JP6236721B2 - 形状計測装置および形状計測方法 - Google Patents
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Description
特許文献1には、連続移動する物体に等間隔の格子を物体の移動方向に対して垂直方向から所定の角度だけ傾けた方向において投影し、格子が投影された物体を、複数の平行に配置されたラインセンサによって、格子を投影した角度と異なる角度方向から、物体がラインセンサ間の距離を移動する移動時間に合わせた撮影タイミングで各々撮影し、ライン画像を経て、複数の位相シフトされたライン画像を位相シフト法により位相解析し、物体の高さ分布を求める技術が開示されている。
また、特許文献2には、計測対象物の周囲に鏡を配置することにより、一度に複数方向から計測対象物の形状を計測する技術が開示されている。
請求項4に係る発明は、前記形状計測装置は位相評価値を指標として用いて前記各計測ユニットで撮像した画像の合成処理を行うことを特徴とする請求項3に記載の形状計測装置である。
請求項5に係る発明は、加工ヘッドを備えた加工装置によってワークに加工を行いながら、請求項3または4のいずれか一方に記載の前記形状計測装置により、ワークの加工箇所の形状計測を行う機上計測方法である。
図2は、形状計測ヘッドを取り付けた装置によるパイプ2の溝加工の様子を説明する図である。本発明は、図2に示される形状計測ヘッドを備えた加工機は、溝の加工を行いながら溝の形状を計測することができる。本発明の形状計測装置は、速く精度良く位相分布を求められる位相解析法として、サンプリングモアレ法を適用する。この方法は、2次元格子の位相解析を精度良く行うことができる。位相シフトの機構が不要のため、小型化に適している。そして、高速な位相解析が可能な全空間テーブル化法を利用する。
2−1 位相解析法
2−1−1 位相シフト法の原理
ここで、位相解析法を説明する。
本発明は、投影格子を解析し、位相を導き出す手法として位相シフト法を用いる。この方法はプロジェクタもしくは格子投影装置を用いて余弦波の格子パターンを計測対象物の表面に投影し、これを位相シフトしながら複数回撮影する。この時、カメラで撮像される画像の輝度変化から投影した格子の位相を求めることができる。
モアレ縞の発生手順を図4に示す。図4(a)のような格子模様をカメラで撮影すると、図4(b)のような撮影画像が得られる。この撮影画像の輝度値は一般に数7式で表される。
2−2−1 基準面の撮影
図5は、z方向基準面撮影を説明する図である。まず、z方向について基準面を撮影し、この画像から座標の算出を行う。図5(a)で示すように、基準面に格子投影装置から格子を投影し、これをカメラで撮影する。その時、投影格子の位相を等間隔ずつシフトさせ、1周期分のシフト画像を撮影する。こうして得られた1周期分のシフト画像に位相シフト法を適用することで、初期地点z0での基準面の位相分布を求める。
次に,z座標と位相との変換テーブルの作成を行う。この概要を図7に示す。このとき、テーブルの要素間隔Δθは、一定に保つようにする。要素には位相値の小さいほうから0,1,2,…,i…,m−1と番号をつけ、それぞれの位相値はθi(i=0,1,2,…,m−1)とおく。ここでのmとは作成するテーブルの要素の総数である。なお、mとΔθとの間には、数14式、以下の関係がある。
そして、形状計測を行う際には、作成した位相と高さの関係テーブルを参照し、これより高さ分布を得る。ある1画素における、作成した位相と高さの関係テーブルを図8に示す。ここで、基準面の位相を求めた時と同様にして、計測対象の位相θを求める。数16式に示すようにθをΔθで割った商nはθが参照すべきテーブル要素の番号と一致するため、その画素におけるz座標zθnが求まる。これを全画素に対して行えば、計測対象の高さ分布が算出できる。
2−3−1 基準面の撮影
x,y方向についても基準面の撮影から、座標の算出を行う。基準面の裏面から2次元格子を投影し、これをカメラで撮影する。図9(a)のような撮影された格子画像に対しフーリエ変換格子法を用いることによって位相を求める。フーリエ変換格子法とは、得られた2次元格子に対しフーリエ変換を行い、図9(b)のようなパワースペクトルの画像を得る。ここからx,yの各方向の一次調和波を抽出し、逆フーリエ変換を行うことによって、図9(c),図9(d)のようなx,yの各方向の位相分布画像を得る方法である。
位相とx座標の関係テーブル作成の概要を図13に示す、ここでmはテーブル要素の数で、前項のmと等しい。作成するテーブル要素の高さには、先に求めた位相とz座標のテーブル要素の高さを利用する。撮影で得られた各要素の間に存在するj番目要素のx座標は、まず図13中のθjに隣り合う撮影で得られた要素を探す。そして、実際の撮影要素の位相の間隔を(θk+1−θk)、前後のx座標の値をxkとxk+1として、xjに対応する位相の値をθjと置き、数18式から直線近似により求める。
位相とx座標のテーブルを参照することにより、x座標値を得る。ある1画素における作成した位相とx座標の関係を表すテーブルを図14に示す。前節のテーブル参照の時と同様に、計測対象の位相θを求め、それをΔθで割った商を求めれば、x座標が算出できる。
ここまでの節において、位相θからz座標,位相θからx,y座標への変換テーブルの作成と参照法について述べてきた。ここで位相からx,y,z座標への変換について実際に使用している方法を述べる。
図15に、ある画素においてm個のテーブル要素数を持つ位相θとx,y,z座標の変換テーブルの概念図を示す。図中のIndex numberは、数16式より求めた参照テーブル要素番号nの値である。これらはすべて画素単位でメモリ上に配列としてそれぞれの並び順のまま保持され、参照の際にはn番目の場所に保管されているデータを読み出すことで結果を求めている。
2−4−1 基準点探索方法
本発明の実施形態において用いられるガラス格子は図16に示している。全体としては図16(a)のように25mm角のガラス上に24mm角の二次元格子を描いている。今回の装置では0.2mmピッチの格子ガラスを使用している。
先述の通り、本装置の2次元格子ガラスには白抜きの基準点が描かれているが、xy軸の位相算出においては障害となる。図20にはφ200形状計測装置の画像データを示す。図21にはφ70形状計測装置の画像データを示す。このため,図20(a)と図21(a)のような2次元格子画像の基準点位置を補正する必要がある。格子画像の補正は白抜き基準点位置の撮影画像を周りの格子部分の輝度で埋めることで行うことで、図20(b)と図21(b)のような画像を得られる。
ここまでの原理で1つの画像での三次元形状計測は可能となった。しかし、この形状計測結果はカメラの画素が撮影する点の座標分布として求められるため、図22(a)に示すようにxy平面に対して等間隔ではない座標として得られる。しかし、データを合成する際には、図22(b)に示すようなxy座標に対して等間隔の空間座標が得る必要がある。そのために、知りたいxy座標を内部に含む3つの点を探し出す。図22(a)において、点Psの座標はその周囲の、計測されて空間座標が得られている点Pa,Pb,Pcを用いて求める。点Psの空間座標は点Pa,Pb,Pcを通る平面上の座標(x,y)を持つ点として求めることができる。
ステンレス鋼のようなハレーションを起こす物体に対しては位相評価値を用いて、画素の取捨選択を行った測定が有効である。位相評価値は、各画素における輝度値の変化に対してフーリエ変換を行い、数19式に示すように周波数1のパワースペクトルと高次周波数のパワースペクトルの総和の比を求め、これを画素(i,j)におけるE(i,j)として定義される値である。ここで、|F(n)|は周波数nのパワースペクトルの大きさを表し、Nは最も高い周波数を表している。
本装置の特徴としてふたつのカメラとz軸プロジェクタにより2方向からの計測が行われることが挙げられる。その目的の一つは、計測結果を平均化などによる合成処理によりひとつの精度の高い測定結果を求めることである。
金属のハレーションや加工傷などが計測結果への影響を減少するため、精度を上げる計測原理で形状計測を行う。図23にカメラが移動しながら、違う角度でカメラから見た溝の同じ場所(点P)を示している。図23(b)には、カメラのA,B,C三つの目線から見た計測様子を示している。カメラが一定間隔に移動しながら、画像全体のA,B,Cの計測したデータを記録していく。
(1)x,y,z座標を用いる方法
A,B,Cの計測したデータを図24に示す。図24(a)にはA,B,Cのx,y座標とz座標の対応関係を示している。同じx,y座標の場所でzA,zB,zC座標がある。2−4−4で説明した位相評価値を用いてランダムノイズの影響を減少する。
データが閾値以下の場合はマスクデータを0にする。位相評価値は閾値以上の場合そのマスクデータを1にする。合成したz座標を求めるのは先ほどのマスクではないデータの高さデータを用いる。その結果はz=(mA・zA+mB・zB+mC・zC)/(mA+mB+mC)で求められる。さらに、位相評価値が0〜1までの数字であるため、合成したz座標はz=(mA・eA・zA+mB・eB・zB+mC・eC・zC)/(mA・eA+mB・eB+mC・eC)で求めることもできる。
精度を上げる計測原理で測定した結果には溝の側面のデータが消える問題に対して、さらに図26に示しているような方法で解決できる。図26では二つのカメラでそれぞれ溝の側面のデータを計測できる。そして、計算式で(x,z)座標と(θ,r)座標の変換を行う。極座標を利用することで、溝の側面のデータも消えずに利用できるようになる。
つぎに、基準面について説明する。まず3−1において、基準面の構造や仕組み、使用している機器について説明する。次に、3−2において基準面の原理と改良点について説明する。3−3には基準面xy軸の変換精度について説明する。
図28は基準面ユニットの内部構造を説明する図である。図28(a)は基準面を上方から見下ろした図である。図28(b)は基準面ユニットを横方向から見た模式図である。図29は2次元格子パターンの拡大図である。上面に拡散シートがあり、その下に2次元格子ガラス基板が取り付けられている。既知の等間隔の0.2mmピッチを持つ2次元格子ガラス基板の下方には、平行光を作るための焦点距離が35mmのCマウントレンズがあり、そのレンズの焦点距離の位置に穴の大きさが600μmのピンホールがある。ピンホールの下部には光源用の4WのLEDが取り付けられている。
3−1で説明した基準面が完成する前に、LED光源部分の改良を行った。また、より鮮明な投影格子を得るため、レンズを用いて平行光を作った。まず、解析が十分できる投影格子を得るため、LED光源の明るさについて実験で検討した。
3−1で説明したような、拡散シートにピッチが0.2mmの格子を投影されている。その投影された格子を本発明に係る形状計測装置のカメラで撮影して、位相分析処理などを利用することでxy座標へ変換する。その変換の精度について調べた。
ここで、形状計測装置について概要を説明する。パイプ長径のサイズによって、長径が200mm以上のパイプに対応できる形状計測装置をφ200という名前を付けた。同じく、長径が70mmから200mmまでのパイプに対応できる形状計測装置をφ70という名前を付けた。まず4−1にて形状計測装置の構造や仕組み、および、使用している機器について説明する。4−2において三次元形状計測手法について説明する。4−3には溝を加工する機器について説明する。4−4には形状計測装置の振動実験を示す。4−5において形状計測装置の計測精度評価について説明する。最後に4−6では溝を対象とする形状計測装置の計測実験を示す。
実際に形状計測装置を溝の加工機器に装着することと同じ条件とするために、本形状計測システムは溝の加工機器と同じなエンドミルを作った。また、基準面の部分は3.で説明したとおりである。
本発明は、格子投影法と、高速な位相解析が可能なサンプリングモアレ法と、高速に精度よく座標を得ることができる全空間テーブル化法を利用した形状計測方法である。ここでは、高さ方向の形状計測実験結果を示す。校正時の撮影基準面枚数は5枚、全空間テーブル化手法におけるテーブル枚数は1000枚、高さ方向の計測範囲は0.8mm、サンプリングモアレ法における間引き間隔は43画素であり、0.5mmピッチの格子を投影する。
従来公知のテストピース加工機(図45参照)は、シームレス鋼管の品質検査に用いるテストピースを製作する。シームレス鋼管の品質維持のためには、高品質のテストピースが欠かせない。溶接加工は、熱間工具の再生や金型の硬化肉盛加工を行える。テストピース加工機は、エンドミルと装置の動作をコントローラでコントロールする。溝を加工する時、エンドミルをパイプの中に入れて、適切な場所で加工を行える。4−1で紹介したように、形状計測装置を実際にテストピース加工機に装着し、溝を加工しながら、溝の形状を計測する。
溝を加工する加工機の振動がカメラに与える影響を調べるため、カメラをテストピース加工機に装着して、エンドミルと形状計測装置をパイプの中に入れて、溝を加工しながら実験を行った。
状態2:空回り(5000RPM)
状態3:空回り(6000RPM)
状態4:切削(切込み速度0.01mm/min,切込み量0.1mm,送り速度15mm/min)
状態5:切削(切込み速度0.05mm/min,切込み量0.2mm,送り速度15mm/min)
図46は画像の中の一点の位相値の変化を示す。実験結果から、加工機械の振動はカメラへの影響があまりないことが分かった。
対象物である溝の形状を計測する前に、φ200形状計測装置自身の計測精度を調べる必要がある。そのために、精度が良い段差計測試料(図47参照)を用いてφ200形状計測装置の計測精度確認実験を行った。まず、段差計測試料を高精度非接触段差測定機(ユニオン光学株式会社製の高精度非接触段差測定機DH2)で測定した。測定用レンズは三つを装着している。そのレンズの情報を表1に示している。
以上の実験から、第1カメラの計測精度は0.019mmである。第2カメラの計測精度は0.018mmであるが分かった。
溝試料の形状計測を行う前、xyzテーブルを作らないといけない。まず、φ200形状計測装置のテーブルを作る前の基準点探索について説明する。2−4−1で説明した基準点探索の画像結果を示す。
φ200形状計測装置を用いて、溝を対象とする形状計測装置の計測実験を行った。計測対象には加工された金属製試料を用いる。図53は計測対象のステンレス製試料である。試料中央の溝の幅は0.8mm,深さは0.479mmである。その他のサイズは図中に記載の通りである。今回の実験では、撮影範囲は図53の破線部で示しているように、溝を含む領域となっている。
図54(a)は第1カメラの撮影画像である。図54(b)は第2カメラの撮影画像である。撮影画像の大きさは1280*1024pixelである。撮影画像中の溝を含む領域(670*300pixel)を図55に示している。図56は図55のx座標画像である。図57は図55のy標画像である。図58は図55のz座標画像である。図59は図55の3D画像である。また、図58に示しているz座標画像を再サンプリング処理させ、その結果は図60である。再サンプリング後の1画素のxy座標は10μmである。図61は図60に示している二つカメラの合成データである。図62に図61の3D画像を示している。下には図61の合成後データの評価について示す。
ここでは本研究の形状計測ソフトの改良について概要を述べる。まず5−1にてノイズ除去について説明する。次に5−2において形状計測ソフトを紹介する。
金属はハレーションを起こしやすい物である。特に、本発明の計測対象は、溝の加工を行う時、溝の中から出た切り子は金属表面に傷をつけることもある。また、溝を計測するにはハレーションの影響を小さくする必要がある。それらの対策を説明する。
図69は4−1で説明した形状計測装置の第1カメラで撮影した画像である。画像のサイズは1280*1024pixelである。図69に先ほど説明したノイズ除去で処理した結果は図70に示されるとおりである。
図73は本発明の実施形態で使用される解析ソフトのインタフェース画面を示している。図の中に一番左には画像の表示部分である。真ん中には実際に測定する時のサンプリング数、合成パラメータや出力パラメータを設定する部分である。一番右にはカメラのパラメータ、基準面を撮影する時のパラメータを設定する部分である。次には,実際の形状計測する時処理の流れについて説明する(図74参照)。
xy方向についても基準面の撮影から、座標の算出を行う。基準面の裏面から2次元格子を投影し、これをカメラで撮影する。図75(a)図75(b)のような撮影された格子画像に対しフーリエ変換格子法,逆フーリエ変換、また位相接続を行うことでxy座標を得る。全空間テーブル手法でテーブルデータを作る。
本発明に係る形状計測装置の小型化と小型化した形状計測装置(φ70)の計測実験について説明する。まず、6−1にて形状計測装置を小型化する理由について説明する。6−2において小型化を行うための微小格子投影原理について説明する。6−3には小型化した形状計測装置の投影格子の評価について説明する。6−4において形状計測装置の計測精度評価について説明する。6−5では溝を対象とする形状計測装置の計測実験を示す。最後に6−6で精度を上げる計測原理の確認実験とその結果を示す。
本発明の測定対象としてのパイプにはいろいろなサイズがある。4−1で説明したφ200の形状計測装置は長径が200mm以上のパイプに対応できるように設計した。長径が70mmから200mmまでのパイプに対応できる形状計測装置は必要となってくる。図82にはφ200の形状計測装置と小型化したφ70形状計測装置の画像を示している。φ200形状計測装置のサイズは150*150mm,φ70形状計測装置のサイズは50*60mmである。
6−1で小型化を行った形状計測装置の画像を示した。形状計測装置の小型化する上で一番困難な点は、格子を投影する部分の小型化である。本発明は、微小格子投影を行うことによって格子を投影する部分の小型化を実現している。微小格子投影は、レンズの焦点距離と幾何学を利用して微小の格子を投影することができる。図85にレンズを用いた格子のピッチを変更できることが図示されている。
f:レンズの焦点距離
aG:レンズとガラス格子の距離
aL:レンズとLEDの距離
bL:レンズと鏡像LEDの距離
cR:レンズと基準面の距離
p’:ガラス格子のピッチ
p:投影格子のピッチ
レンズの焦点距離と幾何学の関係式を利用して、投影格子のピッチpを数20式〜数21式により算出することができる。
実験条件:
レンズの焦点距離: f=40mm
レンズとLEDの距離: aL=30mm
レンズとガラス格子の距離: aG=10mm
レンズと基準面の距離: cR=20mm
ガラス格子のピッチ: p’=0.2mm
以上の実験条件で計算式(数22式)から得た投影格子のピッチは:p=0.215mmである。
6−2の微小格子投影の原理を利用して形状計測装置の小型化を行った、そして、その小型化した形状計測装置の投影格子が微小格子投影原理の通りになっているかについて検証した。検証の結果、有効性を確認できた。実験条件は下記の通りである。
レンズの焦点距離: f =10mm
レンズとLEDの距離: aL =9.38mm
レンズとガラス格子の距離: aG =2.4mm
レンズと基準面の距離: cR =12.4mm
ガラス格子のピッチ: p’=0.375mm
以上の実験条件を利用して6−2で説明した計算式数20式〜数22式により得られた投影格子のピッチは:p=0.399mmである。
測定対象物である溝の形状を計測する前に、φ70形状計測装置自身の計測精度を調べる必要がある。そのために、4−5で説明したように、同じく図47の精度が良い段差計測試料を用いてφ70形状計測装置の計測精度確認実験を行った。撮影対象は段差計測試料1段目と2段目とした。
溝試料の形状計測を行う前に、xyzテーブルを作る必要がある。2−4−1で説明した基準点探索の原理はφ200形状計測装置とφ70形状計測装置両方に対応する必要がある。処理の流れは同じである。しかし、φ70形状計測装置の撮影画像はかなり小さくなるため、探索領域を変える必要がある。そのデータを下に示す。
探索した基準点を用いてxyzテーブルの作成を行う。次に、溝試料の形状計測実験について説明する。φ70形状計測装置を用いて、溝を対象とする形状計測装置の計測実験を行った。計測対象には加工された金属製試料を用いる。
まず合成後溝の幅を評価した。図101に示しているように、矢印データは表5に示される。表5の条件により溝間の距離が0.50mmで測定されていることがわかった。実際の溝の距離は先述の通り0.8mmであるため、計測誤差は0mmであることがわかった。
φ70形状計測装置を用いて、2−4−6で説明した精度を上げる計測原理の確認実験を行った。下にはその結果について述べる。図105(a)は実際の現場で溝を加工しながら記録した画像(400*400pixel)である。図105(b)の中にある破線の丸中に傷がある。その傷の移動を基準として実験を行った。図105(a)に示しているように撮影した溝画像の溝部分がかなりの角度で傾いている。より良い溝の高さを得るため、溝がまっすぐになるように撮影画像を回転させ、データ処理を行った。回転後の画像を図105(b)に示す。この場合は18.63度だけ回転した。また、基準面を撮影する際にも同じ画像回転を行うようにすることで、回転させた画像であっても正しく三次元座標を得ることができる。
以下、その結果を示す。
3 アーム
4 エンドミル
5 移動方向
6 加工ヘッド
7 加工溝
8 計測ユニット
9 プロジェクタ部
10 カメラ部
11 計測領域
12 形状計測ヘッド
13 計測ユニットコントローラ
14 コンピュータ
Claims (5)
- 光源と前記光源からの光によって照射される格子模様が形成された透明性部材と前記格子模様を計測対象物の表面に結像する結像レンズとを有するプロジェクタ部と、前記プロジェクタ部によって前記格子模様が投影された前記計測対象物の表面を撮影する撮像手段とを有し、前記計測対象物の表面の画像を少なくとも一部の撮像領域が重複するように撮像するように配置された第1計測ユニットと第2計測ユニットと、
前記第1計測ユニットによる格子模様の投影および前記計測対象物の表面の撮影と、前記第2計測ユニットによる格子模様の投影および前記計測対象物の表面の撮影とを、切り替えて行わせる制御手段と、
を備えたことを特徴とする第一形状計測ヘッド。 - 光源と前記光源の前方に配置されたスリットと、前記スリットを透過した前記光源からの光によって照射され計測対象物の表面に投影される格子模様が形成された透明性部材とを有するプロジェクタ部と、前記プロジェクタ部によって前記格子模様が投影された前記計測対象物の表面を撮影する撮像手段とを有し、前記スリットの幅は前記格子のピッチの半分以下であって、前記スリットの方向と前記格子模様が形成された透明性部材の格子の方向が一致し、前記計測対象物の表面の画像を少なくとも一部の撮像領域が重複するように撮像するように配置された第1計測ユニットと第2計測ユニットと、
前記第1計測ユニットによる格子模様の投影および前記計測対象物の表面の撮影と、前記第2計測ユニットによる格子模様の投影および前記計測対象物の表面の撮影とを、切り替えて行わせる制御手段と、
を備えたことを特徴とする第二形状計測ヘッド。 - 請求項1に記載の第一形状計測ヘッドまたは請求項2に記載の第二形状計測ヘッドのいずれか一方を備え、
前記撮像した計測対象物の画像に対して位相解析処理を施して前記計測対象物の形状を算出することを特徴とする形状計測装置。 - 前記形状計測装置は位相評価値を指標として用いて前記各計測ユニットで撮像した画像の合成処理を行うことを特徴とする請求項3に記載の形状計測装置。
- 加工ヘッドを備えた加工装置によってワークに加工を行いながら、請求項3または4のいずれか一方に記載の前記形状計測装置により、ワークの加工箇所の形状計測を行う機上計測方法。
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