JP6380713B1 - 膜厚計の位置合わせ治具 - Google Patents
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Abstract
Description
まず図1とともに電磁誘導式膜厚計の測定原理について説明する。膜厚計は、例えば、素地21の表面に被膜22が施された測定対象物2の膜厚の測定に用いられる。ここで素地21は、例えば、鉄、鋼、フェライト系ステンレス等の磁性体であり、被膜22は、例えば、メッキ(亜鉛メッキ等)、ペイント、樹脂膜等の非磁性被膜である。
図2に電磁誘導式膜厚計(以下、膜厚計5と称する。)の外観を示している。膜厚計5は携帯型であり、ユーザが現場に持ち込んで使用することができる。同図に示すように、膜厚計5は、本体装置51、プローブ52、及びケーブル53(コード)を備える。プローブ52は、ケーブル53(コード)を介して本体装置51と電気的に接続される。
図8にプローブ52の他の構成を示している。同図に示すように、プローブ52は、その外筒体611に複数の同心円環状の凸部617を有している。これら複数の凸部617のうち、最下部の凸部617aは他の凸部617bに比べてその外径がやや大きくなっている。
以下、図10乃至図15とともに、膜厚計5のプローブ52に装着して用いる測定治具1について説明する。測定治具1は、図10等に示すスライド部材11と図11Aや図11B等に示す位置合わせ治具7とを含む。プローブ52は、図10に示すロック部材13を用いてスライド部材11に固定される。
膜厚計5を用いた膜厚の測定に際して測定精度を確保するには、プローブ52の先端を測定対象物2の測定対象部位(以下、測定ポイントPとも称する。)に正確に当てる必要がある。また特定の測定ポイントPについて繰り返し膜厚を測定する必要が場合はプローブ52の先端を同じ測定ポイントPに繰り返し正確に当てる必要がある。
続いて、図12A乃至図12Cを参照しつつ、スライド部材11にプローブ52を取り付ける際の手順について説明する。
図13は、スライド部材11を位置合わせ治具7に装着しようとしている様子を示す図である。前述したように、収容部12を構成する第1側面板715a及び第2側面板715bの夫々には、嵌合溝712a及び嵌合溝712bが形成されている。スライド部材11を収容部12に装着する際は、凸条116aについては嵌合溝712aに、凸条116dについては嵌合溝712bに、夫々嵌まるようにしてスライド部材11を収容部12にスライド式に挿入する。
図15は、スライド部材11を装着した状態の位置合わせ治具7を上方(+z方向)から眺めた図である。膜厚の測定に際し、作業者は、同図に示す状態となるように測定対象物2に位置合わせ治具7をセットする。
Claims (10)
- 棒状の磁心の端部を測定対象物に接近させた際に前記磁心に巻回されたコイルを貫く磁束の変化に基づき膜厚を測定するプローブを有する膜厚計の位置合わせ治具であって、
前記プローブが固定されるスライド部材が前記磁心の軸の方向にスライド可能に収容される収容部を有し、前記スライド部材が前記収容部に嵌め合わされた状態で前記プローブの先端を通過させる貫通孔が形成され、前記磁心の測定対象物に接近させる側に前記磁心の軸に対して垂直な平坦面を有する基体と、
前記基体から延出して設けられる第1接触面を有する第1接触部材と、
前記基体から延出して設けられる第2接触面を有する第2接触部材と、
を備え、
前記第1接触部材は、前記第1接触面が、稜線を介して連続する複数の外表面を有する測定対象物の前記外表面の一つである第1外表面に面接触するように設けられ、
前記平坦面は、前記第1外表面に稜線を介して連続する第2外表面と面接触するように設けられ、
前記第2接触部材は、前記第2接触面が、前記第2外表面に稜線を介して連続する第3外表面に面接触するように設けられ、
前記収容部の外周に突設され、前記測定対象物を前記平坦面の方向に押圧すべく前記測定対象物を周回させて設けられるバンドを係止するバンド掛けを備え、
前記平坦面、前記第1接触面、及び前記第2接触面で囲まれる空間の前記平坦面と対向する側が開放されている、
膜厚計の位置合わせ治具。 - 請求項1に記載の膜厚計の位置合わせ治具であって、
前記収容部は略直方体状であり、
前記収容部の前記第1接触部材が存在する側の第1側面に突設される第1バンド掛けと、
前記収容部の前記第2接触部材が存在する側の前記第1側面に対向する第2側面に突設される第2バンド掛けと、
を備える、膜厚計の位置合わせ治具。 - 請求項1又は2に記載の膜厚計の位置合わせ治具であって、
前記バンド掛けは、前記バンドの端部が係止されるスリットを有する、
膜厚計の位置合わせ治具。 - 請求項1に記載の膜厚計の位置合わせ治具であって、
前記第1接触面の前記基体に対する位置及び前記第2接触面の前記基体に対する位置を制御する位置決め機構を備える、
膜厚計の位置合わせ治具。 - 請求項4に記載の膜厚計の位置合わせ治具であって、
前記位置決め機構は、前記貫通孔を通過する前記プローブの先端の位置を中心として前記第1接触面と前記第2接触面とが対称な位置関係になるように、前記第1接触部材及び前記第2接触部材の位置を制御する、
膜厚計の位置合わせ治具。 - 請求項5に記載の膜厚計の位置合わせ治具であって、
前記位置決め機構は、
前記第1接触部材に連続して設けられる第1ラックと、
前記第2接触部材に連続して設けられる第2ラックと、
前記基体に設けられ、前記第1ラック及び前記第2ラックが対向した状態で歯合されるピニオンと、
を備える、膜厚計の位置合わせ治具。 - 請求項1又は2に記載の膜厚計の位置合わせ治具であって、
前記スライド部材は、前記収容部の内周面に面接触してスライド可能な外形を有する、
膜厚計の位置合わせ治具。 - 請求項1又は2に記載の膜厚計の位置合わせ治具であって、
前記プローブは、当該プローブの先端部が前記測定対象物に接触又は押圧されることにより膜厚を測定するタイミングを示す信号を生成する機構を有する、
膜厚計の位置合わせ治具。 - 請求項1又は2に記載の膜厚計の位置合わせ治具であって、
前記膜厚計は、電磁誘導式膜厚計又は渦電流式膜厚計である、
膜厚計の位置合わせ治具。 - 請求項1又は2に記載の膜厚計の位置合わせ治具であって、
前記測定対象物は六角ボルトの頭部又は六角ナットである、
膜厚計の位置合わせ治具。
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