JP6303756B2 - 特許情報分析装置及び特許情報分析方法 - Google Patents
特許情報分析装置及び特許情報分析方法 Download PDFInfo
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Description
〔1〕所定の観点に基づいた特許文献の集合を検索する手段、前記検索によって得られた集合に属する各々の特許文献に付与された複数の分類コードを抽出して分類コードの集合を作成する手段、前記分類コードの集合から数値分析用分類コードを選抜する手段、数値分析により、前記数値分析用分類コードの座標を算出する手段、前記数値分析用分類コードの座標に基づいて、前記各々の特許文献の座標を算出し、前記特許文献の座標に基づきその密度を表現したマップを作成する手段、を有することを特徴とする特許情報分析装置、
〔2〕抽出された分類コードの集合から、出現頻度の高い分類コードを数値分析用分類コードとして選抜する前記〔1〕に記載の特許情報分析装置、
〔3〕前記数値分析用分類コードの座標に基づいて、下書きマップを作成する手段を含む前記〔1〕又は〔2〕に記載の特許情報分析装置、
〔4〕前記座標空間は2次元である、前記〔1〕〜〔3〕の何れかに記載の特許情報分析装置、
〔5〕前記分類コードはFタームである前記〔1〕〜〔4〕の何れかに記載の特許情報分析装置、
〔6〕前記数値分析は対応分析である前記〔1〕〜〔5〕の何れかに記載の特許情報分析装置、
〔7〕各々の特許文献の座標は、該特許文献に付与された分類コードのうち、前記数値分析用分類コードとして選抜された分類コードの座標を結んで形成される図形の重心として決定される、前記〔1〕〜〔6〕の何れかに記載の特許情報装置、
〔8〕下書きマップにおいて、分類コードを言葉に変換し、その言葉を下書きマップに記入する手段を含む前記〔1〕〜〔7〕の何れかに記載の特許情報分析装置、
〔9〕所定の観点に基づいた特許文献の集合を検索する工程、前記検索によって得られた集合に属する各々の特許文献に付与された複数の分類コードを抽出して分類コードの集合を作成する工程、前記分類コードの集合から数値分析用分類コードを選抜する工程、数値分析により、前記数値分析用分類コードの座標を算出する工程、前記数値分析用分類コードの座標に基づいて、前記各々の特許文献の座標を算出し、前記特許文献の座標に基づきその密度を表現したマップを作成する工程、を有することを特徴とする特許情報分析方法、
〔10〕抽出された分類コードの集合から、出現頻度の高い分類コードを数値分析用分類コードとして選抜する前記〔9〕に記載の特許情報分析方法、
〔11〕前記数値分析用分類コードの座標に基づいて、下書きマップを作成する工程を含む前記〔9〕又は〔10〕に記載の特許情報分析方法、
〔12〕前記座標空間は2次元である、前記〔9〕〜〔11〕の何れかに記載の特許情報分析方法、
〔13〕前記分類コードはFタームである前記〔9〕〜〔12〕の何れかに記載の特許情報分析方法、
〔14〕前記数値分析は対応分析である前記〔9〕〜〔13〕の何れかに記載の特許情報分析方法、
〔15〕各々の特許文献の座標は、該特許文献に付与された分類コードのうち、前記数値分析用分類コードとして選抜された分類コードの座標を結んで形成される図形の重心として決定される、前記〔9〕〜〔14〕の何れかに記載の特許情報方法、
〔16〕下書きマップにおいて、分類コードを言葉に変換し、その言葉を下書きマップに記入する工程を含む前記〔9〕〜〔15〕の何れかに記載の特許情報分析方法
に関する。
発泡樹脂事業をおこなっているA、B、C社の3社による1992年〜2011年の20年間に公開された特許文献(特許査定がおりたものだけでなく出願中のものも含む。)を、出願人または権利者名をA、B、C社とすることにより検索し、またC社に関しては発泡樹脂関連の事業以外もおこなっているため、C社のみについては、更に発泡樹脂に関する特許文献という限定を加えることにより、総計5828件の特許文献を抽出した。そして独立行政法人工業所有権情報・研修館の提供する整理標準化データから、各特許に付与されたFタームを取得した。
次いで、数値分析用分類コード(数値分析用Fターム)として、前記5828件の特許文献に付与されているFタームの中から、その付与された頻度の高い上位100個のFタームを選抜した。その後各特許文献にどのFタームが付与されているか否かを表すFターム行列を、図3のように作成した。この行列においては、各行が各々の特許文献に対応し、各列が選抜したFタームに対応しており、行列内の各要素においてFタームが付与されている場合には1とし、付与されていない場合には0とした。その後、前記Fターム行列に基づいて対応分析を行い、数値分析用分類コード(数値分析用Fターム)の座標を算出した。そして、各々の特許文献の座標を、対応分析によって得られた数値分析用分類コード(数値分析用Fターム)の座標情報に基づき、各特許部文献に付与されたFタームの、座標位置に基づいて形成される図形の重心として算出した。こうしてA、B、C社それぞれ別々のマップとして、各特許文献の座標を、座標空間上にプロットした。さらに、各社それぞれのマップにおいて、特許文献のプロットの密度に応じて色分けを行い、マップを作成した。尚、マップの色分けに際しては、特許文献の密度の最も高いところから順に赤→黄→青となるようにした。また併せて、各数値分析用分類コードを座標空間上にプロットし、そのプロット上に対応する分類コードを記載することにより、下書きマップも作成した。完成したマップは図4のように、下書きマップは図5のようになった。
完成したマップの座標(−1.0,−0.7)から(−0.5,−0.4)にかけての領域を下書きマップと照らし合わせると、包装体に関するFタームが集まっていることが確認できた。完成したA社のマップにおいてはこの座標付近のプロット密度が高く、B、C社に比べて包装体分野の出願に重点を置いていることが分かった。また完成したマップにおける座標(−0.5,2.7)付近を下書きマップと照らし合わせると、積層体に関するFタームが多く集まっていることが確認できた。C社はこの座標付近のプロット密度が高いことから、A、B社に比べて積層体分野の出願に重点を置いていることが分かった。また、図6に示すように、下書きマップのFタームの座標の位置にFタームを記入するかわりにFタームに対応する技術領域名を言葉で記入すると、一見して解りやすい下書きマップが得られた。
110 入力部
120 制御部
121 特許検索部
122 分類コード集合作成部
123 分類コード選抜部
124 数値分析部
125 マップ作成部
126 下書きマップ作成部
130 DBサーバ
131 文献DB
140 記憶部
150 表示部
Claims (16)
- 所定の観点に基づいた特許文献の集合を検索する手段、
前記検索によって得られた集合に属する各々の特許文献に付与された複数の分類コードを抽出して分類コードの集合を作成する手段、
前記分類コードの集合から数値分析用分類コードを選抜する手段、
数値分析により、前記数値分析用分類コードの座標を算出する手段、
前記数値分析用分類コードの座標に基づいて、前記各々の特許文献の座標を算出し、前記特許文献の座標に基づきその密度を表現したマップを作成する手段、
を有することを特徴とする特許情報分析装置。 - 抽出された分類コードの集合から、出現頻度の高い分類コードを数値分析用分類コードとして選抜する請求項1に記載の特許情報分析装置。
- 前記数値分析用分類コードの座標に基づいて、下書きマップを作成する手段を含む請求項1又は2に記載の特許情報分析装置。
- 前記座標空間は2次元である、請求項1〜3の何れか1項に記載の特許情報分析装置。
- 前記分類コードはFタームである請求項1〜4の何れか1項に記載の特許情報分析装置。
- 前記数値分析は対応分析である請求項1〜5の何れか1項に記載の特許情報分析装置。
- 各々の特許文献の座標は、該特許文献に付与された分類コードのうち、前記数値分析用分類コードとして選抜された分類コードの座標を結んで形成される図形の重心として決定される、請求項1〜6の何れか1項に記載の特許情報分析装置。
- 下書きマップにおいて、分類コードを言葉に変換し、その言葉を下書きマップに記入する手段を含む請求項3〜7の何れか1項に記載の特許情報分析装置。
- 特許情報分析装置による特許情報分析方法であって、
前記特許情報分析装置の制御部が、
所定の観点に基づいた特許文献の集合を検索する工程、
前記検索によって得られた集合に属する各々の特許文献に付与された複数の分類コードを抽出して分類コードの集合を作成する工程、
前記分類コードの集合から数値分析用分類コードを選抜する工程、
数値分析により、前記数値分析用分類コードの座標を算出する工程、
および、前記数値分析用分類コードの座標に基づいて、前記各々の特許文献の座標を算出し、前記特許文献の座標に基づきその密度を表現したマップを作成する工程を実行することを特徴とする特許情報分析方法。 - 前記制御部は、抽出された分類コードの集合から、出現頻度の高い分類コードを数値分析用分類コードとして選抜する請求項9に記載の特許情報分析方法。
- 前記制御部が、前記数値分析用分類コードの座標に基づいて、下書きマップを作成する工程を含む請求項9又は10に記載の特許情報分析方法。
- 前記座標空間は2次元である、請求項9〜11の何れか1項に記載の特許情報分析方法。
- 前記分類コードはFタームである請求項9〜12の何れか1項に記載の特許情報分析方法。
- 前記数値分析は対応分析である請求項9〜13の何れか1項に記載の特許情報分析方法。
- 各々の特許文献の座標は、該特許文献に付与された分類コードのうち、前記数値分析用分類コードとして選抜された分類コードの座標を結んで形成される図形の重心として決定される、請求項9〜14の何れか1項に記載の特許情報分析方法。
- 前記制御部が、下書きマップにおいて、分類コードを言葉に変換し、その言葉を下書きマップに記入する工程を含む請求項11〜15の何れか1項に記載の特許情報分析方法。
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