JP6310961B2 - 複合荷電粒子線装置および荷電粒子検出器 - Google Patents
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Description
また、単一の荷電粒子線照射を考えた場合には、照射荷電粒子線の変調周期とマッチする信号のみを検出することにより、照射荷電粒子線に起因しない出力、すなわち、ノイズを除去できる。これにより、像質の向上を図れる。従って本手法は、荷電粒子線装置全般に有効な手法である。
(1)イオンビームを試料に照射した際、第1のフォトディテクタによって得られる信号強度と第2のフォトでディテクタによって得られる信号強度の比率が常に同じとなるように荷電粒子受光面に印加する電圧を調節する。ここで、イオンビームに起因する第一および第二のフォトディテクタの信号強度を、それぞれI1、I2とする。(図8(a))
(2)(1)のときの信号強度の比率α(=I2/I1)を求める。
(3)試料に電子ビームを照射する。ここで、電子ビームに起因する第一および第二のフォトディテクタの信号強度を、それぞれE1、E2とする。(図8(b))
(4)試料にイオンビームと電子ビームを同時に照射する。
(5)イオンビームと電子ビームを試料に照射した場合に、第一および第二のフォトディテクタにより検出される信号T1、T2は以下のようになる。(図8(c))
第一のフォトディテクタによる信号:T1=E1+I1
第二のフォトディテクタによる信号:T2=E2+I2=E2+αI1
(6)第一のフォトディテクタによる信号T1をα倍した後、第二のフォトディテクタによる信号T2を引く。このとき、出力は以下のようになる。(図8(d))
出力信号:Soutput= αT1-T2=(αE1+αI1)-( E2+αI1)=αE1-E2
(7)(6)の信号強度は、E1とE2で表されており、電子ビームにのみ依存する信号であることが分かる。よって、(6)の信号強度と電子ビームの走査周期からSEM像を得ることができる。
101b:イオンビーム
101c:イオンビームカラムの光軸
102a:電子ビームカラム
102b:電子ビーム
102c:電子ビームカラムの光軸
103:試料
104:試料ステージ
105:試料室
106, 107:荷電粒子検出器
109:X線検出器
110:照射エネルギー変調電源
111:ブランキング偏向器
112:電流制御レンズ
113:電流制御絞り
130:統合コンピュータ
131:イオンビームカラム制御器
132:電子ビームカラム制御器
134:試料ステージ制御器
136, 137, 636:検出器制御器
139:X線検出器制御器
140:照射エネルギー変調電源制御器
141:ブランキング制御器
142:レンズ制御器
151:コントローラ(キーボード、マウスなど)
152:ディスプレイ
153:GUI画面
171:クロスポイント
602:荷電粒子受光面
603:受光面用電源
604:受光面用電源制御器
605:分光器
606, 607:フォトディテクタ
608, 609:フォトディテクタ制御器
610, 611, 612:光線
706:分光機能搭載荷電粒子検出器
Claims (11)
- 第一の荷電粒子線を試料に照射する第一の荷電粒子線カラムと、第二の荷電粒子線を試料に照射する第二の荷電粒子線カラムと、試料から放出された荷電粒子を検出する荷電粒子検出器と、前記荷電粒子検出器からの信号をもとに画像を出力する画像表示機構と、を備える複合荷電粒子線装置において、
前記荷電粒子検出器が、発光特性の異なる2種類以上の蛍光体を有する荷電粒子受光面と、前記荷電粒子受光面に電圧を印加する機構と、前記蛍光体からの発光を分光する分光機構と、前記分光機構によって分光された第一の光による第一の信号強度、および前記分光機構によって分光された第二の光による第二の信号強度を検出する検出機構と、を有しており、
前記第一および第二の荷電粒子線の内、前記第二の荷電粒子線を試料に照射したときの前記第一の信号強度と前記第二の信号強度の比率にもとづいて、前記第一の荷電粒子線に起因する信号を前記第二の荷電粒子線に起因する信号と分離して検出する、複合荷電粒子線装置。 - 前記荷電粒子受光面に、発光特性の異なる2種類以上の蛍光粒子が混合された複合蛍光体が用いられている、請求項1記載の複合荷電粒子線装置。
- 前記第一および第二の荷電粒子線の内、前記第一の荷電粒子線を試料に照射したときの前記第一の信号強度と前記第二の信号強度の比率にもとづいて、前記第二の荷電粒子線に起因する信号を前記第一の荷電粒子線に起因する信号と分離して検出する、請求項1記載の複合荷電粒子線装置。
- 前記第一の荷電粒子線は電子ビームであり、前記第二の荷電粒子線はイオンビームである、請求項1記載の複合荷電粒子線装置。
- GUI画面上で、前記比率を求める領域を指定する、請求項1記載の複合荷電粒子線装置。
- 前記比率の変動量にもとづいて、前記電圧を自動設定する機能を備える、請求項1記載の複合荷電粒子線装置。
- 前記電圧を自動設定する機能を実行するボタンが、コントロールパネルまたはGUI画面上に備えられている、請求項6記載の複合荷電粒子線装置。
- ある定められたマウス操作がGUI画面上の特定の部分で行われることにより、前記電圧を自動設定する機能が実行される、請求項6記載の複合荷電粒子線装置。
- 前記比率が、GUI画面に表示される、請求項1記載の複合荷電粒子線装置。
- 発光特性の異なる2種類以上の蛍光体を有する荷電粒子受光面と、前記荷電粒子受光面に電圧を印加する機構と、前記蛍光体からの発光を分光する分光機構と、前記分光機構によって分光された第一の光による第一の信号強度、および前記分光機構によって分光された第二の光による第二の信号強度を検出する検出機構と、前記第一の信号強度と前記第二の信号強度の少なくともいずれかを増幅する可変増幅器と、前記可変増幅器の増幅率を設定する増幅率入力機構と、増幅後の前記第一の信号強度と前記第二の信号強度の差を求める減算機構と、を備え、
前記減算機構の出力にもとづいて、第一の荷電粒子線に起因する信号を第二の荷電粒子線に起因する信号と分離して検出する、荷電粒子検出器。 - 前記荷電粒子受光面に、発光特性の異なる2種類以上の蛍光粒子が混合された複合蛍光体が用いられている、請求項10記載の荷電粒子検出器。
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