２ａの分光感度特性が「標準比視感度に対応する分光感度特性（波長＝５５５ｎｍをピークとして、波長＝３５０ｎｍ程度で感度がほぼ「０」となる特性）」となるように光電変換部１２ａに対する測定対象光Ｌの入射量を制限可能に構成されている。また、光学フィルタ１１ａは、一点鎖線Ｌａで示すように、標準比視感度における最大視感度の波長（波長＝５５５ｎｍ）から波長範囲Ｒｍにおいて最も長い波長（この例では、波長＝７５０ｎｍ）までの波長範囲Ｒｂ（「第２の波長範囲」の一例）における受光センサ２ａの分光感度特性が「光電変換部１２ａによる測定対象光Ｌの検出光量と測定対象光Ｌの波長とがほぼ比例的な関係の分光感度特性」となるように光電変換部１２ａに対する測定対象光Ｌの入射量を制限可能に構成されている。

さらに、光学フィルタ１１ｂは、二点鎖線Ｌｂで示すように、波長範囲Ｒｍにおいて最も短い波長（波長＝３５０ｎｍ）から標準比視感度における最大視感度の波長（波長＝５５５ｎｍ）までの波長範囲Ｒａにおける受光センサ２ｂの分光感度特性が「光電変換部１２ｂによる測定対象光Ｌの検出光量と測定対象光Ｌの波長とがほぼ比例的な関係の分光感度特性」となるように光電変換部１２ｂに対する測定対象光Ｌの入射量を制限可能に構成されている。また、光学フィルタ１１ｂは、二点鎖線Ｌｂで示すように、標準比視感度における最大視感度の波長（波長＝５５５ｎｍ）から波長範囲Ｒｍにおいて最も長い波長（波長＝７５０ｎｍ）までの波長範囲Ｒｂにおける受光センサ２ｂの分光感度特性が「標準比視感度に対応する分光感度特性（波長＝５５５ｎｍをピークとして、波長＝７５０ｎｍ程度で感度がほぼ「０」となる特性）」となるように光電変換部１２ｂに対する測定対象光Ｌの入射量を制限可能に構成されている。

なお、図２、および後に参照する図３，４では、両受光センサ２ａ，２ｂにおける波長＝５５５ｎｍの光の感度を基準として、他の波長の光についての受光センサ２ａの相対的な感度（相対分光感度）を一点鎖線Ｌａで示すと共に、他の波長の光についての受光センサ２ｂの相対的な感度を二点鎖線Ｌｂで示している。

この光量測定装置１による測定処理に際しては、まず、操作部７を操作することにより、測定対象光Ｌの放射量および測光量のいずれを測定するかを選択する。この際には、一例として、測定対象光Ｌの放射量を測定する選択操作が行われる。次いで、測定対象光Ｌが照射される位置に光量測定装置１を位置させる。この際に、受光センサ２ａでは、光学フィルタ１１ａを透過した測定対象光Ｌが光電変換部１２ａによって受光され、その受光量に応じた電流値の検出信号Ｓｉａが光電変換部１２ａから出力されると共に、受光センサ２ｂでは、光学フィルタ１１ｂを透過した測定対象光Ｌが光電変換部１２ｂによって受光され、その受光量に応じた電流値の検出信号Ｓｉｂが光電変換部１２ｂから出力される。

この場合、この光量測定装置１では、両受光センサ２ａ，２ｂの光学フィルタ１１ａ，１１ｂが前述したような光学的特性を有して光電変換部１２ａ，１２ｂへの光の入射量を制限する構成が採用されているため、光量測定装置１に照射される測定対象光Ｌの波長が長いときほど、受光センサ２ａの感度が高くなり、かつ受光センサ２ｂの感度が低くなると共に、測定対象光Ｌの波長が短いときほど、受光センサ２ａの感度が低くなり、かつ受光センサ２ｂの感度が高くなる。

したがって、例えば、図２に示す波長λａの測定対象光Ｌ（波長が５５５ｎｍよりも短い光）が両受光センサ２ａ，２ｂによって受光されたときには、光電変換部１２ａからの検出信号Ｓｉａの電流値（信号レベル）よりも、光電変換部１２ｂからの検出信号Ｓｉｂの電流値（信号レベル）が大きくなる。また、波長λｂの測定対象光Ｌ（波長が５５５ｎｍよりも長い光）が両受光センサ２ａ，２ｂによって受光されたときには、光電変換部１２ｂからの検出信号Ｓｉｂの電流値（信号レベル）よりも、光電変換部１２ａからの検出信号Ｓｉａの電流値（信号レベル）が大きくなる。

次いで、処理部９は、切替えスイッチ４を制御して、一例として、Ｉ／Ｖ変換部３ａをＡ／Ｄ変換部５に接続させると共に、Ａ／Ｄ変換部５を制御してＡ／Ｄ変化処理を開始させる。この際に、Ａ／Ｄ変換部５は、受光センサ２ａ（光電変換部１２ａ）からの検出信号ＳｉａがＩ／Ｖ変換部３ａによってＩ／Ｖ変換された検出信号Ｓｖａを所定の周期でＡ／Ｄ変換して検出信号Ｄａを生成し、生成した検出信号Ｄａを処理部９に出力する。また、処理部９は、Ａ／Ｄ変換部５から出力された検出信号Ｄａを記憶部１０に記憶させる。

続いて、処理部９は、検出信号Ｄａの処理部９への記憶が完了したときに、切替えスイッチ４を制御して、Ｉ／Ｖ変換部３ｂをＡ／Ｄ変換部５に接続させると共に、Ａ／Ｄ変換部５を制御してＡ／Ｄ変化処理を継続させる。この際に、Ａ／Ｄ変換部５は、受光センサ２ｂ（光電変換部１２ｂ）からの検出信号ＳｉｂがＩ／Ｖ変換部３ｂによってＩ／Ｖ変換された検出信号Ｓｖｂを所定の周期でＡ／Ｄ変換して検出信号Ｄｂを生成し、生成した検出信号Ｄｂを処理部９に出力する。また、処理部９は、Ａ／Ｄ変換部５から出力された検出信号Ｄｂを記憶部１０に記憶させる。

次いで、処理部９は、一例として、検出信号Ｄａの値（Ａ／Ｄ変換部５によるサンプリング値：「第１の検出信号の信号レベル」に対応する値の一例）、および検出信号Ｄｂの値（Ａ／Ｄ変換部５によるサンプリング値：「第２の検出信号の信号レベル」に対応する値の一例）のいずれか予め規定された一方に対する他方の比（一例として、検出信号Ｄａの値に対する検出信号Ｄｂの値の比）を演算し、演算した比に基づいて、受光センサ２ａ，２ｂに入射した測定対象光Ｌの波長を特定（演算）する。

この際に、受光センサ２ａ，２ｂに入射した測定対象光Ｌが波長λａのとき（波長が５５５ｎｍよりも短いとき）には、受光センサ２ａの感度が受光センサ２ｂの感度よりも低いため、検出信号Ｓｉａの電流値（信号レベル）に対する検出信号Ｓｉｂの電流値（信号レベル）の比、すなわち、検出信号Ｄａの値に対する検出信号Ｄｂの値の比が「１」よりも大きな値となる。また、測定対象光Ｌの波長が波長範囲Ｒａ内のときには、波長が短いほど上記の比が大きな値となり、波長が長いほど上記の比が小さな値となる。したがって、処理部９は、検出信号Ｄａの値に対する検出信号Ｄｂの値の比の大きさに基づき、測定対象光Ｌの波長が波長λａである特定（演算）する。

また、受光センサ２ａ，２ｂに入射した測定対象光Ｌが波長λｂのとき（波長が５５５ｎｍよりも長いとき）には、受光センサ２ａの感度が受光センサ２ｂの感度よりも高いため、検出信号Ｓｉａの電流値（信号レベル）に対する検出信号Ｓｉｂの電流値（信号レベル）の比、すなわち、検出信号Ｄａの値に対する検出信号Ｄｂの値の比が「１」よりも小さな値となる。また、測定対象光Ｌの波長が波長範囲Ｒｂ内のときにも、波長が短いほど上記の比が大きな値となり、波長が長いほど上記の比が小さな値となる。したがって、処理部９は、検出信号Ｄａの値に対する検出信号Ｄｂの値の比の大きさに基づき、測定対象光Ｌの波長が波長λｂである特定（演算）する。

なお、受光センサ２ａ，２ｂに入射した測定対象光Ｌの波長が５５５ｎｍのときには、受光センサ２ａの感度、および受光センサ２ｂの感度が等しいため、検出信号Ｓｉａの電流値（信号レベル）に対する検出信号Ｓｉｂの電流値（信号レベル）の比、すなわち、検出信号Ｄａの値に対する検出信号Ｄｂの値の比が「１」となる。したがって、処理部９は、検出信号Ｄａの値に対する検出信号Ｄｂの値の比が「１」のときには、測定対象光Ｌの波長が５５５ｎｍであると特定する。

次いで、処理部９は、測定対象光Ｌの放射量を測定する。この際に、処理部９は、特定した波長が波長λａのとき（測定対象光Ｌの波長が「第１の波長範囲」に相当する波長範囲Ｒａ内のときの一例）には、切替えスイッチ４を制御してＩ／Ｖ変換部３ｂをＡ／Ｄ変換部５に接続させる。この際には、波長範囲Ｒａ内の波長の光の感度が標準比視感度に対応する分光感度特性になっていない受光センサ２ｂの光電変換部１２ｂから出力される検出信号ＳｉｂがＩ／Ｖ変換部３ｂによってＩ／Ｖ変換されて検出信号Ｓｖｂが出力され、その検出信号ＳｖｂがＡ／Ｄ変換部５によってＡ／Ｄ変換されて検出信号Ｄｂが出力される。したがって、処理部９は、Ａ／Ｄ変換部５から出力される検出信号Ｄｂの値、およびその値から放射量を演算可能に予め規定された光量算出用の係数（または、テーブル）に基づき、測定対象光Ｌの光量を演算し、演算した光量を測定対象光Ｌの放射量として、上記の特定した波長（この例では、波長λａ）と共に表示部８に表示させる。これにより、波長λａの測定対象光Ｌの放射量の測定が完了する。

また、処理部９は、特定した波長が波長λｂのとき（測定対象光Ｌの波長が「第２の波長範囲」に相当する波長範囲Ｒｂ内のときの一例）には、切替えスイッチ４を制御してＩ／Ｖ変換部３ａをＡ／Ｄ変換部５に接続させる。この際には、波長範囲Ｒｂ内の波長の光の感度が標準比視感度に対応する分光感度特性になっていない受光センサ２ａの光電変換部１２ａから出力される検出信号ＳｉａがＩ／Ｖ変換部３ａによってＩ／Ｖ変換されて検出信号Ｓｖａが出力され、その検出信号ＳｖａがＡ／Ｄ変換部５によってＡ／Ｄ変換されて検出信号Ｄａが出力される。したがって、処理部９は、Ａ／Ｄ変換部５から出力される検出信号Ｄａの値、およびその値から放射量を演算可能に予め規定された光量算出用の係数（または、テーブル）に基づき、測定対象光Ｌの光量を演算し、演算した光量を測定対象光Ｌの放射量として、上記の特定した波長（この例では、波長λｂ）と共に表示部８に表示させる。これにより、波長λｂの測定対象光Ｌの放射量の測定が完了する。

一方、測定処理の開始に先立ち、測定対象光Ｌの測光量を測定する選択操作が行われていたときには、処理部９は、測定対象光Ｌの波長を特定する上記の処理が完了した後に、測定対象光Ｌの測光量を測定する処理を開始する。この際に、処理部９は、特定した波長が波長λａのとき（測定対象光Ｌの波長が「第１の波長範囲」に相当する波長範囲Ｒａ内のときの一例）には、切替えスイッチ４を制御してＩ／Ｖ変換部３ａをＡ／Ｄ変換部５に接続させる。この際には、波長範囲Ｒａ内の波長の光の感度が標準比視感度に対応する分光感度特性になっている受光センサ２ａの光電変換部１２ａから出力される検出信号ＳｉａがＩ／Ｖ変換部３ａによってＩ／Ｖ変換されて検出信号Ｓｖａが出力され、その検出信号ＳｖａがＡ／Ｄ変換部５によってＡ／Ｄ変換されて検出信号Ｄａが出力される。したがって、処理部９は、Ａ／Ｄ変換部５から出力される検出信号Ｄａの値、およびその値から測光量を演算可能に予め規定された光量算出用の係数（または、テーブル）に基づき、測定対象光Ｌの光量を演算し、演算した光量を測定対象光Ｌの測光量として、上記の特定した波長（この例では、波長λａ）と共に表示部８に表示させる。これにより、波長λａの測定対象光Ｌの測光量の測定が完了する。

また、処理部９は、特定した波長が波長λｂのとき（測定対象光Ｌの波長が「第２の波長範囲」に相当する波長範囲Ｒｂ内のときの一例）には、切替えスイッチ４を制御してＩ／Ｖ変換部３ｂをＡ／Ｄ変換部５に接続させる。この際には、波長範囲Ｒｂ内の波長の光の感度が標準比視感度に対応する分光感度特性になっている受光センサ２ｂの光電変換部１２ｂから出力される検出信号ＳｉｂがＩ／Ｖ変換部３ｂによってＩ／Ｖ変換されて検出信号Ｓｖｂが出力され、その検出信号ＳｖｂがＡ／Ｄ変換部５によってＡ／Ｄ変換されて検出信号Ｄｂが出力される。したがって、処理部９は、Ａ／Ｄ変換部５から出力される検出信号Ｄｂの値、およびその値から測光量を演算可能に予め規定された光量算出用の係数（または、テーブル）に基づき、測定対象光Ｌの光量を演算し、演算した光量を測定対象光Ｌの測光量として、上記の特定した波長（この例では、波長λｂ）と共に表示部８に表示させる。これにより、波長λｂの測定対象光Ｌの測光量の測定が完了する。

この場合、本例の光量測定装置１では、前述したように、光電変換部１２ａ，１２ｂから出力される検出信号Ｓｉａ，Ｓｉｂを外部装置に出力するための「信号出力部」としてのＩ／Ｖ変換部３ａ，３ｂおよび信号処理回路６を備えている。したがって、両受光センサ２ａ，２ｂに入射している測定対象光Ｌの測光量についてのフリッカー測定処理を実行する際には、外部装置としてのフリッカー測定装置に対して信号処理回路６から検出信号Ｓｏを出力する。

この場合、処理部９は、上記の測定処理において特定した波長が例えば波長λａのとき（測定対象光Ｌの波長が波長範囲Ｒａ内のとき）には、切替えスイッチ４を制御してＩ／Ｖ変換部３ａを信号処理回路６に接続させる。この際には、波長範囲Ｒａ内の波長の光の感度が標準比視感度に対応する分光感度特性になっている受光センサ２ａの光電変換部１２ａから出力される検出信号ＳｉａがＩ／Ｖ変換部３ａによってＩ／Ｖ変換されて検出信号Ｓｖａが出力され、その検出信号Ｓｖａが信号処理回路６において増幅されて検出信号Ｓｏとしてフリッカー測定装置に出力される。

また、処理部９は、上記の測定処理において特定した波長が例えば波長λｂのとき（測定対象光Ｌの波長が波長範囲Ｒｂ内のとき）には、切替えスイッチ４を制御してＩ／Ｖ変換部３ｂを信号処理回路６に接続させる。この際には、波長範囲Ｒｂ内の波長の光の感度が標準比視感度に対応する分光感度特性になっている受光センサ２ｂの光電変換部１２ｂから出力される検出信号ＳｉｂがＩ／Ｖ変換部３ｂによってＩ／Ｖ変換されて検出信号Ｓｖｂが出力され、その検出信号Ｓｖｂが信号処理回路６において増幅されて検出信号Ｓｏとしてフリッカー測定装置に出力される。

したがって、フリッカー現象が発生して測定対象光Ｌの測光量が極く短い周期で増減している状態においても、Ａ／Ｄ変換部５によるＡ／Ｄ変換処理や処理部９による演算処理が行われない検出信号Ｓｏ、すなわち、フリッカー現象に起因して測光量が逐次変化する検出信号Ｓｏがフリッカー測定装置に出力されるため、フリッカー測定装置において、所望のフリッカー測定処理を好適に実行することが可能となる。

このように、この光量測定装置１では、光学フィルタ１１ａが、光量測定装置１の測定対象波長範囲において最も短い波長から標準比視感度における最大視感度の波長までの波長範囲Ｒａにおける受光センサ２ａの分光感度特性が標準比視感度に対応する分光感度特性となるように光電変換部１２ａに対する測定対象光Ｌの入射量を制限可能に構成されると共に、光学フィルタ１１ｂが、標準比視感度における最大視感度の波長から測定対象波長範囲において最も長い波長までの波長範囲Ｒｂにおける受光センサ２ｂの分光感度特性が標準比視感度に対応する分光感度特性となるように光電変換部１２ｂに対する測定対象光Ｌの入射量を制限可能に構成されている。

したがって、この光量測定装置１によれば、ある程度の処理時間を必要とするＡ／Ｄ変換処理や測光量の演算処理を行わずに、測定対象光Ｌの波長が波長範囲Ｒａ内のときには、光電変換部１２ａからの検出信号Ｓｉａを信号処理した検出信号Ｓｏを外部装置（フリッカー測定装置）に出力し、測定対象光Ｌの波長が波長範囲Ｒｂ内のときには、光電変換部１２ｂからの検出信号Ｓｉｂを信号処理した検出信号Ｓｏを外部装置（フリッカー測定装置）に出力することで、例えばフリッカー現象が生じて測定対象光Ｌの測光量が極く短い周期で増減している状態であっても、逐次変化する測光量の信号レベルに応じた「検出信号（検出信号Ｓｏ）を外部装置（フリッカー測定装置）に対してリアルタイムに出力することができる。これにより、外部装置（フリッカー測定装置）において測光量の変化（フリッカー現象の発生の有無や、その度合いの測定）を検出信号Ｓｏに基づいて好適に検出することができる。

また、この光量測定装置１では、処理部９が、検出信号Ｓｉａの電流値（信号レベル：本例では、検出信号Ｓｉａの信号レベルに対応する検出信号Ｄａの値）、および検出信号Ｓｉｂの電流値（信号レベル：検出信号Ｓｉｂの信号レベルに対応する検出信号Ｄｂの値）のいずれか予め規定された一方に対する他方の比（本例では、検出信号Ｄａの値に対する検出信号Ｄｂの値の比）に基づいて測定対象光Ｌの波長を特定すると共に、測定対象光Ｌの放射量を測定する際に、測定対象光Ｌの波長が波長範囲Ｒａ内のときには、検出信号Ｓｉｂに対応して生成された検出信号Ｄｂに基づいて測定対象光Ｌの放射量を測定し、測定対象光Ｌの波長が波長範囲Ｒｂ内のときには、検出信号Ｓｉａに対応して生成された検出信号Ｄａに基づいて測定対象光Ｌの放射量と測定すると共に、測定対象光Ｌの測光量を測定する際に、測定対象光Ｌの波長が波長範囲Ｒａ内のときには、検出信号Ｄａに基づいて測定対象光Ｌの測光量を測定し、測定対象光Ｌの波長が波長範囲Ｒｂ内のときには、検出信号Ｄｂに基づいて測定対象光Ｌの測光量を測定する。

したがって、この光量測定装置１によれば、測定対象光Ｌの波長の特定が完了した後に、放射量を測定するときには、放射量の測定に不要な信号（波長が波長範囲Ｒａのときには、検出信号Ｓｉａ、波長が波長範囲Ｒｂのときには、検出信号Ｓｉｂ）についての処理が不要となり、測光量を測定するときには、測光量の測定に不要な信号（波長が波長範囲Ｒａのときには、検出信号Ｓｉｂ、波長が波長範囲Ｒｂのときには、検出信号Ｓｉａ）についての処理が不要となるため、２つの検出信号を並列的に信号処理する構成が不要となる結果、光量測定装置１の製造コストを十分に低減することができる。

さらに、この光量測定装置１によれば、受光センサ２ａの分光感度特性が長い波長の光ほど感度が高くなるように光学フィルタ１１ａを構成すると共に、受光センサ２ｂの分光感度特性が短い波長の光ほど感度が高くなるように光学フィルタ１１ｂを構成したことにより、波長範囲Ｒｍ内の各波長毎の測定対象光Ｌについての受光センサ２ａの感度と受光センサ２ｂの感度との比が大きく相違する状態となるため、どのような波長の測定対象光Ｌが入射しているかを高精度に測定することができる。

なお、「光量測定装置」の構成は、上記の光量測定装置１の構成に限定されない。例えば、受光センサ２ａの分光感度特性が長い波長の光ほど感度が高くなるように光電変換部１２ａに対する測定対象光Ｌの入射量を制限する光学フィルタ１１ａ、および受光センサ２ｂの分光感度特性が短い波長の光ほど感度が高くなるように光電変換部１２ｂに対する測定対象光Ｌの入射量を制限する光学フィルタ１１ｂを備えた構成を例に挙げて説明したが、「第１の光学フィルタ」および「第２の光学フィルタ」の光学特性はこれに限定されない。

例えば、「第１の光学フィルタ」の一例である光学フィルタ１１ａについては、図３に一点鎖線Ｌａで示すように、受光センサ２ａの分光感度特性が波長範囲Ｒｂ内において一定の感度となるように光電変換部１２ａに対する測定対象光Ｌの入射量を制限可能に構成し、「第２の光学フィルタ」の一例である光学フィルタ１１ｂについては、同図に二点鎖線Ｌｂで示すように、受光センサ２ｂの分光感度特性が波長範囲Ｒａ内において一定の感度となるように光電変換部１２ｂに対する測定対象光Ｌの入射量を制限可能に構成することができる。なお、同図に示す光学特性の光学フィルタ１１ａ，１１ｂを有する「光量測定装置」や、後に図４を参照しつつ説明する光学特性の光学フィルタ１１ａ，１１ｂを有する「光量測定装置」について、上記の光量測定装置１と共通する構成要素については、同一の符号を付して重複する説明を省略する。また、放射量や測光量の測定（演算）処理や、検出信号Ｓｏの出力処理については、上記の光量測定装置１による各処理と同様のため、重複する説明を省略する。

このように、受光センサ２ａの分光感度特性が波長範囲Ｒｂ内において一定の感度となるように光学フィルタ１１ａを構成すると共に、受光センサ２ｂの分光感度特性が波長範囲Ｒａ内において一定の感度となるように光学フィルタ１１ｂを構成した光量測定装置１によれば、上記の光量測定装置１と同様に、測定対象光Ｌの波長、測定対象光Ｌの放射量および測定対象光Ｌの測光量の測定や、測光量に応じた検出信号Ｓｏの出力を行うことができるだけでなく、測定対象光Ｌの波長が波長範囲Ｒｂ内のときには、光電変換部１２ａからの検出信号Ｓｉａを信号処理した検出信号Ｓｏを外部装置（フリッカー測定装置）に出力し、測定対象光Ｌの波長が波長範囲Ｒａ内のときには、光電変換部１２ｂからの検出信号Ｓｉｂを信号処理した検出信号Ｓｏを外部装置（フリッカー測定装置）に出力することで、放射量の信号レベルに応じた「検出信号（検出信号Ｓｏ）を外部装置（フリッカー測定装置）に対してリアルタイムに出力することができる。これにより、外部装置（フリッカー測定装置）において放射量の変化（フリッカー現象の発生の有無や、その度合いの測定）を検出信号Ｓｏに基づいて好適に検出することができる。

また、「第１の光学フィルタ」の一例である光学フィルタ１１ａについては、図４に一点鎖線Ｌａで示すように、受光センサ２ａの分光感度特性が波長範囲Ｒｂ内において長い波長の光ほど感度が低くなる（短い波長の光ほど感度が高くなる）ように光電変換部１２ａに対する測定対象光Ｌの入射量を制限可能に構成し、「第２の光学フィルタ」の一例である光学フィルタ１１ｂについては、同図に二点鎖線Ｌｂで示すように、受光センサ２ｂの分光感度特性が波長範囲Ｒａ内において短い波長の光ほど感度が低くなる（長い波長の光ほど感度が高くなる）ように光電変換部１２ｂに対する測定対象光Ｌの入射量を制限可能に構成することもできる。このような構成を採用した場合においても、前述した光量測定装置１と同様にして、測定対象光Ｌの波長、測定対象光Ｌの放射量および測定対象光Ｌの測光量の測定や、測光量に応じた検出信号Ｓｏの出力を好適に行うことができる。

また、Ａ／Ｄ変換部５や信号処理回路６に対してＩ／Ｖ変換部３ａ，３ｂのいずれか一方を選択的に接続する切替えスイッチ４を備えた構成を例に挙げて説明したが、このような構成に代えて、Ｉ／Ｖ変換部３ａから出力される検出信号ＳｖａをＡ／Ｄ変換するＡ／Ｄ変換部５と、Ｉ／Ｖ変換部３ｂから出力される検出信号ＳｖｂをＡ／Ｄ変換するＡ／Ｄ変換部５とを別個に設けて両検出信号Ｓｖａ，Ｓｖｂを並列的に処理する構成や、Ｉ／Ｖ変換部３ａから出力される検出信号Ｓｖａを信号処理する（増幅する）信号処理回路６と、Ｉ／Ｖ変換部３ｂから出力される検出信号Ｓｖｂを信号処理する（増幅する）信号処理回路６とを別個に設けて両検出信号Ｓｖａ，Ｓｖｂを並列的に処理する構成を採用することもできる。

さらに、「波長＝５５５ｎｍ」を「標準比視感度における最大視感度の波長」とする構成の例について説明したが、例えば、「測定対象光」の波長を１０ｎｍステップで測定する構成の「光量測定装置」においては、「波長＝５５０ｎｍ」および「波長＝５６０ｎｍ」のいずれかを「標準比視感度における最大視感度の波長」として「第１の光学フィルタ」および「第２の光学フィルタ」の光学特性を規定することができる。

１ 光量測定装置
２ａ，２ｂ 受光センサ
３ａ，３ｂ Ｉ／Ｖ変換部
４ 切替えスイッチ
５ Ａ／Ｄ変換部
６ 信号処理回路
９ 処理部
１１ａ，１１ｂ 光学フィルタ
１２ａ，１２ｂ 光電変換部
Ｄａ，Ｄｂ 検出信号
Ｌ 測定対象光
Ｓｉａ，Ｓｉｂ，Ｓｖａ，Ｓｖｂ 検出信号
Ｓｏ 検出信号
Ｒａ，Ｒｂ，Ｒｍ 波長範囲
λａ，λｂ 波長

Claims (3)

1. 測定対象光を受光可能に配設されて受光量に応じた第１の検出信号を出力する第１の光電変換部、および当該第１の光電変換部に対する当該測定対象光の入射量を制限する第１の光学フィルタを有する第１の受光センサと、
   前記測定対象光を受光可能に配設されて受光量に応じた第２の検出信号を出力する第２の光電変換部、および当該第２の光電変換部に対する当該測定対象光の入射量を制限する第２の光学フィルタを有する第２の受光センサと、
   前記両検出信号に基づいて前記測定対象光の波長および光量を測定する測定部とを備え、
   前記第１の受光センサの分光感度と前記第２の受光センサの分光感度との比が測定対象波長範囲内における各波長の前記測定対象光毎に相違するように前記第１の光学フィルタおよび前記第２の光学フィルタがそれぞれ構成されている光量測定装置であって、
   前記第１の検出信号および前記第２の検出信号を信号処理して外部装置に出力する信号出力部を備え、
   前記第１の光学フィルタは、前記測定対象波長範囲において最も短い波長から標準比視感度における最大視感度の波長までの第１の波長範囲内における前記第１の受光センサの分光感度特性が当該標準比視感度に対応する分光感度特性となるように前記第１の光電変換部に対する前記測定対象光の入射量を制限可能に構成され、
   前記第２の光学フィルタは、前記標準比視感度における最大視感度の波長から前記測定対象波長範囲において最も長い波長までの第２の波長範囲内における前記第２の受光センサの分光感度特性が当該標準比視感度に対応する分光感度特性となるように前記第２の光電変換部に対する前記測定対象光の入射量を制限可能に構成され、
   前記測定部は、前記第１の検出信号の信号レベル、および前記第２の検出信号の信号レベルのいずれか予め規定された一方に対する他方の比に基づいて前記測定対象光の波長を特定すると共に、前記測定対象光の光量として当該測定対象光の放射量を測定する際に、当該測定対象光の波長が前記第１の波長範囲内のときには、前記第２の検出信号に基づいて当該測定対象光の放射量を測定し、当該測定対象光の波長が前記第２の波長範囲内のときには、前記第１の検出信号に基づいて当該測定対象光の放射量と測定すると共に、前記測定対象光の光量として当該測定対象光の測光量を測定する際に、当該測定対象光の波長が前記第１の波長範囲内のときには、前記第１の検出信号に基づいて当該測定対象光の測光量を測定し、当該測定対象光の波長が前記第２の波長範囲内のときには、前記第２の検出信号に基づいて当該測定対象光の測光量を測定する光量測定装置。
2. 前記第１の光学フィルタは、前記第１の受光センサの分光感度特性が長い波長の光ほど感度が高くなるように前記第１の光電変換部に対する前記測定対象光の入射量を制限可能に構成され、
   前記第２の光学フィルタは、前記第２の受光センサの分光感度特性が短い波長の光ほど感度が高くなるように前記第２の光電変換部に対する前記測定対象光の入射量を制限可能に構成されている請求項１記載の光量測定装置。
3. 前記第１の光学フィルタは、前記第１の受光センサの分光感度特性が前記第２の波長範囲内において一定の感度となるように前記第１の光電変換部に対する前記測定対象光の入射量を制限可能に構成され、
   前記第２の光学フィルタは、前記第２の受光センサの分光感度特性が前記第１の波長範囲内において一定の感度となるように前記第２の光電変換部に対する前記測定対象光の入射量を制限可能に構成されている請求項１記載の光量測定装置。

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