JP6231005B2 - SiC蛍光材料及びその製造方法並びに発光素子 - Google Patents

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Description

本発明は、SiC蛍光材料及びその製造方法並びに発光素子に関する。
化合物半導体のpn接合による発光素子として、LED(発光ダイオード)が広く実用化され、主に、光伝送、表示及び照明用途に用いられている。白色LEDにおいては、エネルギー変換効率が既存の蛍光灯と比較して不十分のため、一般照明用途に対しては大幅な効率改善が必要である。さらに、高演色性、低コスト且つ大光束のLEDの実現のためには多くの課題が残されている。
現在市販されている白色LEDとして、リードフレームに実装された青色発光ダイオード素子と、この青色発光ダイオード素子に被せられYAG:Ceからなる黄色蛍光体層と、これらを覆いエポキシ樹脂等の透明材料からなるモールドレンズと、を備えたものが一般的である。この白色LEDでは、青色発光ダイオード素子から青色光が放出されると、黄色蛍光体を通り抜ける際に青色光の一部が黄色光に変換される。青色と黄色は互いに補色の関係にあることから、青色光と黄色光が交じり合うと白色光となる。この白色LEDでは、効率改善や演色性向上のため、青色発光ダイオード素子の性能向上等が求められている。
青色発光ダイオード素子として、n型のSiC基板上に、AlGaNからなるバッファ層、n−GaNからなるn型GaN層、GaInN/GaNからなる多重量子井戸活性層、p−AlGaNからなる電子ブロック層、p−GaNからなるp型コンタクト層が、SiC基板側からこの順で連続的に積層されたものが知られている。この青色発光ダイオード素子では、p型コンタクト層の表面にp側電極が形成されるとともに、SiC基板の裏面にn側電極が形成され、p側電極とn側電極との間に電圧を印加して電流を流すことにより、多重量子井戸活性層から青色光が放出される。ここで、SiC基板には導電性があるため、サファイア基板を用いた青色発光ダイオード素子と異なり、上下に電極を配置することができ、製造工程の簡略化、電流の面内均一性、チップ面積に対する発光面積の有効利用等を図ることができる。
さらに、蛍光体を利用することなく、単独で白色光を生成する発光ダイオード素子が提案されている(例えば、特許文献1参照)。この発光ダイオード素子では、前述の青色発光ダイオード素子のn型のSiC基板に代えて、B及びNをドープした第1SiC層と、Al及びNをドープした第2SiC層を有する蛍光SiC基板が用いられ、多重量子井戸活性層から近紫外光が放出される。近紫外光は、第1SiC層及び第2SiC層にて吸収され、第1SiC層にて緑色から赤色の可視光に、第2SiC層にて青色から赤色の可視光にそれぞれ変換される。この結果、蛍光SiC基板から演色性が高く太陽光に近い白色光が放出されるようになっている。
特許第4153455号公報
そして、本願発明者らは、SiC蛍光材料の発光効率の向上について、さらに鋭意研究を重ねていた。
本発明は、前記事情に鑑みてなされたものであり、その目的とするところは、発光効率を向上させたSiC蛍光材料及びその製造方法並びに発光素子を提供することにある。
前記目的を達成するため、本発明では、炭素原子がキュービックサイトとヘキサゴナルサイトに配置されるSiC結晶からなり、ドナー不純物とアクセプタ不純物が添加された蛍光材料であって、ヘキサゴナルサイトの炭素原子と置換されるドナー不純物に対する、キュービックサイトの炭素原子と置換されるドナー不純物の割合が、結晶構造におけるヘキサゴナルサイトに対するキュービックサイトの割合よりも大きいSiC蛍光材料が提供される。
また、上記SiC蛍光材料において、室温でのキャリア濃度が、ドナー濃度とアクセプタ濃度の差よりも小さいことが好ましい。
また、上記SiC蛍光材料において、可視光領域の吸収率が、不純物無添加の場合と同程度であることが好ましい。
さらに、本発明では、上記SiC蛍光材料を製造するにあたり、水素含有雰囲気で、前記SiC蛍光材料を昇華法で成長させるSiC蛍光材料の製造方法が提供される。
さらにまた、本発明では、上記SiC蛍光材料からなるSiC基板と、前記SiC基板上に形成された窒化物半導体層と、を有する発光素子が提供される。
本発明によれば、SiC蛍光材料の発光効率を向上させることができる。
図1は、本発明の一実施形態を示す発光ダイオード素子の模式断面図である。 図2は、6H型SiC結晶の模式図である。 図3は、SiC基板へ入射した光が蛍光に変換される様子を模式的に示した説明図である。 図4は、結晶成長装置の説明図である。 図5は、試料体A及び試料体Bの相対発光強度、室温キャリア濃度、ドナー不純物とアクセプタ不純物の差、ホールに対する当該差の比率、浅いドナー準位を形成するドナーと、深いドナー準位を形成するドナーの比を示す表である。 図6は、試料体A、試料体B及び試料体Cについて、波長と透過率の関係を示すグラフである。
図1から図4は本発明の一実施形態を示すものであり、図1は発光ダイオード素子の模式断面図である。
図1に示すように、白色発光ダイオード1は、ホウ素(B)及び窒素(N)がドープされたSiC基板10と、このSiC基板10上に形成され複数の窒化物半導体層により構成された発光部20と、を備えている。発光部20からSiC基板10へ光が入射すると、SiC基板10にて入射光が吸収されて不純物準位による蛍光が生じるようになっている。
図2に示すように、SiC基板10は、6層ごとに周期的な構造をとる6H型のSiC結晶によって形成され、ドナー不純物として窒素を含むとともに、アクセプタ不純物としてホウ素を含んでいる。SiC基板10の製造方法は任意であるが、例えば昇華法、化学気相成長法によってSiC結晶を成長させて製造することができる。このとき、結晶成長中の雰囲気における窒素ガス(N)の分圧を適度に調整することにより、SiC基板10における窒素の濃度を任意に設定することができる。一方、ホウ素は、ホウ素単体またはホウ素化合物を原料に対して適量混合させることにより、SiC基板10におけるホウ素の濃度を任意に設定することができる。
ここで、6H型のSiC結晶は、キュービックサイトの割合が2/3、ヘキサゴナルサイトの割合が1/3である。通常であれば、ドナー不純物である窒素は、各サイトの存在割合と同じ割合で各サイトに配置される。すなわち、6H型のSiCであれば、2/3の窒素がキュービックサイトの炭素原子と置換され、1/3の窒素がヘキサゴナルサイトの炭素原子と置換されることとなる。しかし、本実施形態のSiC結晶は、キュービックサイトのドナー不純物濃度を高くさせるようドナーを操作する工程を経て製造されているため、ヘキサゴナルサイトの炭素原子と置換されるドナー不純物に対する、キュービックサイトの炭素原子と置換されるドナー不純物の割合が、結晶構造におけるヘキサゴナルサイトに対するキュービックサイトの割合よりも大きくなっている。
図1に示すように、発光部20は、AIGaNで構成されたバッファ層21と、n―GaNで構成された第1コンタクト層22と、n−AIGaNで構成された第1クラッド層23と、GalnN/GaNで構成された多重量子井戸活性層24と、p―AIGaNで構成された電子ブロック層25と、p−AIGaNで構成された第2クラッド層26と、p―GaNで構成された第2コンタクト層27と、をSiC基板10側からこの順で連続的に有している。発光部20は、SiC基板10上に、例えば有機金属化合物気相成長法によって積層される。また、第2コンタクト層27の表面には、Ni/Auからなるp電極31が形成される。また、第2コンタクト層27から第1コンタクト層22の所定位置まで厚さ方向にエッチングすることにより第1コンタクト層22を露出させ、この露出部分にTi/Al/Ti/Auからなるn電極32が形成される。
本実施形態においては、多重量子井戸活性層108は、Ga0.95ln0.05N/GaNからなり、発光のピーク波長は385nmである。尚、多重量子井戸活性層24におけるピーク波長は任意に変更することができる。また、第1導電型層、活性層及び第2導電型層を少なくとも含み、第1導電型層及び第2導電型層に電圧が印加されると、電子及び正孔の再結合により活性層にて光が発せられるものであれば、発光部20の層構成は任意である。
以上のように構成された白色発光ダイオード1のp電極31とn電極32に順方向の電圧を印加すると、発光部20に電流が注入され、多重量子井戸活性層24において近紫外領域にピーク波長を有する光が放出される。放出された近紫外光は、アクセプタ不純物とドナー不純物がドープされたSiC基板10へ入射してほぼ全てが吸収される。SiC基板10では、近紫外光を励起光としてドナー電子とアクセプタ正孔が再結合することにより蛍光が生じ、黄色から赤色にかけて発光する。これにより、白色発光ダイオード1は、暖白色に発光し、照明に適した光が外部へ放出される。
ここで、SiC基板10における蛍光作用について、図3を参照して説明する。図3は、SiC基板へ入射した光が蛍光に変換される様子を模式的に示した説明図である。
SiC基板10は主にSiC結晶で構成されているため、6H型SiC結晶のバンドギャップエネルギーEが形成されている。
SiC基板10に光を入射させると、荷電子帯E2から伝導帯E1に自由電子aが励起され、E2には自由正孔bが生成される。そして、数nsから数μsの短時間のうちに、自由電子aはドナー準位NSD,NDDへ緩和してドナー電子a’,a’となり、自由正孔bはアクセプタ準位Nへと緩和してアクセプタ正孔b’となる。
ここで、キュービックサイトのドナーは深いドナー準位NDDを形成し、ヘキサゴナルサイトのドナーは浅いドナー準位NSDを形成することが判明している。
深いドナー準位NDDへ緩和したドナー電子a’は、ドナー・アクセプタ・ペア(DAP)発光に用いられ、アクセプタ正孔b’と再結合する。そして、その遷移エネルギー(E−EDD−E)に相当するエネルギーを有する光子cがSiC基板10の外部へ放出される。SiC基板10の外部へ放出された光子cの波長は、遷移エネルギー(E−EDD−E)に依存する。
一方、浅いドナー準位NSDへ緩和したドナー電子a’は、Γバンドとのバンド内吸収に用いられ、アクセプタ正孔b’と再結合しない。すなわち、発光には寄与しない。
ドナー・アクセプタ・ペア発光を的確に行うためには、SiC結晶中の室温でのキャリア濃度が、ドナー濃度とアクセプタ濃度の差よりも小さいことが好ましい。
さらに、窒素のイオン化エネルギーはホウ素よりも小さいため、室温において、ある程度の窒素がイオン化する。すると、励起されたドナー電子a’が再度伝導帯E1に遷移することとなり、アクセプタ正孔b’と対になるドナー電子a’が不足することとなる。対となるドナー電子a’がないアクセプタ正孔b’は、蛍光発光に寄与することができず、そのアクセプタ正孔b’を励起するためのエネルギーが無駄に消費されたこととなる。すなわち、ドナー電子a’とアクセプタ正孔b’が過不足なく再結合できるように予めイオン化する窒素量を見越してホウ素濃度よりも窒素濃度を多めに設定しておくことにより、高い蛍光量子効率を実現することができる。
次いで、図4を参照してSiC蛍光材料の製造方法について説明する。図4は、結晶成長装置の説明図である。
図4に示すように、この結晶成長装置100は、種結晶基板110及び原料120が配置される内部容器130と、内部容器130を収容する収容管140と、内部容器130を覆う断熱容器150と、収容管140内へ気体を導入する導入管160と、導入管160から導入される気体の流量を計る流量計170と、収容管140内の圧力を調整するポンプ180と、収容管140の外側に配置され種結晶基板110を加熱するためのRFコイル190と、を有している。
内部容器130は、例えば黒鉛からなり、上方を開口した坩堝131と、坩堝131の開口を閉塞する蓋132と、を有する。蓋132の内面には、単結晶SiCからなる種結晶基板110が取り付けられる。また、坩堝131の内部には、昇華再結晶の原料120が収容される。本実施形態においては、原料120は、SiC結晶の粉末と、B源となる粉末とが用いられる。尚、B源としては、例えば、LaB、BC、TaB、NbB、ZrB、HfB、BN、Bを含有した炭素等を挙げることができる。
SiC蛍光材料を製造するにあたっては、まず、原料120を充填した坩堝131を蓋132で閉じ、黒鉛製の支持棒141により収容管140の内部に設置した後、内部容器130を断熱容器150で被覆する。そして、雰囲気ガスとして、Arガス、Nガス及びHガスを、流量計170を介して導入管160により収容管140の内部へ流す。続いて、RFコイル190を用いて、原料120を加熱するとともに、ポンプ180を用いて収容管140内の圧力を制御する。
具体的には、収容管140内の圧力を0.03Paから600Paの間とし、種結晶基板110の初期温度を少なくとも1100℃とする。初期温度は、1500℃以下が好ましく、1400℃以下がより好ましい。そして、原料120と種結晶基板110の間の温度勾配を1℃から10℃の間に設定する。
次いで、種結晶基板110を初期温度から、15℃/分から25℃/分の割合で加熱していき、成長温度まで上昇させる。成長温度は、1700℃から1900℃の間が好ましい。成長レートは、10μm/時から200μm/時の間とすることが好ましい。
これにより、原料120は、昇華後、温度勾配に基づき形成される濃度勾配により、種結晶基板110の方向に拡散して輸送される。SiC蛍光材料の成長は、種結晶基板110に到着した原料ガスが種結晶上に再結晶することにより実現される。尚、SiC結晶のドーピング濃度は、結晶成長時の雰囲気ガス中への不純物ガスの添加、並びに、原料粉末への不純物元素またはその化合物の添加により制御することができる。
本実施形態においては、Nガスが結晶成長時の雰囲気ガス中に添加され、Bの化合物が原料120に添加される。さらに、Hガスが結晶成長時の雰囲気ガス中に添加されており、これによりドナー不純物のヘキサゴナルサイトの炭素原子との置換を抑制し、キュービックサイトの炭素原子との置換を促進する。このメカニズムについては次のように考えられる。
まず、結晶成長表面の原子ステップ端で水素原子が炭素原子と反応しC−H結合を形成する。次いで、炭素原子と周りのシリコン原子との結合力が弱まり炭素原子の脱離による炭素空孔が発生する。そして、炭素空孔に窒素が取り込まれる確率が上昇する。ここで、ヘキサゴナルサイトの炭素原子とキュービックサイトの炭素原子では、周りのSi原子の結合力に差があり、キュービックサイトの炭素原子の方が結合力が弱いため、水素原子によって炭素空孔が発生しやすく、このためキュービックサイトの炭素原子と窒素原子の置換が選択的に促進されると考えられる。
このように、水素含有雰囲気でSiC蛍光材料を昇華法で成長させるような、ヘキサゴナルサイトよりもキュービックサイトの炭素原子と窒素原子の置換を促進させるドナー操作工程を経て作製されるSiC結晶は、ヘキサゴナルサイトの炭素原子と置換されるドナー不純物に対する、キュービックサイトの炭素原子と置換されるドナー不純物の割合が、結晶構造におけるヘキサゴナルサイトに対するキュービックサイトの割合よりも大きくなっている。
このようにして製造されたSiC結晶は、ドナー操作工程を経ないで作製された従来のものに比べて、発光に寄与するドナー不純物の割合が高いため、ドナー・アクセプタ・ペア(DAP)発光時の発光効率を向上させることができる。このとき、SiC結晶における可視光領域の吸収率が、不純物無添加の場合と同程度であると、浅い準位のドナーが少ないので好ましい。
このようにして作製されたSiC結晶は、外周研削、スライス、表面研削、表面研磨等の工程を経てSiC基板10となる。この後、SiC基板10にIII族窒化物半導体をエピタキシャル成長させる。本実施形態においては、例えば有機金属化合物気相成長法によってバッファ層21、第1コンタクト層22、第1クラッド層23、多重量子井戸活性層24、電子ブロック層25、第2クラッド層26及び第2コンタクト層27を成長させる。窒化物半導体層を形成した後、各電極31,32を形成し、ダイシングにより複数の発光ダイオード素子1に分割することにより、発光ダイオード素子1が製造される。ここで、図1に示すSiC基板10は、発光ダイオード素子1の基板とせずに、蛍光体板として利用することも可能である。
実際に、6H型のSiC結晶について、ヘキサゴナルサイトの炭素原子と置換されるドナー不純物に対する、キュービックサイトの炭素原子と置換されるドナー不純物の割合が、結晶構造におけるヘキサゴナルサイトに対するキュービックサイトの割合よりも大きい試料体Aを作製した。また、比較のため、6H型のSiC結晶について、ヘキサゴナルサイトの炭素原子と置換されるドナー不純物に対する、キュービックサイトの炭素原子と置換されるドナー不純物の割合が、結晶構造におけるヘキサゴナルサイトに対するキュービックサイトの割合と同じ試料体Bを作製した。
具体的に、試料体A及びBは、図4に示す結晶成長装置を用いて作製し、ドナー不純物として窒素を用い、アクセプタ不純物としてホウ素を用いた。窒素は結晶成長時の雰囲気ガス中にNガスを含有させることで添加し、ホウ素はBの化合物を原料120に含有させることで添加した。さらに具体的には、試料体A及びBは、初期温度を1100℃、成長温度を1780℃、成長レートを100μm/時として作製した。試料体Aについては、収容菅140内にArガス及びNガスに加えてHガスを導入し、収容管140内の圧力を0.08Paとして作製した。また、試料体Bについては、収容菅140内にArガス及びNガスに加え、収容管140内の圧力を30Paとして作製した。
以上ようにして作製された試料体A及びBの相対発光強度、室温キャリア濃度、ドナー不純物とアクセプタ不純物の差、ホール(Hall)に対する当該差の比率、浅いドナー準位を形成するドナーと、深いドナー準位を形成するドナーの比を測定したところ、図5に示すようになった。図5は、試料体A及び試料体Bの相対発光強度、室温キャリア濃度、ドナー不純物とアクセプタ不純物の差、ホールに対する当該差の比率、浅いドナー準位を形成するドナーと、深いドナー準位を形成するドナーの比を示す表である。ここでホール(Hall)とは、室温でのホール効果測定により得られるキャリア濃度のことをさす。
図5から明らかなように、試料体Aは、結晶成長時に水素を添加することにより、ドナー不純物のヘキサゴナルサイトの炭素原子との置換を抑制し、キュービックサイトの炭素原子との置換を促進された。この結果、試料体Bと比較して発光強度が4倍となった。また、試料体Aについてみると、室温でのキャリア濃度が、ドナー濃度とアクセプタ濃度の差よりも小さく、的確にドナー・アクセプタ・ペア発光が行われていることが理解される。さらに、試料体Aは、ホールに対するドナー濃度とアクセプタ濃度の差の比率が試料体Bより小さくなっていることから、試料体Bと比較して、ドナーである窒素が余分なフリーキャリアを発生させることなくドナー・アクセプタ・ペア発光に寄与していることが理解される。
また、試料体A及び試料体Bについて透過率及び吸収係数を測定した。比較のため、不純物を全く含まない6H型SiC結晶からなる試料体Cを作製して、その透過率と比較した。ここで試料体Cは、初期温度を1100℃、成長温度を1780℃、成長レートを100μm/時として作製した。図6は、試料体A、試料体B及び試料体Cについて、波長と透過率の関係を示すグラフである。
図6に示すように、試料体Aは、可視光領域の透過率が不純物無添加の試料体Cと同程度となっており、浅い準位のドナーが比較的少ないことが理解される。これに対し、試料体Bは、可視光領域の透過率が試料体Cより小さく、浅い準位のドナーが比較的多いことが理解される。
尚、前記実施形態においては、昇華法によりSiC蛍光材料を得るものを示したが、CVD法等によりSiC蛍光材料を得るようにしてもよい。また、結晶成長時に水素ガスを添付することにより、ヘキサゴナルサイトの炭素原子と優先的にドナー不純物が置換されるものを示したが、他の方法を用いることもでき、例えば、SiとCの比を正確に制御することによっても可能である。
また、前記実施形態においては、SiC蛍光材料を発光ダイオード素子1の基板として用いるものを示したが、光源と別個の蛍光体として利用することもできる。例えば、SiC蛍光材料を粉末状として利用することもできるし、板状にして利用することもできる。
また、ドナー及びアクセプタとしてN及びBを用いたものを示したが、例えばP、As、Sb、Ga、In、Al等の他のV族元素やIII族元素を用いることもできるし、さらにはTi、Cr等の遷移金属やBe等のII族元素も用いることもでき、SiC結晶中でドナー不純物及びアクセプタ不純物として使用可能な元素であればドナー及びアクセプタは適宜変更することができる。例えば、N及びAlを用いることで、N及びBの組み合わせよりも短波長側で発光させることができる。
また、6H型のSiC結晶に本発明を適用したものを示したが、例えば4H型のSiC結晶のように、キュービックサイトとヘキサゴナルサイトを有する結晶であれば、他のポリタイプのSiC結晶に適用可能なことをいうまでもない。
100 結晶成長装置
110 種結晶基板
120 原料
130 内部容器
131 坩堝
132 蓋
140 収容管
150 断熱容器
160 導入管
170 流量計
180 ポンプ
190 RFコイル

Claims (3)

  1. ドナー不純物が添加されたSiC材料を製造するにあたり、
    水素原子を含むガス中で、前記SiC材料を昇華法で成長させるSiC材料の製造方法。
  2. 前記SiC材料は、前記ドナー不純物に加えアクセプタ不純物が添加される請求項1に記載のSiC材料の製造方法。
  3. 前記SiC材料は、蛍光材料である請求項1または2に記載のSiC材料の製造方法。
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