JP6340207B2 - 非線形歪み検出装置及び歪み補償電力増幅器 - Google Patents

非線形歪み検出装置及び歪み補償電力増幅器 Download PDF

Info

Publication number
JP6340207B2
JP6340207B2 JP2014033041A JP2014033041A JP6340207B2 JP 6340207 B2 JP6340207 B2 JP 6340207B2 JP 2014033041 A JP2014033041 A JP 2014033041A JP 2014033041 A JP2014033041 A JP 2014033041A JP 6340207 B2 JP6340207 B2 JP 6340207B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
signal
power amplifier
distortion
unit
amplitude
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2014033041A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2015159420A (ja
Inventor
宮長 健二
健二 宮長
典昭 齊藤
典昭 齊藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Corp
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Panasonic Corp
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Panasonic Corp, Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Panasonic Corp
Priority to JP2014033041A priority Critical patent/JP6340207B2/ja
Priority to US14/623,239 priority patent/US9903908B2/en
Publication of JP2015159420A publication Critical patent/JP2015159420A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6340207B2 publication Critical patent/JP6340207B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2832Specific tests of electronic circuits not provided for elsewhere
    • G01R31/2836Fault-finding or characterising
    • G01R31/2837Characterising or performance testing, e.g. of frequency response
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03FAMPLIFIERS
    • H03F1/00Details of amplifiers with only discharge tubes, only semiconductor devices or only unspecified devices as amplifying elements
    • H03F1/32Modifications of amplifiers to reduce non-linear distortion
    • H03F1/3241Modifications of amplifiers to reduce non-linear distortion using predistortion circuits
    • H03F1/3247Modifications of amplifiers to reduce non-linear distortion using predistortion circuits using feedback acting on predistortion circuits
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03FAMPLIFIERS
    • H03F1/00Details of amplifiers with only discharge tubes, only semiconductor devices or only unspecified devices as amplifying elements
    • H03F1/32Modifications of amplifiers to reduce non-linear distortion
    • H03F1/3241Modifications of amplifiers to reduce non-linear distortion using predistortion circuits
    • H03F1/3294Acting on the real and imaginary components of the input signal
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2832Specific tests of electronic circuits not provided for elsewhere
    • G01R31/2836Fault-finding or characterising
    • G01R31/2839Fault-finding or characterising using signal generators, power supplies or circuit analysers
    • G01R31/2841Signal generators

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Nonlinear Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Amplifiers (AREA)

Description

本開示は、無線通信装置などに使用される電力増幅器によって発生する非線形歪みを検出する非線形歪み検出装置及び該非線形歪み検出装置を備えた歪み補償電力増幅器に関する。
近年、携帯電話やノートパソコン等の無線通信機能が搭載されたモバイル機器の普及が進んでいる。これらの機器に搭載される無線通信装置では、電力増幅器の非線形な入出力特性に起因する隣接チャネル漏洩電力の増加を抑えるため、高い線形性が要求されている。しかし、高い線形性を保ちながら、高出力化、高効率化することは困難であることから、非線形歪み補償技術の適用が重要となっている。
電力増幅器の非線形特性を補償する方式として、近年、プリディストーション方式が注目されている。プリディストーション方式は、電力増幅器で発生する歪み特性と逆の特性をあらかじめ入力信号に与えてから電力増幅器に入力する方法である。プリディストーション方式を用いた歪み補償電力増幅器として、例えば特許文献1に記載されているものがある。
特開2005−079935号公報
しかしながら、特許文献1に記載された歪み補償電力増幅器においては、電力増幅器の非線形特性を表わす歪み係数を求めるための演算量が多いため、回路規模が大きくなる、もしくは演算時間が長くなるという課題がある。
本開示は、係る事情に鑑みてなされたものであり、電力増幅器の非線形特性を表わす歪み係数を求めるための演算を簡略化できる非線形歪み検出装置及び歪み補償電力増幅器を提供する。
本開示の非線形歪み検出装置は、電力増幅器で発生する非線形歪みを検出する非線形歪み検出装置であって、テスト信号を生成し前記電力増幅器に出力するテスト信号生成部と、前記電力増幅器の出力信号を周波数領域の信号に変換するフーリエ変換部と、前記フーリエ変換部から得られる振幅情報および位相情報に基づいて前記電力増幅器の歪み係数を演算する歪み係数演算部と、相殺信号を生成し、前記相殺信号の振幅、位相、遅延を調整する相殺信号生成部と、前記相殺信号と前記電力増幅器の出力信号を合成する合成部と、前記合成部の出力信号の振幅を調整する振幅調整部と、前記振幅調整部の出力信号をデジタル信号に変換するADCと、を備え、前記フーリエ変換部は前記ADCの出力信号を周波数領域の信号に変換し、前記歪み係数演算部は、前記電力増幅器の出力信号に前記相殺信号を合成しない状態で前記フーリエ変換部から得られる振幅情報および位相情報を第1の振幅位相情報として取得し、前記電力増幅器の出力信号に前記相殺信号を合成した状態で前記フーリエ変換部から得られる振幅情報および位相情報を第2の振幅位相情報として取得し、前記第1の振幅位相情報と前記第2の振幅位相情報とに基づいて歪み係数を演算する
本開示によれば、電力増幅器の非線形特性を表わす歪み係数を求めるための演算を簡略化できる。
実施の形態1に係る非線形歪み検出装置の概略構成を示すブロック図 実施の形態2に係る歪み補償電力増幅器の概略構成を示すブロック図 実施の形態2に係る歪み補償電力増幅器における歪み係数Aを求める処理を説明するためのフローチャート 実施の形態3に係る歪み補償電力増幅器の概略構成を示すブロック図 実施の形態3に係る歪み補償電力増幅器における歪み係数Aを求める処理を説明するためのフローチャート 実施の形態4に係る歪み補償電力増幅器の概略構成を示すブロック図 実施の形態4に係る歪み補償電力増幅器における歪み係数Aを求める処理を説明するためのフローチャート 実施の形態5に係る歪み補償電力増幅器の概略構成を示すブロック図 実施の形態5に係る歪み補償電力増幅器における歪み係数Aを求める処理を説明するためのフローチャート 実施の形態6に係る歪み補償電力増幅器の概略構成を示すブロック図 実施の形態6に係る歪み補償電力増幅器における歪み係数Aを求める処理を説明するためのフローチャート 実施の形態6に係る歪み補償電力増幅器における主要な信号を表わす図 実施の形態6に係る歪み補償電力増幅器における主要な信号を表わす図 実施の形態6に係る歪み補償電力増幅器の変形例における歪み係数Aを求める処理を説明するためのフローチャート 特許文献1に記載されているプリディストーション方式の歪み補償電力増幅器の概略構成を示すブロック図
以下、本開示の実施の形態について、図面を参照して説明する。
(本開示の一形態を得るに至った経緯)
図15は、特許文献1に記載されているプリディストーション方式の歪み補償電力増幅器の概略構成を示すブロック図である。同図に示す歪み補償電力増幅器49は、プリディストーション部50、電力増幅器51、歪み係数演算部52、補償係数演算部53、評価関数計算部54及びバックオフ制御部55で構成されている。プリディストーション部50に入力された信号(入力信号)xは、電力増幅器51の非線形歪みと逆特性の歪みが与えられた後、信号(出力信号)yとして出力される。プリディストーション部50からの出力信号yは電力増幅器51に入力され、電力増幅器51の非線形歪み特性と打ち消しあって歪み補償された信号(出力信号)zとして出力される。
ここで、電力増幅器51の出力信号zと、プリディストーション部50の出力信号yの関係は、複素べき級数を用いて式(1)のように表わされる。
Figure 0006340207
ここで、Aは、電力増幅器51の非線形歪み特性を表わす係数であり、以下歪み係数と呼ぶ。同様に、プリディストーション部50の入力信号xと出力信号yの関係も複素べき級数を用いて式(2)のように表わされる。
Figure 0006340207
ここで、Bは、プリディストーション部50で与える逆歪み特性を表わす係数であり、以下補償係数と呼ぶ。式(2)を式(1)へ代入すると、歪み補償電力増幅器49の入出力関係は式(3)のように表わされる。
Figure 0006340207
ここで、係数Cは、係数AおよびBを用いて式(4)のように表わされる。
Figure 0006340207
歪み係数演算部52は、式(5)で表わされる連立方程式を解くことにより係数Aを求める。
Figure 0006340207
ここで、行列Dは式(6)で表わされる。
Figure 0006340207
次に、補償係数演算部53は、式(7)に基づいてBを計算する。なお、式(7)は、式(4)においてC、C、…をゼロとすることにより求められる。
Figure 0006340207
評価関数計算部54とバックオフ制御部55は、隣接チャネル漏洩電力比が所定のしきい値以下になるようにBを決定する。プリディストーション部50は、補償係数演算部53で求められたB(k=3、5、…)とバックオフ制御部55で求められたBとから、式(2)に基づく歪み補償を行い、出力信号yを電力増幅器51に出力する。
ところで、上述した特許文献1に記載の技術では次のような課題がある。すなわち、電力増幅器51の歪み係数Aを求めるためには式(5)の連立方程式を解く、または、式(6)で表わされる行列Dの逆行列を解く必要がある。連立方程式として解く場合には消去法などの方法が用いられる。逆行列として解く場合には行列Dの行列式を計算して逆行列が存在するかどうかを判定し、逆行列の各成分を演算する必要がある。より大きな歪み補償効果を得ようとすると行列Dの次数を増やす必要があり、演算量が急激に増大する。結果として、回路規模が大きくなる、もしくは、演算時間が長くなる。
また、式(5)において、電力増幅器51の出力信号zを取り込んで演算する際には、ADCを用いて出力信号zをデジタル信号に変換するが、主波成分に比べて信号レベルの小さい歪み成分を含めて精度良く変換するには、ADCの有効ビット数を十分確保する必要がある。しかし、有効ビット数の増加は回路規模や消費電力の増加に直結するため、特にサンプリングレートが非常に高速な場合には、有効ビット数を抑えざるを得ない。つまり、ADCのビット数が十分確保できない場合には、量子化誤差の影響により歪み係数Aを精度良く求められない。
以下、電力増幅器の歪み係数を求めるための演算を簡略化でき、またADCのビット数が十分確保できない場合にも精度良く歪み係数を求めることができる非線形歪み検出装置及び歪み補償電力増幅器について説明する。
(実施の形態1)
図1は、実施の形態1に係る非線形歪み検出装置の概略構成を示すブロック図である。同図において、実施の形態1に係る非線形歪み検出装置1は、電力増幅器11で発生する非線形歪みを検出するものであり、テスト信号生成部10と、フーリエ変換部12と、歪み係数演算部13と、を備える。テスト信号生成部10は、歪み係数Aを求めるためのテスト信号xtを生成し電力増幅器11に出力する。フーリエ変換部12は、電力増幅器11の出力信号zをフーリエ変換して周波数領域の信号に変換する。歪み係数演算部13は、フーリエ変換部12から得られる振幅情報及び位相情報に基づいて電力増幅器11の歪み係数Aを演算する。電力増幅器11は、テスト信号生成部10で生成されたテスト信号xtを入力して増幅した信号(出力信号)zを出力する。
上述したテスト信号生成部10は、テスト信号xtとして式(8)に示す2波正弦波を出力する。
Figure 0006340207
ここで、aはテスト信号xtの振幅である。
電力増幅器11の出力信号zは、式(9)で表わされる。
Figure 0006340207
式(8)を式(9)へ代入すると、出力信号zは式(10)で表わされる。
Figure 0006340207
式(10)から、出力信号zにはテスト信号xtに含まれる周波数成分(ω、ω)の他、電力増幅器11の非線形性によって発生した歪み成分(2ω−ω、2ω−ω、3ω−2ω、3ω−2ω、…)が含まれることがわかる。
式(10)の出力信号zをフーリエ変換した時のフーリエ係数をZとすると、Zは式(11)で表わされる。
Figure 0006340207
ここで、Zはω、ωの周波数に対応したフーリエ係数、Zは2ω−ω、2ω−ωの周波数に対応したフーリエ係数、Zは3ω−2ω、3ω−2ωの周波数に対応したフーリエ係数である。
行列Eは式(12)で表わされる。
Figure 0006340207
式(11)を解くことで歪み係数Aを求めることができるが、式(12)を見ると行列Eは、上三角行列であることがわかる。上三角行列は、対角成分から左下の成分が全てゼロであるような正方行列のことである。行列の次数をnとした時、一般的な逆行列演算はO(n)の計算量が必要なのに対し、上三角行列の逆行列演算はO(n)の計算量で済むことが知られている。つまり、従来技術では式(6)の一般的な逆行列の演算が必要なのに対し、本開示では式(12)の上三角行列の逆行列の演算で済み、計算量を削減することができる。
このように、実施の形態1に係る非線形歪み検出装置1よれば、フーリエ変換後の信号を用いて上三角行列の逆行列演算で電力増幅器の非線形特性を表わす歪み係数を求めるので、従来技術に比べて、歪み係数Aを求める演算の簡略化が図れる。
(実施の形態2)
次に、実施の形態1の非線形歪み検出装置1を歪み補償電力増幅器に適用した場合の実施の形態について、図面を参照しながら説明する。
図2は、実施の形態2に係る歪み補償電力増幅器の概略構成を示すブロック図である。なお、同図において前述した図1と共通する部分には同一の符号を付けている。同図に示す歪み補償電力増幅器2は、テスト信号生成部10と、プリディストーション部14と、DAC(Digital-to-Analog Converter)15と、周波数変換部16と、電力増幅器11と、周波数変換部17と、ADC(Analog-to-Digital Converter)18と、フーリエ変換部12と、歪み係数演算部13と、補償係数演算部19と、を備える。
テスト信号生成部10は、歪み係数Aを求めるためのテスト信号xtを生成しプリディストーション部14に出力する。プリディストーション部14は、歪み係数Aを求めるときはテスト信号xtをそのまま出力し、歪み係数Aを求めた後に通信するときは入力信号xに式(2)に応じた歪み補償を行い、DAC15へ出力する。DAC15は、プリディストーション部14から出力された信号をアナログ信号に変換する。周波数変換部16は、DAC15から出力された信号をベースバンド帯から搬送波周波数へアップコンバートする。例えば、DAC15から出力される信号がI、Qの複素信号で表わされる場合には、周波数変換部16は直交変調器として構成される。
電力増幅器11は、周波数変換部16から出力された信号を所定の電力に増幅する。電力増幅器11の入出力特性は式(1)で表わされる。周波数変換部17は、電力増幅器11から出力された信号zの周波数を搬送波周波数からベースバンド帯へダウンコンバートする。例えば、ADC18に入力される信号がI、Qの複素信号で表わされる場合には、周波数変換部17は直交復調器として構成される。ADC18は、周波数変換部17でダウンコンバートされた信号を所定のサンプリング周波数で取り込み、デジタル信号へ変換する。フーリエ変換部12は、ADC18から出力される信号にフーリエ変換を行い、周波数領域の信号に変換する。歪み係数演算部13は、フーリエ変換部12から出力される信号を用いて、電力増幅器11の歪み係数Aを演算する。補償係数演算部19は、式(7)に従って歪み係数Aから補償係数Bを演算する。歪み係数演算部13は、式(11)を解くことで、歪み係数Aを演算する。前述のように、式(11)中の行列Eは上三角行列となるので、従来の歪み補償電力増幅器に比べて、歪み係数Aを求めるための演算を簡略化できる。
図3は、実施の形態2に係る歪み補償電力増幅器2における歪み係数Aを求める処理を説明するためのフローチャートである。図3において、まずテスト信号生成部10が、テスト信号xtを出力する(ステップS100)。テスト信号xtは、プリディストーション部14、DAC15、周波数変換部16、電力増幅器11、周波数変換部17、ADC18を経由してフーリエ変換部12へ入力される。この時、フーリエ変換部12に入力される信号には元のテスト信号xtのほかに、電力増幅器11の非線形性によって発生した歪み成分も含まれる。
フーリエ変換部12がフーリエ変換を行い、ADC18から出力される信号を周波数領域の信号に変換し、式(11)のZに対応したフーリエ係数を取得する(ステップS200)。フーリエ変換部12がZに対応したフーリエ係数を取得した後、歪み係数演算部13が式(11)を解いてZから歪み係数Aを求める。そして、補償係数演算部19が式(7)に基づいて歪み係数Aから補償係数Bを求める(ステップS300)。
補償係数演算部19は、補償係数Bを求めた後、それをプリディストーション部14に出力する。そして、プリディストーション部14が、補償係数Bに基づいて逆特性の歪みを入力信号に与え、電力増幅器11に出力する。そして、電力増幅器11から歪み補償された信号が送信される。
このように、実施の形態2に係る歪み補償電力増幅器2よれば、フーリエ変換後の信号を用いて上三角行列の逆行列演算で電力増幅器の非線形特性を表わす歪み係数を求めるので、従来技術に比べて歪み係数Aの演算を簡略化できる。そして、歪み係数Aから求めた補償係数Bを用いて電力増幅器の歪み補償を行うことができる。
(実施の形態3)
図4は、実施の形態3に係る歪み補償電力増幅器の概略構成を示すブロック図である。なお、同図において前述した図1及び図2と共通する部分には同一の符号を付けている。同図に示す歪み補償電力増幅器3において、図2に示した実施の形態2に係る歪み補償電力増幅器2との違いは、タイミング調整部20を備えている点である。実施の形態2に係る歪み補償電力増幅器2では、テスト信号生成部10から出力されたテスト信号xtが電力増幅器11を経由してフーリエ変換部12に入力されるまでの時間が十分小さい場合を想定していた。つまり、フーリエ変換部12に入力される信号が式(10)で表わされる場合を想定していた。しかし、実際、フーリエ変換部12に入力される信号は、回路の応答時間等のために遅延され、フーリエ変換を行うタイミングにタイミングずれを生じることがある。タイミングずれを生じたままフーリエ変換を行うと、フーリエ係数Zに位相回転を生じ、正しく歪み係数Aを求めることができない。そこで、実施の形態3に係る歪み補償電力増幅器3では、タイミング調整部20にて、フーリエ変換部12でフーリエ変換を行うタイミングを適切なタイミングに調整するようにしている。
以下、タイミング調整部20の動作について説明する。
タイミング調整部20は、フーリエ変換部12に入力される信号の振幅値に基づいて、フーリエ変換を行うタイミングを決定する。具体的には、信号の振幅値が最大となるタイミングを検出し、それに基づいてフーリエ変換を行うタイミングを決定する。テスト信号xtは2波正弦波で構成されており、2波の周波数で決まる周期を持つ周期関数となる。タイミング調整部20は、テスト信号xtの周期の1周期以上観測することで、信号の振幅値が最大となるタイミングを検出する。
電力増幅器11を経由してフーリエ変換部12に入力される信号は電力増幅器11の非線形歪みを受けるが、歪み成分は元のテスト信号xtの成分に比べると低いレベルになるので、タイミング調整部20の動作には大きく影響することはない。タイミング調整部20にはADC18でサンプリングされた信号が入力されるので、フーリエ変換を行うタイミングは、ADC18のサンプリング周期単位で調整することが可能となる。
図5は、実施の形態3に係る歪み補償電力増幅器3における歪み係数Aを求める処理を説明するためのフローチャートである。図5において前述した図3のフローチャートと同じ動作をするステップには、同じ番号を付与して説明を省略する。ステップS110で、タイミング調整部20が、フーリエ変換を行うタイミングを調整する。そして、ステップS200で、フーリエ変換部12が、タイミング調整部20で調整されたタイミングに基づいてフーリエ変換を行う。
このように、実施の形態3に係る歪み補償電力増幅器3によれば、タイミング調整部20を備え、フーリエ変換を行うタイミングを適切に調整するので、精度良く歪み係数Aを求めることができる。
(実施の形態4)
図6は、実施の形態4に係る歪み補償電力増幅器の概略構成を示すブロック図である。なお、同図において前述した図1及び図2と共通する部分には同一の符号を付けている。同図に示す歪み補償電力増幅器4は、実施の形態3に係る歪み補償電力増幅器3と同様に、フーリエ変換を行うタイミングにタイミングずれがある場合でも正しく歪み係数Aを求めることができるものである。特に、図2に示す実施の形態2に係る歪み補償電力増幅器2との違いは、位相調整部21を備えている点である。位相調整部21においてテスト信号xtの位相を調整することで、フーリエ変換を行うタイミングのタイミングずれの影響をキャンセルする。
以下、位相調整部21の動作原理を説明する。簡単化のため、式(10)を書き換えて、式(13)で表わす。式(13)はフーリエ変換を行うタイミングにタイミングずれが無い場合を表わす。
Figure 0006340207
フーリエ変換を行うタイミングにタイミングずれΔtを生じた場合、zは式(14)で表わされる。
Figure 0006340207
式(14)より、周波数成分毎に異なる位相回転を生じることがわかる。例えば、ω成分はωΔtの位相回転を生じ、(2ω−ω)成分は(2ω−ω)Δtの位相回転を生じる。ここで、タイミングずれΔtをキャンセルするため、元のテスト信号に位相回転を与える。ω成分に与える位相回転をθ、ω成分に与える位相回転をθとすると、式(14)は式(15)のように表わされる。
Figure 0006340207
式(13)からタイミングずれの無い場合はω成分とω成分は同じ位相になることがわかる。これを利用して、位相調整部21は、ω成分とω成分の位相差からタイミングずれΔtを検出する。ω成分とω成分の位相差をΔθとすると、Δθは式(16)で表わされる。ω成分の位相とω成分の位相はフーリエ変換部12から得られる。
Figure 0006340207
式(16)を変形して、式(17)が得られる。
Figure 0006340207
式(17)で得られたタイミングずれΔtを使って、θ、θを式(18)で与える。
Figure 0006340207
式(18)を式(15)へ代入すると式(13)が得られることがわかる。つまり、位相調整部21において、式(18)で求められる位相回転をテスト信号xtに与えることで、フーリエ変換するタイミングのタイミングずれΔtをキャンセルすることが可能となる。実施の形態4に係る歪み補償電力増幅器4では、実施の形態3に係る歪み補償電力増幅器3のように調整精度がADC18のサンプリング周期で制限されることはなく、任意の位相回転を与えて調整することが可能である。
図7は、実施の形態4に係る歪み補償電力増幅器4における歪み係数Aを求める処理を説明するためのフローチャートである。図7において前述した図5のフローチャートと同じ動作をするステップには、同じ番号を付与して説明を省略する。ステップS120で、フーリエ変換部12が、あらかじめ決められたタイミングでフーリエ変換を行い、ω成分の位相情報とω成分の位相情報を取得する。次いで、ステップS130で、位相調整部21が、ω成分の位相情報とω成分の位相情報に応じて、テスト信号xtの位相を調整する。次いで、ステップS200で、フーリエ変換部12が、フーリエ変換を行い、フーリエ係数Zを取得する。
このように、実施の形態4に係る歪み補償電力増幅器4によれば、位相調整部21により、フーリエ変換するタイミングのタイミングずれをキャンセルするので、精度良く歪み係数Aを求めることができる。
(実施の形態5)
図8は、実施の形態5に係る歪み補償電力増幅器の概略構成を示すブロック図である。同図に示す実施の形態5に係る歪み補償電力増幅器5は、実施の形態3に係る歪み補償電力増幅器3、実施の形態4に係る歪み補償電力増幅器4と同様に、フーリエ変換を行うタイミングにタイミングずれがある場合でも正しく歪み係数Aを求めることができるものである。図2に示す実施の形態2に係る歪み補償電力増幅器2との違いは、タイミング調整部20と位相調整部21を備えている点である。タイミング調整部20は、ADC18のサンプリング周期単位でフーリエ変換を行うタイミングのタイミングずれを調整する。位相調整部21は、ADC18のサンプリング周期以下のフーリエ変換を行うタイミングのタイミングずれをキャンセルする。つまり、タイミング調整部20は粗い調整を行い、位相調整部21は細かい調整を行う。
図9は、実施の形態5に係る歪み補償電力増幅器5における歪み係数Aを求める処理を説明するためのフローチャートである。図9において前述した図7のフローチャートと同じ動作をするステップには、同じ番号を付与して説明を省略する。ステップS110で、タイミング調整部20が、ADC18のサンプリング周期単位で、フーリエ変換を行うタイミングのタイミングずれを調整する。そして、ステップS120とステップS130で、位相調整部21が、テスト信号の位相を調整することで、ADC18のサンプリング周期以下の精度でフーリエ変換を行うタイミングのタイミングずれを調整する。
このように、実施の形態5に係る歪み補償電力増幅器5によれば、ADC18のサンプリング周期単位でのタイミング調整を行った後、ADC18のサンプリング周期以下の精度でタイミングを微調整するので、精度良くフーリエ変換を行うタイミングを調整することができる。
(実施の形態6)
図10は、実施の形態6に係る歪み補償電力増幅器の概略構成を示すブロック図である。同図に示す実施の形態6に係る歪み補償電力増幅器6は、ADC18のビット数が十分確保できない場合にも歪み係数Aを精度良く求めることができるものである。前述した図8に示す実施の形態5に係る歪み補償電力増幅器5との違いは、相殺信号生成部22、DAC23、合成部24及び振幅調整部25を備えている点である。相殺信号生成部22は、テスト信号xtと同じ2波正弦波を相殺信号として生成するとともに、相殺信号の振幅、位相、遅延を調整する。DAC23は、相殺信号をアナログ信号に変換する。合成部24は、DAC23から出力される信号と、周波数変換部17から出力される信号とを合成する。振幅調整部25は、ADC18の入力レンジに合うように、合成部24から出力される信号の振幅を調整する。
図11は、実施の形態6に係る歪み補償電力増幅器6における歪み係数Aを求める処理を説明するためのフローチャートである。図11において前述した図9のフローチャートと同じ動作をするステップには、同じ番号を付与して説明を省略する。ステップS100からステップS200までは、相殺信号生成部22から何も出力しない状態で実行される。ステップS200で、フーリエ変換部12がフーリエ変換を実行し、ω成分とω成分のフーリエ係数であるZを取得する。次いで、ステップS210で、相殺信号生成部22が相殺信号を出力する。次いで、ステップS220で、相殺信号生成部22が、フーリエ変換部12の出力を観測しながら、フーリエ変換部12に入力される信号のうち相殺信号に含まれる周波数成分と同じ成分が小さくなるように、相殺信号の振幅、位相、遅延を調整する。次いで、ステップS230で、振幅調整部25が、ADC18に入力される信号のレベルがADCの入力レンジに近くなるようにゲインを調整する。次いで、ステップS240で、フーリエ変換部12が、フーリエ変換を実行し、フーリエ係数Z、Z、…を取得する。次いで、ステップS300で、補償係数演算部19が、ステップS200で取得されたZと、ステップS240で取得されたZ、Z、…と、振幅調整部25のゲインを元に歪み係数Aを求め、式(7)に基づいて歪み係数Aから補償係数Bを求める。ここで、歪み係数Aを求める際には、フーリエ係数Zを求める際の振幅調整部25のゲインと、フーリエ係数Z、Z、…を求める際の振幅調整部25のゲインが異なるので、そのゲイン差を補正する必要がある。ステップS200でフーリエ係数Zを求める際の振幅調整部25のゲインに対する、ステップS240でフーリエ係数Z、Z、…を求める際の振幅調整部25のゲインをGとすると、歪み係数Aを求めるための式(11)は式(19)のように書きかえられる。式(19)を解くことでフーリエ係数を求める際の振幅調整部25のゲイン差を補正できるので、歪み係数Aを正しく求めることができる。
Figure 0006340207
図12は、実施の形態6に係る歪み補償電力増幅器6における主要な信号を表わす図である。図12(a)は、テスト信号生成部10から出力されるテスト信号である。テスト信号として、ω,ωの周波数成分を持つ2波正弦波が出力される。図12(b)は、周波数変換部17から出力される信号である。例として、電力増幅器11での非線形歪みにより、2ω−ω、2ω−ω、3ω−2ω、3ω−2ωの周波数成分が発生している場合を示す。図12(c)は、相殺信号生成部22から出力される相殺信号である。図12(c)に示す相殺信号は、電力増幅器11から出力される信号の周波数成分のうち、ω、ωの周波数成分から構成される。電力増幅器11から出力される信号の周波数成分のうち、相殺信号と同じ周波数成分を抑圧できるように振幅、位相、遅延を調整されている。
図12(d)は、合成部24から出力される信号である。図12(d)では、図12(b)の信号と図12(c)の信号が合成された結果、ω、ωの周波数成分が抑圧されている。図12(e)は、振幅調整部25から出力される信号である。図12(e)では、図12(d)の信号がADC18の入力レンジまで増幅されている。図12(e)において、ω、ωの周波数成分が抑圧されているので、2ω−ω、2ω−ω、3ω−2ω、3ω−2ωの周波数成分は歪み無く増幅され、ADCの量子化誤差の影響を受けずに歪み係数を求めることができる。
このように、実施の形態6に係る歪み補償電力増幅器6によれば、電力増幅器11から出力される信号から信号レベルの大きな周波数成分を抑圧した後、ADC18の入力レンジまで増幅してから歪み係数Aを求めるので、ADCのビット数が十分確保できない場合にも精度良く歪み係数Aを求めることができる。
なお、上述した実施の形態1〜6では、テスト信号として2波正弦波を用いる場合を例として説明したが、3波以上の正弦波を用いてもよい。
また、上述した実施の形態1〜6では、フーリエ変換部12の動作として、フーリエ変換を行うものとして説明したが、FFT(Fast Fourier Transform:高速フーリエ変換)を行うものとしても構わない。または、複数のバンドパスフィルタとしても構わない。原理的に、特定の周波数成分を抽出することが可能であればよい。
また、上述した実施の形態3及び5において、タイミング調整部20における信号の振幅値を観測する期間をテスト信号の1周期としても構わないし、2周期以上としてもよい。2周期以上観測して複数回最大値を検出することでノイズ等の外乱の影響を軽減でき、精度良くフーリエ変換するタイミングを決定することができる。
また、上述した実施の形態3及び5では、タイミング調整部20を、フーリエ変換部12に入力される信号の振幅値が最大となるタイミングを検出するものとして説明したが、周期関数であるテスト信号の基準となるタイミングを検出できれば他の方法でも構わないし、振幅値が最小となるタイミングを検出するようにしてもよい。また、振幅値の絶対値が最大となるタイミング、振幅値の絶対値が最小となるタイミングを検出してもよい。さらに、ADC18から出力される信号がI、Qの複素信号である場合には、複素信号の絶対値、または、電力値が最大となるタイミングや最小となるタイミングを検出してもよい。
また、上述した実施の形態1〜6において、プリディストーション部14における式(2)の演算が、入力信号xに対して出力信号yとなるLUT(Look-up Table)として実現してもよい。
また、上述した実施の形態6では、相殺信号が2波正弦波である場合を例として説明したが、それ以上の数の正弦波を用いてもよい。ここで、図13を用いて、4波の正弦波を相殺信号として用いる場合を説明する。図13(a)、図13(b)は、それぞれ、図12(a)、図12(b)と同じである。図13(c)は、相殺信号生成部22から出力される相殺信号である。図13(c)に示す相殺信号は、電力増幅器11から出力される信号の周波数成分のうち、ω、ω、2ω−ω、2ω−ωの周波数成分から構成される。電力増幅器11から出力される信号の周波数成分のうち、相殺信号と同じ周波数成分を抑圧できるように振幅、位相、遅延を調整されている。
図13(d)は、合成部24から出力される信号である。図13(d)では、図13(b)の信号と図13(c)の信号が合成された結果、ω、ω、2ω−ω、2ω−ωの周波数成分が抑圧されている。図13(e)は、振幅調整部25から出力される信号である。図13(e)では、図13(d)の信号がADC18の入力レンジまで増幅されている。図13(e)において、ω、ω、2ω−ω、2ω−ωの周波数成分が抑圧されているので、3ω−2ω、3ω−2ωの周波数成分は歪み無く増幅され、ADC18の量子化誤差の影響を受けずに歪み係数を求めることができる。
(実施の形態6の変形例)
図14は、実施の形態6に係る歪み補償電力増幅器6の変形例における歪み係数Aを求める処理を説明するためのフローチャートである。実施の形態6に係る歪み補償電力増幅器6の変形例では、図12(c)に示す2波の相殺信号と、図13(c)に示す4波の相殺信号を用いる。図14において前述した図11のフローチャートと同じ動作をするステップには、同じ番号を付与して説明を省略する。ステップS100からステップS230までは、図11のフローチャートと同じである。但し、ステップS200で取得されるフーリエ係数Zは、第1のフーリエ係数に対応する。ステップS230で、振幅調整部25が図12(e)に示す信号を出力する。次いで、ステップS250で、フーリエ変換部12がフーリエ変換を行い、2ω−ω、2ω−ωの成分のフーリエ係数であるZ(第2のフーリエ係数に対応)を求める。次いで、ステップS260で、相殺信号生成部22が図13(c)に示す4波の相殺信号を出力する。次いで、ステップS270で、相殺信号生成部22がフーリエ変換部12の出力を観測しながら、フーリエ変換部12に入力される信号のうち相殺信号に含まれる周波数成分と同じ成分が小さくなるように、相殺信号の振幅、位相、遅延を調整する。
次いで、ステップS280で、振幅調整部25が、ADC18に入力される信号のレベルがADCの入力レンジに近くなるようにゲインを調整する。この時、振幅調整部25から出力される信号は図13(e)のようになっている。次いで、ステップS290で、フーリエ変換部12がフーリエ変換を実行し、フーリエ係数Z、Z7、…(第3のフーリエ係数以降)を取得する。次いで、ステップS300で、歪み係数演算部13が、ステップS200で取得されたZと、ステップS250で取得されたZと、ステップS290で取得されたZ、Z、…と、振幅調整部25のゲインを元に歪み係数Aを求める。そして、補償係数演算部19が、式(7)に基づいて歪み係数Aから補償係数Bを求める。ここで、ステップS200でフーリエ係数Zを求める際の振幅調整部25のゲインに対する、ステップS250でフーリエ係数Zを求める際の振幅調整部25のゲインをGとする。また、ステップS200でフーリエ係数Zを求める際の振幅調整部25のゲインに対する、ステップS290でフーリエ係数Z、Z、…を求める際の振幅調整部25のゲインをGとする。G、Gを用いて、歪み係数Aを求めるための式(11)は式(20)のように書きかえられる。式(20)を解くことでフーリエ係数を求める際の振幅調整部25のゲイン差を補正できるので、歪み係数Aを正しく求めることができる。
Figure 0006340207
図11のフローチャートでは、まずフーリエ係数Zを求めた後、相殺信号を出力してフーリエ係数Z、Z、…を求めていたのに対し、図14のフローチャートでは、まずフーリエ係数Zを求めた後、2波の相殺信号を出力してフーリエ係数Zを求め、さらにその後、4波の相殺信号を出力してフーリエ係数Z、Z、…を求めている。このように段階的にフーリエ係数を求めることで、ADC18の量子化誤差の影響を軽減し、歪み係数Aを精度良く求めることができる。
(本開示の一態様の概要)
本開示の第1の非線形歪み検出装置は、電力増幅器で発生する非線形歪みを検出する非線形歪み検出装置であって、テスト信号を生成し前記電力増幅器に出力するテスト信号生成部と、前記電力増幅器の出力信号を周波数領域の信号に変換するフーリエ変換部と、前記フーリエ変換部から得られる振幅情報および位相情報に基づいて前記電力増幅器の歪み係数を演算する歪み係数演算部と、を備える。
また、本開示の第2の非線形歪み検出装置は、第1の非線形歪み検出装置であって、前記テスト信号は2波正弦波である。
また、本開示の第3の非線形歪み検出装置は、第1又は第2の非線形歪み検出装置であって、さらに、前記フーリエ変換部が周波数領域の信号に変換するためのタイミングを調整するタイミング調整部を備え、前記タイミング調整部は、前記フーリエ変換部に入力される信号の振幅値を元に周波数領域の信号に変換するためのタイミングを調整する。
また、本開示の第4の非線形歪み検出装置は、第1ないし第3のいずれか1つの非線形歪み検出装置であって、さらに、前記テスト信号の位相を調整する位相調整部を備え、前記位相調整部は、前記フーリエ変換部から得られる位相情報を元に前記テスト信号に位相回転を与える。
また、本開示の第5の非線形歪み検出装置は、第1ないし第4のいずれか1つの非線形歪み検出装置であって、さらに、相殺信号を生成し、前記相殺信号の振幅、位相、遅延を調整する相殺信号生成部と、前記相殺信号と前記電力増幅器の出力信号を合成する合成部と、前記合成部の出力信号の振幅を調整する振幅調整部と、前記振幅調整部の出力信号をデジタル信号に変換するADCと、を備え、前記フーリエ変換部は前記ADCの出力信号を周波数領域の信号に変換し、前記歪み係数演算部は、前記電力増幅器の出力信号に前記相殺信号を合成しない状態で前記フーリエ変換部から得られる振幅情報および位相情報を第1の振幅位相情報として取得し、前記電力増幅器の出力信号に前記相殺信号を合成した状態で前記フーリエ変換部から得られる振幅情報および位相情報を第2の振幅位相情報として取得し、前記第1の振幅位相情報と前記第2の振幅位相情報とに基づいて歪み係数を演算する。
また、本開示の第6の非線形歪み検出装置は、第5の非線形歪み検出装置であって、前記相殺信号は2波正弦波である。
また、本開示の第7の非線形歪み検出装置は、第5の非線形歪み検出装置であって、前記相殺信号は4波正弦波である。
また、本開示の第8の非線形歪み検出装置は、第5の非線形歪み検出装置であって、前記相殺信号は2波正弦波および4波正弦波であり、前記フーリエ変換部は、第1のフーリエ係数を求めた後、前記相殺信号生成部から2波正弦波の相殺信号が出力され第2のフーリエ係数を求め、さらにその後、前記相殺信号生成部から4波正弦波の相殺信号が出力され第3のフーリエ係数以降を求める。
また、本開示の歪み補償電力増幅器は、電力増幅器のプリディストーションを行う歪み補償電力増幅器であって、テスト信号を生成し出力するテスト信号生成部と、前記テスト信号を入力とする電力増幅器と、前記電力増幅器の出力信号を周波数領域の信号に変換するフーリエ変換部と、前記フーリエ変換部から得られる振幅情報および位相情報に基づいて前記電力増幅器の歪み係数を演算する歪み係数演算部と、前記歪み係数からプリディストーションを行うための補償係数を演算する補償係数演算部と、前記補償係数を用いてプリディストーションを行うプリディストーション部と、を備え、前記歪み係数を演算する時は前記テスト信号が前記電力増幅器に入力され、入力信号を送信する時は前記補償係数を用いてプリディストーションした信号が前記電力増幅器に入力される。
以上、図面を参照しながら各種の実施の形態について説明したが、本開示はかかる例に限定されないことは言うまでもない。当業者であれば、特許請求の範囲に記載された範疇内において、各種の変更例または修正例に想到し得ることは明らかであり、それらについても当然に本発明の技術的範囲に属するものと了解される。
本開示は、無線LANやZigBee(登録商標)、Bluetooth(登録商標)等の各種無線通信装置に適用できる。特に、FFT回路を持つ無線通信装置、例えば、変復調方式にOFDM(Orthogonal Frequency Division Multiplex)方式を用いる無線通信装置や、等化器にFDE(Frequency Domain Equalizer)方式を用いる無線通信装置などに有用である。
1 非線形歪み検出装置
2〜6 歪み補償電力増幅器
10 テスト信号生成部
11 電力増幅器
12 フーリエ変換部
13 歪み係数演算部
14 プリディストーション部
15、23 DAC
16、17 周波数変換部
18 ADC
19 補償係数演算部
20 タイミング調整部
21 位相調整部
22 相殺信号生成部
24 合成部
25 振幅調整部

Claims (8)

  1. 電力増幅器で発生する非線形歪みを検出する非線形歪み検出装置であって、
    テスト信号を生成し前記電力増幅器に出力するテスト信号生成部と、
    前記電力増幅器の出力信号を周波数領域の信号に変換するフーリエ変換部と、
    前記フーリエ変換部から得られる振幅情報および位相情報に基づいて前記電力増幅器の歪み係数を演算する歪み係数演算部と、
    相殺信号を生成し、前記相殺信号の振幅、位相、遅延を調整する相殺信号生成部と、
    前記相殺信号と前記電力増幅器の出力信号を合成する合成部と、
    前記合成部の出力信号の振幅を調整する振幅調整部と、
    前記振幅調整部の出力信号をデジタル信号に変換するADCと、を備え、
    前記フーリエ変換部は前記ADCの出力信号を周波数領域の信号に変換し、
    前記歪み係数演算部は、前記電力増幅器の出力信号に前記相殺信号を合成しない状態で前記フーリエ変換部から得られる振幅情報および位相情報を第1の振幅位相情報として取得し、前記電力増幅器の出力信号に前記相殺信号を合成した状態で前記フーリエ変換部から得られる振幅情報および位相情報を第2の振幅位相情報として取得し、前記第1の振幅位相情報と前記第2の振幅位相情報とに基づいて歪み係数を演算することを特徴とする非線形歪み検出装置。
  2. 前記テスト信号は2波正弦波であることを特徴とする請求項1に記載の非線形歪み検出装置。
  3. さらに、前記フーリエ変換部が周波数領域の信号に変換するためのタイミングを調整するタイミング調整部を備え、
    前記タイミング調整部は、前記フーリエ変換部に入力される信号の振幅値を元に周波数領域の信号に変換するためのタイミングを調整することを特徴とする請求項1または請求項2に記載の非線形歪み検出装置。
  4. さらに、前記テスト信号の位相を調整する位相調整部を備え、
    前記位相調整部は、前記フーリエ変換部から得られる位相情報を元に前記テスト信号に位相回転を与えることを特徴とする請求項1から請求項3のいずれか一項に記載の非線形歪み検出装置。
  5. 前記相殺信号は2波正弦波であることを特徴とする請求項に記載の非線形歪み検出装置。
  6. 前記相殺信号は4波正弦波であることを特徴とする請求項に記載の非線形歪み検出装置。
  7. 前記相殺信号は2波正弦波および4波正弦波であり、
    前記フーリエ変換部は、第1のフーリエ係数を求めた後、前記相殺信号生成部から2波正弦波の相殺信号が出力され第2のフーリエ係数を求め、さらにその後、前記相殺信号生成部から4波正弦波の相殺信号が出力され第3のフーリエ係数以降を求めることを特徴とする請求項に記載の非線形歪み検出装置。
  8. 電力増幅器のプリディストーションを行う歪み補償電力増幅器であって、
    テスト信号を生成し出力するテスト信号生成部と、
    前記テスト信号を入力とする電力増幅器と、
    前記電力増幅器の出力信号を周波数領域の信号に変換するフーリエ変換部と、
    前記フーリエ変換部から得られる振幅情報および位相情報に基づいて前記電力増幅器の歪み係数を演算する歪み係数演算部と、
    前記歪み係数からプリディストーションを行うための補償係数を演算する補償係数演算部と、
    前記補償係数を用いてプリディストーションを行うプリディストーション部と、を備え、
    前記歪み係数を演算する時は前記テスト信号が前記電力増幅器に入力され、
    入力信号を送信する時は前記補償係数を用いてプリディストーションした信号が前記電力増幅器に入力され
    さらに、相殺信号を生成し、前記相殺信号の振幅、位相、遅延を調整する相殺信号生成部と、
    前記相殺信号と前記電力増幅器の出力信号を合成する合成部と、
    前記合成部の出力信号の振幅を調整する振幅調整部と、
    前記振幅調整部の出力信号をデジタル信号に変換するADCと、を備え、
    前記フーリエ変換部は前記ADCの出力信号を周波数領域の信号に変換し、
    前記歪み係数演算部は、前記電力増幅器の出力信号に前記相殺信号を合成しない状態で前記フーリエ変換部から得られる振幅情報および位相情報を第1の振幅位相情報として取得し、前記電力増幅器の出力信号に前記相殺信号を合成した状態で前記フーリエ変換部から得られる振幅情報および位相情報を第2の振幅位相情報として取得し、前記第1の振幅位相情報と前記第2の振幅位相情報とに基づいて歪み係数を演算することを特徴とする歪み補償電力増幅器。
JP2014033041A 2014-02-24 2014-02-24 非線形歪み検出装置及び歪み補償電力増幅器 Expired - Fee Related JP6340207B2 (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2014033041A JP6340207B2 (ja) 2014-02-24 2014-02-24 非線形歪み検出装置及び歪み補償電力増幅器
US14/623,239 US9903908B2 (en) 2014-02-24 2015-02-16 Nonlinear distortion detection device and distortion compensation power amplifier

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2014033041A JP6340207B2 (ja) 2014-02-24 2014-02-24 非線形歪み検出装置及び歪み補償電力増幅器

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2015159420A JP2015159420A (ja) 2015-09-03
JP6340207B2 true JP6340207B2 (ja) 2018-06-06

Family

ID=53881979

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2014033041A Expired - Fee Related JP6340207B2 (ja) 2014-02-24 2014-02-24 非線形歪み検出装置及び歪み補償電力増幅器

Country Status (2)

Country Link
US (1) US9903908B2 (ja)
JP (1) JP6340207B2 (ja)

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6569174B2 (ja) * 2015-02-06 2019-09-04 日本無線株式会社 前置歪み生成装置及び前置歪み生成方法
US10057020B2 (en) * 2015-11-19 2018-08-21 Tektronix, Inc. Joint estimation of coefficients for skew, gain imbalance and channel response for signal sources
EP3470862B1 (en) * 2017-10-10 2022-03-02 Melexis Bulgaria Ltd. Sensor defect diagnostic circuit
CN109507517B (zh) * 2018-12-07 2020-10-27 国网辽宁省电力有限公司鞍山供电公司 基于双侧功率大数据比对的配电变压器运行状态分析方法
US11955935B2 (en) * 2019-08-27 2024-04-09 Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. Signal processing device and adjusting method
US11467151B1 (en) * 2021-12-23 2022-10-11 United Arab Emirates University Phosphorescence oxygen analyzer and uses thereof

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4672565A (en) * 1981-03-10 1987-06-09 Nippon Soken, Inc. Direction detecting system for vehicles
JPH05121958A (ja) 1991-10-29 1993-05-18 Saitama Nippon Denki Kk 直線増幅装置の歪補償制御方式
JP3166321B2 (ja) * 1992-07-01 2001-05-14 日本電気株式会社 変調信号送信システム
DE69310775T2 (de) * 1993-07-09 1997-11-13 Edmunde Eugene Newhall Systeme mit erhöhter geschwindigkeit der informationsübertragung, welche eingebettete abtastmodulation und vorverzerrungsausgleich verwenden
JP2005079935A (ja) 2003-09-01 2005-03-24 Rikogaku Shinkokai 適応プリディストーション型歪補償電力増幅器
WO2006082681A1 (ja) 2005-02-01 2006-08-10 Hitachi Kokusai Electric Inc. スペクトル解析方法、歪検出装置、歪補償増幅装置
JP2010154459A (ja) 2008-12-26 2010-07-08 Hitachi Kokusai Electric Inc 高周波増幅装置
JP5113871B2 (ja) * 2009-05-21 2013-01-09 株式会社エヌ・ティ・ティ・ドコモ べき級数型ディジタルプリディストータ及びその制御方法
JP5682382B2 (ja) * 2011-03-09 2015-03-11 富士通セミコンダクター株式会社 受信装置,送信装置およびその離散サンプルタイミングに係る補正方法

Also Published As

Publication number Publication date
JP2015159420A (ja) 2015-09-03
US9903908B2 (en) 2018-02-27
US20150241494A1 (en) 2015-08-27

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6340207B2 (ja) 非線形歪み検出装置及び歪み補償電力増幅器
JP3875707B2 (ja) 歪補償装置
EP2875620B1 (en) Method and system for aligning signals widely spaced in frequency for wideband digital predistortion in wireless communication systems
US20100074367A1 (en) Adaptive combiner error calibration algorithms in all-digital outphasing transmitter
US8588711B2 (en) Transmission apparatus and distortion compensation method
US8442157B2 (en) Wireless apparatus and signal processing method
US20050101254A1 (en) Distortion compensating amplifier
CN107070467B (zh) 模拟rf预失真器和非线性分离器
EP2525488A1 (en) Amplifying device and signal processing device
KR20090112767A (ko) 적응형 부대역 전치왜곡기를 사용한 rf 전력 증폭기의 선형화
JPWO2009090825A1 (ja) プレディストータ
CN107251420B (zh) 用于矢量信号对准的方法、装置以及非暂态计算机可读介质
JP2011182068A (ja) べき級数型ディジタルプリディストータとその歪補償制御方法
US8712345B2 (en) Distortion compensation device, distortion compensation method, and radio transmitter
JP4555702B2 (ja) 歪補償装置
JP4863729B2 (ja) 歪補償装置及び歪補償方法
JP2014103540A (ja) 歪補償装置、送信装置、歪補償方法及び伝達関数算出方法
JP2010258597A (ja) 電力増幅器の歪補償装置、電力増幅器の歪補償装置における故障検出方法
JP2007318537A (ja) 歪補償装置及び歪補償方法
US9225577B2 (en) Exciter and quadrature error correction method
JP5673238B2 (ja) 電力増幅装置、送信機及び電力増幅装置制御方法
US7816984B2 (en) Lookup table generation method and related device for a predistorter
JP2011254124A (ja) 歪補償装置
US8488718B2 (en) Correction of distortions in an emission chain
JP2012244294A (ja) 周波数特性補正送信機

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20160829

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20170830

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20170905

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20171006

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20180417

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20180514

R151 Written notification of patent or utility model registration

Ref document number: 6340207

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees