JP6293018B2 - 導電性膜センサおよび導電性膜の検出方法 - Google Patents
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Description
また、本発明の導電性膜センサの1構成例において、前記関係導出手段は、前記第3の関係を近似した関数と前記第4の関係を近似した関数を求め、前記特定手段は、前記第3の関係を近似した関数と前記第4の関係を近似した関数との交点を計算し、この交点における導電性膜の位置と特性を特定することを特徴とするものである。
以下、本発明の実施の形態について図面を参照して説明する。図1は本発明の第1の実施の形態に係る導電性膜センサの構成を示すブロック図である。本実施の形態の導電性膜センサは、特定の周波数の磁界を測定対象の導電性膜20に放射する磁界放射器1と、磁界放射器1から導電性膜20に磁界を放射したときに、磁界放射器1を構成するLC共振回路10のコイル12のインピーダンスの実部と虚部を測定するインピーダンス測定部2と、コイル12のインピーダンスの実部と、導電性膜20とコイル12との距離SDおよび導電性膜20の厚さTの第1の関係、並びにコイル12のインピーダンスの虚部と、導電性膜20とコイル12との距離SDおよび導電性膜20の厚さTの第2の関係を予め記憶する記憶部3と、コイル12のインピーダンスの実部の測定結果と記憶部3に記憶された第1の関係から、距離SDと厚さTとの第3の関係を導出すると共に、コイル12のインピーダンスの虚部の測定結果と記憶部3に記憶された第2の関係から、距離SDと厚さTとの第4の関係を導出する関係導出部4と、第3の関係と第4の関係から、導電性膜20とコイル12との距離SDおよび導電性膜20の厚さTを求める特定部5と、特定部5が求めた測定結果を出力する測定結果出力部6とを備えている。
次に、本発明の第2の実施の形態について説明する。第1の実施の形態では、導電性膜の位置(距離SD)の他に、導電性膜の特性として厚さTを測定したが、これに限るものではなく、導電性膜の特性として抵抗率を測定するようにしてもよい。
図5は本実施の形態に係る導電性膜センサの構成を示すブロック図である。本実施の形態の導電性膜センサは、磁界放射器1と、インピーダンス測定部2と、記憶部3aと、関係導出部4aと、特定部5aと、測定結果出力部6とを備えている。
第1の実施の形態と同様に、関係導出部4aは、第3、第4の関係を導出した後に、第3の関係を近似した関数と第4の関係を近似した関数を求める必要がある。
測定結果出力部6は、特定部5aが求めた測定結果を出力する。
Claims (6)
- 特定の周波数の磁界を測定対象の導電性膜に放射する磁界放射器と、
この磁界放射器から前記導電性膜に磁界を放射したときに、前記磁界放射器を構成するコイルのインピーダンスの実部と虚部を測定するインピーダンス測定手段と、
コイルのインピーダンスの実部と導電性膜の位置および特性との第1の関係、並びにコイルのインピーダンスの虚部と導電性膜の位置および特性との第2の関係を予め記憶する記憶手段と、
前記インピーダンス測定手段が測定したインピーダンスの実部の測定結果と前記記憶手段に記憶された第1の関係とから、導電性膜の位置と特性との第3の関係を導出すると共に、前記インピーダンス測定手段が測定したインピーダンスの虚部の測定結果と前記記憶手段に記憶された第2の関係とから、導電性膜の位置と特性との第4の関係を導出する関係導出手段と、
前記第3の関係と前記第4の関係とから、前記測定対象の導電性膜の位置と特性を求める特定手段とを備えることを特徴とする導電性膜センサ。 - 請求項1記載の導電性膜センサにおいて、
前記導電性膜の位置は、前記導電性膜と前記コイルとの距離で表されるものであり、
前記導電性膜の特性は、前記導電性膜の厚さ、抵抗率、透磁率のいずれかであることを特徴とする導電性膜センサ。 - 請求項1または2記載の導電性膜センサにおいて、
前記関係導出手段は、前記第3の関係を近似した関数と前記第4の関係を近似した関数を求め、
前記特定手段は、前記第3の関係を近似した関数と前記第4の関係を近似した関数との交点を計算し、この交点における導電性膜の位置と特性を特定することを特徴とする導電性膜センサ。 - 特定の周波数の磁界を磁界放射器から測定対象の導電性膜に放射する磁界放射ステップと、
前記導電性膜に磁界を放射したときに、前記磁界放射器を構成するコイルのインピーダンスの実部と虚部を測定するインピーダンス測定ステップと、
コイルのインピーダンスの実部と導電性膜の位置および特性との第1の関係、並びにコイルのインピーダンスの虚部と導電性膜の位置および特性との第2の関係を予め記憶する記憶手段を参照し、前記インピーダンス測定ステップで測定したインピーダンスの実部の測定結果と前記記憶手段に記憶された第1の関係とから、導電性膜の位置と特性との第3の関係を導出すると共に、前記インピーダンス測定ステップで測定したインピーダンスの虚部の測定結果と前記記憶手段に記憶された第2の関係とから、導電性膜の位置と特性との第4の関係を導出する関係導出ステップと、
前記第3の関係と前記第4の関係とから、前記測定対象の導電性膜の位置と特性を求める特定ステップとを含むことを特徴とする導電性膜の検出方法。 - 請求項4記載の導電性膜の検出方法において、
前記導電性膜の位置は、前記導電性膜と前記コイルとの距離で表されるものであり、
前記導電性膜の特性は、前記導電性膜の厚さ、抵抗率、透磁率のいずれかであることを特徴とする導電性膜の検出方法。 - 請求項4または5記載の導電性膜の検出方法において、
前記関係導出ステップは、前記第3の関係を近似した関数と前記第4の関係を近似した関数を求めるステップを含み、
前記特定ステップは、前記第3の関係を近似した関数と前記第4の関係を近似した関数との交点を計算し、この交点における導電性膜の位置と特性を特定するステップを含むことを特徴とする導電性膜の検出方法。
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