JP6285813B2 - 亀裂検出方法 - Google Patents
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Description
(1)使用前及び所定時間使用後に、同一条件にてマイクロ波またはミリ波を被検出物体に向けて送信し、反射波を受信して該反射波の反射位置毎の受信強度を示す距離スペクトルを測定し、被検出物体のマイクロ波またはミリ波の入射面で反射された反射波による第1のピークと、前記入射面と対向する面で反射された反射波による第2のピークとを抽出するとともに、下記(A)及び(B)の少なくとも一方に該当するときに、所定時間使用後に被検出物体内に亀裂が発生したと判断することを特徴とする亀裂検出方法。
(A)使用前に測定した距離スペクトルS1における第1のピークと第2のピークとの間の部分スペクトルA1と、所定時間使用後に測定した距離スペクトルS2における第1のピークと第2のピークとの間の部分スペクトルA2とを比較し、部分スペクトルA2の中に部分スペクトルA1には無いピークが存在する(第1の亀裂検出方法)
(B)距離スペクトルS1とともに位相スペクトルφ1を測定し、第1のピークにおける位相と第2のピークにおける位相との位相差Δφ1を求め、距離スペクトルS2とともに位相スペクトルφ2を測定し、第1のピークにおける位相と第2のピークにおける位相との位相差Δφ2を求め、Δφ1とΔφ2に差がある(第2の亀裂検出方法)
(2)前記(A)において、距離スペクトルS1と距離スペクトルS2とで、スペクトルの差分を求め、差分があるときに亀裂が発生したと判断することを特徴とする上記(1)記載の亀裂検出方法。
(3)被検出物体が、レンガ、セラミックス部材またはガラス部材であることを特徴とする上記(1)または(2)記載の亀裂検出方法。
図1は本発明で用いる検出装置を示す模式図であるが、基本的には、特許文献1に示すような、被検出物体の厚さを測定するために使用される従来の検出装置と同様である。
本発明の第1の亀裂検出方法では、使用前と所定時間使用後とでマイクロ波またはミリ波の送受信を行い、使用前後の両距離スペクトルを比較する。ここでは、被検出物体1として、コークス乾式消火設備や焼却炉の炉壁材料として一般的なレンガを用いるとともに、使用前の被検出物体1として新品で亀裂の無いレンガを用い、所定時間使用後の被検出物体1として、使用に伴う亀裂が発生したことを想定して、亀裂を形成しておいたレンガを用いた。また、検出波としてマイクロ波を用いた。
本発明の第2の亀裂検出方法では、使用前と所定時間使用後とで、距離スペクトルに対応する位相スペクトルを求め、比較することにより亀裂を検出する。ここでは、第1の亀裂検出方法と同様に、亀裂の無いレンガと、亀裂の有るレンガを例示して説明する。
1a 被検出物体の表面
1b 被検出物体の裏面
10 送受信器
11 アンテナ
Claims (3)
- 使用前及び所定時間使用後に、同一条件にてマイクロ波またはミリ波を被検出物体に向けて送信し、反射波を受信して該反射波の反射位置毎の受信強度を示す距離スペクトルを測定し、被検出物体のマイクロ波またはミリ波の入射面で反射された反射波による第1のピークと、前記入射面と対向する面で反射された反射波による第2のピークとを抽出するとともに、下記(A)及び(B)の少なくとも一方に該当するときに、所定時間使用後に被検出物体内に亀裂が発生したと判断することを特徴とする亀裂検出方法。
(A)使用前に測定した距離スペクトルS1における第1のピークと第2のピークとの間の部分スペクトルA1と、所定時間使用後に測定した距離スペクトルS2における第1のピークと第2のピークとの間の部分スペクトルA2とを比較し、部分スペクトルA2の中に部分スペクトルA1には無いピークが存在する
(B)距離スペクトルS1とともに位相スペクトルφ1を測定し、第1のピークにおける位相と第2のピークにおける位相との位相差Δφ1を求め、距離スペクトルS2とともに位相スペクトルφ2を測定し、第1のピークにおける位相と第2のピークにおける位相との位相差Δφ2を求め、Δφ1とΔφ2に差がある - 前記(A)において、距離スペクトルS1と距離スペクトルS2とで、スペクトルの差分を求め、差分があるときに亀裂が発生したと判断することを特徴とする請求項1記載の亀裂検出方法。
- 被検出物体が、レンガ、セラミックス部材またはガラス部材であることを特徴とする請求項1または2記載の亀裂検出方法。
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