JP6327169B2 - 計測装置及びその計測方法 - Google Patents
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- 238000000034 method Methods 0.000 title description 19
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 45
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 39
- 238000003825 pressing Methods 0.000 claims description 22
- 230000005484 gravity Effects 0.000 claims description 14
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 claims description 14
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 4
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 claims description 4
- 239000011295 pitch Substances 0.000 description 10
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 2
- 230000010363 phase shift Effects 0.000 description 2
- 238000005299 abrasion Methods 0.000 description 1
- 238000005452 bending Methods 0.000 description 1
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 1
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 1
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000001788 irregular Effects 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
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- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Description
以上のように、上記凹凸形状計測装置100及びその計測方法によれば、ライン状のレーザ光を用いた光切断法に基づいて、複数の凸部が表面に形成された凹凸部材101の凸部の高さを、精度よく計測することができる。
すなわち、ライン状のレーザ光を用いた光切断法に基づいて、表面に凹凸形状が形成されたワークにおける凹部又は凸部の位置(平面的な配置関係)を計測する場合、計測する凹部又は凸部の位置を、ワークの所定位置(例えば、ワークの端部)を基準にして特定する必要がある。そのため、予め、基準となる、例えば、ワークの端部の位置を計測した上で、ワークの端部(基準位置)との関係で凹部又は凸部の位置を計測することになる。
そのため、ワークの端部の位置を基準にして、凹部又は凸部の位置を正確に計測することができないという問題があった。これを回避するため、載置台の摩耗が進行する前に交換する方法もあるが、コスト増となって好ましくない。
(1)表面に凹凸形状が形成されたワークを上面に載置する載置台と、前記ワークの表面にライン状の光を投光する投光器と、前記投光器から投光された光によって前記ワーク上に形成された光画像を所定のタイミングで撮影するカメラと、前記光画像を前記ワークの計測領域に形成すべく前記載置台を上面と平行に移動させる移動機構と、前記カメラが撮影する光画像の画像データと前記移動機構による前記載置台の移動量とから前記ワークの端部に対する凹部又は凸部の位置データを演算する演算制御装置とを備えた計測装置であって、
前記載置台の上面には、前記計測領域の内、前記載置台に位置決めされた前記ワークの端部に対応する範囲に凹溝を形成したことを特徴とする。
よって、本発明によれば、表面に凹凸形状が形成されたワークを載置する載置台の摩耗を低減して、ワークにおける凹部又は凸部の位置(平面的な配置関係)を正確に計測できる計測装置を提供することができる。
前記載置台の上面に載置された前記ワークを押圧するワーク押え板を備え、前記ワーク押え板には、前記計測領域の外周縁を包囲した貫通孔を形成したことを特徴とする。
その結果、ワークにおける凹部又は凸部の位置(平面的な配置関係)をより一層正確に計測できる。
前記載置台の上面には、黒塗り加工を施し、前記ワーク押え板は、透明な板材によって形成したことを特徴とする。
その結果、ワークのセットずれを防止して、ワークにおける凹部又は凸部の位置(平面的な配置関係)を更に一層正確に計測できる。
前記載置台の上面に載置された前記ワークの端部上に形成された前記光画像を前記カメラが撮影し、前記演算制御装置は、当該光画像の画像データに基づいて、前記ワークの端部の位置データを測定基準として演算することを特徴とする。
よって、本発明によれば、表面に凹凸形状が形成されたワークを載置する載置台の摩耗を低減して、ワークにおける凹部又は凸部の位置(平面的な配置関係)を正確に計測できる計測方法を提供することができる。
前記カメラは、前記ワークにおける同一の凹部又は凸部に形成された複数の光画像を撮影し、前記演算制御装置は、当該光画像における複数の画像データから凹部又は凸部の平面形状を決定して当該平面形状の重心位置を演算することを特徴とする。
その結果、本計測方法によれば、誤判定を防止しつつ、ワークにおける凹部又は凸部の位置(平面的な配置関係)を正確に計測できる。
まず、本実施形態に係る計測装置の全体構造を、図1〜図4を用いて説明する。図1に、本発明の実施形態に係る計測装置の模式的斜視図を示す。図2に、図1に示す載置台にワークをセットした状態における平面図を示す。図3に、図2に示すA−A断面図を示す。図4に、図2に示すA−A断面からワーク押え板を除いた状態の断面図を示す。
次に、本計測装置10を使用して、表面に凹凸形状が形成されたワークWの凹部W2又は凸部W3の位置を計測する計測方法について、図5〜図7を用いて説明する。ここでは、ワークWの凸部W3の位置を、端部W1の位置を基準に計測する場合について説明する。図5に、図2に示すワークの計測領域における凸部の位置を計測する場合の説明図を示す。図6に、図5に示す凸部の重心位置を決定する説明図を示す。図7に、本発明の他の実施形態に係る計測方法のフローチャート図を示す。
なお、送り方向(矢印Fの方向)に対して直交する方向に隣接する凸部W3の間には、凸部W3と反対方向へ突出する凹部W2が形成されているが、図5、図6では、煩雑となるので、凹部W2が省略されている。
図7に示すように、ステップS1にて、演算制御装置5の操作制御部51を操作させ、載置台1を原位置へ移動させる。そして、ワークWを載置台1の上面にセットする。このとき、ワーク押え板6をワークWの上方から当接させて、ワークWのそり等を矯正する。
次に、ステップS3にて、載置台1を送り方向へ連続的に移動させながら、カメラ3が所定の時間で間欠的に撮影する。カメラ3の撮影タイミングは、演算制御装置5の操作制御部51から指令される。
次に、ステップS6にて、演算制御装置5の演算部53は、演算した隣接する凸部W3のピッチ(縦ピッチL1、L2と、横ピッチR0)及び各行列n1、n2、n3間の位相のずれ量R1、R2と設計値とを比較して、所定の範囲内か否かを判定する。その判定結果は、本計測装置10のモニター画面等を通じて表示する。なお、ここでは、ワークWの凸部W3の位置を、端部W1の位置を基準に計測する場合について説明したが、ワークWの凹部W2の位置も、上記と同様の方法で計測することができる。
以上、詳細に説明したように、本実施形態に係る計測装置10によれば、載置台1の上面には、計測領域WZの内、載置台1に位置決めされたワークWの端部W1に対応する範囲に凹溝11を形成したので、表面に凹凸形状が形成されたワークWを本計測装置10の載置台1に繰り返しセットしても、ワークWの計測領域WZ内において、ワークWの端部W1に対応する範囲で載置台1の上面が摩耗していくことはない。そのため、投光器2からワークWの端部W1に投光されるライン状のレーザ光が載置台1の上面によって乱反射する恐れが無く、カメラ3がワークWの端部W1に形成された光画像21を明確に撮影することができる。そして、演算制御装置5は、その光画像21の形状データに基づき、ワークWの端部W1の位置データを測定基準として正確に演算(決定)することができる。その結果、本計測装置10は、ワークWの端部W1を基準に、ワークWにおける凹部W2又は凸部W3の位置(平面的な配置関係)を正確に計測できる。
その結果、ワークWにおける凹部W2又は凸部W3の位置(平面的な配置関係)をより一層正確に計測できる。
その結果、ワークWのセットずれを防止して、ワークWにおける凹部W2又は凸部W3の位置(平面的な配置関係)を更に一層正確に計測できる。
その結果、本計測方法によれば、誤判定を防止しつつ、ワークWにおける凹部W2又は凸部W3の位置(平面的な配置関係)を正確に計測できる。
例えば、本実施形態では、載置台1を移動機構4によって移動させ、投光器2とカメラ3とを計測装置10の本体部に固定したが、投光器とカメラとを移動機構によって移動させ、載置台を本体部に固定してもよい。
また、本実施形態では、カメラ3としてCCDカメラを使用したが、それ以外のカメラ(例えば、PSDカメラなど)を使用してもよい。
2 投光器
3 カメラ
4 移動機構
5 演算制御装置
6 ワーク押え板
10 計測装置
11 凹溝
21、21a 光画像
61 貫通孔
W ワーク
W1 端部
W2 凹部
W3 凸部
W30 重心位置
WZ 計測領域
Claims (5)
- 表面に凹凸形状が形成されたワークを上面に載置する載置台と、前記ワークの表面にライン状の光を投光する投光器と、前記投光器から投光された光によって前記ワーク上に形成された光画像を所定のタイミングで撮影するカメラと、前記光画像を前記ワークの計測領域に形成すべく前記載置台を上面と平行に移動させる移動機構と、前記カメラが撮影する光画像の画像データと前記移動機構による前記載置台の移動量とから前記ワークの端部に対する凹部又は凸部の位置データを演算する演算制御装置とを備えた計測装置であって、
前記載置台の上面には、前記計測領域の内、前記載置台に位置決めされた前記ワークの端部に対応する範囲に凹溝を形成したことを特徴とする計測装置。 - 請求項1に記載された計測装置において、
前記載置台の上面に載置された前記ワークを押圧するワーク押え板を備え、前記ワーク押え板には、前記計測領域の外周縁を包囲した貫通孔を形成したことを特徴とする計測装置。 - 請求項2に記載された計測装置において、
前記載置台の上面には、黒塗り加工を施し、前記ワーク押え板は、透明な板材によって形成したことを特徴とする計測装置。 - 請求項1乃至請求項3のいずれか1項に記載された計測装置を使用して、表面に凹凸形状が形成されたワークにおける凹部又は凸部の位置を計測する計測方法であって、
前記載置台の上面に載置された前記ワークの端部上に形成された前記光画像を前記カメラが撮影し、前記演算制御装置は、当該光画像の画像データに基づいて、前記ワークの端部の位置データを測定基準として演算することを特徴とする計測方法。 - 請求項4に記載された計測方法において、
前記カメラは、前記ワークにおける同一の凹部又は凸部に形成された複数の光画像を撮影し、前記演算制御装置は、当該光画像における複数の画像データから凹部又は凸部の平面形状を決定して当該平面形状の重心位置を演算することを特徴とする計測方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2015023565A JP6327169B2 (ja) | 2015-02-09 | 2015-02-09 | 計測装置及びその計測方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2015023565A JP6327169B2 (ja) | 2015-02-09 | 2015-02-09 | 計測装置及びその計測方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2016145780A JP2016145780A (ja) | 2016-08-12 |
JP6327169B2 true JP6327169B2 (ja) | 2018-05-23 |
Family
ID=56686239
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2015023565A Active JP6327169B2 (ja) | 2015-02-09 | 2015-02-09 | 計測装置及びその計測方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP6327169B2 (ja) |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002022413A (ja) * | 2000-07-10 | 2002-01-23 | Toyota Motor Corp | 凹凸形状計測装置および凹凸形状計測方法 |
JP4843308B2 (ja) * | 2005-12-26 | 2011-12-21 | 新光電気工業株式会社 | 基板切断装置 |
US8050486B2 (en) * | 2006-05-16 | 2011-11-01 | The Boeing Company | System and method for identifying a feature of a workpiece |
-
2015
- 2015-02-09 JP JP2015023565A patent/JP6327169B2/ja active Active
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Publication number | Publication date |
---|---|
JP2016145780A (ja) | 2016-08-12 |
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