JP6260562B2 - 変位測定装置および材料試験機 - Google Patents

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Description

この発明は、負荷が与えられた試験片の変位を測定する変位測定装置および材料試験機に関する。
材料試験を実行する材料試験機においては、試験片の両端部を一対のつかみ具により把持した状態で、つかみ具の一方を他方に対して離隔させることによって試験片に引張負荷を与えている。そして、負荷を与えられた試験片の変位は、変位測定装置により測定される。
従来から、この種の変位測定装置では、上アームと下アームとにより試験片の所定の位置を挟み込み、引張負荷が与えられた試験片の伸びに伴って移動する上アームと下アームの移動距離をリニアスケールにより検出することで、試験片の伸びを測定している(特許文献1および特許文献2参照)。
また、変位測定装置内には、電気回路が形成された回路基板が配設されている。電気回路は、例えば、リニアスケールの検出値の材料試験機における制御装置への出力や、上アームと下アームの各々で試験片を挟んだり放したりするときの各アームの開閉動作のためにパルスモータを駆動させるなど、変位測定装置を構成する部材に目的の動作を実行させるために、プリント基板に複数の電子部品を配置し、これらの電子部品を電気的に接続することにより形成されている。
特開2005−3581号公報 特開2005−351816号公報
ところで、試験片に先端を接触させている上アームと下アームを昇降可能に支持するガイドレールなどの部材は、変位測定装置における台座上に立設される。したがって、試験片が破断する際に、その破断時の衝撃が台座を介して変位測定装置の全体に及ぶことがある。回路基板を支持する支持部材は、変位測定装置の台座や筐体などに固定されることから、試験片破断時の振動が回路基板に伝わることにより、回路を形成する電子部品の不具合や電子部品間の配線断裂などによる動作不良が発生することがあった。すなわち、従来の変位測定装置では、試験片破断時の振動による回路基板の不具合が装置の故障原因となることがあった。
この発明は上記課題を解決するためになされたものであり、試験片断裂時の衝撃によって生じる回路基板の振動を低減して故障の発生を防止することが可能な変位測定装置および材料試験機を提供することを目的とする。
請求項1に記載の発明は、試験片に取り付けられ、前記試験片の伸びに追従して移動する一対のアームの各々の位置を検出することにより、前記試験片の変位量を測定する変位測定装置であって、回路基板と、前記一対のアームを昇降可能に保持するガイド部材が立設された台座と、前記台座に立設された支柱と、前記台座と前記支柱とに接続された前記回路基板を支持する支持部材と、を備え、前記支持部材と前記台座との間の第1の接続部、および/または、前記支持部材と前記支柱との間の第2の接続部に、前記試験片が破断したときに前記台座から前記回路基板に伝播する衝撃を吸収させるための緩衝部材を設けたことを特徴とする。
請求項2に記載の発明は、請求項1に記載の変位測定装置において、前記第1の接続部、および、前記第2の接続部に前記緩衝部材を備え、前記第1の接続部における前記緩衝部材は樹脂製弾性部材であり、前記第2の接続部における前記緩衝部材は金属製弾性部材である。
請求項3に記載の発明は、試験片の端部を把持する一対のつかみ具と、前記一対のつかみ具のうちの一方を移動させることにより前記試験片に引張荷重を与える負荷機構と、を備える材料試験機であって、請求項1または請求項2に記載の変位測定装置を備える。
請求項1から請求項3に記載の発明によれば、回路基板の支持部材と台座との接続部、および/または、回路基板の支持部材と支柱との接続部に、試験片が破断したときに台座から回路基板に伝播する衝撃を吸収させるための緩衝部材を設けたことから、試験片断裂時の衝撃によって生じる回路基板の振動を低減して故障の発生を防止することが可能となる。
請求項2に記載の発明によれば、回路基板の支持部材と台座との接続部と回路基板の支持部材と支柱との接続部の両方に緩衝部材を設けたことから、試験片断裂時の衝撃によって生じる振動が回路基板に伝播することをより低減させることが可能となる。そして、支持部材と支柱との接続部における緩衝部材に、金属製弾性部材を用いることから、試験片断裂時の衝撃によって生じる振動を低減するとともに、回路基板まわりの支持部材の接地を行うことが可能となる。
この発明に係る材料試験機の概要図である。 変位測定装置40の側面縦断面図である。 変位測定装置40の正面図である。 図2の変位測定装置40におけるA−A断面矢視図である。 支持板47と台座43との接続部、および、支持板47と支柱44との接続部を説明する概要図である。 支持板47と台座43との接続部の断面を模式的に示す拡大図である。
以下、この発明の実施の形態を図面に基づいて説明する。図1は、この発明に係る材料試験機の概要図である。
この材料試験機は、テーブル16と、床面に立設された一対のカバー19と、各カバー19の内部におけるテーブル16上に鉛直方向を向く状態で回転可能に立設された一対のねじ棹11と、これらのねじ棹11に沿って移動可能なクロスヘッド13と、このクロスヘッド13を移動させて試験片10に対して試験力を付与するための負荷機構30とを備える。なお、図1においては、一対のカバー19のうち紙面左側のカバー19を取り払った状態を図示している。
クロスヘッド13は、一対のねじ棹11に対して、図示を省略したナットを介して連結されている。各ねじ棹11の下端部は、負荷機構30に連結されており、負荷機構30における動力源としてのモータからの動力が、一対のねじ棹11に伝達される構成となっている。一対のねじ棹11が同期して回転することにより、クロスヘッド13は、これら一対のねじ棹11に沿って昇降する。
クロスヘッド13には、試験片10の上端部を把持するための上つかみ具21が付設されている。一方、テーブル16には、試験片10の下端部を把持するための下つかみ具22が付設されている。引張試験を行う場合には、試験片10の両端部をこれらの上つかみ具21および下つかみ具22により把持した状態で、クロスヘッド13を上昇させることにより、試験片10に試験力(引張荷重)を負荷する。このときに、試験片10に作用する試験力はロードセル14によって検出され、制御部23に入力される。また、試験片10は、テーブル16に配設された接触式の変位測定装置40により、その変位量が測定される。
制御部23はCPU等を備えるコンピュータやシーケンサーによって構成される。図1に示すように、この制御部23には、ロードセル14と、負荷機構30と、変位測定装置40が接続される。そして、制御部23は、ロードセル14からの試験力データや変位測定装置40からの変位データを取り込んで、データ処理を実行する。このような制御部23での演算等の処理により、試験片10に対する試験力と試験片10の変位量が求められる。
図2は、変位測定装置40の側面縦断面図である。図3は、変位測定装置40の正面図である。図4は、図2の変位測定装置40におけるA−A断面矢視図である。なお、図3においては、上アーム56および下アーム57の詳細な図示を省略している。また、図4においては、下アーム57および回路基板48の図示を省略している。
変位測定装置40は、試験片10の伸びに伴って移動する上アーム56と下アーム57を備える。上アーム56と下アーム57は、台座43に立設されたガイドレール42に昇降可能に保持されている。上アーム56と下アーム57は、ガイドレール42の表面を転がるローラ45の作用により、直線案内される。また、台座43には、支柱44が立設されている。そして、台座43と支柱44には、複数の回路基板48を支持する支持部材である支持板47が接続されている。
上アーム56と下アーム57の位置は、電磁誘導式のリニアスケール41を用いて検出される。リニアスケール41内には、スケールを構成するスケールコイルが一定ピッチで配置されている。そして、上アーム56および下アーム57の各々には、センサ部46が配設されている。センサ部46により検出された上アーム56と下アーム57の移動前後の基準位置からの距離により、上アーム56と下アーム57との間の距離の変化が求められる。
リニアスケール41および支柱44の上端には支持台51が接続され、支持台51にはプーリ53a、53bと、これらのプーリ53a、53bに接続された2個のパルスモータ52とが配設されている。プーリ53aにはワイヤ58aが、プーリ53bにはワイヤ58bがそれぞれ巻き回されている。ワイヤ58aの一端に上アーム56が接続され、他端にバランスウェイト59aが吊持されている。同様に、ワイヤ58bの一端に下アーム57が接続され、他端にバランスウェイト59bが吊持されている。これらのバランスウェイト59a、59bは、支柱44内を昇降する。このバランスウェイト59a、59bにより、外部負荷がゼロの場合に、上アーム56と下アーム57は任意の位置で静止できるようになっている。
各プーリ53a、53bには、各々クラッチを介してパルスモータ52が連結されている。試験の準備を行うときには、上アーム56と下アーム57は、上つかみ具21と下つかみ具22によりその両端を把持された試験片10に接触させるために、互いに所定の距離だけ離間させて配置される。上アーム56と下アーム57を試験開始位置に移動させるときには、クラッチをオンにしてパルスモータ52の駆動によりプーリ53a、53bを回転させる。そうすると、ワイヤ58a、58bが移動し、上アーム56と下アーム57がそれぞれガイドレール42に沿って昇降する。なお、上アーム56と下アーム57は、各アーム先端が図4の紙面左右方向に互いに近接および離隔する対を成す部材から構成されている。上アーム56と下アーム57は、各々パルスモータ62を有し、パルスモータ62を駆動して各アーム先端を開閉することにより、試験片10に対して着脱可能となっている。
上アーム56と下アーム57の各アーム先端を閉じて、試験片10を挟んだ状態で引張試験を実行しているときには、プーリ53a、53bと各パルスモータ52との間のクラッチがオフにされ、試験片10の伸びに追従して、上アーム56および下アーム57がガイドレール42に沿って移動する。上アーム56の基準位置からの距離と下アーム57の基準位置からの距離がリニアスケールにより検出され、制御部23ではリニアスケールからの出力に基づき、上アーム56と下アーム57との間の距離の変化、すなわち、試験片10の変位量(伸び量)が演算される。
試験の終了は、予め定めた試験条件が成立したときに、負荷機構30の動作を停止させることにより実行される。予め定めた試験条件とは、例えば、試験片10が破断したことにより、ロードセル14により検出される試験力の値がゼロになった場合である。
回路基板48を支持する支持板47は接続部を介して台座43および支柱44に取り付けられている。支持板47と台座43との接続部(本発明における第1の接続部)、および、支持板47と支柱44との接続部(本発明における第2の接続部)について、さらに詳細に説明する。図5は、支持板47と台座43との接続部、および、支持板47と支柱44との接続部を説明する概要図である。図6は、支持板47と台座43との接続部の断面を模式的に示す拡大図である。
回路基板48は、プリント基板に複数の電子部品を配置したものであり、各電子部品を電気的に接続することで、上アーム56および下アーム57を昇降させるパルスモータ52の動作や、各アーム先端で試験片10を挟んだり放したりするときのパルスモータ62の動作など、変位測定装置40に目的の動作を実行させるための電気回路が形成されている。また、回路基板48には、制御部23との通信のための入出力端子や電源投入のためのスイッチなども配設されている。このような回路基板48は、台座43に立設された支持板47にボルト83により固定されている。
また、支持板47の上側は、支柱44にねじ82により固定されており、支持板47の下端は台座43にボルト93により固定されている。
試験片10が破断した場合には、その破断時の衝撃は、台座43からガイドレール42、支柱44を介して変位測定装置40全体を振動させる。回路基板48を支持する支持板47は、台座43と支柱44とに接続されており、台座43側から伝わる振動と支柱44側から伝わる振動の影響を受けることになる。回路基板48には、試験片10が破断したときの振動により不具合を生じる電子部品も配置されている。このため、支持板47と台座43との接続部と、支持板47と支柱44との接続部に緩衝部材を設けて、回路基板48への振動の伝播を低減するようにしている。
支持板47と支柱44との接続部には、緩衝部材として、金属製弾性部材である板バネ81が設けられている。この板バネ81は支持板47と一体的に形成されている。すなわち、この板バネ81は、プレス加工により支持板47と一体的に形成された後、曲げ加工を行うことにより形成される。そして、板バネ81をねじ82で支柱44に固定することにより、試験片10の破断時に支柱44側から伝わる振動を板バネ81により吸収させ、回路基板48への振動の伝播を低減するようにしている。また、緩衝部材として金属製弾性部材である板バネ81を用いることで、回路基板48に近接している支持板47を接地している。なお、板バネ81と支持板47とは別部材で製作し、それを支持板47にねじなどを使用して取り付けるようにしてもよい。
支持板47と台座43との接続部には、緩衝部材として、樹脂製弾性部材であるラバー91、92が配設されている。支持板47は、複数のボルト93を介して台座43に固定されており、台座43と支持板47の下面との間にラバー92を配置し、支持板47の上面とワッシャー94を介挿したボルト93の挿入側との間にラバー91を配置している。試験片10の破断時に台座43側から伝わる振動を、ラバー91およびラバー92により吸収させ、回路基板48への振動の伝播を低減するようにしている。
また、ラバー91から支持板47およびラバー92を貫通するボルト93を螺合させるための孔部には、スペーサ95を挿入している。このように孔部にスペーサ95を挿入ことにより、ボルト93による被締結物であるラバー91の陥没をなくし、振動によるボルト93の緩みを防ぐことができる。ここで、ボルト93は支持板47と直接的には電気的に接続されていないので、このボルト93付近で台座43と支持板47が電気的には接続されていない。つまり、ボルト93を介しては、支持板47は接地されていない。
なお、この実施形態では、支持板47と台座43との接続部に支持板47を挟むようにラバー91とラバー92とを配置しているが、ラバー91はなくてもよい。ただし、ラバー91があることで、台座43からボルト93を介して支持板47に伝わる試験片10の破断時の振動が吸収され、その振動が回路基板48へ及ぶことが防止できる。
上述したように、この実施形態では、支持板47と支柱44との接続部、支持板47と台座43との接続部のうちの一方(支持板47の上端側)に金属製弾性部材である板バネ81を設け、他方(支持板47の下端側)に、樹脂製弾性部材であるラバー91、92を設けたことにより、2方向から伝わる試験片10の破断時の振動が回路基板48へ及ぶことを防止することが可能となる。
10 試験片
11 ねじ棹
13 クロスヘッド
14 ロードセル
16 テーブル
19 支柱
21 上つかみ具
22 下つかみ具
23 制御部
30 負荷機構
40 変位測定装置
41 リニアスケール
42 ガイドレール
43 台座
44 支柱
45 ローラ
46 センサ部
47 支持板
52 パルスモータ
53a、53b プーリ
56 上アーム
57 下アーム
58a、58b ワイヤ
59a、59b バランスウェイト
62 パルスモータ
81 板バネ
82 ねじ
91 ラバー
92 ラバー
93 ボルト
94 ワッシャー
95 スペーサ

Claims (3)

  1. 試験片に取り付けられ、前記試験片の伸びに追従して移動する一対のアームの各々の位置を検出することにより、前記試験片の変位量を測定する変位測定装置であって、
    回路基板と、
    前記一対のアームを昇降可能に保持するガイド部材が立設された台座と、
    前記台座に立設された支柱と、
    前記台座と前記支柱とに接続された前記回路基板を支持する支持部材と、
    を備え、
    前記支持部材と前記台座との間の第1の接続部、および/または、前記支持部材と前記支柱との間の第2の接続部に、前記試験片が破断したときに前記台座から前記回路基板に伝播する衝撃を吸収させるための緩衝部材を設けたことを特徴とする変位測定装置。
  2. 請求項1に記載の変位測定装置において、
    前記第1の接続部、および、前記第2の接続部に前記緩衝部材を備え、前記第1の接続部における前記緩衝部材は樹脂製弾性部材であり、前記第2の接続部における前記緩衝部材は金属製弾性部材である変位測定装置。
  3. 試験片の端部を把持する一対のつかみ具と、前記一対のつかみ具のうちの一方を移動させることにより前記試験片に引張荷重を与える負荷機構と、を備える材料試験機であって、
    請求項1または請求項2に記載の変位測定装置を備える材料試験機。
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