JP6305823B2 - スキャンテスト回路 - Google Patents
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スキャンテストを行う場合、まず、シフトモードにより、スキャンチェーンと呼ばれる、LSI内のフリップフロップ(FF)を直列に接続したシフトレジスタを構成し、LSIの外部からテストパターンを順次シフトインして、スキャンチェーンの全てのFFにテストパターンをセットする。
FF60は、スキャンクロックA1に同期して、スキャンイン入力端子SCAN_INを介して入力されるスキャンイン信号(スキャンテスト時の信号)を保持し、次のサイクルで出力する。
スキャンセル回路62は、スキャンイネーブル信号ENがLの場合、マルチプレクサ64から、組合わせ回路の出力信号(テスト結果の信号)を出力し、スキャンイネーブル信号ENがHの場合、前段のFF60または前段のスキャンセル回路62の出力信号(スキャンテスト時の信号)を出力する。そして、スキャンクロックA1に同期して、マルチプレクサ64の出力信号をFF66に保持し、次のサイクルで出力する。
これにより、シフトモードとなり、3つのスキャンチェーン54、56、58において、それぞれ、FF60および全てのFF66が直列に接続されたスキャンチェーンが構成される。
これにより、スキャンイン信号が3つのスキャンチェーン54、56、58のそれぞれにパラレルに順次シフトインされ、同じテストパターンがセットされる。
これにより、キャプチャモードとなり、スキャンセル回路62のマルチプレクサ64からは、スキャンテストの結果が出力される。
これにより、スキャンテストの結果が、各々対応する3つのスキャンチェーン54、56、58の各々のFF66に入力され、次のサイクルで出力される。
これにより、3つのスキャンチェーン54、56、58に格納されたスキャンテストの結果が順次シフトアウトされ、出力圧縮回路70へ入力されるとともに、次のスキャンイン信号が3つのスキャンチェーン54、56、58に順次シフトインされ、次のテストパターンがセットされてもよい。
前記第1スキャンチェーンは、前記シフトモードの場合に、直列に接続される1以上の第1スキャンセル回路を備え、第1スキャンクロックに同期して、スキャンイン信号を順次シフトインしつつ、前段の前記第1スキャンセル回路から次段の前記第1スキャンセル回路へ順次シフトして、全ての前記第1スキャンセル回路にテストパターンをセットするものであり、
前記第2スキャンチェーンは、前記シフトモードの場合に、各々対応する前記第1スキャンセル回路から直列に接続される1以上の第2スキャンセル回路を備え、第2スキャンクロックに同期して、各々の前記第1スキャンセル回路にセットされたテストパターンを各々対応する前記第2スキャンセル回路にパラレルにシフトして、全ての前記第2スキャンセル回路に前記テストパターンをセットするものであることを特徴とするスキャンテスト回路を提供するものである。
各々の前記第1スキャンセル回路に対応して設けられ、対応する前記第1スキャンセル回路の出力信号、および、対応する前記マスク回路の出力信号をまとめて圧縮した圧縮結果を出力する1以上の圧縮回路とを備え、
全ての前記第1スキャンセル回路に前記テストパターンをセットする場合、
前記マスクイネーブル信号がイネーブル状態とされて、前記マスク回路は、対応する前記第2スキャンセル回路の出力信号をマスクするものであり、
前記圧縮回路は、前段の前記第1スキャンセル回路の出力信号をそのまま出力するものであり、
前記第1スキャンチェーンは、前記シフトモードの場合に、前記第1スキャンクロックに同期して、前記スキャンイン信号を順次シフトインしつつ、前段の前記圧縮回路から出力される、前段の前記第1スキャンセル回路の出力信号を次段の前記第1スキャンセル回路へ順次シフトして、全ての前記第1スキャンセル回路に前記テストパターンをセットするものであることが好ましい。
前記マスクイネーブル信号がディスエーブル状態とされて、前記マスク回路は、対応する前記第2スキャンセル回路の出力信号をそのまま出力するものであり、
前記圧縮回路は、対応する前記第1スキャンセル回路の出力信号、および、対応する前記マスク回路の出力信号をまとめて圧縮した圧縮結果を出力するものであり、
前記第1スキャンチェーンは、前記シフトモードの1サイクル目に、前記第1スキャンクロックに同期して、前記スキャンテストの圧縮結果を格納するものであることが好ましい。
前記マスクイネーブル信号がイネーブル状態とされて、前記マスク回路は、対応する前記第2スキャンセル回路に格納されたスキャンテストの結果をマスクするものであり、
前記圧縮回路は、対応する前記第1スキャンセル回路に格納されたスキャンテストの圧縮結果をそのまま出力するものであり、
前記第1スキャンチェーンは、前記シフトモードの場合に、前記第1スキャンクロックに同期して、前段の前記圧縮回路から出力される、前段の前記第1スキャンセル回路に格納されたスキャンテストの圧縮結果を次段の前記第1スキャンセル回路へ順次シフトすることにより、前記スキャンテストの圧縮結果を順次シフトアウトし、スキャンアウト信号として出力するものであることが好ましい。
2以上の前記第2スキャンチェーンは、前記シフトモードの場合に、それぞれ、前記第2スキャンクロックに同期して、各々の前記第1スキャンセル回路にセットされたテストパターンを各々対応する前記第2スキャンセル回路にパラレルにシフトして、全ての前記第2スキャンセル回路に前記テストパターンをセットするものであることが好ましい。
前記第3スキャンチェーンは、1以上の第3スキャンセル回路を備え、
n段目の前記第3スキャンチェーンの各々の第3スキャンセル回路は、前記nが1の場合、各々対応する前記第2スキャンセル回路から直列に接続され、前記nが2以上の場合、(n−1)段目の前記第3スキャンチェーンの各々対応する第3スキャンセル回路から直列に接続されるものであり、
前記nが1の場合、1段目の前記第3スキャンチェーンは、前記シフトモードの場合に、第3スキャンクロックに同期して、各々の前記第2スキャンセル回路にセットされたテストパターンを、1段目の前記第3スキャンチェーンの各々対応する前記第3スキャンセル回路にパラレルにシフトして、1段目の前記第3スキャンチェーンの全ての前記第3スキャンセル回路に前記テストパターンをセットするものであり、
前記nが2以上の場合、n段目の前記第3スキャンチェーンは、前記シフトモードの場合に、第(n+2)スキャンクロックに同期して、(n−1)段目の前記第3スキャンチェーンの各々の第3スキャンセル回路にセットされたテストパターンを、n段目の前記第3スキャンチェーンの各々対応する第3スキャンセル回路にパラレルにシフトして、n段目の前記第3スキャンチェーンの全ての第3スキャンセル回路に前記テストパターンをセットするものであることが好ましい。
また、シフトモードの場合に、同時動作するスキャンセル回路の数が減ることから、スキャンテスト時の消費電力総量および瞬間最大消費電力を低減し、IRドロップの発生を回避することができる。
また、シフトモードの場合に、スキャンセル回路間のデータの受け渡しタイミングのケアが必要となるのは第1スキャンセル回路間のみとなり、第2スキャン回路および、n段の第3スキャンセル回路間の受け渡しタイミングのケアが不要となるという利点もある。
第1スキャンチェーン26は、シフトモードの場合に、スキャンクロックA1に同期して、スキャンイン信号を順次シフトインしつつ、FF32Aおよび前段のスキャンセル回路34Aから次段のスキャンセル回路34Aへ順次シフトして、FF32Aおよび全てのスキャンセル回路34Aにテストパターンをセットするものである。
FF32Aは、スキャンクロックA1に同期して、スキャンイン信号を保持し、次のサイクルでデータ出力端子Qから出力する。
マルチプレクサ36の入力端子0、1には、それぞれ、組合わせ回路の出力信号(テスト結果の信号)、および、前段の圧縮回路30の出力信号(スキャンイン時の信号)が入力され、選択入力端子には、スキャンイネーブル信号ENが入力される。
FF38のデータ入力端子Dには、マルチプレクサ36の出力信号が入力され、クロック入力端子には、スキャンクロックA1が入力される。
スキャンセル回路34Aは、スキャンイネーブル信号ENがLの場合、マルチプレクサ36から、組合わせ回路の出力信号(テスト結果)を出力し、スキャンイネーブル信号ENがHの場合、マルチプレクサ36から、前段の圧縮回路30の出力信号を出力する。そして、スキャンクロックA1に同期して、マルチプレクサ36の出力信号をFF38に保持し、次のサイクルでそのデータ出力端子Qから出力する。
例えば、マスクイネーブル信号がイネーブル状態のH、その反転信号がLの場合、FF32B、32Cの出力信号は共にマスクされ、1段目のマスク回路28の2つの出力信号はLとなる。一方、マスクイネーブル信号がL、その反転信号がHの場合、1段目のマスク回路28は、FF32B、32Cの出力信号をそのまま出力する。
同様に、マスクイネーブル信号がイネーブル状態のH、その反転信号がLの場合、スキャンセル回路34B、34Cの出力信号は共にマスクされ、2段目〜(最終段−1)段目のマスク回路28の2つの出力信号はLとなる。一方、マスクイネーブル信号がL、その反転信号がHの場合、2段目〜(最終段−1)段目のマスク回路28は、対応するスキャンセル回路34B、34Cの出力信号をそのまま出力する。
最終段のマスク回路28は、例えば、一方の入力端子がHに固定されたAND回路により構成される。
最終段のマスク回路28は、マスクイネーブル信号に関係なく、最終段のスキャンセル回路34B、34Cの出力信号をそのまま出力する。
1段目の圧縮回路30は、1段目のマスク回路28により、FF32B、32Cの出力信号がマスクされ、1段目のマスク回路28の2つの出力信号がLの場合に、FF32Aの出力信号をそのまま出力する。一方、1段目のマスク回路28から、FF32B、32Cの出力信号がそのまま出力される場合に、FF32Aの出力信号および1段目のマスク回路28の2つの出力信号の排他的論理和の演算結果を出力することにより、これらをまとめて圧縮して出力する。
2段目〜(最終段−1)の圧縮回路30は、対応するマスク回路28により、対応するスキャンセル回路34B、34Cの出力信号がマスクされ、マスク回路28の2つの出力信号がLの場合に、スキャンセル回路34Aの出力信号をそのまま出力する。また、マスク回路28から、スキャンセル回路34B、34Cの出力信号がそのまま出力される場合に、スキャンセル回路34Aの出力信号および対応するマスク回路28から出力される2つの出力信号の排他的論理和の演算結果を出力することにより、これらをまとめて圧縮して出力する。
言い換えると、最終段の圧縮回路30は、マスタブロック14およびスレーブブロック16に格納されたスキャンテストの結果の圧縮結果を、スキャンアウト信号として、スキャンアウト出力端子SCAN_OUTを介してLSI18の外部へ出力する。
第2スキャンチェーン40は、シフトモードの場合に、スキャンクロックB1に同期して、第1スキャンチェーン26のFF32Aおよび各々のスキャンセル回路34Aにセットされたテストパターンを、各々対応するFF32Bおよび各々のスキャンセル回路34Bにパラレルにシフトして、FF32Bおよび全てのスキャンセル回路34Bにテストパターンをセットし、次のサイクルで出力するものである。
FF32Bは、スキャンクロックB1に同期して、FF32Aの出力信号を保持し、次のサイクルでそのデータ出力端子Qから出力する。
マルチプレクサ36の入力端子1には、マスタブロック14の対応するスキャンセル回路34Aの出力信号が入力され、FF38のクロック入力端子には、スキャンクロックB1が入力される。これ以外の構成は、スキャンセル回路34Aと同じである。
スキャンセル回路34Bは、スキャンイネーブル信号ENがLの場合、マルチプレクサ36から、組合わせ回路の出力信号(テスト結果)を出力し、スキャンイネーブル信号ENがHの場合、マルチプレクサ36から、対応するスキャンセル回路34Aの出力信号を出力する。そして、スキャンクロックB1に同期して、マルチプレクサ36の出力信号をFF38に保持し、次のサイクルでそのデータ出力端子Qから出力する。
第3スキャンチェーン42は、シフトモードの場合に、スキャンクロックC1に同期して、第2スキャンチェーン40のFF32Bおよび各々のスキャンセル回路FF34Bにセットされたテストパターンを、各々対応するFF32Cおよびスキャンセル回路34Cにパラレルにシフトして、FF32Cおよび全てのスキャンセル回路34Cにテストパターンをセットし、次のサイクルで出力するものである。
FF32Cは、スキャンクロックC1に同期して、FF32Bの出力信号を保持し、次のサイクルでそのデータ出力端子Qから出力する。
マルチプレクサ36の入力端子1には、スレーブブロック16の対応するスキャンセル回路34Bの出力信号が入力され、FF38のクロック入力端子には、スキャンクロックC1が入力される。これ以外の構成は、スキャンセル回路34Aと同じである。
スキャンセル回路34Cは、スキャンイネーブル信号ENがLの場合、マルチプレクサ36から、組合わせ回路の出力信号(テスト結果)を出力し、スキャンイネーブル信号ENがHの場合、マルチプレクサ36から、対応するスキャンセル回路34Bの出力信号を出力する。そして、スキャンクロックC1に同期して、マルチプレクサ36の出力信号をFF38に保持し、次のサイクルでそのデータ出力端子Qから出力する。
これにより、シフトモードとなり、各々のスキャンセル回路34A、34B、34Cのマルチプレクサ36からは、スキャンイン時の信号が出力される。従って、マスタブロック14において第1スキャンチェーン26が構成され、スレーブブロック16において第2スキャンチェーン40および第3スキャンチェーン42が構成される。
これにより、第2スキャンチェーン40および第3スキャンチェーン42の1段目〜(最終段−1)段目のFF32B,FF32C,各々対応するスキャンセル回路34B、34Cの出力信号はマスクされ、1段目〜(最終段−1)段目のマスク回路28の出力信号はLとなる。最終段のマスク回路28からは、第2スキャンチェーン40および第3スキャンチェーン42の最終段のスキャンセル回路34B、34Cの出力信号がそのまま出力される。
1段目〜(最終段−1)段目の圧縮回路30からは、FF32Aおよび前段のスキャンセル回路34Aの出力信号がそのまま出力される。最終段の圧縮回路30からは、最終段のスキャンセル回路34Aの出力信号および最終段のマスク回路28の2つの出力信号の排他的論理和の演算結果が出力される。
これにより、スキャンクロックA1に同期して、スキャンイン信号が第1スキャンチェーン26に順次シフトインされつつ、前段の圧縮回路30から出力される、FF32Aの出力信号および前段のスキャンセル回路34Aの出力信号が次段のスキャンセル回路34Aへ順次シフトされ、第1スキャンチェーン26のFF32Aおよび全てのスキャンセル回路34Aにテストパターンがセットされる。
これにより、スキャンクロックB1に同期して、第1スキャンチェーン26のFF32Aおよびスキャンセル回路34Aにセットされたテストパターンが、第2スキャンチェーン40の各々対応するFF32Bおよびスキャンセル回路34Bにパラレルに、セットされる。つまり、第2スキャンチェーン40に、第1スキャンチェーン26と同じテストパターンがセットされる。
これにより、スキャンクロックC1に同期して、第2スキャンチェーン40のFF32Bおよびスキャンセル回路34Bにセットされたテストパターンが、第3スキャンチェーン42の各々対応するFF32Cおよびスキャンセル回路34Cにパラレルに、セットされる。つまり、第3スキャンチェーン42に、第1スキャンチェーン26と同じテストパターンがセットされる。
これにより、キャプチャモードとなり、各々のスキャンセル回路34A、34B、34Cのマルチプレクサ36からは、スキャンテストの結果が出力される。
これにより、スキャンテストの結果が、それぞれ、スキャンクロックA1,B1,C1に同期して、各々のスキャンセル回路34A、34B、34CのFF38に保持される。
この場合、1段目のマスク回路28からは、FF32B、32Cの出力信号が出力され、2段目〜最終段のマスク回路28からは、各々対応するスキャンセル回路34B、34Cの出力信号がそのまま出力される。
また、1段目の圧縮回路30からは、FF32Aの出力信号およびマスク回路28の2つの出力信号の排他的論理和の演算結果が出力され、2段目〜最終段の圧縮回路30からは、各々対応するスキャンセル回路34Aの出力信号および各々対応するマスク回路28の2つの出力信号の排他的論理和の演算結果が出力される。
つまり、圧縮回路30からは、第1、第2、第3スキャンチェーン26、40、42に格納されたスキャンテストの結果を圧縮した圧縮結果が出力される。
これにより、シフトモードの1サイクル目に、スキャンクロックA1に同期して、圧縮回路30の出力信号、つまり、第1、第2、第3スキャンチェーン26、40、42に格納されたスキャンテストの圧縮結果が、各々対応するスキャンセル回路34AのFF38に保持される。
これにより、スキャンクロックA1に同期して、前段の圧縮回路30から出力される、FF32Aおよび前段のスキャンセル回路34Aに格納されたスキャンテストの圧縮結果が、次段のスキャンセル回路34Aへ順次シフトされることにより、第1スキャンチェーン26に格納されたスキャンテストの圧縮結果が順次シフトアウトされ、スキャンアウト信号として順次出力される。
また、スキャンクロックA1に同期して、前段の圧縮回路30から出力される、スキャンイン信号が第1スキャンチェーン26に順次シフトインされ、第1スキャンチェーン26に次のテストパターンがセットされてもよい。
また、シフトモードの場合に、同時動作するスキャンセル回路の数を減らすことができるから、スキャンテスト時の消費電力総量および瞬間最大消費電力を低減し、IRドロップの発生を回避することができる。
また、シフトモードの場合に、スキャンセル回路間のデータの受け渡しタイミングのケアが必要となるのはマスタブロック14のスキャンセル回路34A間のみとなり、スレーブブロック16のスキャンセル回路34B、34C間の受け渡しタイミングのケアが不要となるという利点もある。
この場合、2以上の第2スキャンチェーン40は、シフトモードの場合に、それぞれ、スキャンクロックB1に同期して、第1スキャンチェーン26の各々のスキャンセル回路34Aにセットされたテストパターンを、各々対応するスキャンセル回路34Bにパラレルにシフトして、全てのスキャンセル回路34Bにテストパターンをセットする。
第3スキャンチェーンは、1以上の第3スキャンセル回路を備える。n段目の第3スキャンチェーンの各々の第3スキャンセル回路は、nが1の場合、各々対応する第2スキャンセル回路から直列に接続され、nが2以上の場合、(n−1)段目の第3スキャンチェーンの各々対応する第3スキャンセル回路から直列に接続される。
図2の例のように、nが1の場合、1段目の第3スキャンチェーン42は、シフトモードの場合に、スキャンクロックB1に同期して、第2スキャンチェーン40の各々のスキャンセル回路34Bにセットされたテストパターンを、各々対応するスキャンセル回路34Cにパラレルにシフトして、1段目の第3スキャンチェーン42の全てのスキャンセル回路FF34Cにテストパターンをセットする。
また、nが2以上の場合、n段目の第3スキャンチェーン42は、シフトモードの場合に、LSI18の外部からスキャンクロック入力端子SCAN_CLK_C_nを介して入力されるスキャンクロックC1_nに同期して、(n−1)段目の第3スキャンチェーン42の各々のスキャンセル回路34Cにセットされたテストパターンを、n段目の第3スキャンチェーン42の各々対応する第3スキャンセル回路34Cにパラレルにシフトして、n段目の第3スキャンチェーン42の全ての第3スキャンセル回路FF34Cにテストパターンをセットする。
以上、本発明について詳細に説明したが、本発明は上記実施形態に限定されず、本発明の主旨を逸脱しない範囲において、種々の改良や変更をしてもよいのはもちろんである。
14 マスタブロック
16 スレーブブロック
18、68 半導体集積回路(LSI)
36、64 マルチプレクサ
26 第1スキャンチェーン
28 マスク回路
30 圧縮回路
32A、32B、32C、38、60、66 フリップフロップ(FF)
34A、34B、34C、62 スキャンセル回路
40 第2スキャンチェーン
42 第3スキャンチェーン
44 インバータ
54、56、58 スキャンチェーン
70 出力圧縮回路
Claims (8)
- スキャンイネーブル信号がイネーブル状態の場合にシフトモードとなり、第1スキャンチェーンを構成するマスタブロック、および、第2スキャンチェーンを構成するスレーブブロックを備え、
前記第1スキャンチェーンは、前記シフトモードの場合に、直列に接続される1以上の第1スキャンセル回路を備え、第1スキャンクロックに同期して、スキャンイン信号を順次シフトインしつつ、前段の前記第1スキャンセル回路から次段の前記第1スキャンセル回路へ順次シフトして、全ての前記第1スキャンセル回路にテストパターンをセットするものであり、
前記第2スキャンチェーンは、前記シフトモードの場合に、各々対応する前記第1スキャンセル回路から直列に接続される1以上の第2スキャンセル回路を備え、第2スキャンクロックに同期して、各々の前記第1スキャンセル回路にセットされたテストパターンを各々対応する前記第2スキャンセル回路にパラレルにシフトして、全ての前記第2スキャンセル回路に前記テストパターンをセットするものであることを特徴とするスキャンテスト回路。 - さらに、各々の前記第1スキャンセル回路に対応して設けられ、マスクイネーブル信号がイネーブル状態の場合に、対応する前記第2スキャンセル回路の出力信号をマスクし、前記マスクイネーブル信号がディスエーブル状態の場合に、対応する前記第2スキャンセル回路の出力信号をそのまま出力する1以上のマスク回路と、
各々の前記第1スキャンセル回路に対応して設けられ、対応する前記第1スキャンセル回路の出力信号、および、対応する前記マスク回路の出力信号をまとめて圧縮した圧縮結果を出力する1以上の圧縮回路とを備え、
全ての前記第1スキャンセル回路に前記テストパターンをセットする場合、
前記マスクイネーブル信号がイネーブル状態とされて、前記マスク回路は、対応する前記第2スキャンセル回路の出力信号をマスクするものであり、
前記圧縮回路は、前段の前記第1スキャンセル回路の出力信号をそのまま出力するものであり、
前記第1スキャンチェーンは、前記シフトモードの場合に、前記第1スキャンクロックに同期して、前記スキャンイン信号を順次シフトインしつつ、前段の前記圧縮回路から出力される、前段の前記第1スキャンセル回路の出力信号を次段の前記第1スキャンセル回路へ順次シフトして、全ての前記第1スキャンセル回路に前記テストパターンをセットするものである請求項1に記載のスキャンテスト回路。 - 前記第1スキャンチェーンおよび前記第2スキャンチェーンは、前記スキャンイネーブル信号がディスエーブル状態の場合にキャプチャモードとなり、それぞれ、前記第1スキャンクロックおよび前記第2スキャンクロックに同期して、前記テストパターンに応じて動作した組合わせ回路から出力されるスキャンテストの結果を格納するものである請求項2に記載のスキャンテスト回路。
- 前記第1スキャンチェーンに、前記第1スキャンチェーンおよび前記第2スキャンチェーンに格納されたスキャンテストの結果をまとめて圧縮した圧縮結果を格納する場合、
前記マスクイネーブル信号がディスエーブル状態とされて、前記マスク回路は、対応する前記第2スキャンセル回路の出力信号をそのまま出力するものであり、
前記圧縮回路は、対応する前記第1スキャンセル回路の出力信号、および、対応する前記マスク回路の出力信号をまとめて圧縮した圧縮結果を出力するものであり、
前記第1スキャンチェーンは、前記シフトモードの1サイクル目に、前記第1スキャンクロックに同期して、前記スキャンテストの圧縮結果を格納するものである請求項3に記載のスキャンテスト回路。 - 前記第1スキャンチェーンに格納されたスキャンテストの圧縮結果を出力する場合、
前記マスクイネーブル信号がイネーブル状態とされて、前記マスク回路は、対応する前記第2スキャンセル回路に格納されたスキャンテストの結果をマスクするものであり、
前記圧縮回路は、対応する前記第1スキャンセル回路に格納されたスキャンテストの圧縮結果をそのまま出力するものであり、
前記第1スキャンチェーンは、前記シフトモードの場合に、前記第1スキャンクロックに同期して、前段の前記圧縮回路から出力される、前段の前記第1スキャンセル回路に格納されたスキャンテストの圧縮結果を次段の前記第1スキャンセル回路へ順次シフトすることにより、前記スキャンテストの圧縮結果を順次シフトアウトし、スキャンアウト信号として出力するものである請求項4に記載のスキャンテスト回路。 - 最終段の前記マスク回路は、前記マスクイネーブル信号の状態にかかわらず、対応する前記第2スキャンセル回路の出力信号をそのまま出力するものである請求項2〜5のいずれか1項に記載のスキャンテスト回路。
- 前記スレーブブロックは、前記シフトモードの場合に、2以上の前記第2スキャンチェーンを構成するものであり、
2以上の前記第2スキャンチェーンは、前記シフトモードの場合に、それぞれ、前記第2スキャンクロックに同期して、各々の前記第1スキャンセル回路にセットされたテストパターンを各々対応する前記第2スキャンセル回路にパラレルにシフトして、全ての前記第2スキャンセル回路に前記テストパターンをセットするものである請求項1〜6のいずれか1項に記載のスキャンテスト回路。 - 前記スレーブブロックは、前記シフトモードの場合に、さらに、n段(nは、1以上の整数)の第3スキャンチェーンを構成するものであり、
前記第3スキャンチェーンは、1以上の第3スキャンセル回路を備え、
n段目の前記第3スキャンチェーンの各々の第3スキャンセル回路は、前記nが1の場合、各々対応する前記第2スキャンセル回路から直列に接続され、前記nが2以上の場合、(n−1)段目の前記第3スキャンチェーンの各々対応する第3スキャンセル回路から直列に接続されるものであり、
前記nが1の場合、1段目の前記第3スキャンチェーンは、前記シフトモードの場合に、第3スキャンクロックに同期して、各々の前記第2スキャンセル回路にセットされたテストパターンを、1段目の前記第3スキャンチェーンの各々対応する前記第3スキャンセル回路にパラレルにシフトして、1段目の前記第3スキャンチェーンの全ての前記第3スキャンセル回路に前記テストパターンをセットするものであり、
前記nが2以上の場合、n段目の前記第3スキャンチェーンは、前記シフトモードの場合に、第(n+2)スキャンクロックに同期して、(n−1)段目の前記第3スキャンチェーンの各々の第3スキャンセル回路にセットされたテストパターンを、n段目の前記第3スキャンチェーンの各々対応する第3スキャンセル回路にパラレルにシフトして、n段目の前記第3スキャンチェーンの全ての第3スキャンセル回路に前記テストパターンをセットするものである請求項1〜7のいずれか1項に記載のスキャンテスト回路。
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EP1146343B1 (en) * | 2000-03-09 | 2005-02-23 | Texas Instruments Incorporated | Adapting Scan-BIST architectures for low power operation |
US6848067B2 (en) * | 2002-03-27 | 2005-01-25 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Multi-port scan chain register apparatus and method |
JP3828502B2 (ja) * | 2003-03-26 | 2006-10-04 | 株式会社東芝 | 集積回路 |
JP2006058152A (ja) * | 2004-08-20 | 2006-03-02 | Toshiba Corp | 半導体装置の試験方法及び半導体装置の試験回路 |
JP2012198078A (ja) * | 2011-03-18 | 2012-10-18 | Renesas Electronics Corp | 半導体集積回路、テスト方法、半導体集積回路の設計方法、半導体集積回路の設計支援プログラム |
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