JP6222327B2 - 電子デバイスの製造方法 - Google Patents
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Description
また、このような振動デバイスとして、振動素子としてのジャイロ振動片(ジャイロ素子とも言う)と、回路素子が設けられた半導体基板(回路素子)と、を備えたセンサーデバイスがパッケージに収納されたものが特許文献1に開示されている。
このような構成の振動デバイスでは、半導体基板に振動素子が重なる様に搭載されている。また、振動素子の振動周波数の調整において、振動素子に備えられた質量調整部(電極等)の少なくとも一部を除去するためレーザー光が用いられている。
図1は、本実施形態にかかる振動デバイスの概略構成を模式的に示し、(a)は平面図、(b)は正断面図である。図2は、振動デバイスの質量調整部の部分を拡大して示す部分断面図である。図3は、振動デバイスに用いられる素子としての振動素子(ジャイロ素子)の動作を説明する概略図である。
本実施形態の振動素子(ジャイロ素子)20は、基材(主要部分を構成する材料)として圧電体材料である水晶を用いている。水晶は、結晶軸として電気軸と呼ばれるX軸、機械軸と呼ばれるY軸及び光学軸と呼ばれるZ軸を有している。本実施形態では、水晶の結晶軸において直交するX軸及びY軸で規定される平面に沿って切り出されて平板状に加工され、平面と直交するZ軸方向に所定の厚みを有した所謂水晶Z板を基材として用いた例を説明する。なお、ここでいう所定の厚みは、発振周波数(共振周波数)、外形サイズ、加工性などにより適宜設定される。また、振動素子20を形成する平板は、水晶からの切り出し角度の誤差を、X軸、Y軸及びZ軸の各々につき多少の範囲で許容できる。例えば、X軸を中心に0度から2度の範囲で回転して切り出したものを使用することができる。Y軸及びZ軸についても同様である。本実施形態において振動素子20は、水晶を用いたが他の圧電材料(例えば、タンタル酸リチウムやチタン酸ジルコン酸鉛等)を基材として用いても良い。
半導体基板10は、半導体基板10の能動面10aに、図示を省略するトランジスターやメモリー素子などの半導体素子、及び、回路配線を含んで構成される集積回路(駆動回路)などの能動素子(不図示)が形成される能動領域を有している。
この能動領域に形成された能動素子には、振動素子20を駆動振動させるための駆動回路、角速度等が加わったときに振動素子20に生じる検出振動を検出する検出回路などが備えられている。
半導体基板10には、能動面10a側に設けられた第1の電極13が設けられている。第1の電極13は、半導体基板10に設けられた集積回路に直接導通して形成されたものである。また、能動面10a上には、パッシベーション膜となる第1絶縁膜が形成されており(不図示)、この第1絶縁膜には、第1の電極13上に開口部(不図示)が形成されている。また、応力緩和層の開口部(不図示)にも第1の電極13上に開口部(不図示)が形成されている。このような構成によって第1の電極13は、それぞれの開口部内にて外部に露出した状態となっている。
このような構成により、半導体基板10と振動素子20とは、半導体基板10に形成された第1の電極13および接続端子12を介して振動素子20に設けられた支持部27の図示しない電極と電気的に接続される。
この際、振動素子20は、接続端子12が突起電極となっていることから、半導体基板10との間に隙間が設けられる。
素子保持部15は、半導体基板10と振動素子20との空隙を確実に保つとともに、振動デバイス1に衝撃が加わるなどにより振動素子20が撓み、半導体基板10に衝突して振動素子20が破損することを防止する、所謂緩衝材として機能させることができる。
なお、本実施形態では、素子保持部15の形成された例で説明したが、振動素子20と半導体基板10との間に十分な隙間が設けられれば、素子保持部15を設けない構成でもよい。
次に、振動デバイス1を構成するベース基板80について説明する。
ベース基板(パッケージ)80の底面83には、半導体基板10が接合(接続)されている。半導体基板10と底面83との接合は、半導体基板10の能動面10aと表裏の関係となる半導体基板10の非能動面10bが、図示しない接着剤などの接合部材により底面83と接合されている。
ベース基板80は、例えば、セラミックのような絶縁性材料で形成されている。半導体基板10と接合されるベース基板80の底面83には、接続部82が形成されている。この接続部82には、金(Au)、銀(Ag)などの金属被膜が形成されている。また、ベース基板80の接続部82と、半導体基板10に設けられた配線用端子14とがワイヤー31によって接続されている。なお、接続部82は、図示を省略する配線によってベース基板80に設けられた外部端子と接続されている。
振動素子20は、振動デバイス1を平面視した場合において、調整用振動腕24a,24bに設けられた質量調整部としての調整用電極124a,124bが、半導体基板10と重ならないように半導体基板10の能動面10a側に配置されている。換言すると、振動デバイス1を平面視した場合において、振動素子20は、調整用電極124a,124bが、ベース基板80の底面83に対向するように配置される。
振動素子20は、支持部27が接続端子12を介して半導体基板10に設けられた第1の電極13に接続されることによって半導体基板10に搭載されている。
このような構成とすることにより、調整用電極124a(124b)に照射されたレーザー光Lが振動素子20を透過しても半導体基板10の能動面10aに照射されることがない。これにより、レーザー光Lによる半導体基板10へのダメージを防止することができる。
このレーザー保護層86をベース基板80の底面83に設けることにより、調整用振動腕24a,24bを透過したレーザー光Lが、ベース基板80の底面83に直接照射されることがなくなり、ベース基板の底面83へのレーザー光Lによるダメージを防止することができる。
ここで、振動デバイス1に搭載される振動素子(ジャイロ素子)20の動作について説明する。図3は、振動デバイス1を構成する振動素子20の動作を示す図である。
先ず、半導体基板10に設けられた駆動回路から振動素子20へ励振駆動信号が印加される。所定の励振駆動信号が印加された駆動用振動腕22a,22bを振動させた状態で、振動素子20にZ軸回りの角速度ωが加わることによって、検出用振動腕23a,23bにはコリオリ力による振動が生じる。この検出用振動腕23a,23bの振動によって調整用振動腕24a,24bが励振される。そして、振動デバイス1は、検出用振動腕23a,23bに設けられた検出電極(図1において不図示)が、振動により発生した振動素子20の基材である水晶(圧電材料)の歪を検出することで、角速度を求めることができる。
ここで、本実施形態の振動デバイス1の製造方法について説明する。
なお、本説明では、図1に示す振動デバイス1において、ベース基板80として凹部を有するパッケージを用いて、そのパッケージ内に振動デバイス1を接合し蓋体85により封止する態様の振動デバイス1の製造方法を説明する。図4は、振動デバイス1の製造工程を示すフロー図(フローチャート)である。なお、以下の説明は、図4を用いるとともに、図1を参照し、同図の符号を用いて行う。
ベース基板準備工程S100は、ベース基板80を準備する工程である。ベース基板準備工程S100は、セラミックなどで形成されたベース基板80を準備する。なお、ベース基板80の一面である底面83には、半導体基板10との電気的接続を行うための接続部82が形成されている。
半導体基板形成工程S200は、振動素子20が搭載される半導体基板10を形成する工程である。半導体基板形成工程S200は、シリコンウエハー製造工程S210と、ダイシング工程S220とを含む。
シリコンウエハー製造工程S210は、半導体製造プロセスを用いて能動素子を備える半導体基板10をシリコンウエハーに複数一括して形成する。この工程において、シリコンウエハーに形成されるそれぞれの半導体基板10の能動面10a上の、集積回路の導電部となる位置に、第1の電極13、配線用端子14、及び図示しない他の電極を形成する。また、半導体基板10の能動面10a側に、図示しない応力緩和層や第1絶縁膜や保護層を形成する。
配線用端子14には、その表面にニッケル(Ni)、金(Au)メッキを施すことにより、ワイヤーボンディングの際の接合性を高めておく。なお、ハンダメッキ、ハンダプリコートなどの表面処理を施したものとしてもよい。
また、シリコンウエハー製造工程S210では、能動面10a側に素子保持部15を形成してもよい。素子保持部15は、ポリイミド系樹脂、シリコーン系樹脂、ウレタン系樹脂などで形成される。
保護層を切断(切開)するベベルカットは、V字形状の刃物を被切断物である保護層と半導体基板10に押し当てることで、保護層と半導体基板10とを刃物と同じV字形状に切開する。
次にダイシング工程S220は、ベベルカット法によって保護層と半導体基板10の一部とが切り開かれ半導体基板10が表れた部分に、回転刃を挿入してシリコンウエハーを切断し、半導体基板10を個片化する。
半導体基板接続工程S300は、半導体基板10の非能動面10b側を、ベース基板80の底面83に接着剤などの接合部材(図示せず)を介して接合する工程である。また、半導体基板接続工程S300は、半導体基板10の配線用端子14とベース基板80の接続部82とを、ワイヤーボンディング法によりワイヤー31を用いて接続する。
振動素子形成工程S400は、振動素子としての振動素子20を形成する工程である。振動素子形成工程S400は、外形形成工程S410と、電極形成工程S420と、離調周波数調整工程S430と、ブレイク工程S440とを含む。
振動素子20は、図示しない振動素子用ウェハーを用いて多数個取りにて形成することができる。
先ず、外形形成工程S410は、振動素子用ウェハーにフォトリソグラフィー技術を用いたエッチングにより複数の振動素子20の外形を形成する工程である。
次に、電極形成工程S420は、振動素子20の素材にスパッタリングや蒸着により形成された金属層を、フォトリソグラフィー技術を用いて駆動電極や検出電極等の電極や配線として形成する工程である。この電極形成工程S420において、振動素子20における調整用振動腕24a,24bに質量調整部としての調整用電極124a,124bや、検出用振動腕23a,23bに図示を省略する検出電極や、駆動用振動腕22a,22bに図示を省略する駆動電極を形成する。
離調周波数調整工程S430は、レーザー光を用いて振動素子20の離調周波数調整を行う工程である。
離調周波数調整工程S430では、調整用振動腕24a,24bと、駆動用振動腕22a,22bとの屈曲振動周波数の差をみて、その差を補正するバランス調整(チューニング)を行うものであり、振動素子用ウェハーの状態で行うことができる。換言すると、後述するブレイク工程S440の前に行うことができる。
チューニングは、調整用振動腕24a,24bに設けられた調整用電極124a,124bに、集光されたレーザー光を照射して行う。レーザー光が照射された調整用電極124a,124bは、レーザー光のエネルギーによりその一部が溶融、蒸発する。この調整用電極124a,124bの溶融、蒸発により、調整用振動腕24a,24bの質量が変化する。これによって、駆動用振動腕22a,22bと調整用振動腕24a,24bとの共振周波数が変化するので、各振動腕のバランス調整(チューニング)を行うことができる。チューニングは、振動素子20が半導体基板10に搭載されてから周波数調整工程S600によって再度行われる。
ブレイク工程S440は、振動素子用ウェハーをブレイク(切断)して個片の振動素子20を得る個片化を行う工程である。個片化は、外形形成工程S410にて振動素子用ウェハーの振動素子20の外形の一部の連結部分にミシン目や溝を形成しておくことにより、そのミシン目や溝に沿ってブレイクすることによって行うことができる。
振動素子接続工程S500は、振動素子20を半導体基板10に載置し、半導体基板10の第1の電極13と、振動素子20の支持部27に設けられている図示しない電極とを接続端子12を介して接続する工程である。
このとき、振動素子20は、振動デバイス1を平面視した場合において、調整用振動腕24a,24bに設けられた質量調整部としての調整用電極124a,124bが、半導体基板10と重ならないように配置する。換言すると、振動デバイス1を平面視した場合において、調整用電極124a,124bが、ベース基板80の底面83に対向するように振動素子20を配置し、半導体基板10に振動素子20を搭載する。
周波数調整工程S600は、レーザー光を用いて振動素子20の周波数調整(バランスチューニング)を行う工程である。バランスチューニングは、振動素子20の調整用振動腕24a,24bに設けられた調整用電極124a,124bに、前述した離調周波数調整工程S430と同様に、集光されたレーザー光を照射して行う。レーザー光が照射された調整用電極124a,124bは、レーザー光のエネルギーにより溶融、蒸発し、その質量変化により調整用振動腕24a,24bの共振周波数を変化させることによって、駆動用振動腕22a,22bのバランス調整(チューニング)を行うことができる。具体的には、振動デバイス1(振動素子20)に加速度が加わっていない状態において駆動用振動腕22a,22bを励振して振動させたときに、検出用振動腕23a,23bが振動しない様に調整用振動腕24a,24bに設けられた質量調整部としての調整用電極124a,124bの質量調整によって周波数調整を行う。
封止工程S700は、ベース基板(パッケージ)80上に蓋体85を接合することにより、半導体基板10および振動素子20が接合されたベース基板80の凹部を封止する工程である。本例では、蓋体として金属製のリッド85を用いている。封止工程S700は、リッド85を、例えば鉄(Fe)−ニッケル(Ni)合金等からなるシールリング84を介してシーム溶接することにより接合することができる。このとき、必要に応じて、ベース基板80の凹部とリッド85とにより形成されるキャビティーを減圧空間、または不活性ガス雰囲気にして密閉・封止することができる。また、リッド85の他の接合方法としては、リッド85をハンダ等の金属ロウ材を介してベース基板80上に接合したり、または、ガラス製のリッド85を用いて、低融点ガラス等でベース基板80上に接合したりすることもできる。
ベーキング工程S800は、振動デバイス1を、所定温度のオーブンに所定時間投入し、振動デバイス1に含まれる水分を排湿するベーキングを行う工程である。
また、特性検査工程S900は、電気特性検査や外観検査などの特性検査を行って、規格外の不良品を取り除く工程である。
特性検査工程S900が完了すれば、一連の振動デバイス1の製造工程が終了する。
振動デバイス1の調整用振動腕24a,24bに設けられた質量調整部としての調整用電極124a,124bが、半導体基板10と重ならず、ベース基板80の底面83に対向するように配置されている。したがって、周波数調整工程S600において、調整用振動腕24a,24bを透過したレーザー光Lは、ベース基板80の底面83に照射され、半導体基板10の能動面10aに照射されることがない。これにより、レーザー光Lによる半導体基板10へのダメージを防止することができる。
振動デバイス1の製造方法は、振動デバイス1を平面視したとき、調整用電極124a,124bが半導体基板10の能動面10aと重ならない位置に配置し、半導体基板10に振動素子20を搭載する。その後、調整用電極124a,124bにレーザー光を照射し、質量調整を行う。したがって、調整用電極124a,124bに照射されたレーザー光が振動素子20を透過しても半導体基板10には照射されない。このように、レーザー光による半導体基板10へのダメージを防止することができる振動デバイス1の製造方法を提供することができる。
次いで、本発明の一実施形態に係る電子デバイスを適用した電子機器について、図5〜図7に基づき、詳細に説明する。
デジタルスチールカメラ1300におけるケース(ボディー)1302の背面には、表示部100が設けられ、CCDによる撮像信号に基づいて表示を行う構成になっており、表示部100は、被写体を電子画像として表示するファインダーとして機能する。また、ケース1302の正面側(図中裏面側)には、光学レンズ(撮像光学系)やCCD等を含む受光ユニット1304が設けられている。
撮影者が表示部100に表示された被写体像を確認し、シャッターボタン1306を押下すると、その時点におけるCCDの撮像信号が、メモリー1308に転送・格納される。また、このデジタルスチールカメラ1300においては、ケース1302の側面に、ビデオ信号出力端子1312と、データ通信用の入出力端子1314とが設けられている。そして、図示されるように、ビデオ信号出力端子1312にはテレビモニター1430が、データ通信用の入出力端子1314にはパーソナルコンピューター1440が、それぞれ必要に応じて接続される。さらに、所定の操作により、メモリー1308に格納された撮像信号が、テレビモニター1430や、パーソナルコンピューター1440に出力される構成になっている。このようなデジタルスチールカメラ1300には、フィルター、共振器、角速度センサー等として機能する電子デバイス(タイミングデバイス、ジャイロセンサー)1が内蔵されている。
図8は移動体の一例としての自動車を概略的に示す斜視図である。自動車106には本発明に係る振動素子を有する振動子やジャイロ素子を有するジャイロセンサーなどの振動デバイス1が搭載されている。例えば、同図に示すように、移動体としての自動車106には、振動デバイス1を内蔵してタイヤ109を制御する電子制御ユニット108が車体107に搭載されている。また、振動デバイス1は、他にもキーレスエントリー、イモビライザー、カーナビゲーションシステム、カーエアコン、アンチロックブレーキシステム(ABS)、エアバック、タイヤ・プレッシャー・モニタリング・システム(TPMS:Tire Pressure Monitoring System)、エンジンコントロール、ハイブリッド自動車や電気自動車の電池モニター、車体姿勢制御システム、等の電子制御ユニット(ECU:electronic control unit)に広く適用できる。
Claims (4)
- 基部と、前記基部から延出し調整用質量部が設けられている振動腕と、を備える振動素子を用意する工程と、
回路素子を用意する工程と、
基板を用意する工程と、
前記基板に前記回路素子を搭載する工程と、
平面視で、前記基部の少なくとも一部が前記回路素子と重なり、かつ、前記質量調整部が前記回路素子と重ならない位置において前記振動素子を前記回路素子に搭載する工程と、
前記質量調整部にレーザー光を照射し、質量調整を行う工程と、を含むことを特徴とする電子デバイスの製造方法。 - 請求項1に記載の電子デバイスの製造方法において、
前記質量調整部は、金属層を有し、
前記金属層の少なくとも一部を除去することにより前記質量調整を行うことを特徴とする電子デバイスの製造方法。 - 請求項1または請求項2に記載の電子デバイスの製造方法において、
前記基板は、金属層を含むレーザー保護層を有し、
前記平面視で、前記質量調整部が前記レーザー保護層と重なる位置において前記振動素子を前記回路素子に搭載することを特徴とする電子デバイスの製造方法。 - 請求項1ないし3のいずれか一項に記載の電子デバイスの製造方法において、
前記振動素子は、前記基部から延出し電極が設けられている支持部を備え、
前記回路素子は、接続端子を備え、
前記支持部の前記電極を前記接続端子に固定し、かつ電気的に接続することにより前記振動素子を前記回路素子に搭載することを特徴とする電子デバイスの製造方法。
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