JP6297503B2 - レーザビーム制御装置及び極端紫外光生成装置 - Google Patents
レーザビーム制御装置及び極端紫外光生成装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP6297503B2 JP6297503B2 JP2014553033A JP2014553033A JP6297503B2 JP 6297503 B2 JP6297503 B2 JP 6297503B2 JP 2014553033 A JP2014553033 A JP 2014553033A JP 2014553033 A JP2014553033 A JP 2014553033A JP 6297503 B2 JP6297503 B2 JP 6297503B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- laser beam
- wavefront
- output
- guide
- guide laser
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 221
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 103
- 230000009977 dual effect Effects 0.000 claims description 10
- 238000000034 method Methods 0.000 description 75
- 230000008569 process Effects 0.000 description 75
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 36
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 19
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 14
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 description 14
- 230000006870 function Effects 0.000 description 11
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 8
- 238000011144 upstream manufacturing Methods 0.000 description 8
- 230000008859 change Effects 0.000 description 5
- 230000004075 alteration Effects 0.000 description 4
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 4
- 239000013077 target material Substances 0.000 description 4
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 3
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 3
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 3
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 3
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 3
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 3
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 3
- 230000005469 synchrotron radiation Effects 0.000 description 3
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 2
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 2
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 2
- 238000002310 reflectometry Methods 0.000 description 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 2
- 229910052688 Gadolinium Inorganic materials 0.000 description 1
- WHXSMMKQMYFTQS-UHFFFAOYSA-N Lithium Chemical compound [Li] WHXSMMKQMYFTQS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N Molybdenum Chemical compound [Mo] ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052771 Terbium Inorganic materials 0.000 description 1
- ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N Tin Chemical compound [Sn] ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 238000007599 discharging Methods 0.000 description 1
- UIWYJDYFSGRHKR-UHFFFAOYSA-N gadolinium atom Chemical compound [Gd] UIWYJDYFSGRHKR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000011261 inert gas Substances 0.000 description 1
- 229910052744 lithium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 239000003607 modifier Substances 0.000 description 1
- 229910052750 molybdenum Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011733 molybdenum Substances 0.000 description 1
- 238000000206 photolithography Methods 0.000 description 1
- 230000002250 progressing effect Effects 0.000 description 1
- 230000000644 propagated effect Effects 0.000 description 1
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 1
- 238000011084 recovery Methods 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
- 239000000725 suspension Substances 0.000 description 1
- 239000013076 target substance Substances 0.000 description 1
- GZCRRIHWUXGPOV-UHFFFAOYSA-N terbium atom Chemical compound [Tb] GZCRRIHWUXGPOV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052718 tin Inorganic materials 0.000 description 1
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052724 xenon Inorganic materials 0.000 description 1
- FHNFHKCVQCLJFQ-UHFFFAOYSA-N xenon atom Chemical compound [Xe] FHNFHKCVQCLJFQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05G—X-RAY TECHNIQUE
- H05G2/00—Apparatus or processes specially adapted for producing X-rays, not involving X-ray tubes, e.g. involving generation of a plasma
- H05G2/001—Production of X-ray radiation generated from plasma
- H05G2/008—Production of X-ray radiation generated from plasma involving an energy-carrying beam in the process of plasma generation
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B27/00—Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
- G02B27/0025—Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00 for optical correction, e.g. distorsion, aberration
- G02B27/0068—Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00 for optical correction, e.g. distorsion, aberration having means for controlling the degree of correction, e.g. using phase modulators, movable elements
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B27/00—Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
- G02B27/10—Beam splitting or combining systems
- G02B27/14—Beam splitting or combining systems operating by reflection only
- G02B27/141—Beam splitting or combining systems operating by reflection only using dichroic mirrors
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B17/00—Systems with reflecting surfaces, with or without refracting elements
- G02B17/08—Catadioptric systems
- G02B17/0892—Catadioptric systems specially adapted for the UV
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B27/00—Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
- G02B27/10—Beam splitting or combining systems
- G02B27/108—Beam splitting or combining systems for sampling a portion of a beam or combining a small beam in a larger one, e.g. wherein the area ratio or power ratio of the divided beams significantly differs from unity, without spectral selectivity
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S3/00—Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range
- H01S3/005—Optical devices external to the laser cavity, specially adapted for lasers, e.g. for homogenisation of the beam or for manipulating laser pulses, e.g. pulse shaping
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S3/00—Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range
- H01S3/23—Arrangements of two or more lasers not provided for in groups H01S3/02 - H01S3/22, e.g. tandem arrangements of separate active media
- H01S3/2383—Parallel arrangements
- H01S3/2391—Parallel arrangements emitting at different wavelengths
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05G—X-RAY TECHNIQUE
- H05G2/00—Apparatus or processes specially adapted for producing X-rays, not involving X-ray tubes, e.g. involving generation of a plasma
- H05G2/001—Production of X-ray radiation generated from plasma
- H05G2/003—Production of X-ray radiation generated from plasma the plasma being generated from a material in a liquid or gas state
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Plasma & Fusion (AREA)
- X-Ray Techniques (AREA)
- Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
Description
コントローラは、両ビーム波面調節器から出力されたレーザビーム及び両ビーム波面調節器から出力されたガイドレーザビームの両方についてのビームモニタによる検出結果に基づいてガイドレーザビーム波面調節器を制御し、両ビーム波面調節器から出力されたガイドレーザビームについてのビームモニタによる検出結果に基づいて両ビーム波面調節器を制御するように構成されてもよい。
本開示の他の1つの観点に係るレーザビーム制御装置は、ガイドレーザビームを出力するガイドレーザ装置と、ガイドレーザ装置から出力されたガイドレーザビームの光路に配置されたガイドレーザビーム波面調節器と、レーザシステムから出力されたレーザビームの進行方向及びガイドレーザビーム波面調節器から出力されたガイドレーザビームの進行方向を互いに実質的に一致させるように構成されたビーム結合器と、ビーム結合器から出力されたレーザビーム及びビーム結合器から出力されたガイドレーザビームの両方の光路に配置された両ビーム波面調節器と、両ビーム波面調節器から出力されたレーザビーム及び両ビーム波面調節器から出力されたガイドレーザビームの両方の光路に配置されたビームモニタと、両ビーム波面調節器から出力されたレーザビーム及び両ビーム波面調節器から出力されたガイドレーザビームの両方についてのビームモニタによる検出結果に基づいてガイドレーザビーム波面調節器及び両ビーム波面調節器を制御するように構成されたコントローラと、を備え、
コントローラは、両ビーム波面調節器から出力されたレーザビーム及び両ビーム波面調節器から出力されたガイドレーザビームの両方についてのビームモニタによる波面の検出結果がほぼ一致するようにガイドレーザビーム波面調節器を制御し、その後、両ビーム波面調節器から出力されたガイドレーザビームについてのビームモニタによる波面の検出結果が所望の結果となるように両ビーム波面調節器を制御するように構成されてもよい。
コントローラは、両ビーム波面調節器から出力されたレーザビーム及び両ビーム波面調節器から出力されたガイドレーザビームの両方についてのビームモニタによる検出結果に基づいてレーザビーム波面調節器を制御し、両ビーム波面調節器から出力されたガイドレーザビームについてのビームモニタによる検出結果に基づいて両ビーム波面調節器を制御するように構成されてもよい。
本開示の他の1つの観点に係るレーザビーム制御装置は、ガイドレーザビームを出力するガイドレーザ装置と、レーザシステムから出力されたレーザビームの光路に配置されたレーザビーム波面調節器と、レーザビーム波面調節器から出力されたレーザビームの進行方向及びガイドレーザ装置から出力されたガイドレーザビームの進行方向を互いに実質的に一致させるように構成されたビーム結合器と、ビーム結合器から出力されたレーザビーム及びビーム結合器から出力されたガイドレーザビームの両方の光路に配置された両ビーム波面調節器と、両ビーム波面調節器から出力されたレーザビーム及び両ビーム波面調節器から出力されたガイドレーザビームの両方の光路に配置されたビームモニタと、両ビーム波面調節器から出力されたレーザビーム及び両ビーム波面調節器から出力されたガイドレーザビームの両方についてのビームモニタによる検出結果に基づいてレーザビーム波面調節器及び両ビーム波面調節器を制御するように構成されたコントローラと、を備え、
コントローラは、両ビーム波面調節器から出力されたレーザビーム及び両ビーム波面調節器から出力されたガイドレーザビームの両方についてのビームモニタによる波面の検出結果がほぼ一致するようにレーザビーム波面調節器を制御し、その後、両ビーム波面調節器から出力されたガイドレーザビームについてのビームモニタによる波面の検出結果が所望の結果となるように両ビーム波面調節器を制御するように構成されてもよい。
コントローラは、ビーム結合器から出力されたレーザビーム及びビーム結合器から出力されたガイドレーザビームの両方についてのビームモニタによる検出結果に基づいてガイドレーザビーム波面調節器及びレーザビーム波面調節器の少なくともいずれかを制御し、ビーム結合器から出力されたガイドレーザビームについてのビームモニタによる検出結果に基づいてガイドレーザビーム波面調節器及びレーザビーム波面調節器を制御するように構成されてもよい。
本開示の他の1つの観点に係るレーザビーム制御装置は、ガイドレーザビームを出力するガイドレーザ装置と、ガイドレーザ装置から出力されたガイドレーザビームの光路に配置されたガイドレーザビーム波面調節器と、レーザシステムから出力されたレーザビームの光路に配置されたレーザビーム波面調節器と、レーザビーム波面調節器から出力されたレーザビームの進行方向及びガイドレーザビーム波面調節器から出力されたガイドレーザビームの進行方向を互いに実質的に一致させるように構成されたビーム結合器と、ビーム結合器から出力されたレーザビーム及びビーム結合器から出力されたガイドレーザビームの両方の光路に配置されたビームモニタと、ビーム結合器から出力されたレーザビーム及びビーム結合器から出力されたガイドレーザビームの両方についてのビームモニタによる検出結果に基づいてガイドレーザビーム波面調節器及びレーザビーム波面調節器を制御するように構成されたコントローラと、を備え、
コントローラは、ビーム結合器から出力されたレーザビーム及びビーム結合器から出力されたガイドレーザビームの両方についてのビームモニタによる波面の検出結果がほぼ一致するようにガイドレーザビーム波面調節器及びレーザビーム波面調節器の少なくともいずれかを制御し、その後、ビーム結合器から出力されたガイドレーザビームについてのビームモニタによる波面の検出結果が所望の結果となるようにガイドレーザビーム波面調節器のオプティカルパワーを所定量制御し、且つ、レーザビーム波面調節器のオプティカルパワーを所定量制御するように構成されてもよい。
レーザビーム制御装置から出力されるレーザビームを内部に通過させる入射口が設けられたチャンバと、チャンバ内にターゲットを出力するターゲット生成部と、レーザビームをチャンバ内で集光させるレーザ集光光学系と、を備え、
コントローラは、両ビーム波面調節器から出力されたレーザビーム及び両ビーム波面調節器から出力されたガイドレーザビームの両方についてのビームモニタによる検出結果に基づいてガイドレーザビーム波面調節器を制御し、両ビーム波面調節器から出力されたガイドレーザビームについてのビームモニタによる検出結果に基づいて両ビーム波面調節器を制御するように構成されてもよい。
本開示の他の1つの観点に係る極端紫外光生成装置は、ガイドレーザビームを出力するガイドレーザ装置と、ガイドレーザ装置から出力されたガイドレーザビームの光路に配置されたガイドレーザビーム波面調節器と、レーザシステムから出力されたレーザビームの進行方向及びガイドレーザビーム波面調節器から出力されたガイドレーザビームの進行方向を互いに実質的に一致させるように構成されたビーム結合器と、ビーム結合器から出力されたレーザビーム及びビーム結合器から出力されたガイドレーザビームの両方の光路に配置された両ビーム波面調節器と、両ビーム波面調節器から出力されたレーザビーム及び両ビーム波面調節器から出力されたガイドレーザビームの両方の光路に配置されたビームモニタと、両ビーム波面調節器から出力されたレーザビーム及び両ビーム波面調節器から出力されたガイドレーザビームの両方についてのビームモニタによる検出結果に基づいてガイドレーザビーム波面調節器及び両ビーム波面調節器を制御するように構成されたコントローラとを備えるレーザビーム制御装置と、
レーザビーム制御装置から出力されるレーザビームを内部に通過させる入射口が設けられたチャンバと、チャンバ内にターゲットを出力するターゲット生成部と、レーザビームをチャンバ内で集光させるレーザ集光光学系と、を備え、
コントローラは、両ビーム波面調節器から出力されたレーザビーム及び両ビーム波面調節器から出力されたガイドレーザビームの両方についてのビームモニタによる波面の検出結果がほぼ一致するようにガイドレーザビーム波面調節器を制御し、その後、両ビーム波面調節器から出力されたガイドレーザビームについてのビームモニタによる波面の検出結果が所望の結果となるように両ビーム波面調節器を制御するように構成されてもよい。
レーザビーム制御装置から出力されるレーザビームを内部に通過させる入射口が設けられたチャンバと、チャンバ内にターゲットを出力するターゲット生成部と、レーザビームをチャンバ内で集光させるレーザ集光光学系と、を備え、
コントローラは、両ビーム波面調節器から出力されたレーザビーム及び両ビーム波面調節器から出力されたガイドレーザビームの両方についてのビームモニタによる検出結果に基づいてレーザビーム波面調節器を制御し、両ビーム波面調節器から出力されたガイドレーザビームについてのビームモニタによる検出結果に基づいて両ビーム波面調節器を制御するように構成されてもよい。
本開示の他の1つの観点に係る極端紫外光生成装置は、ガイドレーザビームを出力するガイドレーザ装置と、レーザシステムから出力されたレーザビームの光路に配置されたレーザビーム波面調節器と、レーザビーム波面調節器から出力されたレーザビームの進行方向及びガイドレーザ装置から出力されたガイドレーザビームの進行方向を互いに実質的に一致させるように構成されたビーム結合器と、ビーム結合器から出力されたレーザビーム及びビーム結合器から出力されたガイドレーザビームの両方の光路に配置された両ビーム波面調節器と、両ビーム波面調節器から出力されたレーザビーム及び両ビーム波面調節器から出力されたガイドレーザビームの両方の光路に配置されたビームモニタと、両ビーム波面調節器から出力されたレーザビーム及び両ビーム波面調節器から出力されたガイドレーザビームの両方についてのビームモニタによる検出結果に基づいてレーザビーム波面調節器及び両ビーム波面調節器を制御するように構成されたコントローラとを備えるレーザビーム制御装置と、
レーザビーム制御装置から出力されるレーザビームを内部に通過させる入射口が設けられたチャンバと、チャンバ内にターゲットを出力するターゲット生成部と、レーザビームをチャンバ内で集光させるレーザ集光光学系と、を備え、
コントローラは、両ビーム波面調節器から出力されたレーザビーム及び両ビーム波面調節器から出力されたガイドレーザビームの両方についてのビームモニタによる波面の検出結果がほぼ一致するようにレーザビーム波面調節器を制御し、その後、両ビーム波面調節器から出力されたガイドレーザビームについてのビームモニタによる波面の検出結果が所望の結果となるように両ビーム波面調節器を制御するように構成されてもよい。
レーザビーム制御装置から出力されるレーザビームを内部に通過させる入射口が設けられたチャンバと、チャンバ内にターゲットを出力するターゲット生成部と、レーザビームをチャンバ内で集光させるレーザ集光光学系と、を備え、
コントローラは、ビーム結合器から出力されたレーザビーム及びビーム結合器から出力されたガイドレーザビームの両方についてのビームモニタによる検出結果に基づいてガイドレーザビーム波面調節器及びレーザビーム波面調節器の少なくともいずれかを制御し、ビーム結合器から出力されたガイドレーザビームについてのビームモニタによる検出結果に基づいてガイドレーザビーム波面調節器及びレーザビーム波面調節器を制御するように構成されてもよい。
本開示の他の1つの観点に係る極端紫外光生成装置は、ガイドレーザビームを出力するガイドレーザ装置と、ガイドレーザ装置から出力されたガイドレーザビームの光路に配置されたガイドレーザビーム波面調節器と、レーザシステムから出力されたレーザビームの光路に配置されたレーザビーム波面調節器と、レーザビーム波面調節器から出力されたレーザビームの進行方向及びガイドレーザビーム波面調節器から出力されたガイドレーザビームの進行方向を互いに実質的に一致させるように構成されたビーム結合器と、ビーム結合器から出力されたレーザビーム及びビーム結合器から出力されたガイドレーザビームの両方の光路に配置されたビームモニタと、ビーム結合器から出力されたレーザビーム及びビーム結合器から出力されたガイドレーザビームの両方についてのビームモニタによる検出結果に基づいてガイドレーザビーム波面調節器及びレーザビーム波面調節器を制御するように構成されたコントローラとを備えるレーザビーム制御装置と、
レーザビーム制御装置から出力されるレーザビームを内部に通過させる入射口が設けられたチャンバと、チャンバ内にターゲットを出力するターゲット生成部と、レーザビームをチャンバ内で集光させるレーザ集光光学系と、を備え、
コントローラは、ビーム結合器から出力されたレーザビーム及びビーム結合器から出力されたガイドレーザビームの両方についてのビームモニタによる波面の検出結果がほぼ一致するようにガイドレーザビーム波面調節器及びレーザビーム波面調節器の少なくともいずれかを制御し、その後、ビーム結合器から出力されたガイドレーザビームについてのビームモニタによる波面の検出結果が所望の結果となるようにガイドレーザビーム波面調節器のオプティカルパワーを所定量制御し、且つ、レーザビーム波面調節器のオプティカルパワーを所定量制御するように構成されてもよい。
1.概要
2.極端紫外光生成システムの全体説明
2.1 構成
2.2 動作
3.波面調節器を含むEUV光生成システム(第1の実施形態)
3.1 構成
3.2 原理
3.3 動作
3.3.1 メインフロー
3.3.2 初期設定(S2100の詳細)
3.3.3 Wdの算出(S2200の詳細)
3.3.4 Wgの算出(S2300の詳細)
3.3.5 ガイドレーザビーム波面調節器の制御(S2600の詳細)
3.3.6 両ビーム波面調節器の制御(S3400の詳細)
3.4 ビームモニタの例
3.4.1 2つの異なる位置におけるビーム幅の検出
3.4.2 ビーム幅とスポット幅の検出
3.4.3 シャックハルトマン波面センサ
3.4.4 シャックハルトマン波面センサとビームプロファイラとの組合せ
3.5 波面調節器の例
3.5.1 凹レンズと凸レンズとの組合せ
3.5.2 VRMの利用
3.5.3 デフォーマブルミラーの利用
3.5.4 軸外放物面凸面ミラーと軸外放物面凹面ミラーとの組合せ
4.レーザビームの波面をガイドレーザビームの波面に一致させるEUV光生成システム(第2の実施形態)
5.レーザビームの波面とガイドレーザビームの波面とを調節するEUV光生成システム(第3の実施形態)
6.波面とビーム幅とを調節するEUV光生成システム(第4の実施形態)
6.1 構成
6.2 動作
6.2.1 メインフロー
6.2.2 初期設定(S2150の詳細)
6.2.3 Dgの算出(S2700の詳細)
6.2.4 両ビーム波面調節器の制御(S3000の詳細)
6.2.5 第2の両ビーム波面調節器の制御(S3450の詳細)
7.レーザシステム(第5の実施形態)
8.コントローラの構成
LPP式のEUV光生成装置では、チャンバ内に出力されたターゲット物質に、レーザシステムから出力されるレーザビームを集光して照射することにより、ターゲット物質をプラズマ化してもよい。プラズマからは、EUV光を含む光が放射されてもよい。放射されたEUV光は、チャンバ内に配置されたEUV集光ミラーによって集光され、露光装置等の外部装置に出力されてもよい。
2.1 構成
図1に、例示的なLPP式のEUV光生成システムの構成を概略的に示す。EUV光生成装置1は、少なくとも1つのレーザシステム3と共に用いられてもよい。本願においては、EUV光生成装置1及びレーザシステム3を含むシステムを、EUV光生成システム11と称する。図1に示し、かつ、以下に詳細に説明するように、EUV光生成装置1は、チャンバ2、ターゲット生成部26を含んでもよい。チャンバ2は、密閉可能であってもよい。ターゲット生成部26は、例えば、チャンバ2の壁を貫通するように取り付けられてもよい。ターゲット生成部26から出力されるターゲット物質の材料は、スズ、テルビウム、ガドリニウム、リチウム、キセノン、又は、それらの内のいずれか2つ以上の組合せを含んでもよいが、これらに限定されない。
図1を参照に、レーザシステム3から出力されたパルスレーザ光31は、レーザ光進行方向制御部34を経て、パルスレーザ光32としてウインドウ21を透過してチャンバ2内に入射してもよい。パルスレーザ光32は、少なくとも1つのレーザ光経路に沿ってチャンバ2内を進み、レーザ光集光ミラー22で反射されて、パルスレーザ光33として少なくとも1つのターゲット27に照射されてもよい。
3.1 構成
図2は、本開示の第1の実施形態に係るEUV光生成システムの例示的な構成を示す一部断面図である。第1の実施形態においては、チャンバ2がクリーンルームフロアに配置され、レーザシステム3がサブファブフロアに配置されてもよい。サブファブフロアはクリーンルームフロアの階下に位置してもよい。レーザシステム3からチャンバ2内に出力されるレーザビームの進行方向を制御するためのレーザ光進行方向制御部34は、クリーンルームフロアとサブファブフロアとにまたがって配置されてもよい。レーザ光進行方向制御部34は、本開示に係るレーザビーム制御装置に相当し得る。レーザシステム3は、図示しない固定装置により筐体310内部に固定されていてもよい。筐体310は複数のエアサスペンション320によってサブファブフロアの床上に設置されていてもよい。
また、ビーム結合器44は、レーザビームを高い反射率で反射し、ガイドレーザビームを高い透過率で透過させる構成を有してもよい。その場合には、ビーム結合器44から出力されたレーザビーム及びガイドレーザビームとは、ビーム結合器44によって反射されたレーザビーム及びビーム結合器を透過したガイドレーザビームを意味してもよい。
図3A及び図3Bは、波面調節器の機能を説明するための図である。ここではガイドレーザビームの波面を調節するガイドレーザビーム波面調節器84について説明するが、レーザビームの波面及びガイドレーザビームの波面を調節する両ビーム波面調節器81についても同様でよい。図3Aにおいては、ガイドレーザビーム波面調節器84が、平面状の波面を有するガイドレーザビーム(平面波)を、凹面状の波面を有するガイドレーザビームに変化させている。図3Bにおいては、ガイドレーザビーム波面調節器84が、平面状の波面を有するガイドレーザビーム(平面波)を、凸面状の波面を有するガイドレーザビームに変化させている。
P=1/F
Fが正の値を有する場合は、平面波が、ガイドレーザビーム波面調節器84の主点(principal point)から前方への距離が焦点距離Fである位置において集光されるような凹面状の波面を有するガイドレーザビームに変換され得る(図3A参照)。
Fが負の値を有する場合は、平面波が、ガイドレーザビーム波面調節器84の主点から後方への距離が焦点距離Fである位置にある仮想の点光源から生成された光の波面と同等の凸面状の波面を有するガイドレーザビームに変換され得る(図3B参照)。
3.3.1 メインフロー
図5は、第1の実施形態におけるコントローラ58の例示的な動作を示すフローチャートである。コントローラ58は、ガイドレーザビームを用いてレーザビームの波面が所望の値となるように、以下のようにガイドレーザビーム波面調節器84及び両ビーム波面調節器81を制御してもよい。
まず、コントローラ58は、ガイドレーザビーム波面調節器84及び両ビーム波面調節器81を制御するための初期設定を行ってもよい(S2100)。
次に、コントローラ58は、ビームモニタ57を制御し、ビームモニタ57から検出結果を受信して、ガイドレーザビームの波面に関するパラメータWgを算出してもよい(S2300)。
ΔWdg=Wd−Wg
差ΔWdgの絶対値が所定の閾値ΔWdgr以下である場合(S2500;YES)、コントローラ58は、処理をS3200に進めてもよい。
ΔWgt=Wg−Wt
所定値Wtは、例えば、レーザビームをプラズマ生成領域25に集光するために望ましいレーザビームの波面に相当する値であってもよい。
差ΔWgtの絶対値が所定の閾値ΔWgtr以下である場合(S3300;YES)、コントローラ58は、処理をS3600に進めてもよい。
図6Aは、図5に示された初期設定の処理を示すフローチャートである。図6Aに示される処理は、図5に示されたS2100のサブルーチンとして、コントローラ58によって行われてもよい。
S2102の後、コントローラ58は、本フローチャートによる処理を終了してもよい。
図6Bは、図5に示されたレーザビームの波面に関するパラメータWdの算出処理を示すフローチャートである。図6Bに示される処理は、図5に示されたS2200のサブルーチンとして、コントローラ58によって行われてもよい。
次に、コントローラ58は、算出された波面に関するパラメータXdを、レーザビームの波面に関するパラメータWdとして、メモリ1002(後述)に記憶させ(S2204)、本フローチャートによる処理を終了してもよい。
図6Cは、図5に示されたガイドレーザビームの波面に関するパラメータWgの算出処理を示すフローチャートである。図6Cに示される処理は、図5に示されたS2300又はS3500のサブルーチンとして、コントローラ58によって行われてもよい。
次に、コントローラ58は、算出された波面に関するパラメータXgを、ガイドレーザビームの波面に関するパラメータWgとして、メモリ1002(後述)に記憶させ(S2304)、本フローチャートによる処理を終了してもよい。
図6Dは、図5に示されたガイドレーザビーム波面調節器84を制御する処理を示すフローチャートである。図6Dに示される処理は、図5に示されたS2600のサブルーチンとして、コントローラ58によって行われてもよい。まず、コントローラ58は、上述の差ΔWdgと0とを比較してもよい(S2602)。
次に、コントローラ58は、上述のP1を、ガイドレーザビーム波面調節器84のオプティカルパワーの現在値P#1としてメモリ1002(後述)に記憶させ(S2607)、本フローチャートによる処理を終了してもよい。
図6Eは、図5に示された両ビーム波面調節器81を制御する処理を示すフローチャートである。図6Eに示される処理は、図5に示されたS3400のサブルーチンとして、コントローラ58によって行われてもよい。まず、コントローラ58は、上述の差ΔWgtと0とを比較してもよい(S3402)。
次に、コントローラ58は、上述のP2を、両ビーム波面調節器81のオプティカルパワーの現在値P#2としてメモリ1002(後述)に記憶させ(S3407)、本フローチャートによる処理を終了してもよい。
3.4.1 2つの異なる位置におけるビーム幅の検出
図7Aは、第1の実施形態に係るEUV光生成システムにおけるビームモニタ57の第1の例を概略的に示す。図7Bは、ビームモニタの第1の例を適用する場合の波面の検出原理を説明するための図である。第1の例において、ビームモニタ57は、サンプル光の進行方向における2つの異なる位置におけるビームプロファイルを検出してもよい。なお、サンプル光とは、ビームスプリッタ56によって反射されてビームモニタ57に入射するレーザビームの一部及びガイドレーザビームでもよい。ビームプロファイルは、例えばレーザビーム又はガイドレーザビームのビーム断面における光強度分布であってもよい。
θ=tan−1{(Da2−Da1)/2L}
ここで、Lは、サンプル光の光路に沿った位置A1と位置A2との間の距離でもよい。
図8は、第1の実施形態に係るEUV光生成システムにおけるビームモニタ57の第2の例を概略的に示す。第2の例において、ビームモニタ57は、サンプル光のビームプロファイルと、集光されたサンプル光のスポット幅とを検出するために、ビームスプリッタ73によってサンプル光を分岐させてもよい。
ビームスプリッタ73は、サンプル光の一部を転写光学系75に向けて透過させ、他の一部を集光光学系74に向けて反射するように構成及び配置されてもよい。
θ=Sp/X
図9は、第1の実施形態に係るEUV光生成システムにおけるビームモニタ57の第3の例を概略的に示す。第3の例においては、サンプル光の波面に関するパラメータとして波面の曲率を計測するために、シャックハルトマン波面センサ90が用いられてもよい。
図10は、第1の実施形態に係るEUV光生成システムにおけるビームモニタ57の第4の例を概略的に示す。第4の例においては、シャックハルトマン波面センサ90が用いられる他、サンプル光のビーム幅を計測するために、ビームスプリッタ73と、高反射ミラー77と、転写光学系79と、ビームプロファイラ590と、を含んでもよい。
コントローラ58は、ビームプロファイラ590からの出力データに基づいて、位置A2におけるサンプル光のビーム幅を算出してもよい。
他の点については、第3の例と同様でよい。
3.5.1 凹レンズと凸レンズとの組合せ
図11A〜図11Cは、第1の実施形態に係るEUV光生成システムにおける波面調節器の第1の例を概略的に示す。波面調節器の第1の例は、例えば、ガイドレーザビーム波面調節器84として用いられてもよい。第1の例においては、波面調節器は、凹レンズ891と、凸レンズ892と、を含んでもよい。
これにより、波面調節器は、ガイドレーザビームの波面を調節し得る。
図12A〜図12Cは、第1の実施形態に係るEUV光生成システムにおける波面調節器の第2の例を概略的に示す。波面調節器の第2の例は、ガイドレーザビーム波面調節器84又は両ビーム波面調節器81として用いられてもよい。第2の例においては、波面調節器は、VRM(Variable Radius Mirror:曲率可変ミラー)85を含んでもよい。
図13Aは、第1の実施形態に係るEUV光生成システムにおける波面調節器の第3の例を概略的に示す。波面調節器の第3の例は、ガイドレーザビーム波面調節器84又は両ビーム波面調節器81として用いられてもよい。第3の例においては、波面調節器は、デフォーマブルミラー87を含んでもよい。
図14は、第1の実施形態に係るEUV光生成システムにおける波面調節器の第4の例を概略的に示す。波面調節器の第4の例は、ガイドレーザビーム波面調節器84又は両ビーム波面調節器81として用いられてもよい。第4の例においては、波面調節器は、軸外放物面凸面ミラー821と、軸外放物面凹面ミラー822と、平面ミラー823及び824と、ミラー固定プレート825と、駆動機構(図示せず)と、を含んでもよい。
図15は、本開示の第2の実施形態に係るEUV光生成システムの例示的な構成を示す一部断面図である。第2の実施形態に係るEUV光生成システムは、サブファブフロアにおいて、レーザシステム3とビーム結合器44との間の光路に、レーザビーム波面調節器83を含んでもよい。レーザビーム波面調節器83の構成は、両ビーム波面調節器81の構成と同様でよい。第2の実施形態に係るEUV光生成システムは、ガイドレーザビーム波面調節器84(図2参照)を含まなくてもよい。
他の点については、第1の実施形態と同様でよい。
図16は、本開示の第3の実施形態に係るEUV光生成システムの例示的な構成を示す一部断面図である。第3の実施形態に係るEUV光生成システムは、サブファブフロアにおいて、ガイドレーザ装置40とビーム結合器44との間の光路に、ガイドレーザビーム波面調節器84を含んでもよい。第3の実施形態に係るEUV光生成システムは、両ビーム波面調節器81(図15参照)を含まなくてもよい。
他の点については、第2の実施形態と同様でよい。
6.1 構成
図17は、本開示の第4の実施形態に係るEUV光生成システムの例示的な構成を示す一部断面図である。第4の実施形態に係るEUV光生成システムは、第1の実施形態の構成に加えて、クリーンルームフロアにおいて、ビーム伝送器50と光検出部55との間の光路に、第2の両ビーム波面調節器82を含んでもよい。第2の両ビーム波面調節器82の構成は、両ビーム波面調節器81の構成と同様でよい。他の点については、第1の実施形態と同様の構成を有してもよい。
また、第2の実施形態又は第3の実施形態の構成に、第2の両ビーム波面調節器82が加えられてもよい(図示せず)。
6.2.1 メインフロー
図19は、第4の実施形態におけるコントローラ58の例示的な動作を示すフローチャートである。コントローラ58は、ガイドレーザビームを用いてレーザビームの波面及びビーム幅が所望の値となるように、以下のようにガイドレーザビーム波面調節器84、両ビーム波面調節器81及び第2の両ビーム波面調節器82を制御してもよい。
S2500において、上述の差ΔWdgの絶対値が所定の閾値ΔWdgr以下である場合(S2500;YES)、コントローラ58は、処理をS2700に進めてもよい。
ΔDgt=Dg−Dt
所定値Dtは、例えば、レーザビームの集光スポット幅が望ましい値となるようにするためのガイドレーザビームのビーム幅であってもよい。ガイドレーザビームのビーム幅は、ガイドレーザビーム波面調節器84による波面の制御によってレーザビームのビーム幅とは別個に変動し得る。しかし、ガイドレーザビーム波面調節器84のオプティカルパワーが決定された条件のもとでは、ガイドレーザビームのビーム幅とレーザビームのビーム幅とはほぼ1対1に対応し得る。レーザビームのビーム幅が決定されれば、レーザビームの集光スポット幅が決定され得る。そこで、レーザビームの集光スポット幅が望ましい値となるようにするためのガイドレーザビームのビーム幅を、ガイドレーザビーム波面調節器84のオプティカルパワーに対応付けて、ストレージメモリ1005(後述)に記憶させておいてもよい。このデータと、ガイドレーザビーム波面調節器84のオプティカルパワーとに基づいて、所定値Dtが決定されてもよい。
差ΔWgtの絶対値が所定の閾値ΔWgtr以下である場合(S3300;YES)、コントローラ58は、処理をS3600に進めてもよい。S3600及びその次のS3700の処理は、第1の実施形態と同様でよい。
図20Aは、図19に示された初期設定の処理を示すフローチャートである。図20Aに示される処理は、図19に示されたS2150のサブルーチンとして、コントローラ58によって行われてもよい。
S2152の後、コントローラ58は、本フローチャートによる処理を終了してもよい。
図20Bは、図19に示されたガイドレーザビームのビーム幅Dgの算出処理を示すフローチャートである。図20Bに示される処理は、図19に示されたS2700のサブルーチンとして、コントローラ58によって行われてもよい。
次に、コントローラ58は、S2703において取得したビームプロファイルから、ガイドレーザビームのビーム幅Dgを算出し(S2704)、本フローチャートによる処理を終了してもよい。
図20Cは、図19に示された両ビーム波面調節器81を制御する処理を示すフローチャートである。図20Cに示される処理は、図19に示されたS3000のサブルーチンとして、コントローラ58によって行われてもよい。まず、コントローラ58は、上述の差ΔDgtと0とを比較してもよい(S3002)。
次に、コントローラ58は、上述のP2を、両ビーム波面調節器81のオプティカルパワーの現在値P#2としてメモリ1002(後述)に記憶させ(S3007)、本フローチャートによる処理を終了してもよい。
図20Dは、図19に示された第2の両ビーム波面調節器82を制御する処理を示すフローチャートである。図20Dに示される処理は、図19に示されたS3450のサブルーチンとして、コントローラ58によって行われてもよい。まず、コントローラ58は、上述の差ΔWgtと0とを比較してもよい(S3452)。
次に、コントローラ58は、上述のP3を、第2の両ビーム波面調節器82のオプティカルパワーの現在値P#3としてメモリ1002(後述)に記憶させ(S3457)、本フローチャートによる処理を終了してもよい。
図21は、本開示の第5の実施形態のEUV光生成システムに含まれるレーザシステムの例示的な構成を概略的に示す。図21において、EUV光生成装置の図示は省略されている。第5の実施形態において、レーザシステム3は、マスターオシレータ300と、複数の増幅器301〜303とを含んでもよい。
ビームスプリッタ356は、第2の両ビーム波面調節器382から出力されたレーザビーム及びガイドレーザビームの光路に配置されてもよい。ビームスプリッタ356は、少なくともレーザビームを高い透過率でビーム伝送器50(図2)に向けて透過させるとともに、レーザビームの一部及びガイドレーザビームをサンプル光として反射してもよい。
ビームモニタ357は、ビームスプリッタ356によって反射されたレーザビーム及びガイドレーザビームを含むサンプル光の光路に配置されてもよい。
図22は、コントローラ58の概略構成を示すブロック図である。
上述した実施の形態におけるコントローラ58は、コンピュータやプログラマブルコントローラ等汎用の制御機器によって構成されてもよい。たとえば、以下のように構成されてもよい。
コントローラは、処理部1000と、処理部1000に接続される、ストレージメモリ1005と、ユーザインターフェイス1010と、パラレルI/Oコントローラ1020と、シリアルI/Oコントローラ1030と、A/D、D/Aコンバータ1040とによって構成されてもよい。また、処理部1000は、CPU1001と、CPU1001に接続された、メモリ1002と、タイマー1003と、GPU1004とから構成されてもよい。
処理部1000は、ストレージメモリ1005に記憶されたプログラムを読み出してもよい。また、処理部1000は、読み出したプログラムを実行したり、プログラムの実行に従ってストレージメモリ1005からデータを読み出したり、ストレージメモリ1005にデータを記憶させたりしてもよい。
シリアルI/Oコントローラ1030に接続される、シリアルI/Oポートを介して通信可能な機器1031〜103xは、ガイドレーザ装置40、ビームモニタ57、両ビーム波面調節器81、第2の両ビーム波面調節器82、レーザビーム波面調節器83、ガイドレーザビーム波面調節器84等であってもよい。
A/D、D/Aコンバータ1040に接続される、アナログポートを介して通信可能な機器1041〜104xは、温度センサ、圧力センサ、真空計等の各種センサであってもよい。
以上のように構成されることで、コントローラ58はフローチャートに示された動作を実現可能であってよい。
Claims (12)
- ガイドレーザビームを出力するガイドレーザ装置と、
前記ガイドレーザ装置から出力されたガイドレーザビームの光路に配置されたガイドレーザビーム波面調節器と、
レーザシステムから出力されたレーザビームの進行方向及び前記ガイドレーザビーム波面調節器から出力されたガイドレーザビームの進行方向を互いに実質的に一致させるように構成されたビーム結合器と、
前記ビーム結合器から出力されたレーザビーム及び前記ビーム結合器から出力されたガイドレーザビームの両方の光路に配置された両ビーム波面調節器と、
前記両ビーム波面調節器から出力されたレーザビーム及び前記両ビーム波面調節器から出力されたガイドレーザビームの両方の光路に配置されたビームモニタと、
前記両ビーム波面調節器から出力されたレーザビーム及び前記両ビーム波面調節器から出力されたガイドレーザビームの両方についての前記ビームモニタによる検出結果に基づいて前記ガイドレーザビーム波面調節器及び前記両ビーム波面調節器を制御するように構成されたコントローラと、
を備え、
前記コントローラは、前記両ビーム波面調節器から出力されたレーザビーム及び前記両ビーム波面調節器から出力されたガイドレーザビームの両方についての前記ビームモニタによる検出結果に基づいて前記ガイドレーザビーム波面調節器を制御し、前記両ビーム波面調節器から出力されたガイドレーザビームについての前記ビームモニタによる検出結果に基づいて前記両ビーム波面調節器を制御するように構成された、レーザビーム制御装置。 - ガイドレーザビームを出力するガイドレーザ装置と、
前記ガイドレーザ装置から出力されたガイドレーザビームの光路に配置されたガイドレーザビーム波面調節器と、
レーザシステムから出力されたレーザビームの進行方向及び前記ガイドレーザビーム波面調節器から出力されたガイドレーザビームの進行方向を互いに実質的に一致させるように構成されたビーム結合器と、
前記ビーム結合器から出力されたレーザビーム及び前記ビーム結合器から出力されたガイドレーザビームの両方の光路に配置された両ビーム波面調節器と、
前記両ビーム波面調節器から出力されたレーザビーム及び前記両ビーム波面調節器から出力されたガイドレーザビームの両方の光路に配置されたビームモニタと、
前記両ビーム波面調節器から出力されたレーザビーム及び前記両ビーム波面調節器から出力されたガイドレーザビームの両方についての前記ビームモニタによる検出結果に基づいて前記ガイドレーザビーム波面調節器及び前記両ビーム波面調節器を制御するように構成されたコントローラと、
を備え、
前記コントローラは、前記両ビーム波面調節器から出力されたレーザビーム及び前記両ビーム波面調節器から出力されたガイドレーザビームの両方についての前記ビームモニタによる波面の検出結果がほぼ一致するように前記ガイドレーザビーム波面調節器を制御し、その後、前記両ビーム波面調節器から出力されたガイドレーザビームについての前記ビームモニタによる波面の検出結果が所望の結果となるように前記両ビーム波面調節器を制御するように構成された、レーザビーム制御装置。 - ガイドレーザビームを出力するガイドレーザ装置と、
レーザシステムから出力されたレーザビームの光路に配置されたレーザビーム波面調節器と、
前記レーザビーム波面調節器から出力されたレーザビームの進行方向及び前記ガイドレーザ装置から出力されたガイドレーザビームの進行方向を互いに実質的に一致させるように構成されたビーム結合器と、
前記ビーム結合器から出力されたレーザビーム及び前記ビーム結合器から出力されたガイドレーザビームの両方の光路に配置された両ビーム波面調節器と、
前記両ビーム波面調節器から出力されたレーザビーム及び前記両ビーム波面調節器から出力されたガイドレーザビームの両方の光路に配置されたビームモニタと、
前記両ビーム波面調節器から出力されたレーザビーム及び前記両ビーム波面調節器から出力されたガイドレーザビームの両方についての前記ビームモニタによる検出結果に基づいて前記レーザビーム波面調節器及び前記両ビーム波面調節器を制御するように構成されたコントローラと、
を備え、
前記コントローラは、前記両ビーム波面調節器から出力されたレーザビーム及び前記両ビーム波面調節器から出力されたガイドレーザビームの両方についての前記ビームモニタによる検出結果に基づいて前記レーザビーム波面調節器を制御し、前記両ビーム波面調節器から出力されたガイドレーザビームについての前記ビームモニタによる検出結果に基づいて前記両ビーム波面調節器を制御するように構成された、レーザビーム制御装置。 - ガイドレーザビームを出力するガイドレーザ装置と、
レーザシステムから出力されたレーザビームの光路に配置されたレーザビーム波面調節器と、
前記レーザビーム波面調節器から出力されたレーザビームの進行方向及び前記ガイドレーザ装置から出力されたガイドレーザビームの進行方向を互いに実質的に一致させるように構成されたビーム結合器と、
前記ビーム結合器から出力されたレーザビーム及び前記ビーム結合器から出力されたガイドレーザビームの両方の光路に配置された両ビーム波面調節器と、
前記両ビーム波面調節器から出力されたレーザビーム及び前記両ビーム波面調節器から出力されたガイドレーザビームの両方の光路に配置されたビームモニタと、
前記両ビーム波面調節器から出力されたレーザビーム及び前記両ビーム波面調節器から出力されたガイドレーザビームの両方についての前記ビームモニタによる検出結果に基づいて前記レーザビーム波面調節器及び前記両ビーム波面調節器を制御するように構成されたコントローラと、
を備え、
前記コントローラは、前記両ビーム波面調節器から出力されたレーザビーム及び前記両ビーム波面調節器から出力されたガイドレーザビームの両方についての前記ビームモニタによる波面の検出結果がほぼ一致するように前記レーザビーム波面調節器を制御し、その後、前記両ビーム波面調節器から出力されたガイドレーザビームについての前記ビームモニタによる波面の検出結果が所望の結果となるように前記両ビーム波面調節器を制御するように構成された、レーザビーム制御装置。 - ガイドレーザビームを出力するガイドレーザ装置と、
前記ガイドレーザ装置から出力されたガイドレーザビームの光路に配置されたガイドレーザビーム波面調節器と、
レーザシステムから出力されたレーザビームの光路に配置されたレーザビーム波面調節器と、
前記レーザビーム波面調節器から出力されたレーザビームの進行方向及び前記ガイドレーザビーム波面調節器から出力されたガイドレーザビームの進行方向を互いに実質的に一致させるように構成されたビーム結合器と、
前記ビーム結合器から出力されたレーザビーム及び前記ビーム結合器から出力されたガイドレーザビームの両方の光路に配置されたビームモニタと、
前記ビーム結合器から出力されたレーザビーム及び前記ビーム結合器から出力されたガイドレーザビームの両方についての前記ビームモニタによる検出結果に基づいて前記ガイドレーザビーム波面調節器及び前記レーザビーム波面調節器を制御するように構成されたコントローラと、
を備え、
前記コントローラは、前記ビーム結合器から出力されたレーザビーム及び前記ビーム結合器から出力されたガイドレーザビームの両方についての前記ビームモニタによる検出結果に基づいて前記ガイドレーザビーム波面調節器及び前記レーザビーム波面調節器の少なくともいずれかを制御し、前記ビーム結合器から出力されたガイドレーザビームについての前記ビームモニタによる検出結果に基づいて前記ガイドレーザビーム波面調節器及び前記レーザビーム波面調節器を制御するように構成された、レーザビーム制御装置。 - ガイドレーザビームを出力するガイドレーザ装置と、
前記ガイドレーザ装置から出力されたガイドレーザビームの光路に配置されたガイドレーザビーム波面調節器と、
レーザシステムから出力されたレーザビームの光路に配置されたレーザビーム波面調節器と、
前記レーザビーム波面調節器から出力されたレーザビームの進行方向及び前記ガイドレーザビーム波面調節器から出力されたガイドレーザビームの進行方向を互いに実質的に一致させるように構成されたビーム結合器と、
前記ビーム結合器から出力されたレーザビーム及び前記ビーム結合器から出力されたガイドレーザビームの両方の光路に配置されたビームモニタと、
前記ビーム結合器から出力されたレーザビーム及び前記ビーム結合器から出力されたガイドレーザビームの両方についての前記ビームモニタによる検出結果に基づいて前記ガイドレーザビーム波面調節器及び前記レーザビーム波面調節器を制御するように構成されたコントローラと、
を備え、
前記コントローラは、前記ビーム結合器から出力されたレーザビーム及び前記ビーム結合器から出力されたガイドレーザビームの両方についての前記ビームモニタによる波面の検出結果がほぼ一致するように前記ガイドレーザビーム波面調節器及び前記レーザビーム波面調節器の少なくともいずれかを制御し、その後、前記ビーム結合器から出力されたガイドレーザビームについての前記ビームモニタによる波面の検出結果が所望の結果となるように前記ガイドレーザビーム波面調節器のオプティカルパワーを所定量制御し、且つ、前記レーザビーム波面調節器のオプティカルパワーを前記所定量制御するように構成された、レーザビーム制御装置。 - ガイドレーザビームを出力するガイドレーザ装置と、
前記ガイドレーザ装置から出力されたガイドレーザビームの光路に配置されたガイドレーザビーム波面調節器と、
レーザシステムから出力されたレーザビームの進行方向及び前記ガイドレーザビーム波面調節器から出力されたガイドレーザビームの進行方向を互いに実質的に一致させるように構成されたビーム結合器と、
前記ビーム結合器から出力されたレーザビーム及び前記ビーム結合器から出力されたガイドレーザビームの両方の光路に配置された両ビーム波面調節器と、
前記両ビーム波面調節器から出力されたレーザビーム及び前記両ビーム波面調節器から出力されたガイドレーザビームの両方の光路に配置されたビームモニタと、
前記両ビーム波面調節器から出力されたレーザビーム及び前記両ビーム波面調節器から出力されたガイドレーザビームの両方についての前記ビームモニタによる検出結果に基づいて前記ガイドレーザビーム波面調節器及び前記両ビーム波面調節器を制御するように構成されたコントローラと
を備えるレーザビーム制御装置と、
前記レーザビーム制御装置から出力されるレーザビームを内部に通過させる入射口が設けられたチャンバと、
前記チャンバ内にターゲットを出力するターゲット生成部と、
前記レーザビームを前記チャンバ内で集光させるレーザ集光光学系と、
を備え、
前記コントローラは、前記両ビーム波面調節器から出力されたレーザビーム及び前記両ビーム波面調節器から出力されたガイドレーザビームの両方についての前記ビームモニタによる検出結果に基づいて前記ガイドレーザビーム波面調節器を制御し、前記両ビーム波面調節器から出力されたガイドレーザビームについての前記ビームモニタによる検出結果に基づいて前記両ビーム波面調節器を制御するように構成された、極端紫外光生成装置。 - ガイドレーザビームを出力するガイドレーザ装置と、
前記ガイドレーザ装置から出力されたガイドレーザビームの光路に配置されたガイドレーザビーム波面調節器と、
レーザシステムから出力されたレーザビームの進行方向及び前記ガイドレーザビーム波面調節器から出力されたガイドレーザビームの進行方向を互いに実質的に一致させるように構成されたビーム結合器と、
前記ビーム結合器から出力されたレーザビーム及び前記ビーム結合器から出力されたガイドレーザビームの両方の光路に配置された両ビーム波面調節器と、
前記両ビーム波面調節器から出力されたレーザビーム及び前記両ビーム波面調節器から出力されたガイドレーザビームの両方の光路に配置されたビームモニタと、
前記両ビーム波面調節器から出力されたレーザビーム及び前記両ビーム波面調節器から出力されたガイドレーザビームの両方についての前記ビームモニタによる検出結果に基づいて前記ガイドレーザビーム波面調節器及び前記両ビーム波面調節器を制御するように構成されたコントローラと
を備えるレーザビーム制御装置と、
前記レーザビーム制御装置から出力されるレーザビームを内部に通過させる入射口が設けられたチャンバと、
前記チャンバ内にターゲットを出力するターゲット生成部と、
前記レーザビームを前記チャンバ内で集光させるレーザ集光光学系と、
を備え、
前記コントローラは、前記両ビーム波面調節器から出力されたレーザビーム及び前記両ビーム波面調節器から出力されたガイドレーザビームの両方についての前記ビームモニタによる波面の検出結果がほぼ一致するように前記ガイドレーザビーム波面調節器を制御し、その後、前記両ビーム波面調節器から出力されたガイドレーザビームについての前記ビームモニタによる波面の検出結果が所望の結果となるように前記両ビーム波面調節器を制御するように構成された、極端紫外光生成装置。 - ガイドレーザビームを出力するガイドレーザ装置と、
レーザシステムから出力されたレーザビームの光路に配置されたレーザビーム波面調節器と、
前記レーザビーム波面調節器から出力されたレーザビームの進行方向及び前記ガイドレーザ装置から出力されたガイドレーザビームの進行方向を互いに実質的に一致させるように構成されたビーム結合器と、
前記ビーム結合器から出力されたレーザビーム及び前記ビーム結合器から出力されたガイドレーザビームの両方の光路に配置された両ビーム波面調節器と、
前記両ビーム波面調節器から出力されたレーザビーム及び前記両ビーム波面調節器から出力されたガイドレーザビームの両方の光路に配置されたビームモニタと、
前記両ビーム波面調節器から出力されたレーザビーム及び前記両ビーム波面調節器から出力されたガイドレーザビームの両方についての前記ビームモニタによる検出結果に基づいて前記レーザビーム波面調節器及び前記両ビーム波面調節器を制御するように構成されたコントローラと、
を備えるレーザビーム制御装置と、
前記レーザビーム制御装置から出力されるレーザビームを内部に通過させる入射口が設けられたチャンバと、
前記チャンバ内にターゲットを出力するターゲット生成部と、
前記レーザビームを前記チャンバ内で集光させるレーザ集光光学系と、
を備え、
前記コントローラは、前記両ビーム波面調節器から出力されたレーザビーム及び前記両ビーム波面調節器から出力されたガイドレーザビームの両方についての前記ビームモニタによる検出結果に基づいて前記レーザビーム波面調節器を制御し、前記両ビーム波面調節器から出力されたガイドレーザビームについての前記ビームモニタによる検出結果に基づいて前記両ビーム波面調節器を制御するように構成された、極端紫外光生成装置。 - ガイドレーザビームを出力するガイドレーザ装置と、
レーザシステムから出力されたレーザビームの光路に配置されたレーザビーム波面調節器と、
前記レーザビーム波面調節器から出力されたレーザビームの進行方向及び前記ガイドレーザ装置から出力されたガイドレーザビームの進行方向を互いに実質的に一致させるように構成されたビーム結合器と、
前記ビーム結合器から出力されたレーザビーム及び前記ビーム結合器から出力されたガイドレーザビームの両方の光路に配置された両ビーム波面調節器と、
前記両ビーム波面調節器から出力されたレーザビーム及び前記両ビーム波面調節器から出力されたガイドレーザビームの両方の光路に配置されたビームモニタと、
前記両ビーム波面調節器から出力されたレーザビーム及び前記両ビーム波面調節器から出力されたガイドレーザビームの両方についての前記ビームモニタによる検出結果に基づいて前記レーザビーム波面調節器及び前記両ビーム波面調節器を制御するように構成されたコントローラと、
を備えるレーザビーム制御装置と、
前記レーザビーム制御装置から出力されるレーザビームを内部に通過させる入射口が設けられたチャンバと、
前記チャンバ内にターゲットを出力するターゲット生成部と、
前記レーザビームを前記チャンバ内で集光させるレーザ集光光学系と、
を備え、
前記コントローラは、前記両ビーム波面調節器から出力されたレーザビーム及び前記両ビーム波面調節器から出力されたガイドレーザビームの両方についての前記ビームモニタによる波面の検出結果がほぼ一致するように前記レーザビーム波面調節器を制御し、その後、前記両ビーム波面調節器から出力されたガイドレーザビームについての前記ビームモニタによる波面の検出結果が所望の結果となるように前記両ビーム波面調節器を制御するように構成された、極端紫外光生成装置。 - ガイドレーザビームを出力するガイドレーザ装置と、
前記ガイドレーザ装置から出力されたガイドレーザビームの光路に配置されたガイドレーザビーム波面調節器と、
レーザシステムから出力されたレーザビームの光路に配置されたレーザビーム波面調節器と、
前記レーザビーム波面調節器から出力されたレーザビームの進行方向及び前記ガイドレーザビーム波面調節器から出力されたガイドレーザビームの進行方向を互いに実質的に一致させるように構成されたビーム結合器と、
前記ビーム結合器から出力されたレーザビーム及び前記ビーム結合器から出力されたガイドレーザビームの両方の光路に配置されたビームモニタと、
前記ビーム結合器から出力されたレーザビーム及び前記ビーム結合器から出力されたガイドレーザビームの両方についての前記ビームモニタによる検出結果に基づいて前記ガイドレーザビーム波面調節器及び前記レーザビーム波面調節器を制御するように構成されたコントローラと、
を備えるレーザビーム制御装置と、
前記レーザビーム制御装置から出力されるレーザビームを内部に通過させる入射口が設けられたチャンバと、
前記チャンバ内にターゲットを出力するターゲット生成部と、
前記レーザビームを前記チャンバ内で集光させるレーザ集光光学系と、
を備え、
前記コントローラは、前記ビーム結合器から出力されたレーザビーム及び前記ビーム結合器から出力されたガイドレーザビームの両方についての前記ビームモニタによる検出結果に基づいて前記ガイドレーザビーム波面調節器及び前記レーザビーム波面調節器の少なくともいずれかを制御し、前記ビーム結合器から出力されたガイドレーザビームについての前記ビームモニタによる検出結果に基づいて前記ガイドレーザビーム波面調節器及び前記レーザビーム波面調節器を制御するように構成された、極端紫外光生成装置。 - ガイドレーザビームを出力するガイドレーザ装置と、
前記ガイドレーザ装置から出力されたガイドレーザビームの光路に配置されたガイドレーザビーム波面調節器と、
レーザシステムから出力されたレーザビームの光路に配置されたレーザビーム波面調節器と、
前記レーザビーム波面調節器から出力されたレーザビームの進行方向及び前記ガイドレーザビーム波面調節器から出力されたガイドレーザビームの進行方向を互いに実質的に一致させるように構成されたビーム結合器と、
前記ビーム結合器から出力されたレーザビーム及び前記ビーム結合器から出力されたガイドレーザビームの両方の光路に配置されたビームモニタと、
前記ビーム結合器から出力されたレーザビーム及び前記ビーム結合器から出力されたガイドレーザビームの両方についての前記ビームモニタによる検出結果に基づいて前記ガイドレーザビーム波面調節器及び前記レーザビーム波面調節器を制御するように構成されたコントローラと、
を備えるレーザビーム制御装置と、
前記レーザビーム制御装置から出力されるレーザビームを内部に通過させる入射口が設けられたチャンバと、
前記チャンバ内にターゲットを出力するターゲット生成部と、
前記レーザビームを前記チャンバ内で集光させるレーザ集光光学系と、
を備え、
前記コントローラは、前記ビーム結合器から出力されたレーザビーム及び前記ビーム結合器から出力されたガイドレーザビームの両方についての前記ビームモニタによる波面の検出結果がほぼ一致するように前記ガイドレーザビーム波面調節器及び前記レーザビーム波面調節器の少なくともいずれかを制御し、その後、前記ビーム結合器から出力されたガイドレーザビームについての前記ビームモニタによる波面の検出結果が所望の結果となるように前記ガイドレーザビーム波面調節器のオプティカルパワーを所定量制御し、且つ、前記レーザビーム波面調節器のオプティカルパワーを前記所定量制御するように構成された、極端紫外光生成装置。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2012279637 | 2012-12-21 | ||
JP2012279637 | 2012-12-21 | ||
PCT/JP2013/081346 WO2014097811A1 (ja) | 2012-12-21 | 2013-11-21 | レーザビーム制御装置及び極端紫外光生成装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPWO2014097811A1 JPWO2014097811A1 (ja) | 2017-01-12 |
JP6297503B2 true JP6297503B2 (ja) | 2018-03-20 |
Family
ID=50978154
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2014553033A Active JP6297503B2 (ja) | 2012-12-21 | 2013-11-21 | レーザビーム制御装置及び極端紫外光生成装置 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US9386675B2 (ja) |
JP (1) | JP6297503B2 (ja) |
TW (1) | TWI611731B (ja) |
WO (1) | WO2014097811A1 (ja) |
Families Citing this family (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FR3014251B1 (fr) * | 2013-12-04 | 2017-04-28 | Thales Sa | Compresseur associe a un dispositif d'echantillonnage d'un faisceau laser a haute energie et grande taille |
JP6480960B2 (ja) | 2015-02-06 | 2019-03-13 | ギガフォトン株式会社 | ビームデリバリシステム及びその制御方法 |
US10887974B2 (en) | 2015-06-22 | 2021-01-05 | Kla Corporation | High efficiency laser-sustained plasma light source |
WO2017090167A1 (ja) | 2015-11-26 | 2017-06-01 | ギガフォトン株式会社 | 極端紫外光生成装置 |
CN107350227A (zh) * | 2017-09-05 | 2017-11-17 | 镇江金海创科技有限公司 | 焦距可调式激光清洗振镜 |
US11212903B2 (en) * | 2018-08-31 | 2021-12-28 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. | Apparatus and method for generating extreme ultraviolet radiation |
DE102018124356A1 (de) * | 2018-10-02 | 2019-09-26 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Metrologiesystem und Verfahren zur Vermessung eines Anregungs-Laserstrahls in einer EUV-Plasmaquelle |
EP3686673A1 (en) | 2019-01-25 | 2020-07-29 | ASML Netherlands B.V. | Wavefront sensor and associated metrology apparatus |
JP7306888B2 (ja) * | 2019-06-13 | 2023-07-11 | ギガフォトン株式会社 | 極端紫外光生成システム、レーザビームサイズ制御方法及び電子デバイスの製造方法 |
JP7329422B2 (ja) | 2019-11-18 | 2023-08-18 | ギガフォトン株式会社 | ビームデリバリシステム、焦点距離選定方法及び電子デバイスの製造方法 |
Family Cites Families (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5833806B2 (ja) * | 2008-09-19 | 2015-12-16 | ギガフォトン株式会社 | 極端紫外光源装置、極端紫外光源装置用レーザ光源装置及び極端紫外光源装置用レーザ光源の調整方法 |
JP5368261B2 (ja) * | 2008-11-06 | 2013-12-18 | ギガフォトン株式会社 | 極端紫外光源装置、極端紫外光源装置の制御方法 |
US8283643B2 (en) | 2008-11-24 | 2012-10-09 | Cymer, Inc. | Systems and methods for drive laser beam delivery in an EUV light source |
US8304752B2 (en) | 2009-04-10 | 2012-11-06 | Cymer, Inc. | EUV light producing system and method utilizing an alignment laser |
US8000212B2 (en) | 2009-12-15 | 2011-08-16 | Cymer, Inc. | Metrology for extreme ultraviolet light source |
US8648999B2 (en) * | 2010-07-22 | 2014-02-11 | Cymer, Llc | Alignment of light source focus |
JP5864949B2 (ja) | 2010-11-29 | 2016-02-17 | ギガフォトン株式会社 | 極端紫外光生成システム |
JP2012178534A (ja) * | 2011-02-02 | 2012-09-13 | Gigaphoton Inc | 光学システムおよびそれを用いた極端紫外光生成システム |
JP2012212641A (ja) * | 2011-03-23 | 2012-11-01 | Gigaphoton Inc | 極端紫外光生成装置及び極端紫外光生成方法 |
JP5917877B2 (ja) * | 2011-10-11 | 2016-05-18 | ギガフォトン株式会社 | アライメントシステム |
JP6168760B2 (ja) * | 2012-01-11 | 2017-07-26 | ギガフォトン株式会社 | レーザビーム制御装置及び極端紫外光生成装置 |
JP2013201388A (ja) * | 2012-03-26 | 2013-10-03 | Gigaphoton Inc | レーザシステム及び極端紫外光生成システム |
-
2013
- 2013-11-15 TW TW102141670A patent/TWI611731B/zh active
- 2013-11-21 JP JP2014553033A patent/JP6297503B2/ja active Active
- 2013-11-21 WO PCT/JP2013/081346 patent/WO2014097811A1/ja active Application Filing
-
2015
- 2015-05-28 US US14/724,636 patent/US9386675B2/en active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
TW201429320A (zh) | 2014-07-16 |
US9386675B2 (en) | 2016-07-05 |
WO2014097811A1 (ja) | 2014-06-26 |
TWI611731B (zh) | 2018-01-11 |
JPWO2014097811A1 (ja) | 2017-01-12 |
US20150264792A1 (en) | 2015-09-17 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP6297503B2 (ja) | レーザビーム制御装置及び極端紫外光生成装置 | |
US9363878B2 (en) | Device for controlling laser beam and apparatus for generating extreme ultraviolet light utilizing wavefront adjusters | |
US8891161B2 (en) | Optical device, laser apparatus, and extreme ultraviolet light generation system | |
US9439275B2 (en) | System and method for generating extreme ultraviolet light | |
US9167679B2 (en) | Beam position control for an extreme ultraviolet light source | |
US10027084B2 (en) | Alignment system and extreme ultraviolet light generation system | |
JP6952844B2 (ja) | 極端紫外光源におけるターゲット膨張率制御 | |
JP2010135769A (ja) | 極端紫外光源装置、極端紫外光源装置の制御方法 | |
JP2013201388A (ja) | レーザシステム及び極端紫外光生成システム | |
US9888555B2 (en) | Transmission system for transmitting pulse laser beam to extreme ultraviolet light chamber, and laser system | |
JPWO2016117118A1 (ja) | Euv光生成システム及びeuv光生成方法、並びにトムソン散乱計測システム | |
US10374381B2 (en) | Extreme ultraviolet light generating apparatus | |
US10209625B2 (en) | Extreme ultraviolet light generating apparatus | |
WO2018055744A1 (ja) | レーザ装置、及び極端紫外光生成システム | |
KR101324545B1 (ko) | 레이저 빔 보정을 통한 안정화와 에너지 효율 향상을 위한 극자외선 발생장치 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20161011 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20170905 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20170926 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20171130 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20180130 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20180221 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6297503 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |